JP2684408B2 - Wafer transfer method - Google Patents

Wafer transfer method

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JP2684408B2
JP2684408B2 JP1044752A JP4475289A JP2684408B2 JP 2684408 B2 JP2684408 B2 JP 2684408B2 JP 1044752 A JP1044752 A JP 1044752A JP 4475289 A JP4475289 A JP 4475289A JP 2684408 B2 JP2684408 B2 JP 2684408B2
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Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の目的〕 (産業上の利用分野) 本発明は、ウエハ移替え方法に関する。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION Object of the Invention (Field of Industrial Application) The present invention relates to a wafer transfer method.

(従来の技術) IC又はLSI等の半導体デバイスは、インゴットから切
出されたウエハを、順次、表面加工処理し、熱酸化処理
し、不純物拡散処理し、膜堆積処理し、エッチング処理
する等の多数の工程を経て製造される。これらの製造工
程において、半導体ウエハは複数回にわたり繰返し熱処
理を受ける。
(Prior Art) For semiconductor devices such as ICs and LSIs, a wafer cut out from an ingot is sequentially subjected to surface treatment, thermal oxidation treatment, impurity diffusion treatment, film deposition treatment, etching treatment, etc. It is manufactured through a number of processes. In these manufacturing steps, the semiconductor wafer is repeatedly subjected to the heat treatment a plurality of times.

一般に、半導体ウエハの熱処理用の加熱炉として、上
下に積重ねられた多段炉、例えば4段炉が採用される。
炉口前には多段の架台が設けられ、ウエハを取扱うため
の各種の自動装置が架台に取付けられている。
Generally, a multi-stage furnace, for example, a four-stage furnace, which is stacked up and down, is used as a heating furnace for heat treatment of a semiconductor wafer.
A multi-stage pedestal is provided in front of the furnace port, and various automatic devices for handling wafers are mounted on the pedestal.

半導体ウエハを加熱炉に出し入れする場合には、専用
のウエハボートが作用される。通常、1ボートには1ロ
ット最大200枚までのウエハが積載される。
When loading and unloading the semiconductor wafer into and from the heating furnace, a dedicated wafer boat is operated. Usually, one boat holds up to 200 wafers per lot.

一方、半導体ウエハを前工程から加熱炉まで搬送する
場合は、専用のカセット(キャリアともいう)が使用さ
れる。通常、1個のカセット(キャリアともいう)が使
用される。通常、1個のカセットには1ロット最大25枚
までの半導体ウエハが収容される。このため、1ポート
に対して複数のカセットからウエハを移替えることにな
る。
On the other hand, when the semiconductor wafer is transferred from the previous process to the heating furnace, a dedicated cassette (also called a carrier) is used. Usually, one cassette (also called a carrier) is used. Normally, one cassette holds up to 25 semiconductor wafers per lot. Therefore, wafers are transferred from a plurality of cassettes for one port.

ところで、ウエハの取扱いにおいては、汚染防止のた
めのオペレータの手がウエハに直接触れることが禁止さ
れている。このため、専用の自動ウエハ移替え装置が、
加熱炉の付帯設備として炉口近傍に設置されており、こ
のウエハ移替え装置により自動的にウエハがカセットか
らボートへ移替えられる。
By the way, when handling a wafer, it is forbidden for the operator's hand to directly touch the wafer to prevent contamination. Therefore, a dedicated automatic wafer transfer device
It is installed as an auxiliary facility of the heating furnace near the furnace opening, and this wafer transfer device automatically transfers wafers from the cassette to the boat.

一般に、半導体素子製造メーカーでは、熱処理を受け
たウエハを全数検査せず、熱処理プロセス完了後に2〜
3枚のモニタリング用ウエハ(モニタウエハという)を
ポートからサンプリングし、これらモニタウエハの表面
に形成された膜の膜厚等の状態を検査する方法がとられ
ている。そして、モニタウエハの検査結果が合格であれ
ば、製品ウエハについても合格とみなす取扱いをする。
従って1ボート内に配設されたウエハ配列の両端側中間
部の予め定められた位置に配列することが行なわれてい
る。
Generally, semiconductor device manufacturers do not inspect all wafers that have undergone heat treatment, and
A method is used in which three monitoring wafers (referred to as monitor wafers) are sampled from a port and the state of the film thickness of the film formed on the surface of these monitor wafers is inspected. Then, if the inspection result of the monitor wafer is acceptable, the product wafer is also treated as acceptable.
Therefore, the wafers are arranged in one boat at predetermined positions in the intermediate portions on both sides of the wafer arrangement.

従来において、このようなモニタウエハをボート上の
所定位置に移替える場合は、モニタウエハをカセット内
に予め1枚ずつ入れておき、このモニタウエハを製品ウ
エハと共に一括にウエハ移替え装置によりカセットから
ボートへ自動的に移替えていた。
Conventionally, when transferring such monitor wafers to a predetermined position on the boat, one monitor wafer is put in advance in the cassette, and the monitor wafers are collectively transferred together with the product wafers from the cassette by the wafer transfer device. It was automatically transferred to the boat.

(発明が解決しようとする課題) しかしながら、従来の方法においては、モニタウエハ
が予めカセット内に収容されているために、1個のカセ
ットに製品ウエハをフルに収容することができない。例
えば、カセット内にモニタウエハが予め1枚だけ収容し
てある場合は、24枚の製品ウエハしか収容できない。こ
のため、1カセット当りに取扱い可能な製品ウエハの量
が制限され、全体としてプロセスの効率が低下するとい
う問題点があった。
(Problems to be Solved by the Invention) However, in the conventional method, the product wafer cannot be fully accommodated in one cassette because the monitor wafer is already accommodated in the cassette. For example, when only one monitor wafer is previously stored in the cassette, only 24 product wafers can be stored. Therefore, there is a problem that the amount of product wafers that can be handled per cassette is limited, and the efficiency of the process as a whole is lowered.

ウエハ移替え装置により機械的にモニタウエハを移替
える代わりに、作業者がマニュアルでモニタウエハがポ
ートに移替えることも考えられるが、モニタウエハが汚
染又は損傷を受け、ルームのクリーン度が低下するとい
う不都合が生じる。
Instead of mechanically transferring the monitor wafer by the wafer transfer device, an operator may manually transfer the monitor wafer to the port, but the monitor wafer is contaminated or damaged and the cleanliness of the room deteriorates. The inconvenience occurs.

更に、1個のカセットには必ずしも25枚のウエハがフ
ルに収容されるわけでなく、カセット内にウエハの抜け
落ちるがある場合に、これをボートにそのまま移載する
とボート上にウエハが一定のピッチで連続的に配列され
ず、不均一な熱処理を受けるという問題点がある。
Furthermore, one cassette does not always accommodate 25 wafers in full, and if there are wafers falling out of the cassette, if these wafers are transferred to the boat as is, the wafers will have a fixed pitch on the boat. However, there is a problem that they are not arranged continuously and are subjected to non-uniform heat treatment.

この発明の目的は、製品ウエハと共にモニタウエハを
熱処理する場合に、被熱処理体となるウエハを汚染する
ことなく、製品ウエハを1カセット単位でボート上に移
替えることができるウエハ移替え方法を提供することに
ある。
An object of the present invention is to provide a wafer transfer method capable of transferring a product wafer in a cassette unit onto a boat without contaminating the wafer to be heat-treated when the monitor wafer is heat-treated together with the product wafer. To do.

更に、この発明のもう1つの目的は、カセット内の製
品ウエハに抜け落ちがある場合には、これをボート上に
一定ピッチで連続的に配列することができるウエハ移替
え方法を提供することにある。
Further, another object of the present invention is to provide a wafer transfer method capable of continuously arranging product wafers in a cassette, which are dropped out, on a boat at a constant pitch. .

〔発明の効果〕〔The invention's effect〕

(課題を解決するための手段) 請求項1の発明は、カセット内に収容された複数枚の
モニタウエハを挟持手段により挟持してカセットから取
り出す第1工程と、この挟持されたモニタウエハをボー
ト上に搬送する第2工程と、前記モニタウエハが前記ボ
ート上の所定位置に配列されるように前記挟持手段から
ボート上に前記モニタウエハのすべてを移載する第3工
程と、前記挟持手段と前記ポートとをモニタウエハの1
ピッチの整数倍の距離だけ相対的に移動させ、前記ボー
ト上に配列された複数枚のモニタウエハのうち所要枚数
だけボート上に残し、前記挟持手段で所要枚数のモニタ
ウエハを挟持して前記カセットに戻す第4工程と、この
第4工程の後に他のカセットから複数枚のウエハを前記
ポートへ移替える第5工程とを具備したことを特徴とす
るウエハ移替え方法を得るものである。
(Means for Solving the Problems) According to the invention of claim 1, a first step of sandwiching a plurality of monitor wafers accommodated in a cassette by a sandwiching means and taking them out from the cassette, and the sandwiched monitor wafers are mounted on a boat. A second step of transporting the monitor wafers upward, a third step of transferring all of the monitor wafers from the clamping means onto the boat so that the monitor wafers are arranged at predetermined positions on the boat, and the clamping means. The port and monitor wafer 1
The cassette is moved by a relative distance of an integral multiple of the pitch, and the required number of monitor wafers among the plurality of monitor wafers arranged on the boat are left on the boat, and the required number of monitor wafers are held by the holding means. And a fifth step of transferring a plurality of wafers from another cassette to the port after the fourth step, and a wafer transfer method characterized by the above.

また請求項2の発明は、前記カセット内に収容された
所定枚数のウエハを挟持手段により挟持してカセットか
ら取り出す第1工程と、この挟持されたウエハを、ウエ
ハを保持するための複数の溝部が設けられたボート上に
搬送する第2工程と、前記ウエハが前記ポート上の所定
位置に配列されるように前記挟持手段からボートの溝部
に前記ウエハのすべてを移載する第3工程と、この第3
工程における挟持手段によるボート上のウエハ移載領域
の中でウエハが保持されていない溝部があったときに、
当該溝部の後段側の溝部に保持されているウエハが先頭
になるように前記ボート上に配列されたウエハを前記挟
持手段に挟持させる第4工程と、ウエハが保持されてい
ない溝部と挟持手段に挟持されたウエハの先頭と対応す
るように前記挟持手段と前記ボートとを相対的に移動さ
せ、前記ボート上にウエハを移載する第5工程とを具備
したことを特徴とするウエハ移替え方法を得るものであ
る。
According to a second aspect of the present invention, a first step of holding a predetermined number of wafers contained in the cassette by a holding means and taking them out of the cassette, and a plurality of groove portions for holding the held wafers. A second step of transporting the wafer onto a boat provided with a wafer, and a third step of transferring all the wafers from the holding means to the groove of the boat so that the wafers are arranged at predetermined positions on the port, This third
When there is a groove portion where the wafer is not held in the wafer transfer area on the boat by the holding means in the process,
The fourth step of sandwiching the wafers arranged on the boat by the sandwiching means so that the wafers held in the groove portion on the subsequent stage of the groove portion become the head, and the groove portion not holding the wafers and the sandwiching means. A wafer transfer method comprising: a fifth step of moving the holding means and the boat relative to each other so as to correspond to the head of the held wafer, and transferring the wafer onto the boat. Is what you get.

(作 用) 本発明では、上記の第1工程から第4工程までにおい
てモニタウエハをポート上に所定のピッチ間隔で配列
し、第5工程において所定ピッチ間隔に配列されたモニ
タウエハの相互間に、製品ウエハを他をカセットから移
載する。このため、ボート上には1ロットの製品ウエハ
ごとにモニタウエハが配列される。
(Operation) In the present invention, the monitor wafers are arranged on the port at a predetermined pitch interval in the first to fourth steps, and between the monitor wafers arranged at the predetermined pitch interval in the fifth step. , Transfer the other product wafers from the cassette. Therefore, monitor wafers are arranged on the boat for each lot of product wafers.

また、カセット内にウエハの抜け落ちがある場合に、
第4の工程でウエハをポート上にて抜け落ち分のピッチ
だけ移動させるので、ボート上にてウエハが一定ピッチ
で連続的に配列される。
Also, if there is a missing wafer in the cassette,
In the fourth step, since the wafers are moved on the ports by the pitch corresponding to the slip-outs, the wafers are continuously arranged at a constant pitch on the boat.

(実施例) 以下、この発明の一実施例について、図面を参照しな
がら説明する。
(Embodiment) An embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings.

シリコンウエハを熱処理例えば酸化・拡散処理するた
めの横型4段炉(図示せず)が設置され、各炉の挿入口
に連通するようにボート出入れ用の架台(図示せず)が
設けられている。架台の各棚には、石英製フォークを有
するソフトランディグ装置(図示せず)がそれぞれ備え
られている。ソフトランディング装置は、フォークを棚
の長手(X軸方向)に沿ってスライド移動させる機構等
を有している。
A horizontal four-stage furnace (not shown) for heat-treating, for example, oxidation / diffusion treatment of silicon wafers is installed, and a boat stand (not shown) is provided so as to communicate with the insertion port of each furnace. There is. Each shelf of the gantry is equipped with a soft landing device (not shown) having a quartz fork. The soft landing device has a mechanism for sliding the fork along the length of the shelf (X-axis direction).

ポートとフォークに受け渡すためのアームを備えたエ
レベータ装置(図示せず)が、熱処理炉の前面側に設け
られている。
An elevator device (not shown) having an arm for transferring to a port and a fork is provided on the front side of the heat treatment furnace.

カセット内のウエハをボートへ移載するためのウエハ
移替テーブルが、架台の最下段の棚に沿うように設けら
れている。
A wafer transfer table for transferring the wafers in the cassette to the boat is provided along the lowest shelf of the gantry.

第1図に示すように、ウエハ移替えテーブル11は、多
数のウエハカセット2を載置するためのカセットステー
ジ12及びボートを載置するためボートステージ15を有す
る。これらのステージ12,15は、同一ラインかつ同一エ
レベーションにあり、その長手がX軸に沿うように直列
に設置されている。カセット2及びボート4は、ウエハ
Wのパターン形成面がY軸に沿うようにそれぞれステー
ジ12及びステージ15上に載置される。なお、カセット2
及びボート4のウエハ積載部には、所定のピッチ間隔
で、かつ、ウエハWのエッジカーブに沿うように多数の
溝が形成されており、これらの溝にウエハWの端部がは
まり込んでウエハが保持されるようになっている。
As shown in FIG. 1, the wafer transfer table 11 has a cassette stage 12 for mounting a large number of wafer cassettes 2 and a boat stage 15 for mounting a boat. These stages 12 and 15 are on the same line and in the same elevation, and are installed in series so that their lengths are along the X axis. The cassette 2 and the boat 4 are placed on the stage 12 and the stage 15, respectively, so that the pattern formation surface of the wafer W is along the Y axis. In addition, cassette 2
In the wafer loading portion of the boat 4, a large number of grooves are formed at a predetermined pitch interval and along the edge curve of the wafer W. Are to be retained.

ウエハWをカセット2からボート4にローディングす
るためのローディング装置13が、ウエハ移替えテーブル
11の前面側に設けられている。このローディング装置13
は、コンピュータシステムでバックアップされたパネル
14を備えており、必要なデータがパネル14によりキイ入
力操作できる構成となっている。
The loading device 13 for loading the wafer W from the cassette 2 to the boat 4 is a wafer transfer table.
It is provided on the front side of 11. This loading device 13
A panel backed up by a computer system
14 is provided, and the necessary data can be input by keying on the panel 14.

第2図に示すように、ローディング装置13の下部機構
は、X軸移動機構をなすものであり、X軸に沿って互い
に平行に2本のガイド軸23a,23b及びボールスクリュウ2
4を有する。スライドテーブル22が、ガイド軸23a,23bを
跨ぐように設けられ、ローディング装置13の上部機構を
支持している。なお、ボールスクリュウ24がスライドテ
ーブル22上のナットに螺合されており、スクリュウ24の
一端はパルスモータ25の駆動軸に連結され、他端はテー
ブル11のフレームに回動可能に取付けられている。
As shown in FIG. 2, the lower mechanism of the loading device 13 constitutes an X-axis moving mechanism, and the two guide shafts 23a and 23b and the ball screw 2 are parallel to each other along the X-axis.
With 4. A slide table 22 is provided so as to straddle the guide shafts 23a and 23b, and supports the upper mechanism of the loading device 13. The ball screw 24 is screwed into a nut on the slide table 22, one end of the screw 24 is connected to the drive shaft of the pulse motor 25, and the other end is rotatably attached to the frame of the table 11. .

パルスモータ25のスイッチはモータ駆動回路26に接続
され、更に、回路26はコントローラ27に接続され、更
に、コントローラ27はコンピュータシステムによりバッ
クアップされている。つまり、コントローラ27を介して
コンピュータシステムから回路26に所定の信号が出力さ
れると、これに応じてモータ25が駆動し、テーブル22が
X軸方向にスライド移動する構成となっている。
The switch of the pulse motor 25 is connected to the motor drive circuit 26, the circuit 26 is connected to the controller 27, and the controller 27 is backed up by the computer system. That is, when a predetermined signal is output from the computer system to the circuit 26 via the controller 27, the motor 25 is driven in response to this, and the table 22 slides in the X-axis direction.

次に、第3図及び第4図を参照しながら、ローディン
グ装置13の上部機構について説明する。
Next, the upper mechanism of the loading device 13 will be described with reference to FIGS. 3 and 4.

ローディング装置13の上部機構は、ウエハをリフトす
るためのリフト機構と、ウエハを挟持するためのチャッ
ク機構と、このチャック機構を昇降するための昇降機構
と、を有する。リフト機構は、Z軸方向に突出退入する
ロッド17を備えた第1のシリンダ16を有する。チャック
機構は、Y軸方向に突出退入する2対のロッド19を備え
たギヤボックス20を有する。昇降機構は、チャック機構
のシリンダのケーシングに連結され、Z軸方向に突出退
入するロッド21aを備えた第2のシリンダ21を有する。
The upper mechanism of the loading device 13 has a lift mechanism for lifting the wafer, a chuck mechanism for holding the wafer, and an elevating mechanism for elevating the chuck mechanism. The lift mechanism has a first cylinder 16 having a rod 17 protruding and retracting in the Z-axis direction. The chuck mechanism has a gear box 20 having two pairs of rods 19 protruding and retracting in the Y-axis direction. The lifting mechanism has a second cylinder 21 that is connected to the casing of the cylinder of the chuck mechanism and that has a rod 21a that projects and retracts in the Z-axis direction.

リフト機構のロッド17の先端にはウエハ受け部材18が
設けられている。この受け部材18の上面には、カセット
2内面のウエハ保持用の溝と同ピッチの溝が形成されて
いる。
A wafer receiving member 18 is provided at the tip of the rod 17 of the lift mechanism. Grooves having the same pitch as the wafer holding grooves on the inner surface of the cassette 2 are formed on the upper surface of the receiving member 18.

チャック機構のギヤボックス20は、複数のモータ(図
示せず)及び複数の減速ギヤ(図示せず)を有する。こ
れら各系統のシリンダが、それぞれ1対ずつのロッド19
に連結されている。各対のロッド19先端にはウエハチャ
ック部材19a,19bがそれぞれ設けられ、ロッド19の突出
退入によりロッド先端のウエハチャック部材19a,19が接
近・離隔(開閉)するようになっている。ウエハチャッ
ク部材19a,19bの対向面には、カセット2のウエハ保持
用の溝と同ピッチの溝が形成されている。
The gearbox 20 of the chuck mechanism has a plurality of motors (not shown) and a plurality of reduction gears (not shown). Each of these cylinders has a pair of rods 19
It is connected to. Wafer chuck members 19a, 19b are provided at the tips of the rods 19 of each pair, and the wafer chuck members 19a, 19 at the rod tips approach and separate (open and close) when the rods 19 project and retract. Grooves having the same pitch as the wafer holding grooves of the cassette 2 are formed on the opposing surfaces of the wafer chuck members 19a and 19b.

チャック機構においては、一方のロッド19がウエハチ
ャック部材19bを貫通し、チャック部材19bともう一方の
チャック部材19aとが相互に干渉し合わないようになっ
ている。
In the chuck mechanism, one rod 19 penetrates the wafer chuck member 19b so that the chuck member 19b and the other chuck member 19a do not interfere with each other.

次に、第5図A〜第5図Fを参照しながら、ウエWを
カセット2からボート4に移替える場合について詳細に
説明する。
Next, a case where the wafer W is transferred from the cassette 2 to the boat 4 will be described in detail with reference to FIGS. 5A to 5F.

(I) 第5図Aに示すように、5個のウエハカセツト
2M,2A,2B,2C,2D及び1本のボート4をそれぞれのステー
ジ12,15の所定位置に載置する。カセット2Mは、複数
枚、例えば3枚のモニタウエハMWを収容するためのモニ
タウエハ専用カセットである。このモニタウエハ専用カ
セット2Mは、第1〜第4の製品ウエハ専用カセット2A,2
B,2C,2Dと共に、カセットステージ12上に1列に載置さ
れている。
(I) Five wafer cassettes, as shown in FIG. 5A.
2M, 2A, 2B, 2C, 2D and one boat 4 are placed on the respective predetermined positions of the stages 12 and 15. The cassette 2M is a monitor wafer dedicated cassette for accommodating a plurality of, for example, three monitor wafers MW. This monitor wafer dedicated cassette 2M is composed of first to fourth product wafer dedicated cassettes 2A, 2
Along with B, 2C, and 2D, they are mounted on the cassette stage 12 in one row.

ステージ15上のボート4は、その前部と後部に予め複
数枚たとえば5枚のダミーウエハDMが所定ピッチで収容
されている。なお、第1〜第4の製品ウエハ専用カセッ
ト2A,2B,2C,2Dにはそれぞれ25枚の製品ウエハWが収容
されている。
The boat 4 on the stage 15 has a plurality of dummy wafers DM, for example, five dummy wafers DM, accommodated in a front portion and a rear portion thereof in advance at a predetermined pitch. The first to fourth product wafer dedicated cassettes 2A, 2B, 2C and 2D each accommodate 25 product wafers W.

パネル14のキーボード操作によりイニシアルデータを
コンピュータに入力する。このイニシュアルデータに
は、ボート4上におけるモニタウエアMWと製品ウエハW
との配列に関するデータ、カセット2M,2A,2B,2C,2Dとボ
ード4との相対位置に関するデータ等が含まれる。
The initial data is input to the computer by operating the keyboard of panel 14. The monitor data MW and the product wafer W on the boat 4 are included in this initial data.
And data on the relative positions of the cassettes 2M, 2A, 2B, 2C, 2D and the board 4 and the like.

スタート信号をコンピュータからコントローラ27に送
り、ローディング装置13をX軸方向にスライド移動さ
せ、ウエハチャック部材19a,19bをカセット2Mの直上に
位置させる。
A start signal is sent from the computer to the controller 27, the loading device 13 is slid in the X-axis direction, and the wafer chuck members 19a and 19b are positioned directly above the cassette 2M.

(II) リフト機構のシリンダ16に圧縮エアを供給し、
部材18によりカセット2M内のモイタウエハMWをウエハチ
ャック部材19a,19bの高さにリフトする。次いで、チャ
ック部材19a,19bを相互に接近させてモニタウエハMWを
挟持する。
(II) Supply compressed air to the cylinder 16 of the lift mechanism,
The member 18 lifts the mower wafer MW in the cassette 2M to the height of the wafer chuck members 19a and 19b. Then, the chuck members 19a and 19b are brought close to each other to sandwich the monitor wafer MW.

次いで、押し上げ部材18を下降させ、3枚のモニタウ
エハMWをチャック部材19a,19bの間に残留させる。
Next, the push-up member 18 is lowered to leave the three monitor wafers MW between the chuck members 19a and 19b.

(III) ローディグ装置13をカセットステージ12から
ボートステージ15へスライド移動させ、ボート4前面側
の所定位置にて停止させる。次いで、第2のシリンダ21
内にロッド21aを退入させ、モニタウエハMWをボート4
上方の所定位置まで下降させ、モニタウエハMWの下側エ
ッジをボート4の溝に挿入する。このとき、センサ(図
示せず)によりチャック部材19a,19b及びモニタウエハM
Wのボート4への接近を検出し、これに基づきモニタウ
エハMWのボート4への衝突を回避しつつ第2のシリンダ
21の動作を停止させる。チャック部材19a,19bを開動作
させ、第5図Bに示すように3枚のダミーウエハ列の次
に3枚のモニタウエハMWをボート4上に移載する。
(III) The loading device 13 is slid from the cassette stage 12 to the boat stage 15 and stopped at a predetermined position on the front side of the boat 4. Then, the second cylinder 21
The rod 21a is moved in and out, and the monitor wafer MW is moved to the boat 4
The upper edge is lowered to a predetermined position, and the lower edge of the monitor wafer MW is inserted into the groove of the boat 4. At this time, the chuck members 19a and 19b and the monitor wafer M are detected by a sensor (not shown).
The second cylinder is detected while detecting the approach of W to the boat 4 and avoiding the collision of the monitor wafer MW with the boat 4 based on this.
21 operation is stopped. The chuck members 19a and 19b are opened to transfer the three monitor wafers MW after the dummy wafer row of three onto the boat 4 as shown in FIG. 5B.

(IV) 次に、第5図Cに示すように、チャック部材19
a,19bを開いた状態で、ボート4上のモニタウエハMWの
整数倍の距離例えば1ピッチ分だけボート4の後面側に
移動させる。そして、チャック部材19a,19bを閉動作さ
せ、ボート上の3枚のモニタウエハMWのうち後方の2枚
をチャック部材19a,19bで挟持する。
(IV) Next, as shown in FIG. 5C, the chuck member 19
With a and 19b opened, the boat 4 is moved to the rear surface side of the boat 4 by a distance that is an integral multiple of the monitor wafer MW on the boat 4, for example, one pitch. Then, the chuck members 19a and 19b are closed, and the rear two of the three monitor wafers MW on the boat are clamped by the chuck members 19a and 19b.

(V) 第5図Dに示すように、チャック部材19a,19b
により挟持された状態で2枚のモニタウエハMWを上昇さ
せ、次いで、これをX軸方向に移動させ、カセットステ
ージ12上のMW専用カセット2Mの直上にて停止させる。次
いで、チャック部材19a,19Bを下降させ、モニタウエハM
Wのエッジを専用カセット2Mの溝に差込み、チャック部
材19a,19bを開動作させ、2枚のモニタウエハMWを専用
カセット2M内1ビッチ分前にシフトした位置に戻す。
(V) As shown in FIG. 5D, chuck members 19a, 19b
The two monitor wafers MW are lifted in the state of being sandwiched by, and then they are moved in the X-axis direction and stopped immediately above the MW dedicated cassette 2M on the cassette stage 12. Next, the chuck members 19a and 19B are lowered to move the monitor wafer M
The edge of W is inserted into the groove of the dedicated cassette 2M, the chuck members 19a and 19b are opened, and the two monitor wafers MW are returned to the positions shifted by one bit in the dedicated cassette 2M.

(VI) 第5図Eに示すように、第1のカセット2A内の
25枚の製品ウエハWのすべてを部材18により一括リフト
し、これらをチャック部材19a,19bで挟持し、ポート4
に搬送して、ボート4上のモニタウエハMWの右隣りに移
載する。続いて、これと同様に、第2のカセット2B内の
製品ウエハWを、ボート4上の前回移載した製品ウエハ
Wの右隣りに移載する。
(VI) As shown in FIG. 5E, in the first cassette 2A
All of the 25 product wafers W are lifted together by the member 18, and these are sandwiched by the chuck members 19a and 19b.
To the right of the monitor wafer MW on the boat 4. Subsequently, similarly to this, the product wafer W in the second cassette 2B is transferred to the right of the previously transferred product wafer W on the boat 4.

(VII) 第5図Fに示すように、2枚のモニタウエハM
Wを専用カセット2Mからボート4上の製品ウエハWの右
隣りに移載する。チャック部材19a,19bを開いた状態で
モニタウエハMWの1ピッチ分だけ移動させ、2枚のモニ
タウエハMWのうち1枚のみを挟持して、これを専用カセ
ット2Mに戻す。
(VII) As shown in FIG. 5F, two monitor wafers M
The W is transferred from the dedicated cassette 2M to the right of the product wafer W on the boat 4. With the chuck members 19a and 19b open, the monitor wafer MW is moved by one pitch, and only one of the two monitor wafers MW is clamped and returned to the dedicated cassette 2M.

(VIII) 以下、上述の動作と実質的に同様の動作を繰
返して、第3のカセット2C及び第4のカセット2Dから順
次ボート4上へ製品ウエハWを移載する。
(VIII) Thereafter, the operation substantially similar to the above-mentioned operation is repeated to transfer the product wafers W from the third cassette 2C and the fourth cassette 2D onto the boat 4 in sequence.

(IX) ウエハ移替え完了後、ボート4を受け渡し位置
に搬送し、エレベータ装置のアームによりボート4を保
持しつつ使用予定炉の棚まで搬送し、ボート4をフォー
ク上に移し、ソフトランディング装置によりボート4を
炉内に挿入する。そして、所定温度及び所定時間の熱処
理を実行する。
(IX) After the wafer transfer is completed, the boat 4 is transferred to the delivery position, and is transferred to the shelf of the furnace to be used while holding the boat 4 by the arm of the elevator device, the boat 4 is transferred to the fork, and the soft landing device is used. Insert the boat 4 into the furnace. Then, heat treatment is performed at a predetermined temperature and for a predetermined time.

このように専用カセット2Mからボート4上に移載され
た複数枚のモニタウエハMWをボート4上に1枚だけ残
し、他のモニタウエハMWをチャック部材19a,19bで挟持
して、専用カセット2Mに戻すので、モニタウエハMWを製
品ウエハWと共にカセット2A,2B,2C,2D内に予め入れて
おく必要がなくなる。このため、1個のカセット2に製
品ウエハWを25枚ずつ収容することができる。
In this way, only one monitor wafer MW transferred from the dedicated cassette 2M onto the boat 4 is left on the boat 4 and the other monitor wafers MW are sandwiched by the chuck members 19a and 19b. Therefore, it is not necessary to put the monitor wafer MW together with the product wafer W in the cassettes 2A, 2B, 2C and 2D in advance. Therefore, 25 product wafers W can be accommodated in one cassette 2.

なお、本発明は上記第1の実施例に限定されるもので
はない。例えば、上記第1の実施例では1枚のモニタウ
エハMWを製品ウエハWの群の間に配置したが、2枚以上
のモイタウエハMWを製品ウエハWの群の間に配置するこ
ともできる。
The present invention is not limited to the above-mentioned first embodiment. For example, in the above-described first embodiment, one monitor wafer MW is arranged between the group of product wafers W, but it is also possible to arrange two or more moita wafers MW between the group of product wafers W.

更に、上記第1の実施例ではウエハチャック部材19a,
19bを移動させてウエハMW,Wの移替えを行なうようにし
たが、相対的に移動すればよく、例えばウエハ移替えテ
ーブル11の側の移動させてウエハMW,Wを移替えるように
してもよい。
Further, in the first embodiment, the wafer chuck members 19a,
Although the wafers MW and W are moved by moving 19b, they may be moved relatively. For example, the wafers MW and W may be moved by moving them on the wafer transfer table 11 side. Good.

また、上記実施例のウエハ移替え装置を用いれば、カ
セット2にウエハ例えば製品ウエハWの抜けが生じてい
る場合でも、製品ウエハWをカセット2からボート4へ
所定ピッチで移替えることもできる。
Further, by using the wafer transfer device of the above-described embodiment, the product wafer W can be transferred from the cassette 2 to the boat 4 at a predetermined pitch even when the wafer, for example, the product wafer W is missing from the cassette 2.

以下、第6図A〜第6図Eを参照しながら、カセット
2に製品ウエハW抜けが生じている場合のウエハ移替え
方法について説明する。なお、上記第1の実施例と第2
の実施例とが相互に共通する部分については説明を省略
する。
Hereinafter, with reference to FIGS. 6A to 6E, a wafer transfer method when the product wafer W is missing from the cassette 2 will be described. The first embodiment and the second embodiment
The description of the parts common to those of the first embodiment will be omitted.

(I) 第6図Aに示すように、4個のウエハカセツト
2A,2B,2C,2Dをカセットステージ12の所定位置に載置す
る。第1のカセット2A,第3のカセット2C,第4のカセッ
ト2D内にはそれぞれ25枚の製品ウエハWが収容されてい
る。第2のカセット2B内には例えば23枚の製品ウエハW
が収容されている。この場合に、第2のカセット2Bの第
1番目及び第2番目のウエハ保持用溝にウエハWの抜け
がある。
(I) As shown in FIG. 6A, four wafer cassettes are used.
2A, 2B, 2C and 2D are placed on the cassette stage 12 at predetermined positions. Each of the first cassette 2A, the third cassette 2C, and the fourth cassette 2D contains 25 product wafers W. For example, 23 product wafers W are stored in the second cassette 2B.
Is housed. In this case, the wafer W is missing in the first and second wafer holding grooves of the second cassette 2B.

リフト機構のシリンダ16に圧縮エアを供給し、部材18
によりカセット2A内の製品ウエハWをウエハチャック部
材19a,19bの高さにリフトする。次いで、チャック部材1
9a,19bを相互に接近させて製品ウエハWを挟持する。
Compressed air is supplied to the cylinder 16 of the lift mechanism,
Thus, the product wafer W in the cassette 2A is lifted to the height of the wafer chuck members 19a and 19b. Then, the chuck member 1
The product wafer W is sandwiched by bringing 9a and 19b close to each other.

(II) 第6図Bに示すように、チャック部材19a,19b
で挟持した状態で製品ウエハWをX軸方向へ移動させ、
製品ウエハWをボート4上の所定位置に移載する。
(II) As shown in FIG. 6B, chuck members 19a, 19b
The product wafer W is moved in the X-axis direction while being sandwiched by
The product wafer W is transferred to a predetermined position on the boat 4.

(III) 第6図Cに示すように、第2のカセット2B内
の23枚の製品ウエハWをボート4上に移載する。
(III) As shown in FIG. 6C, 23 product wafers W in the second cassette 2B are transferred onto the boat 4.

(IV) 次に、第6図Dに示すように、チャック部材19
a,19bを開いた状態で、ボート4上の製品ウエハWの2
ピッチ分だけボート4の後面側に移動させる。即ち第2
のカセット2Bから製品ウエハWを移載する工程におい
て、チャック部材19a,19bによるボート4上のウエハ移
載領域の中で、製品ウエハWが保持されていない2つの
溝部の直ぐ後段側の製品ウエハWがチャック部材19a,19
bの先頭になるようにする。そいて、チャック部材19a,1
9bを閉動作させ、ボート上の23枚の製品ウエハWをチャ
ック部材19a,19bで挟持し、これのリフトする。
(IV) Next, as shown in FIG. 6D, the chuck member 19
2 of the product wafer W on the boat 4 with a and 19b open
The boat 4 is moved to the rear side by the pitch. That is, the second
In the process of transferring the product wafer W from the cassette 2B of the above, in the wafer transfer area on the boat 4 by the chuck members 19a and 19b, the product wafer immediately behind the two groove portions where the product wafer W is not held. W is the chuck member 19a, 19
Be at the beginning of b. Then, the chuck members 19a, 1
9b is closed, and the 23 product wafers W on the boat are clamped by the chuck members 19a and 19b and lifted.

(V) 第6図Eに示すように、チャック部材19a,19b
を製品ウエハWの2ピッチ分だけボート4の前面側に移
動させ、これを下降させ、チャック部材19a,19bを開動
作してボート4上に移載する。次いで、第3及び第4の
カセット2C,2Dからボート4上へ順次製品ウエハWを移
載する。
(V) As shown in FIG. 6E, chuck members 19a, 19b
Is moved to the front side of the boat 4 by two pitches of the product wafer W, and is lowered, and the chuck members 19a and 19b are opened and transferred onto the boat 4. Next, the product wafers W are sequentially transferred onto the boat 4 from the third and fourth cassettes 2C and 2D.

この結果、製品ウエハWがボート4上にて一定のピッ
チで連続載置された状態となる。
As a result, the product wafers W are continuously placed on the boat 4 at a constant pitch.

以下に、この実施例の効果について総括的に説明す
る。
The effects of this embodiment will be described below in a comprehensive manner.

この発明によれば、モニタウエハMWを製品ウエハWと
共に予め同一のカセット内に混入させることなく、別々
のカセット2からモニタウエアMW及び製品ウエハWをボ
ート4上に自動ローディングすることができる。このた
め、1個のカセットにフルに製品ウエハWを収容するこ
とができ、ボート上に製品ウエハWを1カセット単位で
移替えることができ、製品歩留りの向上を図ることがで
きた。更に、ウエハを作業者がマニュアル搬送しないの
で、ウエハの汚染が防止され、クリーン度の向上を図る
ことができた。
According to the present invention, the monitor wear MW and the product wafer W can be automatically loaded onto the boat 4 from different cassettes 2 without mixing the monitor wafer MW with the product wafer W in the same cassette in advance. Therefore, the product wafers W can be fully accommodated in one cassette, the product wafers W can be transferred on the boat in units of one cassette, and the product yield can be improved. Further, since the operator does not manually transfer the wafer, the contamination of the wafer is prevented and the cleanliness can be improved.

また、カセット内の製品ウエハWに抜け落ちが存在す
る場合にも、これに適切に対処することができる。従っ
て、装置の稼働率の大幅に向上させることができた。
Further, even if the product wafer W in the cassette is missing, it can be appropriately dealt with. Therefore, the operating rate of the device could be significantly improved.

〔発明の効果〕〔The invention's effect〕

以上説明したように本発明によれば、モニタウエハを
製品ウエハのキャリアに1枚ずつ入れておく必要がない
ので、1つのキャリアに例えば25枚の製品ウエハを収容
することができる。したがって、ボート上に製品ウエハ
を1キャリア単位で移し替えることができ、歩留り,ク
リーン度の向上を図ることができる。
As described above, according to the present invention, it is not necessary to put monitor wafers in the carrier of product wafers one by one, so that one carrier can accommodate, for example, 25 product wafers. Therefore, the product wafers can be transferred to the boat on a carrier-by-carrier basis, and the yield and cleanliness can be improved.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

第1図は本発明方法の一実施例を説明するためのウエハ
移替え装置の構成図、第2図は第1図装置下部のX軸移
動機構を模式的に示す斜視図、第3図及び第4図は第1
図装置によるウエハ挟持動作説明図、第5図は第1図装
置による移替え動作説明図、第6図は本発明方法の他の
実施例説明図である。 2……カセット、4……ボート 19……ウエハチャック
FIG. 1 is a block diagram of a wafer transfer apparatus for explaining an embodiment of the method of the present invention, and FIG. 2 is a perspective view schematically showing an X-axis moving mechanism in the lower portion of FIG. 1, FIG. Figure 4 shows the first
FIG. 5 is an explanatory view of a wafer clamping operation by the apparatus shown in FIG. 5, FIG. 5 is an explanatory view of a transfer operation by the apparatus shown in FIG. 1, and FIG. 2 ... Cassette, 4 ... Boat 19 ... Wafer chuck

Claims (2)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】カセット内に収容された複数枚のモニタウ
エハを挟持手段により挟持してカセットから取り出す第
1工程と、この挟持されたモニタウエハをボート上に搬
送する第2工程と、前記モニタウエハが前記ボート上の
所定位置に配列されるように前記挟持手段からボート上
に前記モニタウエハのすべてを移載する第3工程と、前
記挟持手段と前記ポートとをモニタウエハの1ピッチの
整数倍の距離だけ相対的に移動させ、前記ボート上に配
列された複数枚のモニタウエハのうち所要枚数だけボー
ト上に残し、前記挟持手段で所要枚数のモニタウエハを
挟持して前記カセットに戻す第4工程と、この第4工程
の後に他のカセットから複数枚のウエハを前記ポートへ
移替える第5工程とを具備したことを特徴とするウエハ
移替え方法。
1. A first step of sandwiching a plurality of monitor wafers contained in a cassette by a sandwiching means and removing them from the cassette, a second step of transporting the sandwiched monitor wafers onto a boat, and the monitor. A third step of transferring all of the monitor wafers from the holding means onto the boat so that the wafers are arranged at predetermined positions on the boat, and the holding means and the port are an integer of one pitch of the monitor wafer. A relative distance by a double distance, leaving a required number of monitor wafers on the boat among a plurality of monitor wafers arranged on the boat, and clamping the required number of monitor wafers by the clamping means and returning them to the cassette; A wafer transfer method comprising four steps and a fifth step of transferring a plurality of wafers from another cassette to the port after the fourth step.
【請求項2】前記カセット内に収容された所定枚数のウ
エハを挟持手段により挟持してカセットから取り出す第
1工程と、この挟持されたウエハを、ウエハを保持する
ための複数の溝部が設けられたボート上に搬送する第2
工程と、前記ウエハが前記ポート上の所定位置に配列さ
れるように前記挟持手段からボートの溝部に前記ウエハ
のすべてを移載する第3工程と、この第3工程における
挟持手段によるボート上のウエハ移載領域の中でウエハ
が保持されていない溝部があったときに、当該溝部の後
段側の溝部に保持されているウエハが先頭になるように
前記ボート上に配列されたウエハを前記挟持手段に挟持
させる第4工程と、ウエハが保持されていない溝部と挟
持手段に挟持されたウエハの先頭とが対応するように前
記挟持手段と前記ボートとを相対的に移動させ、前記ボ
ート上にウエハを移載する第5工程とを具備したことを
特徴とするウエハ移替え方法。
2. A first step of pinching a predetermined number of wafers contained in the cassette by a pinching means to take them out of the cassette, and a plurality of groove portions for holding the pinched wafers. Second to carry on the boat
A step, a third step of transferring all of the wafers from the holding means to the groove of the boat so that the wafers are arranged at predetermined positions on the port, and the holding means on the boat in the third step. When there is a groove portion in the wafer transfer area where the wafer is not held, the wafer arranged on the boat is sandwiched so that the wafer held in the groove portion on the subsequent stage of the groove portion becomes the head. The fourth step of holding the wafer by the holding means, and the holding means and the boat are relatively moved so that the groove portion where the wafer is not held and the head of the wafer held by the holding means correspond to each other, and the fourth step is performed. A wafer transfer method comprising: a fifth step of transferring a wafer.
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