JP3045164B1 - 3次元電荷分布測定装置 - Google Patents

3次元電荷分布測定装置

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JP3045164B1
JP3045164B1 JP11046708A JP4670899A JP3045164B1 JP 3045164 B1 JP3045164 B1 JP 3045164B1 JP 11046708 A JP11046708 A JP 11046708A JP 4670899 A JP4670899 A JP 4670899A JP 3045164 B1 JP3045164 B1 JP 3045164B1
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Abstract

【要約】 【課題】 パルス静電応力法により3次元の電荷密度分
布を測定することのできる3次元電荷分布測定装置を提
供する。 【解決手段】 試料11の両面には、電極12a,12
bが設けられ、パルス電源13から試料11にパルス電
圧を印加して、試料11内に弾性波を発生させるよう構
成されている。検出機構14は、試料11内の一部に焦
点を結ぶように配設された超音波レンズ14aと圧電素
子14bとを具備しており、試料11内で発生した弾性
波のうち、焦点付近の検出領域Aで発生した弾性波のみ
を選択的に検出するとともに、検出領域Aを走査できる
ように構成されている。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、パルス静電応力法
により3次元の電荷分布を測定する3次元電荷分布測定
装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来から、試料内の電荷分布を測定する
技術として、パルス静電応力法が知られている。
【0003】このパルス静電応力法は、図5に示される
ように、平板状の試料1の両面を電極2a,2bで挟
み、これらの電極2a,2bを介して、パルス電源3か
ら試料1にパルス電圧を印加し、試料1内に存在する電
荷に静電気力を作用させて、試料1内に弾性波を発生さ
せる。
【0004】そして、電極2bの外側に貼り付けられた
圧電素子からなるセンサ4によって上記試料1内に発生
した弾性波を検出し、この検出信号をアンプ5によって
増幅して信号処理するようになっており、弾性波の信号
の遅れ時間が検出側からの距離を示すことから、パルス
電界の方向に一次元の電荷密度分布(電荷の位置、極
性、密度)を知ることができる。
【0005】このようなパルス静電応力法によれば、例
えば、絶縁基板中の銅イオン等の絶縁材料中の電荷密度
分布を非破壊で測定することができる。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述し
た従来の技術においては、試料の厚さ方向の一次元の電
荷密度分布しか検出することができなかった。このた
め、電荷密度分布のさらに詳細な情報を得ることのでき
る技術の開発が望まれていた。
【0007】本発明は、かかる従来の事情に対処してな
されたもので、パルス静電応力法により3次元の電荷密
度分布を測定することのできる3次元電荷分布測定装置
を提供しようとするものである。
【0008】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、請求項1の3次元電荷分布測定装置は、試料にパル
ス電圧を印加し、当該試料内に存在する電荷に静電気力
を作用させて弾性波を発生させるパルス電圧印加手段
と、前記試料内の一部に焦点を結ぶように配設され、当
該焦点付近で発生した弾性波のみを選択的に検出する検
出手段と、前記検出手段の前記焦点の位置を、前記試料
内を走査するよう移動させる走査手段とを具備したこと
を特徴とする。
【0009】請求項2の3次元電荷分布測定装置は、前
記検出手段が、前記試料内の一部に焦点を結ぶように配
設された音響レンズ、又は前記試料内の一部に焦点を結
ぶように配設された曲面状の音響的なミラーと、弾性波
を検出する圧電素子とを具備したことを特徴とする。
【0010】請求項3の3次元電荷分布測定装置は、前
記検出手段が、前記試料内の一部に焦点を結ぶように曲
面型に形成された圧電素子を具備したことを特徴とす
る。
【0011】請求項4の3次元電荷分布測定装置は、前
記検出手段が、複数の圧電素子を配列して構成したアレ
イ型の検出器を具備したことを特徴とする。
【0012】請求項5の3次元電荷分布測定装置は、前
記検出手段が、液体又はゲル状又はゴム状の弾性体を介
して前記試料内で発生した弾性波を測定するよう構成さ
れたことを特徴とする。
【0013】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施形態を図に基
づいて説明する。
【0014】図1は、本発明の第1の実施形態を示すも
のである。同図に示すように、平板状に形成された試料
11の両面には、電極12a,12bが、試料11を挟
むように設けられており、これらの電極12a,12b
には、パルス電源13が接続されている。そして、パル
ス電源13から、電極12a,12bを介して試料11
にパルス電圧を印加するようになっており、試料11内
に存在する電荷に静電気力を作用させて弾性波を発生さ
せるよう構成されている。
【0015】また、試料11の下側に設けられた電極1
2bの下方には、一定の空隙Sを設けて、試料11内に
発生した弾性波を検出するための検出機構14が設けら
れている。
【0016】この検出機構14は、試料11内の一部に
焦点を結ぶように配設された音響レンズ(超音波レン
ズ)14aと、この超音波レンズ14aを介して弾性波
を検出する圧電素子14bとを具備しており、試料11
内で発生した弾性波のうち、超音波レンズ14aの焦点
付近で発生した弾性波のみを圧電素子14bにより選択
的に検出するよう構成されている。また、この圧電素子
14bで検出された弾性波の検出信号は、アンプ15に
よって増幅され、図示しない信号処理装置に入力される
ようになっている。
【0017】また、上記超音波レンズ14aと電極12
bとの間の空隙Sには、液体またはゲル状またはゴム状
の物質であって、弾性波を伝達する弾性波伝達媒質16
が満たされている。なお、このような弾性波伝達媒質1
6としては、例えば、水、水銀等を使用することができ
る。
【0018】上記検出機構14は、図示しない機械的な
駆動機構によって、図中矢印で示す方向およびこれと直
行する方向、つまり試料11と平行な平面内(X−Y平
面内)およびこの平面と直行する方向つまり試料11の
厚さ方向(Z方向)に移動可能とされ、これによって、
検出機構14により弾性波が検出される検出領域Aを、
試料11内において走査できるように構成されている。
なお、検出機構14側ではなく、試料11側を移動させ
て上記検出領域Aの走査を行うように構成することもで
きる。
【0019】上記構成の3次元電荷分布測定装置では、
予め検出機構14の位置をX−Y−Z方向に移動させ、
試料11内の所望部位にその焦点が位置するよう調整し
ておく。
【0020】そして、パルス電源13から、電極12
a,12bを介して試料11にパルス電圧を印加し、こ
の時に試料11内で発生した弾性波を検出機構14によ
って検出する。このパルス電圧としては、例えば、百ボ
ルト乃至十数キロボルト程度のパルス電圧を使用するこ
とができる。また、電極12a,12bとの間には、図
示しないバイアス電源から、必要に応じたバイアス電圧
(例えば0〜数十キロボルト)が印加されるようになっ
ている。
【0021】なお、上記測定は、1つの検出領域Aに対
して、複数回、例えば数十乃至千回程度行い、これらの
結果を平均化することによってS/N比を向上させるこ
とが好ましい。このため、パルス電圧は、例えば毎秒数
百回程度印加し、このパルス電圧の印加に同調させて圧
電素子14bからの測定信号を抽出する。なお、この時
のパルス幅は、例えばナノ秒単位とする。
【0022】そして、1つの検出領域Aに対する上述し
た測定が終了すると、検出機構14を所定方向に所定距
離だけ移動させて再度同様な測定を行うという手順を繰
り返して行い、検出領域Aを試料11内で走査するよう
移動させることにより、試料11の所望の領域につい
て、試料11内の3次元の電荷密度分布を測定すること
ができる。
【0023】なお、試料11の厚さ方向(Z方向)の電
荷密度分布についての情報は、前述したとおり弾性波の
検出時間の遅れから得ることができるので、上記検出機
構14の走査は、X−Y方向に行えばよいが、例えば厚
さの厚い試料11について、さらに、厚さ方向(Z方
向)の電荷密度分布についての精度の高い情報を得るた
めには、検出機構14を厚さ方向(Z方向)に走査し
て、試料11内の3次元の電荷密度分布を測定すること
もできる。
【0024】図2乃至図4は、本発明の第2乃至第4の
実施形態を示すものである。これらの実施形態は、上述
した第1の実施形態の検出機構14に代えて、検出機構
24、34、44を用いたものである。なお、これら第
2乃至第4の実施形態において、他の部分は、上述した
第1の実施形態と同様に構成されているので、同一部分
には同一符号を付して、重複した説明は省略する。
【0025】図2に示される第2の実施形態では、第1
の実施形態の検出機構14に代えて、検出機構24が設
けられている。この検出機構24は、試料11内に焦点
を結ぶように配置された曲面状の音響的なミラー24a
と、この曲面状の音響的なミラー24aを介して試料1
1内の弾性波を検出する圧電素子24bとを具備してい
る。
【0026】また、図3に示される第3の実施形態で
は、第1の実施形態の検出機構14に代えて、検出機構
34が設けられている。この検出機構34は、試料11
内に焦点を結ぶように配置された曲面型の圧電素子から
構成されている。
【0027】さらに、図4に示される第4の実施形態で
は、第1の実施形態の検出機構14に代えて、検出機構
44が設けられている。
【0028】この検出機構44は、複数の圧電素子44
aを配列したフェイズドアレイセンサーから構成されて
おり、弾性波の伝達時間に応じて各圧電素子44aにお
ける検出タイミングを制御することにより、試料11内
に発生した弾性波のうち、所望の焦点付近で発生した弾
性波のみを選択的に検出できるように構成されている。
この第4の実施形態では、電気的な制御により、検出機
構44で検出する検出領域Aの走査を行うことができ
る。
【0029】
【発明の効果】以上説明したように発明によれば、パル
ス静電応力法により3次元の電荷密度分布を測定するこ
とのできる装置を提供することかでき、電荷密度分布の
より詳細な情報を高速度で得ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施形態の3次元電荷分布測定
装置の概略構成を示す図。
【図2】本発明の第2の実施形態の3次元電荷分布測定
装置の概略構成を示す図。
【図3】本発明の第3の実施形態の3次元電荷分布測定
装置の概略構成を示す図。
【図4】本発明の第4の実施形態の3次元電荷分布測定
装置の概略構成を示す図。
【図5】従来の電荷分布測定装置の概略構成を示す図。
【符号の説明】
11……試料 12a,12b……電極 13……パルス電源 14……検出機構 14a……音響レンズ(超音波レンズ) 14b……圧電素子 15……アンプ 16……弾性波伝達媒質 A……検出領域 S……空隙

Claims (5)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 試料にパルス電圧を印加し、当該試料内
    に存在する電荷に静電気力を作用させて弾性波を発生さ
    せるパルス電圧印加手段と、 前記試料内の一部に焦点を結ぶように配設され、当該焦
    点付近で発生した弾性波のみを選択的に検出する検出手
    段と、 前記検出手段の前記焦点の位置を、前記試料内を走査す
    るよう移動させる走査手段とを具備したことを特徴とす
    る3次元電荷分布測定装置。
  2. 【請求項2】 前記検出手段が、前記試料内の一部に焦
    点を結ぶように配設された音響レンズ、又は前記試料内
    の一部に焦点を結ぶように配設された曲面状の音響的な
    ミラーと、弾性波を検出する圧電素子とを具備したこと
    を特徴とする請求項1記載の3次元電荷分布測定装置。
  3. 【請求項3】 前記検出手段が、前記試料内の一部に焦
    点を結ぶように曲面型に形成された圧電素子を具備した
    ことを特徴とする請求項1記載の3次元電荷分布測定装
    置。
  4. 【請求項4】 前記検出手段が、複数の圧電素子を配列
    して構成したアレイ型の検出器を具備したことを特徴と
    する請求項1記載の3次元電荷分布測定装置。
  5. 【請求項5】 前記検出手段が、液体又はゲル状又はゴ
    ム状の弾性体を介して前記試料内で発生した弾性波を測
    定するよう構成されたことを特徴とする請求項1乃至4
    のいずれか1項記載の3次元電荷分布測定装置。
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