JP2885233B2 - 真空バルブ形開閉装置の真空度低下検出装置 - Google Patents
真空バルブ形開閉装置の真空度低下検出装置Info
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- JP2885233B2 JP2885233B2 JP9175071A JP17507197A JP2885233B2 JP 2885233 B2 JP2885233 B2 JP 2885233B2 JP 9175071 A JP9175071 A JP 9175071A JP 17507197 A JP17507197 A JP 17507197A JP 2885233 B2 JP2885233 B2 JP 2885233B2
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- H01H33/60—Switches wherein the means for extinguishing or preventing the arc do not include separate means for obtaining or increasing flow of arc-extinguishing fluid
- H01H33/66—Vacuum switches
- H01H33/668—Means for obtaining or monitoring the vacuum
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- Measuring Fluid Pressure (AREA)
- High-Tension Arc-Extinguishing Switches Without Spraying Means (AREA)
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】この発明は真空バルブを用い
た真空遮断器，真空開閉器等の開閉装置において、真空
バルブの真空度の低下を真空バルブ内部の異常放電を電
気的に検出することによって検知する真空度低下検出装
置に関する。
た真空遮断器，真空開閉器等の開閉装置において、真空
バルブの真空度の低下を真空バルブ内部の異常放電を電
気的に検出することによって検知する真空度低下検出装
置に関する。
【０００２】
【従来の技術】真空遮断器，真空開閉器は他の遮断器の
消弧室に相当する部分に、高度に脱ガス，排気された完
全密封形の真空バルブが使用されている。真空は理想的
な絶縁媒体であるが真空度が低下した場合はその機能を
発揮することができないため、真空バルブの信頼性が真
空遮断器，真空開閉器の信頼性に対し大きなウエイトを
占めている。
消弧室に相当する部分に、高度に脱ガス，排気された完
全密封形の真空バルブが使用されている。真空は理想的
な絶縁媒体であるが真空度が低下した場合はその機能を
発揮することができないため、真空バルブの信頼性が真
空遮断器，真空開閉器の信頼性に対し大きなウエイトを
占めている。
【０００３】そこで、真空バルブの製造時に高い信頼性
を確保するため材料の選定，購入，加工精度および脱ガ
ス処置など製造工程の管理，および性能確認試験，検査
など材料の入手から製品出荷まで厳密な品質管理が実施
されている。特に真空バルブの真空度管理は最も重要で
あり、全数について綿密なる管理が実施されている。第
４図は真空バルブの真空度の低下要因の原理的説明図で
あり、製造時に封じられた真空バルブは１０-6〜１０-7
Ｔｏｒｒ程度の高真空に保持されるが、真空バルブを構
成している真空容器や電極，導体の内部に残存している
ガス分子がそれらの表面より徐々に放出される内部ガス
放出と、真空バルブの構成材料や接合部分のわずかな欠
陥孔より外部から空気が徐々に侵入してくるスローリー
クとによって徐々に低下する。このうち、ガス放出が原
因となるものは飽和値をもつ曲線的な変化であり、一方
スローリークによるものは孔の大きさに応じた直線的な
変化である。従って、全体としての変化はこれらを重ね
合わせたトータルガスとして示される。真空バルブの真
空寿命の管理のためには、これらの劣化要因に対して適
切な方法をとる必要がある。
を確保するため材料の選定，購入，加工精度および脱ガ
ス処置など製造工程の管理，および性能確認試験，検査
など材料の入手から製品出荷まで厳密な品質管理が実施
されている。特に真空バルブの真空度管理は最も重要で
あり、全数について綿密なる管理が実施されている。第
４図は真空バルブの真空度の低下要因の原理的説明図で
あり、製造時に封じられた真空バルブは１０-6〜１０-7
Ｔｏｒｒ程度の高真空に保持されるが、真空バルブを構
成している真空容器や電極，導体の内部に残存している
ガス分子がそれらの表面より徐々に放出される内部ガス
放出と、真空バルブの構成材料や接合部分のわずかな欠
陥孔より外部から空気が徐々に侵入してくるスローリー
クとによって徐々に低下する。このうち、ガス放出が原
因となるものは飽和値をもつ曲線的な変化であり、一方
スローリークによるものは孔の大きさに応じた直線的な
変化である。従って、全体としての変化はこれらを重ね
合わせたトータルガスとして示される。真空バルブの真
空寿命の管理のためには、これらの劣化要因に対して適
切な方法をとる必要がある。
【０００４】第５図は真空度の低下を直接検出するセン
サを設けた従来の真空バルブを示す概略断面図であり、
真空バルブ１は円筒状の絶縁容器５と、その一方端に結
合された金属製の端板４Ａによって支持された固定接触
子２と、絶縁容器の他方端に結合した端板４Ｂおよび金
属ベロー６により支持された可動接触子３を主要構成要
素とし、可動接触子３を図示しない操作器によって駆動
することにより、負荷電流または充電電流の開閉機能を
有する遮断器や開閉器が構成される。また、真空バルブ
１の内部には絶縁容器５の内側に同心状に金属シールド
７が設けられ、電流遮断時のアークによって生じた金属
蒸気が絶縁容器５の内壁に付着して絶縁性能が低下する
ことを防止するよう構成される。１０は真空度センサと
しての例えばマグネトロン素子であり、端板４Ａに気密
に取り付けられて真空バルブ内の真空度を検出する。と
ころが、この方式は、真空バルブと真空度センサとの気
密結合部に新たなスローリークを生ずる欠点があり、真
空バルブの信頼性を損なう欠点がある。また既設の真空
バルブに後加工で真空度センサを取り付けることはほと
んど不可能である。
サを設けた従来の真空バルブを示す概略断面図であり、
真空バルブ１は円筒状の絶縁容器５と、その一方端に結
合された金属製の端板４Ａによって支持された固定接触
子２と、絶縁容器の他方端に結合した端板４Ｂおよび金
属ベロー６により支持された可動接触子３を主要構成要
素とし、可動接触子３を図示しない操作器によって駆動
することにより、負荷電流または充電電流の開閉機能を
有する遮断器や開閉器が構成される。また、真空バルブ
１の内部には絶縁容器５の内側に同心状に金属シールド
７が設けられ、電流遮断時のアークによって生じた金属
蒸気が絶縁容器５の内壁に付着して絶縁性能が低下する
ことを防止するよう構成される。１０は真空度センサと
しての例えばマグネトロン素子であり、端板４Ａに気密
に取り付けられて真空バルブ内の真空度を検出する。と
ころが、この方式は、真空バルブと真空度センサとの気
密結合部に新たなスローリークを生ずる欠点があり、真
空バルブの信頼性を損なう欠点がある。また既設の真空
バルブに後加工で真空度センサを取り付けることはほと
んど不可能である。
【０００５】第６図は真空バルブの内部圧力と極間の交
流フラッシオーバ電圧との関係を示す特性線図であり、
真空バルブ内の真空度が１０-3Ｔｏｒｒオーダ程度にま
で低下（悪化）するとフラッシオーバ電圧が低下しはじ
め、１０-2〜１０-1Ｔｏｒｒオーダで下限値（１０-1ｋ
Ｖオーダ）を示し、１０0 Ｔｏｒｒオーダ以上ではフラ
ッシオーバ電圧は徐々に上昇して大気圧空気中のフラッ
シオーバ電圧にまで回復する。真空バルブでは一般に真
空度が１０-2Ｔｏｒｒ程度にまで低下すると、電力系統
の常規対地電圧に耐えられなくなり、開極状態では接触
子極間または電源系統に接続された接触子と金属シール
ド間に異常放電が発生し、閉極状態では一対の接触子と
金属シールドとの間に異常放電が発生する。そこで従来
技術においても上述の特性に着目し、異常放電を真空バ
ルブの外部から電気的に検出することにより、真空度の
低下を間接的に検知する方式の真空度低下の検出装置が
幾つか知られている。
流フラッシオーバ電圧との関係を示す特性線図であり、
真空バルブ内の真空度が１０-3Ｔｏｒｒオーダ程度にま
で低下（悪化）するとフラッシオーバ電圧が低下しはじ
め、１０-2〜１０-1Ｔｏｒｒオーダで下限値（１０-1ｋ
Ｖオーダ）を示し、１０0 Ｔｏｒｒオーダ以上ではフラ
ッシオーバ電圧は徐々に上昇して大気圧空気中のフラッ
シオーバ電圧にまで回復する。真空バルブでは一般に真
空度が１０-2Ｔｏｒｒ程度にまで低下すると、電力系統
の常規対地電圧に耐えられなくなり、開極状態では接触
子極間または電源系統に接続された接触子と金属シール
ド間に異常放電が発生し、閉極状態では一対の接触子と
金属シールドとの間に異常放電が発生する。そこで従来
技術においても上述の特性に着目し、異常放電を真空バ
ルブの外部から電気的に検出することにより、真空度の
低下を間接的に検知する方式の真空度低下の検出装置が
幾つか知られている。
【０００６】第７図は第１の従来技術を示す構成図であ
り、交流電力系統１１と負荷系統１２との間に設けられ
た遮断器，開閉器等の真空バルブ１には、その負荷側に
避雷器１３，ＣＲ形サージアブソーバ１４等が設けら
れ、極間の異常放電による放電電流ＩS が流れることに
着目し、避雷器１３またはサージアブソーバ１４の接地
線側に電流センサ１５を設け、開極時に発生する放電電
流を検出することにより、真空度の低下を検知するよう
構成されている。
り、交流電力系統１１と負荷系統１２との間に設けられ
た遮断器，開閉器等の真空バルブ１には、その負荷側に
避雷器１３，ＣＲ形サージアブソーバ１４等が設けら
れ、極間の異常放電による放電電流ＩS が流れることに
着目し、避雷器１３またはサージアブソーバ１４の接地
線側に電流センサ１５を設け、開極時に発生する放電電
流を検出することにより、真空度の低下を検知するよう
構成されている。
【０００７】第８図は第２の従来技術を示す構成図であ
り、真空バルブ１の極間異常放電１００に付随して発生
する高周波ノイズを、真空バルブの電源系統側に高圧コ
ンデンサ１６を介して接続された高周波ノイズの検出器
１７で検出するよう構成されている。第９図は第３の従
来技術を示す構成図であり、開極時，閉極時に金属シー
ルド７と接触子との間に発生する異常放電１０１Ｓによ
って上昇する金属シールド７の電位を、絶縁容器５を貫
通して引き出された金属シールドの外部端子７Ａに高圧
コンデンサ１７を介して分圧コンデンサ１８を接続し、
分圧コンデンサ１８の電位を電圧検出器１９で測定する
よう構成されている。
り、真空バルブ１の極間異常放電１００に付随して発生
する高周波ノイズを、真空バルブの電源系統側に高圧コ
ンデンサ１６を介して接続された高周波ノイズの検出器
１７で検出するよう構成されている。第９図は第３の従
来技術を示す構成図であり、開極時，閉極時に金属シー
ルド７と接触子との間に発生する異常放電１０１Ｓによ
って上昇する金属シールド７の電位を、絶縁容器５を貫
通して引き出された金属シールドの外部端子７Ａに高圧
コンデンサ１７を介して分圧コンデンサ１８を接続し、
分圧コンデンサ１８の電位を電圧検出器１９で測定する
よう構成されている。
【０００８】第１０図は第４の従来技術を示す構成図で
あり、第３の従来技術と同様に発生する異常放電１０１
Ｓによる金属シールド７の電位上昇を、絶縁容器５の外
面との間に間隙を保持して配された電位センサ２０で検
出するよう構成されている。
あり、第３の従来技術と同様に発生する異常放電１０１
Ｓによる金属シールド７の電位上昇を、絶縁容器５の外
面との間に間隙を保持して配された電位センサ２０で検
出するよう構成されている。
【０００９】
【発明が解決しようとする課題】第１の従来技術におい
ては、避雷器やサージアブソーバを利用して異常放電を
検出できるが、遮断時または投入時の異常電圧によって
生ずる放電電流と異常放電１００によって生ずる放電電
流とを弁別するための弁別回路を電流センサ１５の出力
側に設ける必要があり、検出回路が複雑化するという問
題がある。
ては、避雷器やサージアブソーバを利用して異常放電を
検出できるが、遮断時または投入時の異常電圧によって
生ずる放電電流と異常放電１００によって生ずる放電電
流とを弁別するための弁別回路を電流センサ１５の出力
側に設ける必要があり、検出回路が複雑化するという問
題がある。
【００１０】第２の従来技術では、極間で異常放電が発
生すると直ちにアーク放電に移行してしまうことが実験
的に検証されており、極間のアークドロップが小さいた
めに、検出される高周波ノイズの電荷量が数ｐＣと極め
て小さく、信頼性の高い検出ができにくいという問題が
あり、かつ高周波ノイズ検出用の高圧コンデンサ１６を
真空バルブごとに設ける必要があり装置が大型化すると
いう問題がある。
生すると直ちにアーク放電に移行してしまうことが実験
的に検証されており、極間のアークドロップが小さいた
めに、検出される高周波ノイズの電荷量が数ｐＣと極め
て小さく、信頼性の高い検出ができにくいという問題が
あり、かつ高周波ノイズ検出用の高圧コンデンサ１６を
真空バルブごとに設ける必要があり装置が大型化すると
いう問題がある。
【００１１】また、第３の従来技術は第２の従来技術と
同様に高圧コンデンサ１６を必要とし、かつ絶縁容器を
貫通して外部端子を設けなければならず、真空度の維持
性能に悪影響を及ぼす危険性がある。第４の従来技術で
は、金属シールドと電位センサとの結合キャパシタンス
が小さいために、他相の真空バルブ等との間に静電容量
結合が生じやすく、検出結果の判定精度が低く、誤判定
を犯しやすい欠点がある。
同様に高圧コンデンサ１６を必要とし、かつ絶縁容器を
貫通して外部端子を設けなければならず、真空度の維持
性能に悪影響を及ぼす危険性がある。第４の従来技術で
は、金属シールドと電位センサとの結合キャパシタンス
が小さいために、他相の真空バルブ等との間に静電容量
結合が生じやすく、検出結果の判定精度が低く、誤判定
を犯しやすい欠点がある。
【００１２】この発明の目的は、真空バルブの真空度の
低下によって発生する異常放電を高圧コンデンサを用い
ず、かつ精度よく検出でき、したがって構成が簡素で小
型な真空度の低下検出装置を得ることにある。
低下によって発生する異常放電を高圧コンデンサを用い
ず、かつ精度よく検出でき、したがって構成が簡素で小
型な真空度の低下検出装置を得ることにある。
【００１３】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に、この発明によれば、三相交流電力系統に接続された
開閉装置の真空バルブが絶縁容器と、この絶縁容器の一
方の端部に結合された端板によって支持された固定接触
子と、前記絶縁容器の他方の端部に結合された端板およ
び金属ベローにより支持された可動接触子とを備え、前
記絶縁容器内部に前記両接触子との間に真空ギャップを
保持して同心状に配された金属シールドを持ち、前記真
空バルブの真空度の低下を前記両接触子と金属シールド
との間の異常放電により検出するものにおいて、前記絶
縁容器の器壁に埋設されて前記金属シールドに対向する
よう絶縁支持されるとともにその外部端子のみが前記絶
縁容器の外側に露出するように配設された外部電極と、
この外部電極と大地間に接続された分圧コンデンサとを
備え、前記異常放電を前記分圧コンデンサの端子電圧に
より検出するものとする。
に、この発明によれば、三相交流電力系統に接続された
開閉装置の真空バルブが絶縁容器と、この絶縁容器の一
方の端部に結合された端板によって支持された固定接触
子と、前記絶縁容器の他方の端部に結合された端板およ
び金属ベローにより支持された可動接触子とを備え、前
記絶縁容器内部に前記両接触子との間に真空ギャップを
保持して同心状に配された金属シールドを持ち、前記真
空バルブの真空度の低下を前記両接触子と金属シールド
との間の異常放電により検出するものにおいて、前記絶
縁容器の器壁に埋設されて前記金属シールドに対向する
よう絶縁支持されるとともにその外部端子のみが前記絶
縁容器の外側に露出するように配設された外部電極と、
この外部電極と大地間に接続された分圧コンデンサとを
備え、前記異常放電を前記分圧コンデンサの端子電圧に
より検出するものとする。
【００１４】上記手段において、真空バルブの円筒状の
絶縁容器の外周部側の金属シールドの対向位置に外部電
極と、これに導電接続された分圧コンデンサを設ける構
成とすることにより、比誘電率が気体のそれより大きい
絶縁容器の静電容量を高圧コンデンサに兼用して異常放
電による金属シールドの電位上昇を分圧コンデンサの電
位上昇として真空バルブごとに検出できるので、真空度
の低下を精度よくかつ各相ごとに検知することができ
る。さらに、外部電極を絶縁容器の器壁に埋設し、その
外部端子のみが絶縁容器の外側に露出するように配設す
ることにより、一対の端板に対して十分な沿面絶縁距離
を確保できるので，外部絶縁の信頼性がより高くなる。
絶縁容器の外周部側の金属シールドの対向位置に外部電
極と、これに導電接続された分圧コンデンサを設ける構
成とすることにより、比誘電率が気体のそれより大きい
絶縁容器の静電容量を高圧コンデンサに兼用して異常放
電による金属シールドの電位上昇を分圧コンデンサの電
位上昇として真空バルブごとに検出できるので、真空度
の低下を精度よくかつ各相ごとに検知することができ
る。さらに、外部電極を絶縁容器の器壁に埋設し、その
外部端子のみが絶縁容器の外側に露出するように配設す
ることにより、一対の端板に対して十分な沿面絶縁距離
を確保できるので，外部絶縁の信頼性がより高くなる。
【００１５】
【発明の実施の形態】以下この発明を実施例に基づいて
説明する。第１図および第２図はこの発明の参考例を示
す真空度低下検出装置を含む真空バルブの断面図であ
り、第１図は閉極状態を，第２図は開極状態を示したも
のである。第１図において、真空バルブ３１の円筒状の
絶縁容器５の内側には、一対の接触子２および３を間隙
Ｌ2 を保持して包囲する金属シールド７が設けられ、絶
縁容器５の外周面には金属シールド７に対向するよう円
筒状に形成された外部電極３２が設けられ、外部電極３
２は分圧コンデンサ３３を介して接地され、分圧コンデ
ンサ３３の端子電圧ＶS は図示しない電位計により検出
される。絶縁容器５は比誘電率５ないし７程度の絶縁材
で構成されるので、金属シールド７と接触子２および３
との間の静電容量Ｃ 1 は、金属シールドと外部電極３２
との間の静電容量Ｃ2 に較べて小さく、かつ分圧コンデ
ンサ３３の静電容量ＣS はＣ1 ＜Ｃ2 ≪ＣS なる条件を
満足する大きさに設定される。したがって、定常運転時
には三相交流電力系統１１の対地電圧Ｖg は、各相真空
バルブそれぞれに、直列静電容量Ｃ1 ，Ｃ2 ，ＣS に逆
比例する形で静電容量分圧されるので、分圧コンデンサ
３３の端子電圧ＶS は微小な電圧値となる。一方真空バ
ルブ３１の真空度が１０-2Ｔｏｒｒオーダにまで低下す
ると、一対の接触子２および３と金属シールド７との間
で異常放電１０１Ｓが発生し、金属シールド７の電位が
電源系統の常規対地電圧Ｖg に上昇し、この電位Ｖg を
静電容量Ｃ2 およびＣS で静電容量分圧することにな
る。したがって分圧コンデンサ３３の端子電圧ＶS は上
昇するので、この電位上昇を電位計によって検出するこ
とによって異常放電の発生を検出でき、真空度が低下し
た真空バルブを容易に検知することができる。
説明する。第１図および第２図はこの発明の参考例を示
す真空度低下検出装置を含む真空バルブの断面図であ
り、第１図は閉極状態を，第２図は開極状態を示したも
のである。第１図において、真空バルブ３１の円筒状の
絶縁容器５の内側には、一対の接触子２および３を間隙
Ｌ2 を保持して包囲する金属シールド７が設けられ、絶
縁容器５の外周面には金属シールド７に対向するよう円
筒状に形成された外部電極３２が設けられ、外部電極３
２は分圧コンデンサ３３を介して接地され、分圧コンデ
ンサ３３の端子電圧ＶS は図示しない電位計により検出
される。絶縁容器５は比誘電率５ないし７程度の絶縁材
で構成されるので、金属シールド７と接触子２および３
との間の静電容量Ｃ 1 は、金属シールドと外部電極３２
との間の静電容量Ｃ2 に較べて小さく、かつ分圧コンデ
ンサ３３の静電容量ＣS はＣ1 ＜Ｃ2 ≪ＣS なる条件を
満足する大きさに設定される。したがって、定常運転時
には三相交流電力系統１１の対地電圧Ｖg は、各相真空
バルブそれぞれに、直列静電容量Ｃ1 ，Ｃ2 ，ＣS に逆
比例する形で静電容量分圧されるので、分圧コンデンサ
３３の端子電圧ＶS は微小な電圧値となる。一方真空バ
ルブ３１の真空度が１０-2Ｔｏｒｒオーダにまで低下す
ると、一対の接触子２および３と金属シールド７との間
で異常放電１０１Ｓが発生し、金属シールド７の電位が
電源系統の常規対地電圧Ｖg に上昇し、この電位Ｖg を
静電容量Ｃ2 およびＣS で静電容量分圧することにな
る。したがって分圧コンデンサ３３の端子電圧ＶS は上
昇するので、この電位上昇を電位計によって検出するこ
とによって異常放電の発生を検出でき、真空度が低下し
た真空バルブを容易に検知することができる。
【００１６】真空バルブ３１が第２図に示す開極状態の
場合、負荷側の接触子３はほぼ零電位となるが、真空度
が低下した場合の異常放電は極間寸法Ｌ1 に較べて大き
いギャップ長Ｌ2 を有する金属シールド７側に放電しや
すい性質を有するので、閉極状態におけると同様に異常
放電を検出することができる。なお、外部電極３２には
充電電流が流れるだけなので、絶縁容器５の外周面に沿
面絶縁距離を残した所定の幅で導電性塗膜または箔状電
極を被着することによって容易に形成でき、ことに真空
バルブ３１をＳＦ6 ガス雰囲気中に配設することによっ
てより外部絶縁の信頼性の高い真空度低下検出装置が得
られる。
場合、負荷側の接触子３はほぼ零電位となるが、真空度
が低下した場合の異常放電は極間寸法Ｌ1 に較べて大き
いギャップ長Ｌ2 を有する金属シールド７側に放電しや
すい性質を有するので、閉極状態におけると同様に異常
放電を検出することができる。なお、外部電極３２には
充電電流が流れるだけなので、絶縁容器５の外周面に沿
面絶縁距離を残した所定の幅で導電性塗膜または箔状電
極を被着することによって容易に形成でき、ことに真空
バルブ３１をＳＦ6 ガス雰囲気中に配設することによっ
てより外部絶縁の信頼性の高い真空度低下検出装置が得
られる。
【００１７】第３図はこの発明の実施例を示す要部の断
面図であり、真空バルブ４１がその絶縁容器３５に埋設
された埋込形外部電極４２を備え、分圧コンデンサを接
続するための外部端子４２Ａのみが絶縁容器３５の外側
に露出するよう構成された点が前述の参考例と異なって
おり、一対の端板４Ａ，４Ｂに対して十分な沿面絶縁距
離を確保できるので、外部絶縁の信頼性のより優れた真
空バルブとその真空度低下検出装置が得られる。
面図であり、真空バルブ４１がその絶縁容器３５に埋設
された埋込形外部電極４２を備え、分圧コンデンサを接
続するための外部端子４２Ａのみが絶縁容器３５の外側
に露出するよう構成された点が前述の参考例と異なって
おり、一対の端板４Ａ，４Ｂに対して十分な沿面絶縁距
離を確保できるので、外部絶縁の信頼性のより優れた真
空バルブとその真空度低下検出装置が得られる。
【００１８】
【発明の効果】この発明は前述のように、真空バルブの
絶縁容器に外部電極を設け、金属シールドとの間の絶縁
容器の静電容量を高圧コンデンサに兼用する構成とする
ことにより、各相真空バルブのうちいずれに真空度低下
が生じたかを容易かつ開閉いずれの状態においても検知
できる利点が得られる。さらに、外部電極を絶縁容器に
埋設し、その外部端子のみが絶縁容器の外側に露出する
ように配設することにより、外部絶縁の信頼性がより高
い真空バルブ形開閉装置とその真空度低下検出装置が得
られる。
絶縁容器に外部電極を設け、金属シールドとの間の絶縁
容器の静電容量を高圧コンデンサに兼用する構成とする
ことにより、各相真空バルブのうちいずれに真空度低下
が生じたかを容易かつ開閉いずれの状態においても検知
できる利点が得られる。さらに、外部電極を絶縁容器に
埋設し、その外部端子のみが絶縁容器の外側に露出する
ように配設することにより、外部絶縁の信頼性がより高
い真空バルブ形開閉装置とその真空度低下検出装置が得
られる。
【図１】この発明の参考例を示す閉極状態における断面
図
図
【図２】この発明の参考例を示す開極状態における断面
図
図
【図３】この発明の実施例を示す要部の断面図
【図４】真空バルブの真空度の経年変化を示す原理的説
明図
明図
【図５】真空度センサを備えた従来の真空バルブを示す
概略断面図
概略断面図
【図６】真空バルブの真空度対極間フラッシオーバ特性
線図
線図
【図７】第１の従来技術を示す構成図
【図８】第２の従来技術を示す構成図
【図９】第３の従来技術を示す構成図
【図１０】第４の従来技術を示す構成図
１，３１，４１…真空バルブ、２，３…接触子、４Ａ，
４Ｂ…端板、５，３５…絶縁容器、７…金属シールド、
１０…真空度センサ、１１…電源系統、１２…負荷系
統、１６…高圧コンデンサ、１８，３３…分圧コンデン
サ、３２…外部電極、４２…埋込形外部電極、１００…
極間異常放電、１００Ｓ…金属シールドへの異常放電。
４Ｂ…端板、５，３５…絶縁容器、７…金属シールド、
１０…真空度センサ、１１…電源系統、１２…負荷系
統、１６…高圧コンデンサ、１８，３３…分圧コンデン
サ、３２…外部電極、４２…埋込形外部電極、１００…
極間異常放電、１００Ｓ…金属シールドへの異常放電。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 柴田 和郎 神奈川県川崎市川崎区田辺新田１番１号 富士電機株式会社内 (72)発明者 鈴木 伸夫 神奈川県川崎市川崎区田辺新田１番１号 富士電機株式会社内 (56)参考文献 特開 昭52−86165（ＪＰ，Ａ) 特開 昭49−59974（ＪＰ，Ａ) (58)調査した分野(Int.Cl.6，ＤＢ名) H01H 33/66
Claims (1)
- 【請求項１】三相交流電力系統に接続された開閉装置の
真空バルブが絶縁容器と、この絶縁容器の一方の端部に
結合された端板によって支持された固定接触子と、前記
絶縁容器の他方の端部に結合された端板および金属ベロ
ーにより支持された可動接触子とを備え、前記絶縁容器
内部に前記両接触子との間に真空ギャップを保持して同
心状に配された金属シールドを持ち、前記真空バルブの
真空度の低下を前記両接触子と金属シールドとの間の異
常放電により検出するものにおいて、前記絶縁容器の器
壁に埋設されて前記金属シールドに対向するよう絶縁支
持されるとともにその外部端子のみが前記絶縁容器の外
側に露出するように配設された外部電極と、この外部電
極と大地間に接続された分圧コンデンサとを備え、前記
異常放電を前記分圧コンデンサの端子電圧により検出す
ることを特徴とする真空バルブ形開閉装置の真空度低下
検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9175071A JP2885233B2 (ja) | 1989-10-04 | 1997-07-01 | 真空バルブ形開閉装置の真空度低下検出装置 |
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP25935089 | 1989-10-04 | ||
| JP1-259350 | 1989-10-04 | ||
| JP9175071A JP2885233B2 (ja) | 1989-10-04 | 1997-07-01 | 真空バルブ形開閉装置の真空度低下検出装置 |
Related Parent Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2051053A Division JP2705266B2 (ja) | 1989-10-04 | 1990-03-02 | 真空バルブ形開閉装置の真空度低下検出装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH1092277A JPH1092277A (ja) | 1998-04-10 |
| JP2885233B2 true JP2885233B2 (ja) | 1999-04-19 |
Family
ID=26496449
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9175071A Expired - Fee Related JP2885233B2 (ja) | 1989-10-04 | 1997-07-01 | 真空バルブ形開閉装置の真空度低下検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2885233B2 (ja) |
Families Citing this family (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP4686555B2 (ja) * | 2008-01-09 | 2011-05-25 | 株式会社日立製作所 | 真空開閉装置 |
| JP5501263B2 (ja) * | 2010-03-25 | 2014-05-21 | 株式会社日立製作所 | 真空絶縁開閉器及び真空絶縁スイッチギヤ |
| FR2968827B1 (fr) * | 2010-12-09 | 2012-12-21 | Schneider Electric Ind Sas | Dispositif de detection de la perte de vide dans un appareil de coupure a vide et appareil de coupure a vide comportant un tel dispositif |
| FR3036843A1 (fr) * | 2015-05-28 | 2016-12-02 | Schneider Electric Ind Sas | Dispositif de surveillance de decharges partielles dans un reseau electrique |
| CN106611680B (zh) * | 2015-10-23 | 2019-08-23 | 北京瑞恒新源投资有限公司 | 带真空灭弧室的多功能电容型套管 |
-
1997
- 1997-07-01 JP JP9175071A patent/JP2885233B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH1092277A (ja) | 1998-04-10 |
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