JP2583072B2 - Metal detector - Google Patents

Metal detector

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JP2583072B2
JP2583072B2 JP62221616A JP22161687A JP2583072B2 JP 2583072 B2 JP2583072 B2 JP 2583072B2 JP 62221616 A JP62221616 A JP 62221616A JP 22161687 A JP22161687 A JP 22161687A JP 2583072 B2 JP2583072 B2 JP 2583072B2
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Description

【発明の詳細な説明】 〈本発明の産業上の利用分野〉 本発明は、被検査体に混入した金属を検出する金属検
出機に関し、特に送信コイルと受信コイル間の磁界内を
被検査体が通過し、前記受信コイルの誘起電圧に基づく
信号から前記被検査体に混入する金属を検出手段により
検出する際に発生したノイズにより金属検出にエラーが
発生することを防止できるようにした金属検出機に関す
る。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION <Industrial application field of the present invention> The present invention relates to a metal detector for detecting metal mixed in a test object, and more particularly, to a metal detector in a magnetic field between a transmission coil and a reception coil. A metal detection device that can prevent an error from occurring in the metal detection due to noise generated when the detection unit detects the metal mixed into the test object from a signal based on the induced voltage of the receiving coil. About the machine.

〈従来技術〉(第4〜6図) 製品(例えばハム、ソーセージ、みそなど)中に混入
した微小な金属を検出するなどの目的で用いられる金属
検出機は、一般に第4図に示す検出原理によっている。
<Prior art> (FIGS. 4 to 6) A metal detector used for detecting minute metals mixed in a product (for example, ham, sausage, miso, etc.) generally has a detection principle shown in FIG. Depending on.

第4図において、1は検出部で、発振器からの交番信
号を与えられて交番磁界を発生させる送信コイルPと、
この送信コイルPに対向して、送信コイルPによる交番
磁界の磁力線が等量交わり交番磁界によって生じる誘起
電圧E1、E2が等しくなるように配置された二つの受信コ
イルS1、S2とを備えている。このように配置された送信
コイルPと受信コイルS1、S2との間を、一方の受信コイ
ルS1から他方の受信コイルS2方向へと、所定速度で被検
査体Wを搬送装置(図示せず)によって搬送する。被検
査体W中に金属が混入していれば、金属によって磁力線
に変化が生じる。即ち、被検査体Wに鉄が混入している
場合には、第5図に示すように、被検査体Wが例えば受
信コイルS1を通過するとき鉄の存在によって磁路が変形
されて受信コイルS1に交わる磁力線が増えて誘起電圧E1
が増え、他方の受信コイルS2の誘起電圧E2より大とな
る。非鉄金属が混入している場合には、第6図に示すよ
うに非鉄金属内に渦電流が流れ、渦電流のエネルギーと
して電磁束が消費されて一方の受信コイルS1に交わる磁
力線が減り、誘起電圧E1が減り、他方の受信コイルS2
誘起電圧E2より小となる。このように被検査体Wのなか
に金属が混入している場合検出部通過時に第1、第2の
受信コイルS1、S2の誘起電圧E1、E2に差が生じ、この両
者の差電圧を不均衡信号として出力して金属を検出して
いる。
In FIG. 4, reference numeral 1 denotes a detecting unit, which is a transmitting coil P which is supplied with an alternating signal from an oscillator to generate an alternating magnetic field;
Opposite to the transmission coil P, two reception coils S 1 , S 2 are arranged such that the lines of magnetic force of the alternating magnetic field generated by the transmission coil P intersect and the induced voltages E 1 , E 2 generated by the alternating magnetic field become equal. It has. The test object W is transported at a predetermined speed between the transmitting coil P and the receiving coils S 1 and S 2 arranged in this way from one receiving coil S 1 to the other receiving coil S 2 at a predetermined speed. (Not shown). If a metal is mixed in the test object W, the metal causes a change in the line of magnetic force. That is, when the iron object to be inspected W is mixed, as shown in Figure 5, is deformed magnetic path by the presence of iron when the inspection object W is passing through the receiving coil S 1 example receiving The lines of magnetic force intersecting the coil S 1 increase and the induced voltage E 1
Increases, becomes larger than the induced voltage E 2 of the other receiving coil S 2. When a non-ferrous metal is mixed, an eddy current flows in the non-ferrous metal as shown in FIG. 6, an electromagnetic flux is consumed as energy of the eddy current, and magnetic lines of force intersecting one of the receiving coils S 1 decrease. reduces the induced voltage E 1, it becomes smaller than the induced voltage E 2 of the other receiving coil S 2. As described above, when metal is mixed in the inspection object W, a difference occurs between the induced voltages E 1 and E 2 of the first and second receiving coils S 1 and S 2 when passing through the detecting unit. The metal is detected by outputting the difference voltage as an imbalance signal.

〈本発明が解決しようとする問題点〉 ところで、前記受信コイルS1、S2の誘起電圧を、後方
の金属の有無を検出する回路に送って処理するまでの間
に、前記誘起電圧の信号にノイズが付加され、金属検出
結果にエラーが発生することがある。
<Problems to be Solved by the Present Invention> By the way, the signals of the induced voltages are generated until the induced voltages of the receiving coils S 1 and S 2 are sent to and processed by a circuit for detecting the presence or absence of a rear metal. , Noise may be added to the metal detection result.

このようなノイズとして、例えば、被検査体Wの材質
に応じて送信コイルP、受信コイルS1、S2の巻数を切換
えるようにした装置における検出ヘッド(コイル)を切
り換えるときに発生するノイズや、受信コイルS1、S2
誘起電圧の位相を被検査体Wの材質に応じて同調回路に
よって変化させ、その出力信号を後段のフィルタ回路に
送る装置の場合、前記同調回路のコンデンサの容量を手
動スイッチあるいは自動スイッチによって切換えるとき
に発生するノイズがある。(このノイズは後段のフィル
タ回路に送られると、そのフィルタの伝達速度が遅いと
き被検査体Wに金属が含まれているような、信号巾の大
きな信号となり、その結果、エラーとなるものであ
る。)更に、被検査体Wを移送するベルトコンベアの速
度を被検査体Wの材質に応じて切換えるためにモータ速
度を切換えたときにも発生するノイズがある。
As such noise, for example, noise generated when switching the detection head (coil) in a device that switches the number of turns of the transmission coil P and the reception coils S 1 and S 2 according to the material of the inspection object W, In the case of a device that changes the phase of the induced voltage of the receiving coils S 1 and S 2 by a tuning circuit according to the material of the device under test W and sends the output signal to a subsequent filter circuit, the capacitance of the capacitor of the tuning circuit There is noise generated when switching is performed by a manual switch or an automatic switch. (If this noise is sent to the subsequent filter circuit, it becomes a signal with a large signal width such that the object under test W contains metal when the transmission speed of the filter is low, resulting in an error. There is also noise that occurs when the motor speed is switched to switch the speed of the belt conveyor that transports the test object W according to the material of the test object W.

このように、受信コイルS1、S2の誘起電圧による信号
が金属有無の検出回路に送信されるまでの間に、信号の
伝達速度、利得、通過帯域等の装置特性によって種々の
ノイズによって悪影響を受け、金属検出結果にエラーが
発生することがある。
As described above, before the signal due to the induced voltage of the receiving coils S 1 and S 2 is transmitted to the detection circuit for the presence or absence of metal, various noises adversely affect the signal transmission speed, gain, pass band, and other device characteristics. May cause an error in the metal detection result.

本発明は上述した問題点を解決するためになされたも
ので、金属検出の検出条件を切換制御回路によって切換
える際に検出信号ラインを基準レベル信号ラインに短絡
させて、ノイズの影響を防止し、金属有無検出にエラー
発生がなくなるようにした金属検出機を提供することを
目的とする。
The present invention has been made in order to solve the above-described problems, and when detecting conditions of metal detection are switched by a switching control circuit, a detection signal line is short-circuited to a reference level signal line to prevent the influence of noise, An object of the present invention is to provide a metal detector in which no error is detected in metal presence detection.

〈前記問題点を解決するための手段〉 前記問題を解決するために、本発明の金属検出機は、 被検査体が磁界中を通過するときの磁界変化を検出
し、該磁界変化に対応した検出信号に基づいて前記被検
査体の混入金属を検出する金属検出機において、 前記混入金属の検出条件を可変するための切換制御回
路と、 前記切換制御回路からの信号を受け、混入金属の検出
条件の切り換わり時に前記検出信号ラインを基準レベル
信号ラインに短絡する短絡回路とを備えている。
<Means for Solving the Problems> In order to solve the problems, the metal detector of the present invention detects a magnetic field change when the test object passes through a magnetic field, and responds to the magnetic field change. In a metal detector for detecting mixed metal of the inspection object based on a detection signal, a switching control circuit for changing a detection condition of the mixed metal, receiving a signal from the switching control circuit, and detecting mixed metal A short-circuit circuit for short-circuiting the detection signal line to a reference level signal line when the condition is changed.

〈作用〉 このように構成したため、本発明の金属検出機では、
混入金属の検出条件を切り換えたときに、検出信号ライ
ンに発生したノイズが、短絡回路によって除去され、ノ
イズによる検出エラーが防止される。
<Operation> Due to such a configuration, in the metal detector of the present invention,
When the detection condition of the mixed metal is switched, noise generated in the detection signal line is removed by the short circuit, and a detection error due to the noise is prevented.

〈本発明の実施例〉(第1〜3図) 以下、本発明の一実施例を図面を参照して説明する。<Embodiment of the Present Invention> (FIGS. 1 to 3) Hereinafter, an embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings.

第1図は金属検出機のブロック回路図である。同図に
おいて、11は所定周波数の発振信号を出力する発振器で
ある。12は該発振信号で駆動されて交番磁界を発生する
送信コイルPと、これに対向して交番磁界の磁力線が等
量交わって各誘起電圧が等しくなるように配置された第
1、第2の受信コイルS1、S2とを備えた検出部である。
13は受信コイルS1、S2の同調回路である。
FIG. 1 is a block circuit diagram of the metal detector. In FIG. 1, reference numeral 11 denotes an oscillator that outputs an oscillation signal having a predetermined frequency. Reference numeral 12 denotes a transmitting coil P driven by the oscillation signal to generate an alternating magnetic field, and first and second transmitting coils P arranged oppositely to each other so that the lines of magnetic force of the alternating magnetic field intersect with each other so that each induced voltage becomes equal. This is a detection unit including reception coils S 1 and S 2 .
Reference numeral 13 denotes a tuning circuit for the receiving coils S 1 and S 2 .

この同調回路13はコンデンサの容量を切換スイッチで
切換えることによって受信コイルの誘起電圧の位相を変
化できるように構成されている。そしてこの切換スイッ
チは、被検査体Wの種類ごとに手動で切換えられる位相
粗調整用の手動スイッチ(図示略)と制御回路(図示
略)からの切換制御信号によつて切換えられる位相微調
整用の自動スイッチ(図示略)とを備えている。したが
って図中、22は切換制御回路で、前記切換スイッチの出
力に応じた切換信号を同調回路13に出力するものであ
る。
The tuning circuit 13 is configured so that the phase of the induced voltage of the receiving coil can be changed by switching the capacitance of the capacitor with a changeover switch. The changeover switch is a manual switch (not shown) for coarse adjustment which is manually switched for each type of the inspection object W and a fine adjustment switch which is switched by a switching control signal from a control circuit (not shown). (Not shown). Therefore, in the drawing, a switching control circuit 22 outputs a switching signal corresponding to the output of the changeover switch to the tuning circuit 13.

14は同調回路13から出力される受信コイルS1、S2から
の差電圧信号を増幅する初段増幅回路である。15は発振
器11の発振信号の位相を90度調整する回路である。した
がって、発振器11の発振信号を基準信号(0度)とする
と、移相回路15の出力信号は90度位相がずれた信号であ
る。
Reference numeral 14 denotes a first-stage amplifier circuit that amplifies a difference voltage signal from the receiving coils S 1 and S 2 output from the tuning circuit 13. A circuit 15 adjusts the phase of the oscillation signal of the oscillator 11 by 90 degrees. Therefore, assuming that the oscillation signal of the oscillator 11 is a reference signal (0 degree), the output signal of the phase shift circuit 15 is a signal whose phase is shifted by 90 degrees.

オートバランス回路16は、受信コイルS1、S2の差電圧
の温度変化による変動を補正する回路である。この場
合、前記差電圧は被検査体Wが検出部12を通過するとき
以外は通常0であるが、温度によって差電圧が0となら
ぬことがあるため、これを補正するものである。そのた
めオートバランス回路16には発振器11の発振出力(基準
信号0度)、初段増幅回路14の出力、移相回路15の90度
位相のずれた信号が夫々入力している。そしてオートバ
ランス回路16の出力信号は初段増幅回路14の出力信号と
共に差動増幅回路17に入力する。この差動増幅回路17は
前記入力信号を差動増幅し、同期検波回路18A,18Bに供
給する。
The auto balance circuit 16 is a circuit that corrects a fluctuation due to a temperature change of the differential voltage between the receiving coils S 1 and S 2 . In this case, the difference voltage is normally 0 except when the test object W passes through the detection unit 12, but the difference voltage may not be 0 depending on the temperature, and therefore, the difference voltage is corrected. Therefore, the oscillation output (reference signal 0 degree) of the oscillator 11, the output of the first-stage amplifier circuit 14, and the signal shifted by 90 degrees from the phase shift circuit 15 are input to the auto balance circuit 16, respectively. The output signal of the auto balance circuit 16 is input to the differential amplifier circuit 17 together with the output signal of the first stage amplifier circuit 14. The differential amplifier circuit 17 differentially amplifies the input signal and supplies it to the synchronous detection circuits 18A and 18B.

同期検波回路18A、フィルタ・増幅回路19A、整流回路
20Aは被検査体W中の鉄成分の有無を検出するための回
路であり、これに対して同期検波回路18B、フィルタ・
増幅回路19B、整流回路20Bは被検査体W中の非鉄成分の
有無を検出するための回路である。この場合、同期検波
回路18Aには移相回路15の出力(基準信号の位相を90度
ずらした信号)が入力しており、他方、同期検波回路18
Bには基準信号(0度)が入力している。そして同期検
波回路18A、18B、またフィルタ・増幅回路19A、19B、更
に整流回路20A、20Bは夫々、略同一の回路である。また
フィルタ・増幅回路19A、19Bは、前記切換制御回路22か
らの短絡信号を同調回路13のコンデンサ切換時に与えら
れて、そのとき発生するノイズをクリアするようにされ
ている。
Synchronous detection circuit 18A, filter / amplifier circuit 19A, rectifier circuit
20A is a circuit for detecting the presence or absence of an iron component in the test object W. In contrast, a synchronous detection circuit 18B,
The amplifying circuit 19B and the rectifying circuit 20B are circuits for detecting the presence or absence of a non-ferrous component in the test object W. In this case, the output of the phase shift circuit 15 (a signal obtained by shifting the phase of the reference signal by 90 degrees) is input to the synchronous detection circuit 18A.
A reference signal (0 degree) is input to B. The synchronous detection circuits 18A and 18B, the filter / amplifier circuits 19A and 19B, and the rectifier circuits 20A and 20B are substantially the same circuit. The filter / amplifier circuits 19A and 19B are provided with the short-circuit signal from the switching control circuit 22 when the capacitor of the tuning circuit 13 is switched, and clear the noise generated at that time.

尚、21は被検査体Wが検出部12を通過する際にこれを
検知して検知信号を出力する物体検知器である。この場
合、被検査体Wはベルトコンベア(図示略)によって受
信コイルS1側から受信コイルS2側へ移送される。そして
その移送スピードは、被検査体Wの種類が例えばバーコ
ードリーダによって自動的に読取られるに応じて、ベル
トコンベアのモータスピードが自動的に切換えられ、変
化するようになっている。
Reference numeral 21 denotes an object detector that detects when the inspection object W passes through the detection unit 12 and outputs a detection signal. In this case, the test subject W is transferred from the receiver coil S 1 side to the receiving coil S 2 side by the belt conveyor (not shown). Then, the transfer speed is changed by automatically switching the motor speed of the belt conveyor according to the type of the inspection object W automatically read by, for example, a bar code reader.

第2図はフィルタ・増幅回路19A、19Bの構成例を示す
もので、図示するように、ローパスフィルタ31、ハイパ
スフィルタ32、増幅回路33、ハイパスフィルタ34、ロー
パスフィルタ35,36の直列回路から成る。この場合、本
実施例では、同調回路13のコンデンサ切換時に発生する
ノイズを除去するために、ローパスフィルタ35に短絡信
号が前記切換制御回路22から供給される構成となってい
る。
FIG. 2 shows an example of the configuration of the filter / amplifier circuits 19A and 19B. As shown, the filter / amplifier circuits 19A and 19B comprise a series circuit of a low-pass filter 31, a high-pass filter 32, an amplifier circuit 33, a high-pass filter 34, and low-pass filters 35 and 36. . In this case, in this embodiment, a short-circuit signal is supplied to the low-pass filter 35 from the switching control circuit 22 in order to remove noise generated when the tuning circuit 13 switches the capacitor.

即ち、第3図は、ローパスフィルタ35の具体的回路構
成を示し、図示するように、演算増幅器OP、抵抗R1
R2、R3、R4、コンデンサC1、C2、電界効果型トランジス
タFETから成る。電界効果型トランジスタFETはこの実施
例の短絡回路を形成するものであり、そのゲート端子に
は、前記短絡信号が印加され、ノイズ発生時にトランジ
スタFETが導通してローパスフィルタ35が短絡され、そ
の信号、即ち、ノイズが速やかに除去されるようになっ
ている。
That is, FIG. 3 shows a specific circuit configuration of the low-pass filter 35, and as shown, an operational amplifier OP, a resistor R 1 ,
R 2 , R 3 , R 4 , capacitors C 1 , C 2 , and a field effect transistor FET. The field-effect transistor FET forms the short circuit of this embodiment. The short-circuit signal is applied to its gate terminal, and when noise occurs, the transistor FET conducts and the low-pass filter 35 is short-circuited. That is, noise is quickly removed.

〈前記実施例の動作〉 次に、上記実施例の動作を説明する。被検査体W内の
金属、非金属の検知を開始するに際しては最初、被検査
体Wの種類に応じて同調回路13のコンデンサ容量を粗調
整用の手動スイッチ(図示略)を操作して切換えてお
く。そして被検査体Wを1個ずつ順次、ベルトコンベア
上に載せて検出部12内を受信コイルS1側から受信コイル
S2側へ移送させる。このとき被検査体Wは物体検知器21
によって検知され、その検知信号の出力ごとに整流回路
20A、20Bから夫々、鉄成分出力、非鉄成分出力が制御回
路(図示略)にとりこまれ、例えば鉄成分有りが判断さ
れるとその旨の報知が成される。
<Operation of Embodiment> Next, the operation of the above embodiment will be described. When starting detection of metal or non-metal in the object W, the capacitance of the tuning circuit 13 is switched by operating a manual switch (not shown) for coarse adjustment according to the type of the object W. Keep it. Then sequentially one by one inspection object W, receives the detection unit 12 put on the belt conveyer from the receiver coil S 1 side coil
To transfer to the S 2 side. At this time, the object to be inspected W is the object detector 21.
Rectifier circuit for each detection signal output
The output of the iron component and the output of the non-ferrous component from 20A and 20B are taken into a control circuit (not shown), for example, when it is determined that there is an iron component, a notification to that effect is made.

即ち、被検査体Wの通過時に受信コイルS1、S2の各誘
起電圧の位相は同調回路13によって粗調整され、その出
力信号は次いで初段増幅回路14によって交流増幅され、
更に差動増幅回路17によって差動増幅される。このとき
差動増幅回路17はオートバランス回路16の出力に応じて
受信コイルS1、S2の誘起電圧の差電圧の温度による変化
を調整される。また差動増幅回路17の出力は同期検波回
路18A、18Bに入力し、以下フィルタ・増幅回路19A、19
B、整流回路20A、20bの各動作によって鉄成分信号出
力、非鉄成分信号出力が得られる。
That is, when the test object W passes, the phases of the induced voltages of the receiving coils S 1 and S 2 are roughly adjusted by the tuning circuit 13, and the output signal is then AC-amplified by the first-stage amplifier circuit 14,
Further, the signal is differentially amplified by the differential amplifier circuit 17. At this time, the differential amplifier circuit 17 adjusts the temperature-dependent change in the difference voltage between the induced voltages of the receiving coils S 1 and S 2 according to the output of the auto balance circuit 16. The output of the differential amplifier circuit 17 is input to synchronous detection circuits 18A and 18B.
B, a ferrous component signal output and a non-ferrous component signal output are obtained by each operation of the rectifier circuits 20A and 20b.

上述した動作の実行中に、例えば被検査体Wの種類を
変え、そのことが例えばバーコードリーダによつて判別
されて切換制御回路22から同調回路13のコンデンサ容量
を切換える信号が出力されたものとする。このときコン
デンサ容量の切換えによるノイズが発生すると、前記切
換制御回路22はこのノイズ発生に応じてローパスフィル
タ35に短絡信号を出力し、第3図中のトランジスタFET
を導通させる。そのためローパスフィルタ35の信号ライ
ンが接地ライン(即ち、基準レベル信号ライン)に短絡
され、これにより前記発生ノイズは速やかに消滅されて
そのノイズが鉄成分有りを示すエラー信号となることも
なく、エラー発生の防止が実行される。
During the execution of the above-described operation, for example, the type of the inspection object W is changed, and the change is determined by, for example, a bar code reader, and a signal for switching the capacitance of the tuning circuit 13 is output from the switching control circuit 22. And At this time, when noise occurs due to the switching of the capacitance of the capacitor, the switching control circuit 22 outputs a short-circuit signal to the low-pass filter 35 in response to the occurrence of the noise, and the transistor FET shown in FIG.
Is made conductive. Therefore, the signal line of the low-pass filter 35 is short-circuited to the ground line (that is, the reference level signal line), whereby the generated noise is quickly eliminated and the noise does not become an error signal indicating the presence of an iron component. Prevention of occurrence is performed.

このように、ローパスフィルタ35は第3図に示すよう
に短絡信号によって導通するトランジスタFETが挿入さ
れているため、ノイズ発生時にハイパスフィルタ35の信
号ラインが短絡されて、ノイズによるエラー発生が防止
されるものである。
As described above, since the low-pass filter 35 is provided with the transistor FET that is turned on by the short-circuit signal as shown in FIG. 3, the signal line of the high-pass filter 35 is short-circuited when noise occurs, thereby preventing the occurrence of error due to noise. Things.

即ち、従来のローパスフィルタ35の回路構成は、トラ
ンジスタFETが設けられていないため、ノイズ発生時に
おけるローパスフィルタ35の短絡動作は不可能である。
That is, since the circuit configuration of the conventional low-pass filter 35 does not include the transistor FET, the low-pass filter 35 cannot perform a short-circuit operation when noise occurs.

〈本発明の他の実施例〉 尚、上記実施例では同調回路13のコンデンサ切換時に
発生するノイズに対しフィルタ・増幅回路19A、19B内の
フィルタを短絡する例を示したが、これに限られること
なく、被検査体Wを移送するベルトコンベア等のモータ
切換時に発生するノイズや、また検出ヘッド(コイル)
切換時に発生するノイズを、同様にフィルタを短絡する
ことによってエラー発生の防止を行ってもよい。
<Another embodiment of the present invention> In the above embodiment, an example is shown in which the filters in the filter / amplifier circuits 19A and 19B are short-circuited for noise generated when the capacitor of the tuning circuit 13 is switched. Noise generated when switching the motor of the belt conveyor or the like that transports the inspection object W, and the detection head (coil)
Noise generated at the time of switching may be prevented from occurring by short-circuiting the filter in the same manner.

またフィルタ回路に限らず、他の回路を短絡して発生
ノイズを除去するようにしてもよい。
In addition to the filter circuit, other circuits may be short-circuited to remove generated noise.

更にノイズ発生時に所定回路を短絡する方法とは別
に、前記信号の伝達速度、伝達帯域、利得等の伝達特性
を切換えることにより、鉄成分等の異物の有無の検知エ
ラーの発生を防止するようにしてもよい。
Further, apart from the method of short-circuiting a predetermined circuit when noise occurs, by switching the transmission characteristics of the signal, such as the transmission speed, the transmission band, and the gain, it is possible to prevent the occurrence of a detection error of the presence or absence of a foreign substance such as an iron component. You may.

〈本発明の効果〉 以上説明したように、本発明の金属検出機は、被検査
体が磁界中を通過するときの磁界変化を検出し、その磁
界変化に対応した検出信号に基づいて被検査体の混入金
属を検出する金属検出機において、混入金属の検出条件
を可変するための切換制御回路と、その切換制御回路か
らの信号を受け、混入金属の検出条件の切り換わり時に
検出信号ラインを基準レベル信号ラインに短絡する短絡
回路とを備えているので、切換制御回路によって検出条
件が切り換わる時に検出信号ラインに発生するノイズは
除去されるようになり、金属有無検出のエラー発生が確
実に防止できる利点がある。
<Effects of the present invention> As described above, the metal detector of the present invention detects a magnetic field change when an object to be inspected passes through a magnetic field, and performs an inspection based on a detection signal corresponding to the magnetic field change. In a metal detector for detecting a mixed metal in a body, a switching control circuit for changing a detecting condition of the mixed metal and a signal from the switching control circuit are received, and a detection signal line is switched when the detecting condition of the mixed metal is switched. Since a short circuit is provided for short-circuiting to the reference level signal line, noise generated in the detection signal line when the detection condition is switched by the switching control circuit is removed, and the occurrence of an error in metal presence detection is ensured. There is an advantage that can be prevented.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

第1図は本発明の一実施例による金属検出機のブロック
回路図、第2図はフィルタ・増幅回路19A、19Bの具体的
回路図、第3図はローパスフィルタ35の具体的回路図、
第4〜6図は金属検出機の動作原理を示す図である。 11……発振器、12……検出部、13……同調回路、15……
移相回路、17……差動増幅回路、18A,18B……同期検波
回路、19A,19B……フィルタ・増幅回路、20A,20B……整
流回路、21……物体検知器、22……切換制御回路、31,3
5,36……ローパスフィルタ、32,34……ハイパスフィル
タ、P……送信コイル、S1,S1……受信コイル、W……
被検査体。
1 is a block circuit diagram of a metal detector according to one embodiment of the present invention, FIG. 2 is a specific circuit diagram of filter / amplifier circuits 19A and 19B, FIG. 3 is a specific circuit diagram of low-pass filter 35,
4 to 6 are diagrams showing the operation principle of the metal detector. 11 ... Oscillator, 12 ... Detector, 13 ... Tuning circuit, 15 ...
Phase shift circuit, 17 ... Differential amplifier circuit, 18A, 18B ... Synchronous detection circuit, 19A, 19B ... Filter / amplifier circuit, 20A, 20B ... Rectifier circuit, 21 ... Object detector, 22 ... Switch Control circuit, 31,3
5,36 low-pass filter, 32,34 high-pass filter, P transmission coil, S 1 , S 1 reception coil, W
Inspected body.

Claims (1)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】被検査体が磁界中を通過するときの磁界変
化を検出し、該磁界変化に対応した検出信号に基づいて
前記被検査体の混入金属を検出する金属検出機におい
て、 前記混入金属の検出条件を可変するための切換制御回路
と、 前記切換制御回路からの信号を受け、混入金属の検出条
件の切り換わり時に前記検出信号ラインを基準レベル信
号ラインに短絡する短絡回路とを備えたことを特徴とす
る金属検出機。
1. A metal detector for detecting a change in a magnetic field when an object to be inspected passes through a magnetic field and detecting a mixed metal of the object to be inspected based on a detection signal corresponding to the magnetic field change, A switching control circuit for changing a metal detection condition, and a short circuit that receives a signal from the switching control circuit and short-circuits the detection signal line to a reference level signal line when the mixed metal detection condition is switched. A metal detector.
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