JP2565068B2 - Atomic absorption spectrophotometer - Google Patents

Atomic absorption spectrophotometer

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JP2565068B2
JP2565068B2 JP4354121A JP35412192A JP2565068B2 JP 2565068 B2 JP2565068 B2 JP 2565068B2 JP 4354121 A JP4354121 A JP 4354121A JP 35412192 A JP35412192 A JP 35412192A JP 2565068 B2 JP2565068 B2 JP 2565068B2
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temperature
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友裕 中野
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Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、フレームレス原子化法
により試料を原子化する原子吸光分光光度計に関するも
のであり、更に詳しくは、このような原子吸光分光光度
計における原子化炉の温度制御に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an atomic absorption spectrophotometer for atomizing a sample by a flameless atomization method. More specifically, the temperature of an atomization furnace in such an atomic absorption spectrophotometer. Regarding control.

【0002】[0002]

【従来の技術】原子吸光分光光度計で分析を行なうため
には、分子の状態の試料を原子化する必要がある。この
原子化の方法としては、バーナのフレーム(炎)により
高温に加熱して原子化するフレーム原子化法の他に、超
小型の電気炉により試料を加熱して原子化するフレーム
レス原子化法がある。フレームレス原子化法では、試料
をグラファイトチューブの中に注入し、そのチューブに
大電流を流して加熱することにより試料を原子化するグ
ラファイト原子化炉が主として用いられている。このグ
ラファイト原子化炉の温度制御の方法としては、従来、
グラファイトチューブの発光量のフォトセンサによる検
出値が目標値(設定温度に対応するフォトセンサの出力
値)に等しくなるようにフィードバック制御を行なうと
いう方法(温度コントロール方式)と、グラファイトチ
ューブを流れる電流値が目標値(設定温度に対応する電
流値)に等しくなるようにフィードバック制御を行なう
という方法(電流コントロール方式)が主なものであっ
た。このうち電流コントロール方式は、同じ電流値で加
熱してもチューブの抵抗が変化すると発熱量が変化する
ため到達温度が異なるという欠点がある。これに対し温
度コントロール方式は、チューブの温度をフォトセンサ
によって直接測定するため、チューブの抵抗の変化によ
る到達温度の誤差が少なく、また、昇温速度が速く応答
性のよい制御が可能であるという特長を有する。このた
め、グラファイト原子化炉の温度制御方式としては、温
度コントロール方式が一般によく用いられている。
2. Description of the Related Art In order to perform analysis with an atomic absorption spectrophotometer, it is necessary to atomize a sample in a molecular state. As this atomization method, in addition to the flame atomization method in which a flame (flame) of a burner heats it to a high temperature for atomization, a flameless atomization method in which a sample is heated and atomized by a micro electric furnace There is. In the flameless atomization method, a graphite atomization furnace is mainly used in which a sample is injected into a graphite tube, and a large current is passed through the tube to heat it to atomize the sample. Conventional methods for controlling the temperature of this graphite atomization furnace include:
The method of performing feedback control (temperature control method) so that the detection value of the light emission amount of the graphite tube by the photo sensor becomes equal to the target value (output value of the photo sensor corresponding to the set temperature), and the current value flowing through the graphite tube The main method was a method (current control method) of performing feedback control so that the value becomes equal to the target value (current value corresponding to the set temperature). Among them, the current control method has a drawback that the reached temperature is different because the amount of heat generation changes when the resistance of the tube changes even if the tube is heated with the same current value. On the other hand, in the temperature control method, since the temperature of the tube is directly measured by the photo sensor, there is little error in the reached temperature due to the change in the resistance of the tube, and the temperature rising rate is fast and responsive control is possible Has features. Therefore, the temperature control method is generally often used as the temperature control method of the graphite atomization furnace.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】しかし、温度コントロ
ール方式では、チューブへの試料の注入量を変えるため
に形状の異なるチューブ(例えばチューブ径が異なるも
の)を用いると、フォトセンサとチューブの外壁表面と
の距離が変化するため、到達温度と設定温度との間に誤
差が生じる。この結果、チューブ形状が異なる毎に、設
定温度とフォトセンサの目標値との関係を再設定するこ
と(各設定温度に対応するフォトセンサの目標値を記憶
しているROMの交換等)が必要となる。これにより、
分析のための操作が煩雑になるとともに、分析に要する
時間も長くなる。
However, in the temperature control system, when tubes having different shapes (for example, tubes having different diameters) are used to change the injection amount of the sample into the tube, the photosensor and the outer wall surface of the tube are not used. Since the distance between and changes, an error occurs between the reached temperature and the set temperature. As a result, it is necessary to reset the relationship between the set temperature and the target value of the photo sensor each time the tube shape changes (replacement of the ROM that stores the target value of the photo sensor corresponding to each set temperature). Becomes This allows
The operation for analysis becomes complicated and the time required for analysis becomes long.

【0004】本発明はこのような問題を解決するために
成されたものであり、その目的とするところは、グラフ
ァイト原子化炉のチューブ形状に拘らずチューブの温度
が目標とした温度(設定温度)になるように温度制御を
行ない、正確な分析を容易かつ迅速に行なうことができ
る原子吸光分光光度計を提供することにある。
The present invention has been made to solve such a problem, and an object of the present invention is to set the temperature of the tube to a target temperature (set temperature) regardless of the shape of the tube of the graphite atomization furnace. The present invention is to provide an atomic absorption spectrophotometer capable of performing accurate analysis easily and quickly by controlling the temperature so that

【0005】[0005]

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、本発明では、試料を注入したチューブに電流を流し
て該試料を加熱する原子化炉を有する原子吸光分光光度
計において、前記チューブからの発光量を検出するフォ
トセンサと、前記原子化炉の各設定温度に対応する前記
フォトセンサの目標値を記憶する記憶手段と、温度を設
定して前記原子化炉による加熱を開始すると、該設定温
度に対応する前記記憶手段に記憶された目標値に前記フ
ォトセンサによる検出値が等しくなるように、前記チュ
ーブへ供給する電力を制御する加熱制御手段と、前記チ
ューブの両端の電圧及び前記チューブに流れる電流を検
出する検出手段と、前記フォトセンサの検出値が前記目
標値に等しくなっている状態における前記電圧及び電流
の値から前記チューブへの供給電力を算出し、該供給電
力が所定の基準値から変化したときに、該変化量に基づ
き、前記記憶手段に記憶された前記設定温度に対応する
目標値を較正する較正手段と、を備えた構成としてい
る。
In order to achieve the above object, in the present invention, an atomic absorption spectrophotometer having an atomization furnace for heating a sample by injecting an electric current through the tube is injected from the tube. A photosensor for detecting the amount of emitted light, a storage unit for storing a target value of the photosensor corresponding to each set temperature of the atomization furnace, and a temperature is set to start heating by the atomization furnace. Heating control means for controlling the electric power supplied to the tube so that the detection value by the photosensor becomes equal to the target value stored in the storage means corresponding to the set temperature, the voltage across the tube, and the tube. Detecting means for detecting the current flowing through the sensor, and the value of the voltage and the current when the detected value of the photosensor is equal to the target value. Calibration means for calculating the power supplied to the storage device, and calibrating the target value corresponding to the set temperature stored in the storage means based on the amount of change when the supplied power changes from a predetermined reference value, It has a configuration with.

【0006】[0006]

【作用】このような構成によれば、温度を設定して原子
化炉の加熱を開始すると、その設定温度に対応する目標
値として記憶手段に記憶された値にフォトセンサの検出
値が等しくなるように、加熱制御手段がチューブへ供給
される電力を制御する。この結果、チューブが標準状態
にあるときには、定常状態においてチューブへ基準値の
電力が供給され、グラファイト原子化炉の到達温度が前
記設定温度に等しくなる。
According to this structure, when the temperature is set and the heating of the atomic reactor is started, the detected value of the photosensor becomes equal to the value stored in the storage means as the target value corresponding to the set temperature. Thus, the heating control means controls the power supplied to the tube. As a result, when the tube is in the standard state, the standard value of electric power is supplied to the tube in the steady state, and the temperature reached by the graphite atomization furnace becomes equal to the set temperature.

【0007】いま、グラファイト原子化炉で使用してい
た標準形状のチューブを異なった形状のチューブに交換
したとすると、チューブの外壁表面とフォトセンサとの
距離が変化するため、チューブの温度とフォトセンサの
出力値との関係が変化する。この結果、同一の設定温度
のままで(フォトセンサの目標値が同じままで)加熱制
御が行なわれても、チューブの交換により、定常状態に
おいてチューブへ供給される電力が変化して到達温度が
変わり、設定温度との間に誤差が生じる。チューブへの
供給電力は、検出手段によって検出されるチューブ両端
の電圧及びチューブに流れる電流から求められるため、
これにより較正手段は、チューブの交換に伴い供給電力
が基準値(定常状態においてチューブの到達温度が設定
温度に等しくなるときの供給電力の値)からどの程度変
化したかを検出する。このようにして検出した変化量に
基づき、較正手段は、記憶手段に記憶された前記設定温
度に対応する目標値を較正する。このとき、前記変化量
に基づき較正後の供給電力をチューブ交換前の供給電力
と等しくなるよう較正すれば、チューブの交換に伴う到
達温度と設定温度との誤差の発生を抑えることができ
る。
Now, if the standard shape tube used in the graphite atomization furnace is replaced with a different shape tube, the distance between the outer wall surface of the tube and the photosensor changes, so that the temperature and the phototube of the tube change. The relationship with the sensor output value changes. As a result, even if heating control is performed with the same set temperature (the target value of the photo sensor remains the same), the power supplied to the tube changes in the steady state due to tube replacement, and the reached temperature is However, there is an error with the set temperature. The power supplied to the tube is obtained from the voltage across the tube detected by the detection means and the current flowing through the tube,
Thus, the calibration means detects how much the supply power changes from the reference value (the value of the supply power when the reached temperature of the tube becomes equal to the set temperature in the steady state) due to the replacement of the tube. Based on the amount of change thus detected, the calibration means calibrates the target value corresponding to the set temperature stored in the storage means. At this time, if the calibrated supply power is made equal to the supply power before tube replacement based on the amount of change, it is possible to suppress the occurrence of an error between the ultimate temperature and the set temperature due to tube replacement.

【0008】なお、チューブを交換しなくとも、チュー
ブの表面状態の変化(放射率の変化等)によりチューブ
の温度とフォトセンサの出力値との関係が変化し、到達
温度と設定温度との間に誤差が生じる場合がある。この
場合も、定常状態においてチューブへ供給される電力を
求め、この供給電力が基準値(定常状態においてチュー
ブの到達温度が設定温度に等しくなるときの供給電力の
値)からどの程度変化しているかを検出して、上記と同
様の方法でフォトセンサの目標値を較正することによ
り、到達温度と設定温度との誤差の発生を抑えることが
できる。
Even if the tube is not replaced, the relationship between the temperature of the tube and the output value of the photosensor changes due to changes in the surface condition of the tube (changes in emissivity, etc.). There may be an error in. Also in this case, the power supplied to the tube in the steady state is calculated, and how much this supply power changes from the reference value (the value of the power supply when the reached temperature of the tube becomes equal to the set temperature in the steady state) Is detected and the target value of the photosensor is calibrated in the same manner as described above, it is possible to suppress the occurrence of an error between the reached temperature and the set temperature.

【0009】[0009]

【実施例】以下、図面を参照しつつ本発明の実施例につ
いて説明する。図1は、本発明の一実施例である原子吸
光分光光度計のグラファイト原子化炉における温度制御
に係る部分の構成を示す図である。本原子吸光分光光度
計では、グラファイトチューブ10に試料を注入し、そ
のチューブ10に電流を流して試料を加熱することによ
り、試料の原子化を行なっている。チューブ10の温度
は、チューブ10からの発光量をフォトセンサ12で検
出することにより測定される。そして、このフォトセン
サ12の出力はセンサアンプ18で増幅された後、信号
Vtとして誤差アンプ20に入力される。一方、温度プ
ログラマ16には各設定温度に対応するフォトセンサの
目標値が記憶されており、現在の設定温度に対応するフ
ォトセンサの目標値が信号Vrとして誤差アンプ20に
入力される。誤差アンプ20は、このフォトセンサの目
標値Vrと現時点の出力値(現在の温度に対応する値)
Vtとを比較し、その誤差に相当する出力を電源14に
入力する。電源14は、この誤差アンプ20の出力に基
づき、チューブ10に流れる電流(供給電力)を制御す
る。すなわち、Vt<Vrのときはチューブ10の温度が
設定温度よりも低いためチューブ10への供給電力を増
大させ、Vt>Vrのときはチューブ10の温度が設定温
度よりも高いためチューブへの供給電力を減少させる。
これにより定常状態では、Vt=Vrとなり、チューブ1
0の温度が設定温度に保持される。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 1 is a diagram showing a configuration of a portion related to temperature control in a graphite atomization furnace of an atomic absorption spectrophotometer which is an embodiment of the present invention. In the present atomic absorption spectrophotometer, a sample is injected into a graphite tube 10 and an electric current is passed through the tube 10 to heat the sample, thereby atomizing the sample. The temperature of the tube 10 is measured by detecting the amount of light emitted from the tube 10 with the photo sensor 12. The output of the photo sensor 12 is amplified by the sensor amplifier 18 and then input to the error amplifier 20 as a signal Vt. On the other hand, the temperature programmer 16 stores the target value of the photosensor corresponding to each set temperature, and the target value of the photosensor corresponding to the current set temperature is input to the error amplifier 20 as a signal Vr. The error amplifier 20 outputs the target value Vr of this photosensor and the current output value (value corresponding to the current temperature).
Vt is compared, and the output corresponding to the error is input to the power supply 14. The power supply 14 controls the current (supply power) flowing through the tube 10 based on the output of the error amplifier 20. That is, when Vt <Vr, the temperature of the tube 10 is lower than the set temperature, so that the power supplied to the tube 10 is increased, and when Vt> Vr, the temperature of the tube 10 is higher than the set temperature, so that the power is supplied to the tube. Reduce power.
As a result, in the steady state, Vt = Vr, and the tube 1
The temperature of 0 is maintained at the set temperature.

【0010】本実施例では、チューブ10への上記供給
電力を測定するために、チューブ10に流れる電流を検
出する電流センサ22及びチューブ10両端の電圧を検
出する電圧センサ26を設けている。そして、これらに
よって検出された電流値及び電圧値を表わす信号はセン
サアンプ24又は27で増幅された後、較正部28に入
力される。較正部28は、これらの信号から定常状態に
おけるチューブ10への供給電力を算出し、算出した供
給電力に基づいて温度プログラマ16に記憶された目標
値を較正する。すなわち、チューブ10の交換等により
チューブの温度とフォトセンサ12の出力との関係が変
化すると、前述の温度制御(チューブ10の加熱制御)
が行なわれて定常状態(Vt=Vrの状態)になったとし
ても、チューブへの供給電力が現在の設定温度に対応す
る基準値(定常状態においてチューブの到達温度が設定
温度に等しくなるときの供給電力の値)に等しくなら
ず、チューブ10の到達温度と設定温度との間に誤差が
生じる。そこで、較正部28は、上記のようにして算出
した供給電力が現在の設定温度に対応する基準値からど
の程度変化したかを検出し、この変化量に応じて、温度
プログラマ16に記憶されたフォトセンサ12の目標値
を較正する。
In this embodiment, in order to measure the electric power supplied to the tube 10, a current sensor 22 for detecting the current flowing through the tube 10 and a voltage sensor 26 for detecting the voltage across the tube 10 are provided. Then, the signals representing the current value and the voltage value detected by these are amplified by the sensor amplifier 24 or 27 and then input to the calibration unit 28. The calibration unit 28 calculates the power supplied to the tube 10 in the steady state from these signals, and calibrates the target value stored in the temperature programmer 16 based on the calculated power supplied. That is, when the relationship between the temperature of the tube and the output of the photosensor 12 changes due to replacement of the tube 10 or the like, the above-mentioned temperature control (heating control of the tube 10) is performed.
Even when the temperature reaches a steady state (Vt = Vr), the power supplied to the tube is a reference value corresponding to the current set temperature (when the reached temperature of the tube becomes equal to the set temperature in the steady state. However, an error occurs between the temperature reached by the tube 10 and the set temperature. Therefore, the calibration unit 28 detects how much the supplied power calculated as described above has changed from the reference value corresponding to the current set temperature, and is stored in the temperature programmer 16 according to the change amount. The target value of the photo sensor 12 is calibrated.

【0011】図3は、上記較正部28による較正方法の
一例(第1の較正方法)を示すフローチャートである。
この較正方法では、チューブ10を交換した場合におい
て分析操作を行なう前に較正部28が較正を行なう。例
えば、標準チューブであるチューブAから形状の異なる
別のチューブBに交換した場合には、以下のようにして
較正を行なう。ただし、チューブA又はBを使用した場
合、定常状態におけるチューブへの供給電力とフォトセ
ンサの出力とは、それぞれ図2に示すような関係になっ
ているものとする。
FIG. 3 is a flow chart showing an example (first calibration method) of the calibration method by the calibration unit 28.
In this calibration method, the calibration unit 28 calibrates before performing an analysis operation when the tube 10 is replaced. For example, when the standard tube A is replaced with another tube B having a different shape, calibration is performed as follows. However, when the tube A or B is used, the power supplied to the tube in the steady state and the output of the photosensor have a relationship as shown in FIG.

【0012】いま、チューブAが使用されている状態に
おいて設定温度をTとして加熱を行なうと、上記構成の
グラファイト原子化炉では、フォトセンサ12の出力が
この設定温度Tに対応する目標値VSAに等しくなるよう
に温度が制御され、定常状態において到達温度がTとな
る。このとき、図2より、チューブAへの供給電力はW
Aであり、これが設定温度Tに対応する供給電力の基準
値である。したがって、チューブをAからBに交換した
後にも同じ到達温度Tを得るには、供給電力を同じくW
Aとしなければならない。しかし、設定温度をTとして
即ちフォトセンサ12の目標値をVSAとして加熱を行な
うと、図2より、チューブBを使用した場合の定常状態
における供給電力はWB(≠WA)となり、到達温度がT
にならない。そこで、チューブをBに交換した後、温度
プログラマ16に記憶されたフォトセンサ12の目標値
を図3に示すように較正する。
When heating is performed with the set temperature being T while the tube A is being used, the output of the photosensor 12 reaches the target value VSA corresponding to the set temperature T in the graphite atomization furnace having the above configuration. The temperatures are controlled so as to be equal, and the reached temperature is T in the steady state. At this time, from FIG. 2, the power supplied to the tube A is W
A is the reference value of the supplied power corresponding to the set temperature T. Therefore, in order to obtain the same ultimate temperature T even after exchanging the tube from A to B, the supply power is also set to W
Must be A. However, when heating is performed with the set temperature being T, that is, the target value of the photosensor 12 being VSA, as shown in FIG.
do not become. Therefore, after replacing the tube with B, the target value of the photosensor 12 stored in the temperature programmer 16 is calibrated as shown in FIG.

【0013】まず、ステップS10において、設定温度
をTとして即ちフォトセンサの目標値をVSAとして加熱
を行なう。ステップS20では、この加熱において定常
状態(フォトセンサ12の出力値がVSAで一定の状態)
になったときにチューブBへ流れる電流IB及びチュー
ブB両端の電圧VBを電流センサ22及び電圧センサ2
6によって検出し、これらより、チューブBへの供給電
力WBを算出する。そして、ステップ30では、設定温
度Tに対応する供給電力の基準値WAとチューブ交換後
の供給電力(実際に検出し算出した供給電力)WBとの
比WA/WBを用いて、較正後のフォトセンサの目標値V
SBを求める。すなわち、 VSB=VSA×(WA/WB) とし、設定温度Tに対応するフォトセンサ12の目標値
がVSBとなるように、較正部28が温度プログラマ16
に記憶された目標値を較正する。なお、このVSBの算出
においてWAは、基準値(定常状態においてチューブの
到達温度が設定温度に等しくなるときの供給電力の値)
として予め較正部28に記憶させておいた値を用いる。
図2からわかるように、チューブBへの供給電力とフォ
トセンサ12の出力とが比例するものとすれば、目標値
をVSBとして温度制御を行なった場合に、定常状態にお
けるチューブBへの供給電力がWAすなわちチューブ交
換前と同一になり、到達温度が設定温度Tに等しくな
る。したがって、このような較正を行なうことにより、
到達温度と設定温度との誤差の発生を抑えることができ
る。
First, in step S10, heating is performed with the set temperature set to T, that is, the target value of the photosensor set to VSA. In step S20, this heating is in a steady state (the output value of the photosensor 12 is constant at VSA).
Current IB flowing to tube B and voltage VB across tube B when current sensor 22 and voltage sensor 2
6, and the power WB supplied to the tube B is calculated from them. Then, in step 30, the ratio WA / WB of the reference value WA of the supply power corresponding to the set temperature T and the supply power after tube replacement (the supply power actually detected and calculated) WB is used to perform the calibrated photo. Target value V of sensor
Ask for SB. That is, VSB = VSA × (WA / WB), and the calibration unit 28 sets the temperature programmer 16 so that the target value of the photosensor 12 corresponding to the set temperature T becomes VSB.
Calibrate the target value stored in. In the calculation of VSB, WA is a reference value (the value of power supply when the temperature reached by the tube is equal to the set temperature in the steady state).
The value stored in advance in the calibration unit 28 is used as.
As can be seen from FIG. 2, if the power supplied to the tube B is proportional to the output of the photosensor 12, the power supplied to the tube B in the steady state when the temperature is controlled with the target value VSB. Becomes WA, that is, the same as before the tube replacement, and the reached temperature becomes equal to the set temperature T. Therefore, by performing such a calibration,
It is possible to suppress the occurrence of an error between the ultimate temperature and the set temperature.

【0014】図4は、較正部28による較正方法の他の
例(第2の較正方法)を示すフローチャートである。こ
の較正方法では、通常の分析操作の中で毎回の測定ごと
に較正部28が較正を行なう。例えば、本原子吸光分光
光度計においてn回目の測定を行なっているときの較正
手順は以下のようになる(図4参照)。まず、ステップ
P10において、設定温度をTとして即ちフォトセンサ
12の目標値をVSnとして加熱を行なう。この加熱は通
常の分析操作における加熱と共通のものである。ステッ
プP20では、この加熱において定常状態(フォトセン
サ12の出力値がVSnで一定の状態)になったときにチ
ューブ10へ流れる電流In及びチューブ10両端の電
圧Vnを検出し、これらより、チューブ10への供給電
力Wnを算出する。そして、ステップP30において、
設定温度Tに対応する供給電力の基準値W0と今回の測
定(n回目の測定)における供給電力(実際に検出し算
出した供給電力)Wnとの比W0/Wnを用いて、前記第
1の較正方法と同様の考え方で、次回の測定(n+1回
目の測定)におけるフォトセンサの目標値VSn+1を求め
る。すなわち、 VSn+1=VSn×(W0/Wn) とし、設定温度Tに対応するフォトセンサ12の目標値
がVSn+1となるように、較正部28が温度プログラマ1
6に記憶された目標値を較正する。なお、このVSn+1の
算出においてW0は、基準値(定常状態においてチュー
ブの到達温度が設定温度に等しくなるときの供給電力の
値)として予め較正部28に記憶させておいた値を用い
る。このような較正方法によれば、原子吸光分析におけ
る毎回の測定ごとに較正が行なわれるため、チューブの
交換によるチューブ形状の変化に起因する温度誤差(設
定温度と到達温度との誤差)だけでなく、チューブの表
面状態の変化(放射率の変化等)に起因する温度誤差の
発生も抑えることができる。なお、本較正方法では、原
子吸光分析の毎回の測定ごとに較正を行なっているが、
所定の測定回数ごとに上記の較正を行なってもよい。
FIG. 4 is a flow chart showing another example (second calibration method) of the calibration method by the calibration unit 28. In this calibration method, the calibration unit 28 calibrates for each measurement during a normal analysis operation. For example, the calibration procedure when the nth measurement is performed in the atomic absorption spectrophotometer is as follows (see FIG. 4). First, in step P10, heating is performed with the set temperature set to T, that is, the target value of the photosensor 12 set to VSn. This heating is common with the heating in the usual analytical operation. In step P20, the current In flowing into the tube 10 and the voltage Vn across the tube 10 when the steady state (the output value of the photosensor 12 is constant at VSn) is detected during this heating, and the tube 10 is detected from these. Calculate the power supply Wn to the Then, in Step P30,
Using the ratio W0 / Wn of the reference value W0 of the supply power corresponding to the set temperature T and the supply power (supply power actually detected and calculated) Wn in the current measurement (nth measurement), the first value The target value VSn + 1 of the photosensor in the next measurement (n + 1th measurement) is obtained in the same way as the calibration method. That is, VSn + 1 = VSn × (W0 / Wn), and the calibration unit 28 sets the temperature programmer 1 so that the target value of the photosensor 12 corresponding to the set temperature T becomes VSn + 1.
Calibrate the target value stored in 6. In the calculation of VSn + 1, W0 uses a value stored in advance in the calibration unit 28 as a reference value (a value of power supply when the reached temperature of the tube becomes equal to the set temperature in the steady state). According to such a calibration method, since the calibration is performed for each measurement in the atomic absorption spectrometry, not only the temperature error (error between the set temperature and the reached temperature) caused by the change of the tube shape due to the exchange of the tube, but also the It is also possible to suppress the occurrence of a temperature error caused by a change in the surface condition of the tube (change in emissivity, etc.). In this calibration method, calibration is performed for each measurement of atomic absorption spectrometry.
The above calibration may be performed every predetermined number of measurements.

【0015】ところで、チューブ10の状態の変化(チ
ューブ10の温度とフォトセンサ12の出力との関係の
変化)に起因する設定温度と到達温度との誤差を抑える
ための方法として、電流センサ22及び電圧センサ26
によって検出された供給電力が設定温度に対応する基準
値に等しくなるように温度制御(加熱制御)を行なうと
いう方法も考えられる。しかし、上記実施例のように、
電流センサ22及び電圧センサ26によって検出された
供給電力を目標値の較正にのみ使用し、チューブ10の
温度をフォトセンサ12によって直接検出して、この検
出値が目標値に等しくなるように温度制御を行なう方
が、昇温速度が速く、応答性の点で有利である。
By the way, as a method for suppressing the error between the set temperature and the reached temperature due to the change in the state of the tube 10 (change in the relationship between the temperature of the tube 10 and the output of the photosensor 12), the current sensor 22 and Voltage sensor 26
A method of performing temperature control (heating control) so that the supplied electric power detected by is equal to a reference value corresponding to the set temperature can be considered. However, as in the above example,
The supplied power detected by the current sensor 22 and the voltage sensor 26 is used only for calibration of the target value, the temperature of the tube 10 is directly detected by the photosensor 12, and the temperature is controlled so that the detected value becomes equal to the target value. Is more advantageous in terms of responsiveness because the heating rate is faster.

【0016】[0016]

【発明の効果】以上説明した通り、本発明によれば、グ
ラファイト原子化炉のチューブの交換やチューブの表面
状態の変化等によりチューブの温度とフォトセンサの出
力値との関係が変わると、直ちに設定温度に対応する目
標値(フォトセンサの出力値)が較正される。このた
め、チューブの状態に関係なく目標とした温度(設定温
度)で試料を加熱して原子化することができる。これに
より、チューブの形状や表面状態に拘らず、正確な原子
吸光分析を容易かつ迅速に行なうことができる。
As described above, according to the present invention, when the relationship between the temperature of the tube and the output value of the photosensor changes due to the replacement of the tube of the graphite atomization furnace, the change of the surface condition of the tube, etc. The target value (output value of the photo sensor) corresponding to the set temperature is calibrated. Therefore, the sample can be heated and atomized at the target temperature (set temperature) regardless of the state of the tube. As a result, accurate atomic absorption analysis can be performed easily and quickly regardless of the shape and surface state of the tube.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】 本発明の一実施例である原子吸光分光光度計
のグラファイト原子化炉における温度制御に係る部分の
構成を示す図。
FIG. 1 is a diagram showing a configuration of a portion related to temperature control in a graphite atomization furnace of an atomic absorption spectrophotometer which is an embodiment of the present invention.

【図2】 前記実施例におけるフォトセンサの目標値の
較正方法を説明するための図。
FIG. 2 is a diagram for explaining a method of calibrating a target value of a photo sensor in the above embodiment.

【図3】 前記実施例におけるフォトセンサの目標値の
第1の較正方法を示すフローチャート。
FIG. 3 is a flowchart showing a first method of calibrating a target value of a photo sensor in the above embodiment.

【図4】 前記実施例におけるフォトセンサの目標値の
第2の較正方法を示すフローチャート。
FIG. 4 is a flowchart showing a second method for calibrating the target value of the photosensor in the above embodiment.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

10…グラファイトチューブ 12…フォトセンサ 14…電源(加熱制御手段) 16…温度プログラマ(記憶手段) 20…誤差アンプ(加熱制御手段) 22…電流センサ(検出手段) 26…電圧センサ(検出手段) 28…較正部(較正手段) 10 ... Graphite tube 12 ... Photo sensor 14 ... Power source (heating control means) 16 ... Temperature programmer (storage means) 20 ... Error amplifier (heating control means) 22 ... Current sensor (detection means) 26 ... Voltage sensor (detection means) 28 ... Calibration unit (calibration means)

Claims (1)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 試料を注入したチューブに電流を流して
該試料を加熱する原子化炉を有する原子吸光分光光度計
において、 前記チューブからの発光量を検出するフォトセンサと、 前記原子化炉の各設定温度に対応する前記フォトセンサ
の目標出力値を記憶する記憶手段と、 温度を設定して前記原子化炉による加熱を開始すると、
該設定温度に対応する前記記憶手段に記憶された目標出
力値に前記フォトセンサによる検出値が等しくなるよう
に、前記チューブへ供給する電力を制御する加熱制御手
段と、 前記チューブの両端の電圧及び前記チューブに流れる電
流を検出する検出手段と、 前記フォトセンサの検出値が前記目標出力値に等しくな
っている状態における前記電圧及び電流の値から前記チ
ューブへの供給電力を算出し、該供給電力が所定の基準
値から変化したときに、該変化量に基づき、前記記憶手
段に記憶された前記設定温度に対応する目標出力値を較
正する較正手段と、を備えることを特徴とする原子吸光
分光光度計。
1. An atomic absorption spectrophotometer having an atomization furnace for heating a sample by applying an electric current to a tube in which a sample is injected, and a photosensor for detecting the amount of light emitted from the tube; Storage means for storing the target output value of the photosensor corresponding to each set temperature, and when the temperature is set and heating by the atomization furnace is started,
Heating control means for controlling electric power supplied to the tube so that a detection value by the photosensor becomes equal to a target output value stored in the storage means corresponding to the set temperature; a voltage across the tube; Detecting means for detecting a current flowing through the tube, calculating the power supplied to the tube from the voltage and current values in a state where the detection value of the photosensor is equal to the target output value, When a change from a predetermined reference value is made, a calibration unit that calibrates a target output value corresponding to the set temperature stored in the storage unit based on the amount of change, is provided. Photometer.
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