JP2618492B2 - Thick film circuit direct drawing method - Google Patents

Thick film circuit direct drawing method

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JP2618492B2 JP22925389A JP22925389A JP2618492B2 JP 2618492 B2 JP2618492 B2 JP 2618492B2 JP 22925389 A JP22925389 A JP 22925389A JP 22925389 A JP22925389 A JP 22925389A JP 2618492 B2 JP2618492 B2 JP 2618492B2
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克彦 田口
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Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は、厚膜回路直接描画方法、更に詳細には、回
路基板からの反射光を受光する高さセンサを用い反射面
からの垂直方向の距離データを求めて回路基板に厚膜回
路パターンを描画する厚膜回路直接描画方法に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Industrial Application Field] The present invention relates to a method for directly drawing a thick film circuit, and more specifically, a vertical direction from a reflecting surface using a height sensor for receiving light reflected from a circuit board. And a thick film circuit direct drawing method for drawing a thick film circuit pattern on a circuit board by obtaining distance data of a thick circuit.

[従来の技術] 現在のハイブリッドICは、薄膜ICと同様に高密度化、
多層化が要求されており、このため絶縁体を挟んで複数
の導体パターンを何層にも積層する厚膜回路形成技術が
用いられている。通常、厚膜回路は、XYテーブル上の所
定位置に配置されたセラミックなどから成る回路基板上
にあらかじめ決定されたプログラムに応じてノズルから
導体ペーストを吐出して所定の回路パターンを描画する
直接描画装置を用いて作られている。
[Prior art] The current hybrid IC has a high density, similar to a thin film IC.
Multilayering is required, and for this reason, a thick-film circuit forming technique of laminating a plurality of conductive patterns with an insulator interposed therebetween is used. Normally, a thick film circuit is drawn directly on a circuit board made of ceramic or the like placed at a predetermined position on an XY table according to a predetermined program by discharging conductive paste from nozzles to draw a predetermined circuit pattern Made using equipment.

このように厚膜回路を形成する場合、回路基板の正確
な高さを測定し、その上で描画を行なわなければならな
い。この高さは、高さセンサを用いて測定されており、
近年容易に高精度な検出が可能で、しかもコストが安く
実現できることでポジション・センシング・デバイスPS
D(以下位置検出素子という)を利用した距離センサが
高さセンサとして多く使用されている。
When forming a thick-film circuit in this way, it is necessary to measure the exact height of the circuit board and then perform drawing. This height is measured using a height sensor,
In recent years, position sensing device PS has been able to easily and accurately detect and realize low cost.
A distance sensor using D (hereinafter, referred to as a position detecting element) is often used as a height sensor.

[発明が解決しようとする課題] このような高さセンサを用いて高さデータを求める場
合、回路基板上から回路パターンへ至る境界部において
光量変化信号が鈍った形状になり、それにより高さ方向
の距離の測定が不正確になるという問題がある。このた
め、従来では、同時に反射光量を求め、回路基板上から
回路パターンへ至る境界部において発生する反射光量変
化が予め定めたしきい値以上になったとき境界部である
と判断して、この境界部における上記高さデータを補正
するようにしている。
[Problem to be Solved by the Invention] When height data is obtained using such a height sensor, the light quantity change signal has a dull shape at the boundary from the circuit board to the circuit pattern. There is a problem that the measurement of the distance in the direction becomes inaccurate. For this reason, in the related art, the amount of reflected light is determined at the same time, and when the change in the amount of reflected light that occurs at the boundary from the circuit board to the circuit pattern is equal to or greater than a predetermined threshold value, it is determined to be the boundary. The height data at the boundary is corrected.

通常、この反射光量は、導体の種類や経時変化よって
異なる値を示し、例えば、金や銀は、銀パラジウムより
も反射光量が大きく、また高抵抗の場合は、低抵抗より
も同様に反射光量が大きく、さらに、一般的に時間が経
過すると反射光量は小さくなる。従って、上述したよう
に固定したしきい値で反射光量変化を検出すると、正確
な高さデータを求めることができなくなる。
Normally, the amount of reflected light shows a different value depending on the type of conductor and the change with time. And the amount of reflected light generally decreases with time. Therefore, if the change in the amount of reflected light is detected with the fixed threshold value as described above, accurate height data cannot be obtained.

従って本発明はこのような課題を解決するためになさ
れたもので、回路基板の高さデータを正確に測定でき正
確な回路パターンを描画することが可能な厚膜回路直接
描画方法を提供することを課題とする。
Accordingly, the present invention has been made to solve such a problem, and it is an object of the present invention to provide a method for directly drawing a thick film circuit capable of accurately measuring height data of a circuit board and drawing an accurate circuit pattern. As an issue.

[課題を解決するための手段] 上述した課題を解決するため、本発明では、回路基板
からの反射光を受光する高さセンサを用い反射面からの
垂直方向の距離データを求めて回路基板に厚膜回路パタ
ーンを描画する厚膜回路直接描画方法において、 回路基板素地と描画パターンのそれぞれのサンプル反
射光量から所定のしきい値を設定し、 回路基板からの反射光量を測定し、その反射光量が前
記しきい値を通過したとき境界部と判断し、その境界部
の前記距離データを、境界部から所定距離離れたところ
の距離データで置き換えることにより補正し、 この補正された距離データに従い描画を行なう方法を
採用した。
[Means for Solving the Problems] In order to solve the above-described problems, the present invention uses a height sensor that receives reflected light from a circuit board to determine vertical distance data from a reflecting surface and attaches the data to the circuit board. In the thick film circuit direct drawing method for drawing a thick film circuit pattern, a predetermined threshold value is set from the sample reflected light amounts of the circuit board substrate and the drawing pattern, the reflected light amount from the circuit board is measured, and the reflected light amount is measured. Is determined to be a boundary when the threshold value is passed, and the distance data of the boundary is corrected by replacing the distance data with a distance data at a predetermined distance from the boundary, and drawing is performed according to the corrected distance data. Was adopted.

[作用] このような方法によれば、回路基板素地と描画パター
ンのそれぞれのサンプル反射光量から所定のしきい値を
設定しているので、導体パターンの材質、経時変化によ
る反射光量の変化があってもそれに対応したしきい値を
設定することができ、距離データの補正を正確に行なう
ことが可能になる。しきい値設定のための回路基板素地
と描画パターンのそれぞれのサンプル反射光量の測定
は、描画中でも可能であるが、描画前に行なって測定デ
ータをメモリに格納しておくのが好ましい。しきい値
は、具体的には回路基板素地と回路パターンのそれぞれ
のサンプル反射光量のほぼ中間値が選ばれる。また、描
画中スパイク状の反射光量の減少が測定されたときパタ
ーンの材質をガラス物質と判断し、このときの反射光量
に基づいて求められた距離データの補正を行なうように
すれば、さらに正確な距離データの補正が可能になる。
[Operation] According to such a method, the predetermined threshold value is set based on the sample reflection light amount of each of the circuit board base and the drawing pattern. However, a threshold value corresponding to the threshold value can be set, and distance data can be accurately corrected. The measurement of the sample reflected light amount of each of the circuit board substrate and the drawing pattern for setting the threshold value can be performed even during the drawing, but it is preferable to perform the measurement before the drawing and store the measurement data in the memory. Specifically, the threshold value is selected to be approximately the intermediate value between the sample reflected light amounts of the circuit board substrate and the circuit pattern. Further, if the decrease in the amount of reflected light in a spike shape during drawing is measured, the material of the pattern is determined to be a glass material, and the distance data obtained based on the amount of reflected light at this time is corrected. Correction of the distance data becomes possible.

[実施例] 以下、図面に示す実施例に基づいて本発明の詳細を説
明する。
EXAMPLES Hereinafter, the details of the present invention will be described based on examples shown in the drawings.

第1図には、本発明方法に用いられる直接描画装置が
図示されている。同図において、符号1はセラミックな
どから成る回路基板で、XおよびY方向に移動されるXY
テーブル2上の所定位置に位置決めされる。この基板1
に対して導体および絶縁体を形成するペーストを吐出す
るインクペン4のノズル3はXYテーブル2に対して垂直
に配置され、XY平面に垂直なZ軸方向にモータ5を介し
て移動される。
FIG. 1 shows a direct drawing apparatus used in the method of the present invention. In FIG. 1, reference numeral 1 denotes a circuit board made of ceramic or the like, which is moved in X and Y directions.
It is positioned at a predetermined position on the table 2. This substrate 1
The nozzle 3 of the ink pen 4 for discharging a paste forming a conductor and an insulator is arranged perpendicular to the XY table 2 and is moved via the motor 5 in the Z-axis direction perpendicular to the XY plane.

ノズル3からのペーストの吐出および吐出停止、XYテ
ーブル2のXY平面における移動をあらかじめ決定された
プログラムに応じて数値制御することによって、回路基
板1上に第2図に示したような各種の回路パターン膜8
を形成することができる。その際、回路基板1の凹凸
は、高さセンサ6によって検出され、ノズル3の高さは
検出された高さに従いZ軸方向に沿ってモータ5を介し
て自動的に制御される。高さセンサ6は、位置検出素子
11を有し、レーザーダイオード等の光源12から出たレー
ザ光が集光レンズ13、偏光フィルタ15を介して回路基板
1に照射され、その回路基板からの反射光が、偏光フィ
ルタ16、集光レンズ14を介して位置検出素子11上に集光
される。
By numerically controlling the discharge of the paste from the nozzle 3 and the stop of the discharge, and the movement of the XY table 2 in the XY plane according to a predetermined program, various circuits as shown in FIG. Pattern film 8
Can be formed. At this time, the unevenness of the circuit board 1 is detected by the height sensor 6, and the height of the nozzle 3 is automatically controlled via the motor 5 along the Z-axis direction according to the detected height. The height sensor 6 is a position detecting element
Laser light emitted from a light source 12, such as a laser diode, is applied to the circuit board 1 via a condenser lens 13 and a polarizing filter 15, and reflected light from the circuit board is reflected by a polarizing filter 16 The light is condensed on the position detecting element 11 via the lens 14.

位置検出素子11は、レーザー光がどこに結像されるか
に従って、その両端から得られる電流i1、i2に異なる電
流を発生させるものである。例えば、回路基板1のパタ
ーンにレーザー光が照射された場合は、位置検出素子11
の略中央点にレーザー光が集光された場合両端の電流値
i1、i2が等しくなり、又基板1と異なる面で反射された
場合にはそれぞれ結像点が異なり、それに従って電流値
i1、i2に差が発生する。この場合、Z方向における距離
は(i1−i2)/(i1+i2)に比例し、又位置検出素子11
が受ける反射光量は(i1+i2)に比例する値となること
が知られており、それぞれ演算部18、17において距離デ
ータ並びに反射光量データが求められる。これらのデー
タはI/O部19を介してCPU10に入力され、そこで、後述す
るように光量データによる距離データの補正が行なわれ
る。
The position detecting element 11 generates different currents for the currents i1 and i2 obtained from both ends thereof, depending on where the laser light is focused. For example, when the pattern of the circuit board 1 is irradiated with laser light, the position detecting element 11
Current value at both ends when laser light is focused on the approximate center of
When i1 and i2 are equal and the light is reflected by a surface different from that of the substrate 1, the image points are different from each other.
A difference occurs between i1 and i2. In this case, the distance in the Z direction is proportional to (i1-i2) / (i1 + i2).
Is known to be a value proportional to (i1 + i2), and the distance data and the reflected light amount data are obtained by the calculation units 18 and 17, respectively. These data are input to the CPU 10 via the I / O unit 19, where the distance data is corrected by the light amount data as described later.

符号9はXYテーブル2をXY方向に移動させるためのモ
ータを制御するモータコントローラドライバである。モ
ータコントローラドライバ9はマイクロプロセッサなど
から成るCPU10によって制御される。また、ノズル3の
高さも、CPU10によって制御されるモータコントローラ
ドライバ9により調節される。
Reference numeral 9 denotes a motor controller driver for controlling a motor for moving the XY table 2 in the XY direction. The motor controller driver 9 is controlled by a CPU 10 including a microprocessor or the like. The height of the nozzle 3 is also adjusted by the motor controller driver 9 controlled by the CPU 10.

高さセンサ6は、回路基板1がXYテーブル2によりXY
方向に移動するので、回路基板1と相対的に移動するこ
とから、回路基板1をライン状に走査することとなる。
従って高さセンサ6から得られる光量データ並びに距離
データは順次メモリ20の距離データマップの格納部20a
に格納される。また、このメモリには、描画データ格納
部20bが設けられており、そこに格納された描画データ
がCPU10に取り入れられ、そこでXYテーブル2の移動デ
ータ、並びにインクペン4を上下させるモータ5の制御
データを処理し、これらデータをモータコントローラド
ライバ9に入力して、インクペン4を所定の高さに調節
しながらノズル3を介して回路基板1上にペーストを吐
出し、描画を行なっていく。
The height sensor 6 is configured such that the circuit board 1 is
Since it moves in the direction, it relatively moves with respect to the circuit board 1, so that the circuit board 1 is scanned in a line.
Therefore, the light quantity data and the distance data obtained from the height sensor 6 are sequentially stored in the distance data map storage unit 20a of the memory 20.
Is stored in The memory is provided with a drawing data storage unit 20b, and the drawing data stored therein is taken into the CPU 10, where the movement data of the XY table 2 and the control data of the motor 5 for moving the ink pen 4 up and down are stored. And inputs these data to the motor controller driver 9 to discharge the paste onto the circuit board 1 via the nozzle 3 while drawing the ink pen 4 while adjusting the ink pen 4 to a predetermined height.

次にこのような描画装置を参照して本発明実施例によ
る補正方法を説明する。
Next, a correction method according to an embodiment of the present invention will be described with reference to such a drawing apparatus.

まず、第3図のステップS1、ステップS2に示したよう
に電源を投入又はリセットし、各ユニットを初期化す
る。続いて、ステップS3において、描画装置本体に取り
付けられたインディケータに回路基板1の素地部分の反
射光量入力を表示し、ステップS4において回路基板1を
手動又はテーブル移動キーを用いて高さセンサ6の下に
移動させレーザスポットを回路基板に当て、ステップS5
において設定キーを押すことによりその反射光量を測定
する。続いて、ステップS6〜S8において、今度は、イン
ディケータに描画する回路パターンの導体の反射光量入
力を表示し、同様に設定キーを押下することにより導体
からの反射光量を測定する。各測定した反射光量の値
は、メモリ20に記憶しておくものとする。
First, as shown in steps S1 and S2 of FIG. 3, the power is turned on or reset to initialize each unit. Subsequently, in step S3, the input of the amount of reflected light of the base portion of the circuit board 1 is displayed on an indicator attached to the main body of the drawing apparatus, and in step S4, the circuit board 1 is manually operated or the height sensor 6 Move down and apply the laser spot to the circuit board.
By pressing the setting key in step, the amount of reflected light is measured. Subsequently, in steps S6 to S8, the reflected light amount input of the conductor of the circuit pattern to be drawn is displayed on the indicator, and the reflected light amount from the conductor is measured by pressing the setting key in the same manner. Each measured value of the reflected light amount is stored in the memory 20.

なお、導体の反射光量の測定は、すでに回路パターン
が描かれているときは、電源投入時又は描画中以外の待
機時に行ない、まだ描画が行なわれていないときには、
適当な導体の予め用意しておいたサンプル等の標本を用
いて行なうものとする。
Note that the measurement of the amount of reflected light from the conductor is performed when the circuit pattern is already drawn, when the power is turned on or during standby other than during drawing, and when drawing is not yet performed,
It should be performed using a sample such as a sample of an appropriate conductor prepared in advance.

続いて、CPU10の制御によりXYテーブル2を駆動し、
距離データ並びに反射光量データを取得する。例えば、
第4図(A)に図示したように導体30、絶縁ガラス31が
セラミック回路基板32上に描画されている場合の距離デ
ータ並びに反射光量データが、第4図(B)、(C)に
図示されている。
Subsequently, the XY table 2 is driven under the control of the CPU 10,
Obtain distance data and reflected light amount data. For example,
The distance data and the reflected light amount data when the conductor 30 and the insulating glass 31 are drawn on the ceramic circuit board 32 as shown in FIG. 4 (A) are shown in FIGS. 4 (B) and 4 (C). Have been.

第4図(B)において、実線Aで示したものが計測さ
れた距離データであり、回路基板と回路パターンの境界
部で突出した誤差35が発生するのが理解できる。この誤
差は、第4図(C)に図示したように、反射光量が所定
のしきい値Hを通過したときが境界部と判断して、例え
ば、距離データを反射光量の変化検出時点(しきい値H
との交点)を中心に移動方向に沿って所定距離分除去
し、除去された部分の高さデータをそれぞれ所定距離離
れたところの距離データで置き換えることによって補正
することができる。
In FIG. 4 (B), the data indicated by the solid line A is the measured distance data, and it can be understood that a protruding error 35 occurs at the boundary between the circuit board and the circuit pattern. As shown in FIG. 4 (C), this error is determined as a boundary when the amount of reflected light passes a predetermined threshold value H. Threshold H
The intersection can be corrected by removing the data by a predetermined distance along the moving direction centering on the intersection point with the distance data, and replacing the height data of the removed portions with the distance data separated by a predetermined distance.

しかし、実際には反射光量は、導体の材質、経時変化
などによって変化し、第5図に図示したように、導体の
材質が金(30a)、銀(30b)でできている場合、あるい
は銀パラジウムでできていて新しい場合(30c)と時間
が経過している場合(30d)とで、反射光量の値は変化
する。従って、しきい値Hを予め定めた場合には、第4
段目に図示したように補正処理後のデータは、実際の形
状にあった高さデータは得られない。そこで本発明で
は、しきい値Hを上述したステップS5、S8で測定された
導体と回路基板素地の反射光量の値をもとに調節するよ
うにする。具体的には、例えば導体と回路基板素地の反
射光量の値のほぼ中間の値を新しいしきい値(H1〜H3)
として設定し、上記した距離データの補正を行なう。こ
れにより第5図の最下段に図示したように実際の形状に
対応した高さデータが得られることになる。
However, in practice, the amount of reflected light varies depending on the material of the conductor, changes over time, and the like. As shown in FIG. 5, when the material of the conductor is made of gold (30a), silver (30b), or The value of the amount of reflected light changes between a case where it is made of palladium and is new (30c) and a case where time has elapsed (30d). Therefore, when the threshold value H is predetermined, the fourth
As shown in the lower diagram, the data after the correction processing cannot obtain the height data corresponding to the actual shape. Therefore, in the present invention, the threshold value H is adjusted based on the values of the amounts of reflected light of the conductor and the circuit board substrate measured in steps S5 and S8 described above. Specifically, for example, a value approximately halfway between the values of the reflected light amounts of the conductor and the circuit board substrate is set to a new threshold (H1 to H3).
And the above-described distance data is corrected. As a result, height data corresponding to the actual shape is obtained as shown in the lowermost part of FIG.

又、第4図(A)に図示したように、回路基板32上に
絶縁ガラス31が描画され、続いて導体30が描画される場
合、絶縁体ペーストはガラス成分がほとんどでレーザ光
がペースト中に侵入するので、計測された高さデータ
は、絶縁ガラスによる誤差Eが発生し、実際より小さい
値となる。
In addition, as shown in FIG. 4A, when the insulating glass 31 is drawn on the circuit board 32 and then the conductor 30 is drawn, the insulating paste has almost all glass components and the laser light is , The measured height data has a value smaller than the actual value because an error E occurs due to the insulating glass.

この補正は、次のようにして行なわれる。第4図
(A)に図示したように絶縁ガラスの境界部にレーザ光
33がきたとき、ガラスは他の導体に比較して膜厚が厚く
ガラス境界部が入射光に対し反射光が入りにくい角度を
有するために、反射光量は、第4図(C)の符号34で示
したようにスパイク状に減少する。そこで、第6図のス
テップT1で示したように、反射光量にスパイク状の光量
減少が発生したか否かを調べ、発生したらステップT2に
おいてその両側の高さデータに差があるかを調べ、あっ
た場合高い方をガラスと認識し(ステップT3)、あらか
じめ決められた補正量で距離データを増加させ、ガラス
による距離データを補正する。さらに、本来の回路基板
の誤差さE′を補正する。
This correction is performed as follows. As shown in FIG. 4 (A), laser light is applied to the boundary of the insulating glass.
When the temperature of 33 is reached, the glass is thicker than the other conductors, and the glass boundary has an angle at which the reflected light is less likely to enter the incident light. As shown by, it decreases like a spike. Therefore, as shown in step T1 of FIG. 6, it is checked whether or not a spike-shaped light amount decrease has occurred in the reflected light amount, and if so, it is checked in step T2 whether there is a difference between the height data on both sides. If there is, the higher one is recognized as glass (step T3), the distance data is increased by a predetermined correction amount, and the distance data by glass is corrected. Further, the error E 'of the original circuit board is corrected.

このようにして、導体の反射光量の差並びに回路基板
と絶縁ガラスによる距離データの誤差を補正したデータ
が第4図(B)に点線Bで図示されており、実際の形状
に対応したデータが得られることが理解できる。
In this manner, data obtained by correcting the difference in the amount of reflected light from the conductor and the error in the distance data between the circuit board and the insulating glass is shown by a dotted line B in FIG. 4B, and the data corresponding to the actual shape is shown in FIG. It can be understood that it can be obtained.

なお、ガラスにも着色されたものもあり、導体と同様
に反射光量に差が発生するので、第3図のステップS9〜
S11に示したようにガラス部分の反射光量の値を記憶し
ておき、ガラス部分が認識されたときしきい値Hをそれ
に対応して補正するようにしてもよい。
In addition, since some glass is also colored and a difference occurs in the amount of reflected light similarly to the conductor, steps S9 to S9 in FIG.
As shown in S11, the value of the reflected light amount of the glass portion may be stored, and when the glass portion is recognized, the threshold value H may be corrected correspondingly.

[発明の効果] 以上説明したように、本発明では、回路基板素地と描
画パターンのそれぞれのサンプル反射光量から所定のし
きい値を設定しているので、導体パターンの材質、経時
変化による反射光量の変化があってもそれに対応したし
きい値を設定することができ、距離データの補正を正確
に行なうことが可能になる。
[Effects of the Invention] As described above, in the present invention, the predetermined threshold value is set based on the sample reflection light amounts of the circuit board substrate and the drawing pattern. , A threshold value corresponding to the change can be set, and the distance data can be accurately corrected.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

第1図は、本発明方法が適用される直接描画装置の構成
を示すブロック図、第2図は、回路パターンと高さセン
サの外観を示す斜視図、第3図は、補正制御の流れを説
明する流れ図、第4図(A)〜(C)は、距離データ取
得の状態を示した説明図、第5図は、距離データの補正
を説明した説明図、第6図は、回路パターンの材質を識
別する制御の流れを示した流れ図である。 1……回路基板 2……XYテーブル 3……ノズル 6……高さセンサ 10……CPU 20……メモリ 30……導体 31……絶縁ガラス 32……セラミック基板
FIG. 1 is a block diagram showing the configuration of a direct drawing apparatus to which the method of the present invention is applied, FIG. 2 is a perspective view showing the appearance of a circuit pattern and a height sensor, and FIG. 4 (A) to 4 (C) are explanatory diagrams illustrating a state of distance data acquisition, FIG. 5 is an explanatory diagram illustrating correction of distance data, and FIG. 6 is a circuit diagram of a circuit pattern. 5 is a flowchart showing a flow of control for identifying a material. 1 ... circuit board 2 ... XY table 3 ... nozzle 6 ... height sensor 10 ... CPU 20 ... memory 30 ... conductor 31 ... insulating glass 32 ... ceramic substrate

Claims (4)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】回路基板からの反射光を受光する高さセン
サを用い反射面からの垂直方向の距離データを求めて回
路基板に厚膜回路パターンを描画する厚膜回路直接描画
方法において、 回路基板素地と描画パターンのそれぞれのサンプル反射
光量から所定のしきい値を設定し、 回路基板からの反射光量を測定し、その反射光量が前記
しきい値を通過したとき境界部と判断し、その境界部の
前記距離データを、境界部から所定距離離れたところの
距離データで置き換えることにより補正し、 この補正された距離データに従い描画を行なうことを特
徴とする厚膜回路直接描画方法。
A thick film circuit direct drawing method for drawing a thick film circuit pattern on a circuit board by obtaining vertical distance data from a reflecting surface using a height sensor for receiving reflected light from the circuit board. A predetermined threshold value is set from the sample reflected light amount of each of the substrate base and the drawing pattern, the reflected light amount from the circuit board is measured, and when the reflected light amount passes the threshold value, it is determined that the boundary is present. A thick film circuit direct drawing method, wherein the distance data at the boundary is corrected by replacing it with distance data at a predetermined distance from the boundary, and drawing is performed according to the corrected distance data.
【請求項2】前記サンプル反射光量を描画前に測定する
ことを特徴とする請求項第1項に記載の厚膜回路直接描
画方法。
2. The method according to claim 1, wherein the sample reflected light amount is measured before drawing.
【請求項3】回路基板素地と描画パターンのそれぞれの
サンプル反射光量のほぼ中間値をしきい値としたことを
特徴とする請求項第1項又は第2項に記載の厚膜回路直
接描画方法。
3. The method according to claim 1, wherein the threshold value is set to a value approximately equal to the intermediate value between the sample reflected light amounts of the circuit board substrate and the drawing pattern. .
【請求項4】描画中スパイク状の反射光量の減少が測定
されたときパターンの材質をガラス物質と判断し、この
ときの反射光量に基づいて求められた距離データの補正
を行なうことを特徴とする請求項第1項から第3項まで
のいずれか1項に記載の厚膜回路直接描画方法。
4. The method according to claim 1, wherein the material of the pattern is determined to be a glass material when a decrease in the amount of reflected light in the form of a spike is measured during drawing, and the distance data obtained based on the amount of reflected light at this time is corrected. The method for directly drawing a thick film circuit according to any one of claims 1 to 3, wherein:
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