JP3045164B1 - 3次元電荷分布測定装置 - Google Patents
3次元電荷分布測定装置Info
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Abstract
布を測定することのできる3次元電荷分布測定装置を提
供する。 【解決手段】 試料11の両面には、電極12a,12
bが設けられ、パルス電源13から試料11にパルス電
圧を印加して、試料11内に弾性波を発生させるよう構
成されている。検出機構14は、試料11内の一部に焦
点を結ぶように配設された超音波レンズ14aと圧電素
子14bとを具備しており、試料11内で発生した弾性
波のうち、焦点付近の検出領域Aで発生した弾性波のみ
を選択的に検出するとともに、検出領域Aを走査できる
ように構成されている。
Description
により3次元の電荷分布を測定する3次元電荷分布測定
装置に関する。
技術として、パルス静電応力法が知られている。
ように、平板状の試料1の両面を電極2a,2bで挟
み、これらの電極2a,2bを介して、パルス電源3か
ら試料1にパルス電圧を印加し、試料1内に存在する電
荷に静電気力を作用させて、試料1内に弾性波を発生さ
せる。
圧電素子からなるセンサ4によって上記試料1内に発生
した弾性波を検出し、この検出信号をアンプ5によって
増幅して信号処理するようになっており、弾性波の信号
の遅れ時間が検出側からの距離を示すことから、パルス
電界の方向に一次元の電荷密度分布(電荷の位置、極
性、密度)を知ることができる。
えば、絶縁基板中の銅イオン等の絶縁材料中の電荷密度
分布を非破壊で測定することができる。
た従来の技術においては、試料の厚さ方向の一次元の電
荷密度分布しか検出することができなかった。このた
め、電荷密度分布のさらに詳細な情報を得ることのでき
る技術の開発が望まれていた。
されたもので、パルス静電応力法により3次元の電荷密
度分布を測定することのできる3次元電荷分布測定装置
を提供しようとするものである。
に、請求項1の3次元電荷分布測定装置は、試料にパル
ス電圧を印加し、当該試料内に存在する電荷に静電気力
を作用させて弾性波を発生させるパルス電圧印加手段
と、前記試料内の一部に焦点を結ぶように配設され、当
該焦点付近で発生した弾性波のみを選択的に検出する検
出手段と、前記検出手段の前記焦点の位置を、前記試料
内を走査するよう移動させる走査手段とを具備したこと
を特徴とする。
記検出手段が、前記試料内の一部に焦点を結ぶように配
設された音響レンズ、又は前記試料内の一部に焦点を結
ぶように配設された曲面状の音響的なミラーと、弾性波
を検出する圧電素子とを具備したことを特徴とする。
記検出手段が、前記試料内の一部に焦点を結ぶように曲
面型に形成された圧電素子を具備したことを特徴とす
る。
記検出手段が、複数の圧電素子を配列して構成したアレ
イ型の検出器を具備したことを特徴とする。
記検出手段が、液体又はゲル状又はゴム状の弾性体を介
して前記試料内で発生した弾性波を測定するよう構成さ
れたことを特徴とする。
づいて説明する。
のである。同図に示すように、平板状に形成された試料
11の両面には、電極12a,12bが、試料11を挟
むように設けられており、これらの電極12a,12b
には、パルス電源13が接続されている。そして、パル
ス電源13から、電極12a,12bを介して試料11
にパルス電圧を印加するようになっており、試料11内
に存在する電荷に静電気力を作用させて弾性波を発生さ
せるよう構成されている。
2bの下方には、一定の空隙Sを設けて、試料11内に
発生した弾性波を検出するための検出機構14が設けら
れている。
焦点を結ぶように配設された音響レンズ(超音波レン
ズ)14aと、この超音波レンズ14aを介して弾性波
を検出する圧電素子14bとを具備しており、試料11
内で発生した弾性波のうち、超音波レンズ14aの焦点
付近で発生した弾性波のみを圧電素子14bにより選択
的に検出するよう構成されている。また、この圧電素子
14bで検出された弾性波の検出信号は、アンプ15に
よって増幅され、図示しない信号処理装置に入力される
ようになっている。
bとの間の空隙Sには、液体またはゲル状またはゴム状
の物質であって、弾性波を伝達する弾性波伝達媒質16
が満たされている。なお、このような弾性波伝達媒質1
6としては、例えば、水、水銀等を使用することができ
る。
駆動機構によって、図中矢印で示す方向およびこれと直
行する方向、つまり試料11と平行な平面内(X−Y平
面内)およびこの平面と直行する方向つまり試料11の
厚さ方向(Z方向)に移動可能とされ、これによって、
検出機構14により弾性波が検出される検出領域Aを、
試料11内において走査できるように構成されている。
なお、検出機構14側ではなく、試料11側を移動させ
て上記検出領域Aの走査を行うように構成することもで
きる。
予め検出機構14の位置をX−Y−Z方向に移動させ、
試料11内の所望部位にその焦点が位置するよう調整し
ておく。
a,12bを介して試料11にパルス電圧を印加し、こ
の時に試料11内で発生した弾性波を検出機構14によ
って検出する。このパルス電圧としては、例えば、百ボ
ルト乃至十数キロボルト程度のパルス電圧を使用するこ
とができる。また、電極12a,12bとの間には、図
示しないバイアス電源から、必要に応じたバイアス電圧
(例えば0〜数十キロボルト)が印加されるようになっ
ている。
して、複数回、例えば数十乃至千回程度行い、これらの
結果を平均化することによってS/N比を向上させるこ
とが好ましい。このため、パルス電圧は、例えば毎秒数
百回程度印加し、このパルス電圧の印加に同調させて圧
電素子14bからの測定信号を抽出する。なお、この時
のパルス幅は、例えばナノ秒単位とする。
た測定が終了すると、検出機構14を所定方向に所定距
離だけ移動させて再度同様な測定を行うという手順を繰
り返して行い、検出領域Aを試料11内で走査するよう
移動させることにより、試料11の所望の領域につい
て、試料11内の3次元の電荷密度分布を測定すること
ができる。
荷密度分布についての情報は、前述したとおり弾性波の
検出時間の遅れから得ることができるので、上記検出機
構14の走査は、X−Y方向に行えばよいが、例えば厚
さの厚い試料11について、さらに、厚さ方向(Z方
向)の電荷密度分布についての精度の高い情報を得るた
めには、検出機構14を厚さ方向(Z方向)に走査し
て、試料11内の3次元の電荷密度分布を測定すること
もできる。
実施形態を示すものである。これらの実施形態は、上述
した第1の実施形態の検出機構14に代えて、検出機構
24、34、44を用いたものである。なお、これら第
2乃至第4の実施形態において、他の部分は、上述した
第1の実施形態と同様に構成されているので、同一部分
には同一符号を付して、重複した説明は省略する。
の実施形態の検出機構14に代えて、検出機構24が設
けられている。この検出機構24は、試料11内に焦点
を結ぶように配置された曲面状の音響的なミラー24a
と、この曲面状の音響的なミラー24aを介して試料1
1内の弾性波を検出する圧電素子24bとを具備してい
る。
は、第1の実施形態の検出機構14に代えて、検出機構
34が設けられている。この検出機構34は、試料11
内に焦点を結ぶように配置された曲面型の圧電素子から
構成されている。
は、第1の実施形態の検出機構14に代えて、検出機構
44が設けられている。
aを配列したフェイズドアレイセンサーから構成されて
おり、弾性波の伝達時間に応じて各圧電素子44aにお
ける検出タイミングを制御することにより、試料11内
に発生した弾性波のうち、所望の焦点付近で発生した弾
性波のみを選択的に検出できるように構成されている。
この第4の実施形態では、電気的な制御により、検出機
構44で検出する検出領域Aの走査を行うことができ
る。
ス静電応力法により3次元の電荷密度分布を測定するこ
とのできる装置を提供することかでき、電荷密度分布の
より詳細な情報を高速度で得ることができる。
装置の概略構成を示す図。
装置の概略構成を示す図。
装置の概略構成を示す図。
装置の概略構成を示す図。
Claims (5)
- 【請求項1】 試料にパルス電圧を印加し、当該試料内
に存在する電荷に静電気力を作用させて弾性波を発生さ
せるパルス電圧印加手段と、 前記試料内の一部に焦点を結ぶように配設され、当該焦
点付近で発生した弾性波のみを選択的に検出する検出手
段と、 前記検出手段の前記焦点の位置を、前記試料内を走査す
るよう移動させる走査手段とを具備したことを特徴とす
る3次元電荷分布測定装置。 - 【請求項2】 前記検出手段が、前記試料内の一部に焦
点を結ぶように配設された音響レンズ、又は前記試料内
の一部に焦点を結ぶように配設された曲面状の音響的な
ミラーと、弾性波を検出する圧電素子とを具備したこと
を特徴とする請求項1記載の3次元電荷分布測定装置。 - 【請求項3】 前記検出手段が、前記試料内の一部に焦
点を結ぶように曲面型に形成された圧電素子を具備した
ことを特徴とする請求項1記載の3次元電荷分布測定装
置。 - 【請求項4】 前記検出手段が、複数の圧電素子を配列
して構成したアレイ型の検出器を具備したことを特徴と
する請求項1記載の3次元電荷分布測定装置。 - 【請求項5】 前記検出手段が、液体又はゲル状又はゴ
ム状の弾性体を介して前記試料内で発生した弾性波を測
定するよう構成されたことを特徴とする請求項1乃至4
のいずれか1項記載の3次元電荷分布測定装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP11046708A JP3045164B1 (ja) | 1999-02-24 | 1999-02-24 | 3次元電荷分布測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP11046708A JP3045164B1 (ja) | 1999-02-24 | 1999-02-24 | 3次元電荷分布測定装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP3045164B1 true JP3045164B1 (ja) | 2000-05-29 |
JP2000241475A JP2000241475A (ja) | 2000-09-08 |
Family
ID=12754871
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP11046708A Expired - Fee Related JP3045164B1 (ja) | 1999-02-24 | 1999-02-24 | 3次元電荷分布測定装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3045164B1 (ja) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB0301183D0 (en) * | 2003-01-18 | 2003-02-19 | Rolls Royce Plc | Electrostatic sensors |
-
1999
- 1999-02-24 JP JP11046708A patent/JP3045164B1/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2000241475A (ja) | 2000-09-08 |
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