JP2802019B2 - Substrate processing apparatus and method of controlling substrate transport mechanism - Google Patents

Substrate processing apparatus and method of controlling substrate transport mechanism

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JP2802019B2
JP2802019B2 JP5113649A JP11364993A JP2802019B2 JP 2802019 B2 JP2802019 B2 JP 2802019B2 JP 5113649 A JP5113649 A JP 5113649A JP 11364993 A JP11364993 A JP 11364993A JP 2802019 B2 JP2802019 B2 JP 2802019B2
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Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】この発明は被処理基板を搬送しつ
つその被処理基板に対して一連の処理を行うための基板
処理装置と、それに使用される基板搬送機構の制御方法
に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a substrate processing apparatus for performing a series of processes on a substrate to be processed while transporting the substrate, and a method of controlling a substrate transport mechanism used in the apparatus.

【0002】[0002]

【従来の技術とその問題点】周知のように、液晶表示基
板や半導体基板などの精密電子基板の製造プロセスにお
いては、たとえば回転式洗浄装置(以下「スピンスクラ
バ」)、回転式塗布装置(以下「スピンコータ」)、回
転式現像装置(以下「スピンデベロッパ」)、オーブン
(加熱器)、露光機などの単位処理部を配列し、被処理
基板をその配列に沿って搬送しつつそれら単位処理部に
出入れして一連の処理を行う基板処理装置が使用され
る。
2. Description of the Related Art As is well known, in a manufacturing process of a precision electronic substrate such as a liquid crystal display substrate or a semiconductor substrate, for example, a rotary cleaning device (hereinafter referred to as "spin scrubber") and a rotary coating device (hereinafter referred to as "spin scrubber"). "Spin coater"), unit processing units such as a rotary developing device (hereinafter "spin developer"), an oven (heater), and an exposure machine are arranged, and these unit processing units are transported along the arrangement of the substrate to be processed. A substrate processing apparatus for performing a series of processing by moving in and out of the apparatus is used.

【0003】従来の基板処理装置においては、これらの
単位処理部の配列からなる処理列に沿って直線的搬送路
が設けられ、その搬送路上を基板搬送機構が往復移動す
る。そして、その基板搬送機構によって各単位処理部へ
の被処理基板の出し入れを行わせ、それによって各被処
理基板に対する一連の表面処理が実行される。
In a conventional substrate processing apparatus, a linear transport path is provided along a processing row composed of an array of these unit processing sections, and a substrate transport mechanism reciprocates on the transport path. Then, the substrate transfer mechanism causes the substrate to be processed to be moved into and out of each unit processing unit, thereby performing a series of surface treatments on each substrate to be processed.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】ところで、このような
基板処理装置においては、比較的多数の単位処理部が存
在するとともに多数の被処理基板を同時並行的に処理し
なければならない関係上、1台の基板搬送機構のみで被
処理基板の搬送を行っていては所定のタクトタイムが経
過するまでに所定の位置に基板搬送機構が戻れないとい
う事態が生じる。
However, in such a substrate processing apparatus, since a relatively large number of unit processing units exist and a large number of substrates to be processed must be processed in parallel, one unit processing unit is required. If the substrate to be processed is transferred only by one of the substrate transfer mechanisms, the substrate transfer mechanism may not return to a predetermined position until a predetermined tact time elapses.

【0005】このため、このような装置では複数の基板
搬送機構を使用し、それぞれに受け持ち範囲を持たせる
ゾーン守備方式とすることが多い。ところが、このよう
な場合には、ひとつの基板搬送機構から他の基板搬送機
構への被処理基板の受け渡しのための場所や時間が必要
であり、基板搬送機構の台数が多いとそのための空間的
および時間的ロスが特に大きくなるという問題がある。
For this reason, such an apparatus often uses a plurality of substrate transport mechanisms and employs a zone defense system in which each has a coverage area. However, in such a case, a place and time for transferring the substrate to be processed from one substrate transfer mechanism to another substrate transfer mechanism are required. In addition, there is a problem that time loss is particularly large.

【0006】このような問題を解決するためにはゾーン
守備方式ではなく、各基板搬送機構が処理列の全範囲に
わたって移動可能となった「全範囲守備方式」とすれば
よい。しかしながら、複数の基板搬送機構が直線的な搬
送路を共用する場合には、先方の基板搬送機構が初期位
置に戻ろうとすると必然的に後方の基板搬送機構と衝突
してしまうため、1つの搬送路では「全範囲守備方式」
は不可能である。このため、基板搬送機構ごとに搬送路
を別個に設ければ「全範囲守備方式」は可能にはなる
が、そうすると他の問題が生じる。すなわち、複数の搬
送路を設けた場合、それらは互いに近接しているため
に、先方の基板搬送機構が初期位置に戻る際に後方の基
板搬送機構のアームを待避させて干渉を防止しなければ
ならず、後方の基板搬送機構が待機状態になってしま
う。その結果、基板搬送機構の運用の効率が低下してし
まう。
In order to solve such a problem, instead of the zone defense system, an "all range defense system" in which each substrate transfer mechanism can move over the entire range of the processing line may be used. However, when a plurality of substrate transport mechanisms share a straight transport path, one substrate transport mechanism necessarily collides with the rear substrate transport mechanism when trying to return to the initial position. On the road, "full range defensive system"
Is impossible. For this reason, if a transfer path is provided separately for each substrate transfer mechanism, the "all-range defense system" becomes possible, but this causes other problems. In other words, when a plurality of transport paths are provided, they are close to each other, so that when the substrate transport mechanism on the other side returns to the initial position, the arm of the rear substrate transport mechanism must be evacuated to prevent interference. That is, the rear substrate transport mechanism is in a standby state. As a result, the efficiency of operation of the substrate transport mechanism is reduced.

【0007】また、基板搬送機構が一連の処理を1回終
えるごとにその初期位置に戻る際にも、上記同様の衝突
あるいは干渉防止のための待機の問題が生じる。
[0007] In addition, when the substrate transport mechanism returns to its initial position every time a series of processes is completed once, the same problem of standby for preventing collision or interference occurs.

【0008】さらに、複数の搬送路を設けている場合に
おいて、基板搬送機構の戻り移動の際には空状態で引き
返すため、基板搬送機構の運用効率が低いという問題も
ある。
Further, when a plurality of transport paths are provided, the substrate transport mechanism is returned in an empty state when the substrate transport mechanism returns, so that the operation efficiency of the substrate transport mechanism is low.

【0009】このように、従来の装置では時間的および
空間的ロスが多く、基板搬送機構の運用効率も低いとい
う問題があった。
As described above, the conventional apparatus has a problem that much time and space are lost and the operation efficiency of the substrate transfer mechanism is low.

【0010】[0010]

【発明の目的】この発明は従来技術における上記の問題
を解決するためになされたものであり、被処理基板の受
け渡しのための空間的および時間的ロスを防止あるいは
軽減し、基板搬送機構の効率的運用を可能とした基板搬
送装置を提供することを第1の目的とする。
SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to solve the above-mentioned problems in the prior art, and to prevent or reduce a spatial and time loss for transferring a substrate to be processed, and to improve the efficiency of the substrate transport mechanism. It is a first object of the present invention to provide a substrate transfer device capable of performing a proper operation.

【0011】第2の目的は、そのような処理装置におけ
る基板搬送機構を適切に制御することである。
A second object is to appropriately control a substrate transfer mechanism in such a processing apparatus.

【0012】[0012]

【目的を達成するための手段】この発明にかかる基板処
理装置は、基板を搬送しつつ前記基板に対して一連の処
理を行うための基板処理装置を対象としており、この装
置は、(a) 環状軌道と、(b) それぞれが基板を1枚ずつ
処理する複数の単位処理部が前記環状軌道に沿って配列
された処理列と、(c) それぞれが基板を保持する第1の
ハンドと第2のハンドとを有し、前記第1のハンドによ
り前記複数の単位処理部のうち第1の単位処理部での処
理済み基板を取り出して保持し、前記環状軌道に沿って
第2の単位処理部へ移動し、前記第2のハンドにより前
記第2の単位処理部での処理済み基板を取り出して保持
するとともに、前記第1のハンドが保持する前記第1の
単位処理部での処理済み基板を前記第2の単位処理部に
搬入する動作を繰り返しつつ、前記環状軌道上を循環移
動する基板搬送機構とを備える。
A substrate processing apparatus according to the present invention carries out a series of processes on a substrate while transporting the substrate.
It is intended for a substrate processing apparatus for performing processing, which consists of (a) an annular orbit and (b) each one substrate.
A processing sequence in which a plurality of unit processing units are arranged along the annular track for processing, respectively (c) a first holding a substrate
A hand and a second hand, wherein the first hand
Processing in a first unit processing unit of the plurality of unit processing units.
Take out the processed substrate, hold it along the annular track
Move to the second unit processing section and move forward with the second hand.
Take out and hold the processed substrate in the second unit processing section
The first hand held by the first hand
The processed substrate in the unit processing unit is transferred to the second unit processing unit.
While repeating the loading operation, it is circulated on the circular orbit.
A moving substrate transport mechanism.

【0013】また、この発明は環状軌道と、複数の単位
処理部が前記環状軌道に沿って配列された処理列と、前
記被処理基板を保持して環状軌道上を循環移動し、それ
によって前記被処理基板の搬送を行うとともに、前記単
位処理部への前記被処理基板の出し入れを行う基板搬送
機構と、を備える基板処理装置における基板搬送機構の
制御方法をも提供する。すなわち、前記基板搬送機構に
は給電線によって駆動電力が供給されているとともに、
前記基板搬送機構は旋回による自転が可能とされている
ことを条件として、この発明の方法は、(a) 前記基板搬
送機構に、前記環状軌道上の循環に相当する公転と、前
記旋回による自転とを行わせつつ、前記基板搬送機構に
よって前記単位処理部への前記被処理基板の出し入れを
行わせる工程と、(b) 前記基板搬送機構がN回(Nは所
定の正の整数)の公転を行うごとに、前記基板搬送機構
の自転累積角度がゼロになるように前記基板搬送機構に
戻し自転を行わせる工程とを備える。
Further, the present invention provides an annular orbit and a plurality of units.
A processing sequence in which processing units are arranged along the annular orbit;
The substrate to be processed is circulated and moved on a circular orbit while holding the substrate.
Transports the substrate to be processed by the
Substrate transfer for loading and unloading the substrate to be processed into and out of the processing unit
And a control method of a substrate transport mechanism in a substrate processing apparatus having the mechanism. That is, while the drive power is supplied to the substrate transport mechanism by a power supply line,
Provided that the substrate transport mechanism is capable of rotating by turning, the method of the present invention includes the steps of (a) providing the substrate transport mechanism with a revolution corresponding to the circulation on the annular orbit, and a rotation by the rotating. And (b) rotating the substrate transfer mechanism N times (N is a predetermined positive integer) by causing the substrate transfer mechanism to move the substrate into and out of the unit processing unit while performing the above operations. Performing the rotation by returning the substrate transport mechanism to the substrate transport mechanism so that the rotation cumulative angle of the substrate transport mechanism becomes zero.

【0014】[0014]

【作用】この発明の基板処理装置では、基板搬送機構が
環状軌道上を循環しつつ2つのハンドによって被処理基
板の搬送と単位処理部への出し入れを行うため、基板搬
送機構相互の被処理基板の受け渡しは不要である。この
ため、被処理基板の受け渡しに伴う空間的および時間的
ロスが防止される。
In the substrate processing apparatus according to the present invention, the substrate transfer mechanism performs the transfer of the substrate to be processed and the transfer of the substrate into and out of the unit processing unit by the two hands while circulating on the circular orbit. No delivery is required. For this reason, space and time loss accompanying the delivery of the substrate to be processed is prevented.

【0015】また、基板搬送機構が初期位置に戻る際に
「空状態」である期間が少なく、初期位置に戻るための
時間的ロスが軽減される。
Further, when the substrate transport mechanism returns to the initial position, the period during which the substrate transport mechanism is in the "empty state" is small, and the time loss for returning to the initial position is reduced.

【0016】さらに、1台の基板搬送機構が初期位置に
戻る際に他の基板搬送機構との衝突や干渉は生じない。
このため、各基板搬送機構の運用効率が高い。
Further, when one substrate transport mechanism returns to the initial position, no collision or interference occurs with another substrate transport mechanism.
Therefore, the operation efficiency of each substrate transport mechanism is high.

【0017】したがって、この発明の装置では時間的お
よび空間的ロスが少なく、基板搬送機構の運用効率も高
い装置となっている。
Therefore, in the apparatus of the present invention, there is little time and space loss and the operation efficiency of the substrate transfer mechanism is high.

【0018】一方、この発明の制御方法では、基板搬送
機構がN回の公転を行うごとに基板搬送機構の自転累積
角度をゼロに戻すため、基板搬送機構への給電線の捻れ
が防止される。
On the other hand, according to the control method of the present invention, the rotation angle of the substrate transport mechanism is returned to zero every time the substrate transport mechanism makes N revolutions, so that the twist of the power supply line to the substrate transport mechanism is prevented. .

【0019】[0019]

【実施例】以下、この発明の実施例を説明するが、各図
においては水平XおよびY方向と鉛直Z方向とがプラス
マイナスの符号とともに定義されており、各図における
それらの方向は互いに対応している。なお、各方向にお
いてプラスマイナスの向きを区別する必要がないときに
は、単に「X方向」のように引用する。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Embodiments of the present invention will be described below. In each of the drawings, the horizontal X and Y directions and the vertical Z direction are defined with plus and minus signs, and the directions in each drawing correspond to each other. doing. When it is not necessary to distinguish between plus and minus directions in each direction, the direction is simply referred to as “X direction”.

【0020】[0020]

【1.装置の全体構成と概略動作】図1は、この発明の
一実施例である基板処理装置1の平面配置図である。こ
の基板処理装置1は、液晶用ガラス角型基板を被処理基
板2とし、その被処理基板2の表面に電極などのパター
ンを形成する装置として構成されている。
[1. FIG. 1 is a plan layout view of a substrate processing apparatus 1 according to an embodiment of the present invention. The substrate processing apparatus 1 is configured as an apparatus for forming a pattern such as an electrode on a surface of the substrate 2 to be processed, using a glass substrate for liquid crystal as a substrate 2 to be processed.

【0021】基板処理装置1は、被処理基板2に対して
一連の処理を行うための矩形環状の処理系10と、それ
に囲まれた空間に配置されて被処理基板2を処理系10
に沿って環状に搬送し、処理系10に含まれる各単位処
理部に基板2を出し入れするための基板搬送系100と
を備えている。この装置1はまた、各単位処理部や後述
する基板搬送機構などを制御するコントローラCTを備
える。
The substrate processing apparatus 1 has a rectangular ring-shaped processing system 10 for performing a series of processing on the substrate 2 to be processed, and a processing system 10 disposed in a space surrounded by the processing system 10 for processing the substrate 2.
And a substrate transfer system 100 for transferring the substrate 2 into and out of each unit processing unit included in the processing system 10. The apparatus 1 also includes a controller CT that controls each unit processing unit, a substrate transport mechanism described below, and the like.

【0022】このうち、基板搬送系100は略矩形の水
平環状軌道110の上を循環移動する2台の基板搬送ロ
ボット(基板搬送機構)150a,150bを有してい
る。なお、以下では、これら2台の基板搬送ロボット1
50a,150bを区別せずにそのうちの任意の1台を
指すときには「基板搬送ロボット150」と呼ぶことに
する。
The substrate transfer system 100 has two substrate transfer robots (substrate transfer mechanisms) 150a and 150b circulating on a substantially rectangular horizontal annular orbit 110. In the following, these two substrate transfer robots 1
When any one of 50a and 150b is indicated without distinction, it is referred to as "substrate transfer robot 150".

【0023】一方、処理系10は基板搬入ステーション
11を備えている。この基板搬入ステーション11に
は、純水リンス処理を終えた被処理基板2がカセット3
に収容されて搬入されてくる。そして、基板搬送ロボッ
ト150は被処理基板2をカセット3から取り出し、そ
れを1枚ずつ第1処理部12に転送する。
On the other hand, the processing system 10 includes a substrate loading station 11. In the substrate loading station 11, the substrate 2 to be processed after the pure water rinsing process is loaded into the cassette 3.
It is housed and brought in. Then, the substrate transport robot 150 takes out the substrate 2 to be processed from the cassette 3 and transfers it to the first processing unit 12 one by one.

【0024】第1処理部12は後述する詳細構成を有し
ており、被処理基板2に対する露光前の一連の処理を行
う。その処理内容についても後述するが、それらの処理
が完了した時点では被処理基板2の表面にレジスト膜が
形成された状態となっている。
The first processing unit 12 has a detailed configuration described later, and performs a series of processing before exposure on the substrate 2 to be processed. Although the details of the processing will be described later, at the time when the processing is completed, a resist film is formed on the surface of the substrate 2 to be processed.

【0025】第1処理部12における処理を完了した被
処理基板2は基板搬送ロボット150によってバッファ
13に送られる。このバッファ13には露光機(ステッ
パ)15が隣接している。
The substrate to be processed 2 which has completed the processing in the first processing section 12 is sent to the buffer 13 by the substrate transfer robot 150. An exposure device (stepper) 15 is adjacent to the buffer 13.

【0026】バッファ13では基板搬送ロボット150
が被処理基板2を1枚ずつ露光機15に転送する。露光
機15では所定のマスクを使用してレジスト膜へのパタ
ーンの露光転写を行う。この露光が完了した被処理基板
2はバッファ13に戻され、基板搬送ロボット150に
よってさらに追加露光部16に送られる。追加露光部1
6は被処理基板2のエッジ露光機および文字焼付け機を
備えており、被処理基板2のレジストに対する端部露光
および文字の焼付けを行う。これらの処理を完了した
後、被処理基板2は基板搬送ロボット150によって第
2処理部17に送られる。
In the buffer 13, the substrate transfer robot 150
Transfer the substrates 2 to be exposed to the exposing machine 15 one by one. The exposure device 15 performs exposure transfer of a pattern to a resist film using a predetermined mask. The substrate 2 to which the exposure has been completed is returned to the buffer 13 and further sent to the additional exposure unit 16 by the substrate transfer robot 150. Additional exposure unit 1
Numeral 6 is provided with an edge exposure machine and a character printing machine for the substrate 2 to be processed, and performs edge exposure on the resist of the substrate 2 and printing of characters. After completing these processes, the substrate to be processed 2 is sent to the second processing unit 17 by the substrate transfer robot 150.

【0027】第2処理部17の詳細構成も後述するが、
この第2処理部17での処理を完了した時点での被処理
基板2は、上記レジストの現像が完了した状態となって
いる。その被処理基板2は、基板搬送ロボット150に
よって1枚ずつ搬出ステーション18へ移送され、その
上に載置されたカセット3に収容される。
Although the detailed configuration of the second processing unit 17 will be described later,
When the processing in the second processing unit 17 is completed, the substrate 2 to be processed is in a state where the development of the resist has been completed. The substrate to be processed 2 is transferred one by one to the unloading station 18 by the substrate transfer robot 150 and stored in the cassette 3 placed thereon.

【0028】処理完了後の被処理基板2を収容したカセ
ット3は、搬出ステーション18から次工程へと搬出さ
れる。
The cassette 3 accommodating the processed substrate 2 after the processing is carried out from the carry-out station 18 to the next step.

【0029】基板搬送ロボット150a,150bは図
1において反時計まわりに循環しており、ひとつの基板
搬送ロボット150aが搬入ステーション11を出発し
て搬出ステーション18まで戻ると、その基板搬送ロボ
ット150aは往路を引き返すことなくそのまま反時計
まわりに移動して搬入ステーション11に戻る。そして
次の被処理基板2の受取りを行う。他方の基板搬送ロボ
ット150bも同様である。
The substrate transfer robots 150a and 150b circulate counterclockwise in FIG. 1. When one substrate transfer robot 150a starts from the loading station 11 and returns to the unloading station 18, the substrate transfer robot 150a moves forward. Is moved counterclockwise without returning, and returns to the loading station 11. Then, the next substrate to be processed 2 is received. The same applies to the other substrate transfer robot 150b.

【0030】このため、従来のゾーン守備方式のように
基板搬送機構間での被処理基板の受け渡しの場所も時間
も必要がなく、空間的および時間的ロスが防止される。
[0030] Therefore, unlike the conventional zone defense method, there is no need for a place or time for transferring the substrate to be processed between the substrate transport mechanisms, and spatial and temporal losses are prevented.

【0031】また、一連の搬送処理がいったん完了した
後に、基板搬送機構がその初期位置に往路を戻る必要が
なく、そのような戻りのための時間的ロスが軽減でき
る。
Further, after a series of transfer processing is completed, the substrate transfer mechanism does not need to return to the initial position on the outward path, and the time loss for such return can be reduced.

【0032】これら2台の基板搬送ロボット150a,
150bの位置関係は、各部での基板処理の配列や順序
に依存するため、常に一定というわけではないが、平均
するとほぼ180°だけ循環位相が異なった状態になっ
ている。したがって、これら2台の基板搬送ロボット1
50a,150bは互いに干渉することなく、それぞれ
が独立して被処理基板2の搬送を行うことができる。
The two substrate transfer robots 150a, 150a,
Since the positional relationship of 150b depends on the arrangement and order of substrate processing in each part, it is not always constant, but on average, the circulating phases are different by approximately 180 °. Therefore, these two substrate transfer robots 1
The substrates 50a and 150b can independently transfer the substrate 2 without interfering with each other.

【0033】基板処理装置1はまた、基板搬送ロボット
150a,150bに電力を供給するための給電パネル
120を備えており、この給電パネル120から延びる
給電線121a,121bを介してそれらの駆動電力を
受け取っている。
The substrate processing apparatus 1 further includes a power supply panel 120 for supplying electric power to the substrate transfer robots 150a and 150b, and the driving power of the power supply panels is supplied through power supply lines 121a and 121b extending from the power supply panel 120. Have received.

【0034】なお、搬入ステーション11と搬出ステー
ション18との境界部分には、外部から搬送系100の
保守のために搬送系100側へアクセスするための通路
19が形成されている。
A passage 19 is formed at the boundary between the carry-in station 11 and the carry-out station 18 to access the transport system 100 from outside for maintenance of the transport system 100.

【0035】[0035]

【2.基板処理系の詳細】図2は、第1処理部12にお
ける単位処理部の配列を示す概念的立面図である。第1
処理部12は、複数の単位処理部を多段に配列した多段
構成となっている。第1段部分12aには、スピンスク
ラバSS、スピンコータSC、エッジおよびバックリン
ス部ERがX方向に配列している。
[2. FIG. 2 is a conceptual elevation view showing the arrangement of unit processing units in the first processing unit 12. First
The processing unit 12 has a multi-stage configuration in which a plurality of unit processing units are arranged in multiple stages. In the first stage portion 12a, a spin scrubber SS, a spin coater SC, an edge and a back rinse portion ER are arranged in the X direction.

【0036】一方、第1段部分12aの上には第2段部
分12bが設けられている。第2段部分12bは2層構
造になっており、第1層目はホットプレート(オーブ
ン)HP1,HP4〜HP5,クールプレート(冷却プ
レート)CP1〜CP3のX方向配列を有している。ま
た、第2層目はホットプレートHP2,HP3,HP6
を有している。対応する第1層目と第2層目(たとえば
クールプレートCP1とホットプレートHP3)とは上
下に積み重ねられている。
On the other hand, a second step portion 12b is provided on the first step portion 12a. The second step portion 12b has a two-layer structure, and the first layer has an X-direction arrangement of hot plates (oven) HP1, HP4 to HP5, and cool plates (cooling plates) CP1 to CP3. The second layer is a hot plate HP2, HP3, HP6.
have. The corresponding first and second layers (for example, the cool plate CP1 and the hot plate HP3) are vertically stacked.

【0037】以上説明した各処理部SS,SC,ER,
HP1〜HP6,CP1〜CP3がこの第1処理部12
おける「単位処理部」に相当しており、それらが全体
として多段の「処理列」を構成している。
Each of the processing units SS, SC, ER,
HP1 to HP6, CP1 to CP3 are the first processing unit 12
And corresponds to the definitive "unit processing unit", they constitute a "processing sequence" multi-stage as a whole.

【0038】図3は第2処理部17の概念的立面図であ
る。この第2処理部17においても複数の単位処理部が
2段3層に配列されており、第1段部分17aは2個の
スピンデベロッパSD1,SD2のX方向1次元配列を
備えている。
FIG. 3 is a conceptual elevation view of the second processing unit 17. Also in the second processing unit 17, a plurality of unit processing units are arranged in two stages and three layers, and the first stage part 17a has a one-dimensional X-direction arrangement of two spin developers SD1 and SD2.

【0039】第2段部分17bの処理部は2層構造であ
って、第1層目にはホットプレートHP7〜HP9とク
ールプレートCP4との1次元配列が設けられている。
The processing section of the second step portion 17b has a two-layer structure, and the first layer is provided with a one-dimensional array of hot plates HP7 to HP9 and a cool plate CP4.

【0040】この第2処理部17においては、各処理部
SD1,SD2,HP7〜HP10,CP4が「単位処
理部」に相当しており、それらが全体として多段の「処
理列」を構成している。
In the second processing unit 17, each of the processing units SD1, SD2, HP7 to HP10, and CP4 corresponds to a "unit processing unit", and they constitute a multi-stage "processing sequence" as a whole. I have.

【0041】以上の各処理部12,17の基板出し入れ
口は、図1の搬送系100に対向している。また、ひと
つの被処理基板に着目したとき、各処理部12,17に
おける処理内容の詳細は表1の通りであり、この表1の
上から下への方向が処理順序に相当する。
The substrate loading / unloading ports of the processing units 12 and 17 are opposed to the transfer system 100 shown in FIG. Also, when attention is paid to one of the substrate, details of processing contents in each processing unit 12 and 17 are shown in Table 1, the direction from the top to the bottom of the Table 1 corresponds to the processing sequence.

【0042】なお、ホットプレートHP9の代わりにホ
ットプレートHP10が使用されてもよい。また、スピ
ンデベロッパSD1,SD2は、それぞれ奇数番目およ
び偶数番目の被処理基板を処理するために交替的に使用
される。
The hot plate HP10 may be used instead of the hot plate HP9. The spin developers SD1 and SD2 are used alternately to process odd-numbered and even-numbered substrates, respectively.

【0043】[0043]

【表1】 [Table 1]

【0044】図2,図3および表1からわかるように、
この実施例においては基板搬送ロボット150を単純に
図1の環状軌道110に沿って反時計まわりに循環させ
るだけでなく、局部的には往復移動などを行わねばなら
ない。たとえば、図2および表1を参照すると、図2の
ホットプレートHP5での処理の後には基板搬送ロボッ
ト150が(−X)方向に移動してホットプレートHP
6に被処理基板を転載し、その後には(+X)方向に移
動してクールプレートCP3へ移動する必要がある。
As can be seen from FIGS. 2, 3 and Table 1,
In this embodiment, the substrate transfer robot 150 must not only circulate in a counterclockwise direction along the annular orbit 110 of FIG. 1 but also reciprocate locally. For example, referring to FIG. 2 and Table 1, after the processing on the hot plate HP5 in FIG. 2, the substrate transfer robot 150 moves in the (-X) direction to move the hot plate HP5.
6, the substrate to be processed needs to be transferred, and then moved in the (+ X) direction to the cool plate CP3.

【0045】また、図2,図3からわかるように、被処
理基板を各処理部における各段相互間および各層相互間
で転載させるために、基板搬送ロボット150の被処理
基板保持ハンドは、Z方向にも移動することが必要であ
る。
As can be seen from FIG. 2 and FIG. 3, in order to transfer the substrate to be processed between each stage and between each layer in each processing section, the substrate transfer hand of the substrate transfer robot 150 has a Z It is also necessary to move in the direction.

【0046】このため、基板搬送ロボット150は環状
軌道110に沿って水平面内に反時計まわりに循環する
だけではなく、環状軌道110上を時計回りに一時的に
戻ることも可能となっている。また、基板搬送ロボット
150の被処理基板保持ハンドは、各単位処理部への出
し入れのためにYZの2方向への並進移動自由度を有す
る。また、Z軸まわりの旋回による自転も可能である。
For this reason, the substrate transfer robot 150 can not only circulate counterclockwise in the horizontal plane along the circular orbit 110, but also temporarily return clockwise on the circular orbit 110. The substrate holding hand of the substrate transfer robot 150 has a degree of freedom of translational movement in two directions of YZ for taking in and out of each unit processing part. In addition, rotation by turning around the Z axis is also possible.

【0047】そのような移動自由度を実現するための機
して望ましい例については次の項で説明する。
[0047] For preferred example in the mechanism for achieving such freedom of movement is described in the following sections.

【0048】[0048]

【3.基板搬送系の詳細】[3. Details of substrate transfer system]

【0049】[0049]

【3−1.基板搬送ロボット】図4は、基板搬送ロボッ
ト150の機構をロボット関節シンボルを使用して示す
概念図である。ただし、この図4における水平面内の方
向符号(+X),(−X),(+Y),(−Y)は基板
搬送ロボット150が図1の150aの位置にあるとき
の状態で示されており、基板搬送ロボット150が環状
軌道110のどの位置にあるかによって水平面内の方向
は変わってくる。
[3-1. FIG. 4 is a conceptual diagram showing the mechanism of the substrate transfer robot 150 using robot joint symbols. However, the direction symbols (+ X), (-X), (+ Y), and (-Y) in the horizontal plane in FIG. 4 are shown when the substrate transfer robot 150 is at the position of 150a in FIG. The direction in the horizontal plane changes depending on the position of the substrate transfer robot 150 on the annular orbit 110.

【0050】図4において、環状軌道110上には、こ
の環状軌道110に沿って移動可能な基台151が載っ
ている。基台151にはZ軸まわりのθ旋回が可能な旋
回部151Rが設置されている。また、旋回部151R
には垂直アーム機構152が連結されている。これら垂
直アーム機構152はいわゆるスカラロボット機構とさ
れており、それが屈伸することによって、ハウジング1
53を水平姿勢不変のままZ方向に並進させることがで
きる。
In FIG. 4, a base 151 movable on the annular track 110 is mounted on the annular track 110. The base 151 is provided with a turning part 151R that can make a θ turn about the Z axis. In addition, the turning part 151R
Is connected to a vertical arm mechanism 152. These vertical arm mechanisms 152 are so-called SCARA robot mechanisms.
53 can be translated in the Z direction while keeping the horizontal attitude unchanged.

【0051】ハウジング153内の位置155には、Y
方向に屈伸可能な水平アーム機構154が連結されてい
る。水平アーム機構154の先端にはハンド156aが
連結されており、ハンド156aは被処理基板2をその
上に載置して保持可能である。
[0051] the position 155 in the housing 153, Y
A horizontal arm mechanism 154 that can bend and extend in the direction is connected. A hand 156a is connected to the distal end of the horizontal arm mechanism 154, and the hand 156a can place and hold the target substrate 2 thereon.

【0052】水平アーム機構154もまた、いわゆるス
カラロボット機構とされており、それが屈伸することに
よって、ハンド156を水平姿勢不変のままY方向に
並進させることができる。
[0052] horizontal arm mechanism 154 have also been the so-called SCARA robot mechanism, by which it is bent and stretched, it is possible to translate the hand 156 a left Y-direction in the horizontal position unchanged.

【0053】なお、この基板搬送ロボット150ではハ
ンド156aのほかに類似のハンド156bも設けられ
ており、それらが独立して動作可能である。
In the substrate transfer robot 150, a similar hand 156b is provided in addition to the hand 156a, and they can operate independently.

【0054】以上のような構成を有することによって、
基板搬送ロボット150はXYZの3方向での並進自由
度とZ軸回りのθ旋回自由度とを有するロボット機構と
なっている。
With the above configuration,
The substrate transfer robot 150 is a robot mechanism having a degree of freedom of translation in three directions of XYZ and a degree of freedom of θ rotation about the Z axis.

【0055】図5は、基板搬送ロボット150による単
位処理部への被処理基板の出し入れを模式的に示す図で
ある。1例として被処理基板2aが単位処理部PPにお
いて処理済であり、その被処理基板2aを単位処理部P
Pから取り出すとともに、新たな被処理基板2bをこの
単位処理部PPに入れる処理を説明する。
FIG. 5 is a diagram schematically showing the loading and unloading of a substrate to be processed into and out of the unit processing unit by the substrate transfer robot 150. As an example, the processing target substrate 2a has been processed in the unit processing unit PP, and the processing target substrate 2a is processed in the unit processing unit P.
The process of taking out a new substrate 2b to be processed into the unit processing unit PP while taking it out of P will be described.

【0056】まず、第2のハンド156bに被処理基板
2bを保持し、ハウジング153内に収容しておく(図
5(a) )。次に水平アーム機構を使用して第1のハンド
156aを延ばし、被処理基板2aを単位処理部PPか
ら取り出す(図5(b) )。この第1のハンド156a
は、水平アーム機構を逆方向に並進させることにより、
被処理基板2aとともにハウジング153内に収容され
る(図5(c) )。
First, the substrate 2b to be processed is held by the second hand 156b and stored in the housing 153 (FIG. 5A). Next, the first hand 156a is extended using the horizontal arm mechanism, and the substrate 2a to be processed is taken out of the unit processing section PP (FIG. 5B). This first hand 156a
By translating the horizontal arm mechanism in the opposite direction,
It is accommodated in the housing 153 together with the substrate 2a to be processed (FIG. 5C).

【0057】一方、第2のハンド15bに保持された
被処理基板2bは、この第2のハンド156bがハウジ
ング153外に延びることによって単位処理部PPに向
かって並進する(図5(c) )。そして第2のハンド15
6bから単位処理部PPへ被処理基板2bを移し、第2
のハンド156bが単位処理部PPから出て被処理基板
2a,2bの交換処理を完了する(図5(d) )。
Meanwhile, the target substrate 2b held by the second hand 15 6 b, the second hand 156b is translated toward the unit processor PP by extending outside of the housing 153 (FIG. 5 (c )). And the second hand 15
6b is transferred to the unit processing section PP, and the second
The hand 156b comes out of the unit processing section PP to complete the process of exchanging the substrates 2a and 2b (FIG. 5 (d)).

【0058】以上が基板搬送ロボット150を使用した
被処理基板の交換処理の原理である。
The above is the principle of the process of exchanging a substrate to be processed using the substrate transfer robot 150.

【0059】[0059]

【3−2.給電系】基板搬送ロボット150の各部の駆
動はモータによってなされる。このため、基板搬送ロボ
ット150に外部の電源線から給電を行わねばならな
い。また、制御信号を基板搬送ロボット150に供給す
ることも必要である。基板搬送ロボット150が1台の
みの場合にはこのような給電は特に問題を生じさせない
が、この実施例のように2台の基板搬送ロボット150
a,150bを使用する場合には、それぞれの給電線1
21a,121b相互の絡み付きの問題が生じる。
[3-2. Power supply system Each part of the substrate transfer robot 150 is driven by a motor. Therefore, power must be supplied to the substrate transfer robot 150 from an external power supply line. It is also necessary to supply a control signal to the substrate transfer robot 150. In the case where only one substrate transfer robot 150 is provided, such power supply does not cause any particular problem. However, as in this embodiment, two substrate transfer robots 150 are used.
a, 150b, each feed line 1
21a, 121b mutual fault only with problems.

【0060】すなわち、仮に図1の中央部の床面上にひ
とつの給電パネルを配置し、その給電パネルから各給電
線121a,121bに電力を供給したような場合に
は、基板搬送ロボット150a,150bが環状軌道1
10にそった循環を繰り返すことに伴って、図6に示す
ように給電線121a,121相互に絡み付きが発生
してしまう。1回の循環程度ではその影響は少ないもの
の、循環を繰り返すに伴ってこの絡み付きは増大し、つ
いには基板搬送ロボット150の動作を妨げ、あるいは
給電線の破損が生ずるおそれもある。
That is, if one power supply panel is arranged on the floor in the center of FIG. 1 and power is supplied from the power supply panel to each of the power supply lines 121a and 121b, the substrate transfer robot 150a, 150b is circular orbit 1
With the repeating circulation along the 10, feed line 121a as shown in FIG. 6, 121 b mutually entangled occurs. Although the effect is small when the circulation is performed once, the entanglement increases as the circulation is repeated, and eventually, the operation of the substrate transfer robot 150 may be hindered, or the power supply line may be damaged.

【0061】そこでこの実施例の装置1では、次のよう
な対策をとっている。すなわち、図1の(+X)方向に
見た概念的側面図である図7において、第1の基板搬送
ロボット150aのための給電パネル120aは天井面
Tに設けられている一方、第2の基板搬送ロボット15
0bのための給電パネル120bは床面Fに設けられて
いる。
Therefore, the following measures are taken in the device 1 of this embodiment. That is, in FIG. 7, which is a conceptual side view as viewed in the (+ X) direction of FIG. 1, the power supply panel 120a for the first substrate transfer robot 150a is provided on the ceiling surface T, while the second substrate Transfer robot 15
The power supply panel 120b for 0b is provided on the floor F.

【0062】外部電源からの1次給電線122a,12
2bのうち、第1の基板搬送ロボット150aのための
1次給電線122aは天井面T側から給電パネル120
aに至り、そこから延びる2次給電線121aが天井側
から第1の基板搬送ロボット150aに延びている。ま
た、第2の基板搬送ロボット150bのための1次給電
線122bは床面F側から給電パネル120bに至り、
そこから延びる2次給電線121bが第2の基板搬送ロ
ボット150bに延びている。
Primary power supply lines 122a, 12 from an external power supply
2b, the primary power supply line 122a for the first substrate transfer robot 150a is connected to the power supply panel 120 from the ceiling surface T side.
a, and a secondary power supply line 121a extending therefrom extends from the ceiling side to the first substrate transfer robot 150a. The primary power supply line 122b for the second substrate transfer robot 150b extends from the floor F to the power supply panel 120b,
A secondary power supply line 121b extending therefrom extends to the second substrate transfer robot 150b.

【0063】このように、一方の給電経路を上方側か
ら、また他方を下方側からとることによって2台の基板
搬送ロボット150a,150bがそれぞれ循環を繰り
返しても給電線121a,121bの絡み付きを防止す
ることができる。
As described above, by taking one of the power supply paths from the upper side and the other from the lower side, even if the two substrate transport robots 150a and 150b repeatedly circulate, the entanglement of the power supply lines 121a and 121b is prevented. can do.

【0064】給電線121aの水平部分が落下しないよ
うにする目的で、給電線121aのうち給電パネル12
0aから出た部分とその後の水平部分とは、旋回可能な
L字形の配管の中に収容してもよい。
In order to prevent the horizontal portion of the power supply line 121a from falling, the power supply panel 12
The part coming out of Oa and the subsequent horizontal part may be housed in a swivelable L-shaped pipe.

【0065】このような方式で給電を行う場合、1つの
環状軌道110の上に付設できる基板搬送ロボットは、
この実施例のように2台が限度である。仮に3台の基板
搬送ロボットを1つの環状軌道110の上に付設した場
合には、第3の基板搬送ロボットに対する給電経路を他
の給電経路と絡み付くことなく設けることは不可能であ
る。したがって、この実施例のように1つの環状軌道1
10の上に2台の基板搬送ロボットを付設し、それらへ
の給電経路を上方および下方に分けることは単なる設計
上の選択ではなく、格別の意味を有する配置となってい
る。
When power is supplied in such a manner, a substrate transfer robot that can be provided on one annular track 110 is
Two units are the limit as in this embodiment. If three substrate transfer robots are provided on one annular track 110, it is impossible to provide a power supply path for the third substrate transfer robot without entanglement with another power supply path. Therefore, as in this embodiment, one annular orbit 1
It is not a mere design choice to arrange two substrate transfer robots on top of 10 and divide the power supply paths to them upward and downward, so that the arrangement has a special meaning.

【0066】一方、この実施例のような基板処理装置で
は、図1におけるX方向の長さがY方向の長さよりも長
くなることが通例である。このため、環状軌道110も
正方形ではなく長方形になる場合が多い。したがって、
その長方形の短辺の長さに合わせて給電線121a,1
21bの長さを定めると、基板搬送ロボット150がX
方向両端側に移動したとき、給電線121a,121b
の長さが足りなくなる。逆に、給電線121a,121
bを環状軌道110の長辺の長さに合わせると、基板搬
送ロボット150がたとえば図1の第1処理部12の中
央付近に来たときに、給電線121a(121b)が長
すぎて無用の弛みなどが生じ易い。
On the other hand, in the substrate processing apparatus of this embodiment, the length in the X direction in FIG. 1 is generally longer than the length in the Y direction. For this reason, the annular track 110 is often not a square but a rectangle. Therefore,
The power supply lines 121a, 1a are adjusted to the length of the short side of the rectangle.
When the length of 21b is determined, the substrate transfer robot 150
Feeders 121a, 121b
Runs out of length. Conversely, the feed lines 121a, 121
When b is adjusted to the length of the long side of the annular orbit 110, when the substrate transport robot 150 comes near, for example, the center of the first processing unit 12 in FIG. 1, the power supply line 121a (121b) is too long, and It is easy for slack to occur.

【0067】このため、この実施例では次のような方式
を採用している。すなわち、図1の(+Y)方向から見
た部分拡大断面図である図8において、上部の給電パネ
ル120a内にはキャタピラ給電ガイド(以下、「キャ
タピラ」)123aを設けておく。外部からの1次給電
線122aはこのキャタピラ123aの端部から入り、
このキャタピラ123aの中を通る。キャタピラ123
aの他端には給電管124aが連結されており、1次給
電線122aに電気的に接続されている2次給電線12
1aが給電管124aから図1の基板搬送ロボット15
0aに延びている。なお、図1では基板搬送ロボット1
50a,150bは処理部12,17にそれぞれ対向し
ているが、図8では第1の基板搬送ロボット150aが
バッファ13側に、また第2の基板搬送ロボット150
bが搬入ステーション11側に位置している時点を想定
して給電線121a,121bの方向が描かれている。
Therefore, this embodiment employs the following method. That is, in FIG. 8, which is a partially enlarged cross-sectional view as viewed from the (+ Y) direction in FIG. 1, a caterpillar power supply guide (hereinafter, “caterpillar”) 123a is provided in the upper power supply panel 120a. A primary power supply line 122a from the outside enters from an end of this caterpillar 123a,
It passes through this caterpillar 123a. Caterpillar 123
The other end of a is connected to a feed tube 124a, and the secondary feed line 12 electrically connected to the primary feed line 122a.
1a is connected to the substrate transfer robot 15 of FIG.
0a. In FIG. 1, the substrate transfer robot 1
8, the first substrate transfer robot 150a is located on the buffer 13 side, and the second substrate transfer robot 150 is facing the processing units 12 and 17.
The directions of the power supply lines 121a and 121b are drawn assuming that the point b is located on the loading station 11 side.

【0068】給電パネル120aのハウジングの底面1
25aにはX方向にスリットが切ってあり、給電管12
4aはそのスリットに沿ってX方向に移動可能である。
このため、たとえば基板搬送ロボット150aが図8の
右方向に移動すると給電線121aも右側に引張られ、
給電管124aが右側に移動するとともに、仮想線Iで
示すようにキャタピラ123aの屈曲位置が右側にずれ
る。基板搬送ロボット150aが図8の左方向に移動し
た場合はその逆になる。
The bottom surface 1 of the housing of the power supply panel 120a
25a is provided with a slit in the X direction.
4a is movable in the X direction along the slit.
Therefore, for example, when the substrate transfer robot 150a moves rightward in FIG. 8, the power supply line 121a is also pulled rightward,
As the feed pipe 124a moves to the right, the bending position of the caterpillar 123a shifts to the right as indicated by the imaginary line I. The reverse is true when the substrate transfer robot 150a moves to the left in FIG.

【0069】このようにすることによって、給電線12
1aに弛みや線長不足を生じることなく、基板搬送ロボ
ット150aの循環移動に伴う給電線121aの引き回
しが可能となる。
By doing so, the power supply line 12
The power supply line 121a can be routed with the circulating movement of the substrate transfer robot 150a without causing slack or insufficient wire length in 1a.

【0070】同様に、基板搬送ロボット150bに関す
る給電パネル120bにおいても、キャタピラ123b
と給電管124bを用いることによって、外部からの1
次給電線122bと2次給電線121bとの連結が図ら
れている。この場合には、給電パネル120bのハウジ
ングの天井面125bにX方向のスリットが切ってあ
る。
Similarly, in the power supply panel 120b for the substrate transfer robot 150b, the caterpillar 123b
And the power supply tube 124b,
The connection between the secondary power supply line 122b and the secondary power supply line 121b is achieved. In this case, a slit in the X direction is cut in the ceiling surface 125b of the housing of the power supply panel 120b.

【0071】[0071]

【3−3.基板搬送ロボットの自転制御】このようにし
て2台の基板搬送ロボットの循環移動による給電線12
1a,121b相互の絡み付きの問題は解決されるが、
これとは別に給電線121a,121b個々の捻れの問
題がある。すなわち、基板搬送ロボット150は各単位
処理部に対向して被処理基板の出し入れをしなければな
らないため、図1の第1処理部12に対向しているとき
にはそのハンドが(−Y)方向を向いた姿勢となる。ま
た、第2処理部17に対向しているときにはそのハンド
が(+Y)方向を向いた姿勢となる。同様に、バッファ
13の位置では(+X)方向、ステーション11,18
位置では(−X)方向となる。
[3-3. Rotation control of the substrate transfer robot In this manner, the feed line 12 is formed by the circulating movement of the two substrate transfer robots.
Although the problem of entanglement between 1a and 121b is solved,
Apart from this, there is a problem of twisting of each of the power supply lines 121a and 121b. That is, since the substrate transfer robot 150 has to move the substrate to be processed in and out of each unit processing unit, the hand moves in the (-Y) direction when facing the first processing unit 12 in FIG. It is a posture that is suitable. Further, when the hand is facing the second processing unit 17, the hand is oriented in the (+ Y) direction. Similarly, at the position of the buffer 13, the (+ X) direction, the stations 11, 18
The position is in the (-X) direction.

【0072】このため、基板の出し入れや受け渡しの際
にはハンドが常に環状軌道110の外側を向いているこ
とになる。したがって、ハンドが常に環状軌道110の
外側を向くようにしておけば、ハンドの作業上は効率的
であり、それが最も簡易な方法である。
For this reason, the hand always faces the outside of the annular orbit 110 when the substrate is taken in or out or transferred. Therefore, if the hand always faces the outside of the annular orbit 110, the operation of the hand is efficient, and this is the simplest method.

【0073】ところが、そのようにすると、基板搬送ロ
ボット150が環状軌道110に沿って1周する間に、
基板搬送ロボット150は自分自身の垂直中心軸のまわ
りに1回自転することになる。すると、給電線121a
(121b)は図9のようにそれ自身の軸の回りに捻れ
てしまう。
However, in this case, while the substrate transfer robot 150 makes one round along the circular orbit 110,
The substrate transfer robot 150 will rotate once around its own vertical central axis. Then, the power supply line 121a
(121b) is twisted around its own axis as shown in FIG.

【0074】このような捻れも1周分程度では問題はな
いが、基板搬送ロボット150が循環を繰り返すと捻れ
が累積して基板搬送ロボット150の動作の阻害や給電
線121a(121b)の断線などの問題を生じる。
Such a twist is not problematic for about one round, but when the substrate transfer robot 150 repeats circulation, the twists are accumulated and hinders the operation of the substrate transfer robot 150 and disconnection of the power supply lines 121a (121b). Cause problems.

【0075】そこで、この実施例では基板搬送ロボット
150が環状軌道110を1周(公転)するごとに基板
搬送ロボット150を逆方向に自転させ、自転累積角度
がゼロになるような制御を行う。ここで、「自転累積角
度」とは、所定の初期方向からの自転角度の和のことを
指す。たとえば、図10の例では初期方向POから角度
θaだけ反時計まわりに自転し、その後に角度θbだけ
時計まわりに自転した場合には、自転累積角度θは、θ
=(θa−θb)となる。
Therefore, in this embodiment, every time the substrate transfer robot 150 makes one revolution (revolution) on the annular orbit 110, the substrate transfer robot 150 rotates in the reverse direction, and control is performed so that the rotation cumulative angle becomes zero. Here, the “rotation accumulated angle” refers to the sum of the rotation angles from a predetermined initial direction. For example, in the example of FIG. 10, when the robot rotates counterclockwise from the initial direction PO by the angle θa and then rotates clockwise by the angle θb, the rotation cumulative angle θ becomes θ
= (Θa−θb).

【0076】このような自転累積角度の補償の具体的方
法としては種々のものがあるが、図11には好ましい例
が示されている。この図11は、図1の処理系10と搬
送系100との境界に相当する矩形を、図1の配置関係
に対応させて描いた平面図である。このため、図11の
基準位置C0は搬入ステーション11へ対向する位置に
相当し、コーナーC1は搬入ステーション11と第1処
理部12との境界の隅に相当する。他のコーナC2〜C
4も同様である。
There are various specific methods for compensating the accumulated rotation angle, and FIG. 11 shows a preferred example. FIG. 11 is a plan view of a rectangle corresponding to the boundary between the processing system 10 and the transport system 100 in FIG. 1 corresponding to the arrangement relationship in FIG. Therefore, the reference position C0 in FIG. 11 corresponds to a position facing the loading station 11, and the corner C1 corresponds to a corner at the boundary between the loading station 11 and the first processing unit 12. Other corners C2 to C
4 is the same.

【0077】初期位置C0においては自転累積角度θは
ゼロである。そして、第1のコーナC1においては基板
搬送ロボット150が反時計回りにθ1=90°だけ自
転する。このとき、自転累積角度θはθ=90°であ
る。
At the initial position C0, the rotation cumulative angle θ is zero. Then, at the first corner C1, the substrate transfer robot 150 rotates counterclockwise by θ1 = 90 °. At this time, the rotation cumulative angle θ is θ = 90 °.

【0078】各単位処理部における被処理基板の出し入
れの際には、基板搬送ロボット150はいったん単位処
理部に向かう方向に旋回するが、その後に搬送が再開さ
れるときには進行方向に向きを戻す。このため、図11
に例示するように各単位処理部への被処理基板の出し入
れの前後では、たとえば時計回りの90°の回転角度と
反時計回りの90°の回転角度とがペアになり、自転累
積角度θの増分Δθは、Δθ=90°−90°=0°で
ある。このため、単位処理部への被処理基板の出し入れ
については、自転累積角度への寄与は無視してよい。
When a substrate to be processed is taken in and out of each unit processing unit, the substrate transfer robot 150 once turns in a direction toward the unit processing unit, but returns to the traveling direction when the transfer is resumed thereafter. Therefore, FIG.
For example, before and after the substrate to be processed is inserted into and removed from each unit processing unit, for example, a clockwise rotation angle of 90 ° and a counterclockwise rotation angle of 90 ° are paired, and the rotation accumulated angle θ The increment Δθ is Δθ = 90 ° −90 ° = 0 °. For this reason, when the substrate to be processed is put into or taken out of the unit processing section, the contribution to the rotation cumulative angle may be ignored.

【0079】このため、次に考慮しなければならないの
は第2のコーナC2における反時計回りの角度θ2=9
0°の自転である。これが終わると自転累積角度θは、
θ=90°+90°=180°になる。
For this reason, what must be considered next is the counterclockwise angle θ2 = 9 at the second corner C2.
The rotation is 0 °. When this is completed, the rotation cumulative angle θ becomes
θ = 90 ° + 90 ° = 180 °.

【0080】同様に、第3のコーナC3における反時計
回りの角度θ3=90°の自転がさらに加算されるた
め、基板搬送ロボット150が第4のコーナC4に至っ
たときには、自転累積角度θは、θ=180°+90°
=270°となっている。
Similarly, since the rotation of the third corner C3 at the counterclockwise angle θ3 = 90 ° is further added, when the substrate transfer robot 150 reaches the fourth corner C4, the rotation rotation accumulated angle θ becomes , Θ = 180 ° + 90 °
= 270 °.

【0081】この第4のコーナC4において、仮に基板
搬送ロボット150が反時計回りに90°自転すると、
基板搬送ロボット150の配向方向は初期位置C0にお
ける配向方向と同じにはなるが、既述したように給電線
121aの捻れが生じる。このため、この実施例におけ
る制御では、この第4のコーナC4において基板搬送ロ
ボット150を時計回りに270°、すなわちθ4=−
270°の自転させる。すると、自転累積角度θは、
θ=270°−270°=0°となり、初期位置C0に
おける自転角度初期値に戻る。この戻り回転の際に、3
/4周だけ捻れていた給電線121a(121b)が元
に戻る。
At the fourth corner C4, if the substrate transfer robot 150 rotates 90 ° counterclockwise,
Although the orientation direction of the substrate transport robot 150 is the same as the orientation direction at the initial position C0, the twist of the power supply line 121a occurs as described above. For this reason, in the control in this embodiment, the substrate transfer robot 150 is rotated clockwise at the fourth corner C4 by 270 °, that is, θ4 = −.
It causes the rotation of 270 °. Then, the rotation cumulative angle θ is
θ = 270 ° −270 ° = 0 °, and returns to the rotation angle initial value at the initial position C0. During this return rotation, 3
The feeder line 121a (121b) twisted by / 4 rotation returns to the original position.

【0082】初期位置C0において完全に最初と同じ状
態になるわけであるから、それ以後も同様の自転制御を
行わせることにより、基板搬送ロボット150が循環経
路110を何周しても自転累積角度θは1周ごとにゼロ
に戻り、給電線121a,121bの捻れが防止され
る。
Since the initial position C0 is completely in the same state as the initial state, the same rotation control is performed thereafter, so that the substrate transfer robot 150 can rotate the circulation path 110 no matter how many times, so that the cumulative rotation angle can be obtained. θ returns to zero every round, and the twisting of the power supply lines 121a and 121b is prevented.

【0083】図12はこのような目的を有する自転制御
の他の例を示している。この図12の例では第3のコー
ナC3に至るまでは図11と同じであるが、第3のコー
ナC3での自転角度θ3はゼロとする。このため、第3
のコーナC3を過ぎた時点での自転累積角度θは180
°である。
FIG. 12 shows another example of the rotation control having such a purpose. In the example of FIG. 12, the process up to the third corner C3 is the same as that of FIG. 11, but the rotation angle θ3 at the third corner C3 is set to zero. Therefore, the third
Is 180 degrees when the vehicle passes the corner C3.
°.

【0084】そして、第4のコーナC4に至った時点で
も自転累積角度θは180°であり、この第4のコーナ
C4において基板搬送ロボット150を時計回りに18
0°、すなわちθ4=−180°だけ自転させる。する
と、自転累積角度θは、θ=180°−180°=0°
となり、初期位置C0における自転角度初期値に戻る。
この戻り回転の際に、1/2周だけ捻れていた給電線1
21a(121b)が元に戻る。
The rotation cumulative angle θ is 180 ° even at the fourth corner C4, and the substrate transfer robot 150 is rotated clockwise at the fourth corner C4 by 18 degrees.
It rotates by 0 °, that is, θ4 = -180 °. Then, the rotation cumulative angle θ is θ = 180 ° −180 ° = 0 °
And returns to the initial rotation angle value at the initial position C0.
At the time of this return rotation, the feeder line 1 that has been twisted by half a turn
21a (121b) returns to the original state.

【0085】このような自転累積角度θの補償は、上記
の2例に限らず、種々の態様で実現可能である。自転累
積角度θが初期位置C0においてゼロに戻る限り、環状
軌道110のどの位置で戻り自転を行っても良い。図1
3は、これらの戻り自転の状況例をグラフで示してお
り、破線のように初期位置C0で360°に至らしめる
ことなく、実線のように0°に戻すことが本質である。
Such compensation of the rotation cumulative angle θ is not limited to the above two examples, but can be realized in various modes. As long as the rotation cumulative angle θ returns to zero at the initial position C0, the rotation may be performed at any position on the annular orbit 110. FIG.
3 is a graph showing an example of the state of the return rotation, and it is essential to return to 0 ° as shown by the solid line without reaching 360 ° at the initial position C0 as shown by the broken line.

【0086】[0086]

【4.他の実施例】図14は他の実施例を示す平面配置
図である。この基板処理装置1aでは、第1と第2の処
理部12,17の外側を囲むように環状軌道110を設
けている。これに対応して、これらの処理部12,17
における被処理基板2の出し入れ口はそれぞれ(−Y)
方向、(+Y)方向を向いている。このような配置の場
合には、図1の通路19に相当する通路を設けなくても
搬送系の保守のためのアクセスが可能であるという利点
がある。
[4. FIG. 14 is a plan view showing another embodiment. In the substrate processing apparatus 1a, an annular track 110 is provided so as to surround the outside of the first and second processing units 12 and 17. Correspondingly, these processing units 12, 17
Are respectively (−Y)
Direction, the (+ Y) direction. Such an arrangement has the advantage that access for maintenance of the transport system is possible without providing a passage corresponding to the passage 19 in FIG.

【0087】図15に側面図として示すように、この装
置1aの場合の電源装置120のうち、基板搬送ロボッ
ト150bのための電源装置120bは比較的高い位置
に床面側から支持される。それは、給電線121bが処
理部12,17の上を越える必要があるためである。
As shown in FIG. 15 as a side view, of the power supply device 120 in the case of the device 1a, the power supply device 120b for the substrate transfer robot 150b is supported at a relatively high position from the floor side. This is because the power supply line 121b needs to pass over the processing units 12 and 17.

【0088】給電線121a,121bの水平部分が落
下しないようにする目的で、給電線121a,121b
のうち給電パネル120から出た部分とその後の水平部
分とは、旋回可能なL字形の配管の中に収容してもよ
い。
In order to prevent the horizontal portions of the feed lines 121a and 121b from falling, the feed lines 121a and 121b
Of these, the portion that has come out of the power supply panel 120 and the horizontal portion thereafter may be housed in a swivelable L-shaped pipe.

【0089】残余の構成および動作は図1の装置1と同
様である。戻り自転もまた、任意の位置で行わせること
ができる。
The remaining configuration and operation are the same as those of the device 1 of FIG. Return rotation can also be performed at any position.

【0090】[0090]

【5.変形例および補遺】 (1) 環状軌道は複数あってもよい。この場合には図1
6のようにそれらを互いに平行に配置させることができ
る。この場合には基板搬送ロボット150aは外側の環
状軌道110a上を走り、基板搬送ロボット150bは
内側の環状軌道110b上を走る。また、基板搬送ロボ
ット150bも各単位処理部にアクセスできるように、
基板搬送ロボット、150aと150bとでは、アーム
などの長さを変えておく。
[5. Modifications and Supplement] (1) There may be a plurality of circular orbits. In this case, FIG.
They can be arranged parallel to one another, as in 6. In this case, the substrate transfer robot 150a runs on the outer annular trajectory 110a, and the substrate transfer robot 150b runs on the inner annular trajectory 110b. Also, so that the substrate transfer robot 150b can also access each unit processing unit,
The length of the arm or the like is changed between the substrate transfer robots 150a and 150b.

【0091】この図16の場合には基板搬送ロボット1
50aが基板搬送ロボット150bとすれ違うことや追
い越しなどもできるため、それぞれの基板搬送ロボット
150a,150bの運用自由度が高い。
In the case of FIG. 16, the substrate transfer robot 1
Since the 50a can pass or overtake the substrate transfer robot 150b, the operation flexibility of each of the substrate transfer robots 150a and 150b is high.

【0092】(2) 側面概念図として示す図17のよう
に複数の環状軌道110a,110b,110cを設け
ると共に、各環状軌道110a,110b,110cの
それぞれに複数の基板搬送ロボット(R1a,R2
a),(R1b,R2b),(R1c,R2c)を付設
するようにしてもよい。この場合においても、給電線相
互の絡み付きを防止するために、一つの環状軌道110
a,110bまたは110cに付設できる基板搬送ロボ
ットは2台までである。
(2) A plurality of circular orbits 110a, 110b and 110c are provided as shown in FIG. 17 shown as a conceptual side view, and a plurality of substrate transfer robots (R1a and R2) are provided on each of the circular orbits 110a, 110b and 110c.
a), (R1b, R2b), (R1c, R2c) may be additionally provided. Also in this case, in order to prevent the power supply lines from being entangled with each other, one annular track 110 is required.
The number of substrate transfer robots that can be attached to a, 110b, or 110c is up to two.

【0093】図17には3つの環状軌道が示されている
が、一般にN(Nは2以上の整数)の環状軌道を設けた
場合の給電線は次の(a) 〜(c) の規則によって配置すれ
ば給電線相互の絡み付きを防止可能である(括弧内は図
17の例の場合の参照符号)。
FIG. 17 shows three annular orbits. In general, when an N (N is an integer of 2 or more) annular orbits is provided, the feed line is defined by the following rules (a) to (c). If they are arranged in this manner, it is possible to prevent the power supply lines from being entangled with each other (the numbers in parentheses are reference numerals in the case of the example of FIG. 17).

【0094】(a) 最も内側の環状軌道(110a)に
付設された基板搬送ロボットのうちの1台(R2a)に
は、床面F側から給電する(E2a)。
(A) One of the substrate transfer robots (R2a) attached to the innermost annular orbit (110a) is supplied with electric power from the floor F side (E2a).

【0095】(b) 内側からi番目(i=1,2,…,
N−1)の環状軌道に付設された基板搬送ロボットのう
ちの1台(i=1のときR1a)と、内側から(i+
1)番目の環状軌道に付設された基板搬送ロボットのう
ちの1台(R2b)とには、i番目の環状軌道(110
a)と(i+1)番目の環状軌道(110b)との間を
通って床面F側から立設させたガイド(Gab)を通し
てそれぞれ給電する(E1a,E2b)。図17におい
て、i=2については、R1bとR2cとへの給電線E
1b、E2cをガイドGbcに通す。
(B) i-th from the inside (i = 1, 2,...,
N-1) one of the substrate transfer robots attached to the circular orbit (R1a when i = 1) and (i +
One of the substrate transfer robots (R2b) attached to the (1) th circular orbit is provided with the i-th circular orbit (110
Electric power is supplied through guides (Gab) erected from the floor surface F through between the a) and the (i + 1) -th annular orbit (110b) (E1a, E2b). In FIG. 17, for i = 2, the feeder line E to R1b and R2c
1b and E2c are passed through the guide Gbc.

【0096】(c) 最も外側の環状軌道(110c)に
付設された基板搬送ロボットのうちの1台(R1c)に
は、天井T側から給電する(E1c)。
(C) One of the substrate transfer robots (R1c) attached to the outermost annular orbit (110c) is supplied with electric power from the ceiling T side (E1c).

【0097】なお、ガイドGab、Gbcは各単位処理
部への被処理基板の出し入れに支障がないように、それ
らの単位処理部における被処理基板の出し入れ口を避け
て立設させる。
The guides Gab and Gbc are set up so as not to obstruct the loading and unloading of substrates to be processed into and out of the unit processing sections so as not to hinder the loading and unloading of the substrates.

【0098】(3) 図18のように、複数の環状軌道11
0a,110b,110cを縦積みとし、それぞれに1
台または2台の基板搬送ロボットを付設するようにして
もよい(図示例では3段積み)。この場合には、各階の
環状軌道の2台の基板搬送ロボットのうち、一方は上方
から、他方はそれぞれの階における床面F1,F2また
はF3側から給電する。2階以上の階F2,F3におけ
る給電線は、それぞれの下方の循環軌道110c,11
0bの中通らないようにして電源装置側へと導く。図
示例では、これらの電源線は上方に釣り上げ、天井面T
を介して電源装置側へと導いている。これは、仮に基板
搬送ロボットR2bの給電線を破線Iのように床面F2
から真下に降して環状軌道110cの中を通すと、最下
段の基板搬送ロボットR1c,R2cの給電線との間で
絡み付きが生じてしまうためである。
(3) As shown in FIG.
0a, 110b, and 110c are stacked vertically, and each is 1
One or two substrate transfer robots may be provided (in the illustrated example, three stages are stacked). In this case, of the two substrate transport robots on the circular track on each floor, one feeds power from above and the other feeds power from the floor F1, F2 or F3 side of each floor. The feeder lines on the second and higher floors F2 and F3 are connected to the respective lower circulation paths 110c and 11c.
So as not to pass through the 0b leads to the power supply end. In the illustrated example, these power lines are lifted upward and the ceiling surface T
Through to the power supply side. This means that the power supply line of the substrate transfer robot R2b is temporarily set to the floor surface F2 as indicated by the broken line I.
This is because if the vehicle is lowered right below and passes through the annular orbit 110c, it becomes entangled with the power supply lines of the lowermost substrate transfer robots R1c and R2c.

【0099】図18のような縦積みないしは多段構成の
場合、2階以上の床面F2,F3の支持には注意が必要
である。たとえば、2階部分F2については図19に示
すようにそれぞれの下に存在する環状軌道110cの内
側に柱502を立設して支持すると、最下段の環状軌道
110c上を走る基板搬送ロボットの給電線がこの柱5
02に絡み付く。第3段部分F3における柱503につ
いても同様である。このため、床面F1側からの柱によ
って支持をする場合には下方の環状軌道110cの外側
から支持をする。また、最上段の床面F3を天井側から
釣って支持する場合には、矢印523で示すように環状
軌道110aの外部側から支持する。
In the case of vertical stacking or a multi-stage configuration as shown in FIG. 18, care must be taken in supporting the floor surfaces F2 and F3 on the second floor or more. For example, as shown in FIG. 19, when the pillar 502 is erected and supported inside the annular track 110c below each of the second floor portions F2, the supply of the substrate transport robot running on the lowermost annular track 110c is performed. Electric wire is this pillar 5
Get entangled with 02. The same applies to the pillar 503 in the third step portion F3. For this reason, when supporting by the pillar from the floor surface F1 side, it supports from the outer side of the lower annular track 110c. When the uppermost floor F3 is supported from the ceiling, it is supported from the outside of the annular track 110a as indicated by an arrow 523.

【0100】もっとも、太い矢印512,513のよう
に水平方向から支持をしてもよく、この場合には上記よ
うな問題は生じない。
Of course, it may be supported from the horizontal direction as shown by the thick arrows 512 and 513, and in this case, the above problem does not occur.

【0101】(4) 基板搬送ロボット150は、一連の処
理のタクトタイムに応じた所要台数だけ設けることがで
きる。上記実施例のように摺動部分を持たない給電系統
を使用する場合には、複数の給電線相互の絡みを防止す
るために1つの環状軌道に付設する基板搬送ロボットは
1台または2台が望ましいが、第3条軌方式やトロリー
方式での給電を行っても良いような装置の場合には1つ
の環状軌道上に3台以上の基板搬送ロボットを付設する
こともできる。制御信号は無線通信で伝送してもよい。
(4) The required number of substrate transport robots 150 can be provided according to the tact time of a series of processes. When a power supply system having no sliding portion is used as in the above embodiment, one or two substrate transfer robots are attached to one annular track to prevent a plurality of power supply lines from being entangled with each other. Desirably, in the case of an apparatus that can supply power by the third rail method or the trolley method, three or more substrate transfer robots can be additionally provided on one annular track. The control signal may be transmitted by wireless communication.

【0102】(3) 給電線の捻れ防止のための戻り自転
は、一般にN周(Nは正の整数)だけ環状軌道を周回し
た都度行うことができる。もっとも、捻れを最小限にす
るためには、上記実施例のように1周(N=1)ごとに
戻り自転を行うことが好ましい。
(3) Return rotation to prevent twisting of the feeder line can be generally performed every time the circuit has rotated around the annular orbit N times (N is a positive integer). However, in order to minimize the torsion, it is preferable to perform the return rotation every one rotation (N = 1) as in the above embodiment.

【0103】半周した都度に戻り自転をするという方式
も考えられるが、この場合にも偶数回目の戻り自転は
「1周(N=1)ごとの戻り自転」に相当するため、こ
のような方式もこの発明の態様に含まれる。1/4周ご
との戻り自転なども同様である。
It is conceivable to use a method in which return rotation is performed every half-turn. In this case, even-number return rotation corresponds to "return rotation every one rotation (N = 1)". Is also included in the embodiment of the present invention. The same applies to return rotation every quarter turn.

【0104】(4) 実施例の装置では、1台の基板搬送ロ
ボット150aが故障または点検整備のために環状軌道
から取り除かれても、残りの基板搬送ロボット150b
がそすべての搬送を受け持つことができる。この場合、
スループットは低下するが、装置全体の稼働を停止させ
る必要がない。これは、ゾーン守備方式としていないこ
とによる利点である。
(4) In the apparatus of the embodiment, even if one substrate transfer robot 150a is removed from the annular track for failure or maintenance, the remaining substrate transfer robot 150b
Can take charge of all transportation. in this case,
Although the throughput is reduced, it is not necessary to stop the operation of the entire apparatus. This is an advantage of not using the zone defense system.

【0105】(5) 環状軌道は床面上に設置されていなく
ともよく、高架方式になっていてもよい。また、環状軌
道は水平軌道でなくてもよい。
(5) The annular track need not be installed on the floor, and may be of an elevated type. Further, the annular orbit may not be a horizontal orbit.

【0106】(6) この発明は液晶表示用基板の処理装置
だけでなく、半導体基板その他の基板の処理装置にも適
用可能である。
(6) The present invention is applicable not only to a processing apparatus for a liquid crystal display substrate, but also to a processing apparatus for a semiconductor substrate and other substrates.

【0107】[0107]

【発明の効果】以上説明したように、請求項1の発明で
は、基板搬送機構が循環路を循環しつつ2つのハンドに
よって被処理基板の搬送と単位処理部への出し入れを行
うため、基板搬送機構相互の被処理基板の受け渡しは不
要である。このため、被処理基板の受け渡しに伴う空間
的および時間的ロスが防止される。
As described above, according to the first aspect of the present invention, the substrate transfer mechanism circulates through the circulation path to the two hands.
Therefore, the transfer of the substrate to be processed and the transfer of the substrate to and from the unit processing section are not required, so that the transfer of the substrate to be processed between the substrate transport mechanisms is unnecessary. For this reason, space and time loss accompanying the delivery of the substrate to be processed is prevented.

【0108】また、基板搬送機構が初期位置に戻る際に
「空状態」である期間が少なく、初期位置に戻るための
時間的ロスが軽減される。
In addition, when the substrate transport mechanism returns to the initial position, the period during which the substrate transport mechanism is in the “empty state” is short, and the time loss for returning to the initial position is reduced.

【0109】さらに、複数の基板搬送機構を設けた場合
であっても、1台の基板搬送機構が初期位置に戻る際に
他の基板搬送機構との衝突や干渉は生じない。このた
め、各基板搬送機構の運用効率が高い。
Further, even when a plurality of substrate transport mechanisms are provided, no collision or interference with another substrate transport mechanism occurs when one substrate transport mechanism returns to the initial position. Therefore, the operation efficiency of each substrate transport mechanism is high.

【0110】したがって、この装置は時間的および空間
的ロスが少なく、基板搬送機構の運用効率も高い装置と
なっている。
Therefore, this device has little time and space loss, and has high operation efficiency of the substrate transfer mechanism.

【0111】さらに、請求項2の制御方法では、基板搬
送機構がN回の公転を行うごとに基板搬送機構の自転累
積角度をゼロに戻すため、基板搬送機構への給電線のね
じれが防止される。
Further, according to the control method of the present invention, since the rotation angle of the substrate transfer mechanism is returned to zero every time the substrate transfer mechanism makes N revolutions, the twist of the power supply line to the substrate transfer mechanism is prevented. You.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】この発明の一実施例である基板処理装置の平面
配置図である。
FIG. 1 is a plan layout view of a substrate processing apparatus according to an embodiment of the present invention.

【図2】第1処理部の模式的立面図である。FIG. 2 is a schematic elevation view of a first processing unit.

【図3】第2処理部の模式的立面図である。FIG. 3 is a schematic elevation view of a second processing unit.

【図4】ロボット記号を用いた基板搬送ロボットの機構
図である。
FIG. 4 is a mechanism diagram of a substrate transfer robot using a robot symbol.

【図5】基板搬送ロボットによる被処理基板の出し入れ
の説明図である。
FIG. 5 is an explanatory diagram of loading and unloading of a substrate to be processed by a substrate transfer robot.

【図6】2本の給電線の絡みの説明図である。FIG. 6 is an explanatory diagram of the entanglement of two power supply lines.

【図7】給電系の説明図である。FIG. 7 is an explanatory diagram of a power supply system.

【図8】給電系の部分拡大図である。FIG. 8 is a partially enlarged view of a power supply system.

【図9】給電線の捻れの説明図である。FIG. 9 is an explanatory diagram of a twist of a power supply line.

【図10】基板搬送ロボットの自転累積角度の説明図で
ある。
FIG. 10 is an explanatory diagram of a cumulative rotation angle of the substrate transfer robot.

【図11】基板搬送ロボットの自転制御の説明図であ
る。
FIG. 11 is an explanatory diagram of the rotation control of the substrate transfer robot.

【図12】基板搬送ロボットの自転制御の説明図であ
る。
FIG. 12 is an explanatory diagram of the rotation control of the substrate transfer robot.

【図13】基板搬送ロボットの自転制御を説明するグラ
フである。
FIG. 13 is a graph illustrating rotation control of the substrate transfer robot.

【図14】この発明の他の実施例を示す平面図である。FIG. 14 is a plan view showing another embodiment of the present invention.

【図15】図14の装置の側面図である。FIG. 15 is a side view of the device of FIG. 14;

【図16】この発明の変形例を示す平面図である。FIG. 16 is a plan view showing a modification of the present invention.

【図17】この発明の変形例を示す側面図である。FIG. 17 is a side view showing a modification of the present invention.

【図18】この発明の変形例を示す側面図である。FIG. 18 is a side view showing a modification of the present invention.

【図19】図18の配置における支持説明図である。FIG. 19 is an explanatory view of support in the arrangement of FIG. 18;

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 基板処理装置 2 被処理基板 3 カセット 10 処理系 11 搬入ステーション 12 第1処理部(処理列) 17 第2処理部(処理列) 18 搬出ステーション 100 搬送理系 110 水平環状軌道 120,120a,120b 給電パネル 121a,121b 給電線 150,150a,150b 基板搬送ロボット θ 自転累積角度 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Substrate processing apparatus 2 Substrate to be processed 3 Cassette 10 Processing system 11 Carry-in station 12 1st processing part (processing line) 17 2nd processing part (processing line) 18 Unloading station 100 Transport system 110 Horizontal annular track 120, 120a, 120b Power supply Panel 121a, 121b Power supply line 150, 150a, 150b Substrate transfer robot θ Rotational cumulative angle

フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 FI H01L 21/68 H01L 21/68 A (58)調査した分野(Int.Cl.6,DB名) B25J 19/00 B65G 47/07 H01L 21/02 H01L 21/68 G02F 1/13 G02F 7/20Continuation of the front page (51) Int.Cl. 6 identification code FI H01L 21/68 H01L 21/68 A (58) Field surveyed (Int.Cl. 6 , DB name) B25J 19/00 B65G 47/07 H01L 21 / 02 H01L 21/68 G02F 1/13 G02F 7/20

Claims (2)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 基板を搬送しつつ前記基板に対して一連
の処理を行うための基板処理装置であって、 (a) 環状軌道と、 (b) それぞれが基板を1枚ずつ処理する複数の単位処理
部が前記環状軌道に沿って配列された処理列と、 (c) それぞれが基板を保持する第1のハンドと第2のハ
ンドとを有し、前記第1のハンドにより前記複数の単位
処理部のうち第1の単位処理部での処理済み基板を取り
出して保持し、前記環状軌道に沿って第2の単位処理部
へ移動し、前記第2のハンドにより前記第2の単位処理
部での処理済み基板を取り出して保持するとともに、前
記第1のハンドが保持する前記第1の単位処理部での処
理済み基板を前記第2の単位処理部に搬入する動作を繰
り返しつつ、前記環状軌道上を循環移動する基板搬送機
構と、 を備えることを特徴とする基板搬送装置。
1. A method for transporting a substrate to a series of substrates
A substrate processing apparatus for performing the (a) a cyclic trajectory, and (b) processing each of which is arranged a plurality of unit processing unit for processing one by one substrate along said annular track sequence (C) a first hand and a second hand, each holding a substrate.
And the plurality of units by the first hand.
The substrate processed in the first unit processing unit
Out and hold the second unit processing unit along the annular orbit.
To the second unit processing by the second hand.
Take out and hold the processed substrate in the
The processing in the first unit processing unit held by the first hand
The operation of loading the processed substrate into the second unit processing unit is repeated.
A substrate transport mechanism that circulates and moves on the annular orbit while turning back .
【請求項2】 環状軌道と、複数の単位処理部が前記環
状軌道に沿って配列された処理列と、前記被処理基板を
保持して環状軌道上を循環移動し、それによって前記被
処理基板の搬送を行うとともに、前記単位処理部への前
記被処理基板の出し入れを行う基板搬送機構と、を備え
基板処理装置における前記基板搬送機構の制御方法で
あって、 前記基板搬送機構には給電線によって駆動電力が供給さ
れているとともに、 前記基板搬送機構は旋回による自転が可能とされてお
り、 前記制御方法が、 (a) 前記基板搬送機構に、前記環状軌道上の循環に相当
する公転と、前記旋回による自転とを行わせつつ、前記
基板搬送機構によって前記単位処理部への前記被処理基
板の出し入れを行わせる工程と、 (b) 前記基板搬送機構がN回(Nは所定の正の整数)の
公転をするごとに、前記基板搬送機構の自転累積角度が
ゼロになるように前記基板搬送機構に戻し自転を行わせ
る工程と、 を備えることを特徴とする基板搬送機構の制御方法。
2. An annular orbit, and a plurality of unit processing units, wherein
A processing line arranged along a circular orbit, and the substrate to be processed
Holding and circulating on an annular orbit, thereby
While carrying the processing substrate,
A substrate transfer mechanism for taking in and out the substrate to be processed.
That the in the substrate processing apparatus and a control method for a substrate transport mechanism, the driving power is being supplied by the power supply line to the substrate transfer mechanism, the substrate transfer mechanism is possible rotation by turning the The control method includes the steps of: (a) causing the substrate transfer mechanism to perform the revolution corresponding to the circulation on the annular orbit and the rotation by the rotation, while the substrate transfer mechanism transfers the substrate to the unit processing unit by the substrate transfer mechanism; (B) every time the substrate transport mechanism makes N revolutions (N is a predetermined positive integer) so that the cumulative rotation angle of the substrate transport mechanism becomes zero. A method of controlling the substrate transport mechanism, comprising: returning the transport mechanism to rotate.
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