JP2809168B2 - Timing verification method - Google Patents

Timing verification method

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JP2809168B2
JP2809168B2 JP7341633A JP34163395A JP2809168B2 JP 2809168 B2 JP2809168 B2 JP 2809168B2 JP 7341633 A JP7341633 A JP 7341633A JP 34163395 A JP34163395 A JP 34163395A JP 2809168 B2 JP2809168 B2 JP 2809168B2
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Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明はタイミング検証方法
に関し、特に論理回路における入力信号のタイミング制
約を検証するタイミング検証方法に関する。
The present invention relates to a timing verification method, and more particularly, to a timing verification method for verifying a timing constraint of an input signal in a logic circuit.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、この種のタイミング検証方法は、
MOSディジタル回路などの論理回路を論理シミュレー
ション手段により遅延論理シミュレーションするとき、
論理回路の入力信号に対するセットアップ時間制約やホ
ールド時間制約などのタイミング制約を検証するため用
いられている。そのため、論理シミュレーション手段に
より遅延論理シミュレーションする前に、予め、論理回
路のデータ入力端子およびクロック入力端子に入力され
るデータ信号およびクロック信号のタイミング制約値を
抽出し、論理シミュレーション手段により論理回路を遅
延論理シミュレーションするとき、タイミング制約値を
参照し、入力される前記データ信号および前記クロック
信号の入力時刻のタイミング制約違反を検出している。
この論理シミュレーション手段により遅延論理シミュレ
ーションするとき、一般に、論理回路に入力する入力信
号の入力波形なまりを考慮しない場合と、入力信号の入
力波形なまりを考慮する場合とがある。
2. Description of the Related Art Conventionally, this kind of timing verification method has
When performing a delay logic simulation of a logic circuit such as a MOS digital circuit by logic simulation means,
It is used to verify timing constraints such as a setup time constraint and a hold time constraint on an input signal of a logic circuit. Therefore, before the delay logic simulation is performed by the logic simulation unit, the timing constraint values of the data signal and the clock signal input to the data input terminal and the clock input terminal of the logic circuit are extracted in advance, and the logic simulation unit delays the logic circuit. When performing logic simulation, a timing constraint violation at the input time of the input data signal and the clock signal is detected with reference to the timing constraint value.
When delay logic simulation is performed by the logic simulation means, generally, there is a case where the input waveform rounding of the input signal to be input to the logic circuit is not considered, and a case where the input waveform rounding of the input signal is considered.

【0003】まず、入力信号の入力波形なまりを考慮し
ない場合のタイミング検証方法について説明する。図6
は、このタイミング検証方法における遅延論理シミュレ
ーション前のタイミング制約値抽出処理フロー例1を示
すフローチャートである。論理シミュレーション手段に
より論理回路を遅延論理シミュレーションするときに入
力波形なまりを考慮しないため、タイミング制約値を得
る時点で、実回路上で想定される入力波形なまりを含め
た処理を行う。すなわち、データ端子とクロック端子と
に、各々に想定される1つの入力波形なまりを持った入
力信号波形を与え、回路シミュレーションを行う。デー
タ信号を入力する時刻とクロック信号を入力する時刻と
を、少しづつずらしてこれを繰り返す。
First, a description will be given of a timing verifying method in the case where the input signal rounding is not considered. FIG.
5 is a flowchart showing a timing constraint value extraction processing flow example 1 before delay logic simulation in this timing verification method. Since the input waveform rounding is not taken into account when delay logic simulation is performed on the logic circuit by the logic simulation means, processing including the input waveform rounding assumed on the actual circuit is performed at the time of obtaining the timing constraint value. That is, a circuit simulation is performed by giving an input signal waveform having one assumed rounded input waveform to each of the data terminal and the clock terminal. This is repeated by slightly shifting the time of inputting the data signal and the time of inputting the clock signal.

【0004】たとえば、タイミング制約値がセットアッ
プ時間制約値である場合、データ信号をクロック信号よ
りも十分に遅い時刻に入力した場合、出力信号は期待値
の波形にならない。データ信号を、早い時刻に入力する
よう徐々にずらして行くと、ある時点で期待値の出力信
号が得られる。この時の、データ信号の入力時刻とクロ
ック信号の入力時刻との時間差が、想定した入力波形な
まりにおけるセットアップ時間制約値である。同じ方法
で、ホールド時間制約値なども求められる。
For example, when the timing constraint value is the setup time constraint value, and when the data signal is input at a time sufficiently later than the clock signal, the output signal does not have the expected value waveform. When the data signal is gradually shifted so as to be input at an earlier time, an output signal having an expected value is obtained at a certain time. The time difference between the input time of the data signal and the input time of the clock signal at this time is the setup time constraint value in the assumed input waveform rounding. In the same manner, a hold time constraint value and the like are also obtained.

【0005】この図6の処理フローの後、論理シミュレ
ーション手段により遅延論理シミュレーションするとき
には、データ端子に信号が到着し入力された時刻とクロ
ック端子に信号が到着し入力された時刻とを調べ、その
時刻差があらかじめ求めてあるタイミング制約の時間よ
り大きければ問題なく、タイミング制約の時間より小さ
ければアラームを出す。
After the processing flow of FIG. 6, when delay logic simulation is performed by the logic simulation means, the time when a signal arrives at the data terminal and is inputted and the time when the signal arrives at the clock terminal and is inputted are examined. There is no problem if the time difference is larger than the predetermined timing constraint time, and an alarm is issued if the time difference is smaller than the timing constraint time.

【0006】次に、入力信号の入力波形なまりを考慮し
た場合のタイミング検証方法について説明する。図7
は、このタイミング検証方法における遅延論理シミュレ
ーション前のタイミング制約値抽出処理フロー例2を示
すフローチャートである。ある入力波形なまりと出力信
号の期待値とを想定したときのタイミング制約値を求め
る処理が中心だが、入力するデータ信号およびクロック
信号の入力波形なまりを数点づつ変化させて、これを繰
り返す必要がある。すなわち、入力信号の入力波形なま
りを考慮しない場合のタイミング制約値抽出処理を、入
力信号の入力波形なまりを変化させながら何度も繰り返
すことになる。
Next, a description will be given of a timing verification method in consideration of the rounding of the input signal. FIG.
5 is a flowchart showing a timing constraint value extraction processing flow example 2 before delay logic simulation in this timing verification method. Although the main processing is to find the timing constraint value assuming a certain rounding of the input waveform and the expected value of the output signal, it is necessary to change the rounding of the input waveform of the input data signal and clock signal by several points and repeat this. is there. That is, the timing constraint value extraction processing in the case where the input waveform rounding of the input signal is not considered is repeated many times while changing the input waveform rounding of the input signal.

【0007】この後、ここで求まった複数のタイミング
制約値を基づいて、タイミング制約を、入力信号の入力
波形なまりに依存した関数の形で表現するための集計処
理を行う。関数の形は、数学的な計算式の場合もある
し、表形式も考えられる。
[0007] After that, based on the plurality of timing constraint values obtained here, a tallying process for expressing the timing constraint in the form of a function depending on the rounding of the input waveform of the input signal is performed. The form of the function may be a mathematical formula or a tabular form.

【0008】この図7の処理フローの後、論理シミュレ
ーション手段により遅延論理シミュレーションするとき
には、まず、データ端子に信号が到着し入力された時刻
をクロック端子に信号が到着し入力された時刻を調べ、
その時刻差を計算する。この後、入力波形なまりを用い
て、タイミング制約値を与える関数から、現在の入力波
形なまりに対応するタイミング制約値を求める。先に求
めておいた時刻差が、ここで求めたタイミング制約値の
時間より大きければ問題なく、小さければアラームを出
す。
After the processing flow of FIG. 7, when delay logic simulation is performed by the logic simulation means, first, the time at which a signal arrives at the data terminal and is input is checked by examining the time at which the signal arrives at the clock terminal and is input.
Calculate the time difference. Thereafter, a timing constraint value corresponding to the current input waveform rounding is obtained from a function for giving a timing constraint value using the input waveform rounding. If the previously obtained time difference is larger than the time of the timing constraint value obtained here, there is no problem, and if it is smaller, an alarm is issued.

【0009】[0009]

【発明が解決しようとする課題】従来のタイミング検証
方法では、論理シミュレーション手段により遅延論理シ
ミュレーションするとき入力信号の入力波形なまりを考
慮しない場合、入力波形なまりが一定であるという前提
で検証が行われる。ところが、実際の回路では、入力波
形なまりは場合によって異なるので、タイミング検証の
精度が低いという問題がある。
In the conventional timing verification method, when delay logic simulation is performed by the logic simulation means, if the input waveform rounding is not taken into consideration, the verification is performed on the assumption that the input waveform rounding is constant. . However, in an actual circuit, the rounding of the input waveform differs depending on the case, and thus there is a problem that the accuracy of the timing verification is low.

【0010】また、論理シミュレーション手段により遅
延論理シミュレーションするとき入力信号の入力波形な
まりを考慮する場合、入力波形なまりを考慮できるので
精度は良いが、あらかじめ、複数の入力波形なまりに対
するタイミング制約値を求める必要があり、回路シミュ
レータの実行時間が大きくなる。たとえば、データ信号
とクロック信号の入力波形なまりを各々n種類使用して
回路シミュレーションを行うと、入力信号の入力波形な
まりを使用しない場合のnの二乗の計算量が必要であ
る。
In addition, when the delay simulation is performed by the logic simulation means, when the input waveform rounding is taken into consideration, the input waveform rounding can be considered, so that the accuracy is good. However, timing constraint values for a plurality of input waveform rounding are obtained in advance. And the execution time of the circuit simulator increases. For example, when a circuit simulation is performed using n types of input waveform roundings of a data signal and a clock signal, a calculation amount of square of n is required when the input waveform roundings of the input signal are not used.

【0011】したがって、本発明が解決しようとする課
題は、かかる事情を解決するものであり、安価なCPU
コストで、且つ高精度のタイミング検証を行うタイミン
グ検証方法を提供することである。
Therefore, the problem to be solved by the present invention is to solve such a situation, and an inexpensive CPU is used.
An object of the present invention is to provide a timing verification method for performing cost verification with high accuracy at high cost.

【0012】[0012]

【課題を解決するための手段】そのため、本発明による
タイミング検証方法は、論理回路の内部で実際にセット
アップ時間やホールド時間の概念が発生する内部ノード
においては、データ側の波形なまりもクロック側の波形
なまりも、多くの場合、常に一定であるという特徴と、
論理回路の外部端子から入力された信号が、論理回路内
部で実際にセットアップ時間やホールド時間の概念が発
生する内部ノードに達するまでのデータ信号およびクロ
ック信号の信号遅延時間は、各々の外部端子に信号が入
力された時の入力波形なまりに依存するという特徴とを
利用する。
Therefore, the timing verifying method according to the present invention provides a method in which the concept of a setup time or a hold time actually occurs in a logic circuit at an internal node, and the waveform distortion on the data side is also reduced on the clock side. In many cases, the rounding of the waveform is always constant,
The signal delay time of the data signal and the clock signal until the signal input from the external terminal of the logic circuit actually reaches the internal node where the concept of the setup time or the hold time occurs in the logic circuit is stored in each external terminal. It utilizes the characteristic that it depends on the rounding of the input waveform when a signal is input.

【0013】すなわち、本発明は、論理シミュレーショ
ン手段により論理回路を遅延論理シミュレーションする
とき、前記論理回路のデータ入力端子およびクロック入
力端子に入力されたデータ信号およびクロック信号の入
力タイミングを検証するタイミング検証方法において、
予め、前記データ信号および前記クロック信号の入力波
形なまりを零として回路シミュレーションし、前記論理
回路の出力信号が期待値波形となる前記データ信号およ
び前記クロック信号の入力時刻を求め、タイミング制約
値を抽出する抽出ステップと、予め、前記データ信号の
前記入力波形なまりを変数として前記データ入力端子か
ら前記論理回路内データ保持素子の内部ノードまでのデ
ータ信号遅延時間を測定しデータ遅延関数として表し、
前記クロック信号の前記入力波形なまりを変数として前
記クロック入力端子から前記論理回路内データ保持素子
の内部ノードまでのクロック信号遅延時間を測定しクロ
ック遅延関数として表す関数化ステップと、前記論理シ
ミュレーション手段により前記論理回路を遅延論理シミ
ュレーションするとき、前記データ信号および前記クロ
ック信号の前記各入力波形なまりを前記データ遅延関数
および前記クロック遅延関数の変数にそれぞれ入力し前
記データ信号遅延時間および前記クロック信号遅延時間
をそれぞれ計算する計算ステップと、前記論理シミュレ
ーション手段により前記論理回路を遅延論理シミュレー
ションするとき、前記タイミング制約値,前記データ信
号遅延時間および前記クロック信号遅延時間に基づい
て、前記データ信号および前記クロック信号の入力時刻
のタイミング制約違反を検出する検出ステップと、を含
んでいる。
That is, the present invention provides a timing verification method for verifying the input timing of a data signal and a clock signal input to a data input terminal and a clock input terminal of a logic circuit when a logic circuit is subjected to delay logic simulation. In the method,
In advance, circuit simulation is performed with the input waveform rounding of the data signal and the clock signal set to zero, the input time of the data signal and the clock signal whose output signal of the logic circuit has an expected value waveform is obtained, and a timing constraint value is extracted. Extracting step, in advance, measuring the data signal delay time from the data input terminal to the internal node of the data holding element in the logic circuit using the input waveform rounding of the data signal as a variable and expressing it as a data delay function,
A functioning step of measuring a clock signal delay time from the clock input terminal to an internal node of the data holding element in the logic circuit by using the input waveform rounding of the clock signal as a variable and expressing the result as a clock delay function; When delay logic simulation is performed on the logic circuit, the input waveform roundings of the data signal and the clock signal are input to variables of the data delay function and the clock delay function, respectively, and the data signal delay time and the clock signal delay time are input. And when the logic simulation means performs delay logic simulation on the logic circuit, based on the timing constraint value, the data signal delay time, and the clock signal delay time. A detection step of detecting a timing constraint violations input time of the preliminary said clock signal comprises a.

【0014】[0014]

【発明の実施の形態】次に本発明について図面を参照し
て説明する。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Next, the present invention will be described with reference to the drawings.

【0015】図1および図2は、本発明のタイミング検
証方法の実施形態1を示すフローチャートである。図1
および図2のフロー順に、タイミング検証処理が実行さ
れる。また、図3は、本発明のタイミング検証方法の説
明するために検証対象とした論理回路例を示す概念図で
ある。検証対象とする論理回路1において、タイミング
制約値を発生する回路部分が具体的に示され、その他の
回路部分が省略して示されている。説明の便宜上、この
図3に示した論理回路1について、先に、簡単に説明す
る。、データ入力端子2,クロック入力端子3に、デー
タ信号,クロック信号が入力され、内部ノード4〜7に
遅延到達し、データ保持素子であるトランスファ・ゲー
ト8,9に入力される。内部ノード5,7は、トランス
ファ・ゲート8,9の制御入力に接続され、トランスフ
ァ・ゲート8,9のデータ入力に接続された内部ノード
4,6の信号を次段に伝えるか否かを制御する。トラン
スファ・ゲート9の出力が、その他の回路部分を伝達
し、論理回路1の出力端子10に遅延到達する。
FIG. 1 and FIG. 2 are flowcharts showing Embodiment 1 of the timing verification method of the present invention. FIG.
The timing verification process is executed in the order of FIG. FIG. 3 is a conceptual diagram showing an example of a logic circuit to be verified for explaining the timing verification method of the present invention. In the logic circuit 1 to be verified, a circuit portion that generates a timing constraint value is specifically shown, and other circuit portions are omitted. For convenience of explanation, the logic circuit 1 shown in FIG. 3 will be briefly described first. , A data signal and a clock signal are input to a data input terminal 2 and a clock input terminal 3, respectively, arrive at internal nodes 4 to 7 with a delay, and are input to transfer gates 8 and 9 as data holding elements. Internal nodes 5 and 7 are connected to control inputs of transfer gates 8 and 9 and control whether or not signals of internal nodes 4 and 6 connected to data inputs of transfer gates 8 and 9 are transmitted to the next stage. I do. The output of the transfer gate 9 is transmitted to other circuit parts, and arrives at the output terminal 10 of the logic circuit 1 with a delay.

【0016】図1および図2ならびに図3を参照して、
本実施形態のタイミング検証方法の構成を説明する。
Referring to FIGS. 1, 2 and 3,
The configuration of the timing verification method according to the present embodiment will be described.

【0017】図1に示した本実施形態のタイミング検証
方法における処理ステップ21〜30は、論理シミュレ
ーション手段により論理回路1を遅延論理シミュレーシ
ョンする前のキャラクタライゼーションと呼ばれる処理
フローの中で行われるものである。
The processing steps 21 to 30 in the timing verification method of the present embodiment shown in FIG. 1 are performed in a processing flow called characterization before the logic simulation of the logic circuit 1 by the logic simulation means. is there.

【0018】処理ステップ21は、予め、論理回路1の
データ入力端子2およびクロック入力端子3に入力され
るデータ信号およびクロック信号の入力波形なまりを零
として回路シミュレーションし、論理回路1の出力信号
が期待値波形となるデータ信号およびクロック信号の入
力時刻を求め、タイミング制約値を抽出する抽出ステッ
プである。また、処理ステップ22〜30は、予め、デ
ータ信号の入力波形なまりを変数としてデータ入力端子
2から論理回路1内のデータ保持素子8,9の内部ノー
ド4,6までのデータ信号遅延時間を測定し遅延関数1
として表し、クロック信号の入力波形なまりを変数とし
てクロック入力端子3から論理回路1内のデータ保持素
子8,9の内部ノード5,7までのクロック信号遅延時
間を測定し遅延関数2として表す関数化ステップであ
る。
In a processing step 21, a circuit simulation is performed in advance with rounding of the input waveform rounding of the data signal and the clock signal input to the data input terminal 2 and the clock input terminal 3 of the logic circuit 1, and the output signal of the logic circuit 1 is This is an extraction step in which the input times of the data signal and the clock signal having the expected value waveform are obtained, and the timing constraint value is extracted. In the processing steps 22 to 30, the data signal delay time from the data input terminal 2 to the internal nodes 4 and 6 of the data holding elements 8 and 9 in the logic circuit 1 is measured in advance using the rounding of the input waveform of the data signal as a variable. Delay function 1
The function of expressing the clock signal delay time from the clock input terminal 3 to the internal nodes 5 and 7 of the data holding elements 8 and 9 in the logic circuit 1 using the rounding of the input waveform of the clock signal as a variable and expressing it as a delay function 2 Step.

【0019】図2に示した本実施形態のタイミング検証
方法における処理ステップ41〜48は、論理シミュレ
ーション手段により論理回路1を遅延論理シミュレーシ
ョンするとき、論理回路1のデータ入力端子2およびク
ロック入力端子3に到着し入力されたデータ信号および
クロック信号の入力タイミングを検証する処理フローで
ある。
The processing steps 41 to 48 in the timing verification method according to the present embodiment shown in FIG. 2 are performed when the logic simulation means performs the delay logic simulation on the logic circuit 1 by the data input terminal 2 and the clock input terminal 3 of the logic circuit 1. 5 is a processing flow for verifying the input timing of a data signal and a clock signal that have arrived and been input to the device.

【0020】処理ステップ41〜44は、データ信号お
よびクロック信号の各入力時刻および各入力波形なまり
を調べるステップであり、処理ステップ45〜47は、
データ信号およびクロック信号の各入力波形なまりを遅
延関数1および遅延関数2の変数にそれぞれ入力しデー
タ信号遅延時間およびクロック信号遅延時間をそれぞれ
計算し、データ信号およびクロック信号の各入力時刻と
データ信号遅延時間およびクロック信号遅延時間とから
論理回路1内のデータ保持素子8,9の内部ノード4〜
7における前記データ信号と前記クロック信号との到着
時刻差を計算する計算ステップである。また、処理ステ
ップ48は、タイミング制約値と到着時刻差を比較し、
データ信号およびクロック信号の入力時刻のタイミング
制約違反を検出する検出ステップである。
The processing steps 41 to 44 are steps for checking each input time and each input waveform rounding of the data signal and the clock signal.
The respective input waveform roundings of the data signal and the clock signal are input to variables of the delay function 1 and the delay function 2, respectively, and the data signal delay time and the clock signal delay time are calculated, respectively. From the delay time and the clock signal delay time, the internal nodes 4 to 9 of the data holding elements 8 and 9 in the logic circuit 1
7 is a calculation step of calculating an arrival time difference between the data signal and the clock signal. The processing step 48 compares the timing constraint value with the arrival time difference,
This is a detection step for detecting a timing constraint violation at the input time of the data signal and the clock signal.

【0021】次に、図3の回路のタイミング制約値がセ
ットアップ時間の制約値である例にとって、本実施形態
のタイミング検証方法の各ステップ順に説明する。
Next, an example in which the timing constraint value of the circuit of FIG. 3 is a constraint value of the setup time will be described in the order of each step of the timing verification method of this embodiment.

【0022】はじめに、図1のステップ21で、図3の
2に入力するデータ信号の入力波形なまりを0にして、
図3のクロック信号の入力波形なまりを0にして、図3
の内部ノード4,5に対するセットアップ時間を求め
る。この方法は、図3の入力端子2,3に入力する信号
の入力時刻を徐々を変化させ、その結果、出力端子10
に期待値の波形出力が得られる条件下の、端子2および
3の入力時刻を調べ、そのとき、端子2および3に入力
された信号が、内部ノード4,5に到達する時刻を測定
することで行う。そのときの内部ノード4,5の時刻差
が、図1のステップ21で求めるセットアップ時間制約
値である。なお、データ信号は対象回路の境界である図
3の端子2,3に入力して行うのが簡単だが、図3の内
部ノード4,5に直接入力する方法でも測定は可能であ
る。また、これらの測定は回路シミュレータで行うが、
回路規模と必要な精度に応じて、スイッチレベルシミュ
レータやゲートレベルシミュレータなど回路シミュレー
タ以外のシミュレータを用いることが出来る。
First, in step 21 of FIG. 1, the rounding of the input waveform of the data signal input to 2 in FIG.
The input waveform rounding of the clock signal in FIG.
The setup time for the internal nodes 4 and 5 is determined. This method gradually changes the input time of the signal input to the input terminals 2 and 3 in FIG.
To check the input times of the terminals 2 and 3 under the condition that the expected waveform output is obtained, and to measure the time when the signals input to the terminals 2 and 3 reach the internal nodes 4 and 5 Do with. The time difference between the internal nodes 4 and 5 at that time is the setup time constraint value obtained in step 21 of FIG. It is easy to input the data signal to the terminals 2 and 3 in FIG. 3 which is the boundary of the target circuit. However, the measurement can also be performed by directly inputting the data to the internal nodes 4 and 5 in FIG. In addition, although these measurements are performed with a circuit simulator,
A simulator other than a circuit simulator, such as a switch level simulator or a gate level simulator, can be used depending on the circuit scale and the required accuracy.

【0023】次に、図1のステップ22で、図3の端子
2に与える入力波形なまりの種類を複数個求める。これ
は、入力波形なまりがデータ信号遅延時間に与える影響
が判る様な選び方をする。人手で経験的に入力波形なま
りを与えることもできるが、代表的な小型ブロックに対
して回路シミュレータを自動実行し、入力波形なまり
と、そのブロックの入力から出力へのデータ信号遅延時
間を測定し、入力波形なまりとデータ信号遅延時間の関
係をグラフに描き、グラフの折れ曲がりが顕著な点を複
数選ぶという方法を使うことも可能である。
Next, in step 22 of FIG. 1, a plurality of types of rounded input waveforms to be applied to the terminal 2 of FIG. 3 are obtained. This is done in such a way that the influence of the rounding of the input waveform on the data signal delay time can be understood. Although input waveform rounding can be given manually and empirically, a circuit simulator is automatically executed for a typical small block, and the input waveform rounding and the data signal delay time from input to output of that block are measured. It is also possible to draw a graph of the relationship between the input waveform rounding and the data signal delay time, and to select a plurality of points where the graph is remarkably bent.

【0024】図1のステップ23では、図1のステップ
22で選んだ複数の入力波形なまりの各々について、図
3の端子2から内部ノード4へのデータ信号遅延時間を
求める。
In step 23 of FIG. 1, for each of the plurality of rounded input waveforms selected in step 22 of FIG. 1, the data signal delay time from terminal 2 to internal node 4 in FIG. 3 is determined.

【0025】図1のステップ22で選んだ複数の入力波
形なまりについてステップ23の処理が終わった後、図
1のステップ26で、これらの結果を集計する。すなわ
ち、入力波形なまりから図3の端子2から内部ノード4
へのデータ信号遅延時間を求める遅延関数1を作成す
る。入力波形なまりを変数とする関数であることを示す
と式(1)となる。
After the processing of step 23 is completed for a plurality of rounded input waveforms selected in step 22 of FIG. 1, the results are totaled in step 26 of FIG. That is, from the input waveform rounding, the terminal 2 of FIG.
A delay function 1 for calculating a data signal delay time is generated. Expression (1) indicates that the function has the input waveform rounding as a variable.

【0026】 [0026]

【0027】式(1)でInputSlopeとはデータ信号の入
力波形なまりの値であり、Delay とは図3の端子2から
内部ノード4へのデータ信号遅延時間である。式(1)
のFunctionAは、数式でも良いし、テーブルでも良い。
式(1)のFunctionAを数式で表現した例が式(2)で
ある。式(2)の場合は、図1のステップ26の処理
で、ParameterAとParameterBを求める。式(2)は1次
式の例だが2次式などこれ以外の方法も考えられる。
In Expression (1), InputSlope is the rounding value of the input waveform of the data signal, and Delay is the data signal delay time from terminal 2 to internal node 4 in FIG. Equation (1)
FunctionA may be a mathematical expression or a table.
Expression (2) is an example in which FunctionA of Expression (1) is expressed by a mathematical expression. In the case of equation (2), ParameterA and ParameterB are obtained in the process of step 26 in FIG. Equation (2) is an example of a linear equation, but other methods such as a quadratic equation are also conceivable.

【0028】 [0028]

【0029】図4は、式(1)をテーブルで表現した例
を示す説明図である。テーブルで表現した場合は、任意
の入力なまりに対する信号遅延時間をこのテーブルの要
素から求めるための補間処理が必要になる。
FIG. 4 is an explanatory diagram showing an example in which the expression (1) is expressed in a table. In the case of expressing in a table, an interpolation process for obtaining a signal delay time for an arbitrary input round from an element of this table is required.

【0030】図1のステップ26以降では、クロック信
号について、データ信号におけるステップ21からステ
ップ25までの処理と同様の処理を行う。結果としてス
テップ30において、クロック端子の入力波形すなわち
図3のステップ3のクロック信号の入力波形なまりか
ら、図3の端子3から内部ノード5へのクロック信号遅
延時間を求める遅延関数2を作成する。このとき、式
(1)でInputSlopeとはクロック信号の入力波形なまり
の値であり、Delay とは図3の端子3から内部ノード5
へのデータ信号遅延時間と読み替える。
After step 26 in FIG. 1, the clock signal is subjected to the same processing as the processing from step 21 to step 25 for the data signal. As a result, in step 30, a delay function 2 for obtaining a clock signal delay time from the terminal 3 in FIG. 3 to the internal node 5 is created from the input waveform of the clock terminal, that is, the rounding of the input waveform of the clock signal in step 3 in FIG. At this time, in Expression (1), InputSlope is the value of the rounding of the input waveform of the clock signal, and Delay is from the terminal 3 to the internal node 5 in FIG.
Data signal delay time.

【0031】ここで、論理シミュレーション手段により
論理回路1を遅延論理シミュレーションする前の、キャ
ラクタライゼーション側の処理フローは終了し、次の図
2の論理シミュレーション手段により論理回路1を遅延
論理シミュレーションするときの処理フローに移る。
Here, the processing flow on the characterization side before the logic simulation of the logic circuit 1 by the logic simulation means ends, and the logic simulation means of FIG. Move to processing flow.

【0032】図2のステップ41において、図3の端子
2に入力されるデータ信号の入力時刻を調べる。その時
のデータ信号の入力波形なまりを図2のステップ42で
調べる。また、図2のステップ43,44において、図
3の端子3に入力されるクロック信号の入力時刻と入力
波形なまりを調べる。ここで図2のステップ41からス
テップ44の処理順序は問題ではない。
In step 41 of FIG. 2, the input time of the data signal input to the terminal 2 of FIG. 3 is checked. The rounding of the input waveform of the data signal at that time is checked in step 42 of FIG. Further, in steps 43 and 44 in FIG. 2, the input time of the clock signal input to the terminal 3 in FIG. 3 and the input waveform rounding are checked. Here, the processing order of steps 41 to 44 in FIG. 2 does not matter.

【0033】次に、図2のステップ45で、データ端子
に入力されたデータ信号が図3の内部ノード4に到着す
る時刻を計算する。この計算には、図2のステップ41
で調べたデータ信号の到着時刻と、ステップ42で調べ
た入力波形なまりと、式(1)を用いて、次の式(3)
で計算する。
Next, at step 45 in FIG. 2, the time at which the data signal input to the data terminal arrives at the internal node 4 in FIG. 3 is calculated. In this calculation, step 41 in FIG.
Using the arrival time of the data signal checked at step, the input waveform rounding checked at step, and equation (1), the following equation (3) is used.
Is calculated.

【0034】 [0034]

【0035】ここで、DataArrivalTime とは、データ信
号が図3の端子2に到着し入力された時刻である。Func
tionA は、図1のステップ25で求めた遅延関数であ
る。DataTimeは、データ信号が図3の内部ノード4に到
着する時刻である。
Here, DataArrivalTime is the time when the data signal arrives at terminal 2 in FIG. 3 and is input. Func
tionA is the delay function obtained in step 25 of FIG. DataTime is the time when the data signal arrives at the internal node 4 in FIG.

【0036】次に、図2のステップ46で、クロック端
子に入力されたクロック信号が図3の内部ノード4に到
着する時刻を計算する。この計算には、図2のステップ
43で調べたクロック信号の到着時刻と、ステップ44
で調べた入力波形なまりと、式(1)を用いて、次の式
(4)で計算する。
Next, at step 46 in FIG. 2, the time at which the clock signal input to the clock terminal arrives at the internal node 4 in FIG. 3 is calculated. In this calculation, the arrival time of the clock signal checked in step 43 of FIG.
The following equation (4) is used to calculate using the input waveform rounding checked in step (1) and equation (1).

【0037】 [0037]

【0038】ここで、ClockArrivalTimeとは、クロック
信号が図3の端子3に到着し入力された時刻である。Fu
nctionA は、図1のステップ30で求めた遅延関数であ
る。ClockTime は、信号が図3の内部ノード5に到着す
る時刻である。
Here, ClockArrivalTime is the time when the clock signal arrives at terminal 3 in FIG. 3 and is input. Fu
nctionA is the delay function obtained in step 30 of FIG. ClockTime is the time when the signal arrives at the internal node 5 in FIG.

【0039】次に、図2のステップ47で、データ信号
が図3の内部ノード4に到着とクロック信号が図3の内
部ノード5に到着した時刻の差を求める。この値は、セ
ットアップ時間を求める場合は、次に示す式(5)で計
算し、ホールド時間を求める場合は、次の(6)式で計
算する。
Next, at step 47 in FIG. 2, the difference between the time when the data signal arrives at the internal node 4 in FIG. 3 and the time when the clock signal arrives at the internal node 5 in FIG. 3 is determined. This value is calculated by the following equation (5) when determining the setup time, and is calculated by the following equation (6) when determining the hold time.

【0040】 [0040]

【0041】なお、上記のセットアップ時間やホールド
時間は、図2ではタイミング余裕という言葉で表現して
いる。
Note that the setup time and the hold time described above are represented by the term “timing allowance” in FIG.

【0042】最後に、図2のステップ48で、次の条件
式(7),(8)が満たされているかを判断し、条件が
満たされていなければ警告を発する。
Finally, at step 48 in FIG. 2, it is determined whether or not the following conditional expressions (7) and (8) are satisfied. If the conditions are not satisfied, a warning is issued.

【0043】 [0043]

【0044】図5は、本発明のタイミング検証方法の実
施形態2を示す部分フローチャートである。論理シミュ
レーション手段により論理回路1を遅延論理シミュレー
ションする前の、キャラクタライゼーション側の処理フ
ロー部分を示している。実施形態2では、実施形態1に
おいて遅延論理シミュレーションするときの処理の1部
をキャラクタライゼーション側の処理フローで行う例で
ある。キャラクタライゼーション側の処理に追加する処
理をここで説明する。
FIG. 5 is a partial flowchart showing Embodiment 2 of the timing verification method of the present invention. 4 shows a processing flow portion on the characterization side before performing a delay logic simulation of the logic circuit 1 by the logic simulation means. The second embodiment is an example in which a part of the processing when performing the delay logic simulation in the first embodiment is performed by the processing flow on the characterization side. The processing added to the processing on the characterization side will be described here.

【0045】実施形態2では、セットアップ時間の検証
を行うことを仮定すると、まず、あらかじめ求められて
いる図3の内部ノード5,6の間のタイミング制約値を
取り出す。
In the second embodiment, assuming that verification of the setup time is performed, first, a timing constraint value between the internal nodes 5 and 6 in FIG.

【0046】次に、図5のステップ52でデータ入力端
子から内部ノードまでのデータ信号遅延時間を、複数の
入力波形なまりについて求める。すなわち図3の端子2
から内部ノード4までのデータ信号遅延時間を、複数の
入力波形なまりについて求める。
Next, in step 52 of FIG. 5, the data signal delay time from the data input terminal to the internal node is obtained for a plurality of rounded input waveforms. That is, terminal 2 in FIG.
From the input signal to the internal node 4 are obtained for a plurality of rounded input waveforms.

【0047】次に、図5のステップ53でクロック入力
端子から内部ノードまでのクロック信号遅延時間を、複
数の入力波形なまりについて求める。すなわち図3の端
子3から内部ノード7までのクロック信号遅延時間を、
複数の入力波形なまりについて求める。
Next, in step 53 of FIG. 5, the clock signal delay time from the clock input terminal to the internal node is obtained for a plurality of rounded input waveforms. That is, the clock signal delay time from the terminal 3 to the internal node 7 in FIG.
Find multiple rounded input waveforms.

【0048】次に、図5のステップ54で、ステップ5
1,52,53で求めた値から、データ信号とクロック
信号の入力波形なまりの組合せに応じたセットアップ時
間の制約値を表す制約関数を作成する。この処理は次の
計算式(9)を用いて行う。
Next, in step 54 of FIG.
From the values obtained in 1, 52 and 53, a constraint function representing a constraint value of the setup time according to the combination of the input waveform rounding of the data signal and the clock signal is created. This processing is performed using the following equation (9).

【0049】[0049]

【0050】 [0050]

【0051】計算式(9)において、x はデータ信号の
入力波形なまりであり、y はクロック信号の入力波形な
まりである。SetupInternal は内部ノードに対するセッ
トアップ時間の制約値であり、DelayData はデータ端子
から内部ノードへのデータ信号遅延時間であり、DelayC
lockはクロック端子から内部ノードへのクロック信号遅
延時間である。SetupTopは、データ端子とクロック端子
のセットアップ時間の入力波形なまり時タイミング制約
値である。SetupTop(x,y) はテーブル形式で保持しても
よいし、関数として保持してもよい。ここで求められた
SetupTop(x,y) の値は、従来手法における論理シミュレ
ータ手段によるタイミング検証に用いることができる。
In the equation (9), x is the rounding of the input waveform of the data signal, and y is the rounding of the input waveform of the clock signal. SetupInternal is the setup time constraint value for the internal node, DelayData is the data signal delay time from the data terminal to the internal node, and DelayC
lock is a clock signal delay time from the clock terminal to the internal node. SetupTop is a timing constraint value at the time of input waveform rounding of the setup time of the data terminal and the clock terminal. SetupTop (x, y) may be stored in a table format or as a function. Sought here
The value of SetupTop (x, y) can be used for timing verification by means of a logic simulator in a conventional method.

【0052】次に、論理シミュレーション手段により論
理回路1を遅延論理シミュレーションするときには、デ
ータ信号およびクロック信号の各入力波形なまりを制約
関数の変数に入力し入力波形なまり時タイミング制約値
を計算し、データ信号およびクロック信号の入力時刻差
と入力波形なまり時タイミング制約値とを比較し、デー
タ信号およびクロック信号の入力時刻のタイミング制約
違反を検出する。
Next, when delay logic simulation is performed on the logic circuit 1 by the logic simulation means, each input waveform rounding of a data signal and a clock signal is input to a variable of a constraint function, and an input waveform rounding timing constraint value is calculated. The input timing difference between the signal and the clock signal is compared with the timing constraint value at the time of input waveform rounding, and a timing constraint violation at the input time of the data signal and the clock signal is detected.

【0053】以上の実施形態1,2のタイミング検証方
法により、タイミング制約値を計算する段階で回路シミ
ュレーションのCPUコストを大幅に減少させた上で、
タイミング検証時に従来手法における入力波形なまりを
考慮したタイミング検証と同程度の高精度検証を実現で
きる。
According to the timing verification methods of the first and second embodiments, the CPU cost of the circuit simulation is significantly reduced at the stage of calculating the timing constraint value.
At the time of timing verification, it is possible to achieve the same high-accuracy verification as that of the conventional method, which considers input waveform rounding.

【0054】[0054]

【発明の効果】以上説明したように、本発明のタイミン
グ検証方法は、論理シミュレーション手段により論理回
路を遅延論理シミュレーションするとき、タイミング制
約値を1値だけ持てば良い。従来のタイミング検証方法
では、データ信号の入力波形なまりの種類数とクロック
信号の入力波形なまりの種類数の組合せの数だけ、タイ
ミング制約値を持たないといけない。仮に、データ信
号,クロック信号が入力波形なまりの種類数を4種類づ
つ持っているとすると、この部分の処理時間は16分の
1になる。
As described above, the timing verification method of the present invention only needs to have one timing constraint value when delay logic simulation is performed on a logic circuit by the logic simulation means. In the conventional timing verification method, it is necessary to have timing constraint values by the number of combinations of the number of types of rounded input waveforms of data signals and the number of types of rounded input waveforms of clock signals. Assuming that the data signal and the clock signal have four types of input waveform rounding, the processing time of this portion is 1/16.

【0055】また、本発明のタイミング検証方法では、
データ端子から内部ノードまでのデータ信号遅延時間
と、クロック端子から内部ノードまでのクロック信号遅
延時間を、各々の入力波形なまりの関数として求める必
要がある。その時の回路シミュレーションの実行回数
は、入力波形なまりの数と同じである。1つのタイミン
グ制約値を求めるのに、平均20回の回路シミュレーシ
ョンが必要だとすると、従来のタイミング検証方法で
は、必要なシミュレーション回数は、20*16=32
0(1つの抽出に必要な回数*入力波形なまりの組合せ
数)で、320回の回路シミュレーションが必要であ
る。一方、本発明のタイミング検証方法では、必要なシ
ミュレーション回数は、20*1+4+4=28(1つ
の抽出に必要な回数*入力波形なまりの組合せ数+デー
タ信号遅延のための回数+クロック信号遅延のための回
数)で、28回の回路シミュレーションで済むため、約
11分の1のCPUコストで、タイミング制約値を抽出
できるなどの効果がある。
In the timing verification method of the present invention,
It is necessary to determine the data signal delay time from the data terminal to the internal node and the clock signal delay time from the clock terminal to the internal node as a function of each input waveform rounding. The number of executions of the circuit simulation at that time is the same as the number of rounded input waveforms. Assuming that an average of 20 circuit simulations is required to obtain one timing constraint value, the required number of simulations is 20 * 16 = 32 in the conventional timing verification method.
With 0 (the number of times required for one extraction * the number of combinations of input waveform roundings), 320 circuit simulations are required. On the other hand, in the timing verification method of the present invention, the required number of simulations is 20 * 1 + 4 + 4 = 28 (the number required for one extraction * the number of combinations of input waveform roundings + the number of data signal delays + the clock signal delay) ), And only 28 circuit simulations are required, so that the timing constraint value can be extracted with a CPU cost of about 1/11.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明のタイミング検証方法の実施形態1の前
半フローを示すフローチャートである。
FIG. 1 is a flowchart illustrating a first half flow of a timing verification method according to a first embodiment of the present invention.

【図2】本発明のタイミング検証方法の実施形態1の後
半フローを示すフローチャートである。
FIG. 2 is a flowchart illustrating a second half flow of the timing verification method according to the first embodiment of the present invention.

【図3】タイミング検証方法の説明するために検証対象
とした論理回路例を示す概念図である。
FIG. 3 is a conceptual diagram showing an example of a logic circuit to be verified for explaining a timing verification method.

【図4】信号遅延時間をテーブルで表現した例を示す説
明図である。
FIG. 4 is an explanatory diagram showing an example in which a signal delay time is expressed in a table.

【図5】本発明のタイミング検証方法の実施形態2の前
半フローを示すフローチャートである。
FIG. 5 is a flowchart showing a first half flow of a timing verification method according to a second embodiment of the present invention;

【図6】従来のタイミング検証方法例1の前半フローを
示すフローチャートである。
FIG. 6 is a flowchart showing a first half flow of a conventional timing verification method example 1;

【図7】従来のタイミング検証方法例2の前半フローを
示すフローチャートである。
FIG. 7 is a flowchart showing a first half flow of a second conventional timing verification method.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 検証対象とする論理回路例 2 データ入力端子 3 クロック入力端子 4 セットアップ時間にかかわるデータ側内部ノード 5 セットアップ時間にかかわるクロック側内部ノー
ド 6 ホールド時間にかかわるデータ側内部ノード 7 ホールド時間にかかわるクロック側内部ノード 8 トランスファーゲート 9 トランスファーゲート 10 出力端子 21〜54 処理ステップ
1 Example of logic circuit to be verified 2 Data input terminal 3 Clock input terminal 4 Data side internal node related to setup time 5 Clock side internal node related to setup time 6 Data side internal node related to hold time 7 Clock side related to hold time Internal node 8 Transfer gate 9 Transfer gate 10 Output terminal 21 to 54 Processing steps

Claims (3)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 論理シミュレーション手段により論理回
路を遅延論理シミュレーションするとき、前記論理回路
のデータ入力端子およびクロック入力端子に入力された
データ信号およびクロック信号の入力タイミングを検証
するタイミング検証方法において、予め、前記データ信
号および前記クロック信号の入力波形なまりを零として
回路シミュレーションし、前記論理回路の出力信号が期
待値波形となる前記データ信号および前記クロック信号
の入力時刻を求め、タイミング制約値を抽出する抽出ス
テップと、予め、前記データ信号の前記入力波形なまり
を変数として前記データ入力端子から前記論理回路内デ
ータ保持素子の内部ノードまでのデータ信号遅延時間を
測定しデータ遅延関数として表し、前記クロック信号の
前記入力波形なまりを変数として前記クロック入力端子
から前記論理回路内データ保持素子の内部ノードまでの
クロック信号遅延時間を測定しクロック遅延関数として
表す関数化ステップと、前記論理シミュレーション手段
により前記論理回路を遅延論理シミュレーションすると
き、前記データ信号および前記クロック信号の前記各入
力波形なまりを前記データ遅延関数および前記クロック
遅延関数の変数にそれぞれ入力し前記データ信号遅延時
間および前記クロック信号遅延時間をそれぞれ計算する
計算ステップと、前記論理シミュレーション手段により
前記論理回路を遅延論理シミュレーションするとき、前
記タイミング制約値,前記データ信号遅延時間および前
記クロック信号遅延時間に基づいて、前記データ信号お
よび前記クロック信号の入力時刻のタイミング制約違反
を検出する検出ステップと、を含むことを特徴とするタ
イミング検証方法。
In a timing verification method for verifying the input timing of a data signal and a clock signal input to a data input terminal and a clock input terminal of a logic circuit when performing a delay logic simulation of the logic circuit by the logic simulation means, A circuit simulation in which input waveform rounding of the data signal and the clock signal is set to zero, an input time of the data signal and the clock signal whose output signal of the logic circuit has an expected value waveform is obtained, and a timing constraint value is extracted. Extracting, beforehand, measuring the data signal delay time from the data input terminal to the internal node of the data holding element in the logic circuit using the input waveform rounding of the data signal as a variable, and expressing the measured data signal delay function as a data delay function; The input waveform rounding of A function of measuring a clock signal delay time from the clock input terminal to an internal node of the data holding element in the logic circuit and expressing the result as a clock delay function, using the logic simulation means to perform delay logic simulation of the logic circuit. A calculation step of inputting the input waveform rounding of the data signal and the clock signal to variables of the data delay function and the clock delay function, respectively, and calculating the data signal delay time and the clock signal delay time, respectively; When delay logic simulation is performed on the logic circuit by the logic simulation means, the input timing of the data signal and the clock signal is determined based on the timing constraint value, the data signal delay time, and the clock signal delay time. Timing verification method characterized by comprising the steps of detecting a timing constraint violations, the.
【請求項2】 前記計算ステップが、前記データ信号お
よび前記クロック信号の各入力時刻と前記データ信号遅
延時間および前記クロック信号遅延時間とから前記論理
回路内データ保持素子の内部ノードにおける前記データ
信号と前記クロック信号との到着時刻差を計算するステ
ップを含み、前記検出ステップが、前記タイミング制約
値と前記到着時刻差を比較し、前記データ信号および前
記クロック信号の入力時刻のタイミング制約違反を検出
するステップである、請求項1記載のタイミング検証方
法。
2. The method according to claim 1, wherein the calculating step calculates the data signal at an internal node of the data holding element in the logic circuit from each input time of the data signal and the clock signal, the data signal delay time and the clock signal delay time. Calculating the arrival time difference with the clock signal, wherein the detecting step compares the timing constraint value with the arrival time difference to detect a timing constraint violation at the input time of the data signal and the clock signal. 2. The timing verification method according to claim 1, wherein the method is a step.
【請求項3】 前記関数化ステップが、前記遅延関数お
よび前記タイミング制約値とから、前記データ信号およ
び前記クロック信号の入力波形なまり時タイミング制約
値を前記各入力波形なまりを変数とする制約関数として
表すステップを含み、前記計算ステップが、前記データ
信号および前記クロック信号の前記各入力波形なまりを
前記制約関数の変数に入力し前記入力波形なまり時タイ
ミング制約値を計算するステップであり、前記検出ステ
ップが、前記データ信号および前記クロック信号の入力
時刻差と前記入力波形なまり時タイミング制約値とを比
較し、前記データ信号および前記クロック信号の入力時
刻のタイミング制約違反を検出するステップである、請
求項1記載のタイミング検証方法。
3. The method of claim 2, wherein the step of converting the input signal transition timing of the data signal and the clock signal into a timing constraint value based on the delay function and the timing constraint value as a constraint function using the respective input waveform transitions as variables. And calculating the input waveform rounding timing constraint value by inputting each of the input waveform roundings of the data signal and the clock signal to a variable of the constraint function, wherein the detecting step comprises: Is a step of comparing the input time difference between the data signal and the clock signal with the timing constraint value at the time when the input waveform is rounded, and detecting a timing constraint violation at the input time of the data signal and the clock signal. 2. The timing verification method according to 1.
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