JP2754444B2 - Electronic parts inspection and removal equipment - Google Patents

Electronic parts inspection and removal equipment

Info

Publication number
JP2754444B2
JP2754444B2 JP5054801A JP5480193A JP2754444B2 JP 2754444 B2 JP2754444 B2 JP 2754444B2 JP 5054801 A JP5054801 A JP 5054801A JP 5480193 A JP5480193 A JP 5480193A JP 2754444 B2 JP2754444 B2 JP 2754444B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
electronic component
sensor
tape
stopped
defective
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP5054801A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JPH06247409A (en
Inventor
茂 柴谷
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Taiyo Yuden Co Ltd
Original Assignee
Taiyo Yuden Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Taiyo Yuden Co Ltd filed Critical Taiyo Yuden Co Ltd
Priority to JP5054801A priority Critical patent/JP2754444B2/en
Publication of JPH06247409A publication Critical patent/JPH06247409A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP2754444B2 publication Critical patent/JP2754444B2/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Packaging Frangible Articles (AREA)
  • Fixed Capacitors And Capacitor Manufacturing Machines (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、電子部品のリード線を
一定の間隔で互いに平行に配列し、テープにより保持し
た電子部品連について、電子部品を検査し、その結果不
良とされた電子部品を脱却する装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method for inspecting an electronic component in a series of electronic components held by a tape by arranging lead wires of the electronic component at a predetermined interval in parallel with each other. To a device for breaking away from

【従来の技術】[Prior art]

【0002】部品本体から平行に2本或はそれ以上のリ
ード線が導出された、いわゆるラジアルリード型電子
品、あるいは部品本体から同軸方向にそれぞれリード線
が導出された、いわゆるアキシャルリード型電子部品
は、リード線が一定の間隔で配列された状態で、テープ
により保持された、いわゆるテーピング形態の包装が多
く採用されている。このようなテープにより電子部品の
リード線を一定の間隔で保持した電子部品連は、その生
産ラインの最終部分近くで、各々の電子部品が順次特性
検査され、そこで不良と判断された電子部品がリード線
からカットされるか、或はリード線ごとテープから抜き
取って除去される。
A so-called radial lead type electronic component in which two or more lead wires are led out in parallel from a component body, or a so-called axial lead type electronic component in which lead wires are led out coaxially from a component body. In many cases, so-called taping-type packaging in which lead wires are arranged at regular intervals and held by tape is used. The electronic component chain that holds the lead wires of the electronic components at a constant interval by such a tape, near the last part of the production line, each electronic component is sequentially inspected for characteristics, and the electronic component determined to be defective there is It is cut from the lead wire or pulled out of the tape together with the lead wire and removed.

【0003】例えば、電子部品が抵抗器やコンデンサの
場合、製品である各電子部品の抵抗値や静電容量値等が
測定器で測定され、それらの測定値が所定の基準値に適
合していない電子部品を不良とし、テープから脱却す
る。これらの電子部品の検査と脱却は、従来から自動化
されたラインで行われている。この自動化ラインでは、
搬送する電子部品の種類が変わる度に、その電子部品の
種類に応じた基準値をオペレータが設定する。
For example, when an electronic component is a resistor or a capacitor, a resistance value, a capacitance value, and the like of each electronic component as a product are measured by a measuring instrument, and the measured values conform to predetermined reference values. If no electronic components are defective, break away from the tape. Inspection and disassembly of these electronic components has conventionally been performed on automated lines. In this automated line,
Each time the type of electronic component to be transported changes, the operator sets a reference value according to the type of the electronic component.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとしている課題】しかしながら、こ
のような従来の自動化ラインにおいて、搬送する電子部
品の種類に応じた基準値が誤って設定された場合、その
ままラインを運転し続けると、多量の良品が脱却される
と共に、不良品がそのまま残されてしまう。特に、基準
値を誤って、例えば1/1000という低い値に設定し
てしまうと、テープに電子部品が無いにもかかわらず製
品が良品と判断されてしまうという不都合がある。
However, in such a conventional automated line, if a reference value corresponding to the type of electronic components to be conveyed is set erroneously, a large number of non-defective products will continue if the line is continuously operated. Is removed and defective products are left as they are. In particular, if the reference value is erroneously set to a low value, for example, 1/1000, there is an inconvenience that the product is determined to be good even though there are no electronic components on the tape.

【0005】そこで本発明は、このような従来の課題に
鑑み、搬送する電子部品の種類に応じた基準値が誤って
設定された場合、ラインが停止されるようにし、これに
より設定値が誤ったままラインが運転し続けるという事
態を早急に回避することができる電子部品検査脱却装置
を提供することを目的とする。
Accordingly, the present invention has been made in view of the above-mentioned problems, and in the case where a reference value corresponding to the type of electronic component to be conveyed is set erroneously, the line is stopped. It is an object of the present invention to provide an electronic component inspection and escape device that can quickly avoid a situation in which a line continues to operate while being left.

【0006】[0006]

【課題を解決するための手段】すなわち、本発明では、
前記の目的を達成するため、電子部品aのリード線bを
一定の間隔で互いに平行に配列し、テープ5により保持
した電子部品連について、各電子部品の特性を検査し、
その結果特性値が所定の範囲内にない不良品を前記テー
プ5から脱却する装置において、前記テープ5をその長
手方向に間欠搬送する送り機構7と、電子部品aの停止
位置に配置され、そこに停止した電子部品aの有無を検
査するセンサー1と、このセンサー1が配置された位置
より後の電子部品aの停止位置に配置され、そこに停止
した電子部品aの特性を検査する測定器2と、この測定
器2が配置された位置より後の電子部品aの停止位置に
配置され、そこに停止すべき電子部品aが前記センサー
1において有りとされ、且つ測定器2で測定の結果不良
品と判定されたときに、その電子部品aを脱却する脱却
部3と、前記送り機構7を制御するものであって、前記
脱却部3に停止すべき電子部品aが前記センサー1にお
いて無しとされ、且つ測定器2で測定の結果良品と判定
されたときに、送り機構7を停止させる制御器10とを
有することを特徴とする電子部品検査脱却装置を提供す
る。
That is, in the present invention,
In order to achieve the above object, the lead wires b of the electronic component a are arranged in parallel with each other at regular intervals, and the characteristics of each electronic component are inspected with respect to the series of electronic components held by the tape 5,
As a result, in a device for removing a defective product whose characteristic value is not within a predetermined range from the tape 5, a feeding mechanism 7 for intermittently transporting the tape 5 in the longitudinal direction thereof and a stop position of the electronic component a are arranged. A sensor 1 for inspecting the presence or absence of a stopped electronic component a, and a measuring device disposed at a stop position of the electronic component a after the position where the sensor 1 is disposed and for inspecting characteristics of the electronic component a stopped there 2 and the electronic component a is disposed at a stop position after the position where the measuring device 2 is disposed, the electronic component a to be stopped there is determined to be present in the sensor 1, and the result of the measurement by the measuring device 2 When it is determined that the electronic component a is defective, the escape unit 3 for removing the electronic component a and the feed mechanism 7 are controlled, and there is no electronic component a to be stopped by the escape unit 3 in the sensor 1. And One in the measurement device 2 when it is determined that the result good measurement, to provide an electronic component testing break away device, characterized in that it comprises a controller 10 to stop the feeding mechanism 7.

【0007】[0007]

【作用】前記本発明による電子部品検査脱却装置では、
脱却部3に停止すべき電子部品aが前記センサー1にお
いて無しとされ、且つ測定器2で測定の結果良品と判定
されたときに、送り機構7の駆動を制御する制御器10
が送り機構7を停止させるため、電子部品aを検査する
基準値が誤って1/1000という低い値に設定してし
まった場合に、テープに電子部品が無いにもかかわらず
電子部品の測定値がその基準値を満たすものと測定され
ると、送り機構7はその場で停止される。このため、設
定された基準値が誤りであることが確実に分かり、設定
値が誤って設定されたまま運転を続けてしまうという事
態が早期に回避される。
In the electronic component inspection and removal device according to the present invention,
The controller 10 that controls the driving of the feed mechanism 7 when the electronic component a to be stopped in the escape unit 3 is eliminated in the sensor 1 and the measuring device 2 determines that the electronic component a is non-defective.
Stops the feed mechanism 7, so that if the reference value for inspecting the electronic component a is erroneously set to a low value of 1/1000, the measured value of the electronic component despite the absence of the electronic component on the tape Is determined to satisfy the reference value, the feed mechanism 7 is stopped immediately. For this reason, it is surely found that the set reference value is incorrect, and a situation in which the operation is continued with the set value incorrectly set is avoided early.

【0008】[0008]

【実施例】次に、図面を参照しながら、本発明の実施例
について詳細に説明する。図1は、本発明の実施例によ
る電子部品検査脱却装置の平面配置であり、図2は、そ
の制御系統を示す。図1に示すように、電子部品aは、
そのリード線bがテープ5に一定の間隔で平行に保持さ
れた状態でテーピングされている。このテープ5は、送
り機構7により、矢印で示すように、左から右へと電子
部品aの間隔毎に間欠的に送られる。
Next, an embodiment of the present invention will be described in detail with reference to the drawings. FIG. 1 is a plan view of an electronic component inspection and removal apparatus according to an embodiment of the present invention, and FIG. 2 shows a control system thereof. As shown in FIG. 1, the electronic component a is
The lead wire b is taped in a state where it is held parallel to the tape 5 at a constant interval. The tape 5 is intermittently fed by the feed mechanism 7 from left to right at intervals of the electronic component a as indicated by arrows.

【0009】この送り機構7によりテープ5が間欠送り
されるときの電子部品aの停止位置に第一のセンサー1
が配置されており、この第一のセンサー1により、そこ
に停止した電子部品aの有無が検査される。図2に示す
ように、この検査の結果は、メモリー8の当該電子部品
aについてのAの部分に記憶される。
The first sensor 1 is located at the stop position of the electronic component a when the tape 5 is intermittently fed by the feed mechanism 7.
The first sensor 1 inspects whether or not the electronic component a has stopped there. As shown in FIG. 2, the result of this inspection is stored in the portion A of the electronic component a in the memory 8.

【0010】図1に示すように、前記第一のセンサー1
より後の電子部品aの停止位置に測定器2が配置されて
おり、この測定器2で、そこに停止した電子部品aの特
性、例えば抵抗値、静電容量値、耐電圧値、インダクタ
ンス値等が測定される。この測定結果は、予め測定器2
に設定された基準値と比較され、その基準値に適合する
か否かが判断される。図2に示すように、この測定器2
における特性検査の結果は、メモリー8の当該電子部品
aについてのBの部分に記憶される。
As shown in FIG. 1, the first sensor 1
A measuring device 2 is arranged at a stop position of the later electronic component a. With this measuring device 2, the characteristics of the stopped electronic component a, such as a resistance value, a capacitance value, a withstand voltage value, and an inductance value. Etc. are measured. This measurement result is measured in advance by measuring device 2
Is compared with the reference value set in step S1 to determine whether or not the reference value is satisfied. As shown in FIG.
Is stored in the memory 8 in the portion B of the electronic component a.

【0011】図1に示すように、前記第一の測定器2よ
り後の電子部品aの停止位置に、電子部品aをつかんで
矢印方向に移動し、電子部品aのリード線bをテープ5
から抜き取る脱却部3が配置されている。図2に示すよ
うに、この脱却部9は、演算器9において、当該電子部
品aについてのメモリー8のA、B部分の結果が或る条
件を同時に満たしたと判断されたときのみ動作し、電子
部品aをテープ5から脱却する。すなわち、前記メモリ
ー8のAが電子部品aが有ることを示していると共に、
同メモリー8のBが電子部品aの特性が設定された基準
値に適合しないこと、つまり不良であることを示してい
るときにのみ作動される。
As shown in FIG. 1, the electronic component a is stopped at the stop position of the electronic component a after the first measuring instrument 2 and is moved in the direction of the arrow, and the lead wire b of the electronic component a is
A detaching unit 3 for extracting from the container is disposed. As shown in FIG. 2, the escape unit 9 operates only when the arithmetic unit 9 determines that the results of the portions A and B of the memory 8 for the electronic component a simultaneously satisfy certain conditions. The part a is detached from the tape 5. That is, A of the memory 8 indicates that the electronic component a exists,
It is activated only when B of the memory 8 indicates that the characteristic of the electronic component a does not conform to the set reference value, that is, that it is defective.

【0012】さらに、前記演算器9の演算結果は、前記
送り機構7の動作を制御する制御器10に入力され、同
制御器10で、電子部品aについてのメモリー8のA、
B部分の結果が或る条件を同時に満たしたとき送り機構
7を停止させる。すなわち、前記メモリー8のAが電子
部品aが無いことを示していると共に、同メモリー8の
Bが電子部品aの特性が設定された基準値に適合してい
ること、つまり良品であることを示しているとき、制御
器10が送り機構7を停止する。このとき、テープ5の
搬送ラインの近くに設置した警報器6が鳴らされる。
Further, the operation result of the operation unit 9 is input to a controller 10 for controlling the operation of the feed mechanism 7, and the controller 10 stores A, A in the memory 8 for the electronic component a.
When the result of the part B simultaneously satisfies a certain condition, the feeding mechanism 7 is stopped. That is, A of the memory 8 indicates that there is no electronic component a, and B of the memory 8 indicates that the characteristic of the electronic component a conforms to the set reference value, that is, that it is a non-defective product. When shown, the controller 10 stops the feed mechanism 7. At this time, the alarm 6 installed near the tape 5 transport line is sounded.

【0013】図1に示すように、前記第一のセンサー1
より後の電子部品aの停止位置に第二のセンサー4が配
置されており、この第二のセンサー4により、そこに停
止した電子部品aの有無が検査される。図2に示すよう
に、この第二のセンサー4の検査結果は、演算器9に送
られ、その検査の結果と当該電子部品aについてのメモ
リー8のB部分の結果が或る条件を同時に満たしたと
き、制御器10が送り機構7を停止させる。すなわち、
前記センサー2が電子部品aが有ることを検知している
と同時に、メモリー8のBが電子部品aの特性が設定さ
れた基準値に適合していないこと、つまり不良であるこ
とを示しているとき、制御器10が送り機構7を停止す
る。このとき、テープ5の搬送ラインの近くに設置した
警報器6が鳴らされる。
As shown in FIG. 1, the first sensor 1
A second sensor 4 is disposed at a later stop position of the electronic component a, and the second sensor 4 checks whether or not the electronic component a has stopped there. As shown in FIG. 2, the inspection result of the second sensor 4 is sent to the arithmetic unit 9, and the inspection result and the result of the portion B of the memory 8 for the electronic component a simultaneously satisfy a certain condition. Then, the controller 10 stops the feed mechanism 7. That is,
At the same time that the sensor 2 detects the presence of the electronic component a, B of the memory 8 indicates that the characteristic of the electronic component a does not conform to the set reference value, that is, it is defective. At this time, the controller 10 stops the feed mechanism 7. At this time, the alarm 6 installed near the tape 5 transport line is sounded.

【0014】図3は、この実施例による電子部品検査脱
却装置の電子部品aの処理手順を示すフローシートであ
る。この図3を参照しながら、図1及び図3に示す装置
の動作を説明する。まず、電子部品aがセンサー1の位
置に停止したとき、その有無が検査され、電子部品aが
センサー1により検知されなかったとき、製品無しとし
てそれがメモリー8のAに記憶される。一方、電子部品
aがセンサー1により検知されたとき、製品有りとして
それがメモリー8のAに記憶される。
FIG. 3 is a flow sheet showing a processing procedure of the electronic component a of the electronic component inspection and removal apparatus according to this embodiment. The operation of the apparatus shown in FIGS. 1 and 3 will be described with reference to FIG. First, when the electronic component a stops at the position of the sensor 1, the presence or absence of the electronic component a is checked. When the electronic component a is not detected by the sensor 1, it is stored in A of the memory 8 as no product. On the other hand, when the electronic component a is detected by the sensor 1, it is stored in A of the memory 8 as a product.

【0015】次に、この電子部品aが測定器2の位置に
停止したとき、そこで電子部品aの特性値が測定され
る。この測定の結果、その電子部品aの特性値が予め設
定された基準値に適合してない場合、製品不良としてメ
モリー8のBに記憶される。一方、電子部品aの特性値
が予め設定された基準値に適合している場合、製品良品
としてメモリー8のBに記憶される。
Next, when the electronic component a stops at the position of the measuring device 2, the characteristic value of the electronic component a is measured there. If the characteristic value of the electronic component a does not conform to the preset reference value as a result of this measurement, it is stored in the memory 8 as B as a product defect. On the other hand, when the characteristic value of the electronic component a conforms to the preset reference value, it is stored in B of the memory 8 as a good product.

【0016】このメモリー8のA、Bの結果は、演算器
9で比較演算され、もしメモリー8のAが電子部品aが
無いことを示しているにもかかわらず、同メモリー8の
Bが電子部品aの特性が設定された基準値に適合してい
ること、つまり良品であることを示しているとき、設定
値の誤りの疑いが強いため、異常動作として制御器10
が送り機構7を停止する。このとき、テープ5の搬送ラ
インの近くに設置した警報器6が鳴らされ、異常をオペ
レータに知らせる。
The results of A and B in the memory 8 are compared and calculated by the arithmetic unit 9. If A in the memory 8 indicates that there is no electronic component a, B in the memory 8 is When the characteristic of the component a is in conformity with the set reference value, that is, when it indicates that it is a non-defective product, it is highly suspected that the set value is incorrect.
Stops the feed mechanism 7. At this time, an alarm 6 installed near the tape 5 transport line is sounded to notify the operator of the abnormality.

【0017】これに対し、前記メモリー8のAが電子部
品aが有ることを示していると共に、同メモリー8のB
が電子部品aの特性が設定された基準値に適合しないこ
と、つまり不良であることを示しているときは、送り機
構7は停止されず、次の脱却部3においてその電子部品
aがテープ5から脱却される。他方、前記メモリー8の
Aが電子部品aが有ることを示していると共に、同メモ
リー8のBが電子部品aの特性が設定された基準値に適
合していること、つまり良品であることを示していると
きは、脱却部3は動作されず、電子部品aは次の第二の
センサー4に送られる。
On the other hand, A of the memory 8 indicates that the electronic component a exists, and B of the memory 8
Indicates that the characteristic of the electronic component a does not conform to the set reference value, that is, that the electronic component a is defective, the feed mechanism 7 is not stopped, and the electronic component a is Will be escaped from On the other hand, A of the memory 8 indicates that the electronic component a is present, and B of the memory 8 indicates that the characteristic of the electronic component a conforms to the set reference value, that is, that it is a good product. In the case shown, the escape unit 3 is not operated, and the electronic component a is sent to the next second sensor 4.

【0018】次の第二のセンサー4で電子部品aの有無
が検査され、その結果、電子部品aの存在が検知される
と、その結果がメモリー8のBと比較される。その結
果、当該電子部品aについてのメモリーBの記録が製品
が不良であることを示しているときは、前の脱却部3の
動作不良である疑いが強いため、制御器10が送り機構
7を異常停止させる。他方、電子部品aの存在が検知さ
れないときは、ラインは停止せず、電子部品aが次に送
られる。
The second sensor 4 checks the presence or absence of the electronic component a. As a result, when the presence of the electronic component a is detected, the result is compared with B in the memory 8. As a result, when the record of the electronic component a in the memory B indicates that the product is defective, the controller 10 controls the feeding mechanism 7 because the operation of the previous escape unit 3 is likely to be defective. Stop abnormally. On the other hand, when the presence of the electronic component a is not detected, the line does not stop and the electronic component a is sent next.

【0019】このようにして、各電子部品aについて処
理が行われる。この説明から明かなように、各電子部品
aのセンサー1、4での検知の結果と測定器2での特性
検査の結果が、矛盾する結果となったときは、ラインが
異常停止されるため、電子部品aの特性の設定値が誤っ
て設定された場合や、何等かのトラブルでセンサー1、
4や測定器2が故障したような場合、ラインを早期に停
止することができる。なお、前記実施例において、不良
とされた電子部品aの脱却手段は、そのリード線bをテ
ープ5から抜き取るものであるが、単にリード線bを切
断して、電子部品aの本体のみを除去するものであって
もよい。
In this way, the processing is performed for each electronic component a. As is clear from this description, if the detection results of the sensors 1 and 4 of each electronic component a and the results of the characteristic inspection by the measuring device 2 are inconsistent, the line is abnormally stopped. If the set value of the characteristic of the electronic component a is incorrectly set, or if there is any trouble, the sensor 1,
In the case where the measuring instrument 4 or the measuring instrument 2 fails, the line can be stopped early. In the above-described embodiment, the means for removing the defective electronic component a is to remove the lead wire b from the tape 5, but simply cut the lead wire b to remove only the main body of the electronic component a. May be used.

【0020】[0020]

【発明の効果】以上説明した通り、本発明によれば、搬
送する電子部品の種類に応じた基準値が誤って設定され
た場合に、ラインが停止されるため、設定値が誤ったま
まラインが運転し続け、良品が脱却されたり、不良品が
残ったまま送られるという事態が早期に回避される。こ
れにより、良品である電子部品が無駄に廃棄されること
が無くなり、電子部品の生産性を高めることが可能とな
る。
As described above, according to the present invention, when a reference value corresponding to the type of electronic component to be conveyed is erroneously set, the line is stopped. The situation where non-defective products are removed or defective products are sent with remaining defective products can be avoided at an early stage. Thereby, non-defective electronic components are not wasted and discarded, and the productivity of electronic components can be increased.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の実施例である電子部品検査脱却装置の
平面図である。
FIG. 1 is a plan view of an electronic component inspection and removal device according to an embodiment of the present invention.

【図2】同実施例である電子部品検査脱却装置の制御系
統を示すブロック図である。
FIG. 2 is a block diagram showing a control system of the electronic component inspection and escape device according to the embodiment.

【図3】同実施例である電子部品検査脱却装置の動作を
示すフローシートである。
FIG. 3 is a flow sheet showing an operation of the electronic component inspection and removal device according to the embodiment.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 センサー 2 測定器 3 脱却部 4 センサー 5 テープ5 7 送り機構 10 制御器 a 電子部品 b 電子部品のリード線 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Sensor 2 Measuring device 3 Escape part 4 Sensor 5 Tape 5 7 Feeding mechanism 10 Controller a Electronic component b Electronic component lead wire

Claims (1)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項】 電子部品(a)のリード線(b)を一定の
間隔で互いに平行に配列し、テープ(5)により保持し
た電子部品連について、各電子部品の特性を検査し、そ
の結果特性値が所定の範囲内にない不良品を前記テープ
(5)から脱却する装置において、前記テープ(5)を
その長手方向に間欠搬送する送り機構(7)と、電子部
品(a)の停止位置に配置され、そこに停止した電子部
品(a)の有無を検査するセンサー(1)と、このセン
サー(1)が配置された位置より後の電子部品(a)の
停止位置に配置され、そこに停止した電子部品(a)の
特性を検査する測定器(2)と、この測定器(2)が配
置された位置より後の電子部品(a)の停止位置に配置
され、そこに停止すべき電子部品(a)が前記センサー
(1)において有りとされ、且つ測定器(2)で測定の
結果不良品と判定されたときに、その電子部品(a)を
脱却する脱却部(3)と、前記送り機構(7)を制御す
るものであって、前記脱却部(3)に停止すべき電子部
品(a)が前記センサー(1)において無しとされ、且
つ測定器(2)で測定の結果良品と判定されたときに、
送り機構(7)を停止させる制御器(10)とを有する
ことを特徴とする電子部品検査脱却装置。
A lead wire (b) of an electronic component (a) is arranged parallel to each other at a fixed interval, and the characteristics of each electronic component are inspected for a series of electronic components held by a tape (5). A feeding mechanism (7) for intermittently transporting the tape (5) in a longitudinal direction thereof, and a stop position of the electronic component (a) in an apparatus for removing a defective product whose value is not within a predetermined range from the tape (5). And a sensor (1) for inspecting the presence or absence of the stopped electronic component (a), and a sensor (1) disposed at a stop position of the electronic component (a) after the position where the sensor (1) is disposed. A measuring device (2) for inspecting the characteristics of the electronic component (a) stopped at a time, and the electronic component (a) is disposed at a stop position after the position where the measuring device (2) is disposed, and stops there. Electronic component (a) to be present in sensor (1) And when the measuring device (2) determines that the electronic component (a) is defective as a result of the measurement, the control section controls a release section (3) for removing the electronic component (a) and the feed mechanism (7). When the electronic component (a) to be stopped in the escape unit (3) is determined to be absent in the sensor (1), and is determined to be non-defective by the measurement by the measuring device (2),
An electronic component inspection and removal device, comprising: a controller (10) for stopping a feed mechanism (7).
JP5054801A 1993-02-20 1993-02-20 Electronic parts inspection and removal equipment Expired - Lifetime JP2754444B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP5054801A JP2754444B2 (en) 1993-02-20 1993-02-20 Electronic parts inspection and removal equipment

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP5054801A JP2754444B2 (en) 1993-02-20 1993-02-20 Electronic parts inspection and removal equipment

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH06247409A JPH06247409A (en) 1994-09-06
JP2754444B2 true JP2754444B2 (en) 1998-05-20

Family

ID=12980855

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP5054801A Expired - Lifetime JP2754444B2 (en) 1993-02-20 1993-02-20 Electronic parts inspection and removal equipment

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2754444B2 (en)

Also Published As

Publication number Publication date
JPH06247409A (en) 1994-09-06

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR870008538A (en) Method and system for monitoring and diagnosing cigarette filter rod manufacturing device
KR950011564B1 (en) Wire bonding inspecting machine
JP4788678B2 (en) Component mounting state inspection method
JP4380901B2 (en) Defective product discharge method and defective product discharge system
JP2011031200A (en) Inspection sorting system
JP2754444B2 (en) Electronic parts inspection and removal equipment
JP2006339244A (en) Mounting line
EP0837328B1 (en) Electronic device for sensing gas present in the environment
JP2011051763A (en) Article carrying device
US20060042913A1 (en) Substrate transfer apparatus for component mounting machine
JP2010019731A (en) Visual observation device
JP3186889U (en) Combined goods inspection device
JP4240910B2 (en) Electronic component handling apparatus and electronic component handling method
US20030231317A1 (en) System and device for detecting and separating out of position objects during manufacturing process
JP2004148248A (en) Article inspection system
US5901153A (en) Dynamic random access memory classification method
JP2018065605A (en) Ink jet printing system
JPS59204243A (en) Manufacture of semiconductor device
KR0169862B1 (en) Sequencer unit with a function of component test and control method of the same
JPH11134952A (en) Inferior electric wire discharge system in electric wire treatment process
JPH0616472B2 (en) Inspection and taping equipment for electronic parts
JPH0365919B2 (en)
JP2003121374A (en) Method and apparatus for monitoring compound in oil drum
KR100215811B1 (en) Method for detecting pitch error of taping component
JPH0729224A (en) Optical disk molding method and molding device therefor

Legal Events

Date Code Title Description
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 19980113