JP2850831B2 - Debug device - Google Patents

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JP2850831B2
JP2850831B2 JP8033867A JP3386796A JP2850831B2 JP 2850831 B2 JP2850831 B2 JP 2850831B2 JP 8033867 A JP8033867 A JP 8033867A JP 3386796 A JP3386796 A JP 3386796A JP 2850831 B2 JP2850831 B2 JP 2850831B2
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Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明はデバッグ装置に関
し、特にエミュレーション機能を有するデバッグ装置に
関する。
The present invention relates to a debugging device, and more particularly, to a debugging device having an emulation function.

【0002】[0002]

【従来の技術】一般に、マイクロプロセッサを応用した
システムの設計,開発時のデバッグには、エミュレーシ
ョン機能を有するデバッグ装置を使用する。これらのデ
バッグ装置はデバッグ対象システム(ターゲットシステ
ム)の代替メモリとなるエミュレーションメモリを内蔵
しており、システム開発段階において、上記ターゲット
システムのメモリが使用できないような場合、上記エミ
ュレーションメモリを代替に使用する。このとき、エミ
ュレーションメモリがターゲットシステムに採用されて
いるDRAMよりも低速である場合を考慮し、上記エミ
ュレーションメモリアクセス時は、バスサイクルの終了
を制御するターゲットシステムからのレディ信号をマス
クしエミュレータ内部で生成したレディ信号を用いるこ
とにより、所要のアクセス時間を確保していた。
2. Description of the Related Art Generally, a debugging device having an emulation function is used for debugging at the time of designing and developing a system to which a microprocessor is applied. These debugging devices incorporate an emulation memory that is a substitute memory for a debug target system (target system). In a system development stage, if the memory of the target system cannot be used, the emulation memory is used instead. . At this time, in consideration of the case where the emulation memory is slower than the DRAM employed in the target system, at the time of the above emulation memory access, the ready signal from the target system for controlling the end of the bus cycle is masked and the emulation memory is internally processed. The required access time is secured by using the generated ready signal.

【0003】この種のデバッグ装置では、デバッグ装置
内蔵のエミュレーションメモリを用いてデバッグを行う
が、デバッグの実行の前後にはターゲットシステムを動
作させている。つまり、ターゲットシステム内のDRA
Mに記憶したデータを破壊してしまってはデバッグ終了
後にこのターゲットシステムを用いた動作が不可能にな
る。したがって、エミュレーション実行中、上記DRA
Mを使用しなくてもこれをリフレッシュする必要があ
る。しかし、後述のCBRリフレッシュなどのレディ信
号を用いてバスサイクルを延長することによりリフレッ
シュを実現している従来のこの種のデバッグ装置では、
エミュレーション実行時に上記バスサイクルの延長がで
きず上記DRAMの記憶データが破壊されてしまうとい
う不具合があった。
In this type of debugging device, debugging is performed using an emulation memory built in the debugging device, and a target system is operated before and after execution of debugging. That is, the DRA in the target system
If the data stored in M is destroyed, operation using this target system becomes impossible after the end of debugging. Therefore, during emulation, the DRA
This needs to be refreshed without using M. However, in a conventional debug device of this type, which realizes refresh by extending a bus cycle using a ready signal such as CBR refresh described later,
There is a problem that the bus cycle cannot be extended during the emulation and the data stored in the DRAM is destroyed.

【0004】DRAMを使用したターゲットシステム2
をデバッグする従来のデバッグ装置1をブロックで示す
図4を参照すると、この従来のデバッグ装置1は、バス
サイクル開始信号BCYSTを出力してバスサイクルを
開始しレディ信号IRDYの供給に応答してバスサイク
ルを終了するマイクロプロセッサ11と、デバッグ中の
ターゲットシステムのDRAM22の代替メモリである
エミュレーションメモリ12と、ORゲートO11と、
ANDゲートA11とを備える。
[0004] Target system 2 using DRAM
Referring to FIG. 4, which shows a block diagram of a conventional debugging device 1 for debugging a program, the conventional debugging device 1 outputs a bus cycle start signal BCYST to start a bus cycle, and responds to the supply of a ready signal IRDY. A microprocessor 11 for ending the cycle, an emulation memory 12 which is a substitute memory for the DRAM 22 of the target system being debugged, an OR gate O11,
And an AND gate A11.

【0005】ターゲットシステム2は、主メモリである
DRAM21と、DRAMの書込,読出制御用のDRA
M制御回路22と、レディ信号を出力するレディ信号出
力回路23とを備える。
The target system 2 includes a DRAM 21 as a main memory and a DRA for controlling writing and reading of the DRAM.
An M control circuit 22 and a ready signal output circuit 23 that outputs a ready signal are provided.

【0006】次に、図4を参照して従来のデバッグ装置
の動作について説明すると、まず、システムクロック信
号CLKの供給に応答して動作するマイクロプロセッサ
11は、アクティブ状態がLレベルのバスサイクル開始
信号BCYSTを出力することでバスサイクルを開始
し、レディ信号IRDYの供給に応答してバスサイクル
を終了する。DRAM21を搭載したターゲットシステ
ム2は、信号BCYSTをDRAM制御回路22で受
け、DRAM制御回路22は信号BCYSTの供給に応
答して、ロウアドレスストローブ信号RAS,およびカ
ラムアドレスストローブ信号CASをDRAM21へ供
給する。DRAM21は、供給を受けた信号RAS,C
ASの各々の立ち下がりで、行アドレスおよび列アドレ
スをそれぞれラッチしメモリアクセスする。また、DR
AM制御回路22は、レディ信号出力回路23に対して
レディ信号の出力を許可するレディエネーブル信号RD
YENを出力し、この信号RDYENの供給に応答して
レディ信号出力回路23はレディ信号TRDYを出力す
る。
Next, the operation of the conventional debug device will be described with reference to FIG. 4. First, the microprocessor 11 operating in response to the supply of the system clock signal CLK starts the bus cycle in which the active state is at the L level. The bus cycle is started by outputting signal BCYST, and the bus cycle is ended in response to supply of ready signal IRDY. In the target system 2 equipped with the DRAM 21, the signal BCYST is received by the DRAM control circuit 22, and the DRAM control circuit 22 supplies the row address strobe signal RAS and the column address strobe signal CAS to the DRAM 21 in response to the supply of the signal BCYST. . The DRAM 21 receives the supplied signals RAS, C
At each fall of AS, a row address and a column address are respectively latched and memory access is performed. Also, DR
The AM control circuit 22 outputs a ready enable signal RD for permitting the ready signal output circuit 23 to output a ready signal.
YEN is output, and the ready signal output circuit 23 outputs the ready signal TRDY in response to the supply of the signal RDYEN.

【0007】次に、アクティブ状態でHレベルとなるマ
スク信号MASKは、マイクロプロセッサ11のブレー
ク中、またはエミュレーションメモリのアクセス時にア
クティブ状態となり、このマスク信号MASKのアクテ
ィブ化に応答してANDゲートA11はレディ信号TR
DYをマスクする。ORゲートO11は、ANDゲート
A11の出力とエミュレーションメモリ12が出力する
レディ信号ERDYとのORを取り、マイクロプロセッ
サ11に供給するレディ信号IRDYを出力する。
Next, the mask signal MASK which becomes H level in the active state becomes active during the break of the microprocessor 11 or at the time of accessing the emulation memory, and in response to the activation of the mask signal MASK, the AND gate A11 becomes active. Ready signal TR
DY is masked. The OR gate O11 performs an OR operation on the output of the AND gate A11 and the ready signal ERDY output from the emulation memory 12, and outputs a ready signal IRDY to be supplied to the microprocessor 11.

【0008】周知のように、DRAMの通常のメモリア
クセスでは、RAS信号を先にアクティブとしてからC
AS信号をアクティブとする。RAS信号より先にCA
S信号をアクティブにすることにより、デバイスに内蔵
されたリフレッシュアドレスカウンタを自動的にカウン
トアップさせるリフレッシュ動作をCBRリフレッシュ
という。
As is well known, in a normal memory access of a DRAM, the RAS signal is first activated before the C signal is activated.
The AS signal is activated. CA before RAS signal
A refresh operation that automatically counts up a refresh address counter built in the device by activating the S signal is called CBR refresh.

【0009】デバッグ装置1およびターゲットシステム
2のCBRリフレッシュ動作をタイムチャートで示す図
5を併せて参照して従来のデバッグ装置の動作について
説明すると、システムクロック信号CLKに同期し、信
号BCYSTが1クロック間アクティブとなってバスサ
イクルを開始し、次に信号IRDYがアクティブとなる
ことにより、この1回のバスサイクルが終結する。信号
BCYSTのアクティブ状態の期間をT1サイクル、そ
の後、バスサイクルが終了するまでの期間をT2サイク
ルと呼ぶ。
The operation of the conventional debug device will be described with reference to FIG. 5 which is a timing chart showing the CBR refresh operation of the debug device 1 and the target system 2. The signal BCYST is synchronized with the system clock signal CLK by one clock. During this time, the bus cycle is started, and then the signal IRDY becomes active, thereby ending this one bus cycle. A period during which the signal BCYST is in the active state is called a T1 cycle, and a period until the bus cycle ends is called a T2 cycle.

【0010】図5の最初のバスサイクルは、通常のメモ
リアクセスにリフレッシュ動作が挿入されている。DR
AM制御回路22は、2回目のT2サイクルの開始時に
信号RDYENをインアクティブにし、レディ信号出力
回路23に信号TRDYの出力を待たせ、信号RASよ
り前から信号CASをアクティブのままにして、DRA
M21にリフレッシュ動作の開始を伝える。3クロック
後にリフレッシュは終了し、信号RDYENはアクティ
ブとなり、レディ信号出力回路23は信号TRDYを出
力する。通常メモリアクセス時なのでマスク信号MAS
Kはインアクティブであり、信号IRDYとして信号T
RDYが供給され、このバスサイクルは終了する。
In the first bus cycle shown in FIG. 5, a refresh operation is inserted in a normal memory access. DR
The AM control circuit 22 makes the signal RDYEN inactive at the start of the second T2 cycle, causes the ready signal output circuit 23 to wait for the output of the signal TRDY, and keeps the signal CAS active before the signal RAS, and
The start of the refresh operation is notified to M21. After three clocks, the refresh ends, the signal RDYEN becomes active, and the ready signal output circuit 23 outputs the signal TRDY. Normally at the time of memory access, the mask signal MAS
K is inactive, and the signal T
RDY is supplied and the bus cycle ends.

【0011】次のバスサイクルは、エミュレーションメ
モリアクセス時である。通常メモリアクセス同様、2回
目のT2サイクルの開始で信号RDYENはインアクテ
ィブとなり、DRAM制御回路22はリフレッシュの開
始を宣言し、信号RASより前から信号CASをアクテ
ィブにする。しかし、エミュレーションメモリアクセス
時であるためマスク信号MASKはアクティブとなり、
信号TRDYはマスクされ、信号IRDYとして信号E
RDYが選択される。信号ERDYはDRAM制御回路
22とは無関係に出力されるため、信号RDYENがイ
ンアクティブ時でも信号IRDYは出力され、上記リフ
レッシュ動作が終わらないうちにバスサイクルを終了さ
せてしまう。その結果、DRAM21はリフレッシュ途
中状態のまま終了してしまい、データが破壊されてしま
う。
The next bus cycle is at the time of emulation memory access. As in the normal memory access, the signal RDYEN becomes inactive at the start of the second T2 cycle, the DRAM control circuit 22 declares the start of refresh, and activates the signal CAS before the signal RAS. However, since the emulation memory is being accessed, the mask signal MASK becomes active,
The signal TRDY is masked, and the signal E
RDY is selected. Since the signal ERDY is output independently of the DRAM control circuit 22, the signal IRDY is output even when the signal RDYEN is inactive, and the bus cycle ends before the refresh operation is completed. As a result, the DRAM 21 ends in the state of being refreshed, and the data is destroyed.

【0012】[0012]

【発明が解決しようとする課題】上述した従来のデバッ
グ装置は、エミュレーションメモリがターゲットシステ
ムに採用されているDRAMよりも低速である場合を考
慮し、エミュレーションメモリアクセス時は、アクセス
時間確保のためバスサイクルの終了を制御するターゲッ
トシステムからのレディ信号をマスクするので、このタ
ーゲットシステムのレディ信号の操作によるリフレッシ
ュ動作の挿入が出来ず、上記DRAMのデータを破壊し
てしまうという欠点があった。
The above-mentioned conventional debugging device considers the case where the emulation memory is slower than the DRAM employed in the target system. Since the ready signal from the target system for controlling the end of the cycle is masked, a refresh operation cannot be inserted by operating the ready signal of the target system, and there is a disadvantage that the data in the DRAM is destroyed.

【0013】[0013]

【課題を解決するための手段】本発明のデバッグ装置
は、バスサイクルを制御するエミュレーションマイクロ
プロセッサとデバッグ対象システムの主メモリの代替メ
モリとなるエミュレーションメモリとを備えマイクロプ
ロセッサを対象としたエミュレーション機能を有し、前
記エミュレーションマイクロプロセッサが第1のレディ
信号の供給に応答して前記バスサイクルの終了を制御す
るデバッグ装置において、前記デバッグ対象システムが
出力する第2のレディ信号と前記デバッグ装置内で生成
する第3のレディ信号の各々の活性化タイミングを比較
し予め定めたタイミング関係であることを検出してこれ
ら第,第のレディ信号のいずれか一方あるいは両方
を選択し前記第1のレディ信号として出力するレディ信
号選択回路を備えて構成されている。
SUMMARY OF THE INVENTION A debugging device according to the present invention includes an emulation microprocessor for controlling a bus cycle and an emulation memory serving as a substitute memory for a main memory of a system to be debugged. A debug device, wherein the emulation microprocessor controls the end of the bus cycle in response to the supply of a first ready signal, wherein a second ready signal output by the debug target system and a second ready signal generated in the debug device are generated. The activation timing of each of the third ready signals to be activated is compared with each other to detect a predetermined timing relationship, and either or both of the second and third ready signals are selected, and the first ready signal is selected. It includes a Rede I signal selection circuit for outputting a signal It is configured.

【0014】[0014]

【発明の実施の形態】次に、本発明の実施の形態を図4
と共通の構成要素には共通の参照文字/数字を付して同
様にブロックで示す図1を参照すると、この図に示す本
実施の形態のデバッグ装置1Aは、従来と共通のマイク
ロプロセッサ11と、エミュレーションメモリ12とに
加えて、レディ信号TRDY,ERDYの各々のアクテ
ィブ化タイミングを比較し信号TRDYの方が後の場合
はこの信号TRDYを信号ERDYの方が後の場合はこ
の信号ERDYを両信号TRDY,ERDYが同時の場
合はこれら信号TRDY,ERDYを信号IRDYとし
てそれぞれ選択するレディ信号選択回路13を備える。
FIG. 4 shows an embodiment of the present invention.
Referring to FIG. 1, in which common components are denoted by common reference characters / numerals and similarly indicated by blocks, a debugging device 1A of this embodiment shown in FIG. In addition to the emulation memory 12, the activation timings of the ready signals TRDY and ERDY are compared. If the signal TRDY is later, the signal TRDY is compared with the signal ERDY if the signal ERDY is later. When the signals TRDY and ERDY are simultaneous, a ready signal selection circuit 13 for selecting these signals TRDY and ERDY as the signal IRDY is provided.

【0015】レディ信号選択回路13の詳細な回路図を
示す図2を参照すると、このレディ信号選択回路13
は、エミュレーションレディ信号ERDYの活性化の方
が後であることを検出して信号UERDYを生成するエ
ミュレーションレディ選択回路31と、ターゲットデレ
ィ信号TRDYの活性化の方が後であることを検出して
信号UTRDYを生成するターゲットレディ選択回路3
2と、信号UERDY,UTRDYの論理和をとり信号
IRDYを出力する出力回路33とを備える。
Referring to FIG. 2 showing a detailed circuit diagram of the ready signal selection circuit 13,
The emulation ready selection circuit 31 detects that the activation of the emulation ready signal ERDY is later and generates the signal UERDY, and detects that the activation of the target delay signal TRDY is later. Ready selection circuit 3 for generating signal UTRDY
2 and an output circuit 33 that takes the logical sum of the signals UERDY and UTRDY and outputs a signal IRDY.

【0016】エミュレーションレディ選択回路31は、
信号BTRDYとSERDYとの否定論理和(NOR)
演算を行い信号STRRSTを出力するNORゲートN
31と、セット入力に信号STRRSTの供給を受けク
ロック入力に信号BCYSTの供給を受け信号STRD
Yを出力するフリップフロップF31と、信号STRD
Yと信号ERDYとの論理積(AND)演算を行い信号
UERDYを出力するANDゲートA31とを備える。
The emulation ready selection circuit 31
NOR of signals BTRDY and SERDY (NOR)
NOR gate N for performing operation and outputting signal STRRST
31, a signal STRST supplied to the set input and a signal STRD supplied to the clock input and the signal BCYST supplied to the clock input
A flip-flop F31 for outputting Y and a signal STRD
An AND gate A31 that performs a logical product (AND) operation of Y and the signal ERDY and outputs a signal UERDY.

【0017】ターゲットレディ選択回路32は、信号T
RDYを反転して反転レディ信号BTRDYを出力する
インバータI31と、信号BTRDY,ERDYのAN
D演算を行い信号EATRDYを出力するANDゲート
A32と、信号BCYSTを反転し反転信号BBCYS
Tを出力するインバータI32と、クロック入力に信号
EATRDYをリセット入力に信号BBCYSTの供給
を受け信号SERDYを出力するフリップフロップF3
2と、信号SERDY,TRDYのAND演算を行い信
号UTRDYを出力するANDゲートA23とを備え
る。
The target ready selection circuit 32 outputs the signal T
An inverter I31 that inverts RDY and outputs an inverted ready signal BTRDY, and an AND signal BTRDY and ERDY
An AND gate A32 that performs a D operation and outputs a signal EATRDY, and an inverted signal BBCYS by inverting the signal BCYST.
An inverter I32 for outputting T, a flip-flop F3 for receiving the signal EACY in the clock input and supplying the signal BBCYST in the reset input and outputting the signal SERDY.
2 and an AND gate A23 that performs an AND operation on the signals SERDY and TRDY and outputs a signal UTRDY.

【0018】出力回路33は、信号UERDY,UTR
DYのOR演算を行い信号IRDYを出力するORゲー
トO31を備える。
The output circuit 33 outputs the signals UERDY, UTR
An OR gate O31 that performs an OR operation of DY and outputs a signal IRDY is provided.

【0019】次に、図2を参照して本実施の形態のレデ
ィ信号選択回路13の動作について説明すると、ターゲ
ットレディ選択回路32のANDゲートA32は、イン
バータI31の出力の反転信号BTRDYと信号ERD
Yとの論理積をとり、信号ERDYのアクティブな間ア
クティブとなる信号EATRDYを出力する。フリップ
フロップF32は、信号EATRDYの立上がりエッヂ
でHレベルの信号SERDYを出力する。信号SERD
Yは、信号BBCYSTがHレベルとなった時リセット
される。つまり、信号SERDYは、信号ERDYが単
独でアクティブになってから、次のバスサイクルの開始
点までアクティブHレベルとなる信号である。
Next, the operation of the ready signal selection circuit 13 according to the present embodiment will be described with reference to FIG. 2. The AND gate A32 of the target ready selection circuit 32 includes an inverted signal BTRDY of the output of the inverter I31 and a signal ERD.
A logical AND with Y is taken, and an active signal EATRDY is output while the signal ERDY is active. Flip-flop F32 outputs H-level signal SERDY at the rising edge of signal EATRDY. Signal SERD
Y is reset when the signal BBCYST becomes H level. That is, the signal SERDY is a signal that becomes active H level until the start point of the next bus cycle after the signal ERDY becomes active alone.

【0020】エミュレーションレディ選択回路31のN
ORゲートN31は、信号BTRDと信号SERDYの
NOR演算結果として信号STRRSTを出力する。フ
リップフロップF31は、信号STRRSTをセット信
号とし信号BCYSTの立下がり時にLレベルとなる信
号STRDYを出力しANDゲートA31に供給する。
ANDゲートA31は、信号STRDYと信号ERDY
のANDをとり信号UERDYを出力する。出力回路3
3のORゲートO31は、信号UERDYと信号UTR
DYの論理和をとり、信号IRDYを生成しマイクロプ
ロセッサ11へ供給する。
N of the emulation ready selection circuit 31
OR gate N31 outputs signal STRRST as a result of a NOR operation of signal BTRD and signal SERDY. The flip-flop F31 uses the signal STRRST as a set signal, outputs a signal STRDY which becomes L level when the signal BCYST falls, and supplies the signal STRDY to the AND gate A31.
The AND gate A31 outputs the signal STRDY and the signal ERDY.
And outputs a signal UERDY. Output circuit 3
The three OR gates O31 are provided with a signal UERDY and a signal UTR.
The logical sum of DY is calculated, and a signal IRDY is generated and supplied to the microprocessor 11.

【0021】次に、各部の動作波形をタイムチャートで
示す図3を併せて参照して動作を説明すると、図3
(A)は信号TRDYが先にアクティブとなり遅れて信
号ERDYがアクティブとなった場合の動作を示し、1
番目のクロック信号CLKの立上がりで、バスサイクル
開始信号BCYSTがアクティブとなる。フリップフロ
ップF32は、信号BCYSTの立ち下がりでリセット
され、フリップフロップF32の出力する信号SERD
Yは、Lレベルになる。2番目のクロック信号CLKの
立上がりで、信号BCYSTはインアクティブとなる。
フリップフロップF31は、信号BCYSTをクロック
信号としその立上がりでLレベルの信号を保持し、その
出力信号STRDYはLレベルとなる。3番目のクロッ
ク信号CLKの立上がりで、まず、信号TRDYが先行
してアクティブとなる。信号STRRSTは信号BTR
DY,SERDYの論理和の反転値であり、信号SER
DYがLレベルのため信号TRDYがアクティブの間ア
クティブとなる。フリップフロップF31はセット入力
信号STRRSTのアクティブへの遷移に応答して出力
信号STRDYをHレベルにセットする。4番目のクロ
ック信号CLKの立上がりで信号ERDYがアクティブ
になり、信号TRDYはインアクティブになる。信号E
ATRDYは信号BTRDY,ERDYの論理積なの
で、信号ERDYがアクティブの間アクティブとなる。
フリップフロップF32は信号EATRDYの立上がり
でHレベルの信号を保持するので、出力信号SERDY
は、信号BCYSTがアクティブとなる次のバスサイク
ルの開始までアクティブ状態を保持する。信号STRD
Yは、信号BCYSTが立ち上がるまで保持されるの
で、信号STRDY,ERDYの論理積である信号UE
RDYは、信号ERDYがアクティブの間アクティブと
なる。信号UTRDYは信号SERDY,TRDYの論
理積なのでインアクティブのままである。よって、出力
回路33がマイクロプロセッサ11に供給する信号IR
DYは、信号UERDY,UTRDYの論理積なので、
信号UERDYがアクティブの間アクティブとなる。
Next, the operation will be described with reference to FIG.
(A) shows the operation when the signal TRDY becomes active first and the signal ERDY becomes active later.
At the rise of the second clock signal CLK, the bus cycle start signal BCYST becomes active. The flip-flop F32 is reset at the fall of the signal BCYST, and the signal SERD output from the flip-flop F32 is output.
Y goes to L level. At the rising of the second clock signal CLK, the signal BCYST becomes inactive.
Flip-flop F31 uses signal BCYST as a clock signal, holds a signal at L level at the rising edge, and its output signal STRDY attains L level. At the rising of the third clock signal CLK, first, the signal TRDY becomes active first. The signal STRRST is the signal BTR
It is the inverted value of the logical sum of DY and SERDY, and the signal SER
Since DY is at the L level, it becomes active while the signal TRDY is active. Flip-flop F31 sets output signal STRDY to H level in response to transition of set input signal STRRST to active. The signal ERDY becomes active at the rising of the fourth clock signal CLK, and the signal TRDY becomes inactive. Signal E
Since ATRDY is the logical product of the signals BTRDY and ERDY, it is active while the signal ERDY is active.
Since the flip-flop F32 holds the signal at the H level at the rise of the signal EATRDY, the output signal SERDY is output.
Holds the active state until the start of the next bus cycle in which the signal BCYST becomes active. Signal STRD
Since Y is held until the signal BCYST rises, the signal UE which is the logical product of the signals STRDY and ERDY
RDY is active while signal ERDY is active. Since the signal UTRDY is a logical product of the signals SERDY and TRDY, the signal UTRDY remains inactive. Therefore, the signal IR supplied from the output circuit 33 to the microprocessor 11
Since DY is the logical product of the signals UERDY and UTRDY,
Active while signal UERDY is active.

【0022】次に、信号ERDYが先にアクティブにな
り信号TRDYが遅れてアクティブとなった場合の動作
をタイムチャートで示す図3(B)を参照すると、1番
目のクロック信号CLKの立上がりでバスサイクル開始
信号BCYSTがアクティブとなリ、信号SERDY
は、この信号BCYSTの立下がりでリセットされる。
2番目のクロック信号CLKの立上がりで信号STRD
Yはリセットされる。3番目のクロック信号CLKの立
上がりで信号ERDYが先にアクティブとなると、信号
EATRDYは信号TRDYがインアクティブなので信
号ERDYがアクティブの間アクティブとなる。信号E
ATRDYの立上がりでフリップフロップF32の出力
信号SERDYはHレベルとなり、次のバスサイクルの
開始まで保持される。信号SERDY,BTRDYの否
定論理和である信号STRRSTはインアクティブのま
まであるので、信号STRDYはLレベル状態が保持さ
れたままとなる。よって、信号UERDYはアクティブ
にならない。上述のように、信号UTRDYは信号SE
RDY,TRDYの論理積であり、信号SERDYは信
号ERDYのアクティブ化後、次のバスサイクルの開始
までアクティブであるので、信号TRDYがアクティブ
の間アクティブとなる。よって、出力信号IRDYは、
信号UTRDYがアクティブの間アクティブになる。
Next, referring to FIG. 3B which is a time chart showing the operation when signal ERDY becomes active first and signal TRDY becomes active with a delay, the bus rises at the rising edge of the first clock signal CLK. When the cycle start signal BCYST becomes active, the signal SERDY
Is reset at the fall of the signal BCYST.
The signal STRD at the rising of the second clock signal CLK
Y is reset. When the signal ERDY becomes active first at the rising of the third clock signal CLK, the signal EATRDY becomes active while the signal ERDY is active because the signal TRDY is inactive. Signal E
At the rise of ATRDY, output signal SERDY of flip-flop F32 attains H level and is held until the start of the next bus cycle. Since the signal STRRST, which is the NOR of the signals SERDY and BTRDY, remains inactive, the signal STRDY remains at the L level. Therefore, the signal UERDY does not become active. As described above, the signal UTRDY is the signal SE
Since the signal SERDY is active until the start of the next bus cycle after the activation of the signal ERDY, the signal SERDY is active while the signal TRDY is active. Therefore, the output signal IRDY is
Active while signal UTRDY is active.

【0023】次に、信号ERDY,TRDYが同時にア
クティブとなった場合の動作をタイムチャートで示す図
3(C)を参照すると、1番目のクロック信号CLKの
立上がりで信号BCYSTがアクティブとなり、この信
号BCYSTの立下がりでリセットされる信号SERD
Yはインアクティブとなる。2番目のクロック信号CL
Kの立上がりで、信号BCYSTがインアクティブとな
り、信号BCYSTの立上がりで信号STRDYはイン
アクティブとなる。3番目のクロック信号CLKの立上
がりで信号TRDY,ERDYが同時にアクティブとな
る。したがって、信号EATRDYはインアクティブの
ままである。よって、この信号EATRDYをクロック
信号とするフリップフロップF32の出力信号SERD
Yもインアクティブのままである。この結果、信号ST
RRSTは信号TRDYがアクティブの間アクティブと
なる。信号STRRSTでセットされるフリップフロッ
プF31の出力信号STRDYはアクティブとなり、次
のバスサイクルのT1サイクルの終わりまで保持され
る。信号STRDY,ERDYの論理積の信号UERD
Yは、信号ERDYがアクティブの間アクティブとな
る。一方、信号SERDY,TRDYの論理積の信号U
TRDYはインアクティブのままである。よって、出力
信号IRDYは、信号UERDYがアクティブの間アク
ティブとなる。
Next, referring to FIG. 3C showing a time chart of the operation when the signals ERDY and TRDY are simultaneously activated, the signal BCYST becomes active at the rising edge of the first clock signal CLK. Signal SERD reset at the falling edge of BCYST
Y becomes inactive. Second clock signal CL
At the rise of K, the signal BCYST becomes inactive, and at the rise of the signal BCYST, the signal STRDY becomes inactive. At the rising of the third clock signal CLK, the signals TRDY and ERDY are simultaneously activated. Therefore, the signal EATRDY remains inactive. Therefore, the output signal SERD of the flip-flop F32 using the signal EATRDY as a clock signal
Y also remains inactive. As a result, the signal ST
RRST is active while signal TRDY is active. The output signal STRDY of the flip-flop F31 set by the signal STRRST becomes active and is held until the end of the T1 cycle of the next bus cycle. Signal EARD of AND of signals STRDY and ERDY
Y is active while signal ERDY is active. On the other hand, the signal U of the logical product of the signals SERDY and TRDY
TRDY remains inactive. Therefore, the output signal IRDY is active while the signal UERDY is active.

【0024】このように、信号TRDYと信号ERDY
の各々のタイミングの前後に対応して、後にアクティブ
となった信号を出力レディ信号IRDYとして選択す
る。
As described above, the signal TRDY and the signal ERDY
In response to the timing before and after each of the timings, a signal that has become active later is selected as the output ready signal IRDY.

【0025】[0025]

【発明の効果】以上説明したように、本発明のデバッグ
装置は、レディ信号TRDY,ERDYの各々の活性化
タイミングを比較し所定のタイミング関係であることを
検出してこれら信号TRDY,ERDYのいずれか一方
あるいは両方を選択しレディ信号IRDYとして出力す
るレディ信号選択回路を備えているので、通常のエミュ
レーションメモリアクセス時にはデバッグ装置内のレデ
ィ信号ERDYを使用し、リフレッシュのためのバスサ
イクル延長時にはターゲットシステムのレディ信号TR
DYを有効としたため、デバッグ装置の性能を悪くする
ことなく、エミュレーションメモリアクセス中でもCB
Rリフレッシュを正常に行うことが出来るという効果が
ある。
As described above, the debugging device of the present invention compares the activation timings of the ready signals TRDY and ERDY, detects that they are in a predetermined timing relationship, and detects any of these signals TRDY and ERDY. A ready signal selection circuit for selecting one or both of them and outputting it as a ready signal IRDY is provided, so that the ready signal ERDY in the debug device is used during normal emulation memory access, and the target system is used during extended bus cycles for refresh. Ready signal TR
Since DY is enabled, the CB can be used during emulation memory access without deteriorating the performance of the debug device.
There is an effect that R refresh can be performed normally.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明のデバッグ装置の一実施の形態を示すブ
ロック図である。
FIG. 1 is a block diagram showing an embodiment of a debugging device according to the present invention.

【図2】本実施の形態のレディ信号選択回路の構成を示
す回路図である。
FIG. 2 is a circuit diagram showing a configuration of a ready signal selection circuit of the present embodiment.

【図3】本実施の形態のデバッグ装置における動作の一
例を示すタイムチャートである。
FIG. 3 is a time chart illustrating an example of an operation in the debugging device according to the present embodiment;

【図4】従来のデバッグ装置の一例を示すブロック図で
ある。
FIG. 4 is a block diagram illustrating an example of a conventional debugging device.

【図5】従来のデバッグ装置の動作の一例を示すタイム
チャートである。
FIG. 5 is a time chart showing an example of the operation of the conventional debugging device.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 デバッグ装置 2 ターゲットシステム 11 マイクロプロセッサ 12 エミュレーションメモリ 13 レディ信号選択回路 21 DRAM 22 DRAM制御回路 23 レディ信号出力回路 31 エミュレーションレディ選択回路 32 ターゲットデレィ処理回路 33 出力回路 A11,A31〜A33 AND回路 F31,F32 フリッププロップ I31,I32 インバータ N31 NOR回路 O11,O31 OR回路 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Debugger 2 Target system 11 Microprocessor 12 Emulation memory 13 Ready signal selection circuit 21 DRAM 22 DRAM control circuit 23 Ready signal output circuit 31 Emulation ready selection circuit 32 Target delay processing circuit 33 Output circuit A11, A31-A33 AND circuit F31 , F32 Flip prop I31, I32 Inverter N31 NOR circuit O11, O31 OR circuit

Claims (3)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 バスサイクルを制御するエミュレーショ
ンマイクロプロセッサとデバッグ対象システムの主メモ
リの代替メモリとなるエミュレーションメモリとを備え
マイクロプロセッサを対象としたエミュレーション機能
を有し、前記エミュレーションマイクロプロセッサが第
1のレディ信号の供給に応答して前記バスサイクルの終
了を制御するデバッグ装置において、 前記デバッグ対象システムが出力する第2のレディ信号
と前記デバッグ装置内で生成する第3のレディ信号の各
々の活性化タイミングを比較し予め定めたタイミング関
係であることを検出してこれら第,第のレディ信号
のいずれか一方あるいは両方を選択し前記第1のレディ
信号として出力するレディ信号選択回路を備えることを
特徴とするデバッグ装置。
1. An emulation microprocessor for controlling a bus cycle and an emulation memory serving as a substitute memory for a main memory of a system to be debugged, having an emulation function for a microprocessor, wherein the emulation microprocessor has a first emulation function. A debug device for controlling the end of the bus cycle in response to the supply of a ready signal, wherein activation of a second ready signal output by the debug target system and a third ready signal generated in the debug device comprises detecting and Rede I signal selection circuit for outputting as these second, the select one or both of the third ready signal first ready signal that compares the timing is a predetermined timing relationship A debugging device, characterized in that:
【請求項2】 前記レディ信号選択回路が、前記第2,
第3のレディ信号のうちの活性化タイミングの遅い方を
またはこの活性化タイミングが同時の場合は両方を前記
第1のレディ信号としてそれぞれ選択することを特徴と
する請求項1記載のデバッグ装置。
Wherein said Rede I signal selection circuit, the second,
2. The debugging device according to claim 1, wherein one of the third ready signals having a later activation timing or, when the activation timings are simultaneous, both are selected as the first ready signals.
【請求項3】 前記レディ信号選択回路が、前記第2の
レディ信号が前記第3のレディ信号より活性化タイミン
グが後であることを検出して第1のレディ候補信号を生
成するターゲットレディ選択回路と、 前記第3のレディ信号が前記第2のレディ信号より活性
化タイミングが後であることを検出して第2のレディ候
補信号を生成するエミュレーションレディ選択回路と、 前記第1,第2のレディ候補信号の論理和演算結果を前
記第1のレディ信号として出力するレディ信号出力回路
とを備えることをことを特徴とする請求項1記載のデバ
ッグ装置。
Wherein the Rede I signal selection circuit, target ready for the second ready signal to generate a first ready candidate signal by detecting that the activation timing later than the third ready signal A selection circuit, an emulation ready selection circuit that detects that the third ready signal is activated later than the second ready signal and generates a second ready candidate signal; 2. The debugging device according to claim 1, further comprising: a ready signal output circuit that outputs a logical sum operation result of two ready candidate signals as the first ready signal.
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