JP3048075U - Socket for semiconductor component mounting board - Google Patents

Socket for semiconductor component mounting board

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JP3048075U
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semiconductor component
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吉信 西川
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システムデザイン株式会社
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 半導体部品の突起ピッチがこれまでより小さ
くなった場合でも、これまで使用していた搭載ボードを
用いることができ、また突起ピッチの異なる半導体部品
が混在した状態でも1種類の搭載ボードで済むようにす
ることができる搭載ボード用ソケットを提供せんとする
ものである。 【解決手段】 ソケット1における半導体部品2取り付
け側のピン受けピッチより、搭載ボード3取り付け側の
ピンピッチを大きくし、対応する前記ピン受けとピンと
を導通せしめている。
(57) [Summary] [PROBLEMS] Even if the protrusion pitch of a semiconductor component becomes smaller than before, the mounting board used so far can be used, and even when semiconductor components having different protrusion pitches are mixed. An object of the present invention is to provide a socket for a mounting board that requires only one type of mounting board. SOLUTION: The pin pitch on the mounting board 3 mounting side is made larger than the pin receiving pitch on the semiconductor component 2 mounting side in the socket 1 so that the corresponding pin receivers and pins are electrically connected.

Description

【考案の詳細な説明】[Detailed description of the invention]

【0001】[0001]

【産業状の利用分野】[Industrial applications]

本考案は、恒温槽装置の恒温室内に挿入されて半導体部品の温度環境試験及び 機能試験用に供される搭載ボードに対し半導体部品との間に介在せしめて使用さ れる半導体部品搭載ボード用ソケットの改良に関する。 The present invention relates to a socket for a semiconductor component mounting board which is inserted into a thermostatic chamber of a thermostat apparatus and is used between a semiconductor component and a mounting board used for a temperature environment test and a function test of a semiconductor component. Regarding improvement.

【0002】[0002]

【従来の技術】[Prior art]

CPUやメモリなどの半導体部品の環境試験として、恒温槽装置を用いるバー ンイン等が行われている。即ち、ヒータによって昇温された空気がファンにより 供給され所定の温度に維持された恒温室に、ソケットなどを介して半導体部品の 搭載された半導体部品搭載ボードが装填され、該室内で繰り返される昇温・降温 操作に対して、電力の供給された半導体部品がスティミュラス信号に対しどのよ うな状態変化を示すかを調べる温度環境試験及び機能試験が行われる。 As an environmental test of semiconductor components such as a CPU and a memory, burn-in using a thermostatic oven has been performed. That is, a semiconductor component mounting board on which semiconductor components are mounted is loaded via a socket or the like into a constant temperature chamber in which air heated by a heater is supplied by a fan and maintained at a predetermined temperature, and is repeatedly heated in the chamber. For temperature and temperature reduction operations, a temperature environment test and a function test are performed to check how the semiconductor component supplied with power changes in response to the stimulus signal.

【0003】 その際、前記恒温室側に設けられた試験機器用ソケット部と前記恒温室に装填 される半導体部品搭載ボードのボード側プラグ部とからなるコネクタを結合し、 それにより、前記半導体部品搭載ボードに搭載された半導体部品を、装置側に内 蔵される前記試験機器に接続して、上記の試験が行われている。At this time, a connector consisting of a socket for test equipment provided on the constant temperature chamber side and a board side plug of a semiconductor component mounting board loaded in the constant temperature chamber is connected, whereby the semiconductor component is connected. The above-described test is performed by connecting the semiconductor component mounted on the mounting board to the test equipment built in the apparatus.

【0004】[0004]

【考案が解決しようとする課題】[Problems to be solved by the invention]

近年CPUなどの半導体部品はサイズは小さくなりながらも多突起化(BGA では600ピン以上のものもある)が進み、この多突起化の影響で、突起ピッチ が、BGA(Ball Grid Array)で0.8mm、FBGA(Fin e Pitch Ball Grid Array)やCSP(Chip Scal e Package)に至っては0.5mm程度となる。この多突起化に合わせて 、そのピッチに合う突起受けを形成した搭載ボードを用意しなくてはならないと すれば、これまで使用してきたボードは使えなくなる。また突起ピッチの異なる 半導体部品を夫々試験する場合は、該半導体部品毎に、使用するボードを変える 必要があり、煩雑になってしまう。更に突起ピッチの異なる半導体部品が混在し た状態で上記試験を行うこと等はできないといった問題もある。これらの場合で も、1種類の搭載ボードの使用で済めば、手間及びコスト的に望ましい。 In recent years, semiconductor components such as CPUs have become more and more multi-projected (BGAs have more than 600 pins) while their size has been reduced. Due to this multi-projection, the pitch of the projections is reduced to 0 in BGA (Ball Grid Array). 0.8 mm, and about 0.5 mm for FBGA (Fine Pitch Ball Grid Array) and CSP (Chip Scale Package). If it is necessary to prepare a mounting board formed with a projection receiver corresponding to the pitch in accordance with the increase in the number of projections, the board used so far cannot be used. Further, when testing semiconductor components having different protrusion pitches, it is necessary to change the board to be used for each semiconductor component, which is complicated. Further, there is a problem that the above test cannot be performed in a state where semiconductor components having different protrusion pitches are mixed. Even in these cases, it is desirable in terms of labor and cost if only one type of mounting board is used.

【0005】 他方、これまで搭載ボードにおける突起受けは、BGA用のものとして形成さ れるのが通常であるが、0.5mmピッチのBGA用のものは現在製作不能であ る。これは、半導体部品と搭載ボードの間に介在せしめるソケットについても同 様である。[0005] On the other hand, the projection receiver on the mounting board is usually formed for a BGA, but a projection for a 0.5 mm pitch BGA cannot be manufactured at present. The same applies to sockets interposed between semiconductor components and mounting boards.

【0006】 本考案は従来技術の以上のような問題に鑑み創案されたもので、半導体部品の 突起ピッチがこれまでより小さくなった場合でも、これまで使用していた搭載ボ ードを用いることができ、また突起ピッチの異なる半導体部品が混在した状態で も1種類の搭載ボードで済むようにすることができる搭載ボード用ソケットを提 供せんとするものである。[0006] The present invention has been made in view of the above-described problems of the prior art. Even if the pitch of protrusions of a semiconductor component becomes smaller than before, it is possible to use a mounting board which has been used so far. The present invention does not provide a socket for a mounting board capable of using only one type of mounting board even when semiconductor components having different projection pitches are mixed.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】[Means for Solving the Problems]

そのため本考案に係る構成は、搭載ボードに対し、電気的に導通可能な状態に して半導体部品を搭載するために、その間に介在せしめて使用される半導体部品 搭載ボード用ソケットにおいて、半導体部品取り付け側の突起受けピッチより、 搭載ボード取り付け側の突起ピッチを大きくし、対応する前記突起受けと突起と を導通せしめたことを基本的特徴としている。 より具体的には、上記ソケットの構成として、半導体部品取り付け側の突起受 けが、FBGA乃至CSPの突起受け用であり、また搭載ボード取り付け側の突 起が、BGAの突起である構成等が考えられる。 For this reason, the configuration according to the present invention provides a semiconductor component mounting board socket that is used interposed between the mounting board and the semiconductor component so that the semiconductor component can be electrically connected to the mounting board. The basic feature is that the pitch of the projections on the mounting board mounting side is made larger than the pitch of the projection receptions on the side, and the corresponding projection receivers and projections are conducted. More specifically, as the configuration of the socket, a configuration in which the protrusion receiving portion on the semiconductor component mounting side is for receiving the FBGA or CSP protrusion, and the protruding portion on the mounting board mounting side is a BGA protrusion is considered. Can be

【0008】[0008]

【作用】[Action]

上記構成により、該ソケットが、突起ピッチの違いを吸収してくれるため、使 用する搭載ボードとして、これまでのもの又は1種類のもので済むことになる。 According to the above configuration, the socket absorbs the difference in the projection pitch, so that the mounting board to be used can be the same or a single type.

【0009】[0009]

【考案の実施の形態】[Embodiment of the invention]

以下本考案の実施の形態を説明する。図1乃至図4は、本考案の構成の一実施 形態を示している。図中1はソケット、2は半導体部品、3は搭載ボードを各示 している。 Hereinafter, embodiments of the present invention will be described. 1 to 4 show an embodiment of the configuration of the present invention. In the figure, 1 is a socket, 2 is a semiconductor component, and 3 is a mounting board.

【0010】 前記ソケット1は、図1に示すように、半導体部品2取り付け側のピンを受け るピン受け1aが、FBGAのピン受け用であり、また搭載ボード3取り付け側 のピン1bが、BGAのピン構成となっている。そのため、半導体部品取り付け 側のピン受け1aのピッチが0.5mmであるのに対し、搭載ボード3取り付け 側のピン1bのピッチは1.0mmである。そしてその両面の対応する前記ピン 受け1aとピン1bとが導通した状態になっている。In the socket 1, as shown in FIG. 1, a pin receiver 1 a for receiving a pin on the semiconductor component 2 mounting side is for receiving an FBGA pin, and a pin 1 b on the mounting board 3 mounting side is a BGA Pin configuration. Therefore, the pitch of the pin receiver 1a on the semiconductor component mounting side is 0.5 mm, whereas the pitch of the pins 1b on the mounting board 3 mounting side is 1.0 mm. The corresponding pin receiver 1a and pin 1b on both sides are in a conductive state.

【0011】 前記半導体部品2は、FBGAパッケージ構成のLSIであり、一例としてC PU等がある。The semiconductor component 2 is an LSI having an FBGA package configuration, and is, for example, a CPU or the like.

【0012】 前記搭載ボード3は、図2に示すように、恒温室に備えられた試験機器用のソ ケット部に結合するプラグ部3aを有すると共に、前記ソケット1への電源供給 を行い、またスティミュラス信号を送ったり、半導体部品2からの出力信号を受 けるための配線回路を、その表面に形成したプリント配線基板で構成されている 。そして該配線回路上には、ソケット1のピン1bに対応する位置に、ボールグ リッドである該ピン1bを受けるピン受け(図示なし)が設けられている。As shown in FIG. 2, the mounting board 3 has a plug portion 3 a coupled to a socket portion for test equipment provided in a constant temperature chamber, and supplies power to the socket 1. A wiring circuit for transmitting a stimulus signal and receiving an output signal from the semiconductor component 2 is constituted by a printed wiring board formed on the surface thereof. A pin receiver (not shown) for receiving the pin 1b, which is a ball grid, is provided on the wiring circuit at a position corresponding to the pin 1b of the socket 1.

【0013】 上記ソケット1に半導体部品2を搭載する場合は、図3に示されるように、半 導体部品2のピン及びソケット1のピン受け1aに対応する位置に導電部を形成 した導電ゴム4aを間に介在させて、上記半導体部品2をソケット1上に搭載す る。他方、上記搭載ボード3に該ソケット1を搭載する場合は、図4に示される ように、ソケット1のピン1b及び搭載ボード3のピン受けに対応する位置に導 電部を形成した導電ゴム4bを間に介在させて、上記ソケット1を搭載ボード3 上に搭載する。これを所定個数分(搭載ボード3上に搭載できる数が予め決まっ ている)載せる。When the semiconductor component 2 is mounted on the socket 1, as shown in FIG. 3, a conductive rubber 4 a having a conductive portion formed at a position corresponding to the pin of the semiconductor component 2 and the pin receiver 1 a of the socket 1. The semiconductor component 2 is mounted on the socket 1 with the intermediary of. On the other hand, when the socket 1 is mounted on the mounting board 3, as shown in FIG. 4, a conductive rubber 4 b having a conductive portion formed at a position corresponding to the pin 1 b of the socket 1 and the pin receiver of the mounting board 3. The socket 1 is mounted on the mounting board 3 with the intermediary of. A predetermined number of them (the number that can be mounted on the mounting board 3 is predetermined) is mounted.

【0014】 以上のような構成を用いることにより、半導体部品2のピンピッチが0.5m mとこれまでの1.0mmよりも小さくなった場合でも、本ソケット1が、ピン ピッチの違いを吸収してくれるため、1.0mm用にこれまで使用していた搭載 ボードを用いることができるようになる。またピンピッチが0.5mm及び1.0 mmの両半導体部品2が混在した状態でも、1種類の搭載ボードで済むことにな る。By using the above-described configuration, even when the pin pitch of the semiconductor component 2 is 0.5 mm, which is smaller than the conventional 1.0 mm, the socket 1 can absorb the difference in the pin pitch. The mounting board that has been used for 1.0mm can be used. In addition, even in a state where both the semiconductor components 2 having the pin pitches of 0.5 mm and 1.0 mm are mixed, only one type of mounting board is required.

【0015】 以上のようなソケット1は、その構成を、高さ方向に複層積み上げた構成とし て作成し、各層を積み上げる毎に、対応するピン乃至ピン受けの位置を少しずつ ずらしながら電気的に導通可能な状態につなげるというビルトアップ法を用いて 作成すると良い。もちろんこのような形成方法以外に限定されるわけではなく、 本構成の上記基本構成が適用できる限りどのような方法でも良い。The above-described socket 1 is formed as a configuration in which a plurality of layers are stacked in the height direction, and the position of the corresponding pin or pin receiver is slightly shifted every time each layer is stacked. It is good to use the built-up method of connecting to a state where it can be conducted to Of course, the present invention is not limited to such a forming method, and any method may be used as long as the above basic structure of the present structure can be applied.

【0016】[0016]

【考案の効果】[Effect of the invention]

以上詳述した本考案の構成によれば、半導体部品の突起ピッチがこれまでより も小さくなった場合でも、本ソケットが、突起ピッチの違いを吸収してくれるた め、それに合わせて突起ピッチ受けを小さくした搭載ボードを別に用意する必要 がなくなり、これまで使用していた搭載ボードを用いることができるようになる 。また突起ピッチの異なる半導体部品が混在した状態でも、1種類の搭載ボード で対応することが可能となる。 According to the configuration of the present invention described in detail above, even when the projection pitch of the semiconductor component becomes smaller than before, the socket absorbs the difference in the projection pitch. This eliminates the need to prepare a separate mounting board with a smaller size, and allows the mounting board that has been used so far to be used. In addition, even when semiconductor components having different projection pitches are mixed, it is possible to cope with a single type of mounting board.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本考案の構成の一実施形態に係るソケットの構
成を示す平面図である。
FIG. 1 is a plan view illustrating a configuration of a socket according to an embodiment of the present invention;

【図2】本考案の構成の一実施形態のうち搭載ボードの
構成を示す平面図である。
FIG. 2 is a plan view showing a configuration of a mounting board in the embodiment of the configuration of the present invention;

【図3】ソケットに半導体部品を搭載する状態を示す説
明図である。
FIG. 3 is an explanatory view showing a state where a semiconductor component is mounted on a socket.

【図4】搭載ボードにソケットを搭載する状態を示す説
明図である。
FIG. 4 is an explanatory diagram showing a state in which a socket is mounted on a mounting board.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 ソケット 1a ピン受け 1b ピン 2 半導体部品 3 搭載ボード 3a プラグ部 4a、4b 導電ゴム DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Socket 1a Pin receiver 1b pin 2 Semiconductor component 3 Mounting board 3a Plug part 4a, 4b Conductive rubber

Claims (3)

【実用新案登録請求の範囲】[Utility model registration claims] 【請求項1】 搭載ボードに対し、電気的に導通可能な
状態にして半導体部品を搭載するために、その間に介在
せしめて使用される半導体部品搭載ボード用ソケットに
おいて、半導体部品取り付け側の突起受けピッチより、
搭載ボード取り付け側の突起ピッチを大きくし、対応す
る前記突起受けと突起とを導通せしめたことを特徴とす
る半導体部品搭載ボード用ソケット。
1. A semiconductor component mounting board socket which is used for mounting a semiconductor component in an electrically conductive state with respect to the mounting board and which is interposed between the semiconductor component mounting board and the semiconductor component mounting side. From the pitch,
A socket for a semiconductor component mounting board, characterized in that the pitch of the projections on the mounting board mounting side is increased, and the corresponding projection receiver and the projection are electrically connected.
【請求項2】 請求項1記載の半導体部品搭載ボード用
ソケットにおいて、半導体部品取り付け側の突起受け
が、FBGA乃至CSPの突起受け用であることを特徴
とする請求項1記載の半導体部品搭載ボード用ソケッ
ト。
2. The semiconductor component mounting board according to claim 1, wherein the projection receiver on the semiconductor component mounting side is for receiving a projection of FBGA or CSP. Socket.
【請求項3】 請求項1乃至2記載の半導体部品搭載ボ
ード用ソケットにおいて、搭載ボード取り付け側の突起
が、BGAの突起であることを特徴とする請求項1乃至
2記載の半導体部品搭載ボード用ソケット。
3. The semiconductor component mounting board socket according to claim 1, wherein the projection on the mounting board mounting side is a BGA projection. socket.
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