JP3131945B2 - Line test apparatus and method - Google Patents

Line test apparatus and method

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JP3131945B2
JP3131945B2 JP4996396A JP4996396A JP3131945B2 JP 3131945 B2 JP3131945 B2 JP 3131945B2 JP 4996396 A JP4996396 A JP 4996396A JP 4996396 A JP4996396 A JP 4996396A JP 3131945 B2 JP3131945 B2 JP 3131945B2
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test
frame
cell
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sequence number
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裕亮 松村
幸男 平松
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Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、故障に至らないエ
ラーや間欠故障の発生した区間を特定することができる
回線試験装置及びその試験方法に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a line test apparatus and a test method capable of specifying a section where an error that does not lead to a failure or an intermittent failure has occurred.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来の回線試験方法で、故障に至らない
エラーや間欠故障等が発生したときに、故障点の区間を
特定するためには、複数回の試験を行う等、面倒な操作
が必要であり、しかも結局、故障点の区間を特定できな
いこともあった。図5は、従来の回線試験方法を実施す
る場合の一例を示す装置構成図であり、図6は、図5に
おける試験機能部の詳細ブロック図である。ここでは、
固定長セルを用いたATM方式による回線試験方法を説
明する。図5において、550と556は端末装置、5
51と555は通信網を終端する終端装置、552と5
54は端末を収容する加入者交換装置、553は加入者
交換装置間の中継交換を行う中継交換装置、501,5
12,506及び507は端末装置と終端装置を接続す
るケーブル、502,511,505及び508は終端
装置と加入者交換装置を接続する伝送路、503,51
0,504及び509は加入者交換装置と中継交換装置
を接続する中継伝送路、513,514,515,51
6,517及び518は折り返し設定を実施された時の
折り返し経路、Tは試験セル送出部、試験セル受信部及
び試験結果判定部からなる試験機能部である。図6にお
いて、600は試験機能部T、603,604は送信お
よび受信される試験セル、601は送出する試験セルの
ペイロードフィールドの一部にシーケンス番号を付与
し、当該シーケンス番号を初期値から1ずつ増加させな
がら発生送出する機能を備えた試験セル送出部S、60
2は受信セルのペイロードフィールドの一部に書き込ま
れたシーケンス番号を読出す機能を備えた試験セル受信
部R、605は試験セル受信部Rで読出したシーケンス
番号が欠落せずに連続して受信されていることを確認し
て、導通試験の成否を判定する試験結果判定部Cであ
る。
2. Description of the Related Art In a conventional line test method, when an error that does not lead to a failure or an intermittent failure occurs, a troublesome operation such as performing a plurality of tests is necessary to specify a section of a failure point. This is necessary, and in some cases, the section of the fault point cannot be specified. FIG. 5 is an apparatus configuration diagram showing an example of a case where a conventional line test method is performed, and FIG. 6 is a detailed block diagram of a test function unit in FIG. here,
A line test method based on the ATM system using fixed-length cells will be described. In FIG. 5, reference numerals 550 and 556 denote terminal devices,
51 and 555 are terminal devices for terminating the communication network, and 552 and 5
Numeral 54 denotes a subscriber exchange that accommodates terminals, 553 a transit exchange that performs transit exchange between the subscriber exchanges, and 501 and 5.
Reference numerals 12, 506 and 507 denote cables connecting the terminal device to the terminating device, 502, 511, 505 and 508 denote transmission lines connecting the terminating device and the local exchange, 503 and 51
0, 504 and 509 are relay transmission lines for connecting the local exchange and the transit exchange, and 513, 514, 515, 51
Reference numerals 6, 517, and 518 denote a return path when the return setting is performed, and T denotes a test function unit including a test cell transmission unit, a test cell reception unit, and a test result determination unit. In FIG. 6, reference numeral 600 denotes a test function unit T; 603 and 604, test cells to be transmitted and received; 601, a sequence number is assigned to a part of a payload field of a test cell to be transmitted; Test cell transmission unit S, 60 having a function of generating and transmitting while increasing the
Reference numeral 2 denotes a test cell receiving unit R having a function of reading out a sequence number written in a part of a payload field of a reception cell, and 605 continuously receives a sequence number read by the test cell receiving unit R without dropping. A test result determination unit C that determines whether the continuity test is successful or not after confirming that the continuity test is performed.

【0003】端末装置550と556間の通信におい
て、故障までに至らないエラーや間欠故障等が発生した
が、警報転送等では故障点の特定ができなかった場合に
は、次の(1)〜(6)の手順で終端装置551と55
5間の被擬区間を特定していた。 (1)先ず、中継交換装置553と端末装置550間の
導通を確認するために、T−510−511−512−
513−501−502−503−Tの経路で試験ルー
プを構成する。図6における試験セル受信部(R)60
2を受信可能状態にし、試験セル送出部(S)601か
らペイロードフィールドの一部にシーケンス番号を付与
して、当該シーケンス番号を初期値1から1ずつ増加さ
せながら試験セルを、例えば1,000,000個発生
して送出する。試験セル受信部602で読出した試験セ
ルのシーケンス番号を図6の試験結果判定部(C)60
5に渡して、当該試験結果判定部605において受信セ
ルのシーケンス番号が欠落することなく、連続して受信
していることを確認することにより導通試験が正常であ
ったことを判断する。 (2)次に、図5の中継交換装置553と終端装置55
1間の導通を確認するために、T−510−511−5
14−502−503−Tで試験ループを構成する。図
6における試験セル受信部602を、受信可能状態にす
る。試験セル送出部601からペイロードフィールドの
一部にシーケンス番号を付与し、当該シーケンス番号を
初期値1から1ずつ増加させながら試験セルを、例えば
1,000,000個を発生させて送出する。試験セル
受信部602で読出した試験セルのシーケンス番号を試
験結果判定部605に渡し、当該試験結果判定部605
において受信セルのシーケンス番号が欠落することなく
連続して受信していることを確認することにより、導通
試験が正常であったと判断する。
[0003] In the communication between the terminal devices 550 and 556, an error or an intermittent failure that does not lead to a failure occurs, but if a failure point cannot be specified by an alarm transfer or the like, the following (1) to (5) In the procedure of (6), the terminal devices 551 and 55
The simulated section between 5 was specified. (1) First, in order to confirm conduction between the relay switching device 553 and the terminal device 550, T-510-511-512-
A test loop is formed by the path 513-501-502-503-T. Test cell receiver (R) 60 in FIG.
2 in a receivable state, a sequence number is assigned to a part of the payload field from the test cell sending unit (S) 601, and the test cell is increased by, for example, 1,000 while incrementing the sequence number by 1 from an initial value of 1. , 000 are generated and transmitted. The sequence number of the test cell read by the test cell receiving unit 602 is used as the test result determining unit (C) 60 in FIG.
5, the test result determination unit 605 determines that the continuity test was normal by confirming that the sequence numbers of the received cells are continuously received without any loss. (2) Next, the relay switching device 553 and the terminal device 55 shown in FIG.
T-510-511-5 to confirm conduction between
14-502-503-T forms a test loop. The test cell receiving unit 602 in FIG. 6 is set to a receivable state. The test cell transmitting unit 601 assigns a sequence number to a part of the payload field, and generates and transmits, for example, 1,000,000 test cells while increasing the sequence number by one from an initial value of 1. The sequence number of the test cell read by the test cell receiving unit 602 is passed to the test result determination unit 605, and the test result determination unit 605
It is determined that the continuity test was normal by confirming that the sequence number of the received cell was continuously received without any loss.

【0004】(3)次に、図5の中継交換装置553と
加入者交換装置552間の導通を確認するために、T−
510−515−503−Tで試験ループを構成する。
図6における試験セル受信部602を、受信可能状態に
する。次に、試験セル送出部601からペイロードフィ
ールドの一部にシーケンス番号を付与し、当該シーケン
ス番号を初期値から1ずつ増加させながら試験セルを、
例えば1,000,000個を発生させて、送出する。
試験セル受信部602で読出した試験セルのシーケンス
番号を試験結果判定部605に渡して、当該試験結果判
定部605において受信セルのシーケンス番号が欠落す
ることなく連続して受信していることを確認することに
より、導通試験が正常であったと判断する。 (4)一方、図5の中継交換装置553と端末装置55
6間の導通を確認するために、T−504−505−5
06−518−507−508−509−Tの経路で試
験ループを構成する。図6の試験セル受信部602を受
信可能状態にする。図6の試験セル送出部601からペ
イロードフィールドの一部にシーケンス番号を付与し、
当該シーケンス番号を初期値1から1ずつ増加させなが
ら試験セルを、例えば1,000,000個を発生させ
て送出する。試験セル受信部602で読出した試験セル
のシーケンス番号を試験結果判定部605に渡し、当該
試験結果判定部605において受信セルのシーケンス番
号が欠落することなく連続して受信していることを確認
することにより、導通試験が正常であったと判断する。
(3) Next, in order to confirm the continuity between the transit exchange unit 553 and the subscriber exchange unit 552 in FIG.
A test loop is constituted by 510-515-503-T.
The test cell receiving unit 602 in FIG. 6 is set to a receivable state. Next, the test cell sending unit 601 assigns a sequence number to a part of the payload field, and increases the sequence number by one from the initial value, and assigns a test cell to the test cell.
For example, 1,000,000 are generated and transmitted.
The sequence number of the test cell read by the test cell receiving unit 602 is passed to the test result determination unit 605, and the test result determination unit 605 confirms that the sequence number of the received cell is continuously received without loss. By doing so, it is determined that the continuity test was normal. (4) On the other hand, the relay switching device 553 and the terminal device 55 of FIG.
In order to confirm the continuity between the six, T-504-505-5
A test loop is formed by the route of 06-518-507-508-509-T. The test cell receiving unit 602 in FIG. 6 is set to a receivable state. A sequence number is assigned to a part of the payload field from the test cell transmitting unit 601 in FIG.
For example, 1,000,000 test cells are generated and transmitted while increasing the sequence number by one from the initial value 1. The sequence number of the test cell read by the test cell receiving unit 602 is passed to the test result determination unit 605, and the test result determination unit 605 confirms that the sequence number of the received cell is continuously received without loss. Thus, it is determined that the continuity test was normal.

【0005】(5)次に、図5の中継交換装置553と
終端装置555間の導通を確認するために、T−504
−505−517−508−509−Tの経路で試験ル
ープを構成する。図6の試験セル受信部602を受信可
能状態にし、試験セル送出部601からペイロードフィ
ールドの一部にシーケンス番号を付与し、当該シーケン
ス番号を初期値1から1ずつ増加させながら試験セル
を、例えば1,000,000個を発生させて送出す
る。試験セル受信部602で読出した試験セルのシーケ
ンス番号を試験結果判定部605に渡し、当該試験結果
判定部605において受信セルのシーケンス番号が欠落
することなく連続して受信していることを確認すること
により、導通試験が正常であったと判断する。 (6)次に、図5の中継交換装置553と加入者交換装
置554間の導通を確認するために、T−504−51
6−509−Tの経路で試験ループを構成する。図6の
試験セル受信部602を受信可能状態にする。図6の試
験セル送出部601からペイロードフィールドの一部に
シーケンス番号を付与し、当該シーケンス番号を初期値
1から1ずつ増加させながら試験セルを、例えば1,0
00,000個を発生させ送出する。試験セル受信部6
02で読出した試験セルのシーケンス番号を試験結果判
定部605に渡し、当該試験結果判定部605において
受信セルのシーケンス番号が欠落することなく連続して
受信していることを確認することにより、導通試験が正
常であったと判断する。
(5) Next, in order to confirm the continuity between the relay switching device 553 and the terminating device 555 in FIG.
A test loop is constituted by the path of -505-517-508-509-T. The test cell receiving unit 602 in FIG. 6 is set to a receivable state, a sequence number is assigned to a part of the payload field from the test cell transmitting unit 601, and the test cell is increased while the sequence number is incremented by one from an initial value of 1, for example. 1,000,000 are generated and transmitted. The sequence number of the test cell read by the test cell receiving unit 602 is passed to the test result determination unit 605, and the test result determination unit 605 confirms that the sequence number of the received cell is continuously received without loss. Thus, it is determined that the continuity test was normal. (6) Next, in order to confirm the continuity between the transit exchange apparatus 553 and the subscriber exchange apparatus 554 of FIG.
A test loop is formed by the route 6-509-T. The test cell receiving unit 602 in FIG. 6 is set to a receivable state. A sequence number is assigned to a part of the payload field from the test cell transmitting unit 601 in FIG.
Generate and send out 00,000. Test cell receiver 6
02 is passed to the test result determination unit 605, and the test result determination unit 605 confirms that the sequence number of the received cell is continuously received without any loss, thereby providing conduction. Judge that the test was normal.

【0006】[0006]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、前述の
ような回線試験方法を実施すると、次のような問題点が
発生する。すなわち、折り返し点を複数回にわたって
変更しながら回線試験を実施する必要があること、間
欠障害の場合には、被擬区間が特定できないこと、長
時間の試験が困難であること、同時に複数の区間の試
験を実施するのは困難であること、等である。本発明の
目的は、これら従来の課題を解決し、故障までに至らな
いエラーや間欠故障の発生した被擬区間を特定する場合
に、低稼働で被擬区間を特定することが可能な回線試験
装置及び方法を提供することにある。
However, when the above-described line test method is performed, the following problems occur. That is, it is necessary to carry out a line test while changing the turning point a plurality of times, in the case of intermittent failure, that the simulated section cannot be specified, it is difficult to perform a long test, and It is difficult to carry out the test. SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to solve these conventional problems, and to specify a simulated section in which an error that does not lead to a failure or an intermittent fault has occurred. It is to provide an apparatus and a method.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、本発明の回線試験装置では、試験セルまたはフレー
ムのペイロード部(ユーザデータ部)にシーケンス番号
を記入するフィールドを設け、そのフィールドにシーケ
ンス番号を初期値から1ずつ増加させながら記入し、試
験セルまたはフレームを発生させて送出する機能、及び
その試験セルまたはフレームを受信消滅する機能を備え
た試験セル(フレーム)送受信機能を、図1に示す中継
交換装置153内に設け、図1に示すA,B、C,D、
E,F,G,H、I,J、K,L中を通過する試験セル
またはフレームを監視するモニタ機能、及び損失した試
験セルまたはフレームのシーケンス番号を蓄積する損失
セル(フレーム)蓄積エリア及びその試験セル毎または
フレーム毎のシーケンス番号の連続性で損失を判定し、
シーケンス番号の欠落が判明した場合にのみ、損失セル
(フレーム)蓄積エリアにシーケンス番号を書き込む試
験セル(フレーム)監視機能を、図1に示すA,B,
C,D,E,F,G,H,I,J,K,L内にそれぞれ
設ける。そして、回線試験構成としては、図1に示すT
ST−J−110−K−L−115−A−B−103−
C−D−104−E−F−116−G−H−109−I
−TSTの試験ループ、またはTST−J−110−K
−L−111−114−102−A−B−103−C−
D−104−E−F−105−117−108−G−H
−109−I−TSTの試験ループ、またはTST−J
−110−K−L−111−112−113−101−
102−A−B−103−C−D−104−E−F−1
05−106−118−107−108−G−H−10
9−I−TSTの試験ループを構成し、損失した試験セ
ルのシーケンス番号が保持されている当該試験ループ上
のA,B,C,D,E,F,G,H,I,J,K,L中
に具備されている損失セル蓄積エリアを相互比較するこ
とにより、被擬区間の特定を行うことを特徴としてい
る。
In order to achieve the above object, in the circuit test apparatus of the present invention, a field for writing a sequence number is provided in a payload section (user data section) of a test cell or a frame, and a sequence is written in the field. FIG. 1 shows a test cell (frame) transmission / reception function having a function of generating and transmitting a test cell or frame by writing a number while increasing the number by one from an initial value, and a function of receiving and erasing the test cell or frame. Are provided in the relay switching device 153 shown in FIG. 1, and A, B, C, D,
A monitor function for monitoring test cells or frames passing through E, F, G, H, I, J, K, L; a lost cell (frame) storage area for storing the sequence numbers of lost test cells or frames; The loss is determined by the continuity of the sequence number for each test cell or frame,
The test cell (frame) monitoring function of writing the sequence number in the lost cell (frame) accumulation area only when it is found that the sequence number is missing is shown in FIG.
C, D, E, F, G, H, I, J, K, L And, as a line test configuration, as shown in FIG.
ST-J-110-KL-115-AB-103-
CD-104-EF-116-GH-109-I
-TST test loop, or TST-J-110-K
-L-111-114-102-AB-103-C-
D-104-EF-105-117-108-GH
-109-I-TST test loop or TST-J
-110-KL-111-112-113-101-
102-AB-103-CD-104-EF-1
05-106-118-107-108-GH-10
A, B, C, D, E, F, G, H, I, J, K on the test loop that constitutes the test loop of 9-I-TST and holds the sequence number of the lost test cell , L are identified by comparing the lost cell storage areas provided in each of the lost cell storage areas.

【0008】[0008]

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施例を、図面に
より詳細に説明する。本実施例では、固定長セルを用い
てATM方式に適用して実施した場合を説明する。な
お、フレームを用いたフレームリレー方式の場合も全く
同じように実施することが可能である。図1は、本発明
の一実施例を示す回線試験方法を用いた回線試験ループ
の構成図である。図1において、150と156は端末
装置、151と155は通信網を終端する終端装置、1
52と154は端末を収容する加入者交換装置、153
は加入者交換装置の中継を行う中継交換装置、101,
112,106及び107は端末と終端装置を接続する
ケーブル、102,111,105及び108は終端装
置と加入者交換装置を接続する伝送路、103,11
0,104及び109は加入者交換装置と中継交換装置
を接続する中継伝送路、113,114,115,11
6,117及び118は折り返し設定状態での折り返し
経路、A,B,C,D,E,F,G,H,I,J,K,
Lはモニタ機能及び試験セル監視機能及び損失セル蓄積
エリアからなる試験機能部、160は各交換装置の操作
及び監視を行うオペレーション装置、TSTは試験セル
送受信機能である。
Embodiments of the present invention will be described below in detail with reference to the drawings. In this embodiment, a case will be described in which the present invention is applied to an ATM system using fixed-length cells. It should be noted that the frame relay system using a frame can be implemented in exactly the same manner. FIG. 1 is a configuration diagram of a line test loop using a line test method according to an embodiment of the present invention. In FIG. 1, 150 and 156 are terminal devices, 151 and 155 are terminating devices terminating a communication network, 1
52 and 154 are local exchanges accommodating terminals, 153.
Is a transit exchange that relays the subscriber exchange, 101,
112, 106 and 107 are cables connecting the terminal and the terminating device, 102, 111, 105 and 108 are transmission lines connecting the terminating device and the local exchange, 103, 11
Reference numerals 0, 104 and 109 denote transit transmission lines for connecting the local exchange and the transit exchange, and 113, 114, 115 and 11 respectively.
6, 117 and 118 are return paths in the return setting state, A, B, C, D, E, F, G, H, I, J, K,
L is a monitoring function, a test cell monitoring function, and a test function unit including a lost cell storage area, 160 is an operation device for operating and monitoring each switching device, and TST is a test cell transmission / reception function.

【0009】図2は、図1におけるモニタ機能及び試験
セル監視機能及び損失セル蓄積エリアの詳細構成図であ
る。図2において、200は試験機能部、201は試験
機能部200を通過する試験セルを監視するモニタ機能
部、203は交換装置内の記憶装置、204は記憶装置
203に割り当てられた損失セル蓄積エリアである。ま
た、損失セル蓄積エリア204内のSEQ1,SEQ
2,・・・,SEQnは損失した試験セルのシーケンス
番号を保持する蓄積テーブル、202はモニタ機能で読
出された試験セルのペイロード部のシーケンス番号の連
続性を監視し、損失が発生した場合にのみ当該試験セル
のシーケンス番号を損失セル蓄積エリア204に保持す
る機能を備えた試験セル監視機能部である。これらの試
験機能部200が、中継交換装置153、加入者交換装
置152,154にそれぞれ4個ずつ設けられている。
図3は、図1における試験セル送受信機能の詳細ブロッ
ク図である。図3において、300は試験セル送受信機
能部、301は試験セルのペイロードフィールドの一部
にシーケンス番号を付与し、当該シーケンス番号を初期
値から1ずつ増加させながら発生させ、送出する機能を
備えた試験セル送出部、302は試験セル受信消滅部、
303はペイロードフィールドの一部にシーケンス番号
を付与され、試験セル送出部301から送出された試験
セル、304は前述の試験ルートから返ってきた試験セ
ルである。なお、試験セル受信消滅部302は、図2で
示した試験機能部200と同等の機能を包含することも
可能である。このような試験セル送受信機能300が、
中継交換装置153に設けられている。
FIG. 2 is a detailed block diagram of the monitor function, test cell monitoring function, and lost cell storage area in FIG. 2, reference numeral 200 denotes a test function unit; 201, a monitor function unit that monitors test cells passing through the test function unit 200; 203, a storage device in the switching device; 204, a lost cell storage area assigned to the storage device 203; It is. Further, SEQ1 and SEQ1 in the lost cell accumulation area 204
2,..., SEQn are accumulation tables holding the sequence numbers of the lost test cells, 202 is to monitor the continuity of the sequence numbers of the payload portions of the test cells read out by the monitor function, Only a test cell monitoring function unit having a function of retaining the sequence number of the test cell in the lost cell storage area 204. Four of these test function units 200 are provided in each of the transit exchange 153 and the subscriber exchanges 152 and 154.
FIG. 3 is a detailed block diagram of the test cell transmission / reception function in FIG. In FIG. 3, reference numeral 300 denotes a test cell transmission / reception function unit, and 301 has a function of assigning a sequence number to a part of the payload field of the test cell, generating and transmitting the sequence number while increasing the initial value by one from an initial value. A test cell transmission unit, 302 is a test cell reception quenching unit,
Reference numeral 303 denotes a test cell transmitted with a sequence number from a part of the payload field and transmitted from the test cell transmitting unit 301, and reference numeral 304 denotes a test cell returned from the above-described test route. It should be noted that the test cell reception annihilation unit 302 can include functions equivalent to those of the test function unit 200 shown in FIG. Such a test cell transmission / reception function 300
It is provided in the relay switching device 153.

【0010】図4は、本発明に使用される試験セルの構
成例を示す図である。図4において、400は試験セル
のシーケンス番号を記入するSEQフィールドで、例え
ば5バイト長を確保している。Payloadは、ペイ
ロードフィールドである。試験セルのヘッダ部(Hea
der)は、ITU−T勧告I.361に示されている
構成であって、VPIはVirtual Path I
D、VCIはVirtual Connection
ID、PTはPayloadType、CLPはCel
l Loss Priority、HECはHeade
r Error Controlである。図7は、図1
に示した交換装置の操作、監視を行うオペレーション装
置の詳細ブロック図である。図7において、700はオ
ペレーション装置、701はオペレーション装置に備え
られた記憶装置、702は試験結果収集エリア、702
A,702B、・・・、702Lは試験セルの損失の有
無を示す試験結果収集フラグである。
FIG. 4 is a diagram showing a configuration example of a test cell used in the present invention. In FIG. 4, reference numeral 400 denotes an SEQ field for writing a sequence number of a test cell, which has a length of, for example, 5 bytes. Payload is a payload field. Test cell header (Hea
der) is based on ITU-T Recommendation I.D. 361, wherein the VPI is Virtual Path I
D and VCI are Virtual Connection
ID and PT are PayloadType, CLP is Cel
l Loss Priority, HEC is Heade
r Error Control. FIG. 7 shows FIG.
3 is a detailed block diagram of an operation device for operating and monitoring the switching device shown in FIG. 7, reference numeral 700 denotes an operation device; 701, a storage device provided in the operation device; 702, a test result collection area;
A, 702B,..., 702L are test result collection flags indicating the presence or absence of loss of the test cell.

【0011】以下、固定長セルを用いるATM方式の場
合を例にとって説明する。図1において、一方の端末1
50と他方の端末156の間の通信で、故障まで至らな
いエラーや、間欠故障等が発生したが、警報転送等では
故障点の特定ができなかった場合には、一方の終端装置
151と他方の終端装置155間において、次の手順
(1)〜(5)で被擬区間を特定する。 (1)回線試験ルートとして、ここでは図1に示すTS
T−J−110−K−L−111−114−102−A
−B−103−C−D−104−E−F−105−11
7−108−G−H−109−I−TSTで構成する。
例えば、回線試験用の論理パスとして、ユーザーパスと
同一の物理回線上で、ユーザーパスと同一のVPI値及
びVCI値を使用して回線試験用の論理パスを構成す
る。なお、回線試験用の論理パスとして、ユーザーパス
と同一の物理回線上で、回線試験用に別途、VPI値及
びVCI値を使用して回線試験用の論理パスを構成する
ことも可能である。 (2)図1に示した各交換装置152,153,154
内の試験機能部A,B,C,D,E,F,G,H,I,
J,K,Lに備えられている試験セルモニタ機能201
及び試験セル監視機能202(以上、図2参照)を動作
させ、損失セル蓄積エリア204を全て‘0’に初期化
する。
An example of the ATM system using fixed-length cells will be described below. In FIG. 1, one terminal 1
In the communication between the terminal 50 and the other terminal 156, an error that does not lead to a failure, an intermittent failure, or the like has occurred. , The simulated section is specified by the following procedures (1) to (5). (1) The TS shown in FIG.
TJ-110-KL-111-114-102-A
-B-103-CD-104-EF-105-11
7-108-GH-109-I-TST.
For example, as a logical path for a line test, a logical path for a line test is configured on the same physical line as the user path using the same VPI value and VCI value as the user path. As a logical path for a line test, it is also possible to configure a logical path for a line test using a VPI value and a VCI value separately for the line test on the same physical line as the user path. (2) Each switching device 152, 153, 154 shown in FIG.
Test function units A, B, C, D, E, F, G, H, I,
Test cell monitoring function 201 provided for J, K, L
Then, the test cell monitoring function 202 (see FIG. 2) is operated to initialize all the lost cell accumulation areas 204 to “0”.

【0012】(3)図1に示す試験セル送受信機能部T
ST内の試験セル受信部Rを動作させ、当該試験セル送
受信機能TSTからペイロード部にシーケンス番号を記
入するフィールド(400)を設けて、当該フィールド
にシーケンス番号を初期値1から1ずつ増加させなが
ら、例えば1,000,000個の試験セルを発生さ
せ、上記回線試験ルートに送出する。 (4)例えば、図1において、試験セル送受信装置TS
Tから送出されたシーケンス番号1000を付与した試
験セルが、中継伝送路109において1個損失したもの
と仮定する。このとき、中継交換装置153内の試験機
能部I中の試験セル監視機能部202において、シーケ
ンス番号1000が検出されないため、当該シーケンス
番号1000を付与した試験セルは損失したものと判断
し、当該シーケンス番号1000を試験機能部I内の損
失セル蓄積エリア204(図2参照)の蓄積テーブルS
EQ1に書き込み、それを保持する。しかし、試験機能
部J,K,L,A,B,C,D,E,F,G,Hでは、
損失セルは検出されないため、損失セル蓄積エリア20
4にはシーケンス番号は保持されていない。
(3) Test cell transmission / reception function unit T shown in FIG.
The test cell receiving unit R in the ST is operated to provide a field (400) for writing a sequence number in the payload from the test cell transmitting / receiving function TST, and the sequence number is incremented by one from the initial value 1 in the field. For example, 1,000,000 test cells are generated and transmitted to the line test route. (4) For example, in FIG. 1, the test cell transceiver TS
It is assumed that one test cell to which the sequence number 1000 transmitted from T is assigned has been lost in the relay transmission line 109. At this time, the test cell monitoring function unit 202 in the test function unit I in the relay switching apparatus 153 does not detect the sequence number 1000. Therefore, it is determined that the test cell to which the sequence number 1000 has been assigned has been lost. The number 1000 is stored in the storage table S of the lost cell storage area 204 (see FIG. 2) in the test function unit I.
Write to EQ1 and hold it. However, in the test function units J, K, L, A, B, C, D, E, F, G, H,
Since no lost cell is detected, the lost cell storage area 20
No. 4 does not hold a sequence number.

【0013】(5)試験セル送出完了の後、図7に示す
オペレーション装置700から図1に示す各交換装置1
52,153,154に具備された損失セル蓄積エリア
204(図2参照)の蓄積テーブルSEQ1,SEQ
2,・・,SEQnにシーケンス番号が保持されている
か否かを、J,K,L,A,B,C,D,E,F,G,
H,Iの順序で確認する。例えば、損失セル蓄積エリア
204にシーケンス番号が保持されていた場合には、オ
ペレーション装置700に具備された記憶装置701
(図7参照)に割り当てた各モニタ点A,B,C,D,
E,F,G,H,I,J,K,L毎の試験結果収集フラ
グ702A,702B,・・702Lにフラグ1を書き
込む。本実施例では、J,K,L,A,B,C,D,
E,F,G,H,Iの順序で損失シーケンス番号を確認
すると、J,K,L,A,B,C,D,E,F,G,H
内の損失セル蓄積エリア204には、シーケンス番号は
保持されていないので、試験結果収集エリア702内の
試験結果収集フラグ702A,702B,702C,7
02D,・・・702Lには1は書き込まれないが、前
述の(4)の説明で、中継伝送路109で試験セルが損
失したという仮定により、試験機能部I中の損失セル蓄
積エリア204の蓄積テーブルSEQ1には、シーケン
ス番号1000が保持されていることが判明するので、
試験結果収集フラグ702Iにフラグ1を書き込む。
(5) After the transmission of the test cell is completed, the operation device 700 shown in FIG.
52, 153, and 154, the storage tables SEQ1 and SEQ of the lost cell storage area 204 (see FIG. 2).
It is determined whether a sequence number is held in SEQn by J, K, L, A, B, C, D, E, F, G,
Confirm in the order of H and I. For example, when a sequence number is held in the lost cell accumulation area 204, the storage device 701 provided in the operation device 700
(See FIG. 7), each monitor point A, B, C, D,
Flag 1 is written to test result collection flags 702A, 702B,... 702L for each of E, F, G, H, I, J, K, and L. In this embodiment, J, K, L, A, B, C, D,
When the loss sequence numbers are confirmed in the order of E, F, G, H, I, J, K, L, A, B, C, D, E, F, G, H
Since the sequence number is not held in the lost cell accumulation area 204 in the test result collection area 204, the test result collection flags 702A, 702B, 702C, and 7 in the test result collection area 702 are stored.
702L, 1 is not written, but in the description of (4) above, on the assumption that the test cell has been lost in the relay transmission line 109, the lost cell storage area 204 in the test function unit I is stored. Since it is determined that the sequence number 1000 is held in the accumulation table SEQ1,
The flag 1 is written to the test result collection flag 702I.

【0014】試験機能部Iの試験結果収集フラグ702
Iには、試験セルが損失したことを示すフラグが保持さ
れており、かつ前段の試験機能部Hの試験結果収集フィ
ールドより手前には、フラグが保持されていないことに
より、区間H−Iを被擬区間として特定する。オペレー
ション装置700の試験結果収集エリア702は、交換
装置152,153,154に包含して試験結果を判定
することができるのは勿論である。すなわち、本実施例
では、1度の回線試験の実施だけで、故障までに至らな
いエラーや間欠故障の発生した被擬区間を特定すること
ができる。実施例では、固定長セルを用いたATM方式
に適用した場合を説明したが、フレームを用いるフレー
ムリレー方式に適用した場合でも全く同じであることは
勿論である。また、試験ルートとして、終端装置15
1,155で折り返すルートで説明したが、その他に
も、TST−J−110−K−L−115−A−B−1
03−C−D−104−E−F−116−G−H−10
9−I−TSTの試験ルート、つまり加入者交換装置1
52,154で折り返すルート、及びTST−J−11
0−K−L−111−112−113−101−102
−A−B−103−C−D−104−E−F−105−
106−118−107−108−G−H−109−I
−TSTの試験ルート、つまり端末装置150,156
で折り返すルートを使用した回線試験も実施することが
できるのは勿論である。また、実施例では、試験セルま
たはフレーム送受信機能TSTを中継交換装置153内
に配置したが、送受信機能を交換装置の外部に取り付け
ることも可能である。
The test result collection flag 702 of the test function unit I
A flag indicating that the test cell has been lost is held in I, and the section HI is not set before the test result collection field of the test function unit H in the preceding stage because the flag is not held. Specify as a simulated section. The test result collection area 702 of the operation device 700 can be included in the switching devices 152, 153, and 154 to determine the test result. That is, in the present embodiment, it is possible to specify an simulated section in which an error that does not lead to a failure or an intermittent failure has occurred by performing only one line test. In the embodiment, the case where the present invention is applied to the ATM system using fixed-length cells has been described. However, it is needless to say that the same applies to the case where the present invention is applied to the frame relay system using frames. In addition, as a test route, the terminal device 15
1, 155, but in addition, TST-J-110-KL-115-AB-1
03-CD-104-EF-116-GH-10
9-I-TST test route, ie, local exchange 1
Route to be turned back at 52,154 and TST-J-11
0-KL-111-112-113-101-102
-AB-103-CD-104-EF-105-
106-118-107-108-GH-109-I
-TST test route, ie, terminal devices 150 and 156
It goes without saying that a line test using a route that is turned back can also be performed. Further, in the embodiment, the test cell or the frame transmission / reception function TST is arranged in the relay switching device 153. However, the transmission / reception function can be attached to the outside of the switching device.

【0015】[0015]

【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
故障までに至らないエラーや間欠故障の発生した被擬区
間を特定するための回線試験を、折り返し点を複数回に
わたって変更しながら回線試験を実施することがなく、
低稼働で実施ことができる。
As described above, according to the present invention,
A line test to identify an erroneous section in which an error or an intermittent failure that does not lead to a failure has occurred, without performing a line test while changing the turning point multiple times,
It can be implemented with low operation.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の一実施例を示す回線試験ルートの構成
図である。
FIG. 1 is a configuration diagram of a line test route showing one embodiment of the present invention.

【図2】図1における各交換装置に配備されたモニタ機
能、損失セル監視機能及び損失セル蓄積エリアを有する
試験機能部の詳細ブロック図である。
FIG. 2 is a detailed block diagram of a test function unit having a monitor function, a lost cell monitoring function, and a lost cell storage area provided in each switching device in FIG. 1;

【図3】図1における試験セル送受信機能の詳細ブロッ
ク図である。
FIG. 3 is a detailed block diagram of a test cell transmitting / receiving function in FIG. 1;

【図4】本発明で使用される試験セルの構造図である。FIG. 4 is a structural diagram of a test cell used in the present invention.

【図5】従来の回線試験方法を示す試験ルートの構成図
である。
FIG. 5 is a configuration diagram of a test route showing a conventional line test method.

【図6】図5における試験セル送受信機能部の詳細ブロ
ック図である。
FIG. 6 is a detailed block diagram of a test cell transmitting / receiving function unit in FIG. 5;

【図7】図1におけるオペレーション装置の詳細ブロッ
ク図である。
FIG. 7 is a detailed block diagram of the operation device in FIG. 1;

【符号の説明】[Explanation of symbols]

101,112,106,107…端末と終端装置を接
続するケーブル、102,111,105,108…終
端装置と加入者交換装置間の伝送路、103,110,
104,109…中継交換装置と加入者交換装置間の伝
送路、150,156…端末装置、151,154…加
入者交換装置。153…中継交換装置、160…オペレ
ーション装置、A,B,C,D,E,F,G,H,I,
J,K,L…試験機能部、TST…試験セル(フレー
ム)送受信部、200…試験機能部、201…モニタ機
能部、202…試験セル(フレーム)監視部、203…
記憶装置、204…損失セル(フレーム)蓄積エリア、
205…試験セル、SEQ1,SEQ2,・・,SEQ
n…蓄積テーブル、300…試験セル(フレーム)送受
信部、301…試験セル送信部、302…試験セル受信
部、303,304…試験セル(フレーム) 400…シーケンスフィールド部、700…オペレーシ
ョン装置、701…記憶装置、702…試験結果収集エ
リア、701A,701B,・・・,701L…試験結
果収集フラグ。
101, 112, 106, 107... Cables connecting terminals and terminating devices; 102, 111, 105, 108... Transmission lines between terminating devices and local exchanges;
104,109 ... Transmission path between transit exchange and subscriber exchange, 150,156 ... Terminal, 151,154 ... Subscriber exchange. 153: relay switching device, 160: operation device, A, B, C, D, E, F, G, H, I,
J, K, L: test function unit, TST: test cell (frame) transmission / reception unit, 200: test function unit, 201: monitor function unit, 202: test cell (frame) monitoring unit, 203:
Storage device, 204: lost cell (frame) storage area,
205: Test cell, SEQ1, SEQ2, ..., SEQ
n: accumulation table, 300: test cell (frame) transmission / reception unit, 301: test cell transmission unit, 302: test cell reception unit, 303, 304: test cell (frame) 400: sequence field unit, 700: operation device, 701 ... storage device, 702 ... test result collection area, 701A, 701B, ..., 701L ... test result collection flag.

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 平5−327753(JP,A) 特開 平7−15432(JP,A) 特開 昭58−97941(JP,A) 特開 平4−81046(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) H04L 12/56 H04L 12/28 H04L 12/26 H04L 12/42 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continuation of the front page (56) References JP-A-5-327753 (JP, A) JP-A-7-15432 (JP, A) JP-A-58-97941 (JP, A) JP-A-4- 81046 (JP, A) (58) Fields investigated (Int. Cl. 7 , DB name) H04L 12/56 H04L 12/28 H04L 12/26 H04L 12/42

Claims (3)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 固定長のセルを用いるATM方式、また
はフレームを用いるフレームリレー方式により通信を行
う交換機に具備された回線試験装置であって、 ペイロード部にシーケンス番号が記入された試験セルま
たはフレームの損失判定のため、試験ループの複数箇所
に配置され、該試験セル毎またはフレーム毎のシーケン
ス番号の連続性をそれぞれ判定し、シーケンス番号の欠
落により、損失したと判断された試験セルまたはフレー
ムのシーケンス番号を蓄積エリアに保持する試験セルま
たはフレーム監視機能部と、 該試験セルまたはフレームのシーケンス番号を初期値か
ら1ずつ増加させながら複数の試験セルまたはフレーム
を発生し、発生した該試験セルまたはフレームを上記試
験ループに順次送出するとともに、該試験ループを巡環
して戻ってきた該試験セルまたはフレームを受信・消滅
する試験セルまたはフレーム送受信機能部と、 上記試験セルまたはフレーム監視機能部の蓄積エリアに
保持されている欠落試験セルまたはフレームのシーケン
ス番号を、試験ループ上の試験セルの進行方向の順に損
失シーケンス番号の有無を読出し、試験セルまたはフレ
ーム監視機能部対応の記憶エリアに、読出されたシーケ
ンス番号の有無を記憶して、被擬区間特定のための情報
とする試験結果収集機能部とを有することを特徴とする
回線試験装置。
1. A line test apparatus provided in an exchange that performs communication by an ATM system using fixed-length cells or a frame relay system using a frame, wherein a test cell or a frame having a sequence number written in a payload portion. In order to determine the loss of the test cell, the continuity of the sequence number for each test cell or each frame is determined at each of the test loops, and the test cell or frame determined to be lost due to the lack of the sequence number is determined. A test cell or frame monitoring function unit for holding a sequence number in a storage area; and generating a plurality of test cells or frames while increasing the sequence number of the test cell or frame by one from an initial value, and generating the test cell or frame. The frames are sequentially transmitted to the test loop, and the test loop is traversed. And with said test cell or test cell to receive and eliminate the frame or the frame transmission and reception function unit that has returned to the sequence number of the missing test cells or frames are held in the storage area of the test cell or frame monitoring unit, Loss in the order of test cell travel on the test loop
A test result collection function unit that reads the presence or absence of a lost sequence number, stores the presence or absence of the read sequence number in a storage area corresponding to the test cell or the frame monitoring function unit, and uses it as information for specifying a simulated section. A line test apparatus characterized by having:
【請求項2】 請求項1に記載の回線試験装置におい
て、前記試験セルまたはフレームのペイロード部にシー
ケンス番号を記入するフィールドを設け、当該フィール
ドにシーケンス番号を初期値から1ずつ増加させながら
試験セルまたはフレームを発生させ、該試験セルまたは
フレームを試験ループに送出するとともに、当該セルま
たはフレームを受信・消滅させる試験セルまたはフレー
ム送受信機能部を、交換装置の外部に取り付けることを
特徴とする回線試験装置。
2. The line test apparatus according to claim 1, wherein a field for writing a sequence number is provided in a payload portion of the test cell or the frame, and the test cell is incremented by one from an initial value in the field. Or a line test characterized in that a test cell or a frame transmitting / receiving function unit for generating a frame, transmitting the test cell or the frame to the test loop, and receiving / erasing the cell or the frame is provided outside the switching equipment. apparatus.
【請求項3】 回線試験機能部を具備する交換装置を用
い、固定長のセルを用いるATM方式、またはフレーム
を用いるフレームリレー方式により通信を行う通信シス
テムの回線試験方法において、 ユーザ端末を含むユーザ通信回線、または回線終端装置
におけるユーザ端末を切り離すような折り返し状態のユ
ーザ通信回線、またはユーザ端末を収容する加入者交換
装置において、ユーザ端末を切り離すような折り返し状
態のユーザ通信回線が、それぞれ構成する試験ループ上
の一点に試験セルまたはフレームを送受信する試験セル
またはフレーム送受信機能部を配置し、 該試験セルまたはフレーム送受信機能部からシーケンス
番号を付与した試験セルまたはフレームを発生して、該
試験セルまたはフレームを上記試験ループに送出し、上記試験ループ上を通過する試験セルまたはフレームを
上記回線試験機能部によりモニタし、該試験セルまたは
フレームのペイロード部に記入されたシーケンス番号の
連続性を監視し、該シーケンス番号に欠落があった場合
には、該試験セルまたはフレームの損失とみなし、該試
験セルまたはフレームのシーケンス番号を該回線試験機
能部内に備えられた損失セルまたはフレーム蓄積エリア
に保持し、 上記回線試験機能部を含む該試験ループを巡環して戻っ
てきた該試験セルまたはフレームを該試験セルまたはフ
レーム送受信機能部により受信・消滅し、 該試験セルまたはフレームの送出完了後、該試験ループ
を構成する上記回線試験機能部内の試験セルまたはフレ
ーム蓄積エリアを該試験ループ上の試験セルの進行方向
の順に損失シーケンス番号の有無を確認し、最初にシー
ケンス番号が保持された損失セルまたはフレーム蓄積エ
リアを有する交換装置の回線試験機能部と該機能部の前
段の交換装置の回線試験機能部の間を被擬区間として特
定すること を特徴とする回線試験方法。
3. A line test method for a communication system in which communication is performed by an ATM system using fixed-length cells or a frame relay system using a frame by using a switching device having a line test function unit. communication line or the user communication line folded state as disconnecting the user terminal in the network unit or Te subscriber switching device smells that accommodates the user terminal, the user communication line of the folded state as disconnecting the user terminal, and each configuration A test cell or a frame transmission / reception function unit for transmitting / receiving a test cell or a frame is arranged at one point on a test loop to be performed, and a test cell or frame to which a sequence number is assigned is generated from the test cell or the frame transmission / reception function unit to perform the test. the cell or frame is sent to the test loop, the The test cell or frame passes above test loop
Monitoring by the line test function unit, the test cell or
Of the sequence number written in the payload
Monitor continuity and if the sequence number is missing
Is considered to be a loss of the test cell or frame and
The sequence number of the test cell or frame
Lost cell or frame storage area provided in Nobu
And loops around the test loop including the line test function section and returns.
The test cell or frame that has been
After receiving / erasing by the frame transmission / reception function unit and completing transmission of the test cell or frame, the test loop
The test cell or frame in the above line test function
Direction of the test cell on the test loop
Check for the presence of a loss sequence number in the order
Lost cell or frame storage error
Line test function unit of switching equipment having rear and in front of this function unit
The section between the line test function sections of the switching equipment
Line testing method, characterized by a constant.
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