JP2985280B2 - Semiconductor integrated circuit - Google Patents

Semiconductor integrated circuit

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Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、半導体集積回路に利用される。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Industrial Application Field] The present invention is used for a semiconductor integrated circuit.

本発明は、特に、ECL(エミッタ カップルド ロジ
ック)出力回路を含む半導体集積回路に利用する。
The present invention is particularly applied to a semiconductor integrated circuit including an ECL (emitter coupled logic) output circuit.

〔概要〕〔Overview〕

本発明は、ECL出力回路を含む半導体集積回路におい
て、 コレクタ接地され、コレクタ−ベース間およびベース
−エミッタ間にそれぞれ第一および第二の抵抗が接続さ
れ、エミッタから出力を取り出すバイポーラトランジス
タと、「ハイ」レベル出力時電流をしゃ断し、「ロー」
レベル出力時バイポーラトランジスタのベースから定電
流を引き出す定電流発生回路とを備えることにより、 低消費電力で高速性に優れ、かつ、チップ面積を小さ
くできるようにしたものである。
The present invention relates to a semiconductor integrated circuit including an ECL output circuit, wherein a collector is grounded, first and second resistors are respectively connected between a collector and a base, and between a base and an emitter, and a bipolar transistor which takes out an output from the emitter; The current is cut off at the time of "High" level output, and "Low"
By providing a constant current generating circuit for drawing a constant current from the base of the bipolar transistor at the time of level output, low power consumption, high speed, and a small chip area can be achieved.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

MOSトランジスタとバイポーラトランジスタとを同一
チップ上に混在させたいわゆるBiCMOS論理回路は、その
高速性により従来ECL論理回路で対応していた領域へ入
りつつある。これに伴い、TTL入出力回路を主として有
していたBiCMOS論理回路に対し、ECL論理回路とのイン
タフェースとしてのECL入出力回路混在の必要性が高く
なっている。
A so-called BiCMOS logic circuit in which a MOS transistor and a bipolar transistor are mixed on the same chip is entering an area which has been conventionally supported by an ECL logic circuit due to its high speed. Accordingly, the necessity of mixing ECL input / output circuits as an interface with ECL logic circuits has increased for BiCMOS logic circuits mainly having TTL input / output circuits.

この要求に対する対応としての代表例を第3図に示
す。
FIG. 3 shows a representative example as a response to this request.

この従来例においては、NPN形のバイポーラトランジ
スタ11〜13、負荷抵抗RLおよび定電流発生回路14よりな
る通常のECL出力回路を、基準電圧VREFを供給する基準
電圧発生回路16とともに構成し、内部回路の論理振幅を
ECL論理回路の論理振幅に変換するレベル変換回路15を
付加することにより実現しているものである。
In this conventional example, a normal ECL output circuit including NPN-type bipolar transistors 11 to 13, a load resistor RL, and a constant current generation circuit 14 is configured together with a reference voltage generation circuit 16 that supplies a reference voltage VREF . Logic amplitude of internal circuit
This is realized by adding a level conversion circuit 15 for converting the amplitude to the logic amplitude of the ECL logic circuit.

すなわち、BiOMOS論理回路において内部回路の論理振
幅VLは、 VL=|VEE|−VF で表される。ただしVEEは負電位電源の電圧、VFはバイ
ポーラトランジスタのベース−エミッタ間の順方向電圧
である。
That is, logic amplitude V L of the internal circuit in BiOMOS logic circuit, V L = | represented by -V F | V EE. However V EE voltage of negative potential power supply, V F is the base of the bipolar transistor - a forward voltage of the emitter.

ここで、VEE=1−5.2V、VF=0.8Vとすると、VL=4.4
Vとなる。一方、ECL論理回路の論理振幅は VL=RL・ICS で表されるが、通常800mV程度であり、前述のBiCMOS論
理回路の論理振幅VLを第3図のレベル変換回路15により
約800mVに圧縮し出力させる方法をとっている。
Here, assuming that V EE = 1-5.2V and V F = 0.8V, V L = 4.4
V. On the other hand, the logical amplitude of the ECL logic circuit is represented by V L = R L · I CS , usually about 800 mV, about the level conversion circuit 15 of FIG. 3 the logic amplitude V L of BiCMOS logic circuit described above The method of compressing and outputting to 800mV is adopted.

〔発明が解決しようとする課題〕[Problems to be solved by the invention]

前述した従来例には以下のような欠点があった。 The conventional example described above has the following disadvantages.

まず第一に、定電流発生回路14には常に電流が流れて
いるため、消費電力が大きい点が挙げられる。このた
め、低消費電力が長所の一つとなっているBiCMOS論理回
路の利点を損なってしまう。
First, the constant current generation circuit 14 always consumes a large amount of power because a current always flows. For this reason, the advantage of the BiCMOS logic circuit in which low power consumption is one of the advantages is impaired.

第二に、レベル変換回路15が必要となるため、ECL出
力回路の高速性が十分に生かせないこと。
Second, the high speed of the ECL output circuit cannot be fully utilized because the level conversion circuit 15 is required.

第三に基準電圧発生回路16をチップ内に設置する必要
があるため、チップ面積の増加を招くこと。
Third, since the reference voltage generation circuit 16 needs to be provided in the chip, the chip area increases.

本発明の目的は、前記の欠点を除去することにより、
低消費電力で高速性に優れ、かっチップ面積を小さくで
きる、ECL出力回路を有する半導体集積回路を提供する
ことにある。
The object of the present invention is to eliminate the disadvantages mentioned above,
An object of the present invention is to provide a semiconductor integrated circuit having an ECL output circuit, which has low power consumption, is excellent in high-speed operation, and can reduce a chip area.

〔課題を解決するための手段〕[Means for solving the problem]

本発明は、ベース−コレクタ間およびベース−エミッ
タ間にそれぞれ第一の抵抗および第二の抵抗が接続さ
れ、コレクタが接地電位に接続され、エミッタが出力端
子に接続された第一のバイポーラトランジスタと、「ハ
イ」レベル出力時には電流をしゃ断し、「ロー」レベル
出力時には前記第一のバイポーラトランジスタのベース
から定電流を引き込む定電流発生回路とを備えたことを
特徴とする。
The present invention relates to a first bipolar transistor in which a first resistor and a second resistor are connected between a base and a collector and between a base and an emitter, a collector is connected to a ground potential, and an emitter is connected to an output terminal. A constant current generating circuit for interrupting the current at the time of "high" level output and drawing a constant current from the base of the first bipolar transistor at the time of "low" level output.

また、本発明は、前記定電流発生回路は、コレクタが
前記第一のバイポーラトランジスタのベースに接続さ
れ、エミッタが第三の抵抗を介して電源に接続された第
二のバイポーラトランジスタと、この第二のバイポーラ
トランジスタのベースと前記電源との間に接続され前記
第二のバイポーラトランジスタのベース電位を決めるベ
ース回路と、PチャネルMOSトランジスタとNチャネルM
OSトランジスタとの直列接続回路からなり、前記接地電
位と前記電源間に接続され、出力が前記第二のバイポー
ラトランジスタのベースに接続されたゲート回路とを含
むことができる。
Also, the present invention provides the constant current generating circuit, wherein a collector is connected to a base of the first bipolar transistor, an emitter is connected to a power supply via a third resistor, A base circuit connected between the base of the two bipolar transistors and the power supply to determine the base potential of the second bipolar transistor; a P-channel MOS transistor and an N-channel transistor
A gate circuit, which is formed of a series connection circuit with an OS transistor, is connected between the ground potential and the power supply, and has an output connected to the base of the second bipolar transistor.

また、本発明は、前記ベース回路はダイオードである
ことが好ましい。
In the present invention, it is preferable that the base circuit is a diode.

また、本発明は、前記ベース回路は抵抗であることが
好ましい。
In the present invention, it is preferable that the base circuit is a resistor.

また、本発明は、前記第一のバイポーラトランジスタ
のベースと前記接地電位との間に直列接続されたダイオ
ードと抵抗とを含む温度補償回路を備えることができ
る。
Further, the present invention can include a temperature compensation circuit including a diode and a resistor connected in series between the base of the first bipolar transistor and the ground potential.

〔作用〕[Action]

第一および第二のバイポーラトランジスタのベース−
エミッタ間順方向電圧をVF1およびVF2、ベース回路の電
圧降下をVF3、第一、第二および第三の抵抗をそれぞれR
1、R2およびR3とすると、 「ハイ」レベル出力電圧VOH、および「ロー」レベル
出力電圧VOLはそれぞれ下式で与えられる。
Bases of first and second bipolar transistors
The forward voltage between the emitters is V F1 and V F2 , the voltage drop of the base circuit is V F3 , and the first, second and third resistors are R.
Assuming that 1 , R 2 and R 3 , the “high” level output voltage V OH and the “low” level output voltage V OL are given by the following equations, respectively.

すなわち、出力電圧は、VF1、VF2、VF3と抵抗比R1/
R3、R1/R2とで決まるので、製造条件のばらつきの影響
が極めて少なくなるうえ、そのレベルを精密に設定でき
る。
That is, the output voltage is V F1 , V F2 , V F3 and the resistance ratio R 1 /
Since it is determined by R 3 and R 1 / R 2 , the influence of variations in manufacturing conditions is extremely reduced, and the level can be set precisely.

さらに、従来例に必要としたレベル変換回路および基
準電圧発生回路は必要でなく、かつ、ハイレベル出力時
は定電流発生回路の電流は零となるので、低消費電力
で、高速性に優れ、かつチップ面積の小さい半導体集積
回路を実現することが可能となる。
Furthermore, the level conversion circuit and the reference voltage generation circuit required in the conventional example are not required, and the current of the constant current generation circuit becomes zero at the time of high level output, so that the power consumption is low, the speed is excellent, In addition, a semiconductor integrated circuit having a small chip area can be realized.

また、温度特性にも優れているが、温度補償回路を加
味することで、例えば、ECL−10KHの規格に正確に合わ
せることができる。
Although it has excellent temperature characteristics, it can be accurately adjusted to, for example, ECL-10KH by adding a temperature compensation circuit.

〔実施例〕〔Example〕

以下、本発明の実施例について図面を参照して説明す
る。
Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.

第1図は本発明の第一実施例を示すブロック構成図で
ある。
FIG. 1 is a block diagram showing a first embodiment of the present invention.

本第一実施例は、ベース−コレクタ間およびベース−
エミッタ間にそれぞれ第一の抵抗R1および第二の抵抗R2
が接続され、コレクタが接地電位GNDに接続され、エミ
ッタが出力端子OUTに接続され負荷抵抗RLを介して出力
電源VTに接続されたNPN形の第一のバイポーラトランジ
スタ1と、「ハイ」レベル出力時には電流をしゃ断し、
「ロー」レベル出力時にはバイポーラトランジスタ1の
ベースから定電流を引き込む定電流発生回路7とを備え
ている。
In this first embodiment, the base-collector and base-
A first resistor R 1 and a second resistor R 2 respectively between the emitters
There is connected a collector connected to the ground potential GND, and the emitter is a first bipolar transistor 1 of the connected NPN type connected to the load resistor R L through the output power V T to the output terminal OUT, and "high" When level output, cut off the current,
A constant current generating circuit 7 for drawing a constant current from the base of the bipolar transistor 1 at the time of "low" level output is provided.

そして、定電流発生回路7は、コレクタがバイポーラ
トランジスタ1のベースに接続され、エミッタが第三の
抵抗R3を介して負電位電源VEEに接続されたNPN形の第二
のバイポーラトランジスタ3と、このバイポーラトラン
ジスタ3のベースと負電位電源VEEとの間に接続されバ
イポーラトランジスタ3のベース電位を決めるベース回
路としてのダイオード2と、PチャネルMOSトランジス
タ4とNチャネルMOSトランジスタ5との抵抗R6を介し
ての直列接続回路からなり、接地電位GNDと負電位電源V
EE間に接続され、出力がバイポーラトランジスタ3のベ
ースに接続されたゲート回路とを含んでいる。
The constant current generating circuit 7 includes an NPN-type second bipolar transistor 3 having a collector connected to the base of the bipolar transistor 1 and an emitter connected to a negative potential power supply VEE via a third resistor R3. A diode 2 connected between the base of the bipolar transistor 3 and the negative potential power supply VEE as a base circuit for determining the base potential of the bipolar transistor 3, and a resistance R of the P-channel MOS transistor 4 and the N-channel MOS transistor 5; 6 and a ground potential GND and a negative potential power supply V
And a gate circuit connected between EE and having an output connected to the base of the bipolar transistor 3.

次に、本第一実施例の動作について説明する。 Next, the operation of the first embodiment will be described.

まず、入力端Aに「ロー」レベル(〜VEE)の信号が
入力された場合について述べる。入力端Aに「ロー」レ
ベルの信号が入力されると、PチャネルMOSトランスタ
4が「オン」し、NチャネルMOSトランジスタ5が「オ
フ」するが、これにより、ダイオード2およびバイポー
ラトランジスタ3に電流が供給されそれぞれ「オン」す
る。このとき、バイポーラトランジスタ3のエミッタ電
流I3は、 と表すことができる。ここで、VF2およびVF3はそれぞれ
ダイオード2およびバイポーラトランジスタ3のベース
−エミッタ間順方向電圧を示す。
First, a case where a signal of a “low” level (〜V EE ) is input to the input terminal A will be described. When a “low” level signal is input to the input terminal A, the P-channel MOS transistor 4 is turned “ON” and the N-channel MOS transistor 5 is turned “OFF”, whereby the current flows through the diode 2 and the bipolar transistor 3. Are supplied and turned on. At this time, the emitter current I 3 of the bipolar transistor 3 becomes It can be expressed as. Here, VF2 and VF3 indicate the forward voltage between the base and the emitter of the diode 2 and the bipolar transistor 3, respectively.

また、コレクタ電流I3′は、 となる。ここで、 (ただし、VF1はバイポーラトランジスタ1のベース−
エミッタ間順方向電圧、hFEは各バイポーラトランジス
タのエミッタ接地電流増幅率、) となるので、 と考えて、 従って、「ロー」レベル出力電圧VOLは、 となる。
The collector current I 3 ′ is Becomes here, (However, VF1 is the base of the bipolar transistor 1.
The forward voltage between the emitters, h FE is the common emitter current amplification factor of each bipolar transistor.) Thinking, Therefore, the “low” level output voltage V OL is Becomes

次に、入力端Aに「ハイ」レベルの信号が入力される
と、PチャネルMOSトランジスタ4が「オフ」し、Nチ
ャネルMOSトランジスタ5が「オン」するが、これによ
り、ダイオード2およびバイポーラトランジスタ3が
「オフ」する。すなわち、 I3′=0 となり、バイポーラトランジスタ1のベース電位VBは上
昇する。ここで、 V1=VB1+I2 と表すことができるが、 IB1≪I1 と考えて、ハイレベル出力電圧VOHを計算すると、 となる。
Next, when a “high” level signal is input to the input terminal A, the P-channel MOS transistor 4 is turned “OFF” and the N-channel MOS transistor 5 is turned “ON”. 3 is "off". That, I 3 '= 0, and the base potential V B of the bipolar transistor 1 is increased. Here, it can be expressed as V 1 = V B1 + I 2. Considering that I B1 ≪I 1 and calculating the high-level output voltage V OH , Becomes

(1)式および(2)式からわかるように、出力レベ
ルは、ベース−エミッタ間順方向電圧VF1、VF2およびV
F3と、抵抗比R1/R3およびR1/R2とで決まるので、製造条
件のばらつきの影響が極めて少ない。
As can be seen from the equations (1) and (2), the output levels correspond to the base-emitter forward voltages V F1 , V F2 and V
Since it is determined by F3 and the resistance ratios R 1 / R 3 and R 1 / R 2 , the influence of variations in manufacturing conditions is extremely small.

次に、これらの温度特性について考える。(1)式を
温度Tで微分すると、VGをバンドギャップ電圧として、 従って、 とするには、 となるようにR1/R2の比を設定すればよい。このとき、R
1/R2の比を決定するとともに、VOHの規格に入るように
バイポーラトランジスタ1のエミッタ面積を決定し、V
F1を求める。
Next, these temperature characteristics will be considered. (1) is differentiated by temperature T a formula, the V G as a band gap voltage, Therefore, To do The ratio of R 1 / R 2 may be set so that At this time, R
In addition to determining the ratio of 1 / R 2 , the emitter area of the bipolar transistor 1 is determined so as to be within the specification of V OH.
Find F1 .

さらに、(2)式を温度Tで微分すると、 すなわち、(2)式および(3)式で決定されたR1/R2
と比により(4)式の温度依存性が決まり、いわゆるEC
L−10KHと同等な特性を有するものとなる。
Furthermore, differentiating equation (2) with temperature T gives: That is, R 1 / R 2 determined by the equations (2) and (3)
And the ratio determine the temperature dependence of equation (4).
It has characteristics equivalent to L-10KH.

また、(1)式において、VOLの規格に入るように、
抵抗比R1/R3およびバイポーラトランジスタ1および3
のエミッタ面積を決定し、VF2およびVF3を求めればよ
い。
Also, in equation (1), to meet the VOL standard,
The resistance ratio R 1 / R 3 and bipolar transistors 1 and 3
Is determined, and V F2 and V F3 may be obtained.

第2図は本発明の第二実施例を示す回路図である。 FIG. 2 is a circuit diagram showing a second embodiment of the present invention.

本第二実施例は、第1図の第一実施例において、ベー
ス回路として、ダイオード2の代わりに抵抗R5を用い、
さらに、バイポーラトランジスタ1のベースと接地電位
GNDとの間に直列接続されたダイオード6と抵抗R4とか
らなる温度補償回路を備えている。
Second Embodiment This is used in the first embodiment of FIG. 1, as a base circuit, the resistor R 5 in place of the diode 2,
Further, the base of the bipolar transistor 1 and the ground potential
And a temperature compensation circuit comprising a series-connected diode 6 and the resistor R 4 Metropolitan to GND.

本第二実施例は、VOHの温度依存性を微調整するため
に、ダイオード6と抵抗R4とによって抵抗R1に流れる電
流を高温時に減少させるようにしたものである。これに
よって、いわゆるECL−10KHの規格に正確におさめるこ
とが可能となる。
In the second embodiment, in order to finely adjust the temperature dependency of V OH , the current flowing through the resistor R 1 is reduced at a high temperature by the diode 6 and the resistor R 4 . As a result, it is possible to accurately meet the ECL-10KH standard.

〔発明の効果〕〔The invention's effect〕

以上説明したように、本発明は、以下のような効果を
有している。
As described above, the present invention has the following effects.

(1) 基準電圧発生回路が不要であるので、チップ面
積の減少と消費電力の削減を図ることができる。
(1) Since a reference voltage generation circuit is unnecessary, a reduction in chip area and power consumption can be achieved.

(2) 定電流発生回路の制御すなわちVOL出力時の電
流カットができ、消費電力の削減を図ることができる。
(2) The constant current generating circuit can be controlled, that is, the current can be cut at the time of VOL output, and power consumption can be reduced.

(3) レベル変換回路が不要であるので、高速動作が
可能である。
(3) Since a level conversion circuit is unnecessary, high-speed operation is possible.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

第1図は本発明の第一実施例を示す回路図。 第2図は本発明の第二実施例を示す回路図。 第3図は従来例を示す回路図。 1、3、11〜13……バイポーラトランジスタ、2、6…
…ダイオード、4……PチャネルMOSトランジスタ、5
……NチャネルMOSトランジスタ、7、14……定電流発
生回路、15……レベル変換回路、16……基準電圧発生回
路、R1〜R6……抵抗、RL……負荷抵抗、A……入力端、
GND……接地電位、OUT……出力端子、VB……ベース電
位、VEE……負電位電源、VT……出力電源。
FIG. 1 is a circuit diagram showing a first embodiment of the present invention. FIG. 2 is a circuit diagram showing a second embodiment of the present invention. FIG. 3 is a circuit diagram showing a conventional example. 1, 3, 11 to 13 bipolar transistors, 2, 6 ...
... Diode, 4 ... P-channel MOS transistor, 5
...... N-channel MOS transistor, 7,14 ...... constant current generating circuit, 15 ...... level conversion circuit, 16 ...... reference voltage generating circuit, R 1 to R 6 ...... resistance, R L ...... load resistance, A ... … Input end,
GND: Ground potential, OUT: Output terminal, V B: Base potential, V EE: Negative potential power supply, V T: Output power supply.

Claims (5)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】ベース−コレクタ間およびベース−エミッ
タ間にそれぞれ第一の抵抗および第二の抵抗が接続さ
れ、コレクタが接地電位に接続され、エミッタが出力端
子に接続された第一のバイポーラトランジスタと、 「ハイ」レベル出力時には電流をしゃ断し、「ロー」レ
ベル出力時には前記第一のバイポーラトランジスタのベ
ースから定電流を引き込む定電流発生回路と を備えたことを特徴とする半導体集積回路。
A first bipolar transistor having first and second resistors connected between a base and a collector and between a base and an emitter, a collector connected to a ground potential, and an emitter connected to an output terminal, respectively. And a constant current generating circuit that cuts off current at the time of “high” level output and draws a constant current from the base of the first bipolar transistor at the time of “low” level output.
【請求項2】前記定電流発生回路は、コレクタが前記第
一のバイポーラトランジスタのベースに接続され、エミ
ッタが第三の抵抗を介して電源に接続された第二のバイ
ポーラトランジスタと、この第二のバイポーラトランジ
スタのベースと前記電源との間に接続され前記第二のバ
イポーラトランジスタのベース電位を決めるベース回路
と、PチャネルMOSトランジスタとNチャネルMOSトラン
ジスタとの直列接続回路からなり、前記接地電位と前記
電源間に接続され、出力が前記第二のバイポーラトラン
ジスタのベースに接続されたゲート回路とを含む請求項
1に記載の半導体集積回路。
A second bipolar transistor having a collector connected to a base of the first bipolar transistor and an emitter connected to a power supply via a third resistor; A base circuit connected between the base of the bipolar transistor and the power supply and determining a base potential of the second bipolar transistor; and a series connection circuit of a P-channel MOS transistor and an N-channel MOS transistor. 2. The semiconductor integrated circuit according to claim 1, further comprising: a gate circuit connected between the power supplies and having an output connected to a base of the second bipolar transistor.
【請求項3】前記ベース回路はダイオードである請求項
2に記載の半導体集積回路。
3. The semiconductor integrated circuit according to claim 2, wherein said base circuit is a diode.
【請求項4】前記ベース回路は抵抗である請求項2に記
載の半導体集積回路。
4. The semiconductor integrated circuit according to claim 2, wherein said base circuit is a resistor.
【請求項5】前記第一のバイポーラトランジスタのベー
スと前記接地電位との間に直列接続されたダイオードと
抵抗とを含む温度補償回路を備えた請求項1ないし請求
項4のいずれかに記載の半導体集積回路。
5. The temperature compensation circuit according to claim 1, further comprising a temperature compensation circuit including a diode and a resistor connected in series between a base of said first bipolar transistor and said ground potential. Semiconductor integrated circuit.
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