JP3002340B2 - Optical pulse tester - Google Patents

Optical pulse tester

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JP3002340B2
JP3002340B2 JP4261558A JP26155892A JP3002340B2 JP 3002340 B2 JP3002340 B2 JP 3002340B2 JP 4261558 A JP4261558 A JP 4261558A JP 26155892 A JP26155892 A JP 26155892A JP 3002340 B2 JP3002340 B2 JP 3002340B2
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  • Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、被測定光ファイバに光
パルスを供給し、これに伴って被測定光ファイバ内で散
乱して戻ってくる後方散乱光およびフレネル反射光を受
光検出して信号処理することにより、被測定光ファイバ
の光損失や障害点位置等を測定する光パルス試験器に関
するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method for supplying an optical pulse to an optical fiber to be measured and detecting and detecting backscattered light and Fresnel reflected light which are scattered and returned in the optical fiber to be measured. The present invention relates to an optical pulse tester that measures the optical loss and the position of a fault point of an optical fiber to be measured by performing signal processing.

【0002】[0002]

【従来の技術】被測定光ファイバに光パルスを供給し、
この光パルスの供給に伴って被測定光ファイバから戻っ
てくる反射光を受光検出して信号処理することにより、
被測定光ファイバの光損失や傷害点位置等の測定を行う
装置として光パルス試験器が知られている。
2. Description of the Related Art An optical pulse is supplied to an optical fiber to be measured.
By receiving and detecting the reflected light returning from the optical fiber to be measured with the supply of this light pulse and processing the signal,
2. Description of the Related Art An optical pulse tester is known as a device for measuring the optical loss of a measured optical fiber, the position of an injury point, and the like.

【0003】図7はこの種の光パルス試験器の一構成例
を示すブロック図である。この光パルス試験器は、タイ
ミング発生器21、発光素子駆動部22、E/O変換器
23、カプラ24、O/E変換器25、信号処理部2
6、表示器27を備えて構成されている。この光パルス
試験器では、タイミング発生器21が所定の繰り返し周
期で同期信号を発生し、この同期信号の入力タイミング
で発光素子駆動部22がE/O変換器23に電流パルス
を出力すると、E/O変換器23はカプラ24を介して
被測定光ファイバ28に光パルスを供給する。光パルス
が被測定光ファイバ28に供給されると、被測定光ファ
イバ28内でフレネル反射(反射光)と後方散乱光(散
乱光)とが発生する。このフレネル反射光および後方散
乱光はカプラ24を介してO/E変換器25に受光検出
されて電気信号に変換される。そして、変換された信号
は所定レベルまで増幅されてデジタル信号に変換された
後、信号処理部26により積算平均および対数変換の信
号処理が行われ、その結果が表示器27に波形表示され
る。
FIG. 7 is a block diagram showing an example of the configuration of this type of optical pulse tester. The optical pulse tester includes a timing generator 21, a light emitting element driving unit 22, an E / O converter 23, a coupler 24, an O / E converter 25, and a signal processing unit 2.
6. The display 27 is provided. In this optical pulse tester, when the timing generator 21 generates a synchronization signal at a predetermined repetition cycle, and the light emitting element driving unit 22 outputs a current pulse to the E / O converter 23 at the input timing of the synchronization signal, The / O converter 23 supplies an optical pulse to the measured optical fiber 28 via the coupler 24. When the optical pulse is supplied to the measured optical fiber 28, Fresnel reflection (reflected light) and backscattered light (scattered light) are generated in the measured optical fiber 28. The Fresnel reflected light and the backscattered light are received and detected by the O / E converter 25 via the coupler 24 and are converted into electric signals. After the converted signal is amplified to a predetermined level and converted into a digital signal, the signal processing unit 26 performs signal processing of integrated averaging and logarithmic conversion, and the result is displayed in a waveform on a display 27.

【0004】ここで、被測定光ファイバ28からの後方
散乱光は非常に微弱な信号のため、上述した従来の光パ
ルス試験器では、周期的に被測定光ファイバ28に光パ
ルスを供給し、後方散乱光を積算平均してS/N比を改
善していたが、この場合、光パルスの出射の繰り返し周
期は、光パルスが被測定光ファイバ28を往復する時間
よりも長くする必要があった。
Since the backscattered light from the measured optical fiber 28 is a very weak signal, the above-described conventional optical pulse tester periodically supplies an optical pulse to the measured optical fiber 28, The S / N ratio is improved by integrating and averaging the backscattered light. In this case, the repetition period of the emission of the optical pulse needs to be longer than the time for the optical pulse to reciprocate through the optical fiber 28 to be measured. Was.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、繰り返
し周期を必要以上に長くすると、同じ時間内で信号処理
部26が行う積算平均の加算処理回数が減少してS/N
比の改善量が悪くなるという問題があった。逆に、繰り
返し周期を短くしすぎると、被測定光ファイバ28の反
射光と、次の光パルスの供給に伴って戻ってくる被測定
光ファイバ28の反射光とが重なって波形が歪み、正確
な測定を行うことができなかった。
However, if the repetition period is made unnecessarily long, the number of additions of the integrated average performed by the signal processing unit 26 within the same time is reduced, and the S / N
There was a problem that the improvement of the ratio became worse. On the other hand, if the repetition period is too short, the reflected light of the measured optical fiber 28 and the reflected light of the measured optical fiber 28 that return with the supply of the next light pulse are overlapped and the waveform is distorted. Measurement could not be performed.

【0006】また、被測定光ファイバ28の遠端28a
での反射が大きいと、図3(a)に示すように、戻って
きたフレネル反射光が近端28bのコネクタや光パルス
試験器内部で再度反射して被測定光ファイバ28の長さ
Lの倍の距離に2次フレネル反射光が現れる場合があ
る。
Further, a far end 28a of the optical fiber 28 to be measured is
3A, the returned Fresnel reflected light is reflected again inside the connector at the near end 28b or inside the optical pulse tester, and the length L of the measured optical fiber 28 is reduced, as shown in FIG. Secondary Fresnel reflected light may appear at twice the distance.

【0007】そこで、従来の光パルス試験器では、図8
に示すように、上述した2次反射の影響を考慮して、測
定者が被測定光ファイバ28の長さLから予め設定され
た複数の距離レンジの中から最適距離レンジを選択して
いた。そして、光パルス試験器では、その距離レンジか
ら光の往復時間を算出してその倍の距離に相当する時間
を繰り返し周期として設定していた。
Therefore, in the conventional optical pulse tester, FIG.
As shown in (1), the measurer has selected the optimum distance range from a plurality of distance ranges set in advance from the length L of the measured optical fiber 28 in consideration of the influence of the secondary reflection described above. In the optical pulse tester, the round trip time of light is calculated from the distance range, and a time corresponding to twice the distance is set as a repetition period.

【0008】このため、従来の光パルス試験器では、被
測定光ファイバ28の遠端28aによる2次反射光の有
無に係わらず、測定レンジの繰り返し周期が被測定光フ
ァイバ28の倍の長さLを往復ずる時間に固定設定され
るので、被測定光ファイバ28の遠端28aの2次反射
が起こらない場合には、最適な繰り返し周期に設定され
ないという問題があった。また、測定者が被測定光ファ
イバ28の長さLから、その都度、最適な距離レンジを
設定しなければならないという操作上の煩わしさもあっ
た。
For this reason, in the conventional optical pulse tester, the repetition period of the measurement range is twice the length of the measured optical fiber 28 regardless of the presence or absence of the secondary reflected light from the far end 28a of the measured optical fiber 28. Since it is fixedly set to the time required to reciprocate in L, there is a problem that the optimum repetition cycle is not set when the secondary reflection of the far end 28a of the optical fiber under measurement 28 does not occur. In addition, there is also an operational inconvenience that the measurer must set an optimum distance range each time from the length L of the measured optical fiber 28.

【0009】そこで、本発明は上記問題点に鑑みてなさ
れたものであって、その目的は、被測定光ファイバに供
給される光パルスの繰り返し周期を自動的に演算して最
適に設定することができる光パルス試験器を提供するこ
とにある。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in consideration of the above problems, and has as its object to automatically calculate and optimally set a repetition period of an optical pulse supplied to an optical fiber to be measured. It is an object of the present invention to provide an optical pulse tester capable of performing the following.

【0010】[0010]

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、本発明による請求項1の光パルス試験器は、観測波
形が検出可能な距離に相当する時間よりも長い時間に予
め初期設定された繰り返し周期Tの同期信号に基づいて
被測定光ファイバ9に光パルスを供給している時の波形
信号をサンプリングするデータサンプリング手段7a
と、該データサンプリング手段によりサンプリングされ
た複数の波形データと、予め設定された前記波形信号の
検出限界を示すノイズレベルLnとを比較するデータ比
較手段7cと、該データ比較手段の結果に基づいて前記
ノイズレベルを越える被測定光ファイバの近端9b位置
から最も遠い波形データのサンプリング位置を演算する
サンプリング位置演算手段7dと、前記被測定光ファイ
バに光パルスを出射して該被測定光ファイバの前記サン
プリング位置演算手段によって演算された前記サンプリ
ング位置まで往復する時間tより大きくて近い値を補正
繰り返し周期TAとして、前記初期設定された繰り返し
周期を補正する繰り返し周期補正手段7eとを備えたこ
とを特徴としている。
In order to achieve the above object, an optical pulse tester according to the first aspect of the present invention is set in advance to a time longer than a time corresponding to a distance in which an observation waveform can be detected. Data sampling means 7a for sampling a waveform signal when an optical pulse is supplied to the optical fiber 9 to be measured based on a synchronization signal having a repetition period T.
And a plurality of waveform data sampled by the data sampling means, a data comparison means 7c for comparing a predetermined noise level Ln indicating a detection limit of the waveform signal, and a data comparison means based on a result of the data comparison means. A sampling position calculator 7d for calculating a sampling position of waveform data farthest from the near end 9b of the optical fiber to be measured exceeding the noise level; and an optical pulse emitted from the optical fiber to be measured by emitting an optical pulse to the optical fiber to be measured. A repetition period correction unit 7e for correcting the initially set repetition period, using a value larger and close to the reciprocating time t to the sampling position calculated by the sampling position calculation unit as a correction repetition period TA. Features.

【0011】[0011]

【0012】また、請求項2の光パルス試験器は、同期
信号のタイミングに基づいて被測定光ファイバ9に供給
される光パルスの出射点を基準点P0として前記被測定
光ファイバの測定範囲EAを設定する測定範囲設定手段
10と、少なくとも前記基準点から前記測定範囲を含む
時間より長い時間で前記同期信号の異なる2組の繰り返
し周期T1,T2を設定するレンジ設定手段11と、該
レンジ設定手段で設定された異なる2組の繰り返し周期
による前記被測定光ファイバからの波形信号をサンプリ
ングするサンプリング手段12a,12bと、該サンプ
リング手段による2組の波形データを前記測定範囲内で
比較するデータ比較手段12cと、該データ比較手段に
よる2組の波形データが不一致の時に、短い方の繰り返
し周期を他方の繰り返し周期より長い時間のレンジに切
り換えるレンジ切換手段12dと、前記データ比較手段
による2組の波形データが一致した時に、短い方の繰り
返し周期を最適な繰り返し周期として設定する繰り返し
周期決定手段12eとを備えたことを特徴としている。
In the optical pulse tester according to the present invention, the measurement point EA of the optical fiber under test is set as the reference point P0 with the emission point of the optical pulse supplied to the optical fiber under test 9 based on the timing of the synchronization signal. And range setting means 11 for setting two different repetition periods T1 and T2 of the synchronization signal for a time longer than at least the time including the measurement range from the reference point. Sampling means 12a and 12b for sampling waveform signals from the optical fiber to be measured at two different repetition periods set by the means, and data comparison for comparing two sets of waveform data by the sampling means within the measurement range. When the two sets of waveform data by the means 12c and the data comparing means do not match, the shorter repetition cycle is set to the other repetition rate. Range switching means 12d for switching to a range longer than the return cycle, and repetition cycle determination means 12e for setting the shorter repetition cycle as the optimum repetition cycle when two sets of waveform data by the data comparison means match. It is characterized by having.

【0013】さらに、請求項3の光パルス試験器は、同
期信号のタイミングに基づいて被測定光ファイバ9に供
給される光パルスの出射点を基準点P0として前記被測
定光ファイバの測定範囲EAを設定する測定範囲設定手
段10と、少なくとも前記基準点から前記測定範囲を含
む時間より長い時間で前記同期信号の異なる2組の繰り
返し周期T1,T2を設定するレンジ設定手段11と、
該レンジ設定手段で設定された異なる2組の繰り返し周
期による前記被測定光ファイバからの波形信号をサンプ
リングするサンプリング手段12a,12bと、該サン
プリング手段による2組の波形データを前記測定範囲内
で比較するデータ比較手段12cと、該データ比較手段
による2組の波形データが一致した時に、長い方の繰り
返し周期を他方の繰り返し周期より短い時間のレンジに
切り換えるレンジ切換手段12dと、前記データ比較手
段による2組の波形データが不一致の時に、長い方の繰
り返し周期を最適な繰り返し周期として設定する繰り返
し周期決定手段12eとを備えたことを特徴としてい
る。
Further, in the optical pulse tester according to the present invention, the measuring point EA of the optical fiber to be measured is defined as the reference point P0 with the emission point of the optical pulse supplied to the optical fiber to be measured 9 based on the timing of the synchronization signal. A range setting unit 10 for setting two different repetition periods T1 and T2 of the synchronization signal in a time longer than at least the time including the measurement range from the reference point.
Sampling means 12a and 12b for sampling waveform signals from the optical fiber under measurement at two different repetition periods set by the range setting means, and comparing two sets of waveform data by the sampling means within the measurement range. A data comparing means 12c, a range switching means 12d for switching a longer repetition cycle to a shorter time range than the other repetition cycle when two sets of waveform data coincide with each other, and the data comparing means. A repetition cycle determining means for setting a longer repetition cycle as an optimum repetition cycle when two sets of waveform data do not match each other.

【0014】[0014]

【作用】請求項1の光パルス試験器において、観測波形
が検出可能な距離に相当する時間よりも長い時間に予め
初期設定された繰り返し周期Tの同期信号に基づいて被
測定光ファイバ9に光パルスが供給されると、この光パ
ルスの供給に伴って被測定光ファイバ9から、後方散乱
光およびフレネル反射光が戻ってくる。これらの反射光
による波形信号は、データサンプリング手段7aによっ
て波形データにサンプリングされる。各波形データはデ
ータ比較手段7cにより予め設定された波形信号の検出
限界を示すノイズレベルLnと比較される。この比較結
果に基づいてサンプリング位置演算手段7dはノイズレ
ベルLnを越える被測定光ファイバ9の近端9b位置か
ら最も遠い波形データのサンプリング位置を演算する。
繰り返し周期補正手段7eは被測定光ファイバ9に光パ
ルスを出射して被測定光ファイバ9のサンプリング位置
演算手段7dによって演算されたサンプリング位置まで
往復する時間tより大きくて近い値を補正繰り返し周期
TAとして、初期設定された繰り返し周期Tを補正す
る。
In the optical pulse tester according to the first aspect, the optical fiber 9 to be measured is transmitted to the optical fiber 9 to be measured based on a synchronization signal having a repetition period T previously set to a time longer than a time corresponding to a distance in which an observation waveform can be detected. When the pulse is supplied, the backscattered light and the Fresnel reflected light return from the measured optical fiber 9 with the supply of the light pulse. Waveform signals due to these reflected lights are sampled into waveform data by the data sampling means 7a. Each waveform data is compared by the data comparison means 7c with a preset noise level Ln indicating the detection limit of the waveform signal. Based on the comparison result, the sampling position calculation means 7d calculates the sampling position of the waveform data farthest from the position of the near end 9b of the measured optical fiber 9 exceeding the noise level Ln.
The repetition period correcting means 7e emits an optical pulse to the measured optical fiber 9, and determines a value larger and close to the reciprocating time t to the sampling position calculated by the sampling position calculating means 7d of the measured optical fiber 9 as the correction repetition period TA. To correct the initially set repetition period T.

【0015】[0015]

【0016】請求項2の光パルス試験器において、測定
範囲設定手段10は被測定光ファイバ9に供給される光
パルスの出射点を基準点P0として被測定光ファイバ9
の測定範囲EAを設定する。レンジ設定手段11は少な
くとも基準点P0から測定範囲EAを含む時間より長い
時間で同期信号の異なる2組の繰り返し周期T1,T2
を設定する。この設定により、被測定光ファイバ9に対
して2組の繰り返し周期T1,T2による光パルスが順
番に供給されると、サンプリング手段12a,12bは
光パルスの供給に伴う被測定光ファイバ9からの波形信
号を異なる2組の繰り返し周期T1,T2毎にサンプリ
ングする。データ比較手段12cはサンプリングによっ
て得られる2組の波形データを測定範囲EA内で比較す
る。繰り返し周期決定手段12eは2組の波形データが
一致した時に、短い方の繰り返し周期を最適な繰り返し
周期として設定し、2組の波形データが不一致の時に
は、レンジ切換手段12dが短い方の繰り返し周期を他
方の繰り返し周期より長い時間のレンジに切り換え、2
組の波形データが一致するまでデータ比較が行われる。
In the optical pulse tester according to the second aspect, the measuring range setting means sets the emission point of the optical pulse supplied to the optical fiber to be measured as a reference point P0.
The measurement range EA is set. The range setting means 11 sets at least two repetition periods T1 and T2 of different synchronization signals for a time longer than the time including the measurement range EA from the reference point P0.
Set. With this setting, when the optical pulses with the two sets of repetition periods T1 and T2 are sequentially supplied to the optical fiber 9 to be measured, the sampling means 12a and 12b cause the sampling means 12a and 12b to output the optical pulses from the optical fiber 9 to be measured due to the supply of the optical pulses. The waveform signal is sampled every two different repetition periods T1 and T2. The data comparing means 12c compares two sets of waveform data obtained by sampling within the measurement range EA. When the two sets of waveform data match, the repetition cycle determination means 12e sets the shorter repetition cycle as the optimum repetition cycle. When the two sets of waveform data do not match, the range switching means 12d sets the shorter repetition cycle. To a range longer than the other repetition cycle,
Data comparison is performed until the sets of waveform data match.

【0017】また、請求項3の光パルス試験器では、上
記データ比較において、2組の波形データが不一致の時
に、長い方の繰り返し周期を最適な繰り返し周期として
設定し、2組の波形データが一致した時に、長い方の繰
り返し周期を他方の繰り返し周期より短い時間のレンジ
に切り換え、2組の波形データが不一致になるまでデー
タ比較を行う。
In the optical pulse tester of the third aspect, in the data comparison, when two sets of waveform data do not match, the longer repetition cycle is set as an optimum repetition cycle, and the two sets of waveform data are used. When they match, the longer repetition cycle is switched to a shorter time range than the other repetition cycle, and data comparison is performed until the two sets of waveform data become inconsistent.

【0018】[0018]

【実施例】図1は本発明による光パルス試験器の一実施
例を示すブロック図である。この実施例による光パルス
試験器は、初期レンジ設定手段1、タイミング発生手段
2、発光素子駆動手段3、E/O変換手段4、光分岐結
合手段5、O/E変換手段6、信号処理手段7、表示手
段8を備えて構成されている。
FIG. 1 is a block diagram showing an embodiment of an optical pulse tester according to the present invention. The optical pulse tester according to this embodiment includes an initial range setting unit 1, a timing generation unit 2, a light emitting element driving unit 3, an E / O conversion unit 4, an optical branching and coupling unit 5, an O / E conversion unit 6, a signal processing unit. 7, and display means 8.

【0019】初期レンジ設定手段1は被測定光ファイバ
9の遠端9aからの2次反射(多次反射)の影響を考慮
して、同期信号の繰り返し周期Tを被測定光ファイバ9
の観測波形が検出可能な距離に相当する時間よりも長い
時間に初期設定している。
The initial range setting means 1 considers the influence of secondary reflection (multi-order reflection) from the far end 9a of the optical fiber 9 to be measured, and sets the repetition period T of the synchronization signal to the optical fiber 9 to be measured.
Is initially set to a time longer than the time corresponding to the detectable distance of the observed waveform.

【0020】タイミング発生手段2は初期レンジ設定手
段1で初期設定されたレンジによる繰り返し周期Tの同
期信号を発光素子駆動手段3および信号処理手段7に出
力している。
The timing generating means 2 outputs a synchronizing signal of a repetition period T according to the range initially set by the initial range setting means 1 to the light emitting element driving means 3 and the signal processing means 7.

【0021】発光素子駆動手段3はタイミング発生手段
2より入力される同期信号の例えば立ち上がりのタイミ
ングで電流パルスをE/O変換手段4に出力している。
The light emitting element driving means 3 outputs a current pulse to the E / O conversion means 4 at, for example, the rising timing of the synchronizing signal inputted from the timing generating means 2.

【0022】E/O変換手段4は例えばLD(Laser Di
ode )で構成され、発光素子駆動手段3より入力される
電流パルスの例えば立ち上がりのタイミングで光パルス
を光分岐結合手段5に出力している。
The E / O conversion means 4 is, for example, an LD (Laser Diode).
ode), and outputs an optical pulse to the optical branching / coupling means 5 at, for example, the rising timing of the current pulse input from the light emitting element driving means 3.

【0023】光分岐結合手段5は例えばファイバカプ
ラ、光分岐結合器、光方向性結合器、光スイッチ等で構
成され、E/O変換手段4からの光パルスを被測定光フ
ァイバ9に出射している。
The optical branching / coupling means 5 is composed of, for example, a fiber coupler, an optical branching coupler, an optical directional coupler, an optical switch, etc., and emits an optical pulse from the E / O conversion means 4 to the optical fiber 9 to be measured. ing.

【0024】O/E変換手段6は例えばAPD(Avalan
che Photodiode)で構成され、光パルスの供給に伴って
被測定光ファイバ9から戻ってくる後方散乱光およびフ
レネル反射光を受光検出し電気信号に変換して信号処理
手段7に出力している。
The O / E conversion means 6 is, for example, an APD (Avalan
The backscattered light and the Fresnel reflected light returning from the optical fiber 9 to be measured with the supply of the light pulse are received and detected, converted into an electric signal, and output to the signal processing means 7.

【0025】信号処理手段7はタイミング発生手段2か
らの同期信号の例えば立ち上がりのタイミングで被測定
光ファイバ9からの反射光を信号処理しており、データ
サンプリング手段7a、ノイズレベル演算手段7b、デ
ータ比較手段7c、サンプリング位置演算手段7d、繰
り返し周期演算手段7eを備えて構成されている。
The signal processing means 7 processes the reflected light from the measured optical fiber 9 at, for example, the rising timing of the synchronizing signal from the timing generation means 2. The signal processing means 7 a, the noise level calculating means 7 b, It comprises a comparing means 7c, a sampling position calculating means 7d, and a repetition period calculating means 7e.

【0026】データサンプリング手段7aはタイミング
発生手段2より入力される同期信号の例えば立ち上がり
のタイミングでO/E変換手段6からの電気信号を所定
のサンプリング周期でサンプリングしており、このサン
プリングで得られる複数個(n個)の波形データをデー
タ比較手段7cに出力している。また、データサンプリ
ング手段7aは被測定光ファイバ9からの反射光がない
同期信号の終わりから次の同期信号の立ち上がりまでの
区間(ゼロサンプリング範囲)のm個のゼロデータを平
均化してオフセットデータとし、各波形データからオフ
セットデータを差し引いて対数変換している。なお、こ
の対数変換されたデータは予め設定された測定範囲内で
表示手段8に波形表示される。
The data sampling means 7a samples the electric signal from the O / E conversion means 6 at a predetermined sampling period, for example, at the rising timing of the synchronization signal input from the timing generation means 2, and is obtained by this sampling. A plurality (n) of waveform data are output to the data comparing means 7c. The data sampling means 7a averages m pieces of zero data in a section (zero sampling range) from the end of the synchronization signal having no reflected light from the measured optical fiber 9 to the rise of the next synchronization signal to obtain offset data. The logarithmic conversion is performed by subtracting the offset data from each waveform data. The logarithmically converted data is displayed as a waveform on the display unit 8 within a preset measurement range.

【0027】ノイズレベル演算手段7bは波形信号の検
出限界レベルを示すノイズレベルを演算しており、デー
タサンプリング手段7aがサンプリングしたゼロデータ
のピーク値、あるいはゼロデータを自乗加算平均して所
定の倍率を掛けた値を演算してノイズレベルとしてい
る。
The noise level calculating means 7b calculates a noise level indicating the detection limit level of the waveform signal, and calculates a predetermined magnification by averaging the peak value of zero data or zero data sampled by the data sampling means 7a. Is calculated as the noise level.

【0028】データ比較手段7cは被測定光ファイバ9
の遠端9a位置を示す波形データ、つまり、データサン
プリング手段7aでサンプリングされた複数の波形デー
タのうちの最後の波形データD(n)から順にノイズレ
ベル演算手段7bのノイズデータとレベル比較してい
る。
The data comparing means 7c is connected to the optical fiber 9 to be measured.
, That is, the waveform data indicating the position of the far end 9a, that is, the last waveform data D (n) of the plurality of waveform data sampled by the data sampling means 7a, and sequentially comparing the level with the noise data of the noise level calculation means 7b. I have.

【0029】サンプリング位置演算手段7dはデータ比
較手段7cの比較結果に基づいてノイズデータのレベル
を越える被測定光ファイバ9の近端9b位置から最も遠
い波形データのサンプリング位置(被測定光ファイバ9
の距離に対応)を演算している。
The sampling position calculating means 7d calculates the sampling position of the waveform data farthest from the position of the near end 9b of the measured optical fiber 9 exceeding the level of the noise data based on the comparison result of the data comparing means 7c.
Is calculated).

【0030】繰り返し周期補正手段7eはサンプリング
位置演算手段7dによって演算されたサンプリング位置
に相当する時間、つまり、被測定光ファイバ9に光パル
スを出射して被測定光ファイバ9のサンプリング位置ま
で往復する時間tを算出し、この時間tより大きくてゼ
ロデータサンプリング範囲を考慮した近い値を最適な補
正繰り返し周期TAとして演算し、タイミング発生手段
2が現在出力している同期信号の繰り返し周期Tを、演
算した値TAに補正設定している。
The repetition period corrector 7e emits an optical pulse to the measured optical fiber 9 for a time corresponding to the sampling position calculated by the sampling position calculator 7d, and reciprocates to the sampling position of the measured optical fiber 9. A time t is calculated, and a near value larger than the time t and considering the zero data sampling range is calculated as an optimum correction repetition cycle TA, and the repetition cycle T of the synchronization signal currently output by the timing generation means 2 is calculated as Correction is set to the calculated value TA.

【0031】次に、上記のように構成された光パルス試
験器における同期信号の繰り返し周期の補正設定時の動
作を図2のフローチャート図に基づいて説明する。ま
ず、初期レンジ設定手段1により初期の同期信号の繰り
返し周期Tを決めるべくレンジを設定する(ST1)。
レンジが設定されると、タイミング発生手段2は設定さ
れたレンジの繰り返し周期Tで同期信号を発生し、E/
O変換手段4からはこの同期信号の立ち上がりのタイミ
ングで光分岐結合手段5を介して被測定光ファイバ9に
光パルスが繰り返し周期T毎に供給される(ST2)。
Next, the operation of the optical pulse tester configured as described above when setting the correction of the repetition period of the synchronization signal will be described with reference to the flowchart of FIG. First, a range is set by the initial range setting means 1 in order to determine an initial synchronization signal repetition period T (ST1).
When the range is set, the timing generating means 2 generates a synchronization signal at a repetition period T of the set range,
Optical pulses are supplied from the O-conversion means 4 to the optical fiber 9 to be measured via the optical branching / coupling means 5 at the rising timing of the synchronization signal at every repetition period T (ST2).

【0032】光パルスの供給に伴って被測定光ファイバ
9からは後方散乱光およびフレネル反射光が戻り、これ
らの反射光は光分岐結合手段5を介してO/E変換手段
6により受光検出されて電気信号に変換される(ST
3)。この電気信号はデータサンプリング手段7aによ
り繰り返し周期Tによる同期信号の立ち上がりのタイミ
ングでサンプリングされ、結果として複数(n個)の波
形データが取り込まれる(ST4)。
Backscattered light and Fresnel reflected light return from the measured optical fiber 9 with the supply of the light pulse, and the reflected light is received and detected by the O / E conversion means 6 via the light branching / coupling means 5. Is converted to an electric signal (ST
3). This electrical signal is sampled by the data sampling means 7a at the timing of the rising edge of the synchronizing signal at the repetition period T, and as a result, a plurality (n) of waveform data is captured (ST4).

【0033】サンプリングされた複数の波形データはデ
ータ比較手段7cにより最後の波形データから順に最初
の波形データまで、サンプリングされたすべての波形デ
ータについてノイズデータと比較される(ST5)。
The plurality of sampled waveform data are compared by the data comparing means 7c with the noise data for all the sampled waveform data from the last waveform data to the first waveform data in order (ST5).

【0034】この比較結果により、サンプリング位置演
算手段7dはノイズレベルを越える被測定光ファイバ9
の近端9b位置から最も遠い波形データのサンプリング
位置を演算する(ST6)。すなわち、図3(a)の観
測波形に示すように、被測定光ファイバ9の遠端9aの
フレネル反射の後に2次フレネル反射が現れ、この2次
フレネル反射のレベルがノイズレベルLnを越えている
と、この2次反射の位置P1を被測定光ファイバ9の近
端9b位置から最も遠い波形データのサンプリング位置
として演算する。また、図3(b)の観測波形に示すよ
うに、被測定光ファイバ9の遠端9aにおけるフレネル
反射の後に2次フレネル反射が現れなければ、被測定光
ファイバ9の近端9b位置から最も遠い位置でノイズレ
ベルLnを越える遠端9aの位置P2をサンプリング位
置として演算する。
Based on the result of this comparison, the sampling position calculating means 7d determines that the measured optical fiber 9 exceeds the noise level.
The sampling position of the waveform data farthest from the position of the near end 9b is calculated (ST6). That is, as shown in the observation waveform of FIG. 3A, the secondary Fresnel reflection appears after the Fresnel reflection at the far end 9a of the measured optical fiber 9, and the level of the secondary Fresnel reflection exceeds the noise level Ln. Then, the position P1 of the secondary reflection is calculated as the sampling position of the waveform data farthest from the position of the near end 9b of the optical fiber 9 to be measured. 3B, if the secondary Fresnel reflection does not appear after the Fresnel reflection at the far end 9a of the optical fiber 9 to be measured, the position from the near end 9b of the optical fiber 9 to be measured is most likely. The position P2 of the far end 9a which exceeds the noise level Ln at a far position is calculated as a sampling position.

【0035】続いて、繰り返し周期演算手段7eはサン
プリング位置に相当する時間tより大きくてゼロデータ
サンプリング範囲を考慮した近い値を最適な補正繰り返
し周期TAとして演算し(ST7)、現在設定されてい
る繰り返し周期Tを、演算した補正繰り返し周期TAに
補正設定する(ST8)。これにより、タイミング発生
手段2は繰り返し周期TAの同期信号を発生し、被測定
光ファイバ9には、繰り返し周期TA毎に光パルスが供
給される。
Subsequently, the repetition cycle calculating means 7e calculates a value which is longer than the time t corresponding to the sampling position and is close to the zero data sampling range in consideration as the optimum correction repetition cycle TA (ST7), and is currently set. The repetition cycle T is corrected and set to the calculated correction repetition cycle TA (ST8). As a result, the timing generator 2 generates a synchronization signal having a repetition period TA, and an optical pulse is supplied to the measured optical fiber 9 at each repetition period TA.

【0036】従って、上述した実施例では、初期設定さ
れたレンジの繰り返し周期Tで被測定光ファイバ9に光
パルスを供給した時の波形データと、波形信号の検出限
界レベルを示すノイズレベルとを比較し、このノイズレ
ベル以上で、被測定光ファイバ9の近端9bから最も遠
いサンプリング位置の時間tより大きくてゼロサンプリ
ング範囲を考慮した近い値を最適な繰り返し周期Taと
して、初期設定された繰り返し周期Tを自動的に補正す
るので、2次反射の有無に係わらず、同期信号の繰り返
し周期を最適値に自動的に補正設定して被測定光ファイ
バ9に対して繰り返し周期毎に光パルスを供給すること
ができ、従来のような測定者が行う煩わしい設定が不要
となり操作性の向上が図れる。また、繰り返し周期Tが
最適値に補正設定されるので、無駄な時間が削減され、
測定時間の短縮が図れる。
Therefore, in the above-described embodiment, the waveform data when the optical pulse is supplied to the optical fiber 9 to be measured at the repetition period T of the initially set range and the noise level indicating the detection limit level of the waveform signal are determined. In comparison, the repetition initially set to a value close to the noise level and larger than the time t of the sampling position farthest from the near end 9b of the measured optical fiber 9 and taking into account the zero sampling range as the optimum repetition period Ta. Since the period T is automatically corrected, regardless of the presence or absence of the secondary reflection, the repetition period of the synchronizing signal is automatically corrected and set to an optimum value, and an optical pulse is transmitted to the optical fiber 9 to be measured every repetition period. It can be supplied, and the troublesome setting performed by the measurer as in the related art is not required, and the operability can be improved. In addition, since the repetition period T is set to the optimum value, wasted time is reduced,
Measurement time can be reduced.

【0037】次に、図4は本発明による光パルス試験器
の第2実施例を示すブロック図である。この実施例によ
る光パルス試験器は、被測定光ファイバに供給される光
パルスの繰り返し周期を変え、異なる2組の繰り返し周
期による測定範囲の波形データの変化に基づいて最適な
繰り返し周期を自動的に設定しており、測定範囲設定手
段10、レンジ設定手段11、タイミング発生手段2、
発光素子駆動手段3、E/O変換手段4、光分岐結合手
段5、O/E変換手段6、信号処理手段12、表示手段
8を備えて構成されている。
FIG. 4 is a block diagram showing a second embodiment of the optical pulse tester according to the present invention. The optical pulse tester according to this embodiment changes the repetition period of an optical pulse supplied to an optical fiber to be measured, and automatically determines an optimum repetition period based on a change in waveform data of a measurement range due to two different sets of repetition periods. The measurement range setting means 10, the range setting means 11, the timing generation means 2,
It comprises a light emitting element driving means 3, an E / O conversion means 4, an optical branching and coupling means 5, an O / E conversion means 6, a signal processing means 12, and a display means 8.

【0038】測定範囲設定手段10は光パルスの供給に
伴って被測定光ファイバ9より戻ってくる反射光(観測
波形)を表示手段8に波形表示して測定を行うための測
定範囲EAを設定しており、この測定範囲EAは光パル
スを出射する点を基準点P0として設定され、図5
(a)に示すように、基準点P0から観測波形の全域に
渡り測定範囲EA1として設定する場合と、図5(c)
に示すように、基準点P0から所定のシフト量SFを置
いて波形観測の一部を測定範囲EA2として設定する場
合とがある。
The measurement range setting means 10 sets the measurement range EA for performing measurement by displaying the reflected light (observation waveform) returning from the optical fiber 9 to be measured with the supply of the optical pulse on the display means 8 for measurement. In this measurement range EA, the point where the light pulse is emitted is set as the reference point P0.
As shown in FIG. 5A, the measurement range EA1 is set over the entire range of the observed waveform from the reference point P0, and FIG.
In some cases, a part of the waveform observation is set as the measurement range EA2 with a predetermined shift amount SF from the reference point P0 as shown in FIG.

【0039】レンジ設定手段11は信号処理手段12に
おいて2組の同期信号による波形データのサンプリング
を行うために、測定範囲設定手段10で設定された測定
範囲EAの時間に応じて2組の同期信号の繰り返し周期
T(T1,T2)を決めるレンジ設定を行っている。
The range setting means 11 performs sampling of the waveform data by the two sets of synchronizing signals in the signal processing means 12, so that two sets of the synchronizing signals are set according to the time of the measuring range EA set by the measuring range setting means 10. Is set to determine the repetition period T (T1, T2).

【0040】ここで、繰り返し周期Tはシフト量SF、
測定範囲EA、波形データからオフセット分を除くため
のゼロデータ範囲EZの合計時間tに基づいて決定され
るもので、図5(a)に示すように、シフト量SFがな
く測定範囲EA1が設定された場合、レンジ設定手段1
1では、測定範囲EA1とゼロデータ範囲EZの合計時
間t1を最初の繰り返し周期T1とし、この繰り返し周
期T1よりも所定時間t2長い時間を次の繰り返し周期
T2としてレンジ設定を行っている。
Here, the repetition period T is the shift amount SF,
The measurement range EA is determined based on the total time t of the zero data range EZ for removing the offset from the waveform data. As shown in FIG. 5A, the measurement range EA1 is set without the shift amount SF. If set, range setting means 1
In 1, the range is set as the total time t1 of the measurement range EA1 and the zero data range EZ as the first repetition cycle T1, and the time longer than the repetition cycle T1 by the predetermined time t2 as the next repetition cycle T2.

【0041】また、図5(b),(c)に示すように、
シフト量SF1を置いて測定範囲EA2が設定された場
合には、シフト量SF1、測定範囲EA2およびゼロデ
ータ範囲EZの合計時間t3を最初の繰り返し周期T1
とし、この繰り返し周期T1よりも所定時間t2長い時
間を次の繰り返し周期T2としてレンジ設定を行ってい
る。
As shown in FIGS. 5B and 5C,
When the measurement range EA2 is set with the shift amount SF1 set, the total time t3 of the shift amount SF1, the measurement range EA2, and the zero data range EZ is set to the first repetition period T1.
The range is set by setting a time longer than the repetition cycle T1 by a predetermined time t2 as the next repetition cycle T2.

【0042】なお、ゼロデータ範囲EZは、繰り返し周
期Tのレンジ設定が行われた時点で、被測定光ファイバ
9からの反射光がない同期信号の終わりから次の同期信
号の立ち上がりまでの区間ECに自動的に設定されるよ
うになっている。
The zero data range EZ is a section EC from the end of the synchronization signal having no reflected light from the optical fiber 9 to be measured to the rising edge of the next synchronization signal when the range of the repetition period T is set. Is set automatically.

【0043】図4に示すようにタイミング発生手段2は
レンジ設定手段11で設定されたレンジによる繰り返し
周期Tの同期信号を発生しており、この同期信号を発光
素子駆動手段3および信号処理手段12に出力してい
る。
As shown in FIG. 4, the timing generating means 2 generates a synchronizing signal having a repetition period T according to the range set by the range setting means 11, and outputs this synchronizing signal to the light emitting element driving means 3 and the signal processing means 12. Output to

【0044】発光素子駆動手段3はタイミング発生手段
2より入力される同期信号の例えば立ち上がりのタイミ
ングで電流パルスをE/O変換手段4に出力している。
The light emitting element driving means 3 outputs a current pulse to the E / O conversion means 4 at, for example, a rising timing of the synchronizing signal inputted from the timing generating means 2.

【0045】E/O変換手段4は例えばLD(Laser Di
ode )で構成され、発光素子駆動手段3より入力される
電流パルスの例えば立ち上がりのタイミングで光パルス
を光分岐結合手段5に出力している。
The E / O conversion means 4 is, for example, an LD (Laser Diode).
ode), and outputs an optical pulse to the optical branching / coupling means 5 at, for example, the rising timing of the current pulse input from the light emitting element driving means 3.

【0046】光分岐結合手段5は例えばファイバカプ
ラ、光分岐結合器、光方向性結合器、光スイッチ等で構
成され、E/O変換手段4からの光パルスを被測定光フ
ァイバ9に出射している。
The optical branching / coupling means 5 comprises, for example, a fiber coupler, an optical branching coupler, an optical directional coupler, an optical switch, etc., and emits an optical pulse from the E / O conversion means 4 to the optical fiber 9 to be measured. ing.

【0047】O/E変換手段6は例えばAPD(Avalan
che Photodiode)で構成され、光パルスの供給に伴って
被測定光ファイバ9から戻ってくる後方散乱光およびフ
レネル反射光を受光検出し電気信号に変換して信号処理
手段12に出力している。
The O / E conversion means 6 is, for example, an APD (Avalan
The backscattered light and the Fresnel reflected light returning from the measured optical fiber 9 with the supply of the light pulse are received and detected, converted into an electric signal, and output to the signal processing means 12.

【0048】信号処理手段12は第1のサンプリング手
段12a、第2のサンプリング手段12b、データ比較
手段12c、レンジ切換手段12d、繰り返し周期決定
手段12eを備えて構成されている。
The signal processing means 12 comprises a first sampling means 12a, a second sampling means 12b, a data comparing means 12c, a range switching means 12d, and a repetition period determining means 12e.

【0049】第1のサンプリング手段12aはレンジ設
定手段11で最初に設定された繰り返し周期T1の同期
信号に基づいて測定範囲EAにおける電気信号を所定の
サンプリング周期でサンプリングしており、このサンプ
リングで得られる複数の波形データをデータ比較手段1
2cに出力している。
The first sampling means 12a samples the electric signal in the measurement range EA at a predetermined sampling cycle based on the synchronizing signal of the repetition cycle T1 initially set by the range setting means 11, and obtains the signal by this sampling. Data comparing means 1 for comparing a plurality of waveform data
2c.

【0050】第2のサンプリング手段12bはレンジ設
定手段11で繰り返し周期T1の後に設定された繰り返
し周期T2の同期信号に基づいて測定範囲EAにおける
電気信号を第1のサンプリング手段12aと同一のサン
プリング周期でサンプリングしており、このサンプリン
グで得られる複数の波形データをデータ比較手段12c
に出力している。
The second sampling means 12b converts the electric signal in the measurement range EA into the same sampling cycle as that of the first sampling means 12a based on the synchronizing signal of the repetition cycle T2 set after the repetition cycle T1 by the range setting means 11. And a plurality of waveform data obtained by this sampling are compared with the data comparing means 12c.
Output to

【0051】データ比較手段12cは各サンプリング手
段12a,12bから入力される2組の波形データを比
較しており、2組の波形データが異なる時に、レンジ切
換手段12dに不一致信号S1を出力している。また、
2組の波形データが一致している時には、繰り返し周期
決定手段12eに一致信号S2を出力している。
The data comparing means 12c compares two sets of waveform data input from the sampling means 12a and 12b, and outputs a mismatch signal S1 to the range switching means 12d when the two sets of waveform data are different. I have. Also,
When the two sets of waveform data match, a match signal S2 is output to the repetition period determination means 12e.

【0052】レンジ切換手段12dはデータ比較手段1
2cからの不一致信号S1に基づき、レンジ設定手段1
1で最初に設定された2組の同期信号のうち、短い方の
繰り返し周期を他方の繰り返し周期よりも長い周期に切
り換えている。すなわち、実施例では、レンジ設定手段
11で最初に設定された2組の同期信号の繰り返し周期
T1,T2のうち、第1のサンプリング手段12aに供
給される同期信号の繰り返し周期T1の方が第2のサン
プリング手段に供給される同期信号の繰り返し周期T2
より短い周期なので、この短い方の繰り返し周期T1を
他方の繰り返し周期T2より長い周期T3(>T2)に
切り換えている。なお、この繰り返し周期の可変量は任
意(例えば自乗倍)で段階的に可変されるようになって
いる。
The range switching means 12d is the data comparing means 1
2c based on the mismatch signal S1 from the
In the two sets of synchronization signals initially set in step 1, the shorter repetition cycle is switched to a longer cycle than the other repetition cycle. That is, in the embodiment, of the repetition periods T1 and T2 of the two sets of synchronization signals initially set by the range setting unit 11, the repetition period T1 of the synchronization signal supplied to the first sampling unit 12a is the second one. Repetition period T2 of the synchronization signal supplied to the second sampling means.
Since the cycle is shorter, the shorter repetition cycle T1 is switched to a cycle T3 (> T2) longer than the other repetition cycle T2. The variable amount of the repetition period is arbitrarily changed (for example, multiplied by the square) in a stepwise manner.

【0053】繰り返し周期決定手段12eはデータ比較
手段12cからの一致信号S2に基づいて2組の繰り返
し周期T1,T2のうちの短い周期を繰り返し周期とし
て決定し設定を行っている。
The repetition cycle determining means 12e determines and sets the short cycle of the two sets of repetition cycles T1 and T2 as the repetition cycle based on the coincidence signal S2 from the data comparison means 12c.

【0054】次に、上記のように構成される光パルス試
験器の動作を、図5(a)〜(c)のタイミングチャー
ト図および図6のフローチャート図に基づいて説明す
る。まず、図5(a)あるいは図5(c)に示すよう
に、測定範囲EAを設定する(ST11)。次に、2組
の同期信号の繰り返し周期T1,T2(T1<T2)の
レンジ設定を行う(ST12)。そして、繰り返し周期
T1の同期信号により被測定光ファイバ9に光パルスを
供給し、この光パルスの供給に伴って被測定光ファイバ
9から戻ってくる反射光のデータサンプリングを行って
波形データを取り込む(ST13)。続いて、繰り返し
周期T2の同期信号により被測定光ファイバ9に光パル
スを供給し、被測定光ファイバ9からの反射光のデータ
サンプリングを行って波形データを取り込む(ST1
4)。
Next, the operation of the optical pulse tester configured as described above will be described with reference to the timing charts of FIGS. 5A to 5C and the flowchart of FIG. First, as shown in FIG. 5A or 5C, a measurement range EA is set (ST11). Next, a range of repetition periods T1 and T2 (T1 <T2) of two sets of synchronization signals is set (ST12). Then, an optical pulse is supplied to the optical fiber 9 to be measured by a synchronization signal having a repetition period T1, and data of the reflected light returning from the optical fiber 9 to be measured is supplied in accordance with the supply of the optical pulse, thereby acquiring waveform data. (ST13). Subsequently, an optical pulse is supplied to the measured optical fiber 9 by a synchronization signal having a repetition period T2, and data sampling is performed on the reflected light from the measured optical fiber 9 to acquire waveform data (ST1).
4).

【0055】次に、2組の繰り返し周期T1,T2によ
る同期信号で得られた2組の波形データを測定範囲EA
内で比較する(ST15)。そして、2組の波形データ
が一致して同一であれは(ST16−Yes)、2組の
繰り返し周期T1,T2のうち、短い方の繰り返し周期
T1を最適な繰り返し周期として設定する(ST1
7)。また、2組の波形データが異なれば(ST16−
No)、短い方の繰り返し周期T1を他方の繰り返し周
期T2より長い周期T3に切り換え(ST18)、この
繰り返し周期T3により被測定光ファイバ9に光パルス
を供給し、被測定光ファイバ9からの反射光のデータサ
ンプリングを行い波形データを取り込む(ST19)。
Next, the two sets of waveform data obtained by the synchronizing signals with the two sets of repetition periods T1 and T2 are converted into the measurement range EA.
(ST15). If the two sets of waveform data match and are identical (ST16-Yes), the shorter of the two sets of repetition cycles T1 and T2 is set as the optimum repetition cycle T1 (ST1).
7). If the two sets of waveform data are different (ST16-
No), the shorter repetition period T1 is switched to a period T3 longer than the other repetition period T2 (ST18), and an optical pulse is supplied to the optical fiber 9 to be measured by the repetition period T3, and the reflection from the optical fiber 9 is measured. Light data sampling is performed to capture waveform data (ST19).

【0056】そして、ST15の動作に戻り、繰り返し
周期T3と繰り返し周期T2による2組の波形データを
比較し、2組の波形データが一致して同一であれば、2
組の繰り返し周期T2,T3のうち、短い方の繰り返し
周期T2を最適な繰り返し周期として設定する。もし、
2組の波形データが異なれば、2組の波形データが一致
するまで、短い方の繰り返し周期を他方の繰り返し周期
より長い周期に切り換えて2組の同期信号による波形デ
ータの比較を行う動作が繰り返される。
Then, returning to the operation of ST15, the two sets of waveform data of the repetition period T3 and the repetition period T2 are compared.
The shorter repetition cycle T2 of the set of repetition cycles T2 and T3 is set as the optimum repetition cycle. if,
If the two sets of waveform data are different, the operation of switching the shorter repetition cycle to a longer cycle than the other repetition cycle and comparing the waveform data by the two sets of synchronization signals is repeated until the two sets of waveform data match. It is.

【0057】ここで、図5(a)の例では、測定範囲E
A1が基準点P0から観測波形の全域に渡って設定され
ており、観測波形の被測定光ファイバ9の遠端9aのフ
レネル反射の前方に2次フレネル反射が現れるので、2
組の繰り返し周期T1,T2による波形データが異な
り、繰り返し周期T1は繰り返し周期T2より長い周期
T3に切り換えられ、繰り返し周期T2の波形データと
繰り返し周期T3の波形データとの比較が行われる。
Here, in the example of FIG.
A1 is set over the entire range of the observed waveform from the reference point P0, and the secondary Fresnel reflection appears ahead of the Fresnel reflection at the far end 9a of the measured optical fiber 9 in the observed waveform.
The waveform data of the set of repetition periods T1 and T2 is different, the repetition period T1 is switched to a period T3 longer than the repetition period T2, and the waveform data of the repetition period T2 and the waveform data of the repetition period T3 are compared.

【0058】また、図5(c)の例では、測定範囲EA
2が2次フレネル反射を含まない位置に設定されている
ので、2組の繰り返し周期T1,T2による波形データ
が同一で、短い方の繰り返し周期T1が最適な繰り返し
周期として設定される。
In the example of FIG. 5C, the measurement range EA
Since 2 is set at a position that does not include the secondary Fresnel reflection, the waveform data of the two sets of repetition cycles T1 and T2 are the same, and the shorter repetition cycle T1 is set as the optimum repetition cycle.

【0059】従って、上述した実施例では、光パルスの
出射タイミングを決める同期信号の繰り返し周期を変え
た時の観測波形の変化を捉えるべく、繰り返し周期の異
なる2組の波形データを測定範囲EA内で比較すること
により、2組の波形データが一致した時に、2組の繰り
返し周期のうち、短い方の繰り返し周期を被測定光ファ
イバ9に供給される最適な光パルスの繰り返し周期とし
て自動的に設定することができる。
Therefore, in the above-described embodiment, two sets of waveform data having different repetition periods are set within the measurement range EA in order to capture a change in the observed waveform when the repetition period of the synchronization signal for determining the emission timing of the optical pulse is changed. When the two sets of waveform data match, the shorter of the two sets of repetition cycles is automatically set as the optimum repetition cycle of the optical pulse supplied to the optical fiber 9 to be measured. Can be set.

【0060】ところで、一般に光パルス試験器では、リ
ニアな観測波形をログデータに変換して波形表示し測定
を行っており、この際、波形データからオフセット分を
除くために、測定範囲EAより後方の信号のない区間E
Cでゼロデータを取り込んで各波形データとの差をとっ
ている。ところが、表示波形はログ値なので、ゼロデー
タがずれると、観測波形に大きな歪みが生じる。
In general, an optical pulse tester converts a linear observation waveform into log data and displays the waveform to perform measurement. At this time, in order to remove an offset from the waveform data, the measurement is performed after the measurement range EA. Section E without signal
At C, zero data is taken and the difference from each waveform data is taken. However, since the displayed waveform is a log value, if the zero data shifts, a large distortion occurs in the observed waveform.

【0061】そこで、この実施例の光パルス試験器で
は、繰り返し周期が不適当でゼロデータに微弱な信号成
分が含まれていても、繰り返し周期の異なる2組の波形
データを測定範囲EA内で比較しているので、波形デー
タに大きな変化が現れ、被測定光ファイバ9の遠端9a
がノイズに埋もれている波形でも、最適な繰り返し周期
に設定することができる。
Therefore, in the optical pulse tester of this embodiment, even if the repetition period is inappropriate and the zero data contains a weak signal component, two sets of waveform data having different repetition periods are measured within the measurement range EA. As a result of the comparison, a large change appears in the waveform data, and the far end 9a of the optical fiber 9 to be measured.
Can be set to an optimum repetition period even if the waveform is embedded in noise.

【0062】また、上述した実施例では、比較された2
組の波形データが異なる場合、短い方の繰り返し周期を
他方の繰り返し周期より長くして2組の波形データが一
致するまで繰り返し周期を段階的に切り換えてデータ比
較を行う場合を例にとって説明したが、被測定光ファイ
バ9の長さLに関係なく観測波形が検出可能な距離より
長い時間と、この時間より所定時間短い時間を、レンジ
設定手段11で最初に設定される2組の繰り返し周期T
1,T2(T1>T2)として設定してもよい。この場
合、2組の繰り返し周期T1,T2による波形データが
異なれば、長い方の繰り返し周期T1を最適な繰り返し
周期として設定し、2組の繰り返し周期T1,T2によ
る波形データが一致して同一であれば、長い方の繰り返
し周期T1を他方の繰り返し周期T2より短くして2組
の波形データが異なるまで繰り返し周期を段階的に切り
換えてデータ比較を行う。
Also, in the above-described embodiment, the two
When the sets of waveform data are different, an example has been described in which the shorter repetition cycle is made longer than the other repetition cycle and the repetition cycle is switched stepwise until the two sets of waveform data match to perform data comparison. Irrespective of the length L of the optical fiber 9 to be measured, a time longer than the distance over which the observed waveform can be detected and a time shorter than this time by a predetermined time are defined as two sets of repetition periods T initially set by the range setting means 11.
1, T2 (T1> T2). In this case, if the waveform data of the two sets of repetition cycles T1 and T2 are different, the longer repetition cycle T1 is set as the optimum repetition cycle, and the waveform data of the two sets of repetition cycles T1 and T2 are identical and identical. If so, the longer repetition cycle T1 is made shorter than the other repetition cycle T2, and the repetition cycle is switched stepwise until two sets of waveform data are different, and data comparison is performed.

【0063】[0063]

【発明の効果】以上説明したように、本発明の請求項1
の光パルス試験器によれば、初期設定された繰り返し周
期Tで被測定光ファイバに光パルスを供給した時の波形
データと、波形信号の検出限界レベルを示すノイズレベ
ルとを比較し、このノイズレベル越える被測定光ファイ
バの近端から最も遠いサンプリング位置の時間より大き
くて近い値を、最適な補正繰り返し周期として繰り返し
周期を自動的に補正する構成なので、2次反射の有無に
係わらず、同期信号の繰り返し周期を最適値に自動的に
補正設定して被測定光ファイバに光パルスを供給するこ
とができ、従来のように測定者が煩わしい設定を行う必
要がなく操作性の向上が図れる。また、繰り返し周期が
最適値に補正設定されるので、無駄な時間を削減して測
定時間の短縮が図れる。また、本発明の請求項2および
3の光パルス試験器によれば、繰り返し周期の異なる2
組の波形データを測定範囲内で比較することにより、繰
り返し周期を変えた時の観測波形の変化を捉え、この変
化量に基づいて一方の繰り返し周期を被測定光ファイバ
に供給される最適な光パルスの繰り返し周期として自動
的に設定することができる。
As described above, according to the first aspect of the present invention,
According to the optical pulse tester, the waveform data when an optical pulse is supplied to the optical fiber to be measured at the initially set repetition period T is compared with the noise level indicating the detection limit level of the waveform signal. Since the repetition period is automatically corrected as the optimum correction repetition period, a value larger and closer than the time of the sampling position farthest from the near end of the measured optical fiber exceeding the level is synchronized regardless of the presence or absence of secondary reflection. The optical pulse can be supplied to the optical fiber to be measured by automatically correcting and setting the signal repetition period to an optimal value, and the operability can be improved without the need for the operator to perform the troublesome setting as in the related art. In addition, since the repetition period is corrected and set to an optimum value, useless time can be reduced and measurement time can be reduced. Further, according to the optical pulse tester of the second and third aspects of the present invention, two different repetition periods are used.
By comparing the set of waveform data within the measurement range, the change in the observed waveform when the repetition period is changed is captured, and one repetition period is supplied to the optical fiber under measurement based on this change. It can be automatically set as the pulse repetition period.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明による光パルス試験器の第1実施例を示
すブロック図
FIG. 1 is a block diagram showing a first embodiment of an optical pulse tester according to the present invention.

【図2】同光パルス試験器の動作を説明するためのフロ
ーチャート図
FIG. 2 is a flowchart for explaining the operation of the optical pulse tester.

【図3】(a)遠端のフレネル反射の後に2次フレネル
反射が現れる時の観測波形と光パルスのタイミングチャ
ート図 (b)遠端のフレネル反射の後に2次フレネル反射が現
れない時の観測波形と光パルスのタイミングチャート図
FIG. 3A is a timing chart of observation waveforms and optical pulses when secondary Fresnel reflection appears after far-end Fresnel reflection, and FIG. 3B is a timing chart when secondary Fresnel reflection does not appear after far-end Fresnel reflection. Timing chart of observation waveform and optical pulse

【図4】本発明による光パルス試験器の第2実施例を示
すブロック図
FIG. 4 is a block diagram showing a second embodiment of the optical pulse tester according to the present invention.

【図5】同光パルス試験器の動作を説明するための光パ
ルスと観測波形のタイミングチャート図
FIG. 5 is a timing chart of an optical pulse and an observed waveform for explaining the operation of the optical pulse tester.

【図6】同光パルス試験器の動作を説明するためのフロ
ーチャート図
FIG. 6 is a flowchart for explaining the operation of the optical pulse tester.

【図7】従来の光パルス試験器のブロック構成図FIG. 7 is a block diagram of a conventional optical pulse tester.

【図8】従来の光パルス試験器の動作を説明するための
光パルスと観測波形のタイミングチャート図
FIG. 8 is a timing chart of an optical pulse and an observed waveform for explaining the operation of a conventional optical pulse tester.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1…初期レンジ設定手段、2…タイミング発生手段、7
a…データサンプリング手段、7b…ノイズレベル演算
手段、7c…データ比較手段、7d…サンプリング位置
演算手段、7e…繰り返し周期補正手段、9…被測定光
ファイバ、9b…近端、10…測定範囲設定手段、11
…レンジ設定手段、12a…第1のサンプリング手段
(サンプリング手段)、12b…第2のサンプリング手
段(サンプリング手段)、12c…データ比較手段、1
2d…レンジ切換手段、12e…繰り返し周期決定手
段、Ln…ノイズレベル、T…繰り返し周期、TA…補
正繰り返し周期、EA…測定範囲、P0…基準点、T
(T1,T2,T3)…繰り返し周期、S1…不一致信
号、S2…一致信号。
1 ... initial range setting means, 2 ... timing generation means, 7
a: data sampling means, 7b: noise level calculation means, 7c: data comparison means, 7d: sampling position calculation means, 7e: repetition period correction means, 9: optical fiber to be measured, 9b: near end, 10: measurement range setting Means, 11
... Range setting means, 12a first sampling means (sampling means), 12b second sampling means (sampling means), 12c data comparing means, 1
2d: range switching means, 12e: repetition cycle determination means, Ln: noise level, T: repetition cycle, TA: correction repetition cycle, EA: measurement range, P0: reference point, T
(T1, T2, T3): repetition period, S1: mismatch signal, S2: match signal.

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特公 平3−60375(JP,B2) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G01M 11/00 - 11/02 ────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of the front page (56) References JP 3-60375 (JP, B2) (58) Field surveyed (Int. Cl. 7 , DB name) G01M 11/00-11/02

Claims (3)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 観測波形が検出可能な距離に相当する時
間よりも長い時間に予め初期設定された繰り返し周期
(T)の同期信号に基づいて被測定光ファイバ(9)に
光パルスを供給している時の波形信号をサンプリングす
るデータサンプリング手段(7a)と、 該データサンプリング手段によりサンプリングされた複
数の波形データと、予め設定された前記波形信号の検出
限界を示すノイズレベル(Ln)とを比較するデータ比
較手段(7c)と、 該データ比較手段の結果に基づいて前記ノイズレベルを
越える被測定光ファイバの近端(9b)位置から最も遠
い波形データのサンプリング位置を演算するサンプリン
グ位置演算手段(7d)と、前記被測定光ファイバに光パルスを出射して該被測定光
ファイバの前記 サンプリング位置演算手段によって演算
された前記サンプリング位置まで往復する時間(t)よ
り大きくて近い値を補正繰り返し周期(TA)として
算し、前記初期設定された繰り返し周期を演算した補正
繰り返し周期に設定する繰り返し周期補正手段(7e)
とを備えたことを特徴とする光パルス試験器。
1. When the observed waveform corresponds to a detectable distance
Data sampling means (7a) for sampling a waveform signal when an optical pulse is being supplied to the optical fiber to be measured (9) based on a synchronization signal having a repetition period (T) preset in advance over a longer period of time. A data comparing unit (7c) for comparing a plurality of waveform data sampled by the data sampling unit with a preset noise level (Ln) indicating a detection limit of the waveform signal; A sampling position calculating means (7d) for calculating a sampling position of waveform data farthest from a near end (9b) position of the measured optical fiber exceeding the noise level based on the result; and emitting an optical pulse to the measured optical fiber. The measured light
A value greater than and close to the time (t) for reciprocating to the sampling position calculated by the sampling position calculating means of the fiber is performed as a correction repetition period (TA).
And the calculated initial repetition period is calculated.
Repetition period correction means (7e) for setting the repetition period
An optical pulse tester comprising:
【請求項2】 同期信号のタイミングに基づいて被測定
光ファイバ(9)に供給される光パルスの出射点を基準
点(P0)として前記被測定光ファイバの測定範囲(E
A)を設定する測定範囲設定手段(10)と、 少なくとも前記基準点から前記測定範囲を含む時間より
長い時間で前記同期信号の異なる2組の繰り返し周期
(T1,T2)を設定するレンジ設定手段(11)と、 該レンジ設定手段で設定された異なる2組の繰り返し周
期による前記被測定光ファイバからの波形信号をサンプ
リングするサンプリング手段(12a,12b)と、 該サンプリング手段による2組の波形データを前記測定
範囲内で比較するデータ比較手段(12c)と、 該データ比較手段による2組の波形データが不一致の時
に、短い方の繰り返し周期を他方の繰り返し周期より長
い時間のレンジに切り換えるレンジ切換手段( 12d)
と、 前記データ比較手段による2組の波形データが一致した
時に、短い方の繰り返し周期を最適な繰り返し周期とし
て設定する繰り返し周期決定手段(12e)とを備えた
ことを特徴とする光パルス試験器。
2. A device under test based on the timing of a synchronization signal.
With reference to the emission point of the optical pulse supplied to the optical fiber (9)
As a point (P0), the measurement range (E
Measuring range setting means (10) for setting A) and at least a time including the measuring range from the reference point.
Two different repetition periods of the synchronization signal in a long time
Range setting means (11) for setting (T1, T2); and two different sets of repetition cycles set by the range setting means.
The waveform signal from the measured optical fiber
Sampling means (12a, 12b) for ringing and two sets of waveform data by the sampling means are measured.
When the data comparing means (12c) for comparing within the range and the two sets of waveform data by the data comparing means do not match;
The shorter repetition cycle is longer than the other repetition cycle.
Range switching means ( 12d)
And the two sets of waveform data obtained by the data comparing means match.
Sometimes the shorter repetition cycle is the optimal repetition cycle
And a repetition period determining means (12e) for setting
An optical pulse tester characterized in that:
【請求項3】 同期信号のタイミングに基づいて被測定
光ファイバ(9)に供給される光パルスの出射点を基準
点(P0)として前記被測定光ファイバの測定範囲(E
A)を設定する測定範囲設定手段(10)と、 少なくとも前記基準点から前記測定範囲を含む時間より
長い時間で前記同期信号の異なる2組の繰り返し周期
(T1,T2)を設定するレンジ設定手段(11)と、 該レンジ設定手段で設定された異なる2組の繰り返し周
期による前記被測定光ファイバからの波形信号をサンプ
リングするサンプリング手段(12a,12b)と、 該サンプリング手段による2組の波形データを前記測定
範囲内で比較するデータ比較手段(12c)と、 該データ比較手段による2組の波形データが一致した時
に、長い方の繰り返し周期を他方の繰り返し周期より短
い時間のレンジに切り換えるレンジ切換手段(12d)
と、 前記データ比較手段による2組の波形データが不一致の
時に、長い方の繰り返し周期を最適な繰り返し周期とし
て設定する繰り返し周期決定手段(12e)とを備えた
ことを特徴とする光パルス試験器。
3. A device under test based on the timing of a synchronization signal.
With reference to the emission point of the optical pulse supplied to the optical fiber (9)
As a point (P0), the measurement range (E
Measuring range setting means (10) for setting A) and at least a time including the measuring range from the reference point.
Two different repetition periods of the synchronization signal in a long time
Range setting means (11) for setting (T1, T2); and two different sets of repetition cycles set by the range setting means.
The waveform signal from the measured optical fiber
Sampling means (12a, 12b) for ringing and two sets of waveform data by the sampling means are measured.
When the data comparison means (12c) for comparing within the range and the two sets of waveform data by the data comparison means match
The longer repetition period is shorter than the other
Range switching means (12d) for switching to a range with a shorter time
And that two sets of waveform data by the data comparing means do not match.
Sometimes the longer repetition cycle is the optimal repetition cycle
And a repetition period determining means (12e) for setting
An optical pulse tester characterized in that:
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