JP2550062B2 - Exposure control device - Google Patents

Exposure control device

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JP2550062B2
JP2550062B2 JP62098306A JP9830687A JP2550062B2 JP 2550062 B2 JP2550062 B2 JP 2550062B2 JP 62098306 A JP62098306 A JP 62098306A JP 9830687 A JP9830687 A JP 9830687A JP 2550062 B2 JP2550062 B2 JP 2550062B2
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  • Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
  • Exposure Control For Cameras (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、電子スチルカメラ等に適用して有効な露出
制御装置に関するものである。
The present invention relates to an exposure control device that is effective when applied to an electronic still camera or the like.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

従来、電子スチルカメラ等に適用される露出制御装置
として、測光のダイナミックレンジを広くするため、光
電変換手段の出力レベルに応じて、光電変換出力のゲイ
ンを変更するように構成したもの(特開昭60−43979号
公報)等が提案されている。上記ゲインを変更するため
には、変更されるゲイン段数に対応するだけの複数の増
幅手段を並置し、これらの増幅手段のうちの一つを、光
電変換出力のレベルに応じて選択的に用いるように構成
されるのが普通である。
Conventionally, as an exposure control device applied to an electronic still camera or the like, a device configured to change the gain of photoelectric conversion output according to the output level of photoelectric conversion means in order to widen the dynamic range of photometry (Japanese Patent Application Laid-Open No. 2000-121242) JP-A-60-43979) has been proposed. In order to change the gain, a plurality of amplifying means corresponding to the number of gain stages to be changed are arranged in parallel, and one of these amplifying means is selectively used according to the level of photoelectric conversion output. It is usually configured as follows.

〔発明が解決しようとする問題点〕[Problems to be solved by the invention]

上述のような斯の種の従来の露出制御装置では、測光
のダイナミックレンジを拡大する程、異なるゲインを有
する多くの増幅手段を設けなくてはならないため構成が
複雑となり、且つ部品点数の増加にともない多大な実装
用スペースを要することとなって装置の小型化の障害と
なる。
In the conventional exposure control device of this kind as described above, as the dynamic range of photometry is expanded, many amplifying means having different gains must be provided, resulting in a complicated structure and an increase in the number of parts. Therefore, a large mounting space is required, which is an obstacle to downsizing of the device.

本発明は叙上の点に鑑みてなされたものであり、比較
的小規模な回路構成によって、極めて広いダイナミック
レンジを精度よくカバーすることのできる斯の種の露出
制御装置を提供しようとするものである。
The present invention has been made in view of the above points, and it is an object of the present invention to provide an exposure control device of this type that can accurately cover an extremely wide dynamic range with a relatively small circuit configuration. Is.

〔問題点を解決するための手段及び作用〕[Means and Actions for Solving Problems]

上記問題点を解決するために、本願の一つの発明は: 入射光量に応じた変化率を呈する光電変換出力を得る
光電変換手段と、 当該露光の開始に相応した時点から露光時間の進行と
共に上記光電変換出力を積分したものに対応する出力を
得る積分手段と、 上記積分手段における積分目標値を可変設定するため
の積分目標値設定手段と、 上記露光の継続中に上記積分手段の出力が上記積分目
標値に達する毎に上記積分手段をリセットする手段と、 上記積分手段の出力が上記積分目標値に達した回数を
計数する計数手段と、 上記計数手段における計数目標値を可変設定するため
の計数目標値設定手段と、を備え、上記積分目標値およ
び上記計数目標値ならびに上記計数手段における計数結
果に基づいて露出制御を行うように構成されたことを特
徴とする露出制御装置というものである。
In order to solve the above-mentioned problems, one invention of the present application is: photoelectric conversion means for obtaining a photoelectric conversion output exhibiting a rate of change in accordance with the amount of incident light; An integrating means for obtaining an output corresponding to an integrated photoelectric conversion output, an integral target value setting means for variably setting an integral target value in the integrating means, and an output of the integrating means for the duration of the exposure. Means for resetting the integration means each time the integration target value is reached, counting means for counting the number of times the output of the integration means reaches the integration target value, and variably setting the counting target value in the counting means Counting target value setting means, and is configured to perform exposure control based on the integration target value, the counting target value, and the counting result of the counting means. It is that the exposure control device according to.

また、本願の他の発明は: 入射光量に応じた変化率を呈する光電変換出力を得る
光電変換手段と、 当該露光の開始に相応した時点から露光時間の進行と
共に上記光電変換出力を積分したものに対応する出力を
得る積分手段と、 上記積分手段における積分目標値を可変設定するため
の積分目標値設定手段と、 上記露光の継続中に上記積分手段の出力が上記積分目
標値に達する毎に上記積分手段をリセットする手段と、 上記積分手段の出力が上記積分目標値に達した回数を
計数する計数手段と、 を備え、上記積分目標値および上記計数手段における計
数結果に基づいて露出制御を行うように構成されたこと
を特徴とする露出制御装置というものである。
Another invention of the present application is: photoelectric conversion means for obtaining a photoelectric conversion output exhibiting a rate of change according to the amount of incident light, and integration of the photoelectric conversion output as the exposure time progresses from the time corresponding to the start of the exposure. , An integration target value setting means for variably setting the integration target value in the integration means, and an output of the integration means each time the output of the integration means reaches the integration target value while continuing the exposure. And a counting means for counting the number of times the output of the integrating means reaches the integration target value, and exposure control is performed based on the integration target value and the counting result in the counting means. It is an exposure control device characterized by being configured to perform.

また、本願の更に他の発明は: 入射光量に応じた変化率を呈する光電変換出力を得る光
電変換手段と、 当該露光の開始に相応した時点から露光時間の進行と
共に上記光電変換出力を積分したものに対応する出力を
得る積分手段と、 上記露光の継続中に上記積分手段の出力が所定の積分
目標値に達する毎に上記積分手段をリセットする手段
と、 上記積分手段の出力が上記積分目標値に達した回数を
計数する計数手段と、 上記計数手段における計数目標値を可変設定するため
の計数目標値設定手段と、を備え、上記計数目標値およ
び上記計数手段における計数結果に基づいて露出制御を
行うように構成されたことを特徴とする露出制御装置と
いうものである。
Still another invention of the present application is: photoelectric conversion means for obtaining a photoelectric conversion output exhibiting a change rate according to the amount of incident light, and integrating the photoelectric conversion output with the progress of exposure time from the time corresponding to the start of the exposure. An integrating means for obtaining an output corresponding to the object, a means for resetting the integrating means each time the output of the integrating means reaches a predetermined integration target value during the continuation of the exposure, and an output of the integrating means for the integration target. The counting means for counting the number of times the value has been reached, and the counting target value setting means for variably setting the counting target value in the counting means, are exposed based on the counting target value and the counting result in the counting means. An exposure control device characterized by being configured to perform control.

上記各本発明によれば、入射光量に応じて上記積分目
標値および/または計数目標値を可変設定することによ
り比較的小規模の計数手段により広いダイナミックレン
ジをカバーした露出制御を行なうことができる。
According to each of the above inventions, the integration target value and / or the counting target value is variably set according to the amount of incident light, so that exposure control covering a wide dynamic range can be performed by a relatively small-scale counting means. .

〔実施例〕〔Example〕

第2図は本発明の実施例としての露出制御装置を含ん
で構成された電子スチルカメラのシステムを表わすブロ
ック図である。
FIG. 2 is a block diagram showing a system of an electronic still camera including an exposure control device as an embodiment of the present invention.

光電変換素子を含んでなる測光用IC100,ゲートアレイ
200,測光用マイクロコンピュータ300及びシステムコン
トロール用マイクロコンピュータ400が、相互に信号の
授受をなすようバスその他の信号ラインにより接続され
ている。また、ゲートアレイ200には、絞り及びシャッ
タを制御するためのレンズ内回路500が接続される。ゲ
ートアレイ200は、測光用IC100及び測光用マイクロコン
ピュータ300との信号の授受に基づいて所定の信号処理
動作を行なう測光ブロック210と、この測光ブロック210
及び測光用マイクロコンピュータ300との信号の授受に
基づいてレンズ内回路500に対し制御用信号の授受を行
なう露出制御ブロック220の各ブロック(回路)を含ん
で回路が形成されている。本システムではレンズ内に絞
り及びシャッタ並びにこれらの駆動手段を有するが、上
記レンズ内回路500もマイクロコンピュータを含んで構
成され得る。測光用マイクロコンピュータ300には、操
作者の操作により露出補正その他の機能設定を外部から
行なうためのスイッチ回路310が接続されている。同様
に、システムコントロール用マイクロコンピュータ400
には、絞り優先,シャッタ優先等の撮影モードの選択や
撮影のトリガをかけるためのスイッチ回路410が接続さ
れている。
Photometric IC100 including photoelectric conversion element, gate array
200, a photometric microcomputer 300, and a system control microcomputer 400 are connected by a bus and other signal lines so as to exchange signals with each other. Further, the gate array 200 is connected with an in-lens circuit 500 for controlling the diaphragm and the shutter. The gate array 200 includes a photometric block 210 that performs a predetermined signal processing operation based on the exchange of signals with the photometric IC 100 and the photometric microcomputer 300, and this photometric block 210.
Also, a circuit is formed including each block (circuit) of the exposure control block 220 that transmits / receives a control signal to / from the in-lens circuit 500 based on transmission / reception of a signal with the microcomputer for photometry 300. In the present system, the lens has a diaphragm, a shutter, and driving means for these, but the in-lens circuit 500 may also be configured to include a microcomputer. The photometric microcomputer 300 is connected with a switch circuit 310 for externally performing exposure compensation and other function settings by the operation of the operator. Similarly, the system control microcomputer 400
A switch circuit 410 for selecting a shooting mode such as aperture priority and shutter priority and triggering shooting is connected to the.

上記構成の電子スチルカメラのシステムの動作の概要
は次のとおりである。
The outline of the operation of the electronic still camera system having the above configuration is as follows.

システムコントロール用マイクロコンピュータ400か
らの指令により本システムがプリ測光動作を行なう場合
から説明する。先ず、測光用IC100にて入射光量に対応
した光電変換出力を得るが、本システムでは、これは絞
りが全開となされた所謂開放測光の状態で行なわれる。
この光電変換出力に対応した計数がゲートアレイ200中
の測光ブロック210内のカウンタにおいてなされ、測光
用マイクロコンピュータ300は該カウンタの計数値に基
づき入射光量の値を算出する。また測光値に対応したシ
ャッタスピードや絞り値等もこの測光用マイクロコンピ
ュータ300において算出される。これらの値はシステム
コントロール用マイクロコンピュータ400に転送され
る。システムコントロール用マイクロコンピュータ400
はこの転送を受けたデータに基づきそのときの入射光量
に対応したシャッタスピードまたは絞り値等に関する所
定の表示動作を行なうための信号を発生する。後に詳述
するとおり、本例のシステムでは、上記測光用マイクロ
コンピュータ300において、ゲートアレイ200の上記カウ
ンタにおける計数値をモニタし、カウンタがオーバーフ
ローしないよう計数条件を要すれば繰り返し変更し再設
定するようになされている。このため開放測光ゆえに必
要となる極めて広域の測光のダイナミックレンジにも、
比較的少ない段数の計数手段をもって対応し得る。
The case where the present system performs pre-photometry operation in response to a command from the system control microcomputer 400 will be described. First, the photometric IC 100 obtains a photoelectric conversion output corresponding to the amount of incident light. In this system, this is performed in a so-called open metering state in which the diaphragm is fully opened.
The counter corresponding to this photoelectric conversion output is performed in the counter in the photometry block 210 in the gate array 200, and the photometric microcomputer 300 calculates the value of the incident light amount based on the count value of the counter. Further, the shutter speed, aperture value, etc. corresponding to the photometric value are also calculated in the photometric microcomputer 300. These values are transferred to the system control microcomputer 400. Microcomputer 400 for system control
Generates a signal for performing a predetermined display operation relating to the shutter speed, aperture value, etc. corresponding to the amount of incident light at that time based on the transferred data. As will be described later in detail, in the system of the present example, in the photometric microcomputer 300, the count value in the counter of the gate array 200 is monitored, and the count value is repeatedly changed and reset if necessary so that the counter does not overflow. It is done like this. For this reason, even in the dynamic range of extremely wide area photometry that is necessary for open metering,
A relatively small number of counting means can be used.

次に露出制御動作につき説明する。スイッチ回路410
の回路要素たるトリガボタンが押されると、システム用
マイクロコンピュータ400は測光用マイクロコンピュー
タ300に対し、システムの動作を上述のプリ測光動作か
ら露出制御動作に切換える指令を与える。本システムの
露出制御動作は、上述のプリ測光におけると同一の測光
用IC100からの光電変換出力に基づき、所謂ダイレクト
測光方式によりなされる。露出制御動作が始まると、測
光用IC100内で光電変換信号の蓄積動作が開始されると
同時に撮像素子に対して信号の積分動作を行なう様指令
を出す。測光用IC100内における光電変換信号の積分値
のレベル(より厳密には、光電変換に対応する電流の時
間積分値に応じたコンデンサの電圧)が当該時点で測光
用マイクロコンピュータ300により該IC100に対して設定
されているレベル(即ち、積分目標値)に達する毎に、
IC100は積分終了パルスをゲートアレイ200の測光ブロッ
ク210に与える。測光ブロック210はこの積分終了パルス
を積算計数するとともに、各パルスの計算直後に測光用
IC100をリセットする。測光ブロック210における積算計
数値がシステム用マイクロコンピュータ400から測光用
マイクロコンピュータ300を介して設定された値(プリ
セット値)に達すると、測光ブロック210は露出制御ブ
ロック220を介してレンズ内回路500に制御信号を与え
る。レンズ内回路はこの制御信号に基づき露光時間の規
制、即ちシャッタを閉成させ及び/又は撮像素子の信号
蓄積動作を停止させる等露光を終了させるための動作を
行なう。上述において、測光用マイクロコンピュータ30
0より測光用IC100に対して設定される積分値のレベル
(即ち、積分目標値)、及び、同マイクロコンピュータ
300よりゲートアレイ200の測光ブロック210に対して設
定される積算計数値(即ち、計数目標値)は、後に詳述
するように、露光補正等所要に応じ適切な値をとるべく
変更され得る。
Next, the exposure control operation will be described. Switch circuit 410
When the trigger button, which is a circuit element, is pressed, the system microcomputer 400 gives the photometric microcomputer 300 a command to switch the system operation from the pre-photometric operation described above to the exposure control operation. The exposure control operation of this system is performed by the so-called direct photometry method based on the photoelectric conversion output from the same photometric IC 100 as in the above-described pre-photometry. When the exposure control operation starts, a photoelectric conversion signal accumulation operation is started in the photometric IC 100, and at the same time, a command is issued to the image sensor to perform signal integration operation. The level of the integrated value of the photoelectric conversion signal in the photometric IC 100 (more precisely, the voltage of the capacitor corresponding to the time integrated value of the current corresponding to the photoelectric conversion) is measured by the microcomputer 300 for photometry at that time with respect to the IC 100. Each time it reaches the set level (that is, the integration target value),
The IC 100 gives an integration end pulse to the photometry block 210 of the gate array 200. The photometry block 210 performs integrated counting of this integration end pulse, and immediately after the calculation of each pulse,
Reset IC100. When the integrated count value in the photometric block 210 reaches a value (preset value) set from the system microcomputer 400 via the photometric microcomputer 300, the photometric block 210 transfers to the in-lens circuit 500 via the exposure control block 220. Give a control signal. On the basis of this control signal, the in-lens circuit regulates the exposure time, that is, performs operations such as closing the shutter and / or stopping the signal accumulation operation of the image sensor to end the exposure. In the above, the photometric microcomputer 30
The integrated value level (that is, the integration target value) set for the photometric IC 100 from 0, and the microcomputer
The integrated count value (that is, the target count value) set from 300 to the photometry block 210 of the gate array 200 can be changed to take an appropriate value as required, such as exposure correction, as described later in detail.

以上が本発明を適用してなる電子スチルカメラのシス
テムの概要であるが、本発明の更に詳細な構成並びに作
用・効果について以下に詳述する。
The above is the outline of the system of the electronic still camera to which the present invention is applied. The more detailed configuration, operation, and effect of the present invention will be described in detail below.

第1図は第2図のシステムにおける要部を詳細に示し
たブロック図である。第1図において記述の第2図との
対応部は同一の符号により示してある。図示のとおり、
測光用IC100は、入射光に応動する位置に配されたフォ
トダイオード101が入力の両端間に接続されたオペアン
プ102の出力が比較器103の一方の入力端に接続され、同
比較器103の他方の入力端に基準レベル信号Eγが与え
られるように構成されている。また、フォトダイオード
101のカソードとアースのとの間には積分コンデンサ104
が接続されている。積分コンデンサ104とフォトダイオ
ード101との接続中点はスイッチング用のFET105のドレ
ン・ソースを介して基準電圧Eiを発生する起電力手段
(電池)106の正極側に接続され、同電池106の負極側は
接地されている。第2図につき既述のとおり、ゲートア
レイ200は側光ブロック210と露出制御ブロック220の各
回路を有している。この測光ブロック210は、測光用IC1
00の比較器103の出力たる積分終了パルスIEを受けてFET
105のゲートにパルス状のリセット信号RTを与える充放
電制御回路211,測光用マイクロコンピュータ300と共通
のクロック信号を発生する発振回路600からのクロック
信号CLを受けて、測光用マイクロコンピュータ300から
の分周命令に応じた分周比で同クロックパルスを分周す
る分周器212,マイクロコンピュータ300からの測光/露
出制御切換信号MCに応動して、上記分周器212の出力信
号たる計数パルスCP及び上記測光用IC100の比較器103の
積分終了パルスIEの双方または一方を選択的に出力する
切換回路213,該切換回路213の出力パルスSCを計数する
8ビットカウンタ214,該8ビットカウンタ214の出力を
ラッチしてマイクロコンピュータ300に与えるラッチ215
をそれぞれ含んで構成されている。8ビットカウンタ21
4には、切換回路213を介して積分終了パルスIEを受け測
光終了信号EDとして露出制御ブロック220及び測光用マ
イクロコンピュータ300に与える機能が付加されてい
る。また後述のように8ビットカウンタ214へのプリセ
ット値が減算計数されてカウント数が0になったときに
もこの測光終了信号EDが出力される。上記充放電制御回
路211及び露出制御ブロック220には測光用マイクロコン
ピュータ300からの測光開始命令MSが与えられるように
なされている。上記測光用IC100の比較器103に与えられ
る基準レベル信号Eγは測光用マイクロコンピュータ30
0に付設されたD/A変換器301から出力される。
FIG. 1 is a block diagram showing in detail the main parts of the system of FIG. In FIG. 1, parts corresponding to those in FIG. 2 are designated by the same reference numerals. As shown,
In the photometric IC 100, the output of an operational amplifier 102 in which a photodiode 101 arranged at a position that responds to incident light is connected between both ends of an input is connected to one input end of a comparator 103, and the other end of the comparator 103 is connected. The reference level signal Eγ is applied to the input terminal of the. Also, the photodiode
Integrating capacitor 104 between the cathode of 101 and ground
Is connected. The midpoint between the integration capacitor 104 and the photodiode 101 is connected to the positive electrode side of the electromotive force means (battery) 106 that generates the reference voltage Ei via the drain / source of the FET 105 for switching, and the negative electrode side of the battery 106. Is grounded. As described above with reference to FIG. 2, the gate array 200 includes the side light block 210 and the exposure control block 220. This metering block 210 is a metering IC1
FET in response to the integration end pulse IE which is the output of the comparator 103 of 00
A charge / discharge control circuit 211 that gives a pulsed reset signal RT to the gate of 105, a clock signal CL from an oscillation circuit 600 that generates a clock signal that is common to the photometric microcomputer 300, and receives from the photometric microcomputer 300 Frequency divider 212 that divides the same clock pulse at a division ratio according to a division instruction, counting pulse that is an output signal of frequency divider 212 in response to photometry / exposure control switching signal MC from microcomputer 300 Switching circuit 213 for selectively outputting both or one of CP and integration end pulse IE of comparator 103 of photometric IC 100, 8-bit counter 214 for counting output pulse SC of switching circuit 213, 8-bit counter 214 215 that latches the output of
It is configured to include each. 8-bit counter 21
A function of receiving the integration end pulse IE through the switching circuit 213 and giving it to the exposure control block 220 and the photometry microcomputer 300 as a photometry end signal ED is added to the unit 4. Further, as will be described later, the photometry end signal ED is output even when the preset value to the 8-bit counter 214 is subtracted and counted and the count number becomes 0. To the charge / discharge control circuit 211 and the exposure control block 220, a photometry start command MS from the photometry microcomputer 300 is given. The reference level signal Eγ given to the comparator 103 of the photometric IC 100 is the photometric microcomputer 30.
It is output from the D / A converter 301 attached to 0.

上記構成の本発明を適用したシステムの作用につき以
下に詳述する。
The operation of the system to which the present invention having the above configuration is applied will be described in detail below.

図示しないレンズ(鏡筒)内に配された絞りは、測光
用マイクロコンピュータ300の指令により、測光動作中
は、レンズ内回路500により制御されて開放状態を維持
している。マイクロコンピュータ300から測光開始命令M
Sが充放電制御回路211に与えられると、該充放電制御回
路211はリセット信号RTを測光用IC100のFET105のゲート
に与える。FETはデューティの比較的小さいリセット信
号RTのハイレベル区間導通し、この間に積分コンデンサ
104が起電力手段106からの電流により基準電圧Eiまで充
電、即ち積分される。リセット信号RTがローレベルに転
じてより直ちにFET105によるスイッチが断たれ、積分コ
ンデンサ104に蓄積された電荷は、フォトダイオード101
への入射光量に対応した電流値をもって、同フォトダイ
オード101を通して放電される。積分コンデンサ104の正
極側電圧は、充電完了当初はEiであったものが、このと
きの充電流に対応した変化率をもって低下する。これに
ともないオペアンプ102の出力電圧も低下し、この電圧
が比較器103に対して設定されている基準レベル信号E
γのレベルに等しくなると、比較器103は積分終了パル
スIEを出力する。
A diaphragm arranged in a lens (lens barrel) (not shown) is controlled by an in-lens circuit 500 and maintains an open state during a photometric operation according to a command from the photometric microcomputer 300. Start command M from the microcomputer 300
When S is given to the charge / discharge control circuit 211, the charge / discharge control circuit 211 gives a reset signal RT to the gate of the FET 105 of the photometric IC 100. The FET conducts during the high level period of the reset signal RT with a relatively small duty, and the integration capacitor
The current from the electromotive force means 106 charges 104, that is, integrates it to the reference voltage Ei. Immediately after the reset signal RT changes to the low level, the switch by the FET 105 is cut off, and the charge accumulated in the integrating capacitor 104 is stored in the photodiode 101.
The light is discharged through the photodiode 101 with a current value corresponding to the amount of incident light. The voltage on the positive electrode side of the integrating capacitor 104, which was E i at the beginning of charging, drops at a rate of change corresponding to the charging flow at this time. Along with this, the output voltage of the operational amplifier 102 also drops, and this voltage is set to the reference level signal E set for the comparator 103.
When it becomes equal to the level of γ, the comparator 103 outputs the integration end pulse IE.

第3図は上述の各信号のタイミングを表わす図で、第
3図(a)は上述のリセット信号RT、第3図(b)は積
分コンデンサ104の正極端子電圧、第3図(c)は積分
終了パルスIEをそれぞれ示す。図示のように積分コンデ
ンサ104の充放電は、充放電制御回路211よりのリセット
信号RTに同期してくり返されるが、このリセット信号RT
は、毎回の積分終了パルスIEの到来毎に形成され発せら
れる。上述のとおり、第3図(b)に示すような、積分
コンデンサ104の正極電圧の変化は、同コンデンサの電
荷がフォトダイオード101を通して放電されることによ
るものであるが、この変化率は該放電の電流値、即ち該
電流値が比例関係を有するフォトダイオード101への入
射光量に比例したものとなる。放電電流の時間積分値
が、同区間内での積分コンデンサ101における放電電荷
量に等しい。
FIG. 3 is a diagram showing the timing of each signal described above. FIG. 3 (a) is the reset signal RT described above, FIG. 3 (b) is the positive terminal voltage of the integrating capacitor 104, and FIG. The integration end pulse IE is shown. As shown in the figure, the charging / discharging of the integrating capacitor 104 is repeated in synchronization with the reset signal RT from the charging / discharging control circuit 211.
Is formed and emitted at every arrival of the integration end pulse IE. As described above, the change in the positive electrode voltage of the integrating capacitor 104 as shown in FIG. 3 (b) is due to the electric charge of the same capacitor being discharged through the photodiode 101. Current value, that is, the current value is proportional to the amount of light incident on the photodiode 101 having a proportional relationship. The time integrated value of the discharge current is equal to the discharge charge amount in the integrating capacitor 101 within the same section.

即ち、積分コンデンサ104の容量をC,同コンデンサの
電圧が起電力手段106の電圧Eiから基準レベルEγまで
低下するとその放電電流をiSC電圧がEiからEγになる
迄の時間をtとすると、 上記(1)式より 上記(2)式における放電電流iSCが即ち入射光量に
対応するものであるが、積分コンデンサ101の容量Cは
一定になされているため、上記の時間tを測定すること
により入射光量を割り出すことができる。入射光量が変
動すると、毎回の放電における上記tの値t0,t1,t2……
は異なることになる。また入射光量が一定であってもE
γの値を変化させれば、tの値が変化することになる。
本システムでは8ビットカウンタ214において発振回路6
00から分周器212及び切換回路213を介して供給される所
定周波数の計数パルスCP(従って切換回路213の出力パ
ルスSC)を計数し、該計数値により上記時間tを求める
ように構成されている。
That is, when the capacity of the integrating capacitor 104 is C, and the voltage of the integrating capacitor 104 decreases from the voltage Ei of the electromotive force means 106 to the reference level Eγ, its discharge current is t, which is the time until the i SC voltage changes from Ei to Eγ. From the above formula (1) Although the discharge current i SC in the above equation (2) corresponds to the incident light amount, that is, the capacitance C of the integrating capacitor 101 is constant, so that the incident light amount can be determined by measuring the time t. You can When the amount of incident light fluctuates, the values of t in each discharge t 0 , t 1 , t 2 ...
Will be different. Even if the amount of incident light is constant, E
If the value of γ is changed, the value of t will change.
In this system, the 8-bit counter 214 includes an oscillator circuit 6
It is configured to count counting pulses CP (thus an output pulse SC of the switching circuit 213) of a predetermined frequency supplied from 00 through the frequency divider 212 and the switching circuit 213, and obtain the time t by the counted value. There is.

上記において、8ビットカウンタ214は、測光用マイ
クロコンピュータ300からの測光/露出制御切換信号MC
に応動する切換回路213により、分周器212からの計数パ
ルスCPまたは比較器103からの積分終了パルスIEを選択
的に計数可能になされている。システムコントロール用
マイクロコンピュータ400の指令により、本システムが
プリ測光モードで動作するときは、上記信号MCにより、
切換回路213は計数パルスCPを8ビットカウンタ214に供
給し計数せしめる。
In the above, the 8-bit counter 214 uses the photometry / exposure control switching signal MC from the photometry microcomputer 300.
The switching circuit 213 that responds to the above enables selective counting of the counting pulse CP from the frequency divider 212 or the integration end pulse IE from the comparator 103. When the system operates in the pre-metering mode in response to a command from the system control microcomputer 400, the signal MC causes
The switching circuit 213 supplies the counting pulse CP to the 8-bit counter 214 for counting.

第4図は、本発明の装置の動作を示すフローチャート
である。以下にこのフローチャートに沿って第1図及び
第2図のシステムの動作を説明する。測光動作がスター
トすると、測光用マイクロコンピュータ300は、D/A変換
器301を介して比較器103に基準レベル信号Eγを与え
る。更に、分周器212に対し分周命令DVを発して所定の
分周比を設定することにより該分周器212の出力たる計
数パルスCPの周波数Fを初期設定する。測光用マイクロ
コンピュータ300から測光開始命令MSが発せられ、これ
に基づき充放電制御回路211はリセット信号RTにより積
分コンデンサ104をリセット(即ち、電圧Eiまで充電)
する。同時にマイクロコンピュータ300は8ビットカウ
ンタ214をカウンタクリア命令CCによりリセットする。
このリセット直後より積分コンデンサ104の電圧は放電
によりフォトダイオード101への入射光量に対応する変
化率をもって降下し始める。積分コンデンサ104の電圧
の降下が継続する時間区間において、同時に8ビットカ
ウンタ214は切換回路213の出力SCとして供給される計数
パルスSCの計数を継続する。積分コンデンサ104の電圧
が降下し、オペアンプ102の出力が基準レベル信号Eγ
のレベルに達すると、比較器103より積分終了パルスIE
が発せられる。この積分終了パルスIEに基づき充放電制
御回路211は再度リセット信号RTを発し、これにより積
分コンデンサ104の充放電動作が上述同様にくり返され
る。積分終了パルスIEはまた、切換回路213,8ビットカ
ウンタ214(8ビットのカウンタ部とは別途付設された
回路)を上記の順に介して、測光終了信号EDとして測光
用マイクロコンピュータ300に与えられる。マイクロコ
ンピュータ300は、この測光終了信号EDを受けると、8
ビットカウンタ214のカウント数Dをラッチ215を介して
読み込む。上記動作において、フォトダイオード101へ
の入射光量が多いときは積分コンデンサ104の放電も速
やかになされて、同コンデンサ104の電圧は比較的短時
間のうちに基準レベルEγに達するが、入射光量が少な
いときは、積分コンデンサ104電圧がEγに達する迄に
は比較的長時間を要することになる。従って入射光量が
極めて少ないと、上記放電時間が延長され、この時間を
カウントする8ビットカウンタ211がオーバーフローす
る虞れがある。特に本システムでは、プリ測光モードに
おいては所謂開放測光が行なわれるため、必要とされる
測光のダイナミックレンジは極めて広く、約100dB程度
である。この広いダイナミックレンジにおいて±10%程
度の識別精度を確保するには、通常の場合は20桁程度の
カウンタが必要とされる。しかしながら本システムでは
測光用マイクロコンピュータ300により上記カウント数
Dの値をモニタし、このDの値が所定範囲内の値となる
べく、基準レベルEγ及びカウントパルスCPの周波数F
を変更するようにしている。これにより、通常なら20ビ
ット程度のカウンタを用いなければカバーすることので
きない広いダイナミックレンジを僅か8ビットのカウン
タにより十分な精度でカバーすることが可能となってい
る。即ち、測光用マイクロコンピュータ300は、上述の
ようにして読み込んだ8ビットカウンタ214のカウント
数Dが十進数で11から255までの範囲内にあるか否かを
弁別し、Dの値が上記範囲を逸脱した場合には、D/A変
換器301を介して比較器103に与えられる基準信号Eγの
レベル、及び/または、分周命令DVにより制御される分
周器212による計数パルスCPの周波数Fを変更し再設定
する。この再設定によってもカウント数Dが上記範囲内
に入らない場合には、基準信号Eγのレベル及び/また
は計数パルスCPの周波数Fを更に変更し再々設定する。
積分コンデンサ104の充放電にともなう上記のような8
ビットカウンタ214の計数動作は毎秒10回程度くり返さ
れるよう構成されている。カウント数Dが上記範囲内に
あることを弁別すると、測光用マイクロコンピュータ30
0は、このときのカウント数D,基準レベルEγ,計数パ
ルスCPの周波数Fに基づいて入射光量を算出する。
FIG. 4 is a flowchart showing the operation of the device of the present invention. The operation of the system shown in FIGS. 1 and 2 will be described below with reference to this flowchart. When the photometric operation starts, the photometric microcomputer 300 gives the reference level signal Eγ to the comparator 103 via the D / A converter 301. Further, by issuing a frequency division command DV to the frequency divider 212 and setting a predetermined frequency division ratio, the frequency F of the counting pulse CP which is the output of the frequency divider 212 is initialized. A photometric start command MS is issued from the photometric microcomputer 300, and based on this, the charge / discharge control circuit 211 resets the integrating capacitor 104 by a reset signal RT (that is, charges to the voltage Ei).
To do. At the same time, the microcomputer 300 resets the 8-bit counter 214 by the counter clear command CC.
Immediately after this reset, the voltage of the integrating capacitor 104 begins to drop at a rate of change corresponding to the amount of light incident on the photodiode 101 due to discharge. During the time period in which the voltage of the integrating capacitor 104 continues to drop, the 8-bit counter 214 simultaneously continues counting the counting pulse SC supplied as the output SC of the switching circuit 213. The voltage of the integrating capacitor 104 drops, and the output of the operational amplifier 102 becomes the reference level signal Eγ.
When the level of reaches the level of
Is emitted. Based on this integration end pulse IE, the charging / discharging control circuit 211 again issues the reset signal RT, whereby the charging / discharging operation of the integrating capacitor 104 is repeated as described above. The integration end pulse IE is also supplied to the microcomputer for photometry 300 as a photometry end signal ED via the switching circuit 213 and the 8-bit counter 214 (a circuit additionally provided in addition to the 8-bit counter section) in the above order. When the microcomputer 300 receives the photometry end signal ED, the microcomputer 8
The count number D of the bit counter 214 is read via the latch 215. In the above operation, when the amount of light incident on the photodiode 101 is large, the integrating capacitor 104 is also quickly discharged, and the voltage of the capacitor 104 reaches the reference level Eγ in a relatively short time, but the amount of incident light is small. In this case, it takes a relatively long time for the voltage of the integrating capacitor 104 to reach Eγ. Therefore, if the amount of incident light is extremely small, the discharge time is extended and the 8-bit counter 211 that counts this time may overflow. Especially in this system, so-called open metering is performed in the pre-metering mode, so that the required dynamic range of metering is extremely wide, about 100 dB. In order to secure the identification accuracy of about ± 10% in this wide dynamic range, a counter of about 20 digits is usually required. However, in this system, the value of the count number D is monitored by the photometric microcomputer 300, and the reference level Eγ and the frequency F of the count pulse CP are adjusted so that the value of D is within a predetermined range.
I am trying to change. As a result, it is possible to cover a wide dynamic range, which cannot be covered unless a counter of about 20 bits is normally used, with a counter of only 8 bits with sufficient accuracy. That is, the photometric microcomputer 300 discriminates whether or not the count number D of the 8-bit counter 214 read as described above is within the range of 11 to 255 in decimal, and the value of D is within the range. , The level of the reference signal Eγ given to the comparator 103 via the D / A converter 301 and / or the frequency of the counting pulse CP by the frequency divider 212 controlled by the frequency division command DV. Change F and reset. If the count D does not fall within the above range even by this resetting, the level of the reference signal Eγ and / or the frequency F of the counting pulse CP is further changed and reset again.
8 as described above due to charging and discharging of the integration capacitor 104
The counting operation of the bit counter 214 is configured to be repeated about 10 times per second. If it is discriminated that the count number D is within the above range, the photometric microcomputer 30
0 calculates the incident light quantity based on the count number D, the reference level Eγ, and the frequency F of the counting pulse CP at this time.

本システムでは、この入射光量の算出についても極め
て効率の良い演算の手段を講じている。即ち、測光用マ
イクロコンピュータ300は自己のROM内に各カウント数D
(カウント数の範囲)毎に対応するカウントコードD′
が設定されたコード化用のテーブルを備えており、この
テーブルに基づいてカウント数Dを、直接的に、あるカ
ウント数DをD=a(aはある整数値)を基準としたと
きの相対値の対数値(後述の相対的Ev値)を表わすコー
ドに変換してしまう。即ち、個々のカウント数のコード
化について、個別にコード化のための演算は必要とされ
ない。
In this system, an extremely efficient calculation means is used also for the calculation of the incident light amount. That is, the photometric microcomputer 300 stores each count number D in its own ROM.
Count code D'corresponding to each (count range)
Is provided for encoding, and based on this table, the count number D is directly relative to a certain count number D based on D = a (a is a certain integer value). Convert it to a code that represents the logarithmic value of the value (relative Ev value described later). That is, with respect to the coding of each count number, a separate calculation for coding is not required.

第5図は、上述のようにROM内に設定されたテーブル
の内容を示す図である。図示のようにカウント数Dに対
応するカウントコードD′は必ずしも1対1に対応する
ものではなく、カウント数Dの成る範囲の値毎に各1つ
のカウントコードD′が対応するようになされている。
各カウントコードd1,d2,d3……,dm,……dn-1,dnは各1
つの相対的Ev値e1,e2,e3,……,0,……en-1,enに対応し
ている。ここに、相対的Ev値とは、カウント数D=aを
基準とし、これに対する各カウント数領域の中央値(メ
ジアン)Dmの比率Dm/aの2を底とする対数値である。カ
ウント数Dをこのような対数値に変換することによって
周知のアペックス(APEX)方式により露光量の演算を簡
単に行なうことができる。相対的Ev値は個々には小数点
以下の端数を含む値をとるが、本システムでは各相対的
Ev値を整数値であるカウントコードD′に対応させるこ
とによって演算がより簡素化されるようにしている。第
5図のテーブルについて、カウント数D(中央値Dm)が
aのときが相対的Ev値における基準とされているので、
Dm=aに対応する相対的Ev値は0であり、これに対しカ
ウントコードdmが対応付けられている。カウント数238
以上255以下(中央値Dm=252)のときは相対的Ev値はEv
=log2(252/a)=e1(e1は具体的には少数を含み得る
ある数)、これに対応するカウントコードがd1(d1は具
体的にはある整数)である。測光用マイクロコンピュー
タ300は、以上のようなテーブルに基づいてカウントコ
ードD′を求め露光量の演算を実行する。この演算式は
以下のようなものである。
FIG. 5 is a diagram showing the contents of the table set in the ROM as described above. As shown in the figure, the count code D'corresponding to the count number D does not necessarily correspond one-to-one, and each count code D'corresponds to each value in the range of the count number D. There is.
Each count code d 1 , d 2 , d 3 ......, d m , ...... d n-1 , d n is 1 each
One of the relative Ev values e 1, e 2, e 3 , ......, 0, corresponds to ...... e n-1, e n . Here, the relative Ev value is a logarithmic value whose base is the count number D = a and whose base is 2 of the ratio Dm / a of the median value (median) Dm of each count number region. By converting the count number D into such a logarithmic value, the exposure amount can be easily calculated by the well-known APEX system. Relative Ev value takes a value including fractions below the decimal point, but in this system, each relative Ev value
The calculation is further simplified by making the Ev value correspond to the count code D ′ which is an integer value. In the table of FIG. 5, when the count number D (median value Dm) is a, the relative Ev value is used as a reference.
The relative Ev value corresponding to Dm = a is 0, and the count code dm is associated with this. Count number 238
When it is above 255 and below (median Dm = 252), the relative Ev value is Ev
= Log 2 (252 / a) = e 1 (e 1 is a certain number that can specifically include a decimal number), and the corresponding count code is d 1 (d 1 is a certain integer). The photometric microcomputer 300 obtains the count code D ′ on the basis of the above table and executes the exposure amount calculation. This arithmetic expression is as follows.

A+k(Eγ+F)+D′ ……(3) 但し、A:開放絞り(F値) k:比例定数 Eγ:比較器103の基準レベル F:計数パルスCPの周波数 であって、各値は全てコードにより表わされる。A + k (Eγ + F) + D '(3) where A: open aperture (F value) k: proportional constant Eγ: reference level of comparator 103 F: frequency of counting pulse CP Represented.

測光用マイクロコンピュータ300は、上記(3)式の
演算により入射光量を算出し、この値に基づいてこのと
き外部より設定されている絞り値(絞り優先モード)ま
たはシャッタスピード(シャッタ優先モード)に対応し
た最適なシャッタスピードまたは絞り値の表示を行なう
べく、表示用のデータをシステムコントロール用マイク
ロコンピュータ400に転送する。システムコントロール
用マイクロコンピュータ400はこのデータに基づき表示
のための動作を行なう。また、測光用マイクロコンピュ
ータ300は、本システムが絞り優先モードまたはシャッ
タ優先モードにあるときは、撮影時に上記最適なシャッ
タスピードまたは絞り値で動作せしめるべく、露出制御
命令ECを露出制御ブロック220に与え、レンズ内回路500
に所要の動作を行なわしめる。本システムがプログラム
モードにあるときも、入射光量に対応した絞り値及びシ
ャッタスピードが測光用マイクロコンピュータ300内のR
OMに設定されたプログラムに基づいて求められ、これら
のデータに対応した露出制御命令ECが発せられ、上述同
様にレンズ内回路500が動作せしめられる。尚、露出制
御ブロック220とレンズ内回路500との間の命令やデータ
の授受に関しては、適宜のデータ並/直列変換手段及び
データ値/並列変換手段が介挿されることにより、少数
の(或いは単一の)導体により、多数の命令やデータの
伝達が可能になされている。
The photometric microcomputer 300 calculates the amount of incident light by the calculation of the equation (3), and based on this value, the aperture value (aperture priority mode) or the shutter speed (shutter priority mode) set from the outside at this time. The display data is transferred to the system control microcomputer 400 in order to display the corresponding optimum shutter speed or aperture value. The system control microcomputer 400 performs a display operation based on this data. Further, when the system is in the aperture priority mode or the shutter priority mode, the photometric microcomputer 300 gives the exposure control command EC to the exposure control block 220 to operate at the optimum shutter speed or aperture value at the time of shooting. , Circuit in lens 500
To perform the required operation. Even when the system is in the program mode, the aperture value and shutter speed corresponding to the incident light amount are set in the microcomputer 300 for photometry.
The exposure control command EC corresponding to these data is issued based on the program set in the OM, and the in-lens circuit 500 is operated as described above. Regarding transmission and reception of commands and data between the exposure control block 220 and the in-lens circuit 500, a small number (or a single value) can be obtained by inserting an appropriate data parallel / serial conversion means and data value / parallel conversion means. The conductor) enables the transmission of a large number of commands and data.

第6図は、種々の入射光量に応じて、基準レベルEγ
及び計数パルスCPの周波数Fを設定するときの、これら
の設定値の対応する入射光量の領域を表わした線図であ
る。例えば入射光量が最も多い(I)の領域では、基準
レベルEγはa1に、計数パルスCPの周波数Fはb1に設定
される。同様に入射光量が第3位の(III)の領域では
Eγはa3に、Fはb3に設定される。本例の場合、b3はb1
よりも低く設定される。
FIG. 6 shows the reference level Eγ depending on various incident light amounts.
3 is a diagram showing a region of incident light amount corresponding to these set values when setting the frequency F of the counting pulse CP. For example in the area of the incident light amount is largest (I), the reference level Eγ to a 1, the frequency F of the count pulse CP is set to b 1. Similarly, in the region (III) where the amount of incident light is the third place, Eγ is set to a 3 and F is set to b 3 . In this example, b 3 is b 1
Set lower than.

以下に、本システムの露出制御モードでの動作につき
説明する。前述のとおり、本システムにおける露出制御
は所謂ダイレクト測光方式による。
The operation of this system in the exposure control mode will be described below. As described above, the exposure control in this system is based on the so-called direct photometry method.

トリガボタンの押圧等を検知して、システムコントロ
ール用マイクロコンピュータ400が本システムを露出制
御モードに切換えると、測光用マイクロコンピュータ30
0はこれを受けて、測光/露出制御切換信号MCにより切
換回路213を切換える。即ち、比較例103からの積分終了
パルスIEを8ビットカウンタ214に被計数パルスとして
供給する状態にする。更に露出制御動作をノーマルな状
態で行なうか或いは露出補正を何段行なうか等に応じた
値を測光用マイクロコンピュータ300よりプリセットデ
ータPSとして8ビットカウンタ214にプリセットし、及
び/又は基準レベル信号Eγのレベルを設定する。上記
8ビットカウンタ214にプリセットされるプリセットデ
ータPSが本実施例における計数目標値であり、基準レベ
ル信号Erのレベルが本実施例における積分目標値であ
る。露光動作が開始すると、このときの撮像素子に対す
る露光強度、従って同じ条件で露光されるフォトダイオ
ード101に対する入射光量に応じた変化率をもって、積
分コンデンサ104の正極電圧が当初の値Eiから低下す
る。これによりオペアンプ102の出力レベルが比較器103
における基準レベルEγに達すると、同比較器103より
積分終了パルスIEが発せられるのは、上述のプリ測光の
場合と同様である。しかしながら、この場合は、上述の
とおり本システムは露出制御モードにあるため、積分終
了パルスIEは切換回路213を通して、8ビットカウンタ2
14に対して減算計数をするように供給される。積分コン
デンサ104の充放電動作自体は、上述のプリ測光時と全
く同様にくり返され得る。積分終了パルスIEの到来毎
に、8ビットカウンタ214は上述のプリセット値(PS)
から逐一減算カウントされ、8ビットカウンタ214の値
が0になると、同カウンタ214から測光終了信号EDが発
せられる。露出制御ブロック220はこの測光終了信号ED
を受けるとレンズ内回路500に露光を終了させる指令を
発する。レンズ内回路500はこの指令に応動して、シャ
ッタを閉じる等露光終了のための所要の動作を行なう。
従って、本システムでは、積分コンデンサ104のm回の
放電に要する時間、即ち積分終了パルスがm回発せられ
るまでの時間がノーマルな露光時間に対応するように設
定しておけば、8ビットカウンタ214におけるプリセッ
ト値PSをmとすることにより、適切な露光制御がなされ
ることになる。また、プリセット値PSを2m,22・m,…
…,22n・mとすればn段のオーバーの露出補正がなさ
れ、逆にPSをm/2,m/22,……,m/22nとすれば段のアンダ
ーの露出補正が行なわれ得る。上記において、積分コン
デンサ104の1回の放電に対応する時間は比較器103に設
定される基準レベルEγに応じて変更され得る。即ちEi
からEγまでの幅が狭く設定される程1回の放電時間、
従ってカウンタにおける1回の計数に対応する時間は、
短縮される。このため、Ei〜Eγの幅を狭く設定するこ
とにより,更に木目の細かい露出補正をかけることが可
能となる。
When the system control microcomputer 400 switches the system to the exposure control mode by detecting the pressing of the trigger button, the photometric microcomputer 30
In response to this, 0 switches the switching circuit 213 by the photometry / exposure control switching signal MC. That is, the integration end pulse IE from the comparative example 103 is supplied to the 8-bit counter 214 as a counted pulse. Further, the 8-bit counter 214 is preset as preset data PS by the photometric microcomputer 300 as preset data PS and / or a reference level signal Eγ is set according to whether the exposure control operation is performed in a normal state or how many steps of exposure correction are performed. Set the level of. The preset data PS preset in the 8-bit counter 214 is the counting target value in this embodiment, and the level of the reference level signal Er is the integration target value in this embodiment. When the exposure operation starts, the positive electrode voltage of the integrating capacitor 104 decreases from the initial value Ei with a change rate according to the exposure intensity to the image pickup element at this time, that is, the incident light amount to the photodiode 101 exposed under the same condition. As a result, the output level of the operational amplifier 102 is changed to the comparator 103.
When the reference level Eγ in (1) is reached, the integration end pulse IE is emitted from the comparator 103, as in the case of the pre-photometry described above. However, in this case, since the system is in the exposure control mode as described above, the integration end pulse IE passes through the switching circuit 213 and the 8-bit counter 2
14 is provided to perform a subtraction count. The charging / discharging operation itself of the integrating capacitor 104 can be repeated exactly as in the above-described pre-photometry. Each time the integration end pulse IE arrives, the 8-bit counter 214 causes the above-mentioned preset value (PS)
When the value of the 8-bit counter 214 becomes 0, the counter 214 issues a photometry end signal ED. The exposure control block 220 uses this metering end signal ED
When receiving the signal, it issues a command to the lens internal circuit 500 to end the exposure. In response to this command, the in-lens circuit 500 performs a required operation such as closing the shutter to end the exposure.
Therefore, in this system, if the time required for discharging the integration capacitor 104 m times, that is, the time until the integration end pulse is emitted m times is set to correspond to the normal exposure time, the 8-bit counter 214 is used. Appropriate exposure control is performed by setting the preset value PS at m to m. In addition, the preset value PS is set to 2m, 2 2 ・ m,…
..., 2 2n · m, the exposure compensation of over exposure of n steps is done, and conversely, if PS is m / 2, m / 2 2 , ..., m / 2 2n , the exposure of under exposure of the step is performed. Can be In the above, the time corresponding to one discharge of the integrating capacitor 104 can be changed according to the reference level Eγ set in the comparator 103. Ie Ei
As the width from E to Eγ is set narrower, one discharge time,
Therefore, the time corresponding to one count in the counter is
Be shortened. Therefore, by setting the width of Ei to Eγ to be narrow, it becomes possible to perform finer exposure correction.

上記を要するに、本システムは、フォトダイオード10
1はプリ測光用の受光素子と露出制御(ダイレクト測
光)用の受光素子の機能を兼備するように構成されてい
る。また、入射光量に応じて計数パルスの周波数等計数
条件を変更することにより、比較的少ないビット数のカ
ウンタで広域のダイナミックレンジをカバーすることが
できる。更に、同一の8ビットカウンタ214を用いて、
プリ測光のための計数機能(計時機能)と、露出補正の
段数設定機能を兼備するように構成されている。各機能
の切換えは、システムコントロール用マイクロコンピュ
ータ400がトリガボタンの操作等を検知することに基づ
き、システムコントロール用マイクロコンピュータ400
の発する指令を測光用マイクロコンピュータ300が受
け、モード切換えの動作を行なうことによりなされる。
In summary, the system is based on the photodiode 10
1 is configured to have the functions of a light receiving element for pre-photometry and a light receiving element for exposure control (direct photometry). Further, by changing the counting condition such as the frequency of the counting pulse according to the amount of incident light, it is possible to cover a wide dynamic range with a counter having a relatively small number of bits. Furthermore, using the same 8-bit counter 214,
It is configured to have a counting function (time measuring function) for pre-photometry and a step number setting function for exposure compensation. Switching of each function is based on the fact that the system control microcomputer 400 detects the operation of the trigger button, etc.
This is done by receiving a command issued by the photometric microcomputer 300 and performing a mode switching operation.

尚、上述のシステムではシャッタをレンズ内に有し、
これをレンズ内回路によって駆動し露光の制御を行なう
ように構成されていたが、本発明思想はこれに限定され
るものではない。即ち、フォーカルプレーンシャッタ乃
至はシャッタの機能に対応する撮像素子の駆動手段(所
謂素子シャッタ)を装置の本体側に有し、これを駆動す
ることによって露光の制御を行なうように構成してもよ
い。
In the above system, the shutter is provided inside the lens,
Although this is driven by the circuit in the lens to control the exposure, the idea of the present invention is not limited to this. That is, a focal plane shutter or a driving means (so-called element shutter) of the image pickup device corresponding to the function of the shutter may be provided on the main body side of the apparatus, and the exposure may be controlled by driving this. .

〔発明の効果〕〔The invention's effect〕

開放測光等では、測光手段に極めて広いダイナミック
レンジが要求されるが、本発明では、上述のように計数
パルスの周波数その他の計数条件を変更する手段を有す
るため、比較的段数の少ないカウンタを適用した簡単で
小規模な回路構成により、所要の測光精度を維持したま
まで、広域のダイナミックレンジを十分カバーすること
ができる。
In open metering and the like, the photometric means is required to have an extremely wide dynamic range. However, since the present invention has means for changing the counting pulse frequency and other counting conditions as described above, a counter having a relatively small number of stages is applied. With such a simple and small-scale circuit configuration, it is possible to sufficiently cover a wide dynamic range while maintaining the required photometric accuracy.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

第1図は第2図のシステムにおける要部を詳細に示した
ブロック図、第2図は本発明の実施例としての装置を含
んで構成された電子スチルカメラのシステムを表わすブ
ロック図、第3図(a),(b),(c)は本発明の動
作の説明に供するタイミング図、第4図は本発明の装置
の動作を示すフローチャート、第5図は本発明の装置に
おけるROMに設定されたテーブルの内容を示す図、第6
図は本発明の説明に供する線図である。 100……測光用IC,101……フォトダイオード,200……ゲ
ートアレイ,210……測光ブロック,211……充放電制御回
路,212……分周器,214……8ビットカウンタ,220……露
出制御ブロック,300……測光用マイクロコンピュータ,3
01……D/A変換器,400……システムコントロール用マイ
クロコンピュータ
FIG. 1 is a block diagram showing in detail the main parts of the system shown in FIG. 2, and FIG. 2 is a block diagram showing a system of an electronic still camera including an apparatus as an embodiment of the present invention. (A), (b) and (c) are timing charts for explaining the operation of the present invention, FIG. 4 is a flowchart showing the operation of the device of the present invention, and FIG. 5 is set in the ROM of the device of the present invention. Showing the contents of the created table, No. 6
The drawings are diagrams for explaining the present invention. 100 …… Photometric IC, 101 …… Photodiode, 200 …… Gate array, 210 …… Photometry block, 211 …… Charge / discharge control circuit, 212 …… Divider, 214 …… 8-bit counter, 220 …… Exposure control block, 300 ... Microcomputer for photometry, 3
01 …… D / A converter, 400 …… Microcomputer for system control

Claims (3)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】入射光量に応じた変化率を呈する光電変換
出力を得る光電変換手段と、 当該露光の開始に相応した時点から露光時間の進行と共
に上記光電変換出力を積分したものに対応する出力を得
る積分手段と、 上記積分手段における積分目標値を可変設定するための
積分目標値設定手段と、 上記露光の継続中に上記積分手段の出力が上記積分目標
値に達する毎に上記積分手段をリセットする手段と、 上記積分手段の出力が上記積分目標値に達した回数を計
数する計数手段と、 上記計数手段における計数目標値を可変設定するための
計数目標値設定手段と、を備え、上記積分目標値および
上記計数目標値ならびに上記計数手段における計数結果
に基づいて露出制御を行うように構成されたことを特徴
とする露出制御装置。
1. A photoelectric conversion means for obtaining a photoelectric conversion output exhibiting a rate of change in accordance with the amount of incident light, and an output corresponding to an integral of the photoelectric conversion output as the exposure time progresses from the time corresponding to the start of the exposure. , An integration target value setting means for variably setting the integration target value in the integration means, and the integration means each time the output of the integration means reaches the integration target value while the exposure is continued. A resetting means, a counting means for counting the number of times the output of the integrating means reaches the integral target value, and a counting target value setting means for variably setting the counting target value in the counting means, An exposure control device configured to perform exposure control based on an integration target value, the counting target value, and a counting result of the counting means.
【請求項2】入射光量に応じた変化率を呈する光電変換
出力を得る光電変換手段と、 当該露光の開始に相応した時点から露光時間の進行と共
に上記光電変換出力を積分したものに対応する出力を得
る積分手段と、 上記積分手段における積分目標値を可変設定するための
積分目標値設定手段と、 上記露光の継続中に上記積分手段の出力が上記積分目標
値に達する毎に上記積分手段をリセットする手段と、 上記積分手段の出力が上記積分目標値に達した回数を計
数する計数手段と、 を備え、上記積分目標値および上記計数手段における計
数結果に基づいて露出制御を行うように構成されたこと
を特徴とする露出制御装置。
2. A photoelectric conversion means for obtaining a photoelectric conversion output exhibiting a rate of change according to the amount of incident light, and an output corresponding to an integration of the photoelectric conversion output with the progress of exposure time from the time corresponding to the start of the exposure. , An integration target value setting means for variably setting the integration target value in the integration means, and the integration means each time the output of the integration means reaches the integration target value while the exposure is continued. A resetting means and a counting means for counting the number of times the output of the integrating means reaches the integration target value, and the exposure control is performed based on the integration target value and the counting result of the counting means. An exposure control device characterized by being performed.
【請求項3】入射光量に応じた変化率を呈する光電変換
出力を得る光電変換手段と、 当該露光の開始に相応した時点から露光時間の進行と共
に上記光電変換出力を積分したものに対応する出力を得
る積分手段と、 上記露光の継続中に上記積分手段の出力が所定の積分目
標値に達する毎に上記積分手段をリセットする手段と、 上記積分手段の出力が上記積分目標値に達した回数を計
数する計数手段と、 上記計数手段における計数目標値を可変設定するための
計数目標値設定手段と、を備え、上記計数目標値および
上記計数手段における計数結果に基づいて露出制御を行
うように構成されたことを特徴とする露出制御装置。
3. A photoelectric conversion means for obtaining a photoelectric conversion output exhibiting a rate of change in accordance with the amount of incident light, and an output corresponding to the integration of the photoelectric conversion output with the progress of exposure time from the time corresponding to the start of the exposure. And a means for resetting the integration means each time the output of the integration means reaches a predetermined integration target value while continuing the exposure, and the number of times the output of the integration means reaches the integration target value. And counting target value setting means for variably setting the counting target value in the counting means, and exposure control is performed based on the counting target value and the counting result in the counting means. An exposure control device characterized by being configured.
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