JP2580491Y2 - IC transport mechanism with lead frame by carrier - Google Patents

IC transport mechanism with lead frame by carrier

Info

Publication number
JP2580491Y2
JP2580491Y2 JP2601492U JP2601492U JP2580491Y2 JP 2580491 Y2 JP2580491 Y2 JP 2580491Y2 JP 2601492 U JP2601492 U JP 2601492U JP 2601492 U JP2601492 U JP 2601492U JP 2580491 Y2 JP2580491 Y2 JP 2580491Y2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
lead frame
carrier
contact
contact board
guide
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2601492U
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JPH0579483U (en
Inventor
荒川  修
Original Assignee
安藤電気株式会社
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 安藤電気株式会社 filed Critical 安藤電気株式会社
Priority to JP2601492U priority Critical patent/JP2580491Y2/en
Publication of JPH0579483U publication Critical patent/JPH0579483U/en
Application granted granted Critical
Publication of JP2580491Y2 publication Critical patent/JP2580491Y2/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)

Description

【考案の詳細な説明】[Detailed description of the invention]

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】この考案は、複数のリードフレー
ム付ICをキャリアに入れたままの状態でコンタクトボ
ードに取り付けられた複数のICソケットに接触させた
り、搬送したりするリードフレーム付IC搬送機構につ
いてのものである。
This invention relates to an IC carrier with a lead frame for contacting or carrying a plurality of IC sockets attached to a contact board while a plurality of ICs with a lead frame are kept in a carrier. It is about the mechanism.

【0002】[0002]

【従来の技術】次に、従来技術によるリードフレーム付
ICの搬送機構の構成を図6により説明する。図6の3
はコンタクトボード、4はトレー、5は恒温槽、6は供
給プレート、7は吸着ハンド、8は収容プレート、9は
分類トレーである。図6ではリードフレーム付ICを吸
着ハンド7で吸着して搬送し、恒温槽5内で供給プレー
ト6からコンタクトボード3にリードフレーム付ICを
移し、コンタクトボード3のICソケット3Aにリード
フレーム付ICを接触させる。コンタクトボード3でリ
ードフレーム付ICを測定後、吸着ハンド7で吸着して
コンタクトボード3からリードフレーム付ICを収容プ
レート8に移し、収容プレート8から分類トレー9に移
す。
2. Description of the Related Art The construction of a conventional transfer mechanism for an IC with a lead frame will be described with reference to FIG. 3 in FIG.
Is a contact board, 4 is a tray, 5 is a thermostat, 6 is a supply plate, 7 is a suction hand, 8 is a storage plate, and 9 is a classification tray. In FIG. 6, the IC with the lead frame is sucked and transported by the suction hand 7, the IC with the lead frame is transferred from the supply plate 6 to the contact board 3 in the thermostat 5, and the IC with the lead frame is transferred to the IC socket 3 A of the contact board 3. Contact. After measuring the IC with the lead frame by the contact board 3, the IC is attached by suction with the suction hand 7, and the IC with the lead frame is transferred from the contact board 3 to the accommodation plate 8, and from the accommodation plate 8 to the classification tray 9.

【0003】リードフレーム付ICをコンタクトボード
3から収容プレート8へ移す時間と供給プレート6から
コンタクトボード3へ移す時間が測定終了から測定開始
までの時間となる。少数のリードフレーム付ICを測定
する場合は問題にならないが、多数のリードフレーム付
ICを同時に測定する場合は、測定終了から測定開始ま
での時間を短くすることが要求される。
The time required to transfer the IC with the lead frame from the contact board 3 to the receiving plate 8 and the time required to transfer the IC with the lead frame from the supply plate 6 to the contact board 3 is the time from the end of measurement to the start of measurement. There is no problem when measuring a small number of ICs with lead frames, but when simultaneously measuring a large number of ICs with lead frames, it is required to shorten the time from the end of measurement to the start of measurement.

【0004】[0004]

【考案が解決しようとする課題】図6では、測定終了
後、リードフレーム付ICを収容プレート8へ吸着ハン
ド7で移し、次のリードフレーム付ICを供給プレート
6からコンタクトボード3に吸着ハンド7で移すのに時
間がかかり、移動のときにジャミングが発生することが
ある。この考案は、測定終了から測定開始までの時間を
短くし、ジャミングの発生を少なくするため、複数のリ
ードフレーム付ICをキャリアに入れたままの状態でコ
ンタクトボードに取り付けられた複数のICソケットに
リードフレーム付ICを同時に接触させるリードフレー
ム付IC搬送機構の提供を目的とする。
In FIG. 6, after the measurement is completed, the IC with the lead frame is transferred to the accommodation plate 8 by the suction hand 7, and the next IC with the lead frame is transferred from the supply plate 6 to the contact board 3 by the suction hand 7. Takes a long time to move, and jamming may occur when moving. In order to shorten the time from the end of measurement to the start of measurement and reduce the occurrence of jamming, this invention uses a plurality of IC sockets attached to a contact board while keeping a plurality of ICs with lead frames in a carrier. It is an object of the present invention to provide a lead frame-equipped IC transport mechanism for simultaneously contacting a lead frame-equipped IC.

【0005】[0005]

【課題を解決するための手段】この目的を達成するた
め、この考案では、両端部にガイド穴2Aをもち、複数
のリードフレーム付IC1を収容する複数のテーパ2B
付の凹部2Cが設けられ、凹部2Cに収容されたリード
フレーム付IC1のリード1Aとは非接触の複数の穴2
Dをもつキャリア2と、両端部にガイドピン3Aが取り
付けられ、複数のICソケット3Bが取り付けられるコ
ンタクトボード3とを備え、リードフレーム付IC1を
収容したキャリア2を搬送し、ガイド穴2Aにガイドピ
ン3Aを挿入することにより、凹部2Cに収容されたリ
ードフレーム付IC1をコンタクトボード3のICソケ
ット3B上に移載して接触する。
In order to achieve this object, according to the present invention, a plurality of tapered holes 2B having guide holes 2A at both ends and accommodating a plurality of ICs 1 with lead frames are provided.
And a plurality of holes 2 that are not in contact with the leads 1A of the IC 1 with a lead frame housed in the recess 2C.
D, and a contact board 3 having guide pins 3A attached to both ends and a plurality of IC sockets 3B attached thereto. The carrier 2 containing the IC 1 with a lead frame is transported, and a guide is inserted into the guide hole 2A. By inserting the pin 3A, the IC 1 with the lead frame housed in the recess 2C is transferred onto the IC socket 3B of the contact board 3 and makes contact therewith.

【0006】[0006]

【作用】次に、この考案によるキャリアによるリードフ
レーム付IC搬送機構の構成を図1により説明する。図
1の2はキャリア、3はコンタクトボードである。キャ
リア2には両端部にガイド穴2Aがあり、複数のリード
フレーム付IC1を収容する複数のテーパ2B付の凹部
2Cが設けられる。凹部2Cには収容されたリードフレ
ーム付IC1のリード1Aとは非接触の複数の穴2Dが
あけられる。コンタクトボード3には両端部にガイドピ
ン3Aが取り付けられ、凹部2Cに収容されたリードフ
レーム付IC1と穴2Dの部分で接触する複数のICソ
ケット3Bが取り付けられる。
Next, the configuration of an IC transport mechanism with a lead frame using a carrier according to the present invention will be described with reference to FIG. 1 is a carrier, and 3 is a contact board. The carrier 2 has guide holes 2A at both ends, and is provided with a plurality of concave portions 2C having a plurality of tapered portions 2B for accommodating a plurality of ICs 1 with lead frames. The recess 2C is provided with a plurality of holes 2D that are not in contact with the leads 1A of the accommodated IC 1 with a lead frame. Guide pins 3A are attached to both ends of the contact board 3, and a plurality of IC sockets 3B that are in contact with the IC 1 with a lead frame accommodated in the recess 2C at the hole 2D are attached.

【0007】次に、図1のキャリア2をコンタクトボー
ド3に載せた状態を図2により説明する。キャリア2の
ガイド穴2Aにコンタクトボード3のガイドピン3Aを
挿入すると、キャリア2に収容されたリードフレーム付
IC1がコンタクトボード3のICソケット3Bに接触
する。図2の10はリードプッシャーであり、リードフ
レーム付IC1を押すことにより、リードフレーム付I
C1をICソケット3Bに確実に接触させる。すなわ
ち、キャリア2にリードフレーム付IC1を入れたまま
で測定をする。
Next, a state in which the carrier 2 of FIG. 1 is mounted on the contact board 3 will be described with reference to FIG. When the guide pin 3A of the contact board 3 is inserted into the guide hole 2A of the carrier 2, the IC 1 with a lead frame accommodated in the carrier 2 comes into contact with the IC socket 3B of the contact board 3. Reference numeral 10 in FIG. 2 denotes a lead pusher, which presses an IC 1 with a lead frame to thereby obtain an I with a lead frame.
C1 is securely brought into contact with the IC socket 3B. That is, the measurement is performed with the IC 1 with the lead frame inserted in the carrier 2.

【0008】次に、キャリア2による循環の例を図3に
より説明する。図4に示すように、トレー4から測定前
のリードフレーム付IC1を吸着ハンド7でキャリア2
に載せる。図3の供給部11の状態が図4であり、トレ
ー4からリードフレーム付IC1をキャリア2に移し、
恒温槽5内の予熱部12でリードフレーム付IC1を予
熱する。測定部13でリードフレーム付IC1を測定
し、収容部14にキャリア2を引き出す。収容部14で
分類トレー9に分類する。図3によれば、複数のリード
フレーム付ICをキャリア2に入れて搬送し、測定する
ことができ、測定終了から測定開始までの時間を短くす
ることができる。また、恒温槽5内でのリードフレーム
付IC1の受け渡しがないので、恒温槽5内でのジャミ
ングを減らすことができる。
Next, an example of circulation by the carrier 2 will be described with reference to FIG. As shown in FIG. 4, the IC 1 with the lead frame before measurement is transferred from the tray 4 to the carrier 2 by the suction hand 7.
Put on. FIG. 4 shows the state of the supply unit 11 in FIG. 3, and the IC 1 with the lead frame is moved from the tray 4 to the carrier 2,
The IC 1 with the lead frame is preheated by the preheating unit 12 in the thermostat 5. The measuring unit 13 measures the IC 1 with a lead frame, and the carrier 2 is pulled out to the housing unit 14. Classification is performed on the classification tray 9 in the storage unit 14. According to FIG. 3, a plurality of ICs with lead frames can be transported and measured in the carrier 2, and the time from the end of measurement to the start of measurement can be shortened. Further, since there is no delivery of the IC 1 with a lead frame in the thermostat 5, jamming in the thermostat 5 can be reduced.

【0009】[0009]

【実施例】次に、図3の測定部13の構造を図5により
説明する。第1ステップでは、コンタクトボード3に設
けられたガイドピン3Aに沿ってキャリア2の位置決め
をする。第2ステップでは、ICソケット3Bに設けら
れたガイド3Cでリードフレーム付IC1の位置決めを
する。キャリア2内のリードフレーム付IC1は、IC
ソケット3B上に移される。キャリア2がICコンタク
ト位置よりさらに下がり、リードフレーム付IC1とキ
ャリア2は分離する。このとき、キャリア2の熱膨脹に
よる位置ずれはリードフレーム付IC1をキャリア2内
で微動できる状態にセットすることで解決する。また、
コンタクト終了時には、キャリア2の上昇とともに、リ
ードフレーム付IC1も確実に搬送できるので、ICソ
ケット3B上のリードフレーム付IC1が残ることはな
い。
Next, the structure of the measuring section 13 shown in FIG. 3 will be described with reference to FIG. In the first step, the carrier 2 is positioned along the guide pins 3A provided on the contact board 3. In the second step, the IC 1 with the lead frame is positioned by the guide 3C provided on the IC socket 3B. The IC 1 with the lead frame in the carrier 2 is an IC
It is moved onto the socket 3B. The carrier 2 is further lowered from the IC contact position, and the IC 1 with the lead frame and the carrier 2 are separated. At this time, the displacement caused by the thermal expansion of the carrier 2 can be solved by setting the IC 1 with the lead frame to a state in which the IC 1 can be finely moved in the carrier 2. Also,
At the end of the contact, the IC 1 with a lead frame can be transported reliably with the rise of the carrier 2, so that the IC 1 with a lead frame on the IC socket 3B does not remain.

【0010】[0010]

【考案の効果】この考案によれば、キャリアで多数のリ
ードフレーム付ICを同時に搬送するので、槽内でのジ
ャミング数を減らすことができ、測定終了から測定開始
までの時間を短くすることができる。
According to the present invention, since a large number of ICs with lead frames are transported simultaneously by the carrier, the number of jams in the tank can be reduced, and the time from the end of measurement to the start of measurement can be shortened. it can.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】この考案によるリードフレーム付ICの搬送機
構の構成図である。
FIG. 1 is a configuration diagram of a transport mechanism of an IC with a lead frame according to the present invention.

【図2】図1のキャリア2をコンタクトボード3に載せ
た状態図である。
FIG. 2 is a view showing a state where the carrier 2 of FIG. 1 is placed on a contact board 3;

【図3】キャリア2による循環説明図である。FIG. 3 is an explanatory diagram of circulation by a carrier 2;

【図4】リードフレーム付IC1を吸着ハンド7でキャ
リア2に載せる状態図である。
FIG. 4 is a diagram showing a state in which the IC 1 with a lead frame is placed on the carrier 2 by the suction hand 7;

【図5】図3の測定部13の構造図である。FIG. 5 is a structural diagram of a measuring unit 13 of FIG.

【図6】従来技術によるリードフレーム付ICの搬送機
構の構成図である。
FIG. 6 is a configuration diagram of a transport mechanism of an IC with a lead frame according to the related art.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 リードフレーム付IC 1A リード 2 キャリア 2A ガイド穴 2B テーパ 3 コンタクトボード 3A ガイドピン 3B ICソケット 3C ガイド Reference Signs List 1 IC with lead frame 1A lead 2 carrier 2A guide hole 2B taper 3 contact board 3A guide pin 3B IC socket 3C guide

Claims (1)

(57)【実用新案登録請求の範囲】(57) [Scope of request for utility model registration] 【請求項1】 両端部にガイド穴(2A)をもち、複数のリ
ードフレーム付IC(1) を収容する複数のテーパ(2B)付
の凹部(2C)が設けられ、前記凹部(2C)に収容された前記
リードフレーム付IC(1) のリード(1A)とは非接触の複
数の穴(2D)をもつキャリア(2) と、 両端部にガイドピン(3A)が取り付けられ、複数のICソ
ケット(3B)が取り付けられるコンタクトボード(3) とを
備え、 前記リードフレーム付IC(1) を収容したキャリア(2)
を搬送し、ガイド穴(2A)にガイドピン(3A)を挿入するこ
とにより、前記凹部(2C)に収容された前記リードフレー
ム付IC(1) をコンタクトボード(3) の前記ICソケッ
ト(3B) 上に移載して接触することを特徴とするキャリ
アによるリードフレーム付IC搬送機構。
1. A plurality of tapered recesses (2C) having guide holes (2A) at both ends and accommodating a plurality of ICs (1) with a lead frame are provided in said recesses (2C). A carrier (2) having a plurality of holes (2D) that are not in contact with the leads (1A) of the accommodated IC (1) with a lead frame, and guide pins (3A) attached to both ends, and a plurality of ICs A contact board (3) to which a socket (3B) is attached, and a carrier (2) accommodating the IC (1) with a lead frame.
And by inserting the guide pin (3A) into the guide hole (2A), the IC (1) with the lead frame housed in the recess (2C) is inserted into the IC socket (3B) of the contact board (3). ) A lead frame-equipped IC transport mechanism using a carrier, which is mounted on and comes into contact with the carrier.
JP2601492U 1992-03-27 1992-03-27 IC transport mechanism with lead frame by carrier Expired - Fee Related JP2580491Y2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2601492U JP2580491Y2 (en) 1992-03-27 1992-03-27 IC transport mechanism with lead frame by carrier

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2601492U JP2580491Y2 (en) 1992-03-27 1992-03-27 IC transport mechanism with lead frame by carrier

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH0579483U JPH0579483U (en) 1993-10-29
JP2580491Y2 true JP2580491Y2 (en) 1998-09-10

Family

ID=12181844

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2601492U Expired - Fee Related JP2580491Y2 (en) 1992-03-27 1992-03-27 IC transport mechanism with lead frame by carrier

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2580491Y2 (en)

Also Published As

Publication number Publication date
JPH0579483U (en) 1993-10-29

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2002257900A (en) Conveyance medium for electronic component to be tested, electronic component testing device, and method of testing
US5951720A (en) IC mounting/demounting system and mounting/demounting head therefor
JP2580491Y2 (en) IC transport mechanism with lead frame by carrier
JPH07297597A (en) Device and method for electronic part mounting
JP2594039Y2 (en) Contact mechanism of IC with lead frame
JP2988167B2 (en) IC transport mechanism in which heating carrier circulates in high-temperature bath
JPS6139248B2 (en)
JP2000206194A (en) Tray for electronic component board test and test device of electronic component board
JPS60154834U (en) Sample rack supply device
JP2652711B2 (en) Semiconductor inspection apparatus and inspection method
KR19990059041A (en) Marking device for manufacturing semiconductor package
JP2590524Y2 (en) IC detection mechanism in IC carrier
JPH1149228A (en) Ic-carrying unit having carrier provided with package-fit-in groove
JPH09175589A (en) Carrying apparatus for flat type ic
WO2022234649A1 (en) Conveyance jig, support member, and work device
JP3024351B2 (en) Lid opening and closing mechanism for IC socket with lid
JP2549391Y2 (en) IC handler tray support structure
JPH056348B2 (en)
JPH10107483A (en) Carrier device with opening/closing claw for flat-type ic
JPH0231839Y2 (en)
JPH11176847A (en) Baking device
JP2599036Y2 (en) IC handler using IC device transport tray
JPS6339999Y2 (en)
JPH0579036B2 (en)
JPS58105549A (en) Conveying jig for hybrid integrated circuit

Legal Events

Date Code Title Description
LAPS Cancellation because of no payment of annual fees