JP2667468B2 - Carrier tape transfer device, inner lead bonding device - Google Patents
Carrier tape transfer device, inner lead bonding deviceInfo
- Publication number
- JP2667468B2 JP2667468B2 JP63249386A JP24938688A JP2667468B2 JP 2667468 B2 JP2667468 B2 JP 2667468B2 JP 63249386 A JP63249386 A JP 63249386A JP 24938688 A JP24938688 A JP 24938688A JP 2667468 B2 JP2667468 B2 JP 2667468B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- carrier tape
- inner lead
- semiconductor chip
- tape
- curvature
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/50—Tape automated bonding [TAB] connectors, i.e. film carriers; Manufacturing methods related thereto
Landscapes
- Wire Bonding (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 〔発明の目的〕 (産業上の利用分野) 本発明は,例えば,半導体チップ部品のその表面に圧
着したキャリアテープを走行させるキャリアテープの搬
送装置及びこのキャリアテープの搬送装置を有するイン
ナリードボンディング装置に関する。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Object of the Invention] (Industrial application field) The present invention relates to a carrier tape transport device for transporting a carrier tape pressed onto the surface of a semiconductor chip component, and a transport of the carrier tape. The present invention relates to an inner lead bonding apparatus having the apparatus.
(従来の技術) 近時,第3図に示すように,キャリアテープ1の表面
に設けられたインナリード2を半導体チップ3の電極部
4…にボンディングする,いわゆるインナリードボンデ
ィングが普及している。すなわち,このインナリードボ
ンディングは,シネフィルム状のキャリアテープ1に設
けたインナリード2と,このキャリアテープ1の下方に
置かれた半導体チップ3の電極部4…とを対向させて位
置合せした後,加熱した高温のボンディングツール5に
よって上記インナリード2と電極部4…とに同時に加圧
することによって、半導体チップ3をインナリード2に
熱溶着させるものである。ここで,図中に6…で示すの
は各半導体チップ3の圧着位置に開口した位置決め用孔
である。(Prior Art) In recent years, as shown in FIG. 3, so-called inner lead bonding, in which inner leads 2 provided on the surface of a carrier tape 1 are bonded to electrode portions 4 of a semiconductor chip 3, has become widespread. . In other words, this inner lead bonding is performed after the inner leads 2 provided on the cine film-shaped carrier tape 1 and the electrode portions 4 of the semiconductor chip 3 placed below the carrier tape 1 are opposed to each other and aligned. The semiconductor chip 3 is thermally welded to the inner leads 2 by simultaneously applying pressure to the inner leads 2 and the electrode portions 4 by a heated high-temperature bonding tool 5. Here, reference numerals 6... In the figure denote positioning holes opened at the crimping positions of the respective semiconductor chips 3.
また,図示しないが,上記キャリアテープ1は供給リ
ールに巻かれた状態で搬送装置に装着され,上記ボンデ
ィングツール5と溶着前の半導体チップ4との間を通過
するようにして導かれた後,巻取リールに巻き取られて
いる。そして,このキャリアテープ1の走行経路には,
キャリアテープ1にテンションを与えるダンサローラ,
その他の各種ローラ,スプロケット,およびテープガイ
ド等が配置されており,供給リールから供給されたキャ
リアテープ1は,これらローラやスプロケット等のガイ
ド部材によって走行案内されて巻取リールに巻き取られ
る。Although not shown, the carrier tape 1 is mounted on a transporting device while being wound on a supply reel, and is guided to pass between the bonding tool 5 and the semiconductor chip 4 before welding. It is wound on a take-up reel. And the traveling route of the carrier tape 1 includes
Dancer roller for applying tension to the carrier tape 1,
Various other rollers, sprockets, tape guides, and the like are arranged. The carrier tape 1 supplied from the supply reel is guided by the rollers, sprockets, and other guide members, and is wound on a take-up reel.
さらに,キャリアテープ1が,上記両リールの芯に巻
きついたり,上記各種ローラ,スプロケット,およびテ
ープガイドなどに走行案内されたりするときには,キャ
リアテープ1は上述のリールやローラ等の各曲面,すな
わち走行面に湾曲しながら接している。Further, when the carrier tape 1 is wound around the cores of both reels or is guided to run on the various rollers, sprockets, tape guides, etc., the carrier tape 1 is curved on the reels, rollers, etc., that is, It is in contact with the running surface while bending.
ところで、近年は,IC製造の歩留向上に伴ってICサイ
ズが大型化しており,このため,例えば一片が10mm以上
のものも頻繁に使用されるようになった。しかし,この
ような大寸法の半導体チップをインナリードボンディン
グする場合,ボンディングしてから巻取リールに巻取ら
れるまでの経路において,キャリアテープ1が小さな曲
率半径で湾曲すると,第4図に示すようにインナリード
2が半導体チップ3のエッジ部3aに接触したり,インナ
リード2が破断したりすることがあった。つまり、曲率
半径が小さい場合,走行案内されるキャリアテープ1に
は急な湾曲が生じるが,これに対して半導体チップ3は
湾曲せずに,インナリード2をキャリアテープ1のほう
へ押付けていた。したがって,この押圧力によりインナ
リード2に変形が生じ、インナリード2が半導体チップ
3のエッジ部3aに接触したり,また,インナリード2が
破断したりすることがあった。By the way, in recent years, the IC size has been increased in accordance with the improvement in the yield of IC manufacturing. For this reason, for example, a piece having a size of 10 mm or more has been frequently used. However, in the case of inner lead bonding of such a large-sized semiconductor chip, when the carrier tape 1 is curved with a small radius of curvature in the path from the bonding to the winding on the winding reel, as shown in FIG. In some cases, the inner lead 2 may come into contact with the edge 3a of the semiconductor chip 3, or the inner lead 2 may be broken. In other words, when the radius of curvature is small, the carrier tape 1 guided for traveling sharply curves. On the other hand, the semiconductor chip 3 does not bend, and the inner leads 2 are pressed toward the carrier tape 1. . Accordingly, the pressing force deforms the inner lead 2, and the inner lead 2 may come into contact with the edge 3 a of the semiconductor chip 3 or the inner lead 2 may be broken.
(発明が解決しようとする課題) 上述のように従来のものでは,キャリアテープに急な
湾曲が生じ,これによって半導体チップと圧着したイン
ナリードが半導体チップのエッジ部に接触したり,上記
インナリードが破断したりすることがあった。(Problems to be Solved by the Invention) As described above, in the related art, the carrier tape is sharply curved, and thereby the inner leads crimped on the semiconductor chip come into contact with the edge portion of the semiconductor chip, or the inner leads are not bent. Was sometimes broken.
本発明の目的とするところは,キャリアテープの急な
湾曲を原因として発生するこれらの製品不良を防止する
ことにある。SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to prevent these product defects caused by a sharp curvature of a carrier tape.
(課題を解決するための手段及び作用) 上記目的を達成するために本発明は,キャリアテープ
を湾曲しながら走行案内するガイド部材のテープ走行面
の曲率半径Rを, R≧{icosθ+(a−b)}/sinθ i:リードの長さ a:半導体チップの搬送方向の長さの1/2 b:半導体チップ端部からインナリードと半導体チップと
の接合部までの距離 h:キャリアテープが湾曲することによって生じるインナ
リードのバンプの高さ θ:tan-1(h/b) となるように構成したキャリアテープの搬送装置,及
び,このように形成されたキャリアテープの搬送装置を
有するインナリードボンディング装置を得るものであ
る。(Means and Actions for Solving the Problems) In order to achieve the above object, the present invention provides a guide member that guides the carrier tape while curving the tape, by changing the radius of curvature R of the tape running surface to R ≧ 部 材 icosθ + (a− b)} / sinθ i: Lead length a: 1/2 of the length of the semiconductor chip in the transport direction b: Distance from the end of the semiconductor chip to the junction between the inner lead and the semiconductor chip h: Curved carrier tape And the inner lead having the carrier tape conveying device formed so as to have a height θ: tan -1 (h / b) of the bump of the inner lead caused by the above-described process. A bonding apparatus is obtained.
こうすることによって本発明は,キャリアテープの湾
曲を緩やかにし,インナリードと半導体チップのエッジ
部との接触や,インナリードの破断などを防止し,良品
率を高めることができるようにしたことにある。By doing so, the present invention makes it possible to moderate the curvature of the carrier tape, prevent the contact between the inner lead and the edge portion of the semiconductor chip, the breakage of the inner lead, and the like, and improve the yield rate. is there.
(実施例) 以下,本発明の一実施例を図面に基づいて説明する。
なお,説明の中で従来の技術の項で説明したものと同じ
ものについては同一番号を付す。Embodiment An embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings.
In the description, the same parts as those described in the section of the prior art are designated by the same reference numerals.
第1図は本発明の一実施例(インナリードボンディン
グ装置のキャリアテープの搬送装置に適用した一実施
例)を示すもので、図中1は合成樹脂などからなり,そ
の一方の側面にほぼ一定間隔でインナリード2を設け
た,シネフィルム状のキャリアテープである。このキャ
リアテープ1は,供給側モータ7によって駆動される供
給リール8から例えば下方へ導出されており,第1の固
定ローラ9の外周に形成された曲面,すなわちテープ走
行面10の一部に接して湾曲している。つぎに,キャリア
テープ1は上記第1の固定ローラ9の下方に配置された
供給側ダンサローラ11に達し,このダンサローラ11の外
周に形成されたテープ走行面12に接して湾曲したのち,
この上方に配置された第2の固定ローラ13に達してい
る。ここで,上記ダンサローラ11とは,図中に矢印Aで
示すようにスライドして,キャリアテープ1に常にテン
ションを与えることができるようにするものである。FIG. 1 shows an embodiment of the present invention (an embodiment applied to a carrier tape conveying device of an inner lead bonding device). In the drawing, reference numeral 1 denotes a synthetic resin or the like, and one side thereof is substantially constant. This is a cine film carrier tape having inner leads 2 provided at intervals. The carrier tape 1 is led downward, for example, from a supply reel 8 driven by a supply-side motor 7, and comes into contact with a curved surface formed on the outer periphery of the first fixed roller 9, that is, a part of the tape running surface 10. Curved. Next, the carrier tape 1 reaches the supply-side dancer roller 11 arranged below the first fixed roller 9 and contacts the tape running surface 12 formed on the outer periphery of the dancer roller 11 to be curved,
It reaches the second fixed roller 13 arranged above. Here, the dancer roller 11 is adapted to slide as shown by an arrow A in the figure so that the carrier tape 1 can always be tensioned.
さらに,キャリアテープ1は,第2の固定ローラ13の
外周に形成されたテープ走行面14に接して湾曲したのち
には,ほぼ水平状態で走行して第1のスプロケット15に
達し,このスプロケット15のテープ走行面16に接して斜
め下方へ湾曲している。なお,上記キャリアテープ1に
は一定間隔で連続して形成された送り孔(図示しない)
が設けられており,上記スプロケット15の外周に形成さ
れた送り歯15a…がこの送り孔に入り込むようになって
いる。Further, the carrier tape 1 is curved in contact with the tape running surface 14 formed on the outer periphery of the second fixed roller 13, and then runs in a substantially horizontal state to reach the first sprocket 15 and the sprocket 15 In contact with the tape running surface 16 and is obliquely curved downward. In addition, the carrier tape 1 has feed holes (not shown) formed continuously at regular intervals.
Are provided, and the feed dogs 15a formed on the outer circumference of the sprocket 15 are inserted into the feed holes.
そして,キャリアテープ1は中央部を開口したテープ
ガイド17のテープ走行面18に接して水平状態になってい
る。このテープガイド17の上記開口部19の上方にはボン
ディングツール5が配置されており,このボンディング
ツール5の先端と,キャリアテープ1における上記開口
部19に案内された部分とは対向している。また,ボンデ
ィングツール5の下方にはキャリアテープ1を介在させ
て半導体チップ3が設置されている。そして,キャリア
テープ1のインナリード2と半導体チップ3と対向させ
て位置合せした後,加熱したボンディングツール5でキ
ャリアテープ1の所定の位置を一定時間押付けて加圧
し,半導体チップ3の電極(図示しない)を上記インナ
リード2に熱溶着する。なお,半導体チップ3を予め加
熱しておくようにしてもよい。The carrier tape 1 is in a horizontal state in contact with the tape running surface 18 of the tape guide 17 having an open center. The bonding tool 5 is disposed above the opening 19 of the tape guide 17, and the tip of the bonding tool 5 faces the portion of the carrier tape 1 guided by the opening 19. The semiconductor chip 3 is provided below the bonding tool 5 with the carrier tape 1 interposed therebetween. Then, after positioning the inner leads 2 of the carrier tape 1 and the semiconductor chips 3 so as to face each other, a predetermined position of the carrier tape 1 is pressed by a heated bonding tool 5 for a certain period of time, and the electrodes of the semiconductor chips 3 (shown in FIG. Is welded to the inner lead 2. Note that the semiconductor chip 3 may be heated in advance.
また,半導体チップ3をその下面に圧着したキャリア
テープ1は,第2のスプロケット20のテープ走行面に21
に接して湾曲したのち,第3の固定ローラ22,巻込み側
のダンサローラ23,および第4の固定ローラ24のそれぞ
れに形成された各テープ走行面25,26,27に接して湾曲
し,上方へ導かれて,巻取側モータ28によって駆動され
る巻取リール29に巻き取られる。ここで,第1図中に30
で示すのはスペーサテープである。Further, the carrier tape 1 in which the semiconductor chip 3 is pressure-bonded to its lower surface is placed on the tape running surface of the second sprocket 20.
And then bends in contact with each tape running surface 25, 26, 27 formed on each of the third fixed roller 22, the winding-side dancer roller 23, and the fourth fixed roller 24. And is taken up by the take-up reel 29 driven by the take-up motor 28. Here, 30 in FIG.
Is a spacer tape.
このように,キャリアテープ1は上記両リール8,29,
各種ローラ,および両スプロケット15,20等の案内部材
により案内されて走行している。さらに,これら各案内
部材に形成された各テープ走行面(12,14,16など)の曲
率半径は50mm以上に設定されている。As described above, the carrier tape 1 is composed of the two reels 8, 29,
It travels while being guided by various rollers and guide members such as both sprockets 15 and 20. Furthermore, the radius of curvature of each tape running surface (12, 14, 16, etc.) formed on each of these guide members is set to 50 mm or more.
つまり,キャリアテープ1の湾曲部における各部分を
第2図に示すように設定した場合,上記ガイド部材のテ
ープ走行面(または,キャリアテープ1の湾曲部)の曲
率半径Rは, R≧{icosθ+(a−b)}/sinθ として求めることができる。That is, when each part of the curved portion of the carrier tape 1 is set as shown in FIG. 2, the radius of curvature R of the tape running surface of the guide member (or the curved portion of the carrier tape 1) is R ≧ {icosθ + (Ab) b / sin θ.
ここで, i:リード長 a:半導体チップ3の,キャリアテープ1の走行方向に対
応する長さの1/2 b:半導体チップ3の端部からインナリード2と半導体チ
ップ3との接合部までの距離 h:キャリアテープ1が湾曲することによって生じるイン
ナリード2のバンプの高さ θ:tan-1(h/b) であり,さらに,インナリード2は湾曲したキャリアテ
ープ1の接線方向にのびてバンプを生じると仮定してい
る。Here, i: lead length a: 1/2 of the length of the semiconductor chip 3 corresponding to the running direction of the carrier tape 1 b: from the end of the semiconductor chip 3 to the junction between the inner lead 2 and the semiconductor chip 3 Distance h: bump height of the inner lead 2 caused by the bending of the carrier tape 1 θ: tan −1 (h / b), and the inner lead 2 extends in the tangential direction of the curved carrier tape 1. It is assumed that bumps will occur.
そして,各部分を平均的な寸法,すなわち,a=5mm,b
=0.2mm,h=0.02mm,i=0.5mmと仮定すると,曲率半径R
の値として約50mmが得られる。すなわち,上記曲率半径
Rの値が50mm以上であれば,インナリード2と半導体チ
ップ3とが接触せず,インナリード2が半導体チップ3
によって押圧されることがない。そして,インナリード
2が変形するということがなく,インナリード2と半導
体チップ3のエッジ部3aとの接触や,インナリード2の
破断などが発生することがない。したがって,上記各テ
ープ走行面(12,14,16など)の曲率半径を50mm以上に設
定することにより,上述の接触や破断を原因とする製品
不良が大幅に低減し,良品率が高まる。Then, make each part an average size, that is, a = 5mm, b
= 0.2mm, h = 0.02mm, i = 0.5mm, the radius of curvature R
Of about 50 mm is obtained. That is, when the value of the radius of curvature R is 50 mm or more, the inner lead 2 and the semiconductor chip 3 do not come into contact with each other, and the inner lead 2 does not contact the semiconductor chip 3.
It is not pressed by. The inner lead 2 is not deformed, and the inner lead 2 does not contact the edge portion 3a of the semiconductor chip 3 or the inner lead 2 does not break. Therefore, by setting the radius of curvature of each of the tape running surfaces (12, 14, 16 and the like) to 50 mm or more, product defects due to the above-mentioned contact or breakage are significantly reduced, and the yield rate is increased.
なお,本発明は,電子部品をテープキャリア化したも
のであれば上述の実施例には限定されず,例えば電気検
査を行なう検査装置,および樹脂封止などを行なう封止
装置にも適用することが可能である。また,上述したよ
うにボンディングした後のガイド部材の曲率半径を上記
一実施例のように形成するだけでなく,ボンディング位
置より前に設けられたガイド部材の曲率半径について本
発明を適用しても特に問題はない。The present invention is not limited to the above embodiments as long as the electronic components are formed into a tape carrier, and may be applied to, for example, an inspection device for performing an electrical inspection and a sealing device for performing resin sealing. Is possible. In addition to forming the radius of curvature of the guide member after bonding as described above as in the above embodiment, the present invention can be applied to the radius of curvature of the guide member provided before the bonding position. There is no particular problem.
以上説明したように本発明によれば,キャリアテープ
の湾曲が緩やかになり,これによってインナリードと半
導体チップのエッジ部との接触や,インナリードの破断
などを防止でき,良品率を高めることができるという効
果がある。As described above, according to the present invention, the curvature of the carrier tape becomes gentle, so that the contact between the inner lead and the edge portion of the semiconductor chip and the breakage of the inner lead can be prevented, and the yield rate can be improved. There is an effect that can be.
第1図および第2図は本発明の一実施例を示すもので,
第1図はインナリードボンディング装置に用いられたキ
ャリアテープの走行経路(走行路)を示す概略図,第2
図は実施例中の数式を説明するための概略図,第3図お
よび第4図は従来例を示すもので,第3図はインナリー
ドボンディングする状態を示す一部縦断した正面図,第
4図は製品不良が生じた状態を示す同じく正面図であ
る。 1……キャリアテープ,2……インナリード,3……半導体
チップ。1 and 2 show an embodiment of the present invention.
FIG. 1 is a schematic view showing a traveling path (traveling path) of a carrier tape used in an inner lead bonding apparatus.
FIGS. 3 and 4 are schematic views for explaining mathematical expressions in the embodiment, and FIGS. 3 and 4 are views showing a conventional example. FIG. 3 is a partially longitudinal front view showing a state of inner lead bonding. The figure is also a front view showing a state where a product defect has occurred. 1 ... Carrier tape, 2 ... Inner lead, 3 ... Semiconductor chip.
Claims (6)
ードが形成されたキャリアテープを走行案内するキャリ
アテープの搬送装置において,上記キャリアテープを湾
曲させながら走行案内するガイド部材の上記キャリアテ
ープ走行面の曲率半径Rを, R≧{icosθ+(a−b)}/sinθ i:リードの長さ a:半導体チップの搬送方向の長さの1/2 b:半導体チップ端部からインナリードと半導体チップと
の接合部までの距離 h:キャリアテープが湾曲することによって生じるインナ
リードのバンプの高さ θ:tan-1(h/b) となるように構成したことを特徴とするキャリアテープ
の搬送装置。1. A carrier tape conveying apparatus for traveling and guiding a carrier tape having an inner lead bonded to a semiconductor component, wherein a curvature of the carrier tape traveling surface of a guide member for traveling and guiding the carrier tape while bending the carrier tape. The radius R is calculated as follows: R ≧ {icosθ + (ab)} / sinθ i: Lead length a: 1/2 of the length in the semiconductor chip transport direction b: Distance between the semiconductor chip end and the inner lead and the semiconductor chip A carrier tape transport device characterized in that the distance to the joint is h: the height of the inner lead bumps caused by the carrier tape being curved, θ: tan -1 (h / b).
徴とする特許請求の範囲第1項記載のキャリアテープの
搬送装置。2. The carrier tape transporting device according to claim 1, wherein the radius of curvature R is R ≧ 50 mm.
ドと半導体部品がボンディングされた後のキャリアテー
プ走行路に設けられていることを特徴とする特許請求の
範囲第1項又は第2項記載のキャリアテープの搬送装
置。3. The carrier according to claim 1, wherein the guide member is provided on a carrier tape running path after at least the inner lead and the semiconductor component are bonded. Tape transport device.
させながら走行案内し,上記インナリードに半導体部品
をボンディングするインナリードボンディング装置にお
いて,上記キャリアテープを湾曲させながら走行案内す
るガイド部材は,そのガイド部材の上記キャリアテープ
の走行面の曲率半径Rを, R≧{icosθ+(a−b)}/sinθ i:リードの長さ a:半導体チップの搬送方向の長さの1/2 b:半導体チップ端部からインナリードと半導体チップと
の接合部までの距離 h:キャリアテープが湾曲することによって生じるインナ
リードのバンプの高さ θ:tan-1(h/b) となるように構成されていることを特徴とするインナリ
ードボンディング装置。4. In an inner lead bonding apparatus for guiding a carrier tape on which leads are formed while curving the semiconductor tape and bonding a semiconductor component to the inner lead, a guide member for guiding the traveling while curving the carrier tape is provided. The curvature radius R of the running surface of the carrier tape of the guide member is expressed as follows: R ≧ {icosθ + (ab)} / sinθ i: Length of lead a: 1/2 of length of semiconductor chip in transport direction b: Semiconductor The distance from the chip end to the junction between the inner lead and the semiconductor chip. H: The height of the bump of the inner lead generated when the carrier tape is curved. Θ: tan -1 (h / b) An inner lead bonding apparatus.
徴とする特許請求の範囲第4項記載のインナリードボン
ディング装置。5. The inner lead bonding apparatus according to claim 4, wherein the radius of curvature R is R ≧ 50 mm.
ドと半導体部品がボンディングされた後のキャリアテー
プ走行路に設けられていることを特徴とする特許請求の
範囲第4項又は第5項記載のインナリードボンディング
装置。6. The inner member according to claim 4, wherein the guide member is provided on a carrier tape running path after at least the inner lead and the semiconductor component are bonded. Lead bonding equipment.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63249386A JP2667468B2 (en) | 1988-10-03 | 1988-10-03 | Carrier tape transfer device, inner lead bonding device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63249386A JP2667468B2 (en) | 1988-10-03 | 1988-10-03 | Carrier tape transfer device, inner lead bonding device |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0297030A JPH0297030A (en) | 1990-04-09 |
JP2667468B2 true JP2667468B2 (en) | 1997-10-27 |
Family
ID=17192230
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP63249386A Expired - Fee Related JP2667468B2 (en) | 1988-10-03 | 1988-10-03 | Carrier tape transfer device, inner lead bonding device |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2667468B2 (en) |
-
1988
- 1988-10-03 JP JP63249386A patent/JP2667468B2/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0297030A (en) | 1990-04-09 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US5452841A (en) | Wire bonding apparatus and method | |
KR970006724B1 (en) | Method of manufacturing semiconductor devices, and leadframe and differential overlapping apparatus therefor | |
JP2667468B2 (en) | Carrier tape transfer device, inner lead bonding device | |
CN113664089A (en) | Stamping material belt manufacturing system | |
GB2233268A (en) | Wire electrode removal system | |
US20030079444A1 (en) | Method and apparatus for flattening cover tape | |
JPH04275444A (en) | Tape carrier transfer sprocket or roller | |
US20050227410A1 (en) | Manufacture of microelectronic fold packages | |
JP3757852B2 (en) | TCP handler and TCP tape running method | |
JP2576635B2 (en) | Inner lead bonding method and apparatus | |
US6419138B1 (en) | Device conveying a carrier tape used for electronic components | |
JP2809749B2 (en) | Semiconductor device manufacturing apparatus and method | |
KR100379894B1 (en) | The device of optical fiber forming tool in jacketing process | |
JP2004087792A (en) | Guide roller for tab tape | |
JP2953559B2 (en) | Band wrap fixing device | |
JP3181332B2 (en) | Inner lead bonding apparatus and inner lead bonding method | |
JP3425516B2 (en) | Apparatus for manufacturing insulation displacement wire | |
JPH04199724A (en) | Inner lead bonding equipment | |
JP2643884B2 (en) | Bump forming method | |
JPH08316691A (en) | Taping device for semiconductor device | |
JP2962398B2 (en) | Band wrap fixing method | |
JPS63255927A (en) | Manufacture of semiconductor device | |
JP2005219781A (en) | Component package tape, component packaging device, and component packaging method | |
JP2785991B2 (en) | Hoop-shaped lead frame welding equipment | |
JPH03296252A (en) | Lead frame and device for manufacturing product wherein it is used |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |