JP3130463B2 - Displacement detector - Google Patents

Displacement detector

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JP3130463B2
JP3130463B2 JP07340185A JP34018595A JP3130463B2 JP 3130463 B2 JP3130463 B2 JP 3130463B2 JP 07340185 A JP07340185 A JP 07340185A JP 34018595 A JP34018595 A JP 34018595A JP 3130463 B2 JP3130463 B2 JP 3130463B2
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displacement
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scales
signal
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Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は大型の工作機械等の
テーブル等で長ストロークの移動がなされる場合に必要
となる長尺の変位検出装置、特に長尺スケールを形成す
る各スケールの位置合わせを高精度に行うための変位量
の検出に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a long displacement detecting device which is required when a long stroke is moved on a table or the like of a large machine tool or the like, and in particular, positioning of each scale forming a long scale. The detection of the amount of displacement for performing the measurement with high accuracy.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、複数のスケールをつなぎ合わせる
長尺スケールは、一方のスケールを保持し、そのスケー
ル端部のつなぎ目において、スケールの縦縞目盛に別の
小型目盛板を対面させ、それが重なり合って発生するモ
アレ稿を目視にて検出して、整然としたモアレ稿が発生
するように他方のスケールを調整して製造している。
2. Description of the Related Art Conventionally, a long scale for connecting a plurality of scales holds one scale, and at a joint at the end of the scale, another small scale plate faces a vertical stripe scale of the scale, and the scales overlap. The moiré manuscript that is generated is visually detected, and the other scale is adjusted so that a moiré manuscript can be produced in order.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】上述した従来のリニア
エンコーダの長尺スケールの製法では、スケールカバー
を外してスケールのみを取り出す作業が必要となり、一
方のスケールを保持するための機構と、つなぎ合わせる
他方のスケールを長手方向に調整するための機構を有す
る専用の製造装置が必要となる。
In the above-mentioned conventional method for producing a long scale of a linear encoder, it is necessary to remove the scale cover and take out only the scale, and a mechanism for holding one of the scales is connected to the mechanism. A dedicated manufacturing apparatus having a mechanism for adjusting the other scale in the longitudinal direction is required.

【0004】また、モアレ稿によって調整する方法で
は、人の知覚にたよることになり数値化できず、調整の
精度が悪いという問題がある。例えば、100 μm周期の
スケールを用いる場合、2 〜4 μm程度の位置合わせ誤
差を生じさせていた。また、熟練が必要であり、多大な
工数を要していた。
[0004] In addition, the adjustment method based on the moiré draft has a problem that it depends on human perception, cannot be converted into a numerical value, and the adjustment accuracy is poor. For example, when a scale having a period of 100 μm is used, an alignment error of about 2 to 4 μm is generated. Moreover, skill was required, and a large number of man-hours were required.

【0005】本発明は、上述のような事情から成された
ものであり、本発明の目的は、リニアエンコーダを取付
ける本機上において、スケールカバーを外したり、専用
の製造装置に取付けて調整するといった作業を必要とせ
ず、非常に短時間で、高精度に調整された長尺スケール
の製造を可能とする変位検出装置を提供することにあ
る。
The present invention has been made in view of the circumstances described above, and an object of the present invention is to adjust the scale by removing the scale cover or attaching the scale cover to a dedicated manufacturing device on the machine on which the linear encoder is mounted. It is an object of the present invention to provide a displacement detection device which can manufacture a long scale adjusted with high accuracy in a very short time without requiring such operations.

【0006】[0006]

【課題を解決するための手段】本発明は大型の工作機械
等のテーブル等で長ストロークの移動がなされる場合に
必要となる長尺の変位検出装置に関するものであり、本
発明の上記目的を達成するために、本発明は、並設する
ことにより一の長尺スケールを形成する複数のスケール
と前記複数のスケールとの相対位置を検出するスライダ
手段を備えた変位検出装置において、前記スライダ手段
は、複数のスケールからの信号を同時に得ることのでき
る位置での前記各スケールからの信号に基づいて各スケ
ールの相対位置を算出し、複数のスケールの調整すべき
変位量を検出するスケール位置検出手段とを有すること
を特徴とする。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention relates to a long displacement detecting device required when a long stroke is moved on a table of a large machine tool or the like. In order to achieve the present invention, the present invention provides a displacement detecting apparatus comprising: a plurality of scales which are arranged side by side to form one long scale; and a slider means for detecting a relative position between the plurality of scales. Calculates a relative position of each scale based on a signal from each scale at a position where signals from a plurality of scales can be obtained at the same time, and detects a displacement amount to be adjusted of the plurality of scales. Means.

【0007】また、前記スケール位置検出手段は、所定
の位相差をもって出力すべき信号の位相差に基づいて、
各スケールの相対位置を算出することを特徴とする。
[0007] The scale position detecting means may determine whether or not the signal should be outputted with a predetermined phase difference based on the phase difference.
It is characterized in that the relative position of each scale is calculated.

【0008】また、前記スライダ手段は、少なくとも2
つの前記位置検出手段を有し、前記スケール位置検出手
段は、前記各位置検出手段が検出した信号に基づいて各
スケールの相対位置を算出することを特徴とする。
[0008] The slider means may include at least two sliders.
And the scale position detecting means calculates a relative position of each scale based on a signal detected by each of the position detecting means.

【0009】更に、前記スケール位置検出手段は、前記
各位置検出手段が同一のスケールから検出した信号に基
づいて算出した基準位置からのずれ量と、前記各位置検
出手段がそれぞれ異なるスケールから検出した信号に基
づいて算出した基準位置からのずれ量とに基づいて各ス
ケールの相対位置を算出することを特徴とする。
Further, the scale position detecting means detects the amount of deviation from a reference position calculated based on a signal detected by the position detecting means from the same scale, and detects the amount of displacement from each of the different scales. The relative position of each scale is calculated based on the shift amount from the reference position calculated based on the signal.

【0010】本発明にあっては、長尺スケールを製造す
る際、スケールのつなぎ目部分の調整に特別な段取りや
装置を必要とせず、また、スケールユニットの開封など
の必要もない。よって、生産性の向上がはかれ、ひいて
はコストの削減が可能となる。また、変位検出装置を取
付ける本機上において、スケールの位置合わせが高精度
に実現できる。
According to the present invention, when a long scale is manufactured, no special setup or device is required for adjusting the joints of the scale, and there is no need to open the scale unit. Therefore, the productivity can be improved, and the cost can be reduced. In addition, on the main unit on which the displacement detecting device is mounted, the positioning of the scale can be realized with high accuracy.

【0011】[0011]

【発明の実施の形態】以下、図面に基づいて、本発明の
好適な実施の形態について説明する。
Preferred embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.

【0012】図1は本発明に係る変位検出装置の一実施
の形態を示すブロック図であり、メインスケールユニッ
ト1とスライダ2で構成されている。
FIG. 1 is a block diagram showing an embodiment of a displacement detecting device according to the present invention, which comprises a main scale unit 1 and a slider 2.

【0013】メインスケールユニット1は、相対的に変
位する2つの装置のうち一方に固定され、メインスケー
ルであるスケール3とスケール4、ならびに一方のスケ
ールを長手方向に位置が調整可能な調整部5とを備えて
いる。この例では、調整部5は、スケール4に装着され
ており、調整後に取り外しが可能となっている。
The main scale unit 1 is fixed to one of two relatively displaceable devices, and a scale 3 and a scale 4, which are main scales, and an adjusting unit 5 capable of adjusting the position of one of the scales in the longitudinal direction. And In this example, the adjustment unit 5 is mounted on the scale 4 and can be removed after adjustment.

【0014】一方、相対的に変位する他方の装置に固定
されたスライダ2は、スケール3とスケール4からの検
出信号を得る検出部6と、スライダ2がスケール3とス
ケール4のつなぎ目部分に配置された際の検出信号に基
づいてスケール3とスケール4の位置関係を検出し出力
するスケール位置検出手段7とを備えている。
On the other hand, a slider 2 fixed to the other device which is relatively displaced has a detector 6 for obtaining detection signals from the scales 3 and 4, and the slider 2 is disposed at a joint between the scales 3 and 4. And a scale position detecting means 7 for detecting and outputting the positional relationship between the scale 3 and the scale 4 based on the detection signal at the time of the detection.

【0015】本実施の形態における動作を以下に説明す
る。本実施の形態における検出部6では、図2に示され
るようなインデックススケール8が用いられ、ここで、
検出信号は、互いに90度位相が異なった信号が出力さ
れる。例えば、図2におけるスケール部8aから得られ
るa相信号と、スケール部8bから得られるb相信号と
は、P/4だけ位相が異なるように設けられている。な
お、Pは格子線の間隔である。スケール3、4が精度よ
く配置されていれば、a相ならびにb相信号は、90度
位相差の信号となるはずである。例えば、インデックス
部8aと8bが同じスケールに対向していれば、a相と
b相信号の位相差は、概ね90度となる。また、スケー
ル部8cから得られるc相信号と、スケール部8dから
得られるD相信号との関係についても同様である。
The operation of the embodiment will be described below. In the detecting section 6 in the present embodiment, an index scale 8 as shown in FIG. 2 is used.
As the detection signals, signals having phases different from each other by 90 degrees are output. For example, the a-phase signal obtained from the scale unit 8a in FIG. 2 and the b-phase signal obtained from the scale unit 8b are provided so that the phases are different by P / 4. Note that P is the interval between grid lines. If the scales 3 and 4 are arranged accurately, the a-phase and b-phase signals should be signals having a phase difference of 90 degrees. For example, if the index portions 8a and 8b face the same scale, the phase difference between the a-phase and b-phase signals will be approximately 90 degrees. The same applies to the relationship between the c-phase signal obtained from the scale unit 8c and the D-phase signal obtained from the scale unit 8d.

【0016】そこで、本実施の形態では、検出部6を前
記スケール3とスケール4のつなぎ目部分に配置する。
すなわち、スケール部8aとスケール部8bとをつなぎ
目部分をまたぐような位置に配置する。これにより、異
なるスケール3、4からの信号を同時に検出することが
できる。このように検出部6を置いて変位させた場合に
同時に得られたa相、b相の信号を基に、スケールの位
置合わせの精度を判定する。例えば、スライダが相対変
位した際に得られたa相、b相信号の位相差を求めて、
この値をスケールの位置合わせ精度に換算して出力す
る。そして、外部の数値制御装置や表示装置に転送す
る。位相差の例として、例えば、検出信号の信号周期が
100 μmの場合に、a相とb相信号の位相差が150 度で
あったとすると、16.67 μm [=(150-90)/360*100
]だけ、調整部5により、スケール4を微動させれば
よい。そして、最終的には、この値が90度の位相差と
なるように調整すれば良い。ここで、a相とb相から得
られる信号の位相差は、理想的には、90度となるはず
であるが、インデックススケール8の目盛の誤差などに
より誤差を含んでしまう場合もあり得る。そこで、イン
デックススケール8のa相とb相が同じスケールに対向
した状態で、インデックススケールのa相とb相、具体
的にはスケール部8bと8dの位相差を測定して、これ
を目標値としてもよい。
Therefore, in the present embodiment, the detection unit 6 is disposed at a joint between the scale 3 and the scale 4.
That is, the scale portion 8a and the scale portion 8b are arranged at positions that straddle the joint. Thereby, signals from different scales 3 and 4 can be detected simultaneously. The accuracy of scale alignment is determined based on the a-phase and b-phase signals obtained simultaneously when the detection unit 6 is placed and displaced as described above. For example, the phase difference between the a-phase and b-phase signals obtained when the slider is relatively displaced is obtained,
This value is converted to the scale positioning accuracy and output. Then, the data is transferred to an external numerical control device or display device. As an example of the phase difference, for example, when the signal period of the detection signal is
If the phase difference between the a-phase signal and the b-phase signal is 150 degrees at 100 μm, then 16.67 μm [= (150−90) / 360 * 100
], The scale 4 may be finely moved by the adjusting unit 5. Then, finally, adjustment may be made so that this value becomes a phase difference of 90 degrees. Here, the phase difference between the signals obtained from the a-phase and the b-phase should ideally be 90 degrees, but may include an error due to a scale error of the index scale 8 or the like. Then, in a state where the a phase and the b phase of the index scale 8 face the same scale, the phase difference between the a phase and the b phase of the index scale, specifically, the phase difference between the scale portions 8b and 8d is measured, and this is set to the target value. It may be.

【0017】なお、この出力値は、位相差の形式でもよ
いし、位置データの形式でもよい。また、誤差の形式で
もよいし、微動指示値の形式でもよい。また、位置デー
タとともに出力するようにしてもよい。
The output value may be in the form of a phase difference or in the form of position data. Further, it may be in the form of an error or in the form of a fine movement instruction value. Further, it may be output together with the position data.

【0018】調整部5は、調整が完了したらスケール4
の固定後に取り外してもよい。
When the adjustment is completed, the adjustment unit 5
May be removed after fixing.

【0019】信号の位相差の検出は、各信号をフーリェ
変換して求めてもよいし、信号のゼロクロス点やピーク
点の位置関係から求めてもよい。また、信号の位相差は
その他各種の方法により求めることができ、本発明はこ
れに制限されない。
The phase difference between the signals may be detected by performing a Fourier transform on each signal or from the positional relationship between the zero-cross point and the peak point of the signal. Further, the phase difference of the signal can be obtained by various other methods, and the present invention is not limited to this.

【0020】スケールの位置合わせの精度を判定する別
の手段として、前記スケール位置検出部7において、ス
ケール3とスケール4のつなぎ目部分にある相用のイン
デックススケールを配置した際のその相の検出信号のコ
ントラストから判定するようにしてもよい。例えば、a
相用の、インデックススケールの中心が、ちょうどスケ
ールのつなぎめにくるように配置する。スケール位置検
出部7では、スライダ2を変位させた場合のa相信号の
コントラストにより、スケールの位置合わせの精度を判
定する。
As another means for judging the accuracy of the alignment of the scale, a detection signal of the phase when the index scale for the phase at the joint between the scale 3 and the scale 4 is arranged in the scale position detecting section 7 is provided. May be determined from the contrast. For example, a
Arrange the center of the index scale for the phase so that it is exactly at the joint of the scale. The scale position detection unit 7 determines the accuracy of the scale positioning based on the contrast of the a-phase signal when the slider 2 is displaced.

【0021】ここで、コントラストは、次式により求め
られる。
Here, the contrast is obtained by the following equation.

【0022】 cont=(Imax −Imin )/(Imax +Imin ) =Amp/2ofs なぜならば Amp=Imax ーImin ofs=(Imax +Imin )/2 cont:コントラスト Amp :振幅 ofs :オフセット ここで、コントラストの値が最大になるように調整部5
で調整するようにすれば良い。これは、2つのスケール
3、4の位置合わせが精密になされていれば、a相用の
インデックススケールに入射される光の強度分布は一様
となるが、位置合わせが不正確な場合、例えばP/2近
くの位置合わせの誤差を含んだ場合、入射される光の強
度分布が一様とならずコントラストが低下してしまうこ
とを利用したものである。この際、コントラストの最大
値の目安として、a相がつなぎ目でない位置で得られた
信号のコントラストを用いてもよいし、a相がつなぎ目
にある際の、他のつなぎ目でない相の信号のコントラス
トを用いてのよい。スケール位置検出部7は、外部に対
して、コントラストの値を出力してもよいし、コントラ
ストの目標値に対する差を出力してもよい。
Cont = (Imax-Imin) / (Imax + Imin) = Amp / 2ofs, because Amp = Imax-Imin ofs = (Imax + Imin) / 2 cont: contrast Amp: amplitude ofs: offset Here, the value of the contrast is Adjustment unit 5 to maximize
The adjustment should be made with. This is because if the two scales 3 and 4 are precisely aligned, the intensity distribution of light incident on the a-phase index scale is uniform, but if the alignment is incorrect, for example, This method utilizes the fact that when an alignment error near P / 2 is included, the intensity distribution of incident light is not uniform and the contrast is reduced. At this time, as a guide of the maximum value of the contrast, the contrast of the signal obtained at the position where the a-phase is not a joint may be used, or the contrast of the signal of another non-seamless phase when the a-phase is at the joint may be used. Good to use. The scale position detection unit 7 may output a contrast value to the outside, or may output a difference from a target value of the contrast.

【0023】図3、図4は本発明の他の実施の形態の例
を示すブロック図であり、少なくとも2つのスライダ1
0、スライダ11を有するスライダユニット9とを備え
ている。上記の実施の形態では、スライダ手段として1
つのスライダのみを有していたが、本実施の形態におい
ては2組のスライダ10、11を用いる。スライダ10
とスライダ11は、所定の間隔で固定されている。メイ
ンスケールユニット1の構成は、前述の実施の形態と同
様である。また、各スライダユニット9は、スケール位
置検出部7とを有している。スケール位置検出部7は、
図3に示すような、スライダ10、スライダ11のいず
れもが1つのスケールに対向している際の各々の位置デ
ータと、図4に示すような、スライダ10、11をスケ
ールのつなぎ目部分をまたぐような位置に置いた際の位
置データとの関係により、スケール3とスケール4の位
相関係を検出するようになっている。
FIGS. 3 and 4 are block diagrams showing another embodiment of the present invention, in which at least two sliders 1 are provided.
0, a slider unit 9 having a slider 11. In the above embodiment, 1 is used as the slider means.
Although only one slider is provided, two sets of sliders 10 and 11 are used in the present embodiment. Slider 10
And the slider 11 are fixed at a predetermined interval. The configuration of the main scale unit 1 is the same as in the above-described embodiment. Further, each slider unit 9 has a scale position detecting section 7. The scale position detection unit 7
Each position data when both the sliders 10 and 11 face one scale as shown in FIG. 3 and the sliders 10 and 11 straddle the joint of the scale as shown in FIG. The phase relationship between the scale 3 and the scale 4 is detected based on the relationship with the position data when placed at such a position.

【0024】検出部6で得られる位置データは、メイン
スケールの格子周期Pの範囲内での絶対位置を検出する
ことができる。例えば、格子周期Pが100 μmの場合
に、スライダ10で得られた位置データをPosA、スライ
ダ11で得られた位置データをPosBとする。ここで、両
方のスライダ10、11が1つのスケール、例えば図3
に示したようにスケール3に対向した場合において、そ
れぞれに設定されたある基準位置からのずれ量がPosAが
10μm、PosBが30μmであったとする。そして、この関
係は、スライダ10、スライダ11がスケール3、4の
つなぎ目部分をまたぐような位置に置かれた場合も、保
持される必要があり、この場合にスケールの精密な位置
合わせがなされたことになる。ここで、つなぎ目部分を
またぐような位置に置かれた場合のずれ量がPosAが10μ
m、PosBが70μmであったとすると、スケールの位相合
わせ誤差は40μmである。スケール位置検出部7は、こ
れらの関係から位置合わせ誤差つまり変位量を検出する
ことができる。そして、調整部5は、この値に基づいて
スケール4を40μmだけ微動させればよい。このように
して、両者の関係が等しくなるように調整する。この場
合、前述した実施の形態と異なり、スライダ2及びスケ
ール4の位置を相対変位させ微調整するという作業を行
うことなく、スケール3、4の位置合わせの精度の測
定、調整が可能という長所を有する。
The position data obtained by the detector 6 can detect an absolute position within the range of the grid period P of the main scale. For example, when the lattice period P is 100 μm, the position data obtained by the slider 10 is PosA, and the position data obtained by the slider 11 is PosB. Here, both sliders 10, 11 are on one scale, for example FIG.
As shown in the figure, when it is opposed to the scale 3, the amount of deviation from a certain reference position set for each is PosA
Assume that 10 μm and PosB are 30 μm. This relationship needs to be maintained even when the slider 10 and the slider 11 are placed at positions where the sliders straddle the joints of the scales 3 and 4. In this case, precise alignment of the scale is performed. Will be. Here, PosA is 10μ when it is placed at a position that straddles the joint.
Assuming that m and PosB are 70 μm, the phase alignment error of the scale is 40 μm. The scale position detection unit 7 can detect a positioning error, that is, a displacement amount from these relationships. Then, the adjusting section 5 may finely move the scale 4 by 40 μm based on this value. In this way, adjustment is made so that the relationship between the two becomes equal. In this case, unlike the above-described embodiment, there is an advantage that the accuracy of the alignment of the scales 3 and 4 can be measured and adjusted without performing the work of finely adjusting the positions of the slider 2 and the scale 4 by relative displacement. Have.

【0025】なお、これまでの実施の形態では、スケー
ル位置検出部7で得られたスケールの位置合わせ精度も
しくは、微動の指示値は、調整部5に直接フィードバッ
クされていないが、電動化された調整部にフィードバッ
クするようにしてもよい。また、調整部は、モータを備
えてもよいし、圧電素子などを利用した微動機構を備え
てもよい。
In the embodiments described above, the positioning accuracy of the scale obtained by the scale position detecting section 7 or the instruction value of the fine movement is not directly fed back to the adjusting section 5, but is electrically operated. Feedback may be made to the adjustment unit. The adjustment unit may include a motor, or may include a fine movement mechanism using a piezoelectric element or the like.

【0026】また、スケール位置検出部7は、スライダ
の中にあってもよいし、外部の回路等にあってもよい。
The scale position detecting section 7 may be provided in a slider or in an external circuit or the like.

【0027】また、本発明は、光学式のエンコーダのみ
ならず、磁気式や静電容量式、電磁式のエンコーダにも
使用可能である。
The present invention is applicable not only to an optical encoder but also to a magnetic encoder, a capacitive encoder, and an electromagnetic encoder.

【0028】以上のように、本実施の形態によれば、変
位検出装置を取付けた本機上において、特別な段取りや
装置を必要とせず、また、スケールユニットを開封する
必要もないので、生産性の向上がはかれ、ひいてはコス
トの削減が可能となる。
As described above, according to the present embodiment, no special setup or device is required on the machine equipped with the displacement detecting device, and there is no need to open the scale unit. The performance can be improved, and the cost can be reduced.

【0029】また、位置の誤差を数値化することができ
るので、人の知覚などに頼ることなくスケールの位置合
わせを行うことが可能となる。従って、スケールの位置
合わせが高精度に実現できるので、長尺化された変位検
出装置の高精度化がはかれる。
Further, since the position error can be quantified, it is possible to perform the position adjustment of the scale without relying on human perception. Therefore, since the positioning of the scale can be realized with high accuracy, the accuracy of the long displacement detection device can be improved.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】 本発明のリニアエンコーダ用長尺スケールの
調整法における第1の実施の形態のブロック図である。
FIG. 1 is a block diagram of a first embodiment of a method for adjusting a long scale for a linear encoder according to the present invention.

【図2】 本発明のリニアエンコーダ用長尺スケールの
調整法における第1の実施の形態のインデックススケー
ルの図である。
FIG. 2 is a diagram of an index scale according to a first embodiment in a method for adjusting a long scale for a linear encoder according to the present invention.

【図3】 本発明のリニアエンコーダ用長尺スケールの
調整法における第2の実施の形態の調整前のブロック図
である。
FIG. 3 is a block diagram before adjustment of a second embodiment of the method for adjusting a long scale for a linear encoder according to the present invention.

【図4】 本発明のリニアエンコーダ用長尺スケールの
調整法における第2の実施の形態の調整中のブロック図
である。
FIG. 4 is a block diagram during adjustment of a second embodiment of the method for adjusting a long scale for a linear encoder according to the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 メインスケールユニット、2,10,11 スライ
ダ、3,4 スケール、5 調整部、6 検出部、7
スケール位置検出部、8 インデックススケール、8
a,8b,8c,8d スケール部、9 スライダユニ
ット。
1 Main scale unit, 2, 10, 11 slider, 3, 4 scale, 5 adjustment unit, 6 detection unit, 7
Scale position detector, 8 index scale, 8
a, 8b, 8c, 8d Scale part, 9 slider unit.

フロントページの続き (56)参考文献 特開 平3−18709(JP,A) 特開 平1−162114(JP,A) 特開 昭48−42761(JP,A) 特開 昭58−70129(JP,A) 特開 平6−137899(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G01B 21/00 - 21/32 G01B 7/00 - 7/34 102 G01B 11/00 - 11/30 102 G01D 5/00 - 5/62 Continuation of front page (56) References JP-A-3-18709 (JP, A) JP-A-1-162114 (JP, A) JP-A-48-42761 (JP, A) JP-A-58-70129 (JP) , A) JP-A-6-137899 (JP, A) (58) Fields investigated (Int. Cl. 7 , DB name) G01B 21/00-21/32 G01B 7/00-7/34 102 G01B 11 / 00-11/30 102 G01D 5/00-5/62

Claims (4)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 並設することにより一の長尺スケールを
形成する複数のスケールと前記複数のスケールとの相対
位置を検出するスライダ手段を備えた変位検出装置にお
いて、 前記スライダ手段は、 複数のスケールからの信号を同時に得ることのできる位
置での前記各スケールからの信号に基づいて各スケール
の相対位置を算出し、複数のスケールの調整すべき変位
量を検出するスケール位置検出手段とを有することを特
徴とする変位検出装置。
1. A displacement detecting device comprising: a plurality of scales forming one long scale by juxtaposing them; and a slider means for detecting a relative position between the plurality of scales. Scale position detecting means for calculating a relative position of each scale based on a signal from each scale at a position where a signal from the scale can be obtained at the same time, and detecting a displacement to be adjusted of the plurality of scales. A displacement detection device characterized by the above-mentioned.
【請求項2】 請求項1記載の変位検出装置において、 前記スケール位置検出手段は、所定の位相差をもって出
力すべき信号の位相差に基づいて、各スケールの相対位
置を算出することを特徴とする変位検出装置。
2. The displacement detecting device according to claim 1, wherein the scale position detecting means calculates a relative position of each scale based on a phase difference of a signal to be output with a predetermined phase difference. Displacement detector.
【請求項3】 請求項1記載の変位検出装置において、 前記スライダ手段は、少なくとも2つの前記位置検出手
段を有し、 前記スケール位置検出手段は、前記各位置検出手段が検
出した信号に基づいて各スケールの相対位置を算出する
ことを特徴とする変位検出装置。
3. The displacement detecting device according to claim 1, wherein said slider means has at least two of said position detecting means, and said scale position detecting means is based on a signal detected by each of said position detecting means. A displacement detection device for calculating a relative position of each scale.
【請求項4】 請求項3記載の変位検出装置において、 前記スケール位置検出手段は、前記各位置検出手段が同
一のスケールから検出した信号に基づいて算出した基準
位置からのずれ量と、前記各位置検出手段がそれぞれ異
なるスケールから検出した信号に基づいて算出した基準
位置からのずれ量とに基づいて各スケールの相対位置を
算出することを特徴とする変位検出装置。
4. The displacement detecting device according to claim 3, wherein the scale position detecting means is configured to calculate a shift amount from a reference position calculated based on a signal detected from the same scale by each of the position detecting means; A displacement detecting apparatus, wherein a relative position of each scale is calculated based on a shift amount from a reference position calculated based on signals detected from different scales by the position detecting means.
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