JP2615516B2 - 非直線性歪率測定装置 - Google Patents
非直線性歪率測定装置Info
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- JP2615516B2 JP2615516B2 JP3151400A JP15140091A JP2615516B2 JP 2615516 B2 JP2615516 B2 JP 2615516B2 JP 3151400 A JP3151400 A JP 3151400A JP 15140091 A JP15140091 A JP 15140091A JP 2615516 B2 JP2615516 B2 JP 2615516B2
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R23/00—Arrangements for measuring frequencies; Arrangements for analysing frequency spectra
- G01R23/16—Spectrum analysis; Fourier analysis
- G01R23/20—Measurement of non-linear distortion
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- Mathematical Physics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
- Amplifiers (AREA)
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、音響関連機器における
オーディオ帯域の伝送系の忠実度を評価するために用い
る非直線性歪率測定装置に関する。
オーディオ帯域の伝送系の忠実度を評価するために用い
る非直線性歪率測定装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】図４は従来の非直線性歪率測定装置を示
す概略ブロック図である。図４に示すように、ＣＣＩＦ
法（差周波歪法）の入力端子２０１は減衰器２０２に接
続されている。減衰器２０２の出力は、電圧制御可変利
得増幅器２０３の入力に接続され、電圧制御可変利得増
幅器２０３の出力は検波器２０４の入力に接続されてい
る。検波器２０４の出力は、積分増幅器２０５の入力に
接続され、積分増幅器２０５の出力は電圧制御可変利得
増幅器２０３の利得制御端子に接続されている。
す概略ブロック図である。図４に示すように、ＣＣＩＦ
法（差周波歪法）の入力端子２０１は減衰器２０２に接
続されている。減衰器２０２の出力は、電圧制御可変利
得増幅器２０３の入力に接続され、電圧制御可変利得増
幅器２０３の出力は検波器２０４の入力に接続されてい
る。検波器２０４の出力は、積分増幅器２０５の入力に
接続され、積分増幅器２０５の出力は電圧制御可変利得
増幅器２０３の利得制御端子に接続されている。
【０００３】一方、ＳＭＰＴＥ法（混変調歪法）の入力
端子２０６は高域ろ波器２０７の入力に接続されてい
る。高域ろ波器２０７の出力は、検波器２０８の入力に
接続され、検波器２０８の出力は電圧制御可変利得増幅
器２０９の入力に接続されている。電圧制御可変利得増
幅器２０９の出力は高域ろ波器２１０の入力と積分増幅
器２１１の入力に接続され、積分増幅器２１１の出力は
電圧制御可変利得増幅器２０９の利得制御端子に接続さ
れている。
端子２０６は高域ろ波器２０７の入力に接続されてい
る。高域ろ波器２０７の出力は、検波器２０８の入力に
接続され、検波器２０８の出力は電圧制御可変利得増幅
器２０９の入力に接続されている。電圧制御可変利得増
幅器２０９の出力は高域ろ波器２１０の入力と積分増幅
器２１１の入力に接続され、積分増幅器２１１の出力は
電圧制御可変利得増幅器２０９の利得制御端子に接続さ
れている。
【０００４】電圧制御可変利得増幅器２０３の出力と高
域ろ波器２１０の出力は、それぞれＣＣＩＦ法とＳＭＰ
ＴＥ法を切り換える切り換えスイッチ２１２のａ端子と
ｂ端子に接続され、切り換えスイッチ２１２のｃ端子は
低域ろ波器２１３の入力に接続され、電圧制御可変利得
増幅器２０３の出力と高域ろ波器２１０の出力が選択さ
れて低域ろ波器２１３に入力される。低域ろ波器２１３
の出力は同装置の出力端子である２１４に接続されてい
る。
域ろ波器２１０の出力は、それぞれＣＣＩＦ法とＳＭＰ
ＴＥ法を切り換える切り換えスイッチ２１２のａ端子と
ｂ端子に接続され、切り換えスイッチ２１２のｃ端子は
低域ろ波器２１３の入力に接続され、電圧制御可変利得
増幅器２０３の出力と高域ろ波器２１０の出力が選択さ
れて低域ろ波器２１３に入力される。低域ろ波器２１３
の出力は同装置の出力端子である２１４に接続されてい
る。
【０００５】以上の構成において、以下、その動作につ
いて説明する。入力端子２０１に入力するＣＣＩＦ法測
定信号は、図２に示すようなスペクトラムである。この
ＣＣＩＦ法測定信号により電圧制御可変利得増幅器２０
３が飽和しないように、減衰器２０２によりＣＣＩＦ法
測定信号のすべてのスペクトラムを減衰させる。電圧制
御可変利得増幅器２０３の出力は検波器２０４、積分器
２０５を経て電圧制御可変利得増幅器２０３の利得制御
端子に帰還され、これにより出力電圧の実行値、（≒Ｕ
1）が一定となるように測定信号を増幅することができ
る。電圧制御可変利得増幅器２０３から出力された信号
は、切り換えスイッチ２１２のａ−ｃ端子を通り、低域
ろ波器２１３によりＣＣＩＦ法の歪成分である差周波成
分（図２のＡ部）が抽出される。
いて説明する。入力端子２０１に入力するＣＣＩＦ法測
定信号は、図２に示すようなスペクトラムである。この
ＣＣＩＦ法測定信号により電圧制御可変利得増幅器２０
３が飽和しないように、減衰器２０２によりＣＣＩＦ法
測定信号のすべてのスペクトラムを減衰させる。電圧制
御可変利得増幅器２０３の出力は検波器２０４、積分器
２０５を経て電圧制御可変利得増幅器２０３の利得制御
端子に帰還され、これにより出力電圧の実行値、（≒Ｕ
1）が一定となるように測定信号を増幅することができ
る。電圧制御可変利得増幅器２０３から出力された信号
は、切り換えスイッチ２１２のａ−ｃ端子を通り、低域
ろ波器２１３によりＣＣＩＦ法の歪成分である差周波成
分（図２のＡ部）が抽出される。
【０００６】一方、入力端子２０６に入力するＳＭＰＴ
Ｅ法測定信号は、図３に示すようなスペクトラムであ
る。高域ろ波器２０７によりＳＭＰＴＥ法測定信号から
図３のｆl成分を取り除き、その信号を検波器２０８に
おいて検波し、ｆhの振幅変調成分の包絡線を抽出する
準備をする。この信号を電圧制御可変利得増幅器２０９
を介して出力し、この出力を積分増幅器２１１により利
得制御電圧として、電圧制御可変利得増幅器２０９の利
得制御端子に帰還させ、電圧制御可変利得増幅器２０９
の出力信号の包絡線の平均値（≒Ｕh）が一定となるよ
うに増幅する。包絡線の平均値が一定となった電圧制御
可変利得増幅器２０９の出力信号は、高域ろ波器２１
０、切り換えスイッチ２１２のｂ−ｃ端子を通り、低域
ろ波器２１３によりＳＭＰＴＥ法の歪成分である図３の
ｆhの振幅変調成分が抽出される。
Ｅ法測定信号は、図３に示すようなスペクトラムであ
る。高域ろ波器２０７によりＳＭＰＴＥ法測定信号から
図３のｆl成分を取り除き、その信号を検波器２０８に
おいて検波し、ｆhの振幅変調成分の包絡線を抽出する
準備をする。この信号を電圧制御可変利得増幅器２０９
を介して出力し、この出力を積分増幅器２１１により利
得制御電圧として、電圧制御可変利得増幅器２０９の利
得制御端子に帰還させ、電圧制御可変利得増幅器２０９
の出力信号の包絡線の平均値（≒Ｕh）が一定となるよ
うに増幅する。包絡線の平均値が一定となった電圧制御
可変利得増幅器２０９の出力信号は、高域ろ波器２１
０、切り換えスイッチ２１２のｂ−ｃ端子を通り、低域
ろ波器２１３によりＳＭＰＴＥ法の歪成分である図３の
ｆhの振幅変調成分が抽出される。
【０００７】このように上記従来の非直線性歪率測定装
置では、ＣＣＩＦ法においてもＳＭＰＴＥ法において
も、Ｕ1、Ｕhのレベルを一定にすることにより、抽出さ
れた歪成分を歪率として求める。
置では、ＣＣＩＦ法においてもＳＭＰＴＥ法において
も、Ｕ1、Ｕhのレベルを一定にすることにより、抽出さ
れた歪成分を歪率として求める。
【０００８】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来の非直線性歪率測定装置では、電圧制御可変利得増幅
器２０３、２０９、積分増幅器２０５、２１１、検波器
２０４、２０８をＣＣＩＦ法とＳＭＰＴＥ法とで別々に
使用していたため、構成が複雑となる。また、２つの電
圧制御可変利得増幅器２０３、２０９を用いると、製造
工程において２箇所の調整ポイントが発生してしまう。
したがって、信頼性が低く、大型化し、コストアップに
なるなどの問題があった。
来の非直線性歪率測定装置では、電圧制御可変利得増幅
器２０３、２０９、積分増幅器２０５、２１１、検波器
２０４、２０８をＣＣＩＦ法とＳＭＰＴＥ法とで別々に
使用していたため、構成が複雑となる。また、２つの電
圧制御可変利得増幅器２０３、２０９を用いると、製造
工程において２箇所の調整ポイントが発生してしまう。
したがって、信頼性が低く、大型化し、コストアップに
なるなどの問題があった。
【０００９】本発明は、このような従来の問題を解決す
るものであり、構成を簡素化することができ、また、製
造工程を簡略化することができ、したがって、信頼性の
向上、小型化、低コスト化を図ることができるようにし
た非直線性歪率測定装置を提供することを目的とするも
のである。
るものであり、構成を簡素化することができ、また、製
造工程を簡略化することができ、したがって、信頼性の
向上、小型化、低コスト化を図ることができるようにし
た非直線性歪率測定装置を提供することを目的とするも
のである。
【００１０】
【課題を解決するための手段】本発明は、上記目的を達
成するために、電圧制御可変利得増幅器と、この電圧制
御可変利得増幅器に利得制御電圧を帰還する積分増幅器
と、検波器と、上記電圧制御可変利得増幅器からのＣＣ
ＩＦ法測定信号の出力とＳＭＰＴＥ法測定信号を選択し
て上記検波器に入力する検波入力切り換えスイッチと、
上記検波器からのＳＭＰＴＥ法測定信号とＣＣＩＦ法測
定信号の出力を選択して上記電圧制御可変利得増幅器と
上記積分増幅器に入力する検波器出力切り換えスイッチ
と、上記電圧制御可変利得増幅器のＳＭＰＴＥ法測定信
号の出力と上記検波器出力切り換えスイッチにより選択
された上記検波器からのＣＣＩＦ法測定信号の出力を選
択して上記積分増幅器に入力する積分増幅器入力切り換
えスイッチとを備えたものである。
成するために、電圧制御可変利得増幅器と、この電圧制
御可変利得増幅器に利得制御電圧を帰還する積分増幅器
と、検波器と、上記電圧制御可変利得増幅器からのＣＣ
ＩＦ法測定信号の出力とＳＭＰＴＥ法測定信号を選択し
て上記検波器に入力する検波入力切り換えスイッチと、
上記検波器からのＳＭＰＴＥ法測定信号とＣＣＩＦ法測
定信号の出力を選択して上記電圧制御可変利得増幅器と
上記積分増幅器に入力する検波器出力切り換えスイッチ
と、上記電圧制御可変利得増幅器のＳＭＰＴＥ法測定信
号の出力と上記検波器出力切り換えスイッチにより選択
された上記検波器からのＣＣＩＦ法測定信号の出力を選
択して上記積分増幅器に入力する積分増幅器入力切り換
えスイッチとを備えたものである。
【００１１】
【作用】したがって、本発明によれば、ＣＣＩＦ法測定
時には、検波器入力切り換えスイッチにより電圧制御可
変利得増幅器からのＣＣＩＦ法測定信号の出力を選択し
て検波器に入力する。この検波器の出力を検波器出力切
り換えスイッチと積分増幅器入力切り換えスイッチによ
り選択して積分増幅器に入力し、利得制御電圧として電
圧制御可変利得増幅器に帰還することにより、出力電圧
が一定となるように増幅することができる。そして、こ
の一定電圧とした信号から差周波歪成分、すなわち歪率
を抽出することができる。また、ＳＭＰＴＥ法測定時に
は、検波器入力切り換えスイッチによりＳＭＰＴＥ法測
定信号を選択して検波器に入力する。この検波器の出力
を検波器出力切り換えスイッチにより選択して電圧制御
可変利得増幅器に入力する。この電圧制御可変利得増幅
器の出力を積分増幅器入力切り換えスイッチにより選択
して積分増幅器に入力し、利得制御電圧として電圧制御
可変利得増幅器に帰還することにより、振幅変調信号の
包絡線の平均値が一定となるように増幅することができ
る。そして、この一定とした信号から混変調成分、すな
わち、歪率を抽出することができる。このように電圧制
御可変利得増幅器と積分増幅器と検波器とを一つずつ備
えるだけでＣＣＩＦ法とＳＭＰＴＥ法の２種類の歪率を
測定することができるので、構成を簡素化することがで
き、また、電圧制御可変利得増幅器が一つしかないの
で、製造工程での調整箇所が一つだけになり、製造工程
を簡略化することができる。
時には、検波器入力切り換えスイッチにより電圧制御可
変利得増幅器からのＣＣＩＦ法測定信号の出力を選択し
て検波器に入力する。この検波器の出力を検波器出力切
り換えスイッチと積分増幅器入力切り換えスイッチによ
り選択して積分増幅器に入力し、利得制御電圧として電
圧制御可変利得増幅器に帰還することにより、出力電圧
が一定となるように増幅することができる。そして、こ
の一定電圧とした信号から差周波歪成分、すなわち歪率
を抽出することができる。また、ＳＭＰＴＥ法測定時に
は、検波器入力切り換えスイッチによりＳＭＰＴＥ法測
定信号を選択して検波器に入力する。この検波器の出力
を検波器出力切り換えスイッチにより選択して電圧制御
可変利得増幅器に入力する。この電圧制御可変利得増幅
器の出力を積分増幅器入力切り換えスイッチにより選択
して積分増幅器に入力し、利得制御電圧として電圧制御
可変利得増幅器に帰還することにより、振幅変調信号の
包絡線の平均値が一定となるように増幅することができ
る。そして、この一定とした信号から混変調成分、すな
わち、歪率を抽出することができる。このように電圧制
御可変利得増幅器と積分増幅器と検波器とを一つずつ備
えるだけでＣＣＩＦ法とＳＭＰＴＥ法の２種類の歪率を
測定することができるので、構成を簡素化することがで
き、また、電圧制御可変利得増幅器が一つしかないの
で、製造工程での調整箇所が一つだけになり、製造工程
を簡略化することができる。
【００１２】
【実施例】以下、本発明の一実施例について図面を参照
しながら説明する。
しながら説明する。
【００１３】図１は本発明の一実施例における非直線性
歪率測定装置を示す概略ブロック図である。
歪率測定装置を示す概略ブロック図である。
【００１４】図１に示すように、ＣＣＩＦ法とＳＭＰＴ
Ｅ法の測定信号を入力する入力端子１がＣＣＩＦ法とＳ
ＭＰＴＥ法の測定信号を選択する入力切り換えスイッチ
２のａ端子に接続されている。入力切り換えスイッチ２
のｂ端子は減衰器３の入力に接続され、減衰器３の出力
は電圧制御可変利得増幅器４の入力に接続されている。
電圧制御可変利得増幅器４の出力は積分増幅器入力切り
換えスイッチ５のｃ端子、検波器入力切り換えスイッチ
７のｂ端子および高域ろ波器１１の入力に接続されてい
る。入力切り換えスイッチ２のｃ端子は高域ろ波器１０
の入力に接続され、高域ろ波器１０の出力は検波器入力
切り換えスイッチ７のｃ端子に接続され、検波器入力切
り換えスイッチ７のａ端子は検波器８の入力に接続され
ている。検波器８の出力は検波器出力切り換えスイッチ
９のａ端子に接続され、検波器出力切り換えスイッチ９
のｂ端子は積分増幅器入力切り換えスイッチ５のｂ端子
に接続され、検波器出力切り換えスイッチ９のｃ端子は
電圧制御可変利得増幅器４の入力に接続されている。積
分増幅器入力切り換えスイッチ５のａ端子は積分増幅器
６の入力端子に接続され、積分増幅器６の出力は電圧制
御可変利得増幅器４の利得制御端子に接続されている。
高域ろ波器１１の出力は低域ろ波器１２の入力に接続さ
れ、低域ろ波器１２の出力は本装置の出力端子１３に接
続されている。
Ｅ法の測定信号を入力する入力端子１がＣＣＩＦ法とＳ
ＭＰＴＥ法の測定信号を選択する入力切り換えスイッチ
２のａ端子に接続されている。入力切り換えスイッチ２
のｂ端子は減衰器３の入力に接続され、減衰器３の出力
は電圧制御可変利得増幅器４の入力に接続されている。
電圧制御可変利得増幅器４の出力は積分増幅器入力切り
換えスイッチ５のｃ端子、検波器入力切り換えスイッチ
７のｂ端子および高域ろ波器１１の入力に接続されてい
る。入力切り換えスイッチ２のｃ端子は高域ろ波器１０
の入力に接続され、高域ろ波器１０の出力は検波器入力
切り換えスイッチ７のｃ端子に接続され、検波器入力切
り換えスイッチ７のａ端子は検波器８の入力に接続され
ている。検波器８の出力は検波器出力切り換えスイッチ
９のａ端子に接続され、検波器出力切り換えスイッチ９
のｂ端子は積分増幅器入力切り換えスイッチ５のｂ端子
に接続され、検波器出力切り換えスイッチ９のｃ端子は
電圧制御可変利得増幅器４の入力に接続されている。積
分増幅器入力切り換えスイッチ５のａ端子は積分増幅器
６の入力端子に接続され、積分増幅器６の出力は電圧制
御可変利得増幅器４の利得制御端子に接続されている。
高域ろ波器１１の出力は低域ろ波器１２の入力に接続さ
れ、低域ろ波器１２の出力は本装置の出力端子１３に接
続されている。
【００１５】以上の構成について、以下、その動作と共
に更に詳細に説明する。ＣＣＩＦ法測定時には、等しい
振幅Ｕ1を持ち、異なる周波数ｆ1、ｆ2を持つ２信号を
被測定物に加えたときに得られる結合音（図２のスペク
トラムを持つ）の信号が入力端子１より入力され、入力
切り換えスイッチ２により選択され、そのａ−ｂ端子を
経て減衰器３に入力され、電圧制御可変利得増幅器４が
飽和しないようにすべてのスペクトラムが減衰される。
減衰器３を経て電圧制御可変利得増幅器４に入力された
信号は、検波器入力切り換えスイッチ７により選択さ
れ、そのｂ−ａ端子を経て検波器８で検波される。検波
された信号は検波器出力切り換えスイッチ９により選択
されてそのａ−ｂ端子を通り、続いて積分増幅器入力切
り換えスイッチ５により選択されてそのｂ−ａ端子を通
り、積分増幅器６により利得制御電圧として電圧制御可
変利得増幅器４の利得制御端子に帰還され、電圧制御可
変利得増幅器４の出力電圧（図２のＵ1）が一定となる
ように増幅される。すなわち、ＣＣＩＦ法測定時には、
電圧制御可変利得増幅器４の出力信号を検波し、積分し
て利得制御端子に帰還する。そして、電圧制御可変利得
増幅器４で一定電圧とした信号は、高域ろ波器１１、低
域ろ波器１２を経て、差周波歪成分（図２のＡ部）、す
なわち、ＣＣＩＦ法の歪率として出力端子１３に出力さ
れる。
に更に詳細に説明する。ＣＣＩＦ法測定時には、等しい
振幅Ｕ1を持ち、異なる周波数ｆ1、ｆ2を持つ２信号を
被測定物に加えたときに得られる結合音（図２のスペク
トラムを持つ）の信号が入力端子１より入力され、入力
切り換えスイッチ２により選択され、そのａ−ｂ端子を
経て減衰器３に入力され、電圧制御可変利得増幅器４が
飽和しないようにすべてのスペクトラムが減衰される。
減衰器３を経て電圧制御可変利得増幅器４に入力された
信号は、検波器入力切り換えスイッチ７により選択さ
れ、そのｂ−ａ端子を経て検波器８で検波される。検波
された信号は検波器出力切り換えスイッチ９により選択
されてそのａ−ｂ端子を通り、続いて積分増幅器入力切
り換えスイッチ５により選択されてそのｂ−ａ端子を通
り、積分増幅器６により利得制御電圧として電圧制御可
変利得増幅器４の利得制御端子に帰還され、電圧制御可
変利得増幅器４の出力電圧（図２のＵ1）が一定となる
ように増幅される。すなわち、ＣＣＩＦ法測定時には、
電圧制御可変利得増幅器４の出力信号を検波し、積分し
て利得制御端子に帰還する。そして、電圧制御可変利得
増幅器４で一定電圧とした信号は、高域ろ波器１１、低
域ろ波器１２を経て、差周波歪成分（図２のＡ部）、す
なわち、ＣＣＩＦ法の歪率として出力端子１３に出力さ
れる。
【００１６】一方、ＳＭＰＴＥ法測定時には、低い周波
数ｆlで大きな振幅Ｕlの信号と高い周波数ｆhで小さな
振幅Ｕhの信号とを持つ信号を被測定物に加えたときに
得られる結合音（図３のスペクトラムを持つ）の信号が
入力端子１より入力され、入力切り換えスイッチ２によ
り選択され、そのａ−ｃ端子を経て高域ろ波器１０に入
力される。高域ろ波器１０に入力された信号は、図３の
ｆlに示した成分が減衰され、図３のＢ部のようなスペ
クトラムとなり、検波器入力切り換えスイッチ７により
選択されてそのｃ−ａ端子を通り、検波器８に入力す
る。検波器８では、図３のＢ部のスペクトラムの信号を
検波し、いわゆる図３のＢ部に示したｆhの振幅変調成
分の包絡線を抽出する準備をする。そして、検波器８で
検波された信号は、検波器出力切り換えスイッチ９によ
り選択されてそのａ−ｃ端子を通り、電圧制御可変利得
増幅器４に入力される。電圧制御可変利得増幅器４に入
力された信号は、電圧制御可変利得増幅器４の出力が積
分増幅器入力切り換えスイッチ５により選択されてその
ｃ−ａ端子を通り、積分増幅器６で利得制御電圧とな
り、電圧制御可変利得増幅器４の利得制御端子に帰還さ
れることにより、図３のＢ部に示したｆhの振幅変調信
号の包絡線の平均値が一定となるように増幅される。す
なわち、ＳＭＰＴＥ法測定時には、検波した信号を電圧
制御可変利得増幅器４に入力し、増幅された信号を積分
して利得制御端子に帰還し、電圧制御可変利得増幅器４
の出力信号を一定にする。そして、電圧制御可変利得増
幅器４により一定とした信号は、高域ろ波器１１、低域
ろ波器１２を介してｆhの振幅変調の包絡線の交流値成
分、すなわち、混変調成分が抽出され、出力端子１３に
出力される。ここで言う混変調成分は、ＳＭＰＴＥ法に
おける歪成分を示しており、歪率として表わされる。
数ｆlで大きな振幅Ｕlの信号と高い周波数ｆhで小さな
振幅Ｕhの信号とを持つ信号を被測定物に加えたときに
得られる結合音（図３のスペクトラムを持つ）の信号が
入力端子１より入力され、入力切り換えスイッチ２によ
り選択され、そのａ−ｃ端子を経て高域ろ波器１０に入
力される。高域ろ波器１０に入力された信号は、図３の
ｆlに示した成分が減衰され、図３のＢ部のようなスペ
クトラムとなり、検波器入力切り換えスイッチ７により
選択されてそのｃ−ａ端子を通り、検波器８に入力す
る。検波器８では、図３のＢ部のスペクトラムの信号を
検波し、いわゆる図３のＢ部に示したｆhの振幅変調成
分の包絡線を抽出する準備をする。そして、検波器８で
検波された信号は、検波器出力切り換えスイッチ９によ
り選択されてそのａ−ｃ端子を通り、電圧制御可変利得
増幅器４に入力される。電圧制御可変利得増幅器４に入
力された信号は、電圧制御可変利得増幅器４の出力が積
分増幅器入力切り換えスイッチ５により選択されてその
ｃ−ａ端子を通り、積分増幅器６で利得制御電圧とな
り、電圧制御可変利得増幅器４の利得制御端子に帰還さ
れることにより、図３のＢ部に示したｆhの振幅変調信
号の包絡線の平均値が一定となるように増幅される。す
なわち、ＳＭＰＴＥ法測定時には、検波した信号を電圧
制御可変利得増幅器４に入力し、増幅された信号を積分
して利得制御端子に帰還し、電圧制御可変利得増幅器４
の出力信号を一定にする。そして、電圧制御可変利得増
幅器４により一定とした信号は、高域ろ波器１１、低域
ろ波器１２を介してｆhの振幅変調の包絡線の交流値成
分、すなわち、混変調成分が抽出され、出力端子１３に
出力される。ここで言う混変調成分は、ＳＭＰＴＥ法に
おける歪成分を示しており、歪率として表わされる。
【００１７】このように、本実施例によれば、積分増幅
器入力切り換えスイッチ５、検波器入力切り換えスイッ
チ７、検波器出力切り換えスイッチ９を用いることによ
り、電圧制御可変利得増幅器４、積分増幅器６、検波器
８をＣＣＩＦ法とＳＭＰＴＥ法とに共用することがで
き、構成を簡素化することができる。また、１つの電圧
制御可変利得増幅器４を用いればよいので、製造工程に
おいて１箇所調整すればよく、製造工程を簡略化するこ
とができる。したがって、信頼性の向上、小型化、低コ
スト化を図ることができる。
器入力切り換えスイッチ５、検波器入力切り換えスイッ
チ７、検波器出力切り換えスイッチ９を用いることによ
り、電圧制御可変利得増幅器４、積分増幅器６、検波器
８をＣＣＩＦ法とＳＭＰＴＥ法とに共用することがで
き、構成を簡素化することができる。また、１つの電圧
制御可変利得増幅器４を用いればよいので、製造工程に
おいて１箇所調整すればよく、製造工程を簡略化するこ
とができる。したがって、信頼性の向上、小型化、低コ
スト化を図ることができる。
【００１８】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、電
圧制御可変利得増幅器と積分増幅器と検波器をスイッチ
で切り換えて使用することにより、ＣＣＩＦ法とＳＭＰ
ＴＥ法の２種類の非直線性歪率測定を可能とするもので
あり、電圧制御可変利得増幅器と積分増幅器と検波器と
を一つずつ備えるだけでＣＣＩＦ法とＳＭＰＴＥ法の２
種類の歪率を測定することができるので、構成を簡素化
することができる。また、上記のように電圧制御可変利
得増幅器が一つしかないので、製造工程での調整箇所が
一つだけになり、製造工程を簡略化することができる。
したがって、信頼性の向上、小型化、低コスト化を図る
ことができる。
圧制御可変利得増幅器と積分増幅器と検波器をスイッチ
で切り換えて使用することにより、ＣＣＩＦ法とＳＭＰ
ＴＥ法の２種類の非直線性歪率測定を可能とするもので
あり、電圧制御可変利得増幅器と積分増幅器と検波器と
を一つずつ備えるだけでＣＣＩＦ法とＳＭＰＴＥ法の２
種類の歪率を測定することができるので、構成を簡素化
することができる。また、上記のように電圧制御可変利
得増幅器が一つしかないので、製造工程での調整箇所が
一つだけになり、製造工程を簡略化することができる。
したがって、信頼性の向上、小型化、低コスト化を図る
ことができる。
【図１】本発明の一実施例における非直線性歪率測定装
置を示す概略ブロック図
置を示す概略ブロック図
【図２】ＣＣＩＦ法において、等しい振幅を持ち、異な
る周波数を持つ２信号を被測定物に加えたときに生ずる
結合音のスペクトラムを示す図
る周波数を持つ２信号を被測定物に加えたときに生ずる
結合音のスペクトラムを示す図
【図３】ＳＭＰＴＥ法において、低い周波数で大きな振
幅の信号と、高い周波数で小さい振幅の信号とを持つ信
号を被測定物に加えたときに生ずる結合音のスペクトラ
ムを示す図
幅の信号と、高い周波数で小さい振幅の信号とを持つ信
号を被測定物に加えたときに生ずる結合音のスペクトラ
ムを示す図
【図４】従来の非直線性歪率測定装置を示す概略ブロッ
ク図
ク図
２ 入力切り換えスイッチ ３ 減衰器 ４ 電圧制御可変利得増幅器 ５ 積分増幅器入力切り換えスイッチ ６ 積分増幅器 ７ 検波器入力切り換えスイッチ ８ 検波器 ９ 検波器出力切り換えスイッチ １０、１１ 高域ろ波器 １２ 低域ろ波器
Claims (1)
- 【請求項１】 電圧制御可変利得増幅器と、この電圧制
御可変利得増幅器に利得制御電圧を帰還する積分増幅器
と、検波器と、上記電圧制御可変利得増幅器からの差周
波歪法（ＣＣＩＦ法）測定信号の出力と混変調歪法（Ｓ
ＭＰＴＥ法）測定信号を選択して上記検波器に入力する
検波入力切り換えスイッチと、上記検波器からのＳＭＰ
ＴＥ法測定信号とＣＣＩＦ法測定信号の出力を選択して
上記電圧制御可変利得増幅器と上記積分増幅器に入力す
る検波器出力切り換えスイッチと、上記電圧制御可変利
得増幅器のＳＭＰＴＥ法測定信号の出力と上記検波器出
力切り換えスイッチにより選択された上記検波器からの
ＣＣＩＦ法測定信号の出力を選択して上記積分増幅器に
入力する積分増幅器入力切り換えスイッチとを備えた非
直線性歪率測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3151400A JP2615516B2 (ja) | 1991-06-24 | 1991-06-24 | 非直線性歪率測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3151400A JP2615516B2 (ja) | 1991-06-24 | 1991-06-24 | 非直線性歪率測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04372873A JPH04372873A (ja) | 1992-12-25 |
| JP2615516B2 true JP2615516B2 (ja) | 1997-05-28 |
Family
ID=15517765
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3151400A Expired - Fee Related JP2615516B2 (ja) | 1991-06-24 | 1991-06-24 | 非直線性歪率測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2615516B2 (ja) |
-
1991
- 1991-06-24 JP JP3151400A patent/JP2615516B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH04372873A (ja) | 1992-12-25 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |