JP2954114B2 - Manufacturing method of liquid crystal display device - Google Patents

Manufacturing method of liquid crystal display device

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Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】この発明は透過型でアクティ
ブマトリクス型の液晶表示装置の製造方法に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a transmission type active matrix type liquid crystal display device manufacturing method.

【0002】[0002]

【従来の技術】近年、液晶を用いた表示素子は、テレビ
表示やグラフィックディスプレイ等を指向した大容量で
高密度のアクティブマトリクス型液晶表示素子の開発及
び実用化が盛んである。このような表示素子では、クロ
ストークのない高コントラストの表示が行えるように、
各画素の駆動と制御を行う手段として半導体スイッチが
用いられる。その半導体スイッチとしては、透過型表示
が可能であり大面積化も容易である等の理由から、透明
絶縁基板上に形成されたTFT等が、通常用いられてい
る。
2. Description of the Related Art In recent years, as a display element using a liquid crystal, a large-capacity, high-density active matrix type liquid crystal display element for a television display, a graphic display or the like has been developed and put into practical use. In such a display element, high-contrast display without crosstalk can be performed.
A semiconductor switch is used as a means for driving and controlling each pixel. As the semiconductor switch, a TFT or the like formed on a transparent insulating substrate is usually used because a transmissive display is possible and the area can be easily increased.

【0003】図4はTFTを備えた表示画素電極アレイ
を用いた液晶表示装置の一画素を表す断面図である。同
図において、第1 基板1上には、ゲート電極2、ゲート
絶縁膜3、アモルファスシリコン(α−Si)からなる
半導体層4、ドレイン電極5及びソース電極6から構成
される薄膜トランジスタ(Thin Film Transistor,TF
T)7と、このTFT7のソース電極6に接続された画
素電極8とが形成され、更に、TFT7と画素電極8に
覆うように保護膜9が形成されている。また、第2基板
上には、所定の位置に遮光層11が形成され、更に、こ
の遮光層11を覆うように全面に対向電極12が形成さ
れている。そして、第1及び第2基板1、10の間隙に
は、液晶層13が挟持されて、液晶表示素子14が構成
されている。また、第2基板10の後方にはバックライ
ト15を設置し、表示は第1基板1側から観察するもの
とする。ここで、遮光層11は、画素間の境界にある無
電極部分を覆う役目と、バックライト15からの光或い
は周囲の外光によってTFT7の特性、特にオフ特性が
変わることを防ぐ役目を有している。
FIG. 4 is a sectional view showing one pixel of a liquid crystal display device using a display pixel electrode array provided with a TFT. In FIG. 1, a thin film transistor (Thin Film Transistor) including a gate electrode 2, a gate insulating film 3, a semiconductor layer 4 made of amorphous silicon (α-Si), a drain electrode 5 and a source electrode 6 is provided on a first substrate 1. , TF
T) 7 and a pixel electrode 8 connected to the source electrode 6 of the TFT 7, and a protective film 9 is formed so as to cover the TFT 7 and the pixel electrode 8. On the second substrate, a light-shielding layer 11 is formed at a predetermined position, and a counter electrode 12 is formed on the entire surface so as to cover the light-shielding layer 11. The liquid crystal layer 13 is sandwiched between the first and second substrates 1 and 10 to form a liquid crystal display element 14. Further, a backlight 15 is provided behind the second substrate 10 and the display is observed from the first substrate 1 side. Here, the light-shielding layer 11 has a role of covering an electrodeless portion at a boundary between pixels and a role of preventing characteristics of the TFT 7, particularly, off characteristics from being changed by light from the backlight 15 or ambient external light. ing.

【0004】図5は図4と同じくTFTを備えた表示画
素電極アレイを用いた液晶表示装置の一画素を表す断面
図であり、図4と対応する部分には同一の符号を付して
ある。図5においては、第1基板1の後方にバックライ
ト15を設置している点が図4の場合と異なっている。
FIG. 5 is a sectional view showing one pixel of a liquid crystal display device using a display pixel electrode array provided with a TFT similarly to FIG. 4, and portions corresponding to FIG. 4 are denoted by the same reference numerals. . FIG. 5 differs from FIG. 4 in that a backlight 15 is provided behind the first substrate 1.

【0005】これらの液晶表示装置では、ゲート電極2
に書き込みパルスを与えることで、ドレイン電極5とソ
ース電極6の間に導通状態になってドレイン電極5の信
号が画素電極8と対向電極12に挟持された液晶層13
の容量に信号が蓄積される。これにより、画素が動作状
態となり、画素に信号が書き込まれる。書き込みパルス
が立ち下がってから、次の書き込みパルスが与えられる
までの間は、液晶層13は保持状態となり、液晶層13
の容量によって液晶表示素子の動作が保持される。この
際、ドレイン電極5とソース電極6の間は理想的には非
導通常状態であるが、TFT7の半導体層4を構成する
α−Siが光導電性を有するため、外光がTFT7の部
分に入ると、ドレイン電極5とソース電極6の間は完全
な非導通状態とはならず、画素電極8の電位は徐々にド
レイン電極5の電位に近づいていく。従って、保持状態
にあるときも絶えず信号電位の影響を受け、いわゆるク
ロストークと呼ばれる現象が表示コントラスト低下の一
因となったり、或いは、画面内で輝度むらを生じたりす
る。
In these liquid crystal display devices, the gate electrode 2
When a write pulse is applied to the liquid crystal layer 13, the state of conduction between the drain electrode 5 and the source electrode 6 is established, and the signal of the drain electrode 5 is interposed between the pixel electrode 8 and the counter electrode 12.
The signal is stored in the capacity of Thus, the pixel is in an operation state, and a signal is written to the pixel. From the fall of the write pulse to the next write pulse being applied, the liquid crystal layer 13 is in the holding state,
The operation of the liquid crystal display element is held by the capacitance of. At this time, the region between the drain electrode 5 and the source electrode 6 is ideally in a non-conducting normal state. However, since α-Si constituting the semiconductor layer 4 of the TFT 7 has photoconductivity, external light is Then, the drain electrode 5 and the source electrode 6 do not become completely non-conductive, and the potential of the pixel electrode 8 gradually approaches the potential of the drain electrode 5. Therefore, even in the holding state, the signal potential is constantly affected, and a phenomenon called so-called crosstalk causes a reduction in display contrast or causes uneven brightness in a screen.

【0006】そこで、外光がTFT7の部分に入るのを
防ぐために、一般的には図4に示すような遮光層11を
設けている。この遮光層11の材料としては、大きく分
けて染色材料と金属膜の2つが考えられるが、染色材料
は微細加工性に欠けるという欠点を有しているため、金
属膜が用いられることが多い。
In order to prevent external light from entering the TFT 7, a light shielding layer 11 as shown in FIG. 4 is generally provided. As the material of the light-shielding layer 11, there are roughly two types of materials, a dyeing material and a metal film. However, since the dyeing material has a disadvantage of lacking fine workability, a metal film is often used.

【0007】[0007]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、遮光層
11の材料として金属膜を用いた場合、図4に示した配
置では、表示観察面からの外光が遮光層11によって反
射され、その反射光がTFT7の半導体層4に影響を与
える。また、図5に示した配置では、周囲からの外光が
表示面で反射して表示上で影響を受けることがある。こ
の場合、保持動作中にTFT7を通過するリーク電流が
大きくなり、画面の上下で輝度むらが生じたり、クロス
トークが生じたりあるいは画面のちらつきの一因になっ
ていた。この発明は、このような事情に鑑みなされたも
のである。
However, when a metal film is used as the material of the light shielding layer 11, in the arrangement shown in FIG. 4, external light from the display observation surface is reflected by the light shielding layer 11, and the reflected light Affects the semiconductor layer 4 of the TFT 7. Further, in the arrangement shown in FIG. 5, external light from the surroundings may be reflected on the display surface and affected on the display. In this case, the leakage current passing through the TFT 7 during the holding operation becomes large, causing uneven brightness at the top and bottom of the screen, crosstalk, and flickering of the screen. The present invention has been made in view of such circumstances.

【0008】[0008]

【課題を解決するための手段】本発明の液晶表示装置の
製造方法は、一対の基板と、一対の基板の一主面を対向
するように組み合わせて得られる間隙に挟持した液晶
と、一対の基板間に配置された遮光層とを有する液晶表
示装置の製造方法であって、金属酸化膜、金属膜を有す
る積層膜を形成する工程と、積層膜をパターニングして
遮光層を形成する工程と、を有することを特徴とする。
According to the present invention, there is provided a method of manufacturing a liquid crystal display device, comprising: a pair of substrates; a liquid crystal sandwiched in a gap obtained by combining one main surface of the pair of substrates so as to face each other; A method of manufacturing a liquid crystal display device having a light shielding layer disposed between substrates, comprising: forming a metal oxide film, a laminated film having a metal film; and forming a light shielding layer by patterning the laminated film. , Is characterized by having.

【0009】本発明の液晶表示装置の製造方法により製
造された液晶表示装置を表示観察面側に金属酸化膜が配
置されるように遮光層を配置することにより、表示観察
面側からの外光に対して、金属酸化膜が反射防止膜とな
り、反射率が小さくなる。
The liquid crystal display device manufactured by the method of manufacturing a liquid crystal display device of the present invention is provided with a light-shielding layer such that a metal oxide film is disposed on the display observation surface side, so that external light from the display observation surface side can be obtained. On the other hand, the metal oxide film becomes an anti-reflection film, and the reflectance is reduced.

【0010】[0010]

【発明の実施の形態】以下、図面を参照してこの発明の
第1 の実施形態を詳細に説明する。図1において、例え
ばガラスからなる第1 の基板1の一主面上には、例えば
Cr膜をスパッタ法で被覆した後、所定の形状にフォト
エッチングすることによりゲート電極2が形成され、更
に、これを覆うように例えばSiOxからなるゲート絶
縁膜3がプラズマCVD法により形成されている。そし
て、ゲート絶縁膜3上のゲート電極2に対向する部分に
は、例えばi型の水素化アモルファスシリコン(α−S
i:H)からなる半導体層4がプラズマCVD法を利用
して形成されている。そして、半導体層4のソース領域
側に隣接するゲート絶縁膜3上には、例えばITO(イ
ンジウム・チン・オキサイド)膜をスパッタ法で被覆し
た後、所定の形状にフォトエッチングすることにより画
素電極8が設けられている。また、ソース領域にはソー
ス電極6の一端が接続され、ソース電極6の他端は画素
電極8上に延在して接続されている。さらに、ドレイン
領域にはドレイン電極5とソース電極6とは、例えばM
o膜とAl膜とをスパッタ法で順次被膜した後、所定の
形状にフォトエッチングするという同じ工程で形成して
いる。こうして第1基板1上に、所定の薄膜素子7即ち
TFTと、これに接続される画素電極8が得られる。こ
こで、薄膜素子7とこれに接続される画素電極8により
一画素が構成されており、図示はしていないが、この一
画素は第1の基板1上でマトリクス状に配置されてい
る。そして、第1基板1の一主面上には、更に全面に例
えばSiOxからなる保護膜9が形成されている。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Hereinafter, a first embodiment of the present invention will be described in detail with reference to the drawings. In FIG. 1, a gate electrode 2 is formed on one main surface of a first substrate 1 made of, for example, glass by coating a Cr film, for example, by a sputtering method and then performing photo-etching in a predetermined shape. A gate insulating film 3 made of, for example, SiOx is formed so as to cover this by a plasma CVD method. The portion of the gate insulating film 3 facing the gate electrode 2 is, for example, an i-type hydrogenated amorphous silicon (α-S
A semiconductor layer 4 of i: H) is formed using a plasma CVD method. Then, on the gate insulating film 3 adjacent to the source region side of the semiconductor layer 4, for example, an ITO (indium tin oxide) film is coated by a sputtering method, and then the pixel electrode 8 is formed by photo-etching into a predetermined shape. Is provided. One end of the source electrode 6 is connected to the source region, and the other end of the source electrode 6 is connected to the pixel electrode 8 so as to extend therefrom. Further, a drain electrode 5 and a source electrode 6 are provided in the drain region, for example, M
After the o film and the Al film are sequentially coated by the sputtering method, they are formed by the same process of photoetching into a predetermined shape. In this way, a predetermined thin film element 7, that is, a TFT, and a pixel electrode 8 connected thereto are obtained on the first substrate 1. Here, one pixel is constituted by the thin film element 7 and the pixel electrode 8 connected thereto. Although not shown, the one pixel is arranged in a matrix on the first substrate 1. Further, on one main surface of the first substrate 1, a protective film 9 made of, for example, SiOx is formed on the entire surface.

【0011】一方、例えばガラスからなる第2基板10
の一主面上には、例えばITOからなる対向電極12、
及び画素電極8に対応した所定の開口部を有するブラッ
クマトリクスとしての遮光層11が順次形成されてい
る。ここで、遮光層11は、図3(c)に示すように、
例えば酸化クロムからなる金属酸化膜11a/例えばク
ロムからなる金属膜11bの二層構造を含んでおり、遮
光層11内において、金属酸化膜11aは第2の基板側
に最も近い層である。そして、金属膜11bの膜厚が約
1000オングストロームであるのに対し、金属酸化膜
11aの膜厚は数十オングストロームで、金属膜11b
の膜厚に比べ無視できるほど薄い。また、遮光層11の
形成工程は、まず、膜厚数十オングストロームのクロム
層を形成した後に陽極酸化法等の方法で酸化処理を施し
て金属酸化膜を形成し、更にこの上に、膜厚約1000
オングストロームのクロム層を形成して金属膜を形成
し、次に、所定の形状にパターニングすればよい。そし
て、第1及び第2基板1,10とは違いの一主面側が対
向するように組み合わせられ、これにより得られる間隙
には液晶層13が挟持されている。こうして、所望のア
クティブマトリクス型の液晶表示素子14が得られる。
On the other hand, a second substrate 10 made of, for example, glass
A counter electrode 12 made of, for example, ITO,
In addition, a light shielding layer 11 as a black matrix having a predetermined opening corresponding to the pixel electrode 8 is sequentially formed. Here, the light shielding layer 11 is formed as shown in FIG.
It has a two-layer structure of a metal oxide film 11a made of, for example, chromium oxide / a metal film 11b made of, for example, chromium. In the light shielding layer 11, the metal oxide film 11a is the layer closest to the second substrate side. The thickness of the metal film 11b is about 1000 angstroms, while the thickness of the metal oxide film 11a is several tens of angstroms.
Is so thin that it can be ignored. The light-shielding layer 11 is formed by first forming a chromium layer having a thickness of several tens of angstroms and then performing an oxidizing process by an anodic oxidation method or the like to form a metal oxide film. About 1000
A chromium layer of angstrom may be formed to form a metal film, and then patterned into a predetermined shape. The first and second substrates 1 and 10 are combined so that one main surface side is different from the first and second substrates 1 and 10, and a liquid crystal layer 13 is sandwiched in a gap obtained by the combination. Thus, a desired active matrix type liquid crystal display element 14 is obtained.

【0012】更に、第1基板1側には、例えば冷陰極放
電管からなる照明手段15が配置されており、第1基板
1の他主面側から照明を行う形になっている。この実施
形態では、表示観察面となる第2基板10側から入射し
た外光に対しては、反射防止膜としての金属酸化膜11
aの存在により反射率は小さくなり、コントラストの低
下による表示の見ずらさは感じられない。
Further, on the first substrate 1 side, an illuminating means 15 composed of, for example, a cold-cathode discharge tube is arranged so that illumination is performed from the other main surface side of the first substrate 1. In this embodiment, a metal oxide film 11 as an anti-reflection film is applied to external light incident from the second substrate 10 side serving as a display observation surface.
Due to the presence of a, the reflectance is reduced, and the visibility of the display due to the decrease in contrast is not felt.

【0013】更に他の実施形態の液晶表示装置は、図1
に示すように、遮光層の構造が金属酸化膜11a/金属
膜11b/金属酸化膜11cの三層構造を含み且つ最上
層及び最下層が金属酸化膜となっている。
A liquid crystal display device according to still another embodiment is shown in FIG.
As shown in the figure, the structure of the light-shielding layer includes a three-layer structure of the metal oxide film 11a / metal film 11b / metal oxide film 11c, and the uppermost layer and the lowermost layer are metal oxide films.

【0014】図2は遮光層11の構成を図1に示すよう
な三層構造とした場合と図3(c)と同様に二層構造と
した場合における信号電圧(V)と透過率(%)の関係
を示す図である。図2からわかるように、遮光層11の
構成を金属酸化膜11a/金属膜11b/金属酸化膜1
1cの三層構造とすることにより、図3(c)の二層構
造の場合と比べ、例えば透過率が50%となる信号電圧
を100〜300mV低くすることができる。これは、
金属酸化膜11cが加わることにより、液晶表示素子1
4の内部で遮光層11に反射される光が減少したためと
考えられる。このように三層構造にすることにより、二
層構造の場合と比べ、更に良い効果を得ることができ
る。尚、この実施形態では、照明手段であるバックライ
トをどちらの基板側に設置した場合にも、観察面側から
外光による影響を受けることなく、良好な画質を得るこ
とができる。
FIG. 2 shows the signal voltage (V) and transmittance (%) when the light shielding layer 11 has a three-layer structure as shown in FIG. 1 and a two-layer structure as in FIG. FIG. As can be seen from FIG. 2, the configuration of the light shielding layer 11 is the metal oxide film 11a / metal film 11b / metal oxide film 1
By using the three-layer structure 1c, the signal voltage at which the transmittance becomes 50% can be reduced by 100 to 300 mV as compared with the two-layer structure of FIG. 3C. this is,
The addition of the metal oxide film 11c allows the liquid crystal display element 1
It is considered that the light reflected on the light shielding layer 11 inside 4 decreased. With such a three-layer structure, a better effect can be obtained as compared with the case of a two-layer structure. In this embodiment, even when the backlight, which is the illuminating means, is installed on either substrate side, good image quality can be obtained without being affected by external light from the observation surface side.

【0015】[0015]

【発明の効果】この発明により製造された液晶表示装置
を、遮光層の金属酸化膜が表示観察面側となるように配
置することにより、表示観察面側から入射される外光に
対する遮光層の反射率を小さくすることにより、コント
ラストの低下を低減し良好な画質を得ることができる。
By arranging the liquid crystal display device manufactured according to the present invention so that the metal oxide film of the light-shielding layer is on the display observation surface side, the light-shielding layer for external light incident from the display observation surface side is provided. By reducing the reflectance, a decrease in contrast can be reduced and good image quality can be obtained.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の一実施形態を支援す液晶表示装置の断
面図。
FIG. 1 is a cross-sectional view of a liquid crystal display device that supports one embodiment of the present invention.

【図2】液晶表示素子の信号電圧と透過率の関係を示す
図。
FIG. 2 is a diagram showing a relationship between signal voltage and transmittance of a liquid crystal display element.

【図3】遮光層の部分の拡大断面図。FIG. 3 is an enlarged cross-sectional view of a light shielding layer.

【図4】従来の液晶表示装置の一例を示す断面図。FIG. 4 is a cross-sectional view illustrating an example of a conventional liquid crystal display device.

【図5】従来の液晶表示装置の一例を示す断面図。FIG. 5 is a cross-sectional view illustrating an example of a conventional liquid crystal display device.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1…第1基板 7…薄膜素子 8…画素電極 10…第2基板 11…遮光層 11a…金属酸化膜 11b…金属膜 11c…金属酸化膜 12…対向電極 13…液晶層 14…液晶表示素子 15…照明手段 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... 1st substrate 7 ... Thin film element 8 ... Pixel electrode 10 ... 2nd substrate 11 ... Light shielding layer 11a ... Metal oxide film 11b ... Metal film 11c ... Metal oxide film 12 ... Counter electrode 13 ... Liquid crystal layer 14 ... Liquid crystal display element 15 ... lighting means

Claims (2)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 一主面上に薄膜素子及びこれに接続され
る画素電極からなる一画素をマトリクス状に配置した第
1基板と、一主面上に対向電極及び前記画素電極に対応
した所定の開口部を有する遮光膜が形成された第2基板
と、前記第1及び第2基板を互いの前記一主面側が対向
するように組み合わせて得られる間隙に挟持した液晶と
有する液晶表示装置の製造方法において、前記第2基板上に、金属酸化膜と、この金属酸化膜上に
金属膜とを順次形成して積層膜を 形成する工程と、 前記積層膜をパターニングして前記遮光層を形成する工
程と、 を有することを特徴とする液晶表示装置の製造方法。
1. A thin film element on one principal surface and a thin film element connected to the thin film element
One pixel consisting of pixel electrodes
One substrate, corresponding to the counter electrode and the pixel electrode on one main surface
Substrate on which a light shielding film having a predetermined opening is formed
And the first principal surface of the first and second substrates oppose each other.
Liquid crystal sandwiched in the gap obtained by combining
In the method for manufacturing a liquid crystal display device having a metal oxide film on the second substrate,
A method for manufacturing a liquid crystal display device, comprising: a step of sequentially forming a metal film to form a laminated film ; and a step of patterning the laminated film to form the light-shielding layer.
【請求項2】 前記積層膜の形成工程は、基板上に金属
膜を形成し、これを酸化処理して第1 の金属酸化膜を形
成する工程と、 前記第1 の金属酸化膜上に金属膜を積層する工程と、 を有することを特徴とする請求項1記載の液晶表示装置
の製造方法。
2. The step of forming a laminated film includes forming a metal film on a substrate and oxidizing the metal film to form a first metal oxide film; and forming a metal film on the first metal oxide film. 2. The method according to claim 1, further comprising: laminating a film.
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