JP2638147B2 - 磁気ヘッドのギャップ位置認識方法 - Google Patents
磁気ヘッドのギャップ位置認識方法Info
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- JP2638147B2 JP2638147B2 JP63264506A JP26450688A JP2638147B2 JP 2638147 B2 JP2638147 B2 JP 2638147B2 JP 63264506 A JP63264506 A JP 63264506A JP 26450688 A JP26450688 A JP 26450688A JP 2638147 B2 JP2638147 B2 JP 2638147B2
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- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
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Description
【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、磁気ヘッドの位置調整または検査における
ヘッドギャップの位置認識方法に関するものである。
ヘッドギャップの位置認識方法に関するものである。
従来の技術 従来、磁気ヘッドのギャップ位置認識方法としては、
画像入力装置を用いて入力した二次元濃淡画像データか
ら微分値の水平方向成分が大きな点の集合を抽出し、抽
出した点の集合からギャップに対応した線を探し出して
位置認識をする方法がよく用いられている。
画像入力装置を用いて入力した二次元濃淡画像データか
ら微分値の水平方向成分が大きな点の集合を抽出し、抽
出した点の集合からギャップに対応した線を探し出して
位置認識をする方法がよく用いられている。
以下、第７図〜第10図を参照しながら、上述した従来
の磁気ヘッドのギャップ位置認識方法について説明す
る。
の磁気ヘッドのギャップ位置認識方法について説明す
る。
第７図は、磁気ヘッドの前面のギャップ１付近の拡大
図、第８図は、第７図のギャップ１を横切る水平ライン
７のデータをグラフで示したものである。第９図は、第
８図のデータを二次微分したグラフである。第10図は、
第７図において水平方向の二次微分の絶対値が最大とな
る点５を各水平ライン７ごとに抽出し、マルで表わした
ものである。
図、第８図は、第７図のギャップ１を横切る水平ライン
７のデータをグラフで示したものである。第９図は、第
８図のデータを二次微分したグラフである。第10図は、
第７図において水平方向の二次微分の絶対値が最大とな
る点５を各水平ライン７ごとに抽出し、マルで表わした
ものである。
固体撮像素子または撮像管型カメラを用いて、第７図
の画像を光電変換し、さらにアナログ／ディジタル変換
（以下A/D変換と呼ぶ）したものを記憶回路に格納す
る。第７図において、２はヘッドの帯磁部（以下トラッ
クと呼ぶ）を示す。次に、画像の水平方向の二次微分を
式（１）によって行う。
の画像を光電変換し、さらにアナログ／ディジタル変換
（以下A/D変換と呼ぶ）したものを記憶回路に格納す
る。第７図において、２はヘッドの帯磁部（以下トラッ
クと呼ぶ）を示す。次に、画像の水平方向の二次微分を
式（１）によって行う。
ｂi,j＝−ａｉ−1,j＋２・ａi,j−ａｉ＋1,j （１ｉxs,1ｊ＜ys ……（１） 但し、ａi,jとｂi,jは、それぞれ入力データと出力デ
ータの左からｉ番目、上からｊ番目の画像の要素（以下
画素と呼ぶ）である。またxs,ysは画像の横と縦のサイ
ズ（xsは１本の水平線上の画素数、ysは１本の垂直線上
の画素の数）である。第７図に示す水平ライン７の上の
データに対して二次微分した結果を第９図に示してい
る。
ータの左からｉ番目、上からｊ番目の画像の要素（以下
画素と呼ぶ）である。またxs,ysは画像の横と縦のサイ
ズ（xsは１本の水平線上の画素数、ysは１本の垂直線上
の画素の数）である。第７図に示す水平ライン７の上の
データに対して二次微分した結果を第９図に示してい
る。
次に、二次微分の出力画像の各水平ライン７につい
て、最小値を見つけ出す。第７図の画像の二次微分の結
果について、各水平ライン７の最小値を見つけ出した結
果を第10図に示す。第10図において、７は水平ライン、
５は各水平ライン７上における画像の二次微分の最小値
を示している。
て、最小値を見つけ出す。第７図の画像の二次微分の結
果について、各水平ライン７の最小値を見つけ出した結
果を第10図に示す。第10図において、７は水平ライン、
５は各水平ライン７上における画像の二次微分の最小値
を示している。
次に、上記処理で得られた最小値の座標を磁気ヘッド
のギャップ角度（以下アジマス角と呼ぶ）の方向に投影
し、アジマス角方向の投影の集合を得、この集合の分布
の最も密度の高い部分を計算することにより、ギャップ
の位置を得るという方法である。
のギャップ角度（以下アジマス角と呼ぶ）の方向に投影
し、アジマス角方向の投影の集合を得、この集合の分布
の最も密度の高い部分を計算することにより、ギャップ
の位置を得るという方法である。
発明が解決しようとする課題 しかしながら、上記の方法では、ギャップの幅が狭い
とき、ギャップ点よりトラックのエッジや、トラック上
のゴミや汚れのエッジの法が二次微分値が小さくなり誤
認識をすることがある。従来の方法で誤認識をする例を
第１図，第２図，第11図，第12図を参照しながら説明す
る。
とき、ギャップ点よりトラックのエッジや、トラック上
のゴミや汚れのエッジの法が二次微分値が小さくなり誤
認識をすることがある。従来の方法で誤認識をする例を
第１図，第２図，第11図，第12図を参照しながら説明す
る。
第１図は磁気ヘッドの前面のギャップ付近の拡大図
で、第１図中は磁気ヘッドのギャップ、２はトラック、
６はトラック２上の汚れ、７はギャップ１と汚れ６の上
を通る水平ラインである。第２図は、第１図の水平ライ
ン７のデータをグラフで示したものである。第11図は、
第２図のデータに対して従来の方法で二次微分を求めた
グラフである。ギャップ幅が狭い場合ギャップ１の陰影
は弱くなり、汚れ部６の陰影が強く現れる。従来の方向
で二次微分するとその微分値はギャップ部１より汚れ６
のエッジ部分の方が小さくなり、ギャップ１でない部分
を見つけ出すことになる。第12図は第１図において水平
方向の二次微分が最小値となる点５を、各水平ライン７
ごとに抽出し、マルで表わしたものである。同図よりギ
ャップ１以外の点を多く抽出していることにより、ギャ
ップ１の位置を誤認識することが分かる。
で、第１図中は磁気ヘッドのギャップ、２はトラック、
６はトラック２上の汚れ、７はギャップ１と汚れ６の上
を通る水平ラインである。第２図は、第１図の水平ライ
ン７のデータをグラフで示したものである。第11図は、
第２図のデータに対して従来の方法で二次微分を求めた
グラフである。ギャップ幅が狭い場合ギャップ１の陰影
は弱くなり、汚れ部６の陰影が強く現れる。従来の方向
で二次微分するとその微分値はギャップ部１より汚れ６
のエッジ部分の方が小さくなり、ギャップ１でない部分
を見つけ出すことになる。第12図は第１図において水平
方向の二次微分が最小値となる点５を、各水平ライン７
ごとに抽出し、マルで表わしたものである。同図よりギ
ャップ１以外の点を多く抽出していることにより、ギャ
ップ１の位置を誤認識することが分かる。
以上、従来の方法では、ギャップ幅が狭いとき、ゴミ
や汚れにより誤認識をすることがあり、特にトラック幅
が狭い時にはギャップが短かくなり二次微分値の投影値
が小さくなり誤認識しやすい問題点があった。
や汚れにより誤認識をすることがあり、特にトラック幅
が狭い時にはギャップが短かくなり二次微分値の投影値
が小さくなり誤認識しやすい問題点があった。
本発明は上記問題点に鑑み、ギャップ幅が狭くトラッ
ク上のゴミや汚れやトラックのエッジ部のコントラスト
がギャップより強い画像でも、高精度かつ高速に磁気ヘ
ッドのギャップ位置を認識できる方法を提供するもので
ある。
ク上のゴミや汚れやトラックのエッジ部のコントラスト
がギャップより強い画像でも、高精度かつ高速に磁気ヘ
ッドのギャップ位置を認識できる方法を提供するもので
ある。
課題を解決するための手段 上記問題点を解決するために本発明のギャップ位置認
識方法は、画像入力装置を用いて入力した二次元濃淡画
像データから、微分値が大きくかつ周囲点の濃度レベル
がしきい値以上である点の集合を抽出し、上記点集合を
磁気ヘッドのアジマス角の方向に投影したデータからギ
ャップ位置を算出することを特徴とするものである。
識方法は、画像入力装置を用いて入力した二次元濃淡画
像データから、微分値が大きくかつ周囲点の濃度レベル
がしきい値以上である点の集合を抽出し、上記点集合を
磁気ヘッドのアジマス角の方向に投影したデータからギ
ャップ位置を算出することを特徴とするものである。
作用 上発明は上記の構成により、ギャップ幅が狭くトラッ
ク上のゴミや汚れのエッジのコトラストが強い場合で
も、ゴミ等のエッジの周囲濃淡レベルはしきい値より小
さいため微分値が大きくでも注目点としては抽出され
ず、ギャップ点が抽出される。
ク上のゴミや汚れのエッジのコトラストが強い場合で
も、ゴミ等のエッジの周囲濃淡レベルはしきい値より小
さいため微分値が大きくでも注目点としては抽出され
ず、ギャップ点が抽出される。
実 施 例 以下、本発明の一実施例について、第１図〜第６図を
参照しながら説明する。
参照しながら説明する。
第１図は磁気ヘッドの前面のギャップ１付近の拡大
図、第２図は第１図においてギャップ１と汚れ６の上を
横切る水平ライン７のデータをグラフで示したものであ
る。第３図は第２図のデータに対して微分値を求める点
の周囲の点の濃淡レベルがしきい値以上である点につい
て二次微分したグラフである。第４図は第１図において
水平方向の二次微分の絶対値が最大で、かつ周囲の濃淡
レベルがしきい値以上となる点を、各水平ライン７ごと
に抽出し、マルで表わしたものである。第５図は第４図
を、アジマス角と同じ方向の同一間隔の線の集合で区切
ったものである。第６図は第５図の各領域毎にマルの数
を集計したものである。
図、第２図は第１図においてギャップ１と汚れ６の上を
横切る水平ライン７のデータをグラフで示したものであ
る。第３図は第２図のデータに対して微分値を求める点
の周囲の点の濃淡レベルがしきい値以上である点につい
て二次微分したグラフである。第４図は第１図において
水平方向の二次微分の絶対値が最大で、かつ周囲の濃淡
レベルがしきい値以上となる点を、各水平ライン７ごと
に抽出し、マルで表わしたものである。第５図は第４図
を、アジマス角と同じ方向の同一間隔の線の集合で区切
ったものである。第６図は第５図の各領域毎にマルの数
を集計したものである。
次に、本実施例の磁気ヘッドのギャップ位置認識方法
について、図面を参照しながら説明する。
について、図面を参照しながら説明する。
固体撮像素子または撮像管型カメラを用いて、第１図
の画像を光電変換し、さらにA/D変換したものを記憶回
路に格納する。次に、入力データの左からｉ番目上から
ｊ番目の画像の要素（以下画素と呼ぶ）ａi,jの周囲の
濃淡レベルを式（１）によって求める。
の画像を光電変換し、さらにA/D変換したものを記憶回
路に格納する。次に、入力データの左からｉ番目上から
ｊ番目の画像の要素（以下画素と呼ぶ）ａi,jの周囲の
濃淡レベルを式（１）によって求める。
ｃi,j＝ａｉ−ｋ−l,j＋ａｉ−ｋ−ｌ＋1,j＋……＋ａ
ｉ−k,j ＋ａｉ＋k,j＋ａｉ＋ｋ＋1,j＋……＋ａ
ｉ＋ｋ＋ｌ−1,j＋ａｉ＋ｋ＋l,j （１ｉxs,1ｊ＜ys,1k,Oｌ＜ｋ） ……（１） 但し、xs,ysは画像の横と縦のサイズ（xsは１本の水
平線上の画素数,ysは１本の垂直線上の画素数）、k,lは
対象とする周囲を示す整数の定数である。
ｉ−k,j ＋ａｉ＋k,j＋ａｉ＋ｋ＋1,j＋……＋ａ
ｉ＋ｋ＋ｌ−1,j＋ａｉ＋ｋ＋l,j （１ｉxs,1ｊ＜ys,1k,Oｌ＜ｋ） ……（１） 但し、xs,ysは画像の横と縦のサイズ（xsは１本の水
平線上の画素数,ysは１本の垂直線上の画素数）、k,lは
対象とする周囲を示す整数の定数である。
次に求めた濃淡レベルｃi,jとしきい値Ｔとを比較
し、次式（２）の条件にもとづいて二次微分の値を求め
る。
し、次式（２）の条件にもとづいて二次微分の値を求め
る。
第１図の画像について、水平ライン７の上のデータに
対して式（１），（２）により求めた二次微分の結果を
第３図に示している。
対して式（１），（２）により求めた二次微分の結果を
第３図に示している。
次に、本発明による二次微分の出力画像の各水平ライ
ン７について、最小値を見つけ出す。第１図の画像の本
実施例による二次微分の結果について、各水平ライン７
の最小値を見つけ出した結果を第４図に示す。ここで最
小値となる点５はマルで記入している。
ン７について、最小値を見つけ出す。第１図の画像の本
実施例による二次微分の結果について、各水平ライン７
の最小値を見つけ出した結果を第４図に示す。ここで最
小値となる点５はマルで記入している。
次に、上記処理で得られた最小値の座標をアジマス角
の方向に投影する。即ち以下のような処理を行う。
の方向に投影する。即ち以下のような処理を行う。
最小値の座標を（x,y）とする。x,yはそれぞれ水平な
らびに垂直の座標である。（x,y）に対して、アジマス
角方向の投影Ｐは式（３）によって得られる。
らびに垂直の座標である。（x,y）に対して、アジマス
角方向の投影Ｐは式（３）によって得られる。
Ｐ＝ｘ−ｙ・cotanθ ……（３） ここで、θはアジマス角である。画像上では、Ｐは
（x,y）を通るアジマス角と平行な直線とｘ軸との交点
をｘ座標として得られる。
（x,y）を通るアジマス角と平行な直線とｘ軸との交点
をｘ座標として得られる。
以上のようにして、周囲の濃淡レベルがしきい値以上
で二次微分が最小値となる点５の、アジマス角方向の投
影の集合が得られる。この集合の分布を計算して、最も
密度の高い部分を探す。即ちｘ座標を等間隔に分割し、
投影された点５を最も含む区間を探す。
で二次微分が最小値となる点５の、アジマス角方向の投
影の集合が得られる。この集合の分布を計算して、最も
密度の高い部分を探す。即ちｘ座標を等間隔に分割し、
投影された点５を最も含む区間を探す。
第１図の画像について、この処理を行った結果を第５
図と第６図に示す。第５図は、アジマス角に平行な等間
隔な線の集合を示している。この線の方向に、周囲濃淡
レベルがしきい値以上で二次微分が最小値の座標を投影
し、第６図のように等間隔に分かれた各区間毎に分布を
計算し、最も最小値を多く含む区間を見つける。
図と第６図に示す。第５図は、アジマス角に平行な等間
隔な線の集合を示している。この線の方向に、周囲濃淡
レベルがしきい値以上で二次微分が最小値の座標を投影
し、第６図のように等間隔に分かれた各区間毎に分布を
計算し、最も最小値を多く含む区間を見つける。
周囲の濃淡レベルとしきい値を比較し、しきい値以外
の濃淡レベルで二次微分を求めることにより、ギャップ
１より強い陰影のゴミや汚れ６でも、ギャップ幅以上の
広がりを有しており、求まる二次微分値の絶対値は小さ
くなる。これにより、ギャップ部１が二次微分の最小値
として得られる確立が高くなる。ここで最小値をアジマ
ス角方向に投影すると、ギャップ１に相当する最小値は
加算されるため、ギャップ幅が狭く、ゴミや汚れ6,画像
信号のノイズなどによる誤認識率が少なくなる。
の濃淡レベルで二次微分を求めることにより、ギャップ
１より強い陰影のゴミや汚れ６でも、ギャップ幅以上の
広がりを有しており、求まる二次微分値の絶対値は小さ
くなる。これにより、ギャップ部１が二次微分の最小値
として得られる確立が高くなる。ここで最小値をアジマ
ス角方向に投影すると、ギャップ１に相当する最小値は
加算されるため、ギャップ幅が狭く、ゴミや汚れ6,画像
信号のノイズなどによる誤認識率が少なくなる。
上記の処理を行った後、見つけた区間の周辺の区間に
含まれる最小値の集合の平均を計算し、ギャップ１の推
定位置とする。
含まれる最小値の集合の平均を計算し、ギャップ１の推
定位置とする。
発明の効果 以上のように、本発明は、画像入力装置を用いて入力
した二次元濃淡画像データから微分値が大きく周囲の濃
淡レベルがしきい値以上である点の集合を抽出する工程
と、上記点集合を磁気ヘッドのギャップ角度の方向に投
影したデータからギャップ位置を算出する工程からな
り、従来の二次元濃淡画像の単なる微分値の水平方向成
分の大きな点の集合を抽出することによる方法に比べ、
ギャップの幅が狭く、ゴミや汚れなどの陰影が強い画像
でも、高速かつ高精度に磁気ヘッドのギャップ位置を認
識できその効果は大きい。
した二次元濃淡画像データから微分値が大きく周囲の濃
淡レベルがしきい値以上である点の集合を抽出する工程
と、上記点集合を磁気ヘッドのギャップ角度の方向に投
影したデータからギャップ位置を算出する工程からな
り、従来の二次元濃淡画像の単なる微分値の水平方向成
分の大きな点の集合を抽出することによる方法に比べ、
ギャップの幅が狭く、ゴミや汚れなどの陰影が強い画像
でも、高速かつ高精度に磁気ヘッドのギャップ位置を認
識できその効果は大きい。
第１図は本発明の実施例における磁気ヘッドの前面のギ
ャップ付近の拡大図、第２図は第１図のギャップを横切
る水平ラインのデータをグラフで示した図、第３図は第
１図のデータを周囲の濃淡レベルがしきい値以上の点で
二次微分してグラフ化した図、第４図は第２図において
水平方向の二次微分の絶対値が最大でかつ周囲の濃淡レ
ベルがしきい値以上となる点を水平ラインごとに抽出し
てマルで表わした図、第５図は第４図をアジマス角と同
じ方向の同一間隔を線を集合で区切ったものを示す図、
第６図は第５図の各領域ごとにマルの数を集計したもの
を示す図、第７図は従来例における磁気ヘッドの前面の
ギャップ付近の拡大図、第８図は第７図のギャップを横
切る水平ラインのデータをグラフで示した図、第９図は
第８図のデータを二次微分してグラフ化した図、第10図
は第７図において水平方向の二次微分の絶対値が最大と
なる点を水平ラインごとに抽出してマルで表わした図、
第11図は第２図のデータに対して従来の方法で二次微分
を求めたグラフ、第12図は第１図において従来の方法で
水平方向の二次微分が最小値となる点を各水平ラインご
とに抽出した図である。 １……ギャップ、５……点。
ャップ付近の拡大図、第２図は第１図のギャップを横切
る水平ラインのデータをグラフで示した図、第３図は第
１図のデータを周囲の濃淡レベルがしきい値以上の点で
二次微分してグラフ化した図、第４図は第２図において
水平方向の二次微分の絶対値が最大でかつ周囲の濃淡レ
ベルがしきい値以上となる点を水平ラインごとに抽出し
てマルで表わした図、第５図は第４図をアジマス角と同
じ方向の同一間隔を線を集合で区切ったものを示す図、
第６図は第５図の各領域ごとにマルの数を集計したもの
を示す図、第７図は従来例における磁気ヘッドの前面の
ギャップ付近の拡大図、第８図は第７図のギャップを横
切る水平ラインのデータをグラフで示した図、第９図は
第８図のデータを二次微分してグラフ化した図、第10図
は第７図において水平方向の二次微分の絶対値が最大と
なる点を水平ラインごとに抽出してマルで表わした図、
第11図は第２図のデータに対して従来の方法で二次微分
を求めたグラフ、第12図は第１図において従来の方法で
水平方向の二次微分が最小値となる点を各水平ラインご
とに抽出した図である。 １……ギャップ、５……点。
Claims (1)
- 【請求項１】二次元濃淡画像データから、その２次微分
値が大きくかつ周囲の点の濃淡レベルがしきい値以上で
ある点の集合を抽出し、上記集合を磁気ヘッドのギャッ
プ角度方向に射影したデータからギャップの位置を算出
することを特徴とする磁気ヘッドのギャップ位置認識方
法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63264506A JP2638147B2 (ja) | 1988-10-20 | 1988-10-20 | 磁気ヘッドのギャップ位置認識方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63264506A JP2638147B2 (ja) | 1988-10-20 | 1988-10-20 | 磁気ヘッドのギャップ位置認識方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02110302A JPH02110302A (ja) | 1990-04-23 |
| JP2638147B2 true JP2638147B2 (ja) | 1997-08-06 |
Family
ID=17404184
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63264506A Expired - Fee Related JP2638147B2 (ja) | 1988-10-20 | 1988-10-20 | 磁気ヘッドのギャップ位置認識方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2638147B2 (ja) |
-
1988
- 1988-10-20 JP JP63264506A patent/JP2638147B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH02110302A (ja) | 1990-04-23 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |