JP2680831B2 - Sense circuit - Google Patents

Sense circuit

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JP2680831B2
JP2680831B2 JP63108327A JP10832788A JP2680831B2 JP 2680831 B2 JP2680831 B2 JP 2680831B2 JP 63108327 A JP63108327 A JP 63108327A JP 10832788 A JP10832788 A JP 10832788A JP 2680831 B2 JP2680831 B2 JP 2680831B2
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mos transistor
read line
inverter
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gate
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司 八木
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Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 この発明はMOSトランジスタを用いたメモリ装置のセ
ンス回路に関する。
The present invention relates to a sense circuit of a memory device using MOS transistors.

従来の技術 第3図にこの種のセンス回路を示す。第3図におい
て、1はMOSトランジスタにてなるメモリセルでそれぞ
れ読出ライン2に接続され、読出ライン2には第1と第
2のMOSトランジスタ3,4が接続され、各MOSトランジス
タ3,4はシステムクロックがゲートに印加されており、
このシステムクロックによって両MOSトランジスタ3,4は
相反的にオン・オフされる。読出ライン2にはインバー
タ5が接続され、このインバータ5の出力端子からメモ
リセル1のデータが読み出される。インバータ5の出力
は第2のMOSトランジスタ4に直列接続された第3のMOS
トランジスタ6に接続されている。
Prior Art FIG. 3 shows this type of sense circuit. In FIG. 3, reference numeral 1 is a memory cell composed of MOS transistors, each connected to a read line 2, and the read line 2 is connected to first and second MOS transistors 3 and 4, respectively. The system clock is applied to the gate,
Both MOS transistors 3 and 4 are turned on / off reciprocally by this system clock. An inverter 5 is connected to the read line 2, and the data of the memory cell 1 is read from the output terminal of the inverter 5. The output of the inverter 5 is the third MOS transistor connected in series with the second MOS transistor 4.
Connected to transistor 6.

上記の構成においてメモリセル1がオフのときノード
Aは、第1のMOSトランジスタ3のプリチャージによっ
て“H"となる。そしてインバータ5の出力は“L"とな
り、第3のMOSトランジスタ6はオフとなりノードAを
“H"にする。
In the above configuration, when the memory cell 1 is off, the node A becomes "H" due to the precharge of the first MOS transistor 3. Then, the output of the inverter 5 becomes "L", the third MOS transistor 6 is turned off, and the node A becomes "H".

発明が解決すべき課題 上記のような従来のセンス回路においては、第1のMO
Sトランジスタ3のプリチャージ期間終了後入力(ノー
ドA)が“H"の時にLowノイズが入り、そのノイズによ
って出力(ノードB)が“H"に反転すると、復帰できな
くなるという欠点がある。
Problems to be Solved by the Invention In the conventional sense circuit as described above, the first MO
After the end of the precharge period of the S-transistor 3, when the input (node A) is "H", low noise is introduced, and if the output inverts the node (B) to "H" due to the noise, there is a drawback that it cannot be restored.

この発明はノードAにノイズが入ってもセンス動作が
確実に行なえるセンス回路を提供することを目的とする
ものである。
It is an object of the present invention to provide a sense circuit that can surely perform a sensing operation even if noise enters the node A.

課題を解決する手段 この発明のセンス回路は、メモリセルに接続される読
出ラインの信号を入力するインバータと、前記読出ライ
ンに接続された第1のMOSトランジスタであってオンの
ときに前記読出ラインを第1の論理レベルにプリチャー
ジするための第1のMOSトランジスタと、互いに直列に
接続された第2および第3のMOSトランジスタから成る
直列回路であって一端が前記読出ラインに接続され第2
および第3のMOSトランジスタの双方がオンのときに前
記読出ラインに第1の論理レベルの反転レベルである第
2の論理レベルを供給するための直列回路とを有し、シ
ステムロックを第1および第2のMOSトランジスタのゲ
ートに印加することにより第1および第2のMOSトラン
ジスタを相反的にオン・オフさせ、前記インバータの出
力を第3のMOSトランジスタのゲートに印加するための
信号経路を設けることにより、前記読出ラインが第2の
論理レベルになると第3のMOSトランジスタをオンさせ
る構成として、前記インバータの出力からメモリの内容
を示す信号を得るようにしたセンス回路において、 前記インバータの出力を第3のMOSトランジスタのゲ
ートに印加するための前記信号経路中に、コンデンサと
抵抗にてなるローパスフィルタを挿入したことを特徴と
している。
Means for Solving the Problems The sense circuit of the present invention includes an inverter for inputting a signal of a read line connected to a memory cell, and a read line when the first MOS transistor connected to the read line is turned on. A first MOS transistor for precharging a first logic level to a first logic level and a second and a third MOS transistor connected in series with each other, one end of which is connected to the read line
And a series circuit for supplying the read line with a second logic level which is the inverted level of the first logic level when both the third MOS transistor and the third MOS transistor are turned on, A signal path for reciprocally turning on / off the first and second MOS transistors by applying to the gate of the second MOS transistor and applying the output of the inverter to the gate of the third MOS transistor is provided. As a result, in the sense circuit configured to turn on the third MOS transistor when the read line becomes the second logic level, the sense circuit is configured to obtain a signal indicating the content of the memory from the output of the inverter. Insert a low-pass filter consisting of a capacitor and a resistor in the signal path for applying to the gate of the third MOS transistor. It is characterized by doing.

実施例 以下の本発明の実施例においては第3図の回路と同じ
部分には同じ符号を付した。
Embodiments In the following embodiments of the present invention, the same parts as those in the circuit of FIG.

第1図に示すように、第3のMOSトランジスタ6のゲ
ートにはコンデンサ10を並列に接続するとともに、抵抗
と等価なトランスミッションゲート11をインバータ5の
出力と第3のMOSトランジスタ6のゲートとの間に接続
したものである。また、読出ライン2と電源との間には
MOSトランジスタ12のソースとドレインを接続し、その
ゲートを上記コンデンサ10と抵抗11との共通接続点に接
続したものである。
As shown in FIG. 1, a capacitor 10 is connected in parallel to the gate of the third MOS transistor 6, and a transmission gate 11 equivalent to a resistor is connected between the output of the inverter 5 and the gate of the third MOS transistor 6. It is connected between. In addition, between the read line 2 and the power supply
The source and the drain of the MOS transistor 12 are connected, and the gate thereof is connected to the common connection point of the capacitor 10 and the resistor 11.

コンデンサ10と抵抗11とでノイズを吸収するローパス
フィルタを構成する。
A low-pass filter that absorbs noise is configured by the capacitor 10 and the resistor 11.

動作において、メモリセル1がオフの時、ノード
は、第1のMOSトランジスタ3のプリチャージによって
“H"となる。このノードに第2図イに示すスパイク状
のノイズが入ると、インバータ5の出力であるノード
は第2図ロに示すように一瞬“H"になるが、トランスミ
ッションゲート11と、コンデンサ10で構成されるフィル
タによって、そのノイズをカットする。したがって第3
のMOSトランジスタ6のゲート即ちノードは、ノイズ
の影響を受けることなく、第2図ハに示すように安定し
て“L"となる。その結果第3のMOSトランジスタ6はオ
ンする事がなく、ノードは“L"になる事はない。ま
た、MOSトランジスタ12も、ノイズの影響を受けずに常
にオンであるので、このMOSトランジスタ12によっても
ノードは“H"に安定する。
In operation, when the memory cell 1 is off, the node becomes "H" due to the precharge of the first MOS transistor 3. When the spiked noise shown in FIG. 2B enters this node, the node which is the output of the inverter 5 becomes “H” momentarily as shown in FIG. 2B, but it is composed of the transmission gate 11 and the capacitor 10. The noise is cut by the filter. Therefore the third
The gate or node of the MOS transistor 6 is stably brought to "L" as shown in FIG. 2C without being affected by noise. As a result, the third MOS transistor 6 never turns on, and the node never goes "L". Further, since the MOS transistor 12 is always on without being affected by noise, the node is stabilized at "H" also by this MOS transistor 12.

発明の効果 以上詳述したように、この発明によればセンス回路に
ノイズが入っても、読出ラインがLに固定されずにHに
安定させることができ、確実にメモリセルのデータを読
み出すことができる。
As described above in detail, according to the present invention, even if noise is introduced into the sense circuit, the read line can be stabilized at H without being fixed at L, and the data in the memory cell can be reliably read. You can

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

第1図はこの発明のセンス回路の一実施例を示す回路
図、第2図は第1図の回路の要部の波形図、第3図は従
来のセンス回路を示す回路図、第4図は第3図の回路に
ノイズが入ったときの状態を示す波形図である。 1…メモリセル、2…読出ライン、3,4,6…MOSトランジ
スタ、5…インバータ、10…コンデンサ、11…抵抗、12
…MOSトランジスタ。
FIG. 1 is a circuit diagram showing an embodiment of the sense circuit of the present invention, FIG. 2 is a waveform diagram of a main part of the circuit of FIG. 1, FIG. 3 is a circuit diagram showing a conventional sense circuit, and FIG. FIG. 4 is a waveform diagram showing a state when noise is introduced into the circuit of FIG. 1 ... Memory cell, 2 ... Read line, 3,4,6 ... MOS transistor, 5 ... Inverter, 10 ... Capacitor, 11 ... Resistor, 12
... MOS transistors.

Claims (1)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】メモリセルに接続される読出ラインの信号
を入力するインバータと、前記読出ラインに接続された
第1のMOSトランジスタであってオンのときに前記読出
ラインを第1の論理レベルにプリチャージするための第
1のMOSトランジスタと、互いに直列に接続された第2
および第3のMOSトランジスタから成る直列回路であっ
て一端が前記読出ラインに接続され第2および第3のMO
Sトランジスタの双方がオンのときに前記読出ラインに
第1の論理レベルの反転レベルである第2の論理レベル
を供給するための直列回路とを有し、システムクロック
を第1および第2のMOSトランジスタのゲートに印加す
ることにより第1および第2のMOSトランジスタを相反
的にオン・オフさせ、前記インバータの出力を第3のMO
Sトランジスタのゲートに印加するための信号経路を設
けることにより、前記読出ラインが第2の論理レベルに
なると第3のMOSトランジスタをオンさせる構成とし
て、前記インバータの出力からメモリの内容を示す信号
を得るようにしたセンス回路において、 前記インバータの出力を第3のMOSトランジスタのゲー
トに印加するための前記信号経路中に、コンデンサと抵
抗にてなるローパスフィルタを挿入したことを特徴とす
るセンス回路。
1. An inverter for inputting a signal of a read line connected to a memory cell, and a first MOS transistor connected to the read line, which brings the read line to a first logic level when turned on. A first MOS transistor for precharging and a second MOS transistor connected in series with each other.
And a third MOS transistor, one end of which is connected to the read line and the second and third MO transistors are connected.
A series circuit for supplying the read line with a second logic level which is an inverted level of the first logic level when both S-transistors are on, and supplies a system clock to the first and second MOS transistors. By applying to the gate of the transistor, the first and second MOS transistors are turned on and off reciprocally, and the output of the inverter is turned on to the third MO.
By providing a signal path for applying to the gate of the S-transistor, the third MOS transistor is turned on when the read line becomes the second logic level, and a signal indicating the contents of the memory is output from the output of the inverter. In the sense circuit thus obtained, a low-pass filter including a capacitor and a resistor is inserted in the signal path for applying the output of the inverter to the gate of the third MOS transistor.
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