JP3042467B2 - Thermal stress absorption holding mechanism - Google Patents

Thermal stress absorption holding mechanism

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JP3042467B2
JP3042467B2 JP9285913A JP28591397A JP3042467B2 JP 3042467 B2 JP3042467 B2 JP 3042467B2 JP 9285913 A JP9285913 A JP 9285913A JP 28591397 A JP28591397 A JP 28591397A JP 3042467 B2 JP3042467 B2 JP 3042467B2
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thermal stress
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stress absorbing
base
base mounting
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智充 堀田
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Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、例えば光学機器を
機器台(光学台)に保持する場合に使用して好適な熱応
力吸収保持機構に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a thermal stress absorbing / holding mechanism suitable for use, for example, when holding an optical instrument on an equipment stand (optical stand).

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、この種の熱応力吸収保持機構は、
種々のものが採用されており、例えば図8(a)および
(b)に示すように構成されている。これを同図に基づ
いて説明すると、同図において、符号100で示す熱応
力吸収保持機構は、基台取付部101および熱応力吸収
部102を備えている。これにより、台座103に対し
て光学機器等の精密機器(図示せず)を載置可能な基台
104が保持される。
2. Description of the Related Art Conventionally, this kind of thermal stress absorption holding mechanism is
Various types are employed, for example, as shown in FIGS. 8A and 8B. This will be described with reference to the same drawing. In the same drawing, the thermal stress absorbing and holding mechanism indicated by reference numeral 100 includes a base mounting portion 101 and a thermal stress absorbing portion 102. As a result, a base 104 on which a precision device (not shown) such as an optical device can be mounted on the base 103 is held.

【0003】基台取付部101は、各外径が互いに異な
る大小二つの保持軸101a,101bからなり、熱応
力吸収部102上に軸受105によって回動可能に保持
されている。基台取付部101の大径の保持軸101a
は熱応力吸収部102の上方に位置付けられ、小径の保
持軸101bは基台104の下方に位置付けられてい
る。
The base mounting portion 101 is composed of two large and small holding shafts 101a and 101b having different outer diameters, and is rotatably held on a thermal stress absorbing portion 102 by a bearing 105. Large-diameter holding shaft 101a of base mount 101
Is located above the thermal stress absorbing portion 102, and the small-diameter holding shaft 101 b is located below the base 104.

【0004】熱応力吸収部102は、同一平面内でそれ
ぞれが互いに直交する水平方向(X方向およびY方向)
に開口する貫通孔102a,102bを有し、台座10
3上に取り付けられている。
The thermal stress absorbing portions 102 are arranged in horizontal directions (X direction and Y direction) orthogonal to each other in the same plane.
The pedestal 10 has through holes 102a and 102b
3 mounted on.

【0005】このように構成された熱応力吸収保持機構
において、環境温度が変化すると、線膨張係数や断面形
状の相異によって台座103および基台104に熱歪が
発生し、台座103に対して基台104が変位(相対変
位)する。すなわち、台座103および基台104に熱
歪が発生すると、この熱歪が基台取付部101を介して
熱応力吸収部102に作用する。このとき、熱応力吸収
部102が図9に示すように弾性変形してX軸およびZ
軸の二軸(あるいはY軸およびZ軸の二軸)で形成する
面内で傾動し、台座103および基台104において発
生する熱応力が吸収される。
[0005] In the thermal stress absorbing and holding mechanism configured as described above, when the environmental temperature changes, thermal distortion occurs in the pedestal 103 and the base 104 due to a difference in linear expansion coefficient and cross-sectional shape. The base 104 is displaced (relative displacement). That is, when thermal strain occurs in the pedestal 103 and the base 104, the thermal strain acts on the thermal stress absorbing part 102 via the base mounting part 101. At this time, the thermal stress absorbing portion 102 is elastically deformed as shown in FIG.
It tilts in a plane formed by two axes (or two axes of the Y axis and the Z axis), and the thermal stress generated in the pedestal 103 and the base 104 is absorbed.

【0006】[0006]

【発明が解決しようとする課題】しかし、従来の熱応力
吸収保持機構においては、熱応力吸収部102に同一平
面内でそれぞれが互いに直交する方向に開口する貫通孔
102a,102bが設けられており、このため台座1
03および基台104に熱歪が発生すると、基台104
が台座103に対して三軸(X軸,Y軸およびZ軸)方
向に移動していた。この結果、基台104が水平方向に
移動するばかりか、垂直方向にも移動し、すなわち高さ
方向にも変位が生じ、高精度のアライメントを必要とす
る例えばレーザ機器等の光学機器(図示せず)を保持す
る場合には適用することができないという問題があっ
た。
However, in the conventional thermal stress absorbing and retaining mechanism, through holes 102a and 102b are formed in the thermal stress absorbing portion 102 and open in directions orthogonal to each other in the same plane. , So pedestal 1
03 and the base 104 generate thermal strain.
Moved in three axes (X-axis, Y-axis, and Z-axis) directions with respect to the pedestal 103. As a result, the base 104 moves not only in the horizontal direction but also in the vertical direction, that is, a displacement occurs in the height direction, and an optical device such as a laser device or the like that requires high-precision alignment (shown in FIG. However, there is a problem that the method cannot be applied when (1) is retained.

【0007】本発明はこのような事情に鑑みてなされた
もので、環境温度の変化によって台座および基台に熱歪
が発生しても、基台の高さ方向変位の発生を防止するこ
とができ、もって高精度のアライメントを必要とする光
学機器を保持する場合に適用することができる熱応力吸
収保持機構の提供を目的とする。
The present invention has been made in view of the above circumstances, and it is possible to prevent the base from being displaced in the height direction even if thermal distortion occurs in the base and the base due to a change in environmental temperature. It is an object of the present invention to provide a thermal stress absorption holding mechanism that can be applied to hold an optical device that requires high-precision alignment.

【0008】[0008]

【課題を解決するための手段】前記目的を達成するため
に、本発明の請求項1記載の熱応力吸収保持機構は、機
器載置用の基台を台座に対して保持する脚部材であっ
て、この脚部材が、垂直方向に移動規制され水平方向に
移動可能な基台取付部と、この基台取付部の水平方向移
動に応動して弾性変形する熱応力吸収部とを有する構成
としてある。したがって、台座および基台に熱歪が発生
すると、基台取付部の垂直方向移動を規制するととも
に、水平方向移動を許容しながら、この水平方向移動に
応動して熱応力吸収部が弾性変形し、台座および基台の
熱応力が吸収される。
According to a first aspect of the present invention, there is provided a thermal stress absorbing and holding mechanism comprising a leg member for holding a base for mounting equipment on a pedestal. The leg member has a base mounting portion that is restricted in the vertical direction and is movable in the horizontal direction, and a thermal stress absorbing portion that elastically deforms in response to the horizontal movement of the base mounting portion. is there. Therefore, when thermal distortion occurs in the pedestal and the base, the vertical movement of the base mounting portion is restricted, and the thermal stress absorbing portion is elastically deformed in response to the horizontal movement while permitting the horizontal movement. The thermal stress of the pedestal and the base is absorbed.

【0009】請求項2記載の発明は、請求項1記載の熱
応力吸収保持機構において、基台取付部が一直線方向に
移動可能である構成としてある。したがって、台座およ
び基台に熱歪が発生すると、基台取付部の垂直方向移動
を規制するとともに、水平一直線方向移動を許容しなが
ら、この水平方向移動に応動して熱応力吸収部が弾性変
形し、台座および基台に発生する熱応力が吸収される。
According to a second aspect of the present invention, in the thermal stress absorbing and holding mechanism according to the first aspect, the base mounting portion is movable in a straight line. Therefore, when thermal distortion occurs in the pedestal and the base, the thermal stress absorbing part elastically deforms in response to this horizontal movement while restricting the vertical movement of the base mounting part and allowing the horizontal and linear movement. Then, thermal stress generated in the pedestal and the base is absorbed.

【0010】請求項3記載の発明は、請求項1記載の熱
応力吸収保持機構において、基台取付部が水平面内で移
動可能である構成としてある。したがって、台座および
基台に熱歪が発生すると、基台取付部の垂直方向移動を
規制するとともに、水平方向移動を許容しながら、これ
ら水平方向移動に応動して熱応力吸収部が弾性変形し、
台座および基台に発生する熱応力が吸収される。
According to a third aspect of the present invention, in the thermal stress absorbing and retaining mechanism of the first aspect, the base mounting portion is movable in a horizontal plane. Therefore, when thermal distortion occurs in the pedestal and the base, the vertical movement of the base mounting part is restricted, and the thermal stress absorbing part is elastically deformed in response to the horizontal movement while permitting the horizontal movement. ,
Thermal stress generated in the pedestal and the base is absorbed.

【0011】請求項4記載の発明は、請求項1,2また
は3記載の熱応力吸収保持機構において、熱応力吸収部
の全体および基台取付部の一部を収納するケースを台座
に配設した構成としてある。したがって、ケースによっ
て収納される熱応力吸収部の全体および基台取付部の一
部が保護される。
According to a fourth aspect of the present invention, in the thermal stress absorbing and holding mechanism according to the first, second or third aspect, a case accommodating the entire thermal stress absorbing portion and a part of the base mounting portion is provided on the base. There is a configuration. Therefore, the entire thermal stress absorbing portion accommodated by the case and a part of the base mounting portion are protected.

【0012】請求項5記載の発明は、請求項4記載の熱
応力吸収保持機構において、ケースに基台取付部の一直
線移動方向に延在する長孔を設け、この長孔を挿通する
ピンを基台取付部に設けた構成としてある。したがっ
て、ピンが基台取付部と共に長孔の延在方向に移動し、
この移動に応動して熱応力吸収部が弾性変形する。
According to a fifth aspect of the present invention, there is provided the thermal stress absorbing and holding mechanism according to the fourth aspect, wherein a long hole extending in the direction of linear movement of the base mounting portion is provided in the case, and a pin passing through the long hole is provided. It is configured to be provided on the base mounting part. Therefore, the pin moves in the extending direction of the elongated hole together with the base mounting portion,
In response to this movement, the thermal stress absorbing portion is elastically deformed.

【0013】請求項6記載の発明は、請求項4記載の熱
応力吸収保持機構において、基台取付部に水平方向に突
出するピンを設け、このピンを基台取付部の一直線移動
方向に案内するスライド機構をケースに取り付けた構成
としてある。したがって、ピンがスライド機構による案
内方向に基台取付部と共に移動し、この移動に応動して
熱応力吸収部が弾性変形する。
According to a sixth aspect of the present invention, in the thermal stress absorbing and holding mechanism according to the fourth aspect, a pin is provided on the base mounting portion so as to protrude in the horizontal direction, and the pin is guided in the direction of linear movement of the base mounting portion. The sliding mechanism is mounted on the case. Therefore, the pin moves together with the base mounting part in the guide direction of the slide mechanism, and the thermal stress absorbing part is elastically deformed in response to this movement.

【0014】請求項7記載の発明は、請求項5または6
記載の熱応力吸収保持機構において、基台取付部とケー
スとの間にピンが挿通するスペーサを介在させた構成と
してある。したがって、基台取付部とケースとの間に介
在するスペーサによって基台取付部の一直線方向移動を
除く水平方向移動が規制される。
The invention according to claim 7 is the invention according to claim 5 or 6.
In the thermal stress absorbing and retaining mechanism described above, a spacer for inserting a pin is interposed between the base mounting portion and the case. Therefore, the horizontal movement except for the linear movement of the base mounting portion is restricted by the spacer interposed between the base mounting portion and the case.

【0015】請求項8記載の発明は、請求項7記載の熱
応力吸収保持機構において、スペーサを基台取付部およ
びケースのうちいずれか一方の部位に取り付けた構成と
してある。したがって、基台取付部あるいはケースに取
り付けられたスペーサによって基台取付部の一直線方向
移動を除く水平方向移動が規制される。
According to an eighth aspect of the present invention, in the thermal stress absorbing and retaining mechanism according to the seventh aspect, the spacer is mounted on one of the base mounting portion and the case. Therefore, horizontal movement excluding linear movement of the base mounting portion is restricted by the base mounting portion or the spacer mounted on the case.

【0016】請求項9記載の発明は、請求項7または8
記載の熱応力吸収保持機構において、スペーサと基台取
付部間およびケースとスペーサ間のうち少なくとも一方
の部位間に低摩擦処理が施されている構成としてある。
したがって、スペーサと基台取付部間およびケースとス
ペーサ間のうち少なくとも一方の部位間に施された低摩
擦処理によってケースに対する基台取付部の移動が円滑
に行われる。
The invention according to claim 9 is the invention according to claim 7 or 8.
In the thermal stress absorbing and retaining mechanism described above, a low friction process is performed between at least one portion between the spacer and the base mounting portion and between the case and the spacer.
Therefore, the movement of the base mounting portion with respect to the case is smoothly performed by the low friction processing performed between the spacer and the base mounting portion and between at least one of the case and the spacer.

【0017】請求項10記載の発明は、請求項5〜9の
うちいずれか一記載の熱応力吸収保持機構において、ピ
ンが単一のピンからなり、このピンを断面矩形状のピン
によって形成した構成としてある。したがって、単一の
ピンによって基台取付部の回動がピン軸線回りに規制さ
れる。
According to a tenth aspect of the present invention, in the thermal stress absorption holding mechanism according to any one of the fifth to ninth aspects, the pin is formed of a single pin, and the pin is formed by a pin having a rectangular cross section. There is a configuration. Therefore, the rotation of the base mounting portion is regulated around the pin axis by the single pin.

【0018】請求項11記載の発明は、請求項5〜9の
うちいずれか一記載の熱応力吸収保持機構において、ピ
ンが基台取付部の一直線移動方向に並列する複数のピン
からなり、これら各ピンを断面円形状のピンによって形
成した構成としてある。したがって、複数のピンによっ
て基台取付部の垂直面内での回動が規制される。
According to an eleventh aspect of the present invention, in the thermal stress absorbing and holding mechanism according to any one of the fifth to ninth aspects, the pins comprise a plurality of pins arranged in parallel in the direction of linear movement of the base mounting portion. Each pin is formed by a pin having a circular cross section. Therefore, rotation of the base mounting portion in the vertical plane is restricted by the plurality of pins.

【0019】請求項12記載の発明は、請求項1〜11
のうちいずれか一記載の熱応力吸収保持機構において、
熱応力吸収部がゴムからなる構成としてある。したがっ
て、台座および基台に熱歪が発生すると、基台取付部の
垂直方向移動を規制するとともに、水平方向移動を許容
しながら、この水平方向移動に応動してゴムが弾性変形
し、台座および基台に発生する熱応力が吸収される。
The invention according to claim 12 is the invention according to claims 1 to 11
In the thermal stress absorption holding mechanism according to any one of
The thermal stress absorbing portion is made of rubber. Therefore, when thermal distortion occurs in the pedestal and the base, the rubber is elastically deformed in response to this horizontal movement while restricting the vertical movement of the base mounting part and allowing the horizontal movement, and The thermal stress generated in the base is absorbed.

【0020】請求項13記載の発明は、請求項1〜11
のうちいずれか一記載の熱応力吸収保持機構において、
熱応力吸収部がスプリングからなる構成としてある。し
たがって、台座および基台に熱歪が発生すると、基台取
付部の垂直方向移動を規制するとともに、水平方向移動
を許容しながら、この水平方向移動に応動してスプリン
グが弾性変形し、台座および基台に発生する熱応力が吸
収される。
The invention according to claim 13 is the invention according to claims 1 to 11
In the thermal stress absorption holding mechanism according to any one of
The thermal stress absorbing portion is formed of a spring. Accordingly, when thermal distortion occurs in the pedestal and the base, the spring is elastically deformed in response to the horizontal movement while restricting the vertical movement of the base mounting portion and allowing the horizontal movement, and The thermal stress generated in the base is absorbed.

【0021】[0021]

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施形態につき、
図面を参照して説明する。図1(a)および(b)は本
発明の第一実施形態に係る熱応力吸収保持機構を示す正
面図とそのA−A断面図、図2は図1(b)のB−B断
面図である。同図において、符号1で示す機器台は、台
座2と熱応力吸収保持機構3と熱応力非吸収保持機構4
と基台5とを備えている。台座2は、偏平な保持面2a
を有し、水平面上に配置されている。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION Hereinafter, embodiments of the present invention will be described.
This will be described with reference to the drawings. FIGS. 1A and 1B are a front view and a sectional view taken along the line AA of the thermal stress absorbing and holding mechanism according to the first embodiment of the present invention, and FIG. 2 is a sectional view taken along the line BB of FIG. It is. In FIG. 1, an equipment table denoted by reference numeral 1 is a pedestal 2, a thermal stress absorbing and retaining mechanism 3, and a thermal stress non-absorbing and retaining mechanism 4
And a base 5. The pedestal 2 has a flat holding surface 2a.
And are arranged on a horizontal plane.

【0022】熱応力吸収保持機構3は、基台取付部6と
熱応力吸収部7とケース8とスペーサ9とを有する可動
用の脚部材からなり、台座2と基台5との間に配設され
ている。
The thermal stress absorbing and holding mechanism 3 comprises a movable leg member having a base mounting part 6, a thermal stress absorbing part 7, a case 8 and a spacer 9, and is arranged between the pedestal 2 and the base 5. Has been established.

【0023】基台取付部6は、垂直方向に移動規制さ
れ、水平方向に移動可能な基台取付部からなり、基台5
の下方端面に接着剤等によって取り付けられている。基
台取付部6の両側面には、それぞれが互いに反対の側に
水平方向に沿って突出する断面矩形状のピン10,11
が取り付けられている。これら各ピン10,11の表面
には、例えばフッ素樹脂を塗布することにより低摩擦処
理が施されている。これにより、後述する長孔内におけ
る各ピン10,11の移動が円滑に行われる。
The base mounting portion 6 comprises a base mounting portion which is restricted in vertical movement and is movable in horizontal direction.
Is attached to the lower end surface of the base with an adhesive or the like. Pins 10 and 11 each having a rectangular cross section and projecting along the horizontal direction on opposite sides of the base mounting portion 6 respectively.
Is attached. The surface of each of the pins 10 and 11 is subjected to a low friction treatment by applying, for example, a fluorine resin. Thereby, the movement of each of the pins 10 and 11 in the elongated hole described later is performed smoothly.

【0024】熱応力吸収部7は、基台取付部6の水平方
向移動に応動して弾性変形する例えばゴムからなり、基
台取付部6の下方端面とケース8の底部内面との間に接
着剤等によって介装されている。これにより、台座2お
よび基台5に発生する熱応力が吸収される。
The thermal stress absorbing portion 7 is made of, for example, rubber which elastically deforms in response to the horizontal movement of the base mounting portion 6, and is bonded between the lower end surface of the base mounting portion 6 and the bottom inner surface of the case 8. It is interposed by an agent or the like. Thereby, the thermal stress generated in the pedestal 2 and the base 5 is absorbed.

【0025】ケース8は、上方に開口し熱応力吸収部7
の全体および基台取付部6の一部を収納する角形筒から
なり、台座2の保持面2aと熱応力吸収部7の下方端面
との間に接着剤等によって介装されている。これによ
り、熱応力吸収部7の全体および基台取付部6の一部が
保護される。
The case 8 is opened upward and has a thermal stress absorbing portion 7.
And a rectangular tube that accommodates a part of the base mounting portion 6 and is interposed between the holding surface 2a of the pedestal 2 and the lower end surface of the thermal stress absorbing portion 7 with an adhesive or the like. This protects the entire thermal stress absorbing section 7 and a part of the base mounting section 6.

【0026】ケース8には、基台取付部6の一直線移動
方向に延在し、かつ各ピン10,11が挿通する長孔1
2,13が設けられている。これにより、基台取付部6
の移動時に各ピン10,11が各長孔12,13の延在
方向に移動する。すなわち、基台取付部6の垂直方向移
動が規制(拘束)されるとともに、水平方向移動が許容
される。
The case 8 has a slot 1 extending in the direction of linear movement of the base mounting portion 6 and through which the pins 10 and 11 are inserted.
2 and 13 are provided. Thereby, the base mounting part 6
During the movement, the pins 10 and 11 move in the extending direction of the slots 12 and 13. That is, the vertical movement of the base mounting part 6 is restricted (restricted), and the horizontal movement is allowed.

【0027】スペーサ9は、各ピン10,11が挿通す
る二つの角形筒からなり、基台取付部6のピン取付面と
各長孔12,13の開口周縁との間に着脱自在に配設さ
れている。これにより、基台取付部6の水平一直線方向
(±Y方向)移動が規制される。また、スペーサ9を着
脱することにより、二方向(±Y方向と±Z方向)移動
規制と一方向(±Z方向)移動規制の各機構を互いに簡
単に変更することが可能である。
The spacer 9 is composed of two rectangular cylinders through which the pins 10 and 11 are inserted, and is detachably provided between the pin mounting surface of the base mounting portion 6 and the peripheral edges of the openings of the slots 12 and 13. Have been. As a result, the movement of the base mounting portion 6 in the horizontal and linear direction (± Y direction) is restricted. Further, by attaching and detaching the spacer 9, it is possible to easily change the respective mechanisms of the two-direction (± Y direction and ± Z direction) movement regulation and the one-direction (± Z direction) movement regulation.

【0028】スペーサ9の一方側開口端面とケース8の
内面間および基台取付部6のピン取付面とスペーサ9の
他方側端面間には、フッ素樹脂を塗布することにより低
摩擦処理が施されている。これにより、ケース8に対す
る基台取付部6の移動が円滑に行われる。
A low friction treatment is applied by applying a fluororesin between one open end surface of the spacer 9 and the inner surface of the case 8 and between the pin mounting surface of the base mount 6 and the other end surface of the spacer 9. ing. Thereby, movement of the base mounting part 6 with respect to the case 8 is performed smoothly.

【0029】熱応力非吸収保持機構4は、熱応力吸収保
持機構3に並列する固定用の脚部材からなり、台座2と
基台5との間に配設されている。基台5は、台座2に熱
応力保持機構3および熱応力非保持機構4を介して保持
されており、上面には光学機器等の精密機器(図示せ
ず)が載置される。
The thermal stress non-absorbing and holding mechanism 4 is composed of fixing leg members arranged in parallel with the thermal stress absorbing and holding mechanism 3, and is disposed between the pedestal 2 and the base 5. The base 5 is held on the pedestal 2 via the thermal stress holding mechanism 3 and the thermal stress non-holding mechanism 4, and precision equipment (not shown) such as optical equipment is placed on the upper surface.

【0030】このように構成された熱応力吸収保持機構
の動作につき、図3(a)および(b)を用いて説明す
る。図3(a)および(b)は本発明の第一実施形態に
係る熱応力吸収保持機構の動作を説明するために示す局
部断面図とそのA−A断面図である。同図(a)におい
て、台座2および基台5に熱歪が発生すると、線膨張係
数および断面形状の相異によって基台5が台座2に対し
変位(相対変位)する。すなわち、熱応力非吸収保持機
構4を動作固定点(原点)として基台5が±X方向に変
位する。
The operation of the thermal stress absorbing and holding mechanism configured as described above will be described with reference to FIGS. 3 (a) and 3 (b). FIGS. 3A and 3B are a local cross-sectional view and an AA cross-sectional view for explaining the operation of the thermal stress absorption holding mechanism according to the first embodiment of the present invention. In FIG. 1A, when thermal strain occurs in the pedestal 2 and the base 5, the base 5 is displaced (relatively displaced) with respect to the pedestal 2 due to a difference in linear expansion coefficient and cross-sectional shape. That is, the base 5 is displaced in the ± X direction with the thermal stress non-absorption holding mechanism 4 as the operation fixed point (origin).

【0031】このとき、スペーサ9および長孔12,1
3を挿通する各ピン10,11が+X方向に移動するた
め、基台取付部6の垂直方向(±Z方向)移動および水
平一直線方向(+Y方向)移動を規制するとともに、こ
の水平移動規制方向と直角な水平一直線方向(+X方
向)移動を許容しながら、この水平方向移動に応動して
熱応力吸収部7が弾性変形(曲げ変形)し、台座2およ
び基台5に発生する熱応力が吸収(低減)される。ま
た、各ピン10,11の断面形状が矩形であるため、基
台取付部6のピン軸線回りの回動が規制される。
At this time, the spacer 9 and the long holes 12, 1
3 moves in the + X direction, thereby restricting the vertical (± Z direction) and horizontal linear (+ Y direction) movements of the base mount 6, and restricting the horizontal movement. The thermal stress absorbing portion 7 is elastically deformed (bent deformed) in response to the horizontal movement while allowing the movement in the horizontal straight line direction (+ X direction) perpendicular to the horizontal direction, and the thermal stress generated in the base 2 and the base 5 is reduced. Absorbed (reduced). Further, since the cross-sectional shape of each of the pins 10 and 11 is rectangular, the rotation of the base mounting portion 6 around the pin axis is restricted.

【0032】一方、熱応力非吸収保持機構4を動作固定
点(原点)として基台5が−X方向に変位(相対変位)
する場合には、各ピン10,11が−X方向に移動する
ため、基台取付部6の±Z方向移動および±Y方向移動
を規制するとともに、基台取付部6の−X方向移動を許
容しながら、熱応力吸収部7が弾性変形(曲げ変形)
し、台座2および基台5に発生する熱応力が吸収され
る。
On the other hand, the base 5 is displaced in the -X direction (relative displacement) with the thermal stress non-absorption holding mechanism 4 as the operation fixed point (origin).
In this case, since the pins 10 and 11 move in the −X direction, the movement of the base mounting portion 6 in the ± Z direction and the ± Y direction is restricted, and the movement of the base mounting portion 6 in the −X direction is restricted. While allowing, the thermal stress absorbing part 7 is elastically deformed (bending deformation)
Then, the thermal stress generated in the pedestal 2 and the base 5 is absorbed.

【0033】したがって、本実施形態においては、台座
2および基台5に熱歪が発生しても、基台2の高さ方向
変位の発生を防止することができる。
Therefore, in the present embodiment, even if thermal distortion occurs in the pedestal 2 and the base 5, it is possible to prevent the base 2 from being displaced in the height direction.

【0034】次に、本発明の第二実施形態につき、図4
(a)および(b)を用いて説明する。図4(a)およ
び(b)は本発明の第二実施形態に係る熱応力吸収保持
機構の動作を説明するために示す断面図で、同図におい
て図1〜図3とはスペーサの有無のみの相異であるた
め、動作についてのみ説明し、その構成の説明について
は省略する。ずなわち、台座2および基台5に熱歪が発
生すると、線膨張係数および断面形状の相異によって基
台5が熱応力非吸収保持機構4を動作固定点(原点)と
して±X方向および±Y方向に台座2に対し変位(相対
変位)する。
Next, a second embodiment of the present invention will be described with reference to FIG.
This will be described with reference to (a) and (b). FIGS. 4A and 4B are cross-sectional views for explaining the operation of the thermal stress absorbing and holding mechanism according to the second embodiment of the present invention. In FIGS. Therefore, only the operation will be described, and the description of the configuration will be omitted. That is, when thermal strain occurs in the pedestal 2 and the base 5, the base 5 sets the thermal stress non-absorption holding mechanism 4 as an operation fixed point (origin) in the ± X direction and Displacement (relative displacement) with respect to the pedestal 2 in the ± Y direction.

【0035】このとき、第一実施形態と同様に、各ピン
10,11が±X方向に移動するため、基台取付部6の
垂直方向(±Z方向)移動を規制するとともに、±X方
向移動を許容しながら、この水平方向移動に応動して熱
応力吸収部7が弾性変形(曲げ変形)し、台座2および
基台5に発生する熱応力が吸収される。
At this time, similarly to the first embodiment, since each of the pins 10 and 11 moves in the ± X direction, the movement of the base mounting portion 6 in the vertical direction (± Z direction) is restricted, and The thermal stress absorbing portion 7 is elastically deformed (bent deformed) in response to the horizontal movement while allowing the movement, and the thermal stress generated in the pedestal 2 and the base 5 is absorbed.

【0036】また、基台取付部6とケース8との間にス
ペーサ9が介在しないため、基台取付部6の±Y方向移
動(長孔12,13の開口方向移動)を許容しながら、
この水平方向移動に応動して熱応力吸収部7が弾性変形
(曲げ変形)し、台座2および基台5に発生する熱応力
が吸収される。
Further, since the spacer 9 is not interposed between the base mounting portion 6 and the case 8, the base mounting portion 6 is allowed to move in the ± Y direction (movement in the opening direction of the elongated holes 12 and 13) while being allowed.
In response to the horizontal movement, the thermal stress absorbing portion 7 is elastically deformed (bent deformed), and the thermal stress generated in the pedestal 2 and the base 5 is absorbed.

【0037】さらに、基台取付部6とケース8との間に
スペーサ9が介在しないことは、基台5が熱応力吸収保
持機構3の回りに台座2に対して水平面内で回動するよ
うに変位(相対変位)することがあり、この場合には基
台取付部6が水平面内で垂直線(Z軸)回りに回動し、
この回動動作に応動して熱応力吸収部7が弾性変形(ね
じり変形)し、台座2および基台5に発生する熱応力が
吸収される。
Furthermore, the absence of the spacer 9 between the base mounting portion 6 and the case 8 is such that the base 5 rotates around the thermal stress absorbing and holding mechanism 3 with respect to the pedestal 2 in a horizontal plane. In this case, the base mounting part 6 rotates around a vertical line (Z axis) in a horizontal plane,
In response to this rotation, the thermal stress absorbing portion 7 is elastically deformed (torsional deformed), and the thermal stress generated in the pedestal 2 and the base 5 is absorbed.

【0038】なお、各ピン10,11の断面形状が矩形
であるため、基台取付部6のピン軸線回りの回動が規制
されることは、第一実施形態と同様である。したがっ
て、本実施形態においては、第一実施形態と同様に、台
座2および基台5に熱歪が発生しても、基台5の高さ方
向変位の発生を防止することができる。
Since the cross-sectional shape of each of the pins 10 and 11 is rectangular, the rotation of the base mount 6 around the pin axis is restricted as in the first embodiment. Therefore, in the present embodiment, similarly to the first embodiment, even if thermal distortion occurs in the pedestal 2 and the base 5, it is possible to prevent the base 5 from being displaced in the height direction.

【0039】なお、第一実施形態および第二実施形態に
おいては、各ピン10,11の断面形状が矩形である場
合について説明したが、本発明はこれに限定されず、第
三実施形態として図5に示すようにピン21,22の断
面形状を円形としても差し支えない。この場合、ピン2
1,22が長孔12の延在方向(基部取付部6の移動方
向)に並列して基部取付部6に取り付けられている。こ
れにより、基台取付部6の垂直面内での回動が規制され
る。
In the first and second embodiments, the case where the cross-sectional shape of each of the pins 10 and 11 is rectangular has been described. However, the present invention is not limited to this. As shown in FIG. 5, the cross-sectional shapes of the pins 21 and 22 may be circular. In this case, pin 2
Reference numerals 1 and 22 are attached to the base mounting portion 6 in parallel with the extending direction of the elongated hole 12 (the moving direction of the base mounting portion 6). As a result, the rotation of the base mount 6 in the vertical plane is restricted.

【0040】また、第一実施形態および第二実施形態に
おいては、熱応力吸収部7がゴムからなる場合について
説明したが、本発明はこれに限定されず、第四実施形態
として図6に示すように圧縮コイルスプリングからなる
ものでも第一実施形態および第二実施形態と同様の効果
を奏する。
In the first embodiment and the second embodiment, the case where the thermal stress absorbing portion 7 is made of rubber has been described. However, the present invention is not limited to this, and a fourth embodiment is shown in FIG. As described above, the same effects as those of the first embodiment and the second embodiment can be obtained even with a compression coil spring.

【0041】さらに、第一実施形態および第二実施形態
においては、各ピン10,11が長孔12、13の延在
方向に移動する構造である場合について説明したが、本
発明はこれに限定されず、第五実施形態として図7に示
すようにピン10,11(ピン10のみ図示)を基台取
付部6の移動方向に案内するスライド機構41をケース
8に取り付けてもよい。この場合、ピン10がスライド
機構41による案内方向に基台取付部6と共に移動し、
この移動に応動して熱応力吸収部7が弾性変形する。
Further, in the first embodiment and the second embodiment, the case where the pins 10, 11 move in the extending direction of the elongated holes 12, 13 has been described, but the present invention is not limited to this. Instead, a slide mechanism 41 that guides the pins 10 and 11 (only the pin 10 is shown) in the moving direction of the base mount 6 may be attached to the case 8 as shown in FIG. In this case, the pin 10 moves together with the base mount 6 in the guide direction of the slide mechanism 41,
In response to this movement, the thermal stress absorbing section 7 is elastically deformed.

【0042】この他、第一実施形態においては、基台取
付部5とケース8との間にピン10,11が挿通するス
ペーサ9を単に介在させる場合について説明したが、本
発明はこれに限定されず、スペーサ9を基台取付部5お
よびケース8のうちいずれか一方の部位に取り付けても
勿論よい。この場合、スペーサ9と基台取付部5間およ
びケース8とスペーサ9間のうち少なくとも一方の部位
間に例えばフッ素樹脂を塗布して低摩擦処理を施すこと
により、ケース8に対する基台取付部6の移動が円滑に
行われる。
In the first embodiment, the case where the spacer 9 through which the pins 10 and 11 are inserted is simply interposed between the base mounting portion 5 and the case 8 has been described, but the present invention is not limited to this. Instead, the spacer 9 may be attached to one of the base attachment portion 5 and the case 8. In this case, for example, a fluorine resin is applied to at least one portion between the spacer 9 and the base mounting portion 5 and between the case 8 and the spacer 9 to perform a low friction treatment, so that the base mounting portion 6 Is smoothly carried out.

【0043】[0043]

【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、機
器載置用の基台を台座に対して保持する脚部材が、垂直
方向に移動規制され水平方向に移動可能な基台取付部
と、この基台取付部の水平方向移動に応動して弾性変形
する熱応力吸収部とを有するので、台座および基台に熱
歪が発生すると、基台取付部の垂直方向移動を規制する
とともに、水平方向移動を許容しながら、この水平方向
移動に応動して熱応力吸収部が弾性変形し、台座および
基台に発生する熱応力が吸収される。
As described above, according to the present invention, the leg member for holding the base for mounting the equipment on the pedestal is restricted in the vertical direction and can be moved in the horizontal direction. And a thermal stress absorbing portion that elastically deforms in response to the horizontal movement of the base mounting portion, so that when thermal distortion occurs in the pedestal and the base, the vertical movement of the base mounting portion is restricted. In response to the horizontal movement, the thermal stress absorbing portion elastically deforms in response to the horizontal movement, thereby absorbing the thermal stress generated in the pedestal and the base.

【0044】したがって、環境温度の変化によって台座
および基台に熱歪が発生しても、基台の高さ方向変位の
発生を防止することができるから、高精度のアライメン
トを必要とするレーザ機器等の光学機器を保持する場合
に適用することができる。
Therefore, even if thermal distortion occurs in the pedestal and the pedestal due to a change in environmental temperature, it is possible to prevent the displacement of the pedestal in the height direction. This can be applied to a case where an optical device such as the above is held.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】(a)および(b)は本発明の第一実施形態に
係る熱応力吸収保持機構を示す正面図とそのA−A断面
図である。
FIGS. 1A and 1B are a front view and a cross-sectional view taken along the line AA, respectively, showing a thermal stress absorbing and holding mechanism according to a first embodiment of the present invention.

【図2】図1(b)のB−B断面図である。FIG. 2 is a sectional view taken along line BB of FIG. 1 (b).

【図3】(a)および(b)は本発明の第一実施形態に
係る熱応力吸収保持機構の動作を説明するために示す局
部断面図とそのA−A断面図である。
FIGS. 3A and 3B are a local cross-sectional view and an AA cross-sectional view for explaining the operation of the thermal stress absorption holding mechanism according to the first embodiment of the present invention.

【図4】(a)および(b)は本発明の第二実施形態に
係る熱応力吸収保持機構の動作を説明するために示す断
面図である。
FIGS. 4A and 4B are cross-sectional views illustrating an operation of a thermal stress absorption holding mechanism according to a second embodiment of the present invention.

【図5】本発明の第三実施形態に係る熱応力吸収保持機
構を示す正面図である。
FIG. 5 is a front view showing a thermal stress absorbing and holding mechanism according to a third embodiment of the present invention.

【図6】本発明の第四実施形態に係る熱応力吸収保持機
構を示す断面図である。
FIG. 6 is a cross-sectional view illustrating a thermal stress absorption holding mechanism according to a fourth embodiment of the present invention.

【図7】本発明の第五実施形態に係る熱応力吸収保持機
構を示す正面図である。
FIG. 7 is a front view showing a thermal stress absorbing and holding mechanism according to a fifth embodiment of the present invention.

【図8】(a)および(b)は従来の熱応力吸収保持機
構を示す正面図とそのA−A断面図である。
FIGS. 8A and 8B are a front view and a sectional view taken along line AA of a conventional thermal stress absorbing and holding mechanism.

【図9】従来の熱応力吸収保持機構の動作を説明するた
めに示す正面図である。
FIG. 9 is a front view for explaining the operation of the conventional thermal stress absorption holding mechanism.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 機器台 2 台座 3 熱応力吸収保持機構 5 基台 6 基台取付部 7 熱応力吸収部 8 ケース 9 スペーサ 10,11 ピン 12,13 長孔 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Device stand 2 Base 3 Thermal stress absorption holding mechanism 5 Base 6 Base mounting part 7 Thermal stress absorption part 8 Case 9 Spacer 10, 11 pin 12, 13 Slot

Claims (13)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 機器載置用の基台を台座に対して保持す
る脚部材であって、 この脚部材が、 垂直方向に移動規制され、水平方向に移動可能な基台取
付部と、 この基台取付部の水平方向移動に応動して弾性変形する
熱応力吸収部とを有することを特徴とする熱応力吸収保
持機構。
1. A leg member for holding a base for mounting equipment on a pedestal, the leg member being restricted in vertical movement and movable in a horizontal direction; A thermal stress absorbing and holding mechanism, comprising: a thermal stress absorbing portion that elastically deforms in response to the horizontal movement of the base mounting portion.
【請求項2】 前記基台取付部が一直線方向に移動可能
であることを特徴とする請求項1記載の熱応力吸収保持
機構。
2. The thermal stress absorbing and holding mechanism according to claim 1, wherein said base mounting portion is movable in a straight line direction.
【請求項3】 前記基台取付部が水平面内で移動可能で
あることを特徴とする請求項1記載の熱応力吸収保持機
構。
3. The thermal stress absorbing and holding mechanism according to claim 1, wherein the base mounting portion is movable in a horizontal plane.
【請求項4】 前記熱応力吸収部の全体および前記基台
取付部の一部を収納するケースを前記台座に配設したこ
とを特徴とする請求項1,2または3記載の熱応力吸収
保持機構。
4. The thermal stress absorption holding device according to claim 1, wherein a case for housing the entirety of the thermal stress absorbing portion and a part of the base mounting portion is arranged on the pedestal. mechanism.
【請求項5】 前記ケースに前記基台取付部の一直線移
動方向に延在する長孔を設け、この長孔を挿通するピン
を前記基台取付部に設けたことを特徴とする請求項4記
載の熱応力吸収保持機構。
5. The base mounting portion, wherein a long hole extending in the direction of linear movement of the base mounting portion is provided in the case, and a pin passing through the long hole is provided in the base mounting portion. The thermal stress absorption holding mechanism according to the above.
【請求項6】 前記基台取付部に水平方向に突出するピ
ンを設け、このピンを前記基台取付部の一直線移動方向
に案内するスライド機構を前記ケースに配設したことを
特徴とする請求項4記載の熱応力吸収保持機構。
6. The base mounting portion is provided with a pin projecting in a horizontal direction, and a slide mechanism for guiding the pin in a linear movement direction of the base mounting portion is provided in the case. Item 6. The thermal stress absorbing and retaining mechanism according to Item 4.
【請求項7】 前記基台取付部と前記ケースとの間に前
記ピンが挿通するスペーサを介在させたことを特徴とす
る請求項5または6記載の熱応力吸収保持機構。
7. The thermal stress absorbing and retaining mechanism according to claim 5, wherein a spacer through which the pin is inserted is interposed between the base mounting portion and the case.
【請求項8】 前記スペーサを前記基台取付部および前
記ケースのうちいずれか一方の部位に取り付けたことを
特徴とする請求項7記載の熱応力吸収保持機構。
8. The thermal stress absorbing and retaining mechanism according to claim 7, wherein the spacer is attached to one of the base attachment portion and the case.
【請求項9】 前記スペーサと前記基台取付部間および
前記ケースと前記スペーサ間のうち少なくとも一方の部
位間に低摩擦処理が施されている請求項7または8記載
の熱応力吸収機構。
9. The thermal stress absorbing mechanism according to claim 7, wherein a low friction treatment is performed between the spacer and the base mounting portion and between at least one of the case and the spacer.
【請求項10】 前記ピンが単一のピンからなり、この
ピンを断面矩形状のピンによって形成したことを特徴と
する請求項5〜9のうちいずれか一記載の熱応力吸収保
持機構。
10. The thermal stress absorbing / holding mechanism according to claim 5, wherein said pin comprises a single pin, and said pin is formed by a pin having a rectangular cross section.
【請求項11】 前記ピンが前記基台取付部の一直線移
動方向に並列する複数のピンからなり、これら各ピンを
断面円形状のピンによって形成したことを特徴とする請
求項5〜9のうちいずれか一記載の熱応力吸収保持機
構。
11. The apparatus according to claim 5, wherein said pins comprise a plurality of pins arranged in parallel in a direction of linear movement of said base mounting portion, and each of said pins is formed by a pin having a circular cross section. The thermal stress absorption holding mechanism according to any one of the above.
【請求項12】 前記熱応力吸収部がゴムからなること
を特徴とする請求項1〜11のうちいずれか一記載の熱
応力吸収保持機構。
12. The thermal stress absorbing and retaining mechanism according to claim 1, wherein said thermal stress absorbing portion is made of rubber.
【請求項13】 前記熱応力吸収部がスプリングからな
ることを特徴とする請求項1〜11のうちいずれか一記
載の熱応力吸収保持機構。
13. The thermal stress absorbing and retaining mechanism according to claim 1, wherein said thermal stress absorbing portion comprises a spring.
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