JP3010801B2 - 情報記録再生装置 - Google Patents
情報記録再生装置Info
- Publication number
- JP3010801B2 JP3010801B2 JP3179494A JP17949491A JP3010801B2 JP 3010801 B2 JP3010801 B2 JP 3010801B2 JP 3179494 A JP3179494 A JP 3179494A JP 17949491 A JP17949491 A JP 17949491A JP 3010801 B2 JP3010801 B2 JP 3010801B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light beam
- photoelectric conversion
- light
- conversion element
- reflecting
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Landscapes
- Optical Recording Or Reproduction (AREA)
- Optical Head (AREA)
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、放射光源を記録担体上
に照射して情報信号の記録再生を行う情報記録再生装置
のサーボ信号の安定性を向上させる方式に関する。情報
記録再生装置の中には、従来から知られている光ディス
クなどがあり、本発明は特にこの光ディスクに適用する
のに最適である。
に照射して情報信号の記録再生を行う情報記録再生装置
のサーボ信号の安定性を向上させる方式に関する。情報
記録再生装置の中には、従来から知られている光ディス
クなどがあり、本発明は特にこの光ディスクに適用する
のに最適である。
【０００２】
【従来の技術】記録再生に放射光を用いる時には、放射
光が散乱、屈折、反射等により発生する迷光が必然的に
つきまとう。例えば光ディスクでは、光分岐手段として
ビームスプリッター等の光学素子を用いるが、このビー
ムスプリッターの端面反射により迷光が発生する。この
迷光が放射線検出のための光電変換手段に入射すると電
気出力にバイアスが生じて信号特性の劣化を招く。この
ため従来この光によるバイアス出力を光電変換素子等の
調整で補正して信号品質を保とうとの方法がとられてき
た。以下従来一般的に用いられてきた方法を図面に基づ
いて説明を行う。
光が散乱、屈折、反射等により発生する迷光が必然的に
つきまとう。例えば光ディスクでは、光分岐手段として
ビームスプリッター等の光学素子を用いるが、このビー
ムスプリッターの端面反射により迷光が発生する。この
迷光が放射線検出のための光電変換手段に入射すると電
気出力にバイアスが生じて信号特性の劣化を招く。この
ため従来この光によるバイアス出力を光電変換素子等の
調整で補正して信号品質を保とうとの方法がとられてき
た。以下従来一般的に用いられてきた方法を図面に基づ
いて説明を行う。
【０００３】図８は、従来用いられてきた迷光等のバイ
アス光の補正を行う為の方法を模式的に示したものであ
る。ここでは分かりやすくするために光ディスク装置の
例で説明を行う。半導体レーザ等の放射光源４１を出射
した光ビームは、ビームスプリッター４２を透過して対
物レンズ４３で光ディスク４０上に集光され、情報信号
で変調され反射される。光ディスク４０で反射された信
号光ビーム４６はビームスプリッター４２で反射され複
数の光電変換手段４４、４５に入射する。複数の光電変
換素子を用いて光ディスクの面振れによる焦点ずれや偏
芯によるオフトラックの補正に用いるサーボ動作及びサ
ーボ誤差信号を得る方式については多くの公知の方法が
ありここでは説明を省略する。複数の光電変換手段は基
本的に２個の光電変換素子Ｉ ４４、光電変換素子II ４
５で説明すればあと数が増えても動作は同じであるため
以下２個の光電変換素子４４、４５の場合について説明
を行う。ビームスプリッター４２の端面Ｉ ４７、端面I
I ４８のそれぞれより反射される迷光Ｉ ４９、迷光II
５０は、一般的に反射端面の精度不足や光軸調整精度不
足のため２個の光電変換素子の一方に偏って入射し、極
端な場合例えば光電変換素子Ｉ ４４に多く入射し光電
変換素子II ４５に少なく入射する。この時光電変換素
子Ｉ４４及び光電変換素子II ４５に入射する信号光ビ
ーム４６が等しくても光電変換素子Ｉ ４４と光電変換
素子II ４５より流れ出る光電流は異なるレベルとな
る。光ディスクのサーボでは、この光電流の差５１を等
しくするようにサーボ動作を行うのでサーボ動作にオフ
セットが生じ誤動作の原因となる。この為従来かかる誤
動作を補正するために光電変換素子Ｉ ４４と光電変換
素子II４５の出力が等しくなるように調整を行い迷光に
よるオフセットの発生の補償を行っていた。これにより
情報担体に反射率一定の場合、光電流の差を補正して正
常なサーボ動作を行うことができる。記録再生のために
放射光出力を変化させる場合にはサーボループのループ
ゲインを一定とするために、光電変換素子に入射する総
合計の光量で光電流の差５１を一定とするＡＧＣ（AUTO
GAIN CONTOROLE）を行い正常なサーボ動作をさせる
ことができる。これらのサーボ技術はほぼ確立されたも
のであり詳細な説明は省略する。
アス光の補正を行う為の方法を模式的に示したものであ
る。ここでは分かりやすくするために光ディスク装置の
例で説明を行う。半導体レーザ等の放射光源４１を出射
した光ビームは、ビームスプリッター４２を透過して対
物レンズ４３で光ディスク４０上に集光され、情報信号
で変調され反射される。光ディスク４０で反射された信
号光ビーム４６はビームスプリッター４２で反射され複
数の光電変換手段４４、４５に入射する。複数の光電変
換素子を用いて光ディスクの面振れによる焦点ずれや偏
芯によるオフトラックの補正に用いるサーボ動作及びサ
ーボ誤差信号を得る方式については多くの公知の方法が
ありここでは説明を省略する。複数の光電変換手段は基
本的に２個の光電変換素子Ｉ ４４、光電変換素子II ４
５で説明すればあと数が増えても動作は同じであるため
以下２個の光電変換素子４４、４５の場合について説明
を行う。ビームスプリッター４２の端面Ｉ ４７、端面I
I ４８のそれぞれより反射される迷光Ｉ ４９、迷光II
５０は、一般的に反射端面の精度不足や光軸調整精度不
足のため２個の光電変換素子の一方に偏って入射し、極
端な場合例えば光電変換素子Ｉ ４４に多く入射し光電
変換素子II ４５に少なく入射する。この時光電変換素
子Ｉ４４及び光電変換素子II ４５に入射する信号光ビ
ーム４６が等しくても光電変換素子Ｉ ４４と光電変換
素子II ４５より流れ出る光電流は異なるレベルとな
る。光ディスクのサーボでは、この光電流の差５１を等
しくするようにサーボ動作を行うのでサーボ動作にオフ
セットが生じ誤動作の原因となる。この為従来かかる誤
動作を補正するために光電変換素子Ｉ ４４と光電変換
素子II４５の出力が等しくなるように調整を行い迷光に
よるオフセットの発生の補償を行っていた。これにより
情報担体に反射率一定の場合、光電流の差を補正して正
常なサーボ動作を行うことができる。記録再生のために
放射光出力を変化させる場合にはサーボループのループ
ゲインを一定とするために、光電変換素子に入射する総
合計の光量で光電流の差５１を一定とするＡＧＣ（AUTO
GAIN CONTOROLE）を行い正常なサーボ動作をさせる
ことができる。これらのサーボ技術はほぼ確立されたも
のであり詳細な説明は省略する。
【０００４】図９は図８の光電変換素子Ｉ、II上の光ビ
ームの状態を具体的に示したものである。光電変換素子
Ｉ ４４、光電変換素子II ４５の差動出力を零と調整す
るために信号ビーム４６は迷光のはいる光電変換素子の
逆方向にオフセットされている。この為例えば図９の差
動出力から得られるトラッキング誤差信号のレベルは減
少する。また信号光ビーム４６強度と迷光Ｉ４９、迷光
II ５０強度の変化の割合が異なるとサーボ誤差が増大
する。この原理は、焦点誤差を補正するフォーカシング
サーボの時も同様であるが、同一原理であるのでフォー
カシングサーボについての詳細な説明は省略する。
ームの状態を具体的に示したものである。光電変換素子
Ｉ ４４、光電変換素子II ４５の差動出力を零と調整す
るために信号ビーム４６は迷光のはいる光電変換素子の
逆方向にオフセットされている。この為例えば図９の差
動出力から得られるトラッキング誤差信号のレベルは減
少する。また信号光ビーム４６強度と迷光Ｉ４９、迷光
II ５０強度の変化の割合が異なるとサーボ誤差が増大
する。この原理は、焦点誤差を補正するフォーカシング
サーボの時も同様であるが、同一原理であるのでフォー
カシングサーボについての詳細な説明は省略する。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】従来の方法では、情報
担体の反射率や光ビーム経路の透過率が変化したとき光
電変換素子上の信号光ビーム４６のみの強度が変化し
て、迷光Ｉ ４９、迷光II５０のレベルは変化しないた
め光電変換素子の調整による補正が補正過多もしくは補
正不足となり、結果としてサーボ動作に誤動作が生じ
る。
担体の反射率や光ビーム経路の透過率が変化したとき光
電変換素子上の信号光ビーム４６のみの強度が変化し
て、迷光Ｉ ４９、迷光II５０のレベルは変化しないた
め光電変換素子の調整による補正が補正過多もしくは補
正不足となり、結果としてサーボ動作に誤動作が生じ
る。
【０００６】本発明は上記問題点に鑑み、誤動作のない
安定したサーボ動作を行える情報記録再生装置を提供す
ることを目的とする。
安定したサーボ動作を行える情報記録再生装置を提供す
ることを目的とする。
【０００７】
【課題を解決するための手段】本発明では、従来のよう
に迷光によるオフセットを光電変換素子の調整による補
正をするのではなく、光学的もしくは同等手段により補
正する。即ち迷光の発生する場所と同じ点にある光ビー
ムの一部を積極的に光電変換素子に入射させ、それぞれ
の光電変換素子にほぼ同じレベルの光が入射しているよ
うにするか、あるいは同じレベルの光を別の光電手段で
光電流に変換して光電変換素子出力の補正を行う。本発
明の別の方法では、光電変換素子出力が一定のレベルと
なるようにして電気的なオフセットの補正を行う。
に迷光によるオフセットを光電変換素子の調整による補
正をするのではなく、光学的もしくは同等手段により補
正する。即ち迷光の発生する場所と同じ点にある光ビー
ムの一部を積極的に光電変換素子に入射させ、それぞれ
の光電変換素子にほぼ同じレベルの光が入射しているよ
うにするか、あるいは同じレベルの光を別の光電手段で
光電流に変換して光電変換素子出力の補正を行う。本発
明の別の方法では、光電変換素子出力が一定のレベルと
なるようにして電気的なオフセットの補正を行う。
【０００８】
【作用】上記した構成により情報担体の反射率変化や光
ビーム経路の透過率が変化して光電変換素子上の信号光
ビームの強度が変化しても、迷光レベルがあらかじめ変
化しないように迷光と同じレベルの光ビームを光電変換
素子に入射させてあるか、もしくは光電流に変換して光
電流の差が零となるように補正してあるので、サーボ動
作に誤動作は生じない。
ビーム経路の透過率が変化して光電変換素子上の信号光
ビームの強度が変化しても、迷光レベルがあらかじめ変
化しないように迷光と同じレベルの光ビームを光電変換
素子に入射させてあるか、もしくは光電流に変換して光
電流の差が零となるように補正してあるので、サーボ動
作に誤動作は生じない。
【０００９】
【実施例】以下本発明の実施例を図面に基づき説明す
る。
る。
【００１０】図１は、本発明の第一の実施例を示したも
のである。半導体レーザ１１を出射する光ビームはビー
ムスプリッター１２を透過して、対物レンズ１３に入射
する。対物レンズを出射する光ビームは光ディスク１０
上に集光され反射される。光ディスクで反射された信号
光ビーム１６はビームスプリッター１２で反射され二分
割の光電変換素子Ｉ １４、及び光電変換素子II １５に
それぞれ入射する。光電変換素子Ｉ １４と光電変換素
子II １５の出力の差動出力を差動回路２７で取り反射
光量変化を正規化するための自動利得調整（ＡＧＣ Aut
omatic Gain Control）２９を通過した信号で対物レ
ンズ１３を駆動する事で、光ディスクの情報トラックを
追従するためのトラッキングサーボを行う事ができる。
前記のＡＧＣは反射光量の和を取る加算回路２８によっ
て割り算などの演算を行って実現することが出来る。
のである。半導体レーザ１１を出射する光ビームはビー
ムスプリッター１２を透過して、対物レンズ１３に入射
する。対物レンズを出射する光ビームは光ディスク１０
上に集光され反射される。光ディスクで反射された信号
光ビーム１６はビームスプリッター１２で反射され二分
割の光電変換素子Ｉ １４、及び光電変換素子II １５に
それぞれ入射する。光電変換素子Ｉ １４と光電変換素
子II １５の出力の差動出力を差動回路２７で取り反射
光量変化を正規化するための自動利得調整（ＡＧＣ Aut
omatic Gain Control）２９を通過した信号で対物レ
ンズ１３を駆動する事で、光ディスクの情報トラックを
追従するためのトラッキングサーボを行う事ができる。
前記のＡＧＣは反射光量の和を取る加算回路２８によっ
て割り算などの演算を行って実現することが出来る。
【００１１】ビームスプリッター１２の端面Ｉ １７、
端面II １８より反射された迷光Ｉ１９、及び迷光II ２
０は、反射端面の加工精度不足や光軸調整精度不足のた
め極端な場合２個の光電変換素子の一方に偏って入射
し、例えば光電変換素子Ｉ１４に多く入射し光電変換素
子II １５に少なく入射する。一方ビームスプリッター
１２で最初に反射される光ビーム２３は少なくとも１次
元で可動な反射手段２４で反射されビームスプリッター
１２を透過して、光電変換素子II １５の側に多く照射
されるように調整をして、光電変換素子Ｉ １４と光電
変換素子II １５との差動出力が情報担体のない状態で
零となるようにする。このように迷光の補正を光で行う
ことで、記録と再生時の光量変化に対しても光電変換素
子の差動出力のオフセットレベルは変化しない。
端面II １８より反射された迷光Ｉ１９、及び迷光II ２
０は、反射端面の加工精度不足や光軸調整精度不足のた
め極端な場合２個の光電変換素子の一方に偏って入射
し、例えば光電変換素子Ｉ１４に多く入射し光電変換素
子II １５に少なく入射する。一方ビームスプリッター
１２で最初に反射される光ビーム２３は少なくとも１次
元で可動な反射手段２４で反射されビームスプリッター
１２を透過して、光電変換素子II １５の側に多く照射
されるように調整をして、光電変換素子Ｉ １４と光電
変換素子II １５との差動出力が情報担体のない状態で
零となるようにする。このように迷光の補正を光で行う
ことで、記録と再生時の光量変化に対しても光電変換素
子の差動出力のオフセットレベルは変化しない。
【００１２】次に図２を用いて本発明における反射手段
の有効な利用方法について第二の実施例の説明を行う。
ビームスプリッター１２で最初に反射する光ビーム２３
は半導体レーザ１１の前端面から出射する光ビームに比
例した光出力であるから、第二の光電変換素子２５の出
力を半導体レーザにフィードバックする事により半導体
レーザ出力光を一定とする制御に用いる事ができる。こ
の第二の光電変換素子２５の反射率及び光電変換素子を
保護するための樹脂表面２６及び第二の光電変換素子２
５の反射率はプリズム端面の反射率に比べて同等もしく
はそれ以上あり迷光の大きな要因となるので、従来は、
反射光が信号検出の光電変換素子に混入しないように通
常光軸に対し一定の角度をつけて固定し反射光が光電変
換素子Ｉ、IIに混入しないように設置してある。本発明
ではこの角度を可変として、角度調整する事で迷光の補
正を行なわせる。図１及び図２では光線の中心のみを表
示している。実際には信号光や迷光、光ビームには拡が
りがあり、光線の中心がいずれか一方の光電変換素子に
入射していて、もう一方の光電変換素子にも一部入射し
ており、光線の中心位置を変化させると両光電素子の差
動出力のオフセットは連続的に変化し得る。従って第二
の光電変換素子２５を光電変換素子Ｉ １４、II １５の
分割線に垂直な方向に光ビーム２３が移動可能なように
回転できる構造とする事で光電変換素子Ｉ １４、と光
電変換素子II １５の差動出力に迷光の影響によるオフ
セット出力を除去でき、サーボの誤動作を防ぐことがで
きる。
の有効な利用方法について第二の実施例の説明を行う。
ビームスプリッター１２で最初に反射する光ビーム２３
は半導体レーザ１１の前端面から出射する光ビームに比
例した光出力であるから、第二の光電変換素子２５の出
力を半導体レーザにフィードバックする事により半導体
レーザ出力光を一定とする制御に用いる事ができる。こ
の第二の光電変換素子２５の反射率及び光電変換素子を
保護するための樹脂表面２６及び第二の光電変換素子２
５の反射率はプリズム端面の反射率に比べて同等もしく
はそれ以上あり迷光の大きな要因となるので、従来は、
反射光が信号検出の光電変換素子に混入しないように通
常光軸に対し一定の角度をつけて固定し反射光が光電変
換素子Ｉ、IIに混入しないように設置してある。本発明
ではこの角度を可変として、角度調整する事で迷光の補
正を行なわせる。図１及び図２では光線の中心のみを表
示している。実際には信号光や迷光、光ビームには拡が
りがあり、光線の中心がいずれか一方の光電変換素子に
入射していて、もう一方の光電変換素子にも一部入射し
ており、光線の中心位置を変化させると両光電素子の差
動出力のオフセットは連続的に変化し得る。従って第二
の光電変換素子２５を光電変換素子Ｉ １４、II １５の
分割線に垂直な方向に光ビーム２３が移動可能なように
回転できる構造とする事で光電変換素子Ｉ １４、と光
電変換素子II １５の差動出力に迷光の影響によるオフ
セット出力を除去でき、サーボの誤動作を防ぐことがで
きる。
【００１３】図３は本発明による迷光の影響を除去する
方法を、トラッキング誤差信号の検出に適用した場合の
図である。従来の方法である図９と比較すると、迷光Ｉ
１９、及び迷光II ２０の影響を光ビーム２３でキャン
セルしてあるため信号光ビーム１６は正確に両光電変換
素子の中央に位置させる事ができるようになり、信号光
ビーム１６の変化でサーボ誤差が増大する事はない。
方法を、トラッキング誤差信号の検出に適用した場合の
図である。従来の方法である図９と比較すると、迷光Ｉ
１９、及び迷光II ２０の影響を光ビーム２３でキャン
セルしてあるため信号光ビーム１６は正確に両光電変換
素子の中央に位置させる事ができるようになり、信号光
ビーム１６の変化でサーボ誤差が増大する事はない。
【００１４】図４は本発明によるトラッキング誤差信号
検出の様子を示すものである。電気系のグランド３０に
対してプラスマイナスのレベルが対称になるように調整
されたトラッキング誤差信号３１に対してサーボ動作を
させると、トラック中心３２にサーボは引き込む。光デ
ィスクなどの反射率が変化して信号光ビーム１６の光量
が低下したときトラッキング誤差信号３３は小さくな
る。しかしトラック中心３２の位置は変化しないのでサ
ーボ誤差が生じる事はない。
検出の様子を示すものである。電気系のグランド３０に
対してプラスマイナスのレベルが対称になるように調整
されたトラッキング誤差信号３１に対してサーボ動作を
させると、トラック中心３２にサーボは引き込む。光デ
ィスクなどの反射率が変化して信号光ビーム１６の光量
が低下したときトラッキング誤差信号３３は小さくな
る。しかしトラック中心３２の位置は変化しないのでサ
ーボ誤差が生じる事はない。
【００１５】本発明の第三の実施例では、信号光ビーム
２３を光電変換素子IIに入射させる変わりに第二の光電
変換素子２５の出力を適切な利得を与えて光電変換素子
IIの出力に加算または減算させる方法がある。実際の構
成としては、図１の差動回路２７の光電変換素子IIの出
力が接続される端子に適当な利得で抵抗加算する構成
や、その反対の端子に逆極性で加算する構成、または差
動回路の後段に加算用の回路を別途設けるなどの方法が
ある。この場合は第二の光電変換素子２５及びその樹脂
表面２６の反射は第一の実施例と異なり光電変換素子Ｉ
１４、光電変換素子II １５に反射ビームが入射しない
ように角度を設定する。本実施例の場合も、迷光の影響
があらかじめ除去できるので光ディスクなどの反射率が
変化して信号光ビーム１６の光量が低下したときトラッ
キング誤差信号３３は小さくなるが、トラック中心３２
の位置は変化しないのでサーボ誤差が生じる事はない。
２３を光電変換素子IIに入射させる変わりに第二の光電
変換素子２５の出力を適切な利得を与えて光電変換素子
IIの出力に加算または減算させる方法がある。実際の構
成としては、図１の差動回路２７の光電変換素子IIの出
力が接続される端子に適当な利得で抵抗加算する構成
や、その反対の端子に逆極性で加算する構成、または差
動回路の後段に加算用の回路を別途設けるなどの方法が
ある。この場合は第二の光電変換素子２５及びその樹脂
表面２６の反射は第一の実施例と異なり光電変換素子Ｉ
１４、光電変換素子II １５に反射ビームが入射しない
ように角度を設定する。本実施例の場合も、迷光の影響
があらかじめ除去できるので光ディスクなどの反射率が
変化して信号光ビーム１６の光量が低下したときトラッ
キング誤差信号３３は小さくなるが、トラック中心３２
の位置は変化しないのでサーボ誤差が生じる事はない。
【００１６】本発明の参考例として、前述の反射手段２
４などを用いずに電気的に補正する方法を示す。
４などを用いずに電気的に補正する方法を示す。
【００１７】図５は参考例のブロック図を示す。同図に
おいて半導体レーザ１１からＡＧＣ２９までは図１と同
じ構成であり、３５は加算器、３６はオフセット補正回
路である。この様に正規化したトラッキング誤差信号で
あるＡＧＣ２９の出力に、迷光に相当する量のオフセッ
トをオフセット補正回路によって発生し、加算器３４で
キャンセルするように構成することにより、前述の反射
手段２４による光学的オフセット補正を行なわなくて
も、反射光量や半導体レーザの出射光量が変化した場合
も、迷光Ｉ 、II によるオフセットも正規化されている
ため、加算器３４の出力のトラッキング誤差信号の動作
中心を常に電気グランド３０において動作させることが
できるため、実質上迷光の影響を考慮する必要が無くな
るものである。
おいて半導体レーザ１１からＡＧＣ２９までは図１と同
じ構成であり、３５は加算器、３６はオフセット補正回
路である。この様に正規化したトラッキング誤差信号で
あるＡＧＣ２９の出力に、迷光に相当する量のオフセッ
トをオフセット補正回路によって発生し、加算器３４で
キャンセルするように構成することにより、前述の反射
手段２４による光学的オフセット補正を行なわなくて
も、反射光量や半導体レーザの出射光量が変化した場合
も、迷光Ｉ 、II によるオフセットも正規化されている
ため、加算器３４の出力のトラッキング誤差信号の動作
中心を常に電気グランド３０において動作させることが
できるため、実質上迷光の影響を考慮する必要が無くな
るものである。
【００１８】前記した信号の様子を図６、７を用いて説
明する。図６は図３と同じくトラッキング誤差信号の検
出に適用した場合の図である。従来の方法である図９と
比較すると、迷光Ｉ １９、及び迷光II ２０の影響は同
じであるが、矢印Ａ−Ａの方向に以下の方法を用いて信
号ビーム１６の中心が正確に両光電変換素子の中央に位
置させる事ができるように調整されている。図７におい
て１６ｅ、１５ｅに光電変換素子Ｉ、IIの出力を示す。
上記１６ｅ、１５ｅのＡＣ成分のリサージュ波形をオシ
ロスコープ等を用いて描かせると同図Ｒｅの様になる。
ここで図６の矢印Ａ−Ａの方向に光電変換素子を動か
し、ＡＣ成分が振幅が等しく極性が逆になるように合わ
せることによりＲｅの波形はー４５度の方向にほぼ直線
になる。この時図６に示すように、信号ビーム１６の中
心位置が正確に両光電変換素子の中央に位置している。
この時のＡＧＣの出力を図７のＴｅに示す。ここでトラ
ッキング出力３７は正規化されているために反射光量や
半導体レーザの出射光量が変化した場合も振幅は変化せ
ず、迷光によるオフセットもまた３６で示すように変化
しない。そのため電気的に一定量のオフセット補正を初
期に置いて行なえば、常に加算器３４の出力のトラッキ
ング誤差信号の動作中心を電気グランド３０において動
作させることができるため、実質上迷光によるトラッキ
ングサーボ 系への影響は無視することができるもので
ある。
明する。図６は図３と同じくトラッキング誤差信号の検
出に適用した場合の図である。従来の方法である図９と
比較すると、迷光Ｉ １９、及び迷光II ２０の影響は同
じであるが、矢印Ａ−Ａの方向に以下の方法を用いて信
号ビーム１６の中心が正確に両光電変換素子の中央に位
置させる事ができるように調整されている。図７におい
て１６ｅ、１５ｅに光電変換素子Ｉ、IIの出力を示す。
上記１６ｅ、１５ｅのＡＣ成分のリサージュ波形をオシ
ロスコープ等を用いて描かせると同図Ｒｅの様になる。
ここで図６の矢印Ａ−Ａの方向に光電変換素子を動か
し、ＡＣ成分が振幅が等しく極性が逆になるように合わ
せることによりＲｅの波形はー４５度の方向にほぼ直線
になる。この時図６に示すように、信号ビーム１６の中
心位置が正確に両光電変換素子の中央に位置している。
この時のＡＧＣの出力を図７のＴｅに示す。ここでトラ
ッキング出力３７は正規化されているために反射光量や
半導体レーザの出射光量が変化した場合も振幅は変化せ
ず、迷光によるオフセットもまた３６で示すように変化
しない。そのため電気的に一定量のオフセット補正を初
期に置いて行なえば、常に加算器３４の出力のトラッキ
ング誤差信号の動作中心を電気グランド３０において動
作させることができるため、実質上迷光によるトラッキ
ングサーボ 系への影響は無視することができるもので
ある。
【００１９】なお、実施例は光ディスク装置を用いて説
明したが、同様の迷光の影響が考えられる光カードや光
テープなどの記録再生装置への応用は本発明の範囲内で
ある。
明したが、同様の迷光の影響が考えられる光カードや光
テープなどの記録再生装置への応用は本発明の範囲内で
ある。
【００２０】
【発明の効果】上記したように迷光の発生する場所と同
じ点にある光ビームの一部を積極的に光電変換素子に入
射させ、それぞれの光電変換素子にほぼ同じレベルの光
が入射しているようにするという構成でオフセットのキ
ャンセルを適切に行えば、迷光の影響を除去できるの
で、光ディスクなどの反射率が変化して信号光ビームの
光量が増加または低下したときトラッキング誤差信号レ
ベルは増加又は低下するが、トラック中心の位置は変化
しないのでサーボ動作の結果トラック追従誤差が生じる
事はない。この原理はフォーカシングサーボ動作の場合
も同様であり本発明の方法を適用する事でフォーカス追
従誤差は生じない。
じ点にある光ビームの一部を積極的に光電変換素子に入
射させ、それぞれの光電変換素子にほぼ同じレベルの光
が入射しているようにするという構成でオフセットのキ
ャンセルを適切に行えば、迷光の影響を除去できるの
で、光ディスクなどの反射率が変化して信号光ビームの
光量が増加または低下したときトラッキング誤差信号レ
ベルは増加又は低下するが、トラック中心の位置は変化
しないのでサーボ動作の結果トラック追従誤差が生じる
事はない。この原理はフォーカシングサーボ動作の場合
も同様であり本発明の方法を適用する事でフォーカス追
従誤差は生じない。
【図１】本発明の基本構成を示す構成図
【図２】本発明の第２の実施例を示す構成図
【図３】本発明による光電変換素子上の光ビームの配置
図
図
【図４】本発明によるトラッキング誤差信号の例を示す
図
図
【図５】本発明の参考例の構成図
【図６】同、光電変換素子上の光ビームの配置図
【図７】同、トラッキング誤差信号の例を示す図
【図８】従来の方式によるサーボ信号検出法を説明する
ための図
ための図
【図９】従来の方法による光電変換素子上の光ビームの
配置図
配置図
１１ 半導体レーザ １２ ビームスプリッター １４、１５ 光電変換素子 １６ 信号光ビーム １９、２０ 迷光 ２３ 光ビーム ２５ 第二の光電変換素子 ２６ 第二の光電変換素子の樹脂表面 ２７ 差動回路 ２８ 加算回路 ２９ ＡＧＣ ３４ 加算器 ３５ オフセット補正回路 ４２ ビームスプリッタ ４７、４８ ビームスプリッター端面 ５１ 光電流
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭63−90034（ＪＰ，Ａ) 特開 平３−141038（ＪＰ，Ａ) (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) G11B 7/09 - 7/095 G11B 7/12 - 7/135
Claims (4)
- 【請求項１】放射光源と、前記放射光源を出射した光ビ
ームを透過又は反射させる光ビーム分岐手段と、前記光
ビーム分岐手段を通過した第一の光ビームを受け、情報
担体上に集光させる光ビーム集光手段と、前記情報担体
上で反射され前記光ビーム分岐手段で分岐された信号光
ビームを受け電気出力とする複数の光電変換手段と、前
記光ビーム分岐手段で前記第一の光ビームとは異なる方
向に分岐された第二の光ビームの少なくとも一部を反射
させ前記光電変換手段の電気出力オフセットを補正する
光ビーム反射手段とを含むことを特徴とする情報記録再
生装置。 - 【請求項２】前記光ビーム反射手段の光ビーム反射方向
を可変とし、前記複数の光電変換手段に各々略等しい光
量バイアスを与える光量バイアス調整手段を有すること
を特徴とする請求項１記載の情報記録再生装置。 - 【請求項３】前記光ビーム反射手段が前記放射光源の光
量制御のための光電変換手段の一部からなることを特徴
とする請求項２記載の情報記録再生装置。 - 【請求項４】放射光源と、前記放射光源を出射した光ビ
ームを透過又は反射させる光ビーム分岐手段と、前記光
ビーム分岐手段を通過した第一の光ビームを受け情報担
体上に集光させる光ビーム集光手段と、前記情報担体上
で反射され前記光ビーム分岐手段で分岐された信号光ビ
ームを受け電気出力とする複数の光電変換手段と、前記
光ビーム分岐手段で前記第一の光ビームとは異なる方向
に分岐された第二の光ビームを受け電気出力とする第二
の光電変換手段と、前記第二の光電変換手段より出力す
る電気出力で前記複数の光電変換手段の電気出力オフセ
ットを補正する手段とを含むことを特徴とする情報記録
再生装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3179494A JP3010801B2 (ja) | 1991-07-19 | 1991-07-19 | 情報記録再生装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3179494A JP3010801B2 (ja) | 1991-07-19 | 1991-07-19 | 情報記録再生装置 |
Related Child Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11219743A Division JP2000057591A (ja) | 1999-08-03 | 1999-08-03 | 情報記録再生装置及びその迷光成分補正方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0528516A JPH0528516A (ja) | 1993-02-05 |
| JP3010801B2 true JP3010801B2 (ja) | 2000-02-21 |
Family
ID=16066809
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3179494A Expired - Fee Related JP3010801B2 (ja) | 1991-07-19 | 1991-07-19 | 情報記録再生装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3010801B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN114111585A (zh) * | 2020-08-31 | 2022-03-01 | 上海微电子装备（集团）股份有限公司 | 光栅测量装置和光刻机 |
-
1991
- 1991-07-19 JP JP3179494A patent/JP3010801B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0528516A (ja) | 1993-02-05 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US6353582B1 (en) | Pickup device | |
| JP2664327B2 (ja) | 光学的ヘッド及び光学的記録再生方法 | |
| US4815060A (en) | Optical pickup device with tracking and focusing utilizing a photodetector having four regions | |
| US6567354B2 (en) | Optical pickup device minimizing an undesirable astigmatism | |
| US6594091B2 (en) | Optical pickup | |
| US4695992A (en) | Optical information recording-reproducing apparatus in which the relative position of a primary beam and secondary beams on recording medium is varied during recording and reproduction of information | |
| US5018127A (en) | Light emitting apparatus having a plurality of light emitting points | |
| JPH05210858A (ja) | サーボ・クロストークを減少させるための収差補償を備えた光学式データ記憶システム | |
| US4694443A (en) | Optical system for tracking an information recording medium | |
| JPH0760527B2 (ja) | 光学式ピックアップ装置 | |
| JP3010801B2 (ja) | 情報記録再生装置 | |
| US6992953B2 (en) | Tracking servo apparatus of optical information recording and reproducing apparatus | |
| JP2000057591A (ja) | 情報記録再生装置及びその迷光成分補正方法 | |
| JPH0740374B2 (ja) | 光ヘツド | |
| KR0166358B1 (ko) | 광픽업 장치 | |
| JP3127974B2 (ja) | 光ピックアップ装置 | |
| JPS59121639A (ja) | 光磁気光学装置 | |
| JPH06309687A (ja) | 光学ヘッド及びその光学ヘッドを使用した光学的情報記録再生装置 | |
| JP3110860B2 (ja) | 分離型光ピックアップ装置 | |
| JPH0935319A (ja) | 光情報記録装置及び光学装置、並びに収差調整方法 | |
| JP2699986B2 (ja) | 光ヘッドの焦点誤差を検出するための装置 | |
| JP2825552B2 (ja) | 光学式情報記録再生装置 | |
| JP2730132B2 (ja) | 光カード処理装置 | |
| JPS6344329A (ja) | 光学式情報記録再生装置 | |
| KR19990048278A (ko) | 광차폐막을 구비한 광픽업 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |