JP3020898U - Optical alignment device - Google Patents

Optical alignment device

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Abstract

(57)【要約】 【目的】 液晶アレイの検査において、アレイの各端子
と検査装置の各ピンとが適切な当接状態となることを簡
単に実現できる光学アライメント装置を提供すること。 【構成】下方に位置している液晶ディスプレイアレイに
よる各端子に対し、治具のフレームから、弾性的に下降
するピンを整列させた光学アライメント装置において、
該フレームの少なくとも2か所に、液晶ディスプレイア
レイの端子を配列している板のアライメント用マークに
対応した位置及びその近傍を貫通させるか又は透明状態
とし、当該位置に透過光によって検出できる等価マーク
を設け、かつ該等価マークの上部に、アライメント用マ
ークと等価マークとの位置が一致するか否かを判別する
為の光学装置を配置し、これによって両マークの位置の
位置によって該端子と対応する該ピンの位置を概略一致
させ、更には必要によって微調整によって双方の位置を
十分一致させることを可能とする光学アライメント装
置。
(57) [Summary] [Object] To provide an optical alignment device capable of easily realizing appropriate contact between each terminal of the array and each pin of the inspection device in the inspection of the liquid crystal array. [Arrangement] In an optical alignment device in which pins that elastically descend from a jig frame are aligned with each terminal of a liquid crystal display array located below,
An equivalent mark that can be detected by transmitted light at at least two positions of the frame, through which a position corresponding to the alignment mark of the plate on which the terminals of the liquid crystal display array are arranged and its vicinity are penetrated or made transparent. And an optical device for determining whether or not the position of the alignment mark and the position of the equivalent mark coincide with each other on the upper part of the equivalent mark, whereby the position of both marks corresponds to the terminal. An optical alignment apparatus capable of substantially matching the positions of the pins, and further finely adjusting the positions of the pins to sufficiently match each other.

Description

【考案の詳細な説明】[Detailed description of the device]

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】[Industrial applications]

本考案は、液晶ディスプレイ用のアレイの検査を行う為に、該アレイの端子に 対し、測定系のピンを光学的に検出しながら適切な位置において当接する為の光 学アライメント装置に関するものである。 The present invention relates to an optical alignment apparatus for inspecting an array for a liquid crystal display so as to abut a terminal of the array at an appropriate position while optically detecting a pin of a measurement system. .

【0002】[0002]

【従来の技術】[Prior art]

光学アライメント装置は、液晶アレイからの各端子に対応して、測定の為にピ ンを、1対1に対応して当接することが要求されているが、従来採用されている 所謂ニードル(needle)タイプでは、図1(a)に示すように、斜方向に 伸張し、下端部において折れ曲がった形状の針型の各ピン11の先端を、図1( b)に示すように、前後方向の位置が、順次ずれるように配置し、各端子21と 各ピン11の先端とが当接するように調整していた。 The optical alignment device is required to abut the pins in a one-to-one correspondence with each terminal from the liquid crystal array in order to make a measurement. ) Type, as shown in Fig. 1 (a), the tip of each needle-shaped pin 11 that extends obliquely and is bent at the lower end is moved forward and backward as shown in Fig. 1 (b). The positions are arranged so as to be sequentially shifted, and the terminals 21 and the tips of the pins 11 are adjusted to come into contact with each other.

【0003】 当該方式では、上方からニードルタイプのピン11を見ながら、端子と各ピン 11とが完全に当接し合う位置を確かめながら調整する訳であるが、実際の端子 の幅は40〜60μmであり、しかも各端子ごとのピッチは100〜160μm であることから、このような方式において正確な当接を実現するには、相当な名 人芸が要求されかつ技術的に困難であった。In this method, the needle-type pin 11 is viewed from above, and adjustment is performed while confirming the position where the terminal and each pin 11 are completely abutted, but the actual width of the terminal is 40 to 60 μm. In addition, since the pitch of each terminal is 100 to 160 μm, a considerable skill is required and technically difficult to achieve accurate contact in such a system.

【0004】 他方、治具1のフレーム中に図2(a)に示すように、細孔を設け、かつ弾性 バネを介してピン11を加工させ、かつ図2(b)に示すように該細孔を整列さ せ、これによって各液晶アレイの端子21に当接させる方式が近年採用されてい る。On the other hand, as shown in FIG. 2 (a), pores are provided in the frame of the jig 1, and the pin 11 is processed through an elastic spring, and as shown in FIG. 2 (b), In recent years, a method has been adopted in which pores are aligned and brought into contact with the terminals 21 of each liquid crystal array.

【0005】 図2(a)、(b)に示すスプリングタイプ方式では、図1(a)、(b)に 示すようなニードルタイプの場合と異なり、各ピン11が治具1のフレームから 突出していないため、該フレームの上方から、ピン11と端子とが当接している か否かを直接目視することができない。 このため、前記スプリングタイプ方式においては、各ピン11と各端子21と の当接関係を確認する手法が確立されていない。In the spring type method shown in FIGS. 2 (a) and 2 (b), unlike the needle type shown in FIGS. 1 (a) and 1 (b), each pin 11 protrudes from the frame of the jig 1. Therefore, it is not possible to directly visually check from above the frame whether or not the pin 11 and the terminal are in contact with each other. For this reason, in the spring type method, a method for confirming the contact relationship between each pin 11 and each terminal 21 has not been established.

【0006】 現段階において想定される方式としては、精々図3に示すような液晶アレイ及 びその端子を配置した板2(実際にはガラス板が多い)をXYθテーブル3(縦 方向及び横方向及び回転方向を自在に調節できるテーブル)上に載置し、かつ各 ピン11が端子に当接しているかを側部に設置した光学装置4による映像を目視 しながら微調整を行い、調節した位置を光学装置を介して読み取り、その時のX Yθテーブル3におけるX、Y、θの値をXYθテーブル3の調節側に記憶させ ておき、以後の検査にも、当該記憶値に基づいて、ピン11と端子との当接を実 現させることである。As a system assumed at the present stage, a plate 2 (actually a glass plate in many cases) on which a liquid crystal array and its terminals as shown in FIG. 3 are arranged is used as an XYθ table 3 (vertical and horizontal directions). It is placed on a table whose rotation direction can be adjusted freely, and whether or not each pin 11 is in contact with the terminal is fine-adjusted while visually observing the image by the optical device 4 installed on the side, and the adjusted position is adjusted. The values are read through the optical device, and the X, Y, and θ values in the XYθ table 3 at that time are stored in the adjustment side of the XYθ table 3, and the pins 11 and The purpose is to achieve contact with the terminals.

【0007】 しかしながら、このような方式では、最初から映像を目視することによって、 正確な当接を行なうように調節することが必要となるが、このような作業は極め て煩雑である。However, in such a method, it is necessary to make an adjustment so as to make an accurate contact by visually observing the image from the beginning, but such an operation is extremely complicated.

【0008】[0008]

【考案が解決を必要とする課題】[Problems that the device needs to solve]

本考案は、前記の如き従来技術における欠点を克服し、スプリングタイプのピ ンを使用する場合において、比較的簡単な作業によって、液晶アレイの端子と、 検出装置のピンとの当接関係を実現できる光学アライメント装置を提供すること を目的としている。 The present invention overcomes the above-mentioned drawbacks of the prior art, and when a spring-type pin is used, the contact relationship between the liquid crystal array terminal and the detection device pin can be realized by a relatively simple operation. It is intended to provide an optical alignment device.

【0009】[0009]

【課題を解決するための手段】[Means for Solving the Problems]

上記の如き課題を解決する為、本考案の構成は、下方に位置している液晶ディ スプレイアレイによる各端子に対し、治具のフレームから、弾性的に下降するピ ンを整列させた光学アライメント装置において、該フレームの少なくとも2か所 に、液晶ディスプレイアレイの端子を配列している板のアライメント用マークに 対応した位置及びその近傍を貫通させるか又は透明状態とし、当該位置に透過光 によって検出できる等価マークを設け、かつ該等価マークの上部に、アライメン ト用マークと等価マークとの位置が一致するか否かを判別する為の光学装置を配 置したことを特徴とする光学アライメント装置からなる。 In order to solve the above problems, the structure of the present invention is an optical alignment in which pins that are elastically descended from the jig frame are aligned with each terminal of the liquid crystal display array located below. In the device, at least at two positions of the frame, the position corresponding to the alignment mark of the plate on which the terminals of the liquid crystal display array are arranged and its vicinity are penetrated or made transparent, and the position is detected by the transmitted light. From an optical alignment device characterized in that a possible equivalent mark is provided, and an optical device for determining whether or not the position of the alignment mark and the equivalent mark coincide with each other is provided above the equivalent mark. Become.

【0010】[0010]

【考案の作用】[Function of the invention]

図4に、本考案の装置及びその下部に位置している液晶アレイ及びその端子を 配置した板2並びにこれを載置するXYθテーブル3の状況を示す。 FIG. 4 shows a state of the device of the present invention, the plate 2 on which the liquid crystal array and its terminals located below the device, and the XYθ table 3 on which the device is mounted are placed.

【0011】 図4に示すように、本考案においては、治具1を構成するフレームにおいて、 液晶アレイ及びその端子を配置した板2のアライメント用マーク22(通常2個 設けられている)に対応した位置及びその近傍を貫通させるか又は、当該位置及 びその近傍を透明な状態とし、貫通部分又は透明部分を透過する光によって検出 できる少なくとも2個の等価マーク12を前記貫通部分又は透明部分において設 けており、フレームの等価マーク12と、アライメント用マーク22の位置が一 致した場合には、既に液晶アレイの各端子と検査装置の各ピン11の位置は概略 一致しており、両者は略当接関係にあることになる。As shown in FIG. 4, in the present invention, in the frame constituting the jig 1, it corresponds to the alignment mark 22 (usually provided two) on the plate 2 on which the liquid crystal array and its terminals are arranged. Or the vicinity thereof is made transparent, or at least two equivalent marks 12 which can be detected by light passing through the penetrating portion or the transparent portion are provided in the penetrating portion or the transparent portion. If the position of the equivalence mark 12 on the frame and the position of the alignment mark 22 are the same, the positions of the terminals of the liquid crystal array and the pins 11 of the inspection device have already substantially coincided with each other, and both are substantially the same. It is in abutting relationship.

【0012】 そして双方のマークが一致するように調節する方法は、 (1)等価マークの上部に設けられているカメラ等の光学装置4において、ア ライメント用マーク22及び等価マーク12の双方を透過した光線の入光量が最 大値又は最小値となるように通常のXYθテーブルの位置を調節する、 か又は、The method of adjusting both marks so that they coincide with each other is as follows. (1) In the optical device 4 such as a camera provided above the equivalent mark, both the alignment mark 22 and the equivalent mark 12 are transmitted. Adjust the position of the normal XYθ table so that the amount of incident light is the maximum or minimum value, or

【0013】 (2)最初に光学装置4において、等価マーク12の座標位置を確認し、いっ たん等価マーク12を消去した後、板2をXYθテーブル上に載せ、アライメン ト用マークが光学装置4の視野内に入るよう調節した後、更にアライメント用マ ーク12の中心位置が、前記等価マークの座標位置と一致するように、XYθテ ーブルを調節すること によって実現することができる。(2) First, in the optical device 4, after confirming the coordinate position of the equivalent mark 12 and erasing the equivalent mark 12, the plate 2 is placed on the XYθ table, and the alignment mark is set to the optical device 4. After adjusting so that the center position of the alignment mark 12 coincides with the coordinate position of the equivalent mark, it can be realized by adjusting the XYθ table.

【0014】 前記(1)のプロセスについて具体的に説明するに、通常前記板2のアライメ ント用マーク22は、クロム(Cr)等の金属蒸着膜によって、図5(a)に示 すように通常十字形を呈しているが、図5(b)に示すように、等価マーク12 を同一形状の陰影状態として形成することによって、両十字形の位置が一致した 場合に、十字形の金属蒸着膜の反射による透過入光量は最小値となることから、 両マークの位置の一値を検出することができる。To explain the process (1) in detail, the alignment mark 22 of the plate 2 is usually made of a metal vapor deposition film of chromium (Cr) or the like as shown in FIG. 5 (a). Normally, it has a cross shape. However, as shown in FIG. 5B, by forming the equivalent marks 12 in the shaded state of the same shape, when the positions of both cross shapes are matched, the metal deposition of the cross shape is performed. Since the amount of light transmitted and transmitted by the reflection of the film becomes the minimum value, it is possible to detect one value of the positions of both marks.

【0015】 これに対し、図5(c)に示すように、等価マーク12を微小円孔とした場合 には、等価マーク12を介して入射する金属蒸着膜からの反射による透過入射光 量は、両マークが一致した場合に最大値となることから、入光量の最大値となる 位置を求めることによって、両マークの位置の一致を検出することができる。On the other hand, as shown in FIG. 5C, when the equivalent mark 12 is a minute circular hole, the amount of transmitted incident light due to reflection from the metal vapor deposition film incident through the equivalent mark 12 is Since the maximum value is obtained when both marks match, the matching of the positions of both marks can be detected by obtaining the position where the maximum value of the amount of incident light is obtained.

【0016】 前記(2)のプロセスについて説明するに、治具1のフレームに座標軸を設け た場合には、必然的に等価マークの中心位置の座標が光学装置4によって確認さ れ、その後板2におけるアライメント用マーク22の中心位置が、当該等価マー クの中心位置と一致するようにXYθテーブルを調節した場合には、両マークの 位置が一致することになる。To explain the process of (2), when the frame of the jig 1 is provided with coordinate axes, the coordinate of the center position of the equivalent mark is inevitably confirmed by the optical device 4, and then the plate 2 is used. If the XYθ table is adjusted so that the center position of the alignment mark 22 in FIG. 2 matches the center position of the equivalent mark, the positions of both marks will match.

【0017】 このように、前記(1)又は(2)の方法によって、両マークの位置が一致し た場合には、板上の各端子及び治具1のフレームにおける各ピン11の位置は概 略一致している。As described above, when the positions of both marks match by the method of (1) or (2), the position of each terminal on the plate and each pin 11 in the frame of the jig 1 is approximately. It almost agrees.

【0018】 しかしながら、実際には両マークの一致だけによって、ピン11と端子とが最 も良好な当接状態にあるとは限らない。However, actually, the pin 11 and the terminal are not always in the best contact state only by matching the marks.

【0019】 即ち、実際には、前記双方のマークの位置を一致させた後、実際に各ピン11 を各端子21と接触させ、双方の位置を顕微鏡で観察しながら、位置のずれ量を 検知し、これを修正することが行なわれている。That is, actually, after the positions of both marks are matched, each pin 11 is actually brought into contact with each terminal 21, and the position shift amount is detected while observing both positions with a microscope. However, this is being corrected.

【0020】[0020]

【実施例1】 実施例1では、両マークの位置の一致を検出為の光学計の光量を光電変換を行 い、その電気出力をコンピュータ5にインプットしている構成を示す。First Embodiment In the first embodiment, a configuration is shown in which the light quantity of an optical meter for detecting the coincidence of the positions of both marks is photoelectrically converted and the electric output thereof is input to the computer 5.

【0021】 これによってコンピュータ5は、前記(1)のプロセスにおいて、光電変換に よる出力に基づいて、入射する光量が最大値又は最小値となる部位を自動的に察 知し、これによって正確に両マークの一致する位置を検知することができるだけ でなく、前記(2)のプロセスにおいて、等価マークの中心位置を自動的に学習 ・記憶し、その後のアライメント用マークの中心位置とが一致しているか否かの 判断をも自動的に行なうことができる。As a result, in the process of (1), the computer 5 automatically detects the portion where the incident light amount has the maximum value or the minimum value based on the output by photoelectric conversion, and thereby accurately Not only is it possible to detect the position where both marks match, but in the process of (2) above, the center position of the equivalent mark is automatically learned and memorized, and the center position of the alignment mark after that is matched. Whether or not there is also can be automatically determined.

【0022】 しかのみならず、両マークの一致が得られた後、更に顕微鏡の観察によって、 各ピン11と各端子21とが最も適切な当接状態となる為の微調整を行なう際、 その微調整量を学習・記憶し、効率的に正しい位置にピンを当節する制御を行な うことも可能となる。In addition to the above, when the marks are coincident with each other, when fine adjustment is performed by further observing with a microscope so that each pin 11 and each terminal 21 are in the most appropriate contact state, It is also possible to learn and memorize the amount of fine adjustment, and to efficiently control the pin to the correct position.

【0023】[0023]

【実施例2】 実施例2においては、治具1のフレームにおいて、液晶ディスプレイアレイ及 びその端子を配列している板のアライメント用マーク22に対応した位置及びそ の近傍を貫通した状態とし、該貫通孔に嵌合できる図7に示すような筒形容器6 を用いている。Second Embodiment In the second embodiment, in the frame of the jig 1, the position corresponding to the alignment mark 22 of the plate on which the liquid crystal display array and its terminals are arranged and the vicinity thereof are penetrated, and A cylindrical container 6 as shown in FIG. 7 that can be fitted in the through hole is used.

【0024】 即ち、該筒形容器6においては、該孔に嵌合された場合、フレームによって支 える為の鍔61を設け、かつその底部には、図5(c)に示すような等価マーク 12が設けられている。That is, the tubular container 6 is provided with a brim 61 for supporting by the frame when fitted in the hole, and an equivalent mark as shown in FIG. 12 are provided.

【0025】 このような筒形容器6を用いることによって、色々な治具1に対し、1個の筒 形容器6によって、各端子と各ピン11とを概略当接できる位置を模擬すること が出来るだけでなく、前記(2)のプロセスにおいて、いったん等価マークを除 去する際、単に筒形容器6を外すことによって、これを実現することが可能とな る。By using such a cylindrical container 6, it is possible to simulate a position where each terminal and each pin 11 can be substantially brought into contact with various jigs 1 by one cylindrical container 6. Not only is this possible, but in the process of (2) above, this can be achieved by simply removing the tubular container 6 when the equivalence mark is once removed.

【0026】[0026]

【考案の効果】[Effect of device]

このように、本考案においては、単に検査装置側の治具のフレームにおいて、 アライメント用マークに対応した位置及びその近傍を貫通させるか又は透明状態 として、透過光を介して検出することができる等価マークを設けるという比較的 簡単な構成によって、各端子と各ピンとの当接する位置を概略検知し、しかも必 要に応じてその後の正確な当接する位置の調節が可能となり、前記正確な当接を 効率的に行なうことができるので、本考案は、液晶アライメントの検査において 、極めて有意義である。 As described above, in the present invention, the position corresponding to the alignment mark and its vicinity can be penetrated through the frame of the jig on the inspection device side or can be detected as a transparent state through the transmitted light. With the relatively simple structure of providing marks, the contact position of each terminal and each pin can be roughly detected, and if necessary, the correct contact position can be adjusted thereafter. Since the present invention can be efficiently performed, the present invention is extremely significant in the inspection of liquid crystal alignment.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】(a)、(b)従来のニードルタイプによるピ
ンの配列状態を示す側面図及び上面図
1A and 1B are a side view and a top view showing an arrangement state of pins according to a conventional needle type.

【図2】(a)、(b)従来のフレームに各配列された
孔から、ピンを弾性的に降下するタイプによるピンの状
態を示す側面図及び上面図
2A and 2B are a side view and a top view showing a state of a pin according to a type in which a pin is elastically lowered from holes arranged in a conventional frame.

【図3】図2によるタイプのピンを用いた場合の治具と
液晶アレイ及びその端子を配列した板、及び該板を載置
しているXYθテーブルの位置関係を示す側面図
FIG. 3 is a side view showing a positional relationship between a jig, a liquid crystal array and a plate on which terminals of the liquid crystal array are arranged, and an XYθ table on which the plate is placed, when a pin of the type shown in FIG. 2 is used.

【図4】本考案の光学アライメント装置を用いて、端子
とピンとの位置合わせを行う場合の状態を示す側面図
FIG. 4 is a side view showing a state where terminals and pins are aligned using the optical alignment device of the present invention.

【図5】(a)、(b)、(c)アライメント用マーク
が付されている液晶ディスプレイアレイを配設した板及
びアライメント用マークに対応した等価マークの形状を
示す上面図
5A, 5B, and 5C are top views showing the shape of a plate on which a liquid crystal display array having alignment marks is arranged and the equivalent marks corresponding to the alignment marks.

【図6】実施例1の概略的構成を示す側面図FIG. 6 is a side view showing a schematic configuration of the first embodiment.

【図7】実施例2において使用する筒形容器の状態を示
す斜視図
FIG. 7 is a perspective view showing a state of a cylindrical container used in Example 2.

【符合の説明】[Description of sign]

1:治具 10:貫通又は透明な部位 11:ピン 111:スプリング 12:等価マーク 2:液晶アレイ及びその端子を配置した板 21:液晶アレイの端子 22:アライメント用マーク 3:XYθテーブル 4:光学装置 5:コンピュータ 6:筒形容器 61:鍔 1: Jig 10: Through or transparent part 11: Pin 111: Spring 12: Equivalent mark 2: Plate on which liquid crystal array and its terminals are arranged 21: Liquid crystal array terminal 22: Alignment mark 3: XYθ table 4: Optical Device 5: Computer 6: Cylindrical container 61: Tsuba

Claims (3)

【実用新案登録請求の範囲】[Scope of utility model registration request] 【請求項1】 下方に位置している液晶ディスプレイア
レイによる各端子に対し、治具のフレームから、弾性的
に下降するピンを整列させた光学アライメント装置にお
いて、該フレームの少なくとも2か所に、液晶ディスプ
レイアレイの端子を配列している板のアライメント用マ
ークに対応した位置及びその近傍を貫通させるか又は透
明状態とし、当該位置に透過光によって検出できる等価
マークを設け、かつ該等価マークの上部に、アライメン
ト用マークと等価マークとの位置が一致するか否かを判
別する為の光学装置を配置したことを特徴とする光学ア
ライメント装置。
1. An optical alignment apparatus in which pins that elastically descend from a frame of a jig are aligned with respective terminals of a liquid crystal display array located below, in at least two positions of the frame, A position corresponding to the alignment mark of the plate on which the terminals of the liquid crystal display array are arranged and its vicinity are penetrated or made transparent, and an equivalent mark which can be detected by transmitted light is provided at the position, and the upper part of the equivalent mark. An optical alignment device, in which an optical device for determining whether or not the position of the alignment mark and the position of the equivalent mark coincide with each other is arranged.
【請求項2】 光学装置にコンピュータを連動させたこ
とによる請求項1記載の光学アライメント装置。
2. The optical alignment device according to claim 1, wherein a computer is linked to the optical device.
【請求項3】 フレームに、貫通している孔に嵌合し、
上部に鍔を有し、底部の中心部に等価マークを有する筒
形容器を用いることを特徴とする請求項1記載の光学ア
ライメント用装置。
3. The frame is fitted into a hole penetrating therethrough,
The optical alignment apparatus according to claim 1, wherein a cylindrical container having a collar at the top and an equivalent mark at the center of the bottom is used.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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