JP2831788B2 - Flip-flop circuit - Google Patents
Flip-flop circuitInfo
- Publication number
- JP2831788B2 JP2831788B2 JP2072374A JP7237490A JP2831788B2 JP 2831788 B2 JP2831788 B2 JP 2831788B2 JP 2072374 A JP2072374 A JP 2072374A JP 7237490 A JP7237490 A JP 7237490A JP 2831788 B2 JP2831788 B2 JP 2831788B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- circuit
- signal
- terminal
- level
- output
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Description
【発明の詳細な説明】 〔概要〕 フリップフロップ回路に関し、 高周波数域での動作が可能で、かつ回路素子数の増大
を防いで集積度を向上できるフリップフロップ回路を提
供することを目的とし、 外部からクロック信号が供給され、ラッチ回路が作動
する最小のパルス幅の信号を発生するパルス発生回路
と、前記パルス発生回路が発生する最小のパルス幅の信
号が供給され、該信号に同期して入力信号をラッチする
ラッチ回路と、を備え、前記パルス発生回路が、マルチ
プレクサ又はエクスクルーシブノアゲートを含み、該マ
ルチプレクサ又はエクスクルーシブノアゲートが前記ラ
ッチ回路と略同一の回路構成で構成されていることを特
徴とする。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Summary] With respect to a flip-flop circuit, it is an object of the present invention to provide a flip-flop circuit which can operate in a high frequency range and can improve the degree of integration by preventing an increase in the number of circuit elements. A clock signal is supplied from the outside, a pulse generating circuit that generates a signal with a minimum pulse width that activates the latch circuit, and a signal with a minimum pulse width that is generated by the pulse generating circuit are supplied and synchronized with the signal. A latch circuit for latching an input signal, wherein the pulse generation circuit includes a multiplexer or an exclusive NOR gate, and the multiplexer or the exclusive NOR gate has substantially the same circuit configuration as the latch circuit. And
本発明は、フリップフロップ回路に係り、詳しくは、
高周波動作を行い、回路素子数を少なくしたフリップフ
ロップ回路に関する。The present invention relates to a flip-flop circuit.
The present invention relates to a flip-flop circuit which performs high-frequency operation and has a reduced number of circuit elements.
近年、システムの高速・高周波化およびゲート規模の
増大の要請に伴い、最小回路数で高速・高周波動作する
半導体回路が要求されている。In recent years, with the demand for higher speed and higher frequency of the system and an increase in gate size, a semiconductor circuit that operates at higher speed and at higher frequency with a minimum number of circuits has been required.
ディジタルシステムでは、AND、OR、NOTやNAND、NOR
の基本ゲートIC以外に、もう1つ重要な基本回路として
フリップフロップ回路がある。これは、1個のパルスで
2つの安定状態を交互に切り換える回路で、一般にFFと
かF・Fのように略記することが多い。In digital systems, AND, OR, NOT, NAND, NOR
In addition to the basic gate IC described above, another important basic circuit is a flip-flop circuit. This is a circuit that alternately switches between two stable states with one pulse, and is often abbreviated as FF or FF in general.
従来のフリップフロップ回路としては、例えば第9図
に示すようなものがある。同図に示すものは、マスター
スレーブ型のフリップフロップ回路であり、マスター部
1とスレーブ部2により構成される。端子I1に入力され
る第10図(a)に示すデータ信号D(D0〜D3……)はマ
スター部1のデータ入力端子Dに供給され、また端子I2
に入力される第10図(b)に示すクロック信号はマスタ
ー部1のクロック入力端子Cおよびスレーブ部2のクロ
ック反転入力端子にそれぞれ供給される。マスター部
1はクロック信号が“L"レベルに立ち下がるとデータ信
号を取り込んで、立ち下がりから時間tpd1後に取り込ん
だ第10図(c)に示す如きデータ信号を端子Qより出力
する。一方、端子から端子Qの反転信号が出力され
る。なお、時間tpd1はマスター部1の伝搬遅延時間であ
る。その後、クロック信号が“H"レベルに立ち上がる
と、マスター部1は端子Q、に出力している信号を保
持し、入力信号が変化してもクロックが“H"レベルの間
は端子Q、のレベルは変化しない。As a conventional flip-flop circuit, for example, there is one as shown in FIG. FIG. 1 shows a master-slave type flip-flop circuit, which includes a master unit 1 and a slave unit 2. The data signals D (D0 to D3...) Shown in FIG. 10 (a) input to the terminal I1 are supplied to the data input terminal D of the master unit 1 and the terminal I2
10 (b) is supplied to the clock input terminal C of the master unit 1 and the clock inversion input terminal of the slave unit 2, respectively. When the clock signal falls to the "L" level, the master unit 1 captures the data signal, and outputs from the terminal Q the data signal as shown in FIG. 10 (c) captured after the time tpd1 from the fall. On the other hand, an inverted signal of the terminal Q is output from the terminal. The time tpd1 is a propagation delay time of the master unit 1. Thereafter, when the clock signal rises to the “H” level, the master unit 1 holds the signal output to the terminal Q, and keeps the signal at the terminal Q while the clock is at the “H” level even if the input signal changes. The level does not change.
一方、スレーブ部2はクロック信号が立ち上がると、
上記端子Q、の出力信号を取り込んでクロック信号の
立ち上がりからスレーブ部2の伝搬遅延時間tpd2後に取
り込んだ第10図(d)に示す如き信号を端子Xより出力
し、また、端子は端子Xの反転信号を出力する。その
後、クロック信号が“L"レベルに立ち下がると、スレー
ブ部2は端子X、に出力されている信号を保持し、ス
レーブ部2の入力信号Q、が変化してもクロックが
“L"レベルの間は端子X、のレベルは変化しない。On the other hand, when the clock signal rises, the slave unit 2
A signal as shown in FIG. 10 (d), which is obtained by taking in the output signal of the terminal Q and taking it after the propagation delay time tpd2 of the slave unit 2 from the rising of the clock signal, is output from the terminal X. Outputs an inverted signal. Thereafter, when the clock signal falls to the “L” level, the slave unit 2 holds the signal output to the terminal X, and the clock remains at the “L” level even when the input signal Q of the slave unit 2 changes. During this period, the level of the terminal X does not change.
第11図はラッチ回路3のブロック図を示し、第14図は
上記ラッチ回路3をフリップフロップ回路として使用す
る場合の信号タイムチャートである。FIG. 11 is a block diagram of the latch circuit 3, and FIG. 14 is a signal time chart when the latch circuit 3 is used as a flip-flop circuit.
端子I3に入力される第14図(a)に示すデータ信号は
ラッチ回路3のデータ入力端子Dに供給され、また端子
I4に入力される第14図(b)に示すクロック信号はラッ
チ回路3のクロック入力端子Cに供給される。ラッチ回
路3はクロック信号が“H"レベルに立ち上がると、デー
タ信号を取り込んで、立ち上がりから時間tpd3後に取り
込んだ第14図(c)に示す如きデータ信号を端子Xより
出力する。一方、端子からは端子Xの信号の反転出力
が行われる。なお、時間tpd3はラッチ回路3の伝搬遅延
時間である。その後、クロック信号が“L"レベルに立ち
下がると、ラッチ回路3は端子X、に出力している信
号を保持し、入力信号が変化してもクロックが“L"レベ
ルの間は端子X、のレベルは変化しない。The data signal shown in FIG. 14A input to the terminal I3 is supplied to the data input terminal D of the latch circuit 3, and
The clock signal shown in FIG. 14B input to I4 is supplied to the clock input terminal C of the latch circuit 3. When the clock signal rises to the "H" level, the latch circuit 3 captures the data signal and outputs it from the terminal X as shown in FIG. On the other hand, the inverted output of the signal of the terminal X is output from the terminal. The time tpd3 is a propagation delay time of the latch circuit 3. Thereafter, when the clock signal falls to the “L” level, the latch circuit 3 holds the signal output to the terminal X, and even if the input signal changes, while the clock is at the “L” level, the terminal X, Level does not change.
しかしながら、このような従来のフリップフロップ回
路にあっては、上述した後者のラッチ回路3の場合、回
路構成が簡単である反面、以下に述べるような条件が必
要で、特に高周波数域でフリップフロップ回路としての
使用が困難であるというという問題点があった。However, in such a conventional flip-flop circuit, in the case of the latter latch circuit 3 described above, the circuit configuration is simple, but on the other hand, the following conditions are required. There is a problem that it is difficult to use it as a circuit.
すなわち、第13図に示すようにクロック信号が“H"レ
ベルの間にデータ信号が変化すると、その変化したデー
タが伝搬遅延時間tpd3′後に出力されてしまい、フリッ
プフロップ回路としての動作をしない。フリップフロッ
プ回路としての動作をさせるためには第14図のようにデ
ータ信号のセット(切り換え)は、クロック信号が“L"
レベルの間に行わなければならないという大きな制約条
件が付く。低周波数ではクロックの“L"レベル期間が十
分にあり、データをセットすることも可能であるが、高
周波数になってくると、クロックの“L"レベル期間が周
波数アップとともに短くなってくるため、データをセッ
トすることが非常に難しくなってくる。例えば、クロッ
ク周波数が100MHzのときはクロックレベル期間は約5ns
もあるが、1GHzでは500ps、5GHzでは100ps、10GHzでは5
0psというように非常にく短くなる。そのため、高周波
ではフリップフロップ回路として実質上使用することが
できなくなる。That is, as shown in FIG. 13, when the data signal changes while the clock signal is at the "H" level, the changed data is output after the propagation delay time tpd3 ', and does not operate as a flip-flop circuit. In order to operate as a flip-flop circuit, the data signal is set (switched) as shown in FIG.
There is a big constraint that must be done between levels. At low frequencies, the clock "L" level period is sufficient and data can be set, but at higher frequencies, the clock "L" level period becomes shorter as the frequency increases. , It becomes very difficult to set data. For example, when the clock frequency is 100 MHz, the clock level period is about 5 ns
500ps at 1GHz, 100ps at 5GHz, 5ps at 10GHz
It becomes very short like 0ps. Therefore, it cannot be used as a flip-flop circuit at high frequencies.
一方、これに対して上述した前者の技術の場合、上記
のような制約条件はないが、その反面、以下に述べるよ
うに回路素子数が増大するという別の問題点がある。On the other hand, in the case of the former technique described above, there is no constraint as described above, but on the other hand, there is another problem that the number of circuit elements increases as described below.
すなわち、第12図に示すようにデータのセットはクロ
ックの“H"レベルのときでも“L"レベルのときでもよ
い。これは、必ずマスター部1かスレーブ部2のどちら
かが出力データを保持しているためである。このため、
データをセットできる期間は後者に比べて2倍となり、
データをセットする時間はクロック周波数100MHzで約10
ns、1GHzで1ns、5GHzで200ps、10GHzで100psというよう
に余裕ができてくる。したがって、高周波数域での使用
という問題は解決できるが、回路的にマスター部1およ
びスレーブ部2の2つの回路を常に必要とし、LSI内部
に多数のフリップフロップ回路がある半導体装置では回
路素子数の増大を招き、集積度が低下するという問題点
が発生する。例えば、第15図に示すように1つのクロッ
ク信号に同期して動作する多数のフリップフロップ回路
がLSI内部にある場合、これらのフリップフロップ回路
はマスター部1a〜1nおよびスレーブ部2a〜2nを必要と
し、そのため、多数の素子が必要である。That is, as shown in FIG. 12, the data may be set at the "H" level or at the "L" level of the clock. This is because either the master unit 1 or the slave unit 2 always holds the output data. For this reason,
Data can be set twice as long as the latter,
Time to set data is about 10 at clock frequency 100MHz
ns, 1 ns at 1 GHz, 200 ps at 5 GHz, and 100 ps at 10 GHz. Therefore, although the problem of use in a high frequency range can be solved, two circuits of the master unit 1 and the slave unit 2 are always required in circuit, and the number of circuit elements in a semiconductor device having a large number of flip-flop circuits inside the LSI is increased. And the degree of integration is reduced. For example, as shown in FIG. 15, when a large number of flip-flop circuits operating in synchronization with one clock signal are provided inside the LSI, these flip-flop circuits need master units 1a to 1n and slave units 2a to 2n. Therefore, a large number of elements are required.
そこで本発明は、高周波数域での動作が可能で、かつ
回路素子数の増大を防いで集積度を向上できるフリップ
フロップ回路を提供することを目的としている。SUMMARY OF THE INVENTION It is an object of the present invention to provide a flip-flop circuit which can operate in a high frequency range and can improve the degree of integration by preventing an increase in the number of circuit elements.
本発明によるフリップフロップ回路は上記目的達成の
ため、外部からクロック信号が供給され、ラッチ回路が
作動する最小のパルス幅の信号を発生するパルス発生回
路と、前記パルス発生回路が発生する最小のパルス幅の
信号が供給され、該信号に同期して入力信号をラッチす
るラッチ回路と、を備え、前記パルス発生回路が、マル
チプレクサ又はエクスクルーシブノアゲートを含み、該
マルチプレクサ又はエクスクルーシブノアゲートが前記
ラッチ回路と略同一の回路構成で構成されていることを
特徴とする。In order to achieve the above object, a flip-flop circuit according to the present invention is provided with a pulse generating circuit for generating a signal having a minimum pulse width to which a clock signal is supplied from outside and operating a latch circuit, and a minimum pulse generated by the pulse generating circuit. A signal having a width is supplied, and a latch circuit that latches an input signal in synchronization with the signal is provided.The pulse generation circuit includes a multiplexer or an exclusive NOR gate, and the multiplexer or the exclusive NOR gate is connected to the latch circuit. It is characterized by having substantially the same circuit configuration.
本発明では、第1図に示すように、外部からのクロッ
ク信号は端子I6よりパルス発生回路201に入力され、パ
ルス発生回路201では外部クロック信号が“L"レベルか
ら“H"レベルに立ち上がると、第2図に示すように、パ
ルス発生回路201の伝搬遅延時間tpd4後に出力波形が
“L"レベルから“H"レベルに立ち上がり、その後時間tp
d0後に“H"レベルから“L"レベルに立ち下がり、パルス
幅がtpd0のクロックパルスがラッチ回路200に出力され
る。ここで、tpd4はパルス発生回路201を通過する時間
であり、tpd0はラッチ回路200が動作可能な最小パルス
幅時間、すなわち、ラッチ回路200にクロック信号が入
力されてからデータ出力されるまでの時間である。パル
ス発生回路201を通過したクロックは第2図(c)のよ
うなパルス波形となり、ラッチ回路200のクロックとし
て入力される。ラッチ回路200はクロックとしてのパル
ス波形が立ち上がると、端子I5よりデータD(D0〜D4…
…)を取り込み、ラッチ回路200を通過する時間tpd0後
にデータを出力する。また、このパルス波形は時間tpd0
後に立ち下がり、ラッチ回路200の出力波形は保持され
る。これによって、フリップフロップ動作が行われる。In the present invention, as shown in FIG. 1, an external clock signal is input to the pulse generation circuit 201 from a terminal I6, and when the external clock signal rises from "L" level to "H" level in the pulse generation circuit 201. As shown in FIG. 2, after the propagation delay time tpd4 of the pulse generation circuit 201, the output waveform rises from the “L” level to the “H” level.
After d0, the signal falls from the “H” level to the “L” level, and a clock pulse having a pulse width of tpd0 is output to the latch circuit 200. Here, tpd4 is the time that passes through the pulse generation circuit 201, and tpd0 is the minimum pulse width time during which the latch circuit 200 can operate, that is, the time from when a clock signal is input to the latch circuit 200 until data is output. It is. The clock that has passed through the pulse generation circuit 201 has a pulse waveform as shown in FIG. 2C and is input as a clock of the latch circuit 200. When the pulse waveform as a clock rises, the latch circuit 200 outputs data D (D0 to D4...) From a terminal I5.
..) And outputs data after a time tpd0 when the data passes through the latch circuit 200. This pulse waveform has the time tpd0
After that, the output waveform of the latch circuit 200 is held. Thus, a flip-flop operation is performed.
したがって、データ信号のセット(切り換え)は、ク
ロック信号が“L"レベルの間に行わなければならないと
いう条件が十分に満たされてラッチ回路200が確実に動
作し、かつ従来のマスター・スレーブフリップフロップ
回路と同じだけ動作周波数がアップし、高周波数域での
動作が可能となる。また、回路的にマスター部およびス
レーブ部という2つの回路を必要とせず、LSI内部に多
数のフリップフロップ回路がある半導体装置であって
も、回路素子数の増大を防いで集積度を向上できる。Therefore, the setting (switching) of the data signal is sufficiently satisfied that the condition that the clock signal must be performed during the "L" level, the latch circuit 200 operates reliably, and the conventional master / slave flip-flop can be used. The operating frequency is increased by the same amount as that of the circuit, and operation in a high frequency range becomes possible. Further, even if the semiconductor device has a large number of flip-flop circuits inside the LSI without requiring two circuits of a master unit and a slave unit in terms of a circuit, the number of circuit elements can be prevented from increasing and the degree of integration can be improved.
以下、本発明の実施例を図面に基づいて説明する。第
3〜8図は本発明に係るフリップフロップ回路の一実施
例を示す図である。第3図はLSI内部でフリップフロッ
プ回路を使用したときのブロック図であり、この図にお
いて、11a〜11nはラッチ回路、12はパルス発生回路であ
る。ラッチ回路11a〜11nは従来と同様のもので、各デー
タ入力端子Dにデータが入力され、クロック端子にはパ
ルス発生回路12からのクロックパルスが供給される。パ
ルス発生回路12は単に1つのみ設けられており、外部ク
ロックを信号処理し、ラッチ回路11a〜11nが作動する最
小のクロックパルス幅の信号を発生してラッチ回路11a
〜11nのクロック端子に出力する。Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings. 3 to 8 are diagrams showing one embodiment of the flip-flop circuit according to the present invention. FIG. 3 is a block diagram when a flip-flop circuit is used inside the LSI. In this figure, 11a to 11n are latch circuits, and 12 is a pulse generation circuit. The latch circuits 11a to 11n are the same as those in the related art. Data is input to each data input terminal D, and a clock pulse is supplied from the pulse generation circuit 12 to a clock terminal. The pulse generation circuit 12 is provided with only one pulse signal, processes the external clock signal, generates a signal having a minimum clock pulse width for operating the latch circuits 11a to 11n, and generates the latch circuit 11a.
Output to clock terminals of ~ 11n.
ここで、パルス発生回路12の具体的な回路例を第4図
に示す。まず、第4図(a)に示す第1のパルス発生回
路はインバータ21、22、バッファゲート23およびノアゲ
ート24により構成され、端子Cより外部クロックが入力
されて端子Xからクロックパルスが出力される。第5図
はパルス発生回路のタイミングチャートであり、この図
に示すように、端子Cより入力した外部クロックはイン
バータ21の遅延時間tpd5後にノード1(図面ではN1と表
示)に反転出力され、さらにノアゲート24の遅延時間tp
d6後に端子Xから反転出力される。端子Cより入力した
外部クロックが立ち上がると、時間tpd4(=tpd5+tpd
6)後に端子Xのレベルが立ち上がり、ノード2(図面
ではN2と表示)にはノード1より時間tpd1だけクロック
が遅れて伝達されるため、端子Xからは、立ち上がって
から時間tpd0後に立ち下がるクロックパルスが出力され
る。この時間tpd0と等しい遅延時間差をノード1、2の
間にもたせるように回路定数が設定され、これはラッチ
回路11a〜11nがデータを出力する時間に対応している。
すなわち、時間tpd0はラッチ回路11a〜11nが動作する最
小パルス幅のクロックパルスに対応する。第4図(a)
と等価的な回路は同図(b)のように示され、このパル
ス発生回路はインバータ22、バッファゲート23の他にバ
ッファゲート31およびアンドゲート32を含んで構成され
る。Here, a specific circuit example of the pulse generation circuit 12 is shown in FIG. First, the first pulse generating circuit shown in FIG. 4A is composed of inverters 21 and 22, a buffer gate 23 and a NOR gate 24. An external clock is inputted from a terminal C and a clock pulse is outputted from a terminal X. . FIG. 5 is a timing chart of the pulse generating circuit. As shown in FIG. 5, the external clock input from the terminal C is inverted and output to the node 1 (indicated as N1 in the drawing) after the delay time tpd5 of the inverter 21. NOR gate 24 delay time tp
The output is inverted from the terminal X after d6. When the external clock input from the terminal C rises, the time tpd4 (= tpd5 + tpd
6) The level of the terminal X rises later, and the clock is transmitted to the node 2 (indicated as N2 in the drawing) after the time tpd1 from the node 1 by the time tpd1. A pulse is output. A circuit constant is set so that a delay time difference equal to the time tpd0 is provided between the nodes 1 and 2, and this corresponds to a time when the latch circuits 11a to 11n output data.
That is, the time tpd0 corresponds to the clock pulse having the minimum pulse width at which the latch circuits 11a to 11n operate. FIG. 4 (a)
The circuit equivalent to the above is shown in FIG. 2B, and this pulse generation circuit includes a buffer gate 31 and an AND gate 32 in addition to the inverter 22 and the buffer gate 23.
第4図(c)はパルス発生回路の第2の例を示し、こ
のパルス発生回路はインバータ41、ナンドゲート42およ
びノアゲート43により構成され、端子Cより外部クロッ
クが入力されて端子Xからクロックパルスが出力され
る。ナンドゲート42の一方の入力端子は“H"レベルに固
定され、他方の入力端子にノード1の信号が入力され
る。また、ナンドゲート42の伝搬遅延時間はtpd0に設定
される。したがって、第4図(a)のパルス発生回路と
同様にラッチ回路11a〜11nが動作する最小パルス幅のク
ロックパルスが出力される。第4図(c)と等価的な回
路は同図(d)のように示され、このパルス発生回路は
ナンドゲート42の他にバッファゲート51およびアンドゲ
ート52を含んで構成される。FIG. 4 (c) shows a second example of the pulse generation circuit, which is composed of an inverter 41, a NAND gate 42 and a NOR gate 43. An external clock is input from a terminal C, and a clock pulse is input from a terminal X. Is output. One input terminal of the NAND gate 42 is fixed at the “H” level, and the signal of the node 1 is input to the other input terminal. The propagation delay time of the NAND gate 42 is set to tpd0. Therefore, a clock pulse having a minimum pulse width for operating the latch circuits 11a to 11n is output in the same manner as in the pulse generation circuit of FIG. 4A. A circuit equivalent to FIG. 4 (c) is shown as in FIG. 4 (d), and this pulse generating circuit includes a buffer gate 51 and an AND gate 52 in addition to the NAND gate 42.
第4図(e)はパルス発生回路の第3の例を示し、こ
のパルス発生回路はインバータ61、マルチプレクサ62お
よびノアゲート63により構成され、端子Cより外部クロ
ックが入力されて端子Xからクロックパルスが出力され
る。マルチプレクサ62はデータ端子D1、D2およびセレク
ト端子Sを有し、データ端子D1は“L"レベルに固定、デ
ータ端子D2は“H"レベルに固定され、セレクト端子Sに
ノード1の信号が入力される。そして、S=“L"のとき
データ端子D1(“L"レベル)の信号を端子から反転し
て出力し、S=“H"のときデータ端子D2(“H"レベル)
の信号を端子から反転して出力する。また、マルチプ
レクサ62の伝搬遅延時間はtpd0に設定される。したがっ
て、第4図(a)のパルス発生回路と同様にラッチ回路
11a〜11nが動作する最小パルス幅のクロックパルスが出
力される。第4図(e)と等価的な回路は同図(f)の
ように示され、このパルス発生回路はマルチプレクサ62
の他にバッファゲート71およびアンドゲート72を含んで
構成される。FIG. 4 (e) shows a third example of the pulse generating circuit. This pulse generating circuit comprises an inverter 61, a multiplexer 62 and a NOR gate 63. An external clock is inputted from a terminal C, and a clock pulse is outputted from a terminal X. Is output. The multiplexer 62 has data terminals D1 and D2 and a select terminal S. The data terminal D1 is fixed at "L" level, the data terminal D2 is fixed at "H" level, and the signal of the node 1 is input to the select terminal S. You. When S = “L”, the signal of the data terminal D1 (“L” level) is inverted and output from the terminal, and when S = “H”, the data terminal D2 (“H” level)
Is inverted from the terminal and output. The propagation delay time of the multiplexer 62 is set to tpd0. Therefore, as in the pulse generation circuit of FIG.
A clock pulse having a minimum pulse width for operating 11a to 11n is output. A circuit equivalent to FIG. 4 (e) is shown as in FIG. 4 (f).
In addition, a buffer gate 71 and an AND gate 72 are included.
第4図(g)はパルス発生回路の第4の例を示し、こ
のパルス発生回路はインバータ81、エクスクルーシブノ
アゲート82およびノアゲート83により構成され、端子C
より外部クロックが入力されて端子Xからクロックパル
スが出力される。エクスクルーシブノアゲート82の一方
の入力端子は“L"レベルに固定され、他方の入力端子に
ノード1の信号が入力される。また、エクスクルーシブ
ノアゲート82の伝搬遅延時間はtpd0に設定される。した
がって、第4図(a)のパルス発生回路と同様にラッチ
回路11a〜11nが動作する最小パルス幅のクロックパルス
が出力される。第4図(g)と等価的な回路は同図
(h)のように示され、このパルス発生回路はエクスク
ルーシブノアゲート82の他にバッファゲート91およびア
ンドゲート92を含んで構成される。FIG. 4 (g) shows a fourth example of the pulse generating circuit, which is composed of an inverter 81, an exclusive NOR gate 82 and a NOR gate 83, and a terminal C
Further, an external clock is input and a clock pulse is output from the terminal X. One input terminal of the exclusive NOR gate 82 is fixed at the “L” level, and the signal of the node 1 is input to the other input terminal. The propagation delay time of the exclusive NOR gate 82 is set to tpd0. Therefore, a clock pulse having a minimum pulse width for operating the latch circuits 11a to 11n is output in the same manner as in the pulse generation circuit of FIG. 4A. A circuit equivalent to FIG. 4 (g) is shown as in FIG. 4 (h), and this pulse generating circuit includes a buffer gate 91 and an AND gate 92 in addition to the exclusive NOR gate 82.
上記の回路例では、特にマルチプレクサ62およびエク
スクルーシブノアゲート82はラッチ回路11a〜11nと同様
の回路構成によって構成でき、これをECL回路で作る
と、信号の伝搬遅延時間も同じになるため、正確に所望
の遅延時間tpd0を得ることができるという利点がある。In the above circuit example, in particular, the multiplexer 62 and the exclusive NOR gate 82 can be configured by the same circuit configuration as the latch circuits 11a to 11n, and if this is formed by the ECL circuit, the signal propagation delay time becomes the same, so that There is an advantage that a desired delay time tpd0 can be obtained.
次に、上述したラッチ回路11a〜11n、マルチプレクサ
62およびエクスクルーシブノアゲート82についてECL回
路で構成した例を説明する。Next, the above-described latch circuits 11a to 11n,
An example will be described in which the exclusive NOR gate 62 and the exclusive NOR gate 82 are configured by an ECL circuit.
第6図はラッチ回路11a〜11nの例を示し、このラッチ
回路はトランジスタ101〜110、定電流源111および抵抗1
12〜117により構成される。トランジスタ103、104はエ
ミッタが共通接続され、それぞれのベースに入力データ
および基準電圧Verf1が供給されるとともに、各コレク
タ側から論理出力が取り出されてエミッタホロワのトラ
ンジスタ109、110のベースに供給される。また、トラン
ジスタ105、106も同様にエミッタが共通接続され、それ
ぞれのベースは前記エミッタホロワのトランジスタ10
9、110のエミッタ側に接続され、そこから出力X、が
取り出される。クロックパルスは端子Cからトランジス
タ101のベースに供給され、これをエミッタホロワで受
けてトランジスタ107のベース電圧が決定され、このと
き他方のトランジスタ108により基準電圧Vref2が供給さ
れており、両者のベース電圧により何れかがオンして上
記ECLトランジスタ103、104又は105、106の作動が制御
される。したがって、クロックパルスが“H"レベルのと
きトランジスタ107がオンしてECLトランジスタ103、104
が作動可能になって入力データを受け入れ、“L"レベル
のときはトランジスタ108がオンしてECLトランジスタ10
5、106が作動可能になって出力データの保持が行われ
る。例えば、入力データDが“H"レベルであれば、トラ
ンジスタ103がオンしてそのコレクタ出力は“L"とな
り、トランジスタ104はオフしてそのコレクタ出力は
“H"となり、トランジスタ110が“H"を伝達するため、
出力端子Xは“H"レベルとなり、トランジスタ109が
“L"を伝達するため、出力端子は“L"レベルとなる。
一方、入力データDが“L"レベルのときは、トランジス
タ104がオンしてそのコレクタ出力は“L"となり、トラ
ンジスタ110が“L"を伝達するため、出力端子Xは“L"
レベルとなる。なお、クロックパルスが“L"レベルのと
きはトランジスタ108がオンしてECLトランジスタ105、1
06が作動可能になって、そのときにX、に出力されて
いる出力データが保持される。例えば、出力データXが
“H"レベル、が“L"レベルであれば、トランジスタ10
6がオンしてそのコネクタ出力は“L"となり、トランジ
スタ105はオフしてそのコレクタ出力は“H"となり、ト
ランジスタ110は“H"を伝達するため、出力端子Xは
“H"レベルのままかわらずに保持され、トランジスタ10
9は“L"を伝達するため出力端子は“L"レベルのまま
かわらずに保持される。出力端子Xに“L"レベル、に
“H"レベルが出力されているときも同様に保持される。
これにより、入力データのラッチ処理が行われてフリッ
プフロップ動作する。FIG. 6 shows an example of latch circuits 11a to 11n. The latch circuit includes transistors 101 to 110, a constant current source 111 and a resistor 1
It is composed of 12-117. The emitters of the transistors 103 and 104 are connected in common. The input data and the reference voltage Verf1 are supplied to the respective bases, and the logical outputs are taken out from the respective collectors and supplied to the bases of the emitter follower transistors 109 and 110. Similarly, the emitters of the transistors 105 and 106 are connected in common, and the bases of the transistors 105 and 106 are connected to the transistor 10 of the emitter follower.
9, 110 are connected to the emitter side, from which the output X is taken out. The clock pulse is supplied from the terminal C to the base of the transistor 101, and is received by the emitter follower to determine the base voltage of the transistor 107. At this time, the reference voltage Vref2 is supplied by the other transistor 108, and the base voltage of both transistors is used. When either of them is turned on, the operation of the ECL transistors 103 and 104 or 105 and 106 is controlled. Therefore, when the clock pulse is at “H” level, the transistor 107 is turned on and the ECL transistors 103 and 104 are turned on.
Becomes operable and accepts input data. When the input data is at “L” level, the transistor 108 is turned on and the ECL transistor 10 is turned on.
5, 106 become operable to hold the output data. For example, if the input data D is at “H” level, the transistor 103 is turned on and its collector output becomes “L”, the transistor 104 is turned off and its collector output becomes “H”, and the transistor 110 becomes “H”. To convey
The output terminal X goes to “H” level, and the transistor 109 transmits “L”, so that the output terminal goes to “L” level.
On the other hand, when the input data D is at the "L" level, the transistor 104 is turned on and the collector output thereof is at the "L" level, and the transistor 110 transmits "L".
Level. When the clock pulse is at the “L” level, the transistor 108 is turned on and the ECL transistors 105 and 1 are turned on.
06 becomes operable, and the output data being output to X at that time is held. For example, if the output data X is “H” level and “L” level, the transistor 10
6 turns on and its connector output goes to "L", transistor 105 turns off and its collector output goes to "H", and transistor 110 transmits "H", so the output terminal X remains at "H" level Nevertheless held, transistor 10
9 transmits "L", so that the output terminal is maintained without being kept at "L" level. The same holds when the “L” level is output to the output terminal X and the “H” level is output to the output terminal X.
As a result, the input data is latched and the flip-flop operates.
この場合、クロックパルスはラッチ回路11a〜11nが作
動する最小のパルス幅に設定されているから、データ信
号のセット(切り換え)は、クロック信号が“L"レベル
の間に行われなければならないという条件が十分に満た
されてラッチ回路として確実に動作し、かつ従来のマス
ター・スレーブフリップフロップ回路と同じだけ動作周
波数がアップし、高周波数域での動作が可能となる。ま
た、回路的にマスター部およびスレーブ部という2つの
回路を必要とせず、LSI内部に多数のフリップフロップ
回がある半導体装置であっても、回路素子数の増大を防
いで集積度を向上できるという効果が得られる。In this case, since the clock pulse is set to the minimum pulse width at which the latch circuits 11a to 11n operate, the data signal must be set (switched) while the clock signal is at the "L" level. The condition is sufficiently satisfied, the latch circuit operates reliably, and the operating frequency is increased by the same amount as that of the conventional master / slave flip-flop circuit, so that operation in a high frequency range becomes possible. In addition, even if the semiconductor device does not require two circuits, a master unit and a slave unit, and has many flip-flops inside the LSI, the number of circuit elements can be prevented from increasing and the degree of integration can be improved. The effect is obtained.
第7図はマルチプレクサ62の例を示し、このマルチプ
レクサ62はトランジスタ121〜130、定電流源131および
抵抗132〜137により構成される。トランジスタ123、124
はエミッタが共通接続され、それぞれのベースにデータ
端子D2の信号(“H"レベル固定)および基準電圧Verf1
が供給されるとともに、各コレクタ側から論理出力が取
り出されてエミッタホロワのトランジスタ129、130のベ
ースに供給される。また、トランジスタ125、126も同様
にエミッタが共通接続され、それぞれのベースにデータ
端子D1の信号(“L"レベル固定)および基準電圧Vref1
が供給されるとともに、各コレクタ側から論理出力が取
り出されて同じくエミッタホロワのトランジスタ129、1
30のベースに供給される。そして、エミッタホロワのト
ランジスタ130、129のエミッタ側から出力X、が取り
出される。セレクト端子Sの信号はトランジスタ121の
ベースに供給され、これをエミッタホロワで受けてトラ
ンジスタ127のベース電圧が決定され、このとき他方の
トランジスタ128には基準電圧Vref2が供給されており、
両者のベース電圧により何れかがオンして上記ECLトラ
ンジスタ123、124又は125、126の作動が制御される。し
たがって、セレクト信号Sが“H"レベルのときトランジ
スタ127がオンしてECLトランジスタ123、124が作動可能
になってデータ端子D2(“H"レベル)の信号が端子Xか
ら出力され、からはデータ端子D2の信号が反転して出
力される。一方、セレクト信号Sが“L"レベルのときは
トランジスタ128がオンしてECLトランジスタ125、126が
作動可能になってデータ端子D1(“L"レベル)の信号が
端子Xから出力され、端子からは反転して出力され
る。FIG. 7 shows an example of the multiplexer 62. The multiplexer 62 includes transistors 121 to 130, a constant current source 131, and resistors 132 to 137. Transistors 123, 124
Are connected to the emitter in common, and the signal of data terminal D2 (“H” level fixed) and the reference voltage Verf1
, And a logical output is taken out from each collector side and supplied to the bases of the transistors 129 and 130 of the emitter follower. Similarly, the emitters of the transistors 125 and 126 are also connected in common, and the signal of the data terminal D1 (“L” level fixed) and the reference voltage Vref1 are connected to the respective bases.
Is supplied, and the logical output is taken out from each collector side, and the transistors 129 and 1 of the emitter follower are also output.
Supplied to 30 bases. Then, an output X is taken out from the emitter followers of the transistors 130 and 129. The signal of the select terminal S is supplied to the base of the transistor 121, which is received by the emitter follower to determine the base voltage of the transistor 127. At this time, the reference voltage Vref2 is supplied to the other transistor 128,
Either of them is turned on by the base voltages of both, and the operation of the ECL transistors 123, 124 or 125, 126 is controlled. Therefore, when the select signal S is at "H" level, the transistor 127 is turned on, the ECL transistors 123 and 124 are enabled, and the signal of the data terminal D2 ("H" level) is output from the terminal X. The signal at terminal D2 is inverted and output. On the other hand, when the select signal S is at the "L" level, the transistor 128 is turned on, the ECL transistors 125 and 126 are enabled, and the signal at the data terminal D1 ("L" level) is output from the terminal X. Is inverted and output.
第8図はエクスクルーシブノアゲート82の例を示てい
る。なお、このエクスクルーシブノアゲート82はエクス
クルーシブオアゲートとしても使用できる。エクスクル
ーシブノアゲート82はトランジスタ141〜150、定電流源
151および抵抗152〜157により構成される。トランジス
タ143、144はエミッタが共通接続され、それぞれのベー
スに固定信号(“L"レベル固定)および基準電圧Vref1
が供給されるとともに、各コレクタ側から論理出力が取
り出されてエミッタホロワのトランジスタ149、150のベ
ースに供給される。また、トランジスタ146、145も同様
にエミッタが共通接続され、それぞれのベースに同じく
固定信号(“L"レベル固定)および基準電圧Vref1が供
給されるとともに、各コレクタ側から論理出力が取り出
されてエミッタホロワのトランジスタ150、149のベース
に供給される。ただし、供給関係は前記トランジスタ14
3、144の場合と逆になっている。そして、エミッタホロ
ワのトランジスタ149、150のエミッタ側から出力X、
が取り出される。ノード1の信号Bはトランジスタ141
のベースに供給され、これをエミッタホロワで受けてト
ランジスタ147のベース電圧が決定され、このとき他方
のトランジスタ148には基準電圧Vref2が供給されてお
り、両者のベース電圧により何れかがオンして上記ECL
トランジスタ143、144又は145、146の作動が制御され
る。したがって、ノード1の信号Bが“H"レベルのとき
トランジスタ147がオンしてECLトランジスタ143、144が
作動可能になって固定信号(“L"レベル固定)のレベル
を有する信号が端子から出力される。一方、ノード1
の信号Bが“L"レベルのときはトランジスタ148がオン
してECLトランジスタ145、146が作動可能になって固定
信号(“L"レベル固定)のレベルを有する信号が端子
から反転して出力される。FIG. 8 shows an example of the exclusive NOR gate 82. The exclusive NOR gate 82 can also be used as an exclusive OR gate. Exclusive NOR gate 82 is transistors 141-150, constant current source
151 and resistors 152-157. The emitters of the transistors 143 and 144 are commonly connected, and a fixed signal (“L” level fixed) and a reference voltage Vref1
, And a logical output is taken out from each collector side and supplied to the bases of the transistors 149 and 150 of the emitter follower. Similarly, the emitters of the transistors 146 and 145 are also connected in common, and a fixed signal (“L” level is fixed) and a reference voltage Vref1 are supplied to the respective bases, and a logical output is taken out from each collector side. Of the transistors 150 and 149. However, the supply relationship depends on the transistor 14
The opposite is true for 3,144. Then, the output X from the emitter side of the transistors 149 and 150 of the emitter follower,
Is taken out. The signal B of the node 1 is a transistor 141
The base voltage of the transistor 147 is determined by receiving the base voltage of the transistor 147 at this time, and the reference voltage Vref2 is supplied to the other transistor 148 at this time. ECL
The operation of the transistors 143, 144 or 145, 146 is controlled. Therefore, when the signal B at the node 1 is at the “H” level, the transistor 147 is turned on, the ECL transistors 143 and 144 are enabled, and a signal having a fixed signal (“L” level fixed) level is output from the terminal. You. On the other hand, node 1
When the signal B is at the "L" level, the transistor 148 is turned on, the ECL transistors 145 and 146 are enabled, and the signal having the fixed signal ("L" level fixed) level is inverted and output from the terminal. You.
上述したように、これらの回路はラッチ回路11a〜11n
と同様の回路構成によって構成でき、しかもこれをECL
回路で作ると、信号の伝搬遅延時間も同じになって、正
確に所望の遅延時間tpd0を得ることができる。As described above, these circuits are latch circuits 11a to 11n.
It can be configured with the same circuit configuration as
If it is made of a circuit, the signal propagation delay time becomes the same, and a desired delay time tpd0 can be obtained accurately.
本発明によれば、データ信号のセットはクロック信号
が“L"レベルの間に行わなければならないという条件を
十分に満たしてラッチ回路を確実に動作させることがで
き、従来のマスター・スレーブフリップフロップ回路と
同じだけ動作周波数をアップさせて高周波数域での動作
を可能にすることができる。また、回路的にマスター部
およびスレーブ部という2つの回路を必要とせず、LSI
内部に多数のフリップフロップ回路を要する半導体装置
であっても、回路素子数の増大を防いで集積度を向上さ
せることができる。According to the present invention, it is possible to reliably operate the latch circuit by sufficiently satisfying the condition that the data signal must be set while the clock signal is at the "L" level. The operating frequency can be increased by the same amount as that of the circuit to enable operation in a high frequency range. Also, the circuit does not require two circuits, a master unit and a slave unit,
Even in a semiconductor device that requires a large number of flip-flop circuits inside, the number of circuit elements can be prevented from increasing and the degree of integration can be improved.
第1図は本発明の原理を説明する回路図、 第2図は本発明の原理を説明するタイミングチャート、 第3〜8図は本発明に係るフリップフロップ回路の一実
施例を示す図であり、 第3図はそのフリップフロップ回路をLSI内部で使用し
たときのブロック図、 第4図はそのパルス発生回路の具体的な回路例を示す
図、 第5図は第4図に示す回路のタイミングチャート、 第6図はそのラッチ回路の具体的な回路図、 第7図はそのマルチプレクサの具体的な回路図、 第8図はそのエクスクルーシブノアゲートの具体的な回
路図、 第9〜15図は従来のフリップフロップ回路を示す図であ
り、 第9図はそのマスタースレーブ型のブロック図、 第10図は第9図に示す回路のタイミングチャート、 第11図はそのラッチ回路型のブロック図、 第12図はそのマスタースレーブ型の問題点を説明するタ
イミングチャート、 第13図はそのラッチ回路型の問題点を説明するタイミン
グチャート、 第14図は第11図に示す回路のタイミングチャート、 第15図はそのフリップフロップ回路が多数LSI内部にあ
る場合のブロック図である。 11a〜11n、200……ラッチ回路、12、201……パルス発生
回路、21、22、41、61、81……インバータ、23、31、5
1、71、91……バッファゲート、24、43、63、83……ノ
アゲート、32、52、72、92……アンドゲート、42……ナ
ンドゲート、62……マルチプレクサ、82……エクスクル
ーシブノアゲート、101〜110、121〜130、141〜150……
トランジスタ、111、131、151……定電流源、112〜11
7、132〜137、152〜157……抵抗。FIG. 1 is a circuit diagram for explaining the principle of the present invention, FIG. 2 is a timing chart for explaining the principle of the present invention, and FIGS. 3 to 8 are diagrams showing one embodiment of a flip-flop circuit according to the present invention. FIG. 3 is a block diagram when the flip-flop circuit is used inside the LSI, FIG. 4 is a diagram showing a specific circuit example of the pulse generation circuit, and FIG. 5 is a timing chart of the circuit shown in FIG. Chart, FIG. 6 is a specific circuit diagram of the latch circuit, FIG. 7 is a specific circuit diagram of the multiplexer, FIG. 8 is a specific circuit diagram of the exclusive NOR gate, and FIGS. 9 is a diagram showing a conventional flip-flop circuit, FIG. 9 is a block diagram of the master-slave type, FIG. 10 is a timing chart of the circuit shown in FIG. 9, FIG. 11 is a block diagram of the latch circuit type, FIG. Figure 12 shows the FIG. 13 is a timing chart for explaining the problem of the latch circuit type, FIG. 14 is a timing chart for the circuit shown in FIG. 11, and FIG. 15 is its flip-flop. FIG. 3 is a block diagram in the case where a large number of circuits are inside an LSI. 11a to 11n, 200: latch circuit, 12, 201: pulse generation circuit, 21, 22, 41, 61, 81: inverter, 23, 31, 5
1, 71, 91 ... buffer gate, 24, 43, 63, 83 ... NOR gate, 32, 52, 72, 92 ... AND gate, 42 ... NAND gate, 62 ... multiplexer, 82 ... exclusive NOR gate, 101-110, 121-130, 141-150 ...
Transistors, 111, 131, 151 ... constant current sources, 112 to 11
7, 132-137, 152-157 ... Resistance.
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.6,DB名) H03K 3/037 H03K 3/286──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on the front page (58) Field surveyed (Int.Cl. 6 , DB name) H03K 3/037 H03K 3/286
Claims (1)
回路が作動する最小のパルス幅の信号を発生するパルス
発生回路と、 前記パルス発生回路が発生する最小のパルス幅の信号が
供給され、該信号に同期して入力信号をラッチするラッ
チ回路と、 を備え、 前記パルス発生回路が、マルチプレクサ又はエクスクル
ーシブノアゲートを含み、該マルチプレクサ又はエクス
クルーシブノアゲートが前記ラッチ回路と略同一の回路
構成で構成されていること を特徴とするフリップフロック回路。A pulse generating circuit for generating a signal having a minimum pulse width for operating a latch circuit when a clock signal is externally supplied; and supplying a signal having a minimum pulse width generated by the pulse generating circuit. A latch circuit that latches an input signal in synchronization with a signal, wherein the pulse generation circuit includes a multiplexer or an exclusive NOR gate, and the multiplexer or the exclusive NOR gate is configured with substantially the same circuit configuration as the latch circuit. A flip-flop circuit.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2072374A JP2831788B2 (en) | 1990-03-20 | 1990-03-20 | Flip-flop circuit |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2072374A JP2831788B2 (en) | 1990-03-20 | 1990-03-20 | Flip-flop circuit |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH03272216A JPH03272216A (en) | 1991-12-03 |
JP2831788B2 true JP2831788B2 (en) | 1998-12-02 |
Family
ID=13487466
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2072374A Expired - Fee Related JP2831788B2 (en) | 1990-03-20 | 1990-03-20 | Flip-flop circuit |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2831788B2 (en) |
Families Citing this family (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7394052B2 (en) | 2001-07-30 | 2008-07-01 | Nippon Telegraph And Telephone Corporation | Parallel processing logic circuit for sensor signal processing |
JP4524453B2 (en) * | 2004-03-05 | 2010-08-18 | ルネサスエレクトロニクス株式会社 | Flip-flop circuit |
KR101074424B1 (en) * | 2004-11-05 | 2011-10-17 | 삼성전자주식회사 | High-speed low-power clock gated logic circuit |
JP2007336482A (en) | 2006-06-19 | 2007-12-27 | Toshiba Corp | Semiconductor integrated circuit device |
US7724058B2 (en) * | 2007-10-31 | 2010-05-25 | Qualcomm Incorporated | Latch structure and self-adjusting pulse generator using the latch |
JP2010273322A (en) * | 2009-04-23 | 2010-12-02 | Nec Engineering Ltd | Flip-flop circuit with majority circuit |
US9564881B2 (en) | 2015-05-22 | 2017-02-07 | Qualcomm Incorporated | Area-efficient metal-programmable pulse latch design |
US9979394B2 (en) | 2016-02-16 | 2018-05-22 | Qualcomm Incorporated | Pulse-generator |
Family Cites Families (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5917719A (en) * | 1982-07-21 | 1984-01-30 | Hitachi Ltd | Cmos flip-flop circuit |
-
1990
- 1990-03-20 JP JP2072374A patent/JP2831788B2/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH03272216A (en) | 1991-12-03 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US4929850A (en) | Metastable resistant flip-flop | |
US5623223A (en) | Glitchless clock switching circuit | |
US4901076A (en) | Circuit for converting between serial and parallel data streams by high speed addressing | |
US4560888A (en) | High-speed ECL synchronous logic circuit with an input logic circuit | |
US5376848A (en) | Delay matching circuit | |
US5087835A (en) | Positive edge triggered synchronized pulse generator | |
KR100487654B1 (en) | Low power flip-flop circuit | |
EP0330971A2 (en) | Flip-flop circuit | |
US5448597A (en) | Clock signal switching circuit | |
US4703495A (en) | High speed frequency divide-by-5 circuit | |
JP2831788B2 (en) | Flip-flop circuit | |
US20030080793A1 (en) | Flip-flops and clock generators that utilize differential signals to achieve reduced setup times and clock latency | |
CN111213207A (en) | Apparatus and method for providing multi-phase clock signals | |
US5767718A (en) | High speed conditional synchronous one shot circuit | |
US4800296A (en) | Metastable defeating fli-flop | |
JP2887898B2 (en) | Latch circuit | |
US20080030250A1 (en) | Flip-flop circuit | |
KR100433648B1 (en) | Delay-matched clock and data signal generator | |
US6194938B1 (en) | Synchronous integrated clock circuit | |
US5175752A (en) | Frequency divider with reduced clock skew | |
EP0411269B1 (en) | Cmos latch circuit | |
CN116566370B (en) | Power-on reset circuit | |
JP3069107B2 (en) | Test mode setting circuit device | |
KR910001379B1 (en) | Power supply reset signal generating circuit with time delay | |
JPH023328B2 (en) |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080925 Year of fee payment: 10 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |