JP2535257B2 - Strip surface defect inspection system - Google Patents

Strip surface defect inspection system

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JP2535257B2
JP2535257B2 JP3131832A JP13183291A JP2535257B2 JP 2535257 B2 JP2535257 B2 JP 2535257B2 JP 3131832 A JP3131832 A JP 3131832A JP 13183291 A JP13183291 A JP 13183291A JP 2535257 B2 JP2535257 B2 JP 2535257B2
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defect
strip
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surface defect
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公明 中野
宏幸 田中
紀幸 吉岡
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Nippon Steel Corp
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Nippon Steel Corp
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Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、冷間圧延にて製造され
る鋼板ストリップの表面欠陥(疵)を能率的に検出する
装置に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an apparatus for efficiently detecting surface defects (defects) in a steel sheet strip manufactured by cold rolling.

【0002】[0002]

【従来の技術】冷間圧延にて製造される鋼板ストリップ
は、その品質保証のための疵検査を略全面に渡って行な
うことが好ましく、実際にこの疵検査の実施は、品質管
理を徹底する上に重要な要件の一つとされている。この
疵検査方法の一つとして、製造ラインを走行するストリ
ップ表面をレーザー光にて幅方向に走査し、この反射波
をCCD素子などの光電変換素子によって電圧強度に変
換し、この信号データから疵の有無を判別する方法が既
に確立されている(特開昭63−62825号公報など
参照)。
2. Description of the Related Art It is preferable that a steel sheet strip manufactured by cold rolling is subjected to a flaw inspection for quality assurance over substantially the entire surface. In practice, this flaw inspection thoroughly implements quality control. It is one of the important requirements above. As one of the flaw inspection methods, the surface of a strip running on a manufacturing line is scanned with a laser beam in the width direction, the reflected wave is converted into a voltage intensity by a photoelectric conversion element such as a CCD element, and the flaw is detected from this signal data. A method for determining the presence / absence of the above has already been established (see Japanese Patent Laid-Open No. 63-62825, etc.).

【0003】ところが、このような光学的な疵検出装置
は、疵の程度や性質をも判別し得るものではないことか
ら、あくまでも予備的な検査装置として用いられ、最終
的な判断は、目視検査を別途行なったうえで検定員が下
すことが通例である。
However, since such an optical flaw detection device cannot discriminate the degree and nature of the flaw, it is used as a preliminary inspection device, and the final judgment is a visual inspection. It is customary for the examiner to do this separately.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】ところで、近年、生産
性の向上を企図してライン速度を増大する傾向にある
が、ストリップの表面欠陥に対する最終的な合否判定を
目視にて下さねばならない現状の品質管理システムで
は、結局のところ検査精度の向上と検査速度の向上との
両立には限度があり、これがライン速度のより一層の増
大を阻害する一因にもなっていた。
By the way, in recent years, there is a tendency to increase the line speed in order to improve the productivity, but under the present circumstances, it is necessary to visually judge the final pass / fail judgment for the surface defect of the strip. In the quality control system, there is a limit to the improvement of the inspection accuracy and the improvement of the inspection speed, which is one of the factors that hinder the further increase of the line speed.

【0005】本発明は、このような従来技術の不都合を
解消すべく案出されたものであり、その主な目的は、検
定員による有疵部の確認作業の効率を高め、生産性の向
上に寄与し得るストリップの表面欠陥検査装置を提供す
ることにある。
The present invention has been devised in order to eliminate such disadvantages of the prior art, and its main purpose is to improve the efficiency of the work of checking the flawed part by the inspector and improve the productivity. It is an object of the present invention to provide a surface defect inspection apparatus for a strip that can contribute to the above.

【0006】[0006]

【課題を解決するための手段】このような目的は、レー
ザー発振手段と、その反射光を受光して電圧強度に変換
する光電変換手段と、電圧強度を画像データに変換して
画面表示する表示手段と、電圧強度から表面欠陥を判別
する疵検出手段と、疵検出手段にて判別された有疵部デ
ータを記憶する記憶手段とを有するストリップの表面欠
陥検査装置に於いて、疵検出手段を、閾値との比較から
疵を判別する閾値法を用いたものと、特徴量から疵を判
別するニューラルネットワーク法を用いたものとの複数
の手段からなるものとし、記憶手段を、所定の条件に応
じてこれら複数の疵検出手段からの信号を選択的に記憶
するようにしてなるものとすることによって達成され
る。
The object is to provide a laser oscillating means, a photoelectric converting means for receiving the reflected light thereof and converting it into a voltage intensity, and a display for converting the voltage intensity into image data and displaying it on a screen. In the strip surface defect inspection device having a defect detection unit for determining a surface defect from the voltage intensity and a storage unit for storing the defect portion data determined by the defect detection unit , a defect detection unit is provided. From the comparison with the threshold
The one that uses the threshold method to determine the flaw and the one that determines the flaw from the feature amount
Multiple with different neural network method
And the storage means that meet the specified conditions.
Then, the signals from these flaw detection means are selectively stored.
It is achieved by shall be composed such that.

【0007】[0007]

【作用】この装置によれば、ライン中を流れるストリッ
プ上の疵部分を静止画像で表示して検査そのものを容易
化することができる。特に、疵の種類や程度、あるいは
鋼種やグレードに応じて互いに方式が異なる複数の疵検
出手段からの信号を持ち換えるものとすることにより、
より一層的確かつ高精度に疵の判別がなし得るようにな
る。
According to this apparatus, the defect itself on the strip flowing in the line can be displayed as a still image to facilitate the inspection itself. In particular, the type and degree of defects, or
Multiple flaw inspections with different methods depending on steel grade and grade
By changing the signal from the output means,
To make it possible to identify defects more accurately and accurately.
It

【0008】[0008]

【実施例】以下に添付の図面に示された具体的な実施例
に基づいて本発明の構成を詳細に説明する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS The structure of the present invention will be described in detail below with reference to specific embodiments shown in the accompanying drawings.

【0009】図1は、本発明装置の全体構成を示してい
る。矢印Fの方向に搬送される鋼板ストリップ1の表面
に向けて、He −Ne レーザー投光器2からレーザース
ポットを搬送方向に直交する向き、すなわちストリップ
1の幅方向に掃引照射し、これの反射光を例えばフォト
マルチプライヤなどからなる受光器3にて受ける。これ
によって光強度信号を電圧強度信号に変換する。この電
圧強度信号を電圧波形発生器4にて処理して電圧波形を
求め、これを一方において微分回路5で微分することに
よって微分波形を求める。そしてこれら微分波形と電圧
波形とのいずれか一方を切替器6にて選択的にA/D変
換器7に入力し、ここでデジタル値に変換したデータを
プレトリガ回路8に入力する。なお、素材の地合によっ
て微分波形によるものと電圧波形によるものとでは識別
容易度が異なるので、主コンピュータ9から与えられる
コイル情報に応じてより適した方の信号が選択されてプ
レトリガ回路8に入力される。
FIG. 1 shows the overall structure of the device of the present invention. The He—Ne laser projector 2 sweeps and irradiates a laser spot in the direction orthogonal to the transport direction, that is, the width direction of the strip 1, toward the surface of the steel strip 1 transported in the direction of the arrow F, and the reflected light thereof is For example, the light is received by the light receiver 3 including a photomultiplier. This converts the light intensity signal into a voltage intensity signal. This voltage intensity signal is processed by the voltage waveform generator 4 to obtain a voltage waveform, and one side is differentiated by the differentiating circuit 5 to obtain a differential waveform. Then, either one of the differential waveform and the voltage waveform is selectively input to the A / D converter 7 by the switch 6, and the data converted into the digital value here is input to the pre-trigger circuit 8. Since the degree of distinction between the differential waveform and the voltage waveform differs depending on the texture of the material, a more suitable signal is selected according to the coil information provided from the main computer 9 and the pre-trigger circuit 8 is selected. Is entered.

【0010】他方、電圧波形を微分して求めた微分波形
は、一方において閾値処理部10に入力される。ここで
は予め設定された閾値との比較によってストリップ表面
の疵の有無を判別し、疵種およびその程度に応じたトリ
ガ信号(疵検出信号)を出力する。また他方において、
A/D変換器11にて例えば8ビットのデジタル値に変
換し、このデータから特徴量計算回路12にて複数の特
徴量(例えば正規化2次平均と正規化微分レンジとの2
つ)を算出する。そしてこれらをニューラルネットワー
ク13に入力することによって同じくストリップ表面の
疵の有無を判別し、トリガ信号を出力する。これら閾値
処理部10並びにニューラルネットワーク13から疵種
およびその程度に対応して出力される複数のトリガ信
号、すなわち疵検出信号は、トリガ信号処理回路14に
入力される。
On the other hand, the differentiated waveform obtained by differentiating the voltage waveform is input to the threshold processing unit 10 on the one hand. Here, the presence or absence of a flaw on the strip surface is determined by comparison with a preset threshold value, and a trigger signal (defect detection signal) corresponding to the flaw type and its degree is output. On the other hand,
The A / D converter 11 converts the data into, for example, an 8-bit digital value, and from this data, the feature amount calculation circuit 12 outputs a plurality of feature amounts (for example, a normalized quadratic average and a normalized differential range 2
One) is calculated. Then, by inputting these into the neural network 13, the presence / absence of a flaw on the strip surface is similarly determined, and a trigger signal is output. A plurality of trigger signals output from the threshold processing unit 10 and the neural network 13 corresponding to the flaw type and its degree, that is, flaw detection signals are input to the trigger signal processing circuit 14.

【0011】このようにして、閾値処理部10とニュー
ラルネットワーク13とを併用して疵の有無を判別する
ことにより、疵の種類およびその程度をより一層高い精
度かつきめ細かに弁別することができる。
In this way, by using the threshold value processing unit 10 and the neural network 13 together to determine the presence / absence of a flaw, the type and degree of the flaw can be discriminated with higher accuracy and fineness.

【0012】トリガ信号処理回路14には、鋼種・グレ
ードなどに応じて上記複数のトリガ信号を選択するため
のロジックが組まれており、閾値処理部10並びにニュ
ーラルネットワーク13から出力される複数のトリガ信
号を主コンピュータ9から与えられるコイル情報に従っ
て弁別し、決められたトリガ信号が入力した時にのみ、
後段のプレトリガ回路8へのトリガ信号(データ記憶指
令)を出力するようになっている。これにより、プレト
リガ回路8に内蔵されたバッファメモリに一時記憶すべ
き疵データ(微分波形あるいは電圧波形の出力)の選別
がなされる。また、ストリップ同士の溶接部を光電管1
5にて検出した信号と、ハースロール16に付設された
回転計17の出力を演算機18にて演算して得たストリ
ップの繰出し量とをストローブ信号発生器19に入力
し、これによって溶接部近傍信号を発生させ、これをト
リガ信号処理回路14に入力することにより、溶接部近
傍における疵データは無視するようにしてある。
The trigger signal processing circuit 14 has a built-in logic for selecting the plurality of trigger signals in accordance with the steel type, grade, etc., and a plurality of triggers output from the threshold value processing unit 10 and the neural network 13. The signals are discriminated according to the coil information given from the main computer 9, and only when a predetermined trigger signal is input,
A trigger signal (data storage command) to the subsequent pre-trigger circuit 8 is output. As a result, defect data (output of differential waveform or voltage waveform) to be temporarily stored in the buffer memory built in the pre-trigger circuit 8 is selected. In addition, the welded portion of the strips is connected to the photoelectric tube 1
The signal detected in 5 and the output amount of the tachometer 17 attached to the hearth roll 16 are calculated by the calculator 18 and the strip feeding amount is input to the strobe signal generator 19, which causes the welded portion to be welded. By generating a proximity signal and inputting it to the trigger signal processing circuit 14, the flaw data in the vicinity of the welded portion is ignored.

【0013】プレトリガ回路8には、複数画面を逐次記
録するためのバッファメモリが内蔵されており、有疵部
分を画面中央に置くようにするためにトリガ信号処理回
路14からのトリガ信号(データ記憶指令)の出力前後
のデータも記憶される。
The pre-trigger circuit 8 has a built-in buffer memory for sequentially recording a plurality of screens, and a trigger signal (data storage) from the trigger signal processing circuit 14 in order to place the defective portion in the center of the screen. Data before and after the output of (command) is also stored.

【0014】バッファメモリに取込まれた有疵部分のデ
ータは、メモリ制御回路20に入力される。ここには、
疵種並びにその程度に関する優先順位が鋼種に対応して
予め設定されており、主コンピュータ9から与えられる
コイル情報に応じて優先順位の最も高いトリガ信号が出
力した箇所の周囲のデータのみが抽出される。この処理
は、需要家によって問題とする疵の種類や程度が異な
る、つまり有害度の基準が異なることに対処するために
行なわれる。そしてこのデータは、画像表示制御部21
で処理されたうえでCRTディスプレー22上に静止画
像として表示されると共に、必要に応じてビデオプリン
タ23にてドキュメント化される。
The data of the defective portion taken in the buffer memory is inputted to the memory control circuit 20. here,
Defect types and their priorities relating to their degree are preset in correspondence with the steel types, and only the data around the location where the trigger signal with the highest priority is output is extracted according to the coil information given from the main computer 9. It This processing is performed in order to deal with the fact that the type and degree of the defect in question differ depending on the customer, that is, the criteria of the degree of harm differ. Then, this data is stored in the image display control unit 21.
Is displayed on the CRT display 22 as a still image and is documented by the video printer 23 as needed.

【0015】他方、メモリ制御回路20においては、通
板速度に応じた表示データの間引きが行なわれ、データ
密度が調節される。これによって表示画像の長さ方向の
大きさが適宜に変化させられる。と同時に、板幅方向に
複数のエリアに分割し、疵の大きさに応じた優先順位を
つけ、大きな疵の有るエリアが優先して抽出される。こ
れにより、板幅方向について複数の疵が並列に有った場
合には、最も有害度の高い疵のみが記憶されることとな
る。従って、徒にデータ数を多くして過大なメモリ容量
を要したり、あるいは過度に高い処理速度を要すること
なく、必要な疵のみを確実に記憶することが可能とな
る。
On the other hand, in the memory control circuit 20, the display data is thinned out according to the strip passing speed, and the data density is adjusted. As a result, the size of the display image in the length direction is changed appropriately. At the same time, it is divided into a plurality of areas in the plate width direction, priorities are assigned according to the size of the flaws, and areas with large flaws are preferentially extracted. Thereby, when a plurality of flaws are arranged in parallel in the plate width direction, only the flaw having the highest degree of harmfulness is stored. Therefore, it is possible to reliably store only the required flaws without increasing the number of data and requiring an excessively large memory capacity or an excessively high processing speed.

【0016】このようにして得られた最終的な疵データ
は、コイル情報やストリップ上の位置データあるいはキ
ーボード24からのオペレータの介入データと共に磁気
記憶装置などの外部記憶装置25に記録され、検証デー
タとして、あるいは需要家に対する検査成績書用データ
として保存される。
The final flaw data thus obtained is recorded in an external storage device 25 such as a magnetic storage device together with coil information, position data on the strip, or operator intervention data from the keyboard 24, and verification data. Or as data for inspection records for customers.

【0017】[0017]

【発明の効果】このように本発明によれば、ストリップ
上の有疵部の特に重要と思われる疵を自動的に選別して
静止画像で表示することができるので、有疵部の確認を
検定員が確実にかつ高速度で行ない得るようにすること
ができる。特に、互いに特性が異なる複数の疵検出手段
を併用し、これらの疵検出信号を予め設定された所定の
条件に応じて持ち換えるものとすることにより、より一
層的確かつ高精度に疵の判別を行うことが可能となる。
従って、検定員の作業負荷を軽減し、かつ品質管理の徹
底を図るうえに大きな効果がある。
As described above, according to the present invention, it is possible to automatically select the flaws, which are considered to be particularly important , in the flawed portion on the strip and display them as a still image, so that the flawed portion can be confirmed. It is possible to ensure that the certifier can perform at a high speed. In particular, a plurality of flaw detection means having different characteristics from each other
In combination with these flaw detection signals to a predetermined preset
By switching to another according to the conditions,
Defects can be determined with stratified accuracy and high accuracy.
Therefore, there is a great effect in reducing the work load of the certifier and ensuring thorough quality control.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明に基づく表面欠陥検査装置の概略構成図
である。
FIG. 1 is a schematic configuration diagram of a surface defect inspection apparatus based on the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 ストリップ 2 投光器 3 受光器 4 電圧波形発生器 5 微分回路 6 切替器 7 A/D変換器 8 プレトリガ回路 9 主コンピュータ 10 閾値処理部11 12 特徴量計算回路 13 ニューラルネットワーク 14 トリガ信号処理回路 15 光電管 16 ハースロール 17 回転計 18 演算機 19 ストローブ信号発生器 20 メモリ制御回路 21 画像表示制御部 22 CRTディスプレー 23 ビデオプリンタ 24 キーボード 25 外部記憶装置 1 Strip 2 Emitter 3 Light Receiver 4 Voltage Waveform Generator 5 Differentiating Circuit 6 Switcher 7 A / D Converter 8 Pre-Trigger Circuit 9 Main Computer 10 Threshold Processing Unit 11 12 Feature Calculation Circuit 13 Neural Network 14 Trigger Signal Processing Circuit 15 Photoelectric Tube 16 Hearth Roll 17 Tachometer 18 Computing Machine 19 Strobe Signal Generator 20 Memory Control Circuit 21 Image Display Control Unit 22 CRT Display 23 Video Printer 24 Keyboard 25 External Storage Device

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭56−114747(JP,A) 特開 平2−74852(JP,A) 特開 昭61−245045(JP,A) 特開 昭54−84785(JP,A) ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of the front page (56) Reference JP-A-56-114747 (JP, A) JP-A-2-74852 (JP, A) JP-A-61-245045 (JP, A) JP-A-54- 84785 (JP, A)

Claims (1)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 レーザー発振手段と、その反射光を受光
して電圧強度に変換する光電変換手段と、前記電圧強度
を画像データに変換して画面表示する表示手段と、前記
電圧強度から表面欠陥を判別する疵検出手段と、前記疵
検出手段にて判別された有疵部データを記憶する記憶手
段とを有するストリップの表面欠陥検査装置であって、前記疵検出手段は、閾値との比較から疵を判別する閾値
法を用いたものと、特徴量から疵を判別するニューラル
ネットワーク法を用いたものとの複数の手段からなるも
のであり、 前記記憶手段は、所定の条件に応じてこれら複数の疵検
出手段からの信号を選択的に記憶するようにしてなるも
のである ことを特徴とするストリップの表面欠陥検査装
置。
1. A laser oscillating means, a photoelectric converting means for receiving reflected light thereof and converting it into a voltage intensity, a display means for converting the voltage intensity into image data and displaying it on a screen, and a surface defect from the voltage intensity. A surface defect inspection apparatus for a strip, comprising: a defect detection unit that determines the defect, and a storage unit that stores the defect-portion data that is determined by the defect detection unit , wherein the defect detection unit is based on comparison with a threshold value. Threshold for determining defects
Neural network that distinguishes flaws from feature quantities
It also consists of multiple means with those using the network method.
And than, the storage unit, the plurality of Kizuken according to a predetermined condition
The signal from the output means is selectively stored.
An apparatus for inspecting a surface defect of a strip, characterized in that
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