JP2778332B2 - Method for manufacturing semiconductor device - Google Patents

Method for manufacturing semiconductor device

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JP2778332B2 JP4040319A JP4031992A JP2778332B2 JP 2778332 B2 JP2778332 B2 JP 2778332B2 JP 4040319 A JP4040319 A JP 4040319A JP 4031992 A JP4031992 A JP 4031992A JP 2778332 B2 JP2778332 B2 JP 2778332B2
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Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は樹脂封止型半導体装置の
樹脂封止金型に関し、特に、トランスファー樹脂封止成
形機に使用する樹脂封止金型に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a resin-sealing mold for a resin-sealed semiconductor device, and more particularly to a resin-sealing mold used for a transfer resin-sealing molding machine.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来この種の樹脂封止用金型は、図15
に示すように、半導体装置の封止本体となるキャビティ
4と、ランナーよりキャビティ4に樹脂を注入するため
のゲート3と、キャビティ4内の空気を排出するための
エアベント58を備えた構造となっている。
2. Description of the Related Art Conventionally, this type of resin sealing mold is shown in FIG.
As shown in FIG. 1, the structure has a cavity 4 serving as a sealing body of a semiconductor device, a gate 3 for injecting resin into the cavity 4 from a runner, and an air vent 58 for discharging air from the cavity 4. ing.

【0003】上記金型にて半導体装置12を樹脂封止す
る場合は、リードフレーム11の素子搭載部に素子12
を搭載し、かつワイヤボンディングされたリードフレー
ム11を、上金型7と下金型9にて型締めし、その後、
図13〜図14に示すように、ゲート3を通してキャビ
ティ4内に樹脂14を注入するのが一般的である。
When the semiconductor device 12 is sealed with resin using the above-described mold, the element 12 is mounted on the element mounting portion of the lead frame 11.
Is mounted and the wire-bonded lead frame 11 is clamped by the upper mold 7 and the lower mold 9, and thereafter,
As shown in FIGS. 13 and 14, a resin 14 is generally injected into the cavity 4 through the gate 3.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】上述した従来構造の樹
脂封止金型では、ワイヤボンディングした半製品を樹脂
封止すると、近年の多ピン化によるパッケージサイズの
大型化と上キャビティ厚と下キャビティ厚の不均一によ
り、上キャビティと下キャビティに注入された樹脂が図
13に示すように、上下不均一に流れる傾向にあった。
In the resin-molding mold having the conventional structure described above, when a semi-finished product subjected to wire bonding is resin-sealed, the package size is increased due to the recent increase in the number of pins, the upper cavity thickness and the lower cavity are reduced. Due to the non-uniform thickness, the resin injected into the upper cavity and the lower cavity tended to flow non-uniformly as shown in FIG.

【0005】その結果、キャビティ4への樹脂の充填率
が高くなると、図14に示すようにリードの間隙より上
キャビティから下キャビティへの樹脂の流れ込みが発生
し、この際樹脂の充填が完全に終了していないにもかか
わらず、エアベント58が樹脂で閉止されてしまうこと
があり、ゲート対向部下キャビティに残った空気はエア
ベント58から排出されないので、射出圧力が完全に樹
脂に加圧されても、図15に示すようにゲート対向部下
キャビティの樹脂14内に気泡15が残るという傾向が
あった。
As a result, when the filling rate of the resin into the cavity 4 is increased, the resin flows from the upper cavity to the lower cavity from the gap between the leads as shown in FIG. Although the air vent 58 is not completed, the air vent 58 may be closed by the resin, and the air remaining in the lower cavity opposite the gate is not exhausted from the air vent 58. Therefore, even if the injection pressure is completely applied to the resin, As shown in FIG. 15, air bubbles 15 tend to remain in the resin 14 in the cavity below the gate-facing portion.

【0006】そして樹脂14内部に残った気泡15は外
観上不良となるので、製造工程の歩留り低下を起こすと
いう問題点があった。
Since the bubbles 15 remaining inside the resin 14 have a poor appearance, there is a problem that the yield in the manufacturing process is reduced.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】本発明の要旨は、樹脂が
注入されるランナーとキャビティとの間に設けられた第
1のゲートと、前記キャビティ内の空気を排出するエア
ベントと、該エアベントと前記キャビティとの間に設け
られた樹脂溜めと、該樹脂溜めと前記キャビティとの間
に設けられた第2のゲートとを有する樹脂封止金型を用
いた半導体装置の製造方法において、前記キャビティ内
に半導体素子が搭載されたリードフレームを保持する工
程と、前記ランナーから前記第1のゲートを介して前記
キャビティ内と前記樹脂溜めに樹脂を注入する工程と、
前記第2のゲートを閉める工程と、前記キャビティ内に
注入された前記樹脂を加圧して樹脂封止する工程とを有
することである。
The gist of the present invention is that a resin is
The second is provided between the runner to be injected and the cavity.
1 gate and air for discharging air from the cavity
A vent, provided between the air vent and the cavity
Between the resin reservoir and the cavity.
Using a resin sealing mold having a second gate provided in
In the method for manufacturing a semiconductor device,
For holding a lead frame with a semiconductor element mounted on it
And from the runner through the first gate
Injecting resin into the cavity and into the resin reservoir,
Closing the second gate; and
Pressurizing the injected resin to seal the resin.
It is to do.

【0008】[0008]

【発明の作用】半導体チップがキャビティに収納される
と、第2ゲート用ピンがキャビティと樹脂溜めを連結し
た状態で第1ゲートから樹脂を注入する。樹脂の注入に
ともない、キャビティ内の空気は樹脂溜めに排出され
る。樹脂がキャビティを満たしたころ、第2ゲート用ピ
ンはキャビティを樹脂溜めから遮断する。
When the semiconductor chip is housed in the cavity, the resin is injected from the first gate with the second gate pin connecting the cavity and the resin reservoir. With the injection of the resin, the air in the cavity is discharged to the resin reservoir. When the resin fills the cavity, the second gate pin blocks the cavity from the resin reservoir.

【0009】[0009]

【実施例】次に本発明について図面を参照して説明す
る。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Next, the present invention will be described with reference to the drawings.

【0010】図1は本発明の第1実施例の上金型の部分
を示す平面図であり、図2は図1のA−A’線に沿った
断面においてボンディング済みのリードフレーム11を
型締めした状態を示す断面図、図3〜図6は樹脂の注入
状態を示す断面図である。図2において、1はメインラ
ンナー、2はサブランナー、3は第1ゲート、4はキャ
ビティ、5は上型第2ゲート開閉用ピン、6は上型樹脂
溜め、7は上金型、8はエアベント、9は下金型、10
は上型第2ゲートである。
FIG. 1 is a plan view showing an upper mold portion of a first embodiment of the present invention, and FIG. 2 is a diagram showing a bonded lead frame 11 in a cross section taken along line AA 'in FIG. FIG. 3 to FIG. 6 are cross-sectional views showing a tightened state, and FIGS. In FIG. 2, 1 is a main runner, 2 is a sub-runner, 3 is a first gate, 4 is a cavity, 5 is an upper mold second gate opening / closing pin, 6 is an upper resin reservoir, 7 is an upper mold, and 8 is an upper mold. Air vent, 9 is lower mold, 10
Denotes an upper second gate.

【0011】図2は本発明の第1実施例の封入金型に
て、リードフレーム11を型締めした樹脂注入前の状態
であり、第2ゲート開閉用ピン5は上がっており、第2
ゲート10は開いた状態になっている。
FIG. 2 shows a state before the resin injection with the lead frame 11 clamped in the encapsulating mold according to the first embodiment of the present invention, wherein the second gate opening / closing pin 5 is raised,
Gate 10 is open.

【0012】図2に示す状態にあるキャビティ4及び樹
脂溜め6に樹脂を注入した状態を示すのが図3〜図5で
あり、キャビティ4内の樹脂先端部に押圧される空気を
従来のエアベント58ではすべて排出することはできな
いが、図2に示すように本実施例の金型では、樹脂溜め
6が任意の大きさでキャビティ4に連続して形成されて
いるので、すべて樹脂溜め6内に排出される。
FIGS. 3 to 5 show a state in which the resin is injected into the cavity 4 and the resin reservoir 6 in the state shown in FIG. 2, and the air pressed to the tip of the resin in the cavity 4 is a conventional air vent. 58, it is not possible to discharge all of them. However, in the mold of this embodiment, as shown in FIG. Is discharged.

【0013】このキャビティ4内の樹脂先端部に位置す
る空気がすべて樹脂溜め6内に排出される図5に示す状
態になったとき、図6に示すように第2ゲート開閉用ピ
ン5を降下させ、第2ゲート10を遮断すると共に、射
出圧力が設定値に達するまで加圧することにより、キャ
ビティ4内に気泡を残さずに樹脂封止できる。
When the state shown in FIG. 5 is reached in which all the air located at the tip of the resin in the cavity 4 is discharged into the resin reservoir 6, the second gate opening / closing pin 5 is lowered as shown in FIG. Then, the second gate 10 is shut off and pressurized until the injection pressure reaches a set value, whereby the resin can be sealed without leaving air bubbles in the cavity 4.

【0014】また、樹脂溜め6は樹脂注入の過程でキャ
ビティ4と第2ゲート開閉用ピン5にて分離されるの
で、樹脂溜め6の容積が比較的大きくても、成形後のパ
ッケージの形状を損なうことがない。
Further, since the resin reservoir 6 is separated by the cavity 4 and the second gate opening / closing pin 5 during the resin injection process, even if the volume of the resin reservoir 6 is relatively large, the shape of the package after molding can be reduced. There is no loss.

【0015】図7は本発明の第2実施例の封入金型を用
いてボンディング済みのリードフレーム11を型締めし
た状態を示す断面図であり、図8〜図11は樹脂の注入
状態を示す。
FIG. 7 is a sectional view showing a state in which the bonded lead frame 11 is clamped by using the encapsulating mold according to the second embodiment of the present invention, and FIGS. 8 to 11 show the state of resin injection. .

【0016】図7は本発明の第2実施例の封入金型に
て、リードフレーム11を型締めした樹脂注入前の状態
を示しており、上下金型7,9の第2ゲート開閉用ピン
5,16は上下にそれぞれ開いており、第2ゲート1
0,17は開いた状態になっている。
FIG. 7 shows a state before the resin injection with the lead frame 11 clamped in the encapsulating mold according to the second embodiment of the present invention. 5 and 16 are open up and down respectively, and the second gate 1
Reference numerals 0 and 17 are open.

【0017】図7の状態にて、近年の多ピン化によりリ
ード間隔が狭いリードフレーム11である場合、リード
間隙は狭くなるのでキャビティ4内で樹脂14が流動す
る際は、リード間隙からの上下方向の樹脂の流れは少な
くなる。したがって、図8〜図10に示すように、上下
金型7,9のキャビティ4内での樹脂の流れはそれぞれ
上下のキャビティが分離して樹脂が流れている状態と同
様になるが、図7に示すように第2実施例では、上下金
型7,9にそれぞれ樹脂溜め6,18が設けてあるの
で、キャビティ4内の樹脂先端に位置する空気は、リー
ド間隔が狭い場合でも図10に示すように上下金型7,
9に設けられた樹脂溜め6,18にすべて排出すること
ができる。
In the state shown in FIG. 7, when the lead frame 11 has a narrow lead interval due to the recent increase in the number of pins, the lead gap becomes narrow. The resin flow in the direction is reduced. Therefore, as shown in FIGS. 8 to 10, the flow of the resin in the cavities 4 of the upper and lower dies 7, 9 is similar to the state in which the upper and lower cavities are separated and the resin flows. As shown in FIG. 10, in the second embodiment, the upper and lower molds 7 and 9 are provided with the resin reservoirs 6 and 18, respectively. As shown, upper and lower mold 7,
9 can be completely discharged to the resin reservoirs 6 and 18.

【0018】このキャビティ内の樹脂先端部に位置した
空気がすべて樹脂溜め6,18内に排出される図10の
状態になったとき、図11に示すように、第2ゲート開
閉用ピン5,16を動かし、第2ゲート10,17を遮
断するとともに、射出圧力が設定圧力に達するまで加圧
することによりキャビティ内4に気泡を残さず樹脂封止
できる。
When the state shown in FIG. 10 is reached in which all the air located at the tip of the resin in the cavity is discharged into the resin reservoirs 6 and 18, as shown in FIG. By moving 16 to shut off the second gates 10 and 17 and applying pressure until the injection pressure reaches the set pressure, resin sealing can be performed without leaving bubbles in the cavity 4.

【0019】[0019]

【発明の効果】以上説明したように本発明は、キャビテ
ィに連続して形成された樹脂溜めを有し、かつキャビテ
ィから樹脂溜めに樹脂を注入する際に、第2ゲート用ピ
ンにて開閉可能な構造となっているので、キャビティ内
の樹脂先端に位置する空気をすべて樹脂溜め内に排出
し、その後設定射出圧力まで加圧するので、キャビティ
内に気泡を残さず樹脂封止でき、外観上不良となるボイ
ドを低減することができる。またキャビティに連続して
形成された樹脂溜めは、樹脂封止中に第2ゲート用ピン
にてキャビティ部と樹脂溜め部に分離されるため、樹脂
封止後のパッケージの形状を損なうことなく、樹脂溜め
の大きさを任意に大きくすることができる。
As described above, the present invention has a resin reservoir formed continuously in a cavity, and can be opened and closed by a second gate pin when resin is injected from the cavity into the resin reservoir. All the air located at the tip of the resin in the cavity is discharged into the resin reservoir and then pressurized to the set injection pressure, so that the resin can be sealed without leaving any bubbles in the cavity, resulting in poor appearance. Can be reduced. The resin reservoir formed continuously in the cavity is separated into the cavity and the resin reservoir by the second gate pin during the resin sealing, so that the shape of the package after the resin sealing is not impaired. The size of the resin reservoir can be arbitrarily increased.

【0020】なお、第1実施例では樹脂溜めおよびゲー
ト開閉用のピンが上型にしか設ける必要がないので、金
型を容易に製作することができる。また、第2実施例で
は上下の金型に樹脂溜めがあるため、内部リードの間隔
が狭くリードの間隙から樹脂の上下方向の流れ込みが起
こりにくく、上下のキャビティの樹脂の流れがそれぞれ
分離している場合でも、上下キャビティのそれぞれの樹
脂先端にある空気は上下に配置されている樹脂溜めにそ
れぞれ排出される。その結果、リード間隔が狭いパッケ
ージでもボイド不良を低減できる。また実際に160p
QFPにて本発明の封止金型と従来構造の金型でボイド
不良発生率について比較したところ以下の結果となり効
果があることが分かった。
In the first embodiment, since the resin reservoir and the gate opening / closing pins need to be provided only in the upper mold, the mold can be easily manufactured. Further, in the second embodiment, since the upper and lower molds have resin reservoirs, the distance between the internal leads is small, so that the resin does not easily flow in the vertical direction from the gap between the leads, and the resin flows in the upper and lower cavities are separated from each other. In this case, the air at the tip of each resin in the upper and lower cavities is discharged to the resin reservoirs arranged vertically. As a result, void defects can be reduced even in a package having a narrow lead interval. Also actually 160p
A comparison of the void defect occurrence rate between the sealing mold of the present invention and the mold having the conventional structure in QFP showed the following results, and proved to be effective.

【0021】 [0021]

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】第1実施例を示す断面図である。FIG. 1 is a sectional view showing a first embodiment.

【図2】図1のA−A’線に沿った断面図である。FIG. 2 is a sectional view taken along the line A-A 'of FIG.

【図3】第1実施例の樹脂注入状況を示す断面図であ
る。
FIG. 3 is a sectional view showing a resin injection state of the first embodiment.

【図4】第1実施例の他の樹脂注入状況を示す断面図で
ある。
FIG. 4 is a sectional view showing another resin injection state of the first embodiment.

【図5】第1実施例の更に他の樹脂注入状況を示す断面
図である。
FIG. 5 is a sectional view showing still another resin injection state of the first embodiment.

【図6】第1実施例の樹脂注入完了状態を示す断面図で
ある。
FIG. 6 is a cross-sectional view showing a completed state of resin injection according to the first embodiment.

【図7】第2実施例を示す断面図である。FIG. 7 is a sectional view showing a second embodiment.

【図8】第2実施例の樹脂注入状況を示す断面図であ
る。
FIG. 8 is a sectional view showing a resin injection state of a second embodiment.

【図9】第2実施例の他の樹脂注入状況を示す断面図で
ある。
FIG. 9 is a sectional view showing another resin injection state of the second embodiment.

【図10】第2実施例の更に他の樹脂注入状況を示す断
面図である。
FIG. 10 is a sectional view showing still another resin injection state of the second embodiment.

【図11】第2実施例の樹脂注入完了状態を示す断面図
である。
FIG. 11 is a cross-sectional view showing a completed state of resin injection according to the second embodiment.

【図12】従来例の断面図である。FIG. 12 is a sectional view of a conventional example.

【図13】従来例の樹脂注入状況を示す断面図である。FIG. 13 is a cross-sectional view showing a conventional resin injection state.

【図14】従来例の他の樹脂注入状況を示す断面図であ
る。
FIG. 14 is a cross-sectional view showing another resin injection state of the conventional example.

【図15】従来例の樹脂注入完了状態を示す断面図であ
る。
FIG. 15 is a cross-sectional view showing a state of completion of resin injection according to a conventional example.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 メインランナー 2 サブランナー 3 第1ゲート 4 キャビティ 5 上型第2ゲート開閉用ピン 6 上型樹脂溜め 7 上金型 8,58 エアベント 9 下金型 10 上型第2ゲート 11 リードフレーム 12 素子 13 ワイヤー 14 樹脂 15 気泡 16 下型第2ゲート開閉用ピン 17 下型第2ゲート 18 下型樹脂溜め REFERENCE SIGNS LIST 1 Main runner 2 Sub runner 3 First gate 4 Cavity 5 Upper die second gate opening / closing pin 6 Upper die reservoir 7 Upper die 8, 58 Air vent 9 Lower die 10 Upper second gate 11 Lead frame 12 Element 13 Wire 14 Resin 15 Bubble 16 Lower second gate opening / closing pin 17 Lower second gate 18 Lower resin reservoir

Claims (1)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 樹脂が注入されるランナーとキャビティ
との間に設けられた第1のゲートと、前記キャビティ内
の空気を排出するエアベントと、該エアベントと前記キ
ャビティとの間に設けられた樹脂溜めと、該樹脂溜めと
前記キャビティとの間に設けられた第2のゲートとを有
する樹脂封止金型を用いた半導体装置の製造方法におい
て、前記キャビティ内に半導体素子が搭載されたリード
フレームを保持する工程と、前記ランナーから前記第1
のゲートを介して前記キャビティ内と前記樹脂溜めに樹
脂を注入する工程と、前記第2のゲートを閉める工程
と、前記キャビティ内に注入された前記樹脂を加圧して
樹脂封止する工程とを有することを特徴とする半導体装
置の製造方法。
1. A runner and a cavity into which a resin is injected.
And a first gate provided between
An air vent for discharging air, and the air vent and the key.
And a resin reservoir provided between the cavity and the cavity.
A second gate provided between the cavity and the cavity.
Method of Manufacturing Semiconductor Device Using Resin Sealing Die
A lead having a semiconductor element mounted in the cavity.
Holding a frame; and
Through the gate in the cavity and the resin reservoir
A step of injecting fat and a step of closing the second gate
Pressurizing the resin injected into the cavity,
And a resin sealing step .
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