JP2695754B2 - Air filter leak inspection method - Google Patents

Air filter leak inspection method

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JP2695754B2
JP2695754B2 JP6271359A JP27135994A JP2695754B2 JP 2695754 B2 JP2695754 B2 JP 2695754B2 JP 6271359 A JP6271359 A JP 6271359A JP 27135994 A JP27135994 A JP 27135994A JP 2695754 B2 JP2695754 B2 JP 2695754B2
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  • Filtering Of Dispersed Particles In Gases (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、リーク検査用エアロゾ
ル粒子としてシリカ粒子を用いたエアーフィルタのリー
ク検査方法に関し、さらに詳しくはHEPAフィルタ、
ULPAフィルタ等の超高性能エアーフィルタのリーク
の有無を検査するための方法に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an air filter leak inspection method using silica particles as aerosol particles for leak inspection, and more particularly to a HEPA filter,
The present invention relates to a method for inspecting an ultra-high performance air filter such as an ULPA filter for a leak.

【0002】[0002]

【従来の技術】粒子径0.3μmの微粒子を99.97
%以上の効率で捕集するHEPAフィルタ、ULPAフ
ィルタ等の超高性能エアーフィルタは、ろ材のピンホー
ルや枠との接着部からのリークが無いことを確認するた
め、1台づつリーク検査が行われる。リーク検査は、エ
アーフィルタに送風しながら、フィルタ上流側の気流中
にエアロゾル粒子を投入し、フィルタ下流面にてパーテ
ィクルカウンタやフォトメータ等の粒子検出器の吸引プ
ローブを走査して、リーク箇所より漏洩する粒子を検出
するものである。
2. Description of the Related Art 99.97 fine particles having a particle diameter of 0.3 μm are used.
For ultra-high performance air filters such as HEPA filters and ULPA filters that collect at an efficiency of more than 10%, a leak test is performed on each filter in order to confirm that there is no leakage from the pinholes of the filter media or the bonding portion with the frame. Will be Leak inspection is performed by introducing aerosol particles into the airflow on the upstream side of the filter while sending air to the air filter, and scanning the suction probe of a particle detector such as a particle counter or a photometer on the downstream surface of the filter. It detects leaked particles.

【0003】リーク検査用エアロゾル粒子としては、J
IS Z 8912の13種または14種ダストとして
規定されるフタル酸ジオクチル(D.O.P)粒子が、
一般に使われている。DOP粒子の発生方法は、ラスキ
ンノズルと呼ばれるノズルをDOP液中に浸漬し、ノズ
ルの穴より噴出する圧縮空気流により粒子径1ミクロン
以下のDOP粒子を発生させる。その構造はJIS B
9927に示されている。
[0003] As aerosol particles for leak inspection, J
Dioctyl phthalate (DOP) particles, defined as 13 or 14 dusts in IS Z 8912,
Commonly used. A method of generating DOP particles is to immerse a nozzle called a Ruskin nozzle in a DOP liquid, and generate DOP particles having a particle diameter of 1 micron or less by a compressed air flow ejected from a nozzle hole. Its structure is JIS B
9927.

【0004】電子デバイス製造用クリーンルームに用い
られる超高性能エアーフィルタのリーク検査にも、DO
P粒子が使われている。リーク検査中にフィルタろ材に
付着したDOPは、フィルタの通過空気中に徐々に揮発
しクリーンルーム内に飛散する。DOPがシリコンウエ
ハ表面に付着すると、絶縁膜の耐電圧低下などシリコン
ウエハより製造される電子デバイスの特性を劣化させる
問題が生じる。
[0004] DO inspection is also required for leak inspection of ultra-high performance air filters used in clean rooms for manufacturing electronic devices.
P particles are used. DOP attached to the filter medium during the leak test gradually evaporates in the air passing through the filter and scatters in the clean room. When the DOP adheres to the surface of the silicon wafer, there arises a problem of deteriorating the characteristics of electronic devices manufactured from the silicon wafer, such as a decrease in withstand voltage of the insulating film.

【0005】DOP等のフィルタに付着した液体ミスト
の揮発によるクリーンルームの汚染を避けるため、固体
状粒子を用いる方法が幾つか提案されている。
[0005] In order to avoid contamination of a clean room due to volatilization of liquid mist adhering to a filter such as a DOP, several methods using solid particles have been proposed.

【0006】ひとつは、ヨーロッパ規格(EUROVE
NT 4/4,”Sodium chrolide a
erosol test for filters u
sing flame photometric te
chnique”)にあるように、塩化ナトリウム等の
水溶液をスプレーし、生成した液滴を乾燥させることに
より、塩化ナトリウム等の粒子を発生させる方法であ
る。しかし、この方法では塩化ナトリウム等の溶解物に
よりフィルタろ材が汚染し、クリーンルーム中にこれら
が飛散する危険性がある。
One is a European standard (EUROVE).
NT 4/4, "Sodium chloride a
erosol test for filters u
sing frame photometric te
In this method, particles of sodium chloride or the like are generated by spraying an aqueous solution of sodium chloride or the like and drying the produced droplets as described in “Chnique”). Therefore, there is a danger that the filter media will be contaminated and scattered in the clean room.

【0007】また、フィルタ検定用のポリスチレンラテ
ックス粒子の懸濁液をスプレーし、生成した液滴を乾燥
させることにより、ポリスチレンラテックスの微粒子を
発生させる方法がある。ポリスチレンラテックス粒子は
電子デバイス製造プロセスの汚染源となる可能性は低い
が、分散媒中で凝集しやすく懸濁液中の固形分濃度を高
くすることが難しいため、リーク検査に必要な高濃度の
エアロゾル粒子を発生させるためには、特開平5−31
7671号公報に開示のような複雑で特殊な装置が必要
となる。
There is also a method of generating fine particles of polystyrene latex by spraying a suspension of polystyrene latex particles for a filter assay and drying the produced droplets. Polystyrene latex particles are unlikely to be a source of contamination in the electronic device manufacturing process, but they are likely to aggregate in the dispersion medium and make it difficult to increase the solids concentration in the suspension. In order to generate particles, see JP-A-5-31.
A complicated and special device as disclosed in Japanese Patent No. 7671 is required.

【0008】また、大気中の浮遊粉塵をフィルタ検査用
粒子として用いる場合もあるが、気象条件等により濃度
が変動するため、リーク検査の信頼性が低い。例えば、
粉塵濃度が低すぎる場合、リークのある下流側に洩れて
くる粒子数が少なくなるので、リークを見落す可能性が
ある。また、大気塵中に含まれる重金属等によりフィル
タろ材が汚染され、クリーンルーム中にこれらが飛散す
る危険性もある。
[0008] In addition, airborne dust in the air may be used as particles for filter inspection. However, since the concentration fluctuates due to weather conditions and the like, the reliability of leak inspection is low. For example,
If the dust concentration is too low, the number of particles leaking to the downstream side with the leak is reduced, so that the leak may be overlooked. In addition, there is a risk that the filter media will be contaminated by heavy metals and the like contained in the atmospheric dust and scattered in the clean room.

【0009】[0009]

【発明が解決しようとする課題】よって、上記方法では
次のような課題がある。
Therefore, the above method has the following problems.

【0010】(1)DOP粒子にてリーク検査を行う
と、エアーフィルタに付着したDOPがそのエアーフィ
ルタより再飛散し、清浄域の2次汚染の原因となる。
(1) When a leak test is performed on DOP particles, DOP attached to the air filter re-scatters from the air filter, causing secondary contamination in a clean area.

【0011】(2)塩化ナトリウム水溶液等でリーク検
査を行うと、塩化ナトリウムによりフィルタろ材が汚染
し、清浄域の2次汚染の原因となる。
(2) When a leak test is performed with an aqueous solution of sodium chloride or the like, the filter medium is contaminated with sodium chloride, which causes secondary contamination of a clean area.

【0012】(3)ポリスチレンラテックス粒子にてリ
ーク検査を行うと、検査に必要な高濃度の粒子を発生さ
せるためには、複雑で特殊な装置が必要となる。
(3) When a leak test is performed using polystyrene latex particles, a complicated and special device is required to generate high-concentration particles required for the test.

【0013】(4)大気塵にてリーク検査を行うと、大
気塵によりエアーフィルタが汚染し、清浄域の2次汚染
の原因となる。また、大気塵濃度は気象条件等により変
動するため、リーク検査の信頼性が低くなる。
(4) When a leak test is performed with air dust, the air filter is contaminated by the air dust, which causes secondary contamination in a clean area. In addition, since the concentration of atmospheric dust varies depending on weather conditions and the like, the reliability of the leak test decreases.

【0014】本発明は上記課題を解消するためになされ
たものであり、その目的とするところは、シリカ粒子を
用いることにより、2次汚染を生じることがなく、かり
にシリカ粒子がフィルタ下流側に飛散したとしても、清
浄域を汚染することがない超高性能エアーフィルタのリ
ーク検査方法を提供することにある。
The present invention has been made in order to solve the above-mentioned problems, and an object of the present invention is to use silica particles so that secondary contamination does not occur and silica particles are downstream of the filter. It is an object of the present invention to provide a method for inspecting a leak of an ultra-high performance air filter which does not contaminate a clean area even if it scatters.

【0015】本発明の他の目的は、従来から使用されて
いる比較的安価な装置を用いて行うことができる高性能
エアーフィルタのリーク検査方法を提供することにあ
る。
Another object of the present invention is to provide a method for inspecting a leak of a high-performance air filter which can be performed by using a relatively inexpensive device conventionally used.

【0016】本発明のさらに他の目的は、リーク検査の
信頼性を高めることができる高性能エアーフィルタのリ
ーク検査方法を提供することにある。
It is still another object of the present invention to provide a leak inspection method for a high performance air filter which can increase the reliability of the leak inspection.

【0017】本発明のさらに他の目的は、上記のリーク
検査方法を使用して、信頼性を高めた高性能エアーフィ
ルタを効率よく安価に製造することができる方法を提供
することにある。
Still another object of the present invention is to provide a method capable of efficiently and inexpensively manufacturing a high-performance air filter with improved reliability by using the above-described leak inspection method.

【0018】[0018]

【課題を解決するための手段】本発明のエアーフィルタ
のリーク検査方法は、コロイド状シリカの懸濁液をスプ
レーした後に乾燥させ、生成したシリカ粒子をエアーフ
ィルタの上流側の気流中に投入すること、およびエアー
フィルタの下流側にリークしてくる該シリカ粒子を、粒
子検出器を用いて検出すること、を包含し、そのことに
より上記目的が達成される。
According to the method for inspecting a leak of an air filter of the present invention, a suspension of colloidal silica is sprayed and then dried, and the produced silica particles are introduced into an air stream on the upstream side of the air filter. And detecting the silica particles leaking downstream of the air filter using a particle detector, thereby achieving the above object.

【0019】上記エアーフィルタは、一般的には、HE
PAフィルタまたはULPAフィルタ等の高性能フィル
タである。
The air filter is generally made of HE
It is a high-performance filter such as a PA filter or an ULPA filter.

【0020】上記粒子状シリカ粒子の懸濁液が、コロイ
ド状シリカ粒子の懸濁液であることが好ましい。
The suspension of the particulate silica particles is colloid
It is preferably a suspension of silica particles .

【0021】[0021]

【0022】[0022]

【0023】本発明を、さらに詳細に説明すると次の通
りである。
The present invention will be described in more detail as follows.

【0024】フィルタのリーク検査中にフィルタに付着
したエアロゾル粒子の飛散による2次汚染を避けるた
め、リーク検査用のエアロゾル粒子は揮発性のない固体
状で、万一フィルタから飛散してもシリコンウエハ等を
汚染しないように金属や有機成分を含まないシリカ(S
i02)粒子を使用する。
In order to avoid secondary contamination due to scattering of aerosol particles adhering to the filter during the leak inspection of the filter, the aerosol particles for the leak inspection are in a solid form having no volatility. Silica containing no metal or organic components (S
i0 2) to use the particle.

【0025】本発明に使用されるコロイド状シリカの懸
濁液は、高分子量無水珪酸のコロイド溶液であり、コロ
イド粒子の粒径は、通常0.1μm以下である。該コロ
イド粒子は非常に微細な球形であり、粒子表面の電位に
より液相中で単分散で安定して存在している。懸濁液に
おけるシリカ粒子の固形分濃度は、15重量%を超える
とシリカ濃度が高すぎてコリソンアトマイザのノズルが
詰まりやすく作業性が劣り、0.4重量%未満では図1
に示されるように1分間当り1010個以上の発生量に満
たないため、0.4〜15重量%が好ましく、さらに好
ましくは0.5〜12重量%である。この懸濁液をスプ
レーするには、従来公知の装置が使用され、例えば、コ
リソンアトマイザを使用することができる。
The suspension of colloidal silica used in the present invention is a colloidal solution of high molecular weight silicic anhydride, and the particle size of the colloidal particles is usually 0.1 μm or less. The colloid particles have a very fine spherical shape and are monodispersed and stably present in the liquid phase due to the potential of the particle surface. When the solid content concentration of the silica particles in the suspension exceeds 15% by weight, the silica concentration is too high and the nozzle of the Collison atomizer is easily clogged, resulting in poor workability.
As shown in (1), the amount is less than 10 10 per minute, so that the content is preferably 0.4 to 15% by weight, more preferably 0.5 to 12% by weight. To spray this suspension, a conventionally known device is used.
It can be used litho N'atomaiza.

【0026】スプレーされたシリカ粒子は液滴の状態で
あるため、検査する超高性能フィルタ上流側の気流中に
投入する前に液滴中の水分を乾燥させる。液滴を乾燥さ
せるには、従来公知の乾燥機が使用される。
Since the sprayed silica particles are in the form of droplets, the water in the droplets is dried before being injected into the airflow upstream of the ultra-high performance filter to be inspected. A conventionally known dryer is used to dry the droplets.

【0027】フィルタ下流側にリークしてくるシリカ粒
子は、JIS B9927に規定される手順に従い、パ
ーティクルカウンタ等の粒子検出器を用いて検出し、リ
ークの有無を判定する。リークの検出感度を上げ信頼性
を高めるためには、フィルタ上流側の粒子濃度が高いほ
ど良い。電子デバイス製造クリーンルーム用超高性能エ
アーフィルタのリーク検査の場合、粒子径が0.1μm
より大きいエアロゾル粒子を1分間当り1010個以上発
生できることが好ましい。このためには、図1に示され
るように、スプレーされる懸濁液中のシリカの粒径が
0.055μmの場合は液中のシリカの固形分濃度が
0.4重量%以上、0.18μmの場合は1重量%以上
が、それぞれ好ましい。
The silica particles leaking to the downstream side of the filter are detected by using a particle detector such as a particle counter according to the procedure specified in JIS B9927, and the presence or absence of the leak is determined. In order to increase the leak detection sensitivity and increase the reliability, the higher the particle concentration on the upstream side of the filter, the better. In the case of leak inspection of an ultra-high performance air filter for electronic device manufacturing clean room, the particle size is 0.1μm
Preferably, more than 10 10 larger aerosol particles can be generated per minute. For this purpose, as shown in FIG. 1, when the particle size of the silica in the suspension to be sprayed is 0.055 μm, the concentration of the solid content of the silica in the liquid is 0.4% by weight or more. In the case of 18 μm, the content is preferably 1% by weight or more.

【0028】本発明は、種々のフィルタのリーク検査に
使用することができる。例えば、バイオロジカルクリー
ンルーム用エアーフィルタや、マスク用フィルタ、ガス
ライン用フィルタ、ディスク装置用フィルタが挙げられ
る。特に、電子デバイス製造プロセスにおけるクリーン
ルームに好適に使用される。
The present invention can be used for leak inspection of various filters. For example, an air filter for a biological clean room, a filter for a mask, a filter for a gas line, and a filter for a disk device may be mentioned. In particular, it is suitably used for a clean room in an electronic device manufacturing process.

【0029】[0029]

【作用】コロイド状シリカの懸濁液をスプレーした後に
乾燥させることにより、粒子径が0.1μmより大きい
エアロゾル粒子を1分間当り1010個以上発生させるこ
とができる。
By spraying a suspension of colloidal silica and then drying it, more than 10 10 aerosol particles having a particle diameter of more than 0.1 μm can be generated per minute.

【0030】生成したシリカの粒子を超高性能エアーフ
ィルタの上流側の気流中に投入し、そして該エアーフィ
ルタの下流側にリークしてくる該シリカ粒子を、粒子検
出器を用いて検出することにより、該フィルタにおける
リークの有無を判定することができる。
Injecting the generated silica particles into the air stream on the upstream side of the ultra-high performance air filter, and detecting the silica particles leaking to the downstream side of the air filter using a particle detector. Thus, the presence or absence of a leak in the filter can be determined.

【0031】このように、エアロゾル粒子としてシリカ
粒子を使用することにより、リーク検査中にフィルタに
付着したエアロゾル粒子から発生する、有機物や金属等
による清浄域の2次汚染を避けることができる。また、
上記のように、リーク検査に必要な粒子を高濃度で容易
に発生できるため、リーク検査の信頼性を高めることが
できる。
As described above, by using silica particles as the aerosol particles, it is possible to avoid secondary contamination of a clean area due to organic substances, metals, and the like generated from the aerosol particles attached to the filter during the leak test. Also,
As described above, particles required for a leak test can be easily generated at a high concentration, so that the reliability of the leak test can be improved.

【0032】[0032]

【実施例】以下、具体的な実施例について説明する。Embodiments Hereinafter, specific embodiments will be described.

【0033】はじめに、本実施例で用いたシリカ粒子の
発生装置と、シリカ粒子による超高性能エアーフィルタ
のリーク検査装置の概略を説明する。
First, the outline of a silica particle generator used in this embodiment and a leak inspection device for an ultra-high performance air filter using silica particles will be described.

【0034】シリカ粒子の発生装置Aは、図2に示すよ
うに、コロイダルシリカ懸濁液が投入され、またコリソ
ン型アトマイザ16が収容されている粒子発生器10
と、該発生器10に圧縮空気が送り込まれる送気管11
と、該送気管11に接続されているフィルタ12、レギ
ュレータ13、流量計14、圧力計15と、その空気の
流入により発生器10で発生したコロイダルシリカ粒子
を含む微細な液滴を送り込む乾燥筒17と、を有する。
図中18は該乾燥筒17へ空気を送るための送気管であ
って、該送気管18にはバルブ19、流量計20がそれ
ぞれ接続されている。
As shown in FIG. 2, a silica particle generator A is charged with a colloidal silica suspension and contains a Collison type atomizer 16 in a particle generator 10.
And an air supply pipe 11 through which compressed air is sent to the generator 10.
And a filter 12, a regulator 13, a flow meter 14, and a pressure gauge 15 connected to the air supply pipe 11, and a drying cylinder for feeding fine droplets containing colloidal silica particles generated by the generator 10 due to the inflow of the air. And 17.
In the drawing, reference numeral 18 denotes an air supply pipe for sending air to the drying cylinder 17, and a valve 19 and a flow meter 20 are connected to the air supply pipe 18, respectively.

【0035】超高性能エアーフィルタのリーク検査装置
Bは、図3に示すように、試験用フィルタ20を配置す
るテストチャンバー21と、該テストチャンバー21に
清浄空気を送る送気管22と、該テストチャンバー21
に配置された該フィルタ20の上流側の空気をサンプリ
ングする経路23と、該フィルタ20の下流側の空気を
サンプリングする経路24と、パーティクルカウンタ2
5と、上記送気管22の途中にシリカエアロゾルを投入
するための上記図2で示したシリカのエアロゾル粒子発
生器Aと、を具備している。図中26はフィルタ、27
は送風機、28はオリフィス流量計、29はマノメー
タ、30はサンプリングプローブである。
As shown in FIG. 3, a leak inspection apparatus B for an ultra-high performance air filter includes a test chamber 21 in which a test filter 20 is disposed, an air supply pipe 22 for sending clean air to the test chamber 21, Chamber 21
A path 23 for sampling air upstream of the filter 20, a path 24 for sampling air downstream of the filter 20, and a particle counter 2.
5 and a silica aerosol particle generator A shown in FIG. 2 for introducing the silica aerosol into the air supply pipe 22. 26 is a filter in the figure, 27
Is a blower, 28 is an orifice flow meter, 29 is a manometer, and 30 is a sampling probe.

【0036】平均粒子径が0.055μm、固形分量が
50%のコロイダルシリカ溶液を用意し、これを比抵抗
が1018MΩmの純水で6.25倍に希釈し、固形分が
8%のコロイド状シリカの懸濁液を作成した。この懸濁
液を、図2に示すようなコリソン型アトマイザ16を取
り付けた粒子発生器10に充填し、フィルタ12で濾過
した清浄な30kPaの圧力の空気を約10リットル/
minの流量で発生器10に印加しコロイダルシリカ粒
子を含む微細な液滴を発生させた。
A colloidal silica solution having an average particle size of 0.055 μm and a solid content of 50% was prepared, and this was diluted 6.25 times with pure water having a specific resistance of 10 18 MΩm to obtain a solid solution having a solid content of 8%. A suspension of colloidal silica was made. This suspension is charged into a particle generator 10 equipped with a Corison type atomizer 16 as shown in FIG.
The liquid was applied to the generator 10 at a flow rate of min to generate fine droplets containing colloidal silica particles.

【0037】この液滴を、フィルタ12で濾過後シリカ
ゲルで乾燥させた流量70リットル/minの常温常圧
の空気と混合し、液滴を乾燥させ、シリカのコロイダル
粒子(以下、シリカ粒子ともいう)を発生させた。発生
したシリカ粒子をニュークリポアフィルタにて捕集し、
走査型電子顕微鏡にてシリカ粒子の粒径を測定し、粒径
0.1μm以上のシリカ粒子が発生していることを確認
した(図4)。なお、図4は、倍率5.000倍の走査
型電子顕微鏡写真の複写図であり、図中の白い部分がシ
リカ粒子を示している。
The droplets are mixed with air at room temperature and normal pressure at a flow rate of 70 l / min, which is filtered through a filter 12 and dried over silica gel, and dried to form colloidal particles of silica (hereinafter also referred to as silica particles). ). The generated silica particles are collected by a Nuclepore filter,
The particle size of the silica particles was measured with a scanning electron microscope, and it was confirmed that silica particles having a particle size of 0.1 μm or more were generated (FIG. 4). FIG. 4 is a copy of a scanning electron micrograph at a magnification of 5.000 times, and the white portion in the figure indicates silica particles.

【0038】このシリカ粒子を用いて、図3に示す装置
にてクリーンルーム用エアーフィルタのリーク検査を行
った。フィルタ上流側のシリカ粒子の濃度は、粒子径が
0.1μm以上の粒子で3.5×109個/m3であっ
た。クリーンルーム用エアーフィルタは寸法が縦61c
m、幅122cmであり、風量20m3/分にて許容リ
ーク率は0.001%以下である。
Using the silica particles, a leak test of an air filter for a clean room was performed using the apparatus shown in FIG. The concentration of silica particles on the upstream side of the filter was 3.5 × 10 9 particles / m 3 for particles having a particle diameter of 0.1 μm or more. Air filter for clean room has vertical 61c
m, the width is 122 cm, and the allowable leak rate is 0.001% or less at an air volume of 20 m 3 / min.

【0039】このフィルタを6台用意し、外径が0.1
〜1.07mmの針でろ材に穴を開け、各フィルタに1
2ケづつ人工的なリークを作りパーティクルカウンタ
(PMS社製、μLPC110 Turbo)にて、各
リーク箇所よりフィルタ下流側にリークしてくる粒子を
検出し、各々のリークのリーク率(フィルタ下流側粒子
濃度/フィルタ上流側粒子濃度)を求めた。
Six filters were prepared and the outer diameter was 0.1
Drill a hole in the filter medium with a needle of
Particles leaking to the downstream of the filter from each leak location are detected by a particle counter (μLPC110 Turbo, manufactured by PMS) with two artificial leaks, and the leak rate of each leak (particles downstream of the filter) Concentration / particle concentration on the upstream side of the filter).

【0040】次に、同じフィルタで従来の方法によりリ
ーク率を求めた。測定装置は上と同じように図3の構造
のものを用いた。DOP粒子をJIS B9927にあ
るラスキンノズルタイプの発生器より発生させ、フィル
タ上流側の気流中に投入した。各リーク箇所よりフィル
タ下流側にリークしてくる粒子をフォトメータ(JIS
Z4812にある光散乱式相対濃度計、ATI社製、
TDA−2E)により検出し、各々のリークのリーク率
を求めた。
Next, the leak rate was determined with the same filter by a conventional method. The measuring device having the structure shown in FIG. 3 was used in the same manner as above. DOP particles were generated from a raskin nozzle type generator in JIS B9927 and injected into the airflow upstream of the filter. Particles leaking to the downstream of the filter from each leak point are measured with a photometer (JIS
Z4812 light scattering relative densitometer, manufactured by ATI,
TDA-2E), and the leak rate of each leak was determined.

【0041】上記シリカ粒子を使用して求めたリーク率
を縦軸に、DOP粒子を使用して求めたリーク率を横軸
にとり、プロットした結果を図5に示す。これより、本
発明の方法によるリーク測定結果は、従来のDOPによ
るそれと、よく一致していることが確認された。
FIG. 5 shows a plot of the leak rate determined using the silica particles on the ordinate and the leak rate determined using the DOP particles on the abscissa. From this, it was confirmed that the leak measurement result by the method of the present invention was in good agreement with that by the conventional DOP.

【0042】[0042]

【発明の効果】このように、本発明によれば次の効果が
得られる。
As described above, according to the present invention, the following effects can be obtained.

【0043】(1)リークを検出するためフィルタ上流
側に投入されるトレーサ粒子として、シリカ粒子(Si
2)を用いているため、現行のDOP粒子を用いる場
合のようにフィルタに付着した粒子が揮発することがな
く、従って、フィルタ下流側で2次汚染を生じることが
ない。また、かりにシリカ粒子がフィルタ下流側に飛散
したとしても、ナトリウム等の電子デバイス製造プロセ
スに有害な金属や有機物を含まないため、清浄域を汚染
することがない。
[0043] (1) as tracer particles to be introduced in order filter upstream to detect leaks, silica particles (Si
Since O 2 ) is used, particles adhering to the filter do not volatilize as in the case of using current DOP particles, and therefore, no secondary contamination occurs on the downstream side of the filter. Further, even if the silica particles are scattered downstream of the filter, they do not contain metals or organic substances harmful to the electronic device manufacturing process such as sodium, and thus do not pollute the clean area.

【0044】(2)コロイド状シリカは、粒径0.1μ
m以下の粒子でも高濃度で液相中で凝集せず安定に分散
して存在する。このため、公知の方法(コリソンアトマ
イザ)で溶液をスプレーすることにより、シリカのエア
ロゾル粒子(粒径0.1μm以上)を高濃度で比較的容
易に発生可能であり(1010ケ/分以上)、リーク検査
の信頼性を高めることができる。
(2) The colloidal silica has a particle size of 0.1 μm.
The particles having a particle size of m or less are stably dispersed without being aggregated in the liquid phase at a high concentration. Therefore, by spraying a solution in a known manner (Koriso N'a Tomah <br/> Isa), silica aerosol particles (particle size 0.1μm or more) is relatively easily generated in the high concentration (10 10 / min or more), and the reliability of the leak test can be improved.

【0045】(3)リーク箇所よりリークしてくるシリ
カ粒子をパーティクルカウンタにて検出することにより
求めたリーク率は、DOPを用いた従来の測定法による
値とよく一致しており、現行の代替法として適用でき
る。
(3) The leak rate obtained by detecting the silica particles leaking from the leak location with a particle counter is in good agreement with the value obtained by the conventional measuring method using DOP. Applicable as a law.

【0046】(4)上記リーク検査方法を使用して、信
頼性を高めた高性能エアーフィルタを効率よく安価に製
造することができる。
(4) A high-performance air filter with improved reliability can be manufactured efficiently and inexpensively by using the above-described leak inspection method.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】シリカ懸濁液中の固形分濃度とシリカエアロゾ
ル発生量との関係を示す図である。
FIG. 1 is a diagram showing the relationship between the solid content concentration in a silica suspension and the amount of silica aerosol generated.

【図2】シリカ粒子の発生方法を示す模式図である。FIG. 2 is a schematic view showing a method for generating silica particles.

【図3】シリカ粒子による超高性能エアーフィルタのリ
ーク検査方法を示す模式図である。
FIG. 3 is a schematic view showing a method for inspecting a leak of an ultra-high performance air filter using silica particles.

【図4】走査型電子顕微鏡により撮影したシリカ粒子の
構造を示す写真の複写図である。
FIG. 4 is a copy of a photograph showing the structure of silica particles taken by a scanning electron microscope.

【図5】従来法および本発明の方法による超高性能エア
ーフィルタのリーク率測定結果の相関を示す図である。
FIG. 5 is a diagram showing the correlation between the leak rate measurement results of the ultra-high performance air filter by the conventional method and the method of the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

A シリカ粒子の発生装置 16 コリソン型アトマイザ 10 粒子発生器 17 乾燥筒 B 超高性能エアーフィルタのリーク検査装置 20 試験用フィルタ 21 テストチャンバー Reference Signs List A A silica particle generator 16 Collison atomizer 10 Particle generator 17 Drying cylinder B Ultra-high performance air filter leak inspection device 20 Test filter 21 Test chamber

Claims (3)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 粒子径が0.055〜0.18μmの粒
子状シリカを用いて、該粒子状シリカの固形分濃度が
0.4〜15重量%の懸濁液を調製すること、 粒子状シリカの懸濁液をスプレーした後に乾燥させ
て、粒子径が0.1μm以上のシリカ粒子を、1分間当
たり1010個以上発生させ、該発生したシリカ粒子をエ
アーフィルタの上流側の気流中に投入すること、および 該エアーフィルタの下流側にリークしてくる該シリカ粒
子を、粒子検出器を用いて検出すること、 を包含するエアーフィルタのリーク検査方法。
1. A particle having a particle size of 0.055 to 0.18 μm.
Using the particulate silica, the solid content concentration of the particulate silica is
0.4 to 15 to prepare the weight percent of the suspension, dried after spraying a suspension of the particulate silica, the silica particles having a particle diameter of more than 0.1 [mu] m, 10 10 per 1 minute Generated above, throwing the generated silica particles into the airflow on the upstream side of the air filter, and detecting the silica particles leaking to the downstream side of the air filter using a particle detector, Inspection method for air filter including:
【請求項2】 前記エアーフィルタが、HEPAフィル
タまたはULPAフィルタである請求項1記載のエアー
フィルタのリーク検査方法。
2. The method according to claim 1, wherein the air filter is a HEPA filter or a ULPA filter.
【請求項3】 前記粒子状シリカ粒子の懸濁液が、コロ
イド状シリカ粒子の懸濁液である請求項1または2記載
のエアーフィルタのリーク検査方法。
Wherein a suspension of the particulate silica particles, the suspension is a claim 1 or 2 leak inspection method of the air filter according colloidal silica particles.
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