JP2607310Y2 - Double wave detection circuit - Google Patents

Double wave detection circuit

Info

Publication number
JP2607310Y2
JP2607310Y2 JP1991097539U JP9753991U JP2607310Y2 JP 2607310 Y2 JP2607310 Y2 JP 2607310Y2 JP 1991097539 U JP1991097539 U JP 1991097539U JP 9753991 U JP9753991 U JP 9753991U JP 2607310 Y2 JP2607310 Y2 JP 2607310Y2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
transistor
collector
detection circuit
transistors
wave detection
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP1991097539U
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JPH0548418U (en
Inventor
浩 小宮
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Advantest Corp
Original Assignee
Advantest Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Advantest Corp filed Critical Advantest Corp
Priority to JP1991097539U priority Critical patent/JP2607310Y2/en
Publication of JPH0548418U publication Critical patent/JPH0548418U/en
Application granted granted Critical
Publication of JP2607310Y2 publication Critical patent/JP2607310Y2/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Amplifiers (AREA)

Description

【考案の詳細な説明】[Detailed description of the invention]

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本考案は検波回路に関し、特に、
交流の正負の両波を検波する両波検波回路に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a detection circuit.
The present invention relates to a double-wave detection circuit that detects both positive and negative AC waves.

【0002】[0002]

【従来の技術】図2は両波検波回路の従来例の構成を示
す回路図である。
2. Description of the Related Art FIG. 2 is a circuit diagram showing the configuration of a conventional example of a dual wave detection circuit.

【0003】図2に示される回路では、コンデンサC2
1,C22,C23、抵抗R21,R22,R23,R
25、コイルL21およびトランジスタQ21によって
入力回路が構成され、ダイオードD21,D22,D2
3、抵抗R24,R26,R27,R28、およびトラ
ンジスタQ22,Q23,Q24,Q25によって検波
回路が構成されている。
In the circuit shown in FIG. 2, a capacitor C2
1, C22, C23, resistors R21, R22, R23, R
25, a coil L21 and a transistor Q21 constitute an input circuit, and diodes D21, D22, D2
3. A detection circuit is constituted by the resistors R24, R26, R27, R28 and the transistors Q22, Q23, Q24, Q25.

【0004】入力回路の構成について説明すると、トラ
ンジスタQ21のエミッタは抵抗R21、コンデンサC
21を介して入力端子T21に接続され、また、抵抗R
22を介して−15V電源と結ばれる。トランジスタQ
21のベースは抵抗R23を介して接地される。トラン
ジスタQ21のコレクタはコイルL21、抵抗R25を
介して+15V電源に結ばれ、また、コンデンサC23
を介してトランジスタQ21,Q22のエミッタに結ば
れる。上記のコイルL21と抵抗R25の中点はコンデ
ンサC22を介して接地されている。
The structure of an input circuit will be described. The emitter of a transistor Q21 is a resistor R21 and a capacitor C21.
21 and an input terminal T21.
22 and connected to a -15V power supply. Transistor Q
The base of 21 is grounded via a resistor R23. The collector of the transistor Q21 is connected to a +15 V power supply via a coil L21 and a resistor R25.
To the emitters of the transistors Q21 and Q22. The midpoint between the coil L21 and the resistor R25 is grounded via a capacitor C22.

【0005】一方、検波回路は、トランジスタQ23お
よびトランジスタQ24の各エミッタは抵抗R26およ
び抵抗R27をそれぞれ介して+15V電源に結ばれて
いる。トランジスタQ23、Q24の各ベースおよびト
ランジスタQ23のコレクタはトランジスタQ22のコ
レクタと接続され、トランジスタQ24のコレクタは出
力端子T22に接続されている。トランジスタQ22お
よびトランジスタQ25のエミッタはコンデンサC23
に接続されている。トランジスタQ22のベースはコン
デンサC22を介して接地され、トランジスタQ25の
ベースは抵抗R24を介して接地されている。トランジ
スタQ22のベースとトランジスタQ25のベース間に
は3つのダイオードD21,D23,D22が順方向に
設けられている。トランジスタQ25のコレクタは出力
端子T22と接続されており、該出力端子T22は抵抗
R28を介して接地されている。
On the other hand, in the detection circuit, the emitters of the transistors Q23 and Q24 are connected to a + 15V power supply via resistors R26 and R27, respectively. The bases of the transistors Q23 and Q24 and the collector of the transistor Q23 are connected to the collector of the transistor Q22, and the collector of the transistor Q24 is connected to the output terminal T22. The emitters of the transistors Q22 and Q25 are connected to a capacitor C23.
It is connected to the. The base of the transistor Q22 is grounded via a capacitor C22, and the base of the transistor Q25 is grounded via a resistor R24. Three diodes D21, D23, D22 are provided in the forward direction between the base of the transistor Q22 and the base of the transistor Q25. The collector of the transistor Q25 is connected to the output terminal T22, and the output terminal T22 is grounded via the resistor R28.

【0006】両波検波回路の入力端子T21に交流信号
が入力されると、トランジスタQ22,Q25のエミッ
タには該交流信号が増幅された図3(a)に示すような
波形が現れる。
When an AC signal is input to the input terminal T21 of the dual wave detection circuit, a waveform as shown in FIG. 3A in which the AC signal is amplified appears at the emitters of the transistors Q22 and Q25.

【0007】検波回路段を構成するトランジスタQ22
およびトランジスタQ25の各エミッタに交流信号が入
力されると、正入力時にはトランジスタQ25が動作
し、負入力時にはトランジスタQ22が動作する。これ
らの各動作に応じてトランジスタQ23およびトランジ
スタQ24によって構成されて出力段として動作するカ
レントミラー回路が動作し、出力端子T22には図3
(b)に示すような入力された交流信号の両波の検波波
形が現れる。
A transistor Q22 constituting a detection circuit stage
When an AC signal is input to each emitter of transistor Q25, transistor Q25 operates at the time of positive input, and transistor Q22 operates at the time of negative input. In response to each of these operations, a current mirror circuit constituted by transistor Q23 and transistor Q24 and operating as an output stage operates.
A detection waveform of both waves of the input AC signal as shown in (b) appears.

【0008】上記の両波検波回路においては、カレント
ミラー回路を構成するトランジスタQ23およびトラン
ジスタQ24には特性の揃ったものを用いてそれぞれ等
しいコレクタ電流が流れるように形成する必要がある。
しかしながら、各トランジスタのコレクタ電圧が異な
り、コレクタ損失および発熱量がそれぞれ異なってしま
う。これにより、各トランジスタに温度差が生じてその
特性も異なってしまうため、それぞれを流れるコレクタ
電流値も異なるものとなってしまう。
In the above-described dual-wave detection circuit, it is necessary to form transistors Q23 and Q24 constituting the current mirror circuit so that the same collector current flows by using transistors having the same characteristics.
However, the collector voltage of each transistor is different, and the collector loss and the amount of heat generated are different. As a result, a temperature difference occurs between the transistors and the characteristics thereof are also different, so that the collector current values flowing through the respective transistors also differ.

【0009】例えば、抵抗R26および抵抗R27に1
00Ωのものをそれぞれ用いたときに5mAのコレクタ
電流が各トランジスタに流れ、出力端子T22に1V(P
-P)の波形が現れた場合、順電圧降下を0.6Vとする
とトランジスタQ23のコレクタ電圧は13.9Vとな
る。一方、トランジスタQ24のコレクタ電圧は1V程
度に置かれるため、各トランジスタQ23およびQ24
の各コレクタ損失はおおよそ3mWおよび68mWとな
り発熱量に大きな差が生じてしまう。このため、各トラ
ンジスタが熱平衡状態に達するまでの時間にも差が生じ
てしまい、この間には各トランジスタの特性(主にVEB
特性)が異なるものとなり、出力電圧が不安定なものと
なってしまう。
For example, the resistor R26 and the resistor R27
When a transistor having a resistance of 00Ω is used, a collector current of 5 mA flows through each transistor, and 1 V (P
When the waveform of -P) appears, if the forward voltage drop is 0.6 V, the collector voltage of the transistor Q23 becomes 13.9 V. On the other hand, since the collector voltage of transistor Q24 is set to about 1 V, each of transistors Q23 and Q24
Are about 3 mW and 68 mW, respectively, and a large difference occurs in the calorific value. For this reason, there is a difference in the time required for each transistor to reach the thermal equilibrium state, during which time the characteristics of each transistor (mainly VEB
Characteristic), and the output voltage becomes unstable.

【0010】従来、上記のような発熱量の差による各ト
ランジスタの特性変化の割合を小さなものとするため
に、カレントミラー回路を構成するトランジスタには熱
容量の大きなトランジスタが用いられ、特性が急激に変
化することを防いでいた。
Conventionally, in order to reduce the rate of change in the characteristics of each transistor due to the difference in the amount of heat as described above, a transistor having a large heat capacity is used as a transistor constituting a current mirror circuit, and the characteristics are rapidly increased. Was preventing it from changing.

【0011】[0011]

【考案が解決しようとする課題】上述した従来の両波検
波回路は、各トランジスタの特性変化の割合を小さなも
のとするために必要以上に大きな熱容量のトランジスタ
をカレントミラー回路に用いるので、構成素子の選択幅
が小さくなってしまい、設計の自由度が低く、また、コ
ストが高いものになるという、問題点がある。
The conventional dual-wave detection circuit described above uses transistors having a heat capacity larger than necessary in the current mirror circuit in order to reduce the rate of change in the characteristics of each transistor. However, there is a problem that the selection range becomes small, the degree of freedom of design is low, and the cost is high.

【0012】本考案は上述したような従来の技術が有す
る問題点に鑑みてなされたものであって、カレントミラ
ー回路を構成するトランジスタに生じる発熱量を同程度
のものとし、設計自由度が高く、コストを低減すること
のできる両波検波回路を実現することを目的とする。
The present invention has been made in view of the above-mentioned problems of the prior art, and has the same heat generation amount in the transistors constituting the current mirror circuit, and has high design flexibility. It is another object of the present invention to realize a dual-wave detection circuit capable of reducing cost.

【0013】[0013]

【課題を解決するための手段】本考案の両波検波回路
は、検波信号の出力段にカレントミラー回路が用いられ
た両波検波回路において、前記カレントミラー回路を構
成する2つのトランジスタの各コレクタ電圧を等しいも
のとするための電圧シフト素子が少なくとも一方のトラ
ンジスタのコレクタと出力端子との間に設けられてい
る。
A dual wave detection circuit according to the present invention is a dual wave detection circuit in which a current mirror circuit is used in an output stage of a detection signal, wherein each collector of two transistors constituting the current mirror circuit is provided. A voltage shift element for equalizing the voltage is provided between a collector of at least one transistor and an output terminal.

【0014】[0014]

【作用】電圧シフト素子が設けられることにより、カレ
ントミラー回路を構成する2つのトランジスタの各コレ
クタ電圧を等しいものとなるので、各トランジスタに生
じるコレクタ損失および発熱量が等しいものとなる。こ
のため、各トランジスタが熱平衡状態となるまでの時間
やその間の特性の変化状態も同様のものとなり、出力電
圧が常に安定したものとなる。
With the provision of the voltage shift element, the collector voltages of the two transistors constituting the current mirror circuit are made equal, so that the collector loss and the amount of heat generated in each transistor become equal. Therefore, the time required for each transistor to reach the thermal equilibrium state and the state of change in the characteristics during that time are the same, and the output voltage is always stable.

【0015】[0015]

【実施例】次に、本考案の実施例について図面を参照し
て説明する。
Next, an embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings.

【0016】図1は本考案の一実施例の構成を示す図で
ある。
FIG. 1 is a diagram showing the configuration of an embodiment of the present invention.

【0017】図1中の抵抗R11〜R18、コンデンサ
C11〜C13、ダイオードD11〜D13、コイルL
11、入力端子T11、出力端子T12およびトランジ
スタQ11〜Q15の構成および動作は図2に示した従
来例における抵抗R21〜R28、コンデンサC21〜
C23、ダイオードD21〜D23、コイルL21、入
力端子T21、出力端子T22およびトランジスタQ2
1〜Q25と同様であるため、説明は省略する。
In FIG. 1, resistors R11 to R18, capacitors C11 to C13, diodes D11 to D13, a coil L
11, the configuration and operation of the input terminal T11, the output terminal T12 and the transistors Q11 to Q15 are the same as those of the resistors R21 to R28 and the capacitors C21 to C21 in the conventional example shown in FIG.
C23, diodes D21 to D23, coil L21, input terminal T21, output terminal T22, and transistor Q2
1 to Q25, the description is omitted.

【0018】本実施例においては、トランジスタQ14
のコレクタと出力端子T12との間に電圧シフト素子で
あるツェナーダイオードZD11が設けられている。
In this embodiment, the transistor Q14
A Zener diode ZD11 which is a voltage shift element is provided between the collector of the first and the output terminals T12.

【0019】ツェナーダイオードZD11はツェナー電
圧VDとして≒12Vを有している。図2に示した従来
例と同様に抵抗R16および抵抗R17に100Ωのも
のをそれぞれ用いたときに5mAのコレクタ電流が各ト
ランジスタに流れ、出力端子T12に1V(P-P)の波形
が現れた場合、順電圧降下を0.6Vとするとトランジ
スタQ13のコレクタ電圧は13.9Vとなる。一方、
トランジスタQ14のコレクタ電圧はツェナー電圧VD
が加わるために≒13V程度に置かれるため、各トラン
ジスタQ23およびQ24の各コレクタ損失は3mW程
度となり、ほぼ等しい発熱量となる。
The Zener diode ZD11 has a Zener voltage VD of $ 12V. As in the conventional example shown in FIG. 2, when the resistors R16 and R17 each have a resistance of 100Ω, a collector current of 5 mA flows through each transistor, and a waveform of 1 V (PP) appears at the output terminal T12. Assuming that the forward voltage drop is 0.6V, the collector voltage of transistor Q13 is 13.9V. on the other hand,
The collector voltage of the transistor Q14 is the Zener voltage VD
Is applied, the voltage is set to about ≒ 13 V. Therefore, the collector loss of each of the transistors Q23 and Q24 is about 3 mW, and the heat generation amounts are substantially equal.

【0020】上記のように構成された本実施例のものに
おいては、カレントミラー回路を形成するトランジスタ
Q13,Q14に生じる発熱量がほぼ等しいものとなる
ので、各トランジスタが熱平衡状態に達するまでの時
間、およびこの間における各トランジスタの特性がほぼ
等しいものとなったため、出力電圧の変動を押えること
ができた。
In the present embodiment having the above-described configuration, the amount of heat generated in the transistors Q13 and Q14 forming the current mirror circuit is substantially equal, so that the time required for each transistor to reach a thermal equilibrium state is obtained. , And the characteristics of the respective transistors during this period were substantially equal, so that the fluctuation of the output voltage could be suppressed.

【0021】なお、本実施例において、ツェナーダイオ
ードZD11のツェナー電圧VDは≒12Vとして説明
したが、この値は出力電圧値や抵抗R16,R17の値
および電流値によって決定すればよく、カレントミラー
回路を構成するトランジスタのコレクタ電圧がほぼ等し
いものとなるように選択すればよい。
In the present embodiment, the Zener voltage VD of the Zener diode ZD11 has been described as ≒ 12 V. However, this value may be determined by the output voltage value, the values of the resistors R16 and R17, and the current value. May be selected so that the collector voltages of the transistors constituting the transistors are substantially equal.

【0022】また、電圧シフト素子としてはツェナーダ
イオードを一方のトランジスタのコレクタと出力端子と
の間に設けるものとして説明したが、電圧シフト素子と
してはこの他にトランジスタ等を用いることが考えら
れ、特に限定されるものではない。さらに各トランジス
タにシフト電圧が異なる素子をそれぞれ設けてコレクタ
電圧の調整を精度よく行うものとしてもよい。
Although the description has been made assuming that a Zener diode is provided between the collector of one transistor and the output terminal as the voltage shift element, a transistor or the like may be used as the voltage shift element. It is not limited. Furthermore, elements having different shift voltages may be provided for each transistor, and the collector voltage may be adjusted with high accuracy.

【0023】[0023]

【考案の効果】本考案は以上説明したように構成されて
いるので、以下に記載するような効果を奏する。
[Effects of the Invention] Since the present invention is configured as described above, the following effects can be obtained.

【0024】カレントミラー回路を構成するトランジス
タとして必要以上におおきな熱容量のものを用いなくて
もよいため、設計の自由度を大きくすることができ、コ
ストを低減することができる効果がある。
Since it is not necessary to use a transistor having a larger heat capacity than necessary as a transistor constituting the current mirror circuit, the degree of freedom in design can be increased and the cost can be reduced.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本考案の一実施例の構成を示す回路図である。FIG. 1 is a circuit diagram showing a configuration of an embodiment of the present invention.

【図2】従来例の構成を示す回路図である。FIG. 2 is a circuit diagram showing a configuration of a conventional example.

【図3】(a),(b)のそれぞれは、図2に示した従
来例の動作を示す波形図である。
FIGS. 3A and 3B are waveform diagrams showing the operation of the conventional example shown in FIG.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

C11〜C13 コンデンサ R11〜R18 抵抗 D11〜D13 ダイオード Q11〜Q15 トランジスタ L11 コイル T11 入力端子 T12 出力端子 ZD11 ツェナーダイオード C11-C13 Capacitor R11-R18 Resistance D11-D13 Diode Q11-Q15 Transistor L11 Coil T11 Input terminal T12 Output terminal ZD11 Zener diode

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭53−72444(JP,A) 特開 昭57−62779(JP,A) 特開 昭61−198065(JP,A) 特開 昭61−241668(JP,A) 特開 昭63−80604(JP,A) 特開 昭63−7014(JP,A) ──────────────────────────────────────────────────続 き Continuation of front page (56) References JP-A-53-72444 (JP, A) JP-A-57-62779 (JP, A) JP-A-61-198065 (JP, A) JP-A-61-197965 241668 (JP, A) JP-A-63-80604 (JP, A) JP-A-63-7014 (JP, A)

Claims (1)

(57)【実用新案登録請求の範囲】(57) [Scope of request for utility model registration] 【請求項1】 検波信号の出力段にカレントミラー回路
が用いられた両波検波回路において、 前記カレントミラー回路を構成する2つのトランジスタ
の各コレクタ電圧を等しいものとするための電圧シフト
素子が少なくとも一方のトランジスタのコレクタと出力
端子との間に設けられていることを特徴とする両波検波
回路。
1. A dual-wave detection circuit using a current mirror circuit at an output stage of a detection signal, wherein at least a voltage shift element for equalizing the collector voltages of two transistors constituting the current mirror circuit is provided. A dual-wave detection circuit provided between a collector of one transistor and an output terminal.
JP1991097539U 1991-11-27 1991-11-27 Double wave detection circuit Expired - Fee Related JP2607310Y2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1991097539U JP2607310Y2 (en) 1991-11-27 1991-11-27 Double wave detection circuit

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1991097539U JP2607310Y2 (en) 1991-11-27 1991-11-27 Double wave detection circuit

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH0548418U JPH0548418U (en) 1993-06-25
JP2607310Y2 true JP2607310Y2 (en) 2001-07-09

Family

ID=14195056

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP1991097539U Expired - Fee Related JP2607310Y2 (en) 1991-11-27 1991-11-27 Double wave detection circuit

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2607310Y2 (en)

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6041483B2 (en) * 1976-12-09 1985-09-17 パイオニア株式会社 Detection circuit

Also Published As

Publication number Publication date
JPH0548418U (en) 1993-06-25

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5659264A (en) Temperature drift stabilized filter circuit
JPH03234110A (en) Frequency characteristic variable circuit
US4464632A (en) Volume control circuit
US4611136A (en) Signal delay generating circuit
JP2607310Y2 (en) Double wave detection circuit
US5721505A (en) Delay circuit manufacturable by semiconductor elements
JPH0537822A (en) Gamma correction circuit
JP3016317B2 (en) Variable gain amplifier
JPH09291870A (en) Ignition coil control circuit
JP3675371B2 (en) Voltage regulator
JPH0635559A (en) Constant current circuit
EP0696104B1 (en) Active bandpass filter
JPS60209667A (en) Ignition device for internal-combustion engine
US6002296A (en) Filter circuit with an intermittent constant current with constant period
JP3321897B2 (en) Amplifier circuit
US5299008A (en) Video tone correction control circuit
JP3323983B2 (en) Constant current source circuit
JPH062342Y2 (en) Oscillator circuit
JP3054544B2 (en) Abnormal current detection circuit
JPH0514767A (en) Clamp circuit
JPH0522054A (en) Differential amplifier circuit with emitter follower
JPH05259886A (en) Logic circuit
JP2605705Y2 (en) Membership function circuit
JP3503297B2 (en) Voltage-current conversion circuit
JPH04368080A (en) Switch circuit

Legal Events

Date Code Title Description
A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 19990126

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees