JP3131511B2 - Ｘ線検出器用蛍光体およびそれを用いたｘ線検出器 - Google Patents
Ｘ線検出器用蛍光体およびそれを用いたｘ線検出器Info
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- ray
- light
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Description
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、Ｘ線診断等に用いられ
るＸ線ＣＴ装置等に好適なＸ線検出器用蛍光体およびそ
れを用いたＸ線検出器に関する。
るＸ線ＣＴ装置等に好適なＸ線検出器用蛍光体およびそ
れを用いたＸ線検出器に関する。
【０００２】
【従来の技術】近年、医療診断等の分野において、Ｘ線
ＣＴ装置が用いられている。従来のＸ線ＣＴ装置等にお
けるＸ線検出器には、高圧のキセノンガスを封入した電
離箱が一般的に用いられてきたが、この電離箱型の検出
器は、検出器自体が大きくて重い、電離電流（信号）が
十分に大きくない、Ｘ線吸収が小さい、残留イオン電流
がある等の問題を有していた。これらの問題点によっ
て、電離箱型Ｘ線検出器では、信号／ノイズ比に優れ、
診断能、空間分解能、時間分解能（高速スキャン性）が
大きい等の特性を有する、高性能のＸ線ＣＴ装置の開発
には限度があった。そこで、単結晶のCdWO4 蛍光体等を
用いた固体Ｘ線検出器が開発され、一部実用に供されて
いる。しかし、CdWO4 蛍光体を用いた固体Ｘ線検出器で
は、信号がキセノンガス検出器よりも小さく、十分に満
足できる信号／ノイズ比が得られない。これは、CdWO4
蛍光体の固有の発光効率からくる限界である。
ＣＴ装置が用いられている。従来のＸ線ＣＴ装置等にお
けるＸ線検出器には、高圧のキセノンガスを封入した電
離箱が一般的に用いられてきたが、この電離箱型の検出
器は、検出器自体が大きくて重い、電離電流（信号）が
十分に大きくない、Ｘ線吸収が小さい、残留イオン電流
がある等の問題を有していた。これらの問題点によっ
て、電離箱型Ｘ線検出器では、信号／ノイズ比に優れ、
診断能、空間分解能、時間分解能（高速スキャン性）が
大きい等の特性を有する、高性能のＸ線ＣＴ装置の開発
には限度があった。そこで、単結晶のCdWO4 蛍光体等を
用いた固体Ｘ線検出器が開発され、一部実用に供されて
いる。しかし、CdWO4 蛍光体を用いた固体Ｘ線検出器で
は、信号がキセノンガス検出器よりも小さく、十分に満
足できる信号／ノイズ比が得られない。これは、CdWO4
蛍光体の固有の発光効率からくる限界である。
【０００３】一方、上述したCdWO4 蛍光体固有の問題点
を解決するために、本発明者らは先に、Gd2 O 2 S:Prに
代表される希土類酸硫化物蛍光体を用いることを提案し
ており、このようなGd2 O 2 S:Pr蛍光体の半透明焼結体
を用いることにより、CdWO4単結晶の約 2倍の光出力
（信号）を得ることが可能となる。
を解決するために、本発明者らは先に、Gd2 O 2 S:Prに
代表される希土類酸硫化物蛍光体を用いることを提案し
ており、このようなGd2 O 2 S:Pr蛍光体の半透明焼結体
を用いることにより、CdWO4単結晶の約 2倍の光出力
（信号）を得ることが可能となる。
【０００４】ところで、最近のＸ線ＣＴ装置において
は、検出感度の向上を図る上で、Ｘ線検出器を被検体の
周囲に1000個〜3000個というように、多量に配置するこ
とが行われている。また一方で、検査時間の短縮を図る
ために、 1走査(1スライス）当りの時間を、例えば 2秒
というように短縮することが求められている。ここで、
例えば1000チャネルのＸ線検出器を 2秒で走査すると、
1チャネル当りの検出時間は約 2msecとなる。ここで、
例えば 2msec以後も発光が継続すると、次のチャネルで
の信号（発光）と重なり、ノイズとなってしまう。従っ
て、上記したような高速でスキャンニングを行うＸ線Ｃ
Ｔ装置においては、残光（アフターグロー）が小さいＸ
線検出器、すなわち蛍光体を用いる必要がある。
は、検出感度の向上を図る上で、Ｘ線検出器を被検体の
周囲に1000個〜3000個というように、多量に配置するこ
とが行われている。また一方で、検査時間の短縮を図る
ために、 1走査(1スライス）当りの時間を、例えば 2秒
というように短縮することが求められている。ここで、
例えば1000チャネルのＸ線検出器を 2秒で走査すると、
1チャネル当りの検出時間は約 2msecとなる。ここで、
例えば 2msec以後も発光が継続すると、次のチャネルで
の信号（発光）と重なり、ノイズとなってしまう。従っ
て、上記したような高速でスキャンニングを行うＸ線Ｃ
Ｔ装置においては、残光（アフターグロー）が小さいＸ
線検出器、すなわち蛍光体を用いる必要がある。
【０００５】しかし、上述したGd2 O 2 S:Pr蛍光体の焼
結体は、Ｘ線励起を遮断した後においても数% の発光が
あり、これによって信号／ノイズ比が低下し、診断能を
不満足なものとしていた。
結体は、Ｘ線励起を遮断した後においても数% の発光が
あり、これによって信号／ノイズ比が低下し、診断能を
不満足なものとしていた。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】上述したように、Gd2
O 2 S:Pr蛍光体を用いたＸ線検出器は、CdWO4 蛍光体を
用いた固体Ｘ線検出器に比べて約 2倍の光出力（信号）
を得ることができる反面、残光が大きいために、検査時
間の短縮化（高速スキャン）を図ったＸ線ＣＴ装置で
は、信号／ノイズ比が低下してしまうという問題を有し
ていた。
O 2 S:Pr蛍光体を用いたＸ線検出器は、CdWO4 蛍光体を
用いた固体Ｘ線検出器に比べて約 2倍の光出力（信号）
を得ることができる反面、残光が大きいために、検査時
間の短縮化（高速スキャン）を図ったＸ線ＣＴ装置で
は、信号／ノイズ比が低下してしまうという問題を有し
ていた。
【０００７】なお、Gd2 O 2 S:Pr蛍光体にCeを添加する
（(A1-x-y Lnx Cey ）2 O 2 S;X ：AはY,La,Gd 、LnはP
r,Tb,Eu、 XはF,Cl,Br 、0.000003≦ x≦0.2 、0.00000
1≦y≦0.005 、 Xは任意成分）ことにより、残光時間の
短縮を図ることが提案されている（特開昭 56-151376号
公報参照）。ただし、上記したようなCeの添加量では、
発光出力自体が低下してしまうことが、本発明者らの実
験によって明らかとなった。これによって、Gd2 O 2 S:
Pr蛍光体の特徴を十分に活かすことができず、上述した
従来のＸ線検出器と同様に、信号／ノイズ比の点で十分
に満足し得るＸ線検出器、ひいてはＸ線ＣＴ装置を提供
するまでには至っていない。
（(A1-x-y Lnx Cey ）2 O 2 S;X ：AはY,La,Gd 、LnはP
r,Tb,Eu、 XはF,Cl,Br 、0.000003≦ x≦0.2 、0.00000
1≦y≦0.005 、 Xは任意成分）ことにより、残光時間の
短縮を図ることが提案されている（特開昭 56-151376号
公報参照）。ただし、上記したようなCeの添加量では、
発光出力自体が低下してしまうことが、本発明者らの実
験によって明らかとなった。これによって、Gd2 O 2 S:
Pr蛍光体の特徴を十分に活かすことができず、上述した
従来のＸ線検出器と同様に、信号／ノイズ比の点で十分
に満足し得るＸ線検出器、ひいてはＸ線ＣＴ装置を提供
するまでには至っていない。
【０００８】本発明は、このような従来技術の課題に対
処するためになされたもので、Gd2O2 S:Pr蛍光体の高発
光出力という特徴を阻害することなく、残光を極めて小
さくすることを可能にしたＸ線検出器用蛍光体を提供す
ることを目的としており、また他の目的は、そのような
蛍光体を用いることによって、例えばＸ線ＣＴ装置で高
速スキャンを行うような場合においても、高信号／ノイ
ズ比が安定して得られるＸ線検出器を提供することを目
的としている。
処するためになされたもので、Gd2O2 S:Pr蛍光体の高発
光出力という特徴を阻害することなく、残光を極めて小
さくすることを可能にしたＸ線検出器用蛍光体を提供す
ることを目的としており、また他の目的は、そのような
蛍光体を用いることによって、例えばＸ線ＣＴ装置で高
速スキャンを行うような場合においても、高信号／ノイ
ズ比が安定して得られるＸ線検出器を提供することを目
的としている。
【０００９】
【課題を解決するための手段と作用】本発明者らは、上
記課題を達成するために研究を進めたところ、Gd2 O 2
S:Pr蛍光体にCeを添加する際に、Ceを十分に溶解した状
態で添加することにより、極微量のCe添加で残光を小さ
くすることが可能であると共に、発光出力の低下も極め
て少なくすることができることを見出した。
記課題を達成するために研究を進めたところ、Gd2 O 2
S:Pr蛍光体にCeを添加する際に、Ceを十分に溶解した状
態で添加することにより、極微量のCe添加で残光を小さ
くすることが可能であると共に、発光出力の低下も極め
て少なくすることができることを見出した。
【００１０】本発明は、上記したような知見に基くもの
であって、本発明のＸ線検出器用蛍光体は、 化学式：Gd2(1-x-y)Pr2xCe2yO2S ………(1) （式中、xは0＜x≦0.01を満足する数を、yは0＜y＜0.00
0001を満足する数を示す）で実質的に表される組成を有
する焼結体からなることを特徴としている。
であって、本発明のＸ線検出器用蛍光体は、 化学式：Gd2(1-x-y)Pr2xCe2yO2S ………(1) （式中、xは0＜x≦0.01を満足する数を、yは0＜y＜0.00
0001を満足する数を示す）で実質的に表される組成を有
する焼結体からなることを特徴としている。
【００１１】また、本発明のＸ線検出器は、Ｘ線により
発光する蛍光発生手段と、前記蛍光発生手段からの光を
受けて、前記発光出力を電気的出力に変換する光検出手
段とを具備するＸ線検出器において、前記蛍光発生手段
として、上記した蛍光体の焼結体を用いたことを特徴と
している。本発明のＸ線ＣＴ装置は、上記した本発明の
Ｘ線検出器を具備することを特徴としている。
発光する蛍光発生手段と、前記蛍光発生手段からの光を
受けて、前記発光出力を電気的出力に変換する光検出手
段とを具備するＸ線検出器において、前記蛍光発生手段
として、上記した蛍光体の焼結体を用いたことを特徴と
している。本発明のＸ線ＣＴ装置は、上記した本発明の
Ｘ線検出器を具備することを特徴としている。
【００１２】本発明の蛍光体は、Gd2O2S:Pr蛍光体の焼
結体に極微量のCeを含有させたものであって、Ceの含有
量を上記(1)式のy値として、0を超えて0.000001未満と
したことに特徴を有するものである。上記y値が0.00000
1以上となると、残光自体は小さくすることができるも
のの、蛍光体本来の発光出力が低下し、Ｘ線検出器とし
て用いた場合に、高信号／ノイズ比が得られなくなる。
すなわち、上記y値を0を超えて0.000001未満とすること
により、発光出力をほとんど低下させることなく、残光
を小さくすることが可能となる。y値のより好ましい値
は、0.0000001以上0.000001未満の範囲である。
結体に極微量のCeを含有させたものであって、Ceの含有
量を上記(1)式のy値として、0を超えて0.000001未満と
したことに特徴を有するものである。上記y値が0.00000
1以上となると、残光自体は小さくすることができるも
のの、蛍光体本来の発光出力が低下し、Ｘ線検出器とし
て用いた場合に、高信号／ノイズ比が得られなくなる。
すなわち、上記y値を0を超えて0.000001未満とすること
により、発光出力をほとんど低下させることなく、残光
を小さくすることが可能となる。y値のより好ましい値
は、0.0000001以上0.000001未満の範囲である。
【００１３】ただし、上記したような微量のCeで、残光
抑制効果を得るためには、蛍光体を作製する際に、Ceを
例えば十分に溶解した状態で添加する等によって、添加
量に見合ったCeの付活効果を十分に引き出す必要があ
る。その具体的な方法については後述する。
抑制効果を得るためには、蛍光体を作製する際に、Ceを
例えば十分に溶解した状態で添加する等によって、添加
量に見合ったCeの付活効果を十分に引き出す必要があ
る。その具体的な方法については後述する。
【００１４】また、上記(1)式におけるPrは、酸硫化ガ
ドリウム蛍光体の発光出力を増大させるための付活剤で
あり、その添加量が上記(1)式のx値として0.01を超える
と、逆に発光出力の低下を招くこととなる。Prのより好
ましい添加量は、x値として0.0001〜0.003の範囲であ
る。
ドリウム蛍光体の発光出力を増大させるための付活剤で
あり、その添加量が上記(1)式のx値として0.01を超える
と、逆に発光出力の低下を招くこととなる。Prのより好
ましい添加量は、x値として0.0001〜0.003の範囲であ
る。
【００１５】本発明のＸ線検出器は、上述したような
(1)式で組成が実質的に表される蛍光体の焼結体を蛍光
発生手段として用いたものである。なお、光検出手段と
しては、通常の光電変換素子を用いることができる。
(1)式で組成が実質的に表される蛍光体の焼結体を蛍光
発生手段として用いたものである。なお、光検出手段と
しては、通常の光電変換素子を用いることができる。
【００１６】Ｘ線検出器等として用いられる上記蛍光体
の焼結体は、例えば以下のようにして作製される。すな
わち、まずGd、Pr、Ceの各構成金属元素を所定量秤量
し、混合する。この際、各出発原料としてはそれぞれの
酸化物が用いられる。次いで、これら金属酸化物の混合
物を例えば塩酸で溶解し、各構成金属元素を所定量含む
塩化物を作製する。この塩化物を作製する時点で、Ceの
酸化物を十分に溶解させ、生成した塩化物中に均一に取
り込ませることが重要である。そのために、例えば過酸
化水素水(H2 O 2 ）を添加し、Ce酸化物の溶解を促進さ
せることが好ましい。
の焼結体は、例えば以下のようにして作製される。すな
わち、まずGd、Pr、Ceの各構成金属元素を所定量秤量
し、混合する。この際、各出発原料としてはそれぞれの
酸化物が用いられる。次いで、これら金属酸化物の混合
物を例えば塩酸で溶解し、各構成金属元素を所定量含む
塩化物を作製する。この塩化物を作製する時点で、Ceの
酸化物を十分に溶解させ、生成した塩化物中に均一に取
り込ませることが重要である。そのために、例えば過酸
化水素水(H2 O 2 ）を添加し、Ce酸化物の溶解を促進さ
せることが好ましい。
【００１７】次に、上記構成金属元素を所定量含む塩化
物を、例えばシュウ酸で処理してシュウ酸塩とした後、
加熱して構成金属元素を所定量含む複合酸化物を作製す
る。塩化物の時点で各構成金属元素が均一に含まれてい
るため、上記複合酸化物においても、その状態が維持さ
れる。次いで、上記複合酸化物の粉末を硫化水素気流中
にて1000℃〜1100℃の温度で数時間処理すると、上記金
属元素の酸硫化物が得られる。得られた金属酸硫化物粉
末を加圧成形し、Ta等のカプセル中に封入した後、ＨＩ
Ｐ処理を施して焼結体とする。ＨＩＰ処理は、例えば10
00〜2000kgf/cm2 程度の圧力を印加しつつ、1100〜1800
℃程度の温度で 1〜10時間処理することが好ましい。
物を、例えばシュウ酸で処理してシュウ酸塩とした後、
加熱して構成金属元素を所定量含む複合酸化物を作製す
る。塩化物の時点で各構成金属元素が均一に含まれてい
るため、上記複合酸化物においても、その状態が維持さ
れる。次いで、上記複合酸化物の粉末を硫化水素気流中
にて1000℃〜1100℃の温度で数時間処理すると、上記金
属元素の酸硫化物が得られる。得られた金属酸硫化物粉
末を加圧成形し、Ta等のカプセル中に封入した後、ＨＩ
Ｐ処理を施して焼結体とする。ＨＩＰ処理は、例えば10
00〜2000kgf/cm2 程度の圧力を印加しつつ、1100〜1800
℃程度の温度で 1〜10時間処理することが好ましい。
【００１８】このような製造方法により作製した蛍光体
の焼結体は、十分な発光出力を有すると共に、残光が極
めて小さいものとなり、Ｘ線検出器の蛍光発生手段とし
て極めて有用なものとなる。また、このようなＸ線検出
器を用いたＸ線ＣＴ装置は、信号／ノイズ比が大きく、
かつ診断能、空間分解能、時間分解能等に優れ、高速高
性能が達成できる。
の焼結体は、十分な発光出力を有すると共に、残光が極
めて小さいものとなり、Ｘ線検出器の蛍光発生手段とし
て極めて有用なものとなる。また、このようなＸ線検出
器を用いたＸ線ＣＴ装置は、信号／ノイズ比が大きく、
かつ診断能、空間分解能、時間分解能等に優れ、高速高
性能が達成できる。
【００１９】
【実施例】以下、本発明の実施例について説明する。
【００２０】実施例１ まず、Gd2 O 3 粉末、Pr2 O 3 粉末および CeO2 粉末
を、Gd2(0.999-y)Pr 2× 0.001 Ce2y O2 S の y値が 0.7
×10-6となるように所定量秤量し、これらを十分に混合
した後、所定量より若干過剰の塩酸中に溶解させて、複
合塩化物溶液を作製した。この際に、塩酸と同量位まで
の過酸化水素水を添加することにより、難溶解性の酸化
セリウム(CeO2 ）を完全に溶解させる。
を、Gd2(0.999-y)Pr 2× 0.001 Ce2y O2 S の y値が 0.7
×10-6となるように所定量秤量し、これらを十分に混合
した後、所定量より若干過剰の塩酸中に溶解させて、複
合塩化物溶液を作製した。この際に、塩酸と同量位まで
の過酸化水素水を添加することにより、難溶解性の酸化
セリウム(CeO2 ）を完全に溶解させる。
【００２１】次に、上記複合塩化物溶液中に所定量のシ
ュウ酸溶液を投入し、十分に撹拌するとシュウ酸塩沈殿
を生成し、これを濾過、洗浄、乾燥した後、1000℃で 1
時間加熱して酸化し、複合酸化物を作製した。
ュウ酸溶液を投入し、十分に撹拌するとシュウ酸塩沈殿
を生成し、これを濾過、洗浄、乾燥した後、1000℃で 1
時間加熱して酸化し、複合酸化物を作製した。
【００２２】この後、上記複合酸化物粉末を硫化水素気
流中にて1000℃〜1100℃の温度で数時間処理して、上記
組成の酸硫化物を得た。これを加圧成形し、Ta等のカプ
セル中に封入した後、1500kgf/cm2 の圧力を印加しつつ
1400℃の温度で 5時間ＨＩＰ処理を施すことにより、目
的とする半透明の焼結体を得た。
流中にて1000℃〜1100℃の温度で数時間処理して、上記
組成の酸硫化物を得た。これを加圧成形し、Ta等のカプ
セル中に封入した後、1500kgf/cm2 の圧力を印加しつつ
1400℃の温度で 5時間ＨＩＰ処理を施すことにより、目
的とする半透明の焼結体を得た。
【００２３】このようにして得た焼結体の組成分析を行
ったところ、分析誤差範囲内で上記組成通りとなってい
ることが確認された。また、上記焼結体から 2mm×10mm
×10mmのチップを切り出し、後述する特性評価に供し
た。
ったところ、分析誤差範囲内で上記組成通りとなってい
ることが確認された。また、上記焼結体から 2mm×10mm
×10mmのチップを切り出し、後述する特性評価に供し
た。
【００２４】実施例２、３ Gd2(0.999-y)Pr 2×0.001 Ce2y O2 S の組成式におい
て、 y値をそれぞれ 0.5×10-6、 0.2×10-6とする以外
は、実施例１と同様にして、半透明の焼結体をそれぞれ
作製した。これら焼結体についても、組成分析を行った
ところ、分析誤差範囲内で上記組成通りとなっているこ
とが確認された。また、上記した各焼結体から実施例１
と同一形状のチップをそれぞれ切り出し、後述する特性
評価に供した。
て、 y値をそれぞれ 0.5×10-6、 0.2×10-6とする以外
は、実施例１と同様にして、半透明の焼結体をそれぞれ
作製した。これら焼結体についても、組成分析を行った
ところ、分析誤差範囲内で上記組成通りとなっているこ
とが確認された。また、上記した各焼結体から実施例１
と同一形状のチップをそれぞれ切り出し、後述する特性
評価に供した。
【００２５】比較例１、２ Gd2(0.999-y)Pr 2×0.001 Ce2y O2 S の組成式におい
て、 y値をそれぞれ 0、1.5×10-6とする以外は、実施
例１と同様にして、半透明の焼結体をそれぞれ作製し
た。これら焼結体についても、組成分析を行ったとこ
ろ、分析誤差範囲内で上記組成通りとなっていることが
確認された。また、上記した各焼結体から実施例１と同
一形状のチップをそれぞれ切り出し、後述する特性評価
に供した。
て、 y値をそれぞれ 0、1.5×10-6とする以外は、実施
例１と同様にして、半透明の焼結体をそれぞれ作製し
た。これら焼結体についても、組成分析を行ったとこ
ろ、分析誤差範囲内で上記組成通りとなっていることが
確認された。また、上記した各焼結体から実施例１と同
一形状のチップをそれぞれ切り出し、後述する特性評価
に供した。
【００２６】上述した各実施例および比較例により得た
焼結体チップをそれぞれ用いて、アフターグローおよび
発光出力を測定した。それらの結果を図１および図２に
それぞれ示す。なお、測定値は比較例１による焼結体チ
ップ（Ce無添加）の値を 100としたときの相対値で示し
てある。また、アフターグローは、J.Electrochem.So
c.,Vol.136,No.9 に記載されている方法および定義に従
って測定したものである。
焼結体チップをそれぞれ用いて、アフターグローおよび
発光出力を測定した。それらの結果を図１および図２に
それぞれ示す。なお、測定値は比較例１による焼結体チ
ップ（Ce無添加）の値を 100としたときの相対値で示し
てある。また、アフターグローは、J.Electrochem.So
c.,Vol.136,No.9 に記載されている方法および定義に従
って測定したものである。
【００２７】上記各焼結体チップのアフターグローは、
y=0としてもの（比較例１）を 100とすると、 y=0.7×
10-6のもの（実施例１）で 6、 y=0.5×10-6のもの（実
施例２）で13、 y=0.2×10-6のもの（実施例３）で40、
y=1.5×10-6のもの（比較例２）で 4であったが、発光
出力は各実施例による蛍光体チップが98以上であったの
に対し、比較例２では96と低下していた。
y=0としてもの（比較例１）を 100とすると、 y=0.7×
10-6のもの（実施例１）で 6、 y=0.5×10-6のもの（実
施例２）で13、 y=0.2×10-6のもの（実施例３）で40、
y=1.5×10-6のもの（比較例２）で 4であったが、発光
出力は各実施例による蛍光体チップが98以上であったの
に対し、比較例２では96と低下していた。
【００２８】このように、本発明による蛍光体によれ
ば、発光出力を低下させることなく、アフターグローを
小さくできることが分かる。そして、このような焼結体
チップを用いてＸ線検出器を作製し、そのＸ線検出器を
用いてＸ線ＣＴ装置を構成することにより、 1チップ当
りの照射時間を例えば 2msecというように短くし、高速
スキャンを行う場合においても、優れた信号／ノイズ比
を得ることができる。よって、短時間で高精度の診断や
検査が可能となる。
ば、発光出力を低下させることなく、アフターグローを
小さくできることが分かる。そして、このような焼結体
チップを用いてＸ線検出器を作製し、そのＸ線検出器を
用いてＸ線ＣＴ装置を構成することにより、 1チップ当
りの照射時間を例えば 2msecというように短くし、高速
スキャンを行う場合においても、優れた信号／ノイズ比
を得ることができる。よって、短時間で高精度の診断や
検査が可能となる。
【００２９】また具体的に、実施例２による蛍光体の焼
結体と、比較例１による蛍光体の焼結体をそれぞれ用い
て、 0.7mm幅の検出素子を作製し、各々1000チャネルの
Ｘ線ＣＴ装置を構成した。これら各Ｘ線ＣＴ装置を用い
て、 1mmφのナイロン糸を 2秒走査で撮影したところ、
比較例１による蛍光体を用いた装置ではナイロン糸を識
別することはできなかったのに対し、アフターグローを
約1/10に低減した実施例２による蛍光体を用いたＸ線Ｃ
Ｔ装置では、十分に識別が可能であった。
結体と、比較例１による蛍光体の焼結体をそれぞれ用い
て、 0.7mm幅の検出素子を作製し、各々1000チャネルの
Ｘ線ＣＴ装置を構成した。これら各Ｘ線ＣＴ装置を用い
て、 1mmφのナイロン糸を 2秒走査で撮影したところ、
比較例１による蛍光体を用いた装置ではナイロン糸を識
別することはできなかったのに対し、アフターグローを
約1/10に低減した実施例２による蛍光体を用いたＸ線Ｃ
Ｔ装置では、十分に識別が可能であった。
【００３０】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、Gd
2 O2 S:Pr蛍光体の特徴である高発光出力を維持しつ
つ、アフターグローを極めて小さくしたＸ線検出器用蛍
光体を提供することが可能となる。よって、このような
蛍光体を用いてＸ線検出器を構成することにより、例え
ばＸ線ＣＴ装置で高速スキャンを行うような場合におい
ても、高信号／ノイズ比を安定して得ることが可能とな
る。
2 O2 S:Pr蛍光体の特徴である高発光出力を維持しつ
つ、アフターグローを極めて小さくしたＸ線検出器用蛍
光体を提供することが可能となる。よって、このような
蛍光体を用いてＸ線検出器を構成することにより、例え
ばＸ線ＣＴ装置で高速スキャンを行うような場合におい
ても、高信号／ノイズ比を安定して得ることが可能とな
る。
【図１】本発明の実施例で作製した蛍光体チップのCe添
加量とアフターグローとの関係を示す図である。
加量とアフターグローとの関係を示す図である。
【図２】本発明の実施例で作製した蛍光体チップのCe添
加量と発光出力との関係を示す図である。
加量と発光出力との関係を示す図である。
フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) C09K 11/00 C09K 11/84 CPD G01T 1/20
Claims (3)
- 【請求項１】 化学式：Gd2(1-x-y)Pr2xCe2yO2S （式中、xは0＜x≦0.01を満足する数を、yは0＜y＜0.00
0001を満足する数を示す）で実質的に表される組成を有
する焼結体からなることを特徴とするＸ線検出器用蛍光
体。 - 【請求項２】 Ｘ線により発光する蛍光発生手段と、前
記蛍光発生手段からの光を受けて、前記発光出力を電気
的出力に変換する光検出手段とを具備するＸ線検出器に
おいて、 前記蛍光発生手段として、請求項１記載の蛍光体の焼結
体を用いたことを特徴とするＸ線検出器。 - 【請求項３】 請求項２記載のＸ線検出器を具備するこ
とを特徴とするＸ線ＣＴ装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP30096192A JP3131511B2 (ja) | 1992-11-11 | 1992-11-11 | Ｘ線検出器用蛍光体およびそれを用いたｘ線検出器 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP30096192A JP3131511B2 (ja) | 1992-11-11 | 1992-11-11 | Ｘ線検出器用蛍光体およびそれを用いたｘ線検出器 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06145655A JPH06145655A (ja) | 1994-05-27 |
| JP3131511B2 true JP3131511B2 (ja) | 2001-02-05 |
Family
ID=17891164
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP30096192A Expired - Lifetime JP3131511B2 (ja) | 1992-11-11 | 1992-11-11 | Ｘ線検出器用蛍光体およびそれを用いたｘ線検出器 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3131511B2 (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP3524300B2 (ja) * | 1995-11-21 | 2004-05-10 | 株式会社東芝 | セラミックスシンチレータ、それを用いた放射線検出器および放射線検査装置 |
| EP0908503B1 (en) * | 1996-06-21 | 2003-04-02 | Kasei Optonix, Ltd. | Rare earth sulfate phosphor and x-ray detector using the same |
| JP5241979B2 (ja) * | 1999-07-16 | 2013-07-17 | 株式会社東芝 | セラミックシンチレータ材料とその製造方法、およびそれを用いた放射線検出器と放射線検査装置 |
-
1992
- 1992-11-11 JP JP30096192A patent/JP3131511B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH06145655A (ja) | 1994-05-27 |
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