JP2687539B2 - Particle size distribution analyzer - Google Patents

Particle size distribution analyzer

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【発明の詳細な説明】 <産業上の利用分野> 本発明は、分散飛翔状態の粒子に光を照射することに
よって生ずる回折現象ないしは散乱現象を利用した、光
回折/散乱法に基づく粒度分布測定装置に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION <Industrial field of application> The present invention uses a diffraction phenomenon or a scattering phenomenon generated by irradiating particles in a dispersed flying state with light to measure a particle size distribution based on a light diffraction / scattering method. Regarding the device.

<従来の技術> 粒子による光の回折ないしは散乱現象を利用した粒度
分布測定装置では、回折光ないしは散乱光の強度分布を
測定し、これにフラウンホーファ回折理論ないしはミー
散乱理論に基づく演算処理を施すことによって、試料粒
子の粒度分布を算出する。
<Prior Art> A particle size distribution measuring device utilizing the diffraction or scattering phenomenon of light by particles measures the intensity distribution of diffracted light or scattered light and performs arithmetic processing based on the Fraunhofer diffraction theory or Mie scattering theory. The particle size distribution of the sample particles is calculated by

ところで、この種の測定装置では、照射光に干渉性な
いし単色性が要求される関係上、照射光としては一般に
レーザ光が使用されている。
By the way, in this type of measuring apparatus, laser light is generally used as the irradiation light because the irradiation light is required to have coherence or monochromaticity.

また、回折/散乱光の測定法としては、集光レンズ
と、互いに半径の異なるリング状あるいは1/2もしくは1
/4リング状の受光面を持つ複数のセンサを一枚のウェハ
上に同心円状に形成したセンサアレイ、いわゆるリング
デテクタを用いる方法がある。
As a method of measuring diffracted / scattered light, a condensing lens and a ring shape with different radii or 1/2 or 1
There is a method of using a so-called ring detector in which a plurality of sensors each having a / 4 ring-shaped light receiving surface are concentrically formed on one wafer.

この集光レンズとリングデテクタを用いた測定方法に
よると、各角度成分の光を同時に測定することができる
ため測定時間が短かいこと、光照射領内の全粒子からの
回折/散乱光を各角度成分ごとに集光するのでそれぞれ
の角度成分で充分な光量が得られること、偏光の影響を
受けない等の利点がある。
According to the measurement method using this condensing lens and ring detector, the light of each angle component can be measured at the same time, so the measurement time is short, and the diffracted / scattered light from all particles within the light irradiation area can be measured at each angle. Since each component is condensed, there are advantages that a sufficient amount of light can be obtained with each angle component and that it is not affected by polarization.

<発明が解決しようとする課題> ところで、集光レンズとリングデテクタを用いた測定
方法において、粒子の分散系を透過したレーザ光はリン
グデテクタの中心(光学中心、以下、単に中心という)
に集光されることになるが、その光強度は極めて大き
く、デテクタによるその反射光が測定光学系に迷光とな
って影響を及ぼすとともに、デテクタ面上でその一部が
熱エネルギに変換され、デテクタを熱してその温度特性
に起因する測定誤差を生じることもある。
<Problems to be Solved by the Invention> By the way, in a measuring method using a condenser lens and a ring detector, the laser light transmitted through the particle dispersion system is at the center of the ring detector (optical center, hereinafter simply referred to as center).
The light intensity is extremely high, and the reflected light from the detector affects the measurement optical system as stray light and affects it, and part of it is converted into thermal energy on the detector surface. The detector may be heated to cause a measurement error due to its temperature characteristic.

本発明者は他と共同して、既に、リングデテクタの中
心に貫通孔を穿ち、透過光についてはその貫通孔を通過
してある程度拡散した位置での別のデテクタによって受
光するようにした装置を提案している(特開昭62−1006
37号)。
The present inventor, in collaboration with others, has already developed a device in which a through hole is formed in the center of a ring detector and transmitted light is received by another detector at a position where it passes through the through hole and is diffused to some extent. Proposed (JP-A-62-1006)
No. 37).

この提案によって迷光および熱的影響は改善される
が、デテクタ(ウェハ)の中心に貫通孔を開けること自
体が困難であるとともに、その加工はレーザ加工しか他
に方法がなく、加工時のウェハへの熱影響によって、貫
通孔とこれに最も近い最内側のセンサ径を小さくするこ
とができないという問題があった。
Although this proposal improves stray light and thermal effects, it is difficult to open a through hole in the center of the detector (wafer) itself, and there is no other method other than laser processing. There is a problem in that the diameter of the through hole and the innermost sensor closest to the through hole cannot be reduced due to the heat effect of the above.

本発明はこのような点に鑑みてなされたもので、ウェ
ハへの孔加工等の特殊加工を施すことなく、集光された
透過レーザ光のデテクタ面上での反射による測定光学系
への影響と、その透過レーザ光の熱的影響の除去を実現
し、もって安価で測光精度の良好な粒度分布測定装置の
提供を目的としている。
The present invention has been made in view of the above point, and the influence on the measurement optical system due to the reflection of the collected transmitted laser light on the detector surface without performing special processing such as hole processing on the wafer. It is also an object of the present invention to provide a particle size distribution measuring apparatus which realizes removal of the thermal influence of the transmitted laser light and is therefore inexpensive and has good photometric accuracy.

<課題を解決するための手段> 上記の目的を達成するため、本発明では、実施例に対
応する第1図(a),(b)に示すように、リング状フ
ォトセンサアレイ(リングデテクタ)5の光学中心に、
レンズ4により集光された透過レーザ光Tのスポット径
と少くとも同等の径を持つ反射面6を一体的に設け、ま
た、そのリング状フォトセンサアレイ5を、照射レーザ
光の光軸に直交する面Vに対して所定の微小角度θだけ
傾斜させている。
<Means for Solving the Problems> In order to achieve the above object, in the present invention, as shown in FIGS. 1A and 1B corresponding to the embodiment, a ring-shaped photosensor array (ring detector) is provided. At the optical center of 5,
A reflecting surface 6 having a diameter at least equal to the spot diameter of the transmitted laser light T collected by the lens 4 is integrally provided, and the ring-shaped photosensor array 5 is orthogonal to the optical axis of the irradiation laser light. The surface V is inclined by a predetermined minute angle θ.

<作用> レンズ4によって集光された透過レーザ光Tは、リン
グ状フォトセンサアレイ5の光学中心に一体的に設けら
れた反射面6に入射して反射されることになり、この光
Tが熱エネルギに変換される率は大幅に低減する。
<Operation> The transmitted laser light T collected by the lens 4 is incident on the reflecting surface 6 integrally provided at the optical center of the ring-shaped photosensor array 5 and is reflected. The rate of conversion to heat energy is greatly reduced.

また、その発射光は、リング状フォトセンサアレイ5
ごと反射面6に傾斜角度θを付することにより、測定用
光学系外に導くことが可能となり、これが迷光となるこ
とを防止できる。
The emitted light is emitted from the ring-shaped photo sensor array 5
By providing the entire reflecting surface 6 with the inclination angle θ, it is possible to guide the reflecting surface 6 to the outside of the measurement optical system and prevent it from becoming stray light.

<実施例> 第1図は本発明実施例の説明図で、(a)は光学系の
全体構成図、(b)はそのリングデテクタ5の受光面の
光学中心近傍の拡大正面図である。
<Embodiment> FIG. 1 is an explanatory view of an embodiment of the present invention, (a) is an overall configuration diagram of an optical system, and (b) is an enlarged front view in the vicinity of an optical center of a light receiving surface of the ring detector 5.

レーザ光源1から放出されたレーザ光はコリメータ2
によって所定のビーム径を持つ平行光束とされた後、フ
ローセル3に照射される。
The laser light emitted from the laser light source 1 is collimated by the collimator 2
After the light beam is converted into a parallel light beam having a predetermined beam diameter by the, the flow cell 3 is irradiated with the light beam.

フローセル3内には、被測定粒子群を媒液中に均一に
分散させてなる懸濁液Sが流されており、照射されたレ
ーザ光の一部はこの分散粒子によって回折もしくは散乱
され、他は透過する。
In the flow cell 3, a suspension S in which a group of particles to be measured is uniformly dispersed in a liquid medium is flowed, and a part of the irradiated laser light is diffracted or scattered by the dispersed particles, and other Is transparent.

フローセル3を挟んでコリメータ2と反対側には、照
射レーザ光の光軸と同軸に集光レンズ4が配設されてお
り、その集光レンズ4の焦点上にはリングデテクタ5が
配設されている。
A condensing lens 4 is disposed on the opposite side of the flow cell 3 from the collimator 2 coaxially with the optical axis of the irradiation laser light, and a ring detector 5 is disposed on the focal point of the condensing lens 4. ing.

リングデテクタ5は、一枚のウェハ上の一点を中心
に、それぞれ互いに半径の異なる1/2リング状の受光面
を持つ複数の半導体フォトセンサを同心円状に形成した
公知のものであるが、その受光面には光学中心(上述の
一点)を中心として、所定の直径を持つ円形の反射面6
が形成されている。
The ring detector 5 is a known one in which a plurality of semiconductor photosensors each having a 1/2 ring-shaped light receiving surface with a different radius from each other are concentrically formed around one point on one wafer. A circular reflecting surface 6 having a predetermined diameter centered on the optical center (the above-mentioned one point) is formed on the light receiving surface.
Are formed.

そして、このリングデテクタ5は、その光学中心が照
射レーザ光および集光レンズ4の光軸上に位置するよう
に設置されるが、その受光面が光軸に直交する面Vに対
して所定の微小角度θ、例えば数度だけ傾斜するような
姿勢で配設されている。
The ring detector 5 is installed such that its optical center is located on the optical axis of the irradiation laser light and the condenser lens 4, and its light receiving surface is a predetermined distance from the surface V orthogonal to the optical axis. It is arranged in such a posture that it is inclined by a small angle θ, for example, several degrees.

さて、懸濁液S中の粒子群による回折(散乱)光D
は、集光レンズ4によってその角度成分ごとにリングデ
テクタ5上のそれぞれの半径位置に集光され、透過レー
ザ光Tは同様にリングデテクタ5の光学中心に集光され
る。反射面6の直径は、この透過レーザ光Tのデテクタ
5上でのスポット径よりわずかに大きく、例えばアルミ
等の金属を蒸着することによって形成している。
Now, the diffracted (scattered) light D by the particles in the suspension S
Are condensed at respective radial positions on the ring detector 5 by the condensing lens 4 for each angular component, and the transmitted laser light T is similarly condensed at the optical center of the ring detector 5. The diameter of the reflecting surface 6 is slightly larger than the spot diameter of the transmitted laser light T on the detector 5, and is formed by evaporating a metal such as aluminum.

従って、透過レーザ光Tはその全てが反射面6に入射
し、大きな反射率のもとに反射される。また、その反射
の方向は、リングデテクタ5の傾斜角θに基づいて、測
定用光学系の光軸に対して2θだけずれる。そして、こ
の反射光の光路上にはビームストッパ7が配設されてい
る。ビームストッパ7は、例えば中空ホーン状内面を黒
体処理したもので、ここで反射光の全てが吸収される。
Therefore, all of the transmitted laser light T enters the reflecting surface 6 and is reflected with a large reflectance. The direction of the reflection is deviated by 2θ with respect to the optical axis of the measurement optical system based on the tilt angle θ of the ring detector 5. A beam stopper 7 is arranged on the optical path of this reflected light. The beam stopper 7 is, for example, a hollow horn-shaped inner surface that is subjected to a black body treatment, and all the reflected light is absorbed therein.

以上の構成により、集光レンズ4で集光された透過レ
ーザ光Tはリングデテクタ5に熱的影響を及ぼすことが
なく、また、そのデテクタ5による反射光が測定用光学
系に迷光となって戻ることがない。
With the above configuration, the transmitted laser light T condensed by the condenser lens 4 does not affect the ring detector 5 thermally, and the reflected light by the detector 5 becomes stray light in the measurement optical system. There is no returning.

次に、リングデテクタ5に傾斜角θを与えることが測
定結果に及ぼす影響について考察する。
Next, consideration will be given to the influence of giving the tilt angle θ to the ring detector 5 on the measurement result.

今、集光レンズ4の焦点距離をl,集光レンズの直径を
dとして、反射面6による反射光が集光レンズ4に入射
しない条件は、ビーム径を無視すると、 ltan2θ>1/2d …(1) である。
Now, assuming that the focal length of the condenser lens 4 is l, the diameter of the condenser lens is d, and the reflected light from the reflecting surface 6 does not enter the condenser lens 4, ignoring the beam diameter, ltan2θ> 1 / 2d ... (1)

フラウンホーファ回折理論上からはリングデテクタ5
は光軸に垂直でなければならず、数度程度の傾斜は問題
とはならないものの、傾斜が大きい場合には測光誤差が
大きくなる。従って、焦点距離lが小さく、かつ、レン
ズ径dが大きい場合には(1)式で与えられるθが大と
なってこの方式を採用することができない。しかし、例
えばl=150mm,d=50mm程度の場合には、θ<4.73゜と
なってわずかの傾斜を与えるだけでよく、測光誤差はほ
とんどない。また、第1図の例のように、集光レンズ4
の前段にビームストッパ7を配設して反射光を吸収して
やれば、θを(1)式の条件よりも小さくすることもで
きる。
From the Fraunhofer diffraction theory, the ring detector 5
Must be perpendicular to the optical axis, and an inclination of about several degrees is not a problem, but a large inclination causes a large photometric error. Therefore, when the focal length 1 is small and the lens diameter d is large, θ given by the formula (1) becomes large and this system cannot be adopted. However, for example, in the case of l = 150 mm and d = 50 mm, θ <4.73 ° and only a slight inclination is required, and there is almost no photometric error. In addition, as in the example of FIG.
If the beam stopper 7 is arranged in the preceding stage to absorb the reflected light, θ can be made smaller than the condition of the expression (1).

なお、リングデテクタ5の傾斜による垂直面Vからの
受光面の変位はデテクタ5の外側ほど大きくなるが、デ
テクタ5の外側は、粒子による散乱光から見れば散乱角
が大きいということであり、このことは粒子径の小さい
ものからの散乱光が支配的となることを意味する。そし
て、粒子径が小さい場合には、散乱角と散乱光強度の関
係がゆるやかな変化を示すため、傾斜による受光面の位
置誤差からもたらされる影響は小さく、問題とはならな
い。
The displacement of the light receiving surface from the vertical surface V due to the inclination of the ring detector 5 becomes larger outside the detector 5, but the outside of the detector 5 has a large scattering angle when viewed from the scattered light by the particles. This means that the scattered light from particles with a small particle size becomes dominant. When the particle diameter is small, the relationship between the scattering angle and the scattered light intensity changes gently, so that the influence caused by the position error of the light receiving surface due to the inclination is small and is not a problem.

第2図は本発明の他の実施例の説明図で、(a)はそ
の光学系の要部構成図、(b)はその反射光測定用デテ
クタ11の受光面の拡大正面図である。
FIG. 2 is an explanatory view of another embodiment of the present invention, in which (a) is a main part configuration diagram of the optical system thereof, and (b) is an enlarged front view of a light receiving surface of the reflected light measuring detector 11.

この実施例は、透過レーザ光Tの反射面6による反射
光を積極的に利用しようとするもので、第1図の実施例
におけるビームストッパ7に代えて、スリット10,反射
光測定用デテクタ11および遮蔽板12を設けた点が特徴で
ある。
This embodiment is intended to positively utilize the reflected light of the transmitted laser light T from the reflecting surface 6, and instead of the beam stopper 7 in the embodiment of FIG. 1, a slit 10 and a reflected light measuring detector 11 are used. The feature is that the shielding plate 12 is provided.

すなわち、反射面6による反射光を、スリット10を介
して反射光測定用デテクタ11に導いている。この反射光
測定用デテクタ11には、一点を中心として4個のフォト
センサ11a,11b,11cおよび11dがその受光面を互いに90゜
の間隔をあけて配設されている。
That is, the reflected light from the reflecting surface 6 is guided to the reflected light measuring detector 11 via the slit 10. The reflected light measuring detector 11 is provided with four photosensors 11a, 11b, 11c and 11d centered on one point with their light-receiving surfaces at 90 ° intervals.

これにより、反射光測定用デテクタ11上での反射光ス
ポットPが、そのデテクタ中心からずれると各フォトセ
ンサ11a〜11dに入射する光量が相異することになり、従
って各フォトセンサ11a〜11dの出力を個別にモニタする
ことによって、集光レンズ4等の光学要素の光軸からの
ずれを監視することができる。また、全フォトセンサ11
a〜11dの出力の合計値から、懸濁液Sの濃度情報を得る
ことができる。
As a result, when the reflected light spot P on the reflected light measuring detector 11 deviates from the center of the detector, the amounts of light incident on the photosensors 11a to 11d differ, and therefore the photosensors 11a to 11d have different amounts. By individually monitoring the outputs, the deviation of the optical elements such as the condenser lens 4 from the optical axis can be monitored. In addition, all photo sensors 11
The concentration information of the suspension S can be obtained from the total value of the outputs a to 11d.

この例では、反射光測定用デテクタ11に導かれれた反
射光がここで再び反射して測定用光学系に入る恐れがあ
り、これを防止するために遮蔽板12を設けている。
In this example, there is a possibility that the reflected light guided to the reflected light measuring detector 11 may be reflected again here and enter the measuring optical system, and the shield plate 12 is provided to prevent this.

なお、本発明の主たる目的は、集光された透過レーザ
光Tがリングデテクタ5に及ぼす熱的影響を除去するこ
とと、同じく透過レーザ光Tのリングデテクタ5による
反射光が測定用光学系の迷光となることを防止すること
にあり、従って、反射面6による反射光の処理について
は、上記した各実施例に限定されることなく、測定用光
学系外に導いて再びその光学系に戻らないような処理で
あれば、任意の処理を採用することができる。
The main object of the present invention is to remove the thermal influence of the condensed transmitted laser light T on the ring detector 5, and also to make the reflected light of the transmitted laser light T from the ring detector 5 of the measurement optical system. The purpose is to prevent stray light. Therefore, the processing of the reflected light by the reflecting surface 6 is not limited to the above-described embodiments, and is guided to the outside of the measurement optical system and returned to the optical system again. As long as there is no such processing, any processing can be adopted.

<発明の効果> 以上説明したように、本発明によれば、リングデテク
タの光学中心に反射面を一体的に設けて透過レーザ光を
高反射率のもとに反射させ、かつ、このリングデテクタ
に傾斜を与えてその反射光を測定用光学系外に導いたか
ら、透過レーザ光によるリングデテクタへの熱的影響が
大幅に軽減されるとともに、透過レーザ光のデテクタに
よる反射光が測定用光学系の迷光となってその測定結果
に誤差を与えることがなくなる。
<Effects of the Invention> As described above, according to the present invention, a reflecting surface is integrally provided at the optical center of the ring detector to reflect the transmitted laser light with high reflectance, and the ring detector is also provided. Since the reflected light is guided to the outside of the measurement optical system by giving an inclination to the ring, the thermal effect of the transmitted laser light on the ring detector is greatly reduced, and the reflected light of the transmitted laser light from the detector is measured by the measurement optical system. Stray light will not be added to the measurement result.

しかも、従来のように高価で歩留りの悪いウェハへの
孔加工を施す必要がなく、反射面を形成するための金属
蒸着のみでよく、また、このアルミ等の蒸着は、通常の
リングデテクタにおいて各リング状受光面間の間隔に光
遮蔽のために一般に行われることであるから、これと同
一の工程で反射面を形成することができる。
Moreover, unlike conventional methods, it is not necessary to perform hole processing on a wafer that is expensive and has a low yield, and only metal vapor deposition for forming a reflective surface is necessary. Further, vapor deposition of aluminum or the like is not necessary for ordinary ring detectors. Since it is generally performed in the space between the ring-shaped light receiving surfaces to shield the light, the reflecting surface can be formed in the same process.

以上のことから、本発明によって安価で高精度の粒度
分布測定装置が得られる。
From the above, the present invention provides an inexpensive and highly accurate particle size distribution measuring device.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

第1図は本発明実施例の説明図で、(a)は光学系の全
体構成図、(b)はそのリングデテクタ5の光学中心近
傍の拡大正面図である。 第2図は本発明の他の実施例の説明図で、(a)は光学
系の要部構成図、(b)はその反射光測定用デテクタ11
の拡大正面図である。 1……レーザ光源 2……コリメータ 3……フローセル 4……集光レンズ 5……リングデテクタ 6……反射面 7……ビームストッパ 10……スリット 11……反射光測定用デテクタ 12……遮蔽板 S……懸濁液
FIG. 1 is an explanatory view of an embodiment of the present invention, (a) is an overall configuration diagram of an optical system, and (b) is an enlarged front view of the ring detector 5 near the optical center. 2A and 2B are explanatory views of another embodiment of the present invention. FIG. 2A is a configuration diagram of a main part of an optical system, and FIG. 2B is a reflected light measuring detector 11 thereof.
FIG. 1 ... Laser light source 2 ... Collimator 3 ... Flow cell 4 ... Focusing lens 5 ... Ring detector 6 ... Reflecting surface 7 ... Beam stopper 10 ... Slit 11 ... Reflected light measurement detector 12 ... Shielding Plate S ... Suspension

Claims (1)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】分散飛翔状態の試料粒子にレーザ光を照射
して得られる回折光もしくは散乱光を、レンズでリング
状フォトセンサアレイ上に集光してその強度分布を測定
することにより、試料粒子の粒度分布を求める装置にお
いて、上記リング状フォトセンサアレイの光学中心に、
上記レンズにより集光された透過レーザ光のスポット径
と少なくとも同等の径を持つ反射面を一体的に設けると
ともに、そのリング状フォトセンサアレイを、照射レー
ザ光の光軸に直交する面に対して所定の微小角度だけ傾
斜させて配置したことを特徴とする粒度分布測定装置。
1. A sample is obtained by focusing diffracted light or scattered light obtained by irradiating a sample particle in a dispersed flying state with laser light on a ring-shaped photosensor array with a lens and measuring the intensity distribution thereof. In a device for determining the particle size distribution of particles, at the optical center of the ring-shaped photo sensor array,
A reflecting surface having a diameter at least equivalent to the spot diameter of the transmitted laser light condensed by the lens is integrally provided, and the ring-shaped photosensor array is provided with respect to a surface orthogonal to the optical axis of the irradiation laser light. A particle size distribution measuring device characterized in that it is arranged so as to be inclined at a predetermined minute angle.
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