JP2952065B2 - 検量線作成装置および方法 - Google Patents
検量線作成装置および方法Info
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- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 19
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- AJDIZQLSFPQPEY-UHFFFAOYSA-N 1,1,2-Trichlorotrifluoroethane Chemical compound FC(F)(Cl)C(F)(Cl)Cl AJDIZQLSFPQPEY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
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- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は検量線作成装置および方
法、特にｌｏｇ−ｌｏｇ検量線作成機構の改良に関す
る。
法、特にｌｏｇ−ｌｏｇ検量線作成機構の改良に関す
る。
【０００２】
【従来の技術】カーエアコンディショナー或いは冷蔵
庫、据置型エアコンディショナーの冷媒中の油含有率を
測定する場合等には、試料としての冷媒をフローセル中
に導通させ、該フローセルに測定光を通過させて、油が
吸収する特定波長光の吸光度を測定する。この吸光度は
油濃度に略比例するため、予め既知濃度の油溶液を標準
試料として複数種測定して検量線を作成しておけば、試
料の吸光度を測定するのみで、該溶媒中の油濃度を測定
することができる。
庫、据置型エアコンディショナーの冷媒中の油含有率を
測定する場合等には、試料としての冷媒をフローセル中
に導通させ、該フローセルに測定光を通過させて、油が
吸収する特定波長光の吸光度を測定する。この吸光度は
油濃度に略比例するため、予め既知濃度の油溶液を標準
試料として複数種測定して検量線を作成しておけば、試
料の吸光度を測定するのみで、該溶媒中の油濃度を測定
することができる。
【０００３】ところで、この検量線を作成するのは、従
来は人手におうところが大きかったが、現在はコンピュ
ータ処理により既知濃度の標準試料の測定を行なうのみ
で自動的に検量線作成が行なわれる。この検量線として
最も一般的なのは、濃度−吸光度の一次直線関係を利用
したものである。すなわち、濃度Ｃと吸光度Ａの関係は
次の数５のように示される。
来は人手におうところが大きかったが、現在はコンピュ
ータ処理により既知濃度の標準試料の測定を行なうのみ
で自動的に検量線作成が行なわれる。この検量線として
最も一般的なのは、濃度−吸光度の一次直線関係を利用
したものである。すなわち、濃度Ｃと吸光度Ａの関係は
次の数５のように示される。
【数５】Ｃ＝Ｘ0＋Ｘ1Ａ （なお、Ｘ0，Ｘ1は定数） また、系が直線の応答を示さない場合には、これを拡張
して次の数６に示す多項式が用いられる。
して次の数６に示す多項式が用いられる。
【数６】 いずれにしても、濃度と吸光度の関係を示せば、図５の
ようになる。このような検量線（濃度−吸光度検量線）
は、被測定試料の濃度範囲が比較的狭い場合には、問題
が少ないが、濃度範囲が広い場合には精度が大きく低下
するという課題がある。
ようになる。このような検量線（濃度−吸光度検量線）
は、被測定試料の濃度範囲が比較的狭い場合には、問題
が少ないが、濃度範囲が広い場合には精度が大きく低下
するという課題がある。
【０００４】すなわち、図６に示すように、検量線１０
に対して検量線の信頼区間１２ａ，１２ｂを想定しなけ
ればならない。そして、この信頼区間は検量線の両端で
広がる傾向を有し、検量線の精度は測定データの中央部
で高く、外に行くにしたがって低くなるとされている。
また、仮に測定精度が一様であったとしても、得られた
測定結果の持つ相対的な信頼度（すなわち測定結果が持
つであろう誤差）は濃度に逆比例する。例えば、検量線
の信頼幅が±Δであるとした場合、これが測定結果に与
える相対的な信頼度は±Δ／Ｃとなり、例えば濃度１０
０では±Δ／１００であるが、濃度０．１では±Δ／
０．１となってしまい、信頼幅は濃度１００の時の１０
００倍にもなってしまう。これに対し、吸光度及び濃度
のそれぞれの対数をとった検量線（ｌｏｇ−ｌｏｇ検量
線）を用いると、検量線の信頼幅を±δとした場合、結
果の相対的信頼幅は、次の数７のようになり、濃度に依
存しない。
に対して検量線の信頼区間１２ａ，１２ｂを想定しなけ
ればならない。そして、この信頼区間は検量線の両端で
広がる傾向を有し、検量線の精度は測定データの中央部
で高く、外に行くにしたがって低くなるとされている。
また、仮に測定精度が一様であったとしても、得られた
測定結果の持つ相対的な信頼度（すなわち測定結果が持
つであろう誤差）は濃度に逆比例する。例えば、検量線
の信頼幅が±Δであるとした場合、これが測定結果に与
える相対的な信頼度は±Δ／Ｃとなり、例えば濃度１０
０では±Δ／１００であるが、濃度０．１では±Δ／
０．１となってしまい、信頼幅は濃度１００の時の１０
００倍にもなってしまう。これに対し、吸光度及び濃度
のそれぞれの対数をとった検量線（ｌｏｇ−ｌｏｇ検量
線）を用いると、検量線の信頼幅を±δとした場合、結
果の相対的信頼幅は、次の数７のようになり、濃度に依
存しない。
【数７】 従って、δ＝１とすると、Ｃ＝１００の時、相対精度は
【数８】 （１０log100+0.1−１０log100）／１０log100＝０．２５９ また、Ｃ＝０．１の時も、相対精度は
【数９】 （１０log0.1+0.1−１０log0.1）／１０log0.1＝０．２５９ となり、一定となる。この結果、例え前記図６のように
検量線の信頼区間に濃度依存性があっても、ｌｏｇ−ｌ
ｏｇ検量線の場合、その依存性がそのまま反映されるだ
けに止まる。
検量線の信頼区間に濃度依存性があっても、ｌｏｇ−ｌ
ｏｇ検量線の場合、その依存性がそのまま反映されるだ
けに止まる。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】ところで、ｌｏｇ−ｌ
ｏｇ検量線を用いる場合には、Ｃ→０に対してＡ→０で
あることが絶対的に必要な条件として要求される。しか
しながら、実際の測定においては、この条件が満足され
るとは限らない。この条件がみたされていない測定結果
にｌｏｇ−ｌｏｇ検量線を適用すると、Ｃ〜０の近傍で
検量線が大きく湾曲するため、これを完全に表現するに
は無限次数の多項式が必要となってしまい、事実上使用
不能となってしまう。
ｏｇ検量線を用いる場合には、Ｃ→０に対してＡ→０で
あることが絶対的に必要な条件として要求される。しか
しながら、実際の測定においては、この条件が満足され
るとは限らない。この条件がみたされていない測定結果
にｌｏｇ−ｌｏｇ検量線を適用すると、Ｃ〜０の近傍で
検量線が大きく湾曲するため、これを完全に表現するに
は無限次数の多項式が必要となってしまい、事実上使用
不能となってしまう。
【０００６】すなわち、図７の濃度−吸光度検量線Ｉに
示すように、原点Ｏを通過する濃度−吸光度検量線が得
られれば、図８（Ｉ）に示すようなｌｏｇ−ｌｏｇ検量
線が得られ、検量線の直線性が担保されるが、図７の濃
度−吸光度検量線IIに示すように原点Ｏを通過しない濃
度−吸光度検量線が与えられると、図８（II）に示すよ
うにｌｏｇ−ｌｏｇ検量線は低濃度領域で大きく湾曲し
てしまうのである。この結果、ｌｏｇ−ｌｏｇ検量線に
あっても、その適用範囲は狭く限られてしまうという課
題が残されていた。
示すように、原点Ｏを通過する濃度−吸光度検量線が得
られれば、図８（Ｉ）に示すようなｌｏｇ−ｌｏｇ検量
線が得られ、検量線の直線性が担保されるが、図７の濃
度−吸光度検量線IIに示すように原点Ｏを通過しない濃
度−吸光度検量線が与えられると、図８（II）に示すよ
うにｌｏｇ−ｌｏｇ検量線は低濃度領域で大きく湾曲し
てしまうのである。この結果、ｌｏｇ−ｌｏｇ検量線に
あっても、その適用範囲は狭く限られてしまうという課
題が残されていた。
【０００７】本発明は前記従来技術の課題に鑑みなされ
たものであり、その目的は誤差が少なく広範囲に適用可
能なｌｏｇ−ｌｏｇ検量線を算出することのできる検量
線作成装置を提供することにある。
たものであり、その目的は誤差が少なく広範囲に適用可
能なｌｏｇ−ｌｏｇ検量線を算出することのできる検量
線作成装置を提供することにある。
【０００８】
【課題を解決するための手段】前記目的を達成するため
に、本出願の請求項１記載の発明にかかる検量線作成装
置は、複数の既知濃度標準試料より濃度に略比例する測
定データを得る測定手段と、前記測定手段より出力され
る測定データＡと濃度Ｃに基づき、下記数１０に示す検
量線を得る演算手段と、を備えたことを特徴とする。
に、本出願の請求項１記載の発明にかかる検量線作成装
置は、複数の既知濃度標準試料より濃度に略比例する測
定データを得る測定手段と、前記測定手段より出力され
る測定データＡと濃度Ｃに基づき、下記数１０に示す検
量線を得る演算手段と、を備えたことを特徴とする。
【数１０】
【０００９】また、請求項２記載の検量線作成装置は、
前記数１０の補正係数Ｚ及び定数Ｘ nを次のようにして
算出されることを特徴とする。 Ｚ：Ｃ＝αＡ＋Ｚを想定し、Ａの小さな値に対してより
重いウェイトをかける重み付き最小２乗法によって算出
する。 Ｘn：前記補正係数Ｚを用いて、
前記数１０の補正係数Ｚ及び定数Ｘ nを次のようにして
算出されることを特徴とする。 Ｚ：Ｃ＝αＡ＋Ｚを想定し、Ａの小さな値に対してより
重いウェイトをかける重み付き最小２乗法によって算出
する。 Ｘn：前記補正係数Ｚを用いて、
【数１１】 のＸ0〜Ｘnを最小２乗法によって算出する。
【００１０】また、請求項３記載の検量線作成方法は、
測定工程と、補正係数演算工程と、定数演算工程と、検
量線作成工程を備えることを特徴とする。ここで、測定
工程は、複数の既知濃度標準試料より濃度に略比例する
測定データを得る。補正係数演算工程は、前記測定手段
より出力される測定データＡと濃度Ｃに基づき、Ｃ＝α
Ａ＋Ｚを想定し、Ａの小さな値に対してより重いウェイ
トをかける重み付き最小２乗法によって補正係数Ｚを算
出する。定数演算工程は、前記補正係数Ｚを用いて、下
記数１１の定数Ｘ0〜Ｘnを最小２乗法により算出する。
検量線作成工程は、前記補正係数Ｚおよび定数Ｘ0〜Ｘn
に基づき下記数１０に示す検量線を得る。
測定工程と、補正係数演算工程と、定数演算工程と、検
量線作成工程を備えることを特徴とする。ここで、測定
工程は、複数の既知濃度標準試料より濃度に略比例する
測定データを得る。補正係数演算工程は、前記測定手段
より出力される測定データＡと濃度Ｃに基づき、Ｃ＝α
Ａ＋Ｚを想定し、Ａの小さな値に対してより重いウェイ
トをかける重み付き最小２乗法によって補正係数Ｚを算
出する。定数演算工程は、前記補正係数Ｚを用いて、下
記数１１の定数Ｘ0〜Ｘnを最小２乗法により算出する。
検量線作成工程は、前記補正係数Ｚおよび定数Ｘ0〜Ｘn
に基づき下記数１０に示す検量線を得る。
【００１１】
【作用】本発明にかかる検量線作成装置は、前記数１０
に基づき検量線が作成されるので、Ｃ→０に対するＡの
収束Ｚ値を求め、Ａ−Ｚと補正することで、Ｃ→０に対
して（Ａ−Ｚ）→０が担保され、ｌｏｇ−ｌｏｇ検量線
に大きな湾曲を生じることがない。
に基づき検量線が作成されるので、Ｃ→０に対するＡの
収束Ｚ値を求め、Ａ−Ｚと補正することで、Ｃ→０に対
して（Ａ−Ｚ）→０が担保され、ｌｏｇ−ｌｏｇ検量線
に大きな湾曲を生じることがない。
【００１２】
【実施例】以下、図面に基づき本発明の好適な実施例を
説明する。図１には本発明の一実施例にかかる検量線作
成装置の概略構成が示されている。同図に示す検量線作
成装置は、測定手段１０と、演算手段としてのＣＰＵ１
２とを含む。そして、前記測定手段１０は、光源１４、
集光レンズ１６、フローセル１８、集光レンズ２０、拡
散板２２、光電変換器２４を含み、光源１４から出光さ
れた測定光がレンズ１６を介してフローセル１８内の液
体試料を通過し、さらにレンズ２０及び拡散板２２を介
して光電変換器２４で電気信号に変換される。従って、
光電変換器２４の出力を解析することにより、フローセ
ル１８内を流れる液体試料に含まれる、特定波長光に吸
収帯を有する油分を測定することができる。光電変換器
２４のアナログ出力はアンプ２６により増幅され、さら
にＡ／Ｄ変換器２８によりデジタル信号に変換されてＣ
ＰＵ１２に入力される。該ＣＰＵ１２は、複数種の濃度
既知の標準試料の測定を行ない、その濃度と吸光度を対
応させてメモリ３０に記憶する。
説明する。図１には本発明の一実施例にかかる検量線作
成装置の概略構成が示されている。同図に示す検量線作
成装置は、測定手段１０と、演算手段としてのＣＰＵ１
２とを含む。そして、前記測定手段１０は、光源１４、
集光レンズ１６、フローセル１８、集光レンズ２０、拡
散板２２、光電変換器２４を含み、光源１４から出光さ
れた測定光がレンズ１６を介してフローセル１８内の液
体試料を通過し、さらにレンズ２０及び拡散板２２を介
して光電変換器２４で電気信号に変換される。従って、
光電変換器２４の出力を解析することにより、フローセ
ル１８内を流れる液体試料に含まれる、特定波長光に吸
収帯を有する油分を測定することができる。光電変換器
２４のアナログ出力はアンプ２６により増幅され、さら
にＡ／Ｄ変換器２８によりデジタル信号に変換されてＣ
ＰＵ１２に入力される。該ＣＰＵ１２は、複数種の濃度
既知の標準試料の測定を行ない、その濃度と吸光度を対
応させてメモリ３０に記憶する。
【００１３】そして、ＣＰＵ１２は図２に示すフローチ
ャートに基づき演算を行ない、ｌｏｇ−ｌｏｇ検量線を
得る。まず、標準試料の濃度及び測光値（Ｃ1，Ａ1），
（Ｃ2，Ａ2）…（Ｃn，Ａn）から検量線を確定する係数
Ｚ，Ｘ0…Ｘnを求める。すなわち、Ｃ＝αＡ＋Ｚの関係
を想定し、Ａの小さな値に対してよりウェイトＷｉをか
ける重み付き最小二乗法によって、補正係数Ｚを求める
（Ｓ1，Ｓ2）。次に、前記補正係数Ｚを用いて下記数１
２のＸ0〜Ｘnを最小二乗法によって算出する（Ｓ3〜
Ｓ5）。
ャートに基づき演算を行ない、ｌｏｇ−ｌｏｇ検量線を
得る。まず、標準試料の濃度及び測光値（Ｃ1，Ａ1），
（Ｃ2，Ａ2）…（Ｃn，Ａn）から検量線を確定する係数
Ｚ，Ｘ0…Ｘnを求める。すなわち、Ｃ＝αＡ＋Ｚの関係
を想定し、Ａの小さな値に対してよりウェイトＷｉをか
ける重み付き最小二乗法によって、補正係数Ｚを求める
（Ｓ1，Ｓ2）。次に、前記補正係数Ｚを用いて下記数１
２のＸ0〜Ｘnを最小二乗法によって算出する（Ｓ3〜
Ｓ5）。
【数１２】 なお、図示例においては、ｎ＝２の場合を示したが、一
般的にはｎは１〜３が選択される。
般的にはｎは１〜３が選択される。
【００１４】次の表１には、紫外線油循環率計でフロン
１１３中の潤滑油の標準試料の３５０nmにおける吸光度
を測定した結果を示している。
１１３中の潤滑油の標準試料の３５０nmにおける吸光度
を測定した結果を示している。
【表１】 これをｌｏｇ−ｌｏｇでプロットしたものが図３であ
り、Ｃ，Ａの小さい領域で直線から大きくはずれている
ことが理解される。
り、Ｃ，Ａの小さい領域で直線から大きくはずれている
ことが理解される。
【００１５】これに対し、Ｚ＝０．０１１９として補正
した後プロットすると、図４のように直線に近くなり、
検量線が改善される。
した後プロットすると、図４のように直線に近くなり、
検量線が改善される。
【表２】 以上説明したように、本実施例にかかる検量線作成装
置によれば、補正係数Ｚを用いることにより、次数の低
く直線性の高いｌｏｇ−ｌｏｇ検量線を得ることができ
る。
置によれば、補正係数Ｚを用いることにより、次数の低
く直線性の高いｌｏｇ−ｌｏｇ検量線を得ることができ
る。
【００１６】なお、ａ−Ｚ＜０の時、仮想的に検量線を
【数１３】ｌｏｇ（−ｃ）＝ｆ（ｌｏｇ（Ｚ−Ａ）） とすることが好適である。すなわち、一般的には検量線
は濃度、吸光度ともに正の領域においてのみ意味があ
る。従って、測定装置の特性等のために、吸光度が負或
いはそのゼロの位置が不確かな場合でも、符号を反転し
たり或いはゼロ位置を補正することにより、吸光度−濃
度検量線が成立つようにすることが行なわれる。しかし
ながら、測定誤差等により吸光度が負の領域に入り込む
こともに起こり得る。従って、この領域で検量線が定義
されていない事態は不都合である。検量線として例えば
吸光度−濃度検量線を用いた場合のように単純な多項式
を用いる限り、式自身が正以外の領域まで定義されてい
るため、問題となることはない。ところが、ｌｏｇ−ｌ
ｏｇ検量線の場合は変数が正の場合しか定義されていな
いため、正の領域以外では別途定義する必要がある。こ
の別途定義される関数は正の領域で定義されているもの
とスムーズに接続するものであることが望ましい。そこ
で、採用されたのが、前記数１３である。また、同様の
理由からＡ−Ｚ＝０の場合には、Ｃ＝０とするのが好適
である。
は濃度、吸光度ともに正の領域においてのみ意味があ
る。従って、測定装置の特性等のために、吸光度が負或
いはそのゼロの位置が不確かな場合でも、符号を反転し
たり或いはゼロ位置を補正することにより、吸光度−濃
度検量線が成立つようにすることが行なわれる。しかし
ながら、測定誤差等により吸光度が負の領域に入り込む
こともに起こり得る。従って、この領域で検量線が定義
されていない事態は不都合である。検量線として例えば
吸光度−濃度検量線を用いた場合のように単純な多項式
を用いる限り、式自身が正以外の領域まで定義されてい
るため、問題となることはない。ところが、ｌｏｇ−ｌ
ｏｇ検量線の場合は変数が正の場合しか定義されていな
いため、正の領域以外では別途定義する必要がある。こ
の別途定義される関数は正の領域で定義されているもの
とスムーズに接続するものであることが望ましい。そこ
で、採用されたのが、前記数１３である。また、同様の
理由からＡ−Ｚ＝０の場合には、Ｃ＝０とするのが好適
である。
【００１７】また、前記実施例においては、吸光度を測
定する場合について説明したが、本発明はこれに限られ
るものではなく、ｌｏｇ−ｌｏｇ検量線を用いることの
できる全ての観測量に対して適用可能である。また、本
発明においては、説明の便宜上常用対数ｌｏｇを用いて
説明したが、自然対数ｌｎを用いても同様の作用を得る
ことができ、請求項で特定される発明の範疇に含まれる
ものである。
定する場合について説明したが、本発明はこれに限られ
るものではなく、ｌｏｇ−ｌｏｇ検量線を用いることの
できる全ての観測量に対して適用可能である。また、本
発明においては、説明の便宜上常用対数ｌｏｇを用いて
説明したが、自然対数ｌｎを用いても同様の作用を得る
ことができ、請求項で特定される発明の範疇に含まれる
ものである。
【００１８】
【発明の効果】以上説明したように本発明にかかる検量
線作成装置によれば、補正係数Ｚを入れることにより、
ｌｏｇ−ｌｏｇ検量線の次数を低くすることができ、適
用範囲を大きくすることができる。
線作成装置によれば、補正係数Ｚを入れることにより、
ｌｏｇ−ｌｏｇ検量線の次数を低くすることができ、適
用範囲を大きくすることができる。
【図１】本発明の一実施例にかかる検量線作成装置の概
略構成の説明図である。
略構成の説明図である。
【図２】図１に示した検量線作成装置の演算経過を示す
フローチャート図である。
フローチャート図である。
【図３】従来の装置を用いたｌｏｇ−ｌｏｇ検量線の説
明図である。
明図である。
【図４】本発明の検量線作成装置を用いた場合の、図３
に相当するｌｏｇ−ｌｏｇ検量線の説明図である。
に相当するｌｏｇ−ｌｏｇ検量線の説明図である。
【図５】，
【図６】，
【図７】，
【図８】従来の検量線の課題の説明図である。
【符号の説明】 １０ 測定手段 １２ ＣＰＵ（演算手段）
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 沓名 喜代治 愛知県刈谷市昭和町１丁目１番地 日本 電装株式会社内 (56)参考文献 特開 昭58−211663（ＪＰ，Ａ) 自動車技術会学術講演会前刷集902 （1990年），ＶＯＬ．２，Ｐ．85−88 ＡＰＰＬＩＥＤ ＳＰＥＣＴＲＯＳＳ ＳＣＯＰＹ，ＶＯＬ．33（1979），Ｎ Ｏ．１，Ｐ12−16 (58)調査した分野(Int.Cl.6，ＤＢ名) G01N 21/00 - 21/83 ＪＩＣＳＴファイル（ＪＯＩＳ)
Claims (3)
- 【請求項１】 複数の既知濃度標準試料より濃度に略比
例する測定データを得る測定手段と、前記測定手段より
出力される測定データＡと濃度Ｃに基づき、下記数１に
示す検量線を得る演算手段と、 【数１】 を備えたことを特徴とする検量線作成装置。 - 【請求項２】 請求項１記載の装置において、前記数１
の補正係数Ｚ及び定数Ｘnは次のように算出されること
を特徴とする検量線作成装置。 Ｚ：Ｃ＝αＡ＋Ｚを想定し、Ａの小さな値に対してより
重いウェイトをかける重み付き最小２乗法によって算出
する。 Ｘn：前記Ｚを用いて、 【数２】 のＸ0〜Ｘnを最小２乗法によって算出する。 - 【請求項３】 複数の既知濃度標準試料より濃度に略比
例する測定データを得る測定工程と、前記測定手段より
出力される測定データＡと濃度Ｃに基づき、Ｃ＝αＡ＋
Ｚを想定し、Ａの小さな値に対してより重いウェイトを
かける重み付き最小２乗法によって補正係数Ｚを算出す
る補正係数演算工程と、前記補正係数Ｚを用いて、下記
数３の定数Ｘ0〜Ｘnを最小２乗法により算出する定数演
算工程と、 【数３】 前記補正係数Ｚおよび定数Ｘ0〜Ｘnに基づき下記数４に
示す検量線を得る検量線作成工程と、 【数４】 を備えたことを特徴とする検量線作成方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5042991A JP2952065B2 (ja) | 1991-02-22 | 1991-02-22 | 検量線作成装置および方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5042991A JP2952065B2 (ja) | 1991-02-22 | 1991-02-22 | 検量線作成装置および方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04268438A JPH04268438A (ja) | 1992-09-24 |
| JP2952065B2 true JP2952065B2 (ja) | 1999-09-20 |
Family
ID=12858625
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5042991A Expired - Lifetime JP2952065B2 (ja) | 1991-02-22 | 1991-02-22 | 検量線作成装置および方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2952065B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2020128906A (ja) * | 2019-02-08 | 2020-08-27 | 日本電子株式会社 | 分析方法、検量線の作成方法、および自動分析装置 |
-
1991
- 1991-02-22 JP JP5042991A patent/JP2952065B2/ja not_active Expired - Lifetime
Non-Patent Citations (2)
| Title |
|---|
| ＡＰＰＬＩＥＤ ＳＰＥＣＴＲＯＳＳＳＣＯＰＹ，ＶＯＬ．３３（１９７９），ＮＯ．１，Ｐ１２−１６ |
| 自動車技術会学術講演会前刷集９０２（１９９０年），ＶＯＬ．２，Ｐ．８５−８８ |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2020128906A (ja) * | 2019-02-08 | 2020-08-27 | 日本電子株式会社 | 分析方法、検量線の作成方法、および自動分析装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH04268438A (ja) | 1992-09-24 |
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