JP3064029B2 - Pulse width measurement circuit - Google Patents

Pulse width measurement circuit

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JP3064029B2
JP3064029B2 JP3052829A JP5282991A JP3064029B2 JP 3064029 B2 JP3064029 B2 JP 3064029B2 JP 3052829 A JP3052829 A JP 3052829A JP 5282991 A JP5282991 A JP 5282991A JP 3064029 B2 JP3064029 B2 JP 3064029B2
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Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明はパルス幅測定回路に係
り、詳しくは被測定入力パルスの1サイクル幅を連続的
に測定するパルス幅測定回路に関するものである。近
年、ある検出値(例えば物理量)をパルス信号のパルス
幅に置き換えて検出する装置は種々発表されている。こ
の種の装置はマイクロコンピューターに基づいて種々制
御されるが、この装置においても小型化、軽量化が望ま
れている。そのため、ICチップの小型化及びプログラ
ム量の縮小化が要求されている。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a pulse width measuring circuit, and more particularly to a pulse width measuring circuit for continuously measuring one cycle width of a measured input pulse. In recent years, various devices for detecting a certain detected value (for example, a physical quantity) by replacing the detected value with a pulse width of a pulse signal have been disclosed. This type of device is variously controlled based on a microcomputer, and a reduction in size and weight of this device is also desired. Therefore, there is a demand for a smaller IC chip and a smaller program amount.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、1サイクルのパルス幅(立ち上が
りエッジから次の立ち上がりエッジ、又は立ち下がりエ
ッジから次の立ち下がりエッジまで)を連続的に測定す
る場合には、パルス幅測定終了のタイミングと次のパル
ス測定開始のタイミングが同時タイミングとなるため、
カウンタをクリアするタイミング、カウント値(測定
値)をデータバッファに転送するタイミング等を制御す
ることが非常に難しい。そのため、図9に示すように2
つのカウンターを設けたパルス幅測定回路が提案されて
いる。
2. Description of the Related Art Conventionally, when a pulse width of one cycle (from the rising edge to the next rising edge or from the falling edge to the next falling edge) is continuously measured, the timing of the end of the pulse width measurement is determined. Since the next pulse measurement starts at the same time,
It is very difficult to control the timing for clearing the counter, the timing for transferring the count value (measured value) to the data buffer, and the like. Therefore, as shown in FIG.
A pulse width measurement circuit provided with two counters has been proposed.

【0003】このパルス幅測定回路は、図9で示すよう
にエッジ検出回路60が被測定入力パルス信号PSを入
力し、被測定入力パルス信号PSの立ち上がりエッジを
検出しそのエッジ検出信号をカウントクロツク生成回路
61及びCPU62に出力する。カウントクロツク生成
回路61は基本クロック信号CLKを入力し、そのクロ
ック信号CLKを前記エッジ検出信号に基づいてカウン
タ63,64のいずれか一方に入力するようにしてい
る。前記CPU62はカウンタ63,64をプログラム
制御する。CPU62はエッジ検出回路60からのエッ
ジ検出信号に基づいてクロック信号CLKが入力される
カウンタ63,64を交互にカウント動作させ、図10
に示すように被測定入力パルス信号PSの1サイクル分
のパルス幅のカウント動作を行っていたカウンタを動作
終了させるとともに、他方のカウンタに対して次の被測
定入力パルス信号PSの1サイクル分のパルス幅のカウ
ントを開始させる。そして、各カウンタ63,64が交
互にカウントした値CONT1,CONT2を読み取る
ことによって被測定入力パルス信号PSの1サイクルの
パルス幅を連続して測定していた。
In this pulse width measuring circuit, as shown in FIG. 9, an edge detecting circuit 60 receives a measured input pulse signal PS, detects a rising edge of the measured input pulse signal PS, and counts the detected edge signal. Output to the hook generation circuit 61 and the CPU 62. The count clock generation circuit 61 receives the basic clock signal CLK, and inputs the clock signal CLK to one of the counters 63 and 64 based on the edge detection signal. The CPU 62 controls the counters 63 and 64 by program. The CPU 62 alternately counts the counters 63 and 64 to which the clock signal CLK is input based on the edge detection signal from the edge detection circuit 60.
As shown in (1), the counter that has performed the counting operation of the pulse width for one cycle of the input pulse signal under measurement PS is terminated, and the counter for the next one cycle of the input pulse signal under measurement PS is stopped with respect to the other counter. Start counting the pulse width. Then, the pulse width of one cycle of the measured input pulse signal PS is continuously measured by reading the values CONT1 and CONT2 counted by the counters 63 and 64 alternately.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
パルス幅測定回路においては、カウンタ63,64が2
個必要となるため、回路規模が大きくなる問題があっ
た。しかも、CPU62はこの2個のカウンタ63,6
4を制御する分だけ制御プログラム量が増大し、ソフト
ウェアでの制御に大きな負担がかかっていた。
However, in the conventional pulse width measuring circuit, the counters 63 and 64 have two counters.
This requires a large number of devices, which causes a problem of an increase in circuit scale. In addition, the CPU 62 determines that these two counters 63, 6
Thus, the control program amount is increased by the amount corresponding to the control of No. 4, and a heavy load is imposed on the control by software.

【0005】本発明は上記問題点を解消するためになさ
れたものであって、その目的は1個のカウンタで1サイ
クルのパルス幅を連続的に測定することができ、回路規
模の縮小を図ることができるとともに、ソフトウェアで
の制御の負担を軽減することができるパルス幅測定回路
を提供することにある。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve the above problem, and an object of the present invention is to enable a single counter to continuously measure the pulse width of one cycle, thereby reducing the circuit scale. It is another object of the present invention to provide a pulse width measuring circuit capable of reducing the burden of control by software.

【0006】[0006]

【課題を解決するための手段】図1は本発明の原理を説
明するための原理図を示し、エッジ検出回路1は2相の
基本クロック信号φ1,φ2を入力するとともに、被測
定入力パルスPSを入力する。2相基本クロックφ1,
φ2は図2に示すように被測定入力パルス信号PSの周
期よりも短い同一周期のクロック信号であって、互いに
オーバラップしないように位相がずれている。エッジ検
出回路1は、被測定入力パルスPSの立ち上がりをクロ
ックパルスφ1の立ち上がり信号で検出したとき、ワン
ショットのパルス信号Aを出力し、又、クロックパルス
φ2でその被測定入力パルスPSの立ち上がりを検出し
たとき、ワンショットのパルス信号Bを出力する。
FIG. 1 is a principle diagram for explaining the principle of the present invention. An edge detection circuit 1 receives two-phase basic clock signals φ1 and φ2 and receives an input pulse PS under test PS1. Enter Two-phase basic clock φ1,
As shown in FIG. 2, φ2 is a clock signal having the same cycle shorter than the cycle of the input pulse signal under test PS, and the phases are shifted so as not to overlap each other. The edge detection circuit 1 outputs a one-shot pulse signal A when detecting the rising of the input pulse under test PS with the rising signal of the clock pulse φ1, and detects the rising of the input pulse PS under test with the clock pulse φ2. When detected, a one-shot pulse signal B is output.

【0007】カウンタ制御回路2はフリップフロップ回
路にて構成され、前記エッジ検出回路1から出力される
タイミング信号A,Bを入力する。カウンタ制御回路2
はタイミング信号Aの立ち上がりに基づいてHレベルか
らLレベルに立ち下がり、タイミング信号Bの立ち上が
り信号に基づいてLレベルからHレベルに立ち上がるカ
ウントイネーブル信号CEをカウンタ制御信号として出
力する。
The counter control circuit 2 is constituted by a flip-flop circuit and receives timing signals A and B output from the edge detection circuit 1. Counter control circuit 2
Outputs a count enable signal CE that falls from the H level to the L level based on the rising of the timing signal A and rises from the L level to the H level based on the rising signal of the timing signal B as a counter control signal.

【0008】カウンタ回路3はこのカウントイネーブル
信号CEとカウントクロック信号CLKを入力し、カウ
ントイネーブル信号CEがHレベルに立ち上がった時、
内容をリセットし同信号CEがHレベルの期間中カウン
トクロツク信号CLKをカウントする。又、カウンタ回
路3はカウントイネーブル信号CEがLレベルに立ち下
がった時、カウントクロツク信号CLKのカウントを停
止し、その時のカウント値CONTを出力する。
The counter circuit 3 inputs the count enable signal CE and the count clock signal CLK, and when the count enable signal CE rises to the H level,
The contents are reset, and the count clock signal CLK is counted while the signal CE is at the H level. When the count enable signal CE falls to the L level, the counter circuit 3 stops counting the count clock signal CLK and outputs the count value CONT at that time.

【0009】[0009]

【作用】エッジ検出回路1によって、被測定入力パルス
PSの立ち上がる毎にそのパルスPSの立ち上がりに応
答して位相のずれた、タイミングの異なる2つのパルス
信号A,Bが作られる。そして、この2つのパルス信号
A,Bによって、カウンタ制御回路2は被測定入力パル
スPSが立ち上がる毎(被測定入力パルスの1サイクル
毎)にHレベルから一定期間、即ちタイミング信号A,
Bの位相差分だけLレベルに立ち下がり再びHレベルに
立ち上がるカウントイネーブル信号CEを出力すること
になる。
Each time the input pulse under test PS rises, the edge detection circuit 1 generates two pulse signals A and B having different phases and shifted in phase in response to the rise of the pulse PS. Then, the counter control circuit 2 uses the two pulse signals A and B each time the input pulse under measurement PS rises (each cycle of the input pulse under measurement) from the H level for a certain period, that is, the timing signals A and B.
The count enable signal CE which falls to the L level by the phase difference of B and rises to the H level again is output.

【0010】そして、カウンタ回路3はカウントイネー
ブル信号CEがLレベルになっている期間にカウント動
作を停止し今回の1サイクルにおける被測定入力パルス
PSのパルス幅のカウント値CONTを出力するととも
にリセットし次の1サイクルにおける被測定入力パルス
PSのパルス幅のカウント動作に備える。従って、カウ
ンタ回路3は被測定入力パルスPSにおける1サイクル
のパルス幅を連続してカンウトすることが可能となる。
The counter circuit 3 stops the counting operation while the count enable signal CE is at the L level, outputs the count value CONT of the pulse width of the input pulse PS to be measured in one cycle this time, and resets it. In preparation for the counting operation of the pulse width of the input pulse under measurement PS in the next one cycle. Therefore, the counter circuit 3 can continuously count the pulse width of one cycle in the input pulse under measurement PS.

【0011】[0011]

【実施例】以下、本発明のパルス幅測定回路の一実施例
を図面に従って説明する。図3はパルス幅測定回路の概
要を説明するブロック回路図であって、エッジ検出回路
10は互いにオーバラップしない位相がずれた基本クロ
ック信号φ1,φ2及びその相補信号(以下、反転基本
クロック信号という)φ1X,φ2Xを入力するととも
に、被測定入力パルスPSを入力する。前記エッジ検出
回路10は図4に示すように5個のクロックドラッチ回
路11〜15が直列に接続されて、初段のクロックドラ
ッチ回路11のデータ入力端子Dに被測定入力パルスP
Sが入力される。そして、初段、3段目及び最終段クロ
ックドラッチ回路11,13,15はクロック入力端子
Cに一方の前記基本クロック信号φ1が、反転クロック
入力端子CXにその反転基本クロック信号φ1Xが入力
されるようになっている。一方、2段目及び4段目クロ
ックドラッチ回路12,14はクロック入力端子Cに他
方の前記基本クロック信号φ2が、反転クロック入力端
子CXにその反転基本クロック信号φ2Xが入力される
ようになっている。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS An embodiment of the pulse width measuring circuit according to the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 3 is a block diagram illustrating the outline of the pulse width measurement circuit. The edge detection circuit 10 includes basic clock signals φ1 and φ2 whose phases do not overlap each other and whose phases are shifted from each other, and their complementary signals (hereinafter referred to as inverted basic clock signals). ) Input φ1X and φ2X, and input the input pulse PS to be measured. As shown in FIG. 4, the edge detection circuit 10 includes five clocked latch circuits 11 to 15 connected in series, and an input pulse P to be measured is applied to a data input terminal D of a first-stage clocked latch circuit 11.
S is input. The first-stage, third-stage, and last-stage clocked latch circuits 11, 13, and 15 are configured such that one of the basic clock signals φ1 is input to a clock input terminal C, and the inverted basic clock signal φ1X is input to an inverted clock input terminal CX. It has become. On the other hand, the second and fourth clocked latch circuits 12 and 14 are configured such that the other basic clock signal φ2 is input to the clock input terminal C and the inverted basic clock signal φ2X is input to the inverted clock input terminal CX. I have.

【0012】初段クロックドラッチ回路11は被測定入
力パルスPSがLレベルからHレベルに反転して、その
時の基本クロック信号φ1がHレベル又はLレベルから
Hレベルになった時(反転基本クロック信号φ1XがL
レベル又はHレベルからLレベルになった時)、出力端
子QからHレベルの出力信号Q1を出力するとともに、
そのHレベルの出力信号Q1を被測定入力パルスPSが
Lレベルに反転しないかぎり保持する。2段目クロック
ドラッチ回路12は被測定入力パルスPSのHレベルを
ラッチして初段クロックドラッチ回路11の出力信号Q
1がLレベルからHレベルに反転して、その時の前記基
本クロック信号φ1より遅れて他方の基本クロック信号
φ2がHレベル又はLレベルからHレベルになると(反
転基本クロック信号φ2XがLレベル又はHレベルから
Lレベルになると)、出力端子QからHレベルの出力信
号Q2を出力するとともに、そのHレベルの出力信号Q
2を出力信号Q1がLレベルに反転しないかぎり保持す
る。
The first-stage clocked latch circuit 11 inverts the input pulse under test PS from L level to H level and changes the basic clock signal φ1 at that time from H level or L level to H level (inverted basic clock signal φ1X Is L
Level or from the H level to the L level), output an H level output signal Q1 from the output terminal Q,
The output signal Q1 at the H level is held unless the input pulse under measurement PS is inverted to the L level. The second-stage clocked latch circuit 12 latches the H level of the input pulse under test PS and outputs the output signal Q of the first-stage clocked latch circuit 11.
1 is inverted from the L level to the H level, and when the other basic clock signal φ2 changes from the H level or the L level to the H level after the basic clock signal φ1 at that time (when the inverted basic clock signal φ2X is the L level or the H level). Output signal Q2 from the output terminal Q, and the output signal Q
2 is held unless the output signal Q1 is inverted to L level.

【0013】3段目クロックドラッチ回路13は前記出
力信号Q2がHレベルに反転すると、その時の基本クロ
ック信号φ1がHレベル又はHレベルに反転した時、出
力端子QからHレベルの出力信号Q3を出力するととも
に、そのHレベルの出力信号Q3を出力信号Q2がLレ
ベルに反転しないかぎり保持する。4段目クロックドラ
ッチ回路14は前記出力信号Q3がHレベルに反転し
て、その時の基本クロック信号φ2がHレベル又はHレ
ベルに反転すると、出力端子QからHレベルの出力信号
Q4を出力するとともに、そのHレベルの出力信号Q4
を出力信号Q3がLレベルに反転しないかぎり保持す
る。また、最終段クロックドラッチ回路15は前記出力
信号Q4がHレベルに反転すると、その時の基本クロッ
ク信号φ1がHレベル又はHレベルに反転した時、出力
端子QからHレベルの出力信号Q5を出力するととも
に、そのHレベルの出力信号Q5を出力信号Q4がLレ
ベルに反転しないかぎり保持する。
When the output signal Q2 is inverted to H level, the third stage clocked latch circuit 13 outputs the H level output signal Q3 from the output terminal Q when the basic clock signal φ1 at that time is inverted to H level or H level. At the same time, the output signal Q3 at the H level is held unless the output signal Q2 is inverted to the L level. When the output signal Q3 is inverted to H level and the basic clock signal φ2 at that time is inverted to H level or H level, the fourth stage clocked latch circuit 14 outputs an H level output signal Q4 from the output terminal Q and , Its H level output signal Q4
As long as the output signal Q3 is not inverted to the L level. When the output signal Q4 is inverted to H level, the final stage clocked latch circuit 15 outputs an H level output signal Q5 from the output terminal Q when the basic clock signal φ1 at that time is inverted to H level or H level. At the same time, the output signal Q5 at the H level is held unless the output signal Q4 is inverted to the L level.

【0014】従って、図5に示すように初段クロックド
ラッチ回路11の出力信号Q1は被測定入力パルスPS
に対して、また、各クロックドラッチ回路12〜15の
出力信号Q2〜Q5はそれぞれ前段の出力信号に対して
所定の位相遅れの出力波形となる。そして、3段目、4
段目及び最終段クロックドラッチ回路13〜15の出力
信号Q3〜Q5は論理ゲート回路に出力される。論理ゲ
ート回路は4個のノット回路16〜19、2個のナンド
回路20,21及び2個のノア回路22,23にて構成
される。
Therefore, as shown in FIG. 5, the output signal Q1 of the first-stage clocked latch circuit 11 is
On the other hand, the output signals Q2 to Q5 of the clocked latch circuits 12 to 15 each have an output waveform with a predetermined phase delay with respect to the output signal of the preceding stage. And the third stage, 4
Output signals Q3 to Q5 of the first and last stage clocked latch circuits 13 to 15 are output to the logic gate circuit. The logic gate circuit includes four knot circuits 16 to 19, two NAND circuits 20 and 21, and two NOR circuits 22 and 23.

【0015】そして、ナンド回路20は前記出力信号Q
3と、ノット回路16を介して出力信号Q4を入力す
る。従って、ナンド回路20の出力信号Aは出力信号Q
3がHレベルに反転してから出力信号Q4がHレベルに
反転するまでの間だけLレベルとなる。また、他方のナ
ンド回路21は前記出力信号Q4と、ノット回路17を
介して出力信号Q5を入力する。従って、このナンド回
路21の出力信号Bは出力信号Q4がHレベルに反転し
てから出力信号Q5がHレベルに反転するまでの間だけ
Lレベルとなる。
The NAND circuit 20 outputs the output signal Q
3 and an output signal Q4 via a knot circuit 16. Therefore, the output signal A of the NAND circuit 20 is the output signal Q
3 is at the L level only from when the signal 3 is inverted to the H level until the output signal Q4 is inverted to the H level. The other NAND circuit 21 receives the output signal Q4 and the output signal Q5 via the knot circuit 17. Therefore, the output signal B of the NAND circuit 21 is at the L level only from when the output signal Q4 is inverted to the H level to when the output signal Q5 is inverted to the H level.

【0016】一方、ノア回路22は前記出力信号Q3
と、ノット回路16を介して出力信号Q4を入力し、そ
の出力信号を次段のノット回路18に出力する。従っ
て、ノット回路18から出力される出力信号Cは出力信
号Q3がLレベルに反転してから出力信号Q4がLレベ
ルに反転するまでの間だけLレベルとなる。また、他方
のノア回路23は前記出力信号Q4と、ノット回路17
を介して出力信号Q5を入力し、その出力信号を次段の
ノット回路19に出力する。従って、このノット回路1
9の出力信号Dは出力信号Q4がLレベルに反転してか
ら出力信号Q5がLレベルに反転するまでの間だけLレ
ベルとなる。
On the other hand, the NOR circuit 22 outputs the output signal Q3
And the output signal Q4 is input via the knot circuit 16, and the output signal is output to the knot circuit 18 in the next stage. Therefore, the output signal C output from the knot circuit 18 is at the L level only from when the output signal Q3 is inverted to the L level to when the output signal Q4 is inverted to the L level. The other NOR circuit 23 outputs the output signal Q4 and the knot circuit 17
, And outputs the output signal to the knot circuit 19 at the next stage. Therefore, this knot circuit 1
The output signal D of No. 9 is at the L level only from when the output signal Q4 is inverted to the L level until the output signal Q5 is inverted to the L level.

【0017】従って、前記ナンド回路20の出力信号A
は被測定入力パルスPSに対して位相遅れがあるものの
その時々の被測定入力パルスPSの立ち上がりに応答し
てLレベルの信号を出力する。又、前記ナンド回路21
の出力信号Bは前記出力信号AがLレベルからHレベル
の立ち上がると同時にLレベルの信号を出力する。即
ち、このエッジ検出回路10においてはこの位相の異な
る2つの出力信号A,Bによってその時々の被測定入力
パルスPSの立ち上がりを検出していることになる。
Accordingly, the output signal A of the NAND circuit 20
Outputs an L-level signal in response to the rising edge of the measured input pulse PS, although there is a phase delay with respect to the measured input pulse PS. Also, the NAND circuit 21
The output signal B outputs an L level signal at the same time as the output signal A rises from the L level to the H level. That is, the edge detection circuit 10 detects the rising of the input pulse PS to be measured at each time by the two output signals A and B having different phases.

【0018】一方、ノア回路22の出力信号Cは同じく
被測定入力パルスPSに対して位相遅れがあるもののそ
の時々の被測定入力パルスPSの立ち下がりに応答して
Lレベルの信号を出力する。又、前記ノア回路23の出
力信号Dは前記出力信号CがLレベルからHレベルの立
ち上がると同時にLレベルの信号を出力する。即ち、こ
のエッジ検出回路10においてはこの位相の異なる2つ
の出力信号C,Dにてその時々の被測定入力パルスPS
の立ち下がりを検出していることになる。
On the other hand, although the output signal C of the NOR circuit 22 also has a phase delay with respect to the measured input pulse PS, it outputs an L-level signal in response to the falling edge of the measured input pulse PS. The output signal D of the NOR circuit 23 outputs an L level signal at the same time when the output signal C rises from the L level to the H level. That is, in the edge detection circuit 10, the input pulse PS to be measured at each time is output by the two output signals C and D having different phases.
Is detected.

【0019】前記エッジ検出回路10の各出力信号A〜
Dは選択回路30に出力される。選択回路30は図6に
示すように、イクスクルーシブノア回路31,2個のノ
ット回路32,33、4個のアンド回路34〜37、2
個のノア回路38,39及び2個のナンド回路30a,
30bから構成されている。イクスクルーシブノア回路
31は2ビットのモード選択信号W0,W1を入力す
る。モード選択信号W0,W1は前記出力信号A〜Dの
うち、被測定入力パルスPSの立ち上がりに応答する出
力信号A,B、又は立ち下がりに応答する出力信号C,
Dのいずれか一方のグループを選択する信号であって、
モード選択信号W0,W1が「L,H」の時、出力信号
A,Bを、モード選択信号W0,W1が「H,H」の
時、出力信号C,Dを選択するコード信号になってい
る。
The output signals A to A of the edge detection circuit 10
D is output to the selection circuit 30. As shown in FIG. 6, the selection circuit 30 includes an exclusive NOR circuit 31, two knot circuits 32, 33, four AND circuits 34 to 37,
NOR circuits 38, 39 and two NAND circuits 30a,
30b. The exclusive NOR circuit 31 receives 2-bit mode selection signals W0 and W1. The mode selection signals W0 and W1 are output signals A and B that respond to the rise of the input pulse under test PS or the output signals C and C that respond to the fall among the output signals A to D.
A signal for selecting one of the groups D.
When the mode selection signals W0 and W1 are "L, H", the output signals A and B become code signals for selecting the output signals C and D when the mode selection signals W0 and W1 are "H, H". I have.

【0020】前記アンド回路34は前記出力信号Dとモ
ード選択信号W0を入力し、その出力信号をノア回路3
8に出力する。また、アンド回路35は前記出力信号B
とノット回路32を介してモード選択信号W0を入力
し、その出力をノア回路38に出力する。従って、モー
ド選択信号W0が「H」の時、出力信号Dが選択され、
被測定入力パルスPSの立ち上がりに応答するLレベル
の出力信号Dを出力する。反対にモード選択信号W0が
「L」の時、出力信号Bが選択され、被測定入力パルス
PSの立ち下がりに応答するLレベルの出力信号Bを出
力する。
The AND circuit 34 receives the output signal D and the mode selection signal W0 and outputs the output signal to the NOR circuit 3.
8 is output. The AND circuit 35 outputs the output signal B
And a mode selection signal W0 via the NOT circuit 32, and outputs its output to the NOR circuit 38. Therefore, when the mode selection signal W0 is "H", the output signal D is selected,
An L-level output signal D responsive to the rising edge of the input pulse under test PS is output. Conversely, when the mode selection signal W0 is "L", the output signal B is selected, and an L-level output signal B responsive to the falling edge of the measured input pulse PS is output.

【0021】前記アンド回路36は前記出力信号Cとイ
クスクルーシブノア回路31からの出力信号を入力し、
その出力信号をノア回路39に出力する。また、アンド
回路37は前記出力信号Aと、ノット回路33を介して
イクスクルーシブノア回路31からの出力信号を入力
し、その出力をノア回路39に出力する。従って、モー
ド選択信号W0,W1が「H,H」の時、出力信号Cが
選択され、被測定入力パルスPSの立ち上がりに応答す
るLレベルの出力信号Cを出力する。反対にモード選択
信号W0,W1が「L,H」の時、出力信号Aが選択さ
れ、被測定入力パルスPSの立ち下がりに応答するLレ
ベルの出力信号Aを出力する。そして、選択回路30は
ノア回路38から出力される信号(出力信号B又は出力
信号D)はナンド回路30aに出力される。ナンド回路
30aは前記基本クロック信号φ2を入力するようにな
っていて、基本クロック信号φ2がHレベルであって、
ノア回路38から出力される前記信号がHレベルのとき
のみLレベルのスタート信号STXを次段の制御回路と
してのフリップフロップ回路40に出力する。又、ノア
回路39から出力される信号(出力信号A又は出力信号
C)はナンド回路30bに出力される。ナンド回路30
bは前記基本クロック信号φ1を入力するようになって
いて、基本クロック信号φ1がHレベルであって、ノア
回路39から出力される前記信号がHレベルのときのみ
Lレベルのエンド信号ENXを次段のカウンタ制御回路
としてのフリップフロップ回路40に出力する。即ち、
このナンド回路30a,30bにおいて、基本クロック
信号φ1,φ2を加えてアクティブパルス幅を少し短く
し、次段のフリップフロップ回路40のセット信号とリ
セット信号の競合をさけるようにしている。
The AND circuit 36 receives the output signal C and an output signal from the exclusive NOR circuit 31, and
The output signal is output to the NOR circuit 39. The AND circuit 37 receives the output signal A and the output signal from the exclusive NOR circuit 31 via the NOT circuit 33 and outputs the output to the NOR circuit 39. Therefore, when the mode selection signals W0 and W1 are "H, H", the output signal C is selected, and the L-level output signal C is output in response to the rise of the input pulse PS to be measured. Conversely, when the mode selection signals W0 and W1 are "L, H", the output signal A is selected, and the L-level output signal A is output in response to the falling edge of the input pulse PS to be measured. The signal (output signal B or output signal D) output from the NOR circuit 38 of the selection circuit 30 is output to the NAND circuit 30a. The NAND circuit 30a receives the basic clock signal φ2, and when the basic clock signal φ2 is at the H level,
Only when the signal output from the NOR circuit 38 is at an H level, an L-level start signal STX is output to a flip-flop circuit 40 as a control circuit at the next stage. The signal (output signal A or output signal C) output from the NOR circuit 39 is output to the NAND circuit 30b. NAND circuit 30
b is be adapted to enter the basic clock signal .phi.1, next basic clock signal .phi.1 is H level, an end signal ENX of L level only when the signal output from the NOR circuit 39 is at H level It outputs to the flip-flop circuit 40 as the counter control circuit of the stage. That is,
In the NAND circuits 30a and 30b, the basic clock signals φ1 and φ2 are added to slightly shorten the active pulse width so as to avoid competition between the set signal and the reset signal of the flip-flop circuit 40 in the next stage.

【0022】カウンタ制御回路としてのフリップフロッ
プ回路40は図7に示すように2個のナンド回路41,
42と1個のノット回路43とから構成されている。ナ
ンド回路41は他方のナンド回路42の出力を入力する
とともに、前記スタート信号STXを入力する。他方の
ナンド回路42は一方のナンド回路41の出力を入力す
るとともに、前記エンド信号ENXを入力する。また、
前記ナンド回路42の出力はノット回路43に出力さ
れ、そのノット回路43の出力はカウントイネーブル信
号CEとして出力される。そして、ナンド回路41にL
レベルのスタート信号STX(出力信号B又は出力信号
D)が入力されると、フリップフロップ回路40はセッ
トされカウントイネーブル信号CEがHレベルになる。
そして、ナンド回路42にLレベルのエンド信号ENX
(出力信号A又は出力信号D)が入力されると、フリッ
プフロップ回路40はリセットされカウントイネーブル
信号CEがHレベルからLレベルになる。従って、カウ
ントイネーブル信号CEはスタート信号STXがLレベ
ルに立ち下がった時からエンド信号ENXが立ち下がる
までの間だけHレベルの信号を出力、即ち、フリップフ
ロップ回路40は被測定入力パルスPSと同じ周期でH
レベルのカウントイネーブル信号CEを出力する。
As shown in FIG. 7, a flip-flop circuit 40 as a counter control circuit has two NAND circuits 41,
42 and one knot circuit 43. The NAND circuit 41 receives the output of the other NAND circuit 42 and the start signal STX. The other NAND circuit 42 receives the output of one NAND circuit 41 and the end signal ENX. Also,
The output of the NAND circuit 42 is output to a NOT circuit 43, and the output of the NOT circuit 43 is output as a count enable signal CE. Then, the NAND circuit 41 outputs L
When the level start signal STX (output signal B or output signal D) is input, the flip-flop circuit 40 is set, and the count enable signal CE goes high.
Then, the L-level end signal ENX is supplied to the NAND circuit 42.
When (the output signal A or the output signal D) is input, the flip-flop circuit 40 is reset, and the count enable signal CE changes from the H level to the L level. Accordingly, the count enable signal CE outputs an H level signal only from the time when the start signal STX falls to the L level to the time when the end signal ENX falls, that is, the flip-flop circuit 40 outputs the same signal as the measured input pulse PS. H in the cycle
A level count enable signal CE is output.

【0023】フリップフロップ回路40のカウントイネ
ーブル信号CEはカウントクロック生成回路50に出力
される。カウントクロック生成回路50は前記基本クロ
ック信号φ1及びその反転基本クロック信号φ1Xを入
力するとともに、前記カウントイネーブル信号CEを入
力するようになっている。そして、カウントイネーブル
信号CEがHレベルのとき、基本クロック信号φ1を分
周し、その分周信号に基づいて互いにオバーラップしな
い位相がずれたノンオーバラップのカウントクロック信
号C1,C2を生成し次段のカウンタ51に出力する。
反対に、カウントイネーブル信号CEがLレベルのと
き、前記カウントクロック信号C1,C2を生成を休止
し、次段のカウンタ51への出力を停止するようになっ
ている。
The count enable signal CE of the flip-flop circuit 40 is output to the count clock generation circuit 50. The count clock generation circuit 50 receives the basic clock signal φ1 and its inverted basic clock signal φ1X, and receives the count enable signal CE. When the count enable signal CE is at the H level, the basic clock signal φ1 is frequency-divided, and based on the frequency-divided signal, non-overlapping non-overlapping count clock signals C1 and C2 which are not overlapped with each other are generated. To the counter 51.
Conversely, when the count enable signal CE is at the L level, the generation of the count clock signals C1 and C2 is stopped, and the output to the counter 51 at the next stage is stopped.

【0024】前記カウンタ51は同期型ダウンカウンタ
であって、カウントイネーブル信号CEとカウントクロ
ック信号C1,C2に基づいて前記カウントクロック信
号C1,C2を減算カウントする。カウンタ51は図8
に示すようにカウントイネーブル信号CEがLレベルに
立ち下がったとき、カウント動作を停止しその時のカウ
ント値CONTを次段の測定値格納メモリ52に出力
し、カウントイネーブル信号CEがLレベルからHレベ
ルに立ち上がった時、カウント値CONTを「FF(B
CDコード)」にリセットし減算動作を可能な状態にす
る。そして、カウンタ51はカウントイネーブル信号C
EがHレベルのとき、カウントクロック信号C1を入力
して減算動作し、次に入力されるカウントクロック信号
C2に基づいてカウンタ回路51の内部に設けたバッフ
ァにその演算結果(カウント値CONT)を転送する。
従って、同カウンタ51は互いにオバーラップしない位
相がずれた2つのカウントクロック信号C1,C2に応
じてカウント値CONTが「1」づつ減算される。
The counter 51 is a synchronous down counter, and counts down the count clock signals C1 and C2 based on the count enable signal CE and the count clock signals C1 and C2. The counter 51 is shown in FIG.
When the count enable signal CE falls to the L level, the count operation is stopped and the count value CONT at that time is output to the next-stage measured value storage memory 52, and the count enable signal CE changes from the L level to the H level. When the count value CONT is set to "FF (B
CD code) "to enable the subtraction operation. Then, the counter 51 outputs the count enable signal C
When E is at the H level, the count clock signal C1 is input to perform a subtraction operation, and the operation result (count value CONT) is stored in a buffer provided inside the counter circuit 51 based on the next input count clock signal C2. Forward.
Accordingly, the counter 51 decrements the count value CONT by "1" in accordance with the two count clock signals C1 and C2 which do not overlap with each other and whose phases are shifted.

【0025】次に、上記のように構成されたパルス幅測
定回路の作用について説明する。なお、説明の便宜上選
択回路30は「L,H」のモード選択信号W0,W1が
入力されていて、被測定入力パルスPSの立ち上がりに
応答する出力信号A,Bを選択して同入力パルスPSの
パルス幅測定を説明する場合について説明する。いま、
エッジ検出回路10は被測定入力パルスPSを入力する
と、基本クロック信号φ1,φ2と反転基本クロック信
号φ1X,φ2Xに基づいてその時々の被測定入力パル
スPSの立ち上がりに応答してLレベルとなる出力信号
Aと同出力信号AがLレベルからHレベル立ち上がる
と同時にLレベルとなる出力信号Bを出力する。また、
エッジ検出回路10はその時々の被測定入力パルスPS
の立ち下がりに応答してLレベルとなる出力信号Cと同
出力信号CがLレベルからHレベル立ち上がると同時
にLレベルとなる出力信号Dを出力する。即ち、エッジ
検出回路10はその時々の被測定入力パルスPSの立ち
上がりエッジに応答した各出力信号A〜Dを出力してい
る。
Next, the operation of the pulse width measuring circuit configured as described above will be described. For convenience of explanation, the selection circuit 30 receives the mode selection signals W0 and W1 of "L, H", selects the output signals A and B in response to the rise of the input pulse PS to be measured, and selects the same input pulse PS. Will be described. Now
When the measured input pulse PS is input, the edge detection circuit 10 outputs an L level in response to the rising of the measured input pulse PS at each time based on the basic clock signals φ1 and φ2 and the inverted basic clock signals φ1X and φ2X. At the same time as the signal A and the output signal A rising from the L level to the H level , the output signal B which becomes the L level is output. Also,
The edge detection circuit 10 detects the input pulse PS
Output signal C of the same output signal C in response to the falling to the L level and outputs the output signal D of the same time L level rises from L level to H level. That is, the edge detection circuit 10 outputs a given time of the output signals A to D in response to the rising edge of the measured input pulse PS.

【0026】そして、選択回路30にて各出力信号信号
A〜Dのうち被測定入力パルスPSの立ち上がりに応答
してLレベルとなる出力信号Aと出力信号Bを選択し、
スタート信号STXとして出力信号A及びエンド信号E
NXとして出力信号Bをフリップフロツプ回路40に出
力する。フリップフロップ回路40はLレベルのスター
ト信号STX(出力信号B)に応答してセットされ、カ
ウントイネーブル信号CEがHレベルに反転する。続い
て入力されるエンド信号ENX(出力信号A)に応答し
てフリップフロップ回路40はリセットされカウントイ
ネーブル信号CEがHレベルからLレベルになる。従っ
て、フリップフロップ回路40はスタート信号STXが
Lレベルに立ち下がった時からエンド信号ENXが立ち
下がるまでの間だけHレベルのカウントイネーブル信号
CEを、即ち被測定入力パルスPSと同じ周期でHレベ
ルとなるカウントイネーブル信号CEを出力する。
Then, the selection circuit 30 selects the output signal A and the output signal B which become L level in response to the rise of the input pulse PS to be measured among the output signal signals A to D,
The output signal A and the end signal E are used as the start signal STX.
The output signal B is output to the flip-flop circuit 40 as NX. The flip-flop circuit 40 is set in response to the L level start signal STX (output signal B), and the count enable signal CE is inverted to H level. Subsequently, the flip-flop circuit 40 is reset in response to the input end signal ENX (output signal A), and the count enable signal CE changes from H level to L level. Accordingly, the flip-flop circuit 40 outputs the count enable signal CE at the H level only from the time when the start signal STX falls to the L level to the time when the end signal ENX falls, that is, the H level at the same cycle as the input pulse PS to be measured. Is output.

【0027】次段のカウントクロツク生成回路50はこ
の被測定入力パルスPSと同じ周期でHレベルとなるカ
ウントイネーブル信号CEに基づいてカウントイネーブ
ル信号CEがHレベルの間だけカウントクロック信号C
1,C2を次段のカウンタ51に出力する。同様に、カ
ウンタ51はHレベルとなるカウントイネーブル信号C
Eとカウントクロック信号C1,C2に基づいて減算カ
ウント動作する。この時、カウンタ51はカウントイネ
ーブル信号CEがLレベルに立ち下がったとき、カウン
ト動作を停止しその時までの減算カウント値CONTを
次段の測定値格納メモリ52に出力する。そして、カウ
ンタ51はカウントイネーブル信号CEがLレベルから
Hレベルに立ち上がった時、カウント値CONTをリセ
ットし減算動作を可能な状態にし次の減算動作を開始す
る。即ち、カウンタ51はカウントイネーブル信号CE
のLレベルの反転動作に基づいて測定値格納メモリ52
にその時々の被測定入力パルスPSの1周期をカウント
クロック信号C1,C2にてカウントした値(今回の被
測定入力パルスPSの1周期の幅の値)CONTを転送
している。そして、カウントイネーブル信号CEのHレ
ベルの反転動作に基づいて次の被測定入力パルスPSの
1周期の幅のカウントを直ちにカウントする。
The count clock generation circuit 50 at the next stage is based on the count enable signal CE which goes high at the same period as the input pulse PS to be measured, and only while the count enable signal CE is high.
1 and C2 are output to the counter 51 at the next stage. Similarly, the counter 51 outputs the count enable signal C which goes high.
A subtraction counting operation is performed based on E and the count clock signals C1 and C2. At this time, when the count enable signal CE falls to the L level, the counter 51 stops the counting operation and outputs the subtracted count value CONT up to that time to the measured value storage memory 52 at the next stage. Then, when the count enable signal CE rises from the L level to the H level, the counter 51 resets the count value CONT to enable a subtraction operation and starts the next subtraction operation. That is, the counter 51 outputs the count enable signal CE.
Measured value storage memory 52 based on the L level inversion operation of
The value CONT obtained by counting one cycle of the measured input pulse PS at that time by the count clock signals C1 and C2 (the value of the width of one cycle of the current measured input pulse PS) is transferred. Then, based on the inversion operation of the count enable signal CE at the H level, the count of the width of one cycle of the next measured input pulse PS is immediately counted.

【0028】このように、本実施例において、カウンタ
51は被測定入力パルスPSの立ち上がりエッジに応答
して出力されるカウントイネーブル信号CEに基づいて
測定値格納メモリ52に今回の被測定入力パルスPSの
1周期の幅の値を転送し、次の被測定入力パルスPSの
1周期の幅のカウントを直ちにカウントするようにした
ので、この1つのカウンタ51は被測定入力パルスPS
の各周期毎のパルス幅を連続してカンウトすることがで
きる。従って、1つのカウンタ51で被測定入力パルス
PSにおける各周期毎のパルス幅を連続してカンウトす
ることができることから、回路規模が小さくでき、しか
も、1つになった分だけパルス幅測定回路を制御するC
PUの制御プログラム量を減少させることができ、ソフ
トウェアでの制御に負担を少なくすることができる。
As described above, in this embodiment, the counter 51 stores the current measured input pulse PS in the measured value storage memory 52 based on the count enable signal CE output in response to the rising edge of the measured input pulse PS. Is transferred, and the count of the width of one cycle of the next input pulse to be measured PS is counted immediately, so that this one counter 51
The pulse width of each period can be counted continuously. Therefore, since the pulse width of each cycle of the input pulse under measurement PS can be counted continuously by one counter 51, the circuit scale can be reduced, and the pulse width measuring circuit can be reduced by one. C to control
The amount of PU control programs can be reduced, and the load on software control can be reduced.

【0029】なお、本実施例では被測定入力パルスPS
の立ち上がりから次の立ち上がりまでを測定する場合に
ついて説明したが、被測定入力パルスPSの立ち下がり
から次の立ち下がりまでを測定することは勿論可能であ
る。また、被測定入力パルスPSの立ち上がりから立ち
下がりまでを測定したり、その反対の立ち下がりから立
ち上がりまでを測定するように実施してもよい。
In this embodiment, the measured input pulse PS
Is described from the rising edge to the next rising edge, but it is of course possible to measure from the falling edge of the measured input pulse PS to the next falling edge. Further, the measurement may be performed so as to measure from the rising to the falling of the input pulse under measurement PS, or to measure the opposite from the falling to the rising.

【0030】また、前記実施例では同期型減算カウンタ
51を使用したが、加算カウンタ等その他カウンタにて
実施してもよい。
In the above embodiment, the synchronous subtraction counter 51 is used. However, the counter may be implemented by another counter such as an addition counter.

【0031】[0031]

【発明の効果】以上詳述したように、本発明によれば1
個のカウンタで1サイクルのパルス幅を連続的に測定す
ることができ、回路規模の縮小を図ることができるとと
もに、ソフトウェアでの制御の負担を軽減することがで
きる優れた効果を有する。
As described in detail above, according to the present invention, 1
The pulse width of one cycle can be continuously measured by the number of counters, so that the circuit scale can be reduced, and the load of control by software can be reduced.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明のパルス幅測定回路の原理を説明するた
めの原理説明図である。
FIG. 1 is a principle explanatory diagram for explaining the principle of a pulse width measurement circuit according to the present invention.

【図2】パルス幅測定回路の動作を説明するためのタイ
ムチャート図である。
FIG. 2 is a time chart for explaining the operation of the pulse width measurement circuit.

【図3】本発明を具体化した一実施例を説明するための
パルス幅測定回路電気ブロック回路図である。
FIG. 3 is an electric block circuit diagram of a pulse width measurement circuit for explaining an embodiment embodying the present invention;

【図4】エッジ検出回路の構成を説明する電気ブロック
回路図である。
FIG. 4 is an electric block circuit diagram illustrating a configuration of an edge detection circuit.

【図5】エッジ検出回路の動作を説明するためのタイム
チャート図である。
FIG. 5 is a time chart for explaining the operation of the edge detection circuit.

【図6】選択回路の構成を説明する電気ブロック回路図
である。
FIG. 6 is an electric block circuit diagram illustrating a configuration of a selection circuit.

【図7】フリップフロップ回路の構成を説明する電気ブ
ロック回路図である。
FIG. 7 is an electric block circuit diagram illustrating a configuration of a flip-flop circuit.

【図8】カウンタ回路の動作を説明するためのタイムチ
ャート図である。
FIG. 8 is a time chart for explaining the operation of the counter circuit.

【図9】従来のパルス幅測定回路図である。FIG. 9 is a circuit diagram of a conventional pulse width measurement circuit.

【図10】従来のパルス幅測定回路に用いられたカウン
タの動作を説明するためのタイムチャート図である。
FIG. 10 is a time chart for explaining the operation of a counter used in a conventional pulse width measurement circuit.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 エッジ検出回路 2 カウンタ制御回路、 3 カウンタ回路、 A,B 出力信号、 CE カウントイネーブル信号、 CLK カウントクロック信号、 CONT カウント値、 PS 被測定入力パルス信号、 φ1,φ2 基本クロック信号。 1 Edge detection circuit 2 Counter control circuit, 3 Counter circuit, A and B output signal, CE count enable signal, CLK count clock signal, CONT count value, PS Input pulse signal to be measured, φ1, φ2 basic clock signal.

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭52−142545(JP,A) 特開 昭60−111971(JP,A) 実開 昭60−11079(JP,U) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G01R 29/02 G01R 23/10 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continuation of the front page (56) References JP-A-52-142545 (JP, A) JP-A-60-111971 (JP, A) Real-life Japanese Utility Model Showa 60-11079 (JP, U) (58) Field (Int.Cl. 7 , DB name) G01R 29/02 G01R 23/10

Claims (1)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 被測定入力パルス信号(PS)と位相の
異なる2相の基本クロック信号(φ1,φ2)とを入力
し、被測定入力パルス信号PSの立ち上がり又は立ち下
がりの少なくとも一方に応答して位相の異なる2つのワ
ンショットパルス信号(A,B)を出力するエッジ検出
回路(1)と、前記位相の異なる2つのワンショットパ
ルス信号(A,B)を入力し、一方のワンショットパル
ス信号(A)に応答して反転し、他方のワンショットパ
ルス信号(B)に応答して反転復帰して前記被測定入力
パルス信号PSの立ち上がり又は立ち下がりの少なくと
も一方に応答して2つのワンショットパルス信号(A,
B)の位相差の間だけ反転するカウンタ制御信号(C
E)を生成するカウンタ制御回路(2)と、前記カウン
タ制御信号(CE)とカウントクロック信号(CLK)
を入力し、カウンタ制御信号(CE)の反転でカウント
動作を停止して同カウント内容(CONT)を出力し、
次の反転復帰でカウント内容(CONT)をリセットし
前記カウントクロック信号(CLK)のカウント動作を
開始するカウンタ回路(3)とからなるパルス幅測定回
路。
An input pulse signal to be measured (PS) and two-phase basic clock signals (φ1, φ2) having different phases are input and respond to at least one of the rise and fall of the input pulse signal to be measured PS. An edge detection circuit (1) for outputting two one-shot pulse signals (A, B) having different phases, and the two one-shot pulse signals (A, B) having different phases are inputted, and one one-shot pulse Inverted in response to the signal (A), inverted and returned in response to the other one-shot pulse signal (B), and returned in response to at least one of the rise and fall of the measured input pulse signal PS. Shot pulse signals (A,
B) The counter control signal (C
E), a counter control circuit (2), the counter control signal (CE), and a count clock signal (CLK).
Is input, the count operation is stopped by inversion of the counter control signal (CE), and the count content (CONT) is output.
A pulse width measuring circuit comprising: a counter circuit (3) for resetting the count content (CONT) at the next inversion return and starting the count operation of the count clock signal (CLK).
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