JP2774010B2 - Xenon lamp protection circuit - Google Patents

Xenon lamp protection circuit

Info

Publication number
JP2774010B2
JP2774010B2 JP4056001A JP5600192A JP2774010B2 JP 2774010 B2 JP2774010 B2 JP 2774010B2 JP 4056001 A JP4056001 A JP 4056001A JP 5600192 A JP5600192 A JP 5600192A JP 2774010 B2 JP2774010 B2 JP 2774010B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
circuit
xenon lamp
irradiance
lamp
output
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP4056001A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JPH05226085A (en
Inventor
長市 須賀
哲也 木村
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Suga Test Instruments Co Ltd
Original Assignee
Suga Test Instruments Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Suga Test Instruments Co Ltd filed Critical Suga Test Instruments Co Ltd
Priority to JP4056001A priority Critical patent/JP2774010B2/en
Publication of JPH05226085A publication Critical patent/JPH05226085A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP2774010B2 publication Critical patent/JP2774010B2/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、促進耐候試験機等に用
いられる放射エネルギー自動調節のための放射照度自動
制御系を備えたキセノンランプの保護回路に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a protection circuit for a xenon lamp having an automatic irradiance control system for automatically adjusting radiant energy used in an accelerated weathering tester or the like.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来の促進耐候試験機の中には、光源と
して使用されるキセノンランプが例えば図5に示すよう
な使用に伴って放射エネルギーが減少する経時変化特性
を有しており、それに基いて試料に対する放射照度に時
間的変化が生じるので、それを補償するための自動制御
系を備えたもの、いわゆる放射エネルギー自動調節方式
のキセノンウェザメータがある。この種のウェザメータ
においては、例えば図4に概念的に示すように、試験室
15内でキセノンランプ1の周りを回転する試料回転枠
16に試料17を装着して所定の耐候試験を行うが、そ
れら試料17と同様の条件となるように試料面の位置で
ランプ放射を受光するために試料回転枠16に放射照度
測定用受光器2を設置し、その出力を例えばスリップリ
ング機構を介して導出し、増幅器3、調節回路4を経て
制御信号として電力制御回路5に供給することによりラ
ンプ放電電力を試料への放射照度に応じて制御するよう
にした自動制御系が設けられている。
2. Description of the Related Art In a conventional accelerated weathering tester, a xenon lamp used as a light source has a aging characteristic in which radiant energy decreases with use as shown in FIG. 5, for example. Since the irradiance with respect to the sample changes with time based on this, there is a so-called xenon weather meter of a so-called automatic radiant energy adjustment type provided with an automatic control system for compensating the change. In this type of weather meter, for example, as shown conceptually in FIG. 4, a sample 17 is mounted on a sample rotating frame 16 that rotates around a xenon lamp 1 in a test chamber 15 to perform a predetermined weather resistance test. The irradiance measuring light receiver 2 is installed on the sample rotating frame 16 in order to receive the lamp radiation at the position of the sample surface so that the same conditions as those of the sample 17 are obtained, and the output thereof is derived through, for example, a slip ring mechanism. An automatic control system is provided which controls the lamp discharge power in accordance with the irradiance to the sample by supplying the control signal to the power control circuit 5 via the amplifier 3 and the adjustment circuit 4 as a control signal.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】このような構成のた
め、放射照度測定用受光器2の表面フィルタが耐候試験
に伴う降雨、結露、試料から出る化学物質、風によるホ
コリ等により汚れて透過率が低下したり、また、ランプ
冷却水によってランプ発光管が黒化して放射照度が低下
したりすると、キセノンランプ1の放電電力が増大する
ように制御されてキセノンランプに多大の負荷がかか
り、ランプ発光管の僅かなキズ等によってランプの寿命
は短くなり、ランプ破損等の事故につながることがあっ
た。加えて、試験中の試料が設定した放射照度より大き
い放射エネルギーを受けることとなり、適正な試験がで
きなくなるという問題もあった。本発明は、上記したよ
うな放射照度自動制御系を備えたキセノンランプに多大
な負荷がかかる場合に、ランプを保護することを目的と
する。
Due to such a structure, the surface filter of the irradiance measuring light receiver 2 is contaminated by rainfall, dew, chemical substances coming out of the sample, dust due to wind, etc., due to the weathering test, and has a transmittance. Is reduced or the illuminance is reduced by blackening of the lamp arc tube by the lamp cooling water, the discharge power of the xenon lamp 1 is controlled to increase, and a large load is applied to the xenon lamp. Slight scratches on the arc tube shortened the life of the lamp, sometimes leading to accidents such as lamp damage. In addition, the sample under test receives radiant energy higher than the set irradiance, and there is a problem that an appropriate test cannot be performed. An object of the present invention is to protect a xenon lamp provided with the automatic irradiance control system described above when a large load is applied to the lamp.

【0004】[0004]

【課題を解決するための手段】本発明によれば、キセノ
ンランプ光源、キセノンランプの放射照度測定用受光
器、増幅器、調節回路、キセノンランプの放電電力を制
御する電力制御回路からなる放射エネルギー自動調節の
ための放射照度自動制御系に、メモリ回路を挿入し、メ
モリ回路には保持スイッチを介してタイマー回路を接続
し、それによりキセノンランプの点灯後放射照度が安定
するに必要な時間を計時した時の制御信号が初期値とし
てメモリ回路に保持されるようにする。ランプ放電電力
の制御を次の三種の方法で行うことにより、ランプの過
負荷を防止する。
According to the present invention, a xenon lamp light source, a xenon lamp irradiance measuring photodetector, an amplifier, a control circuit, and a power control circuit for controlling the xenon lamp discharge power are provided. A memory circuit is inserted into the automatic irradiance control system for adjustment, and a timer circuit is connected to the memory circuit via a holding switch, so that the time required for the irradiance to stabilize after the xenon lamp is turned on is measured. The control signal at this time is held in the memory circuit as an initial value. By controlling the lamp discharge power by the following three methods, overload of the lamp is prevented.

【0005】(1) 電力制御回路に接続されたランプ放電
電力監視回路により、ランプ放電電力を監視し、それが
規定値を超えると制御信号をメモリ回路に保持されてい
る初期値に切換えて、キセノンランプを初期と同じ放電
電力で点灯させる。 (2) メモリ回路に初期値が保持されると、以後はその初
期値を制御信号としてキセノンランプを一定電力で点灯
させる。この場合、メモリ回路の出力電圧はキセノンラ
ンプの放射エネルギーの経時変化に対応して変化するよ
うにプログラムされており、また、受光器の前面には開
閉自在な遮蔽板を設け、タイマー回路の出力により自動
的に閉状態に制御して受光器の表面フィルタの汚れを防
止する。 (3) 上記(1) の構成に加えて、受光器により測定された
放射照度と規定値とを比較する比較回路を設け、メモリ
回路の出力により制御されたランプ放電電力が低すぎる
場合には、メモリ回路をリセットし、タイマー回路を再
起動して新たなランプ放電電力の安定値を記憶させるよ
うにして、キセノンランプの放射エネルギーの経時変化
に追随させる。
(1) The lamp discharge power monitoring circuit connected to the power control circuit monitors the lamp discharge power, and when it exceeds a specified value, switches the control signal to the initial value held in the memory circuit. The xenon lamp is turned on with the same discharge power as the initial one. (2) After the initial value is held in the memory circuit, the xenon lamp is lit at a constant power thereafter using the initial value as a control signal. In this case, the output voltage of the memory circuit is programmed to change in accordance with the change over time of the radiant energy of the xenon lamp. Automatically controls the closed state to prevent contamination of the surface filter of the light receiver. (3) In addition to the configuration of (1) above, a comparison circuit that compares the irradiance measured by the light receiver with the specified value is provided.If the lamp discharge power controlled by the output of the memory circuit is too low, Then, the memory circuit is reset, the timer circuit is restarted, and the new stable value of the lamp discharge power is stored, so that the radiant energy of the xenon lamp follows the change with time.

【0006】[0006]

【実施例】図1は、本発明によるキセノンランプの保護
回路を促進耐候試験機に適用した一実施例を示すブロッ
ク図である。図中、1は耐候試験用光源としてのキセノ
ンランプ、2は放射照度測定用受光器、3は増幅器、4
は比例帯(P)41、微分回路(D)42および積分回
路(I)43からなるPIDによる調節回路4、5はS
CR制御電圧出力回路51およびランプ点灯用SCR回
路52からなる電力制御回路、6はメモリ回路、7は保
持スイッチ、8はタイマー回路、9はエネルギー(放射
照度)表示器、10は放射照度積算計、11はランプ放
電電力監視回路、12は異常警報手段、13は切換スイ
ッチである。
FIG. 1 is a block diagram showing an embodiment in which a protection circuit for a xenon lamp according to the present invention is applied to an accelerated weathering tester. In the figure, 1 is a xenon lamp as a light source for weather resistance test, 2 is a photodetector for irradiance measurement, 3 is an amplifier, 4
The PID adjusting circuits 4 and 5 comprising a proportional band (P) 41, a differentiating circuit (D) 42 and an integrating circuit (I) 43
A power control circuit comprising a CR control voltage output circuit 51 and a lamp lighting SCR circuit 52, 6 is a memory circuit, 7 is a holding switch, 8 is a timer circuit, 9 is an energy (irradiance) display, 10 is an irradiance integrator , 11 is a lamp discharge power monitoring circuit, 12 is an abnormality alarm means, and 13 is a changeover switch.

【0007】放射照度測定用受光器2は、図4に示した
従来の試験機と同様に、キセノンランプ1の周りを回転
する回転試料枠16に試料17と並置して固定されてお
り、ランプ1から試料17が受ける放射照度を測定す
る。受光器2の検出出力は増幅器3で増幅された後、試
験室15内の雰囲気の変化などにより影響されないよう
に所定の伝達特性を有する調節回路4により制御信号に
変換される。得られた制御信号は、切換スイッチ13の
一方の接点aに直接供給されるとともに、メモリ回路6
に記憶され、その読み出し出力が他方の接点bに供給さ
れる。切換スイッチ13により選択された制御信号は電
力制御回路5のSCR制御電圧出力回路51に印加され
てその値に応じたSCR制御電圧を発生し、ランプ点灯
用SCR回路52を制御してキセノンランプ1の放電電
力を調整して試料17への放射照度が一定に保たれる。
The irradiance measuring light receiver 2 is fixed to a rotating sample frame 16 which rotates around the xenon lamp 1 in a juxtaposition with a sample 17 like the conventional testing machine shown in FIG. The irradiance received from 1 to the sample 17 is measured. After the detection output of the light receiver 2 is amplified by the amplifier 3, it is converted into a control signal by an adjustment circuit 4 having a predetermined transfer characteristic so as not to be affected by a change in the atmosphere in the test chamber 15. The obtained control signal is supplied directly to one contact a of the changeover switch 13 and the memory circuit 6
And the read output is supplied to the other contact b. The control signal selected by the changeover switch 13 is applied to an SCR control voltage output circuit 51 of the power control circuit 5 to generate an SCR control voltage corresponding to the value, and controls the lamp lighting SCR circuit 52 to control the xenon lamp 1. Is adjusted to maintain the irradiance to the sample 17 constant.

【0008】メモリ回路6にはリレーからなる保持スイ
ッチ7を介してタイマー回路8が接続されており、試験
機の初期設定時に切換スイッチ13を接点aに接続して
通常の放射照度自動制御系を形成した状態でキセノンラ
ンプ1を点灯し、その後放射照度自動制御系の作用によ
りキセノンランプ1からの放射照度が安定するまでの時
間、例えば20分、をタイマー回路8で計って保持スイ
ッチ7を投入する。これにより、メモリ回路6に初期安
定時の制御信号が記憶される。 電力制御回路5に接続
されたランプ放電電力監視回路11は、キセノンランプ
1の放電電力を初期安定時の放電電力に相当する規定値
と比較しつつ監視しており、上記した従来の試験機と同
様に受光器表面フィルタの透過率低下やランプ発光管の
黒化などにより放電電力がその規定値以上になった時に
切換スイッチ13を自動的に切換え、アナログメモリ6
に記憶されている初期値を制御信号としてSCR制御電
圧出力回路51に印加してキセノンランプ1を初期と同
じ放電電力で点灯駆動するようにする。また、ランプ放
電電力監視回路11は、制御信号を初期値に切り換える
と同時に、異常警報手段12を駆動してランプ放電電力
の異常警報を発する。これにより、キセノンランプ1は
初期安定時の放電電力で点灯することとなり、ランプ負
荷を軽減して保護することができる。なお、受光器2で
測定される放射照度の現在値がエネルギー(放射照度)
表示器9により表示され、積算値が放射照度積算計10
により表示される。
A timer circuit 8 is connected to the memory circuit 6 via a holding switch 7 composed of a relay, and a changeover switch 13 is connected to a contact a at the time of initial setting of the tester, so that a normal automatic irradiance control system is provided. The xenon lamp 1 is turned on in the formed state, and then the time until the irradiance from the xenon lamp 1 is stabilized by the operation of the irradiance automatic control system, for example, 20 minutes, is measured by the timer circuit 8, and the holding switch 7 is turned on. I do. Thereby, the control signal at the time of initial stabilization is stored in the memory circuit 6. The lamp discharge power monitoring circuit 11 connected to the power control circuit 5 monitors the discharge power of the xenon lamp 1 while comparing it with a specified value corresponding to the discharge power at the time of initial stabilization. Similarly, when the discharge power exceeds the specified value due to a decrease in the transmittance of the surface filter of the light receiver or the blackening of the lamp arc tube, the changeover switch 13 is automatically switched, and the analog memory 6 is switched.
Is applied to the SCR control voltage output circuit 51 as a control signal to drive the xenon lamp 1 with the same discharge power as the initial one. Further, the lamp discharge power monitoring circuit 11 switches the control signal to the initial value, and at the same time, drives the abnormality alarm means 12 to issue an abnormality alarm of the lamp discharge power. As a result, the xenon lamp 1 is turned on with the discharge power at the time of initial stabilization, and the lamp load can be reduced and protected. The current value of the irradiance measured by the light receiver 2 is energy (irradiance)
The integrated value is displayed by the display 9 and the irradiance integrator 10
Is displayed.

【0009】図2は本発明によるキセノンランプの保護
回路を促進耐候試験機に適用した他の実施例を示してお
り、図中、図1に示した実施例と同一の構成要素には同
一の符号が付されている。この実施例においては、切換
スイッチ13、ランプ放電電力監視回路11および異常
警報手段12が除かれており、放射照度自動制御系によ
りキセノンランプ1の放電電力が安定すると予め時間設
定されたタイマー回路8が出力を生じて保持スイッチ7
を付勢し、メモリ回路6がその時の制御信号を保持す
る。これ以降は、メモリ回路6が出力する制御信号の値
によりキセノンランプの放電電力が設定され、電源電圧
の変動が無ければキセノンランプ1は初期と同じ放電電
力で点灯し続けることとなる。これにより、受光器2の
表面フィルタの汚れやキセノンランプ1の発光管の黒化
が生じても、ランプの負荷が過大となることはない。
FIG. 2 shows another embodiment in which the xenon lamp protection circuit according to the present invention is applied to an accelerated weathering tester. In the drawing, the same components as those in the embodiment shown in FIG. Reference numerals are given. In this embodiment, the changeover switch 13, the lamp discharge power monitoring circuit 11 and the abnormality alarm means 12 are omitted, and the timer circuit 8 set in advance when the discharge power of the xenon lamp 1 is stabilized by the automatic irradiance control system. Generates an output and the holding switch 7
And the memory circuit 6 holds the control signal at that time. Thereafter, the discharge power of the xenon lamp is set according to the value of the control signal output from the memory circuit 6, and if there is no change in the power supply voltage, the xenon lamp 1 continues to be lit with the same discharge power as the initial one. Thus, even if the surface filter of the light receiver 2 becomes dirty or the arc tube of the xenon lamp 1 becomes black, the load on the lamp does not become excessive.

【0010】この場合、メモリ回路6は、その出力する
制御信号の値が、図5に示されているキセノンランプの
放射エネルギー経時変化特性に対応するように、上記の
保持された初期値からキセノンランプ1の使用時間に応
じて変化するようにプログラムされている。また、受光
器2の前面に開閉自在な遮蔽板20を設け、初期設定時
の開状態からタイマー回路8の出力により自動的に閉状
態にセットされるように構成すれば、受光器2の表面フ
ィルタを降雨、結露、試料からの化学物質、風によるホ
コリ等による汚れから防止することができる。あるい
は、受光器2を回転試料枠16から取りはずし、冷暗所
に保存しておくことも可能である。
In this case, the memory circuit 6 changes the value of the control signal output from the stored initial value to the value of xenon such that the value of the control signal corresponds to the aging characteristic of the radiant energy of the xenon lamp shown in FIG. It is programmed to change according to the usage time of the lamp 1. Further, a shield plate 20 that can be opened and closed is provided on the front surface of the light receiver 2 so that the shutter is automatically set to the closed state by the output of the timer circuit 8 from the open state at the time of initial setting. The filter can be prevented from being contaminated by rain, condensation, chemicals from the sample, dust from the wind, and the like. Alternatively, the light receiver 2 can be removed from the rotating sample frame 16 and stored in a cool and dark place.

【0011】本発明によるキセノンランプの保護回路を
促進耐候試験機に適用した更に他の実施例を図3に示
す。図中、図1に示した実施例と同一の構成要素には同
一の符号が付されている。この実施例においては、図1
に示した実施例に加えて、エネルギー(放射照度)表示
器9に放射照度比較回路14が接続されており、その出
力がメモリ回路6のリセット端子R、タイマー回路8の
スタート端子Sおよび警報手段ALMに供給されるよう
に構成されている。タイマー回路8とは別に放射照度比
較回路14を設けているので、メモリ回路6の出力電圧
で点灯している時の放射照度と設定した放射照度とを比
較し、放射照度が設定値に対して低すぎる場合にはメモ
リ回路6の出力電圧のリセット端子Rを動作させると同
時にタイマー回路8のセット端子Sを動作させて再起動
し、放射照度自動制御系を動作させて放射照度が設定値
になるようにし、放射照度の安定を待ってタイマー回路
8の計時終了後に再度メモリ回路6に制御電圧の現在値
を保持させる。その後、メモリ回路6の出力電圧に応じ
た一定電力でキセノンランプ1を点灯させる。以後、こ
れを繰り返す。
FIG. 3 shows still another embodiment in which the xenon lamp protection circuit according to the present invention is applied to an accelerated weathering tester. In the figure, the same components as those in the embodiment shown in FIG. 1 are denoted by the same reference numerals. In this embodiment, FIG.
In addition to the embodiment shown in FIG. 7, an irradiance comparison circuit 14 is connected to the energy (irradiance) display 9, and its output is the reset terminal R of the memory circuit 6, the start terminal S of the timer circuit 8, and the alarm means. It is configured to be supplied to the ALM. Since the irradiance comparison circuit 14 is provided separately from the timer circuit 8, the irradiance when the lamp is turned on with the output voltage of the memory circuit 6 is compared with the set irradiance, and the irradiance is compared with the set value. If the voltage is too low, the reset terminal R of the output voltage of the memory circuit 6 is operated, and at the same time, the set terminal S of the timer circuit 8 is operated and restarted, and the automatic irradiance control system is operated to set the irradiance to the set value. After the irradiance is stabilized, the timer circuit 8 finishes measuring the time, and causes the memory circuit 6 to hold the current value of the control voltage again. After that, the xenon lamp 1 is turned on with constant power according to the output voltage of the memory circuit 6. Thereafter, this is repeated.

【0012】これにより、キセノンランプ1の放射エネ
ルギーが使用時間に伴って低下しても、自動的に検知し
てメモリ回路6の出力電圧を補正し、常に一定の電力に
よりランプを点灯することができる。また、この放射照
度比較回路14から警報信号を出力することにより、ラ
ンプ発光管の急激な黒化や受光器2の表面フィルタの急
激な汚れを検知してウェザメータの運転を停止すること
も可能である。
Thereby, even if the radiant energy of the xenon lamp 1 decreases with the use time, the output voltage of the memory circuit 6 is automatically detected and corrected, and the lamp is always lit with constant power. it can. Further, by outputting an alarm signal from the irradiance comparison circuit 14, it is possible to detect sudden blackening of the lamp arc tube or sudden contamination of the surface filter of the light receiver 2 and stop the operation of the weather meter. is there.

【0013】[0013]

【発明の効果】本発明によれば、以上説明したように、
耐候試験機等に用いられるキセノンランプの保護回路が
構成されているので、放射エネルギー自動調節のための
放射照度自動制御系に設けられている放射照度測定用受
光器の表面フィルタの汚れやランプ冷却水によるランプ
発光管の黒化によって、キセノンランプの放電電力が増
大して多大な負荷がかかることを防止し、キセノンラン
プを効果的に保護することができる。また、本発明によ
る保護回路は、キセノンランプの放射エネルギーの経時
変化に対しても追随させることができる。
According to the present invention, as described above,
A protection circuit for the xenon lamp used in weather testers, etc., is configured, so that dirt on the surface filter of the irradiance measurement receiver provided in the irradiance automatic control system for automatic radiant energy control and lamp cooling The blackening of the lamp arc tube by water prevents the discharge power of the xenon lamp from increasing and imposing a large load, thereby effectively protecting the xenon lamp. Further, the protection circuit according to the present invention can follow the aging change of the radiant energy of the xenon lamp.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明によるキセノンランプの保護回路を促進
耐候試験機に適用した一実施例を示すブロック図であ
る。
FIG. 1 is a block diagram showing an embodiment in which a protection circuit for a xenon lamp according to the present invention is applied to an accelerated weathering tester.

【図2】本発明によるキセノンランプの保護回路を促進
耐候試験機に適用した他の実施例を示すブロック図であ
る。
FIG. 2 is a block diagram showing another embodiment in which the xenon lamp protection circuit according to the present invention is applied to an accelerated weathering tester.

【図3】本発明によるキセノンランプの保護回路を促進
耐候試験機に適用した更に他の実施例を示すブロック図
である。
FIG. 3 is a block diagram showing still another embodiment in which a protection circuit for a xenon lamp according to the present invention is applied to an accelerated weathering tester.

【図4】従来の放射エネルギー自動調節のための自動制
御系を備えた促進耐候試験機の構成を示す概念図であ
る。
FIG. 4 is a conceptual diagram showing a configuration of a conventional accelerated weathering tester provided with an automatic control system for automatic adjustment of radiant energy.

【図5】キセノンランプの放射エネルギーの経時変化特
性を示す図である。
FIG. 5 is a diagram showing a temporal change characteristic of radiant energy of a xenon lamp.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 キセノンランプ 2 放射照度測定用受光器 3 増幅器 4 調節回路4 5 電力制御回路 6 メモリ回路 7 切換スイッチ 8 タイマー回路 9 エネルギー(放射照度)表示器 10 放射照度積算計 11 ランプ放電電力監視回路 12 異常警報手段 13 切換スイッチ 14 放射照度比較回路 15 試験室 16 試料回転枠 17 試料 20 遮蔽板 REFERENCE SIGNS LIST 1 xenon lamp 2 irradiance measurement light receiver 3 amplifier 4 control circuit 4 5 power control circuit 6 memory circuit 7 changeover switch 8 timer circuit 9 energy (irradiance) display 10 irradiance integrator 11 lamp discharge power monitoring circuit 12 abnormality Alarm means 13 Changeover switch 14 Irradiance comparison circuit 15 Test room 16 Sample rotating frame 17 Sample 20 Shield plate

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭58−80300(JP,A) 特開 昭58−157091(JP,A) 特開 昭60−235396(JP,A) 特開 昭62−51193(JP,A) 特開 平5−21177(JP,A) 特開 平5−21176(JP,A) 特開 昭54−51594(JP,A) 特開 昭62−113390(JP,A) 特開 昭62−90523(JP,A) 実開 平1−135698(JP,U) 実開 平3−63827(JP,U) 実公 昭46−8640(JP,Y2) 実公 昭46−8399(JP,Y2) (58)調査した分野(Int.Cl.6,DB名) H05B 41/16 - 41/29 G01N 17/00──────────────────────────────────────────────────続 き Continuation of the front page (56) References JP-A-58-80300 (JP, A) JP-A-58-157091 (JP, A) JP-A-60-235396 (JP, A) JP-A-62 51193 (JP, A) JP-A-5-21177 (JP, A) JP-A-5-21176 (JP, A) JP-A-54-51594 (JP, A) JP-A-62-113390 (JP, A) JP-A-62-290523 (JP, A) JP-A-1-135698 (JP, U) JP-A-3-63827 (JP, U) JP-A-46-8640 (JP, Y2) JP-A-46-8399 (JP, Y2) (58) Field surveyed (Int. Cl. 6 , DB name) H05B 41/16-41/29 G01N 17/00

Claims (3)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 光源としてのキセノンランプと、該キセ
ノンランプ放射照度を測定するための受光器と、該受光
器の出力が供給される所定の伝達特性を有する調整回路
と、 該調整回路から出力される制御信号を受けて上記キセノ
ンランプの放電電力を制御する電力制御回路を含むキセ
ノンランプの放射エネルギー自動調整のために放射照度
自動制御系と、上記放射照度自動制御系の制御出力信号を記憶する記憶
回路と、 上記キセノンランプの点灯後、所定時間経過してキセノ
ンランプの光量が安定したときに上記放射照度自動制御
系の出力制御信号を上記記憶回路に記憶させるタイマー
回路と、 上記放射照度自動制御系の出力制御信号と上記記憶回路
に記憶された初期設定値をのいずれかを選択して上記電
力制御回路に供給する切替手段と、 上記キセノンランプ放電電力が規定値を超えたときに上
記切替手段を作動して上記記憶回路の初期設定値を上記
電力制御回路に供給させるランプ放電電力監視回路とを
備えていることを特徴とするキセノンランプの保護回
路。
1. A xenon lamp as a light source, a light receiver for measuring the irradiance of the xenon lamp, an adjustment circuit having a predetermined transfer characteristic to which an output of the light receiver is supplied, and an output from the adjustment circuit An automatic irradiance control system for automatically adjusting the radiant energy of the xenon lamp including a power control circuit for controlling the discharge power of the xenon lamp in response to the control signal received, and a control output signal of the automatic irradiance control system are stored. Memory
After turning on the xenon lamp and the xenon lamp,
Automatic control of the irradiance when the lamp light is stable
Timer for storing the system output control signal in the storage circuit
Circuit, an output control signal of the irradiance automatic control system, and the storage circuit
Select one of the initial setting values stored in
Switching means for supplying power to the power control circuit, and a switch for when the xenon lamp discharge power exceeds a specified value.
Activating the switching means to set the initial setting value of the storage circuit to
A lamp discharge power monitoring circuit to be supplied to the power control circuit.
Xenon lamp protection circuit
Road.
【請求項2】 光源としてのキセノンランプと、該キセ
ノンランプの放射照度を測定するための受光器と、該受
光器の出力が供給される所定の伝達特性を有する調節回
路と、該調節回路から出力される制御信号を受けて上記
キセノンランプの放電電力を制御する電力制御回路を含
むキセノンランプの放射エネルギー自動調節のための放
射照度自動制御系と、 上記受光器の前面に設けられた開閉自在の遮蔽板と、 上記調節回路と上記電力制御回路との間に挿入接続され
た記憶回路と、 該記憶回路に接続されて上記キセノンランプの点灯後所
定時間経過した時に記憶動作を行わせて上記調節回路の
出力制御信号を記憶させるとともに、上記遮蔽板を開状
態から閉状態に制御するタイマー回路とを備え、上記記
憶回路に制御信号が記憶された後は該記憶回路の出力制
御信号が上記電力制御回路に供給され、かつ、上記受光
器の受光面が遮蔽されることを特徴とするキセノンラン
プの保護回路。
2. A xenon lamp as a light source, a light receiver for measuring the irradiance of the xenon lamp, an adjustment circuit having a predetermined transfer characteristic to which an output of the light receiver is supplied, and An irradiance automatic control system for automatically adjusting the radiant energy of the xenon lamp including a power control circuit for controlling the discharge power of the xenon lamp in response to the output control signal; A shielding plate, a storage circuit inserted and connected between the adjustment circuit and the power control circuit, and connected to the storage circuit to perform a storage operation when a predetermined time has elapsed after lighting of the xenon lamp. And a timer circuit for storing the output control signal of the adjustment circuit and controlling the shielding plate from the open state to the closed state, and the control circuit stores the control signal in the storage circuit. A protection circuit for a xenon lamp, wherein an output control signal of a storage circuit is supplied to the power control circuit, and a light receiving surface of the light receiver is shielded.
【請求項3】 請求項1記載のキセノンランプの保護回
路に加えて、 上記受光器により測定された放射照度と規定値とを比較
し、規定値以下の場合には上記記憶回路をリセットし、
タイマー回路を再起動させることのできる出力を発生す
る比較回路を備え、上記記憶回路の出力制御信号により
制御されたランプ放電電力が低すぎる場合には、上記放
射照度自動制御系を働かせ、上記記憶回路に新たなラン
プ放電電力の安定値を記憶させるようにしたことを特徴
とするキセノンランプの保護回路。
3. The protection circuit for a xenon lamp according to claim 1, further comprising: comparing the irradiance measured by the photodetector with a specified value; resetting the storage circuit if the irradiance is equal to or less than the specified value;
A comparison circuit for generating an output capable of restarting the timer circuit; and when the lamp discharge power controlled by the output control signal of the storage circuit is too low, the automatic irradiance control system is activated to store the stored data. A xenon lamp protection circuit characterized in that a new stable value of the lamp discharge power is stored in the circuit.
JP4056001A 1992-02-07 1992-02-07 Xenon lamp protection circuit Expired - Fee Related JP2774010B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP4056001A JP2774010B2 (en) 1992-02-07 1992-02-07 Xenon lamp protection circuit

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP4056001A JP2774010B2 (en) 1992-02-07 1992-02-07 Xenon lamp protection circuit

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH05226085A JPH05226085A (en) 1993-09-03
JP2774010B2 true JP2774010B2 (en) 1998-07-09

Family

ID=13014841

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP4056001A Expired - Fee Related JP2774010B2 (en) 1992-02-07 1992-02-07 Xenon lamp protection circuit

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2774010B2 (en)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7038196B2 (en) * 2004-02-02 2006-05-02 Atlas Material Testing Technology Llc Accelerated weathering test apparatus with full spectrum calibration, monitoring and control

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5880300A (en) * 1981-11-09 1983-05-14 カシオ計算機株式会社 Device for dimming fluorescent lamp
JPS58157091A (en) * 1982-03-15 1983-09-19 松下電工株式会社 Device for firing discharge lamp
JPS60235396A (en) * 1984-05-04 1985-11-22 松下電工株式会社 Devide for firing discharge lamp
US4682084A (en) * 1985-08-28 1987-07-21 Innovative Controls, Incorporated High intensity discharge lamp self-adjusting ballast system sensitive to the radiant energy or heat of the lamp
JPH01135698U (en) * 1988-03-11 1989-09-18

Also Published As

Publication number Publication date
JPH05226085A (en) 1993-09-03

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US7034506B2 (en) Emergency lighting equipment with automatic charge/discharge and monitoring system
EP0656610A1 (en) Thermal protection device for a secured electronic apparatus, especially a franking machine
JP2774010B2 (en) Xenon lamp protection circuit
US5021668A (en) Electro-optical middle ultra-violet sensors
US20120138809A1 (en) Apparatus and method for detecting the presence of a flame
US9102776B1 (en) Detection and mitigation of burn-in for thermal imaging systems
JP2561981B2 (en) UV discharge tube failure detection device
US4272188A (en) Exposure compensation circuit for a copier
JPH0915178A (en) Gas warning system
US5089749A (en) Method and apparatus for measuring output of a heat lamp for an optical TLD reader
US5153424A (en) Flux monitor high light intensity cut-off circit for night vision devices
JPH07154725A (en) Liquid crystal video display device
JPH02108981A (en) Automatic monitor device for gapless arrester
JP3282300B2 (en) Exposure apparatus and semiconductor element manufacturing method
JP2634727B2 (en) Ultraviolet detector life detector
JP4469699B2 (en) Infrared carbon dioxide detector
JP3358185B2 (en) Image display device
JP2001004526A (en) Method and apparatus for testing light fastness
JP2659492B2 (en) UV detector failure detector
GB2175117A (en) Alarm for open port
JPH06323955A (en) Semiconductor tester
US4027164A (en) Circuitry for continually monitoring radiation detection systems
JP2001228267A (en) Snowfall sensor
KR100859800B1 (en) Electro-chromic mirror device having emergency decolorization function and method of controlling the electro-chromic mirror device
JPH06105090A (en) Document reader

Legal Events

Date Code Title Description
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 19980407

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees