JP2978855B2 - Lead frame, semiconductor device using this lead frame, and apparatus for manufacturing this semiconductor device - Google Patents

Lead frame, semiconductor device using this lead frame, and apparatus for manufacturing this semiconductor device

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JP2978855B2 JP24530697A JP24530697A JP2978855B2 JP 2978855 B2 JP2978855 B2 JP 2978855B2 JP 24530697 A JP24530697 A JP 24530697A JP 24530697 A JP24530697 A JP 24530697A JP 2978855 B2 JP2978855 B2 JP 2978855B2
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Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明はリードフレーム及び
このリードフレームを用いる半導体装置及びこの半導体
装置の製造装置に関し、特に薄型樹脂封止型パツケージ
搭載用の多連型のリードフレームとこのリードフレーム
を用いる半導体装置及びこの半導体装置のの樹脂成形用
の製造装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a lead frame, a semiconductor device using the lead frame, and an apparatus for manufacturing the semiconductor device. More particularly, the present invention relates to a multiple lead frame for mounting a thin resin-sealed package and a lead frame. The present invention relates to a semiconductor device used and a manufacturing apparatus for resin molding of the semiconductor device.

【0002】[0002]

【従来の技術】半導体の樹脂封止工程の合理化を図る手
段として、近年、1つのモールド型内に複数個のポット
及びプランジャを設け各ポットから短いランナを通して
封止用樹脂を各キャビテイに移送するマルチスポット成
形法式が広まっている。
2. Description of the Related Art In recent years, a plurality of pots and plungers have been provided in a single mold, and a sealing resin has been transferred from each pot to each cavity through a short runner as a means for rationalizing a resin sealing process of a semiconductor. The multi-spot molding method is widespread.

【0003】この種の成形方式に適合する例えば特開昭
62−122136号記載の従来のリードフレームを平
面図で示す図4を参照すると、この従来のリードフレー
ム1は、封止用の樹脂の供給を受け、個々の半導体装置
を形成し半導体チップ搭載用アイランド部を含む多数の
キャビテイが縦横に配置される多連の形式を取ってお
り、この例では説明の便宜上第1〜第3段目の各々のキ
ャビテイをキャビテイ5,6,7とし、これらキャビテ
イ5,6の間及びキャビテイ6,7の間のランナ部分に
は樹脂の注入経路を形成する比較的狭幅のゲート8を設
ける。
FIG. 4 is a plan view of a conventional lead frame described in, for example, Japanese Patent Application Laid-Open No. Sho 62-122136, which is compatible with this type of molding method. In this example, a plurality of cavities including an island portion for mounting a semiconductor chip are arranged vertically and horizontally by receiving the supply, and a plurality of cavities including an island portion for mounting a semiconductor chip are taken. Are cavities 5, 6, and 7, and a relatively narrow gate 8 that forms a resin injection path is provided between the cavities 5, 6 and between the cavities 6, 7 in a runner portion.

【0004】次に、図4及び樹脂封止工程を半導体装置
の製造装置とともに模式断面図で示す図5(A)〜
(C)を参照して、従来のリードフレーム及びこのリー
ドフレームを用いる半導体装置の製造装置の動作につい
て説明すると、まず、製造装置の主要部である金型の上
型181と下型191の間にキャビテイ5,6,7に半
導体チップ101を搭載したリードフレーム1をはさ
む。このときリードフレームのキャビテイ5,6,7は
上型181と下型191とで形成されるキャビテイ型5
1,61,71と一致するよう配置される。
Next, FIG. 4 and FIGS. 5A to 5C are schematic cross-sectional views showing a resin sealing step together with a semiconductor device manufacturing apparatus.
The operation of a conventional lead frame and an apparatus for manufacturing a semiconductor device using the lead frame will be described with reference to FIG. The lead frame 1 in which the semiconductor chips 101 are mounted on the cavities 5, 6, and 7 is sandwiched. At this time, the cavities 5, 6, and 7 of the lead frame are formed in the cavity mold 5 formed by the upper mold 181 and the lower mold 191.
1, 61, 71 are arranged.

【0005】次に、ポツト31においてタブレット状の
樹脂14を投入し、プランジヤ16を押下して加圧し、
高温状態で樹脂14をキャビテイ型51,61,71の
各々に注入する。このとき、樹脂14は第1番目のラン
ナ9を通過し、第1番目のキャビテイ型51に、第2番
目のランナ10を通って第2番目のキャビテイ型61
に、同様にして第3番目のランナ11を通って第3番目
のキャビテイ型71へと注入される。
[0005] Next, the tablet-like resin 14 is put in the pot 31, and the plunger 16 is pressed down to pressurize it.
The resin 14 is injected into each of the cavity molds 51, 61 and 71 at a high temperature. At this time, the resin 14 passes through the first runner 9 and enters the first cavity mold 51 through the second runner 10 and the second cavity mold 61.
Then, similarly, it is injected into the third cavity mold 71 through the third runner 11.

【0006】[0006]

【発明が解決しようとする課題】上述した従来のリード
フレームは、各キャビティ間のランナ部分に設けたゲー
トが狭いため流動性があまり良好でない封止用樹脂の円
滑な流動が妨げられることにより、これらキャビテイ型
に均等に樹脂を注入することが困難であるという欠点が
あった。
In the conventional lead frame described above, the gate provided in the runner portion between the cavities is narrow, so that the smooth flow of the sealing resin, which is not so good in flowability, is prevented. There is a drawback that it is difficult to uniformly inject resin into these cavity molds.

【0007】本発明の目的は、薄型樹脂封止型パツケー
ジ搭載用の多連型のリードフレームの各キャビテイに均
等に封止用樹脂を注入可能なリードフレーム及びこのリ
ードフレームを用いる半導体装置の製造装置を提供する
ことにある。
An object of the present invention is to manufacture a lead frame capable of uniformly injecting a sealing resin into each cavity of a multiple lead frame for mounting a thin resin-sealed package, and manufacturing a semiconductor device using this lead frame. It is to provide a device.

【0008】[0008]

【課題を解決するための手段】本発明のリードフレーム
は、予め定めた位置に配置した封止用の樹脂の押圧供給
用の複数個のポットの各々から前記樹脂の供給を受け個
々の半導体装置を形成し半導体チップ搭載用アイランド
部を含み縦方向に直列に配置した複数個のキャビテイ部
を横方向に複数列配置した多連型のリードフレームにお
いて、前記ポットと前記キャビテイ部との間及び相互に
隣接する複数個の前記キャビテイ部相互間の前記樹脂の
通路部に前記樹脂の注入経路を形成するとともにこの樹
脂を1時的に蓄積するための空間を形成するよう大きく
切り欠いた広幅の切り欠き部を備えて構成されている。
According to the present invention, there is provided a lead frame which receives a supply of the resin from a plurality of pots for pressing and supplying a sealing resin arranged at predetermined positions. forming a plurality of cavity portions arranged in series island for mounting a semiconductor chip on unrealized longitudinally
Are arranged in a plurality of rows in the horizontal direction, the resin injection path is provided between the pot and the cavity portion and between the plurality of cavity portions adjacent to each other in the resin passage portion. And a wide cutout portion which is largely cutout so as to form a space for temporarily storing the resin.

【0009】本発明の半導体装置の製造装置は、モール
ド型内に封止用の樹脂を押圧供給するための複数個のポ
ッドを備え、これら複数個のポッドの各々に相互に独立
した樹脂通路である複数のランナを設け、前記ランナの
先に直列に複数個のキャビテイ型を設け、前記キャビテ
イ型内にリードフレームのキャビテイ部を配置して前記
複数個のポッドの各々から前記複数個のキャビテイ型に
前記樹脂を押圧供給するよう構成した半導体装置の製造
装置において、前記ランナが、前記キャビテイ型に前記
樹脂が所定量注入された時点でこの樹脂の注入を遮断す
るよう遮断機構を備えて構成されている。
The apparatus for manufacturing a semiconductor device according to the present invention includes a plurality of pods for pressing and supplying a sealing resin into a mold, and each of the plurality of pods is provided with an independent resin passage. A plurality of runners are provided, a plurality of cavity types are provided in series at the end of the runner, and a cavity portion of a lead frame is disposed in the cavity type, and the plurality of cavity types are formed from each of the plurality of pods. A semiconductor device manufacturing apparatus configured to press-supply the resin, wherein the runner includes a shut-off mechanism to shut off injection of the resin when the predetermined amount of the resin is injected into the cavity mold. ing.

【0010】[0010]

【発明の実施の形態】次に、本発明の実施の形態を図4
と共通の構成要素には共通の参照文字/数字を付して同
様に平面図で示す図1を参照すると、この図に示す本実
施の形態のリードフレーム1Aは、従来と同様な多数の
封止用の樹脂の供給を受けるキャビテイが縦横に配置さ
れ多連の形式を取っており、説明の便宜上、第1〜第3
段目の各々のキャビテイである従来と共通のキャビテイ
5,6,7に加えて、これらキャビテイ5,6の間、及
びキャビテイ6,7の間の各々のランナ部分に従来の狭
幅のゲート8に代わり樹脂の注入経路を形成するととも
にこの樹脂を1時的に蓄積するため広い空間を形成する
よう大きく切り欠いた広幅の切り欠き部2を設ける。
FIG. 4 shows an embodiment of the present invention.
Referring to FIG. 1 also shown in a plan view with common reference characters / numerals attached to common components, a lead frame 1A of this embodiment shown in FIG. The cavities receiving the supply of the stopping resin are arranged vertically and horizontally to take a multiple form. For convenience of explanation, the first to third cavities are provided.
In addition to the cavities 5, 6, and 7 which are the cavities common to the conventional tiers, the conventional narrow gate 8 is provided between the cavities 5 and 6 and between the cavities 6 and 7 at the respective runner portions. Instead of this, a wide cutout portion 2 is formed which is notched so as to form a wide space for forming a resin injection path and temporarily storing the resin.

【0011】本実施の形態のリードフレーム1Aを用い
る半導体装置を樹脂封止するための本実施の形態の半導
体装置の製造装置を構成する金型を平面図で示す図2
(A)を参照すると、この金型は、中央にポツト31が
設けられ、このポツト31に対して左右対称に第1のラ
ンナ41、第1段のキャビテイ5用のキャビテイ型5
1、第2のランナ42、第2キャビテイ6用のキャビテ
イ型61、第3のランナ43、第3キャビテイ7用のキ
ャビテイ型71と順次配置されている。以下説明の便宜
上ポット31の右側について説明する。
FIG. 2 is a plan view showing a mold constituting a semiconductor device manufacturing apparatus of the present embodiment for resin-sealing a semiconductor device using the lead frame 1A of the present embodiment.
Referring to (A), this mold is provided with a pot 31 in the center, and a first runner 41 and a cavity mold 5 for the first-stage cavity 5 symmetrically with respect to the pot 31.
1, a second runner 42, a cavity mold 61 for the second cavity 6, a third runner 43, and a cavity mold 71 for the third cavity 7 are sequentially arranged. Hereinafter, the right side of the pot 31 will be described for convenience of description.

【0012】本実施の形態の半導体装置の製造装置を用
いて本実施の形態のリードフレーム1Aの樹脂封止工程
を半導体装置の製造装置とともに模式断面図で示す図2
(B)〜(E)に示すように、この金型は、リードフレ
ーム1Aの切り欠き部2に対応する第1のランナ41,
第2のランナ42,・・・の部分の上型81と下型91
の各々に上下に可動する第2,第3のプランジヤ76,
77を有し、このランナ部対応の切り欠き部2により封
止用樹脂の流路を大きく確保して樹脂の流動性を良好に
するとともに、可動するプランジヤの遮断動作にて製品
分離性を確保する。
FIG. 2 is a schematic cross-sectional view showing the resin sealing step of the lead frame 1A of the present embodiment together with the semiconductor device manufacturing apparatus using the semiconductor device manufacturing apparatus of the present embodiment.
As shown in (B) to (E), this mold includes first runners 41, 41 corresponding to cutouts 2 of lead frame 1A.
The upper die 81 and the lower die 91 of the second runners 42,...
Each of the second and third plungers 76 movable up and down,
77 has a notch 2 corresponding to the runner portion to secure a large flow path of the sealing resin to improve the fluidity of the resin, and to secure the product separation by the shut-off operation of the movable plunger. I do.

【0013】次に、図1及び図2(A)〜(E)を参照
して、本実施の形態のリードフレームを用いる本実施の
形態の半導体装置の製造装置の動作について説明する
と、まず、中央のポツト31に、タブレット状の封止樹
脂14を充填し、従来と同様に、第1プランジヤ16を
押上て加圧する。プランジヤ16により圧入され始めた
樹脂14は第1段のキャビテイ型51を通過し、第2ラ
ンナ42及び切り欠き部2を通過し、第2キャビテイ型
61ヘと流入する。このとき、上型81の第2のプラン
ジヤ76は樹脂の流路を確保するよう上方へ移動してい
るが、下型91の第3のプランジヤ77はリードフレー
ム1Aに接するように上方へ移動している。(図2
(C))次に、樹脂14が最終段この例では第3キャビ
テイ型71まで達し、注入が終了する直前にプランジヤ
76が下降し同時にプランジヤ77も下降する。(図2
(D),(E))第1キャビテイ型51とプランジャ7
6,77及び第2キャビテイ型61の配列の詳細を平面
図で示す図3(A)及び断面図で示す図3(B)を参照
すると、第1キャビテイ型51と第2キャビテイ型61
の各々のポツトは、上型81の部分を大きく下型91の
部分を小さく構成している。
Next, the operation of the semiconductor device manufacturing apparatus according to the present embodiment using the lead frame according to the present embodiment will be described with reference to FIGS. 1 and 2A to 2E. The central pot 31 is filled with a tablet-shaped sealing resin 14, and the first plunger 16 is pushed up and pressurized as in the conventional case. The resin 14 that has begun to be press-fitted by the plunger 16 passes through the first-stage cavity mold 51, passes through the second runner 42 and the notch 2, and flows into the second cavity mold 61. At this time, the second plunger 76 of the upper die 81 is moving upward so as to secure a resin flow path, while the third plunger 77 of the lower die 91 is moving upward so as to be in contact with the lead frame 1A. ing. (Figure 2
(C)) Next, the resin 14 reaches the final stage in this example, the third cavity mold 71, and the plunger 76 descends immediately before the injection is completed, and at the same time, the plunger 77 also descends. (Figure 2
(D), (E)) First cavity mold 51 and plunger 7
6, 77A and FIG. 3B which show the details of the arrangement of the second cavity mold 61 in a plan view and FIG. 3B which shows a sectional view thereof, show a first cavity mold 51 and a second cavity mold 61. FIG.
Each of the pots has an upper die 81 portion larger and a lower die 91 portion smaller.

【0014】図3(B)に示すようにプランジヤ76が
下降すると、このプランジヤ76によりキャビテイ型5
1,61の間が遮断され分離する。下型91の部分はそ
れぞれのキャビテイ毎に仕切を設けてあるので、プラン
ジヤ77が下降すると仕切によりキャビテイ型51,6
1の間が分離される。
When the plunger 76 is lowered as shown in FIG. 3B, the cavity mold 5 is moved by the plunger 76.
The space between 1 and 61 is cut off and separated. Since the lower die 91 is provided with a partition for each cavity, when the plunger 77 descends, the cavities 51, 6 are separated by the partition.
One is separated.

【0015】なお、本実施の形態では2個のキャビテイ
について説明をしたが3個以上の場合でも同様な動作を
行う。
In this embodiment, two cavities have been described. However, the same operation is performed when three or more cavities are used.

【0016】[0016]

【発明の効果】以上説明したように、本発明のリードフ
レーム及びこのリードフレームを用いる半導体装置及び
この半導体装置の製造装置は、ポットとキャビテイ部と
の間及び相互に隣接する複数個のキャビテイ部相互間の
ランナに注入経路を形成するとともにこの樹脂を1時的
に蓄積するための空間を形成する広幅の切り欠き部を備
え、製造装置はランナに遮断機構を備えることにより、
ランナを樹脂が流動するときは通路を大きくし、流動が
終了したら遮断するために、樹脂の流動抵抗が少なく円
滑に注入でき、かつ個々の半導体装置製品の分離を良好
にできるという効果がある。
As described above, the lead frame of the present invention, the semiconductor device using the lead frame, and the apparatus for manufacturing the semiconductor device are provided with a plurality of cavity portions between the pot and the cavity portion and adjacent to each other. Forming an injection path in the runners between each other and having a wide notch to form a space for temporarily accumulating this resin, the manufacturing apparatus includes a shutoff mechanism in the runner,
The flow path of the resin is increased when the resin flows through the runner, and the flow path is shut off when the flow is completed. Therefore, the flow resistance of the resin is small, the resin can be smoothly injected, and the individual semiconductor device products can be separated well.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明のリードフレームの一実施の形態を示す
平面図である。
FIG. 1 is a plan view showing an embodiment of a lead frame of the present invention.

【図2】本実施の形態のリードフレームを用いる半導体
装置の製造装置の一実施の形態を示す部分平面図と本実
施の形態のリードフレームを用いる半導体装置の樹脂封
止工程を模式断面図で示す説明図である。
FIG. 2 is a partial plan view showing one embodiment of a semiconductor device manufacturing apparatus using a lead frame of the present embodiment, and a schematic cross-sectional view showing a resin sealing step of the semiconductor device using the lead frame of the present embodiment. FIG.

【図3】図2の2つのキャビテイ型とプランジャの配列
の詳細を示す平面図及び断面図図である。
3 is a plan view and a sectional view showing details of the arrangement of the two cavities and plungers of FIG. 2;

【図4】従来のリードフレームの一例を示す平面図であ
る。
FIG. 4 is a plan view showing an example of a conventional lead frame.

【図5】従来のリードフレームを用いる半導体装置の樹
脂封止工程を模式断面図で示す説明図である。
FIG. 5 is a schematic cross-sectional view illustrating a resin sealing step of a semiconductor device using a conventional lead frame.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1,1A リードフレーム 2 切り欠き部 5〜7 キャビテイ 8, ゲート 9〜11,41〜43 ランナ 14 樹脂 16,76、77 プランジャ 31 ポット 51,61,71 キャビテイ型 81,181 上型 91,191 下型 1, 1A Lead frame 2 Notch 5-7 Cavity 8, Gate 9-11, 41-43 Runner 14 Resin 16, 76, 77 Plunger 31 Pot 51, 61, 71 Cavity mold 81, 181 Upper mold 91, 191 Lower Type

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.6,DB名) H01L 23/50 B29C 45/02 B29C 45/14 B29C 45/26 H01L 21/56 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on the front page (58) Field surveyed (Int. Cl. 6 , DB name) H01L 23/50 B29C 45/02 B29C 45/14 B29C 45/26 H01L 21/56

Claims (4)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 予め定めた位置に配置した封止用の樹脂
の押圧供給用の複数個のポットの各々から前記樹脂の供
給を受け個々の半導体装置を形成し半導体チップ搭載用
アイランド部を含み縦方向に直列に配置した複数個のキ
ャビテイ部を横方向に複数列配置した多連型のリードフ
レームにおいて、 前記ポットと前記キャビテイ部との間及び相互に隣接す
る複数個の前記キャビテイ部相互間の前記樹脂の通路部
に前記樹脂の注入経路を形成するとともにこの樹脂を1
時的に蓄積するための空間を形成するよう大きく切り欠
いた広幅の切り欠き部を備えることを特徴とするリード
フレーム。
An individual semiconductor device is formed by receiving a supply of the resin from each of a plurality of pots for pressing and supplying a sealing resin arranged at a predetermined position to form an individual semiconductor device. In a multiple lead frame in which a plurality of cavities arranged in series in a vertical direction are arranged in a plurality of rows in a horizontal direction, a plurality of cavities between the pot and the cavities and between the plurality of cavities adjacent to each other are provided. An injection path for the resin is formed in a passage portion of the resin between
A lead frame comprising a wide cutout portion that is largely cut out so as to form a space for temporal storage.
【請求項2】 請求項1のリードフレームを用いること
を特徴とする半導体装置。
2. A semiconductor device using the lead frame according to claim 1.
【請求項3】 モールド型内に封止用の樹脂を押圧供給
するための複数個のポッドを備え、これら複数個のポッ
ドの各々に相互に独立した樹脂通路である複数のランナ
を設け、前記ランナの先に直列に複数個のキャビテイ型
を設け、前記キャビテイ型内にリードフレームのキャビ
テイ部を配置して前記複数個のポッドの各々から前記複
数個のキャビテイ型に前記樹脂を押圧供給するよう構成
した半導体装置の製造装置において、 前記ランナが、前記キャビテイ型に前記樹脂が所定量注
入された時点でこの樹脂の注入を遮断するよう遮断機構
を備えることを特徴とする半導体装置の製造装置。
A plurality of pods for pressing and supplying a sealing resin into the mold; and a plurality of runners each being an independent resin passage provided in each of the plurality of pods. A plurality of cavity molds are provided in series at the tip of the runner, and a cavity portion of a lead frame is arranged in the cavity mold so that the resin is pressed and supplied from each of the plurality of pods to the plurality of cavity molds. The semiconductor device manufacturing apparatus according to claim 1, wherein the runner includes a shut-off mechanism for shutting off injection of the resin when a predetermined amount of the resin is injected into the cavity mold.
【請求項4】 前記リードフレームが、請求項1記載の
リードフレームであることを特徴とする請求項3記載の
半導体装置の製造装置。
4. The apparatus according to claim 3, wherein the lead frame is the lead frame according to claim 1.
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