JP2578440B2 - Work inspection classification method - Google Patents

Work inspection classification method

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JP2578440B2 JP62227187A JP22718787A JP2578440B2 JP 2578440 B2 JP2578440 B2 JP 2578440B2 JP 62227187 A JP62227187 A JP 62227187A JP 22718787 A JP22718787 A JP 22718787A JP 2578440 B2 JP2578440 B2 JP 2578440B2
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Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の目的〕 (産業上の利用分野) 本発明は、電子部品用の積層セラミックチップコンデ
ンサ等のワークを検査し分類するワーク検査分類方法に
係り、とりわけ正確かつ迅速に検査、分類を行うことが
できるワーク検査分類方法に関する。
Description: Object of the Invention (Industrial application field) The present invention relates to a work inspection and classification method for inspecting and classifying a work such as a multilayer ceramic chip capacitor for an electronic component, and more particularly, to an accurate and quick method. The present invention relates to a work inspection and classification method capable of performing inspection and classification.

(従来の技術) 従来、ワーク検査分類方法として第4図に示すような
方法が知られている。
(Prior Art) Conventionally, a method as shown in FIG. 4 has been known as a work inspection classification method.

この方法は、ターンテーブルのワークステーション内
にワークを供給し、このターンテーブルを断続的に回転
させながら、容量計でワークの静電容量および誘電正接
を検査し、耐電圧計でワークの耐電圧を検査し、静電容
量、誘電正接および耐電圧の検査値が不良のワークをタ
ーンテーブルの外部へ排出するとともに、静電容量の検
査値に応じてワークを複数のランクに分類するものであ
る。ところで、一般にワークの耐電圧を検査するとワー
クの電気特性が変化するので、ターンテーブルで所定の
ランクに分類されたワークは、その後恒温槽で、例えば
150℃、1時間に加熱されて、デェージング(若返り)
が行なわれる。さらにデェージングが行なわれたワーク
は、4〜24時間放置された後、最終チェックのため、再
度容量計で静電容量および誘電正接が検査され、再度検
査され静電容量および誘電正接の検査値が不良のワーク
は排出される。
In this method, a work is supplied into a worktable of a turntable, and while the turntable is intermittently rotated, the capacitance and dielectric loss tangent of the work are inspected with a capacitance meter, and the withstand voltage of the work is measured with a withstand voltage meter. Inspection of workpieces with defective inspection values of capacitance, dielectric loss tangent and withstand voltage are discharged to the outside of the turntable, and the workpieces are classified into a plurality of ranks according to the inspection values of capacitance. . By the way, in general, when the withstand voltage of a work is inspected, the electrical characteristics of the work change.Therefore, the work classified into a predetermined rank on a turntable is then placed in a thermostat, for example.
Heated at 150 ° C for 1 hour, deaging (rejuvenation)
Is performed. Further, after the workpiece subjected to the aging is left for 4 to 24 hours, the capacitance and the dielectric loss tangent are again inspected by the capacitance meter for the final check, and the inspection values of the capacitance and the dielectric loss tangent are again inspected. Defective work is discharged.

このように、静電容量等の電気特性が不良のワークは
ターンテーブルから排出され、また静電容量の検査値に
応じて分類されたワークは、所定のランク毎にまとめら
れて出荷される。
As described above, a work having a poor electric property such as a capacitance is discharged from the turntable, and works classified according to the test value of the capacitance are bundled and shipped for each predetermined rank.

次に第5図、第6a図および第6b図で耐電圧検査につい
て記述する。
Next, the withstand voltage test will be described with reference to FIGS. 5, 6a and 6b.

耐電圧検査は、第5図に示すように電極31間にワーク
32を挿着し、電源30より電圧をかけることによって行な
われる。この耐電圧検査によって、一般にワーク32はそ
の静電容量および誘電正接を変化させるが、この静電容
量および誘電正接の変化状態を、第6a図および第6b図に
それぞれ示す。すなわち静電容量は通常、時間の経過と
ともに徐々に低下するが、耐電圧検査時は、一般的に△
Cだけ急速に低下する。また、誘電正接も通常、時間の
経過とともに徐々に低下するが、耐電圧検査時は一般的
に△DFだけ急速に増加する。
In the withstand voltage test, as shown in FIG.
32 is inserted and a voltage is applied from the power supply 30. By this withstand voltage test, the work 32 generally changes its capacitance and dielectric loss tangent, and the changes in the capacitance and dielectric loss tangent are shown in FIGS. 6a and 6b, respectively. That is, the capacitance usually gradually decreases with the passage of time.
C drops rapidly. In addition, the dielectric loss tangent usually gradually decreases with the passage of time, but generally increases rapidly by ΔDF during a withstand voltage test.

このように耐電圧検査によって静電容量および誘電正
接が変化するが、正常なワークの場合この変化量はワー
クの種類に応じて所定の範囲内におさまる。しかし、変
化量がこの範囲から大きく外れるワークは不良品であり
使用することはできない。このため、上述のように、耐
電圧検査が行なわれたワークはデェージングによってそ
の組織を初期状態に戻し、その後容量計で静電容量およ
び誘電正接を再度検出して不良のワークを排出してい
る。
As described above, the capacitance and the dielectric loss tangent change due to the withstand voltage test. In the case of a normal work, the change amounts fall within a predetermined range according to the type of the work. However, a work whose change amount largely deviates from this range is a defective product and cannot be used. For this reason, as described above, the work on which the withstand voltage test has been performed returns its structure to the initial state by deaging, and then the capacitance and dielectric loss tangent are detected again by the capacitance meter to discharge the defective work. .

(発明が解決しようとする問題点) 従来のワーク検査分類方法は、第4図に示すようなフ
ローに沿って行なわれるが、恒温槽におけるデェージン
グに約1時間かかり、その後4〜24時間を必要とするの
で、合計とすると非常に長時間かかっているのが実情で
ある。
(Problems to be Solved by the Invention) The conventional work inspection and classification method is performed according to the flow as shown in FIG. 4, but it takes about one hour for deaging in a constant temperature bath, and then requires 4 to 24 hours. Therefore, it takes a very long time in total.

本発明はこのような点を考慮してなされたものであ
り、迅速かつ正確に検査、分類を行うことができるワー
ク検査分類方法を提供することを目的とする。
The present invention has been made in view of such a point, and an object of the present invention is to provide a work inspection and classification method capable of performing inspection and classification quickly and accurately.

〔発明の構成〕[Configuration of the invention]

(問題点を解決するための手段) 本発明は、ターンテーブルのワークステーション内に
ワークを供給し、ターンテーブルを断続的に回転させ
て、容量計でワークの静電容量および誘電正接を検査
し、耐電圧計でワークの耐電圧を検査し、静電容量、誘
電正接および耐電圧の検査値が不良のワークを排出する
とともに、静電容量の検査に応じてワークを複数のラン
クに分類したワーク検査分類方法であって、第1容量計
による静電容量および誘電正接の検査、耐電圧計による
耐電圧の検査、および第2容量計による静電容量および
誘電正接の検査を順次行うとともに、静電容量の第1容
量計の検査値と第2の容量計の検査値との差が所定の値
以上のワーク、および誘電正接の第1容量計の検査値と
の差が所定の値以上のワークを排出するようにしたこと
を特徴としている。
(Means for Solving the Problems) According to the present invention, a work is supplied into a worktable of a turntable, and the turntable is intermittently rotated, and the capacitance and the dielectric loss tangent of the work are inspected by a capacitance meter. Inspects the withstand voltage of the work with a withstand voltage meter, discharges the work with bad test values of capacitance, dielectric loss tangent and withstand voltage, and classifies the work into multiple ranks according to the test of the capacitance. A work inspection classifying method, in which inspection of capacitance and dielectric loss tangent by a first capacitance meter, inspection of dielectric strength by a withstand voltage meter, and inspection of capacitance and dielectric loss tangent by a second capacitance meter are sequentially performed. Workpieces whose difference between the inspection value of the first capacitance meter of the capacitance and the inspection value of the second capacitance meter is a predetermined value or more, and the difference between the inspection value of the first capacitance meter of the dielectric loss tangent is a predetermined value or more To discharge the work It is characterized by doing.

(作 用) 本発明によれば、ターンテーブルの回転中に、耐電圧
検査によって生じる静電容量および誘電正接の変化量
が、所定の値から大きく外れるワークを外部に排出する
ことができる。
(Operation) According to the present invention, while the turntable is rotating, it is possible to discharge a workpiece in which the variation in the capacitance and the dielectric loss tangent caused by the withstand voltage test largely deviates from predetermined values.

(実施例) 以下、図面を参照して本発明の実施例について説明す
る。
(Example) Hereinafter, an example of the present invention is described with reference to drawings.

第1図乃至第3図は本発明によるワーク検査分類方法
の一実施例を示す図である。第1図および第2図におい
て、ワーク3はホッパ6、ボールフィーダ7、リニアフ
ィーダ8およびシュート9を経て、ターンテーブルのワ
ークステーション2内に供給される。ここで、ワークス
テーション2は、円盤状のターンテーブル1の外周部を
ターンテーブル1の軸線方向に貫通して形成されたもの
である。
1 to 3 are views showing an embodiment of a work inspection and classification method according to the present invention. 1 and 2, a work 3 is supplied to a turntable workstation 2 through a hopper 6, a ball feeder 7, a linear feeder 8 and a chute 9. Here, the workstation 2 is formed by penetrating the outer periphery of the disk-shaped turntable 1 in the axial direction of the turntable 1.

ワークステーション2内にワーク3が供給されたター
ンテーブル1は、ワークステーション2の配設ピッチ毎
に回転し停止する断続回転を高速(約1000r.p.m程度)
で行う。
The turntable 1 in which the work 3 is supplied into the work station 2 rotates at a pitch of the work station 2 and stops at a high speed (about 1000 rpm).
Do with.

ターンテーブル1の断続回転中、ワーク3は第1容量
計10で静電容量および誘電正接が検査される。続いてワ
ーク3は帯電圧充電器11,12で充電され、耐電圧検出器1
3で検査され、耐電圧放電器14で放電される。これら帯
電圧充電器11,12、耐電圧検出器13、および耐電圧放電
器14によって帯電圧計5が構成されている。その後、ワ
ーク3は、第2容量計15で再び静電容量および誘電正接
が検査される。
During the intermittent rotation of the turntable 1, the work 3 is inspected for capacitance and dielectric loss tangent by the first capacitance meter 10. Subsequently, the work 3 is charged by the charged voltage chargers 11 and 12, and the withstand voltage detector 1 is charged.
It is inspected in 3 and discharged in the withstand voltage discharger 14. The charged voltage chargers 11 and 12, the withstand voltage detector 13 and the withstand voltage discharger 14 constitute a charged voltage meter 5. Thereafter, the work 3 is again inspected for capacitance and dielectric loss tangent by the second capacitance meter 15.

このように静電容量等の電気特性が検査されたワーク
3のうち電気特性が不良のワーク3は、アウトオブBIN
排出器16によって外部へ排出される。すなわち、このア
ウトオブBIN排出器16によって排出されるワーク3は、
この電気特性が第1容量計10、耐電圧計5および第2容
量計15の検査レンジを越えるため、検査不能となったも
のである。
Among the works 3 whose electric properties such as capacitance have been inspected in this way, the work 3 having poor electric properties is out-of-bin.
Discharged by the discharger 16 to the outside. That is, the work 3 discharged by the out-of-bin discharger 16 is
Since the electric characteristics exceed the inspection ranges of the first capacity meter 10, the withstand voltage meter 5 and the second capacity meter 15, the test cannot be performed.

続いて、耐電圧計5で耐圧不良とされたワーク3は、
耐電圧不良排出器17により外部へ排出される。また、第
1容量計10で低静電容量または高静電容量とされたワー
ク3は、低静電容量排出器18または高静電容量排出器19
によりそれぞれ外部に放出される。さらに、第1容量計
10で誘電正接不良とされたワーク3は、誘電正接不良排
出器20により外部へ放出される。
Subsequently, the work 3 determined to have a withstand voltage failure by the withstand voltage meter 5 is
It is discharged to the outside by the withstand voltage defect discharger 17. The work 3 having the low capacitance or the high capacitance by the first capacitance meter 10 is supplied to the low capacitance discharger 18 or the high capacitance discharger 19.
Are respectively released to the outside. In addition, the first capacity meter
The work 3 determined as having a dielectric loss tangent failure at 10 is discharged outside by a dielectric loss tangent failure discharger 20.

続いてワーク3は、第1容量計10における静電容量の
検査値に応じて、分類器21によって5つのランク、すな
わち、BIN1、BIN2、BIN3、BIN4およびBIN5に分類され
る。なお、ワークステーション2内に堅く嵌め込まれた
りして残留したワーク3は、機械的排出器22により強制
的に外部へ排出される。
Subsequently, the work 3 is classified into five ranks, that is, BIN1, BIN2, BIN3, BIN4, and BIN5, by the classifier 21 according to the inspection value of the capacitance in the first capacitance meter 10. The work 3 remaining firmly in the work station 2 is forcibly discharged to the outside by the mechanical discharger 22.

なお、アウトオブBIN排出器16からは、第2容量計15
と第1容量計10との検査値の差が所定の値以上となった
ワーク3も排出されるが、これについて以下詳述する。
From the out-of-bin discharger 16, the second capacity meter 15
The work 3 in which the difference between the inspection value of the first capacity meter 10 and that of the first capacity meter 10 is equal to or larger than a predetermined value is also discharged, which will be described in detail below.

一般にワーク3に耐電圧検査を行なうと、静電容量は
急速に低下し(第6a図)、誘電正接は急速に上昇する
(第6b図)。また正常なワーク3の場合、この耐電圧検
査による電気特性の変化量は積層セラミックチップコン
デンサ等のワーク3の種類に応じて経験的には略定まっ
ている。そこで、この経験的に定められた電気特性の変
化量を基準として、その変化量が大きく異なるワーク3
を不良品として排出している。
Generally, when a withstand voltage test is performed on the work 3, the capacitance rapidly decreases (FIG. 6a), and the dielectric loss tangent rapidly increases (FIG. 6b). Further, in the case of a normal work 3, the amount of change in the electrical characteristics due to the withstand voltage test is almost empirically determined according to the type of the work 3 such as a multilayer ceramic chip capacitor. Therefore, based on the empirically determined amount of change in the electrical characteristics, the work 3 whose amount of change is greatly different
Is discharged as defective.

例えば、所定のワーク3について、耐電圧検査後の静
電容量の変化量と対応するワーク個数が第3aに示すよう
に分布し、耐電圧検査後の誘電正接の変化量と対応する
ワーク個数が第3b図に示すように分布したとする。この
場合は、静電容量の変化量の経験的な基準変化量を−35
PFと定め、誘電正接の変化量の経験的な基準量を0.5%
と定める。第3a図および第3b図において、静電容量の変
化量が−50PF〜−20PFの範囲外にあるワーク3は、基準
変化量からかけ離れたものとして排出する。また誘電正
接の変化量が0%〜1.0%の範囲外にあるワーク3も、
基準変化量からかけ離れたものとして排出する。
For example, for a given work 3, the number of works corresponding to the change in capacitance after the withstand voltage test is distributed as shown in FIG. 3a, and the number of works corresponding to the change in the dielectric loss tangent after the withstand voltage test is It is assumed that the distribution is as shown in FIG. 3b. In this case, the empirical reference change amount of the capacitance change amount is -35.
Defined as PF, 0.5% of the empirical reference value for the change in dielectric loss tangent
Is determined. In FIGS. 3a and 3b, the workpiece 3 whose capacitance variation is outside the range of −50 PF to −20 PF is discharged as far away from the reference variation. Also, the work 3 whose variation of the dielectric loss tangent is out of the range of 0% to 1.0%,
Emitted as far from the reference change.

従って、下表のようなワーク3は、静電容量および誘
電正接の変化量が正常領域内に入るので排出されること
はない。
Therefore, the work 3 as shown in the table below is not discharged since the change amounts of the capacitance and the dielectric loss tangent enter the normal region.

なお、上述したワーク3の検査および分類作業は、ワ
ーク3の1つ1つについて制御装置(図示せず)で制御
されて行なわれる。
The inspection and classification work of the work 3 described above is performed under the control of a control device (not shown) for each of the work 3.

このように本実施例によれば、ターンテーブル1の1
回転中にワーク3の検査および分類が行なわれ、また耐
電圧検査による静電容量および誘電正接の変化量が基準
変化量から大きく外れるワークも排出される。このた
め、従来のようなデェージング工程およびその後の放置
の工程を除くことができ、時間の大幅な短縮と確実な検
査、分類作業を行なうことができる。
Thus, according to the present embodiment, one of the turntables 1
Inspection and classification of the work 3 is performed during rotation, and a work in which the variation in the capacitance and the dielectric loss tangent by the withstand voltage inspection greatly deviates from the reference variation is also discharged. For this reason, the conventional aging step and the subsequent leaving step can be omitted, and the time and the inspection and classification work can be significantly reduced.

〔発明の効果〕〔The invention's effect〕

本発明によれば、ターンテーブルの回転中にワークの
検査、分類作業を確実に行うことができるので、従来の
ようなデェージング工程およびその後の放置工程を除く
ことができ、時間の大幅な短縮と確実な検査、分類作業
を行うことができる。
According to the present invention, the work inspection and classification work can be reliably performed while the turntable is rotating, so that the conventional deaging step and subsequent leaving step can be eliminated, and the time can be significantly reduced. Reliable inspection and classification work can be performed.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

第1図は本発明によるワーク検査分類方法のブロックダ
イヤグラムを示す図、第2図は本発明によるワーク検査
分類方法に用いる検査分類機を示す図、第3a図は耐電圧
検査による静電容量の変化量と対応するワーク個数を示
す分布図、第3b図は耐電圧検査による誘電正接の変化量
と対応するワーク個数を示す分布図、第4図は従来のワ
ーク検査分類方法のブロックダイアグラムを示す図、第
5図は耐電圧検査を行う場合を示す図、第6a図は耐電圧
検査による静電容量の変化を示す図、第6b図は耐電圧検
査による誘電正接の変化を示す図である。 1……ターンテーブル、2……ワークステーション、3
……ワーク、5……耐電圧計、10……第1容量計、15…
…第2容量計、16……アウトオブBIN排出器、21……分
類器。
FIG. 1 is a diagram showing a block diagram of a work inspection / classification method according to the present invention, FIG. 2 is a diagram showing an inspection / classification machine used in the work inspection / classification method according to the present invention, and FIG. FIG. 3b is a distribution diagram showing the change amount of the dielectric loss tangent by the withstand voltage inspection and the corresponding number of works, and FIG. 4 is a block diagram of a conventional work inspection classification method. FIG. 5, FIG. 5 is a diagram showing a case where a withstand voltage test is performed, FIG. 6a is a diagram showing a change in capacitance by a withstand voltage test, and FIG. 6b is a diagram showing a change in dielectric loss tangent by a withstand voltage test. . 1 ... turntable, 2 ... workstation, 3
…… Workpiece, 5 …… Voltage meter, 10 …… First capacity meter, 15…
… Second capacity meter, 16… out-of-bin ejector, 21… classifier.

Claims (1)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】ターンテーブルのワークステーション内に
ワークを供給し、ターンテーブルを断続的に回転させ
て、容量計でワークの静電容量および誘電正接を検査
し、耐電圧計でワークの耐電圧を検査し、静電容量、誘
電正接および耐電圧の検査値が不良のワークを排出する
とともに、静電容量の検査値に応じてワークを複数のラ
ンクに分類したワーク検査分類方法において、第1容量
計による静電容量および誘電正接の検査、耐電圧計によ
る帯電圧の検査、および第2容量計による静電容量およ
び誘電正接の検査を順次行うとともに、静電容量の第1
容量計の検査値と第2容量計の検査値との差が所定の値
以上のワーク、および誘電正接の第1容量計の検査値と
第2容量計の検査値との差が所定の値以上のワークを排
出するようにしたことを特徴とするワーク検査分類方
法。
A work is supplied into a work station of a turntable, the turntable is rotated intermittently, a capacitance meter inspects a capacitance and a dielectric loss tangent of the work, and a withstand voltage meter measures a withstand voltage of the work. In the work inspection classification method, inspection is performed to discharge a work having defective test values of capacitance, dielectric loss tangent, and withstand voltage, and classify the work into a plurality of ranks according to the test value of capacitance. Inspection of the capacitance and the dielectric loss tangent by a capacitance meter, inspection of the charged voltage by a withstand voltage meter, and inspection of the capacitance and the dielectric loss tangent by a second capacitance meter are sequentially performed.
A work in which the difference between the inspection value of the capacitance meter and the inspection value of the second capacitance meter is a predetermined value or more, and the difference between the inspection value of the first capacitance meter and the inspection value of the second capacitance meter of the dielectric loss tangent is a predetermined value. A work inspection and classification method characterized by discharging the above work.
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