JP2605292B2 - Method of manufacturing magnetic disk substrate - Google Patents

Method of manufacturing magnetic disk substrate

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JP2605292B2 JP19373187A JP19373187A JP2605292B2 JP 2605292 B2 JP2605292 B2 JP 2605292B2 JP 19373187 A JP19373187 A JP 19373187A JP 19373187 A JP19373187 A JP 19373187A JP 2605292 B2 JP2605292 B2 JP 2605292B2
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Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は磁気ディスク用基板の製造方法に関するもの
である。
The present invention relates to a method for manufacturing a magnetic disk substrate.

[従来の技術] ディスク状の基板の上に磁性膜と保護膜を形成した磁
気記録媒体(以下メディアと称する)と記録再生用磁気
ヘッド(以下ヘッドと称する)は、ハードディスクドラ
イブ装置の主構成部を成している。操作開始時にはヘッ
ドとメディアは接触状態にあり、メディアの回転中は空
気抵抗によってヘッドがメディア表面から浮上する。操
作終了時にはヘッドは再びメディアに接触する。この方
式をコンタクトスタートストップ(CSS)方式と呼んで
いる。メディアの表面が平滑であると、ヘッドはメディ
アに吸着して(この現象をヘッドスティックと称する)
ヘッドクラッシュを生じる因となる。
2. Description of the Related Art A magnetic recording medium (hereinafter, referred to as a medium) and a recording / reproducing magnetic head (hereinafter, referred to as a head) in which a magnetic film and a protective film are formed on a disk-shaped substrate are main components of a hard disk drive. Has formed. At the start of operation, the head and the medium are in contact with each other, and during rotation of the medium, the head flies above the surface of the medium due to air resistance. At the end of the operation, the head contacts the medium again. This method is called the contact start stop (CSS) method. When the surface of the medium is smooth, the head is attracted to the medium (this phenomenon is called a head stick).
This may cause a head crash.

機械的な方法等によって予めメディアの表面に微細な
凹凸を形成しておけば、ヘッドとメディア間の摩擦係数
が減じてヘッドスティックの発生を防止することができ
る。
If fine irregularities are previously formed on the surface of the medium by a mechanical method or the like, the coefficient of friction between the head and the medium is reduced, and the occurrence of a head stick can be prevented.

磁気ディスクの基板の材質は、アルミニウム合金が広
く用いられるが、ガラスはアルミニウムに比べて剛性が
高いことから、基板の厚みを小さくしてもメディアに要
求される高度な平坦性を損なわずに済み、従ってドライ
ブ装置の小型化が期待される。
Aluminum alloy is widely used as the material of the substrate of the magnetic disk, but glass has higher rigidity than aluminum, so even if the thickness of the substrate is reduced, the high flatness required for the media can be maintained. Therefore, miniaturization of the drive device is expected.

基板にガラスを用いた場合磁性膜に凹凸を形成するこ
とは難しく、基板に凹凸を形成しておく必要がある。
When glass is used for the substrate, it is difficult to form irregularities on the magnetic film, and it is necessary to form irregularities on the substrate.

凹凸の形成方法としては、機械的な擦傷を基板表面に
与える方法は、基板の材質がガラスの場合は、アルミニ
ウム合金またはアルミニウム合金上のニッケル燐合金に
擦傷を与える場合と比較して、基板表面が塑性流動する
度合が小さく、表面に無数のマイクロクラックを発生さ
せるため、このクラック中に吸蔵された水分や洗浄液
が、磁性膜に悪影響(コロージョン)を及ぼす恐れがあ
る。
As a method of forming the irregularities, the method of applying mechanical scratches to the substrate surface is more effective when the substrate material is glass than when the aluminum alloy or the nickel-phosphorus alloy on the aluminum alloy is scratched. Has a small degree of plastic flow, and generates innumerable microcracks on the surface. Therefore, the moisture or the cleaning liquid occluded in the cracks may adversely affect the magnetic film (corrosion).

ガラス表面に凹凸を形成する方法として薬品を用いて
化学的に処理する方法は広く知られている。工業的に実
用化されている方法の殆どは、フッ化水素酸またはフッ
素化合物の水溶液中にガラスを浸漬する方法である。こ
の方法では、ガラス表面の凹凸の山の高さをメディアに
必要とされる50〜1000Åの範囲、更に好ましくは100〜4
00Åの範囲に揃えることが難しく、一般にはノングレア
やフロストガラスにみられるように、Rmaxで1000Åを超
す凹凸を形成するのに向いている。
As a method of forming irregularities on a glass surface, a method of chemically treating the glass surface with a chemical is widely known. Most of the industrially practical methods are methods of immersing glass in an aqueous solution of hydrofluoric acid or a fluorine compound. In this method, the height of the peaks of the irregularities on the glass surface is in the range of 50 to 1000 ° required for the medium, more preferably 100 to 4 mm.
It is difficult to adjust the thickness to the range of 00 °, and it is suitable for forming irregularities exceeding 1000 ° in Rmax as generally seen in non-glare or frosted glass.

アルカリ又はアルカリ土類の金属を含むガラスの表面
に、酸性ガス、例えばCO2,SO2等を接触させると、ガラ
スの表面にNa2CO3,NaHCO3,CaSO4等の微粒子が生成
し、Na,Ca等が除去された後のガラス表面は、内部よりS
iO2に富み屈折率が僅かに小さな層を形成する。これは
ヤケと呼ばれる現象で、生成物はガラスではない。この
生成物を酸洗で除去したあとのガラス表面の凹凸は、一
般にはSiO2の骨格構造が残されているため、メディアに
必要とされる上記粗さに達しない。
When an acid gas such as CO 2 or SO 2 is brought into contact with the surface of a glass containing an alkali or alkaline earth metal, fine particles such as Na 2 CO 3 , NaHCO 3 and CaSO 4 are generated on the surface of the glass, The glass surface after removal of Na, Ca, etc.
A layer rich in iO 2 and having a slightly lower refractive index is formed. This is a phenomenon called burn, and the product is not glass. Irregularities on the glass surface after removal of this product by pickling do not reach the roughness required for the media because the SiO 2 skeleton structure is generally left.

[発明が解決しようとする問題点] 本発明は、CSS特性および静止摩擦特性の改善された
磁気ディスク用ガラス基板の製造方法を提供することを
目的とするものであり、ガラス基板表面の凹凸形成方法
としては従来知られていなかった新規な方法を提供する
ものである。
[Problems to be Solved by the Invention] An object of the present invention is to provide a method for manufacturing a glass substrate for a magnetic disk having improved CSS characteristics and static friction characteristics, and to form irregularities on the surface of the glass substrate. The present invention provides a novel method that has not been known before.

[問題点を解決するための手段] 本発明は前述の問題点を解決すべくなされたものであ
り、空気、窒素ガス、もしくは空気と窒素ガスを混合し
たガス中にフッ化水素を0.01〜10mol%含有する混合ガ
スを5℃〜90℃の温度範囲に保ったガラス基板に接触さ
せることにより前記ガラス素板の表面に凹凸を形成して
磁気ディスク用基板を得ることを特徴とする磁気ディス
ク用基板の製造方法を提供するものである。
[Means for Solving the Problems] The present invention has been made to solve the above problems, and 0.01 to 10 mol of hydrogen fluoride is contained in air, nitrogen gas, or a mixture of air and nitrogen gas. % By contacting a mixed gas containing 5% by weight with a glass substrate maintained at a temperature in the range of 5 ° C. to 90 ° C. to form irregularities on the surface of the glass base plate to obtain a magnetic disk substrate. A method of manufacturing a substrate is provided.

本発明に用いるガラスは、化学反応式を用いて後に説
明するように、骨格成分としてSiO2を有する珪酸塩ガラ
スであればよい。ここで、表面に凹凸を形成する以前の
ガラス板を素板と記すこととし、凹凸を形成してメディ
アの用に供するディスク状ガラスを基板と記して区別す
ることにする。
The glass used in the present invention may be any silicate glass having SiO 2 as a skeleton component, as described later using a chemical reaction formula. Here, the glass plate before the formation of the unevenness on the surface is referred to as a base plate, and the disc-shaped glass formed with the unevenness and used for a medium is referred to as a substrate to be distinguished.

素板としては、ソーダ石灰珪酸塩ガラス、硼珪酸ガラ
スその他のSiO2を含むガラスであって、構成酸化物の重
量%でSiO2を概ね45%以上含有するものであればよい。
The base plate may be a soda-lime silicate glass, a borosilicate glass, or any other glass containing SiO 2 and containing approximately 45% or more of SiO 2 by weight of the constituent oxide.

本発明により基板の表面に形成される凹凸は、磁気デ
ィスクに要求されるCSS特性と静止摩擦特性を充足する
ために、該凹凸からなる表面粗さの最大高さ(Rmax)が
基準長さ250μmにおいて1000Å以下であり、かつ基準
長さ50μmにおいて50Å以上であることが望ましい。こ
こに表面粗さは、JIS B 0601[表面粗さ]に準拠してお
り、触針式の表面粗さ計で触針の公称半径2.5μmのも
のを用い、針荷重25mg、充分遅い走査速度で測定して得
られるものを採用することにする。
The irregularities formed on the surface of the substrate according to the present invention have a maximum height (Rmax) of the surface roughness of the irregularities of 250 μm in order to satisfy the CSS characteristics and the static friction characteristics required for the magnetic disk. Is preferably 1000 ° or less, and 50 ° or more at a reference length of 50 μm. The surface roughness here conforms to JIS B 0601 [Surface roughness]. Use a stylus type surface roughness meter with a nominal radius of 2.5 μm for the stylus, needle load 25 mg, sufficiently slow scanning speed The one obtained by the measurement will be adopted.

Rmaxが50Åに達せぬ基板は、例えばフッ化水素ガスに
素板を曝露する時間を短く調節することによって作製す
ることが可能であるが、メディアとして用いた場合には
静止摩擦特性が悪化するため、磁気ディスクの基板とし
ては充分でない。
Substrates whose Rmax does not reach 50 ° can be manufactured by, for example, adjusting the time for exposing the base plate to hydrogen fluoride gas to be short, but when used as a medium, the static friction characteristics deteriorate. However, it is not sufficient as a substrate for a magnetic disk.

一方で本発明により基板の表面に形成される凹凸は、
磁気ディスクに要求される磁気特性を充足するために、
Rmaxが少なくとも1000Å以下であることが好ましい。こ
こに磁気特性とは、モジュレーションエラー、ミッシン
グビット、ビットシフト、S/N比等をいうが、これらの
磁気特性は一般に、CSS特性と静止摩擦特性を悪化させ
ない範囲で、基板が平滑な方が良好になる。
On the other hand, the irregularities formed on the surface of the substrate according to the present invention are:
In order to satisfy the magnetic characteristics required for magnetic disks,
Preferably, Rmax is at least 1000 ° or less. Here, the magnetic characteristics refer to a modulation error, a missing bit, a bit shift, an S / N ratio, and the like.In general, these magnetic characteristics are better if the substrate is smoother as long as the CSS characteristics and the static friction characteristics are not deteriorated. Become good.

従って基板に適当な凹凸は、前述の表面粗さの測定方
法を用いた場合に該凹凸からなる表面粗さの最大高さ
(Rmax)が基準長さ250μmにおいて1000Å以下であ
り、かつ基準長さ50μmにおいて50Å以上であることが
好ましいが、より好ましくは基準長さ250μmにおい
て、700Å以下、更に好ましくは基準長さ250μmにおい
て、400Å以下に保つのがよい。
Therefore, the unevenness suitable for the substrate is such that the maximum height (Rmax) of the surface roughness composed of the unevenness is 1000 ° or less at a reference length of 250 μm when the above-mentioned method for measuring the surface roughness is used, and It is preferably 50 ° or more at 50 μm, more preferably 700 ° or less at a reference length of 250 μm, and more preferably 400 ° or less at a reference length of 250 μm.

なお、前記最大高さ(Rmax)は基板の全面にわたって
上記数値で示される範囲あることが望ましいが、本発明
の前記した目的を達成するのに支障のない範囲において
50Å未満や1000Åを超える高さの山が存在していても差
支えない。
It is desirable that the maximum height (Rmax) be in the range indicated by the above numerical values over the entire surface of the substrate, but within a range that does not hinder the achievement of the above object of the present invention.
Mountains less than 50Å or more than 1000Å may be present.

この粗さをもたらす方法としては、例えばアルミ磁気
ディスクの場合は一般に酸化アルミニウムの砥粒等を用
いた研磨を施すことによって達成されているが、素板が
SiO2を45wt%以上含有するガラスの場合には、フッ化水
素を用いた化学的な方法で面内に方向性を有しない均質
な凹凸を素板の表面に形成することが可能である。ここ
に、方向性を有しないとは、本発明の方法により基板表
面に形成された凹凸が、表面粗さの測定の基準長さ(JI
S−B0601による)を、ディスク表面の半径方法、円周方
向或いはディスク表面の任意の方向にとったとき、常に
ほぼ同一の粗さ曲線を有することをいう。
As a method of providing this roughness, for example, in the case of an aluminum magnetic disk, it is generally achieved by performing polishing using abrasive grains of aluminum oxide.
In the case of glass containing 45 wt% or more of SiO 2 , it is possible to form uniform unevenness having no in-plane direction on the surface of the base plate by a chemical method using hydrogen fluoride. Here, “having no directivity” means that the irregularities formed on the substrate surface by the method of the present invention correspond to the reference length (JI
S-B0601), when taken in the radial direction of the disk surface, in the circumferential direction or in any direction of the disk surface, it always has almost the same roughness curve.

以下本発明を第1図および第2図を援用して説明す
る。ただし本発明はこれらの図によって限定されるもの
ではない。
Hereinafter, the present invention will be described with reference to FIG. 1 and FIG. However, the present invention is not limited by these figures.

第1図においてタンク21の中にフッ化水素酸の水溶液
20を充填し、該水溶液の温度を一定に保った。別に設け
た恒温水槽3内に反応槽2を設置し、温度を一定に保っ
た。
In FIG. 1, an aqueous solution of hydrofluoric acid is placed in a tank 21.
20 and the temperature of the aqueous solution was kept constant. The reaction tank 2 was installed in a separately provided constant temperature water tank 3, and the temperature was kept constant.

一方、蓋4には、モーター6とシャフト7が固定され
ている。予め所定の温度に保持しておいた前記ガラス基
板1をクランプ8を介して前記シャフト7に取り付け反
応槽内の所定の位置にセットした。次にバルブ33,34を
開き、窒素ガスを配管30,31を通じて毎分20lの割合で反
応槽内に導入し、ガラス素板1が所定の温度に達するま
で3〜8分間保持した。次に素板を約1300RPMで回転さ
せてから、バルブ34を閉じ、バルブ35,36を開くことに
より、窒素ガスをフッ化水素酸の水溶液20中に導き、得
られたHF,H2OおよびN2の混合ガスを反応槽内に導いた。
このフッ化水素を含有する混合ガスは、一部がガラスと
反応してガラス表面に凹凸を形成しつつ、透明の四フッ
化珪素ガスSiF4を生じ、或いは珪フッ化水素酸H2SiF6
ミストを白煙状に生ぜしめ、出口10を通じて反応槽から
抜け出、図示していないフードを通ってフッ化水素廃ガ
スの除害設備に送られた。所定の時間だけ反応を行わせ
てからバルブ35,36を閉じ、次いでバルブ34を開いて反
応槽内のHFを窒素ガスでパージした後、蓋の把手9をも
って、ガラスを槽外に取り出した。
On the other hand, a motor 6 and a shaft 7 are fixed to the lid 4. The glass substrate 1 previously held at a predetermined temperature was mounted on the shaft 7 via a clamp 8 and set at a predetermined position in a reaction tank. Next, the valves 33 and 34 were opened, and nitrogen gas was introduced into the reaction tank at a rate of 20 l / min through the pipes 30 and 31 and held for 3 to 8 minutes until the glass plate 1 reached a predetermined temperature. Next, after rotating the base plate at about 1300 RPM, by closing the valve 34 and opening the valves 35 and 36, nitrogen gas was introduced into the aqueous solution 20 of hydrofluoric acid, and the obtained HF, H 2 O and A mixed gas of N 2 was introduced into the reactor.
This mixed gas containing hydrogen fluoride partially reacts with the glass to form irregularities on the glass surface, while generating a transparent silicon tetrafluoride gas SiF 4 or a hydrosilicic acid H 2 SiF 6 A mist was generated in the form of white smoke, exited the reaction tank through the outlet 10, and was sent to a hydrogen fluoride waste gas abatement facility through a hood (not shown). After the reaction was allowed to proceed for a predetermined time, the valves 35 and 36 were closed, and then the valve 34 was opened to purge HF in the reaction tank with nitrogen gas. Then, the glass was taken out of the tank with the handle 9 of the lid.

このガラスを室内蛍光灯等の反射光でみると、反応の
程度に応じて定まる反射色調を有する反応生成物が表面
に付着していた。反応生成物はその厚みが少ないときは
反射光が青色の干渉色を呈し、厚みが増すにつれて黄味
が強まり、更に赤色の干渉色を呈することが判明した。
更に反応を進めると、反応生成物は干渉色を示さなくな
り、反応生成物質本来の白色を呈するようになった。
When this glass was viewed with reflected light such as an indoor fluorescent lamp, a reaction product having a reflection color tone determined according to the degree of the reaction was attached to the surface. It was found that when the thickness of the reaction product was small, the reflected light exhibited a blue interference color, and as the thickness increased, the yellowish color became stronger and a red interference color was exhibited.
As the reaction proceeded further, the reaction product did not show any interference color, and showed the original white color of the reaction product.

反応を終えて槽外に取り出したガラスディスクは、モ
ーターシャフトから取り外し、純水中てスクラブ洗浄す
ることにより反応生成物を洗いおとした。次いで超音波
洗浄と乾燥を行った後、触針式表面粗さ計で表面の凹凸
を測定した。
After the reaction, the glass disk taken out of the tank was removed from the motor shaft, and scrubbed in pure water to wash the reaction product. Next, after performing ultrasonic cleaning and drying, surface irregularities were measured with a stylus type surface roughness meter.

第1表にガラス素板としてSiO2を約71wt%含むソーダ
ライム珪酸ガラスからなる外径130mmのディスクを用い
た実施例の結果を示す。該素板は厚みが約1.905mmにな
るよう両面を粗摺り研磨次いで艶出し研磨した後洗浄乾
燥を行った。表中の混合ガス中のHF濃度は、吸収法で採
取したサンプルガスをJIS K0105に準じた湿式分析法で
分析した値であり、ガラス温度とあるのは、槽内に停止
した状態にあるガラスの表面に貼付した熱電対の指示温
度であって、表面粗さは同じ条件でディスクをモーター
により約1300RPMで回転しながら形成した凹凸の粗さで
ある。なお、表面粗さと山のピッチは、代表的なサンプ
ルについての測定値であるる。ここに山のピッチとは、
前述の方法で測定して得た粗さ曲線の隣り合う山頂の間
隔をいう。
Table 1 shows the results of Examples using a soda lime silicate glass containing about 71 wt% of SiO 2 as a glass base plate and having an outer diameter of 130 mm. The plate was roughly polished and polished on both sides to a thickness of about 1.905 mm, and then washed and dried. The HF concentration in the mixed gas in the table is a value obtained by analyzing a sample gas collected by the absorption method by a wet analysis method according to JIS K0105, and the glass temperature is the glass stopped in the tank. Is the indicated temperature of the thermocouple attached to the surface, and the surface roughness is the roughness of the irregularities formed by rotating the disk at about 1300 RPM by a motor under the same conditions. In addition, the surface roughness and the pitch of the peak are measured values of a representative sample. Here is the mountain pitch
The distance between adjacent peaks on the roughness curve obtained by the above-mentioned method.

表中の処理時間とは、前述のバルブ35,36を開いてか
らガラスを反応槽の外へ取り出すまでの時間をいうが、
容易に判るようにこの時間の長さは、フッ化水素酸を含
有するタンク21と反応槽2を結ぶ配管31の長さ及び反応
槽2の容量により変化する。
The processing time in the table refers to the time from when the above-described valves 35 and 36 are opened to when the glass is taken out of the reaction tank.
As can be easily understood, the length of this time varies depending on the length of the pipe 31 connecting the tank 21 containing hydrofluoric acid and the reaction tank 2 and the capacity of the reaction tank 2.

第1表より、ガラス温度と混合ガス中のHF濃度は、処
理時間を適当に選べば広い範囲にわたって磁気ディスク
基板に適する凹凸を形成することが可能である。ただ
し、基板の温度が高すぎるとRmaxは大きくならず、スム
ーズエッチングになる傾向を有し、基板の温度が低すぎ
ると逆にRmaxが大きくなって、1000Åを超す大きな凹凸
を生じ易いことが、実験の結果より判明した。
From Table 1, it is possible to form irregularities suitable for the magnetic disk substrate over a wide range by appropriately selecting the processing time for the glass temperature and the HF concentration in the mixed gas. However, if the temperature of the substrate is too high, Rmax does not increase, and there is a tendency for smooth etching.If the temperature of the substrate is too low, Rmax increases, and large irregularities exceeding 1000 ° are likely to occur. It became clear from the result of the experiment.

他の実施例として、ガラス素板としてSiO2を約72%、
アルカリを約7%含有するアルミノ硼珪酸ガラスからな
る外径130mm、厚さ約1.905mmのディスクを用い先の例と
同様に処理した結果の一例を第2表に示す。先の実施例
であるソーダ石灰珪酸ガラスの場合に比べて、磁気ディ
スク基板に適する前述の凹凸を得るためには、同一HF濃
度の場合にガラス温度を15℃程度高めればよいことが判
った。
In another embodiment, about 72% of SiO 2 is used as a glass substrate,
Table 2 shows an example of the results obtained by treating a disk made of aluminoborosilicate glass containing about 7% of alkali and having an outer diameter of 130 mm and a thickness of about 1.905 mm in the same manner as the previous example. Compared with the case of the soda-lime silicate glass of the previous embodiment, it was found that the glass temperature should be raised by about 15 ° C. at the same HF concentration in order to obtain the above-mentioned irregularities suitable for the magnetic disk substrate.

さらに他の実施例として、素板としてSiO2約55.5wt%
でアルカリを0.05wt%含む硼珪酸ガラスを用いた結果の
一部を第3表に示す、ディスク外径および厚さは前記実
施例と同様である。このガラスでは、HF濃度が0.03mol
%のとき、ガラス温度60℃、処理時間3分でディスク基
板に適する凹凸が得られた。
As still another embodiment, about 55.5 wt% of SiO 2
Table 3 shows a part of the results obtained using borosilicate glass containing 0.05 wt% of alkali. The outer diameter and thickness of the disk are the same as those in the above examples. In this glass, the HF concentration is 0.03 mol
%, A glass substrate having a temperature of 60 ° C. and a processing time of 3 minutes provided irregularities suitable for a disk substrate.

また他の実施例として、第2図の設備を用いてSiO2
約72.5wt%含むソーダ石灰珪酸ガラスの素板に凹凸を形
成した。第2図のボンベ41には、99.99wt%のフッ化水
素40が含有されており、これを赤外線ヒーター42でHFの
沸点である19.5℃以上に保ち、得られた純粋のフッ化水
素ガスの流量は、リボンヒーター64を巻いた配管60の途
中に設けたマノメーター63により検出した。このフッ化
水素ガスは、混合槽50内で、配管61により供給された調
湿空気と混合され、こうして得た混合ガスを第1図と同
じ反応槽2の中に導いた。この調湿空気中の水分の濃度
を変化させたときの実験結果の一部を第4表に示す。こ
れより空気中の水分の少い領域では前記水分の濃度を変
化させてRmaxの変化は大きくないが、水分が3mol%(30
℃の空気中湿分RH=72%に相当する)の場合は実験の条
件で処理時間1分でフロストとなってしまい、磁気ディ
スクに適した凹凸を形成しえないことが判明した。
As another example, irregularities were formed on a base plate of soda-lime silicate glass containing about 72.5 wt% of SiO 2 using the equipment shown in FIG. The cylinder 41 in FIG. 2 contains 99.99 wt% of hydrogen fluoride 40, which is maintained at 19.5 ° C. or higher, which is the boiling point of HF, by the infrared heater 42. The flow rate was detected by a manometer 63 provided in the pipe 60 around which the ribbon heater 64 was wound. This hydrogen fluoride gas was mixed with the conditioned air supplied by the pipe 61 in the mixing tank 50, and the mixed gas thus obtained was introduced into the same reaction tank 2 as in FIG. Table 4 shows part of the experimental results when the concentration of moisture in the conditioned air was changed. In the region where the moisture in the air is less than this, the change of Rmax is not large by changing the concentration of the moisture, but the moisture is 3 mol% (30%).
℃ For equivalent to moisture R H = 72% in air) of becomes a frost in 1 minute treatment time under the conditions of the experiment, it incapable of forming irregularities suitable for magnetic disk was found.

前記の第1表の例2により形成された凹凸は山の高さ
がRmaxで約300Å、山のピッチは約3μmであった。こ
の基板上に、スパッタ法によりCo系磁性膜を形成し、さ
らにその上にカーボン保護膜を形成した後、CSS特性、
ヘッドスティック性、S/N比およびミッシングパルスを
評価した。ここでCSS特性とは、ディスク内の特定の一
点に集中的にヘッドを停止−摩耗させるとき、何回くり
返すと摩擦特性あるいは磁気特性が劣化するかを測定す
るものであるが、CSS特性はテスト後の静止摩擦係数が
0.5を上回ったときあるいはテスト後の出力が90%を下
回ったとき不合格という条件下で、7万回テストをくり
返した後も合格であった。また、ヘッドとメディアの間
に水分を浸透させ、起動時の磁性膜の損傷程度を観察す
ることにより、ヘッドスティック性を評価した結果、特
に問題はなかった。また、S/N比(シグナル/ノイズ
比)は35dBと良好であった。更に、ミッシングパルス
(メディア表面の微細な欠陥により、情報を書きこんだ
後に、読み出す際に生じる読み出し波形の落ちこみ)
は、しきい値70%のとき、2コ/面以下と良好であっ
た。
The irregularities formed by Example 2 in Table 1 had a peak height of about 300 ° Rmax and a pitch of about 3 μm. On this substrate, a Co-based magnetic film is formed by sputtering, and a carbon protective film is further formed thereon.
The head stick property, S / N ratio and missing pulse were evaluated. Here, the CSS characteristic is to measure how many times the friction characteristic or the magnetic characteristic deteriorates when the head is stopped and worn intensively at a specific point in the disk, but the CSS characteristic is Static friction coefficient after test
The test was rejected when it exceeded 0.5 or when the output after the test fell below 90%, and the test was passed even after repeating the test 70,000 times. In addition, water penetrated between the head and the medium, and the degree of damage to the magnetic film at the time of startup was observed. The S / N ratio (signal / noise ratio) was as good as 35 dB. Further, missing pulse (a read-out waveform drop when reading after writing information due to minute defects on the media surface)
Was as good as 2 cores / plane or less when the threshold value was 70%.

以上述べた如く、本発明は従来の問題点を大きく改善
する新しいガラス磁気ディスク基板の製造方法である
が、更にガラス素板は研磨により平滑とした板ではな
く、火造り面を有する未研磨板であってもよく、研磨し
た平滑な板でもよく、また平滑な板の表面を加工したも
の例えば、平滑な板の表面に機械的に同心円状あるいは
その他の形状に溝を設けたものなどであってもよい。
As described above, the present invention is a new method for manufacturing a glass magnetic disk substrate which greatly improves the conventional problems, but the glass substrate is not a plate smoothed by polishing, but an unpolished plate having a fired surface. May be a polished smooth plate, or a surface obtained by processing the surface of a smooth plate, for example, a surface having a groove formed in the surface of a smooth plate mechanically in a concentric or other shape. You may.

また、ディスク素板は反応槽内で回転してもよいが静
止した状態であってもよく、フッ化水素酸を含む混合ガ
スの反応槽内部への導入の方法は、反応槽の壁に設けた
1つ又は複数箇の開口部から吹きこんでもよく、或はガ
ラス素板の近傍に設けたスリットから前記混合ガスを直
接該素板の表面に吹きつけるよう構成した設備を用いる
こともできる。更に特別な反応槽は設けずに、コンベア
等の搬送機械により複数のガラス素板を連続して流し、
前記搬送機械の一箇所において前記混合ガスをスリット
等により素板に連続的に吹き付け、反応により生じた生
成ガスと未反応の前記混合ガスから成る排ガスを、局所
排気装置により吸引することによって取り除く方法を用
いることもできる。
Further, the disk base plate may be rotated in the reaction vessel or may be stationary, and the method of introducing the mixed gas containing hydrofluoric acid into the reaction vessel is provided on the wall of the reaction vessel. Alternatively, the gas may be blown from one or a plurality of openings, or equipment configured to blow the mixed gas directly to the surface of the glass base plate from a slit provided in the vicinity of the glass base plate may be used. Furthermore, without providing a special reaction tank, a plurality of glass base plates are continuously flowed by a transport machine such as a conveyor,
A method in which the mixed gas is continuously sprayed onto a base plate by a slit or the like at one location of the transport machine, and exhaust gas including a generated gas generated by a reaction and the unreacted mixed gas is removed by a local exhaust device by suction. Can also be used.

[作用] 本発明において考えられる反応の機構を次の化学組成
を有するソーダ石灰珪酸ガラスを素板に用いた例につき
記す、SiO2:73%,Al2O3:1.5%,CaO:8%,MgO:4%,Na2O
+K2O:13.5%。
[Action] The mechanism of the reaction considered in the present invention will be described for an example in which a soda-lime silicate glass having the following chemical composition is used for the base plate: SiO 2 : 73%, Al 2 O 3 : 1.5%, CaO: 8% , MgO: 4%, Na 2 O
+ K 2 O: 13.5%.

このような組成のガラス表面に、フッ化水素ガスを接
触させると、ガラスの骨格構造であるSiO2が(1)式に
従いSiF4のガスとなって表面から除去される。
When a hydrogen fluoride gas is brought into contact with a glass surface having such a composition, SiO 2, which is a skeleton structure of the glass, is converted into a SiF 4 gas according to the formula (1) and removed from the surface.

SiO2+4HF→SiF4(gas)+2H2O …(1) こうして生じたSiF4は、フッ化水素ガスと反応して珪フ
ッ化水素酸となる。即ち SiF4(gas)+2HF→H2SiF6(liq) …(2) この結果、反応中のガラスの表面からは、珪フッ化水
素酸のミストが白煙状に発生する現象が観察される。
SiO 2 + 4HF → SiF 4 (gas) + 2H 2 O (1) The SiF 4 thus generated reacts with the hydrogen fluoride gas to be hydrofluoric acid. That is, SiF 4 (gas) + 2HF → H 2 SiF 6 (liq) (2) As a result, a phenomenon in which mist of hydrosilicofluoric acid is generated in the form of white smoke is observed from the surface of the glass during the reaction. .

SiO2がガラス表面から除去されると、残りの成分は骨
格を失って、周辺の水分が少ないときは粉末の集合した
保護膜をガラスの表面に形成する。この膜は(3)式か
ら(4)式となつて作られた珪フッ化物であって、非常
に疎な構造を有するため、HFはこの層を通じて内部のSi
O2を侵蝕し続けることができる。
When SiO 2 is removed from the glass surface, the remaining components lose their skeleton, and when the surrounding water is low, a protective film of powder is formed on the glass surface. This film is a silicofluoride made by the formula (3) to the formula (4) and has a very sparse structure.
O 2 can continue to erode.

Na2O,CaO,MgO,Al2O3 etc+HF→ NaF,CaF2,MgF2,AlF3etc+H2O …(3) Na2F,CaF2,MgF2,AlF3+SiF4→ Na2SiF6,CaSiF6,MgSiF6,etc …(4) この反応生成物の層は、反応の初期には目立たない
が、層の厚みが増すにつれて、青紫色から黄色味を帯
び、やがて赤色の干渉色を呈示するが、更に反応が進む
と純白の厚い層となる。ところがこの反応生成物中に
は、HFガスに同伴するキャリアガス(例えば調湿空気、
又は窒素ガス)中のH2Oや、ガラス表面に最初から吸着
しているOH基(シラノール基)に起因する水分と、
(1)式及び(3)式で生成する水分が蓄積されて、反
応が進みすぎると湿ったスラリー状に転じ、今度はフッ
化水素酸溶液による侵蝕と同じ機構で侵蝕がなされる結
果、所望する凹凸を得ることができなくなり、山の高さ
が2000Å以上、場合によっては十万Å、山のピッチが10
0μmを超す、いわゆる粗大フロストを作ってしまう。
このようなフロストは、Rmaxが大きすぎるために、磁気
ディスクの基板としては例えばS/N比やビートシフトの
悪化、モジュレーションエラーの増加など磁気特性を劣
化させるため適当でない。特に、前記の第4表中の例4
に示した条件のように、混合ガス中に水分が多い場合
は、HFを含有する混合ガスを通じると直ちにガラスの表
面全体からH2SiF6のミストが多量に吹き上げて、反応生
成物は最初から湿ったスラリー状となる。この例でわか
るように、HFを含有する混合ガス中の水分は、相対湿度
70%以下におさえておくのが好ましい。
Na 2 O, CaO, MgO, Al 2 O 3 etc + HF → NaF, CaF 2, MgF 2, AlF 3 etc + H 2 O ... (3) Na 2 F, CaF 2, MgF 2, AlF 3 + SiF 4 → Na 2 SiF 6 , CaSiF 6 , MgSiF 6 , etc ... (4) The layer of this reaction product is inconspicuous at the beginning of the reaction. Although it is presented, when the reaction proceeds further, it becomes a thick layer of pure white. However, a carrier gas (for example, humidified air,
Or H 2 O or nitrogen gas) in the water due to the OH group adsorbed on the glass surface from the beginning (silanol group),
The water generated by the formulas (1) and (3) is accumulated, and if the reaction proceeds too much, it turns into a wet slurry, which is eroded by the same mechanism as the hydrofluoric acid solution. The height of the mountain is more than 2000 mm, sometimes 100,000 mm, and the pitch of the mountain is 10
A so-called coarse frost exceeding 0 μm is produced.
Such a frost is not suitable as a substrate for a magnetic disk because magnetic characteristics such as deterioration of S / N ratio, beat shift, and increase of modulation error are deteriorated because Rmax is too large. In particular, Example 4 in Table 4 above
As in the conditions shown, if the water is high in the mixed gas and blown up from the entire surface immediately glass when leading the mixed gas containing HF large amount mist H 2 SiF 6 is the reaction product initially To a wet slurry. As can be seen in this example, the moisture in the gas mixture containing HF is relative humidity.
It is preferred to keep it below 70%.

[発明の効果] 以上説明したように、本発明によれば、従来知られて
いなかった、空気、窒素ガス、もしくは空気と窒素ガス
を混合したガス中にフッ化水素を0.01〜10mol含有する
混合ガスを5℃〜90℃の温度範囲に保ったガラス素板の
表面に接触させる方法によって、面内に方向性を有せず
均一に分布する微細な凹凸を該表面に容易に形成するこ
とか可能となり、またかくして得られたガラス基板を用
いた磁気ディスクメディアは、メディアに必要とされる
性能を十分に満足した。
[Effects of the Invention] As described above, according to the present invention, a mixture containing 0.01 to 10 mol of hydrogen fluoride in air, nitrogen gas, or a mixture of air and nitrogen gas, which has not been known, is known. Whether the gas is brought into contact with the surface of the glass plate kept at a temperature of 5 ° C. to 90 ° C. to easily form fine irregularities on the surface which are uniformly distributed without any directivity in the surface. A magnetic disk medium using the glass substrate thus obtained has sufficiently satisfied the performance required for the medium.

特に、本発明はSiO2を45wt%以上含有するガラスの表
面にフッ化水素の蒸気を接触させることによって磁気デ
ィスクの基板に適した表面粗さを有する凹凸を該ガラス
表面に形成するものであり、前記した混合ガスによって
ガラス表面に上記凹凸を形成する方法は、従来知られて
いなかった。この方法は、フッ化水素酸等のフッ素化合
物の水溶液中にガラスを浸漬して表面に凹凸を形成する
方法に比べて、多くの利点を有する。
In particular, the present invention is to form irregularities having a surface roughness suitable for a substrate of a magnetic disk by bringing a vapor of hydrogen fluoride into contact with the surface of glass containing at least 45 wt% of SiO 2 . A method of forming the above irregularities on the glass surface by using the above-mentioned mixed gas has not been conventionally known. This method has many advantages over the method of immersing glass in an aqueous solution of a fluorine compound such as hydrofluoric acid to form irregularities on the surface.

第1に、浸漬による方法では、ガラス自体がフッ素化
合物の溶液中に溶解して行くため、溶液中のHFの濃度
が、ディスクの処理枚数を増すに従い減少すると同時
に、反応生成物が溶液中に増加して行く結果、液の濃度
管理が難しいが、本発明の方法に従えば、反応生成物が
供給源のHFと混合することがないために、HF濃度の管理
が至って簡単であるという、大きな利点を有する。
First, in the immersion method, since the glass itself dissolves in the solution of the fluorine compound, the concentration of HF in the solution decreases as the number of discs processed increases, and at the same time, the reaction product enters the solution. As a result of the increase, it is difficult to control the concentration of the liquid, but according to the method of the present invention, since the reaction product does not mix with the HF of the source, the control of the HF concentration is extremely simple, Has great advantages.

第2に、本発明の方法に従えば、反応の進み具合が、
ガラス表面に堆積してゆく反応生成物の呈する干渉色の
時間的な変化としてとらえることができるので、この干
渉色を外部から色彩色差計等を用いて測定することによ
り、工程管理に役立てることができる。
Second, according to the method of the present invention, the progress of the reaction is as follows:
Since the interference color of the reaction product deposited on the glass surface can be regarded as a temporal change, the interference color can be measured from outside using a colorimeter or the like to help process control. it can.

第3に、同一枚数のディスクを処理するための設備
が、本発明ではステンレス鋼を被覆せぬまま反応槽内に
使用しても長期の使用に耐えることから、簡単な設備で
済む。これは、ステンレス鋼とフッ化水素とが反応して
生じた生成物が本発明の場合にはステンレス鋼の表面に
保護層としてとどまっていることによる。
Third, the equipment for processing the same number of disks can be used for a long time even if it is used in a reaction tank without coating with stainless steel in the present invention, so that simple equipment can be used. This is because the product produced by the reaction between stainless steel and hydrogen fluoride remains as a protective layer on the surface of stainless steel in the case of the present invention.

第4に、前に実施例で示したように、ディスクを回転
させながらフッ化水素蒸気で処理すると、得られたガラ
ス表面の凹凸は、面内で極めて均一な粗さを有すること
ができる。
Fourth, as shown in the previous examples, when the disk is rotated and treated with hydrogen fluoride vapor while rotating, the resulting irregularities on the glass surface can have extremely uniform roughness within the surface.

本発明の方法により製造されたガラス基板は、メディ
アの構成体の一部として用いた場合、基板自体にメディ
アが必要とする適当な凹凸を有しているために、この上
に形成する磁性膜に改めて凹凸を形成する必要はない。
When the glass substrate manufactured by the method of the present invention is used as a part of a structure of a medium, the substrate itself has appropriate irregularities required by the medium. It is not necessary to form irregularities again.

また、本発明の方法で形成された基板表面の凹凸は、
概ね45wt%以上のSiO2を含むガラス組成であれば、組成
に合わせて製造条件を変えることにより最適化すること
が計れることを特徴としており、磁気ディスクの基板に
適する表面粗さを有する凹凸を得る条件の最適化は、従
来のフッ化水素酸溶液等に浸漬して凹凸を得る方法より
も容易である。更にこの凹凸の形状は、面内で方向性を
有せず、表面と垂直な方向のいわゆる表面粗さは、外径
は130mmの公称5 1/4インチのディスクの全面にわたって
殆んど一様なRmaxを有することを特徴とする。
Further, the unevenness of the substrate surface formed by the method of the present invention,
A glass composition containing approximately 45 wt% or more of SiO 2 can be optimized by changing the manufacturing conditions according to the composition, and it is characterized by unevenness having a surface roughness suitable for the magnetic disk substrate. The optimization of the obtaining conditions is easier than the conventional method of immersing in a hydrofluoric acid solution or the like to obtain irregularities. Furthermore, the shape of this unevenness has no directivity in the plane, and the so-called surface roughness in the direction perpendicular to the surface is almost uniform over the entire surface of a nominal 51/4 inch disk with an outer diameter of 130 mm. It has a characteristic Rmax.

この結果、この凹凸の上には磁化と角型比が大きい薄
膜磁気膜を1000Å以下の厚みにスパッタリング等の方法
で形成することができ、Rmaxが面内で揃っていることか
ら磁気ヘッドの浮上高さを1000Å以内に下げることが可
能となって、結果としてピットシフトやモジュレション
エラーが小さくS/N比の高い高密度磁気ディスクを作製
することができる。
As a result, a thin film magnetic film having a large magnetization and squareness ratio can be formed on the unevenness by a method such as sputtering to a thickness of 1000 mm or less, and since the Rmax is uniform in the plane, the magnetic head floating The height can be reduced to within 1000 mm, and as a result, a high-density magnetic disk with a small pit shift and modulation error and a high S / N ratio can be manufactured.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

第1図は、本発明は実施するために用いる製造装置の実
施例の説明図であり、第2図は、別の製造装置の実施例
の説明図である。 1……ガラス素板、2……反応槽、3……恒温水槽、20
……フッ化水素酸溶液、21……タンク、22……恒温水
槽、23……熱交換器、30,31……配管、40……フッ化水
素、50……混合槽、60,61,62……配管。
FIG. 1 is an explanatory view of an embodiment of a manufacturing apparatus used for carrying out the present invention, and FIG. 2 is an explanatory view of an embodiment of another manufacturing apparatus. 1 ... glass plate 2 ... reaction tank 3 ... constant temperature water tank 20
... hydrofluoric acid solution, 21 ... tank, 22 ... constant temperature water tank, 23 ... heat exchanger, 30, 31 ... piping, 40 ... hydrogen fluoride, 50 ... mixing tank, 60, 61, 62 …… Piping.

Claims (5)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】空気、窒素ガス、もしくは空気と窒素ガス
を混合したガス中にフッ化水素を0.01〜10mol%含有す
る混合ガスを5℃〜90℃の温度範囲に保ったガラス素板
に接触させることにより前記ガラス素板の表面に凹凸を
形成して磁気ディスク用基板を得ることを特徴とする磁
気ディスク用基板の製造方法。
1. A glass plate kept in a temperature range of 5 ° C. to 90 ° C. with a mixed gas containing 0.01 to 10 mol% of hydrogen fluoride in air, nitrogen gas or a mixture of air and nitrogen gas. A method for manufacturing a magnetic disk substrate, wherein irregularities are formed on the surface of the glass base plate to obtain a magnetic disk substrate.
【請求項2】前記凹凸からなる表面粗さの最大高さ(Rm
ax)が基準長さ250μmにおいて1000Å以下であり、か
つ基準長さ50μmにおいて50Å以上であることを特徴と
する特許請求の範囲第1項記載の磁気ディスク用基板の
製造方法。
2. The maximum height (Rm) of the surface roughness comprising the irregularities.
2. The method for manufacturing a magnetic disk substrate according to claim 1, wherein ax) is 1000 ° or less at a reference length of 250 μm and 50 ° or more at a reference length of 50 μm.
【請求項3】前記ガラス素板がソーダ石灰珪酸ガラス、
アルカリ含有硼珪酸ガラス、アルカリを含まない硼珪酸
ガラスのいずれか一つからなることを特徴とする特許請
求の範囲第1項記載の磁気ディスク用基板の製造方法。
3. The glass base plate is a soda-lime silicate glass,
2. The method for manufacturing a magnetic disk substrate according to claim 1, wherein the substrate is made of one of alkali-containing borosilicate glass and alkali-free borosilicate glass.
【請求項4】前記空気、窒素ガス、もしくは上記空気と
窒素ガスを混合したガスが相対湿度70%以下に調湿され
ていることを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の磁
気ディスク用基板の製造方法。
4. The magnetic disk according to claim 1, wherein the air, nitrogen gas, or a mixture of air and nitrogen gas is humidified to a relative humidity of 70% or less. Substrate manufacturing method.
【請求項5】前記空気、窒素ガス、もしくは空気と窒素
ガスを混合したガス中にフッ化水素を0.01〜10mol%含
有する混合ガスが、液温度が5℃以上40℃以下で10〜50
wt%のフッ化水素を含有するフッ化水素酸の中に相対湿
度70%以下に調湿された空気、窒素ガス、もしくは上記
空気と窒素ガスの混合ガスを吹きこむことにより得られ
たものであることを特徴とする特許請求の範囲第1項記
載の磁気ディスク用基板の製造方法。
5. A mixed gas containing 0.01 to 10 mol% of hydrogen fluoride in the air, nitrogen gas, or a mixture of air and nitrogen gas, wherein the liquid temperature is 5 to 40 ° C.
It is obtained by blowing air, nitrogen gas, or a mixed gas of the above air and nitrogen gas conditioned to a relative humidity of 70% or less into hydrofluoric acid containing wt% hydrogen fluoride. 2. The method for manufacturing a magnetic disk substrate according to claim 1, wherein the method comprises:
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