JP2727028B2 - Defect detection device for magnetic recording media - Google Patents

Defect detection device for magnetic recording media

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JP2727028B2
JP2727028B2 JP21345490A JP21345490A JP2727028B2 JP 2727028 B2 JP2727028 B2 JP 2727028B2 JP 21345490 A JP21345490 A JP 21345490A JP 21345490 A JP21345490 A JP 21345490A JP 2727028 B2 JP2727028 B2 JP 2727028B2
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【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] この発明は、磁気ディスクや磁気テープ等の磁気記録
媒体の欠陥を検出する装置に関する。
The present invention relates to an apparatus for detecting a defect in a magnetic recording medium such as a magnetic disk and a magnetic tape.

[従来の技術] 磁気ディスクや磁気テープ等の記録媒体の表面には磁
性材料が塗布またはメッキされているが、塗布状態やメ
ッキ状態のバラツキ、機械的な表面の仕上がり状態によ
り、再生信号にエラーが発生することがある。エラーと
しては、ポジティブモジュレーションエラー、ネガテイ
ブモジュレーションエラー、ミッシングエラー、エクス
トラエラー等がある。
[Prior art] A magnetic material is applied or plated on the surface of a recording medium such as a magnetic disk or a magnetic tape. However, an error occurs in a reproduced signal due to a variation in applied or plated state and a mechanical finished state of the surface. May occur. The errors include a positive modulation error, a negative modulation error, a missing error, an extra error, and the like.

ポジティブモジュレーションエラー(P-MODエラー)
は、再生信号が広い範囲にわたり出力平均値より高くな
るエラーである。例えば、第10図Aに示すような書き込
みデータが記録される場合、再生信号に広い範囲にわた
って出力平均値より高い電圧部分が発生する(同図Bに
図示)。
Positive modulation error (P-MOD error)
Is an error in which the reproduced signal is higher than the output average value over a wide range. For example, when write data as shown in FIG. 10A is recorded, a voltage portion higher than the output average value occurs in a reproduced signal over a wide range (shown in FIG. 10B).

ネガティブモジュレーションエラー(N-MODエラー)
は、再生信号が広い範囲にわたり出力平均値より低くな
るエラーである。例えば、第10図Aに示すような書き込
みデータが記録される場合、再生信号に広い範囲にわた
り出力平均値より低い電圧部分が生じる(同図Cに図
示)。
Negative modulation error (N-MOD error)
Is an error in which the reproduced signal is lower than the output average value over a wide range. For example, when write data as shown in FIG. 10A is recorded, a voltage portion lower than the output average value occurs in a reproduced signal over a wide range (shown in FIG. 10C).

以上のP-MODエラーやN-MODエラーは磁性層に厚みのむ
らがある場合に検出される。つまり、部分的に厚い場合
にはP-MODエラーとなり、部分的に薄い場合にはN-MODエ
ラーとなる。
The above P-MOD error and N-MOD error are detected when the magnetic layer has uneven thickness. In other words, a P-MOD error occurs when the thickness is partially large, and an N-MOD error occurs when the thickness is partially thin.

ミッシングエラーは、再生信号のレベルが所定レベル
より落ち込むエラーである。例えば、第10図Aに示すよ
うな書き込みデータが記録される場合、再生信号にレベ
ルの落ち込み部分が生じる(同図Dに図示)。
The missing error is an error in which the level of the reproduction signal drops below a predetermined level. For example, when write data as shown in FIG. 10A is recorded, a level drop portion occurs in the reproduced signal (shown in FIG. 10D).

エクストラエラーは、無信号となるべき部分で再生信
号に孤立波が生じるエラーである。例えば、第10図Eに
示すような書き込みデータが記録される場合、再生信号
に所定レベルの孤立波が生じる(同図Fに図示)。
An extra error is an error in which a solitary wave occurs in a reproduced signal in a portion where no signal is to be generated. For example, when write data as shown in FIG. 10E is recorded, a solitary wave of a predetermined level is generated in the reproduced signal (shown in FIG. 10F).

以上のミッシングエラーやエクストラエラーは、媒体
表面に微細な傷、ピンホールがある場合、または異物が
混入している場合に検出される。
The above-described missing error or extra error is detected when there is a minute scratch or pinhole on the medium surface, or when foreign matter is mixed.

従来、上述したような再生信号のエラーを検出して磁
気記録媒体の欠陥を検出する装置が種々提案されてい
る。
Conventionally, there have been proposed various devices for detecting a defect in a magnetic recording medium by detecting an error in a reproduction signal as described above.

[発明が解決しようとする課題] ところで、詳細説明は省略するが、上述した装置のな
かに、N-MODエラーやミッシングエラーの検出に、再生
信号のゼロクロス点の検出パルスを用いるものがある。
[Problems to be Solved by the Invention] By the way, although detailed description is omitted, some of the above-mentioned devices use a detection pulse of a zero-cross point of a reproduction signal for detecting an N-MOD error or a missing error.

N-MODエラーやミッシングエラーの検出にゼロクロス
点の検出パルスを用いるのは、再生信号がモータの回転
変動などでジッターを起すことがあり、ゼロクロス点は
再生波形に同期しているため正確にエラーを検出するこ
とができる利点があるからである。
The use of a zero-cross point detection pulse to detect an N-MOD error or missing error may cause jitters in the playback signal due to fluctuations in motor rotation, etc. This is because there is an advantage that can be detected.

ゼロクロス点の検出回路は、磁気記録媒体の再生信号
にはノイズが混在しているため、ヒステリシスを有する
コンパレータを用いるのが一般的である。そのため、再
生信号のレベルが微小なときやゼロ電圧のときはゼロク
ロス点の検出が不可能となり、結果的にN-MODエラーや
ミッシングエラーの検出が不可能となる。
The detection circuit for the zero-crossing point generally uses a comparator having hysteresis because noise is mixed in the reproduction signal of the magnetic recording medium. Therefore, when the level of the reproduction signal is minute or at zero voltage, it is impossible to detect the zero cross point, and as a result, it is impossible to detect the N-MOD error and the missing error.

これを防止するため、PLL発振器を用意し、参照信号
としてゼロクロス点の検出パルスを供給し、この発振器
の出力信号をゼロクロスパルスの代わりに用いることが
提案されている。
In order to prevent this, it has been proposed to prepare a PLL oscillator, supply a zero-cross point detection pulse as a reference signal, and use the output signal of this oscillator instead of the zero-cross pulse.

これによればゼロクロス点が検出されれない場合に
も、発振器の出力信号が存在するので、N-MODエラーや
ミッシングエラーの検出が可能となる。
According to this, even when the zero-cross point is not detected, the output signal of the oscillator exists, so that the N-MOD error and the missing error can be detected.

しかし、エラーを検出すべき再生信号が供給されて所
定期間は発振器の出力信号が安定しないため、正確なエ
ラー検出が不可能である。また、PLL発振器を使用する
ことで、回路構成が複雑となる。
However, since the output signal of the oscillator is not stabilized for a predetermined period after the reproduction signal for which an error is to be detected is supplied, accurate error detection is impossible. The use of the PLL oscillator complicates the circuit configuration.

そこで、この発明では、回路構成を複雑とすることな
く、正確なエラー検出が可能となるようにするものであ
る。
Therefore, the present invention is intended to enable accurate error detection without complicating the circuit configuration.

[課題を解決するための手段] この発明は、書き込みクロックに同期して書き込みデ
ータが記録された磁気記録媒体からの再生信号よりゼロ
クロス点を検出するゼロクロス検出回路と、再生信号を
基準電圧と比較する電圧比較回路と、ゼロクロス検出回
路および電圧検出回路の出力信号に基づいて、再生信号
のエラーを検出し、ゼロクロス検出回路で再生信号より
ゼロクロス点が検出されないとき、ゼロクロス検出回路
の出力信号の代わりに書き込みクロックを使用して再生
信号のエラーを検出するエラー検出回路とを備えること
を特徴とするものである。
[Means for Solving the Problems] The present invention relates to a zero-cross detection circuit for detecting a zero-cross point from a reproduction signal from a magnetic recording medium on which write data is recorded in synchronization with a write clock, and comparing the reproduction signal with a reference voltage. The error of the reproduction signal is detected based on the output signal of the voltage comparison circuit and the zero cross detection circuit and the voltage detection circuit. And an error detection circuit for detecting an error in a reproduction signal using a write clock.

[作用] 書き込みクロックは安定したクロックであると共に、
再生信号に同期した信号となる。
[Operation] The write clock is a stable clock,
The signal is synchronized with the reproduction signal.

そのため、ゼロクロス点の検出信号の代わりに書き込
みクロックを使用することにより、回路構成を複雑とす
ることなく、正確なエラー検出が可能となる。
Therefore, by using the write clock instead of the zero-cross point detection signal, accurate error detection can be performed without complicating the circuit configuration.

[実施例] 以下、図面を参照しながら、この発明の一実施例につ
いて説明する。本例は、磁気ディスク(ハードディス
ク)の欠陥を検出する装置に適用したものである。
Embodiment Hereinafter, an embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings. This example is applied to an apparatus for detecting a defect of a magnetic disk (hard disk).

第1図は、実施例の全体構成を示すブロック図であ
る。
FIG. 1 is a block diagram showing the overall configuration of the embodiment.

同図において、1は磁気ディスクであり、2は磁気ヘ
ッドである。
In FIG. 1, reference numeral 1 denotes a magnetic disk, and 2 denotes a magnetic head.

磁気ディスク1より磁気ヘッド2でもって再生される
信号Srはヘッドアンプ3で増幅され、さらにインターフ
ェースアンプ4で増幅されてリード/ライトテスタ5に
供給される。
The signal Sr reproduced from the magnetic disk 1 by the magnetic head 2 is amplified by the head amplifier 3, further amplified by the interface amplifier 4, and supplied to the read / write tester 5.

また、リード/ライトテスタ5より出力される書き込
みデータWDATA、書き込み電流制御信号S wcacおよび書
き込み制御信号S wcntはヘッドアンプ3に供給され、磁
気ディスク1に磁気ヘッド2をもって書き込みデータWD
ATAが所定の書き込み電流で記録される。
The write data WDATA, the write current control signal Swcac, and the write control signal Swcnt output from the read / write tester 5 are supplied to the head amplifier 3, and the write data WD is applied to the magnetic disk 1 by the magnetic head 2.
The ATA is recorded with a predetermined write current.

また、6は磁気ディスク1を回転させるためのスピン
ドルモータ、7は磁気ディスク1の回転に応じてインデ
ックス信号S INDおよびセクター信号S SEC(第2図A、
B参照)を出力するエンコーダである。これらの信号S
IND,S SECは、コントローラ8を介してリード/ライト
テスタ5に供給される。
6 is a spindle motor for rotating the magnetic disk 1, and 7 is an index signal S IND and a sector signal S SEC (FIG. 2A,
B). These signals S
IND, S SEC is supplied to the read / write tester 5 via the controller 8.

また、コントローラ8によってスピンドルモータ6の
回転数が制御され、さらにステップモータドライバ9を
介して磁気ヘッド2の位置が制御される。
Further, the rotation speed of the spindle motor 6 is controlled by the controller 8, and the position of the magnetic head 2 is further controlled via the step motor driver 9.

なお、リード/ライトテスタ5よりコントローラ8に
はシーク信号S seek信号が供給され、また磁気ヘッド2
が目的位置に移動した後に、コントローラ8よりリード
/ライトテスタ5にはシーク完了信号S cmseが供給され
る。
The read / write tester 5 supplies the controller 8 with a seek signal S seek signal.
Is moved to the target position, a seek completion signal S cmse is supplied from the controller 8 to the read / write tester 5.

第3図は、リード/ライトテスタの構成を示すもので
ある。
FIG. 3 shows the configuration of a read / write tester.

同図において、101はMPU、102はローカルバスバッフ
ァ、103はローカルバスバッファ102を介してMPU101に接
続されるローカルバスである。
In the figure, 101 is an MPU, 102 is a local bus buffer, and 103 is a local bus connected to the MPU 101 via the local bus buffer 102.

また、104は書き込み制御回路であり、これにはロー
カルバス103より書き込みクロックWCLKが供給される。
この書き込み制御回路104の動作は、ローカルバス103を
介してMPU101によって制御される。この書き込み制御回
路104からは書き込みクロックWCLKに同期して所定パタ
ーンの書き込みデータWDATAが出力されると共に、書き
込み制御信号S wcntが出力され、上述したようにヘッド
アンプ3(第1図に図示)に供給される。
A write control circuit 104 is supplied with a write clock WCLK from the local bus 103.
The operation of the write control circuit 104 is controlled by the MPU 101 via the local bus 103. The write control circuit 104 outputs write data WDATA of a predetermined pattern in synchronization with the write clock WCLK, and also outputs a write control signal Swcnt, which is sent to the head amplifier 3 (shown in FIG. 1) as described above. Supplied.

また、105は書き込電流制御回路であり、この書き込
み電流制御回路105の動作は、ローカルバス103を介して
MPU101によって制御される。この書き込み電流制御回路
105からは書き込み電流制御信号S wcacが出力され、こ
れが上述したようにヘッドアンプ3に供給される。
Reference numeral 105 denotes a write current control circuit. The operation of the write current control circuit 105 is performed via the local bus 103.
It is controlled by the MPU 101. This write current control circuit
A write current control signal Swcac is output from 105 and supplied to the head amplifier 3 as described above.

また、インターフェースアンプ4(第1図に図示)か
らの再生信号Srは、アンプ106で増幅されたのち、ロー
パスフィルタ107に供給されてノイズ除去が行なわれ、
エンベロープ検出回路108に供給される。このエンベロ
ープ検出回路108より出力される再生信号Srのエンベロ
ープ信号S ENVはスライスレベル設定回路109に供給され
る。
Further, the reproduction signal Sr from the interface amplifier 4 (shown in FIG. 1) is amplified by the amplifier 106, and then supplied to the low-pass filter 107 to perform noise removal.
The signal is supplied to the envelope detection circuit 108. The envelope signal S ENV of the reproduction signal Sr output from the envelope detection circuit 108 is supplied to a slice level setting circuit 109.

このスライスレベル設定回路109は、第4図に示すよ
うに構成される。
The slice level setting circuit 109 is configured as shown in FIG.

同図において、エンベロープ検出回路108からのエン
ベロープ信号S ENVは、切換スイッチ201のa側の固定端
子に供給される。この切換スイッチ201のb側の固定端
子には、端子202より安定した直流電圧V REF、例えば+
2Vが供給される。この切換スイッチ201の切り換えは、
ローカルバス103を介してMPU101(第4図には図示せ
ず)によって制御される。
In the figure, the envelope signal S ENV from the envelope detection circuit 108 is supplied to the fixed terminal on the a side of the changeover switch 201. The fixed terminal on the b side of the changeover switch 201 has a DC voltage V REF, for example, +
2V is supplied. This changeover of the changeover switch 201
It is controlled by the MPU 101 (not shown in FIG. 4) via the local bus 103.

切換スイッチ201の出力信号は電圧/周波数コンバー
タ(V−Fコンバータ)203に供給され、このV−Fコ
ンバータ203より出力される入力電圧に比例した周波数
のパルスはアンドゲート204に供給される。このアンド
ゲート204には、スライスレベルの設定動作時に、ロー
カルバス103より1インデックス期間のパルス幅を有す
るゲート信号S GATE(第2図Cに図示)が供給される。
The output signal of the changeover switch 201 is supplied to a voltage / frequency converter (VF converter) 203, and a pulse having a frequency proportional to the input voltage output from the VF converter 203 is supplied to an AND gate 204. The gate signal S GATE (shown in FIG. 2C) having a pulse width of one index period is supplied from the local bus 103 to the AND gate 204 during the slice level setting operation.

アンドゲート204でゲートされるパルスはアキュムレ
ータ205に供給され、順次累積される。アキュムレータ2
05より出力される累積データNDはローカルバス103を介
してMPU101に供給される。
The pulses gated by the AND gate 204 are supplied to an accumulator 205 and are sequentially accumulated. Accumulator 2
The accumulated data ND output from 05 is supplied to the MPU 101 via the local bus 103.

ここで、V−Fコンバータ203は、切換スイッチ201が
b側に接続された状態で、磁気ディスク1の回転が所定
回転、例えば3600rpmとされるとき、1インデックス期
間のアキュムレータ205の累積データNDが所定値ND RE
F、例えば2000となるように設定される。
Here, when the rotation of the magnetic disk 1 is set to a predetermined rotation, for example, 3600 rpm, with the changeover switch 201 connected to the b side, the VF converter 203 calculates the accumulated data ND of the accumulator 205 for one index period. Predetermined value ND RE
F, for example, set to 2000.

なお、アキュムレータ205のリセットは、ローカルバ
ス103を介してMPU101によって制御される。
The reset of the accumulator 205 is controlled by the MPU 101 via the local bus 103.

また、アキュムレータ205より出力される累積データN
DはD/A変換器206に供給される。このD/A変換器206は、
累積データNDがND REFであるとき、出力側に直流電圧2V
REF(V REFは端子202に供給される直流電圧)が出力さ
れるように設定される。
Also, the accumulated data N output from the accumulator 205
D is supplied to the D / A converter 206. This D / A converter 206
When accumulated data ND is ND REF, DC voltage 2V
REF (V REF is a DC voltage supplied to the terminal 202) is set to be output.

D/A変換器206の出力信号は、それぞれP-MODエラー、N
-MODエラー、ミッシングエラー、エクストラエラーを検
出するためのスライスレベルを設定するD/A変換器207
P、207N、207M、207Eに基準電圧(フルスケール電圧)
として供給される。これらD/A変換器207P、207N、207
M、207Eとしては、本例では12ビット構成のものが使用
される。
The output signals of the D / A converter 206 are P-MOD error, N
-D / A converter 207 for setting slice level to detect MOD error, missing error and extra error
Reference voltage (full-scale voltage) for P, 207N, 207M, 207E
Supplied as These D / A converters 207P, 207N, 207
In this example, a 12-bit configuration is used as M and 207E.

D/A変換器207P、207N、207M、207Eには、それぞれロ
ーカルバス103よりスライスレベルを設定する12ビット
のデータD SLP、D SLN、D SLM、D SLEが供給される。
The D / A converters 207P, 207N, 207M, and 207E are supplied with 12-bit data DSLP, DSLN, DSLM, DSLE, respectively, for setting a slice level from the local bus 103.

そして、D/A変換器207Pの出力信号およびそれをイン
バータ208Pで反転した信号が、P-MODエラーを検出する
ためのスライスレベル信号PML+およびPML−として導出
される。
Then, an output signal of the D / A converter 207P and a signal obtained by inverting the output signal by the inverter 208P are derived as slice level signals PML + and PML- for detecting a P-MOD error.

また、D/A変換器207Nの出力信号およびそれをインバ
ータ208Nで反転した信号が、N-MODエラーを検出するた
めのスライスレベル信号NML+およびNML−として導出さ
れる。
The output signal of the D / A converter 207N and the signal obtained by inverting the output signal by the inverter 208N are derived as slice level signals NML + and NML- for detecting an N-MOD error.

また、D/A変換器207Mの出力信号およびそれをインバ
ータ208Mで反転した信号が、ミッシングエラーを検出す
るためのスライスレベル信号MISL+およびMISL−として
導出される。
Further, the output signal of the D / A converter 207M and a signal obtained by inverting the output signal by the inverter 208M are derived as slice level signals MISL + and MISL- for detecting a missing error.

さらに、D/A変換器207Eの出力信号およびそれをイン
バータ208Eで反転した信号が、エクストラエラーを検出
するためのスライスレベル信号EXTL+およびEXTL−とし
て導出される。
Further, an output signal of the D / A converter 207E and a signal obtained by inverting the output signal by the inverter 208E are derived as slice level signals EXTL + and EXTL− for detecting an extra error.

以上の構成において、エラー検出のためのスライスレ
ベルを設定する際、まず、切換スイッチ201がb側に接
続され、V−Fコンバータ203には直流電圧V REFが供給
される。また、アンドゲート203には、エラー検出時に
おける回転数で磁気ディスク1を回転させて得られる1
インデックス期間のパルス幅を有するゲート信号S GATE
(第2図Cに図示)が供給される。
In the above configuration, when setting a slice level for error detection, first, the changeover switch 201 is connected to the b side, and the DC voltage V REF is supplied to the VF converter 203. Further, the AND gate 203 has a value obtained by rotating the magnetic disk 1 at the rotation speed at the time of error detection.
Gate signal S GATE having a pulse width during the index period
(Shown in FIG. 2C).

そして、MPU101では、アキュムレータ205より出力さ
れる1インデックス期間の累積データNDをND REF′とし
て、スライスレベルのデータD SLP、D SLN、D SLM、D S
LEが、以下のように算出される。
Then, in the MPU 101, the slice level data D SLP, D SLN, D SLM, and DS are used as the accumulated data ND for one index period output from the accumulator 205 as ND REF ′.
LE is calculated as follows.

D SLP=Do/2×Dp[%]×ND REF/ND REF′ D SLN=Do/2×Dn[%]×ND REF/ND REF′ D SLM=Do/2×Dm[%]×ND REF/ND REF′ D SLE=Do/2×De[%]×ND REF/ND REF′ ・・・(1) ここで、Doは、12ビットのD/A変換器207P〜207Eより
フルスケール電圧が出力される際の入力データであり、
Do=[111111111111]である。
D SLP = Do / 2 × Dp [%] × ND REF / ND REF ′ D SLN = Do / 2 × Dn [%] × ND REF / ND REF ′ D SLM = Do / 2 × Dm [%] × ND REF / ND REF ′ D SLE = Do / 2 × De [%] × ND REF / ND REF ′ (1) where Do is a full-scale voltage from the 12-bit D / A converters 207P to 207E. Input data when output,
Do = [111111111111].

また、Dp[%]、Dn[%]、Dm[%]、De[%]は、
1インデックス期間のエンベロープ信号S ENVの平均電
圧(トラック平均電圧)を100[%]とするとき、それ
ぞれP-MODエラー、N-MODエラー、ミッシングエラー、エ
クストラエラーを検出するためのスライスレベルであ
る。例えば、Dp=130、Dn=80、Dm=55、De=30に設定
される。
Dp [%], Dn [%], Dm [%], De [%]
Assuming that the average voltage (track average voltage) of the envelope signal S ENV in one index period is 100 [%], this is a slice level for detecting a P-MOD error, an N-MOD error, a missing error, and an extra error. . For example, Dp = 130, Dn = 80, Dm = 55, and De = 30.

(1)式で、1/2の係数を付している理由は、上述し
たようにD/A変換器206がND REFの累積データの入力で2V
REFの直流電圧が出力されるように構成され、このD/A
変換器206で実質的に2倍の昇圧が行なわれているから
である。
In the equation (1), the reason why the coefficient of 1/2 is added is that the D / A converter 206 receives 2 V at the input of the accumulated data of ND REF as described above.
REF DC voltage is output, and this D / A
This is because converter 206 substantially doubles the voltage.

また、(1)式で、ND REF/ND REF′の項を設けてい
るのは、以下の理由からである。
The reason for providing the term of ND REF / ND REF ′ in equation (1) is as follows.

すなわち、1インデックス期間は磁気ディスク1の回
転数に応じて異なってくる。そして、1インデックス期
間が異なると、たとえトラック平均電圧が同じものであ
っても、アキュムレータ205からの累積データNDが異な
るようになり、D/A変換器206よりD/A変換器207P〜207E
に基準電圧として供給される直流電圧の値が異なってく
る。
That is, one index period differs depending on the rotation speed of the magnetic disk 1. If the one index period is different, even if the track average voltage is the same, the accumulated data ND from the accumulator 205 becomes different, and the D / A converter 206 causes the D / A converters 207P to 207E to change.
The value of the DC voltage supplied as the reference voltage differs.

ところで、ND REFおよびND REF′は、いずれも切換ス
イッチ201をb側に接続したときのものである。つま
り、ND REFは磁気ディスク1が、例えば3600rpmにおけ
る1インデックス期間に対応しており、ND REF′はスラ
イスレベル設定時、したがってエラー検出時の磁気ディ
スク1の回転数における1インデックス期間に対応して
いる。
Incidentally, ND REF and ND REF 'are those when the changeover switch 201 is connected to the b side. That is, ND REF corresponds to one index period of the magnetic disk 1 at, for example, 3600 rpm, and ND REF 'corresponds to one index period of the rotation speed of the magnetic disk 1 at the time of setting the slice level, that is, when an error is detected. I have.

したがって、ND REF/ND REF′の項を設けることによ
り、1インデックス期間が異なることによるD/A変換器2
07P〜207Eへの基準電圧の変動を相殺するように、D/A変
換器207P〜207Eに供給されるスライスレベルのデータD
SLP、D SLN、D SLM、D SLEが補正されることになる。
Therefore, by providing the term of ND REF / ND REF ', the D / A converter
The slice-level data D supplied to the D / A converters 207P to 207E so as to cancel the fluctuation of the reference voltage to 07P to 207E.
SLP, D SLN, DSLM, DSLE will be corrected.

上述のように算出されたスライスレベルのデータD SL
P、D SLN、D SLM、D SLEは、それぞれローカルバス103
を介してD/A変換器207P、207N、207M、207Eに供給され
る。
The slice-level data D SL calculated as described above
P, D SLN, D SLM, and D SLE are each connected to the local bus 103
Is supplied to the D / A converters 207P, 207N, 207M, 207E via the.

次に、アキュムレータ205の累積データNDがリセット
されると共に、切換スイッチ201がa側に接続される。
Next, the accumulated data ND of the accumulator 205 is reset, and the changeover switch 201 is connected to the a side.

また、磁気ディスク1のエラー検出をしようとするト
ラックの再生が行なわれ、その再生信号Srに対応するエ
ンベロープ信号S ENVが切換スイッチ201を介してV−F
コンバータ203に供給され、アンドゲート204には1イン
デックス期間のパルス幅を有するゲート信号S GATE(第
2図Cに図示)が供給される。
Further, a track of the magnetic disk 1 for which an error is to be detected is reproduced, and an envelope signal S ENV corresponding to the reproduced signal Sr is supplied to the V-F
The signal is supplied to the converter 203, and the AND gate 204 is supplied with a gate signal S GATE (shown in FIG. 2C) having a pulse width of one index period.

そして、アキュムレータ205より出力される1インデ
ックス期間の累積データNDはD/A変換器206に供給され、
このD/A変換器206からは累積データNDに対応した直流電
圧が出力されてD/A変換器207P〜207Eに基準電圧として
供給される。
Then, the accumulated data ND for one index period output from the accumulator 205 is supplied to the D / A converter 206,
A DC voltage corresponding to the accumulated data ND is output from the D / A converter 206 and supplied as a reference voltage to the D / A converters 207P to 207E.

これにより、D/A変換器207P、207N、207M、207Eから
は、それぞれトラック平均電圧に対してDp[%]、Dn
[%]、Dm[%]、De[%]の電圧が出力され、スライ
スレベル信号PML+〜EXTL−が形成される。
As a result, the D / A converters 207P, 207N, 207M, and 207E output Dp [%], Dn
Voltages of [%], Dm [%], and De [%] are output, and slice level signals PML + to EXTL- are formed.

このようにスライスレベル設定回路109でスライスレ
ベルが設定された状態で、後述するように磁気ディスク
1のエラー検出をしようとするトラックの再生が行なわ
れて再生信号Srよりエラー検出が行なわれる。なお、磁
気ディスク1の回転数の変更がなければ、スライスレベ
ルデータの算出は最初の1回だけで済み、各トラックの
再生信号Srのエラーを連続して検出できる。
In the state where the slice level is set by the slice level setting circuit 109, a track of the magnetic disk 1 whose error is to be detected is reproduced as described later, and an error is detected from the reproduction signal Sr. If the rotation speed of the magnetic disk 1 is not changed, the calculation of the slice level data only needs to be performed once and the error of the reproduction signal Sr of each track can be continuously detected.

第3図に戻って、スライスレベル設定回路109より出
力されるスライスレベル信号PML+〜EXTL−はエラー検
出回路110に供給される。このエラー検出回路110には、
ローパスフィルタ107でノイズが除去された再生信号Sr
が供給される。
Returning to FIG. 3, the slice level signals PML + to EXTL− output from the slice level setting circuit 109 are supplied to the error detection circuit 110. This error detection circuit 110 includes:
Reproduced signal Sr from which noise has been removed by low-pass filter 107
Is supplied.

エラー検出回路110では、再生信号SrよりP-MODエラ
ー、N-MODエラー、ミッシングエラー、エクストラエラ
ーが検出される。第5図は、エラー検出回路110の構成
を示すものである。
The error detection circuit 110 detects a P-MOD error, an N-MOD error, a missing error, and an extra error from the reproduction signal Sr. FIG. 5 shows the configuration of the error detection circuit 110.

同図において、P-MODエラーを検出するスライスレベ
ル信号PML+およびPML−は、それぞれコンパレータ301P
aの正側およびコンパレータ301Pbの負側に比較基準電圧
として供給される。コンパレータ301Paの負側およびコ
ンパレータ301Pbの正側には、再生信号Srが供給され
る。コンパレータ301Paからは、再生信号Srが信号PML+
より大きくなるとき負のパルスが出力される。コンパレ
ータ301Pbからは、再生信号Srが信号PML−より小さくな
るとき負のパルスが出力される。
In the figure, slice level signals PML + and PML- for detecting a P-MOD error are supplied to a comparator 301P, respectively.
The positive side of a and the negative side of the comparator 301Pb are supplied as comparison reference voltages. The reproduction signal Sr is supplied to the negative side of the comparator 301Pa and the positive side of the comparator 301Pb. From the comparator 301Pa, the reproduction signal Sr is output as the signal PML +
When it becomes larger, a negative pulse is output. The comparator 301Pb outputs a negative pulse when the reproduction signal Sr becomes smaller than the signal PML−.

コンパレータ301Paおよび301Pbの出力信号は、P-MOD
エラーパルス発生回路302Pに供給される。このエラーパ
ルス発生回路302Pでは、コンパレータ301Paおよび301Pb
より出力されるパルスの合成が行なわれ、これがP-MOD
エラーパルスPpmとして出力される。
The output signals of comparators 301Pa and 301Pb are P-MOD
It is supplied to the error pulse generation circuit 302P. In this error pulse generation circuit 302P, comparators 301Pa and 301Pb
The output pulse is synthesized and this is the P-MOD
It is output as an error pulse Ppm.

ところで、P-MODエラー、N-MODエラー、ミッシングエ
ラーを検出する際には、MPU101によって書き込み制御回
路104、書き込み電流制御回路105が制御され(第3図参
照)、磁気ディスク1の各トラックには、書き込みクロ
ックWCLKに同期して、所定周期ごと、例えば1クロック
周期ごとにレベルが変化する書き込みデータWDATAが書
き込まれる(第6図〜第8図A、Bに図示)。
When detecting a P-MOD error, an N-MOD error, and a missing error, the MPU 101 controls the write control circuit 104 and the write current control circuit 105 (see FIG. 3). Is written with write data WDATA whose level changes every predetermined period, for example, every one clock period in synchronization with the write clock WCLK (shown in FIGS. 6 to 8A and B).

上述の構成において、再生信号Srが、第6図Cに示す
ようであるとすると、コンパレータ301Pa、301Pbの出力
信号は、同図D、Eに示すようになる。そして、エラー
パルス発生回路302Pからは、同図Fに示すようにP-MOD
エラーパルスPpmが出力される。
In the above configuration, if the reproduced signal Sr is as shown in FIG. 6C, the output signals of the comparators 301Pa and 301Pb are as shown in FIGS. Then, from the error pulse generation circuit 302P, as shown in FIG.
An error pulse Ppm is output.

また第5図において、N-MODエラーを検出するスライ
スレベル信号NML+およびNML−は、それぞれコンパレー
タ301Naの正側およびコンパレータ301Nbの負側に比較基
準電圧として供給される。コンパレータ301Naの負側お
よびコンパレータ301Nbの正側には、再生信号Srが供給
される。コンパレータ301Naからは、再生信号Srが信号N
ML+より大きくなるとき負のパルスが出力される。コン
パレータ301Nbからは、再生信号Srが信号NML−より小さ
くなるとき負のパルスが出力される。
In FIG. 5, slice level signals NML + and NML− for detecting an N-MOD error are supplied to the positive side of the comparator 301Na and the negative side of the comparator 301Nb, respectively, as comparison reference voltages. The reproduction signal Sr is supplied to the negative side of the comparator 301Na and the positive side of the comparator 301Nb. From the comparator 301Na, the reproduced signal Sr
When it becomes larger than ML +, a negative pulse is output. The comparator 301Nb outputs a negative pulse when the reproduction signal Sr becomes smaller than the signal NML−.

コンパレータ301Naおよび301Nbの出力信号は、N-MOD
エラーパルス発生回路302Nに供給される。
The output signals of comparators 301Na and 301Nb are N-MOD
It is supplied to the error pulse generation circuit 302N.

また、再生信号Srはコンパレータ303の正側に供給さ
れ、その負側にはゼロ電圧が供給される。コンパレータ
303からは、再生信号Srがゼロ電圧より大きくなるとき
ハイレベルとなり、小さくなるときローレベルとな信号
が出力される。
The reproduction signal Sr is supplied to the positive side of the comparator 303, and zero voltage is supplied to its negative side. comparator
The signal 303 outputs a high level when the reproduction signal Sr is higher than zero voltage, and outputs a low level signal when the reproduction signal Sr is lower.

コンパレータ303の出力信号は、ゼロクロスパルス発
生回路304に供給される。ゼロクロスパルス発生回路304
からは、コンパレータ303の出力信号の立ち上がりおよ
び立ち下がりに同期したゼロクロスパルスZCKが出力さ
れる。このパルスZCKは、エラーパルス発生回路302Nに
供給される。
The output signal of the comparator 303 is supplied to the zero cross pulse generation circuit 304. Zero cross pulse generation circuit 304
Outputs a zero-cross pulse ZCK synchronized with the rise and fall of the output signal of the comparator 303. This pulse ZCK is supplied to the error pulse generation circuit 302N.

このエラーパルス発生回路302Nには、コンパレータ30
1Naおよび301Nbより出力されるパルスでセットされると
共にパルスZCKでリセットされるRSフリップフロップが
備えられる。そして、このエラーパルス発生回路302Nか
らは、リセット状態でパルスZCKが供給されるタイミン
グで負のパルスが出力される。このエラーパルス発生回
路302Nの出力信号は、アンドゲート305に供給される。
The error pulse generation circuit 302N includes a comparator 30
An RS flip-flop which is set by a pulse output from 1Na and 301Nb and reset by a pulse ZCK is provided. Then, a negative pulse is output from the error pulse generation circuit 302N at the timing when the pulse ZCK is supplied in the reset state. The output signal of the error pulse generation circuit 302N is supplied to an AND gate 305.

また、ゼロクロスパルス発生回路304より出力される
パルスZCKは、クロックミス回路306に供給される。この
クロックミス回路306には、書き込みクロックWCLKも供
給される。このクロックミス回路306には、パルスZCKで
セットされると共に、書き込みクロックWCLKでリセット
されるRSフリップフロップが備えられる。そして、この
クロックミス回路306からは、リセット状態で書き込み
クロックが供給されるタイミングで負のパルスが出力さ
れる。このクロックミス回路306の出力信号は、アンド
ゲート305に供給される。
The pulse ZCK output from the zero-cross pulse generation circuit 304 is supplied to the clock miss circuit 306. The clock miss circuit 306 is also supplied with the write clock WCLK. The clock miss circuit 306 includes an RS flip-flop that is set by the pulse ZCK and reset by the write clock WCLK. Then, a negative pulse is output from the clock miss circuit 306 at the timing when the write clock is supplied in the reset state. The output signal of the clock miss circuit 306 is supplied to the AND gate 305.

アンドゲート305では、エラーパルス発生回路302Nよ
り出力されるパルスと、クロックミス回路306より出力
されるパルスとの合成が行なわれ、これがN-MODエラー
パルスPnmとして出力される。
In the AND gate 305, a pulse output from the error pulse generation circuit 302N and a pulse output from the clock miss circuit 306 are combined, and this is output as an N-MOD error pulse Pnm.

上述構成において、再生信号Srが、第7図Cに示すよ
うであるとすると、コンパレータ301Na、301Nbの出力信
号は、同図F、Gに示すようになる。また、コンパレー
タ303の出力信号は、同図Dに示すようになり、ゼロク
ロスパルス発生回路304からは、同図Eに示すようにゼ
ロクロスパルスZCKが出力される。そのため、エラーパ
ルス発生回路302N内のRSフリップフロップの出力信号は
同図Hに示すようになり、このエラーパルス発生回路30
2Nから、同図Iに示すようにパルスZCKが発生され、か
つ再生信号SrのレベルがNML+〜NML−の範囲内となる部
分で負のパルスが出力され、これがアンドゲート305に
供給される。
In the above configuration, if the reproduced signal Sr is as shown in FIG. 7C, the output signals of the comparators 301Na and 301Nb are as shown in FIGS. The output signal of the comparator 303 is as shown in FIG. D, and the zero cross pulse ZCK is output from the zero cross pulse generation circuit 304 as shown in FIG. Therefore, the output signal of the RS flip-flop in the error pulse generation circuit 302N is as shown in FIG.
2N, a pulse ZCK is generated as shown in FIG. 1 and a negative pulse is output at a portion where the level of the reproduction signal Sr falls within the range of NML + to NML-, and this is supplied to the AND gate 305.

また、クロックミス回路306内のRSフリップフロップ
の出力信号は同図Jに示すようになり、このクロックミ
ス回路306から、同図Kに示すようにパルスZCKが発生さ
れず、かつ再生信号SrのレベルがNML+〜NML−の範囲内
となる部分で負のパルスが出力され、これがアンドゲー
ト305に供給される。
Also, the output signal of the RS flip-flop in the clock miss circuit 306 is as shown in FIG. 10J, and the pulse ZCK is not generated from the clock miss circuit 306 as shown in FIG. A negative pulse is output at a portion where the level falls within the range of NML + to NML-, and this is supplied to the AND gate 305.

したがって、アンドゲート305からは、同図Lに示す
ようにN-MODエラーパルスPnmが出力される。
Accordingly, the N-MOD error pulse Pnm is output from the AND gate 305 as shown in FIG.

また第5図において、ミッシングエラーを検出するス
ライスレベル信号MISL+およびMISL−は、それぞれコン
パレータ301Maの正側およびコンパレータ301Mbの負側に
比較基準電圧として供給される。コンパレータ301Maの
負側およびコンパレータ301Mbの正側には、再生信号Sr
が供給される。コンパレータ301Maからは、再生信号Sr
が信号MISL+より大きくなるとき負のパルスが出力され
る。コンパレータ301Mbからは、再生信号Srが信号MISL
−より小さくなるとき負のパルスが出力される。
In FIG. 5, slice level signals MISL + and MISL- for detecting a missing error are supplied to the positive side of the comparator 301Ma and the negative side of the comparator 301Mb, respectively, as comparison reference voltages. The reproduction signal Sr is provided on the negative side of the comparator 301Ma and the positive side of the comparator 301Mb.
Is supplied. From the comparator 301Ma, the reproduction signal Sr
Is greater than the signal MISL +, a negative pulse is output. The reproduction signal Sr is output from the comparator 301Mb by the signal MISL.
When it becomes smaller, a negative pulse is output.

コンパレータ301Maおよび301Mbの出力信号は、ミッシ
ングエラーパルス発生回路302Mに供給される。このエラ
ーパルス発生回路302Mには、ゼロクロスパルス発生回路
304より出力されるゼロクロスパルスZCKが供給される。
The output signals of the comparators 301Ma and 301Mb are supplied to a missing error pulse generation circuit 302M. This error pulse generation circuit 302M has a zero cross pulse generation circuit
The zero cross pulse ZCK output from 304 is supplied.

このエラーパルス発生回路302Mには、コンパレータ30
1Maおよび301Mbより出力されるパルスでセットされると
共にパルスZCKでリセットされるRSフリップフロップが
備えられる。そして、このエラーパルス発生回路302Mか
らは、リセット状態でパルスZCKが供給されるタイミン
グで負のパルスが出力される。このエラーパルス発生回
路302Mの出力信号は、アンドゲート307に供給される。
The error pulse generation circuit 302M includes a comparator 30
An RS flip-flop that is set by the pulses output from 1Ma and 301Mb and reset by the pulse ZCK is provided. Then, a negative pulse is output from the error pulse generation circuit 302M at the timing when the pulse ZCK is supplied in the reset state. The output signal of the error pulse generation circuit 302M is supplied to an AND gate 307.

また、アンドゲート307には、クロックミス回路306の
出力信号が供給される。このアンドゲート307では、エ
ラーパルス発生回路302Mより出力されるパルスと、クロ
ックミス回路306より出力されるパルスとの合成が行な
われ、これがミッシングエラーパルスPmiとしてアンド
ゲート308に供給される。
The output signal of the clock miss circuit 306 is supplied to the AND gate 307. In the AND gate 307, a pulse output from the error pulse generation circuit 302M and a pulse output from the clock miss circuit 306 are synthesized, and this is supplied to the AND gate 308 as a missing error pulse Pmi.

上述の構成において、再生信号Srが、第8図Cに示す
ようであるとすると、コンパレータ301Ma、301Mbの出力
信号は、同図F、Gに示すようになる。また、コンパレ
ータ303の出力信号は、同図Dに示すようになり、ゼロ
クロスパルス発生回路304からは、同図Eに示すように
ゼロクロスパルスZCKが出力される。そのため、エラー
パルス発生回路302M内のRSフリップフロップの出力信号
は同図Hに示すようになり、このエラーパルス発生回路
302Mから、同図Iに示すようにパルスZCKが発生され、
かつ再生信号SrのレベルがMISL+〜MISL−の範囲内とな
る部分で負のパルスが出力され、これがアンドゲート30
7に供給される。
In the above configuration, if the reproduced signal Sr is as shown in FIG. 8C, the output signals of the comparators 301Ma and 301Mb are as shown in FIGS. The output signal of the comparator 303 is as shown in FIG. D, and the zero cross pulse ZCK is output from the zero cross pulse generation circuit 304 as shown in FIG. Therefore, the output signal of the RS flip-flop in the error pulse generation circuit 302M is as shown in FIG.
From 302M, a pulse ZCK is generated as shown in FIG.
In addition, a negative pulse is output at a portion where the level of the reproduction signal Sr falls within the range of MISL + to MISL-,
Supplied to 7.

また、クロックミス回路306内のRSフリップフロップ
の出力信号は同図Jに示すようになり、このクロックミ
ス回路306から、同図Kに示すようにパルスZCKが発生さ
れず、かつ再生信号SrのレベルがMISL+〜MISL−の範囲
内となる部分で負のパルスが出力され、これがアンドゲ
ート307に供給される。
Also, the output signal of the RS flip-flop in the clock miss circuit 306 is as shown in FIG. 10J, and the pulse ZCK is not generated from the clock miss circuit 306 as shown in FIG. A negative pulse is output at a portion where the level falls within the range of MISL + to MISL-, and this is supplied to the AND gate 307.

したがって、アンドゲート307からは、同図Lに示す
ようにミッシングエラーパルスPmiが出力される。
Therefore, the missing error pulse Pmi is output from the AND gate 307 as shown in FIG.

また第5図において、エクストラエラーを検出するス
ライスレベル信号EXTL+およびEXTL−は、それぞれコン
パレータ301Eaの正側およびコンパレータ301Ebの負側に
比較基準電圧として供給される。コンパレータ301Eaの
負側およびコンパレータ301Ebの正側には、再生信号Sr
が供給される。コンパレータ301Eaからは、再生信号Sr
が信号EXTL+より大きくなるとき負のパルスが出力され
る。コンパレータ301Ebからは、再生信号Srが信号EXTL
−より小さくなるとき負のパルスが出力される。
In FIG. 5, slice level signals EXTL + and EXTL− for detecting an extra error are supplied to the positive side of the comparator 301Ea and the negative side of the comparator 301Eb, respectively, as comparison reference voltages. The reproduction signal Sr is provided on the negative side of the comparator 301Ea and the positive side of the comparator 301Eb.
Is supplied. From the comparator 301Ea, the reproduction signal Sr
Is greater than the signal EXTL +, a negative pulse is output. The comparator 301Eb outputs the reproduction signal Sr from the signal EXTL.
When it becomes smaller, a negative pulse is output.

コンパレータ301Eaおよび301Ebの出力信号は、エクス
トラエラーパルス発生回路302Eに供給される。このエラ
ーパルス発生回路302Eでは、コンパレータ301Eaおよび3
01Ebより出力されるパルスの合成が行なわれ、これがエ
クストラエラーパルスPexとしてアンドゲート308に供給
される。
Output signals of the comparators 301Ea and 301Eb are supplied to an extra error pulse generation circuit 302E. In this error pulse generation circuit 302E, comparators 301Ea and 301Ea
The pulses output from 01Eb are combined and supplied to the AND gate 308 as an extra error pulse Pex.

ところで、エクストラエラーを検出する際には、MPU1
01によって書き込み制御回路104、書き込み電流制御回
路105が制御され(第3図参照)、磁気ディスク1の各
トラックには、一定レベルの書き込みデータWDATAが書
き込まれる(第9図Aに図示)。つまり、このエクスト
ラエラーの検出は、P-MODエラー、N-MODエラー、ミッシ
ングエラーの検出と同時に行なわれることはない。
By the way, when detecting an extra error, MPU1
The write control circuit 104 and the write current control circuit 105 are controlled by 01 (see FIG. 3), and write data WDATA of a certain level is written to each track of the magnetic disk 1 (shown in FIG. 9A). That is, the detection of the extra error is not performed simultaneously with the detection of the P-MOD error, the N-MOD error, and the missing error.

上述構成において、再生信号Srが、第9図Bに示すよ
うであるとすると、コンパレータ301Ea、301Ebの出力信
号は、同図C、Dに示すようになる。そして、エラーパ
ルス発生回路302Eからは、同図Eに示すようにエクスト
ラエラーパルスPexが出力される。
In the above configuration, assuming that the reproduced signal Sr is as shown in FIG. 9B, the output signals of the comparators 301Ea and 301Eb are as shown in FIGS. Then, an extra error pulse Pex is output from the error pulse generation circuit 302E as shown in FIG.

なお、アンドゲート308にはアンドゲート307より出力
されるミッシングエラーパルスPmiとエラーパルス発生
回路302Eより出力されるエクストラエラーパルスPexが
供給されるが、上述したようにミッシングエラーとエク
ストラエラーとの検出は同時に行なわれないので、アン
ドゲート308からはミッシングエラーパルスPmiまたはエ
クストラエラーパルスPexのいずれかが出力されること
になる。
Note that the missing error pulse Pmi output from the AND gate 307 and the extra error pulse Pex output from the error pulse generation circuit 302E are supplied to the AND gate 308. As described above, the detection of the missing error and the extra error is performed as described above. Are not performed simultaneously, and either the missing error pulse Pmi or the extra error pulse Pex is output from the AND gate 308.

第3図に戻って、エラー検出回路110より出力されるP
-MODエラーパルスPpmは、モジュレーションウインド制
御回路111に供給される。このウインド制御回路111で
は、最初のP-MODエラーパルスPpmで立ち上がり、所定期
間Tw後に立ち下がるウインドパルスが形成され(第6図
Gに図示)、この期間TwにおけるP-MODエラーパルスPpm
の個数がカウントされる。そして、ウインドパルスの立
ち下がり時点でのカウント値が所定以上である場合に
は、P-MODエラーがあるとして、P-MODエラー検出パルス
が出力され(同図Hに図示)、このP-MODエラー検出パ
ルスはモジュレーションエラー書込制御回路112に供給
される。
Returning to FIG. 3, P output from the error detection circuit 110
The -MOD error pulse Ppm is supplied to the modulation window control circuit 111. In the window control circuit 111, a window pulse which rises at the first P-MOD error pulse Ppm and falls after a predetermined period Tw is formed (shown in FIG. 6G), and the P-MOD error pulse Ppm in this period Tw is formed.
Are counted. If the count value at the time when the window pulse falls is equal to or greater than a predetermined value, it is determined that there is a P-MOD error, and a P-MOD error detection pulse is output (shown in FIG. 7H). The error detection pulse is supplied to the modulation error write control circuit 112.

このエラー書込制御回路112では、P-MODエラー検出パ
ルスが供給されるとき、書き込みイネーブル信号MWEが
出力され、モジュレーションエラーメモリ113にP-MODエ
ラーの情報が書き込まれると共に、ステータスレジスタ
114はP-MODエラー有りの状態とされる。
In the error write control circuit 112, when a P-MOD error detection pulse is supplied, a write enable signal MWE is output, P-MOD error information is written in the modulation error memory 113, and the status register
Reference numeral 114 denotes a state in which there is a P-MOD error.

また、エラー検出回路110より出力されるN-MODエラー
パルスPnmは、モジュレーションウインド制御回路111に
供給される。このウインド制御回路111では、最初のN-M
ODエラーパルスPnmで立ち上がり、所定期間Tw後に立ち
下がるウインドパルスが形成され(第7図Mに図示)、
この期間TwにおけるN-MODエラーパルスPnmの個数がカウ
ントされる。そして、ウインドパルスの立ち下がり時点
でのカウント値が所定以上である場合には、N-MODエラ
ーがあるとして、N-MODエラー検出パルスが出力され
(同図Nに図示)、このN-MODエラー検出パルスはモジ
ュレーションエラー書込制御回路112に供給される。
The N-MOD error pulse Pnm output from the error detection circuit 110 is supplied to the modulation window control circuit 111. In this window control circuit 111, the first NM
A window pulse that rises at the OD error pulse Pnm and falls after a predetermined period Tw is formed (shown in FIG. 7M),
The number of N-MOD error pulses Pnm in this period Tw is counted. If the count value at the time of the fall of the window pulse is equal to or more than a predetermined value, it is determined that there is an N-MOD error, and an N-MOD error detection pulse is output (shown in FIG. N). The error detection pulse is supplied to the modulation error write control circuit 112.

このエラー書込制御回路112では、N-MODエラー検出パ
ルスが供給されるとき、書き込みイネーブル信号MWEが
出力され、モジュレーションエラーメモリ113にN-MODエ
ラーの情報が書き込まれると共に、ステータスレジスタ
114はN-MODエラー有りの状態とされる。
In the error write control circuit 112, when an N-MOD error detection pulse is supplied, a write enable signal MWE is output, the information of the N-MOD error is written in the modulation error memory 113, and the status register
Reference numeral 114 denotes an N-MOD error.

なお、第3図には、図面の簡単化のため、ウインド制
御回路111および書き込み制御回路112はそれぞれ1個の
み示しているが、P-MODエラーおよびN-MODエラーのそれ
ぞれの系に対応して設けられている。
FIG. 3 shows only one window control circuit 111 and one write control circuit 112 for simplicity of the drawing. However, FIG. 3 corresponds to each system of the P-MOD error and the N-MOD error. It is provided.

また、エラー検出回路110より出力されるミッシング
エラーパルスPmiまたはエクストラエラーパルスPexは長
さカウンタ115に供給される。この長さカウンタ115では
エラーパルスPmiまたはPexが供給される毎にカウンタが
カウントアップされる。
Further, the missing error pulse Pmi or extra error pulse Pex output from the error detection circuit 110 is supplied to the length counter 115. In the length counter 115, the counter counts up every time the error pulse Pmi or Pex is supplied.

また、116は位置カウンタである。この位置カウンタ1
16にはローカルバス103よりインデックス信号S IND(第
2図Aに図示)に対応したスタート信号Sstがカウンタ
のリセット信号として供給される。さらに、この位置カ
ウンタ116には書き込みクロックWCLKが供給され、この
クロックWCLKが供給される毎にカウントアップされる。
つまり、この位置カウンタ116のカウント出力は、エラ
ーを検出しようとするトラックのどの位置にあるかを示
すものとなる。
Reference numeral 116 denotes a position counter. This position counter 1
The start signal Sst corresponding to the index signal S IND (shown in FIG. 2A) is supplied to the counter 16 from the local bus 103 as a reset signal of the counter. Further, a write clock WCLK is supplied to the position counter 116, and the position counter 116 is counted up every time the clock WCLK is supplied.
That is, the count output of the position counter 116 indicates the position of the track on which the error is to be detected.

また、エラー検出回路110より出力されるエラーパル
スPmiまたはPexは、シッシング/エクストラエラー書込
制御回路117に供給される。このエラー書込制御回路112
は、例えば再トリガ型のモノマルチバイブレータでもっ
て構成される。このエラー書込制御回路117からは、供
給される最初のエラーパルスで立ち上がり、エラーパル
スが供給されなくなるとき立ち下がるパルスが出力され
(第8図M、第9図Fに図示)、このパルスは書き込み
イネーブル信号EWEとしてミッシング/エクストラエラ
ーメモリ118に供給される。
Further, the error pulse Pmi or Pex output from the error detection circuit 110 is supplied to the sishing / extra error write control circuit 117. This error write control circuit 112
Is constituted by, for example, a retrigger type mono-multi vibrator. The error write control circuit 117 outputs a pulse that rises at the first supplied error pulse and falls when the error pulse is no longer supplied (shown in FIGS. 8M and 9F). It is supplied to the missing / extra error memory 118 as a write enable signal EWE.

このエラーメモリ118には、長さカウンタ115のカウン
ト出力および位置カウンタ116のカウント出力が供給さ
れる。そして、書き込みイネーブル信号EWEの立ち下が
り時点で、それぞれのカウント値(長さデータ、位置デ
ータ)がエラーメモリ118に書き込まれる。なお、長さ
カウンタ115には書き込みイネーブル信号EWEが供給さ
れ、カウント値の書き込み直後にリセットされる。
The count output of the length counter 115 and the count output of the position counter 116 are supplied to the error memory 118. Then, at the time when the write enable signal EWE falls, the respective count values (length data, position data) are written to the error memory 118. The length counter 115 is supplied with the write enable signal EWE, and is reset immediately after the count value is written.

また、エラー書き込み制御回路117からの書き込みイ
ネーブル信号EWEはステータスレジスタ114に供給され、
ステータスレジスタ114はミッシングエラーまたはエク
ストラエラー有りの状態とされる。
The write enable signal EWE from the error write control circuit 117 is supplied to the status register 114,
The status register 114 is in a state where a missing error or an extra error is present.

なお、エラー検出を使用とするトラックの再生が行な
われて、上述したようにエラー検出が終了した後は、MP
U101はステータスレジスタ114の状態を確認し、エラー
有りの状態にあるときには、対応するエラーメモリ11
3、118よりエラー情報を読み出し、エラー状態が、例え
ばモニタ119に表示される。
Note that the track is reproduced using the error detection, and after the error detection is completed as described above, the MP
U101 checks the status of the status register 114, and when the status is in an error state, the corresponding error memory 11
Error information is read out from 3, 118, and the error state is displayed on the monitor 119, for example.

そして、以下上述したと同様にして、順次次のトラッ
クの再生が行なわれ、エラー検出回路110以下の回路で
もってエラー検出が行なわれる。
Then, in the same manner as described above, the reproduction of the next track is sequentially performed, and the error detection is performed by the circuits below the error detection circuit 110.

なお、第3図には、図面の簡単化のため、第1図に示
しているようなエンコーダおよびコントローラ7の間に
存在する信号は示していない。
FIG. 3 does not show signals existing between the encoder and the controller 7 as shown in FIG. 1 for simplification of the drawing.

このように本例において、エラー検出回路110では、N
-MODエラーおよびミッシングエラーを検出する際、ゼロ
クロスパルス発生回路304からのゼロクロスパルスZCKが
使用されてエラーパルスPmiまたはPexが出力される。一
方、再生信号Srがゼロ電圧でゼロクロスパルスZCKが得
られない場合には、書き込みクロックWCLKが使用されて
エラーパルスPmiまたはPexが出力される(第5図および
第8図参照)。つまり、ゼロクロスパルスZCKが得られ
ない場合、従来のようにPLL発振器を用意し、その発振
信号をゼロクロスパルスZCKの代わりに使用するもので
なく、しかも本例で使用される書き込みクロックWCLKは
再生信号Srに同期したものであるので、回路構成を複雑
とすることなく、正確なエラー検出をすることができ、
結果的に磁気ディスク1の欠陥を精度よく検出できる。
Thus, in the present example, the error detection circuit 110 uses N
When detecting a MOD error and a missing error, the zero cross pulse ZCK from the zero cross pulse generation circuit 304 is used to output an error pulse Pmi or Pex. On the other hand, when the reproduction signal Sr has a zero voltage and the zero cross pulse ZCK cannot be obtained, the error pulse Pmi or Pex is output using the write clock WCLK (see FIGS. 5 and 8). In other words, if the zero-cross pulse ZCK cannot be obtained, a PLL oscillator is prepared as in the past, and the oscillation signal is not used in place of the zero-cross pulse ZCK. Since it is synchronized with Sr, accurate error detection can be performed without complicating the circuit configuration,
As a result, a defect of the magnetic disk 1 can be accurately detected.

また本例において、スライスレベル設定回路109で
は、スライスレベルを設定する際、まずV−Fコンバー
タ203に安定な直流電圧V REFを供給すると共にエラー検
出時と同じ回転数で磁気ディスク1を回転させ、アキュ
ムレータ205より1インデックス期間の累積データND RE
F′を得、V−Fコンバータ203に安定な直流電圧V REF
を供給すると共に定められた回転数で磁気ディスク1を
回転させたときのアキュムレータ205の累積データND RE
Fと上述した累積データND REF′との比に応じて、スラ
イスレベルのデータD SLP、D SLN、D SLM、D SLEが補正
される((1)式および第4図参照)。これにより、磁
気ディスク1の回転数が変わって1インデックス期間が
異なり、アキュムレータ205からの累積データND、した
がってD/A変換器206よりD/A変換器207P〜207Eに供給さ
れる基準電圧値が変動しても、トラック平均電圧に対応
した正確なスライスレベル信号PML+〜EXTL−を得るこ
とができる。スライスレベルのデータD SLP、D SLN、D
SLM、D SLEを得るMPU101における演算は、回転数が同じ
であるとすれば、最初の1回だけでよく、各トラックの
エラーを検出する毎に行なう必要がなくなり、エラー検
出の処理速度を速めることができる。つまり、本例にお
いては、1インデックス期間を別個に測定する回路を必
要とすることなく、上述したようにエラー検出の処理速
度を速めることができる。
Further, in this example, when setting the slice level, the slice level setting circuit 109 first supplies a stable DC voltage V REF to the VF converter 203 and rotates the magnetic disk 1 at the same rotation speed as that at the time of error detection. , Accumulator 205 accumulates data for one index period ND RE
F ′ is obtained, and a stable DC voltage V REF is supplied to the VF converter 203.
And the accumulated data ND RE of the accumulator 205 when the magnetic disk 1 is rotated at a predetermined rotation speed.
The slice level data DSLP, DSNL, DSLM and DSLE are corrected in accordance with the ratio between F and the above-described accumulated data NDREF '(see equation (1) and FIG. 4). As a result, the number of rotations of the magnetic disk 1 changes and the one index period changes. Even if it fluctuates, accurate slice level signals PML + to EXTL- corresponding to the track average voltage can be obtained. Slice level data D SLP, D SLN, D
The calculation in the MPU 101 for obtaining the SLM and the D SLE need only be performed once at the beginning if the rotation speed is the same, and it is not necessary to perform the calculation every time an error is detected in each track, thereby increasing the processing speed of error detection. be able to. That is, in this example, as described above, the processing speed of error detection can be increased without requiring a circuit for separately measuring one index period.

なお、上述実施例においては、磁気ディスク(ハー
ド)の欠陥を検出する装置の例を示したものであるが、
フロッピーディスクや磁気テープ等、その他の磁気記録
媒体の欠陥を検査する装置にも、この発明を同様に適用
できることは勿論である。
In the above-described embodiment, an example of an apparatus for detecting a defect of a magnetic disk (hard) has been described.
Of course, the present invention can be similarly applied to an apparatus for inspecting a defect of another magnetic recording medium such as a floppy disk or a magnetic tape.

[発明の効果] 以上説明したように、この発明によれば、ゼロクロス
点の検出信号がない場合には、再生信号に同期した書き
込みクロックが使用されてエラーが検出されるので、回
路構成を複雑とすることなく、正確なエラー検出を行な
うことができ、磁気記録媒体の欠陥を精度よく検出でき
る。
[Effects of the Invention] As described above, according to the present invention, when there is no detection signal of the zero crossing point, an error is detected by using a write clock synchronized with a reproduction signal, so that the circuit configuration is complicated. , It is possible to perform accurate error detection, and it is possible to accurately detect defects in the magnetic recording medium.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

第1図はこの発明の実施例の全体を示す構成図、第2図
はインデックス信号等のタイミングを示す図、第3図は
リード/ライトテスタの構成図、第4図はスライスレベ
ル設定回路の構成図、第5図はエラー検出回路の構成
図、第6図〜第9図は各種エラーの検出動作を示す図、
第10図は再生信号に発生する各種エラーを説明するため
の図である。 1……磁気ディスク 2……磁気ヘッド 5……リード/ライトテスタ 7……エンコーダ 8……コントローラ 101……MPU 108……エンベロープ検出回路 109……スライスレベル設定回路 110……エラー検出回路 201……切換スイッチ 202……電圧/周波数コンバータ 205……アキュムレータ 206,207P,207N,207M,207E……D/A変換器 302P……P-MODエラーパルス発生回路 302N……N-MODエラーパルス発生回路 302M……ミッシングエラーパルス発生回路 302E……エクストラエラーパルス発生回路 304……ゼロクロスパルス発生回路 306……クロックミス回路
FIG. 1 is a block diagram showing the entire embodiment of the present invention, FIG. 2 is a diagram showing the timing of an index signal and the like, FIG. 3 is a block diagram of a read / write tester, and FIG. FIG. 5 is a configuration diagram of an error detection circuit, FIG. 6 to FIG. 9 are diagrams showing various error detection operations,
FIG. 10 is a diagram for explaining various errors that occur in a reproduced signal. DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Magnetic disk 2 ... Magnetic head 5 ... Read / write tester 7 ... Encoder 8 ... Controller 101 ... MPU 108 ... Envelope detection circuit 109 ... Slice level setting circuit 110 ... Error detection circuit 201 ... … Changeover switch 202… Voltage / frequency converter 205… Accumulator 206, 207P, 207N, 207M, 207E… D / A converter 302P… P-MOD error pulse generation circuit 302N… N-MOD error pulse generation circuit 302M …… Missing error pulse generation circuit 302E …… Extra error pulse generation circuit 304 …… Zero cross pulse generation circuit 306 …… Clock miss circuit

Claims (1)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】書き込みクロックに同期して書き込みデー
タが記録された磁気記録媒体からの再生信号よりゼロク
ロス点を検出するゼロクロス検出回路と、 上記再生信号を基準電圧と比較する電圧比較回路と、 上記ゼロクロス検出回路および電圧検出回路の出力信号
に基づいて、上記再生信号のエラーを検出し、上記ゼロ
クロス検出回路で上記再生信号よりゼロクロス点が検出
されないとき、上記ゼロクロス検出回路の出力信号の代
わりに上記書き込みクロックを使用して上記再生信号の
エラーを検出するエラー検出回路とを備えることを特徴
とする磁気記録媒体の欠陥検出装置。
A zero-cross detection circuit for detecting a zero-cross point from a reproduction signal from a magnetic recording medium on which write data is recorded in synchronization with a write clock; a voltage comparison circuit for comparing the reproduction signal with a reference voltage; Based on the output signals of the zero-cross detection circuit and the voltage detection circuit, an error in the reproduction signal is detected. When the zero-cross detection circuit does not detect a zero-cross point from the reproduction signal, An error detection circuit for detecting an error in the reproduction signal using a write clock; and a defect detection device for a magnetic recording medium.
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