JP3007522B2 - Playback device - Google Patents

Playback device

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JP3007522B2
JP3007522B2 JP6000087A JP8794A JP3007522B2 JP 3007522 B2 JP3007522 B2 JP 3007522B2 JP 6000087 A JP6000087 A JP 6000087A JP 8794 A JP8794 A JP 8794A JP 3007522 B2 JP3007522 B2 JP 3007522B2
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  • Signal Processing For Digital Recording And Reproducing (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は再生装置に係わり、特に
高密度化により、あるいは記録条件の変化によって分解
能が低下した場合でも、光ディスク等の記憶媒体より正
確にデータを読み取ることができる再生装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a reproducing apparatus , and more particularly to a reproducing apparatus capable of reading data accurately from a storage medium such as an optical disk even when the resolution is reduced due to a high density or a change in recording conditions. About.

【0002】[0002]

【従来の技術】近年、計算機の外部記憶装置として光デ
ィスク装置が開発され、実用化されつつある。光ディス
ク装置では、半導体レーザを波長程度まで微小スポット
として絞り込み、データを媒体上に記録するもので、大
容量記録と可換性という大きな特徴を有している。特
に、ISO規格により標準化が行なわれた5インチ、
3.5インチの光ディスク装置は、高機能ワークステー
ションから個人ユーザレベルまで幅広く利用が見込まれ
ている。
2. Description of the Related Art In recent years, an optical disk device has been developed as an external storage device of a computer and is being put to practical use. An optical disc device is a device in which a semiconductor laser is narrowed down to a minute spot as small as a wavelength and data is recorded on a medium, and has a great feature of large capacity recording and interchangeability. In particular, 5 inches standardized by the ISO standard,
A 3.5-inch optical disk device is expected to be widely used from a sophisticated workstation to an individual user level.

【0003】光ディスクのうち書き込み可能な光磁気デ
ィスクは基板上にTbFeCo等のアモルファス磁性薄
膜等を被着したものであり、磁性膜の磁化反転に必要な
保磁力が温度の上昇に応じて小さくなる性質(補償点温
度で保磁力は零)を利用する。すなわち、レーザビーム
を照射してディスク媒体の温度を2000C付近まで上昇さ
せて保磁力を弱めた状態で弱磁界を印加して磁化方向を
制御し、記録、消去するものである。従って、図11
(a)に示すように、磁性膜5上の磁化方向が下向きの状
態において、書き込みコイル6により上方向の磁界を掛
け、図11(b)に示すように磁化方向を反転したい部分
にレーザビームLBを対物レンズOLを介して照射する
と、該部分の磁化方向が反転して上方向になり、情報の
記録ができる。又、情報の読み取りに際しては、図11
(c),(d)に示すようにy軸方向の偏光面を有するレーザ
ビームLBを磁性膜5に照射すると、磁気カー効果によ
り磁化方向が下向きの部分では時計方向に偏光面がθK
回転した反射光LB0が得られ、磁化方向が上向きの部
分では反時計方向に偏光面がθK回転した反射光LB1
が得られる。従って、反射光の偏光状態を検出すること
により磁化の向き、換言すれば情報を読み取ることがで
きる。かかる光磁気ディスクには、全面が書き込み可
能なフルRAMディスクと、書き込み可能な領域(R
AM領域)と読み出し専用の領域(ROM領域)を有す
るパーシャルROMディスクと、全面がROM領域の
フルROMディスクがある。
[0003] Of the optical disks, writable magneto-optical disks have a substrate on which an amorphous magnetic thin film such as TbFeCo is deposited, and the coercive force required for reversing the magnetization of the magnetic film becomes smaller as the temperature rises. Utilizing the property (the coercive force is zero at the compensation point temperature). That is, by applying a weak magnetic field in a state of weakened coercivity by increasing the temperature of the disk medium to the vicinity of 200 0 C by controlling the magnetization direction is irradiated with a laser beam, recording is for erasing. Therefore, FIG.
As shown in FIG. 11A, in a state where the magnetization direction on the magnetic film 5 is downward, an upward magnetic field is applied by the write coil 6, and as shown in FIG. When the LB is irradiated through the objective lens OL, the magnetization direction of the portion is reversed to be upward, and information can be recorded. In reading information, FIG.
As shown in (c) and (d), when the magnetic film 5 is irradiated with the laser beam LB having a polarization plane in the y-axis direction, the polarization plane becomes θ K clockwise in a portion where the magnetization direction is downward due to the magnetic Kerr effect.
Rotated reflected light LB0 is obtained, and reflected light LB1 whose polarization plane is rotated by θ K counterclockwise in the portion where the magnetization direction is upward.
Is obtained. Therefore, by detecting the polarization state of the reflected light, the direction of magnetization, in other words, information can be read. Such a magneto-optical disk has a full RAM disk on which the entire surface can be written and a writable area (R
There is a partial ROM disk having an AM area) and a read-only area (ROM area), and a full ROM disk having an entire ROM area.

【0004】・光磁気ディスクの構成 図12は例えば3.5インチの光磁気ディスクの構成説
明図であリ、図12(a)は概略平面図、図12(b)は一部
断面図である。光磁気ディスク11は同心円状又はスパ
イラル状のトラックを備えており、全トラックは扇型に
25セクタに分割されている。各セクタSTは例えば72
5バイトで構成され、先頭部にはアドレスフィールドA
F(ID領域)が設けられ、以降にデータフィールドD
F(MO領域:magneto-optical領域)が設けられてい
る。アドレスフィールドAFには、セクタマークやトラ
ックアドレス、セクタアドレス、同期信号再生用のプリ
アンブルを含むアドレス情報が記録され、データフィー
ルドDFにはクロック抽出用のVFOパターンと位相合
わせ用のシンクバイトSYNC及びデータDATA等が
格納されるようになっている。光磁気ディスク11は図
12(b)に示すように、透明なプラスチック層(基板)
PLSの上に記録層(記録膜)MGFを被着し、更にそ
の上に保護層PRFを形成して構成され、アドレスフィ
ールドAF(ID領域)は予めスタンピングによりピット
PT(凹凸)によりプリフォーマッティングされてい
る。
Structure of magneto-optical disk FIG. 12 is an explanatory view of the structure of a magneto-optical disk of, for example, 3.5 inches, FIG. 12 (a) is a schematic plan view, and FIG. 12 (b) is a partial sectional view. is there. The magneto-optical disk 11 has concentric or spiral tracks, and all tracks are divided into 25 sectors in a fan shape. Each sector ST is, for example, 72
It consists of 5 bytes, and the address field A
F (ID area) is provided, and the data field D
F (MO region: magneto-optical region) is provided. In the address field AF, address information including a sector mark, a track address, a sector address, and a preamble for reproducing a synchronizing signal is recorded. In the data field DF, a VFO pattern for clock extraction, a sync byte SYNC for phase matching, and data are stored. DATA and the like are stored. The magneto-optical disk 11 has a transparent plastic layer (substrate) as shown in FIG.
A recording layer (recording film) MGF is deposited on the PLS, and a protective layer PRF is further formed thereon. The address field AF (ID area) is pre-formatted by pits PT (irregularities) by stamping in advance. ing.

【0005】・光磁気ディスク媒体を利用するシステム
構成 図13は光磁気ディスク媒体を利用するシステムの構成
図であり、11は光磁気ディスク、21は光磁気ディス
クドライブ、31はホストシステム(コンピュ−タ本体
部)、41はデータ入力部(操作部)であり、キ−ボ−
ド41aやマウス41bを有している。51はCRTや
液晶ディスプレイ等の表示装置、61はプリンタであ
る。尚、適宜ハードディスク装置やフロッピーディスク
装置が設けられる。
FIG. 13 is a configuration diagram of a system using a magneto-optical disk medium, 11 is a magneto-optical disk, 21 is a magneto-optical disk drive, and 31 is a host system (computer). Data input unit (operation unit), and a keyboard 41
And a mouse 41b. 51 is a display device such as a CRT or a liquid crystal display, and 61 is a printer. In addition, a hard disk device and a floppy disk device are provided as appropriate.

【0006】図14はシステムの電気的構成図であり、
図13と同一部分には同一符号を付している。21は光
磁気ディスクドライブ、22はハ−ドディスクドライ
ブ、31はホストシステム、71a〜71bはI/Oコ
ントローラ、72はSCSI(Small Computer System
Interface:SCSI)バスである。SCSIはコンピュ
ータ本体と外部記憶装置を結ぶインターフェースで、A
NSI(American National Standard Institute)で規格
が規定されている。SCSIバスは例えば8ビットとパ
リテイビットからなるデータバスと9本の制御バスで構
成される。このSCSIバスには最大8台までSCSI
装置(ホストコンピュータやディスク・ドライブ・コン
トローラ等)を接続することができ、それぞれの装置は
ID(Identifier)と呼ばれる0〜7までの認識番号を
持つ。図では、I/Oコントローラ71a〜71bにI
D0〜ID1が割り当てられ、ホストシステム31にI
D7が割り当てられている。I/Oコントローラ71a
〜71bには光ディスクドライブ21、ハ−ドディスク
ドライブ22がそれぞれ1台接続されているが2台以上
のドライブを接続することができる。
FIG. 14 is an electrical configuration diagram of the system.
The same parts as those in FIG. 13 are denoted by the same reference numerals. 21 is a magneto-optical disk drive, 22 is a hard disk drive, 31 is a host system, 71a to 71b are I / O controllers, and 72 is a SCSI (Small Computer System).
Interface: SCSI) bus. SCSI is an interface that connects the computer body and external storage device.
Standards are defined by NSI (American National Standard Institute). The SCSI bus includes, for example, a data bus composed of 8 bits and parity bits and 9 control buses. This SCSI bus has up to eight SCSI
Devices (host computer, disk drive controller, etc.) can be connected, and each device has an identification number from 0 to 7 called an ID (Identifier). In the figure, I / O controllers 71a-71b
D0 to ID1 are assigned, and the host system 31
D7 is assigned. I / O controller 71a
One optical disk drive 21 and one hard disk drive 22 are connected to 7171b, but two or more drives can be connected.

【0007】ホストシステム31において、31aは中
央処理装置、31bはメモリ、31cはDMAコントロ
ーラ、31dはホスト・アダプタ、71c〜71dはI
/Oコントローラで、各部はホストバス31eに接続さ
れている。23はフロッピ−ディスクドライブであり、
I/Oコントローラ71cに接続されている。41は操
作部、51は表示装置、61はプリンタであり、それぞ
れI/Oコントローラ71dに接続されている。
In the host system 31, 31a is a central processing unit, 31b is a memory, 31c is a DMA controller, 31d is a host adapter, and 71c to 71d are I / Os.
Each section of the / O controller is connected to a host bus 31e. 23 is a floppy disk drive,
It is connected to the I / O controller 71c. 41 is an operation unit, 51 is a display device, and 61 is a printer, each of which is connected to the I / O controller 71d.

【0008】ホストシステム31とI/Oコントローラ
71a〜71b間はSCSIインタフェ−スで結合さ
れ、I/Oコントローラ71a〜71bと各ドライブ2
1,22間は例えばESDIインタフェ−ス(Enhanced
Small Device Interface)で結合されている。このシス
テムでは光磁気ディスクドライブ21、ハードディスク
ドライブ22をホストバス31eから切離し、ホストバ
スとは別にSCSIバス72を設け、該SCSIバスに
各ドライブ用のI/Oコントローラ71a〜71bを接
続し、I/Oコントローラ71a,71bによりドライ
ブ21,22を制御するようにしてホストバスの負担を
軽減している。
The host system 31 and the I / O controllers 71a-71b are connected by a SCSI interface, and the I / O controllers 71a-71b and each drive 2
For example, an ESDI interface (Enhanced
(Small Device Interface). In this system, the magneto-optical disk drive 21 and the hard disk drive 22 are separated from the host bus 31e, a SCSI bus 72 is provided separately from the host bus, and I / O controllers 71a to 71b for each drive are connected to the SCSI bus. The drives 21 and 22 are controlled by the / O controllers 71a and 71b to reduce the load on the host bus.

【0009】・光磁気ヘッドの基本構成 図15は光磁気ディスクドライブ装置21に使用される
光磁気ヘッドの基本構成図である。211は半導体レ−
ザ−、212はコリメートレンズ、213は真円補正プリ
ズム、214は半導体レ−ザ−からの光を透過し、ディ
スクから反射した光を信号検出側に反射するビームスプ
リッター、215は光をディスク(図示せず)に導く反
射ミラー、216は二次元アクチュエ−タで、図示しな
いが対物レンズや該対物レンズをトラッキング及びフォ
ーカス方向に微調整するトラッキングコイル、フォーカ
スコイル及びデータ書き込み時に外部磁場を印加するバ
イアスコイル等を備えている。217は反射光をデータ
検出側に導く反射ミラー、218は1/2波長板であり
入射光の偏光面を45度回転させ、後段の偏光ビームス
プリッターでの透過光と反射光の量を1:1にする働き
を有している。21 9は収束レンズ、2110は偏光ビー
ムスプリッター、2111はP波成分検出器、2112はS
波成分検出器である。
Basic Structure of Magneto-Optical Head FIG. 15 is used for a magneto-optical disk drive 21.
FIG. 3 is a basic configuration diagram of a magneto-optical head. 211Is a semiconductor laser
The, 21TwoIs a collimating lens, 21ThreeIs a perfect circle correction pre
Zum, 21FourTransmits light from a semiconductor laser, and
Beam spatter that reflects the light reflected from the disc to the signal detection side.
Liter, 21FiveGuides the light to the disc (not shown)
Shooting mirror, 216Is a two-dimensional actuator, not shown.
However, tracking and forcing the objective lens and the objective lens
Tracking coil and focus for fine adjustment in the focus direction
A coil for applying an external magnetic field when writing data
It has an ias coil and the like. 217Is the reflected light
Reflecting mirror for guiding to the detection side, 218Is a half-wave plate
The polarization plane of the incident light is rotated by 45 degrees, and the polarization beam
A function to make the amount of transmitted light and reflected light at the splitter 1: 1
have. 21 9Is a convergent lens, 21TenIs polarized bee
Mussplitter, 2111Is a P-wave component detector, 2112Is S
It is a wave component detector.

【0010】・MO領域情報読取原理 偏光ビームスプリッター2110は入射面に平行の光(P
波成分)を透過し、入射面に垂直な光(S波成分)を反
射する特性を有している。従って、入射光の偏光状態を
透過光量及び反射光量の変化として検出することができ
る。すなわち、MO領域の読取部における磁化方向(情
報ビットの”0”、”1”)に応じて磁気カー効果によ
り戻り光の偏光面が図16(a)に示すように時計方向あ
るいは反時計方向にθK回転し、1/2波長板218で偏
光面を45度回転される。このため、図16(b)に示す
ように、偏光ビームスプリッター2110から出力される
P波成分(透過光)及びS波成分(反射光)は情報が"
1"の時、P波成分がS波成分より大きくなり、情報が"
0"の時、P波成分がS波成分より小さくなる。従っ
て、P波成分検出器2111より図16(c)に示す信号R
DS1,が出力され、S波成分検出器2112より図16
(c)に示す信号RDS2(信号RDS1と極性が反転し
ている)が出力され、これら信号RDS1,RDS2を
差動増幅器に入力すると同位相のノイズが除去された再
生信号RDSが得られる。
[0010] · MO area information reading principle polarization beam splitter 21 10 parallel to the plane of incidence of light (P
(Wave component) and reflects light (S-wave component) perpendicular to the incident surface. Therefore, the polarization state of the incident light can be detected as a change in the amount of transmitted light and the amount of reflected light. That is, depending on the magnetization direction (“0” or “1” of the information bit) in the reading section in the MO area, the polarization plane of the return light is changed clockwise or counterclockwise as shown in FIG. rotated theta K to be rotated 45 degrees the polarization plane by 1/2-wave plate 21 8. Therefore, as shown in FIG. 16 (b), P-wave component output from the polarization beam splitter 21 10 (transmitted light) and the S-wave component (reflected light) information is "
At 1 ", the P-wave component becomes larger than the S-wave component and the information becomes"
When 0 ", the P-wave component is smaller than the S-wave component. Therefore, the signal indicating a P-wave component detector 21 11 in FIG. 16 (c) R
DS1 is output from the S-wave component detector 21 12 as shown in FIG.
A signal RDS2 (inverted in polarity with respect to the signal RDS1) shown in (c) is output, and when these signals RDS1 and RDS2 are input to a differential amplifier, a reproduced signal RDS from which in-phase noise has been removed is obtained.

【0011】・光磁気ディスクドライブ装置 図17は光磁気ディスクドライブ装置21の構成図であ
り、21aは図15に示す光磁気ヘッドで、211は半
導体レ−ザ−、2111はP波成分検出器、211 2はS波
成分検出器、OLは対物レンズである。21bはマイコ
ン構成の制御部であり、システム本体部31(図13参
照)からの指示に従って光磁気ディスクドライブ装置全
体の制御、例えば光磁気ヘッドの位置決め制御、データ
の読み取り・記録制御を行う。21cは制御部からの指
示に従って光磁気ヘッド21aを所定の位置に位置決め
するヘッドアクセス制御回路、21dは光磁気ディスク
にデータを記録するデータ記録回路、21eは光磁気デ
ィスクに記録されているデータを再生するデータ再生回
路である。
[0011] - a magneto-optical disc drive unit 17 is a diagram showing the construction of a magneto-optical disc drive unit 21, 21a in the magneto-optical head shown in FIG. 15, 21 1 semiconductor laser - The -, 21 11 P-wave component detectors, 21 1 2 S-wave component detector, OL is an objective lens. Reference numeral 21b denotes a control unit having a microcomputer configuration, which controls the entire magneto-optical disk drive, for example, controls the positioning of the magneto-optical head, and controls the reading and recording of data, in accordance with instructions from the system main unit 31 (see FIG. 13). 21c is a head access control circuit for positioning the magneto-optical head 21a at a predetermined position in accordance with an instruction from the control unit, 21d is a data recording circuit for recording data on the magneto-optical disk, and 21e is a data recording circuit for recording data recorded on the magneto-optical disk. This is a data reproducing circuit for reproducing.

【0012】制御部21bは上位装置(システム本体部
31)からデータ読み出し指令を受けると、ヘッドアク
セス制御回路21cにより光磁気ヘッド21aを指令さ
れたアドレスに位置決めさせ、該光磁気ヘッドをして記
録信号を読み取らせる。光磁気ヘッド21aは読み取っ
た信号をデータ再生回路21eに入力し、再生回路は検
出器より入力された信号よりデータを再生して制御部2
1bに入力し、制御部は該データを上位装置に入力す
る。又、制御部21bは上位装置からデータ書き込み指
令を受けると、ヘッドアクセス制御回路21cにより光
磁気ヘッド21aを指令されたアドレスに位置決すると
共に書き込みデータに基づいて半導体レーザ211をオ
ン・オフして該データを光磁気ディスクに書き込む。
尚、ISOにて規格化が行なわれている5インチ、3.
5インチでの記録フォーマットでは、記録データを
(2,7)符号化方式で符号化し、符号化したデータを
MO領域に書き込む。(2,7)符号化方式は符号化後
のビット”1”とビット”1”の間に入る”0”の個数
が2〜7まで変化する符号化方式であり、入力データと
符号化データは以下に示す関係がある。
When receiving a data read command from the host device (system main unit 31), the control unit 21b positions the magneto-optical head 21a at the commanded address by the head access control circuit 21c, and makes the magneto-optical head record. Read the signal. The magneto-optical head 21a inputs the read signal to a data reproducing circuit 21e, which reproduces data from the signal input from the detector and controls
1b, the control unit inputs the data to the host device. The control section 21b receives the data write command from the upper apparatus, by turning on and off the semiconductor laser 21 1 based on the write data with attain positions the head access control circuit commanded address magneto-optical head 21a by 21c The data is written to a magneto-optical disk.
It should be noted that 5 inches, 3.
In the 5-inch recording format, recording data is encoded by the (2, 7) encoding method, and the encoded data is written in the MO area. The (2,7) coding method is a coding method in which the number of “0” s between bits “1” and “1” after coding changes from 2 to 7, and the input data and the coded data Has the relationship shown below.

【0013】 [0013]

【0014】・データ再生回路 図18はデータ再生方式の説明図である。記録すべきデ
ータは、光ディスクの記録特性に適した形式(前述のR
LL2,7符号)のデータに符号化される。実際の記録
に当っては、符号化後のデータのビット”1”に媒体上
の記録ピット(黒丸)を対応させる。記録ピットの大き
さは、半導体レーザの波長程度の大きさであり、現在の
3.5インチのISO規格媒体の場合、符号化データの
ビットセル間隔は、内周で最も短くなり、約0.75μ
mである。
Data Reproducing Circuit FIG. 18 is an explanatory diagram of a data reproducing method. The data to be recorded is in a format suitable for the recording characteristics of the optical disc (the R
LL2,7 code). In actual recording, the recording bit (black circle) on the medium is made to correspond to the bit “1” of the encoded data. The size of the recording pit is about the size of the wavelength of the semiconductor laser. In the case of the current 3.5-inch ISO standard medium, the bit cell interval of the encoded data is the shortest on the inner circumference, and is about 0.75 μm.
m.

【0015】一方、データ再生は、記録ピットを半導体
レーザで走査した際の光量変化を検出することで行な
う。実際の再生信号RDSの波形は、図18に示すよう
に、記録ピットの存在する時点でピークを持つ波形とな
る。従って、再生信号RDSのピーク点を検出すること
でデータの再生を行なうことができる。具体的には、再
生信号を微分し、微分信号DFSのレベルがある値以上
になったことを検出してゲ−ト信号GTSを作成する。
又、微分信号DFSを零レベルで二値化して再生信号の
ピーク点で零クロスする零クロス信号ZCSを作成す
る。そして、ゲ−ト信号GTSがハイレベルで、零クロ
ス信号ZCSが立ち下がった時、所定時間幅の再生デー
タ信号DTを出力する。
On the other hand, data reproduction is performed by detecting a change in light amount when a recording pit is scanned by a semiconductor laser. As shown in FIG. 18, the waveform of the actual reproduced signal RDS has a peak at the time when the recording pit exists. Therefore, data can be reproduced by detecting the peak point of the reproduction signal RDS. Specifically, the reproduction signal is differentiated, and it is detected that the level of the differentiated signal DFS has exceeded a certain value, and the gate signal GTS is created.
Further, the differential signal DFS is binarized at a zero level to create a zero-cross signal ZCS that crosses zero at a peak point of the reproduction signal. Then, when the gate signal GTS is at a high level and the zero cross signal ZCS falls, a reproduced data signal DT having a predetermined time width is output.

【0016】図19はデータ再生回路21eの構成図で
ある。21e-1は再生信号RDSを増幅する増幅器、21e-2
はローパスフィルタ、21e-3は再生信号を微分する微分
回路、21e-4は微分信号DFSを入力され、設定値と比
較することによりゲ−ト信号GTSを出力するコンパレ
ータ、21e-5は微分信号DFSを零レベルで二値化して
零クロス信号ZCSを出力するコンパレータ、21e-6は
ゲート信号GTSがハイレベルで、零クロス信号ZCS
が立ち下がった時、所定時間幅Wの再生データ信号DT
を出力するフリップフロップ、21e-7は所定時間幅Wを
設定する遅延部、21e-8は再生データに含まれるクロッ
クを抽出するPLL回路、21e-9は抽出したクロックに
同期してデータを出力するデータセパレータである。P
LL回路21e-8において、PHSは再生データDTとV
FO出力の位相差信号を出力する位相比較器、CPMP
は位相差に応じた電圧を出力するチャージポンプ、LP
FLはローパスのル−プフィルタ、VFOはフィルタ出
力電圧に応じた周波数の信号を出力する電圧周波数発振
器(Voltage Frequency Oscilator)である。再生データ
DTは、ディスクを回転するスピンドルモータの回転変
動やディスクの中心が回転中心とずれる偏心等のため、
記録時とは異なった周波数になっている。そのため、P
LL回路21e-8により、再生データからこれに同期した
クロックを抽出する。抽出されたクロックに基づいて、
データ”1”,”0”をデータセパレータ21e-9により
判別する。
FIG. 19 is a block diagram of the data reproducing circuit 21e. 21e-1 is an amplifier for amplifying the reproduction signal RDS, 21e-2
Is a low-pass filter, 21e-3 is a differentiating circuit for differentiating the reproduced signal, 21e-4 is a comparator which receives a differential signal DFS and outputs a gate signal GTS by comparing with a set value, and 21e-5 is a differential signal. A comparator for binarizing the DFS at the zero level and outputting the zero cross signal ZCS. The comparator 21e-6 has a zero cross signal ZCS when the gate signal GTS is at the high level.
Falls, the reproduction data signal DT having a predetermined time width W
21e-7 is a delay unit for setting a predetermined time width W, 21e-8 is a PLL circuit for extracting a clock included in the reproduced data, and 21e-9 is a data output in synchronization with the extracted clock. This is the data separator to be used. P
In the LL circuit 21e-8, the PHS outputs the reproduced data DT and V
Phase comparator for outputting phase difference signal of FO output, CPMP
Is a charge pump that outputs a voltage corresponding to the phase difference, LP
FL is a low-pass loop filter, and VFO is a voltage frequency oscillator that outputs a signal having a frequency corresponding to the filter output voltage. The reproduced data DT is generated due to rotation fluctuation of a spindle motor for rotating the disk, eccentricity in which the center of the disk is shifted from the center of rotation, and the like.
The frequency is different from that at the time of recording. Therefore, P
The LL circuit 21e-8 extracts a clock synchronized with the reproduced data from the reproduced data. Based on the extracted clock,
Data "1" and "0" are determined by the data separator 21e-9.

【0017】[0017]

【発明が解決しようとする課題】ところで、従来の再生
方式では、媒体感度や記録パワーの変動によって、ある
いは、より高密度化することにより、分解能(図18の
V2/V1に相当)が低下し、ゲート信号が作成されなくな
る。例えば、3.5インチ、128Mバイトの光ディスク
では、最小ビット間隔が1.5μmであり、V2/V1は5
0%〜60%である。V2/V1が50%〜60%程度であ
れば、再生信号RDSのピークが孤立しているか、密集
しているかに関係無く、略同一の微分信号振幅を得るこ
とができ、ゲート信号GTSを正しく発生してデータを
再生することができる。しかし、記憶容量が例えば次世
代のISO標準である230Mバイトになると、記録密
度が従来比で2割程度向上するため再生信号RDSは図
20(a)に示すようになり、分解能V2/V1が低下する。こ
の結果、微分信号DFSは同図(b)に示すようになり、
この微分信号DFSを所定レベルVsでスライスしてゲ
ート信号GTSを発生しようとしても、ピークが密集し
ている部分でゲート信号GTSを正確に発生することが
できず、未検出のピーク部分が発生してデータ読み取り
エラーが発生する(図20(c)参照)。
By the way, in the conventional reproducing method, the resolution (FIG. 18) is changed by fluctuation of the medium sensitivity or recording power or by increasing the density.
(Corresponding to V2 / V1), and the gate signal is not generated. For example, in a 3.5-inch, 128 Mbyte optical disk, the minimum bit interval is 1.5 μm, and V2 / V1 is 5
0% to 60%. When V2 / V1 is about 50% to 60%, substantially the same differential signal amplitude can be obtained regardless of whether the peak of the reproduction signal RDS is isolated or dense, and the gate signal GTS can be correctly obtained. The generated data can be reproduced. However, when the storage capacity is, for example, 230 Mbytes, which is the next-generation ISO standard, the recording density is improved by about 20% as compared with the conventional one, so that the reproduced signal RDS becomes as shown in FIG. descend. As a result, the differential signal DFS becomes as shown in FIG.
Even if the differential signal DFS is sliced at a predetermined level Vs to generate the gate signal GTS, the gate signal GTS cannot be accurately generated in a portion where the peaks are dense, and an undetected peak portion is generated. As a result, a data reading error occurs (see FIG. 20C).

【0018】そこで、ローパスフィルタ21e-2のたとえ
ば後段に等化回路を設け、該回路により高周波成分を強
調してピーク密集部での再生信号振幅V2を大にして分解
能を向上させることが考えられる。しかし、等化回路に
より高周波成分を強調すると密度が低い部分の再生信号
RDSに図21(a)に示すようにアンダーシュートUS
が発生する。このため、再生信号を微分すると図21
(b)に示すようにアンダーシュート部に対応する部分が
スライスレベルVs以上になり、誤ったゲートパルスG
TSが発生し((c)参照)、これにより誤った再生データ
パルスが発生する問題がある。又、波形等化により分解
能を向上する方式では、同時に高域雑音を強調し、従っ
て、信号品質であるS/N比を低下させ、零クロス信号
が誤った点で起こるようになる問題もある。
Therefore, it is conceivable that an equalizing circuit is provided, for example, at the subsequent stage of the low-pass filter 21e-2, and that the high-frequency component is emphasized by the circuit to increase the reproduced signal amplitude V2 in the peak dense portion to improve the resolution. . However, if the high-frequency component is emphasized by the equalizing circuit, the undershoot USR as shown in FIG.
Occurs. Therefore, when the reproduction signal is differentiated, FIG.
As shown in (b), the portion corresponding to the undershoot portion becomes higher than the slice level Vs, and the wrong gate pulse G
A TS occurs (see (c)), which causes a problem that an erroneous reproduced data pulse is generated. In the method of improving the resolution by waveform equalization, high-frequency noise is also emphasized at the same time, so that the S / N ratio, which is the signal quality, is reduced, and a zero cross signal may occur at an erroneous point. .

【0019】さて、再生信号RDSで意味を持つのは、
ピーク点である。従って、何らかの手段により再生信号
のピークレベルを検出し、該ピークレベルを基準として
ゲート信号GTSを作成するためのスライスレベルVs
を求めれば良い。しかし、光ディスクのデータ管理領域
であるセクタ開始時のトランジェントや媒体反射変動に
伴う再生信号のエンベロープ変動があるため、ピークエ
ンベロープを検出する機構が必要になる。このうち、ト
ランジェント発生の様子を図22に示す。このトランジ
ェントは、再生系がAC結合され、DC成分が失われる
ために発生する。このAC結合の帯域は、再生信号RD
Sがサグ等によってひずむのを防ぐため十分に低く(信
号周波数の1/100〜1/50)設定される。以上より、固定ス
ライスレベルでは、データ開始時からかなりの領域のデ
ータを失うことになる。
The meaning of the reproduced signal RDS is as follows.
It is a peak point. Accordingly, the peak level of the reproduced signal is detected by some means, and the slice level Vs for generating the gate signal GTS based on the peak level is determined.
Should be obtained. However, since there is a transient at the start of a sector, which is a data management area of the optical disc, and a fluctuation of the envelope of the reproduction signal due to a fluctuation of the medium reflection, a mechanism for detecting a peak envelope is required. FIG. 22 shows a state of occurrence of a transient. This transient occurs because the reproduction system is AC-coupled and the DC component is lost. The band of this AC coupling is the reproduction signal RD
S is set sufficiently low (1/100 to 1/50 of the signal frequency) to prevent S from being distorted by sag or the like. As described above, at the fixed slice level, a considerable area of data is lost from the start of data.

【0020】図23はピークホールド回路を用いてスラ
イスレベルを決定するための1構成例であり、81はダ
イオードとコンデンサより構成されたピークホールド回
路、82はスライスレベル決定回路である。コンデンサ
Cは再生信号RDSのピーク値を蓄積する。すなわち、
再生信号RDSがコンデンサの端子電圧以上になるとダ
イオードがオンし、コンデンサを充電し、再生信号RD
Sがピーク値以下になるとダイオードがカットオフし充
電電荷を抵抗Rを介して放電する(時定数τ=CR)。
この結果、コンデンサCの端子電圧はピーク値に追従し
て変化し、バッファアンプBAを介してスライスレベル
決定回路82に入力される。スライスレベル決定回路8
2は再生信号RDSのピーク値に基づいてゲート信号作
成用のスライスレベルVsを決定する。ところで、かか
るピークホールド回路81で再生信号RDSのピーク値
を正確にホールドするには、バッファアンプが高速であ
ることが必要であり、具体的にはnsオーダの追従特性が
要求される。しかも、ピーク値をホ−ルドしているコン
デンサCのリークを少なくするためにバッファアンプの
精度が問題になり、更には、ダイオードの順方向電圧の
低下分をキャンセルする機能も必要となるなど実際の応
用に対しては不都合な点が多い。又、より重大な問題
は、ダイオードやトランジスタを用いたピークホールド
では、ピーク電圧を求めることができても、波形自体を
修正する機能がなく、温度変動等の影響も無視できな
い。
FIG. 23 shows an example of a configuration for determining a slice level using a peak hold circuit. Reference numeral 81 denotes a peak hold circuit including a diode and a capacitor, and reference numeral 82 denotes a slice level determination circuit. The capacitor C stores the peak value of the reproduction signal RDS. That is,
When the reproduction signal RDS becomes equal to or higher than the terminal voltage of the capacitor, the diode is turned on, the capacitor is charged, and the reproduction signal RD
When S falls below the peak value, the diode is cut off and discharges the charged charge via the resistor R (time constant τ = CR).
As a result, the terminal voltage of the capacitor C changes following the peak value and is input to the slice level determination circuit 82 via the buffer amplifier BA. Slice level determination circuit 8
2 determines a slice level Vs for creating a gate signal based on the peak value of the reproduction signal RDS. Incidentally, in order to accurately hold the peak value of the reproduction signal RDS by the peak hold circuit 81, the buffer amplifier needs to have a high speed, and specifically, a tracking characteristic on the order of ns is required. In addition, the precision of the buffer amplifier becomes a problem in order to reduce the leakage of the capacitor C holding the peak value, and furthermore, a function of canceling the decrease in the forward voltage of the diode is required, and the actual function is required. There are many disadvantages for the application of. Further, a more serious problem is that in a peak hold using a diode or a transistor, even if a peak voltage can be obtained, there is no function to correct the waveform itself, and the influence of temperature fluctuation and the like cannot be ignored.

【0021】以上から、高密度化により、あるいは記録
条件の変化によって分解能が低下した場合でも、光ディ
スクより正確にデータを読み取ることができ、しかも、
再生系がAC結合されたことに起因するデータ開始時の
トランジェントやエンベロープ変動による悪影響を防ぐ
ことができる光ディスク再生装置が要望される。図24
は特開平3-102677号において提案されている情報再生装
置の構成図、図25は動作説明の各部波形図である。9
1は再生信号RDSを増幅する増幅器、92はローパス
フィルタ、93は再生信号を微分し、微分信号DSが零
レベルを交差するときに零クロス信号ZCSを発生する
微分零クロス検出回路、94は再生信号RDSの下限レ
ベルをクランプするクランプ回路、95はクランプ回路
Voutの出力信号を所定レベルLsでスライスして得られ
る2値化信号をゲート信号GTSとして出力するゲート
信号発生回路、96はゲート信号GTSがハイレベルの
期間に零クロス信号ZCSが立ち下がった時に反転し、
かつ、零クロス信号発生後、ゲート信号GTSがローレ
ベルになった時、再度反転するように再生デジタル信号
DTを生成する再生デジタル信号生成部である。
As described above, even when the resolution is reduced due to the increase in density or the change in recording conditions, data can be read more accurately from the optical disk.
There is a demand for an optical disc reproducing apparatus capable of preventing adverse effects due to transients and envelope fluctuations at the start of data due to AC coupling of the reproducing system. FIG.
Is a block diagram of an information reproducing apparatus proposed in Japanese Patent Laid-Open No. 3-102677, and FIG. 25 is a waveform diagram of each part for explaining the operation. 9
1 is an amplifier for amplifying the reproduction signal RDS, 92 is a low-pass filter, 93 is a differential zero cross detection circuit for differentiating the reproduction signal and generating a zero cross signal ZCS when the differential signal DS crosses a zero level, and 94 is a reproduction circuit. A clamp circuit 95 for clamping the lower limit level of the signal RDS, a gate signal generation circuit 95 for outputting a binary signal obtained by slicing the output signal of the clamp circuit Vout at a predetermined level Ls as a gate signal GTS, and a gate signal GTS 96 Is inverted when the zero cross signal ZCS falls during the high level period,
In addition, when the gate signal GTS becomes a low level after the generation of the zero cross signal, the reproduction digital signal generation unit generates the reproduction digital signal DT so as to be inverted again.

【0022】クランプ回路94は、ベース端子にクラン
プ制御電圧Vsetが供給されると共にエミッタ端子出力
がクランプ回路の出力とされるnpnトランジスタ94
aと、エミッタとアース間に接続された抵抗94bと、
直流分カット用のコンデンサ94cを備えている。入力
信号VinがVccより大きい場合にはトランジスタ94a
がオフし、入力信号VinがそのままVoutとして出力さ
れる。一方、入力信号VinがVccより小さい場合にはト
ランジスタ94aがオンし、バイアス電圧Vccが出力さ
れる。すなわち、クランプ回路94は下限レベルをVcc
にクランプした信号を出力する。
The clamp circuit 94 has an npn transistor 94 whose base terminal is supplied with the clamp control voltage Vset and whose emitter terminal output is the output of the clamp circuit.
a, a resistor 94b connected between the emitter and ground,
It has a capacitor 94c for cutting DC components. When the input signal Vin is larger than Vcc, the transistor 94a
Is turned off, and the input signal Vin is output as it is as Vout. On the other hand, when the input signal Vin is smaller than Vcc, the transistor 94a is turned on, and the bias voltage Vcc is output. That is, the clamp circuit 94 sets the lower limit level to Vcc.
Output the signal clamped to.

【0023】このクランプ回路によれば、図25(e)に
示すように変調データ”0”(非マーク)に相当する再
生信号RDSの下限レベルを一定電圧にクランプでき
る。すなわち、再生信号RDSの分解能が小さい場合で
あっても、クランプ回路94を通すことにより等価的に
分解能が大きくなったようにすることができ、確実に再
生信号のピーク点(微分信号零クロス点)を含む範囲で
ハイレベルとなるゲート信号GTSを作成でき、再生デ
ジタル信号生成部96において正しくデータの再生がで
きる。
According to this clamp circuit, as shown in FIG. 25E, the lower limit level of the reproduction signal RDS corresponding to the modulation data "0" (non-mark) can be clamped to a constant voltage. That is, even when the resolution of the reproduction signal RDS is small, the resolution can be equivalently increased by passing the signal through the clamp circuit 94, and the peak point of the reproduction signal (the differential signal zero crossing point) is surely obtained. ), The gate signal GTS at a high level can be created, and the reproduced digital signal generator 96 can correctly reproduce data.

【0024】しかし、トランジスタ(ダイオードを含
む)クランプでは、トランジスタのオン→オフになる遷
移時間がベース蓄積電荷の影響で大きいという欠点があ
る。このため、図26に示すように再生信号RDSとク
ランプ出力信号Voutとの間に数ns〜数msの時間的ずれ
が発生し、ゲート信号GTSにも上記時間的ずれTdが
生じる。このゲート信号GTSの時間的ずれは高密度化
(高速転送)時に問題を生じる。又、提案されているク
ランプ回路は、下限レベルをクランプするものであるた
め、図27に示すように再生信号RDSにディスクの欠
陥に起因してノイズNSが乗ると、ノイズのピーク値が
スライスレベルLs以上になって誤読み取りを生じる問
題がある。
However, a transistor (including a diode) clamp has a disadvantage that a transition time when the transistor is turned on → off is long due to the influence of the base accumulated charge. Therefore, as shown in FIG. 26, a time lag of several ns to several ms occurs between the reproduction signal RDS and the clamp output signal Vout, and the time lag Td also occurs in the gate signal GTS. The time lag of the gate signal GTS causes a problem when the density is increased (high-speed transfer). Further, since the proposed clamp circuit clamps the lower limit level, as shown in FIG. 27, when the reproduced signal RDS is loaded with noise NS due to a disk defect, the peak value of the noise is reduced to the slice level. There is a problem that erroneous reading may occur at Ls or more.

【0025】以上から、本発明の目的は、使用環境(特
に環境温度)により再生信号振幅が変動しても、AGC
動作によりクランプ信号振幅を最適の振幅となるように
自動設定して装置マージンを大きくできる再生装置を提
供することである。本発明の別の目的は、ショットキー
バリアダイオードクランプ回路により再生信号のピーク
値を高速クランプすることで高速転送に対応でき、しか
も欠陥に対して強い(欠陥の影響を受けない)再生装置
を提供することである。本発明の更に別の目的は、環境
温度や接合面温度によりスライスレベルに相当するショ
ットキーダイオードの特性(順方向降下電圧)が変動し
ても、AGC制御によりクランプ後の信号振幅を最適に
でき、装置マージンを大きくできる再生装置を提供する
ことである。
From the above, it can be seen that the object of the present invention is to provide an AGC system even when the amplitude of a reproduced signal fluctuates due to the use environment (especially the environmental temperature).
An object of the present invention is to provide a reproducing apparatus capable of automatically setting a clamp signal amplitude to an optimum amplitude by an operation to increase a device margin. Another object of the present invention is to provide a reproducing apparatus capable of coping with high-speed transfer by clamping a peak value of a reproduced signal at high speed by a Schottky barrier diode clamp circuit, and being resistant to defects (not affected by defects). />. Still another object of the present invention is to enable the AGC control to optimize the signal amplitude after clamping even if the characteristics (forward drop voltage) of the Schottky diode corresponding to the slice level fluctuate due to the environmental temperature and the junction surface temperature. Another object of the present invention is to provide a reproducing apparatus capable of increasing an apparatus margin.

【0026】[0026]

【課題を解決するための手段】図1は本発明の原理説明
図である。101は光ディスクから読み取った再生信号
RDSを増幅するゲイン可変の増幅器(AGC)、10
2はAGC制御部、104は増幅器出力信号のピーク値
をクランプするクランプ回路、105はクランプ回路か
ら出力されるクランプ電圧と所定信号レベルを比較して
ゲート信号GTSを発生するゲート信号発生部、106
は再生信号を微分し、該微分信号が零レベルをクロスし
たとき零クロス信号ZCSを出力する微分・零クロス信
号発生部、107はデータパルス出力部、108はクラ
ンプ回路から出力される信号振幅と参照電圧レベルとの
差を検出する振幅比較部である。
FIG. 1 is a diagram illustrating the principle of the present invention. 101 is a variable gain amplifier (AGC) for amplifying the reproduction signal RDS read from the optical disk;
2 is an AGC control unit, 104 is a clamp circuit that clamps the peak value of the amplifier output signal, 105 is a gate signal generation unit that compares a clamp voltage output from the clamp circuit with a predetermined signal level and generates a gate signal GTS, 106
Is a differential / zero-cross signal generator that outputs a zero-cross signal ZCS when the differentiated signal crosses a zero level, 107 is a data pulse output unit, 108 is a signal amplitude output from the clamp circuit. This is an amplitude comparing unit that detects a difference from a reference voltage level.

【0027】[0027]

【作用】振幅比較部108はクランプ回路104から出
力されるクランプ信号振幅と参照電圧レベルとを比較
し、振幅差を出力する。AGC制御部102は振幅差に
基づいてゲイン可変増幅器101のゲインを制御する制
御電圧信号Vcntを発生する。ゲート信号発生部105
はクランプ回路104から出力されるクランプ信号CL
Pと所定信号レベルを比較してゲート信号GTSを発生
し、データパルス出力部107はゲート信号GTSが発
生しているときに零クロス信号ZCSが発生した時、デ
ータパルスを出力する。このようにクランプ回路104
において再生信号RDSのピークを所定電位にクランプ
することにより、再生信号のピーク値が変動してもピー
ク値を常に定電位にクランプし、該一定ピーク値に基づ
いてゲート信号GTSを発生することができる。この結
果、ピーク値が変動しても、正確にゲート信号を発生す
ることができ、高密度化により、あるいは記録条件の変
化によって分解能が低下した場合でも、また、トランジ
ェントやエンベロープ変動が存在する場合であっても正
確にデータの読み取りができる。更に、ピーク値を定電
位にクランプするものであるため、ゲート信号作成用の
スライスレベルを高めに設定でき、欠陥等により発生す
るノイズを誤読み取りすることがなく、欠陥の影響をな
くすことができる。
The amplitude comparing section compares the amplitude of the clamp signal output from the clamp circuit 104 with the reference voltage level and outputs an amplitude difference. The AGC control unit 102 generates a control voltage signal Vcnt for controlling the gain of the variable gain amplifier 101 based on the amplitude difference. Gate signal generator 105
Is a clamp signal CL output from the clamp circuit 104
The gate signal GTS is generated by comparing P with a predetermined signal level, and the data pulse output unit 107 outputs a data pulse when the zero cross signal ZCS is generated while the gate signal GTS is generated. Thus, the clamp circuit 104
By clamping the peak of the reproduction signal RDS to a predetermined potential, the peak value is always clamped to a constant potential even if the peak value of the reproduction signal fluctuates, and the gate signal GTS is generated based on the constant peak value. it can. As a result, even if the peak value fluctuates, the gate signal can be accurately generated, and even if the resolution is reduced due to a high density or a change in recording conditions, or if a transient or envelope fluctuation exists. Even with this, data can be read accurately. Further, since the peak value is clamped at a constant potential, the slice level for generating a gate signal can be set higher, so that noise caused by a defect or the like is not erroneously read and the influence of the defect can be eliminated. .

【0028】又、クランプ回路104をショットキーダ
イオードを用いて構成すると共に、振幅比較部108に
おける参照電圧レベルをショットキーダイオードの順方
向電圧の1.1倍〜1.7倍とする。このようにすれ
ば、媒体特性やドライブ間のバラツキにより再生信号振
幅が変動しても、AGC動作によりクランプ信号の振幅
を最適となるように自動設定して装置マージンを大きく
できる。又、環境温度や接合面温度によりダイオードの
特性(順方向降下電圧)が変動してもクランプ信号の振
幅をAGC制御により最適にでき、装置マージンを大き
くできる
Further, the clamp circuit 104 is constituted by using a Schottky diode, and the reference voltage level in the amplitude comparing unit 108 is set to 1.1 to 1.7 times the forward voltage of the Schottky diode. In this way, even if the amplitude of the reproduction signal fluctuates due to variations in the medium characteristics or between drives, the amplitude of the clamp signal can be automatically set by the AGC operation so as to be optimal, and the apparatus margin can be increased. Further, even if the characteristics (forward voltage drop) of the diode fluctuate due to the environmental temperature or the junction temperature, the amplitude of the clamp signal can be optimized by AGC control, and the device margin can be increased.

【0029】[0029]

【実施例】【Example】

(a) 全体の構成 図2は光ディスクドライブ装置における本発明のデータ
再生回路の実施例構成図である。101は光ディスクか
ら読み取った再生信号を増幅するゲイン可変の差動増幅
器であり、互いに極性の異なる再生信号RDS1,RD
S2が入力され、極性の異なる2つの信号を出力するよ
うになっている。尚、再生信号RDS1,RDS2は図
15のP波成分検出器2111及びS波成分検出器2112
より出力される信号RDS1,RDS2(図16(c)参
照)に相当するものである。102は再生信号RDS
1,RDS2の振幅を所定値にするAGC制御部、10
3は2つの互いに極性の異なる信号がゲイン可変増幅器
101から入力される波形処理部であり、ローパスフィ
ルタやイコライザを有している。ローパスフィルタ及び
イコライザは、高域での雑音除去、再生信号の高域側を
適度に強調して分解能の低下防止及びピークシフト除去
のために挿入される。
(a) Overall Configuration FIG. 2 is a block diagram of an embodiment of a data reproducing circuit of the present invention in an optical disk drive. Reference numeral 101 denotes a variable gain differential amplifier for amplifying a reproduction signal read from an optical disk, and reproduction signals RDS1 and RD having different polarities from each other.
S2 is input, and two signals having different polarities are output. The reproduced signals RDS1 and RDS2 are supplied to the P-wave component detector 21 11 and the S-wave component detector 21 12 shown in FIG.
This corresponds to the output signals RDS1 and RDS2 (see FIG. 16C). 102 is a reproduction signal RDS
1, an AGC control unit for setting the amplitude of RDS2 to a predetermined value, 10
Reference numeral 3 denotes a waveform processing unit which receives two signals having different polarities from the variable gain amplifier 101, and includes a low-pass filter and an equalizer. The low-pass filter and the equalizer are inserted to remove noise in the high frequency band, appropriately emphasize the high frequency side of the reproduced signal, prevent reduction in resolution, and remove peak shift.

【0030】104は波形処理部から出力される2つの
再生信号RD1′、RDS2′のピーク値をクランプす
るクランプ回路であり、再生信号RDS1′については
+側のピーク値をクランプし、再生信号RDS2′につ
いては−側のピーク(ボトム)を一定値にクランプす
る。105はクランプ回路から出力されるクランプ信号
CLP,CLP′の電圧レベルを比較してゲート信号G
TSを発生するゲート信号発生部(コンパレータ)、1
06は波形処理部から出力される再生信号RDS1′,
RDS2′を微分し、該微分信号の差信号が零レベルを
クロスしたとき零クロス信号ZCSを出力する微分・零
クロス信号発生部、107は再生信号RDS1のピーク
点(微分信号の零クロス点)でデータパルスを出力する
データパルス出力部、108はクランプ回路から出力さ
れるクランプ信号CLPの振幅と参照電圧レベルVrと
を比較して振幅差をAGCし制御部102に入力する振
幅比較部、109は参照電圧Vrを発生する参照電圧発
生部である。
Reference numeral 104 denotes a clamp circuit for clamping the peak values of the two reproduced signals RD1 'and RDS2' output from the waveform processing unit. The clamp circuit 104 clamps the + -side peak value of the reproduced signal RDS1 '. For ', the negative peak (bottom) is clamped to a constant value. A gate signal G 105 compares the voltage levels of the clamp signals CLP and CLP 'output from the clamp circuit.
Gate signal generator (comparator) for generating TS, 1
06 is a reproduced signal RDS1 'output from the waveform processing unit,
A differential / zero-cross signal generator 107 that differentiates RDS2 'and outputs a zero-cross signal ZCS when the differential signal of the differential signal crosses a zero level. Reference numeral 107 denotes a peak point of the reproduction signal RDS1 (a zero-cross point of the differential signal). A data pulse output unit for outputting a data pulse at 108; an amplitude comparing unit 109 for comparing the amplitude of the clamp signal CLP output from the clamp circuit with the reference voltage level Vr to AGC the amplitude difference and inputting the difference to the control unit 102; Is a reference voltage generator for generating a reference voltage Vr.

【0031】(b) 各部の構成 図3は波形処理部後方の各部の構成図であり、図4は各
部の波形図である。尚、図4において、IDはセクタ先
頭部に設けられたアドレスフィールド(ID領域)、D
FはID領域以降に設けられたデータフィールドDF
(MO領域)であり、MO領域にはクロック抽出用のV
FOと位相合わせ用のシンクバイトSYNC及びユーザ
データDATAが書き込まれている。
(B) Configuration of Each Unit FIG. 3 is a configuration diagram of each unit behind the waveform processing unit, and FIG. 4 is a waveform diagram of each unit. In FIG. 4, ID is an address field (ID area) provided at the head of the sector,
F is a data field DF provided after the ID area
(MO area), and the MO area has a V for clock extraction.
The FO, a sync byte SYNC for phase matching, and user data DATA are written.

【0032】クランプ回路 クランプ回路104は、再生信号RDS1′,RDS
2′の直流分をカットする2つのコンデンサC0と、コ
ンデンサC0に直列に接続された2つの電流制限用抵抗
1と、バイアス抵抗R0,R2と、該バイス抵抗を介し
て順方向にバイアスされたショットキーダイオードD1
で構成され、ショットキーダイオードのアノード側がゲ
ート信号発生部105を構成するコンパレータCMPの
+端子に接続され、カソード側がコンパレータCMPの
−端子に接続されている。ショットキーダイオードD1
は原理上蓄積電荷の影響が全くないため、トランジスタ
やその他のダイオードを用いたクランプ回路に比べて信
号遅延がない。又、ショットキーダイオードは印加電圧
に依存せず一定値を取れるので、常に一定電位にクラン
プすることが可能である。
Clamp circuit Clamp circuit 104 generates reproduced signals RDS1 ', RDS
2 ′, two capacitors C 0 for cutting the direct current component, two current limiting resistors R 1 connected in series to the capacitor C 0 , bias resistors R 0 and R 2 , and sequentially via the bias resistors. Schottky diode D 1 biased in the direction
, The anode side of the Schottky diode is connected to the + terminal of the comparator CMP constituting the gate signal generation unit 105, and the cathode side is connected to the-terminal of the comparator CMP. Schottky diode D 1
Since there is no influence of accumulated charge in principle, there is no signal delay as compared with a clamp circuit using a transistor or another diode. Further, the Schottky diode can take a constant value without depending on the applied voltage, so that it can always be clamped at a constant potential.

【0033】さて、入力信号が無い状態では、コンパレ
ータCMPの非反転端子(+)の電位は、反転端子
(−)の電位にショットキーダイオードD1の順方向電
圧VFが加わった電位(VT=I1・R2+VF)に固定さ
れている。かかる状態において、図4に示すトランジェ
ントを持った信号RDS1′が入力されると、トランジ
ェントの開始時点の上昇電位は、ショットキーダイオー
ドD1がオンになっているため一定電圧に保持され、図
4のクランプ信号CLPに示すようにVTにクランプさ
れる。ここで、コンデンサC0に直列に接続された電流
制限抵抗R1はクランプ系を駆動するドライバの負荷を
軽減するように作用する。すなわち、トランジェント開
始時の上昇電位時点では、ダイオードクランプが働くた
め、電流制限抵抗R1がないと大電流が流れる恐れがあ
るが、この電流制限抵抗R1により電流が制限され、ド
ライバの負荷が軽減される。ただし、電流制限抵抗R1
を大きくしすぎるとクランプ回路が働かなくなるので、
数十Ωで十分である。
[0033] Now, in a state there is no input signal, the potential of the non-inverting terminal (+) of the comparator CMP, the inverted terminal (-) forward voltage V F is applied potential potential of the Schottky diode D 1 of the (V T = I 1 · R 2 + V F ). In such state, when the signal RDS1 having a transient shown in FIG. 4 "is input, the potential rise at the start of the transient is held at a constant voltage for the Schottky diode D 1 is turned on, FIG. 4 It is clamped at V T, as shown in the clamp signal CLP in. Here, the current limiting resistor R 1 connected in series with the capacitor C 0 acts to reduce the load on the driver that drives the clamping system. That is, the rising potential point during transient start is to work the diode clamp, there is a possibility that flows a large current is not a current limiting resistor R 1, the current is limited resistor current by R 1 is limited, the driver of the load It is reduced. However, the current limiting resistor R 1
Is too large, the clamp circuit will not work.
Several tens of ohms are sufficient.

【0034】次に、入力信号RDS1′が低下した場合
は、Vcc→R0→R1→C0→入力信号端子方向に電流パ
スが形成され、コンパレータCMPの非反転端子電圧
(クランプ信号CLP)は図4に示すように入力信号R
DS1′に追従して変化する。このとき、コンデンサC
0に電荷が充電されるが、入力信号RDS1′上昇時に
抵抗R1、ショットキーダイオードD1を介して放電され
る。以上より、データ開始時でのトランジェントや反射
率変動に伴うエンベロープ変動が吸収されて再生信号の
ピーク値はVTにクランプされ、VT以下では入力信号R
DS1′に追従した信号波形となる。以上は入力信号R
DS1′に着目した場合であるが、入力信号RDS2′
に着目すると、図4の点線で示すように、クランプ信号
CLP′はボトムがVRにクランプされ、VR以上では入
力信号RDS2′に追従した信号波形になる。
Next, when the input signal RDS1 'drops, a current path is formed in the direction of Vcc → R 0 → R 1 → C 0 → input signal terminal, and the non-inverting terminal voltage of the comparator CMP (clamp signal CLP) Is the input signal R as shown in FIG.
It changes following DS1 '. At this time, the capacitor C
The electric charge is charged to 0 , but is discharged through the resistor R 1 and the Schottky diode D 1 when the input signal RDS1 ′ rises. From the above, the peak value of the transient and envelope variation due to reflectivity variation is absorbed by the reproduction signal at the time of start of data is clamped to V T, the input signal R in the following V T
The signal waveform follows DS1 '. The above is the input signal R
This is a case where attention is paid to DS1 ', but the input signal RDS2'
Focusing on, as indicated by a dotted line in FIG. 4, the clamp signal CLP 'is clamped bottom within V R, in the above V R input signal RDS2' becomes a signal waveform following the.

【0035】クランプ回路104において、コンデンサ
0とダイオードバイアス抵抗R0,R2とで決まる時定
数τ(=C0・R)は、入力信号の最長パターン(ピー
ク点から次のピーク点までの時間が最も長いパターン)
以上の必要がある。なぜならば、それ以下では、ボトム
レベルが保持できなくなるからである。例えば、ISO
規格では5インチ、3.5インチの記録フォーマットと
して(2,7)RLL符号化方式を採用している。この
(2,7)RLL符号化方式によれば、符号化後のビッ
ト”1”とビット”1”間の”0”の個数は2〜7まで
変化し、最長パターンはビット間隔をTとすると8Tと
なる。従って、時定数τ(=C0・R)は8Tより大き
くする必要がある。また、時定数の上限は、データ開始
時にデータからクロック成分を抽出するために設けてあ
るVFOパターン期間で決定される。これは、データ開
始時に図4とは逆のトランジェント(直前のIDクロス
トークの影響等によっては、反対方向のトランジェント
が発生する場合がある)が発生した場合、ピーククラン
プが動作する前記VFO期間内でトランジェントが制定
する必要があるからである。
In the clamp circuit 104, the time constant τ (= C 0 · R) determined by the capacitor C 0 and the diode bias resistors R 0 and R 2 is the longest pattern of the input signal (from the peak point to the next peak point). Pattern with the longest time)
Need more. This is because below this, the bottom level cannot be maintained. For example, ISO
The standard adopts the (2,7) RLL encoding method as a recording format of 5 inches and 3.5 inches. According to the (2,7) RLL coding method, the number of "0" between the bit "1" and the bit "1" after coding varies from 2 to 7, and the longest pattern has a bit interval of T and Then, it becomes 8T. Therefore, the time constant τ (= C 0 · R) needs to be larger than 8T. The upper limit of the time constant is determined by a VFO pattern period provided for extracting a clock component from data at the start of data. This is because, when a transient opposite to that of FIG. 4 occurs (a transient in the opposite direction may occur depending on the influence of the immediately preceding ID crosstalk or the like) at the start of data, the VFO period during which peak clamp operates is performed. This is because it is necessary to establish a transient.

【0036】ゲート信号発生部 ゲート信号発生部105はコンパレータCMPで構成さ
れ、その非反転端子(+)にクランプ信号CLPが入力
され、反転端子(−)にクランプ信号CLP′が入力さ
れ、非反転端子電位が反転端子電位より大きいときハイ
レベルのゲート信号GTSを出力する。微分・零クロス信号発生部 微分・零クロス信号発生部106は、再生信号RDS
1′,RDS2′をそれぞれ微分した微分信号DFS,
DFS′を出力するCR構成の微分回路106aと、微
分信号DFS,DFS′の差信号が零レベル以下になっ
た時ハイレベルの零クロス信号ZCSを出力するコンパ
レータ106cを備えている。
The gate signal generator gate signal generator 105 is composed of a comparator CMP, its non-inverting terminal (+) to the clamp signal CLP is input, the inverting terminal (-) clamp signal CLP 'is input to the non-inverting When the terminal potential is higher than the inverted terminal potential, a high-level gate signal GTS is output. Differentiation / zero cross signal generation section Differentiation / zero cross signal generation section 106 generates reproduction signal RDS
1 'and RDS2' are differentiated signals DFS,
A differential circuit 106a having a CR configuration for outputting DFS 'and a comparator 106c for outputting a high-level zero-cross signal ZCS when the difference signal between the differential signals DFS and DFS' becomes equal to or lower than zero level are provided.

【0037】データパルス出力部 データパルス出力部107はゲート信号GTSが発生し
ているときに零クロス信号ZCSが発生した時、すなわ
ち、再生信号RDS1のピーク点でデータパルス(再生
データ)DTを出力するようになっている。107aは
フリップフロップ、107bは所定の遅延時間を設定す
る遅延部である。ゲート信号GTSがハイレベルの時
に、零クロス信号ZCSが発生すると、フリップフロッ
プ107aはセットされ、遅延時間経過後にリセットさ
れる。これにより、遅延時間に相当する幅のデータパル
スDTが出力される。尚、データパルス出力部107を
アンドゲートで構成し、アンドゲートでゲート信号GT
Sと零クロス信号ZCSの論理関を演算することにより
データパルスDTを出力するようにもできる。
Data pulse output unit The data pulse output unit 107 outputs a data pulse (reproduction data) DT when the zero cross signal ZCS is generated while the gate signal GTS is being generated, that is, at the peak point of the reproduction signal RDS1. It is supposed to. 107a is a flip-flop, and 107b is a delay unit for setting a predetermined delay time. When the zero cross signal ZCS is generated while the gate signal GTS is at the high level, the flip-flop 107a is set and reset after the elapse of the delay time. As a result, a data pulse DT having a width corresponding to the delay time is output. The data pulse output unit 107 is formed by an AND gate, and the gate signal GT is output by the AND gate.
By calculating the logical relationship between S and the zero cross signal ZCS, the data pulse DT can be output.

【0038】フィードバック系の構成 図5はクランプ信号振幅をゲイン可変増幅器101にフ
ィードバックする振幅フィードバック系の構成図、図6
は振幅フィードバック系の動作説明用波形図である。1
08はクランプ回路から出力されるクランプ信号CLP
の振幅と参照電圧レベルVrとの振幅差を出力する振幅
比較部、102は振幅差に応じた制御電圧信号Vcnt
を発生するAGC制御部、109は参照電圧発生部であ
り、クランプ回路104を構成するショットキバリアダ
イオードD1の順方向電圧降下VFのn(=1.1〜1.
7)倍の参照電圧Vrを発生する。尚、n=1.1〜
1.7とする理由は後述する。振幅比較部108におい
て、108aは参照電圧Vrとクランプ回路から入力さ
れるクランプ信号CLPとの振幅を比較する振幅比較
器、108bは定電流源Iin,Iout及びスイッチSWi
n,SWoutで構成されたチャージポンプで、振幅比較器
108aの出力に基づいてスイッチSWin,SWoutを
オン・オフして吸い込み/吐き出しをする。AGC制御
部102において、102aはチャージポンプの電流出
力を電圧に変換するローパスフィルタ、102bはロー
パスフィルタ出力を制御電圧信号Vcntとして出力する
バッファアンプである。
FIG. 5 is a block diagram of an amplitude feedback system for feeding back the amplitude of the clamp signal to the variable gain amplifier 101.
7 is a waveform diagram for explaining the operation of the amplitude feedback system. 1
08 is a clamp signal CLP output from the clamp circuit.
And an amplitude comparator 102 for outputting an amplitude difference between the reference voltage level Vr and the control voltage signal Vcnt according to the amplitude difference.
Is a reference voltage generation unit, and n (= 1.1 to 1.... N) of the forward voltage drop V F of the Schottky barrier diode D 1 included in the clamp circuit 104.
7) Generate double reference voltage Vr. In addition, n = 1.1-
The reason for setting to 1.7 will be described later. In the amplitude comparing unit 108, reference numeral 108a denotes an amplitude comparator for comparing the amplitude of the reference voltage Vr with the clamp signal CLP input from the clamp circuit, and 108b denotes constant current sources Iin and Iout and a switch SWi.
A charge pump composed of n and SWout turns on and off the switches SWin and SWout based on the output of the amplitude comparator 108a to perform suction / discharge. In the AGC control unit 102, a low-pass filter 102a converts a current output of the charge pump into a voltage, and a buffer amplifier 102b outputs a low-pass filter output as a control voltage signal Vcnt.

【0039】参照電圧発生部109はクランプ回路10
4の近傍に設けられ、クランプ回路104のショットキ
バリアダイオードD1と同一特性のショットキバリアダ
イオードD1′と、該ダイオードを順方向バイアスする
バイアス抵抗R0と、ショットキダイオードD1′の順方
向電圧降下VFをn(=1.1〜1.7)倍する乗算部
(例えばアンプ)MLTを有している。ショットキバリ
アダイオードD1′の順方向電圧降下VFは、乗算部ML
Tでn(=1.1〜1.7)倍され、コンパレータ10
8aの−端子に入力される。一方、クランプ信号CLP
は同じくコンパレータ108aの+端子に入力される。
コンパレータ108aは両入力の振幅を比較し、クラン
プ信号振幅がVr(=n・VF)以下の場合には、ローレ
ベルの駆動信号CDを出力し、n・VF以上の場合に
は、ハイレベルの駆動信号CDを出力する。駆動信号C
Dがローレベルの場合には、スイッチSWoutがオン
し、ローパスフィルタ102aのコンデンサに充電され
ていた電荷が放電し、逆に駆動信号CDがハイレベルの
場合には、スイッチSWinがオンし、ローパスフィルタ
102aのコンデンサに電荷が充電される。この結果、
ローパスフィルタ102aより図6に示すように、クラ
ンプ信号CLPの振幅に応じて増減する制御電圧信号V
cntが出力される。
The reference voltage generator 109 is provided with the clamp circuit 10
Provided in the vicinity of 4, the Schottky barrier diode D 1 of the Schottky barrier diode D 1 and the same characteristics of the clamp circuit 104 ', a bias resistor R 0 of the diode to forward bias Schottky diodes D 1' forward voltage of the drop V F has n (= 1.1 to 1.7) multiplied multiplying unit (e.g. an amplifier) MLT. The forward voltage drop V F of the Schottky barrier diode D 1 ′ is calculated by the multiplier ML
T is multiplied by n (= 1.1 to 1.7), and the comparator 10
8a is input to the-terminal. On the other hand, the clamp signal CLP
Is also input to the + terminal of the comparator 108a.
Comparator 108a compares the amplitude of both input, when the clamp signal amplitude of Vr (= n · V F) below, and outputs a low level of the drive signal CD, in the case of more than n · V F is high A level drive signal CD is output. Drive signal C
When D is at the low level, the switch SWout is turned on, and the charge stored in the capacitor of the low-pass filter 102a is discharged. Conversely, when the drive signal CD is at the high level, the switch SWin is turned on and the low-pass filter is turned on. The electric charge is charged in the capacitor of the filter 102a. As a result,
As shown in FIG. 6, the control voltage signal V increases or decreases according to the amplitude of the clamp signal CLP from the low-pass filter 102a.
cnt is output.

【0040】ローパスフィルタ102aとしてコンデン
サのみの場合(伝達関数F(s)=1/sC)を示した
が、抵抗とコンデンサが直列に接続された2次フィルタ
(伝達関数F(s)=R+1/sC)であってもよい。2
次フィルタであっても動作原理はコンデンサのみの場合
と全く同様であり、どちらを選択するかはシステム設計
に依存する。尚、振幅比較部108において、データ開
始時のAGC引き込み時に充放電電流Iin,Ioutが増
加し、その後減少し、AGCアタック時間の低減が可能
となる。この結果、後述するAGC制御部102の制御
でゲイン可変増幅器101の応答時間が低下し、データ
パターンに基づく振幅変動による悪影響が除かれる。
Although the case where only the capacitor is used as the low-pass filter 102a (transfer function F (s) = 1 / sC) is shown, a secondary filter in which a resistor and a capacitor are connected in series (transfer function F (s) = R + 1 / sC). 2
The operation principle of the next filter is completely the same as that of the case of using only the capacitor, and which one to select depends on the system design. In the amplitude comparison unit 108, the charge / discharge currents Iin and Iout increase at the time of AGC pull-in at the start of data, and thereafter decrease, so that the AGC attack time can be reduced. As a result, the response time of the variable gain amplifier 101 is reduced by the control of the AGC control unit 102, which will be described later, and the adverse effect due to the amplitude fluctuation based on the data pattern is eliminated.

【0041】ゲイン可変増幅器 図7はゲイン可変増幅器の構成図である。図7の構成は
ギルバートセルとよばれ、既に多くの回路に使用されて
いるものである。ゲイン可変増幅器101は、互いに極
性の異なる再生信号RDS1,RDS2が入力されるト
ランジスタQ5,Q6を備えた差動アンプ段101a、差
動アンプ段の各トランジスタに電流を供給するバイアス
部101b、定電流部101c、出力バッファ段101
d、トランジスタスイッチ部101eを有している。ト
ランジスタスイッチ部101eはAGC制御部102か
ら出力される制御電圧信号Vcntと予め設定されている
基準電圧Vrefの大小に応じて差動アンプ段101aの
ゲインを制御する2組のトランジスタスイッチSW1
(Q1,Q2),SW2(Q3,Q4)を有している。トラ
ンジスタスイッチ部101eは制御電圧信号Vcntと基
準電圧Vrefを比較し、基準電圧と制御電圧が等しくな
るようにトランジスタQ1〜Q4の導通度を制御し、結果
的に差動アンプ101aのゲインを制御し、再生信号R
DS1,RDS2の振幅が最適値となるようにする。
Variable Gain Amplifier FIG. 7 is a block diagram of a variable gain amplifier. The configuration shown in FIG. 7 is called a Gilbert cell and is already used in many circuits. Variable-gain amplifier 101, a differential amplifier stage 101a, a bias portion 101b for supplying a current to each transistor of the differential amplifier stage with transistors Q 5, Q 6 of the reproduction signal RDS1, RDS2 of different polarities are input together, Constant current section 101c, output buffer stage 101
d, a transistor switch section 101e. The transistor switch unit 101e controls the gain of the differential amplifier stage 101a according to the control voltage signal Vcnt output from the AGC control unit 102 and the preset reference voltage Vref.
(Q 1 , Q 2 ) and SW2 (Q 3 , Q 4 ). Transistor switch unit 101e compares the control voltage signal Vcnt and the reference voltage Vref, so that the reference voltage and the control voltage is equal to controlling the conductivity of the transistor Q 1 to Q 4, the gain as a result, the differential amplifier 101a Control the playback signal R
The amplitudes of DS1 and RDS2 are set to optimal values.

【0042】動作原理を簡単に説明する。差動入力信号
(再生信号)RDS1,RDS2は、差動アンプ101
aのトランジスタQ5,Q6に入力される。各トランジス
タの負荷には、それぞれトランジスタQ1,Q2及び
3,Q4で構成されたトランジスタスイッチSW1,S
W2が接続されており、各トランジスタの一方のベース
には制御電圧信号Vcntが、他方には、基準電圧信号Vr
efが印加されている。基準電圧Vref>制御電圧信号Vc
ntの場合には、トランジスタQ2,Q4がオンし、トラン
ジスタQ1,Q3はオフする。このため、再生信号RDS
1,RDS2はトランジスタQ2,Q4の負荷抵抗RA
現れ、バッファ段101dのトランジスタQ7,Q8を経
由して次段の波形処理部103の入力信号RDS1″、
RDS2″となる。この際が、最大ゲインであり、電圧
ゲインはRA/RBである。
The operation principle will be briefly described. The differential input signals (reproduction signals) RDS1 and RDS2 are
Input to the transistors Q 5 and Q 6 of FIG. The load of each transistor, the transistors Q 1, Q 2 and Q 3, Q transistor switch SW1 is constituted by 4, S
W2 is connected, a control voltage signal Vcnt is connected to one base of each transistor, and a reference voltage signal Vr is connected to the other.
ef is applied. Reference voltage Vref> Control voltage signal Vc
In the case of nt, the transistors Q 2 and Q 4 are turned on, and the transistors Q 1 and Q 3 are turned off. Therefore, the reproduction signal RDS
1 and RDS2 appear in the load resistance RA of the transistors Q 2 and Q 4 , and input signals RDS 1 ″ of the next stage waveform processing unit 103 via the transistors Q 7 and Q 8 of the buffer stage 101 d.
RDS2 ″. At this time, the maximum gain is obtained, and the voltage gain is R A / R B.

【0043】次に、基準電圧Vref<制御電圧信号Vcnt
の場合には、トランジスタQ1,Q3がオンし、トランジ
スタQ2,Q4はオフする。このため、再生信号RDS
1,RDS2は負荷抵抗RAに全く現れなくなり、ゲイ
ンが零となる。実際には、フィードバックループにより
基準電圧Vref≒制御電圧信号Vcntとなるように制御が
行われ、結果的にクランプ信号CLPの信号振幅がショ
トキバリアダイオードD 1の順方向電圧降下VFのn(=
1.1〜1.7)倍となる。
Next, the reference voltage Vref <the control voltage signal Vcnt
, The transistor Q1, QThreeTurns on and the transi
Star QTwo, QFourTurns off. Therefore, the reproduction signal RDS
1, RDS2 is the load resistance RADisappeared at all from gay
Is zero. In fact, due to the feedback loop
Control is performed so that the reference voltage Vref ≒ the control voltage signal Vcnt.
And the signal amplitude of the clamp signal CLP is reduced.
Tokibarrier diode D 1Forward voltage drop VFN (=
1.1 to 1.7) times.

【0044】(c) マージン 図3の実施例では、ゲート信号GTS作成用のスライス
レベルは、ショットキーダイオードD1の順方向電圧降
下VFのみによって決定され、順方向電圧降下V Fとクラ
ンプ信号の振幅がゲート信号GTSを作成する際のマー
ジンに大きく関係してくる。一般にショットキーダイオ
ードの順方向電圧降下VFは温度依存性が強く、接合面
の温度が高くなるほどVFが低下する傾向を持つ。光デ
ィスクの使用環境温度(50C〜450C)に動作時の発
熱等を考慮すると、接合面の温度変化は00C〜800
以上になり、この温度変化により、VFは2倍(1/
2)近く変化する。このため、マージンを向上するため
には、VFの変化に応じて再生信号すなわちクランプ信
号の振幅を制御する必要がある。一方、光ディスクの反
射率、媒体の性能や再生効率によって、再生信号振幅は
最大2倍近く変動する。このため、再生信号振幅が変動
したらVFに応じた適正な振幅になるように制御する必
要がある。
(C) Margin In the embodiment of FIG. 3, a slice for creating a gate signal GTS is used.
Level is Schottky diode D1Forward voltage drop
Lower VFAnd the forward voltage drop V FAnd kura
The amplitude of the pump signal is
It has a lot to do with gin. Generally Schottky Dio
Forward voltage drop VFIs strongly temperature-dependent,
The higher the temperature of VFHas a tendency to decrease. Light de
Disk operating environment temperature (50C ~ 450C) When operating
Considering heat, etc., the temperature change at the joint surface is 00C-800C
As described above, this temperature change causes VFIs twice (1 /
2) Change near. Therefore, to improve margin
Has VFThe reproduction signal, that is, the clamp signal
It is necessary to control the amplitude of the signal. On the other hand,
Depending on the firing rate, the performance of the medium, and the playback efficiency, the playback signal amplitude
It fluctuates up to almost twice. Therefore, the amplitude of the reproduced signal fluctuates.
Then VFMust be controlled so that the amplitude becomes appropriate according to
It is necessary.

【0045】図2、図3の実施例構成で、クランプ信号
振幅に対するマージンの測定例を図8に示す。この図
は、信号振幅比(信号振幅/VF)とゲート信号作成時
のマージン劣化を表したものである。これにより、ゲー
ト信号発生部105に入力されるクランプ信号CLP,
CLP′の信号振幅は、対VFで1.1〜1.7の時最
も特性がよいことが判る。この目標振幅をクリアするた
めには、ダイオードの順方向電圧降下VFの1.1〜
1.7倍したものを参照電圧Vrとして発生する。そし
て、該参照電圧Vrとクランプ信号CLPの信号振幅と
の差を振幅比較部108で検出し、該差に応じた制御電
圧信号VcntをAGC制御部102より出力してゲイン
可変増幅器101のゲインを制御する。これにより、ク
ランプ信号CLPの信号振幅がショトキバリアダイオー
ドD1の順方向電圧降下VFのn(=1.1〜1.7)倍
となるようにフィードバック制御される。
FIG. 8 shows an example of measuring the margin with respect to the amplitude of the clamp signal in the embodiment shown in FIGS. This figure shows a signal amplitude ratio (signal amplitude / V F ) and a margin deterioration at the time of creating a gate signal. As a result, the clamp signals CLP,
Signal amplitude of CLP 'is most characteristic when 1.1 to 1.7 against the V F is found to be good. To clear this target amplitude is 1.1 in the forward voltage drop V F of the diode
A value multiplied by 1.7 is generated as the reference voltage Vr. Then, a difference between the reference voltage Vr and the signal amplitude of the clamp signal CLP is detected by the amplitude comparison unit 108, and a control voltage signal Vcnt corresponding to the difference is output from the AGC control unit 102 to change the gain of the variable gain amplifier 101. Control. Thus, the signal amplitude of the clamp signal CLP is feedback controlled such that n (= 1.1 to 1.7) times the forward voltage drop V F of the Schottky barrier diode D 1.

【0046】(d) 変形例 以上では、極性の異なる再生信号RDS1,RDS2を
用いてゲイン可変増幅器、波形処理部、クランプ回路、
ゲート信号発生部で所定の処理をした場合であるが、再
生信号RDS1,RDS2の差を演算して得られる再生
信号RDSを用いてデータパルスDTを発生するように
構成することもできる。かかる場合には、クランプ回路
以降を図9に示すように構成する。クランプ回路104
は図3に比べて片信号分のみでよく、ゲート信号発生部
105の非反転端子(+)にはクランプ信号CLPが入
力され、反転端子(−)にはVb+VF/2(VFはダイ
オードの順方向降下電圧)が入力される。
(D) Modification In the above, a variable gain amplifier, a waveform processing unit, a clamp circuit, and a reproduction signal RDS1 and RDS2 having different polarities are used.
In the case where predetermined processing is performed in the gate signal generation unit, the data pulse DT may be generated using a reproduction signal RDS obtained by calculating a difference between the reproduction signals RDS1 and RDS2. In such a case, the circuit after the clamp circuit is configured as shown in FIG. Clamp circuit 104
The well is only single signal component compared to FIG. 3, the clamp signal CLP is input to the non-inverting terminal of the gate signal generator 105 (+), an inverting terminal (-) in the Vb + V F / 2 (V F diode Forward drop voltage) is input.

【0047】ゲート信号発生部105におけるクランプ
信号CLPの比較電位は、最長パターン時の再生信号振
幅、すなわち最大振幅の50%近傍に設定するのが理想
的である。何故ならば、再生信号のS/N比が劣化し、
誤ったゲート信号が開くのを防ぐためのいわゆるレベル
マージンが、再生信号のセンターで最大になるからであ
る。このため、コンパレータCMPの反転端子にはVb
+VF/2が入力されている。図10は図9における各
部の信号波形図である。以上では、MO領域の情報の再
生について説明したが、本発明はプリフォーマット部
(ID領域)の情報の再生にも適用できるものである。
又、以上ではショットキーダイオードを用いた場合につ
いて説明したが、その他の高速ダイオードを用いること
もできる。更に、以上では本発明を実施例により説明し
たが、本発明は請求の範囲に記載した本発明の主旨に従
い種々の変形が可能であり、本発明はこれらを排除する
ものではない。
Ideally, the comparison potential of the clamp signal CLP in the gate signal generation section 105 is set to around 50% of the reproduction signal amplitude in the longest pattern, that is, 50% of the maximum amplitude. This is because the S / N ratio of the reproduced signal deteriorates,
This is because a so-called level margin for preventing an erroneous gate signal from opening is maximized at the center of the reproduced signal. Therefore, Vb is applied to the inverting terminal of the comparator CMP.
+ V F / 2 is input. FIG. 10 is a signal waveform diagram of each part in FIG. Although the reproduction of the information in the MO area has been described above, the present invention is also applicable to the reproduction of the information in the preformat section (ID area).
Further, the case where the Schottky diode is used has been described above, but other high-speed diodes can be used. Furthermore, although the present invention has been described above with reference to the embodiments, the present invention can be variously modified in accordance with the gist of the present invention described in the claims, and the present invention does not exclude these.

【0048】[0048]

【発明の効果】以上本発明によれば、クランプ回路にお
いて再生信号のピークを所定電位にクランプし、該一定
ピーク値に基づいてゲート信号を発生するようにしたか
ら、ピーク値が変動しても、正確にゲート信号を発生す
ることができ、又、高密度化により、あるいは記録条件
の変化によって分解能が低下した場合でも、あるいはト
ランジェントやエンベロープ変動が存在する場合であっ
ても正確にデータの読み取りができる。更に、本発明に
よれば、ピーク値を定電位にクランプするようにしたか
ら、ゲート信号作成用のスライスレベルを高めに設定で
き、欠陥等により発生するノイズを誤読み取りすること
がなく、欠陥の影響をなくすことができる。
As described above, according to the present invention, the peak of the reproduced signal is clamped to a predetermined potential in the clamp circuit, and the gate signal is generated based on the constant peak value. Gate signal can be generated accurately, and even if the resolution is reduced due to the increase in density or the change in recording conditions, or even if there is a transient or envelope fluctuation, data can be read accurately. Can be. Furthermore, according to the present invention, since the peak value is clamped at a constant potential, the slice level for creating a gate signal can be set higher, so that noise generated due to a defect or the like is not erroneously read and the defect is not detected. The effect can be eliminated.

【0049】又、本発明によれば、クランプ回路をショ
ットキーダイオードを用いて構成すると共に、振幅比較
部における参照電圧レベルをショットキーダイオードの
順方向電圧の1.1倍〜1.7倍となるようにAGC制
御するようにしたから、媒体特性やドライブ間のバラツ
キにより再生信号振幅が変動してもAGC動作により、
クランプ信号の振幅を最適となるように自動設定して装
置マージンを大きくできる。又、環境温度や接合面温度
によりダイオードの特性(順方向降下電圧)が変動して
もクランプ信号の振幅をAGC制御により最適にでき、
装置マージンを大きくできる。更に、ショットキーダイ
オードは蓄積電荷の影響が無いため再生信号のピーク値
を遅延なく高速クランプすることができ、高密度、高速
転送に対応することができる。
Further, according to the present invention, the clamp circuit is constituted by using a Schottky diode, and the reference voltage level in the amplitude comparing section is set to 1.1 to 1.7 times the forward voltage of the Schottky diode. AGC control is performed so that even if the reproduction signal amplitude fluctuates due to variations in the medium characteristics and drives, the AGC operation will
The apparatus margin can be increased by automatically setting the amplitude of the clamp signal to be optimal. Also, even if the diode characteristics (forward voltage drop) fluctuate due to the environmental temperature or junction temperature, the amplitude of the clamp signal can be optimized by AGC control.
The device margin can be increased. Further, since the Schottky diode is not affected by the accumulated charge, it can clamp the peak value of the reproduced signal at high speed without delay, and can cope with high density and high speed transfer.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の原理説明図である。FIG. 1 is a diagram illustrating the principle of the present invention.

【図2】本発明のデータ再生回路の実施例構成図であ
る。
FIG. 2 is a configuration diagram of an embodiment of a data reproduction circuit of the present invention.

【図3】波形処理部後方の各部の構成図である。FIG. 3 is a configuration diagram of each unit behind a waveform processing unit.

【図4】各部の波形図である。FIG. 4 is a waveform chart of each part.

【図5】振幅フィードバック系の構成図である。FIG. 5 is a configuration diagram of an amplitude feedback system.

【図6】振幅フィードバック系の動作説明用波形図であ
る。
FIG. 6 is a waveform chart for explaining the operation of the amplitude feedback system.

【図7】ゲイン可変増幅器の構成図である。FIG. 7 is a configuration diagram of a variable gain amplifier.

【図8】信号振幅に対するマージン測定結果説明図であ
る。
FIG. 8 is an explanatory diagram of a margin measurement result with respect to a signal amplitude.

【図9】本発明の変形例を示す各部構成図であるであ
る。
FIG. 9 is a configuration diagram of each section showing a modification of the present invention.

【図10】変形例の動作説明用波形図である。FIG. 10 is a waveform diagram for explaining the operation of the modification.

【図11】光磁気ディスクの書き込み・読み取り説明図
である。
FIG. 11 is an explanatory diagram of writing / reading of a magneto-optical disk.

【図12】光磁気ディスク媒体の構成図である。FIG. 12 is a configuration diagram of a magneto-optical disk medium.

【図13】システム構成図である。FIG. 13 is a system configuration diagram.

【図14】システムの電気的構成図である。FIG. 14 is an electrical configuration diagram of the system.

【図15】光磁気ヘッドの基本構成図である。FIG. 15 is a diagram showing a basic configuration of a magneto-optical head.

【図16】MO領域情報読取原理説明図である。FIG. 16 is a diagram illustrating the principle of reading MO area information.

【図17】光磁気ディスクドライブ装置の構成図であ
る。
FIG. 17 is a configuration diagram of a magneto-optical disk drive device.

【図18】データ再生方式説明図である。FIG. 18 is an explanatory diagram of a data reproducing method.

【図19】データ再生回路の構成図である。FIG. 19 is a configuration diagram of a data reproduction circuit.

【図20】従来の問題点説明図である。FIG. 20 is an explanatory diagram of a conventional problem.

【図21】従来の別の問題点説明図である。FIG. 21 is a diagram for explaining another conventional problem.

【図22】トランジェント説明図である。FIG. 22 is an explanatory diagram of a transient.

【図23】ピークホールド回路を用いた構成図である。FIG. 23 is a configuration diagram using a peak hold circuit.

【図24】従来の情報再生装置の構成図である。FIG. 24 is a configuration diagram of a conventional information reproducing apparatus.

【図25】各部波形図である。FIG. 25 is a waveform diagram of each part.

【図26】トランジスタ及びダイオードを用いたクラン
プ回路の問題点説明図である。
FIG. 26 is a diagram illustrating a problem of a clamp circuit using a transistor and a diode.

【図27】下限レベルクランプの問題点説明図である。FIG. 27 is an explanatory diagram of a problem of a lower limit level clamp.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

101・・ゲイン可変の増幅器 102・・AGC制御部 104・・クランプ回路 105・・ゲート信号発生部 106・・微分・零クロス信号発生部 107・・データパルス出力部 108・・振幅比較部 101: Variable gain amplifier 102: AGC control unit 104: Clamp circuit 105: Gate signal generation unit 106: Differentiation / zero cross signal generation unit 107: Data pulse output unit 108: Amplitude comparison unit

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G11B 20/10 321 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on front page (58) Field surveyed (Int.Cl. 7 , DB name) G11B 20/10 321

Claims (7)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 記憶媒体から読み取った再生信号を微分
し、該微分信号が零レベルをクロスしたとき零クロス信
号を出力する零クロス信号発生部と、前記再生信号を用
いてゲート信号を発生するゲート信号発生部を備え、ゲ
ート信号が発生しているときに零クロス信号が発生した
時、データパルスを出力する再生装置において、 再生信号を増幅するゲイン可変の増幅器と、 該増幅器の出力信号のピーク値をクランプするクランプ
回路と、 参照電圧レベルを発生する参照電圧発生部と、 クランプ回路から出力されるクランプ信号の振幅と参照
電圧レベルを比較する振幅比較部と、 比較結果に基づいてゲイン可変増幅器のゲインを制御
し、クランプ回路の出力信号振幅を制御するAGC制御
部を備え、 前記ゲート信号発生部はクランプ回路から出力されるク
ランプ信号と所定の信号レベルを比較してゲート信号を
発生する再生装置
1. A zero-cross signal generator for differentiating a reproduced signal read from a storage medium and outputting a zero-cross signal when the differentiated signal crosses a zero level, and generating a gate signal using the reproduced signal. A reproducing apparatus for outputting a data pulse when a zero cross signal is generated while a gate signal is being generated; a variable gain amplifier for amplifying the reproduced signal; A clamp circuit that clamps the peak value, a reference voltage generator that generates the reference voltage level, an amplitude comparator that compares the amplitude of the clamp signal output from the clamp circuit with the reference voltage level, and a gain variable based on the comparison result An AGC control unit that controls the gain of the amplifier and controls the amplitude of the output signal of the clamp circuit; Reproducing device for generating a gate signal by comparing the clamped signal and a predetermined signal level force.
【請求項2】 前記クランプ回路は、再生信号の直流分
をカットするコンデンサと、バイアス抵抗と、該バイア
ス抵抗を介して順方向にバイアスされ、かつ、アノード
側が前記コンデンサに接続されたダイオードより構成さ
れたダイオードクランプ機構である請求項1記載の再生
装置
2. A clamp circuit comprising: a capacitor for cutting a direct current component of a reproduction signal; a bias resistor; and a diode biased in a forward direction via the bias resistor and having an anode connected to the capacitor. 2. The reproduction according to claim 1, wherein the reproduction is a diode clamp mechanism.
Equipment .
【請求項3】 前記ダイオードはショットキバリアダイ
オードである請求項2記載の再生装置
3. The reproducing apparatus according to claim 2, wherein the diode is a Schottky barrier diode.
【請求項4】 前記参照電圧レベルはダイオードの順方
向電圧に比例して決定する請求項2又は請求項3記載の
再生装置
4. The device according to claim 2, wherein the reference voltage level is determined in proportion to a forward voltage of the diode.
Playback device .
【請求項5】 前記参照電圧レベルはダイオードの順方
向電圧の1.1倍〜1.7倍である請求項4記載の再生
装置
5. The reproduction according to claim 4, wherein the reference voltage level is 1.1 to 1.7 times the forward voltage of the diode.
Equipment .
【請求項6】 前記振幅比較部は、参照電圧とクランプ
信号の振幅とを比較する比較器と、該比較器の出力によ
り、吸い込み/吐き出しをするチャージポンプを備え、
前記AGC制御部は該チャージポンプの電流出力を電圧
に変換するローパスフィルタを有し、ローパスフィルタ
出力を制御電圧信号とする請求項1記載の再生装置
6. The amplitude comparing section includes: a comparator for comparing a reference voltage with an amplitude of a clamp signal; and a charge pump for performing suction / discharge based on an output of the comparator.
2. The reproducing apparatus according to claim 1, wherein the AGC control unit has a low-pass filter that converts a current output of the charge pump into a voltage, and uses the low-pass filter output as a control voltage signal.
【請求項7】 前記ダイオードクランプ機構の直流カッ
ト用のコンデンサとバイアス抵抗による時定数は、最長
ビットセル間隔(ピーク点から次のピーク点までのうち
最も長い間隔)以上であり、かつ、データフィールドの
先頭にあるVFOパターン長以下である請求項2記載の
再生装置
7. The time constant of the diode clamping mechanism due to a DC cut capacitor and a bias resistor is equal to or longer than the longest bit cell interval (the longest interval from a peak point to the next peak point), and 3. The method according to claim 2, wherein the length is equal to or less than the length of the leading VFO pattern.
Playback device .
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