JP2579490Y2 - Snubber module for semiconductor device - Google Patents

Snubber module for semiconductor device

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JP2579490Y2 JP1993062033U JP6203393U JP2579490Y2 JP 2579490 Y2 JP2579490 Y2 JP 2579490Y2 JP 1993062033 U JP1993062033 U JP 1993062033U JP 6203393 U JP6203393 U JP 6203393U JP 2579490 Y2 JP2579490 Y2 JP 2579490Y2
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Description

【考案の詳細な説明】[Detailed description of the invention]

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本考案は、ダイオードチップとコ
ンデンサとを直列接続してなるIGBT等の半導体素子
用スナバモジュールに関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a snubber module for a semiconductor device such as an IGBT in which a diode chip and a capacitor are connected in series.

【0002】[0002]

【従来の技術】IGBTは駆動電力が比較的小さくて、
スイッチング電力を大きくとれるため、モータ制御等に
広く使用されている。ところが、扱う電力が大きく、立
ち上がり速度の速い電圧を扱うとなると、素子の保護の
ために半導体素子用スナバモジュールが必要になる。
2. Description of the Related Art IGBTs have relatively low driving power,
Since switching power can be increased, it is widely used for motor control and the like. However, when handling a large power and a voltage having a fast rising speed, a snubber module for a semiconductor device is required to protect the device.

【0003】図2(a)、(b)、(c)は、このよう
な半導体素子用スナバモジュールを用いた回路を説明す
るための図である。
FIGS. 2A, 2B and 2C are diagrams for explaining a circuit using such a snubber module for a semiconductor device.

【0004】図2(a)において、ダイオードチップ1
とコンデンサ2の直列接続回路を樹脂で封止してなる半
導体素子用スナバモジュール3のダイオードチップ側引
き出し電極である第1の引き出し電極4とコンデンサ側
引き出し電極である第2の引き出し電極5が、直列接続
された半導体素子、例えばIGBT6、6’間に接続さ
れている。また、コンデンサ2の蓄積電荷を放電させる
ための抵抗器7が、半導体素子用スナバモジュール3の
第1の引き出し電極4と、ダイオードチップ1とコンデ
ンサ2の接続点から引き出された中間電極である第3の
引き出し電極8間に接続されている。9、9’はIGB
T6、6’のコレクタ、エミッタ間にそれぞれ逆並列に
接続されているダイオードである。
In FIG. 2A, a diode chip 1 is shown.
A first lead electrode 4 serving as a diode chip-side lead electrode and a second lead electrode 5 serving as a capacitor-side lead electrode of a semiconductor device snubber module 3 in which a series connection circuit of a capacitor 2 and a capacitor are sealed with resin. It is connected between serially connected semiconductor elements, for example, IGBTs 6 and 6 '. Further, a resistor 7 for discharging the accumulated charge of the capacitor 2 is a first extraction electrode 4 of the snubber module 3 for a semiconductor element and an intermediate electrode extracted from a connection point between the diode chip 1 and the capacitor 2. 3 are connected between the extraction electrodes 8. 9, 9 'is IGB
These diodes are connected in anti-parallel between the collector and the emitter of T6, 6 '.

【0005】図2(b)において、ダイオードチップ1
とコンデンサ2の直列接続回路を樹脂で封止してなる半
導体素子用スナバモジュール3と、ダイオードチップ
1’とコンデンサ2’の直列接続回路を樹脂で封止して
なる半導体素子用スナバモジュール3’とが直列接続さ
れると共に、IGBT6と6’とが直列接続されてい
る。半導体素子用スナバモジュール3の第1の引き出し
電極4がIGBT6のコレクタに、半導体素子用スナバ
モジュール3の第2の引き出し電極5と半導体素子用ス
ナバモジュール3’の第1の引き出し電極4’との接続
点がIGBT6と6’との接続点に、半導体素子用スナ
バモジュール3’の第2の引き出し電極5’がIGBT
6’のエミッタにそれぞれ接続されている。また、コン
デンサ2の蓄積電荷を放電させるための抵抗器7が、半
導体素子用スナバモジュール3の第1の引き出し電極4
と第3の引き出し電極8間に、コンデンサ2’の蓄積電
荷を放電させるための抵抗器7’が、半導体素子用スナ
バモジュール3’の第1の引き出し電極4’と第3の引
き出し電極8’間にそれぞれ接続されている。
In FIG. 2B, a diode chip 1 is shown.
Module for sealing a semiconductor element, in which a series connection circuit of a capacitor and a capacitor 2 is sealed with resin, and a snubber module for a semiconductor element, in which a series connection circuit of a diode chip 1 ′ and a capacitor 2 ′ is sealed with a resin. Are connected in series, and the IGBTs 6 and 6 'are connected in series. The first extraction electrode 4 of the semiconductor element snubber module 3 is connected to the collector of the IGBT 6, and the second extraction electrode 5 of the semiconductor element snubber module 3 and the first extraction electrode 4 'of the semiconductor element snubber module 3'. The connection point is a connection point between the IGBTs 6 and 6 ', and the second lead electrode 5' of the snubber module 3 'for the semiconductor element is connected to the IGBT.
6 'are connected to the respective emitters. Further, the resistor 7 for discharging the accumulated charge of the capacitor 2 is connected to the first lead electrode 4 of the snubber module 3 for a semiconductor element.
A resistor 7 ′ for discharging the electric charge stored in the capacitor 2 ′ is provided between the first extraction electrode 4 ′ and the third extraction electrode 8 ′ of the snubber module 3 ′ for the semiconductor element. It is connected between each.

【0006】図2(c)において、ダイオードチップ1
とコンデンサ2の直列接続回路を樹脂で封止してなる半
導体素子用スナバモジュール3と、ダイオードチップ
1’とコンデンサ2’の直列接続回路を樹脂で封止して
なる半導体素子用スナバモジュール3’とが直列接続さ
れると共に、IGBT6と6’とが直列接続されてい
る。半導体素子用スナバモジュール3の第2の引き出し
電極5がIGBT6のコレクタに、半導体素子用スナバ
モジュール3の第1の引き出し電極4と半導体素子用ス
ナバモジュール3’の第1の引き出し電極4’との接続
点がIGBT6と6’との接続点に、半導体素子用スナ
バモジュール3’の第2の引き出し電極5’がIGBT
6’のエミッタにそれぞれ接続されている。また、コン
デンサ2の蓄積電荷を放電させるための抵抗器7が、半
導体素子用スナバモジュール3の第3の引き出し電極8
と半導体素子用スナバモジュール3’の第2の引き出し
電極5’間に、コンデンサ2’の蓄積電荷を放電させる
ための抵抗器7’が、半導体素子用スナバモジュール3
の第2の引き出し電極5と半導体素子用スナバモジュー
ル3’の第3の引き出し電極8’間にそれぞれ接続され
ている。
In FIG. 2C, a diode chip 1
Module for sealing a semiconductor element, in which a series connection circuit of a capacitor and a capacitor 2 is sealed with resin, and a snubber module for a semiconductor element, in which a series connection circuit of a diode chip 1 ′ and a capacitor 2 ′ is sealed with a resin. Are connected in series, and the IGBTs 6 and 6 'are connected in series. The second extraction electrode 5 of the semiconductor element snubber module 3 is connected to the collector of the IGBT 6, and the first extraction electrode 4 of the semiconductor element snubber module 3 and the first extraction electrode 4 'of the semiconductor element snubber module 3'. The connection point is a connection point between the IGBTs 6 and 6 ', and the second lead electrode 5' of the snubber module 3 'for the semiconductor element is connected to the IGBT.
6 'are connected to the respective emitters. A resistor 7 for discharging the accumulated charge of the capacitor 2 is provided with a third lead electrode 8 of the snubber module 3 for a semiconductor device.
A resistor 7 ′ for discharging the electric charge stored in the capacitor 2 ′ is provided between the semiconductor device snubber module 3 ′ and the second lead electrode 5 ′ of the semiconductor device snubber module 3 ′.
Are connected between the second extraction electrode 5 and the third extraction electrode 8 'of the semiconductor element snubber module 3'.

【0007】[0007]

【考案が解決しようとする課題】しかし、このような従
来の半導体素子用スナバモジュールにあっては、ダイオ
ードチップ1とコンデンサ2とを接続した後、この全体
を単一のケースに収納して樹脂封止する構造となってい
たので、次のような欠点があった。 (1)コンデンサに比較してダイオードチップの方が温
度が上昇するので、ダイオードチップから樹脂を介して
コンデンサに熱が伝達されるが、コンデンサの耐熱が低
いのでコンデンサが破壊されることがある。 (2)ダイオードチップの変更やコンデンサの容量の変
更の場合には、半導体素子用スナバモジュールの全体を
交換しなければならないので、不経済である。
However, in such a conventional snubber module for a semiconductor device, after the diode chip 1 and the capacitor 2 are connected, the whole is housed in a single case, and Because of the sealing structure, there were the following disadvantages. (1) Since the temperature of the diode chip is higher than that of the capacitor, heat is transmitted from the diode chip to the capacitor via the resin, but the capacitor may be broken because the heat resistance of the capacitor is low. (2) When the diode chip is changed or the capacitance of the capacitor is changed, the entire snubber module for a semiconductor element must be replaced, which is uneconomical.

【0008】[0008]

【課題を解決するための手段】請求項1に記載の考案
は、上記課題を解決するために、ダイオードチップとコ
ンデンサとを直列接続してなる半導体素子用スナバモジ
ュールにおいて、上記ダイオードチップの一端が固着さ
れた第1の引き出し電極と、上記ダイオードチップの他
端に接続された第1の金属導体と、第2の引き出し電極
と、該第2の引き出し電極に接続された第2の金属導体
とを備え、上記第1、第2の引き出し電極及び第1、第
2の金属導体の一部を除き全体が樹脂で封止されたダイ
オード部と、上記コンデンサの一端に接続された第3の
引き出し電極及び第3の金属導体と、上記コンデンサの
他端に接続された第4の金属導体とを備え、上記第3の
引き出し電極及び第3、第4の金属導体の一部を除き全
体が樹脂で封止されたコンデンサ部とからなり、上記第
1の金属導体と第3の金属導体、上記第2の金属導体と
第4の金属導体とがそれぞれ接続されていることを特徴
とする半導体素子用スナバモジュールを提供するもので
ある。
According to a first aspect of the present invention, there is provided a snubber module for a semiconductor device in which a diode chip and a capacitor are connected in series. A fixed first lead electrode, a first metal conductor connected to the other end of the diode chip, a second lead electrode, and a second metal conductor connected to the second lead electrode. A diode portion entirely sealed with resin except for the first and second extraction electrodes and a part of the first and second metal conductors, and a third extraction terminal connected to one end of the capacitor An electrode, a third metal conductor, and a fourth metal conductor connected to the other end of the capacitor, and a resin except for the third extraction electrode and a part of the third and fourth metal conductors. Sealed with A snubber module for a semiconductor element, comprising a capacitor portion, wherein the first metal conductor and the third metal conductor, and the second metal conductor and the fourth metal conductor are connected to each other. Is what you do.

【0009】請求項2に記載の考案は、上記課題を解決
するために、上記第1の引き出し電極上に上面が金属面
で下面が絶縁面である板が載置され、該板の上面に上記
第1の金属導体が載置され、固着されると共に、該板の
上面と上記ダイオードチップの他端間が橋絡板により橋
絡されていることを特徴とする請求項1に記載の半導体
素子用スナバモジュールを提供するものである。
According to a second aspect of the present invention, in order to solve the above-mentioned problem, a plate having a metal surface on the upper surface and an insulating surface on the lower surface is placed on the first lead electrode, and the plate is placed on the upper surface of the plate. 2. The semiconductor according to claim 1, wherein the first metal conductor is placed and fixed, and a bridge plate connects between the upper surface of the plate and the other end of the diode chip. A snubber module for an element is provided.

【0010】請求項3に記載の考案は、上記課題を解決
するために、上記第1の金属導体と第3の金属導体、上
記第2の金属導体と第4の金属導体とが、それぞれネジ
により接続されていることを特徴とする請求項1または
2に記載の半導体素子用スナバモジュールを提供するも
のである。
According to a third aspect of the present invention, in order to solve the above-mentioned problems, the first metal conductor and the third metal conductor, and the second metal conductor and the fourth metal conductor are screwed, respectively. The snubber module for a semiconductor device according to claim 1 or 2, wherein the snubber module is connected by:

【0011】[0011]

【実施例】図1は本考案の一実施例を説明するための図
である。同図において、1はダイオードチップ、2はコ
ンデンサ、4は第1の引き出し電極、5は第2の引き出
し電極、8は第3の引き出し電極、10は第1の金属導
体、11は第2の金属導体、12は樹脂、13はダイオ
ード部、14は第3の金属導体、15は第4の金属導
体、16はコンデンサ部、17は一方の面が金属面で他
方の面が絶縁面になっている板、例えば片面が金属面に
なるよう処理されているセラミック板、18は導体間に
橋のように架かって他の部分に接触せずに両者を接続す
る、つまり導体間を橋絡する橋絡板、19はネジであ
る。
FIG. 1 is a diagram for explaining an embodiment of the present invention. In the figure, 1 is a diode chip, 2 is a capacitor, 4 is a first extraction electrode, 5 is a second extraction electrode, 8 is a third extraction electrode, 10 is a first metal conductor, and 11 is a second extraction electrode. A metal conductor, 12 is a resin, 13 is a diode portion, 14 is a third metal conductor, 15 is a fourth metal conductor, 16 is a capacitor portion, 17 is a metal surface on one side and an insulating surface on the other side. Plates, for example a ceramic plate which has been treated to be a metal surface on one side, bridges between the conductors and connects them without contacting the other parts, i.e. bridging between the conductors The bridge plate 19 is a screw.

【0012】図1において、第1の引き出し電極4上に
は、ダイオードチップ1と金属面が上面になるような状
態でセラミック板17とが、ある間隔だけ離れてそれぞ
れ載置され、固着される。ダイオードチップ1とセラミ
ック板17の上面である金属面間には、両者を橋絡する
ように橋絡板18が載置され、固着される。また、セラ
ミック板17の上面である金属面には、第1の金属導体
10が載置され、固着される。第2の引き出し電極5と
第2の金属導体11は、一体のものとして形成されてい
る。そして、ダイオードチップ1にRTVゴムが塗布さ
れて保護された上で、第1の引き出し電極4、第2の引
き出し電極5、第1の金属導体10、及び第2の金属導
体11の一部を除き、全体が樹脂12で封止され、ダイ
オード部13が形成される。
In FIG. 1, a diode chip 1 and a ceramic plate 17 are placed and fixed on a first extraction electrode 4 at a certain interval with the metal surface facing upward. . A bridging plate 18 is placed and fixed between the diode chip 1 and the metal surface which is the upper surface of the ceramic plate 17 so as to bridge the two. The first metal conductor 10 is placed and fixed on the metal surface, which is the upper surface of the ceramic plate 17. The second extraction electrode 5 and the second metal conductor 11 are formed integrally. Then, after the RTV rubber is applied to the diode chip 1 and protected, the first extraction electrode 4, the second extraction electrode 5, the first metal conductor 10, and a part of the second metal conductor 11 are separated. Except for the above, the whole is sealed with the resin 12 to form the diode portion 13.

【0013】コンデンサ2の一端には、一体のものとし
て形成されている第3の引き出し電極8と第3の金属導
体14が接続され、コンデンサ2の他端には、第4の金
属導体15が接続される。そして、第3の引き出し電極
8、第3の金属導体14、及び第4の金属導体15の一
部を除き、全体が樹脂12で封止され、コンデンサ部1
6が形成される。
A third lead electrode 8 and a third metal conductor 14 formed integrally are connected to one end of the capacitor 2, and a fourth metal conductor 15 is connected to the other end of the capacitor 2. Connected. Except for a part of the third lead electrode 8, the third metal conductor 14, and the fourth metal conductor 15, the whole is sealed with the resin 12, and the capacitor part 1 is formed.
6 are formed.

【0014】第1の金属導体10と第3の金属導体1
4、第2の金属導体11と第4の金属導体15とを、そ
れぞれネジ19により接続することにより、半導体素子
用スナバモジュールが構成される。
First metal conductor 10 and third metal conductor 1
4. By connecting the second metal conductor 11 and the fourth metal conductor 15 with the screws 19 respectively, a snubber module for a semiconductor element is formed.

【0015】[0015]

【考案の効果】以上説明してきたように、この考案によ
れば次のような効果が得られる。 (1)ダイオードチップ及びコンデンサを封止する樹脂
の表面積が大きくなるので、ダイオードチップ及びコン
デンサの双方の放熱がよくなる。 (2)ダイオードチップに発生する熱がコンデンサに伝
わる経路のうち、樹脂を介しての熱の伝達がなくなるの
で、ダイオードチップに発生する熱がコンデンサに伝わ
り難くなる。 (3)(1)(2)により、コンデンサの熱による破壊
が防止される。 (4)ダイオードやコンデンサの一方を交換する必要の
ある場合には、半導体素子用スナバモジュール全体の交
換ではなく、それぞれその交換する必要のあるもののみ
を交換すればよいので経済的である。
As described above, according to the present invention, the following effects can be obtained. (1) Since the surface area of the resin sealing the diode chip and the capacitor is increased, the heat dissipation of both the diode chip and the capacitor is improved. (2) In the path in which the heat generated in the diode chip is transmitted to the capacitor, heat is not transmitted through the resin, so that the heat generated in the diode chip is not easily transmitted to the capacitor. (3) By (1) and (2), destruction of the capacitor due to heat is prevented. (4) When it is necessary to replace one of the diode and the capacitor, it is economical because it is only necessary to replace only the one that needs to be replaced, instead of replacing the entire snubber module for a semiconductor element.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本考案の一実施例を説明するための図である。FIG. 1 is a diagram for explaining an embodiment of the present invention.

【図2】半導体素子用スナバモジュールの従来例を説明
するための図である。
FIG. 2 is a view for explaining a conventional example of a snubber module for a semiconductor element.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1、1’…ダイオードチップ 2、2’…コン
デンサ 3、3’…半導体素子用スナバモジュール 4、4’…第1の引き出し電極 5、5’…第2
の引き出し電極 6、6’…IGBT 7、7’…抵抗
器 8、8’…第3の引き出し電極 9、9’…ダイ
オード 10…第1の金属導体 11…第2の金
属導体 12…樹脂 13…ダイオー
ド部 14…第3の金属導体 15…第4の金
属導体 16…コンデンサ部 17…セラミッ
ク板 18…橋絡板 19…ネジ
1, 1 ': Diode chip 2, 2': Capacitor 3, 3 ': Snubber module for semiconductor element 4, 4': First extraction electrode 5, 5 ': Second
, IGBT 7, 7 '... resistor 8, 8' ... third lead electrode 9, 9 '... diode 10 ... first metal conductor 11 ... second metal conductor 12 ... resin 13 ... Diode part 14 ... Third metal conductor 15 ... Fourth metal conductor 16 ... Capacitor part 17 ... Ceramic plate 18 ... Bridge plate 19 ... Screw

Claims (3)

(57)【実用新案登録請求の範囲】(57) [Scope of request for utility model registration] 【請求項1】 ダイオードチップとコンデンサとを直列
接続してなる半導体素子用スナバモジュールにおいて、 上記ダイオードチップの一端が固着された第1の引き出
し電極と、 上記ダイオードチップの他端に接続された第1の金属導
体と、 第2の引き出し電極と、 該第2の引き出し電極に接続された第2の金属導体とを
備え、 上記第1、第2の引き出し電極及び第1、第2の金属導
体の一部を除き全体が樹脂で封止されたダイオード部
と、 上記コンデンサの一端に接続された第3の引き出し電極
及び第3の金属導体と、 上記コンデンサの他端に接続された第4の金属導体とを
備え、 上記第3の引き出し電極及び第3、第4の金属導体の一
部を除き全体が樹脂で封止されたコンデンサ部とからな
り、上記第1の金属導体と第3の金属導体、上記第2の
金属導体と第4の金属導体とがそれぞれ接続されている
ことを特徴とする半導体素子用スナバモジュール。
1. A snubber module for a semiconductor device comprising a diode chip and a capacitor connected in series, a first lead electrode to which one end of the diode chip is fixed, and a second lead electrode connected to the other end of the diode chip. A first metal conductor, a second extraction electrode, and a second metal conductor connected to the second extraction electrode, wherein the first and second extraction electrodes and the first and second metal conductors are provided. A diode portion entirely sealed with a resin except for a part of the capacitor, a third lead electrode and a third metal conductor connected to one end of the capacitor, and a fourth portion connected to the other end of the capacitor. And a capacitor portion entirely sealed with resin except for the third extraction electrode and a part of the third and fourth metal conductors. Metal conductor Snubber module semiconductor device characterized by the aforementioned second metallic conductor and the fourth metal conductor is connected.
【請求項2】 上記第1の引き出し電極上に上面が金属
面で下面が絶縁面である板が載置され、該板の上面に上
記第1の金属導体が載置され、固着されると共に、該板
の上面と上記ダイオードチップの他端間が橋絡板により
橋絡されていることを特徴とする請求項1に記載の半導
体素子用スナバモジュール。
2. A plate whose upper surface is a metal surface and whose lower surface is an insulating surface is mounted on the first extraction electrode, and the first metal conductor is mounted and fixed on the upper surface of the plate. The snubber module for a semiconductor device according to claim 1, wherein an upper surface of the plate and the other end of the diode chip are bridged by a bridge plate.
【請求項3】 上記第1の金属導体と第3の金属導体、
上記第2の金属導体と第4の金属導体とが、それぞれネ
ジにより接続されていることを特徴とする請求項1また
は2に記載の半導体素子用スナバモジュール。
3. The first metal conductor and the third metal conductor,
3. The snubber module for a semiconductor element according to claim 1, wherein the second metal conductor and the fourth metal conductor are connected by screws.
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