JP2954390B2 - Detection lever structure of electric micrometer - Google Patents
Detection lever structure of electric micrometerInfo
- Publication number
- JP2954390B2 JP2954390B2 JP13966591A JP13966591A JP2954390B2 JP 2954390 B2 JP2954390 B2 JP 2954390B2 JP 13966591 A JP13966591 A JP 13966591A JP 13966591 A JP13966591 A JP 13966591A JP 2954390 B2 JP2954390 B2 JP 2954390B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- lever
- spherical surface
- detection lever
- contact
- center
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Landscapes
- Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)
- Transmission Devices (AREA)
Description
【０００１】[0001]
【産業上の利用分野】本発明は、電気マイクロメータの
検出レバー構造に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a detection lever structure for an electric micrometer.
【０００２】[0002]
【従来の技術】従来、電気マイクロメータの検出レバー
にあっては、図４に示すようなものがある。すなわち、
図４は電気マイクロメータ４１の一端側を示したもので
あって、該電気マイクロメータ４１の円筒状をなすハウ
ジング４２内部には、一対の検出レバー４３，４３が設
けられている。該検出レバー４３，４３は、短尺部４４
と長尺部４５とを有する略Ｌ字状の部材であり、その曲
成部位に膨出する膨出部４６において前記ハウジング４
２に回動自在に枢支されている。前記長尺部４５の端部
にはレバー側測定子４７が突設され、該レバー測定子４
７は前記ハウジング４２の外周壁に開口された穴４８に
遊嵌されるとともに、ハウジング４２に外嵌する測定対
象Ｗの内周壁と当接されている。2. Description of the Related Art Conventionally, there is a detection lever of an electric micrometer as shown in FIG. That is,
FIG. 4 shows one end of the electric micrometer 41, and a pair of detection levers 43 are provided inside a cylindrical housing 42 of the electric micrometer 41. The detection levers 43, 43 are
And a substantially L-shaped member having a long part 45 and a housing 46 at a swelling part 46 swelling at a bent portion thereof.
2 is pivotably supported. A lever-side tracing stylus 47 protrudes from an end of the long portion 45, and the lever tracing stylus 4 is
Numeral 7 is loosely fitted in a hole 48 opened in the outer peripheral wall of the housing 42 and is in contact with the inner peripheral wall of the measurement target W which is fitted in the housing 42.
【０００３】前記短尺部４５の端部には、前記レバー側
測定子４７のと垂直をなす方向へ突出する当接部４９が
設けられており、該当接部４９の端面５０は平滑に成形
されている。なお、前記検出レバー４３は、前記短尺部
４５及びハウジング４２間に縮設されたスプリング５１
によって前記レバー側測定子４７がハウジング４２の外
周面より突出するよう付勢されている。また、前記ハウ
ジング４２には一対の検出器５２，５２が配設されてい
る。該双方の検出器５２，５２にはスピンドル５３が突
出され、該スピンドル５３はその突出方向へ付勢されて
いる。そしてスピンドル５３の先端部には、前記当接部
４９の端面５０と当接する測定子５４が設けられてい
る。At the end of the short portion 45, there is provided a contact portion 49 protruding in a direction perpendicular to the lever side measuring element 47, and an end face 50 of the contact portion 49 is formed smoothly. ing. The detecting lever 43 is provided with a spring 51 contracted between the short portion 45 and the housing 42.
Accordingly, the lever-side tracing stylus 47 is urged to protrude from the outer peripheral surface of the housing 42. The housing 42 is provided with a pair of detectors 52, 52. A spindle 53 projects from both detectors 52, 52, and the spindle 53 is urged in the projecting direction. At the tip end of the spindle 53, a tracing stylus 54 in contact with the end face 50 of the contact portion 49 is provided.
【０００４】そして、前記電気マイクロメータ４１で
は、計測時に前記検出レバー４３が回動（矢示ロ方向）
し、前記レバー側測定子４７が前記測定対象Ｗと当接さ
れた際、検出レバー４３に追動する前記スピンドル５３
の移動量を電気的に検出することによって、前記レバー
側測定子４７の移動量、すなわち前記測定対象Ｗの内径
寸法を測定するのである。なお、その計測方法はマスタ
ーゲージ（図示せず）を用いた比較測定である。[0004] In the electric micrometer 41, the detection lever 43 rotates (in the direction shown by arrow B) during measurement.
When the lever-side tracing stylus 47 comes into contact with the measurement target W, the spindle 53 that follows the detection lever 43
The amount of movement of the lever-side tracing stylus 47, that is, the inner diameter of the measurement object W is measured by electrically detecting the amount of movement of the measurement object W. The measuring method is a comparative measurement using a master gauge (not shown).
【０００５】[0005]
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うな従来の電気マイクロメータ４１にあっては、前記検
出レバー４３の回動に伴い、前記当接部４９の端面５０
における前記測定子５４との当接位置にずれが生じるた
め、前記レバー側測定子４７と前記測定子５４との変位
比が一定に維持されていなかった。したがって、広範囲
な寸法に亙って計測を行う場合には、前記マスターゲー
ジとは別に、所定の計測範囲ごとに用意された複数の感
度マスターによって各測定ポイントにおける前記変位比
を検出及び算出する、すなわち補正する必要となり、計
測作業が煩雑となる不都合があった。However, in such a conventional electric micrometer 41, the end face 50 of the contact portion 49 is associated with the rotation of the detection lever 43.
Therefore, the displacement ratio between the lever-side tracing stylus 47 and the tracing stylus 54 is not maintained constant because of the displacement of the contact position between the tracing stylus 54 and the tracing stylus 54. Therefore, when measuring over a wide range of dimensions, the displacement ratio at each measurement point is detected and calculated by a plurality of sensitivity masters prepared for each predetermined measurement range, separately from the master gauge. That is, there is an inconvenience that the correction is required and the measuring operation becomes complicated.
【０００６】本発明は、このような従来の課題に鑑みて
なされたものであり、計測時における変位比の変動を解
消することにより、感度マスターを用いた変位比の補正
作業をなくす電気マイクロメータの検出レバー構造の提
供を目的とする。SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of such a conventional problem, and an electric micrometer that eliminates a displacement ratio correction operation using a sensitivity master by eliminating fluctuations in the displacement ratio during measurement. The purpose of the present invention is to provide a detection lever structure.
【０００７】[0007]
【課題を解決するための手段】前記課題を解決するため
に本発明にあっては、回動自在に支持された検出レバー
と該検出レバーに追動する測定子を有する検出器とを備
え、前記検出レバーの一端側には測定対象と当接される
レバー側測定子が設けられる一方、前記検出器レバーの
他端側には前記測定子と当接する当接部が設けられ、前
記測定子の移動量を電気的に検出して計測を行う電気マ
イクロメータにおいて、前記レバー側測定子には前記測
定対象と当接する第１の球面が形成されるとともに、前
記当接部には前記測定子と当接する第２の球面が形成さ
れ、前記第１の球面の半径と前記第２の球面の半径との
比は、前記第１の球面の中心から前記検出レバーの回動
中心までの距離と、前記第２の球面の中心から前記検出
レバーの回動中心までの距離との比と等しく設定されて
いる。According to the present invention, there is provided a detection lever having a detection lever rotatably supported and a detector having a tracing stylus following the detection lever. On one end side of the detection lever, a lever-side measuring element that is in contact with a measurement target is provided, and on the other end side of the detector lever, a contact portion that is in contact with the measuring element is provided, and the measuring element is provided. An electric micrometer that electrically detects and measures the amount of movement of the measuring element, wherein the lever-side measuring element has a first spherical surface that is in contact with the object to be measured, and the contacting portion has the first measuring element. Is formed, and the ratio of the radius of the first spherical surface to the radius of the second spherical surface is determined by the distance from the center of the first spherical surface to the rotation center of the detection lever. The center of rotation of the detection lever from the center of the second spherical surface. The ratio equally are set and the distance at.
【０００８】[0008]
【作用】前記構成において、前記検出レバーが回動され
ると前記レバー側測定子および前記当接部は移動する。
そしてレバー側測定子が前記測定対象と当接される一
方、前記当接部の移動に伴い該当接部と当接する前記測
定子も移動する。このとき、前記測定対象と当接するレ
バー側測定子の当接部位には前記第１の球面が形成さ
れ、前記測定子と当接する当接部の当接部位には前記第
２の球面が形成されている。さらに、前記第１の球面の
半径と前記第２の球面の半径との比は、第１の球面の中
心から前記検出レバーの回動中心までの距離と、第２の
球面の中心から前記検出レバーの回動中心までの距離と
の比と等しく設定されている。In the above construction, when the detection lever is rotated, the lever-side measuring element and the contact portion move.
Then, while the lever-side tracing stylus is in contact with the object to be measured, the tracing stylus in contact with the contact portion also moves with the movement of the contact portion. At this time, the first spherical surface is formed at the contact portion of the lever-side measuring element that contacts the measurement object, and the second spherical surface is formed at the contact portion of the contact portion that contacts the measuring device. Have been. Further, the ratio between the radius of the first spherical surface and the radius of the second spherical surface is determined by the distance from the center of the first spherical surface to the center of rotation of the detection lever and the detection from the center of the second spherical surface. It is set equal to the ratio to the distance to the center of rotation of the lever.
【０００９】かかることから、前記検出レバーの回動前
に前記測定側レバーが任意の測定対象と当接していた場
合、検出レバーの回動前における前記第１の球面の測定
対象との当接点をＱ1、前記第２の球面の前記測定子と
の当接点をＳ1とし、また、前述した回動後における、
前記第１の球面の前記測定対象との当接点をＱ2、前記
第２の球面の前記測定子との当接点をＳ2とし、さらに
前記検出レバーの回動中心をＯとすると、三角形ＯＱ1
Ｑ2と三角形ＯＳ1Ｓ2とは、前記検出レバーの回動量
（回動角）とかかわりなく互いに相似形となる。また、
相似比は前記第１の球面の半径と前記第２の球面の半径
との比と同一となる。Therefore, when the measuring lever is in contact with an arbitrary object to be measured before the detection lever is rotated, the contact point of the first spherical surface with the object to be measured before the detection lever is rotated. Is Q 1 , the contact point of the second spherical surface with the tracing stylus is S 1, and after the rotation described above,
If the contact point of the first spherical surface with the object to be measured is Q 2 , the contact point of the second spherical surface with the measuring element is S 2, and the center of rotation of the detection lever is O, the triangle OQ 1
Q 2 and the triangle OS 1 S 2 have similar shapes irrespective of the amount of rotation (rotation angle) of the detection lever. Also,
The similarity ratio is the same as the ratio of the radius of the first spherical surface to the radius of the second spherical surface.
【００１０】[0010]
【実施例】以下、本発明の一実施例を図にしたがって説
明する。図１、図２は電気マイクロメータ１を示したも
のであって、電気マイクロメータ１は測定部２を有して
いる。該測定部２の外形を形成するハウジング３は略円
筒状であるとともに、該ハウジング３の内部構造は、図
１から明らかなように対称構造を有している。すなわ
ち、前記ハウジング３内には、長尺状の検出器４，４が
互いに平行して設けられており、前記検出器４の外周部
には調整用コマ５が配設されている。前記検出器４は差
動トランスを内蔵するものであって、電気マイクロメー
タ１と別に設けられた演算手段と接続されている。また
検出器４の端部には測定子６が突出しており、該測定子
６は検出器４のの延在方向に往復自在であるとともに、
突出方向へ付勢されており、円筒状のスピンドル７の一
端側の端面と当接している。前記スピンドル７は直線ベ
アリング８によって摺動自在に支持されており、スピン
ドル７の他端側の端面には、スピンドル７の他端側に位
置する当接部である突出片１０が当接されている。ま
た、スピンドル７は、前記ハウジング３に設けられたブ
ラケット１１とスピンドル７の他端側との間に縮設され
たスプリング１２によって、前記突出片１０を前記測定
子６と逆方向へ付勢している。DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS An embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings. 1 and 2 show the electric micrometer 1. The electric micrometer 1 has a measuring unit 2. The housing 3 forming the outer shape of the measuring section 2 is substantially cylindrical, and the internal structure of the housing 3 has a symmetrical structure as is clear from FIG. That is, elongated detectors 4 and 4 are provided in the housing 3 in parallel with each other, and an adjustment piece 5 is provided on the outer periphery of the detector 4. The detector 4 has a built-in differential transformer, and is connected to arithmetic means provided separately from the electric micrometer 1. A probe 6 protrudes from an end of the detector 4, and the probe 6 can reciprocate in the direction in which the detector 4 extends.
It is urged in the protruding direction and is in contact with the end face on one end side of the cylindrical spindle 7. The spindle 7 is slidably supported by a linear bearing 8, and a projecting piece 10, which is a contact portion located at the other end of the spindle 7, is in contact with the other end surface of the spindle 7. I have. The spindle 7 urges the protruding piece 10 in a direction opposite to that of the tracing stylus 6 by a spring 12 compressed between a bracket 11 provided on the housing 3 and the other end of the spindle 7. ing.
【００１１】前記スピンドル７の付勢方向には、検出レ
バー９が前記ハウジング３に枢支されており、検出レバ
ー９は略Ｌ字状の部材であるとともに、ハウジング３と
枢支された曲成部より延出する長尺部１３および短尺部
１４を有している。前記長尺部１３は電気マイクロメー
タ１の先端側へ延出されるとともに、長尺部１３の端部
には、前記ハウジング３の周壁に開口された穴１５に遊
嵌されたレバー側測定子１６が突設され、該レバー側測
定子１６の突出端部には、計測作業時にマスターゲージ
或は測定対象（共に図示せず）と突設される第１の球面
１７が成形されている。なお、前記ハウジング３の内周
面には、前記検出レバー９の回動位置を規制するための
ピン１８が、長尺部１３の先端部と近接する位置に設け
られている。一方、前記短尺部１４は、近接する一方の
前記スピンドル７と平行する他方のスピンドル７側へ延
出されるとともに、その端部には前記突出片１０が設け
られている。該突出片１０の端面には第２の球面１９が
成形されており、該第２の球面１９が前記スピンドル７
と当接されている。また、前記第１の球面１７の半径と
第２の球面１９の半径との比は３：２に設定されてお
り、さらに前記第１の球面１７の中心から前記検出レバ
ー９の回動中心までの距離と、前記第２の球面１９の中
心から検出レバー９の回動中心までの距離との比も３：
２に設定されている。A detection lever 9 is pivotally supported by the housing 3 in the biasing direction of the spindle 7, and the detection lever 9 is a substantially L-shaped member. It has a long part 13 and a short part 14 extending from the part. The elongated portion 13 extends toward the distal end of the electric micrometer 1, and has a lever-side measuring element 16 loosely fitted in a hole 15 formed in a peripheral wall of the housing 3 at an end of the elongated portion 13. A first spherical surface 17 is formed on the protruding end of the lever-side tracing stylus 16 so as to protrude with a master gauge or a measuring object (both not shown) during a measuring operation. A pin 18 for regulating the rotation position of the detection lever 9 is provided on the inner peripheral surface of the housing 3 at a position close to the tip of the elongated portion 13. On the other hand, the short portion 14 extends to the other spindle 7 side parallel to the one of the adjacent spindles 7, and the protruding piece 10 is provided at an end thereof. A second spherical surface 19 is formed on an end surface of the projecting piece 10, and the second spherical surface 19 is formed on the spindle 7.
Has been abutted. The ratio of the radius of the first spherical surface 17 to the radius of the second spherical surface 19 is set to 3: 2, and further from the center of the first spherical surface 17 to the rotation center of the detection lever 9. And the ratio of the distance from the center of the second spherical surface 19 to the center of rotation of the detection lever 9 is also 3:
It is set to 2.
【００１２】また、前記ハウジング３内部には、相対向
する前記長尺部１３，１３間に位置するノックして２０
が配設されている。該ノックシリンダ２０は、ハウジン
グ３の外周部に設けられた給気口２１（図２参照）と連
通され、また、前記給気口２１から供給される空気圧に
よって作動する押圧ヘッド２２を有しており、該押圧ヘ
ッド２２には、前記スプリング１２によって付勢された
前記短尺部１４が押圧されている。In the housing 3, a knock 20 is located between the opposed long portions 13, 13.
Are arranged. The knock cylinder 20 communicates with an air supply port 21 (see FIG. 2) provided on an outer peripheral portion of the housing 3, and has a pressing head 22 that operates by air pressure supplied from the air supply port 21. The short section 14 urged by the spring 12 is pressed against the pressing head 22.
【００１３】以上の構成からなる本実施例において、計
測時に前記検出レバー９が前記押圧ヘッド２２による支
持を解除されると、前記スピンドル７が前記突出片１０
の前記第１の球面１７と摺接しつつ突出片１０を押圧す
るため検出レバー９は回動される（図１の矢示イ）。こ
れに伴い、前記レバー側測定子１６が測定対象と当接さ
れ、また、前記検出器４の前記測定子６がスピンドル７
と共に移動する。そして、測定子６の移動量は検出器４
と接続された演算手段によって算出される。ここで、前
記測定対象と当接するレバー側測定子１６の当接部位に
は前記第１の球面１７が形成され、前記スピンドル７と
当接する突出片１０の当接部位には前記第２の球面１９
が形成されている。また、前記第１の球面１９の半径と
前記第２の球面１９の半径との比は、第１の球面１７の
中心から前記検出レバー９の回動中心までの距離と、第
２の球面１９の中心から検出レバー９の回動中心までの
距離との比と同等であって３：２に設定されている。In this embodiment having the above structure, when the detection lever 9 is released from being supported by the pressing head 22 at the time of measurement, the spindle 7 is moved to the projecting piece 10.
The detection lever 9 is rotated to press the protruding piece 10 while slidingly contacting the first spherical surface 17 (see arrow A in FIG. 1). Along with this, the lever-side tracing stylus 16 is brought into contact with the object to be measured, and the tracing stylus 6 of the detector 4 is
Move with. The moving amount of the tracing stylus 6 is detected by the detector 4
It is calculated by the calculation means connected to. Here, the first spherical surface 17 is formed at a contact portion of the lever-side measuring element 16 that contacts the measurement object, and the second spherical surface is formed at a contact portion of the protruding piece 10 that contacts the spindle 7. 19
Are formed. The ratio between the radius of the first spherical surface 19 and the radius of the second spherical surface 19 is determined by the distance from the center of the first spherical surface 17 to the rotation center of the detection lever 9 and the second spherical surface 19. Is equal to the ratio from the center of the detection lever 9 to the rotation center of the detection lever 9, and is set to 3: 2.
【００１４】このため、図３に示すように、前記検出レ
バー９の回動前にも前記レバー側測定子１６が任意の測
定対象Ｗと当接していた場合、検出レバー９の回動前及
び回動後における、検出レバー９の回動中心Ｏと前記第
１の球面１７の測定対象Ｗとの当接点Ｑ1，Ｑ2からなる
三角形ＯＱ1Ｑ2と、検出レバー９の回動中心Ｏと前記第
２の球面１９の前記測定子６との当接点Ｓ1，Ｓ2からな
る三角形ＯＳ1Ｓ2とは、前記検出レバー９の回動角θと
かかわりなく互いに相似形となる。したがって、前記レ
バー側測定子１６の変位量ａと、前記スピンドル７を介
して突出片１０により移動される前記測定子６の変位量
ｂとの比は、常に第１の球面１７の半径と第２の球面１
９の半径との比（３：２）と等しくなる。なお、図３に
おいて、点Ｐは第１の球面の中心、点Ｒは第２の球面の
中心を示している。For this reason, as shown in FIG. 3, when the lever-side tracing stylus 16 is in contact with an arbitrary object to be measured W even before the rotation of the detection lever 9, before the rotation of the detection lever 9 and after rotation, the triangle OQ 1 Q 2 consisting of the contact point Q 1, Q 2 to the measurement target W of the the rotation center O of the detection lever 9 first spherical 17, rotation center O of the detection lever 9 And the triangular OS 1 S 2 formed by the contact points S 1 and S 2 of the second spherical surface 19 with the tracing stylus 6 have similar shapes irrespective of the rotation angle θ of the detection lever 9. Therefore, the ratio of the displacement amount a of the lever side measuring element 16 to the displacement amount b of the measuring element 6 moved by the projecting piece 10 via the spindle 7 is always equal to the radius of the first spherical surface 17. 2 spherical surfaces 1
9 with the radius (3: 2). In FIG. 3, point P indicates the center of the first spherical surface, and point R indicates the center of the second spherical surface.
【００１５】よって、前記電気マイクロメータ１にあっ
ては、前記検出レバー９が回動した際における、前記レ
バー側測定子１６と前記測定子６との変位比を一定に維
持することが可能となる。このため、広範囲な寸法に亙
って計測を行う場合であっても、従来のように、感度マ
スターを用いた測定ポイント毎における前記変位比の補
正作業が不必要となり、計測作業を簡易に行うことが可
能となる。なお、本実施例において示した前記スピンド
ル７は、前記検出レバー９の突出片１０によって前記測
定子６が移動される際の直線性を確保するために設けら
れたものである。Therefore, the electric micrometer 1 can maintain a constant displacement ratio between the lever-side measuring element 16 and the measuring element 6 when the detection lever 9 rotates. Become. Therefore, even when the measurement is performed over a wide range of dimensions, unlike the related art, the work of correcting the displacement ratio at each measurement point using the sensitivity master becomes unnecessary, and the measurement work is easily performed. It becomes possible. The spindle 7 shown in the present embodiment is provided to ensure linearity when the tracing stylus 6 is moved by the projecting piece 10 of the detection lever 9.
【００１６】[0016]
【発明の効果】以上説明したように本発明は、電気マイ
クロメータの検出レバーにおいて、計測時に測定対象と
当接されるレバー側測定子には、前記測定対象と当接す
る第１の球面が形成されるとともに、検出器の測定子と
当接する当接部には、前記測定子と当接する第２の球面
が形成され、前記第１の球面の半径と前記第２の球面の
半径との比は、前記第１の球面の中心から前記検出レバ
ーの回動中心までの距離と、前記第２の球面の中心から
前記検出レバーの回動中心までの距離との比と等しく設
定した。As described above, according to the present invention, in the detection lever of the electric micrometer, the first spherical surface which comes into contact with the object to be measured is formed on the lever side contact element which comes into contact with the object to be measured during measurement. And a second spherical surface that is in contact with the tracing stylus is formed in a contact portion of the detector that contacts the tracing stylus, and a ratio of the radius of the first sphere to the radius of the second sphere is formed. Was set equal to the ratio of the distance from the center of the first spherical surface to the rotation center of the detection lever and the distance from the center of the second spherical surface to the rotation center of the detection lever.
【００１７】このため、計測時の前記検出レバーの回動
に伴う、前記レバー側測定子と前記測定子との変位比を
一定に維持することができる。よって、広範囲な寸法に
亙って計測を行う場合であっても、感度マスターを用い
た測定ポイント毎における前記変位比の補正作業が不必
要となり、計測作業を簡易に行うことが可能となる。Therefore, the displacement ratio between the lever-side tracing stylus and the tracing stylus accompanying the rotation of the detection lever during measurement can be kept constant. Therefore, even when the measurement is performed over a wide range of dimensions, the operation of correcting the displacement ratio at each measurement point using the sensitivity master becomes unnecessary, and the measurement operation can be performed easily.
【図１】本発明の一実施例を示す図２のI−I線に沿う一
部断面図である。FIG. 1 is a partial cross-sectional view taken along line II of FIG. 2 showing one embodiment of the present invention.
【図２】電気マイクロメータの外観図である。FIG. 2 is an external view of an electric micrometer.
【図３】本発明の一実施例における作動説明図である。FIG. 3 is an operation explanatory diagram in one embodiment of the present invention.
【図４】従来の電気マイクロメータにおける検出レバー
を示す一部断面図である。FIG. 4 is a partial cross-sectional view showing a detection lever in a conventional electric micrometer.
１ 電気マイクロメータ ４ 検出器 ６ 測定子 ９ 検出レバー １０ 突出片（当接部） １６ レバー側測定子 １７ 第１の球面 １９ 第２の球面 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Electric micrometer 4 Detector 6 Measuring element 9 Detection lever 10 Projection piece (contact part) 16 Lever-side measuring element 17 First spherical surface 19 Second spherical surface
Claims (1)
出レバーに追動する測定子を有する検出器とを備え、前
記検出レバーの一端側には測定対象と当接されるレバー
側測定子が設けられる一方、前記検出器レバーの他端側
には前記測定子と当接する当接部が設けられ、前記測定
子の移動量を電気的に検出して計測を行う電気マイクロ
メータにおいて、前記レバー側測定子には前記測定対象
と当接する第１の球面が形成されるとともに、前記当接
部には前記測定子と当接する第２の球面が形成され、前
記第１の球面の半径と前記第２の球面の半径との比は、
前記第１の球面の中心から前記検出レバーの回動中心ま
での距離と、前記第２の球面の中心から前記検出レバー
の回動中心までの距離との比と等しく設定されたことを
特徴とする電気マイクロメータの検出レバー構造。1. A detection device comprising: a detection lever rotatably supported; and a detector having a tracing stylus following the detection lever. One end of the detection lever is a lever-side measurement that is in contact with an object to be measured. A contact portion is provided on the other end side of the detector lever, the contact portion being in contact with the tracing stylus, and an electric micrometer that electrically detects and measures a moving amount of the tracing stylus, A first spherical surface that is in contact with the measurement object is formed on the lever-side measuring element, and a second spherical surface that is in contact with the measuring element is formed in the abutting portion, and the radius of the first spherical surface is And the ratio of the radius of the second spherical surface to
The distance from the center of the first spherical surface to the center of rotation of the detection lever is set equal to the ratio of the distance from the center of the second spherical surface to the center of rotation of the detection lever. Lever structure of the electric micrometer.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13966591A JP2954390B2 (en) | 1991-05-15 | 1991-05-15 | Detection lever structure of electric micrometer |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13966591A JP2954390B2 (en) | 1991-05-15 | 1991-05-15 | Detection lever structure of electric micrometer |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04339201A JPH04339201A (en) | 1992-11-26 |
| JP2954390B2 true JP2954390B2 (en) | 1999-09-27 |
Family
ID=15250570
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP13966591A Expired - Fee Related JP2954390B2 (en) | 1991-05-15 | 1991-05-15 | Detection lever structure of electric micrometer |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2954390B2 (en) |
-
1991
- 1991-05-15 JP JP13966591A patent/JP2954390B2/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH04339201A (en) | 1992-11-26 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US5056238A (en) | Pair of vernier calipers having a protractor | |
| JPS6153641B2 (en) | ||
| US4503616A (en) | Parallel motion displacement transducers | |
| JP2954390B2 (en) | Detection lever structure of electric micrometer | |
| US4126940A (en) | Adjustable fork gauge | |
| JPH01259211A (en) | Diameter measuring instrument for circularity measuring machine | |
| JP4840878B2 (en) | Wire type 3D coordinate measuring machine | |
| JP3787721B2 (en) | Method for detecting reference point of contact in measuring head | |
| JPS5824722Y2 (en) | Inner diameter measuring head | |
| JPH0626801Y2 (en) | Simple position measuring device | |
| JPH0785001B2 (en) | Inner diameter measurement head | |
| JP2504561B2 (en) | Shape measuring device | |
| JP3035589B2 (en) | Measuring element exchangeable measuring head and automatic dimension measuring device equipped with the same | |
| JPH01161102A (en) | Chamfering size measuring instrument | |
| US4262456A (en) | Method for positioning a dressing wheel | |
| JPS6236136Y2 (en) | ||
| JPS5840121B2 (en) | gauge | |
| JPH0785002B2 (en) | Inner diameter measurement head | |
| JPS6119907Y2 (en) | ||
| JPS598161Y2 (en) | Micrometer head feed error measuring device | |
| JPH08136201A (en) | Dimension measuring device | |
| US4718169A (en) | Contact assembly for distance measuring gauge | |
| US2810201A (en) | Micrometer calipers | |
| JPH0638042B2 (en) | Inner diameter measuring device | |
| JPH05141913A (en) | Circularity measuring device capable of measuring outer diameter deflection of screw-like shaft |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080716 Year of fee payment: 9 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080716 Year of fee payment: 9 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090716 Year of fee payment: 10 |
|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |