JP3023579B2 - 光パルス試験器 - Google Patents
光パルス試験器Info
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、複数本の光ファイバの
接続によって形成された１本のファイバ線路にレーザパ
ルス光を入射し、そのファイバ線路からの後方散乱光の
受光出力をレーザパルス入射時から所定時間測定して、
ファイバ線路の損失特性を測定する光パルス試験器に関
する。
接続によって形成された１本のファイバ線路にレーザパ
ルス光を入射し、そのファイバ線路からの後方散乱光の
受光出力をレーザパルス入射時から所定時間測定して、
ファイバ線路の損失特性を測定する光パルス試験器に関
する。
【０００２】
【従来の技術と解決しようとする課題】光通信の伝送路
として用いられるファイバ線路は、所定長の光ファイバ
の一端同士を融着して縦列に接続し、目的の伝送長とな
るように形成されている。
として用いられるファイバ線路は、所定長の光ファイバ
の一端同士を融着して縦列に接続し、目的の伝送長とな
るように形成されている。
【０００３】このファイバ線路の損失特性を測定するた
めに、従来より図６に示す構成の光パルス試験器１０が
用いられている。
めに、従来より図６に示す構成の光パルス試験器１０が
用いられている。
【０００４】光パルス試験器１０のパルス光源部１１
は、所定波長のレーザ光を出力するレーザ光源１２と、
このレーザ光源１２を所定周期でパルス駆動するパルス
発生器１３によって構成され、所定幅（例えば１μＳ）
のレーザパルス光を方向性結合器１４を介して光コネク
タ１５へ出力する。光コネクタ１５にはファイバ線路最
端の光ファイバ１1 の一端側の光コネクタ２が接続され
ており、レーザパルス光は、光コネクタ１５、２を介し
て光ファイバ１1 へ入射される。
は、所定波長のレーザ光を出力するレーザ光源１２と、
このレーザ光源１２を所定周期でパルス駆動するパルス
発生器１３によって構成され、所定幅（例えば１μＳ）
のレーザパルス光を方向性結合器１４を介して光コネク
タ１５へ出力する。光コネクタ１５にはファイバ線路最
端の光ファイバ１1 の一端側の光コネクタ２が接続され
ており、レーザパルス光は、光コネクタ１５、２を介し
て光ファイバ１1 へ入射される。
【０００５】光コネクタ１５から出射されるレーザパル
スの一部は、光コネクタ間の僅かなエアギャップによっ
て方向性結合器１４側へ反射（フレネル反射）され、受
光部１６の受光器１７で受光され、その受光信号が増幅
器１８で増幅される。一方、光ファイバ１1 に入射され
たレーザパルス光は、ファイバ内の散乱によって僅かず
つ減衰しながら後続の光ファイバ１2 、…へ進む。この
散乱光のうち、光コネクタ２側へ戻る後方散乱光は、方
向性結合器１４を経て受光器１７で受光されて、その受
光信号は増幅出力される。
スの一部は、光コネクタ間の僅かなエアギャップによっ
て方向性結合器１４側へ反射（フレネル反射）され、受
光部１６の受光器１７で受光され、その受光信号が増幅
器１８で増幅される。一方、光ファイバ１1 に入射され
たレーザパルス光は、ファイバ内の散乱によって僅かず
つ減衰しながら後続の光ファイバ１2 、…へ進む。この
散乱光のうち、光コネクタ２側へ戻る後方散乱光は、方
向性結合器１４を経て受光器１７で受光されて、その受
光信号は増幅出力される。
【０００６】後方散乱光は、レーザパルス光がファイバ
内を進むにつれて小さくなるため、受光部１６の出力信
号は、図７に示すように、レーザパルス光の出射時ｔ0
に光コネクタ部分のフレネル反射によってパルス状に増
減変化し、以後は後方散乱光の経時変化にともなって、
ファイバの種類で決まる一定の減衰率で減衰変化する。
光ファイバ間の接続点Ｐで損失がある場合には、ｔ1 時
のように後方散乱光のレベルがその損失分低下し、ｔ1
時以後の後方散乱光もこの接続部で損失を受けて受光さ
れるため、ｔ1 時以後の受光出力の変化はｔ1 時以前の
ものに対して平行にシフトしたものとなる。
内を進むにつれて小さくなるため、受光部１６の出力信
号は、図７に示すように、レーザパルス光の出射時ｔ0
に光コネクタ部分のフレネル反射によってパルス状に増
減変化し、以後は後方散乱光の経時変化にともなって、
ファイバの種類で決まる一定の減衰率で減衰変化する。
光ファイバ間の接続点Ｐで損失がある場合には、ｔ1 時
のように後方散乱光のレベルがその損失分低下し、ｔ1
時以後の後方散乱光もこの接続部で損失を受けて受光さ
れるため、ｔ1 時以後の受光出力の変化はｔ1 時以前の
ものに対して平行にシフトしたものとなる。
【０００７】この受光出力は、Ａ／Ｄ変換器１９によっ
て高速にサンプリングされつつディジタル値に変換さ
れ、処理部２０へ送られる。処理部２０は、レーザパル
スが出力されてから所定時間の間、受光データをデータ
取込手段２１によってメモリ２２へ記憶させる。表示制
御手段２３は、メモリ２２に記憶された受光データを表
示装置２４へ送出して、図７のような減衰特性を表示さ
せる。
て高速にサンプリングされつつディジタル値に変換さ
れ、処理部２０へ送られる。処理部２０は、レーザパル
スが出力されてから所定時間の間、受光データをデータ
取込手段２１によってメモリ２２へ記憶させる。表示制
御手段２３は、メモリ２２に記憶された受光データを表
示装置２４へ送出して、図７のような減衰特性を表示さ
せる。
【０００８】測定者はこの特性から、被測定ファイバ線
路の伝送損失（全体の傾き）や接続部の位置やその損失
あるいは破断等の特性を知ることができる。
路の伝送損失（全体の傾き）や接続部の位置やその損失
あるいは破断等の特性を知ることができる。
【０００９】ところが、ファイバ線路を形成する各光フ
ァイバの散乱特性は、たとえ同一規格内のものであって
もその製造ロットの違いやメーカの違いによって差が生
じる場合がある。散乱特性に差がない場合には、図７に
示したように、その接続点Ｐでの損失がｔ1 時点の変化
量として表われるが、散乱特性に差があるファイバ同士
の接続点では、その受光出力の変化量が接続点の損失と
ならない。
ァイバの散乱特性は、たとえ同一規格内のものであって
もその製造ロットの違いやメーカの違いによって差が生
じる場合がある。散乱特性に差がない場合には、図７に
示したように、その接続点Ｐでの損失がｔ1 時点の変化
量として表われるが、散乱特性に差があるファイバ同士
の接続点では、その受光出力の変化量が接続点の損失と
ならない。
【００１０】即ち、図８の（ａ）に示すように、光ファ
イバ１1 、１2 の後方散乱率がともにαで等しい場合、
光ファイバ１1 の内を接続点Ｐ方向へ進むレベルＦ1 の
光は、接続点での損失を受けてレベルＦ2 となって光フ
ァイバ１2 内へ進む。Ｆ1 の光に対する後方散乱光のレ
ベルはαＦ1 となり、Ｆ2 の光に対する後方散乱光のレ
ベルαＦ2 となるが、αＦ1 の光に比べてαＦ2 の光は
接続点で損失を受けて光ファイバ１1 側へ戻るため、そ
の受光出力も接続点の損失分に相当する量だけ低下する
ことになる。
イバ１1 、１2 の後方散乱率がともにαで等しい場合、
光ファイバ１1 の内を接続点Ｐ方向へ進むレベルＦ1 の
光は、接続点での損失を受けてレベルＦ2 となって光フ
ァイバ１2 内へ進む。Ｆ1 の光に対する後方散乱光のレ
ベルはαＦ1 となり、Ｆ2 の光に対する後方散乱光のレ
ベルαＦ2 となるが、αＦ1 の光に比べてαＦ2 の光は
接続点で損失を受けて光ファイバ１1 側へ戻るため、そ
の受光出力も接続点の損失分に相当する量だけ低下する
ことになる。
【００１１】しかし、例えば図８の（ｂ）のように、光
ファイバ１1 の後方散乱率αより大きな後方散乱率βの
光ファイバ１2 が接続されている場合には、レベルＦ2
の光に対して、αより大きなβを乗じたレベルβＦ2 の
後方散乱光が生じる。ここで、接続点の損失が、αとβ
の差に比べて非常に小さいとすると、αＦ1 よりβＦ2
の方が大となり、図７のＡに示すように、接続点におけ
る後方散乱光の受光出力が上昇変化して、減衰と逆に見
かけ上利得が生じたような特性となってしまう。特に近
年では、光ファイバの接続技術が進歩してその接続損失
が少なくなっているので、散乱特性の僅かな差によっ
て、この少ない接続損失の正確な測定が困難になってい
る。
ファイバ１1 の後方散乱率αより大きな後方散乱率βの
光ファイバ１2 が接続されている場合には、レベルＦ2
の光に対して、αより大きなβを乗じたレベルβＦ2 の
後方散乱光が生じる。ここで、接続点の損失が、αとβ
の差に比べて非常に小さいとすると、αＦ1 よりβＦ2
の方が大となり、図７のＡに示すように、接続点におけ
る後方散乱光の受光出力が上昇変化して、減衰と逆に見
かけ上利得が生じたような特性となってしまう。特に近
年では、光ファイバの接続技術が進歩してその接続損失
が少なくなっているので、散乱特性の僅かな差によっ
て、この少ない接続損失の正確な測定が困難になってい
る。
【００１２】しかし、例えば図８の（ｂ）のように、光
ファイバ１１の後方散乱率αより大きな後方散乱率βの
光ファイバ１２が接続されている場合には、レベルＦ１
の光に対して、αより大きなβを乗じたレベルβＦ２の
後方散乱光が生じる。ここで、接続点の損失が、αとβ
の差に比べて非常に小さいとすると、αＦ１よりβＦ２
の方が大となり、図７のＡに示すように、接続点におけ
る後方散乱光の受光出力が上昇変化して、減衰とは逆に
見かけ上利得が生じたような特性となってしまう。即
ち、接続点における受光出力のレベル差には、真の接続
損失の他に後方散乱率α、βの差に応じた誤差が含まれ
ることになる。特に近年では、光ファイバの接続技術が
進歩してその接続損失が少なくなっているので、散乱特
性の僅かな差によって、この少ない接続損失の正確な測
定が困難になっている。
ファイバ１１の後方散乱率αより大きな後方散乱率βの
光ファイバ１２が接続されている場合には、レベルＦ１
の光に対して、αより大きなβを乗じたレベルβＦ２の
後方散乱光が生じる。ここで、接続点の損失が、αとβ
の差に比べて非常に小さいとすると、αＦ１よりβＦ２
の方が大となり、図７のＡに示すように、接続点におけ
る後方散乱光の受光出力が上昇変化して、減衰とは逆に
見かけ上利得が生じたような特性となってしまう。即
ち、接続点における受光出力のレベル差には、真の接続
損失の他に後方散乱率α、βの差に応じた誤差が含まれ
ることになる。特に近年では、光ファイバの接続技術が
進歩してその接続損失が少なくなっているので、散乱特
性の僅かな差によって、この少ない接続損失の正確な測
定が困難になっている。
【００１３】この問題を解決するために、ファイバ線路
全体の両端からそれぞれ特性を測定し、その測定結果の
平均化によって各接続点の損失を求める方法もあるが、
数１０ｋｍあるいはそれ以上離れた位置での両端測定で
は、測定者が複数必要となるばかりでなく、両端の測定
結果を後で平均化するか、あるいは一端側の測定結果を
他端側へ伝送するための装置等が必要となり、片端測定
に比べて極めて非効率な測定になってしまう。
全体の両端からそれぞれ特性を測定し、その測定結果の
平均化によって各接続点の損失を求める方法もあるが、
数１０ｋｍあるいはそれ以上離れた位置での両端測定で
は、測定者が複数必要となるばかりでなく、両端の測定
結果を後で平均化するか、あるいは一端側の測定結果を
他端側へ伝送するための装置等が必要となり、片端測定
に比べて極めて非効率な測定になってしまう。
【００１４】本発明は、片端測定の利便性を失なうこと
なく、光ファイバの接続点の損失を正確に測定できる光
パルス試験器を提供することを目的としている。
なく、光ファイバの接続点の損失を正確に測定できる光
パルス試験器を提供することを目的としている。
【００１５】
【課題を解決するための手段】前記目的を達成するため
に、本発明の光パルス試験器は、複数本の光ファイバ
（１１、１２、…）の縦列接続によって形成されるファ
イバ線路の一端側にレーザパルス光を入射するパルス光
源部（３１）と、前記ファイバ線路からその一端側に戻
る後方散乱光のレベルを受光検出する受光部（３６）と
を有し、前記受光部の出力を前記レーザパルス光入射時
から所定時間測定することによって前記ファイバ線路の
損失特性を測定する光パルス試験器において、前記ファ
イバ線路の光ファイバ同士の接続点における後方散乱光
のレベル変化量を求める接続点変化量検出手段（４４）
と、前記接続点の前および後における後方散乱光のレベ
ルが時間経過にともなって一様変化する部分の後方散乱
率αｆ、αｂを、それぞれ求める傾き検出手段（４５）
と、前記光ファイバの接続点におけるレベル変化量Ｌ
を、該接続点の前後の後方散乱率αｆ、αｂの差によっ
て減算補正して、該接続点の真の接続損失Ｌｔを求める
接続損失検出手段（４６）とを備えている。
に、本発明の光パルス試験器は、複数本の光ファイバ
（１１、１２、…）の縦列接続によって形成されるファ
イバ線路の一端側にレーザパルス光を入射するパルス光
源部（３１）と、前記ファイバ線路からその一端側に戻
る後方散乱光のレベルを受光検出する受光部（３６）と
を有し、前記受光部の出力を前記レーザパルス光入射時
から所定時間測定することによって前記ファイバ線路の
損失特性を測定する光パルス試験器において、前記ファ
イバ線路の光ファイバ同士の接続点における後方散乱光
のレベル変化量を求める接続点変化量検出手段（４４）
と、前記接続点の前および後における後方散乱光のレベ
ルが時間経過にともなって一様変化する部分の後方散乱
率αｆ、αｂを、それぞれ求める傾き検出手段（４５）
と、前記光ファイバの接続点におけるレベル変化量Ｌ
を、該接続点の前後の後方散乱率αｆ、αｂの差によっ
て減算補正して、該接続点の真の接続損失Ｌｔを求める
接続損失検出手段（４６）とを備えている。
【００１６】
【作用】このようにしたため、本発明の光パルス試験器
では、ファイバ線路の光ファイバ接続点における後方散
乱光のレベル変化量が、その接続点の前後における後方
散乱率αｆ、αｂの差によって減算補正され、接続点の
真の接続損失Ｌｔが求められる。
では、ファイバ線路の光ファイバ接続点における後方散
乱光のレベル変化量が、その接続点の前後における後方
散乱率αｆ、αｂの差によって減算補正され、接続点の
真の接続損失Ｌｔが求められる。
【００１７】
【実施例】以下、図面に基づいて本発明の一実施例を説
明する。
明する。
【００１８】図１は、一実施例の光パルス試験器３０の
構成を示す図であり、図６の従来装置１０と同様に、パ
ルス光源部３１のレーザ光源３２をパルス発生器３３に
よって駆動し、そのレーザパルス光を方向性結合器３４
および光コネクタ３５を介してファイバ線路の最端の光
ファイバ１1 の光コネクタ２へ入射し、ファイバ線路か
らの後方散乱光を受光部３６の受光器３７で受光し、増
幅器３８によって増幅した受光信号をＡ／Ｄ変換器３９
によってディジタル値に変換して処理部４０へ送る。
構成を示す図であり、図６の従来装置１０と同様に、パ
ルス光源部３１のレーザ光源３２をパルス発生器３３に
よって駆動し、そのレーザパルス光を方向性結合器３４
および光コネクタ３５を介してファイバ線路の最端の光
ファイバ１1 の光コネクタ２へ入射し、ファイバ線路か
らの後方散乱光を受光部３６の受光器３７で受光し、増
幅器３８によって増幅した受光信号をＡ／Ｄ変換器３９
によってディジタル値に変換して処理部４０へ送る。
【００１９】マイクロコンピュータで構成された処理部
４０には、Ａ／Ｄ変換器３９からのデータに基づいてフ
ァイバ線路の特性を測定するための各手段がプログラム
化されている。
４０には、Ａ／Ｄ変換器３９からのデータに基づいてフ
ァイバ線路の特性を測定するための各手段がプログラム
化されている。
【００２０】データ取込手段４１は、パルス発生器３３
からのトリガパルスを受けてから所定の測定時間Ｔ0 の
間、受光データをアドレス順にメモリ４２へ記憶させ
る。メモリ４２は、測定時間Ｔ0 をＡ／Ｄ変換器３９の
サンプリング周期Ｔｓで除したアドレス数Ｍを有してお
り、Ａ／Ｄ変換器３９からのデータを０番地からＭ−１
番地までに記憶する。
からのトリガパルスを受けてから所定の測定時間Ｔ0 の
間、受光データをアドレス順にメモリ４２へ記憶させ
る。メモリ４２は、測定時間Ｔ0 をＡ／Ｄ変換器３９の
サンプリング周期Ｔｓで除したアドレス数Ｍを有してお
り、Ａ／Ｄ変換器３９からのデータを０番地からＭ−１
番地までに記憶する。
【００２１】接続点検出手段４３は、メモリ４２に記憶
された受光データを０番地から順に読み出し、そのデー
タが不連続的に変化しているアドレス、あるいはデータ
の変化の傾きが変化するアドレスを接続点アドレスＡｃ
として検出する。
された受光データを０番地から順に読み出し、そのデー
タが不連続的に変化しているアドレス、あるいはデータ
の変化の傾きが変化するアドレスを接続点アドレスＡｃ
として検出する。
【００２２】接続点変化量検出手段４４は、接続点アド
レスＡｃにおける受光データの変化量Ｌを検出する。ま
た、傾き検出手段４５は、接続点アドレスＡｃの前後の
受光データの直線変化部分（時間に対して一様に変化す
る部分）の傾き（後述するように後方散乱率のことであ
る）αｆ、αｂを求める。
レスＡｃにおける受光データの変化量Ｌを検出する。ま
た、傾き検出手段４５は、接続点アドレスＡｃの前後の
受光データの直線変化部分（時間に対して一様に変化す
る部分）の傾き（後述するように後方散乱率のことであ
る）αｆ、αｂを求める。
【００２３】ここで、上記受光データの傾きとは光ファ
イバの後方散乱率のことであり、ファイバによってほぼ
決まる一定の値である。また光ファイバの損失Ｓは、次
式で表されることが知られている。 Ｓ＝（Ａ／λ４）＋Ｂ＋Ｃ Ａ／λ４：レーリ散乱による損失 Ｂ：曲がり、構造欠陥による放射散乱損失 Ｃ：固有吸収損失 上式において、光通信で使用する波長（λ）の光に対し
て、光ファイバの損失はレーリ散乱による損失が支配的
となり、レーリ散乱による損失はファイバの長手方向に
一様で、ファイバの伝送損失は実際には受光データの傾
きとなって表れるので、このファイバの伝送損失からレ
ーリ散乱による損失が分かる。また、後方散乱率はレー
リ散乱に依存することが知られているから、レーリ散乱
の損失から後方散乱率を知ることができ、この後方散乱
率からレベル変化量に含まれる誤差分を知ることがで
き、真の接続損失Ｌｔを求めることができる。
イバの後方散乱率のことであり、ファイバによってほぼ
決まる一定の値である。また光ファイバの損失Ｓは、次
式で表されることが知られている。 Ｓ＝（Ａ／λ４）＋Ｂ＋Ｃ Ａ／λ４：レーリ散乱による損失 Ｂ：曲がり、構造欠陥による放射散乱損失 Ｃ：固有吸収損失 上式において、光通信で使用する波長（λ）の光に対し
て、光ファイバの損失はレーリ散乱による損失が支配的
となり、レーリ散乱による損失はファイバの長手方向に
一様で、ファイバの伝送損失は実際には受光データの傾
きとなって表れるので、このファイバの伝送損失からレ
ーリ散乱による損失が分かる。また、後方散乱率はレー
リ散乱に依存することが知られているから、レーリ散乱
の損失から後方散乱率を知ることができ、この後方散乱
率からレベル変化量に含まれる誤差分を知ることがで
き、真の接続損失Ｌｔを求めることができる。
【００２４】接続損失検出手段４６は、接続点変化量検
出手段４４によって検出された接続点における受光デー
タの変化量Ｌから、この接続点の両側における後方散乱
率αｆ、αｂの差αｂ−αｆを減じて、この接続点にお
ける真の接続損失Ｌｔを算出する。
出手段４４によって検出された接続点における受光デー
タの変化量Ｌから、この接続点の両側における後方散乱
率αｆ、αｂの差αｂ−αｆを減じて、この接続点にお
ける真の接続損失Ｌｔを算出する。
【００２５】データ書換手段４７は、接続点アドレスＡ
ｃのデータが、接続点直前のデータよりＬｔだけ低い値
となるように補正するとともに、接続点アドレス以後の
データも同一補正量で補正してメモリ４２に更新記憶す
る。
ｃのデータが、接続点直前のデータよりＬｔだけ低い値
となるように補正するとともに、接続点アドレス以後の
データも同一補正量で補正してメモリ４２に更新記憶す
る。
【００２６】なお、上記変化量Ｌの検出、後方散乱率α
ｆ、αｂの検出、接続損失Ｌｔの検出およびデータの書
換えは、接続点検出手段４３で接続点アドレスＡｃが検
出されるごとに繰り返し行われる。
ｆ、αｂの検出、接続損失Ｌｔの検出およびデータの書
換えは、接続点検出手段４３で接続点アドレスＡｃが検
出されるごとに繰り返し行われる。
【００２７】表示制御手段４８は、すべての接続点につ
いてのデータの書換えがなされると、メモリ４２に記憶
されているデータを表示装置５０へ送出して、ファイバ
線路の損失特性を表示する。
いてのデータの書換えがなされると、メモリ４２に記憶
されているデータを表示装置５０へ送出して、ファイバ
線路の損失特性を表示する。
【００２８】次に、この光パルス試験器３０の動作につ
いて説明する。
いて説明する。
【００２９】図１に示したように、光ファイバ１1 、１
2 、１3 、…によって形成されるファイバ線路にパルス
光源部３１のレーザ光源３２から所定幅（例えば１μ
Ｓ）のレーザパルスが出射された場合、図２に示すよう
にパルス状のフルネル反射光に続いて、光ファイバ１1
の後方散乱光が受光部３６で受光される。なお、フレネ
ル反射光と後方散乱光とのレベル差が大きいため、ｔ0
時から受光部３６の応答遅れによる時間Ｔｄが経過した
とき（ｔ1 時）から、受光データの取込みが開始され
る。
2 、１3 、…によって形成されるファイバ線路にパルス
光源部３１のレーザ光源３２から所定幅（例えば１μ
Ｓ）のレーザパルスが出射された場合、図２に示すよう
にパルス状のフルネル反射光に続いて、光ファイバ１1
の後方散乱光が受光部３６で受光される。なお、フレネ
ル反射光と後方散乱光とのレベル差が大きいため、ｔ0
時から受光部３６の応答遅れによる時間Ｔｄが経過した
とき（ｔ1 時）から、受光データの取込みが開始され
る。
【００３０】受光信号は、レーザパルスの進行に従って
減衰し、例えば光ファイバ１1 と光ファイバ１2 の接続
点Ｐで上昇変化し、光ファイバ１2 と光ファイバ１3 と
の接続点Ｑで下降変化する。
減衰し、例えば光ファイバ１1 と光ファイバ１2 の接続
点Ｐで上昇変化し、光ファイバ１2 と光ファイバ１3 と
の接続点Ｑで下降変化する。
【００３１】ｔ1 時から所定の測定時間Ｔ0 が経過する
までの間に、後方散乱光のＭ個の受光データがアドレス
順にメモリ４２に取込まれる。
までの間に、後方散乱光のＭ個の受光データがアドレス
順にメモリ４２に取込まれる。
【００３２】Ｍ個の受光データが記憶されると、接続点
検出手段４３は、図３の（ａ）に示すように接続点Ｐに
相当する最初の接続アドレスＡｃ1 を検出する。
検出手段４３は、図３の（ａ）に示すように接続点Ｐに
相当する最初の接続アドレスＡｃ1 を検出する。
【００３３】この接続点アドレスＡｃ１を受けた接続点
変化量検出手段４４は、アドレスＡｃ１と（Ａｃ１−
１）のレベル差Ｌ１、を求め、傾き検出手段４５は、接
続点アドレスの前後の一様変化部分の後方散乱率
αｆ１、αｂ１を求める。
変化量検出手段４４は、アドレスＡｃ１と（Ａｃ１−
１）のレベル差Ｌ１、を求め、傾き検出手段４５は、接
続点アドレスの前後の一様変化部分の後方散乱率
αｆ１、αｂ１を求める。
【００３４】接続損失検出手段４６は、Ｌ1 −（αb1−
αf1）の演算によって真の接続損失Ｌｔ1 を算出する。
αf1）の演算によって真の接続損失Ｌｔ1 を算出する。
【００３５】データ書換手段４７は、図３の（ｂ）のよ
うに、アドレスＡｃ1 のデータが（Ａｃ1 −１）のデー
タよりＬｔ1 だけ低い値となるように補正するとともに
アドレス（Ａｃ1 ＋１）以後の受光データも同一量だけ
補正して、補正前のデータの代わりにメモリ４２に記憶
する。
うに、アドレスＡｃ1 のデータが（Ａｃ1 −１）のデー
タよりＬｔ1 だけ低い値となるように補正するとともに
アドレス（Ａｃ1 ＋１）以後の受光データも同一量だけ
補正して、補正前のデータの代わりにメモリ４２に記憶
する。
【００３６】次に、接続点検出手段４３は、図４の
（ａ）に示すように、光ファイバ１2 と光ファイバ１3
の接続点Ｑに相当する接続点アドレスＡｃ2 を検出す
る。
（ａ）に示すように、光ファイバ１2 と光ファイバ１3
の接続点Ｑに相当する接続点アドレスＡｃ2 を検出す
る。
【００３７】前記同様に、アドレスＡｃ２と（Ａｃ２−
１）とのレベル変化量Ｌ２およびその前後の後方散乱率
αｆ２（＝αｂ１）、αｂ２とが検出されて、このＱ点
における真の接続損失Ｌｔ２が検出され、図４の（ｂ）
に示すようにアドレスＡｃ２のデータが（Ａｃ２−１）
のデータよりＬｔ２だけ低くなるように補正され、（Ａ
ｃ２＋１）以後のデータも同一量補正されて、補正前の
データの代わりにメモリ４２に記憶される。
１）とのレベル変化量Ｌ２およびその前後の後方散乱率
αｆ２（＝αｂ１）、αｂ２とが検出されて、このＱ点
における真の接続損失Ｌｔ２が検出され、図４の（ｂ）
に示すようにアドレスＡｃ２のデータが（Ａｃ２−１）
のデータよりＬｔ２だけ低くなるように補正され、（Ａ
ｃ２＋１）以後のデータも同一量補正されて、補正前の
データの代わりにメモリ４２に記憶される。
【００３８】以下、接続点が検出される毎に同様の処理
がなされ、すべての接続点に対する処理が終了すると、
メモリ４２内のデータが表示制御手段４８によって表示
装置５０へ送られ、表示装置５０の画面上には、図５に
示すように、ファイバ線路の特性が正しく表示される。
がなされ、すべての接続点に対する処理が終了すると、
メモリ４２内のデータが表示制御手段４８によって表示
装置５０へ送られ、表示装置５０の画面上には、図５に
示すように、ファイバ線路の特性が正しく表示される。
【００３９】表示制御手段４８は、各接続点での接続損
失Ｌ1 、Ｌ2 、…およびそのアドレスＡｃ1 、Ａｃ2 、
…を表示装置５０に送出して、画面上の目盛りでは読取
りにくい接続損失の値を各接続点に対応した位置に表示
させる。
失Ｌ1 、Ｌ2 、…およびそのアドレスＡｃ1 、Ａｃ2 、
…を表示装置５０に送出して、画面上の目盛りでは読取
りにくい接続損失の値を各接続点に対応した位置に表示
させる。
【００４０】なお、この実施例では、１回のレーザパル
スの出力によってファイバ線路の特性を測定していた
が、複数回のレーザパルス出力によって、受光データの
平均化を行なえば雑音成分を抑圧することができ、より
精度の高い測定を行なうことができる。
スの出力によってファイバ線路の特性を測定していた
が、複数回のレーザパルス出力によって、受光データの
平均化を行なえば雑音成分を抑圧することができ、より
精度の高い測定を行なうことができる。
【００４１】
【発明の効果】以上説明したように、本発明の光パルス
試験器は、光ファイバ同士の接続点における後方散乱光
の受光出力の変化量を、その接続点の前後における後方
散乱率の差によって減算補正して、接続点の真の接続損
失を求めている。
試験器は、光ファイバ同士の接続点における後方散乱光
の受光出力の変化量を、その接続点の前後における後方
散乱率の差によって減算補正して、接続点の真の接続損
失を求めている。
【００４２】このため、従来に比べて格段に精度の高い
接続損失の測定を、ファイバ線路の片端から行なうこと
ができる。
接続損失の測定を、ファイバ線路の片端から行なうこと
ができる。
【図１】本発明の一実施例の構成を示すブロック図であ
る。
る。
【図２】一実施例の光パルス試験器から出射されたレー
ザパルスに対する後方散乱光の受光出力の変化を示す図
である。
ザパルスに対する後方散乱光の受光出力の変化を示す図
である。
【図３】接続点Ｐに対する一実施例の要部の動作を説明
するための図である。
するための図である。
【図４】接続点Ｑに対する一実施例の要部の動作を説明
するための図である。
するための図である。
【図５】一実施例による最終的な測定結果を示す図であ
る。
る。
【図６】従来装置の構成を示すブロック図である。
【図７】従来装置による測定結果の一例を示す図であ
る。
る。
【図８】光ファイバ間の散乱係数の差と後方散乱光のレ
ベルとの関係を説明するための図である。
ベルとの関係を説明するための図である。
１1 、１2 、１3 光ファイバ ２ 光コネクタ ３０ 光パルス試験器 ３１ パルス光源部 ３２ レーザ光源 ３３ パルス発生器 ３４ 方向性結合器 ３５ 光コネクタ ３６ 受光部 ３７ 受光器 ４０ 処理部 ４１ データ取込手段 ４２ メモリ ４３ 接続点検出手段 ４４ 接続点変化量検出手段 ４５ 傾き検出手段 ４６ 接続損失検出手段 ４７ データ書換手段
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) G01M 11/00 - 11/02
Claims (1)
- 【請求項１】複数本の光ファイバ（１１、１２、…）の
縦列接続によって形成されるファイバ線路の一端側にレ
ーザパルス光を入射するパルス光源部（３１）と、前記
ファイバ線路からその一端側に戻る後方散乱光のレベル
を受光検出する受光部（３６）とを有し、前記受光部の
出力を前記レーザパルス光入射時から所定時間測定する
ことによって前記ファイバ線路の損失特性を測定する光
パルス試験器において、 前記ファイバ線路の光ファイバ同士の接続点における後
方散乱光のレベル変化量を求める接続点変化量検出手段
（４４）と、 前記接続点の前および後における後方散乱光のレベルが
時間経過にともなって一様変化する部分の後方散乱率α
ｆ、αｂを、それぞれ求める傾き検出手段（４５）と、 前記光ファイバの接続点におけるレベル変化量Ｌを、該
接続点の前後の後方散乱率αｆ、αｂの差によって減算
補正して、該接続点の真の接続損失Ｌｔを求める接続損
失検出手段（４６）とを備えたことを特徴とする光パル
ス試験器。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4349860A JP3023579B2 (ja) | 1992-12-02 | 1992-12-02 | 光パルス試験器 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4349860A JP3023579B2 (ja) | 1992-12-02 | 1992-12-02 | 光パルス試験器 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06174591A JPH06174591A (ja) | 1994-06-24 |
| JP3023579B2 true JP3023579B2 (ja) | 2000-03-21 |
Family
ID=18406615
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4349860A Expired - Lifetime JP3023579B2 (ja) | 1992-12-02 | 1992-12-02 | 光パルス試験器 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3023579B2 (ja) |
-
1992
- 1992-12-02 JP JP4349860A patent/JP3023579B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH06174591A (ja) | 1994-06-24 |
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