JP2580629B2 - Memory device - Google Patents

Memory device

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JP2580629B2
JP2580629B2 JP62261981A JP26198187A JP2580629B2 JP 2580629 B2 JP2580629 B2 JP 2580629B2 JP 62261981 A JP62261981 A JP 62261981A JP 26198187 A JP26198187 A JP 26198187A JP 2580629 B2 JP2580629 B2 JP 2580629B2
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Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、ダイナミックRAM、或いは画像メモリ,バ
ッファメモリ等のメモリ装置に関し、特電源投入時に入
力されるダミーサイクルのパルス信号や、所謂フラッシ
ュクリア機能を有する装置へのクリアパルス信号等を発
生させるセットアップ回路を具備するメモリ装置に関す
る。
Description: BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a memory device such as a dynamic RAM or an image memory or a buffer memory. The present invention relates to a memory device including a setup circuit for generating a clear pulse signal or the like for a device having a function.

〔発明の概要〕[Summary of the Invention]

本発明は、情報信号を記憶するメモリ装置において、
イニシャライズ信号を供給するクロック信号発生回路
と、スイッチのオン,オフをそれぞれ制御するためのレ
ベル検出回路及びスイッチ制御回路となるセットアップ
回路を設けることにより、電源投入後の自動的な立ち上
がり等を実現するものである。
The present invention relates to a memory device for storing an information signal,
By providing a clock signal generation circuit for supplying an initialization signal, a level detection circuit for controlling ON / OFF of a switch, and a setup circuit serving as a switch control circuit, automatic startup after power-on is realized. Things.

〔従来の技術〕 一般に、ダイナミックRAM等のメモリ装置において
は、電源投入直後では、十分なメモリ装置の回路動作が
不能である。そこで、これらのメモリ装置では、電源投
入後100μs程度の時間が経過してから、イニシャライ
ズ信号がチップの外部より与えられる。イニシャライズ
信号としては、クロックを入力するダミーサイク
ルが用いられ、このダミーサイクルは例えば8サイクル
程度メモリ装置の入力部へ与えられる。そして、このよ
うなダミーサイクルの入力の後、メモリ装置が正常に動
作して行く。
2. Description of the Related Art Generally, in a memory device such as a dynamic RAM, it is impossible to perform a sufficient circuit operation of the memory device immediately after power-on. Therefore, in these memory devices, an initialization signal is supplied from outside the chip after a time of about 100 μs elapses after the power is turned on. A dummy cycle for inputting a clock is used as the initialization signal, and this dummy cycle is applied to, for example, about eight cycles of the input portion of the memory device. After the input of such a dummy cycle, the memory device operates normally.

また、最近、画像メモリやバッファメモリ等のメモリ
装置においては、その特殊機能として、所謂フラッシュ
クリア機能を有する装置が知られている。このフラッシ
ュクリア機能は、クリアパルスの入力によって所要のメ
モリセルの情報を除去する機能であり、イニシャライズ
信号としてのクリアパルスはチップの外部から入力され
る。
Recently, as a special function of a memory device such as an image memory or a buffer memory, a device having a so-called flash clear function is known. The flash clear function is a function of removing information of a required memory cell by inputting a clear pulse, and a clear pulse as an initialize signal is input from outside the chip.

〔発明が解決しようとする問題点〕[Problems to be solved by the invention]

上述のように、従来のメモリ装置においては、電源投
入後に内部電源が安定するまでの待ち時間(ポーズ時
間)が必要とされ、回路内のダミークロックによってリ
フレッシュする動作(例えばRASオンリーリフレッシ
ュ)が必要とされる。また、画像メモリ等においては、
フラッシュクリア機能を有するものがある。
As described above, in the conventional memory device, a waiting time (pause time) is required until the internal power supply is stabilized after the power is turned on, and an operation of refreshing with a dummy clock in the circuit (for example, RAS only refresh) is required. It is said. In an image memory or the like,
Some have a flash clear function.

しかしながら、これら動作を行わせるためのイニシャ
ライズ信号は、本来のリード/ライト動作を行う以前に
チップの外部より供給されている。従って、外部に、こ
れらイニシャライズ信号を発生させる機能が必要とな
る。また、イニシャライズ信号が供給されるチップによ
っては、その性能から待ち時間を短縮しても十分に動作
するメモリ装置がある。このようなメモリ装置に対して
一様な待ち時間を設定することは、その待ち時間に余分
な時間を含むことになり、冗長なセットアップ動作が行
われることになる。
However, an initialization signal for performing these operations is supplied from outside the chip before the original read / write operation is performed. Therefore, a function for generating these initialization signals is required outside. Further, depending on the chip to which the initialization signal is supplied, there is a memory device which operates sufficiently even if the waiting time is shortened due to its performance. Setting a uniform wait time for such a memory device will include extra time in the wait time, resulting in a redundant setup operation.

そこで、本発明は上述の問題点に鑑み、電源投入後の
自動的な立ち上がりを実現し、余分な待ち時間を省略す
るようなメモリ装置の提供を目的とする。
SUMMARY OF THE INVENTION In view of the above problems, an object of the present invention is to provide a memory device that realizes automatic startup after power-on and eliminates extra waiting time.

〔問題点を解決するための手段〕[Means for solving the problem]

本発明は、クロック信号発生手段と、上記クロック信
号発生手段により発生されたクロック信号を第1のスイ
ッチ手段及び第2のスイッチ手段を介してイニシャライ
ズ信号としてイニシャライズ信号入力部に出力するイニ
シャライズ信号発生手段と、基板電圧レベルの検出に基
づいて上記第1のスイッチ手段を制御する第1のスイッ
チ制御手段と、上記第1のスイッチ手段を介して供給さ
れるクロック信号に基づいて、上記第2のスイッチ手段
の他方を所定の期間導通させた後遮断するように制御す
る第2のスイッチ制御手段とからなるセットアップ回路
を具備したことを特徴とするメモリ装置により上述の問
題点を解決する。
The present invention provides a clock signal generating means, and an initializing signal generating means for outputting a clock signal generated by the clock signal generating means as an initializing signal to an initializing signal input unit via a first switch means and a second switch means. First switch control means for controlling the first switch means based on detection of the substrate voltage level; and the second switch based on a clock signal supplied via the first switch means. The above-mentioned problem is solved by a memory device comprising a set-up circuit comprising a second switch control means for controlling the other of the means to conduct for a predetermined period of time and then to shut off.

ここで、上記イニシャライズ信号は、電源投入時に与
えられるダミークロックであり、或いは所謂フラッシュ
クリアに用いられるクリアパルス等である。第1及び第
2のスイッチ手段は、それぞれ例えばトランジスタを用
いることができ、単独或いは複数のトランジスタより構
成しても良い。レベルの検出は、例えば電源投入時の基
板電圧VBBや電源電圧VCCについて行われ、所要のレベル
(例えば安定した動作が保証される電位差)を検出した
時に第1のスイッチ手段を導通状態とするような制御が
第1のスイッチ制御手段により行われる。また、第2の
スイッチ制御手段は、必要なクロックや単パルスからな
るイニシャライズ信号をイニシャライズ信号入力部に出
力した後、第2のスイッチ手段を遮断するように制御す
る回路であり、具体的には、タイマー,カウンター等の
回路である。
Here, the initialization signal is a dummy clock provided when power is turned on, or a clear pulse or the like used for flash clearing. Each of the first and second switch means may be, for example, a transistor, and may be constituted by a single transistor or a plurality of transistors. The detection of the level is performed, for example, with respect to the substrate voltage V BB or the power supply voltage V CC at the time of power-on. When a required level (for example, a potential difference that ensures stable operation) is detected, the first switch unit is turned on. Such control is performed by the first switch control means. The second switch control means is a circuit for outputting an initialization signal consisting of a necessary clock or a single pulse to an initialization signal input section, and then controlling the second switch means to be cut off. , A timer, a counter and the like.

〔作用〕[Action]

基板電圧レベルの検出に基づいて第1のスイッチ手段
が制御されるので、イニシャライズ信号発生手段から
は、そのチップにとっても最も好適なタイミングでイニ
シャライズ信号を出力することができ、さらにイニシャ
ライズ信号の出力完了時に第2のスイッチが遮断される
ため、全体として自動的なセットアップ動作が行われ、
余分な待ち時間も不要となる。
Since the first switch means is controlled based on the detection of the substrate voltage level, the initialization signal can be output from the initialization signal generation means at the most suitable timing for the chip, and the output of the initialization signal is completed. Sometimes, the second switch is shut off, so that an automatic setup operation is performed as a whole,
No extra waiting time is required.

〔実施例〕〔Example〕

本発明の好適な実施例を図面を参照しながら説明す
る。
Preferred embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.

第1の実施例 本実施例のメモリ装置は、第1図に示すセットアップ
回路1を有している。このセットアップ回路1は、イニ
シャライズ信号の発生源となるクロック信号発生回路4
と、基板電圧VBBのレベルを検出して制御信号を出力す
るVBBレベル検出回路2と、イニシャライズ信号の出力
完了時にスイッチをオフ状態にするスイッチ制御回路と
してのカウンタ回路3と、3つのスイッチ5,6,7とを主
な構成要素としている。
First Embodiment The memory device of this embodiment has a setup circuit 1 shown in FIG. The setup circuit 1 includes a clock signal generation circuit 4 serving as an initialization signal generation source.
A VBB level detection circuit 2 for detecting the level of the substrate voltage VBB and outputting a control signal; a counter circuit 3 as a switch control circuit for turning off the switch when the output of the initialization signal is completed; 5, 6, and 7 are the main components.

上記クロック信号発生回路4は、自励発振器であり、
所定の周波数のクロックを出力する。このクロック信号
発生回路4の出力側には、上記スイッチ(MOSトランジ
スタ)5が接続され、このスイッチ5やインバーター8
〜11等を介してイニシャライズ信号入力部にイニシャラ
イズ信号が送られる。
The clock signal generation circuit 4 is a self-excited oscillator,
A clock having a predetermined frequency is output. The switch (MOS transistor) 5 is connected to the output side of the clock signal generation circuit 4.
An initialization signal is sent to the initialization signal input unit via 11 and the like.

上記VBBレベル検出回路2は、基板電圧VBBのレベルを
検出して、そのレベルがある値VST以下となったところ
で、制御信号V5gを出力する。ある値VSTは、少なくとも
安定した動作が保証される電圧であり、チップの固有の
電圧である。従って、性能の良いすなわち電源投入後早
期に安定するようなチップでは、基板電圧VBBがある値V
STに到達するのが早く、それだけ高速なプリチャージ動
作等が可能となる。制御信号V5gは上記スイッチ5のゲ
ートに送られる。基板電圧VBBがある値VSTに到達したと
ころで、上記制御信号によりスイッチ5は遮断状態から
導通状態にされる。
The V BB level detection circuit 2 detects the level of the substrate voltage V BB and outputs a control signal V 5 g when the level falls below a certain value V ST . The certain value VST is a voltage at which stable operation is guaranteed at least, and is a unique voltage of the chip. Therefore, in a chip having good performance, that is, a chip that stabilizes early after the power is turned on, the substrate voltage VBB has a certain value V
The ST reaches the ST earlier, and a precharge operation or the like at a higher speed becomes possible. The control signal V5g is sent to the gate of the switch 5. When the substrate voltage VBB reaches a certain value VST , the switch 5 is switched from the cutoff state to the conduction state by the control signal.

ここで、第2図を参照しながら、VBBレベル検出回路
2の具体的な回路構成の一例について説明する。そのV
BBレベル検出回路2は、電源電圧VCCと基板電圧VBBの間
に直列に接続された抵抗21,22を有し、各抵抗21,22で分
割されたレベルがインバーター23に入力する。これら抵
抗21,22で上述のある値VSTが決定され、抵抗21は抵抗22
より小さい値を有している。インバーター23の出力側に
はインバーター24が接続され、そのインバーター24の出
力側に2入力のNAND回路25が接続される。このNAND回路
25の出力は上記スイッチ5のゲートに接続される出力端
子28とされ、さらにその一部はインバーター26を介して
当該NAND回路25の他方の入力とされている。そのNAND回
路25の他方の入力部では、抵抗27を介して電源電圧VCC
が供給されている。
Here, an example of a specific circuit configuration of the VBB level detection circuit 2 will be described with reference to FIG. That V
The BB level detection circuit 2 has resistors 21 and 22 connected in series between the power supply voltage V CC and the substrate voltage V BB , and the level divided by the resistors 21 and 22 is input to the inverter 23. The above-mentioned certain value VST is determined by the resistors 21 and 22, and the resistor 21 is connected to the resistor 22.
It has a smaller value. An inverter 24 is connected to the output side of the inverter 23, and a two-input NAND circuit 25 is connected to the output side of the inverter 24. This NAND circuit
The output of 25 is an output terminal 28 connected to the gate of the switch 5, and a part of it is used as the other input of the NAND circuit 25 via an inverter 26. At the other input of the NAND circuit 25, the power supply voltage V CC
Is supplied.

このようなVBBレベル検出回路2の動作について説明
すると、電源投入直後の基板電圧VBBの電位は略接地(G
ND)電位とされている。そのため抵抗21,22の中点は、
抵抗分割からインバーター23の閾値電圧Vthより高い電
位とされている。次に、基板電圧VBBが徐々に下がり、
ある値VSTを越えると、上記中点の電位はインバーター2
3の閾値電圧Vthよりも低い電位となる。すると、インバ
ーター24の出力は“L"レベル(ローレベル)とされ、2
入力のNAND回路25の出力は“L"レベルから“H"レベル
(ハイレベル)に変化する。そして、スイッチ5が導通
状態にされる。
The operation of the V BB level detection circuit 2 will be described. The potential of the substrate voltage V BB immediately after the power is turned on is substantially ground (G
ND) potential. Therefore, the middle point between resistors 21 and 22 is
The potential is higher than the threshold voltage Vth of the inverter 23 due to the resistance division. Next, the substrate voltage V BB gradually decreases,
Beyond a certain value V ST, the potential of the middle point inverter 2
The potential is lower than the threshold voltage Vth of 3. Then, the output of the inverter 24 is set to “L” level (low level),
The output of the input NAND circuit 25 changes from “L” level to “H” level (high level). Then, the switch 5 is turned on.

上記カウンタ回路3は、本実施例では、イニシャライ
ズ信号を出力完了時に出力を停止させる機能を有してい
る。このカウンタ回路3は、カウンタ部31とラッチ部32
より構成されている。カウンタ部31は、イニシャライズ
信号のパルスの計数を行う回路である。このカウンタ回
路31には、VBBレベル検出回路2の出力がインバーター1
2を介してリセット信号として入力され、さらにクロッ
ク信号発生回路4からのイニシャライズ信号が遅延回路
としてのインバーター8〜11を介して入力する。上記ラ
ッチ部32は、カウンタ部31からの出力を保持するもので
あり、ラッチ部32の出力はスイッチ6およびスイッチ7
のゲートに供給されている。
In the present embodiment, the counter circuit 3 has a function of stopping the output when the output of the initialization signal is completed. The counter circuit 3 includes a counter unit 31 and a latch unit 32
It is composed of The counter unit 31 is a circuit that counts pulses of the initialization signal. The output of the V BB level detection circuit 2 is supplied to the inverter 1
2, and an initialization signal from the clock signal generation circuit 4 is further input via inverters 8 to 11 as delay circuits. The latch section 32 holds the output from the counter section 31. The output of the latch section 32 is the switch 6 and the switch 7
Is supplied to the gate.

ここで、第3図を参照しながら、上記カウンタ回路3
の具体的構成の一例について説明する。まず、カウンタ
部は複数段のT形のフリップフロップ回路34により構成
されている。各フリップフロップ回路34の各端子に
は、上記インバーター12を介して、VBBレベル検出回路
からの出力が反転してそれぞれ入力する。初段のフリッ
プフロップ回路の端子にはインバーター11の出力がス
イッチ7を介して入力し、その初段のフリップフロップ
回路のQ端子からの出力は、次段のフリップフロップ回
路の端子に入力する。該次段のフリップフロップ回路
のQ端子の出力は、さらに次の段のフリップフロップの
端子に入力して行き、このような関係で次々と多段に
接続される。そして、フリップフロップ回路の最終段の
Q端子の出力は、インバーター35に入力している。次
に、ラッチ部は、その一方の入力がインバーター35の出
力とされる2入力のNAND回路36と、該NAND回路36の出力
を反転して帰還させるインバーター37を有し、さらにNA
ND回路36の出力はインバーター39を介して上記スイッチ
6,7のゲートに出力されている。また、NAND回路36の帰
還ループとしての他方の入力端子には、電源電圧VCC
抵抗38を介して接続している。
Here, while referring to FIG.
An example of a specific configuration will be described. First, the counter section is composed of a plurality of T-type flip-flop circuits 34. The output from the VBB level detection circuit is inverted and input to each terminal of each flip-flop circuit 34 via the inverter 12. The output of the inverter 11 is input to the terminal of the first-stage flip-flop circuit via the switch 7, and the output from the Q terminal of the first-stage flip-flop circuit is input to the terminal of the next-stage flip-flop circuit. The output of the Q terminal of the next-stage flip-flop circuit is further input to the terminal of the next-stage flip-flop, and is connected one after another in such a relationship. The output of the Q terminal at the last stage of the flip-flop circuit is input to the inverter 35. Next, the latch unit has a two-input NAND circuit 36 whose one input is the output of the inverter 35, and an inverter 37 that inverts the output of the NAND circuit 36 and feeds it back.
The output of the ND circuit 36 is connected to the above switch via an inverter 39.
It is output to 6,7 gates. A power supply voltage V CC is connected via a resistor 38 to the other input terminal of the NAND circuit 36 as a feedback loop.

このようなカウンタ回路3は、上記T形のフリップフ
ロップ回路34がイニシャライズ信号のパルス数に応じて
設けられる。例えば8パルスにてイニシャライズ信号を
構成する場合では、T形のフリップフロップ回路34は4
つで良い。イニシャライズ信号のパターンに応じて回路
変更することはもとより可能である。このカウンタ回路
3の動作について簡単に説明すると、上記インバーター
12を介してリセット信号が“H"レベルから“L"レベルと
なり、各フリップフロップ回路がリセットされる。次
に、遅延回路としてのインバーター8〜11を介し、イニ
シャライズ信号の一部がスイッチ7を介して初段のフリ
ップフロップ回路34の端子に採り込まれる。複数段の
フリップフロップ回路34のカンウント動作により、所定
のカウント数で最終段のフリップフロップ回路34のQ端
子が“L"レベルから“H"レベルへ変化する。すると、イ
ンバーター35を介してNAND回路36の出力が“L"レベルか
ら“H"レベルへと変化する。従って、インバーター39を
介してスイッチ6,7のゲートに供給される電圧も“H"レ
ベルから“L"レベルへと変化し、スイッチ6,7はそれぞ
れ遮断状態とされる。
In such a counter circuit 3, the T-type flip-flop circuit 34 is provided according to the number of pulses of the initialization signal. For example, when the initialization signal is composed of eight pulses, the T-type flip-flop circuit 34
One is good. It is naturally possible to change the circuit according to the pattern of the initialization signal. The operation of the counter circuit 3 will be briefly described.
The reset signal changes from “H” level to “L” level via 12, and each flip-flop circuit is reset. Next, a part of the initialization signal is taken into the terminal of the first-stage flip-flop circuit 34 via the switch 7 via the inverters 8 to 11 as delay circuits. Due to the count operation of the multiple-stage flip-flop circuits 34, the Q terminal of the final-stage flip-flop circuit 34 changes from “L” level to “H” level at a predetermined count. Then, the output of the NAND circuit 36 changes from “L” level to “H” level via the inverter 35. Accordingly, the voltage supplied to the gates of the switches 6 and 7 via the inverter 39 also changes from the “H” level to the “L” level, and the switches 6 and 7 are turned off.

上記スイッチ6は、インバーター11の出力端子に接続
され、イニシャライズ信号入力部13との間の導通,遮断
を制御する。その制御はカウンタ回路3からの出力に基
づく。また上記スイッチ7は、インバーター11の出力端
子に接続され、カウンタ回路3への入力を制御する。そ
の制御もカウンタ回路3からの出力に基づく。なお、こ
れらスイッチ6,7としては、一例としてNMOSトランジス
タを用いることができる。
The switch 6 is connected to the output terminal of the inverter 11 and controls conduction and cutoff with the initialization signal input unit 13. The control is based on the output from the counter circuit 3. The switch 7 is connected to the output terminal of the inverter 11 and controls the input to the counter circuit 3. The control is also based on the output from the counter circuit 3. As the switches 6 and 7, for example, NMOS transistors can be used.

上述のような回路構成を有するセットアップ回路1
は、全体として第4図のタイムチャートに示すように動
作する。なお、第4図中において、線(a)は電源電圧
VCCである。線(b)は基板電圧VBBである。線(c)は
VBBレベル検出回路2からの制御信号V5gである。線
(d)はクロック信号発生回路4の出力信号ΦCLであ
る。線(e)はカウンタ回路3からの出力信号V6gであ
る。線(f)はイニシャライズ信号入力部13に供給され
るイニシャライズ信号ΦINである。
Setup circuit 1 having circuit configuration as described above
Operates as shown in the time chart of FIG. 4 as a whole. In FIG. 4, line (a) is the power supply voltage.
V CC . Line (b) is the substrate voltage V BB . Line (c)
This is a control signal V5g from the VBB level detection circuit 2. Line (d) is the output signal Φ CL of the clock signal generation circuit 4. Line (e) is the output signal V 6g from the counter circuit 3. Line (f) is the initialization signal Φ IN supplied to the initialization signal input unit 13.

まず、初めに時刻t0で電源が投入され、線(a)に示
すように、電源電圧VCCは“L"レベルから立ち上がり、
多少のリンギングを伴って“H"レベルに安定する。一
方、基板電圧VBBは、チャージポンプ回路の動作から接
地レベルである“L"レベルから徐々に下がって行く。時
刻t1経過したところで、基板電圧VBBがある電圧VSTに達
する。この電圧VSTは、当該セットアップ回路が搭載さ
れるチップで少なくとも安定した動作が可能となる電圧
である。
First, the power at time t 0 is turned initially, as shown in line (a), rising from the power supply voltage V CC is "L" level,
Stabilizes at “H” level with some ringing. On the other hand, substrate voltage V BB gradually decreases from the ground level “L” level due to the operation of the charge pump circuit. When the time was t 1 elapsed, it reaches the voltage V ST there is a substrate voltage V BB. This voltage VST is a voltage that enables at least a stable operation of the chip on which the setup circuit is mounted.

基板電圧VBBがある電圧VSTに達したところで、上記V
BBレベル検出回路2の抵抗分割された中点の電位がイン
バーター23の閾値電圧Vthより低くなり、上述のVBBレベ
ル検出回路2の動作から制御信号V5gは“L"レベルから
“H"レベルへ変化する(時刻t2)。基板電圧VBBが最終
的な“VL"レベルまで引き下げられてから、制御信号V5g
を“H"レベルにすることもできる。制御信号V5gが“H"
レベルとなり、スイッチ5は導通状態となる。すると、
クロック信号発生回路4の出力信号ΦCLは、インバータ
ー8〜11を介しさらにスイッチ6を介して、イニシャラ
イズ信号ΦIN(線(f))としてイニシャライズ信号入
力部13に供給される。また、制御信号V5gが“H"レベル
となることでインバーター12を介して送られるリセット
信号も“L"レベルとなり、カウンタ回路3のフリップフ
ロップ回路34がリセットされる。
Now that reached the voltage V ST there is a substrate voltage V BB, the V
The potential at the midpoint of the BB level detection circuit 2 divided by the resistance becomes lower than the threshold voltage Vth of the inverter 23, and the operation of the VBB level detection circuit 2 changes the control signal V5g from "L" level to "H". It changes to the level (time t 2 ). After the substrate voltage V BB is reduced to the final “VL” level, the control signal V 5g
Can be set to the “H” level. Control signal V 5g is “H”
Level, and the switch 5 is turned on. Then
The output signal Φ CL of the clock signal generation circuit 4 is supplied to the initialization signal input section 13 as the initialization signal Φ IN (line (f)) via the inverters 8 to 11 and the switch 6. Further, when the control signal V5g becomes “H” level, the reset signal sent via the inverter 12 also becomes “L” level, and the flip-flop circuit 34 of the counter circuit 3 is reset.

上記イニシャライズ信号ΦINの一部は、スイッチ7を
介して、複数段のフリップフロップ回路34の中の初段の
端子に入力する。以後、イニシャライズ信号ΦINのパ
ターン(例えば8パルス)に応じて、カウントが完了す
なわちイニシャライズ信号の出力完了時に、最終段のフ
リップフロップ回路34の出力が“L"レベルから“H"レベ
ルに変化する。これにより、カウンタ回路3からの出力
信号V6gが“H"レベルから“L"レベルに変化する(時刻t
3)。すると、スイッチ6,7のゲート電圧が“H"レベルか
ら“L"レベルとされ、それぞれスイッチ6,7は遮断状態
となる。そして、イニシャライズ信号ΦINのイニシャラ
イズ信号入力部13の信号の供給は停止され、セットアッ
プ回路1の動作が終了する。
A part of the initialization signal Φ IN is input to a first-stage terminal in the multiple-stage flip-flop circuit 34 via the switch 7. Thereafter, according to the pattern of the initialization signal Φ IN (for example, 8 pulses), when the counting is completed, that is, when the output of the initialization signal is completed, the output of the last-stage flip-flop circuit 34 changes from “L” level to “H” level. . As a result, the output signal V 6g from the counter circuit 3 changes from “H” level to “L” level (time t
3 ). Then, the gate voltages of the switches 6 and 7 are changed from “H” level to “L” level, and the switches 6 and 7 are turned off. Then, the supply of the signal of the initialization signal Φ IN to the initialization signal input unit 13 is stopped, and the operation of the setup circuit 1 ends.

以上の動作を行う本実施例のメモリ装置は、上記セッ
トアップ回路1の動作によって、イニシャライズ信号が
ダミークロックやフラッシュクリアのためのパルスとし
て用いられ、電源投入後、自動的なセットアップ動作が
容易に行われることになる。また、チップの性能に応じ
た最小限の時間でのセットアップが実現されることにな
る。
In the memory device of the present embodiment that performs the above operation, the initialization signal is used as a dummy clock or a pulse for flash clear by the operation of the setup circuit 1, and the automatic setup operation is easily performed after the power is turned on. Will be Further, setup in a minimum time according to the performance of the chip is realized.

第2の実施例 本実施例のメモリ装置は、第1の実施例のセットアッ
プ回路1にセットアップ完了信号出力回路70を付加した
セットアップ回路51を有する装置である。
Second Embodiment The memory device of this embodiment is a device having a setup circuit 51 in which a setup completion signal output circuit 70 is added to the setup circuit 1 of the first embodiment.

まず、その構成を第5図を参照しながら説明すると、
第1の実施例と略同様に、イニシャライズ信号の発生源
となるクロック信号発生回路54と、基板電圧VBBのレベ
ルを検出して制御信号を出力するVBBレベル検出回路52
と、イニシャライズ信号の出力完了時にスイッチをオフ
状態にするスイッチ制御回路としてのカウンタ回路53
と、3つのスイッチ55〜57と、インバーター58〜62を有
している。そして、さらに本実施例にかかるセットアッ
プ回路51には、セットアップ完了信号出力回路70が設け
られている。
First, the configuration will be described with reference to FIG.
Similarly substantially in the first embodiment, a clock signal generating circuit 54 serving as a source of initialization signals, V BB level detection circuit 52 for outputting a control signal by detecting a level of the substrate voltage V BB
And a counter circuit 53 as a switch control circuit for turning off the switch when the output of the initialization signal is completed.
, Three switches 55 to 57 and inverters 58 to 62. Further, the setup circuit 51 according to the present embodiment is provided with a setup completion signal output circuit 70.

上記セットアップ完了信号出力回路70は、セットアッ
プの動作が完了した時点で、パルス信号をチップDOUT
子83から出力する機能を有している。このセットアップ
完了信号出力回路70の構成は、第5図に示すように、直
列接続されたインバーター71,72と、抵抗73および容量7
4からなる積分回路と、2入力のNAND回路75と、該NAND
回路75の出力を反転するインバーター76と、MOSトラン
ジスタ81,82から構成される出力バッファ回路の出力端
子83に接続されるMOSトランジスタ77からなる。インバ
ーター71には、上記カウンタ回路53からの出力が入力さ
れ、インバーター71の出力はインバーター72および上記
NAND回路75に入力する。インバーター72の出力は抵抗73
および容量74からなる積分回路に供給され、抵抗73と容
量74の接続点が上記NAND回路75に入力する。そのNAND回
路75の出力はインバーター76で反転され、上記MOSトラ
ンジスタ77を制御する。
The setup completion signal output circuit 70 has a function of outputting a pulse signal from the chip D OUT terminal 83 when the setup operation is completed. As shown in FIG. 5, the setup completion signal output circuit 70 has inverters 71 and 72 connected in series, a resistor 73 and a capacitor 7.
4, a two-input NAND circuit 75, and the NAND circuit 75.
It comprises an inverter 76 for inverting the output of the circuit 75, and a MOS transistor 77 connected to an output terminal 83 of an output buffer circuit composed of MOS transistors 81 and 82. The output from the counter circuit 53 is input to the inverter 71, and the output of the inverter 71 is
Input to NAND circuit 75. The output of inverter 72 is resistor 73
The connection point between the resistor 73 and the capacitor 74 is input to the NAND circuit 75. The output of the NAND circuit 75 is inverted by an inverter 76 to control the MOS transistor 77.

このようなセットアップ完了信号出力回路70の動作に
ついて簡単に説明すると、イニシャライズ信号の出力完
了時には、上記カウンタ回路53の出力が“H"レベルから
“L"レベルに変化する。すると、インバーター71を介し
てNAND回路75の一方の入力が“H"レベルに変化する。こ
のときNAND回路75の出力は“H"レベルから“L"レベルに
なり、上記MOSトランジスタ77はオフ状態からオン状態
となって、DOUT端子83からはパルス信号が出力される。
これと平行して、インバーター72を介して積分回路の上
記接続点が“H"レベルから徐々に下がり始める。そし
て、NAND回路75の閾値電圧Vth以下となったところで、N
AND回路75の出力は“L"レベルから“H"レベルへと変化
する。その結果、MOSトランジスタ77はオフ状態にさ
れ、DOUT端子83からのパルス信号は出力停止状態にされ
る。
The operation of the setup completion signal output circuit 70 will be briefly described. When the output of the initialization signal is completed, the output of the counter circuit 53 changes from “H” level to “L” level. Then, one input of the NAND circuit 75 changes to “H” level via the inverter 71. At this time, the output of the NAND circuit 75 changes from the “H” level to the “L” level, the MOS transistor 77 changes from the OFF state to the ON state, and a pulse signal is output from the DOUT terminal 83.
In parallel with this, the connection point of the integration circuit starts to gradually decrease from the “H” level via the inverter 72. Then, when the voltage falls below the threshold voltage Vth of the NAND circuit 75, N
The output of the AND circuit 75 changes from “L” level to “H” level. As a result, the MOS transistor 77 is turned off, and the output of the pulse signal from the DOUT terminal 83 is stopped.

なお、本実施例においては、クロック信号発生回路5
4、VBBレベル検出回路52、カウンタ回路53、スイッチ55
〜57、インバーター58〜62等は第1の実施例のそれぞれ
対応するものと同様の構成および動作を行うため、その
詳しい説明は省略する。
In this embodiment, the clock signal generation circuit 5
4, VBB level detection circuit 52, counter circuit 53, switch 55
To 57, the inverters 58 to 62, etc., have the same configuration and operation as the corresponding ones of the first embodiment, and therefore detailed description thereof will be omitted.

本実施例のメモリ装置は、まず、上記セットアップ回
路51の動作によって、電源投入後、自動的はセットアッ
プ動作が容易に行われ、また、チップの性能に応じた最
小限の時間でのセットアップが実現されることになる。
そして、さらに上述のセットアップ完了信号出力回路70
によって、セットアップ動作が完了した旨のパルスが出
力され、容易にモニターすることが可能となる。
In the memory device according to the present embodiment, first, the setup operation is automatically performed easily after the power is turned on by the operation of the setup circuit 51, and the setup in a minimum time according to the performance of the chip is realized. Will be done.
Further, the above-described setup completion signal output circuit 70
As a result, a pulse indicating that the setup operation has been completed is output, and it is possible to easily monitor the setup operation.

なお、本発明のメモリ装置は、上述の実施例に限定さ
れず、その要旨を変更しない範囲での種々の変更が可能
である。
Note that the memory device of the present invention is not limited to the above-described embodiment, and various changes can be made without changing the gist of the memory device.

〔発明の効果〕〔The invention's effect〕

本発明のメモリ装置は、セットアップ回路の動作によ
って、電源投入後、自動的なセットアップ動作が容易に
行われ、外部からダミークロックやフラッシュクリアパ
ルス等を供給する必要はない。また、チップの性能に応
じた最小限の時間でのセットアップが実現されることに
なる。
In the memory device of the present invention, the automatic setup operation is easily performed after the power is turned on by the operation of the setup circuit, and there is no need to externally supply a dummy clock, a flash clear pulse, or the like. Further, setup in a minimum time according to the performance of the chip is realized.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

第1図は本発明のメモリ装置の一例の要部を示す回路
図、第2図はそのVBBレベル検出回路の具体的構成の一
例を示す回路図、第3図は上記メモリ装置の一例のカウ
ンタ回路の具体的構成の一例を示す回路図、第4図は本
発明のメモリ装置の一例にかかるタイムチャートであ
る。また、第5図は本発明のメモリ装置の他の一例の要
部を示す回路図である。 1,51……セットアップ回路 2,52……VBBレベル検出回路 3,53……カウンタ回路 4,54……クロック信号発生回路 5,6,7,55,56,57……スイッチ 70……セットアップ完了信号出力回路
FIG. 1 is a circuit diagram showing a main part of an example of the memory device of the present invention, FIG. 2 is a circuit diagram showing an example of a specific configuration of the VBB level detection circuit, and FIG. FIG. 4 is a circuit diagram showing an example of a specific configuration of the counter circuit, and FIG. 4 is a time chart according to an example of the memory device of the present invention. FIG. 5 is a circuit diagram showing a main part of another example of the memory device of the present invention. 1,51 ...... set-up circuit 2, 52 ...... V BB level detection circuit 3, 53 ...... counter circuit 4, 54 ...... Clock signal generator circuit 5,6,7,55,56,57 ...... switch 70 ...... Setup completion signal output circuit

Claims (1)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】クロック信号発生手段と、 上記クロック信号発生手段により発生されたクロック信
号を第1のスイッチ手段及び第2のスイッチ手段を介し
てイニシャライズ信号としてイニシャライズ信号入力部
に出力するイニシャライズ信号発生手段と、 基板電圧レベルの検出に基づいて上記第1のスイッチ手
段を制御する第1のスイッチ制御手段と、 上記第1のスイッチ手段を介して供給されるクロック信
号に基づいて、上記第2のスイッチ手段の他方を所定の
期間導通させた後遮断するように制御する第2のスイッ
チ制御手段と からなるセットアップ回路を具備したことを特徴とする
メモリ装置。
1. An initialization signal generating means for outputting a clock signal generated by said clock signal generating means as an initializing signal to an initializing signal input section via a first switch means and a second switch means. Means, first switch control means for controlling the first switch means based on detection of the substrate voltage level, and second control means based on a clock signal supplied via the first switch means. A second switch control means for controlling the other of the switch means to be turned on after being turned on for a predetermined period, and a second switch control means.
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