JP3075664B2 - Communication protocol compatibility test equipment - Google Patents

Communication protocol compatibility test equipment

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JP3075664B2
JP3075664B2 JP06036024A JP3602494A JP3075664B2 JP 3075664 B2 JP3075664 B2 JP 3075664B2 JP 06036024 A JP06036024 A JP 06036024A JP 3602494 A JP3602494 A JP 3602494A JP 3075664 B2 JP3075664 B2 JP 3075664B2
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智彦 大岸
亨 長谷川
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Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明はOSI参照モデルの第N
層(以下、“(N)−”と表記する)のプロトコルを実
装したシステムに対して(N)−プロトコルの仕様が正
しく実装されているか否かを試験するための、通信プロ
トコル適合性試験装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION The present invention relates to the Nth OSI reference model.
A communication protocol conformance test apparatus for testing whether a (N) -protocol specification is correctly implemented in a system in which a layer (hereinafter, referred to as "(N)-") protocol is implemented. About.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、ITUやISOの標準化において
は、OSIプロトコル適合性試験用のテストシナリオ
は、TTCN(Tree and Tabular Combined Notation)
というツリーと表とを組み合せた方法で記述されてい
る。
2. Description of the Related Art Conventionally, in standardization of ITU and ISO, a test scenario for an OSI protocol conformance test is TTCN (Tree and Tabular Combined Notation).
Is described by a method combining a tree and a table.

【0003】TTCN法は下記〜等、試験に必要な
項目を全て記述する。 試験方法 制御観測点(PCO:Point of Control and Obser
vation)や、プロトコルデータ単位(PDU)や、抽象
サービスプリミティブ(ASP:Abstract Service Prim
itive)等の宣言 テストシナリオにおいてイベントが起きる順番を記
述したテストシーケンス テストシーケンス内の各イベントにおけるPDUや
ASPのパラメータ値
The TTCN method describes all the items necessary for the test, such as the following. Test method Point of Control and Obser
vation), protocol data unit (PDU), and abstract service primitive (ASP)
(e.g., itive), etc. Test sequence describing the order in which events occur in the test scenario PDU and ASP parameter values for each event in the test sequence

【0004】次に、図3により、応用層のプロトコルの
1つであるMHS(Message Handling System)P1/P
2プロトコルを図2に示す方法で試験する場合の、TT
CNによるテストシーケンスを説明する。図3におい
て、テストシーケンスには、観測されるPCOを名称
(L)、入力(!)/応答(?)の選択、ASP名(R
T−OPEN reqなど)、ASPが運ぶPDU名(MT
ABindArgument など)、変数の代入や比較(X:=0
など)を、観測イベントとして1行ずつ記述する。ま
た、各々のイベントの付加情報として、ラベル(again
など)、判定(passなど)を記述する。なお、イベント
はテストシーケンスの番号(1,2,…)順に発生する
が、図2中の9番目のように、ラベルagain を設けて指
定した行(3番目)にジャンプさせることができる。ま
た、図3中の第4,9,10,11番目のように、同一
レベルの応答イベントは、その時に起こり得る選択可能
な応答イベントを表わしている。また、“?OTHER
WISE”は選択可能な応答イベントとして、上記のイ
ベント以外の全てを表わし、“?TIMEOUT”は所
定の応答イベントを受信せずにタイムアウトになったこ
とを表わす。更に、観測イベントでは、複雑な条件分岐
や結果判定を記述できるように、変数を用いることがで
きる。例えば、図3中の第1番目のイベントが実行され
るときには変数Xに値0が代入され、第4番目のイベン
トでは変数Xの値が3であるという条件のもとで、受信
されたとみなされる。更に、TTCNでは、テストシナ
リオは全ての分岐について判定がでるまで記述される必
要があり、判定には合格(pass)と不合格(fail)とが
あり、不合格はその理由毎に番号(1,2など)で識別
される。そして、テスト結果としては、テストシーケン
スの各イベントにおいて合格(pass)か不合格(fail
1,fail2)の判定のみが記述される。なお、各イベン
トにおけるASP,PDUのパラメータに関しては、別
途、ASP,PDU毎に表を設けて記述する。
[0004] Next, referring to FIG. 3, an MHS (Message Handling System) P1 / P which is one of the protocols of the application layer.
2 when testing the two protocols in the manner shown in FIG.
A test sequence by the CN will be described. In FIG. 3, the test sequence includes the name of the observed PCO (L), selection of input (!) / Response (?), And ASP name (R).
T-OPEN req), PDU name carried by ASP (MT
ABindArgument, etc.), assignment and comparison of variables (X: = 0)
) Are described line by line as observation events. In addition, as additional information of each event, a label (again
Etc.) and judgment (pass etc.) are described. The events occur in the order of the test sequence numbers (1, 2,...), But can be jumped to a specified line (third) by providing a label "again" as shown in the ninth in FIG. Also, as in the fourth, ninth, tenth, and eleventh response events in FIG. 3, response events at the same level represent selectable response events that can occur at that time. In addition, "? OTHER"
“WISE” represents all but the above events as selectable response events. "TIMEOUT" indicates that a time-out has occurred without receiving a predetermined response event. Further, in the observation event, a variable can be used so that a complicated conditional branch or result judgment can be described. For example, FIG. When the first event is executed, the value 0 is substituted for the variable X, and the event is regarded as being received under the condition that the value of the variable X is 3 in the fourth event. In the TTCN, a test scenario needs to be described until all branches are judged, and the judgment includes a pass (pass) and a fail (fail). And the test result is a pass or fail at each event of the test sequence.
Only the judgment of 1, fail2) is described. Note that the parameters of the ASP and PDU in each event are separately described by providing a table for each ASP and PDU.

【0005】図2において、100はMHS P1/P
2プロトコル用適合性試験装置、200はMHS P1
/P2プロトコル実装の被試験システム、101と20
1はそれぞれMHS P1/P2プロトコルに対する下
位層であるリライアブル トランスファ サービス エ
ンティティ(RTSE:Reliable Transfer ServiceEnt
ity) を示している。
In FIG. 2, reference numeral 100 denotes MHS P1 / P
Compatibility test device for 2 protocols, 200 is MHS P1
/ P2 protocol implemented system under test, 101 and 20
1 is a Reliable Transfer Service Entity (RTSE), which is a lower layer for the MHS P1 / P2 protocol.
ity).

【0006】上述したTTCNによる記述をそのまま用
いるテストシナリオの作成方法の他に、TTCNによる
記述を参考にして第N層のシナリオを、(N)−AS
P,(N−1)−ASP及び(N)−PDUに対して発
生する入力イベントを横軸とし且つ状態識別番号を縦軸
として実行すべきアクションを各欄に記述した独自の形
式の状態遷移表により、作成する方法もある。
[0006] In addition to the above-described method of creating a test scenario using the TTCN description as it is, referring to the description of the TTCN, the scenario of the N-th layer is represented by (N) -AS
State transition in a unique format in which actions to be executed are described in each column, with input events occurring for P, (N-1) -ASP and (N) -PDU as abscissa and state identification numbers as ordinate. There is also a method of creating a table.

【0007】[0007]

【発明が解決しようとする課題】しかし、上述したTT
CNによる記述をそのまま用い、あるいは参考にしてテ
ストシナリオを作成する従来技術では、PCO,ASP
及びPDU等必要な情報を全てまとめてテストシーケン
スに記述するため、更には、あらゆる応答に対して次に
行うべき入力を記述する必要があるため、テストシナリ
オの記述が複雑であり、また記述量が多く、テストシナ
リオ作成に長時間要するという問題がある。
However, the above-mentioned TT
In the prior art in which a test scenario is created using the description by the CN as it is or as a reference, PCO, ASP
Since all necessary information such as PDUs and the like are described together in a test sequence, and further, it is necessary to describe the next input for every response, the description of the test scenario is complicated, and the amount of description is There is a problem that it takes a long time to create a test scenario.

【0008】そこで本発明はテストシナリオを短時間で
作成することができるテストシナリオ作成機能を有する
通信プロトコル適合性試験装置を提供することを目的と
する。
Accordingly, an object of the present invention is to provide a communication protocol conformance test apparatus having a test scenario creation function capable of creating a test scenario in a short time.

【0009】[0009]

【課題を解決するための手段】上記目的を達成する請求
項1の発明は、OSI参照モデルの第N層を実装するシ
ステムの(N)−プロトコルの適合性を試験する装置に
おいて、入力及び応答のテストイベントの順番であるテ
ストシーケンスの記述と、PDUのパラメータの前記テ
ストシーケンスの記述とは独立した設定と、下位のAS
Pのパラメータの前記テストシーケンスの記述とは独立
した設定と、によりテストシナリオを作成するテストシ
ナリオ作成手段と、作成されたテストシナリオに基づい
て被試験システムと対向で試験を行うテスト実行手段
と、テスト結果を解析するテスト結果解析手段と、を具
備することを特徴とする通信プロトコル適合性試験装置
である。また請求項2の発明は、前記テストシナリオ作
成手段は、送受信する(N)−PDUが存在する場合に
は(N)−PDU名で、同(N)−PDUが存在しない
場合には(N−1)−ASP名で、テストイベントを送
信するものと受信するものに分けて、テストシーケンス
のみを記述するテストシーケンスエディタと、テストシ
ーケンス中のテストイベントを指定して(N)−PDU
のパラメータを設定するPDUエディタと、テストシー
ケンス中のテストイベントを指定して(N−1)−AS
Pのパラメータを設定するASPエディタと、を具備す
ることを特徴とする通信プロトコル適合性試験装置であ
る。請求項3の発明は、前記テストシーケンスエディタ
は予め設定したメニューから(N)−PDU名または
(N−1)−ASP名を選択する機能を有することを特
徴とする通信プロトコル適合性試験装置である。請求項
4の発明は、前記テストシーケンスエディタは前記PD
Uエディタ及び前記ASPエディタを起動する機能を有
することを特徴とする通信プロトコル適合性試験装置で
ある。更に請求項5の発明は、前記PDUエディタ及び
前記ASPエディタはそれぞれ、作成済みテストシナリ
オ中の、あるいはテスト結果として保存された(N)−
PDU名,(N−1)−ASP名及びそれらのパラメー
タ値を、PDU単位及びASP単位で利用する機能を有
することを特徴とする通信プロトコル適合性試験装置で
ある。また更に、請求項6の発明は、前記シナリオ作成
手段は作成済みテストシナリオを別のテストシナリオの
作成に利用する機能を有することを特徴とする通信プロ
トコル適合性試験装置である。
According to the first aspect of the present invention, there is provided an apparatus for testing the conformity of an (N) -protocol of a system which implements an Nth layer of an OSI reference model. Description of the test sequence, which is the order of the test events, setting of the parameters of the PDU independent of the description of the test sequence,
A test scenario creating means for creating a test scenario by setting the parameters of P independently of the description of the test sequence, a test executing means for performing a test facing the system under test based on the created test scenario, And a test result analysis means for analyzing test results. Further, in the invention of claim 2, the test scenario creation means uses (N) -PDU name when there is (N) -PDU to be transmitted and received, and (N) when there is no (N) -PDU. -1)-A test sequence editor that describes only a test sequence separately for those that transmit test events and those that receive test events by an ASP name, and (N) -PDU specifying test events in the test sequence.
PDU editor to set the parameters of (1) and (N-1) -AS by specifying the test event in the test sequence
And an ASP editor for setting parameters of P. According to a third aspect of the present invention, in the communication protocol conformance test apparatus, the test sequence editor has a function of selecting (N) -PDU name or (N-1) -ASP name from a preset menu. is there. The test sequence editor according to claim 4, wherein the test sequence editor is configured to execute the PD
A communication protocol conformance test device having a function of activating a U editor and the ASP editor. Further, in the invention according to claim 5, the PDU editor and the ASP editor are each stored in a created test scenario or as a test result.
A communication protocol conformance test apparatus characterized by having a function of using a PDU name, (N-1) -ASP name and their parameter values in PDU units and ASP units. Still further, the invention of claim 6 is the communication protocol conformance test apparatus, wherein the scenario creating means has a function of using the created test scenario for creating another test scenario.

【0010】[0010]

【作用】請求項1の発明では、テストシーケンスの記述
と、PDUのパラメータの設定と、下位のASPのパラ
メータの設定とを独立に行ってテストシナリオを作成
し、作成したテストシナリオに基づいて試験を行い、そ
のテスト結果を解析する。このように、テストシーケン
スの設定と、PDUのパラメータの設定と、ASPのパ
ラメータの設定とを独立に行うことにより、テストシー
ケンスの記述が簡素化し、またPDU及びASPの各パ
ラメータの設定を自由に行うことができ、従ってテスト
シナリオを短時間で作成することができる。請求項2の
発明では、テストシナリオの作成にテストシーケンスエ
ディタと、PDUエディタと、ASPエディタという3
つのツールを用いる。そしてテストシーケンスエディタ
では送受信する(N)−PDUが存在する場合には
(N)−PDU名で、同(N)−PDUが存在しない場
合には(N−1)−ASP名で、テストイベントを送信
するものと受信するものに分けてテストシーケンスのみ
を記述し、PDUエディタではテストシーケンス中のテ
ストイベントを指定して(N)−PDUのパラメータを
設定し、ASPエディタではテストシーケンス中のテス
トイベントを指定して(N−1)−ASPのパラメータ
を設定する。この場合、テストシーケンスをテストイベ
ントの(N)−PDU名及び(N−1)−ASP名での
み記述することにより、テストシーケンスの記述が一層
簡単化する。また、送信するテストイベント(入力)と
受信するテストイベント(応答)に区分けして記述する
ことにより、テストシーケンスの構造が明確になり、記
述を容易に行うことができる。請求項3の発明では、
(N)−PDU名及び(N−1)−ASP名をメニュー
から選択してテストシーケンスを記述することができ
る。これにより、テストシーケンスの記述が更に簡単に
なる。請求項4の発明では、テストシーケンスエディタ
によりPDUエディタ及びASPエディタを起動して、
(N)−PDU及び(N−1)−ASPのパラメータを
設定することができ、これらパラメータの設定を容易に
行うことができる。請求項5の発明では、作成済みテス
トシナリオ中の、あるいはテスト結果として保存された
(N)−PDU名、(N−1)−ASP名及びそれらの
パラメータ値を、PDU単位及びASP単位で利用し
て、(N)−PDUのパラメータの設定及び(N−1)
−ASPのパラメータの設定を行うことができ、テスト
シナリオ作成が更に容易になる。請求項6の発明では、
作成済みテストシナリオを利用して別のテストシナリオ
を作成することができ、従ってテストシナリオを短時間
で作成することができる。
According to the first aspect of the present invention, a test scenario is created by independently describing a test sequence, setting a parameter of a PDU, and setting a parameter of a lower ASP, and performing a test based on the created test scenario. And analyze the test results. As described above, by independently setting the test sequence, setting the parameters of the PDU, and setting the parameters of the ASP, the description of the test sequence is simplified, and the setting of each parameter of the PDU and the ASP can be freely performed. Test scenarios can be created in a short time. According to the second aspect of the present invention, a test sequence editor, a PDU editor, and an ASP editor are used to create a test scenario.
Use two tools. In the test sequence editor, the test event is (N) -PDU name if there is (N) -PDU to be transmitted and received, and (N-1) -ASP name if there is no (N) -PDU. In the PDU editor, the test event in the test sequence is specified and the (N) -PDU parameter is set. In the ASP editor, the test in the test sequence is described. The event is specified and the (N-1) -ASP parameter is set. In this case, the description of the test sequence is further simplified by describing the test sequence only with the (N) -PDU name and the (N-1) -ASP name of the test event. In addition, by describing the test event (input) to be transmitted and the test event (response) to be received separately, the structure of the test sequence becomes clear and the description can be easily performed. In the invention of claim 3,
The test sequence can be described by selecting (N) -PDU name and (N-1) -ASP name from the menu. This further simplifies the description of the test sequence. According to the invention of claim 4, the test sequence editor activates the PDU editor and the ASP editor,
(N) -PDU and (N-1) -ASP parameters can be set, and these parameters can be easily set. According to the fifth aspect of the present invention, the (N) -PDU name, the (N-1) -ASP name and their parameter values in the created test scenario or stored as a test result are used in PDU units and ASP units. And (N) -PDU parameter setting and (N-1)
-ASP parameters can be set, and test scenario creation is further facilitated. In the invention of claim 6,
Another test scenario can be created by using the created test scenario, and thus the test scenario can be created in a short time.

【0011】[0011]

【実施例】以下、図面(図1,図2,図4〜図33)を
参照して、本発明をその実施例と共に説明する。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS The present invention will be described below with reference to the drawings (FIGS. 1, 2, and 4 to 33).

【0012】<通信プロトコル適合性試験装置の実施例
>図1に示される通信プロトコル適合性試験装置は、テ
ストシナリオ作成部10と、テスト実行部20と、テス
ト結果解析部30とを備えており、OSI参照モデルの
各層例えばネットワーク層以上の各プロトコルに対する
適合性試験を任意に選択して実行できるようにしてあ
る。
<Embodiment of Communication Protocol Compatibility Test Apparatus> The communication protocol suitability test apparatus shown in FIG. 1 includes a test scenario creation unit 10, a test execution unit 20, and a test result analysis unit 30. The compatibility test for each layer of the OSI reference model, for example, each protocol of the network layer or higher, can be arbitrarily selected and executed.

【0013】テストシナリオ作成部10は、OSI参照
モデルの任意の第N層を実装するシステムの(N)−プ
ロトコルの適合性を試験するために、入力及び応答のテ
ストイベントの順番であるテストシーケンスの記述と、
(N)−PDUのパラメータの前記テストシーケンスの
記述とは独立した設定と、下位の(N−1)−ASPの
パラメータの前記テストシーケンスとの記述とは独立し
た設定とにより任意のプロトコルに対するテストシナリ
オを選択的に作成するものとしてあり、具体的には、テ
ストシーケンスエディタ11と、PDUエディタ12
と、ASPエディタ13からなる。テストシーケンスエ
ディタ11は送受信する(N)−PDUが存在する場合
には(N)−PDU名で、同(N)−PDUが存在しな
い場合には(N−1)−ASP名で、テストイベントを
送信するものと受信するものに区分けしてテストシーケ
ンスのみを記述するものであり、予め設定したメニュー
から(N)−PDU名または(N−1)−ASP名を選
択する機能と、PDUエディタ12及びASPエディタ
13を起動する機能を有している。PDUエディタ12
はテストシーケンス中のテストイベントを指定して
(N)−PDUのパラメータを設定するエディタであ
り、ASPエディタ13はテストシーケンス中のテスト
イベントを指定して下位の(N−1)−ASPのパラメ
ータを設定するエディタであり、それぞれ作成済みテス
トシナリオ中の、あるいはテスト結果として保存された
(N)−PDU,(N−1)−ASPのパラメータ値
を、PDU単位及びASP単位で利用する機能を有して
いる。
The test scenario creation unit 10 includes a test sequence, which is an order of input and response test events, for testing the conformity of the (N) -protocol of a system implementing an arbitrary Nth layer of the OSI reference model. Description and
A test for an arbitrary protocol is performed by setting (N) -PDU parameters independent of the description of the test sequence and by setting (N-1) -ASP parameters independent of the description of the test sequence. A scenario is selectively created. Specifically, a test sequence editor 11 and a PDU editor 12
And an ASP editor 13. The test sequence editor 11 uses the (N) -PDU name when the (N) -PDU to be transmitted / received exists, and the (N-1) -ASP name when the (N) -PDU does not exist. A function of selecting (N) -PDU name or (N-1) -ASP name from a preset menu, and a PDU editor. It has a function of activating the ASP editor 12 and the ASP editor 13. PDU editor 12
Is an editor for specifying the test event in the test sequence and setting the parameters of the (N) -PDU. The ASP editor 13 specifies the test event in the test sequence and sets the parameters of the lower (N-1) -ASP. Is an editor for setting parameter values of (N) -PDU and (N-1) -ASP in a created test scenario or stored as a test result in units of PDU and ASP. Have.

【0014】テスト実行部20は作成されたテストシナ
リオに基づいて被試験システムと対向で試験を行うもの
であり、テスト結果をテスト結果解析部30に与える。
The test execution unit 20 performs a test in opposition to the system under test based on the created test scenario, and provides a test result to the test result analysis unit 30.

【0015】テスト結果解析部30はテスト結果をテス
トシナリオと対比する形で解析し、またテスト結果のフ
ァイルへの保存も行うものであり、具体的には、テスト
結果解析部30はテスト結果シーケンスアナライザ31
と、PDUアナライザ32と、ASPアナライザ33か
らなる。テスト結果シーケンスアナライザ31はテスト
結果のうち主としてイベントのシーケンスを解析するも
のであり、テスト実行時に送信したテストイベントと、
受信したテストイベントを区分けし、(N)−PDU名
及び(N−1)−ASP名にそれぞれ送受信時刻等を付
して表示または記録する。また、テスト結果シーケンス
アナライザ31は、テストイベントを指定してPDUア
ナライザ32及びASPアナライザ33を起動する機能
を有している。PDUアナライザ31はテスト実行時に
受信したテストイベントのPDUのパラメータ値を解析
するものであり、解析したPDUのパラメータ値をファ
イルに保存する機能を有する。ASPアナライザ32は
テスト実行時に受信したテストイベントのASPのパラ
メータ値を解析するものであり、解析したASPのパラ
メータ値をファイルに保存する機能を有する。
The test result analysis unit 30 analyzes the test result in comparison with the test scenario, and also stores the test result in a file. Specifically, the test result analysis unit 30 performs a test result sequence test. Analyzer 31
, A PDU analyzer 32 and an ASP analyzer 33. The test result sequence analyzer 31 mainly analyzes a sequence of events among the test results.
The received test event is classified, and the (N) -PDU name and (N-1) -ASP name are displayed or recorded with transmission / reception time and the like respectively. Further, the test result sequence analyzer 31 has a function of activating the PDU analyzer 32 and the ASP analyzer 33 by designating a test event. The PDU analyzer 31 analyzes the parameter values of the PDU of the test event received at the time of executing the test, and has a function of saving the analyzed parameter values of the PDU in a file. The ASP analyzer 32 analyzes the parameter values of the ASP of the test event received at the time of executing the test, and has a function of saving the analyzed parameter values of the ASP in a file.

【0016】<MHS P1/P2プロトコルに対する
試験構成例>次に、図1,図2,図4〜図27に基づ
き、本発明をOSI参照モデルの第7層即ち応用層のプ
ロトコルの1つであるMHS P1/P2プロトコルの
試験に適用した場合を例にとり、通信プロトコル適合性
試験装置の構成例及び動作例を説明する。RTSEは下
位層である。MHS P1/P2プロトコルのPDUは
RTSEによって運ばれるため、試験は図2に示すよう
に、P1/P2プロトコルのPDUをユーザデータとし
て含んだ、RTSE101における各ASP即ちRT−
ASPを送受信して行われる。そこで、図1に示した通
信プロトコル適合性試験装置において、テストシーケン
スエディタ11ではP1/P2プロトコルのテストシー
ケンスを記述し、PDUエディタ12ではP1/P2プ
ロトコルのPDUのパラメータを設定し、ASPエディ
タ13ではRTSEのASP(RT−ASP)のパラメ
ータを設定することになる。また、テスト結果シーケン
スアナライザ31ではP1/P2プロトコルのテスト結
果シーケンスを解析し、PDUアナライザ32ではP1
/P2プロトコルのPDUのパラメータ値を解析し、A
SPアナライザ33ではRTSEのASP(RT−AS
P)のパラメータ値を解析することになる。
<Example of Test Configuration for MHS P1 / P2 Protocol> Next, based on FIGS. 1, 2 and 4 to 27, the present invention will be described with reference to the seventh layer of the OSI reference model, ie, one of the protocols of the application layer. A configuration example and an operation example of a communication protocol compatibility test apparatus will be described by taking as an example a case where the present invention is applied to a test of a certain MHS P1 / P2 protocol. RTSE is a lower layer. Since the PDU of the MHS P1 / P2 protocol is carried by the RTSE, as shown in FIG. 2, the test in each of the RTSEs 101 including the P1 / P2 protocol PDU as the user data, ie, RT-
This is performed by transmitting and receiving ASP. Therefore, in the communication protocol conformance test apparatus shown in FIG. 1, the test sequence editor 11 describes the test sequence of the P1 / P2 protocol, the PDU editor 12 sets the parameters of the PDU of the P1 / P2 protocol, and the ASP editor 13 Then, the parameters of the RTSE ASP (RT-ASP) are set. The test result sequence analyzer 31 analyzes the test result sequence of the P1 / P2 protocol, and the PDU analyzer 32 analyzes the P1 / P2 protocol.
/ Analyze the parameter value of the PDU of the P2 protocol, and
The SP analyzer 33 uses the RTSE ASP (RT-AS
The parameter value of P) will be analyzed.

【0017】<MHS P1/P2プロトコル用テスト
シナリオの作成>図1及び図4〜図27に基づき、MH
S P1/P2プロトコル用テストシナリオの作成例を
説明する。図4のテストシナリオ作成フローチャートに
示されるように、テストシナリオ作成開始時に、テスト
シナリオ作成部10に入力部40により新規のテストシ
ナリオの作成か否かを指定する。新規のテストシナリオ
作成を指定するとテストシーケンスエディタ11が起動
し、否であれば作成済みのテストシナリオ名を入力する
ことによりそのテストシナリオのファイルが呼び出され
てテストシーケンスエディタ11が起動する。テストシ
ーケンスエディタ11が起動すると、図5に示されるフ
ローチャートにより、テストシーケンス用のテストイベ
ントの記述、テストシーケンスの部分的な切り貼り用の
カット,コピー,ペースト等の選択、PDUエディタの
選択、ASPエディタの選択、シナリオ保存、終了等を
指定する。PDUエディタが選択されるとPDUエディ
タが起動し、図6に示されるフローチャートに従って動
作する。ASPエディタが選択されるとASPエディタ
が起動し、図7に示されるフローチャートに従って動作
する。
<Creation of Test Scenario for MHS P1 / P2 Protocol> Based on FIG. 1 and FIGS.
An example of creating a test scenario for the SP1 / P2 protocol will be described. As shown in the test scenario creation flowchart of FIG. 4, at the start of the test scenario creation, the input unit 40 designates whether or not to create a new test scenario in the test scenario creation unit 10. When creation of a new test scenario is designated, the test sequence editor 11 is started. If not, the name of the created test scenario is input to call up the test scenario file and the test sequence editor 11 is started. When the test sequence editor 11 is started, the description of the test event for the test sequence, the selection of cut, copy, paste and the like for partial cut and paste of the test sequence, the selection of the PDU editor, the ASP editor are performed according to the flowchart shown in FIG. Select, save scenario, end, etc. When the PDU editor is selected, the PDU editor is activated and operates according to the flowchart shown in FIG. When the ASP editor is selected, the ASP editor is activated and operates according to the flowchart shown in FIG.

【0018】[テストシーケンスの記述]図1,図5及
び図8〜図14に基づき、テストシーケンスエディタ1
1によるテストシーケンスの記述を説明する。試験装置
には図1の如く入力部及び画像表示部50があり、図8
に示す記述例のように、試験装置が被試験システムへ送
信するテストイベント(入力テストイベント)を表示画
面の入力欄に、また試験装置が被試験システムから受信
すべきテストイベント(応答テストイベント)を応答欄
にそれぞれ区分けし、入力部40から入力することによ
りテストイベントの順番で記述しファイルに記録する。
各テストイベントは、基本的には、“MTABindArgum
ent"や“Message"のようにMHS P1/P2プロトコ
ルのPDU名で記述する。但し、“RT−TRANSF
ERconf”のように同プロトコルのPDU名が存在しな
いRT−ASPが送受信される場合には、そのRT−A
SP名を記述する。
[Description of Test Sequence] Based on FIGS. 1, 5 and 8 to 14, a test sequence editor 1
1 will be described. The test apparatus has an input unit and an image display unit 50 as shown in FIG.
As shown in the description example, the test event transmitted by the test apparatus to the system under test (input test event) is entered in the input field of the display screen, and the test event to be received by the test apparatus from the system under test (response test event) Are divided into response columns, respectively, and are entered in the input unit 40 to be described in the order of test events and recorded in a file.
Each test event is basically "MTABindArgum
Described by the PDU name of the MHS P1 / P2 protocol, such as “ent” or “Message.” However, “RT-TRANSF”
When an RT-ASP that does not have a PDU name of the same protocol such as “ERconf” is transmitted and received, the RT-A
Describe the SP name.

【0019】図8の記述例は試験装置が“MTABindA
rgument"を被試験システムに送信することによりコネク
ション設立を要求する場合のテストシーケンスの例であ
るが、これとは逆に、図9に示すように被試験システム
が“MTABindArgument"を試験装置に送信することに
よりコネクション設立を要求するようなテストシーケン
スも記述することが可能である。
The description example of FIG. 8 shows that the test apparatus is “MTABindA”.
rgument "is transmitted to the system under test to request connection establishment. On the contrary, as shown in FIG. 9, the system under test transmits" MTABindArgument "to the test apparatus. By doing so, a test sequence that requires connection establishment can be described.

【0020】テストイベントは、図10に示すような一
覧メニューから選択することによって記述できる。その
ため、テストシーケンスエディタ11にはメニューのフ
ァイルがあり、表示部50の画面に表示される。一覧メ
ニューはMHS P1/P2プロトコルの各PDU名
と、各RT−ASP名とに加えて、テストシーケンスを
制御するためのシーケンス制御コマンドからなる。
A test event can be described by selecting from a list menu as shown in FIG. Therefore, the test sequence editor 11 has a menu file, which is displayed on the screen of the display unit 50. The list menu includes a sequence control command for controlling a test sequence in addition to each PDU name of the MHS P1 / P2 protocol and each RT-ASP name.

【0021】シーケンス制御コマンドには“LOO
P”,“END OF LOOP”及び“WAIT”が
ある。“LOOP”コマンドは、同コマンドから“EN
D OF LOOP”コマンドまでの間でこれらのコマ
ンドで囲まれる範囲(ループ内)のテストイベントを、
“LOOP”コマンドで指定した回数だけ繰り返し実行
することを示す。“WAIT”コマンドは、次のテスト
イベントの処理の前に、指定した秒数だけ待つことを示
す。従って、図11の記述例は、10秒おきに3回の
“Message ”を送信するためのテストシーケンスであ
る。
The sequence control command includes "LOO
P ”,“ END OF LOOP ”, and“ WAIT. ”The“ LOOP ”command is obtained by adding“ EN ”
A test event in a range (in a loop) surrounded by these commands up to the D OF LOOP command is
This indicates that the command is repeatedly executed the number of times specified by the “LOOP” command. The “WAIT” command indicates to wait a specified number of seconds before processing the next test event. Therefore, the description example in FIG. 11 is a test sequence for transmitting “Message” three times every 10 seconds.

【0022】また、各テストイベントには、後続のテス
トイベントと関連づけて動作させる等のために、補助記
号を付加することができる。そのため、テストシーケン
スエディタ11には図12に示すような補助記号メニュ
ーのファイルがあり、表示部50の画面に表示される。
そして、テストイベントを指定し、補助記号メニューよ
り付加したい補助記号を選択することにより、補助記号
を付加することができる。補助記号は次のように用いら
れる。 補助記号“/”:複数の応答テストイベントの受信
する順序が不定の場合に、図13に示すように補助記号
“/”を用いる。図13のテストシーケンスの記述例中
の4行目及び5行目に付加した補助記号“/”は、同4
行目から6行目において、ASPのパラメータ値である
コネクション番号が異なる“MTABindResult"を、ど
のコネクション番号のものから受信しても良いことを示
している。 補助記号“>”:入力テストイベントのパラメータ
値をテスト実行時に指定する場合は、図14に示すよう
に補助記号“>”を用いる。先に説明した図11の記述
例では、ループ内のテストイベントは同じパラメータ値
で実行されるが、ループ1回毎に“Message"のパラメー
タ値を変えたい場合は図14に示すよう“>”を付加し
てテストシーケンスを記述する。従って図14中の5行
目の補助記号“>”は、テスト実行時にこの5行目にお
いてテスト実行を中断し、この状態をPDUのパラメー
タまたはASPのパラメータを指定し、次いでテスト実
行を再開できることを示している。 補助記号“+”:PDUを連結したい場合に補助記
号“+”を用いるが、詳細は図29により後で説明す
る。 補助記号“*”:同一の応答テストイベントを不特
定回数受信する場合に補助記号“*”を用いるが、これ
の詳細も図29により後述する。 補助記号“?”:受信しなくても良い応答テストイ
ベントを示す場合に補助記号“?”を用いるが、これの
詳細も図29により後述する。
Further, an auxiliary symbol can be added to each test event so as to operate in association with a subsequent test event. Therefore, the test sequence editor 11 has an auxiliary symbol menu file as shown in FIG.
Then, by specifying a test event and selecting an auxiliary symbol to be added from the auxiliary symbol menu, an auxiliary symbol can be added. Supplementary symbols are used as follows. Auxiliary symbol "/": When the order in which a plurality of response test events are received is undefined, the auxiliary symbol "/" is used as shown in FIG. The supplementary symbol “/” added to the fourth and fifth lines in the description example of the test sequence in FIG.
Lines 6 to 6 indicate that “MTABindResult” having a different connection number, which is an ASP parameter value, may be received from any connection number. Auxiliary symbol ">": When a parameter value of an input test event is specified at the time of test execution, an auxiliary symbol ">" is used as shown in FIG. In the description example of FIG. 11 described above, the test event in the loop is executed with the same parameter value. However, when it is desired to change the parameter value of “Message” for each loop, “>” is used as shown in FIG. To describe the test sequence. Therefore, the supplementary symbol “>” in the fifth line in FIG. 14 indicates that the test execution can be interrupted in the fifth line during the test execution, the PDU parameter or the ASP parameter can be designated, and then the test execution can be resumed. Is shown. Auxiliary symbol "+": The auxiliary symbol "+" is used when it is desired to connect PDUs, and the details will be described later with reference to FIG. Auxiliary symbol "*": When the same response test event is received an unspecified number of times, the auxiliary symbol "*" is used, and details thereof will be described later with reference to FIG. Auxiliary symbol "?": The auxiliary symbol "?" Is used to indicate a response test event that does not need to be received. The details of this will be described later with reference to FIG.

【0023】図5のフローチャート中で、カット,コピ
ー,ペーストの選択を行った場合、既に記述したテスト
シーケンス中の例えば複数行のテストイベントの削除,
複写など部分的な切り貼りを行うことができ、記述作業
が容易化する。
In the flow chart of FIG. 5, when cut, copy, and paste are selected, for example, a test event of a plurality of lines in the already described test sequence is deleted,
Partial cutting and pasting such as copying can be performed, and the description work is facilitated.

【0024】[PDUのパラメータの入力]図1,図
5,図6,図8及び図15〜図19に基づき、PDUエ
ディタ12によるPDUのパラメータ値の設定を説明す
る。各テストイベントに対してPDUのパラメータ値を
入力するには、テストイベントを選択し、図5に示した
ように、テストシーケンスエディタ11においてPDU
エディタ12を起動する。そして手力部40及び表示部
50を利用して、図6に示したフローにより、入力テス
トイベントのPDUのパラメータを全て設定し、応答テ
ストイベントのPDUのパラメータは正しく受信したか
否かを判定すべきものについてのみ設定する。図6にお
いて、PDUのパラメータ値を新規に設定する場合は入
力部40によりPDUパラメータの編集を行い、その後
必要に応じて保存、終了を指定する。保存では、入力さ
れたパラメータ値がエンコードされ、ファイル名を入力
することにより再利用のためのファイルが作成されて保
存される。終了では、入力されたパラメータ値がエンコ
ードされて保存される。また、初めから以前に設定した
PDUのパラメータ値を利用する場合、あるいはテスト
結果解析部30に保存されたPDUのパラメータ値を利
用する場合は、ファイル名の入力等によりPDUパラメ
ータのファイルを呼出し、デコードされたPDUパラメ
ータを利用して所望のパラメータ設定の編集を行う。
[Input of PDU Parameter] The setting of the PDU parameter value by the PDU editor 12 will be described with reference to FIGS. 1, 5, 6, 8, and 15 to 19. To input PDU parameter values for each test event, select a test event and, as shown in FIG.
The editor 12 is started. Then, by using the manual unit 40 and the display unit 50, according to the flow shown in FIG. 6, all the parameters of the PDU of the input test event are set, and it is determined whether or not the parameters of the PDU of the response test event are correctly received. Set only what should be done. In FIG. 6, when newly setting the parameter value of the PDU, the PDU parameter is edited by the input unit 40, and then, if necessary, save and end are designated. In the storage, the input parameter values are encoded, and a file for reuse is created and stored by inputting a file name. At the end, the input parameter values are encoded and stored. When using the parameter values of the PDU previously set from the beginning, or when using the parameter values of the PDU stored in the test result analysis unit 30, the PDU parameter file is called by inputting a file name or the like, A desired parameter setting is edited using the decoded PDU parameter.

【0025】図15には、図8に例示したテストシーケ
ンス中の1行目のテストイベントである“MTABindA
rgument"に対するPDUエディタ12での画面側が示さ
れている。ここで、OSI参照モデルの応用層のPDU
は、ASN.1定義(Abstract Syntax Notation 1)に
従って定義されており、順序を持たないパラメータの集
合(SET)や、複数のパラメータからの選択(CHO
ICE)等のデータ構造を組み合せた木構造を有してい
る。そこで、PDUエディタ12での個々のパラメータ
値の設定としては、上述の木構造のリーフに対して、
“IA5String" や、“INTEGER”等の形式で文
字列や数値を入力するようにしている。例えばPDUエ
ディタ12における図15のSET画面例で“initiato
r-name(MTAName)”を選択すると、図16の画面が
表示されて“IA5String" の形式で、文字列の入力が
要求される。そこで、所要の文字列をパラメータ値とし
て入力する。また、図15の画面例で“initiator-cred
entials(Initiator Credientials)”を選択すると、図
17のCHOICE画面が表示され、ここで“simple
(Password)”と“strong(Strong Crediential)いう
2つのデータ型の選択を要求する。そこで、例えば“si
3ple(Password)”を選択すると、図18のCHOIC
E画面が表示され、ここで“IA5String" と“OCT
ET STRING”との2つのデータ型の選択を要求
する。そこで例えば“IA5String" を選択すると、図
19の画面が表示され、ここで始めて文字列の入力が要
求される。そこで所要の文字列をパラメータ値として入
力する。
FIG. 15 shows a test event “MTABindA” on the first line in the test sequence illustrated in FIG.
rgument "on the screen side in the PDU editor 12. Here, the PDU of the application layer of the OSI reference model is shown.
Is ASN. 1 (Abstract Syntax Notation 1), a set of unordered parameters (SET), and selection from multiple parameters (CHO)
It has a tree structure combining data structures such as ICE). Therefore, as the setting of individual parameter values in the PDU editor 12, for the leaf of the above-described tree structure,
A character string or a numerical value is input in a format such as "IA5 String" or "INTEGER". For example, in the SET screen example of FIG.
When "r-name (MTAName)" is selected, the screen shown in Fig. 16 is displayed, and the input of a character string is requested in the format of "IA5String." Therefore, the required character string is input as a parameter value. In the screen example of FIG. 15, "initiator-cred
If you select “entials (Initiator Credientials)”, the CHOICE screen shown in FIG. 17 is displayed.
(Password) ”and“ strong (Strong Crediential) ”. So, for example, "si
3ple (Password) ”
The E screen is displayed, where “IA5String” and “OCT”
ET STRING "is requested. For example, if" IA5String "is selected, a screen shown in FIG. 19 is displayed, and a character string input is requested for the first time. Enter as a parameter value.

【0026】[ASPのパラメータの入力]図1,図
5,図7及び図20〜図22に基づき、ASPエディタ
13によるASPのパラメータ値の設定例を説明する。
各テストイベントに対してASPのパラメータ値を入力
するには、テストイベントを選択し、図5に示したよう
に、テストシーケンスエディタ11においてASPエデ
ィタ13を起動する。そして手力部40及び表示部50
を利用して、図7に示したフローにより、入力テストイ
ベントのASPのパラメータを全て設定し、応答テスト
イベントのASPのパラメータは正しく受信したか否か
を判定すべきものについてのみ設定する。図7におい
て、ASPのパラメータ値を新規に設定する場合は入力
部40によりASPパラメータの編集を行い、その後必
要に応じて保存、終了を指定する。保存では、入力され
たパラメータ値が、ファイル名を入力することにより再
利用のためのファイルとして作成されて保存される。終
了では、入力されたパラメータ値が保存される。また、
初めから以前に設定したASPのパラメータ値を利用す
る場合、あるいはテスト結果解析部30に保存されたA
SPのパラメータ値を利用する場合は、ファイル名の入
力等によりASPパラメータのファイルを呼出し、AS
Pパラメータを利用して所望のパラメータ設定の編集を
行う。
[Input of ASP Parameters] An example of setting the parameter values of the ASP by the ASP editor 13 will be described with reference to FIGS. 1, 5, 5 and 20 to 22.
To input an ASP parameter value for each test event, the test event is selected, and the ASP editor 13 is started in the test sequence editor 11 as shown in FIG. Then, the manual power unit 40 and the display unit 50
Using the flow shown in FIG. 7, all the parameters of the ASP of the input test event are set, and only the parameters of the ASP of the response test event for which it is determined whether or not it has been correctly received are set. In FIG. 7, when newly setting the parameter value of the ASP, the editing of the ASP parameter is performed by the input unit 40, and then the saving and the ending are designated as required. In saving, the input parameter values are created and saved as a file for reuse by inputting a file name. At the end, the entered parameter values are saved. Also,
When using the previously set ASP parameter values from the beginning, or when the A stored in the test result analysis unit 30 is used.
When using the parameter value of the SP, the file of the ASP parameter is called by inputting a file name or the like, and the AS parameter is called.
A desired parameter setting is edited using the P parameter.

【0027】ASPエディタ13が起動すると、ASP
のパラメータ値の設定のために表示部50に例えば図2
0や図21に示される画面が表示される。図20の画面
例は、図8のテストシーケンス中の1行目のテストイベ
ント(MTABindArgument)に対するASPエディタ1
3の画面であり、図21の画面例は、図9のテストシー
ケンス中の2行目のテストイベント(MTABindResul
t)に対するASPエディタ13の画面である。このよう
な画面に対応して、入力部40により、ASPパラメー
タを入力して設定を行う。図22には、図21の画面に
対してパラメータ値を入力し終えた状態の画面表示例が
示されている。ところで、パラメータ値として、図22
の“Result”に関するもののように、“acceptance”,
“ACSE rejected",“PL user rejected”等の限
られた値しかとらないものについては、入力の簡単化の
ためASPエディタ13にこれらのパラメータ値のテー
ブルを予め用意しておき、このテーブル即ちメニューか
ら選択できるようにしてある。一方、“CEP−I
D”,“Responding presentation address"等に関する
もののように、任意の値を取り得るパラメータ値の場合
は、そのデータ型に従って必要な個数だけ数値や文字列
をそのまま入力する。更に、パラメータ値としては、入
力の簡単化のためテスト実行中に送信する値や受信する
値をそのまま指定することができるようにしてある。例
えば、“Responding presentation address" におい
て、図8のテストシーケンス中の1行目のASPである
「“RT−OPENind ”のパラメータ“Called prese
ntationaddress"」のパラメータ値を使いたい場合は、
図22に示すように、行番号1を付して“1.called pre
sentation address"と入力すれば良い。
When the ASP editor 13 starts, the ASP
For example, FIG.
0 and the screen shown in FIG. 21 are displayed. The screen example of FIG. 20 shows the ASP editor 1 for the test event (MTABindArgument) on the first line in the test sequence of FIG.
The screen example of FIG. 21 shows the test event (MTABindResul) on the second line in the test sequence of FIG.
12 is a screen of the ASP editor 13 for t). In response to such a screen, the input unit 40 inputs and sets the ASP parameters. FIG. 22 shows a screen display example in a state where the parameter values have been input to the screen of FIG. By the way, as the parameter value, FIG.
“Acceptance”, as for “Result” in
For those that take only limited values such as “ACS rejected” and “PL user rejected”, a table of these parameter values is prepared in the ASP editor 13 in advance for simplification of input, and this table, ie, menu You can choose from. On the other hand, "CEP-I
In the case of parameter values that can take any value, such as those relating to “D”, “Responding presentation address”, etc., enter as many numerical values and character strings as necessary according to the data type. For simplicity of input, the value to be transmitted and the value to be received during the test execution can be directly specified, for example, in the “Responding presentation address”, the ASP on the first line in the test sequence of FIG. The parameter “Called prese of“ RT-OPENind ”
ntationaddress "" parameter value
As shown in FIG. 22, a line number 1 is added and “1.
sentation address ".

【0028】<テスト実行部の構成動作>図1,図1
1,図14及び図23に基づいて、テスト実行部20を
説明する。テスト実行部20は、テストシナリオ作成部
10により作成されたテストシナリオを用いて、テスト
シーケンスをテストイベントの番号順に1行ずつ解釈
し、被試験システムと対向して試験を行い、テスト結果
をテスト結果解析部30に渡すためにテスト結果をファ
イルに保存する。テストイベントが入力テストイベント
である場合、テスト実行部20は被試験システムに対し
PDU及びASPを送信する。この送信は、基本的には
予め固定値として設定した送信待機時間だけ待機してか
ら行うが、図11のテストシーケンスの5行目の入力テ
ストイベントのように、“WAIT”コマンド直後の入
力テストイベントの場合は“WAIT”コマンドで指定
された時間例えば10秒だけ待機してから送信を行う。
一方、テストイベントが応答テストイベントの場合、テ
スト実行部20はPDU及びASPを被試験システムか
ら受信するまで待ち、当該応答テストイベントで指定し
たPDU名,ASP名,更にはそれらのパラメータ値
と、実際に受信したPDU名,ASP名,それらのパラ
メータ値とを比較する。比較の結果、異なる場合にはテ
スト実行を終了するものとしている。なお、応答テスト
イベントにおける受信では、タイムアウト時間を固定値
として設けてあり、この時間までに受信がなかった場合
には、所定のテストイベントを受信しなかったものと見
なしている。
<Configuration Operation of Test Execution Unit> FIGS. 1 and 1
The test execution unit 20 will be described based on FIG. 1, FIG. 14 and FIG. Using the test scenario created by the test scenario creating unit 10, the test execution unit 20 interprets the test sequence one line at a time in the order of the number of the test event, performs a test facing the system under test, and tests the test result. The test results are stored in a file to be passed to the result analyzer 30. When the test event is an input test event, the test execution unit 20 transmits a PDU and an ASP to the system under test. This transmission is basically performed after waiting for a transmission standby time set in advance as a fixed value. However, as in the input test event on the fifth line of the test sequence in FIG. 11, the input test immediately after the "WAIT" command is performed. In the case of an event, transmission is performed after waiting for a time specified by the “WAIT” command, for example, 10 seconds.
On the other hand, if the test event is a response test event, the test execution unit 20 waits until the PDU and ASP are received from the system under test, and the PDU name and the ASP name specified in the response test event, and their parameter values, The actually received PDU name, ASP name, and their parameter values are compared. If the result of the comparison is different, the test execution is terminated. In the reception of the response test event, the timeout time is provided as a fixed value, and if no reception is performed by this time, it is considered that the predetermined test event has not been received.

【0029】また、テスト実行部20は図23に示すよ
うに、テスト実行時に送受信したテストイベントを、送
受信時刻を付してテストシーケンスと同形式で表示部5
0に画面表示するようにしてある。また、テスト実行部
30は送受信したテストイベントと、それらPDU及び
ASPのパラメータ値と、送受信時刻とを、ファイルに
保存するようにしてある。
As shown in FIG. 23, the test execution unit 20 adds the transmission / reception time to the test event transmitted / received during the test execution and displays the test event in the same format as the test sequence.
0 is displayed on the screen. The test execution unit 30 stores the transmitted and received test events, the parameter values of the PDU and ASP, and the transmission and reception time in a file.

【0030】更に、テスト実行部20は、入力部40等
でテスト実行中にテストの一時停止を選択することによ
り、テスト実行を中断することができ、またテストの再
開を選択することにより、中断したテストイベントから
テスト実行を再開できるようにしてある。また、テスト
実行部20は、図14のテストシーケンスの5行目の入
力テストイベントのように、補助記号“>”が付加され
ている入力テストイベントの場合は、当該入力テストイ
ベントを送信する前に、パラメータを設定できるように
テスト実行を中断し、実行中のテストシナリオに対する
テストシーケンスエディタ11及びテスト結果アナライ
ザ31を起動する。このテスト実行の中断により、補助
信号“>”が付加した入力テストイベントのパラメータ
を、新規に、あるいは途中まで実行したテスト結果中の
PDUパラメータ値またはASPパラメータ値を用いて
上記ツール11,31により入力することができるよう
にしている。パラメータの入力が完了したら、テスト実
行画面等においてテスト実行の再開を起動することによ
り、中断したテストイベントからテスト実行を再開す
る。
Further, the test execution section 20 can interrupt the test execution by selecting a temporary stop of the test during the test execution by the input section 40 or the like, and can interrupt the test execution by selecting a restart of the test. The test execution can be resumed from the test event. In the case of an input test event to which an auxiliary symbol “>” is added, such as the input test event on the fifth line of the test sequence in FIG. 14, the test execution unit 20 transmits the input test event before transmitting the input test event. Then, the test execution is interrupted so that the parameters can be set, and the test sequence editor 11 and the test result analyzer 31 for the test scenario being executed are started. With the interruption of the test execution, the parameters of the input test event to which the auxiliary signal “>” is added can be changed by the tools 11 and 31 by using the PDU parameter value or the ASP parameter value in the test result newly or partially executed. So that you can type. When the parameter input is completed, the test execution is resumed from the interrupted test event by activating the test execution restart on the test execution screen or the like.

【0031】<テスト結果解析部の構成動作>図1,図
11及び図24〜図27に基づいて、テスト結果解析部
30を説明する。テスト結果解析部30のうち、テスト
結果シーケンスアナライザ31はテスト結果のうち主と
してイベントのシーケンスを解析するものであり、テス
ト実行時に実際に送信したテストイベントと、実際に受
信したテストイベントを区分けし、(N)−PDU名及
び(N−1)−ASP名にそれぞれ送受信時刻等を付し
て表示または記録する。図23は画面表示の一例を示
し、これは図11のテストシナリオを実行した結果を、
テスト結果シーケンスアナライザ31で画面表示したも
のである。また、PDU及びASPのパラメータ値を解
析する場合には、テスト結果シーケンスアナライザ31
で、テストイベントを指定してPDUアナライザ32及
びASPアナライザ33を起動する。PDUアナライザ
32はテスト実行時に送受信したテストイベントのPD
Uのパラメータ値を解析し、解析したPDUのパラメー
タ値を表示し、またファイルに保存する。図25と図2
6の各画面例は、図24の1行目のテストイベントに対
するPDUアナライザ32による解析結果の画面表示を
示している。ASPアナライザ33はテスト実行時に送
受信したテストイベントのASPのパラメータ値を解析
し、解析したASPのパラメータ値を表示し、またファ
イルに保存する。図27の画面例は、同じく図24の1
行目のテストイベントに対するASPアナライザ33に
よる解析結果の画面表示を示している。
<Configuration Operation of Test Result Analysis Unit> The test result analysis unit 30 will be described with reference to FIGS. 1, 11, and 24 to 27. The test result sequence analyzer 31 of the test result analysis unit 30 mainly analyzes a sequence of events among the test results. The test result sequence analyzer 31 separates a test event actually transmitted during a test execution from a test event actually received, (N) -PDU name and (N-1) -ASP name are displayed or recorded with transmission / reception time and the like respectively. FIG. 23 shows an example of the screen display, which shows the result of executing the test scenario of FIG.
This is displayed on the screen by the test result sequence analyzer 31. When analyzing the parameter values of the PDU and the ASP, the test result sequence analyzer 31
Then, the PDU analyzer 32 and the ASP analyzer 33 are started by designating a test event. The PDU analyzer 32 stores the PD of the test event transmitted and received during the test execution.
The parameter value of U is analyzed, the parameter value of the analyzed PDU is displayed, and saved in a file. FIG. 25 and FIG.
Each screen example of FIG. 6 shows a screen display of an analysis result by the PDU analyzer 32 with respect to the test event on the first line in FIG. The ASP analyzer 33 analyzes the parameter values of the ASP of the test event transmitted and received at the time of test execution, displays the analyzed parameter values of the ASP, and saves the file in a file. The screen example of FIG.
The screen display of the analysis result by the ASP analyzer 33 with respect to the test event on the line is shown.

【0032】<セション層(SL)プロトコルに対する
試験構成例>次に、図1,図4〜図7及び図28〜図3
3に基づいて、本発明をOSI参照モデルの第5層即ち
セション層(SL)のプロトコルの試験に適用した場合
を例にとり、通信プロトコル適合性試験装置の構成例及
び動作例を説明する。セション層(SL)プロトコルの
PDU(SPDU)はトランスポート層(TL)によっ
て運ばれるため、試験は図28に示すように、SLプロ
トコルのSPDUをユーザデータとして含んだ、TL1
03のASP即ちT−ASPを送受信して行われる。そ
こで、図1に示した通信プロトコル適合性試験装置にお
いて、テストシーケンスエディタ11ではSLプロトコ
ルのテストシーケンスを記述し、PDUエディタ12で
はSLプロトコルのSPDUのパラメータを設定し、A
SPエディタ13ではTLのT−ASPのパラメータを
設定することになる。また、テスト結果シーケンスアナ
ライザ31ではSLプロトコルのテスト結果シーケンス
を解析し、PDUアナライザ32ではSLプロトコルの
SPDUのパラメータ値を解析し、ASPアナライザ3
3ではTLのT−ASPのパラメータ値を解析すること
になる。従って、対象プロトコル,PDU名,ASP名
及びそれらのパラメータが異なるだけで、基本的にはN
HS P1/P2プロトコル用と同じである。
<Example of Test Configuration for Session Layer (SL) Protocol> Next, FIGS. 1, 4 to 7 and FIGS. 28 to 3
3, a configuration example and an operation example of a communication protocol conformance test apparatus will be described by taking, as an example, a case where the present invention is applied to a test of a protocol of a fifth layer, that is, a session layer (SL) of an OSI reference model. Since the PDU (SPDU) of the session layer (SL) protocol is carried by the transport layer (TL), the test includes the SPDU of the SL protocol as user data as shown in FIG.
03, that is, T-ASP is transmitted and received. Therefore, in the communication protocol conformance test apparatus shown in FIG. 1, the test sequence editor 11 describes the test sequence of the SL protocol, and the PDU editor 12 sets the parameters of the SPDU of the SL protocol.
The SP editor 13 sets the parameters of the T-ASP of the TL. The test result sequence analyzer 31 analyzes the test result sequence of the SL protocol, and the PDU analyzer 32 analyzes the parameter value of the SPDU of the SL protocol.
In 3, the parameter value of the T-ASP of the TL is analyzed. Therefore, only the target protocol, the PDU name, the ASP name and their parameters are different.
Same as for the HS P1 / P2 protocol.

【0033】<SLプロトコル用テストシナリオの作成
>図1及び図4〜図7及び図29に基づき、SLプロト
コル用テストシナリオの作成例を説明する。図4のテス
トシナリオ作成フローチャートに示されるように、テス
トシナリオ作成開始時に、テストシナリオ作成部10に
入力部40により新規のテストシナリオの作成か否かを
指定する。新規のテストシナリオ作成を指定するとテス
トシーケンスエディタ11が起動し、否であれば作成済
みのテストシナリオ名を入力することによりそのテスト
シナリオのファイルが呼び出されてテストシーケンスエ
ディタ11が起動する。テストシーケンスエディタ11
が起動すると、図5に示されるフローチャートにより、
テストシーケンス用のテストイベントの記述、テストシ
ーケンスの部分的な切り貼り用のカット,コピー,ペー
スト等の選択、PDUエディタの選択、ASPエディタ
の選択、シナリオ保存、終了等を指定する。PDUエデ
ィタが選択されるとPDUエディタが起動し、図6に示
されるフローチャートに従って動作する。またASPエ
ディタが選択されるとASPエディタが起動し、図7に
示されるフローチャートに従って動作する。
<Creation of Test Scenario for SL Protocol> An example of preparation of a test scenario for SL protocol will be described with reference to FIGS. 1, 4 to 7 and 29. As shown in the test scenario creation flowchart of FIG. 4, at the start of the test scenario creation, the input unit 40 designates whether or not to create a new test scenario in the test scenario creation unit 10. When creation of a new test scenario is designated, the test sequence editor 11 is started. If not, the name of the created test scenario is input to call up the test scenario file and the test sequence editor 11 is started. Test sequence editor 11
Is activated, according to the flowchart shown in FIG.
The description of the test event for the test sequence, the selection of cut, copy, paste, etc. for partial cut and paste of the test sequence, the selection of the PDU editor, the selection of the ASP editor, the saving of the scenario, the termination, etc. are specified. When the PDU editor is selected, the PDU editor is activated and operates according to the flowchart shown in FIG. When the ASP editor is selected, the ASP editor is activated and operates according to the flowchart shown in FIG.

【0034】[テストシーケンスの記述]図1,図5及
び図29に基づき、テストシーケンスエディタ11によ
るテストシーケンスの記述を説明する。試験装置には図
1の如く入力部40及び表示部50があり、図29に示
す記述例のように、試験装置が被試験システムへ送信す
るテストイベント(入力テストイベント)を表示画面の
入力欄に、また試験装置が被試験システムから受信すべ
きテストイベント(応答イベント)を応答欄にそれぞれ
区分けし、入力部40から入力することによりテストイ
ベントの順番で記述しファイルに記録する。各テストイ
ベントは、基本的には、“CN”や“AC”のようにS
LプロトコルのSPDU名で記述する。但し、“T−C
ONNECTreq ”のように同プロトコルのSPDU名
が存在しないT−ASPが送受信される場合には、その
T−ASP名を記述する。
[Description of Test Sequence] The description of the test sequence by the test sequence editor 11 will be described with reference to FIGS. 1, 5 and 29. The test apparatus has an input unit 40 and a display unit 50 as shown in FIG. 1. As shown in a description example in FIG. 29, a test event (input test event) transmitted from the test apparatus to the system under test is input on the display screen. In addition, test events (response events) to be received from the system under test by the test apparatus are respectively classified into response columns, and are entered in the input unit 40 and described in the order of the test events and recorded in a file. Each test event is basically an S like “CN” or “AC”.
Described by the SPDU name of the L protocol. However, "TC
When a T-ASP that does not have an SPDU name of the same protocol such as “ONNETreq” is transmitted / received, the T-ASP name is described.

【0035】図29の記述例は試験装置が“T−CON
NECTreq ”を被試験システムに送信することにより
コネクション設立を要求する場合のテストシーケンスの
例であるが、これとは逆に、被試験システムが“T−C
ONNECTind ”を試験装置に送信することによりコ
ネクション設立を要求するようなテストシーケンスも記
述することが可能である。
The description example of FIG. 29 shows that the test apparatus is "T-CON
This is an example of a test sequence in a case where a connection establishment is requested by transmitting “NECTreq” to the system under test.
It is also possible to describe a test sequence that requests the establishment of a connection by transmitting "ONCONNECTind" to the test apparatus.

【0036】テストイベントは、一覧メニューから選択
することによって記述できる。そのため、テストシーケ
ンスエディタ11にはメニューのファイルがあり、表示
部50の画面に表示される。一覧メニューはSLプロト
コルの各SPDU名と、各T−ASP名とに加えて、テ
ストシーケンスを制御するための適宜なシーケンス制御
コマンドからなる。例えば“WAIT”コマンドは、次
のテストイベントの処理の前に、指定した秒数だけ待つ
ことを示す。従って、図29の記述例は、10秒おきに
3回の“MIA”を送信するためのテストシーケンスで
ある。
A test event can be described by selecting it from a list menu. Therefore, the test sequence editor 11 has a menu file, which is displayed on the screen of the display unit 50. The list menu includes, in addition to each SPDU name of the SL protocol and each T-ASP name, an appropriate sequence control command for controlling a test sequence. For example, a “WAIT” command indicates that the process waits for a specified number of seconds before processing the next test event. Therefore, the description example in FIG. 29 is a test sequence for transmitting “MIA” three times every 10 seconds.

【0037】また、各テストイベントには、後続のテス
トイベントと関連づけて動作させる等のために、補助記
号を付加することができる。そのため、テストシーケン
スエディタ11には図12に示すような補助記号メニュ
ーのファイルがあり、表示部50の画面に表示される。
そして、テストイベントを指定し、前述したように補助
記号メニューより付加したい補助記号を選択することに
より、補助記号を付加する。図29のシーケンス記述例
の5行目,8行目,10行目及び15行目の各テストイ
ベントに付加した補助記号“+”は、PDUを連結させ
るためのものである。従って、同図29の5行目では
“AS”と次行の“GT”という2つのSPDUが連結
されて、1つの“T−DATAreq ”というT−ASP
で運ぶことを意味する。また、図29のテストシーケン
ス記述例の7行目のテストイベントに付加した補助記号
“*”は、同一の応答テストイベントを不特定回数受信
することを示す。従って、同図29の7行目の例では、
“DT”なるSPUDを繰り返して受信することを意味
する。更に、図29のテストシーケンス記述例の18行
目のテストイベントに付加した補助信号“?”は、受信
しなくても良い応答テストイベントを示す。従って、同
図29の例では、“WAIT”コマンドで指定したタイ
ムアウト時間までに“MIA”を受信しなかった時は、
“MIA”を受信しなかったと見なすが、中断すること
なく次行のテストイベントのテスト実行に移って良いこ
とを意味する。但し、図30のテストシーケンスの記述
例における7行目の補助記号“?”のように、直後の行
が応答テストイベントの場合は、7行目の“DT”の受
信待ち状態で次の8行目の“MIP”を受信した時に、
7行目の“DT”は受信されなかったものと見なし、次
の9行目のテストイベントのテスト実行に移ることを意
味する。ここで、図30の記述例は、被試験システムが
“T−CONNECTind ”を試験装置に送信すること
によりコネクション設立を要求するような場合テストシ
ーケンスである。
An auxiliary symbol can be added to each test event so as to operate in association with a subsequent test event. Therefore, the test sequence editor 11 has an auxiliary symbol menu file as shown in FIG.
Then, a test event is specified, and an auxiliary symbol to be added is selected from the auxiliary symbol menu as described above, thereby adding an auxiliary symbol. An auxiliary symbol “+” added to each test event on the fifth, eighth, tenth, and fifteenth lines in the sequence description example of FIG. 29 is for connecting PDUs. Therefore, in the fifth line of FIG. 29, two SPDUs “AS” and “GT” in the next line are connected, and one T-ASP called “T-DATAreq”.
Meaning to carry by. An auxiliary symbol “*” added to the test event on the seventh line in the test sequence description example of FIG. 29 indicates that the same response test event is received an unspecified number of times. Therefore, in the example of the seventh line in FIG.
This means that the SPUD “DT” is repeatedly received. Further, the auxiliary signal “?” Added to the test event on the 18th line in the test sequence description example of FIG. 29 indicates a response test event that need not be received. Therefore, in the example of FIG. 29, when “MIA” is not received by the timeout time specified by the “WAIT” command,
Although it is considered that "MIA" has not been received, it means that the test execution of the test event of the next line can be performed without interruption. However, in the case where the immediately following line is a response test event, like the auxiliary symbol “?” On the seventh line in the description example of the test sequence in FIG. When the "MIP" on the line is received,
The “DT” on the seventh line is regarded as not received, and means that the test execution of the next test event on the ninth line is started. Here, the description example of FIG. 30 is a test sequence in a case where the system under test requests connection establishment by transmitting “T-CONNECTind” to the test apparatus.

【0038】SLプロトコルについての場合も図5のフ
ローチャート中で、カット,コピー,ペーストの選択を
行った場合、既に記述したテストシーケンス中の例えば
複数行のテストイベントの削除,複写など部分的な切り
貼りを行うことができ、記述作業が容易化する。
In the case of the SL protocol as well, when cut, copy, and paste are selected in the flowchart of FIG. 5, partial cut and paste, such as deleting or copying a plurality of lines of test events in the already described test sequence, is performed. Can be performed, and the description work is facilitated.

【0039】[SPDUのパラメータの入力]図1,図
5,図6,図31及び図32に基づき、PDUエディタ
12によるSPDUのパラメータ値の設定を説明する。
SLプロトコルの各テストイベントに対してSPDUの
パラメータ値を入力するには、テストイベントを選択
し、図5に示したように、テストシーケンスエディタ1
1においてPDUエディタ12を起動する。そして手力
部40及び表示部50を利用して、図6に示したフロー
により、入力テストイベントのSPDUのパラメータを
全て設定し、応答テストイベントのSPDUのパラメー
タは正しく受信したか否かを判定すべきものについての
み設定する。図6において、SPDUのパラメータ値を
新規に設定する場合は入力部40によりPDUパラメー
タの編集を行い、その後必要に応じて保存、終了を指定
する。保存では、入力されたパラメータ値がエンコード
され、ファイル名を入力することにより再利用のための
ファイルが作成されて保存される。終了では、入力され
たパラメータ値がエンコードされて保存される。また、
初めから以前に設定したSPDUのパラメータ値を利用
する場合、あるいはテスト結果解析部30に保存された
SPDUのパラメータ値を利用する場合は、ファイル名
の入力等によりPDUパラメータのファイルを呼出し、
デコードされたPDUパラメータを利用して所望のパラ
メータ設定の編集を行う。
[Input of SPDU Parameters] Setting of SPDU parameter values by the PDU editor 12 will be described with reference to FIGS. 1, 5, 6, 31, and 32.
To input SPDU parameter values for each test event of the SL protocol, select a test event and, as shown in FIG.
In step 1, the PDU editor 12 is started. Then, using the manual unit 40 and the display unit 50, all the parameters of the SPDU of the input test event are set according to the flow shown in FIG. 6, and it is determined whether or not the parameters of the SPDU of the response test event are correctly received. Set only what should be done. In FIG. 6, when newly setting the parameter value of the SPDU, the PDU parameter is edited by the input unit 40, and then, if necessary, save and end are designated. In the storage, the input parameter values are encoded, and a file for reuse is created and stored by inputting a file name. At the end, the input parameter values are encoded and stored. Also,
When using the parameter value of the SPDU previously set from the beginning, or when using the parameter value of the SPDU stored in the test result analysis unit 30, the file of the PDU parameter is called by inputting a file name or the like,
A desired parameter setting is edited using the decoded PDU parameter.

【0040】図31には、図29に例示したテストシー
ケンス中の3行目のテストイベント“CN”に対するP
DUエディタ12での画面表示例が示されている。また
図32には、同図29の13行目のテストイベント“D
T”に対するPDUエディタ12の画面表示例が示され
ている。ところで、セション層SLのように、OSI参
照モデル中の下位層の通信プロトコル適合性試験を行う
場合には、それより上位層のプロトコルをSPDUのユ
ーザデータとして運ぶ必要がある。そこで、ユーザデー
タとして運ばれる上位層PDUは、当該上位層(SLに
対してはプレゼンテーション層PL)用のPDUエディ
タで別途作成し、ユーザデータファイルとして保存して
おく。そして次に、SLにおいてPDUエディタ12で
上記ユーザデータファイルを分割して送信する。このよ
うなユーザデータファイルを分割して送信する機能を持
たせるために、図32に示すように、ユーザデータを含
むPDUに対するPDUエディタ12では、ユーザデー
タファイルの指定(User data fail)、切り出すべき先
頭のアドレス(User data offset)、及び切り出すべき
バイト数(User data bytes)を設定できるようにしてあ
る。また、ユーザデータファイルの作成保存のための上
位層PDU用エディタもテストシーケンスエディタ11
から選択して起動できるようにしてある。
FIG. 31 shows the P for the test event "CN" on the third line in the test sequence illustrated in FIG.
A screen display example in the DU editor 12 is shown. FIG. 32 shows the test event “D” on the 13th line in FIG.
An example of a screen display of the PDU editor 12 corresponding to "T" is shown. When a communication protocol conformance test of a lower layer in the OSI reference model such as the session layer SL is performed, a protocol of an upper layer is performed. Must be carried as the user data of the SPDU. Therefore, the upper layer PDU carried as the user data is separately created by the PDU editor for the upper layer (presentation layer PL for SL) and saved as a user data file. Then, in the SL, the user data file is divided and transmitted by the PDU editor 12. To provide such a function of dividing and transmitting the user data file, as shown in FIG. In the PDU editor 12 for the PDU including the user data, the user data file is designated. User data fail), the starting address to be cut out (User data offset), and the number of bytes to be cut out (User data bytes) can be set, and an upper layer PDU editor for creating and saving a user data file. Also test sequence editor 11
You can choose to start from.

【0041】[ASPのパラメータの入力]図1,図
5,図7及び図33に基づき、ASPエディタ13によ
るT−ASPのパラメータ値の設定例を説明する。各テ
ストイベントに対してT−ASPのパラメータ値を入力
するには、テストイベントを選択し、図5に示したよう
に、テストシーケンスエディタ11においてASPエデ
ィタ13を起動する。そして手力部40及び表示部50
を利用して、図7に示したフローにより、入力テストイ
ベントのT−ASPのパラメータを全て設定し、応答テ
ストイベントのT−ASPのパラメータは正しく受信し
たか否かを判定すべきものについてのみ設定する。図7
において、ASPのパラメータ値を新規に設定する場合
は入力部40によりASPパラメータの編集を行い、そ
の後必要に応じて保存、終了を指定する。保存では、入
力されたパラメータ値が、ファイル名を入力することに
より再利用のためのファイルとして作成されて保存され
る。終了では、入力されたパラメータ値が保存される。
また、初めから以前に設定したT−ASPのパラメータ
値を利用する場合、あるいはテスト結果解析部30に保
存されたT−ASPのパラメータ値を利用する場合は、
ファイル名の入力等によりASPパラメータのファイル
を呼出し、ASPパラメータを利用して所望のパラメー
タ設定の編集を行う。
[Input of ASP Parameter] An example of setting the T-ASP parameter value by the ASP editor 13 will be described with reference to FIGS. 1, 5, 5, and 33. To input a T-ASP parameter value for each test event, the test event is selected, and the ASP editor 13 is started in the test sequence editor 11 as shown in FIG. Then, the manual power unit 40 and the display unit 50
By using the flow shown in FIG. 7, all the parameters of the T-ASP of the input test event are set, and the parameters of the T-ASP of the response test event are set only for those for which it is determined whether or not they have been correctly received. I do. FIG.
In the case of setting a new ASP parameter value, the ASP parameter is edited by the input unit 40, and then, if necessary, save and end are designated. In saving, the input parameter values are created and saved as a file for reuse by inputting a file name. At the end, the entered parameter values are saved.
Also, when using the T-ASP parameter values set previously from the beginning, or when using the T-ASP parameter values stored in the test result analysis unit 30,
The file of the ASP parameter is called by inputting a file name or the like, and a desired parameter setting is edited using the ASP parameter.

【0042】ASPエディタ13が起動すると、ASP
のパラメータ値の設定のために表示部50に例えば図3
3に示される画面が表示される。図33の画面例は、図
29のテストシーケンス中の1行目のテストイベント
(T−CONNECTreq )に対するASPエディタ1
3の画面である。このような画面に対応して、入力部4
0により、ASPパラメータを入力して設定を行う。パ
ラメータ値として、限られた値しかとらないものについ
ては、入力の簡単化のためASPエディタ13にこれら
のパラメータ値のテーブルを予め用意しておき、このテ
ーブル即ちメニューから選択できるようにしてある。一
方、任意の値を取り得るパラメータ値の場合は、そのデ
ータ型に従って必要な個数だけ数値や文字列をそのまま
入力する。更に、パラメータ値としては、入力の簡単化
のためテスト実行中に送信する値や受信する値をそのま
ま指定することができるようにしてある。
When the ASP editor 13 starts, the ASP
For example, FIG.
The screen shown in FIG. 3 is displayed. The screen example of FIG. 33 shows the ASP editor 1 for the test event (T-CONNECTreq) on the first line in the test sequence of FIG.
3 is a screen. In response to such a screen, the input unit 4
By setting 0, an ASP parameter is input and set. For parameters that take only limited values as parameter values, a table of these parameter values is prepared in advance in the ASP editor 13 for simplification of input, and can be selected from this table, that is, a menu. On the other hand, in the case of a parameter value that can take an arbitrary value, a necessary number of numerical values and character strings are input as they are according to the data type. Further, as parameter values, values to be transmitted and received during test execution can be directly specified for simplification of input.

【0043】<テスト実行部の構成動作>図1,図29
に基づいて、テスト実行部20を説明する。SLプロト
コルに対するテスト実行部20は、テストシナリオ作成
部10により作成されたテストシナリオを用いて、テス
トシーケンスをテストイベントの番号順に1行ずつ解釈
し、被試験システムと対向して試験を行い、テスト結果
をテスト結果解析部30に渡すためにファイルに保存す
る。テストイベントが入力テストイベントである場合、
テスト実行部20は被試験システムに対しSPDU及び
T−ASPを送信する。この送信は、基本的には予め固
定値として設定した送信待機時間だけ待機してから行う
が、図29のテストシーケンスの17行目の入力テスト
イベントのように、“WAIT”コマンド直後の入力テ
ストイベントの場合は“WAIT”コマンドで指定され
た時間例えば20秒だけ待機してから送信を行う。一
方、テストイベントが応答テストイベントの場合、テス
ト実行部20はSPDU及びT−ASPを被試験システ
ムから受信するまで待ち、当該応答テストイベントで指
定したSPDU名,T−ASP名,更にはそれらのパラ
メータ値と、実際に受信したSPDU名,T−ASP
名,それらのパラメータ値とを比較する。比較の結果、
異なる場合にはテスト実行を終了するものとしている。
なお、応答テストイベントにおける受信では、タイムア
ウト時間を固定値として設けてあり、この時間までに受
信がなかった場合には、所定のテストイベントを受信し
なかったものと見なしている。
<Configuration Operation of Test Execution Unit> FIGS. 1 and 29
The test execution unit 20 will be described based on the following. The test execution unit 20 for the SL protocol uses the test scenario created by the test scenario creation unit 10 to interpret the test sequence one line at a time in the order of the number of the test event, and performs a test facing the system under test. The result is stored in a file to be passed to the test result analysis unit 30. If the test event is an input test event,
The test execution unit 20 transmits the SPDU and the T-ASP to the system under test. This transmission is basically performed after waiting for a transmission standby time set in advance as a fixed value. However, as in the input test event on line 17 of the test sequence in FIG. 29, the input test immediately after the “WAIT” command is performed. In the case of an event, transmission is performed after waiting for a time specified by the “WAIT” command, for example, 20 seconds. On the other hand, if the test event is a response test event, the test execution unit 20 waits until an SPDU and a T-ASP are received from the system under test, and the SPDU name, the T-ASP name designated by the response test event, and those names. Parameter value, SPDU name actually received, T-ASP
Names and their parameter values. As a result of the comparison,
If not, the test execution is terminated.
In the reception of the response test event, the timeout time is provided as a fixed value, and if no reception is performed by this time, it is considered that the predetermined test event has not been received.

【0044】また、テスト実行部20は、テスト実行時
に送受信したSLプロトコルのテストイベントを、送受
信時刻を付してテストシーケンスと同形式で表示部50
に画面表示するようにしてある。また、テスト実行部2
0は送受信したテストイベントと、それらSPDU及び
T−ASPのパラメータ値と、送受信時刻とを、ファイ
ルに保存するようにしてある。
The test execution unit 20 displays the test event of the SL protocol transmitted and received at the time of test execution in the same format as the test sequence by attaching the transmission and reception time.
Is displayed on the screen. Also, the test execution unit 2
0 stores the transmitted / received test event, the parameter values of the SPDU and T-ASP, and the transmission / reception time in a file.

【0045】更に、テスト実行部20は、入力部40等
でテスト実行中にテストの一時停止を選択することによ
り、テスト実行を中断することができ、またテストの再
開を選択することにより、中断したテストイベントから
テスト実行を再開できるようにしてある。また、テスト
実行部20はSLプロトコルの場合も入力テストイベン
トのように、補助記号“>”が付加されている入力テス
トイベントの場合は、当該入力テストイベントを送信す
る前に、パラメータを設定できるようにテスト実行を中
断し、実行中のテストシナリオに対するテストシーケン
スエディタ11及びテスト結果アナライザ31を起動す
る。このテスト実行の中断により、補助信号“>”が付
加した入力テストイベントのパラメータを、新規に、あ
るいは途中まで実行したテスト結果中のPDUパラメー
タ値またはASPパラメータ値を用いて入力することが
できるようにしている。パラメータの入力が完了した
ら、テスト実行画面等においてテスト実行の再開を起動
することにより、中断したテストイベントからテスト実
行を再開する。
Further, the test execution section 20 can interrupt the test execution by selecting the test suspension during the test execution by the input section 40 or the like, and can interrupt the test execution by selecting the test restart. The test execution can be resumed from the test event. Also, in the case of the SL protocol, in the case of the SL protocol, in the case of the input test event to which the supplementary symbol “>” is added, as in the case of the input test event, the parameter can be set before transmitting the input test event. Thus, the test execution is interrupted, and the test sequence editor 11 and the test result analyzer 31 for the test scenario being executed are started. Due to the interruption of the test execution, the parameters of the input test event to which the auxiliary signal “>” has been added can be input using the PDU parameter value or the ASP parameter value in the test result newly or partially executed. I have to. When the parameter input is completed, the test execution is resumed from the interrupted test event by activating the test execution restart on the test execution screen or the like.

【0046】<テスト結果解析部の構成動作>次にテス
ト結果解析部30を説明する。SLプロトコルのテスト
結果解析部30のうち、テスト結果シーケンスアナライ
ザ31はテスト結果のうち主としてイベントのシーケン
スを解析するものであり、テスト実行時に実際に送信し
たテストイベントと、実際に受信したテストイベントを
区分けし、SPDU名及びT−ASP名にそれぞれ送受
信時刻等を付して表示または記録する。また、SPDU
及びT−ASPのパラメータ値を解析する場合には、テ
スト結果シーケンスアナライザ31で、テストイベント
を指定してPDUアナライザ32及びASPアナライザ
33を起動する。PDUアナライザ32はテスト実行時
に送受信したテストイベントのSPDUのパラメータ値
を解析し、解析したSPDUのパラメータ値を表示し、
またファイルに保存する。ASPアナライザ33はテス
ト実行時に送受信したテストイベントのT−ASPのパ
ラメータ値を解析し、解析したT−ASPのパラメータ
値を表示し、またファイルに保存する。
<Configuration Operation of Test Result Analysis Unit> Next, the test result analysis unit 30 will be described. The test result sequence analyzer 31 of the test result analysis unit 30 of the SL protocol mainly analyzes a sequence of events among the test results. The test result sequence analyzer 31 compares a test event actually transmitted at the time of test execution and a test event actually received at the time of test execution. It classifies and displays or records the SPDU name and the T-ASP name with the transmission / reception time, etc., respectively. Also, SPDU
When analyzing the parameter values of T-ASP and T-ASP, the test result sequence analyzer 31 designates a test event and starts the PDU analyzer 32 and the ASP analyzer 33. The PDU analyzer 32 analyzes the parameter value of the SPDU of the test event transmitted and received at the time of the test execution, and displays the parameter value of the analyzed SPDU.
Also save it to a file. The ASP analyzer 33 analyzes the T-ASP parameter values of the test event transmitted and received during the test execution, displays the analyzed T-ASP parameter values, and saves the file in a file.

【0047】上述した実施例はOSI参照モデルの応用
層、セション層の各プロトコルの適合性試験についての
ものであるが、これに限らず、他の第N層のプロトコル
の適合性試験についても同様に本発明を適用することが
できる。
Although the above-described embodiment is directed to the conformity test of each protocol of the application layer and the session layer of the OSI reference model, the present invention is not limited to this, and the same applies to the conformity test of the other N-th layer protocols. The present invention can be applied to

【0048】[0048]

【発明の効果】請求項1の発明では、テストシーケンス
の記述と、PDUのパラメータの設定と、ASPのパラ
メータの設定とを独立に行ってテストシナリオを作成
し、作成したテストシナリオに基づいて試験を行い、そ
のテスト結果を解析する。このように、テストシーケン
スの設定と、PDUのパラメータの設定と、ASPのパ
ラメータの設定とを独立に行うことにより、テストシー
ケンスの記述が簡素化し、またPDU及びASPの各パ
ラメータの設定を自由に行うことができ、従ってテスト
シナリオを短時間で作成することができる。請求項2の
発明では、テストシナリオの作成にテストシーケンスエ
ディタと、PDUエディタと、ASPエディタという3
つのツールを用いる。そしてテストシーケンスエディタ
では送受信する(N)−PDUが存在する場合には
(N)−PDU名で、同(N)−PDUが存在しない場
合には(N−1)−ASP名で、テストイベントを送信
するものと受信するものに分けてテストシーケンスのみ
を記述し、PDUエディタではテストシーケンス中のテ
ストイベントを指定して(N)−PDUのパラメータを
設定し、ASPエディタではテストシーケンス中のテス
トイベントを指定して下位の(N−1)−ASPのパラ
メータを設定する。この場合、テストシーケンスをテス
トイベントの(N)−PDU名及び(N−1)−ASP
名でのみ記述することにより、テストシーケンスの記述
が一層簡単化する。また、送信するテストイベント(入
力)と受信するテストイベント(応答)に区分けして記
述することにより、テストシーケンスの構造が明確にな
り、記述を容易に行うことができる請求項3の発明で
は、(N)−PDU名及び(N−1)−ASP名をメニ
ューから選択してテストシーケンスを記述することがで
きる。これにより、テストシーケンスの記述が更に簡単
になる。請求項4の発明では、テストシーケンスエディ
タによりPDUエディタ及びASPエディタを起動し
て、(N)−PDU及び(N−1)−ASPのパラメー
タを設定することができ、これらパラメータの設定を容
易に行うことができる。請求項5の発明では、作成済み
テストシナリオ中の、あるいはテスト結果として保存さ
れた(N)−PDU名、(N−1)−ASP名及びそれ
らのパラメータ値を、PDU単位及びASP単位で利用
して、(N)−PDUのパラメータの設定及び(N−
1)−ASPのパラメータの設定を行うことができ、テ
ストシナリオ作成が更に容易になる。請求項6の発明で
は、作成済みテストシナリオを利用して別のテストシナ
リオを作成することができ、従ってテストシナリオを短
時間で作成することができる。
According to the first aspect of the present invention, a test scenario is created by independently describing a test sequence, setting PDU parameters, and setting ASP parameters, and testing based on the created test scenarios. And analyze the test results. As described above, by independently setting the test sequence, setting the parameters of the PDU, and setting the parameters of the ASP, the description of the test sequence is simplified, and the setting of each parameter of the PDU and the ASP can be freely performed. Test scenarios can be created in a short time. According to the second aspect of the present invention, a test sequence editor, a PDU editor, and an ASP editor are used to create a test scenario.
Use two tools. In the test sequence editor, the test event is (N) -PDU name if there is (N) -PDU to be transmitted and received, and (N-1) -ASP name if there is no (N) -PDU. In the PDU editor, the test event in the test sequence is specified and the (N) -PDU parameter is set. In the ASP editor, the test in the test sequence is described. The event is specified and the lower (N-1) -ASP parameters are set. In this case, the test sequence is defined as (N) -PDU name and (N-1) -ASP of the test event.
Describing the test sequence only by the name further simplifies the description of the test sequence. Further, by separately describing the test event (input) to be transmitted and the test event (response) to be received, the structure of the test sequence becomes clear, and the description can be easily performed. The test sequence can be described by selecting (N) -PDU name and (N-1) -ASP name from the menu. This further simplifies the description of the test sequence. According to the fourth aspect of the present invention, the PDU editor and the ASP editor can be activated by the test sequence editor to set the parameters of (N) -PDU and (N-1) -ASP, and can easily set these parameters. It can be carried out. According to the fifth aspect of the present invention, the (N) -PDU name, the (N-1) -ASP name and their parameter values in the created test scenario or stored as a test result are used in PDU units and ASP units. And (N) -PDU parameter setting and (N-
1)-ASP parameters can be set, and test scenario creation is further facilitated. According to the sixth aspect of the present invention, another test scenario can be created using the created test scenario, so that the test scenario can be created in a short time.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の通信プロトコル適合性試験装置の構成
例を示す図。
FIG. 1 is a diagram showing a configuration example of a communication protocol conformance test device of the present invention.

【図2】MHS P1/P2プロトコルの試験概要を示
す図。
FIG. 2 is a diagram showing a test outline of an MHS P1 / P2 protocol.

【図3】TTCNによる従来のテストシナリオ作成の説
明図。
FIG. 3 is an explanatory diagram of a conventional test scenario creation by TTCN.

【図4】本発明におけるテストシナリオ作成の概略フロ
ーを示す図。
FIG. 4 is a diagram showing a schematic flow of creating a test scenario in the present invention.

【図5】テストシーケンスエディタの動作フローを示す
図。
FIG. 5 is a diagram showing an operation flow of a test sequence editor.

【図6】PDUエディタの動作フローを示す図。FIG. 6 is a diagram showing an operation flow of a PDU editor.

【図7】ASPエディタの動作フローを示す図。FIG. 7 is a diagram showing an operation flow of an ASP editor.

【図8】MHS P1/P2プロトコルに対するテスト
シーケンスの画面表示の一例を示す図。
FIG. 8 is a diagram showing an example of a screen display of a test sequence for the MHS P1 / P2 protocol.

【図9】テストシーケンスの他の例の画面表示を示す
図。
FIG. 9 is a diagram showing a screen display of another example of the test sequence.

【図10】一覧メニューの画面表示を示す図。FIG. 10 is a diagram showing a screen display of a list menu.

【図11】シーケンス制御コマンドを用いたテストシー
ケンスの画面表示例を示す図。
FIG. 11 is a diagram showing an example of a screen display of a test sequence using a sequence control command.

【図12】補助記号メニューの画面表示例を示す図。FIG. 12 is a diagram showing a screen display example of an auxiliary symbol menu.

【図13】補助信号を付加したテストイベントを含むテ
ストシーケンスの画面表示例を示す図。
FIG. 13 is a view showing a screen display example of a test sequence including a test event to which an auxiliary signal is added.

【図14】補助記号を付加したテストイベントを含むテ
ストシーケンスの画面表示例を示す図。
FIG. 14 is a diagram showing a screen display example of a test sequence including a test event to which an auxiliary symbol is added.

【図15】MHS P1/P2プロトコルに対するPD
Uエディタでの画面例を示す図。
FIG. 15: PD for MHS P1 / P2 protocol
The figure which shows the example of a screen in a U editor.

【図16】MHS P1/P2プロトコルに対するPD
Uエディタでの画面例を示す図。
FIG. 16: PD for MHS P1 / P2 protocol
The figure which shows the example of a screen in a U editor.

【図17】MHS P1/P2プロトコルに対するPD
Uエディタでの画面例を示す図。
FIG. 17: PD for MHS P1 / P2 protocol
The figure which shows the example of a screen in a U editor.

【図18】MHS P1/P2プロトコルに対するPD
Uエディタでの画面例を示す図。
FIG. 18: PD for MHS P1 / P2 protocol
The figure which shows the example of a screen in a U editor.

【図19】MHS P1/P2プロトコルに対するPD
Uエディタでの画面例を示す図。
FIG. 19: PD for MHS P1 / P2 protocol
The figure which shows the example of a screen in a U editor.

【図20】MHS P1/P2プロトコルに対するAS
Pエディタでの画面表示例を示す図。
FIG. 20: AS for MHS P1 / P2 protocol
The figure which shows the example of a screen display in a P editor.

【図21】MHS P1/P2プロトコルに対するAS
Pエディタでの画面表示例を示す図。
FIG. 21: AS for MHS P1 / P2 protocol
The figure which shows the example of a screen display in a P editor.

【図22】MHS P1/P2プロトコルに対するAS
Pエディタでの画面表示例を示す図。
FIG. 22: AS for MHS P1 / P2 protocol
The figure which shows the example of a screen display in a P editor.

【図23】MHS P1/P2プロトコルに対するテス
ト実行時の画面表示例を示す図。
FIG. 23 is a diagram showing an example of a screen display when a test for the MHS P1 / P2 protocol is executed.

【図24】MHS P1/P2プロトコルに対するテス
ト結果の画面表示例を示す図。
FIG. 24 is a diagram showing an example of a screen display of a test result for the MHS P1 / P2 protocol.

【図25】MHS P1/P2プロトコルに対するテス
ト結果のPDUパラメータ値の解析結果の画面表示例を
示す図。
FIG. 25 is a diagram showing a screen display example of an analysis result of a PDU parameter value of a test result for the MHS P1 / P2 protocol.

【図26】MHS P1/P2プロトコルに対するテス
ト結果のPDUパラメータ値の解析結果の画面表示例を
示す図。
FIG. 26 is a diagram showing a screen display example of an analysis result of a PDU parameter value of a test result for the MHS P1 / P2 protocol.

【図27】MHS P1/P2プロトコルに対するテス
ト結果のASPパラメータ値の解析結果の画面表示例を
示す図。
FIG. 27 is a diagram showing a screen display example of an analysis result of an ASP parameter value of a test result for the MHS P1 / P2 protocol.

【図28】SLプロトコルの試験概要を示す図。FIG. 28 is a view showing a test outline of an SL protocol.

【図29】SLプロトコルに対するテストシーケンスの
画面表示の一例を示す図。
FIG. 29 is a diagram showing an example of a screen display of a test sequence for the SL protocol.

【図30】テストシーケンスの他の例の画面表示を示す
図。
FIG. 30 is a diagram showing a screen display of another example of the test sequence.

【図31】SLプロトコルに対するPDUエディタでの
画面例を示す図。
FIG. 31 is a view showing an example of a screen in a PDU editor for the SL protocol.

【図32】SLプロトコルに対するPDUエディタでの
画面例を示す図。
FIG. 32 is a diagram showing an example of a screen in a PDU editor for the SL protocol.

【図33】SLプロトコルに対するASPエディタでの
画面表示例を示す図。
FIG. 33 is a view showing a screen display example in an ASP editor for the SL protocol.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

10 テストシナリオ作成部 11 テストシーケンスエディタ 12 PDUエディタ 13 ASPエディタ 20 テスト実行部 30 テスト結果解析部 31 テスト結果シーケンスアナライザ 32 PDUアナライザ 33 ASPアナライザ 10 Test Scenario Creation Unit 11 Test Sequence Editor 12 PDU Editor 13 ASP Editor 20 Test Execution Unit 30 Test Result Analysis Unit 31 Test Result Sequence Analyzer 32 PDU Analyzer 33 ASP Analyzer

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 鈴木 健二 東京都新宿区西新宿二丁目3番2号 国 際電信電話株式会社内 (56)参考文献 特開 昭62−292045(JP,A) 特開 平1−221962(JP,A) 特開 平2−1681(JP,A) 特開 平4−107036(JP,A) 特開 平5−122300(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) H04L 29/14 H04L 29/06 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on the front page (72) Inventor Kenji Suzuki 2-3-2 Nishi-Shinjuku, Shinjuku-ku, Tokyo International Telegraph and Telephone Corporation (56) References JP-A-62-292045 (JP, A) JP-A-1-221962 (JP, A) JP-A-2-1681 (JP, A) JP-A-4-107703 (JP, A) JP-A-5-122300 (JP, A) Int.Cl. 7 , DB name) H04L 29/14 H04L 29/06

Claims (6)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 OSI参照モデルの第N層を実装するシ
ステムの(N)−プロトコルの適合性を試験する装置に
おいて、 入力及び応答のテストイベントの順番であるテストシー
ケンスの記述と、PDUのパラメータの前記テストシー
ケンスの記述とは独立した設定と、下位のASPのパラ
メータの前記テストシーケンスの記述とは独立した設定
と、によりテストシナリオを作成するテストシナリオ作
成手段と、 作成されたテストシナリオに基づいて被試験システムと
対向で試験を行うテスト実行手段と、 テスト結果を解析するテスト結果解析手段と、を具備す
ることを特徴とする通信プロトコル適合性試験装置。
An apparatus for testing (N) -protocol conformance of a system implementing the Nth layer of the OSI reference model, comprising: a description of a test sequence which is an order of input and response test events; and a parameter of a PDU. Test scenario creation means for creating a test scenario by setting independent of the description of the test sequence described above, and setting independent of the description of the test sequence of the parameters of the lower-level ASP, based on the created test scenario And a test result analyzing means for analyzing a test result.
【請求項2】 前記テストシナリオ作成手段は、送受信
する(N)−PDUが存在する場合には(N)−PDU
名で、同(N)−PDUが存在しない場合には(N−
1)−ASP名で、テストイベントを送信するものと受
信するものに分けて、テストシーケンスのみを記述する
テストシーケンスエディタと、 テストシーケンス中のテストイベントを指定して(N)
−PDUのパラメータを設定するPDUエディタと、 テストシーケンス中のテストイベントを指定して(N−
1)−ASPのパラメータを設定するASPエディタ
と、を具備することを特徴とする請求項1記載の通信プ
ロトコル適合性試験装置。
2. The method according to claim 1, wherein said test scenario creating means includes: (N) -PDU when there is an (N) -PDU to be transmitted / received.
If the same (N) -PDU does not exist, (N-
1) -Specify a test sequence editor that describes only a test sequence separately for those that transmit test events and those that receive test events, and specify test events in the test sequence (N).
-Specify a PDU editor to set PDU parameters, and specify a test event in the test sequence (N-
The communication protocol conformance test apparatus according to claim 1, further comprising: 1) an ASP editor for setting an ASP parameter.
【請求項3】 前記テストシーケンスエディタは予め設
定したメニューから(N)−PDU名または(N−1)
−ASP名を選択する機能を有することを特徴とする請
求項2記載の通信プロトコル適合性試験装置。
3. The test sequence editor may select (N) -PDU name or (N-1) from a preset menu.
3. The communication protocol conformance test apparatus according to claim 2, wherein the apparatus has a function of selecting an ASP name.
【請求項4】 前記テストシーケンスエディタは前記P
DUエディタ及び前記ASPエディタを起動する機能を
有することを特徴とする請求項2記載の通信プロトコル
適合性試験装置。
4. The test sequence editor according to claim 1, wherein
The communication protocol conformance test apparatus according to claim 2, further comprising a function of activating a DU editor and the ASP editor.
【請求項5】 前記PDUエディタ及び前記ASPエデ
ィタはそれぞれ、作成済みテストシナリオ中の、あるい
はテスト結果として保存された(N)−PDU名,(N
−1)−ASP名及びそれらのパラメータ値を、PDU
単位及びASP単位で利用する機能を有することを特徴
とする請求項2記載の通信プロトコル適合性試験装置。
5. The PDU editor and the ASP editor respectively include (N) -PDU name, (N) in a created test scenario or stored as a test result.
-1)-the ASP names and their parameter values
3. The communication protocol conformance test apparatus according to claim 2, wherein the apparatus has a function of using a unit and an ASP unit.
【請求項6】 前記シナリオ作成手段は作成済みテスト
シナリオを別のテストシナリオの作成に利用する機能を
有することを特徴とする請求項1記載の通信プロトコル
適合性試験装置。
6. The communication protocol conformance test apparatus according to claim 1, wherein said scenario creating means has a function of using the created test scenario for creating another test scenario.
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