JP3129868B2 - 光スイッチ及び光スイッチング方法 - Google Patents
光スイッチ及び光スイッチング方法Info
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、光ファイバや平面導波
路等の光導波路を他の光導波路に光学的に結合させる光
スイッチ及び光スイッチング方法に関するものである。
路等の光導波路を他の光導波路に光学的に結合させる光
スイッチ及び光スイッチング方法に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】光通信システムにおいては、多数の光フ
ァイバ心線を有する光ケーブルが用いられ、また、これ
らの光ファイバ心線の保守・管理等のために光線路試験
システムが設けられている。光線路試験システムでは、
ＯＴＤＲ（Optical Time Domain Reflectometer ）等の
試験器から延びる試験器側光ファイバを、光スイッチを
用いて光ケーブル内の所望の光ファイバ心線に接続し、
バックスキャッタリング法等によって当該光ファイバ心
線の状態を検査するようにしている。
ァイバ心線を有する光ケーブルが用いられ、また、これ
らの光ファイバ心線の保守・管理等のために光線路試験
システムが設けられている。光線路試験システムでは、
ＯＴＤＲ（Optical Time Domain Reflectometer ）等の
試験器から延びる試験器側光ファイバを、光スイッチを
用いて光ケーブル内の所望の光ファイバ心線に接続し、
バックスキャッタリング法等によって当該光ファイバ心
線の状態を検査するようにしている。
【０００３】光線路試験システムで用いられる従来の光
スイッチとしては、光コネクタを用いて機械的に光ファ
イバ同士を接続するものがある。この光スイッチは、光
ケーブル内の各光ファイバ心線を分岐する光カプラと、
光カプラにより分岐された光ファイバの端部のそれぞれ
に取り付けられた光コネクタ（光ケーブル側コネクタ）
と、試験器側の光ファイバの端部に取り付けられた光コ
ネクタ（試験器側コネクタ）とを備えている。光ケーブ
ル側コネクタはボードプレートに一定ピッチで配列され
ている。試験器側コネクタはＸＹＺステージに搭載さ
れ、試験時にＸＹＺステージを駆動することで、試験器
側コネクタを所望の光ケーブル側コネクタに結合させ、
試験器側光ファイバと光ケーブル側光ファイバとを接続
するのである。
スイッチとしては、光コネクタを用いて機械的に光ファ
イバ同士を接続するものがある。この光スイッチは、光
ケーブル内の各光ファイバ心線を分岐する光カプラと、
光カプラにより分岐された光ファイバの端部のそれぞれ
に取り付けられた光コネクタ（光ケーブル側コネクタ）
と、試験器側の光ファイバの端部に取り付けられた光コ
ネクタ（試験器側コネクタ）とを備えている。光ケーブ
ル側コネクタはボードプレートに一定ピッチで配列され
ている。試験器側コネクタはＸＹＺステージに搭載さ
れ、試験時にＸＹＺステージを駆動することで、試験器
側コネクタを所望の光ケーブル側コネクタに結合させ、
試験器側光ファイバと光ケーブル側光ファイバとを接続
するのである。
【０００４】また、従来の光スイッチには、光コネクタ
を用いない非接触式のものも提案されている。この非接
触式光スイッチの原理は次の通りである。即ち、試験器
側光ファイバからセンシング光を発して所望の光ケーブ
ル側光ファイバのコアに入射させ、この光ファイバ中の
フォルタやコアの末端の端面等からの戻り光を再び試験
器側光ファイバで受光した後にそれを分離検出する。そ
して、この検出値に基づき、試験器側光ファイバの先端
をＸＹステージにより移動させ、光ファイバ同士の調心
を行い、両者を光学的に結合させるというものである。
を用いない非接触式のものも提案されている。この非接
触式光スイッチの原理は次の通りである。即ち、試験器
側光ファイバからセンシング光を発して所望の光ケーブ
ル側光ファイバのコアに入射させ、この光ファイバ中の
フォルタやコアの末端の端面等からの戻り光を再び試験
器側光ファイバで受光した後にそれを分離検出する。そ
して、この検出値に基づき、試験器側光ファイバの先端
をＸＹステージにより移動させ、光ファイバ同士の調心
を行い、両者を光学的に結合させるというものである。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】光コネクタを用いた従
来の光スイッチの場合、光コネクタ間の位置決めはガイ
ドピンや割りスリーブによる物理的接触により行われ
る。しかし、ガイドピンや割りスリーブに接触する部分
は光ファイバの切換えを繰り返すうちに摩耗し、位置合
わせ精度が低下する等、信頼性や耐久性の面で問題があ
る。
来の光スイッチの場合、光コネクタ間の位置決めはガイ
ドピンや割りスリーブによる物理的接触により行われ
る。しかし、ガイドピンや割りスリーブに接触する部分
は光ファイバの切換えを繰り返すうちに摩耗し、位置合
わせ精度が低下する等、信頼性や耐久性の面で問題があ
る。
【０００６】一方、センシング光を用いる光スイッチの
場合、位置調整は非接触で行われるので、摩耗等の問題
はない。しかしながら、光ケーブル側光ファイバからの
戻り光のバワーレベルは光ケーブル内での光ファイバの
接続状態によってばらつくため、光スイッチ側の検出手
段でこのばらつきに対応し常に安定した調心を行うこと
は困難であった。
場合、位置調整は非接触で行われるので、摩耗等の問題
はない。しかしながら、光ケーブル側光ファイバからの
戻り光のバワーレベルは光ケーブル内での光ファイバの
接続状態によってばらつくため、光スイッチ側の検出手
段でこのばらつきに対応し常に安定した調心を行うこと
は困難であった。
【０００７】本発明は、かかる事情に鑑みてなされたも
のであり、常に高精度の調心が可能な、センシング光を
用いた非接触式の光スイッチ及び光スイッチング方法を
提供することを目的とする。
のであり、常に高精度の調心が可能な、センシング光を
用いた非接触式の光スイッチ及び光スイッチング方法を
提供することを目的とする。
【０００８】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明は、第１の光導波路を第２の光導波路に光学
的に結合させる光スイッチにおいて、第１の光導波路の
端面及び第２の光導波路の端面の間の相対位置を変更す
る位置変更手段と、第１の光導波路にセンシング光を入
射するセンシング光源と、第１の光導波路から出射され
前記第２の光導波路に入射された前記センシング光を分
岐する光分岐手段と、光分岐手段により分岐されたセン
シング光を導く分岐光導波路と、分岐光導波路から出射
されたセンシング光の光量を検出する光検出手段と、光
検出手段により検出された光量が最大となるように第１
の光導波路の端面及び第２の光導波路の端面の間の相対
位置を調整すべく、位置変更手段を制御する制御手段
と、を備えることを特徴としている。
に、本発明は、第１の光導波路を第２の光導波路に光学
的に結合させる光スイッチにおいて、第１の光導波路の
端面及び第２の光導波路の端面の間の相対位置を変更す
る位置変更手段と、第１の光導波路にセンシング光を入
射するセンシング光源と、第１の光導波路から出射され
前記第２の光導波路に入射された前記センシング光を分
岐する光分岐手段と、光分岐手段により分岐されたセン
シング光を導く分岐光導波路と、分岐光導波路から出射
されたセンシング光の光量を検出する光検出手段と、光
検出手段により検出された光量が最大となるように第１
の光導波路の端面及び第２の光導波路の端面の間の相対
位置を調整すべく、位置変更手段を制御する制御手段
と、を備えることを特徴としている。
【０００９】そして、第２の光導波路の先端と分岐光導
波路の先端を一定のピッチでボードプレートに取り付
け、前記の位置変更手段は、ボードプレートに対して平
行に移動可能であり第１の光導波路の先端を保持するこ
とのできる可動ヘッドを有するＸＹステージとしたこと
を特徴としている。
波路の先端を一定のピッチでボードプレートに取り付
け、前記の位置変更手段は、ボードプレートに対して平
行に移動可能であり第１の光導波路の先端を保持するこ
とのできる可動ヘッドを有するＸＹステージとしたこと
を特徴としている。
【００１０】ここで、光導波路とは光ファイバや平面導
波路等をいう。
波路等をいう。
【００１１】また、光検出手段の受光部をＸＹステージ
の可動ヘッドに取り付け、この受光部と第１の光導波路
の先端との間のピッチを、第２の光導波路の先端と分岐
光導波路の先端との間のピッチと同じピッチとすれば、
対応の分岐光導波路から出射されたセンシング光を確実
に検出することができる。
の可動ヘッドに取り付け、この受光部と第１の光導波路
の先端との間のピッチを、第２の光導波路の先端と分岐
光導波路の先端との間のピッチと同じピッチとすれば、
対応の分岐光導波路から出射されたセンシング光を確実
に検出することができる。
【００１２】更に、請求項３に記載のように、分岐光導
波路から出射されたセンシング光を反射し、その反射さ
れたセンシング光を逆行させ、第２の光分岐手段により
分離した後に、光量検出する手段を採っても良い。
波路から出射されたセンシング光を反射し、その反射さ
れたセンシング光を逆行させ、第２の光分岐手段により
分離した後に、光量検出する手段を採っても良い。
【００１３】センシング光は専用のセンシング光源から
取り出すこととしても良いが、ＯＴＤＲのように光源を
有する光機器が第１の光導波路に接続されている場合
は、その光源からの光を利用することも可能である。
取り出すこととしても良いが、ＯＴＤＲのように光源を
有する光機器が第１の光導波路に接続されている場合
は、その光源からの光を利用することも可能である。
【００１４】本発明は、１×１光スイッチのみならず、
第２の光導波路が複数本ある場合の１×Ｎ光スイッチに
も適用可能である。１×Ｎ光スイッチの場合、複数本の
第２の光導波路の先端を一定のピッチでボードプレート
に取り付けることで、一の第２の光導波路と第１の光導
波路との間の調心を行うことで、第１の光導波路に隣接
した設けた第３の光導波路と別の第２の光導波路とを光
学的に結合させることが可能となる。
第２の光導波路が複数本ある場合の１×Ｎ光スイッチに
も適用可能である。１×Ｎ光スイッチの場合、複数本の
第２の光導波路の先端を一定のピッチでボードプレート
に取り付けることで、一の第２の光導波路と第１の光導
波路との間の調心を行うことで、第１の光導波路に隣接
した設けた第３の光導波路と別の第２の光導波路とを光
学的に結合させることが可能となる。
【００１５】請求項１に記載の発明による光スイッチに
おいては、第１の光導波路にセンシング光を伝搬させ、
第２の光導波路に入射させる。そして、このセンシング
光を分岐して取り出し、その光量を検出することで第１
の光導波路と第２の光導波路との相対位置を判断し、更
に制御装置で位置調整を行うことで調心できるようにし
ている。
おいては、第１の光導波路にセンシング光を伝搬させ、
第２の光導波路に入射させる。そして、このセンシング
光を分岐して取り出し、その光量を検出することで第１
の光導波路と第２の光導波路との相対位置を判断し、更
に制御装置で位置調整を行うことで調心できるようにし
ている。
【００１６】即ち、第１の光導波路の端面を前記第２の
光導波路の端面に対向配置する第１のステップと、第１
の光導波路にセンシング光を入射して、この第１の光導
波路の端面から第２の光導波路の端面に向けてセンシン
グ光を出射する第２のステップと、第２の光導波路に入
射された前記センシング光を分岐する第３のステップ
と、第３のステップで分岐されたセンシング光の光量を
検出する第４のステップと、第１の光導波路の端面及び
第２の光導波路の端面の間の相対位置を微調整する第５
のステップと、第４のステップで検出される光量が最大
となるまで、第１のステップから第５のステップまでを
繰り返す第６のステップとから成る光スイッチング方法
を実施することで、完全な調心状態で第１の光導波路と
第２の光導波路とが光学的に結合される。
光導波路の端面に対向配置する第１のステップと、第１
の光導波路にセンシング光を入射して、この第１の光導
波路の端面から第２の光導波路の端面に向けてセンシン
グ光を出射する第２のステップと、第２の光導波路に入
射された前記センシング光を分岐する第３のステップ
と、第３のステップで分岐されたセンシング光の光量を
検出する第４のステップと、第１の光導波路の端面及び
第２の光導波路の端面の間の相対位置を微調整する第５
のステップと、第４のステップで検出される光量が最大
となるまで、第１のステップから第５のステップまでを
繰り返す第６のステップとから成る光スイッチング方法
を実施することで、完全な調心状態で第１の光導波路と
第２の光導波路とが光学的に結合される。
【００１７】
【実施例】以下、図面と共に本発明の好適な実施例につ
いて詳細に説明する。尚、図中、同一又は相当部分には
同一符号を付することとする。
いて詳細に説明する。尚、図中、同一又は相当部分には
同一符号を付することとする。
【００１８】図１に示す本発明による光スイッチ１は、
光通信システムにおける光ケーブル２内の光ファイバ心
線３にＯＴＤＲ等の試験器４を選択的に接続するための
ものである。図示実施例においては、この光スイッチ１
は、加入者側光ケーブル２ａ内の光ファイバ心線３ａを
試験するように接続されている。
光通信システムにおける光ケーブル２内の光ファイバ心
線３にＯＴＤＲ等の試験器４を選択的に接続するための
ものである。図示実施例においては、この光スイッチ１
は、加入者側光ケーブル２ａ内の光ファイバ心線３ａを
試験するように接続されている。
【００１９】加入者側光ケーブル２ａ内の各光ファイバ
心線３ａと、それに対応する局側光ケーブル２ｂ内の各
光ファイバ心線３ａとの間には、２×２形の光方向性結
合器ないしは光カプラ（光分岐手段）５が介設されてい
る。即ち、各光カプラ５の端子５ａには局側光ケーブル
２ｂの一の光ファイバ心線３ｂが接続され、他側の端子
５ｂには加入者側光ケーブル２ａ内の一の光ファイバ心
線３ａが接続されている。
心線３ａと、それに対応する局側光ケーブル２ｂ内の各
光ファイバ心線３ａとの間には、２×２形の光方向性結
合器ないしは光カプラ（光分岐手段）５が介設されてい
る。即ち、各光カプラ５の端子５ａには局側光ケーブル
２ｂの一の光ファイバ心線３ｂが接続され、他側の端子
５ｂには加入者側光ケーブル２ａ内の一の光ファイバ心
線３ａが接続されている。
【００２０】また、光カプラ５の局側の端子５ｃには、
試験器４からの試験光を導くための光ファイバ６が接続
されている。ここで、この光ファイバ６と、これに光カ
プラ４を介して接続される光ファイバ心線３ａとを併せ
て被試験光ファイバ（第２の光導波路）７と称すること
とする。
試験器４からの試験光を導くための光ファイバ６が接続
されている。ここで、この光ファイバ６と、これに光カ
プラ４を介して接続される光ファイバ心線３ａとを併せ
て被試験光ファイバ（第２の光導波路）７と称すること
とする。
【００２１】光カプラ５の残る端子５ｄには、前記被試
験光ファイバ７に入射した光を分岐して導く分岐光ファ
イバ（分岐光導波路）８が接続されている。
験光ファイバ７に入射した光を分岐して導く分岐光ファ
イバ（分岐光導波路）８が接続されている。
【００２２】被試験光ファイバ７及び分岐光ファイバ８
の先端は、それらの端面が一側に突出するようにして１
枚のボードプレート９にマトリックス状に固定されてい
る。各被試験光ファイバ７と、それに光学的に連通して
いる対応の分岐光ファイバ８との先端同士のピッチＰ1
は一定に定められている。また、被試験光ファイバ７同
士も一定のピッチＰ2 で配置されている。従って、分岐
光ファイバ８同士もピットＰ2 と同ピッチで配列され
る。
の先端は、それらの端面が一側に突出するようにして１
枚のボードプレート９にマトリックス状に固定されてい
る。各被試験光ファイバ７と、それに光学的に連通して
いる対応の分岐光ファイバ８との先端同士のピッチＰ1
は一定に定められている。また、被試験光ファイバ７同
士も一定のピッチＰ2 で配置されている。従って、分岐
光ファイバ８同士もピットＰ2 と同ピッチで配列され
る。
【００２３】ボードプレート９の正面にはＸＹステージ
１０が配設されている。ＸＹステージ１０は可動ヘッド
１１を備え、この可動ヘッド１１はボードプレート９の
一側の面（光ファイバ７，８の先端が突出する側の面）
に対し、比較的近接した状態で平行に移動することがで
きる。
１０が配設されている。ＸＹステージ１０は可動ヘッド
１１を備え、この可動ヘッド１１はボードプレート９の
一側の面（光ファイバ７，８の先端が突出する側の面）
に対し、比較的近接した状態で平行に移動することがで
きる。
【００２４】試験器４からは試験器側光ファイバ（第１
の光導波路）１２が延びている。この試験器側光ファイ
バ１２の先端はＸＹステージ１０の可動ヘッド１１に取
り付けられており、その端面はボードプレート９に向け
られている。従って、可動ヘッド１２を移動させること
により、試験器側光ファイバ１２の端面を任意の被試験
光ファイバ７の端面に近接状態で対向配置することがで
きる。
の光導波路）１２が延びている。この試験器側光ファイ
バ１２の先端はＸＹステージ１０の可動ヘッド１１に取
り付けられており、その端面はボードプレート９に向け
られている。従って、可動ヘッド１２を移動させること
により、試験器側光ファイバ１２の端面を任意の被試験
光ファイバ７の端面に近接状態で対向配置することがで
きる。
【００２５】試験器側光ファイバ１２の中間部には２×
１形の光カプラ１３が介設されており、この光カプラ１
３には光ファイバ１４を介してセンシング光源１５が接
続されている。センシング光源１５から発せられたセン
シング光は、光ファイバ１４及び光カプラ１３を経て試
験器側光ファイバ１２に入射され、その端面からボード
プレート９に向かって出射される。
１形の光カプラ１３が介設されており、この光カプラ１
３には光ファイバ１４を介してセンシング光源１５が接
続されている。センシング光源１５から発せられたセン
シング光は、光ファイバ１４及び光カプラ１３を経て試
験器側光ファイバ１２に入射され、その端面からボード
プレート９に向かって出射される。
【００２６】また、ＸＹステージ１０の可動ヘッド１１
には、光量を検出するための光検出器（光検出手段）１
６が取り付けられている。この光検出器１６の受光面は
ボードプレート９に向けられており、試験器側光ファイ
バ１２の先端との間のピッチＰ3 は、被試験光ファイバ
７と分岐光ファイバ８との間のピッチＰ1 と実質的に同
一とされている。これにより、試験器側光ファイバ１２
の端面を一の被試験光ファイバ７′（他の被試験光ファ
イバと区別するため、以下、特定の光ファイバの参照符
号には「ダッシュ」を付することとする）の端面と正対
させた場合、その被試験光ファイバ７′に対応する分岐
光ファイバ８′の端面の正面に光検出器１６の受光面が
配置されることとなる。尚、光検出器１６の受光面は分
岐光ファイバ８のコアよりも僅かに大きくされるのが好
適である。
には、光量を検出するための光検出器（光検出手段）１
６が取り付けられている。この光検出器１６の受光面は
ボードプレート９に向けられており、試験器側光ファイ
バ１２の先端との間のピッチＰ3 は、被試験光ファイバ
７と分岐光ファイバ８との間のピッチＰ1 と実質的に同
一とされている。これにより、試験器側光ファイバ１２
の端面を一の被試験光ファイバ７′（他の被試験光ファ
イバと区別するため、以下、特定の光ファイバの参照符
号には「ダッシュ」を付することとする）の端面と正対
させた場合、その被試験光ファイバ７′に対応する分岐
光ファイバ８′の端面の正面に光検出器１６の受光面が
配置されることとなる。尚、光検出器１６の受光面は分
岐光ファイバ８のコアよりも僅かに大きくされるのが好
適である。
【００２７】光検出器１６は、信号処理回路１７を介し
て、マイクロコンピュータ等の制御装置１８の入力部に
接続されている。また、制御装置１８の出力部は、ステ
ージ駆動回路１９を介して、ＸＹステージ１０の駆動装
置（図示しない）に接続されており、この制御装置１９
からの制御信号に応じて可動ヘッド１１の位置が適宜変
更される。
て、マイクロコンピュータ等の制御装置１８の入力部に
接続されている。また、制御装置１８の出力部は、ステ
ージ駆動回路１９を介して、ＸＹステージ１０の駆動装
置（図示しない）に接続されており、この制御装置１９
からの制御信号に応じて可動ヘッド１１の位置が適宜変
更される。
【００２８】次に、このような構成の光スイッチ１にお
いて、本発明による光スイッチング方法について説明す
る。
いて、本発明による光スイッチング方法について説明す
る。
【００２９】まず、制御装置１９からの制御信号により
ＸＹステージ１０の可動ヘッド１１を移動させ、試験を
行うべき被試験光ファイバ７′の端面のほぼ正面位置に
試験器側光ファイバ１２の端面を配置させる。
ＸＹステージ１０の可動ヘッド１１を移動させ、試験を
行うべき被試験光ファイバ７′の端面のほぼ正面位置に
試験器側光ファイバ１２の端面を配置させる。
【００３０】次いで、センシング光源１５からセンシン
グ光を発し、このセンシング光を試験器側光ファイバ１
２の端面から被試験光ファイバ７′の端面に向かって出
射する。このセンシング光は被試験光ファイバ７′に入
射した後、光カプラ５′により分岐され、その一部が分
岐光ファイバ８′を伝搬してその端面から出射する。分
岐光ファイバ８′の端面の正面には光検出器１６の受光
面が配置されているので、出射されたセンシング光は光
検出器１６の受光面に照射される。
グ光を発し、このセンシング光を試験器側光ファイバ１
２の端面から被試験光ファイバ７′の端面に向かって出
射する。このセンシング光は被試験光ファイバ７′に入
射した後、光カプラ５′により分岐され、その一部が分
岐光ファイバ８′を伝搬してその端面から出射する。分
岐光ファイバ８′の端面の正面には光検出器１６の受光
面が配置されているので、出射されたセンシング光は光
検出器１６の受光面に照射される。
【００３１】光検出器１６からは受光したセンシング光
の光量に対応する信号が出力され、その信号は信号処理
回路１７によりデシタル信号に変換された後、制御装置
１８に入力される。
の光量に対応する信号が出力され、その信号は信号処理
回路１７によりデシタル信号に変換された後、制御装置
１８に入力される。
【００３２】図２は、被試験光ファイバ７及び試験器側
光ファイバ１２の間の光軸ずれと、分岐光ファイバ８か
ら出射されるセンシング光の光量との関係を示すグラフ
であるが、この図から明らかなように、光軸ずれがない
場合に光量が最大となる。従って、制御装置１８は光検
出器１６からの信号に基づいて制御信号をステージ駆動
回路１９からＸＹステージ１０の駆動装置に出力し、Ｘ
Ｙステージ１０の可動ヘッド１１を微動させ、センシン
グ光の光量が最大となるところで可動ヘッド１１を停止
させる。これにより、試験器側光ファイバ１２と被試験
光ファイバ７′との光軸が正確に一致し、両光ファイバ
７′，１２が光学的に結合される。
光ファイバ１２の間の光軸ずれと、分岐光ファイバ８か
ら出射されるセンシング光の光量との関係を示すグラフ
であるが、この図から明らかなように、光軸ずれがない
場合に光量が最大となる。従って、制御装置１８は光検
出器１６からの信号に基づいて制御信号をステージ駆動
回路１９からＸＹステージ１０の駆動装置に出力し、Ｘ
Ｙステージ１０の可動ヘッド１１を微動させ、センシン
グ光の光量が最大となるところで可動ヘッド１１を停止
させる。これにより、試験器側光ファイバ１２と被試験
光ファイバ７′との光軸が正確に一致し、両光ファイバ
７′，１２が光学的に結合される。
【００３３】この後、ＯＴＤＲ等の試験器４に含まれる
光源２０から試験光を発し、この試験光を試験器側光フ
ァイバ１２から、結合された被試験光ファイバ７′に入
射させ、バックスキャッタリング法等により加入者側光
ケーブル２ａ内の光ファイバ心線３ａ′の試験を行う。
試験が終了したならば、必要に応じて上記工程を繰り返
し、別の被試験光ファイバ７に試験器側光ファイバ１２
を接続する。
光源２０から試験光を発し、この試験光を試験器側光フ
ァイバ１２から、結合された被試験光ファイバ７′に入
射させ、バックスキャッタリング法等により加入者側光
ケーブル２ａ内の光ファイバ心線３ａ′の試験を行う。
試験が終了したならば、必要に応じて上記工程を繰り返
し、別の被試験光ファイバ７に試験器側光ファイバ１２
を接続する。
【００３４】上記実施例ではセンシング光源１５を設
け、このセンシング光源１５から発せられたセンシング
光を光カプラ１３を通して試験器側光ファイバ１２に入
射させることとしている。しかしながら、センシング光
は試験器４の光源２０から発せられる試験光を利用して
も良い。図３は、センシング光源は用いずに、ＯＴＤＲ
等の試験器４が通常有する光源２０を利用した実施例を
示している。この場合、試験を開始する前に試験器４の
光源２０を点灯すると、その光は試験器側光ファイバ１
２から被試験光ファイバ７′に入射され、前記のセンシ
ング光源１５からのセンシング光と同等の働きを有する
こととなる。尚、図３の実施例において、図１の実施例
と同一又は相当部分には同一符号を付し、その詳細な説
明は省略する。
け、このセンシング光源１５から発せられたセンシング
光を光カプラ１３を通して試験器側光ファイバ１２に入
射させることとしている。しかしながら、センシング光
は試験器４の光源２０から発せられる試験光を利用して
も良い。図３は、センシング光源は用いずに、ＯＴＤＲ
等の試験器４が通常有する光源２０を利用した実施例を
示している。この場合、試験を開始する前に試験器４の
光源２０を点灯すると、その光は試験器側光ファイバ１
２から被試験光ファイバ７′に入射され、前記のセンシ
ング光源１５からのセンシング光と同等の働きを有する
こととなる。尚、図３の実施例において、図１の実施例
と同一又は相当部分には同一符号を付し、その詳細な説
明は省略する。
【００３５】図４は本発明による光スイッチ１の更に別
の実施例を示している。この実施例は、光検出器１６が
ＸＹステージ１０の可動ヘッド１１に設けられていない
点で、図１及び図３に示す前記実施例と異なっている。
この実施例では、前記実施例で光検出器１６が取り付け
られていた可動ヘッド１１の位置に反射鏡（光反射手
段）２１が取り付けられている。そして、光検出器１６
は、センシング光源１５と光カプラ１３との間の光ファ
イバ１４中に介設された２×１形の光カプラ（第２の光
分岐手段）２２に接続されている。
の実施例を示している。この実施例は、光検出器１６が
ＸＹステージ１０の可動ヘッド１１に設けられていない
点で、図１及び図３に示す前記実施例と異なっている。
この実施例では、前記実施例で光検出器１６が取り付け
られていた可動ヘッド１１の位置に反射鏡（光反射手
段）２１が取り付けられている。そして、光検出器１６
は、センシング光源１５と光カプラ１３との間の光ファ
イバ１４中に介設された２×１形の光カプラ（第２の光
分岐手段）２２に接続されている。
【００３６】この構成においては、ＸＹステージ１０の
可動ヘッド１１を移動させて、一の被試験光ファイバ
７′の端面に対して試験器側光ファイバ１２の端面を対
向配置させた後、センシング光源１５からセンシング光
を発すると、そのセンシング光は光ファイバ１４、光カ
プラ１３及び試験器側光ファイバ１２を通って被試験光
ファイバ７′に入射される。被試験光ファイバ７′に入
射されたセンシング光は光カプラ５′で分岐された後、
分岐光ファイバ８′に導かれ、その端面から反射鏡２１
に向かって出射される。
可動ヘッド１１を移動させて、一の被試験光ファイバ
７′の端面に対して試験器側光ファイバ１２の端面を対
向配置させた後、センシング光源１５からセンシング光
を発すると、そのセンシング光は光ファイバ１４、光カ
プラ１３及び試験器側光ファイバ１２を通って被試験光
ファイバ７′に入射される。被試験光ファイバ７′に入
射されたセンシング光は光カプラ５′で分岐された後、
分岐光ファイバ８′に導かれ、その端面から反射鏡２１
に向かって出射される。
【００３７】分岐光ファイバ８′から出射されたセンシ
ング光は反射鏡２１で反射された後、再度、同分岐光フ
ァイバ８′に入射され、光カプラ５′を経て被試験光フ
ァイバ７′の端面から出射し、試験器側光ファイバ１２
の端面に入射される。この反射された戻りセンシング光
は光カプラ１３によりその一部が光ファイバ１４に分岐
され、更に光カプラ２２により分岐されて光検出器１６
で検出される。
ング光は反射鏡２１で反射された後、再度、同分岐光フ
ァイバ８′に入射され、光カプラ５′を経て被試験光フ
ァイバ７′の端面から出射し、試験器側光ファイバ１２
の端面に入射される。この反射された戻りセンシング光
は光カプラ１３によりその一部が光ファイバ１４に分岐
され、更に光カプラ２２により分岐されて光検出器１６
で検出される。
【００３８】このようにして検出された戻りセンシング
光の光量も、試験器側光ファイバ１２と被試験光ファイ
バ７′との間の光軸ずれがない場合に最大となるので、
光検出器１６から信号に基づき、制御装置１８はステー
ジ駆動回路１９を介してＸＹステージ１０の駆動装置を
制御して可動ヘッド１１の位置を微調整する。これによ
り、試験器側光ファイバ１２と被試験光ファイバ７′と
は極めて結合損失の少ない状態で光学的に結合される。
光の光量も、試験器側光ファイバ１２と被試験光ファイ
バ７′との間の光軸ずれがない場合に最大となるので、
光検出器１６から信号に基づき、制御装置１８はステー
ジ駆動回路１９を介してＸＹステージ１０の駆動装置を
制御して可動ヘッド１１の位置を微調整する。これによ
り、試験器側光ファイバ１２と被試験光ファイバ７′と
は極めて結合損失の少ない状態で光学的に結合される。
【００３９】上記の３つの実施例では、センシング光を
試験器側光ファイバ１２に導き入れる構成を採ってい
る。しかし、複数本の被試験光ファイバ７の先端が一定
のピッチでボードプレート９に取り付けられている場
合、図５に示すように、試験器側光ファイバ１２とは別
個に、センシング光を出射するためのセンシング光用光
ファイバ２５をＸＹステージ１０の可動ヘッド１１に設
けても良い。この場合、試験器側光ファイバ１２の先端
とセンシング光用光ファイバ２５の先端との間のピッチ
Ｐ4 は、被試験光ファイバ７の先端間のピッチＰ2 と同
一とする必要がある。
試験器側光ファイバ１２に導き入れる構成を採ってい
る。しかし、複数本の被試験光ファイバ７の先端が一定
のピッチでボードプレート９に取り付けられている場
合、図５に示すように、試験器側光ファイバ１２とは別
個に、センシング光を出射するためのセンシング光用光
ファイバ２５をＸＹステージ１０の可動ヘッド１１に設
けても良い。この場合、試験器側光ファイバ１２の先端
とセンシング光用光ファイバ２５の先端との間のピッチ
Ｐ4 は、被試験光ファイバ７の先端間のピッチＰ2 と同
一とする必要がある。
【００４０】図５に示す実施例では、センシング光源１
５から発せられたセンシング光は、センシング光用光フ
ァイバ２５から一の被試験光ファイバ７′に入射され、
上記の実施例と同様にして、当該被試験光ファイバ７′
とセンシング光用光ファイバ２５との光軸を一致させる
ことができる。センシング光用光ファイバ２５と試験器
側光ファイバ１２との間のピッチＰ4 と、被試験光ファ
イバ７同士のピッチＰ2 とは等しいため、両光ファイバ
７′，２５の光軸が一致した際、両光ファイバ７′２５
に隣接する被試験光ファイバ７″と試験器側光ファイバ
１２とが正確に調心された状態で光学的に結合されるこ
ととなる。
５から発せられたセンシング光は、センシング光用光フ
ァイバ２５から一の被試験光ファイバ７′に入射され、
上記の実施例と同様にして、当該被試験光ファイバ７′
とセンシング光用光ファイバ２５との光軸を一致させる
ことができる。センシング光用光ファイバ２５と試験器
側光ファイバ１２との間のピッチＰ4 と、被試験光ファ
イバ７同士のピッチＰ2 とは等しいため、両光ファイバ
７′，２５の光軸が一致した際、両光ファイバ７′２５
に隣接する被試験光ファイバ７″と試験器側光ファイバ
１２とが正確に調心された状態で光学的に結合されるこ
ととなる。
【００４１】上記実施例はすべて１×Ｎ光スイッチにつ
いてであるが、本発明はＭ×Ｎ（Ｍ＞１）光スイッチに
も適用可能であることは、当業者であれば容易に理解さ
れよう。
いてであるが、本発明はＭ×Ｎ（Ｍ＞１）光スイッチに
も適用可能であることは、当業者であれば容易に理解さ
れよう。
【００４２】
【発明の効果】以上のように、本発明による光スイッチ
は、センシング光を用いた非接触式の光スイッチである
ので、従来の光コネクタを用いた接触式光スイッチにお
ける摩耗による結合不良等の問題点はない。
は、センシング光を用いた非接触式の光スイッチである
ので、従来の光コネクタを用いた接触式光スイッチにお
ける摩耗による結合不良等の問題点はない。
【００４３】また、従来の非接触式光スイッチでは、セ
ンシング光を第２の光導波路（被試験光ファイバ）に入
射させ、その戻り光を用いて調心を行っていたため、戻
り光の強度や光量が第２の光導波路の接続状態等によっ
て大きく変動し、安定した検出結果が得られなかった。
そのため、従来においては、戻り光の検出回路にはレン
ジ切替手段等を設けておき、適宜、レンジを切り替える
必要があった。しかし、本発明では、第２の光導波路に
入射したセンシング光を光カプラ等の光分岐手段で取り
出すこととしているので、取り出されたセンシング光は
第２の光導波路の接続状態等に影響されず、光検出手段
による検出結果も安定したものとなる。従って、レンジ
切替えの手間も不要となる。よって、本発明によれば、
第１の光導波路と第２の光導波路とを常に正確に調心す
ることができ、結合損失の極めて少ない状態で光学的に
結合させることが可能となる。
ンシング光を第２の光導波路（被試験光ファイバ）に入
射させ、その戻り光を用いて調心を行っていたため、戻
り光の強度や光量が第２の光導波路の接続状態等によっ
て大きく変動し、安定した検出結果が得られなかった。
そのため、従来においては、戻り光の検出回路にはレン
ジ切替手段等を設けておき、適宜、レンジを切り替える
必要があった。しかし、本発明では、第２の光導波路に
入射したセンシング光を光カプラ等の光分岐手段で取り
出すこととしているので、取り出されたセンシング光は
第２の光導波路の接続状態等に影響されず、光検出手段
による検出結果も安定したものとなる。従って、レンジ
切替えの手間も不要となる。よって、本発明によれば、
第１の光導波路と第２の光導波路とを常に正確に調心す
ることができ、結合損失の極めて少ない状態で光学的に
結合させることが可能となる。
【図１】本発明による光スイッチの一実施例を示す構成
図である。
図である。
【図２】被試験光ファイバと試験器側光ファイバの間の
光軸ずれと、検出されたセンシング光の光量との関係を
示すグラフである。
光軸ずれと、検出されたセンシング光の光量との関係を
示すグラフである。
【図３】本発明による光スイッチの第２実施例を示す構
成図である。
成図である。
【図４】本発明による光スイッチの第３実施例を示す構
成図である。
成図である。
【図５】本発明による光スイッチの第４実施例を示す構
成図である。
成図である。
１…光スイッチ、２…光ケーブル、３…光ファイバ心
線、４…試験器、５…光カプラ、７…被試験光ファイ
バ、８…分岐光ファイバ、９…ボードプレート、１０…
ＸＹステージ、１１…可動ヘッド、１２…試験器側光フ
ァイバ、１５…センシング光源、１６…光検出器、１８
…制御装置、２０…光源、２１…反射鏡、２２…光カプ
ラ、２５…センシング光用光ファイバ。
線、４…試験器、５…光カプラ、７…被試験光ファイ
バ、８…分岐光ファイバ、９…ボードプレート、１０…
ＸＹステージ、１１…可動ヘッド、１２…試験器側光フ
ァイバ、１５…センシング光源、１６…光検出器、１８
…制御装置、２０…光源、２１…反射鏡、２２…光カプ
ラ、２５…センシング光用光ファイバ。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 渡邉 勤 神奈川県横浜市栄区田谷町１番地 住友 電気工業株式会社 横浜製作所内 (72)発明者 畑 洋一 神奈川県横浜市栄区田谷町１番地 住友 電気工業株式会社 横浜製作所内 (72)発明者 三川 泉 東京都千代田区内幸町一丁目１番６号 日本電信電話株式会社内 (56)参考文献 特開 平２−143221（ＪＰ，Ａ) (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) G02B 26/08
Claims (9)
- 【請求項１】 第１の光導波路を第２の光導波路に光学
的に結合させる光スイッチにおいて、 前記第１の光導波路の端面と前記第２の光導波路の端面
との間の相対位置を変更する位置変更手段と、 前記第１の光導波路にセンシング光を入射するセンシン
グ光源と、 前記第１の光導波路から出射され前記第２の光導波路に
入射された前記センシング光を分岐する光分岐手段と、 前記光分岐手段により分岐された前記センシング光を導
く分岐光導波路と、 前記分岐光導波路から出射された前記センシング光の光
量を検出する光検出手段と、 前記光検出手段により検出された光量が最大となるよう
に前記第１の光導波路の端面と前記第２の光導波路の端
面との間の相対位置を調整すべく、前記位置変更手段を
制御する制御手段と、 を備え、 前記第２の光導波路の先端と前記分岐光導波路の先端と
が一定のピッチでボードプレートに取り付けられてお
り、前記位置変更手段が、前記ボードプレートに対して
平行に移動可能であり前記第１の光導波路の先端を保持
することのできる可動ヘッドを有するＸＹステージであ
ることを特徴とする光スイッチ。 - 【請求項２】 前記光検出手段の受光部が前記ＸＹステ
ージの前記可動ヘッドに取り付けられ、該受光部と前記
第１の光導波路の先端との間のピッチは、前記第２の光
導波路の先端と前記分岐光導波路の先端との間の前記ピ
ッチと同じピッチとしたことを特徴とする請求項１記載
の光スイッチ。 - 【請求項３】 第１の光導波路を第２の光導波路に光学
的に結合させる光スイッチにおいて、 前記第１の光導波路の端面と前記第２の光導波路の端面
との間の相対位置を変更する位置変更手段と、 前記第１の光導波路にセンシング光を入射するセンシン
グ光源と、 前記第１の光導波路から出射され前記第２の光導波路に
入射された前記センシング光を分岐する光分岐手段と、 前記光分岐手段により分岐された前記センシング光を導
く分岐光導波路と、 前記分岐光導波路から出射された前記センシング光の光
量を検出する光検出手段と、 前記光検出手段により検出された光量が最大となるよう
に前記第１の光導波路の端面と前記第２の光導波路の端
面との間の相対位置を調整すべく、前記位置変更手段を
制御する制御手段と、 前記分岐光導波路から出射された前記センシング光を反
射し、該分岐光導波路から前記第２光導波路を経て前記
第１光導波路に入射させる光反射手段と、 前記第１光導波路に入射された前記反射されたセンシン
グ光を分岐する第２の光分岐手段とを備え、 前記第２の光分岐手段により分岐された前記センシング
光の光量を前記光検出手段により検出するようにしたこ
とを特徴とする光スイッチ。 - 【請求項４】 前記第２の光導波路の先端と前記分岐光
導波路の先端とは一定のピッチでボードプレートに取り
付けられており、前記位置変更手段は、前記ボードプレ
ートに対して平行に移動可能であり前記第１の光導波路
の先端を保持することのできる可動ヘッドを有するＸＹ
ステージであることを特徴とする請求項３記載の光スイ
ッチ。 - 【請求項５】 前記光反射手段は反射鏡であり、前記反
射鏡は前記ＸＹステージの前記可動ヘッドに取り付けら
れ、該反射鏡と前記第１の光導波路の先端との間のピッ
チは、前記第２の光導波路の先端と前記分岐光導波路の
先端との間の前記ピッチと同じピッチとしたことを特徴
とする請求項４記載の光スイッチ。 - 【請求項６】 前記第１の光導波路の末端には光源を有
する光機器が接続され、該光源からセンシング光を発す
るようにしたことを特徴とする請求項１〜５のいずれか
１項に記載の光スイッチ。 - 【請求項７】 前記第２の光導波路は複数本あり、それ
ぞれの先端が一定のピッチで前記ボードプレートに取り
付けられていることを特徴とする請求項１又は４記載の
光スイッチ。 - 【請求項８】 光機器が接続された第３の光導波路を備
え、隣合う前記第２の光導波路の先端間の前記ピッチと
同じピッチで、前記第３の光導波路の先端が前記第１の
光導波路の先端に隣接して前記ＸＹステージの前記可動
ヘッドに取り付けられていることを特徴とする請求項７
記載の光スイッチ。 - 【請求項９】 第１の光導波路を第２の光導波路に光学
的に結合させる光スイッチング方法において、前記第１
の光導波路の端面を前記第２の光導波路の端面に対向配
置する第１のステップと、前記第１の光導波路にセンシ
ング光を入射して、該第１の光導波路の端面から前記第
２の光導波路の端面に向けて該センシング光を出射する
第２のステップと、前記第２の光導波路に入射された前
記センシング光を分岐する第３のステップと、前記第３
のステップで分岐された前記センシング光を反射し、前
記第２の光導波路の端面から前記第１の光導波路の端面
に向けて出射する第４のステップと、前記第１の光導波
路に入射された前記反射されたセンシング光の光量を検
出する第５のステップと、前記第１の光導波路の端面と
前記第２の光導波路の端面との間の相対位置を微調整す
る第６のステップと、前記第５のステップで検出される
光量が最大となるまで、前記第１のステップから前記第
６のステップまでを繰り返す第７のステップと、を備え
ることを特徴とする光スイッチング方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP34927492A JP3129868B2 (ja) | 1992-12-28 | 1992-12-28 | 光スイッチ及び光スイッチング方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP34927492A JP3129868B2 (ja) | 1992-12-28 | 1992-12-28 | 光スイッチ及び光スイッチング方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06202012A JPH06202012A (ja) | 1994-07-22 |
| JP3129868B2 true JP3129868B2 (ja) | 2001-01-31 |
Family
ID=18402661
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP34927492A Expired - Fee Related JP3129868B2 (ja) | 1992-12-28 | 1992-12-28 | 光スイッチ及び光スイッチング方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3129868B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100444268B1 (ko) * | 2002-06-05 | 2004-08-12 | 주식회사 한택 | 평면배열형 수광 소자를 이용한 광 측정 장치 및 방법 |
-
1992
- 1992-12-28 JP JP34927492A patent/JP3129868B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH06202012A (ja) | 1994-07-22 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |