JP2696471B2 - Board soldering condition inspection device - Google Patents

Board soldering condition inspection device

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JP2696471B2
JP2696471B2 JP5144347A JP14434793A JP2696471B2 JP 2696471 B2 JP2696471 B2 JP 2696471B2 JP 5144347 A JP5144347 A JP 5144347A JP 14434793 A JP14434793 A JP 14434793A JP 2696471 B2 JP2696471 B2 JP 2696471B2
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田 省 司 蒲
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Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、検査対象物としてのプ
リント基板にX線を照射しその透過X線像を撮影して上
記プリント基板への電子部品の半田付け状態を検査する
基板半田付け状態検査装置に関し、特にX線撮影範囲に
対するプリント基板の検査部位の位置合わせが容易にで
き、またX線検査画像のゆがみを除去することができ、
さらにX線撮像部等の経時変化による画質の劣化を防止
することができる基板半田付け状態検査装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to board soldering for irradiating a printed circuit board as an object to be inspected with X-rays, photographing a transmitted X-ray image thereof, and inspecting a soldering state of electronic components to the printed board. With respect to the condition inspection device, particularly, it is possible to easily align the inspection site of the printed circuit board with respect to the X-ray imaging range, and to remove distortion of the X-ray inspection image.
Prevents deterioration of image quality due to aging of X-ray imaging unit
The present invention relates to an apparatus for inspecting a soldering condition of a substrate.

【0002】[0002]

【従来の技術】最近、プリント基板に対してIC(集積
回路)等の電子部品を実装した際の半田付け状態を検査
するのに、X線を利用する技術が開発されつつある。こ
れは、従来の肉眼による目視検査あるいはテレビカメラ
を用いた画像検査では、実装された電子部品のリード等
についてプリント基板の裏面側については、そのプリン
ト基板の表面側からは観察できない部分が生ずるためで
ある。このような最近開発されているプリント基板検査
装置は、従来の医療用のX線診断装置又は工業用に利用
されているX線透視装置などを改良したものであり、例
えば特開平2-31144号公報に記載されたもの、或いは特
開平3-218408号公報に記載されたもの等がある。
2. Description of the Related Art Recently, a technique using X-rays for inspecting a soldering state when an electronic component such as an IC (integrated circuit) is mounted on a printed circuit board has been developed. This is because, in the conventional visual inspection or image inspection using a television camera, for the leads of the mounted electronic components and the like on the back side of the printed board, there are portions that cannot be observed from the front side of the printed board. It is. Such a recently developed printed circuit board inspection apparatus is an improvement of a conventional medical X-ray diagnostic apparatus or an X-ray fluoroscope used for industrial purposes. There are those described in the gazette and those described in JP-A-3-218408.

【0003】前者の特開平2-31144号公報に記載された
プリント基板検査装置は、両面実装プリント基板へX線
を照射するX線発生手段と、上記両面実装プリント基板
のX線透過画像を生成するX線撮像手段と、上記両面実
装プリント基板の一方の面を光学的に撮像する光学撮像
手段とを備えているが、上記X線撮像手段(イメージイ
ンテンシファイア)も光学撮像手段(光学カメラ)もそ
れぞれ上記両面実装プリント基板の検査のための画像特
徴量を抽出するものであった。従って、特に光学カメラ
については、プリント基板への電子部品の半田付け部を
詳細に高い解像度で撮影するために、その撮影範囲が狭
く設定してあった。
A printed circuit board inspection apparatus described in Japanese Patent Application Laid-Open No. 2-31144 discloses an X-ray generating means for irradiating a double-sided printed circuit board with X-rays, and an X-ray transmission image of the double-sided printed circuit board. X-ray imaging means and an optical imaging means for optically imaging one surface of the double-sided printed circuit board. The X-ray imaging means (image intensifier) is also an optical imaging means (optical camera). ) Also extracts an image feature amount for the inspection of the double-sided printed circuit board. Therefore, especially in the case of an optical camera, the photographing range is set to be narrow in order to photograph the soldered portion of the electronic component on the printed circuit board at high resolution in detail.

【0004】また、後者の特開平3-218408号公報に記載
されたプリント基板検査装置は、検査対象にX線を照射
するX線源と、基板に電子部品のリードを半田付けした
検査対象を位置決めする試料ステージと、上記X線源よ
り照射され基板に斜めに入射するX線による透過画像を
撮影するX線撮像器(イメージインテンシファイア等)
と、このX線撮像器により撮影されるX線透過画像に基
づいて検査対象となる半田付け部の位置を抽出する半田
付け部位置抽出手段とを備えており、上記基板の表面側
と裏面側の検査対象が重ならないように該基板に対する
X線照射方向を傾けて撮影するようになっていた。
A printed circuit board inspection apparatus described in Japanese Patent Application Laid-Open No. 3-218408 discloses an X-ray source for irradiating X-rays to an inspection target and an inspection target in which leads of electronic components are soldered to the substrate. A sample stage to be positioned and an X-ray imager (such as an image intensifier) for capturing a transmission image by X-rays emitted from the X-ray source and obliquely incident on the substrate.
And a soldering part position extracting means for extracting a position of a soldering part to be inspected based on an X-ray transmission image taken by the X-ray imaging device, wherein a front side and a rear side of the substrate are provided. In this case, the X-ray irradiation direction on the substrate is tilted so that the inspection target does not overlap with each other.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】しかし、上記前者の従
来例においては、光学カメラのプリント基板に対する撮
影範囲が検査部位及びその周辺程度に狭く設定してあっ
たので、上記プリント基板の広い範囲にわたっては撮影
できないものであった。従って、光学カメラによる広い
範囲の撮影画像を観察しながらプリント基板の検査部位
に対してX線撮影の範囲を位置合わせすることはほとん
どできなかった。このことから、X線撮影の範囲をプリ
ント基板の所望の検査部位に合わせるのに時間がかか
り、検査効率が低下するものであった。
However, in the former conventional example, since the photographing range of the optical camera with respect to the printed circuit board is set to be narrow to the inspection part and its surrounding area, the optical camera covers a wide area of the printed circuit board. Could not be taken. Therefore, it has been almost impossible to align the X-ray imaging range with respect to the inspection site on the printed circuit board while observing a wide range of images captured by the optical camera. For this reason, it takes time to adjust the range of X-ray imaging to a desired inspection site on the printed circuit board, and the inspection efficiency is reduced.

【0006】また、前記後者の従来例においては、基板
に対するX線照射方向を傾けて撮影するようになってい
たので、基板面からX線撮像器の撮像面までの距離が上
記基板面上の位置によって違うこととなり、特に該基板
面とX線撮像器との距離が遠くなる部分において解像度
が低下すると共に、X線検査画像がゆがむことがあっ
た。従って、電子部品の半田付け状態の検査が正確に行
えないものであった。
Further, in the latter conventional example, since the X-ray irradiating direction with respect to the substrate is used for imaging, the distance from the substrate surface to the imaging surface of the X-ray imaging device is reduced on the substrate surface. This may differ depending on the position, and in particular, the resolution may decrease at a portion where the distance between the substrate surface and the X-ray imaging device is long, and the X-ray inspection image may be distorted. Therefore, the soldering state of the electronic component cannot be accurately inspected.

【0007】さらに、上記いずれの従来例においても、
X線による検査を開始してから終了まで常時X線を照射
し続けており、長時間の検査又は繰り返しの検査によ
り、X線撮像手段(イメージインテンシファイア等)が
劣化することがあり、その経時変化によって、得られる
X線検査画像の画質が劣化することがあった。このこと
からも半田付け状態の検査がしにくくなることがあっ
た。
Further, in any of the above conventional examples,
X-rays are continuously irradiated from the start to the end of the X-ray inspection, and the X-ray imaging means (image intensifier, etc.) may be deteriorated due to long-time inspection or repeated inspection. The image quality of the obtained X-ray inspection image sometimes deteriorated due to a change with time. This may make it difficult to inspect the soldering condition.

【0008】そこで、本発明は、このような問題点に対
処し、X線撮影範囲に対するプリント基板の検査部位の
位置合わせが容易にでき、またX線検査画像のゆがみを
除去することができ、さらにX線撮像部等の経時変化に
よる画質の劣化を防止することができる基板半田付け状
態検査装置を提供することを目的とする。
Accordingly, the present invention has been made to address the above problems, and has made it possible to easily position an inspection portion of a printed circuit board with respect to an X-ray imaging range, and to reduce distortion of an X-ray inspection image.
It can be removed, and furthermore ,
It is an object of the present invention to provide a board soldering state inspection device capable of preventing deterioration of image quality due to the above.

【0009】[0009]

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明による基板半田付け状態検査装置は、上面に
プリント基板を載置し二次元平面内で移動し得るXYテ
ーブルと、上記プリント基板の検査部位にX線を照射す
るX線源と、上記XYテーブルを間に挟んでX線源と対
向配置され上記プリント基板の透過X線像を撮影し電気
信号に変換するX線撮像部と、このX線撮像部からの出
力信号を検査画像として表示する第一の表示器と、上記
XYテーブルの一側面がわに設けられプリント基板の実
装状態を光学的に撮影して電気信号に変換するテレビカ
メラと、このテレビカメラからの出力信号を画像として
表示する第二の表示器とを有し、上記第一の表示器に表
示される検査画像によりプリント基板への電子部品の半
田付け状態を検査する基板半田付け状態検査装置におい
て、上記テレビカメラは、プリント基板の電子部品が搭
載された側にて上記X線撮像部による撮影範囲より広い
範囲を撮影し得るものとし、かつ上記第二の表示器の表
示画像の中にプリント基板に対するX線撮影範囲を表示
する手段を設け、さらに上記X線撮像部を、XYテーブ
ルに平行に設けられ二次元平面内で移動し得るXY駆動
機構に取り付けると共に、このXY駆動機構の移動に対
し一定の割合で上記XYテーブルを同じ方向に同期して
移動させる同期駆動回路を設け、上記X線源によるX線
照射中心より側方にずれた位置にX線撮像部を移動して
もXYテーブル上のプリント基板の同じ検査部位をX線
照射角度を変えて撮影し得るようにしたものである。
In order to achieve the above object, a board soldering state inspection apparatus according to the present invention comprises an XY table on which a printed circuit board is mounted and which can move in a two-dimensional plane; An X-ray source that irradiates an X-ray to an inspection portion of the board; and an X-ray imaging unit that is disposed to face the X-ray source with the XY table interposed therebetween and captures a transmitted X-ray image of the printed board and converts the transmitted X-ray image into an electric signal. A first display for displaying an output signal from the X-ray imaging unit as an inspection image, and an optical image of a mounted state of a printed circuit board provided on one side of the XY table to generate an electric signal. A television camera for conversion, and a second display for displaying an output signal from the television camera as an image, and soldering the electronic component to a printed circuit board according to the inspection image displayed on the first display. Inspect condition In that substrate soldering state inspecting device, the television camera is intended to by the electronic components of the printed circuit board is mounted side may shoot a wide range from the imaging range by the X-ray imaging unit, and the second display Means for displaying the X-ray imaging range for the printed circuit board in the display image of the container, and further comprising an X-ray table
XY drive that is provided parallel to the device and can move in a two-dimensional plane
Attached to the mechanism, the movement of this XY drive mechanism
The XY table is synchronized in the same direction at a fixed rate.
A synchronous drive circuit for moving the X-ray source is provided.
Move the X-ray imaging unit to a position shifted to the side from the irradiation center
X-rays on the same inspection site of the printed circuit board on the XY table
It is possible to change the irradiation angle and take a picture .

【0010】また、前記X線源からのX線の照射領域内
にX線の線量を測定する線量計を設けると共に、この線
量計の出力信号を入力して前記X線撮像部のゲインを調
整する手段を設け、その画像濃度を常に一定とするよう
にしてもよい。
A dosimeter for measuring an X-ray dose is provided in an X-ray irradiation area from the X-ray source, and an output signal of the dosimeter is input to adjust a gain of the X-ray imaging unit. Means may be provided to keep the image density constant.

【0011】さらに、前記X線源とX線撮像部との間
に、該X線撮像部の画像濃度校正用の複数種類の試料を
X線の撮像領域内に進退可能に設けると共に、上記各試
料をX線の撮像領域内に挿入した際に得られる画像のゲ
インとガンマ値を調整する手段を設け、それぞれの試料
に対応する画像の濃度が一定となるように補償するよう
にしてもよい。
Further, between the X-ray source and the X-ray imaging unit, a plurality of types of samples for image density calibration of the X-ray imaging unit are provided so as to be able to advance and retreat in an X-ray imaging region. Means for adjusting a gain and a gamma value of an image obtained when a sample is inserted into an X-ray imaging region may be provided, and compensation may be performed so that the density of an image corresponding to each sample is constant. .

【0012】[0012]

【作用】このように構成された基板半田付け状態検査装
置は、X線撮像部による撮影範囲より広い範囲を撮影し
得るテレビカメラによりプリント基板の電子部品が搭載
された側を撮影し、第二の表示器の表示回路に設けられ
た表示手段により該表示器の表示画像の中に上記プリン
ト基板に対するX線撮影範囲を表示するように動作す
る。これにより、上記テレビカメラによる広い範囲の撮
影画像を観察しながらプリント基板を載置したXYテー
ブルを移動して上記X線撮影範囲内に該プリント基板の
検査部位の位置合わせが容易にでき、撮影位置を容易に
決定することができる。また、前記X線撮像部を、XY
テーブルに平行に設けられ二次元平面内で移動し得るX
Y駆動機構に取り付けると共に、このXY駆動機構の移
動に対し一定の割合で上記XYテーブルを同じ方向に同
期して移動させる同期駆動回路を設けたことにより、上
記X線源によるX線照射中心より側方にずれた位置にX
線撮像部を移動してもXYテーブル上のプリント基板の
同じ検査部位をX線照射角度を変えて撮影することがで
きる。これにより、上記X線撮像部の入射面とプリント
基板との距離を変えることなく該プリント基板等に対す
る透過X線の角度を変えることができ、斜め入射のX線
であっても検査画像のゆがみを除去することができる。
The board soldering state inspection apparatus thus configured takes a picture of the side of the printed circuit board on which the electronic components are mounted by using a television camera capable of photographing a wider range than the photographing range of the X-ray imaging unit. The display means provided in the display circuit of the display device operates to display the X-ray imaging range for the printed circuit board in the display image of the display device. This makes it possible to capture a wide range with the TV camera.
By moving the XY table on which the printed circuit board is mounted while observing the shadow image, it is possible to easily position the inspection site on the printed circuit board within the X-ray imaging range and easily determine the imaging position. Further, the X-ray imaging unit is XY
X provided parallel to the table and movable in a two-dimensional plane
Attach to the Y drive mechanism and move the XY drive mechanism.
Move the XY table in the same direction at a fixed rate
The synchronous drive circuit that moves the
X at a position shifted laterally from the center of X-ray irradiation by the X-ray source
Even if the line imaging unit is moved, the printed circuit board on the XY table
It is possible to image the same inspection site at different X-ray irradiation angles.
Wear. With this, the incident surface of the X-ray imaging unit and the print
The printed circuit board etc. without changing the distance to the board
Obliquely incident X-rays
Even in this case, the distortion of the inspection image can be removed.

【0013】また、前記X線源からのX線の照射領域内
にX線の線量を測定する線量計を設けると共に、この線
量計の出力信号を入力してX線撮像部のゲインを調整す
る手段を設けたものにおいては、得られる画像濃度を常
に一定とすることができる。これにより、X線検査画像
を見易くすることができる。
In addition, a dosimeter for measuring the dose of X-rays is provided in the irradiation area of the X-rays from the X-ray source, and the output signal of the dosimeter is input to adjust the gain of the X-ray imaging unit. In the apparatus provided with the means, the obtained image density can be always kept constant. This makes it easier to see the X-ray inspection image.

【0014】さらに、前記X線源とX線撮像部との間
に、該X線撮像部の画像濃度校正用の複数種類の試料を
X線の撮像領域内に進退可能に設けると共に、上記各試
料をX線の撮像領域内に挿入した際に得られる画像のゲ
インとガンマ値を調整する手段を設けたものにおいて
は、それぞれの試料に対応する画像の濃度が一定となる
ように感度補償することができる。これにより、得られ
る検査画像の精度を高めることができる。
Further, between the X-ray source and the X-ray imaging unit, a plurality of types of samples for image density calibration of the X-ray imaging unit are provided so as to be able to advance and retreat in an X-ray imaging region. In a device provided with means for adjusting the gain and gamma value of an image obtained when a sample is inserted into an X-ray imaging region, sensitivity compensation is performed so that the density of the image corresponding to each sample is constant. be able to. Thereby, the accuracy of the obtained inspection image can be improved.

【0015】[0015]

【実施例】以下、本発明の実施例を添付図面に基づいて
詳細に説明する。図1は本発明による基板半田付け状態
検査装置の実施例を示す全体構成図である。この基板半
田付け状態検査装置は、検査対象物としてのプリント基
板にX線を照射しその透過X線像を撮影して上記プリン
ト基板への電子部品の半田付け状態を検査するもので、
図に示すように、XYテーブル1と、X線源2と、X線
撮像部3と、X線カメラコントローラ4と、第一の表示
器5aと、テレビカメラ6と、表示回路7と、シャッタ
8と、第二の表示器5bとを有し、さらに線量計9と、
校正用試料10と、XY駆動機構11と、同期駆動回路
12とを備えて成る。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Embodiments of the present invention will be described below in detail with reference to the accompanying drawings. FIG. 1 is an overall configuration diagram showing an embodiment of a board soldering state inspection apparatus according to the present invention. This board soldering state inspecting device irradiates a printed board as an inspection object with X-rays, takes a transmission X-ray image thereof, and inspects a soldering state of the electronic component on the printed board.
As shown in the figure, an XY table 1, an X-ray source 2, an X-ray imaging unit 3, an X-ray camera controller 4, a first display 5a, a television camera 6, a display circuit 7, a shutter 8, a second indicator 5b, and further a dosimeter 9;
It comprises a calibration sample 10, an XY drive mechanism 11, and a synchronous drive circuit 12.

【0016】上記XYテーブル1は、その上面に検査対
象物としてのプリント基板13を載置して二次元平面内
でX方向及びY方向に移動し得るもので、中央部には検
査用の開口部14があけられており、従来公知の二次元
方向の移動機構(図示省略)に取り付けられている。X
線源2は、上記XYテーブル1の開口部14に位置合わ
せしてその縁部が載置固定されたプリント基板13の検
査部位にX線を照射するもので、X線管装置から成り、
例えば上記XYテーブル1の下方に設けられている。X
線撮像部3は、上記プリント基板13に照射されたX線
による透過X線像を撮影して電気信号に変換するもの
で、例えば「ビジコン」と呼ばれる高解像度の撮像管か
ら成り、上記XYテーブル1を間に挟んでX線源2と対
向配置されている。そして、第一の表示器5aは、上記
X線撮像部3から出力されたビデオ信号をX線カメラコ
ントローラ4を介して入力し検査画像として表示するも
ので、例えば白黒又はカラーのテレビモニタから成る。
The XY table 1 has a printed circuit board 13 as an object to be inspected mounted thereon and is movable in the X and Y directions in a two-dimensional plane. The part 14 is opened and attached to a conventionally known two-dimensional moving mechanism (not shown). X
The X-ray source 2 irradiates X-rays to the inspection site of the printed circuit board 13 having its edge positioned and fixed to the opening 14 of the XY table 1 and is composed of an X-ray tube device.
For example, it is provided below the XY table 1. X
The line imaging unit 3 captures a transmission X-ray image by X-rays applied to the printed circuit board 13 and converts the image into an electric signal. For example, the line imaging unit 3 includes a high-resolution imaging tube called a “vidicon”, and the XY table It is arranged to face the X-ray source 2 with 1 interposed therebetween. The first display unit 5a receives the video signal output from the X-ray imaging unit 3 via the X-ray camera controller 4 and displays it as an inspection image, and includes, for example, a black and white or color television monitor. .

【0017】また、テレビカメラ6は、上記プリント基
板13への電子部品の実装状態を光学的に撮影して電気
信号に変換するもので、上記XYテーブル1の例えば下
面側に設けられ、光源15の発光により照らし出された
プリント基板13の電子部品が搭載された面を撮影する
ようになっている。そして、第二の表示器5bは、上記
テレビカメラ6から出力されたビデオ信号を表示回路7
を介して入力し画像として表示するもので、例えば白黒
又はカラーのテレビモニタから成る。
The television camera 6 optically captures the mounted state of the electronic components on the printed circuit board 13 and converts it into an electric signal. The television camera 6 is provided, for example, on the lower surface of the XY table 1 and includes a light source 15. The surface on which the electronic components of the printed circuit board 13 are illuminated by the light emission is photographed. The second display 5b displays the video signal output from the television camera 6 on a display circuit 7
And displays the image as an image, for example, a black and white or color television monitor.

【0018】なお、前記X線源2からXYテーブル1上
のプリント基板13に対するX線の照射方向の前方に
は、シャッタ8が設けられている。このシャッタ8は、
上記プリント基板13に対するX線による検査時以外は
閉じてX線源2からのX線の照射を遮るもので、図2に
示すように、X線源2からのX線の照射領域を横断して
開閉可能とされたシャッタ板21を有し、シャッタコン
トローラ22からの駆動信号により上記シャッタ板21
が進退されるようになっている。
Note that a shutter 8 is provided in front of the X-ray irradiation direction from the X-ray source 2 to the printed circuit board 13 on the XY table 1. This shutter 8
It is closed except at the time of X-ray inspection on the printed circuit board 13 and blocks the irradiation of X-rays from the X-ray source 2. As shown in FIG. A shutter plate 21 that can be opened and closed by a shutter controller 22.
Is to be advanced and retreated.

【0019】ここで、本発明においては、上記テレビカ
メラ6は、プリント基板13の電子部品16,16(図
2参照)が搭載された側にて前記X線撮像部3による撮
影範囲より広い範囲を撮影し得るものとされている。す
なわち、前記XYテーブル1の下面側にて下方に所定の
距離だけ離れて設けられており、例えば二つのミラー1
7,17により導かれた光18を入射するようになって
いる。このとき、上記テレビカメラ6のレンズがプリン
ト基板13を見込む角度は、図1に示すように、X線源
2からX線撮像部3に向けて放射されるX線ビーム19
の広がり角度よりも大きくされており、この結果、上記
X線撮像部3による撮影範囲より広い範囲を撮影できる
こととなる。さらに、表示回路7の内部には、上記第二
の表示器5bの表示画像の中にプリント基板13に対す
るX線撮影範囲を表示する手段が設けられている。これ
により、図2に示すように、第二の表示器5bの画面に
は、プリント基板13に電子部品16,16が実装され
た状態の画像16′,16′と共に、X線撮影範囲を示
す枠20が表示されることとなる。なお、この枠20
は、実線又は破線による表示に限らず、上記枠20内に
相当する部分の画像の輝度又は色調をそれ以外の部分と
変えて表示するようにしてもよい。
Here, in the present invention, the television camera 6 has a wider area than the X-ray imaging section 3 on the side of the printed circuit board 13 on which the electronic components 16 and 16 (see FIG. 2) are mounted. Can be taken. That is, the XY table 1 is provided at a lower side of the lower surface of the XY table 1 and separated by a predetermined distance.
Light 18 guided by 7 and 17 is incident. At this time, the angle at which the lens of the television camera 6 looks at the printed circuit board 13 is determined by the X-ray beam 19 emitted from the X-ray source 2 toward the X-ray imaging unit 3 as shown in FIG.
Is larger than the spread angle of the X-ray imaging unit 3, and as a result, it is possible to image a wider range than the imaging range of the X-ray imaging unit 3. Further, inside the display circuit 7, there is provided means for displaying the X-ray imaging range for the printed circuit board 13 in the display image of the second display 5b. As a result, as shown in FIG. 2, the screen of the second display 5b shows the X-ray imaging range together with the images 16 'and 16' in a state where the electronic components 16 and 16 are mounted on the printed circuit board 13. A frame 20 will be displayed. Note that this frame 20
Is not limited to the display using the solid line or the dashed line, and the brightness or color tone of the image corresponding to the portion within the frame 20 may be changed and displayed in other portions.

【0020】また、本発明においては、前記X線撮像部
3は、XY駆動機構11に取り付けられており、このX
Y駆動機構11と前記XYテーブル1との間には同期駆
動回路12が設けられている。上記XY駆動機構11
は、図6に示すように、X線撮像部3を二次元平面内で
X方向及びY方向に移動させるもので、XYテーブル1
に平行に設けられ、従来公知の二次元方向の移動機構か
ら成る。そして、同期駆動回路12は、上記XY駆動機
構11の移動に対し一定の割合でXYテーブル1を同じ
方向に同期して移動させるもので、それぞれの駆動部
(図示省略)に対して同期信号を送出するようになって
いる。これは、X線撮像部3としてビジコン等の高解像
度の撮像管を用いた場合は、上記X線撮像部3の入射面
をなるべくプリント基板13に接近させる必要がある
が、該X線撮像部3の入射面とプリント基板13との距
離を変えることなくそのプリント基板13や搭載電子部
品への透過X線の角度を変えるようにするため、X線撮
像部3の入射面がプリント基板13の板面と平行を保っ
たまま二次元平面内で任意に移動できるようにするため
である。
Further , in the present invention, the X-ray imaging section
3 is attached to the XY drive mechanism 11, and this X
A synchronous drive is provided between the Y drive mechanism 11 and the XY table 1.
A motion circuit 12 is provided. XY drive mechanism 11
Moves the X-ray imaging unit 3 in a two-dimensional plane as shown in FIG.
The XY table 1 is moved in the X and Y directions.
Provided in parallel with the conventional two-dimensional moving mechanism.
Consisting of Then, the synchronous drive circuit 12 includes the XY drive device.
The XY table 1 is the same at a fixed rate for the movement of the structure 11.
It moves in synchronization with the direction, and each drive unit
(Not shown)
I have. This means that the X-ray imaging unit 3 has a high resolution
When an image pickup tube of a degree is used, the incident surface of the X-ray image pickup unit 3
Must be as close as possible to the printed circuit board 13
Is the distance between the incident surface of the X-ray imaging unit 3 and the printed circuit board 13.
The printed circuit board 13 and the mounting electronics without changing the separation
X-ray photography to change the angle of transmitted X-rays to the product
The incident surface of the image unit 3 is kept parallel to the plate surface of the printed circuit board 13.
To be able to move freely in a two-dimensional plane
It is.

【0021】この場合の同期駆動回路12による移動制
御は次のようになる。いま、X方向の移動制御をすると
して、X線源2のX線放射の焦点からXYテーブル1の
上面までの距離をL 1 ,X線撮像部3の入射面までの距
離をL 2 とし、上記X線源2によるX線照射中心からの
プリント基板13のX方向の移動距離をx 1 ,X線撮像
部3のX方向の移動距離をx 2 とすると、これらの間に
次の関係が成立するように制御する。 2 :x 1 =L 2 :L 1 これにより、移動前も移動後もプリント基板13上の同
じ検査部位を撮影することができる。
The movement control by the synchronous drive circuit 12 in this case
You are as follows. Now, if you control the movement in the X direction,
Then, from the focal point of the X-ray radiation of the X-ray source 2,
The distance to the upper surface is L 1 , and the distance to the incident surface of the X-ray imaging unit 3 is L 1 .
Let L 2 be the distance from the center of X-ray irradiation by X-ray source 2
The movement distance in the X direction of the printed board 13 x 1, X-ray imaging
The X-direction moving distance of the parts 3 When x 2, between these
Control is performed so that the following relationship is established. x 2 : x 1 = L 2 : L 1 As a result, the same on the printed circuit board 13 before and after the movement.
It is possible to photograph the inspection site.

【0022】この状態で、図7に示すように、プリント
基板13に実装された電子部品16のリード24の半田
付け状態を検査するのに、X線の透過経路25がプリン
ト基板13に対して垂直な場合は、上記リード24の立
上り部によるX線吸収が大きくなるので、該リード24
下部の半田27の接着状態はよくわからない。しかし、
図6においてプリント基板13及びX線撮像部3を例え
ば左側方にそれぞれx 1 ,x 2 だけ移動すると、図7に示
すように、X線の透過経路26がプリント基板13に対
して斜めに傾くこととなり、この場合はリード24をX
線が透過する距離が短くなって該リード24によるX線
吸収が小さくなり、そのリード24下部の半田27の接
着状態をよく観察することができる。
In this state, as shown in FIG.
Soldering of the leads 24 of the electronic component 16 mounted on the substrate 13
The X-ray transmission path 25 is
If the lead 24 is perpendicular to the
Since the X-ray absorption by the rising portion becomes large, the lead 24
The adhesion state of the lower solder 27 is not clearly understood. But,
In FIG. 6, the printed circuit board 13 and the X-ray imaging unit 3 are exemplified.
Respectively on the left side when moved by x 1, x 2 if, shown in Figure 7
As shown in FIG.
In this case, and in this case, the lead 24 is
X-rays from the lead 24 are reduced due to the reduced distance
The absorption is reduced, and the contact of the solder 27 under the lead 24 is reduced.
The wearing state can be observed well.

【0023】また、前記X線源2からのX線の照射領域
内には、線量計9が設けられている。この線量計9は、
図3に示すように、X線源2からプリント基板13に向
けて照射されるX線の線量を測定するもので、例えば電
離箱又は計数管などから成り、そのセンサ部分がX線の
照射領域内に達している。そして、X線カメラコントロ
ーラ4の内部には、上記線量計9から出力される測定信
号を入力して前記X線撮像部3からの画像のゲインを調
整する手段が設けられている。この場合、上記線量計9
は、X線源2の発生X線量を測定してそのX線量に応じ
た出力信号をX線カメラコントローラ4に送る。する
と、このX線カメラコントローラ4は、上記線量計9か
ら入力した測定結果に応じて、X線撮像部3の画像のゲ
インを調整する。すなわち、X線源2からの発生X線量
が少ない場合はゲインを高め、発生X線量が多い場合は
ゲインを低めるようにする。これにより、上記X線撮像
部3で撮影され第一の表示器5aに表示される検査画像
の濃度が常に一定となるように制御される。
A dosimeter 9 is provided in an irradiation area of the X-ray from the X-ray source 2. This dosimeter 9
As shown in FIG. 3, the X-ray source 2 measures the dose of X-rays emitted from the X-ray source 2 toward the printed circuit board 13 and includes, for example, an ionization chamber or a counter tube. Has reached within. Further, inside the X-ray camera controller 4, there is provided means for inputting the measurement signal output from the dosimeter 9 and adjusting the gain of the image from the X-ray imaging unit 3. In this case, the dosimeter 9
Measures the generated X-ray dose of the X-ray source 2 and sends an output signal corresponding to the X-ray dose to the X-ray camera controller 4. Then, the X-ray camera controller 4 adjusts the gain of the image of the X-ray imaging unit 3 according to the measurement result input from the dosimeter 9. That is, the gain is increased when the amount of generated X-ray from the X-ray source 2 is small, and the gain is reduced when the amount of generated X-ray is large. As a result, control is performed so that the density of the inspection image captured by the X-ray imaging unit 3 and displayed on the first display unit 5a is always constant.

【0024】さらに、前記X線源2とX線撮像部3との
間には、図4に示すように、校正用試料10が設けられ
ている。この校正用試料10は、上記X線撮像部3の感
度が経時変化により低下するので、この感度低下を補償
するために画像の濃度を校正するためのもので、図5に
示すように、例えばX線吸収係数が一定で板厚がt1
2,t3,t4,t5(t1>t2>t3>t4>t5)のよ
うに順次変化する板材から成り、駆動部23によりX線
の撮像領域内に進退可能に設けられている。そして、X
線カメラコントローラ4の内部には、上記の校正用試料
10をX線の撮像領域内に挿入した際に得られる画像の
ゲインとガンマ値を調整する手段が設けられている。
Further, a calibration sample 10 is provided between the X-ray source 2 and the X-ray imaging unit 3, as shown in FIG. Since the sensitivity of the X-ray imaging unit 3 decreases with time, the calibration sample 10 is used to calibrate the density of an image to compensate for the decrease in sensitivity. For example, as shown in FIG. X-ray absorption coefficient is constant and plate thickness is t 1 ,
It is made of a plate material which changes sequentially as t 2 , t 3 , t 4 , t 5 (t 1 > t 2 > t 3 > t 4 > t 5 ), and can be moved into and out of the X-ray imaging area by the drive unit 23. It is provided in. And X
Inside the X-ray camera controller 4, means for adjusting the gain and the gamma value of an image obtained when the calibration sample 10 is inserted into the X-ray imaging region is provided.

【0025】この場合、まず、上記駆動部23により校
正用試料10をX線撮像部3の撮像領域内に進め、その
入射面の前方に位置させる。次に、XYテーブル1上に
は何も載せない状態でX線源2からX線を放射し、上記
校正用試料10を透過したX線像をX線撮像部3で撮影
する。このとき、線量計9でX線源2の発生X線量を測
定してその信号をX線カメラコントローラ4に送る。す
ると、X線カメラコントローラ4は、上記X線撮像部3
及び線量計9からの信号を入力して、上記校正用試料1
0のそれぞれの板厚t1〜t5と画像上の輝度の変化との
関係を初期値として記録しておく。その後、適宜の時間
間隔で上記の校正用試料10を用いて、その板厚と画像
上の輝度変化との関係が上記の初期値と等しくなるよう
にX線カメラコントローラ4のゲインとガンマ値を調整
すればよい。これにより、X線撮像部3が経時変化によ
り感度低下するのを補償することができる。
In this case, first, the calibration sample 10 is advanced into the imaging region of the X-ray imaging unit 3 by the driving unit 23, and is positioned in front of the incident surface. Next, X-rays are emitted from the X-ray source 2 with nothing placed on the XY table 1, and an X-ray image transmitted through the calibration sample 10 is captured by the X-ray imaging unit 3. At this time, the dosimeter 9 measures the generated X-ray dose from the X-ray source 2 and sends the signal to the X-ray camera controller 4. Then, the X-ray camera controller 4 controls the X-ray imaging unit 3
And the signal from the dosimeter 9 are input to the calibration sample 1
The relationship between the brightness change on each plate thickness t 1 ~t 5 and the image of 0 is recorded as the initial value. Thereafter, the gain and the gamma value of the X-ray camera controller 4 are adjusted using the calibration sample 10 at appropriate time intervals so that the relationship between the plate thickness and the luminance change on the image becomes equal to the initial value. Adjust it. Thereby, it is possible to compensate for a decrease in sensitivity of the X-ray imaging unit 3 due to a temporal change.

【0026】なお、上記校正用試料10は、駆動部23
により進退可能とされたシャッタのような形式として示
したが、これに限らず、例えばXYテーブル1の適当な
箇所に試料となる板材を取り付けておき校正時にはこの
板材を撮影するようにしてもよいし、或いはプリント基
板13自体を校正用の板材として校正のための初期値を
求めるようにしてもよい。
Note that the calibration sample 10 is
However, the present invention is not limited to this. For example, a plate serving as a sample may be attached to an appropriate portion of the XY table 1, and the plate may be photographed during calibration. Alternatively, the printed circuit board 13 itself may be used as a plate material for calibration to determine an initial value for calibration.

【0027】次に、このように構成された基板半田付け
状態検査装置の全体的な動作について説明する。まず、
プリント基板13の検査に先立って、図4に示すよう
に、XYテーブル1上にプリント基板13を載せること
なく、校正用試料10をX線撮像部3の撮像領域内にセ
ットし、X線源2からX線を放射して上記校正用試料1
0を撮影する。そして、X線カメラコントローラ4によ
り、X線撮像部3及び線量計9からの信号を入力して、
上記校正用試料10を用いた場合の輝度変化の状態を初
期値として記録しておく。
Next, the overall operation of the thus-configured board soldering state inspection apparatus will be described. First,
Prior to the inspection of the printed circuit board 13, the calibration sample 10 is set in the imaging area of the X-ray imaging unit 3 without placing the printed circuit board 13 on the XY table 1, as shown in FIG. X-rays are radiated from 2 and the calibration sample 1
Shoot 0. Then, the signals from the X-ray imaging unit 3 and the dosimeter 9 are input by the X-ray camera controller 4,
The state of the luminance change when the calibration sample 10 is used is recorded as an initial value.

【0028】この状態で、図1において、XYテーブル
1上にプリント基板13を載置固定する。このとき、上
記プリント基板13に実装された電子部品16がテレビ
カメラ6の設置してある側に向くようにする。次に、光
源15の点灯により光を上記プリント基板13に照射
し、この基板面からの光をミラー17,17で導いてテ
レビカメラ6で撮影し、図2に示すように、電子部品1
6の実装された面の画像を第二の表示器5bに表示す
る。このとき、上記第二の表示器5bの画面には、同時
にX線撮影範囲を示す枠20が表示される。そこで、操
作者は、この表示器5bの画面を見ながらXYテーブル
1を移動操作し、図2に示す第二の表示器5bの枠20
内にプリント基板13の検査部位、すなわち目的とする
電子部品16のリード24の周辺の画像が位置するよう
にセットする。これにより、所望の検査部位がX線撮像
部3による撮影範囲内に正しく位置合わせされる。な
お、この検査部位の位置合わせのときは、図2に示すよ
うにシャッタ板21を進出させてシャッタ8が閉じられ
ている。従って、X線源2から放射されているX線は上
記シャッタ8により遮られ、プリント基板13及びX線
撮像部3には照射されない。このことから、X線撮像部
3の劣化を防止することができる。
In this state, the printed circuit board 13 is placed and fixed on the XY table 1 in FIG. At this time, the electronic component 16 mounted on the printed circuit board 13 faces the side where the television camera 6 is installed. Next, light is applied to the printed circuit board 13 by turning on the light source 15, and light from this board surface is guided by mirrors 17, 17 and photographed by the television camera 6, and as shown in FIG.
6 is displayed on the second display 5b. At this time, a frame 20 indicating the X-ray imaging range is simultaneously displayed on the screen of the second display 5b. Then, the operator moves the XY table 1 while looking at the screen of the display 5b, and moves the frame 20 of the second display 5b shown in FIG.
It is set so that an image around the inspection site of the printed circuit board 13, that is, the periphery of the lead 24 of the target electronic component 16 is located in the inside. As a result, the desired examination site is correctly positioned within the imaging range of the X-ray imaging unit 3. At the time of positioning of the inspection site, the shutter plate 21 is advanced and the shutter 8 is closed as shown in FIG. Therefore, the X-rays radiated from the X-ray source 2 are blocked by the shutter 8 and are not irradiated on the printed circuit board 13 and the X-ray imaging unit 3. From this, it is possible to prevent the X-ray imaging unit 3 from deteriorating.

【0029】その後、シャッタ板21を後退させて上記
シャッタ8を開く。すると、図1に示すように、X線源
2から放射されているX線がプリント基板13に照射さ
れ、そのX線透過像がX線撮像部3で撮影されて第一の
表示器5aに検査画像が表示される。そして、この第一
の表示器5aに表示されるX線検査画像を観察して、上
記プリント基板13への電子部品16の半田付け状態が
良好か否か検査する。このとき、図7に示すように、電
子部品16のリード24の立上り部とX線の照射方向が
重なって接着状態がよくわからない場合は、図6に示す
ようにX線撮像部3とプリント基板13とを同期して移
動させ、X線の透過経路26を斜めに傾けるとよい。
の場合、単に同期駆動回路12に対しXY駆動機構11
とXYテーブル1との同期移動を指令するだけで、上記
両者が一定の割合で同じ方向に同 期して移動することと
なり、プリント基板13の同じ検査部位を容易かつ迅速
にX線照射中心より側方にずれた位置に移動させること
ができる。従って、プリント基板13の同じ検査部位を
X線照射角度を変えて撮影する際の移動操作が容易であ
る。なお、上記のようにX線撮像部3とプリント基板1
3とを同期して移動させるときは、図2に示すようにシ
ャッタ板21を進出させてシャッタ8を閉じておく。移
動が終ったら、上記シャッタ8を開いて検査を再開す
る。
Thereafter, the shutter 8 is opened by retracting the shutter plate 21. Then, as shown in FIG. 1, the X-ray radiated from the X-ray source 2 is irradiated on the printed circuit board 13, and the X-ray transmission image is captured by the X-ray imaging unit 3 and is displayed on the first display 5 a. The inspection image is displayed. Then, by observing the X-ray inspection image displayed on the first display 5a, it is inspected whether the soldering state of the electronic component 16 to the printed board 13 is good. At this time, as shown in FIG. 7, when the rising portion of the lead 24 of the electronic component 16 and the irradiation direction of the X-ray overlap and the adhesion state is not well understood, as shown in FIG. 13 may be moved in synchronization with each other, and the X-ray transmission path 26 may be inclined obliquely. This
, The XY driving mechanism 11 is simply
Only by instructing the synchronous movement between the
And that both are moved synchronously in the same direction at a constant rate
The same inspection site on the printed circuit board 13 easily and quickly
To a position shifted laterally from the X-ray irradiation center
Can be. Therefore, the same inspection site on the printed circuit board 13
Moving operation when changing the X-ray irradiation angle is easy.
You. Note that, as described above, the X-ray imaging unit 3 and the printed circuit board 1
When the shutter 3 is moved in synchronization with the shutter 3, the shutter plate 21 is advanced to close the shutter 8 as shown in FIG. When the movement is completed, the shutter 8 is opened to restart the inspection.

【0030】上記の動作により、プリント基板13への
電子部品16の半田付け状態が検査されるが、適宜の使
用間隔又は時間間隔ごとに図4に示す校正用試料10を
用いて、X線撮像部3が経時変化により感度低下するの
を補償すればよい。
By the above operation, the soldering state of the electronic component 16 to the printed circuit board 13 is inspected. At appropriate use intervals or time intervals, X-ray imaging is performed using the calibration sample 10 shown in FIG. What is necessary is just to compensate for the decrease in sensitivity of the unit 3 due to the aging.

【0031】[0031]

【発明の効果】本発明は以上のように構成されたので、
X線撮像部による撮影範囲より広い範囲を撮影し得るテ
レビカメラによりプリント基板の電子部品が搭載された
側を撮影し、第二の表示器の表示回路に設けられた表示
手段により該表示器の表示画像の中に上記プリント基板
に対するX線撮影範囲を表示することができる。これに
より、上記テレビカメラによる広い範囲の撮影画像を観
察しながらプリント基板を載置したXYテーブルを移動
して上記X線撮影範囲内に該プリント基板の検査部位
位置合わせが容易にでき、撮影位置を容易に決定するこ
とができる。また、前記X線撮像部を、XYテーブルに
平行に設けられ二次元平面内で移動し得るXY駆動機構
に取り付けると共に、このXY駆動機構の移動に対し一
定の割合で上記XYテーブルを同じ方向に同期して移動
させる同期駆動回路を設けたので、上記X線源によるX
線照射中心より側方にずれた位置にX線撮像部を移動し
てもXYテーブル上のプリント基板の同じ検査部位をX
線照射角度を変えて撮影することができる。これによ
り、上記X線撮像部の入射面とプリント基板との距離を
変えることなく該プリント基板等に対する透過X線の角
度を変えることができ、斜め入射のX線であっても検査
画像のゆがみを除去することができる。このとき、単に
上記同期駆動回路に対しXY駆動機構とXYテーブルと
の同期移動を指令するだけで、上記両者が一定の割合で
同じ方向に同期して移動することとなり、 プリント基板
の同じ検査部位を容易かつ迅速にX線照射中心より側方
にずれた位置に移動させることができる。従って、プリ
ント基板の同じ検査部位をX線照射角度を変えて撮影す
る際の移動操作が容易である。
The present invention has been configured as described above.
The side on which the electronic components are mounted of the printed circuit board is photographed by a television camera capable of photographing a wider area than the photographing range by the X-ray imaging unit, and the display means of the second display is provided with a display circuit provided in a display circuit. The X-ray imaging range for the printed circuit board can be displayed in the display image. This allows a wide range of images captured by the TV camera to be viewed.
The XY table on which the printed circuit board is placed is moved while observing the position of the inspection site of the printed circuit board within the X-ray imaging range.
Positioning can be easily performed, and the photographing position can be easily determined. Further, the X-ray imaging unit is stored in an XY table.
XY drive mechanism provided in parallel and movable in a two-dimensional plane
And the movement of the XY drive mechanism.
The XY table is moved synchronously in the same direction at a fixed rate
Since a synchronous drive circuit is provided for the X-ray source,
Move the X-ray imaging unit to a position shifted laterally from the
Even if the same inspection site on the printed circuit board on the XY table
It is possible to change the beam irradiation angle and shoot. This
The distance between the incident surface of the X-ray imaging unit and the printed circuit board.
The angle of the transmitted X-ray to the printed circuit board etc. without changing
Inspection of obliquely incident X-rays with variable degrees
Image distortion can be removed. At this time, simply
An XY drive mechanism and an XY table for the synchronous drive circuit
Only by instructing synchronous movement of
Will be moved synchronously in the same direction, the printed circuit board
Easily and quickly on the same inspection site from the X-ray irradiation center
Can be moved to a position shifted. Therefore,
Of the same inspection site on the printed circuit board with different X-ray irradiation angles
Is easy to move.

【0032】また、前記X線源からのX線の照射領域内
にX線の線量を測定する線量計を設けると共に、この線
量計の出力信号を入力してX線撮像部のゲインを調整す
る手段を設けたものにおいては、得られる画像濃度を常
に一定とすることができる。これにより、X線検査画像
を見易くすることができる。
Further, a dosimeter for measuring the dose of X-rays is provided in the irradiation area of the X-rays from the X-ray source, and the output signal of the dosimeter is inputted to adjust the gain of the X-ray imaging unit. In the apparatus provided with the means, the obtained image density can be always kept constant. This makes it easier to see the X-ray inspection image.

【0033】さらに、前記X線源とX線撮像部との間
に、該X線撮像部の画像濃度校正用の複数種類の試料を
X線の撮像領域内に進退可能に設けると共に、上記各試
料をX線の撮像領域内に挿入した際に得られる画像のゲ
インとガンマ値を調整する手段を設けたものにおいて
は、それぞれの試料に対応する画像の濃度が一定となる
ように感度補償することができる。これにより、得られ
る検査画像の精度を高めることができる。
Further, between the X-ray source and the X-ray imaging unit, a plurality of types of samples for image density calibration of the X-ray imaging unit are provided so as to be able to advance and retreat in an X-ray imaging region. In a device provided with means for adjusting the gain and gamma value of an image obtained when a sample is inserted into an X-ray imaging region, sensitivity compensation is performed so that the density of the image corresponding to each sample is constant. be able to. Thereby, the accuracy of the obtained inspection image can be improved.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明による基板半田付け状態検査装置の実施
例を示す全体構成図である。
FIG. 1 is an overall configuration diagram showing an embodiment of a board soldering state inspection apparatus according to the present invention.

【図2】テレビカメラの動作及びその画像を説明するた
めの図である。
FIG. 2 is a diagram for explaining an operation of a television camera and an image thereof.

【図3】線量計の動作を説明するための図である。FIG. 3 is a diagram for explaining the operation of the dosimeter.

【図4】校正用試料の動作を説明するための図である。FIG. 4 is a diagram for explaining the operation of a calibration sample.

【図5】上記校正用試料の形状を示す説明図である。FIG. 5 is an explanatory view showing the shape of the calibration sample.

【図6】XYテーブルとXY駆動機構の動作を説明する
ための図である。
FIG. 6 is a diagram for explaining the operation of an XY table and an XY drive mechanism.

【図7】プリント基板に実装された電子部品のリードに
対するX線の透過経路の変化を示す説明図である。
FIG. 7 is an explanatory diagram showing a change in an X-ray transmission path with respect to a lead of an electronic component mounted on a printed board.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1…XYテーブル 2…X線源 3…X線撮像部 4…X線カメラコントローラ 5a,5b…表示器 6…テレビカメラ 7…表示回路 9…線量計 10…校正用試料 11…XY駆動機構 12…同期駆動回路 13…プリント基板 16…電子部品 20…枠 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... XY table 2 ... X-ray source 3 ... X-ray imaging part 4 ... X-ray camera controller 5a, 5b ... Display 6 ... TV camera 7 ... Display circuit 9 ... Dosimeter 10 ... Calibration sample 11 ... XY drive mechanism 12 ... Synchronous drive circuit 13 ... Printed circuit board 16 ... Electronic components 20 ... Frame

Claims (3)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 上面にプリント基板を載置し二次元平面
内で移動し得るXYテーブルと、上記プリント基板の検
査部位にX線を照射するX線源と、上記XYテーブルを
間に挟んでX線源と対向配置され上記プリント基板の透
過X線像を撮影し電気信号に変換するX線撮像部と、こ
のX線撮像部からの出力信号を検査画像として表示する
第一の表示器と、上記XYテーブルの一側面がわに設け
られプリント基板の実装状態を光学的に撮影して電気信
号に変換するテレビカメラと、このテレビカメラからの
出力信号を画像として表示する第二の表示器とを有し、
上記第一の表示器に表示される検査画像によりプリント
基板への電子部品の半田付け状態を検査する基板半田付
け状態検査装置において、上記テレビカメラは、プリン
ト基板の電子部品が搭載された側にて上記X線撮像部に
よる撮影範囲より広い範囲を撮影し得るものとし、かつ
上記第二の表示器の表示画像の中にプリント基板に対す
るX線撮影範囲を表示する手段を設け、さらに上記X線
撮像部を、XYテーブルに平行に設けられ二次元平面内
で移動し得るXY駆動機構に取り付けると共に、このX
Y駆動機構の移動に対し一定の割合で上記XYテーブル
を同じ方向に同期して移動させる同期駆動回路を設け、
上記X線源によるX線照射中心より側方にずれた位置に
X線撮像部を移動してもXYテーブル上のプリント基板
の同じ検査部位をX線照射角度を変えて撮影し得るよう
にしたことを特徴とする基板半田付け状態検査装置。
1. An XY table on which a printed circuit board is mounted and movable in a two-dimensional plane on an upper surface, an X-ray source for irradiating an inspection portion of the printed circuit board with X-rays, and the XY table interposed therebetween. An X-ray imaging unit that is arranged to face the X-ray source and captures a transmitted X-ray image of the printed circuit board and converts it into an electric signal; and a first display that displays an output signal from the X-ray imaging unit as an inspection image. A television camera provided on one side of the XY table for optically photographing the mounting state of the printed circuit board and converting the photographed state into an electric signal, and a second display for displaying an output signal from the television camera as an image And
In the board soldering state inspection device for inspecting the soldering state of the electronic component to the printed board by the inspection image displayed on the first display, the television camera is mounted on the side of the printed board on which the electronic component is mounted. Means for capturing an image of a wider area than the imaging range of the X-ray imaging unit, and means for displaying an X-ray imaging range for a printed circuit board in a display image of the second display , Further X-ray
The imaging unit is provided in parallel with the XY table and is in a two-dimensional plane.
Attached to an XY drive mechanism that can move
The XY table at a fixed rate with respect to the movement of the Y drive mechanism
A synchronous drive circuit for synchronously moving in the same direction,
At a position shifted laterally from the center of X-ray irradiation by the X-ray source
Printed circuit board on XY table even when moving X-ray imaging unit
To change the X-ray irradiation angle for the same examination site
Board soldering condition inspection apparatus being characterized in that the.
【請求項2】 前記X線源からのX線の照射領域内にX
線の線量を測定する線量計を設けると共に、この線量計
の出力信号を入力して前記X線撮像部のゲインを調整す
る手段を設け、その画像濃度を常に一定とするようにし
たことを特徴とする請求項1記載の基板半田付け状態検
査装置。
2. An X-ray irradiating area in the X-ray irradiation area from the X-ray source.
A dosimeter for measuring the dose of the radiation is provided, and a means for inputting an output signal of the dosimeter and adjusting the gain of the X-ray imaging unit is provided so that the image density is always constant. The board soldering state inspection device according to claim 1, wherein
【請求項3】 前記X線源とX線撮像部との間に、該X
線撮像部の画像濃度校正用の複数種類の試料をX線の撮
像領域内に進退可能に設けると共に、上記各試料をX線
の撮像領域内に挿入した際に得られる画像のゲインとガ
ンマ値を調整する手段を設け、それぞれの試料に対応す
る画像の濃度が一定となるように補償するようにしたこ
とを特徴とする請求項1又は2記載の基板半田付け状態
検査装置。
3. The X-ray source between the X-ray source and the X-ray imaging unit.
A plurality of types of samples for image density calibration of the X-ray imaging unit are provided so as to be able to advance and retreat in the X-ray imaging region, and the gain and gamma value of an image obtained when each of the samples is inserted into the X-ray imaging region. 3. A board soldering state inspection apparatus according to claim 1, further comprising means for adjusting the image density, and compensating the density of an image corresponding to each sample to be constant.
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004163279A (en) * 2002-11-13 2004-06-10 Toshiba It & Control Systems Corp X-ray fluoroscopy system, and calibration method therefor
JP2004340631A (en) * 2003-05-13 2004-12-02 Sony Corp Substrate inspection device
JP2007178229A (en) * 2005-12-27 2007-07-12 Shimadzu Corp X-ray inspection device

Families Citing this family (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001281170A (en) * 2000-03-29 2001-10-10 Nagoya Electric Works Co Ltd Visual field moving method
JP2003156454A (en) * 2001-11-26 2003-05-30 Matsushita Electric Ind Co Ltd X-ray inspection device and controlling method and adjusting method of the same
JP4123373B2 (en) * 2003-12-24 2008-07-23 株式会社島津製作所 X-ray fluoroscope
JP2007192598A (en) * 2006-01-17 2007-08-02 Saki Corp:Kk Device for inspecting object to be inspected
JP4665774B2 (en) * 2006-01-23 2011-04-06 株式会社島津製作所 X-ray inspection equipment
FR2919396B1 (en) * 2007-07-27 2010-08-20 Clara Vision HOUSING AND SHOOTING SYSTEM, IN PARTICULAR FOR THE QUALITY CONTROL OF WELD CORD.
JP5647504B2 (en) * 2010-12-09 2014-12-24 ヤマハ発動機株式会社 Image processing apparatus, inspection apparatus, measurement apparatus, image processing method, measurement method
JP6030833B2 (en) * 2011-12-14 2016-11-24 ヤマハ発動機株式会社 X-ray inspection equipment
JP5863547B2 (en) 2012-04-20 2016-02-16 ヤマハ発動機株式会社 Printed circuit board inspection equipment
JP5950100B2 (en) * 2012-06-11 2016-07-13 株式会社島津製作所 X-ray inspection equipment
JP2014190702A (en) * 2013-03-26 2014-10-06 Nec Corp Inspection device, inspection method, and inspection program

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2539496B2 (en) * 1988-07-21 1996-10-02 三菱電機株式会社 Printed circuit board inspection equipment

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004163279A (en) * 2002-11-13 2004-06-10 Toshiba It & Control Systems Corp X-ray fluoroscopy system, and calibration method therefor
JP2004340631A (en) * 2003-05-13 2004-12-02 Sony Corp Substrate inspection device
JP2007178229A (en) * 2005-12-27 2007-07-12 Shimadzu Corp X-ray inspection device
JP4577214B2 (en) * 2005-12-27 2010-11-10 株式会社島津製作所 X-ray inspection equipment

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