JP2738859B2 - Edge detection device - Google Patents

Edge detection device

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JP2738859B2
JP2738859B2 JP5811389A JP5811389A JP2738859B2 JP 2738859 B2 JP2738859 B2 JP 2738859B2 JP 5811389 A JP5811389 A JP 5811389A JP 5811389 A JP5811389 A JP 5811389A JP 2738859 B2 JP2738859 B2 JP 2738859B2
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【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は、被検物の端部を光学的に走査してその端縁
を含めて端部を検出する端部検出装置の改良に関し、端
部にバリ、ゴミ、キズ等の端面不良がある場合にあって
も、精度良好にその被検物の端部を検出することのでき
る端部検出装置の改良に関する。
Description: BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an improvement in an end detection device that optically scans an end of a test object and detects the end including the end thereof. The present invention relates to an improvement in an end detection device that can accurately detect the end of a test object even when the end has a defect such as a burr, dust, or a flaw.

(従来の技術) 従来から、端部検出装置には、第6図、第7図に模式
的に示すようなものが知られている。この端部検出装置
は、光源部としてのレーザー光源1から出射された細い
レーザービームPをペンタプリズム2に導き、このペン
タプリズム2により被検物としてのワーク(たとえば、
プレスにより打ち抜かれたPC板等)3が存在する方向に
レーザービームPを偏向させると共に、そのペンタプリ
ズム2を軸Jを中心に一方向に回転させて、ワーク3を
走査ビームP′により光学的に走査し、ワーク3に貫通
穿設された穴4を透過した走査ビームP′を検出器5に
より受光して、その受光出力信号SをCPU6に入力させ
て、ワーク3に穿設された穴4の端部4a、4b等(たとえ
ば、PC板の外形、穴径、穴ピッチ等)を検出するように
したものである。
(Prior Art) Conventionally, an end detection device as shown schematically in FIGS. 6 and 7 has been known. This end detection device guides a thin laser beam P emitted from a laser light source 1 as a light source unit to a pentaprism 2, and the pentaprism 2 allows a work (eg,
The laser beam P is deflected in a direction in which a PC plate or the like 3 punched by a press is present, and the pentaprism 2 is rotated in one direction about an axis J, so that the work 3 is optically moved by the scanning beam P '. And the detector 5 receives the scanning beam P ′ transmitted through the hole 4 penetrated through the work 3, and inputs the received light output signal S to the CPU 6, so that the hole is formed in the work 3. The end portions 4a, 4b, etc. of the 4 (for example, the outer shape, hole diameter, hole pitch, etc. of the PC board) are detected.

たとえば、穴4が矩形である場合にその矩形の穴4に
平行に走査ビームP′を走査すると、端縁4dの箇所で受
光出力信号Sが立ち上がり、端縁4cの箇所で受光出力信
号Sが立ち下がり、この受光出力信号Sの立ち上がり、
立ち下がりをCPU6を用いて評価することにより端部4a、
4bの検出を行っている。
For example, when the scanning beam P 'is scanned in parallel with the rectangular hole 4 when the hole 4 is rectangular, the light receiving output signal S rises at the edge 4d and the light receiving output signal S rises at the edge 4c. Falling, rising of this light receiving output signal S,
By evaluating the fall using the CPU 6, the end 4a,
4b is being detected.

なお、第6図、第7図において、7はfθレンズ、8
はテレセントリックレンズ、9はコンデンサレンズであ
り、矢印Fは走査ビームP′の走査方向を示し、走査ピ
ッチは約0.2mmである。
6 and 7, reference numeral 7 denotes an fθ lens, 8
Is a telecentric lens, 9 is a condenser lens, arrow F indicates the scanning direction of the scanning beam P ', and the scanning pitch is about 0.2 mm.

(発明が解決しようとする課題) ところで、被検物の端部には、加工の際に、キズ、バ
リが発生すること、ゴミ等の異物等が付着していること
があり、この状態のままで被検物を光学的に走査する
と、検出器5から出力される受光出力信号Sは、被検物
の端部近傍において不規則なパルス的信号となるため、
受光出力信号Sが頻繁に立ち上がり、かつ、立ち下がる
ことになり、パルス的変化の終了時点が不明であるの
で、このままでは、評価に用いることのできる受光出力
信号Sであるのか否か識別をつけ難く、走査領域全体に
渡って各走査毎に得られる受光出力信号SをいったんCP
U6に取り込んで、各走査毎に得られた受光出力信号Sを
データとして互いに比較し、端部検出の評価に用いるこ
とのできる受光出力信号Sであるか否かの判断を行って
いる。
(Problems to be Solved by the Invention) By the way, at the end of the test object, scratches and burrs may be generated during processing, and foreign matter such as dust may be attached. If the test object is optically scanned as it is, the received light output signal S output from the detector 5 becomes an irregular pulse signal near the end of the test object.
Since the light reception output signal S frequently rises and falls, and the end point of the pulse change is unknown, it is necessary to identify whether the light reception output signal S can be used for evaluation as it is. Difficult, light receiving output signal S obtained for each scan over the entire scanning area
The data is taken into U6, the light reception output signal S obtained for each scan is compared with each other as data, and it is determined whether or not the light reception output signal S can be used for evaluation of edge detection.

しかしながら、このような従来の端部検出装置では、
受光出力信号Sを記憶しておかなければならないためそ
のメモリーが莫大なものとなり、また、走査対象となっ
ている穴4の全領域の走査の終了を待ってから端部の検
出処理を行わなければならないために、リアルタイム処
理からほど遠いものとなるという欠点がある。
However, in such a conventional edge detection device,
Since the received light output signal S must be stored, the memory becomes enormous, and the end detection processing must be performed after the completion of the scanning of the entire area of the hole 4 to be scanned. This has the disadvantage of being far from real-time processing.

また、せっかく得られた受光出力信号Sのうち、評価
に用いることのできないものが多い場合には、端部の検
出精度が低下するという問題点もある。
In addition, if there are many light reception output signals S that cannot be used for evaluation among the obtained light reception output signals S, there is a problem that the detection accuracy of the end portion is reduced.

さらに、記憶すべきデータが多すぎる場合には、メモ
リーがオーバーフローする。
Further, if there is too much data to store, the memory overflows.

そこで、本発明の目的は、ゴミ、キズ、バリ等の端部
不良がある場合であっても、リアルタイム処理により被
検物の端部を精度よく検出することのできる端部検出装
置を提供することにある。
Therefore, an object of the present invention is to provide an edge detection device that can accurately detect the edge of a test object by real-time processing even when there is an edge defect such as dust, scratches, and burrs. It is in.

(課題を解決するための手段) 本発明に係わる端部検出装置の特徴は、 細いビームを出射する光源部と、 前記ビームにより被検物をその端部を含めて光学的に
走査する走査部と、 前記ビームを前記被検物を介して受光し、バリ、ゴ
ミ、キズ等の端面不良の原因によりパルス的に変化する
受光出力信号を出力する受光部と、 前記受光部の受光出力信号のハイとローとの間での変
化の個数をカウントして累計する第1計数部と、 前記受光部の受光出力信号を遅延させる遅延部と、 前記遅延部により遅延された遅延受光出力信号が入力
されて、前記遅延受光出力信号のハイとローとの間での
変化の個数をカウントして累計する第2計数部と、 前記各計数部により求められた各累計値を比較する比
較部を有し、該比較部の比較の結果に基づき前記受光出
力信号のバリ、ゴミ、キズ等の端面不良の原因によりパ
ルス的変化が発生してからのこのパルス的変化の終了時
点を検出して、前記被検物の端部を決定する端部決定部
と、 を備えているところにある。
(Means for Solving the Problems) The edge detection device according to the present invention is characterized by a light source unit that emits a narrow beam, and a scanning unit that optically scans a test object including the end by the beam. And a light receiving unit that receives the beam through the test object, and outputs a light receiving output signal that changes in a pulsed manner due to an end surface defect such as a burr, dust, and a flaw, and a light receiving output signal of the light receiving unit. A first counting section that counts and accumulates the number of changes between high and low; a delay section that delays a light receiving output signal of the light receiving section; and a delay light receiving output signal that is delayed by the delay section. A second counting section that counts and accumulates the number of changes between high and low of the delayed light receiving output signal; and a comparing section that compares each of the accumulated values obtained by each of the counting sections. And based on the result of the comparison by the comparison unit, Edge determination for detecting the end of the pulse-like change after the pulse-like change has occurred due to the end face defect such as burrs, dust, and scratches of the received light output signal, and determining the end of the test object. And a department.

(作用) 本発明によれば、パルス的に変化する受光出力信号を
遅延させて、遅延受光出力信号を生成し、その受光出力
信号と遅延受光信号とのパルス的変化の個数をカウント
して比較し、受光出力信号のバリ、ゴミ、キズ等の端面
不良の原因によりパルス的変化が発生してからそのパル
ス的変化の終了時点を決定しているので、簡単にかつリ
アルタイムで被検物の端部検出を行うことができる。
(Operation) According to the present invention, a pulsed light receiving output signal is delayed to generate a delayed light receiving output signal, and the number of pulse changes between the light receiving output signal and the delayed light receiving signal is counted and compared. Since the end point of the pulse-like change is determined after the pulse-like change occurs due to the end face defect such as burrs, dust, scratches, etc. of the received light output signal, the end of the test object can be easily and in real time. Part detection can be performed.

(実施例) 以下に、本発明に係わる端部検出装置の実施例を図面
を参照しつつ説明する。
(Embodiment) Hereinafter, an embodiment of an edge detection device according to the present invention will be described with reference to the drawings.

第4図において、10は被検物、11はその被検物に穿設
された矩形状の穴である。この穴11の端部周辺には、加
工の際に生じたバリ12が付着している。その被検物10
は、従来と同様に第6図、第7図に示す走査ビームP′
により光学的に走査され、検出器5からは従来と同様に
受光出力信号Sが出力される。この第4図には、走査ビ
ームP′により穴11の端部11aのすれすれの箇所が走
査されている場合と、穴11の中央部が走査されている
場合とが示されている。第2図に示す符号S1はその端部
11aのすれすれの箇所を走査するとによって得られた
受光出力信号を示し、第3図に示す符号S2はその穴11の
中央部を走査することによって得られた受光出力信号
を示している。
In FIG. 4, reference numeral 10 denotes a test object, and reference numeral 11 denotes a rectangular hole formed in the test object. Around the end of the hole 11, a burr 12 generated during processing adheres. The specimen 10
Is the scanning beam P 'shown in FIGS. 6 and 7 as in the prior art.
, And a light receiving output signal S is output from the detector 5 as in the conventional case. FIG. 4 shows a case where the scanning beam P 'scans a very small portion of the end 11a of the hole 11 and a case where the center of the hole 11 is scanned. Letter S 1 designates shown in FIG. 2 the ends
Shows the light reception output signal obtained by the scanning the grazing locations 11a, letter S 2 designates shown in FIG. 3 shows a light reception output signal obtained by scanning the central portion of the hole 11.

端部11aのすれすれの箇所を走査する場合、走査ビ
ームP′はバリ12が張りだしている箇所を横切るたびに
遮られるため、得られる受光出力信号S1は端縁11bから
端縁11cまでの全領域に渡って不規則なパルス信号とな
り、穴11の中央部を走査する場合、端縁11bと端縁11c
に張りだしているバリ12によって遮られるため、得られ
る受光出力信号S2は端縁11b、11cの近傍で不規則パルス
となり、端縁11bと端縁11cとの間の中間部分でハイを維
持する矩形信号となる。
When scanning the grazing point end 11a, the scanning beam P 'is because it is blocked each time across a portion where burrs 12 are out tight, light reception output signals S 1 resulting from edge 11b to edge 11c When the pulse signal becomes irregular over the entire area and the center of the hole 11 is scanned, the edge 11b and the edge 11c
Since blocked by tension began to have burrs 12, the light reception output signal S 2 obtained becomes irregular pulse in the vicinity of the edge 11b, 11c, maintaining a high at an intermediate portion between the edge 11b and the edge 11c To be a rectangular signal.

受光出力信号S1、S2は第1図に示すようにリトリガー
タイマー13とディレイタイマー14とにそれぞれ入力され
るもので、リトリガータイマー13は受光出力信号S1、S2
のローからハイへの変化あるいはハイからローへの変化
に基づくパルス的変化によりローからハイになってセッ
トされ続け、その出力Kは設定時間T0後にハイからロー
となる。ディレイタイマー14は、受光出力信号S1、S2
遅延時間T1だけ遅延させる遅延部としての機能を有し、
端部11aのすれすれの箇所を走査すると、第2図に示
すように、遅延時間T1だけ遅延された遅延受光出力信号
S1がディレイタイマー14から出力され、穴11の中央部
を走査すると、第3図に示すように、遅延時間T1だけ遅
延された遅延受光出力信号S2′がディレイタイマー14か
ら出力される。その遅延時間T1は設定時間T0にほぼ等し
いか若干大きく設定されている。すなわち、設定時間T0
は遅延時間T1に等しいか若干小さい。
The light receiving output signals S 1 and S 2 are input to a retrigger timer 13 and a delay timer 14, respectively, as shown in FIG. 1, and the retrigger timer 13 outputs the light receiving output signals S 1 and S 2
Continue to be set consists change or high from low to high from low to high by the pulse changes based on changes to low, the output K is from high to low after a time setting T 0. The delay timer 14 has a function as a delay unit that delays the received light output signals S 1 and S 2 by the delay time T 1 ,
Scanning the grazing point end 11a, as shown in FIG. 2, the delay time T 1 delayed delayed light reception output signal
S 1 is output from the delay timer 14, when scanning the central portion of the hole 11, as shown in FIG. 3, the delay time T 1 delayed by the delay light reception output signal S 2 'is output from the delay timer 14 . The delay time T 1 is substantially equal to or slightly greater to the set time T 0. That is, the set time T 0
Slightly smaller or equal to the delay time T 1.

リトリガータイマー13の出力Kと受光出力信号S1、S2
とはアンド回路15の出力はカウンタ回路16の入力端子Cu
に入力される。端部11aのすれすれの箇所を走査して
いる場合、リトリガータイマー13はトリガーされ続け、
リトリガータイマー13は受光出力信号S1の最終のパルス
(n番目のパルス)が入力された時刻から設定時間T0
間ハイを維持するので、リトリガータイマー13の出力K
は「n」番目のパルスが出力された時点から設定時間T0
の間、すなわち、受光出力信号S1の第1番目のパルスが
入力された時点から時間T2の間のハイを維持し、その後
ローとなる。したがって、アンド回路15は出力Kがハイ
となっている時間T2の間、受光出力信号S1がパルス的に
変化するたびにこの受光出力信号S1のパルス的変化を第
1計数部としてのカウンタ回路16に向かって通過させ
る。
The output K of the retrigger timer 13 and the light receiving output signals S 1 and S 2
The output of the AND circuit 15 is the input terminal Cu of the counter circuit 16.
Is input to In the case where scanning is being performed on a very small portion of the end 11a, the retrigger timer 13 continues to be triggered,
Since retrigger the timer 13 maintains a high during the final pulse (n-th pulse) setting time from the time entered T 0 of the light reception output signals S 1, the output K of the retrigger the timer 13
Is the set time T 0 from the time when the “n” th pulse is output
Between, i.e., it remains high between the time when the 1st pulse of the light reception output signals S 1 is input in time T 2, then becomes low. Therefore, the AND circuit 15 during the time the output K is at a high T 2, the pulse change in the light reception output signals S 1 every time the light reception output signals S 1 is varied in a pulsed manner as the first counting unit It is passed toward the counter circuit 16.

一方、穴11の中央部の走査の場合、端縁11bの近傍
においては、バリ12が発生しているので、リトリガータ
イマー13は、受光出力信号S2の数個のパルス、たとえ
ば、受光出力信号S2の5個のパルスによりトリガーされ
続け、第3図に示すように、その受光出力信号S2の5個
目のパルスが入力された時点から設定時間T0の間ハイを
維持され、その設定時間T0経過後にハイからローとな
る。そして、端縁11bと端縁11cとの間では、受光出力信
号S2がハイのままであり、変化がないので、リトリガー
タイマー13の出力Kはローのままとなる。端縁11cの近
傍が走査されると、再び、受光出力信号S2がパルス的と
なるので、リトリガータイマー13の出力Kはローからハ
イとなり、受光出力信号S2の変化のたびにトリガーされ
続け、たとえば、受光出力信号S2の4個目のパルスが入
力された時点から時間T0の間、ハイを維持し、その後、
ローとなる。したがって、アンド回路15は出力Kがハイ
となっている時間T2の間、受光出力信号S2が入力される
度にこの受光出力信号S2をカウンタ回路16に向かって通
過させることになる。
On the other hand, when the scanning of the central portion of the bore 11, in the vicinity of the edge 11b, burrs 12 are generated, retrigger the timer 13, several pulses of the light reception output signals S 2, for example, receiving the output signal continues to be triggered by five pulses of S 2, as shown in Figure 3, is maintained high for a set time T 0 from the time when the 5 th pulse of the received light output signal S 2 is input, the consisting of high and low after the set time T 0 elapses. And, between the edge 11b and the edge 11c, the light receiving output signal S 2 is remains high, there is no change, the output K of the retrigger the timer 13 remains low. When the vicinity of the edge 11c is scanned again, since light-reception output signal S 2 is pulsed, the output K of the retrigger the timer 13 is made low and high, continue to be triggered each time a change of the light reception output signal S 2 , for example, between the time when the 4 th pulse of light reception output signal S 2 is input time T 0, remains high, then
Go low. Therefore, the AND circuit 15 during the time the output K is at a high T 2, will be passed towards the light reception output signal S 2 to the counter circuit 16 each time the light reception output signal S 2 is inputted.

よって、カウンタ回路16は、受光出力信号S1、S2の立
ち上がりから立ち下がりへの変化あるいは立ち下がりか
ら立ち上がりへのパルス的変化の個数を累計してカウン
トすることになる。遅延受光出力信号S1′、S2′は第2
計数部としてのカウンタ回路17の入力端子Cuに入力され
ると共に、端部検出用のフリップフロップ18の入力端子
Dに入力されている。このフリップフロップ18の詳細に
ついては後述する。カウンタ回路17は受光出力信号
S1′、S2′の立ち上がりから立ち下がりへの変化あるい
は立ち下がりから立ち上がりへのパルス的変化の個数を
累計してカウントする。そのカウンタ回路16の出力は、
比較回路22の入力端子Aに入力され、カウンタ回路17の
出力は比較回路22の入力端子Bに入力されている。な
お、カウンタ回路16、17はオア回路19、20を介してパワ
ーリセット信号あるいは後述する微分回路21の微分出力
によってリセットされ、カウント内容が電源入力あるい
は走査の度にクリアされる。
Therefore, the counter circuit 16 accumulates and counts the number of changes from the rising to the falling or the pulse-like changes from the falling to the rising of the light receiving output signals S 1 and S 2 . The delayed light receiving output signals S 1 ′ and S 2
The signal is input to an input terminal Cu of a counter circuit 17 as a counting unit, and is also input to an input terminal D of a flip-flop 18 for detecting an end. The details of the flip-flop 18 will be described later. Counter circuit 17 receives light output signal
S 1 ', S 2' are counted total number of pulses changes from change or fall from the rise to fall to rise. The output of the counter circuit 16 is
The input is input to the input terminal A of the comparison circuit 22, and the output of the counter circuit 17 is input to the input terminal B of the comparison circuit 22. The counter circuits 16 and 17 are reset by a power reset signal via OR circuits 19 and 20 or a differential output of a differentiating circuit 21 to be described later, and the count contents are cleared each time power is input or scanning is performed.

比較回路22は被検物の端部を決定する端部決定部の一
部を構成しており、比較回路22はカウンタ回路16のカウ
ント個数とカウンタ回路17のカウント個数とが一致する
と、比較回路22の出力端子A=Bがローからハイとなっ
て、出力端子A=Bから一致信号Hがフリップフロップ
23のリセット端子Rに向かって出力される。このフリッ
プフロップ23のセット端子Sには、カウンタ回路17の第
1端子の出力が入力されるもので、カウンタ回路17の第
1端子がハイになると、第2図、第3図に示すように、
フリップフロップ23の出力端子Qから出力される出力G
がローからハイとなり、比較回路22の一致信号Hがハイ
からローに変化すると、フリップフロップ23の出力端子
Qから出力される出力Gがハイからローとなる。
The comparison circuit 22 constitutes a part of an end determination unit that determines the end of the test object.The comparison circuit 22 determines whether the count number of the counter circuit 16 matches the count number of the counter circuit 17. 22, the output terminal A = B changes from low to high, and the match signal H changes from the output terminal A = B to the flip-flop.
The signal is output toward the 23 reset terminals R. The output of the first terminal of the counter circuit 17 is input to the set terminal S of the flip-flop 23. When the first terminal of the counter circuit 17 becomes high, as shown in FIGS. ,
Output G output from output terminal Q of flip-flop 23
Changes from low to high and the coincidence signal H of the comparison circuit 22 changes from high to low, the output G output from the output terminal Q of the flip-flop 23 changes from high to low.

すなわち、端部11aのすれすれの箇所が走査されて
いる場合には、遅延受光出力信号S1の第1番目のパルス
によりフリップフロップ23はセットされ、遅延受光出力
信号S1′の第n番目のパルスによりリセットされること
になるので、そのフリップフロップ23の出力端子Qから
の出力Gは第2図に示すように、遅延受光出力信号S1
のパルス的変化の間ハイを維持する。これに対し、穴11
の中央部が走査されている場合であって端縁11bの近
傍を走査しているとき、フリップフロップ23は受光出力
信号S2′の最初の方の第1番目のパルスによりセットさ
れ、受光出力信号S2′の5番目のパルスによりリセット
されるので、そのフリップフロップ23の出力端子Qの出
力Gは、第3図に示すように、遅延受光出力信号S2′の
第1番目から第5番目のパルスが発生されるまでの時間
の間、ハイを維持し、その後ローとなる。また、端縁11
cの近傍を走査しているとき、フリップフロップ23は受
光出力信号S2′の終わりの方の第1番目のパルスにより
セットされ、4番目のパルスによりリセットされるの
で、そのフリップフロップ23の出力端子Qの出力Gは、
遅延受光出力信号S2′の第1番目から第4番目のパルス
が発生されるまでの時間の間、ハイを維持し、その後ロ
ーとなる。
That is, when the grazing point of the end portion 11a is scanned by the first pulse delayed light reception output signals S 1 flip flop 23 is set, the n-th delayed light reception output signals S 1 ' since will be reset by the pulse, the output G from the output terminal Q of the flip-flop 23, as shown in FIG. 2, the delay receiving the output signal S 1 '
Remain high during the pulsating transition of. In contrast, hole 11
When the central portion is scanned and the vicinity of the edge 11b is scanned, the flip-flop 23 is set by the first first pulse of the received light output signal S 2 ′, 'because it is reset by the 5 th pulse of the output G of the output terminal Q of the flip-flop 23, as shown in FIG. 3, the delay receiving the output signal S 2' signal S 2 first from 1st 5 It stays high for the time before the th pulse is generated and then goes low. Also, edge 11
When scanning near c, the flip-flop 23 is set by the first pulse at the end of the light receiving output signal S 2 ′ and reset by the fourth pulse, so that the output of the flip-flop 23 is output. The output G of the terminal Q is
It stays high for a period of time from when the first to fourth pulses of the delayed light receiving output signal S 2 ′ are generated, and then goes low.

フリップフロップ23の出力Gは、微分回路21とフリッ
プフロップ18の入力端子Tとに入力されている。このフ
リップフロップ18は、そのセット端子Sにカウンタ回路
17の第1端子が接続され、カウンタ回路17の第1端子が
ハイになると、そのフリップフロップ18の出力端子Qの
出力Iがハイにセットされ、その入力端子Tへの入力が
ハイからローに変化したとき、遅延受光出力信号S1′、
S2′がローであることを条件として、そのフリップフロ
ップ18の出力端子Qの出力Iがハイからローに変化し、
かつ、遅延受光出力信号S1′、S2′がハイのときには、
そのフリップフロップ18の出力端子Qの出力Iがハイを
維持するもので、第2図に示すような遅延受光出力信号
S1′が入力されているときには、フリップフロップ18は
カウンタ17の第1端子の出力によってハイにセットさ
れ、フリップフロップ23の出力Gが遅延受光出力信号
S1′の全出力期間に渡ってハイを維持するので、フリッ
プフロップ18の出力Iはハイを維持し、フリップフロッ
プ23の出力Gがハイからローへ立ち下がると、フリップ
フロップ18がリセットされるため、そのフリップフロッ
プ18の出力端子Qの出力Iは出力Gと同様にハイからロ
ーとなる。
The output G of the flip-flop 23 is input to the differentiating circuit 21 and the input terminal T of the flip-flop 18. This flip-flop 18 has a counter circuit at its set terminal S.
When the first terminal of the counter circuit 17 is connected and the first terminal of the counter circuit 17 goes high, the output I of the output terminal Q of the flip-flop 18 is set high, and the input to the input terminal T goes from high to low. When it changes, the delayed light receiving output signal S 1 ′,
Provided that S 2 ′ is low, the output I of output terminal Q of the flip-flop 18 changes from high to low,
When the delayed light output signals S 1 ′ and S 2 ′ are high,
The output I of the output terminal Q of the flip-flop 18 keeps high, and the delayed light receiving output signal as shown in FIG.
When S 1 ′ is input, the flip-flop 18 is set high by the output of the first terminal of the counter 17 and the output G of the flip-flop 23 becomes the delayed light receiving output signal.
Since maintaining a high over the entire output period of S 1 ', the output I of the flip-flop 18 remains high, the output G of the flip-flop 23 falls from high to low, the flip-flop 18 is reset Therefore, the output I of the output terminal Q of the flip-flop 18 changes from high to low similarly to the output G.

これに対し、第3図に示すような遅延受光出力信号
S2′が入力されたときには、フリップフロップ18の出力
端子Qの出力Iがカウンタ17の第1端子の出力によって
ハイにセットされる一方、フリップフロップ23の出力G
がその遅延受光出力信号S2′の最初の方のパルス的変化
でローからハイとなりかつハイからローに変化するが、
出力Gがこのように変化したとしても、遅延受光出力信
号S2′は出力Gが立ち下がった時点以後もハイのままで
あるので、フリップフロップ18の出力端子Qの出力I
は、遅延受光出力信号S2′の最初の方のパルス的変化の
第5番目のパルスがカウントされた時点以降もハイのま
まを維持し、そして、遅延受光出力信号S2′の終わりの
方のパルス的変化により、出力Gが再びローからハイに
なり、かつ、ハイからローに変化すると、出力Iは、遅
延受光出力信号S2′が終わりの方のパルス的変化の第4
番目のパルス発生以降はローとなるので、ハイからロー
となる。
On the other hand, as shown in FIG.
When S 2 'is input, the output I of the output terminal Q of the flip-flop 18 is set high by the output of the first terminal of the counter 17, while the output G of the flip-flop 23 is set.
Changes from low to high and from high to low with the first pulse change of the delayed received light output signal S 2 ′,
Even if the output G changes in this manner, the delayed light receiving output signal S 2 ′ remains high after the time when the output G falls, so that the output I of the output terminal Q of the flip-flop 18 is output.
Remains high after the fifth pulse of the first pulsed change of the delayed received light output signal S 2 ′ has been counted, and the end of the delayed received light output signal S 2 ′ When the output G changes from low to high again and changes from high to low due to the pulse change of the output signal I, the output I becomes the fourth pulse change of the end of the delayed light output signal S 2 ′.
Since the pulse is low after the generation of the second pulse, the pulse changes from high to low.

したがって、受光出力信号Sのパルス的変化の形態が
如何に変化したとしても、フリップフロップ18の出力端
子Qから整形された端部検出信号が出力Iとして出力さ
れることになる。
Therefore, no matter how the form of the pulse-like change of the light-receiving output signal S changes, the shaped end detection signal is output as the output I from the output terminal Q of the flip-flop 18.

なお、以上の実施例に合っては、穴11を透過した走査
ビームP′を検出器5により受光するものを用いたが、
ワーク3により反射された走査ビームP′を受光するも
のを用いることができる。
In addition, in accordance with the above embodiment, the one that receives the scanning beam P ′ transmitted through the hole 11 by the detector 5 was used.
One that receives the scanning beam P ′ reflected by the work 3 can be used.

また、実施例では、リトリガータイマー13が、タイム
アップする都度、微分回路21の微分出力によりカウンタ
回路16、17をリセットし、パルス的に変化する受光出力
信号S1、S2、遅延受光出力信号S1′、S2′のパルス的変
化をカウントするようになっているが、カウンター16、
17は受光出力信号S1、S2、遅延受光出力信号S1′、S2
のそのパルス的変化の全個数をカウントするように構成
とすることもできる。
Further, in the embodiment, each time the retrigger timer 13 times up, the counter circuits 16 and 17 are reset by the differential output of the differentiating circuit 21, and the light receiving output signals S 1 and S 2 that change in a pulsed manner, the delayed light receiving output signal The pulse change of S 1 ′ and S 2 ′ is counted.
Reference numeral 17 denotes light receiving output signals S 1 and S 2 , delayed light receiving output signals S 1 ′ and S 2
May be configured to count the total number of such pulse-like changes.

さらに、第5図に示すように、ワーク10に貫通穿設さ
れた円形の穴11の端部11aを検出することもできる。
Further, as shown in FIG. 5, it is possible to detect the end 11a of the circular hole 11 penetrating through the work 10.

(発明の効果) 本発明に係わる端部検出装置は、以上説明したように
構成したので、ゴミ、キズ、バリ等の端部不良がある場
合であっても、リアルタイム処理により被検物の端部を
精度よく検出することができるという効果を奏する。
(Effect of the Invention) Since the edge detection device according to the present invention is configured as described above, even if there is an edge defect such as dust, scratches, burrs, etc., the edge of the test object can be detected by real-time processing. There is an effect that the part can be accurately detected.

とくに、端部、端縁近傍において、受光出力信号が不
規則的にパルス的に変化したとしても、その端部、端縁
を正確に決定できる効果がある。
In particular, even if the received light output signal irregularly changes in a pulse manner in the vicinity of the edge and the edge, there is an effect that the edge and the edge can be accurately determined.

また、CPU、メモリー等の容量の大きなものを使用し
なくとも端部を精度よく検出できるので、コスト低減を
図ることができるという効果も奏する。
Further, since the end portion can be accurately detected without using a large capacity device such as a CPU and a memory, the effect of reducing costs can be achieved.

さらに、端部すれすれの走査により得られた受光出力
信号も端部の評価に用いることができるので、それだ
け、従来に較べて精度がアップするという効果も生じ
る。
Further, since the received light output signal obtained by the scan of the edge portion can also be used for the evaluation of the edge portion, the effect that the accuracy is improved as compared with the related art is produced.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

第1図は本発明に係わる端部検出装置の要部回路を示す
図、 第2図、第3図はその要部回路を説明するためのタイミ
ングチャート、 第4図はその端部検出装置によって走査される被検物の
一例を示す図、 第5図はその端部検出装置によって走査される被検物の
他の例を示す図、 第6図、第7図はその端部検出装置の原理を示す図、 である。 1…レーザー光源(光源部) 2…ペンタプリズム(走査部) 13…リトリガータイマー 14…ディレイタイマー(遅延部) 16…カウンタ回路(第1計数部) 17…カウンタ回路(第2計数部) 22…比較回路(端部決定部) 23、24…フリップフロップ回路 S1、S2…受光出力信号 S1′、S2′…遅延受光出力信号 P…ビーム
FIG. 1 is a diagram showing a main part circuit of an end detection device according to the present invention, FIGS. 2 and 3 are timing charts for explaining the main part circuit, and FIG. FIG. 5 is a view showing an example of an object to be scanned, FIG. 5 is a view showing another example of the object to be scanned by the end detection device, FIG. 6 and FIG. FIG. REFERENCE SIGNS LIST 1 laser light source (light source unit) 2 pentaprism (scanning unit) 13 retrigger timer 14 delay timer (delay unit) 16 counter circuit (first counting unit) 17 counter circuit (second counting unit) 22 comparator circuit (end determination section) 23, 24 ... flip-flop circuits S 1, S 2 ... light reception output signals S 1 ', S 2' ... delayed light reception output signal P ... beam

Claims (1)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】細いビームを出射する光源部と、 前記ビームにより被検物をその端部を含めて光学的に走
査する走査部と、 前記ビームを前記被検物を介して受光し、バリ、ゴミ、
キズ等の端面不良の原因によりパルス的に変化する受光
出力信号を出力する受光部と、 前記受光部の受光出力信号のハイとローとの間での変化
の個数をカウントして累計する第1計数部と、 前記受光部の受光出力信号を遅延させる遅延部と、 前記遅延部により遅延された遅延受光出力信号が入力さ
れて、前記遅延受光出力信号のハイとローとの間での変
化の個数をカウントして累計する第2計数部と、 前記各計数部により求められた各累計値を比較する比較
部を有し、該比較部の比較の結果に基づき前記受光出力
信号のバリ、ゴミ、キズ等の端面不良の原因によりパル
ス的変化が発生してからのこのパルス的変化の終了時点
を検出して、前記被検物の端部を決定する端部決定部
と、 を備えていることを特徴とする端部検出装置。
A light source section for emitting a narrow beam; a scanning section for optically scanning an object including its end with the beam; a light receiving section for receiving the beam via the object; ,garbage,
A light-receiving unit that outputs a light-receiving output signal that changes in a pulsed manner due to an end surface defect such as a flaw; and a first unit that counts and accumulates the number of changes between high and low of the light-receiving output signal of the light-receiving unit. A counting section, a delay section for delaying a light receiving output signal of the light receiving section, and a delayed light receiving output signal delayed by the delay section being inputted, and a change between a high and a low of the delayed light receiving output signal. A second counting unit that counts and accumulates the counts; and a comparing unit that compares each of the accumulated values obtained by each of the counting units. Based on a result of the comparison by the comparing units, the light receiving output signal has burrs and dust. An end determining unit that detects an end point of the pulse-like change after the pulse-like change occurs due to a defect of the end surface such as a scratch and determines an end of the test object. An end detection device, characterized in that:
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