JP2538074C

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Publication number: JP2538074C
Authority: JP
Original assignee: Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Current assignee: Panasonic Holdings Corp
Publication date: 1998-04-15

Description

【発明の詳細な説明】産業上の利用分野本発明は、マイクロコンピュータ及びそのマイクロコンピュータと非同期で動
作する機能回路を備えた論理集積回路に関するものである。従来の技術集積回路の集積度の向上に伴い、それぞれ非同期で動作する発振回路を備えた
、複数の機能回路を１つのチップの中で構成することが多くなってきた。以下こうした機能をもった従来の半導体集積回路について説明する。第２図は、マイクロコンピュータと、そのマイクロコンピュータと非同期で動
作する機能回路を備えた半導体集積回路の構成を示す図であり、機能回路は説明
の便宜上１個のものを示した。図中１は、マイクロコンピュータ、２はマイクロ
コンピュータを動作させるクロックを発生するための第１の発振回路、３はマイ
クロコンピュータ１からの半導体集積回路外部への出力端子、４は前記マイクロ
コンピュータ１によって制御される機能回路、５はその機能回路４を動作させる
クロックを発生する第２の発振回路、６は機能回路４からの半導体集積回路装置
外部への出力端子である。以上のような半導体集積回路の機能テストを行う場合には、まず、第１の発振
回路２とマイクロコンピュータ１を動作させ、第１の発振回路２と同期したタイ
ミングで、マイクロコンピュータ１の出力端子３の出力をテストする。次に、第
１の発振回路２とマイクロコンピュータ１、及び、第２の発振回路５と機能回路
４を動作させ、第２の発振回路５と同期したタイミングで、機能回路４の出力端
子６で、機能回路４の動作をテストする。発明が解決しようとする課題以上のような構成では、マイクロコンピュータ１と機能回路４の出力信号が非
同期であるため、２つのタイミングで個々にテストする必要がありテストが複雑
で効率が悪いといった課題が生じる。本発明は、上記従来の課題を解決するもので、テストを簡単化する事のできる
論理集積回路を提供することを目的とする。課題を解決するための手段この目的を達成するために本発明の論理集積回路は、機能回路のクロック入力
として、その機能回路を動作させるために設けられた第２の発振回路で発生する
クロック、または、前記機能回路を制御するマイクロコンピュータのシステムク
ロックのどちらかをマイクロコンピュータにより選択できる制御回路を備えてい
る。作用この構成によって、機能テストを行う場合に機能回路のクロック入力として、
マイクロコンピュータのシステムクロックを入力することにより、マイクロコン
ピュータと同期させることが可能となり、単一のタイミングでテストを行うこと
ができテストの効率を高めることができる。実施例以下、本発明の一実施例について、図面を参照しながら説明する。第１図は本発明の一実施例における論理集積回路装置の構成を示すものである
。第１図において、１はマイクロコンピュータ、２はマイクロコンピュータ１の
クロックを発生する第１の発振回路、３はマイクロコンピュータ１からの論理集
積回路装置外部への出力端子、４は機能回路、５は機能回路４のクロックを発生
するための第２の発振回路、６は機能回路４からの論理集積回路外部への出力端子
であり、これらは従来例の構成と同じである。７はマイクロコンピュータ１のシ
ステムクロック信号線、８はマイクロコンピュータ１からの制御信号線、９は発
振回路５の出力と、マイクロコンピュータ１のシステムクロック線７とを、マイ
クロコンピュータ１からの制御信号線８によって切り換える機能をもつ制御回路
である。以上のように構成された実施例の集積回路のテスト方法について、以下に説明
する。第１の発振回路２とマイクロコンピュータ１を動作させ、制御信号線８により
制御回路９でマイクロコンピュータ１のシステムクロック線７を選択する。これ
によりマイクロコンピュータ１と機能回路４は、第１の発振回路２と同期して動
作し、外部への出力端子３と６からは同期した信号が出力される。以上のように本実施例によれば、マイクロコンピュータ１の出力端子３と機能
回路４の出力端子６より出る信号は、両者とも第１の発振回路２の出力と同期し
た信号が得られ、単一のタイミングでマイクロコンピュータ１と機能回路４のテ
ストを行うことができる。発明の効果本発明は、機能テストする場合に機能回路のクロック入力として、マイクロコ
ンピュータのシステムクロックを入力することにより、それぞれ非同期で動作す
るマイクロコンピュータと機能回路の両出力端子より同期した出力信号が得られ
個々に測定していた２つの機能が同時に測定でき、テストの効率化及び時間短縮
が可能である。Description: BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a microcomputer and a logic integrated circuit having a functional circuit that operates asynchronously with the microcomputer. 2. Description of the Related Art With an increase in the degree of integration of integrated circuits, a plurality of functional circuits each provided with an oscillating circuit that operates asynchronously have been increasingly configured in one chip. Hereinafter, a conventional semiconductor integrated circuit having such a function will be described. FIG. 2 is a diagram showing the configuration of a microcomputer and a semiconductor integrated circuit having a functional circuit that operates asynchronously with the microcomputer, and one functional circuit is shown for convenience of explanation. In the figure, 1 is a microcomputer, 2 is a first oscillation circuit for generating a clock for operating the microcomputer, 3 is an output terminal from the microcomputer 1 to the outside of the semiconductor integrated circuit, and 4 is a microcomputer. The functional circuit 5 to be controlled is a second oscillation circuit that generates a clock for operating the functional circuit 4, and 6 is an output terminal from the functional circuit 4 to the outside of the semiconductor integrated circuit device. When the function test of the semiconductor integrated circuit as described above is performed, first, the first oscillation circuit 2 and the microcomputer 1 are operated, and the output terminal of the microcomputer 1 is synchronized with the first oscillation circuit 2 at the same timing. Test the output of 3. Next, the first oscillating circuit 2 and the microcomputer 1 and the second oscillating circuit 5 and the functional circuit 4 are operated, and at the timing synchronized with the second oscillating circuit 5, the output terminal 6 of the functional circuit 4 is operated. Then, the operation of the functional circuit 4 is tested. Problems to be Solved by the Invention In the above configuration, since the output signals of the microcomputer 1 and the functional circuit 4 are asynchronous, it is necessary to test individually at two timings, and the test is complicated and inefficient. Occurs. An object of the present invention is to solve the above-mentioned conventional problems and to provide a logic integrated circuit capable of simplifying a test. Means for Solving the Problems In order to achieve this object, a logic integrated circuit according to the present invention comprises, as a clock input of a functional circuit, a clock generated by a second oscillation circuit provided for operating the functional circuit; Alternatively, the microcomputer is provided with a control circuit which can select one of a system clock of the microcomputer for controlling the functional circuit by the microcomputer. Operation With this configuration, when performing a functional test,
By inputting the system clock of the microcomputer, it becomes possible to synchronize with the microcomputer, and the test can be performed at a single timing, so that the test efficiency can be improved. Embodiment Hereinafter, an embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings. FIG. 1 shows a configuration of a logic integrated circuit device according to an embodiment of the present invention. In FIG. 1, 1 is a microcomputer, 2 is a first oscillation circuit for generating a clock of the microcomputer 1, 3 is an output terminal from the microcomputer 1 to the outside of the logic integrated circuit device, 4 is a functional circuit, and 5 is a functional circuit. A second oscillation circuit 6 for generating a clock for the functional circuit 4 is an output terminal from the functional circuit 4 to the outside of the logic integrated circuit, which has the same configuration as that of the conventional example. 7 is a system clock signal line of the microcomputer 1, 8 is a control signal line from the microcomputer 1, 9 is an output of the oscillation circuit 5, and a system clock line 7 of the microcomputer 1 is a control signal line from the microcomputer 1. 8 is a control circuit having a function of switching by using the control circuit 8. A test method of the integrated circuit of the embodiment configured as described above will be described below. The first oscillation circuit 2 and the microcomputer 1 are operated, and the control circuit 9 selects the system clock line 7 of the microcomputer 1 by the control signal line 8. Thereby, the microcomputer 1 and the functional circuit 4 operate in synchronization with the first oscillation circuit 2, and synchronized signals are output from the output terminals 3 and 6 to the outside. As described above, according to the present embodiment, the signal output from the output terminal 3 of the microcomputer 1 and the signal output from the output terminal 6 of the functional circuit 4 are both signals synchronized with the output of the first oscillation circuit 2. The microcomputer 1 and the functional circuit 4 can be tested at one timing. According to the present invention, when a functional test is performed, a system clock of a microcomputer is input as a clock input of a functional circuit, so that a synchronous output signal is output from both output terminals of the microcomputer and the functional circuit that operate asynchronously. The two functions that were obtained and measured individually can be measured at the same time, so that test efficiency and time can be reduced.

【図面の簡単な説明】第１図は本発明の一実施例における論理集積回路の構成図、第２図は従来の論
理集積回路の構成図である。１……マイクロコンピュータ、２……第１の発振回路、３……マイクロコンピュ
ータ１の外部出力端子、４……機能回路、５……第２の発振回路、６……機能回
路４の外部出力端子、７……マイクロコンピュータ１のシステムクロック線、８
……マイクロコンピュータ１の制御信号線、９……制御回路。BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS FIG. 1 is a configuration diagram of a logic integrated circuit according to an embodiment of the present invention, and FIG. 2 is a configuration diagram of a conventional logic integrated circuit. 1 ... microcomputer, 2 ... first oscillator circuit, 3 ... external output terminal of microcomputer 1, 4 ... functional circuit, 5 ... second oscillator circuit, 6 ... external output of functional circuit 4 Terminal 7, system clock line of microcomputer 1, 8
... A control signal line of the microcomputer 1, 9... A control circuit.

Claims

Claims: A microcomputer, a first oscillation circuit for generating a clock thereof,
The microcomputer is controlled by the microcomputer and the microcomputer
And a second circuit for generating a clock for the functional circuit.
An oscillation circuit of the functional circuit of the clock generated by the second oscillation circuit as a clock input, or either of the system clock of the microcomputer
And a control circuit that can be selected by the microcomputer. The control circuit only controls the microcomputer when the function test is performed.
A logic integrated circuit, wherein a stem clock is selected and input to the functional circuit.