JP2844636B2 - Program control unit - Google Patents

Program control unit

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Description

【発明の詳細な説明】 《発明の分野》 この発明は、予め与えられた目標値パターンに定位系
制御対象の制御量を追従させるようにしたプログラム制
御装置に関する。
Description: FIELD OF THE INVENTION The present invention relates to a program control device that causes a control amount of a localization control target to follow a given target value pattern.

《発明の概要》 この発明では、予め与えられた目標値パターンを制御
装置の制御パラメータおよび定位系対象物の定常ゲイン
を基に修正する修正部を設けるとともに上記修正部に対
して上記定位系対象の定常ゲインを出力する定常ゲイン
測定部を設けることにより、常に制御量を真のランプ状
の目標値に追従させ、定常偏差量やオーバーシュート量
(行き過ぎ量)を小さくすることができる。
<< Summary of the Invention >> In the present invention, a correction unit for correcting a given target value pattern based on a control parameter of a control device and a steady gain of a localization target is provided, and the localization target is corrected with respect to the correction unit. By providing the steady-state gain measuring section that outputs the steady-state gain, the control amount can always follow the true ramp-shaped target value, and the steady-state deviation amount and the overshoot amount (overshoot amount) can be reduced.

《従来技術とその問題点》 従来、予め与えられた目標値パターンに制御量を追従
させるプログラム装置としては、第9図に示すようなも
のが知られている。
<< Prior Art and its Problems >> Conventionally, as a program device for causing a control amount to follow a predetermined target value pattern, the one shown in FIG. 9 is known.

すなわち、従来のプログラム制御装置は、定位系の制
御対象1とPID制御装置2と2自由度PID制御装置の目標
値フィードフォワード部3と制御装置の定常ゲイン出力
部4とから概略構成されている。
That is, the conventional program control device is roughly composed of a control target 1 of a localization system, a PID control device 2, a target value feedforward unit 3 of a two-degree-of-freedom PID control device, and a steady gain output unit 4 of the control device. .

この従来のプログラム制御装置によりプログラム制御
を実行した場合の結果を示したのが、第10図および第11
図である。
FIGS. 10 and 11 show the results when the program control is executed by this conventional program control device.
FIG.

第10図は、制御量yを第9図のPID制御装置2と制御
装置の定常ゲイン出力部4とで設定した場合の制御結果
で、図中r(t)は目標値である。
FIG. 10 is a control result when the control amount y is set by the PID control device 2 and the steady gain output unit 4 of the control device in FIG. 9, where r (t) is a target value.

第11図は、制御量yを第9図で示したPID制御装置2
と2自由度PID制御装置の目標値フィードフォワード部
3,制御装置の定常ゲイン出力部4のフル構成としたPID
制御装置での制御結果である。
FIG. 11 shows a PID control device 2 in which the control amount y is shown in FIG.
Value feed-forward section of PID controller with two degrees of freedom
3, PID with full configuration of steady-state gain output unit 4 of control device
It is a control result in the control device.

これら2つのプログラム制御装置における制御性能の
評価項目は、以下の2つに集約されることが多い。
The evaluation items of control performance in these two program control devices are often grouped into the following two items.

すなわち、目標値がランプ状に変化している区間での
定常偏差量と目標値がランプ状から定値になったときの
オーバーシュート量(行き過ぎ量)のいずれの場合も小
さい値に設定されることが必要であり、性能の良否とし
て判断されている。
That is, both the steady-state deviation amount in the section where the target value changes in a ramp shape and the overshoot amount (overshoot amount) when the target value changes from the ramp shape to a constant value are set to small values. Is required, and the performance is judged as good or bad.

しかしながら、第10図の場合は定常偏差量は小さい
が、オーバーシュート量は大きくなり、逆に第11図の場
合はオーバーシュート量は小さいが定常偏差量が大きく
なっている。
However, in the case of FIG. 10, the steady-state deviation amount is small, but the overshoot amount is large. Conversely, in the case of FIG. 11, the overshoot amount is small, but the steady-state deviation amount is large.

つまり、上記2つの例では相互に両者がトレードオフ
の関係にあり、両方が同時に満足できないという問題が
あった。
That is, in the above two examples, there is a trade-off relationship between the two, and there is a problem that both cannot be satisfied simultaneously.

《発明の目的》 この発明は、上記問題点に鑑みてなされたもので、そ
の目的とするところは、定常偏差量とオーバーシュート
量を極力小さく抑え、制御性能の向上が図られたプログ
ラム制御装置を提供することにある。
<< Object of the Invention >> The present invention has been made in view of the above-mentioned problems, and an object of the present invention is to provide a program control device in which a steady-state deviation amount and an overshoot amount are suppressed as small as possible to improve control performance. Is to provide.

《発明の構成と効果》 この発明は、上記目的を達成するために、 予め与えられた目標値パターンに定位系制御対象の制
御量を追従させるようにしたプログラム制御装置におい
て、 時刻とその時刻での目標値という座標で与えられたプ
ログラムパターンの各時区間を直線で結んで目標値パタ
ーンを設定する目標値パターン設定手段と、 上記目標値パターン設定手段で設定された目標値パタ
ーンに各時区間で発生する定常偏差量を付加する定常偏
差量付加手段と、 上記定常偏差量付加手段で定常偏差量が付加された目
標値パターンの各時区間の境界を変更して目標値パター
ンを連続化する目標値パターン連続化手段と、 上記定位系制御対象の定常ゲインを測定する定常ゲイ
ン測定手段と、 上記目標値パターン連続化手段で連続化された目標値
パターンを上記定常ゲイン測定手段で測定された定常ゲ
インに基づいて修正する目標値パターン修正手段と、 を設けたことを特徴とする。
<< Structure and Effect of the Invention >> In order to achieve the above object, the present invention provides a program control device which causes a control amount of a localization system control target to follow a predetermined target value pattern, comprising: Target value pattern setting means for setting a target value pattern by connecting each time interval of the program pattern given by the coordinates of the target value of the target value pattern, and each time interval of the target value pattern set by the target value pattern setting means. Means for adding a steady-state error amount generated in step (a), and changing the boundary of each time section of the target value pattern to which the steady-state error amount is added by the steady-state error amount adding means to make the target value pattern continuous Target value pattern continuation means, steady gain measuring means for measuring a steady gain of the localization system control target, and a target value made continuous by the target value pattern continuation means And a target value pattern correcting means for correcting the pattern based on the steady gain measured by the steady gain measuring means.

従って、この発明では、目標値がランプ状に変化して
いる区間での定常変化量と目標値がランプ状から定値な
ったときのオーバーシュート量のいずれの場合にもその
値を極力小さく抑えることができ、予め与えられた目標
値パターンに定位系制御対象の制御量を適宜追従し得、
制御性能の向上が図られたプログラム制御装置を得るこ
とができる等の効果を奏する。
Therefore, according to the present invention, in both cases of the steady-state change amount in the section where the target value changes in a ramp shape and the overshoot amount when the target value becomes a constant value from the ramp shape, the value is minimized as much as possible. It is possible to appropriately follow the control amount of the localization system control target to a predetermined target value pattern,
There are effects such as that a program control device with improved control performance can be obtained.

《実施例》 以下、この発明のプログラム制御装置の一実施例を図
面に基づいて説明する。
<< Embodiment >> Hereinafter, an embodiment of a program control device of the present invention will be described with reference to the drawings.

なお、従来例と同一構成要素には同一符号を用い、こ
れら要素については説明が重複するため、新規な部分の
みについて異なる符号を付して説明する。
The same components as those of the conventional example are denoted by the same reference numerals, and the description of these components will be duplicated.

第1図は、この発明のプログラム制御装置の第1実施
例を示すブロック図である。
FIG. 1 is a block diagram showing a first embodiment of the program control device of the present invention.

図中5は修正部で、この修正部5は、与えられた目標
値パターンをPID制御装置2,目標値フィードフォーワー
ド部3,定常ゲイン出力部4にて構成した制御部の制御パ
ラメータおよび制御対象1の定常ゲインKを基に修正す
る。
In the figure, reference numeral 5 denotes a correction unit. The correction unit 5 controls a control parameter and a control of a control unit configured by applying a given target value pattern to a PID control device 2, a target value feedforward unit 3, and a steady gain output unit 4. The correction is made based on the steady gain K of the object 1.

図中6は定常ゲイン測定部で、この定常ゲイン測定部
6は、上記修正部5の目標値パターン修正をより正確に
実行するために設けられている。
In the figure, reference numeral 6 denotes a steady gain measuring section, which is provided to more accurately execute the target value pattern correction of the correcting section 5.

すなわち、目標値パターンの修正には、上記制御部
(図示せず)の制御パラメータのようにその制御部自身
が持つパラメータ以外に制御対象1の測定された定常ゲ
インKが用いられる。
That is, in correcting the target value pattern, the measured steady gain K of the control target 1 is used in addition to the parameters of the control unit itself, such as the control parameters of the control unit (not shown).

従って、制御中に定常ゲインKが変動するような制御
対象1の場合には、何等かの方法でその変化した場合の
定常ゲインKが測定されている必要がある(→後述する
第2実施例の場合)。
Therefore, in the case of the control target 1 in which the steady gain K fluctuates during the control, the steady gain K in the case where the steady gain K fluctuates must be measured by some method (see the second embodiment described later). in the case of).

しかし、制御中の制御対象1の定常ゲインKの変動が
少ない場合は、予め求めておいた定常ゲインKを固定値
として持っていれば良く、第1実施例はこの場合のブロ
ック図である。
However, when the fluctuation of the steady gain K of the control target 1 during the control is small, it is sufficient that the steady gain K obtained in advance is a fixed value, and the first embodiment is a block diagram in this case.

なお、定常ゲイン測定部6の入力は、定常ゲインKの
測定方法により異なってくる。
The input of the steady gain measuring section 6 differs depending on the method of measuring the steady gain K.

このようにして構成されたプログラム制御装置によれ
ば、プログラム制御結果は第3図で示すようになり、破
線…の目標値パターンr(r)に対して一点鎖線− ̄−
の修正目標値パターンを上記修正部5で作成し、これを
2自由度PID制御部2の目標値とすることで、次の2つ
のことを満足するプログラム制御が実現できることにな
る。
According to the thus configured program control device, the program control result is as shown in FIG. 3, and the target value pattern r (r) indicated by a broken line is represented by a dashed-dotted line - ̄-.
The correction target value pattern is created by the correction unit 5 and is used as the target value of the two-degree-of-freedom PID control unit 2, thereby realizing program control that satisfies the following two points.

すなわち、目標値がランプ状に変化する区間での定
常偏差が小さく抑えられ、しかも目標値がランプ状か
ら定値に代わるときのオーバーシュート量も小さく抑え
ることができることになる。
That is, the steady-state deviation in the section where the target value changes in a ramp shape can be suppressed to a small value, and the amount of overshoot when the target value changes from the ramp shape to a constant value can also be suppressed to a small value.

この理由としては、まず制御部を2自由度PIDとする
ことで上記を実現する。そうした場合が満足されな
くなるが、目標値パターンの修正部5により上記を満
足するように修正すれば良い。
The reason for this is as follows. First, the control unit has two degrees of freedom PID to realize the above. Such a case is not satisfied, but the correction may be performed by the target value pattern correction unit 5 so as to satisfy the above.

第8図は、この発明に係わるプログラム制御装置の第
2実施例を示すブロック図、第2図はその動作フローチ
ャート図である。
FIG. 8 is a block diagram showing a second embodiment of the program control device according to the present invention, and FIG. 2 is an operation flowchart thereof.

この実施例では、定常ゲイン測定部6′に修正後の目
標値パターンと制御対象1の制御量の偏差が入力される
ようになっている点が、第1実施例と異なっている。
This embodiment differs from the first embodiment in that the deviation between the corrected target value pattern and the controlled variable of the control target 1 is input to the steady-state gain measuring section 6 '.

この実施例において、プログラムパターンが、時刻と
その時刻での目標値パターンという座標で与えられてい
る場合に、座標と目標値パターンすなわちプログラムパ
ターン図の対応は第4図のようになる。
In this embodiment, when the program pattern is given by coordinates of a time and a target value pattern at that time, the correspondence between the coordinates and the target value pattern, that is, the program pattern diagram is as shown in FIG.

次に、ここでの動作フローを第2図で示すフローによ
って、各段階毎の説明をする。
Next, the operation flow here will be described for each stage by the flow shown in FIG.

第1段階では、プログラムパターンの変換がなされ、
座標形式(tk,r(tk)),k=0,1,1…nで与えられたプ
ログラムパターンを各時区間毎に直線式に表わすと次の
ようになる。
In the first stage, the program pattern is converted,
When a program pattern given by the coordinate format (tk, r (tk)), k = 0, 1, 1... N is represented in a linear expression for each time interval, the following is obtained.

tk<t<tk+1のとき、 r(t)=akt+bk, k=0,1,…,n−1 …(1)式 第2段階では、バイアス付加が次のようにしてなされ
る。
When t k <t of <t k + 1, r ( t) = a k t + b k, k = 0,1, ..., n-1 ... (1) formula In the second stage, biasing is performed as follows.

各時区間毎に発生する定常偏差量を(1)式で求めた
直線式にバイアスすると次のようになる。
When the steady-state deviation amount generated for each time interval is biased to the linear equation obtained by the equation (1), the following is obtained.

tk<t<tk+1のとき、 rb(t)=akt+bbk, k=0,1,…,n−1 …(2)式 第3段階では、(2)式で求めた各時区間のバイアス
後目標値rb(t)は、時区間の境界で連続していないの
で連続化するため時区間の境界を変更する。
When t k <t <t k + 1 , r b (t) = a k t + b bk , k = 0, 1,..., n−1 (2) In the third stage, the post-bias target value rb (t) of each time interval obtained by the equation (2) is not continuous at the time interval boundary, so that the time interval boundary is changed to be continuous.

方法としては、各時区間のrb(t)を延長したときの
交点を求めて、それを新たな境界とする。すなわち次の
式で表わされる。
As a method, an intersection point when rb (t) of each time interval is extended is obtained, and is set as a new boundary. That is, it is represented by the following equation.

t′<t<t′k+1のとき、 rm(t)=ak・t+bbk, k=0,1,…,n−1 …(3)式 第4段階では、定常ゲインを測定するわけであるが、 は制御対象の定常ゲインKを含んでいる。定常ゲインK
については、制御中に変動する可能性があり、常時測定
しておくほうが良い場合もある。
When t ′ k <t <t ′ k + 1 , r m (t) = ak · t + b bk , k = 0, 1,..., n−1 (3) In the fourth stage, the steady-state gain is measured. Includes a steady gain K to be controlled. Steady gain K
May fluctuate during control, and it may be better to always measure it.

(しかし、制御中の変動が少ない場合には、この第4
段階はなくして良い。) ここでの測定方法は、次の通りである。ak=0の区間
では、Kが真値から外れていると、目標値のバイアス量
もズレるので、定常偏差が残り、この定常偏差から逆に
定常ゲインを推定する。
(However, if there is little fluctuation during control,
You can omit stages. The measurement method here is as follows. In the section of ak = 0, if K deviates from the true value, the bias amount of the target value also deviates, so that a steady-state error remains, and a steady-state gain is estimated from the steady-state error.

但し定常偏差esは、十分一定値に落ち着いたときのバ
イアス後の目標値と制御量の偏差である。
However, the steady-state deviation es is a deviation between the target value after the bias and the control amount when the control value is settled to a sufficiently constant value.

ここで求めた定常ゲインKを次回のバイアス付加の第
2段階で用いる。
The steady gain K obtained here is used in the second stage of the next bias addition.

第5図は、第2段階での修正結果を示したものであ
る。この段階では、時区間毎の目標値r(t)にバイア
スされて加えているので、定常偏差は残らないようにな
っている。しかし、時区間の境界で、目標値が不連続で
あり、オーバーシュートの発生が避けられない。
FIG. 5 shows the correction result in the second stage. At this stage, since the bias value is added to the target value r (t) for each time section, no steady-state error remains. However, at the boundary of the time section, the target value is discontinuous, and the occurrence of overshoot cannot be avoided.

第6図では、時区間毎のrb(t)が連続になるように
時区間の境界を移動している。
In FIG. 6, the boundaries of the time sections are moved so that rb (t) for each time section is continuous.

これは、次の時区間の目標値を予測していることにな
りオーバーシュートを抑えることができる。
This means that the target value in the next time section is predicted, and overshoot can be suppressed.

第7図は、値第4段階の測定結果で時刻tkmに定常ゲ
インKが変更された場合のrn(t)を示している。第7
図により判るように時刻tkm以降の時区間境界t′k
は、第6図に対して移動している。
FIG. 7 shows rn (t) when the steady-state gain K is changed at time tkm in the measurement result of the fourth stage of the value. Seventh
As can be seen from the figure, the time section boundary t'k after time tkm
Are moving with respect to FIG.

以上の説明より、目標値パターンを第7図のように修
正すれば、第3図のような制御結果が得られる。
From the above description, if the target value pattern is modified as shown in FIG. 7, a control result as shown in FIG. 3 can be obtained.

すなわち、この実施例の場合も第1実施例と同等の作
用効果を奏する。
That is, this embodiment also has the same operation and effect as the first embodiment.

なお、第5段階で示す定常ゲイン測定部は、実際には
測定せずに、例えば、制御量に応じて予め求めておいた
値を出力しても良い。
Note that the steady-state gain measurement unit shown in the fifth stage may output a value obtained in advance according to the control amount, for example, without actually measuring it.

また、定値制御時の整定状態での操作量と制御量の比
から求めることもできる。
Further, it can also be obtained from the ratio of the operation amount and the control amount in the set state at the time of constant value control.

さらに、第2図の動作フローチャートは、制御同期ご
とに目標パターンの修正を行うフローになっているが、
これは、バイアス量の計算に用いる制御パラメータ(K
p,Ti,α)と定常ゲインKの変更に対応するためであ
る。
Further, the operation flowchart of FIG. 2 is a flow for correcting the target pattern every control synchronization.
This is because the control parameter (K
p, Ti, α) and the steady gain K.

つまり、バイアス量計算に用いるパラメータに変更が
あった場合にのみ、再計算すれば良く、変更が全くなけ
れば目標値パターンr(t)が与えられた後、1回だけ
rm(t)を計算すれば良い。
In other words, the recalculation may be performed only when there is a change in the parameter used for the bias amount calculation. If there is no change, only once after the target value pattern r (t) is given.
rm (t) may be calculated.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

第1図はこの発明のプログラム制御装置の第1実施例を
示すブロック図、第2図はこの発明のプログラム制御装
置の第2実施例の動作フローを示す動作フローチャート
図、第3図はこの発明の修正目標値を示す制御波形図、
第4図はこの発明におけるプログラムパターンの状態を
示す波形図、第5図ないし第7図は第2実施例の各段階
における修正目標値の出力状態を示す制御波形図、第8
図はこの発明のプログラム制御の装置の第2実施例を示
すブロック図、第9図は従来のプログラム制御装置を示
すブロック図、第10図および第11図は従来のプログラム
制御装置による各々制御波形図である。 1……定位系制御対象 5……修正部 6……定常ゲイン測定部 K……定常ゲイン
FIG. 1 is a block diagram showing a first embodiment of a program control device of the present invention, FIG. 2 is an operation flowchart showing an operation flow of a second embodiment of the program control device of the present invention, and FIG. Control waveform diagram showing the correction target value of
FIG. 4 is a waveform diagram showing a state of a program pattern in the present invention, FIGS. 5 to 7 are control waveform diagrams showing an output state of a correction target value in each stage of the second embodiment, and FIG.
FIG. 1 is a block diagram showing a second embodiment of the program control apparatus of the present invention. FIG. 9 is a block diagram showing a conventional program control apparatus. FIGS. 10 and 11 are control waveforms of the conventional program control apparatus. FIG. 1 ... Localization system control target 5 ... Correction unit 6 ... Stationary gain measurement unit K ... Stationary gain

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭61−290505(JP,A) 特開 昭56−27404(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.6,DB名) G05B 11/00 - 13/04 G05D 3/12────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of the front page (56) References JP-A-61-290505 (JP, A) JP-A-56-27404 (JP, A) (58) Fields investigated (Int. Cl. 6 , DB name) G05B 11/00-13/04 G05D 3/12

Claims (1)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】予め与えられた目標値パターンに定位系制
御対象の制御量を追従させるようにしたプログラム制御
装置において、 時刻とその時刻での目標値という座標で与えられたプロ
グラムパターンの各時区間を直線で結んで目標値パター
ンを設定する目標値パターン設定手段と、 上記目標値パターン設定手段で設定された目標値パター
ンに各時区間で発生する定常偏差量を付加する定常偏差
量付加手段と、 上記定常偏差量付加手段で定常偏差量が付加された目標
値パターンの各時区間の境界を変更して目標値パターン
を連続化する目標値パターン連続化手段と、 上記定位系制御対象の定常ゲインを測定する定常ゲイン
測定手段と、 上記目標値パターン連続化手段で連続化された目標値パ
ターンを上記定常ゲイン測定手段で測定された定常ゲイ
ンに基づいて修正する目標値パターン修正手段と、 を設けたことを特徴とするプログラム制御装置。
1. A program control device in which a control amount of a localization control target is made to follow a predetermined target value pattern, wherein each time of a program pattern given by coordinates of a time and a target value at that time. Target value pattern setting means for setting a target value pattern by connecting sections with a straight line; and steady deviation amount adding means for adding a steady deviation amount occurring in each time interval to the target value pattern set by the target value pattern setting means. And target value pattern continuation means for changing the boundary of each time interval of the target value pattern to which the steady deviation amount is added by the steady deviation amount adding means to make the target value pattern continuous, and A steady-state gain measuring means for measuring a steady-state gain, and a constant value measured by the steady-state gain measuring means. Program control device, characterized in that provided a target value pattern correction means for correcting, based on the gain, the.
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